JPH11250418A - Case for thin film magnetic head device - Google Patents

Case for thin film magnetic head device

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Publication number
JPH11250418A
JPH11250418A JP4924898A JP4924898A JPH11250418A JP H11250418 A JPH11250418 A JP H11250418A JP 4924898 A JP4924898 A JP 4924898A JP 4924898 A JP4924898 A JP 4924898A JP H11250418 A JPH11250418 A JP H11250418A
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JP
Japan
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case
thin film
magnetic head
head device
conductive
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Application number
JP4924898A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Sadao Kawada
貞夫 川田
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Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH11250418A publication Critical patent/JPH11250418A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent degradation of and damage to a thin film element caused by the discharging current at the time the conductive part of a wiring material is brought into contact with the inside surface of a case in a state in which static electricity is charged on the insulator part of the wiring material by forming the case holding thin film magnetic head devices with material whose surface resistance is within a specific range. SOLUTION: A thin film magnetic head device H is constituted of a load beam 1, a slider 4 on which a thin film element is mounted and a wiring material C. The wiring material C is provided with conductive leads 7 connected with the thin film element and a coating insulator 8. After the electric characteristics and the magnetic characteristics of the thin film element are inspected and measured, the thin film magnetic devices H are housed in a case 20 in the unit of the stipulated number of devices and they are transported to the manufacturing place of the main body of a hard disk device or the like. There is a case sometime in which the insulator 8 is charged in the manufacturing process of thin film magnetic head device H. Then, the case is formed with the ion conductive body of, for example, zirconia ceramics or the like and the surface resistance of the material is set to be within the range of 1×10<6> to 1×10<12> Ω/(square).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜素子を搭載し
た磁気ヘッド装置を保持するケースに係り、特に配線材
の絶縁体部分の静電気の帯電による薄膜素子の劣化また
は破損を防止できるようにした薄膜磁気ヘッド装置用ケ
ースに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a case for holding a magnetic head device on which a thin film element is mounted, and in particular, to prevent deterioration or breakage of the thin film element due to electrostatic charging of an insulator portion of a wiring member. The present invention relates to a case for a thin film magnetic head device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図8はハードディスク装置などに設置さ
れる薄膜磁気ヘッド装置の斜視図である。この磁気ヘッ
ド装置は、弾性支持部材であるロードビーム1の先部に
同じく弾性支持部材であるフレキシャ3が取付けられ、
このフレキシャ3にセラミック製のスライダ4が取付け
られている。スライダ4は、ピボットを介してロードビ
ーム1に対して姿勢を変化できるように支持されてい
る。またロードビーム1の基端部にはマウント板2が接
合されている。
2. Description of the Related Art FIG. 8 is a perspective view of a thin-film magnetic head device installed in a hard disk device or the like. In this magnetic head device, a flexure 3 which is also an elastic support member is attached to a front end of a load beam 1 which is an elastic support member.
A ceramic slider 4 is mounted on the flexure 3. The slider 4 is supported so as to be able to change its attitude with respect to the load beam 1 via a pivot. A mount plate 2 is joined to the base end of the load beam 1.

【0003】前記スライダ4のトレーリング側の端部に
は薄膜素子5が搭載されている。この薄膜素子5は、磁
気抵抗効果を利用してハードディスクなどの記録媒体か
らの漏れ磁界を検出するMR素子を有する再生部、およ
びコイルパターンを有して記録媒体に磁気信号を記録す
るインダクティブ薄膜ヘッドの記録部とを備えている。
A thin film element 5 is mounted on an end of the slider 4 on the trailing side. The thin-film element 5 includes a reproducing unit having an MR element for detecting a leakage magnetic field from a recording medium such as a hard disk using a magnetoresistance effect, and an inductive thin-film head having a coil pattern and recording a magnetic signal on the recording medium. Recording section.

【0004】前記薄膜素子5の電極パッドには導電性リ
ード7が接続されており、さらにこの導電性リード7に
は絶縁体8が被覆されて配線材が構成されている。この
配線材は、絶縁体8による被覆部分がロードビーム1の
縁部に固定されて、ロードビーム1の基端部から延びて
いる。そして、配線材の基端部において、前記導電性リ
ード7にはパドル9が接続されている。パドル9はガラ
スエポキシなどの絶縁材料で形成されてその表面には導
電性材料によるランド部9a,9b,9c,9dが形成
され、導電性リード7の各リード線7a,7b,7c,
7dが、それぞれのランド部9a,9b,9c,9dに
半田付けされて接続されている。
A conductive lead 7 is connected to the electrode pad of the thin-film element 5, and the conductive lead 7 is covered with an insulator 8 to form a wiring material. The wiring member has a portion covered with the insulator 8 fixed to the edge of the load beam 1 and extends from the base end of the load beam 1. A paddle 9 is connected to the conductive lead 7 at the base end of the wiring member. The paddle 9 is made of an insulating material such as glass epoxy, and has lands 9a, 9b, 9c, 9d made of a conductive material on the surface thereof, and each lead wire 7a, 7b, 7c, 7c of the conductive lead 7 is formed.
7d is soldered and connected to each of the lands 9a, 9b, 9c, 9d.

【0005】この磁気ヘッド装置は、配線材にパドル9
が接続された状態で、パドル9のランド部9a,9b,
9c,9dを通じて薄膜素子5の直流抵抗が測定され、
あるいはその他の電気的特性や磁気的特性が検査されま
たは測定される。その後に、導電性リード7a,7b,
7c,7dの部分が切断されて配線材からパドル9が分
離され、パドル9が分離された後の磁気ヘッド装置の複
数個が、ケース内に収納されてハードディスク装置など
の装置本体の製造場所へ運搬される。そしてこの製造場
所で、ケースから取り出された前記磁気ヘッド装置がハ
ードディスク装置などに組込まれる。
In this magnetic head device, a paddle 9 is used as a wiring material.
Are connected, the land portions 9a, 9b,
The DC resistance of the thin film element 5 is measured through 9c and 9d,
Alternatively, other electrical or magnetic properties are inspected or measured. Then, the conductive leads 7a, 7b,
The paddles 9c and 7d are cut to separate the paddle 9 from the wiring material, and a plurality of magnetic head devices after the paddle 9 is separated are housed in a case and moved to a manufacturing location of a device main body such as a hard disk device. Transported. Then, at this manufacturing location, the magnetic head device taken out of the case is assembled into a hard disk device or the like.

【0006】あるいは、磁気ヘッド装置は、パドル9を
接続したままケース内に収納されてハードディスク装置
などの製造場所へ運搬され、この製造場所において、前
記ランド部9a,9b,9c,9dを介して電気的特性
や磁気的特性が検査・測定され、その直後に導電性リー
ド7a,7b,7c,7dが切断されてパドル9が分離
され、ハードディスク装置などに組込まれる。従来は前
記ケースが、ポリカーボネートなどのカーボン系の高分
子材料により形成されている。ケースを構成する材料と
してポリカーボネートなどを使用する理由は、ポリカー
ボネートなどは、静電気による帯電が生じにくいからで
ある。
Alternatively, the magnetic head device is housed in a case with the paddle 9 connected thereto and transported to a manufacturing place such as a hard disk drive, where the land portion 9a, 9b, 9c, 9d is connected. The electrical characteristics and magnetic characteristics are inspected and measured, and immediately thereafter, the conductive leads 7a, 7b, 7c, 7d are cut to separate the paddle 9, and incorporated into a hard disk device or the like. Conventionally, the case is formed of a carbon-based polymer material such as polycarbonate. The reason why polycarbonate or the like is used as the material forming the case is that polycarbonate or the like is unlikely to be charged by static electricity.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記の磁気ヘッド装置
の製造工程では、作業環境での温度や湿度との関係、さ
らには作業中に配線材に与えられる摩擦力などにより、
配線材の被覆絶縁体8に静電気が帯電しやすいが、絶縁
体8が帯電したままの状態で磁気ヘッド装置をポリカー
ボネート製などのケースに保持させると、前記静電気の
帯電を原因として薄膜素子5に層間のマイグレーション
が発生して磁気ヘッドの再生特性などが低下し、さらに
は薄膜素子Hの特にMR素子が溶融破壊を生じることが
発見された。
In the manufacturing process of the magnetic head device described above, the relationship between the temperature and humidity in the working environment and the frictional force applied to the wiring member during the work are determined.
Although static electricity is easily charged on the insulating insulator 8 of the wiring material, if the magnetic head device is held in a case made of polycarbonate or the like while the insulator 8 is charged, the thin-film element 5 may be charged due to the static electricity. It has been discovered that migration between layers occurs, thereby deteriorating the reproduction characteristics and the like of the magnetic head, and furthermore, the thin film element H, particularly the MR element, undergoes melt fracture.

【0008】この現象は、図6により説明できる。絶縁
体に摩擦などによる静電気が帯電すると、内部の導電性
リードには静電分極が発生する。例えば絶縁体に静電気
によるプラスの電荷が帯電されると、導電性リード内で
は、中心部がプラスの電荷、絶縁体との境界部にマイナ
スの電荷が集中し、すなわち導電性リード内の電子が絶
縁体との境界部に集中して、導電性リードの内部が分極
化されて平衡状態となる。このように絶縁体が帯電した
状態で、導電性リードが低抵抗の導電性材料に接触する
と、図6の場合には、導電性材料の電子が導電性リード
の中心部に急激に流れ込み、その結果薄膜素子に過大電
流が流れる。薄膜素子5のMR素子の層内に過大電流が
流れると、MR素子がジュール熱により発熱し、しかも
その熱が放散されないため、MR素子の層間でのマイグ
レーション、あるいは溶融破壊などが発生する。
[0008] This phenomenon can be explained with reference to FIG. When the insulator is charged with static electricity due to friction or the like, electrostatic polarization occurs in the internal conductive leads. For example, when a positive charge due to static electricity is charged on an insulator, a positive charge is concentrated at the center in the conductive lead, and a negative charge is concentrated at a boundary with the insulator, that is, electrons in the conductive lead are Concentrated on the boundary with the insulator, the inside of the conductive lead is polarized and brought into an equilibrium state. When the conductive lead contacts the low-resistance conductive material while the insulator is charged in this way, in the case of FIG. 6, electrons of the conductive material rapidly flow into the center of the conductive lead, and As a result, an excessive current flows through the thin film element. When an excessive current flows in the layer of the MR element of the thin film element 5, the MR element generates heat due to Joule heat, and the heat is not dissipated, so that migration between layers of the MR element or melting destruction occurs.

【0009】ここで、従来のケースを構成しているポリ
カーボネートなどのカーボン系高分子材料は、表面抵抗
(Ω/square)が102程度のオーダであるた
め、静電気に対しては絶縁材料というよりも導電性材料
としての特性を有する。したがって、磁気ヘッド装置が
前記ケースに保持されて収納されているときに、パドル
9が切断された後の導電性リード7a,7b,7c,7
dが前記ケースの内面などに接触すると、またはパドル
9が接続されたまま磁気ヘッド装置がケース内に収納さ
れて保持された場合には、パドル9のランド部9a,9
b,9c,9dがケースの内面などに接触すると、図6
に示すように静電分極されている導電性リードの中心部
とポリカーボネートなどとの間で電子が急激に移動す
る。その結果、薄膜素子5の特にMR素子に過大電流が
流れ、前記の層間のマイグレーションやMR素子の溶融
破壊などが生じるおそれがある。
Here, since the surface resistance (Ω / square) of the carbon-based polymer material such as polycarbonate which constitutes the conventional case is of the order of 10 2 , it is not an insulating material for static electricity. Also has properties as a conductive material. Therefore, the conductive leads 7a, 7b, 7c, 7 after the paddle 9 is cut when the magnetic head device is held and housed in the case.
When d contacts the inner surface of the case, or when the magnetic head device is stored and held in the case while the paddle 9 is connected, the land portions 9a, 9
When b, 9c, and 9d come into contact with the inner surface of the case, FIG.
As shown in (1), electrons rapidly move between the center of the conductive lead that is electrostatically polarized and polycarbonate or the like. As a result, an excessive current flows through the thin film element 5, particularly the MR element, and there is a possibility that migration between the above-mentioned layers and melting destruction of the MR element may occur.

【0010】図7A、Bは鉄系金属材料とポリカーボネ
ートとの静電気に基づく通過電流を比較したものであ
る。この実験では、チャージプレートを100Vに帯電
させた状態で、一方が接地された鉄系金属材料をチャー
ジプレートに接触させ、また一方が接地されたポリカー
ボネートをチャージプレートに接触させて、そのときに
接地側へ流れる電流をオッシロスコープにより測定した
ものである。図7Aは鉄系金属材料を用いた場合、図7
Bはポリカーボネートを用いた場合である。
FIGS. 7A and 7B compare the passing current based on static electricity between an iron-based metal material and polycarbonate. In this experiment, with the charge plate charged to 100 V, one of the grounded iron-based metal materials was brought into contact with the charge plate, and the other with the grounded polycarbonate in contact with the charge plate. The current flowing to the side was measured by an oscilloscope. FIG. 7A shows a case where an iron-based metal material is used.
B is the case where polycarbonate was used.

【0011】図7Aに示すように、鉄系金属材料をチャ
ージプレートに接触させると、鉄系金属材料を通じて接
地側へ瞬間的に300mA以上の電流が流れ、100m
A以上の電流が5nsecぐらいまで継続する。また、
図7Bに示すようにポリカーボネートをチャージプレー
トに接触させたときも、ポリカーボネートを通じて接地
側へ瞬間的に200mA以上の電流が流れ、さらに2n
sec程度電流が流れ続ける。このようにポリカーボネ
ートは静電気に対してはほとんど導電性材料として作用
することが解る。したがって、ポリカーボネート製のケ
ース内に磁気ヘッド装置を保持させておくと、絶縁体が
帯電した状態で、導電性リードがケースに接触したと
き、導電性リードには、導電性材料が接触したときとほ
ぼ同等の大きな電流が流れ、MR素子にジュール熱によ
る層間のマイグレーションが生じたり、あるいは溶融破
壊が生じるおそれがある。
As shown in FIG. 7A, when an iron-based metal material is brought into contact with the charge plate, a current of 300 mA or more instantaneously flows to the ground side through the iron-based metal material,
The current of A or more continues until about 5 nsec. Also,
As shown in FIG. 7B, even when the polycarbonate is brought into contact with the charge plate, a current of 200 mA or more instantaneously flows to the ground side through the polycarbonate, and furthermore, 2 n
The current continues to flow for about sec. Thus, it is understood that polycarbonate almost acts as a conductive material against static electricity. Therefore, when the magnetic head device is held in a polycarbonate case, when the conductive lead contacts the case in a state where the insulator is charged, and when the conductive material contacts the conductive lead. Almost the same large current flows, and there is a possibility that migration between layers due to Joule heat may occur in the MR element or melting and destruction may occur.

【0012】本発明は上記従来の課題を解決するもので
あり、配線材の導電部分がケース内面に接触したとき
に、静電気の帯電による薄膜素子の劣化や破損などを防
止できるようにした薄膜磁気ヘッド装置用ケースを提供
することを目的としている。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and when a conductive portion of a wiring member comes into contact with an inner surface of a case, the thin-film element is prevented from being deteriorated or damaged due to static electricity. An object is to provide a case for a head device.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明の薄膜磁気ヘッド
装置用ケースは、薄膜素子を搭載したスライダが弾性支
持部材に取付けられ、且つ前記薄膜素子に導通される導
電性リードとこの導電性リードを覆う絶縁体とから成る
配線材が設けられている薄膜磁気ヘッド装置を保持する
ケースにおいて、少なくとも前記導電性リードに接触す
る領域またはこの導電性リードと導通する部分に接触す
る領域が、表面抵抗が1×106Ω/square以上
で1×1012Ω/square未満の半導電性材料で形
成されていることを特徴とするものである。
According to the present invention, there is provided a case for a thin film magnetic head device, wherein a slider on which a thin film element is mounted is attached to an elastic support member, and the conductive lead is electrically connected to the thin film element. In a case for holding a thin-film magnetic head device provided with a wiring member made of an insulator covering the surface of the substrate, at least a region in contact with the conductive lead or a region in contact with a portion conductive with the conductive lead has a surface resistance. Is formed of a semiconductive material of 1 × 10 6 Ω / square or more and less than 1 × 10 12 Ω / square.

【0014】本発明のケースは、前記磁気ヘッド装置を
挟持できるように上下に2つに分離可能とされており、
互いに分離される上半部と下半部の双方の全体が前記半
導電性材料で形成されているものである。あるいはケー
スの内部において、配線材の導電性リードに接触する部
分、または配線材に取付けられたパドルや、フレキシブ
ルプリント基板で形成された配線材に形成されたパドル
部のランド部が接触する領域のみが半導電性材料で形成
され、他の部分はポリカーボネートなどにより形成され
ていてもよい。
The case according to the present invention can be separated vertically into two so as to hold the magnetic head device.
The whole of both the upper half and the lower half separated from each other is formed of the semiconductive material. Or, inside the case, only the area that contacts the conductive lead of the wiring material, or the paddle attached to the wiring material, or the area where the land part of the paddle part formed on the wiring material formed on the flexible printed circuit board contacts May be formed of a semiconductive material, and the other portions may be formed of polycarbonate or the like.

【0015】上記において、配線材は、線材で形成され
た導電性リードが絶縁体で被覆されているもの、または
前記のように導電性リードが絶縁フィルム上に薄膜パタ
ーン形成されたフレキシブルプリント基板である。フレ
キシブルプリント基板の場合には前記絶縁フィルムおよ
び導電性リードを被覆するレジスト膜が、静電荷の帯電
する絶縁体となる。またフレキシブルプリント基板が配
線材の場合、ランド部はフレキシブルプリント基板の基
端部のパドル部などに形成される。
[0015] In the above, the wiring material may be a conductive lead formed of a wire material covered with an insulator, or a flexible printed board in which the conductive leads are formed on the insulating film as described above. is there. In the case of a flexible printed board, the resist film covering the insulating film and the conductive leads serves as an insulator charged with electrostatic charges. When the flexible printed board is a wiring material, the land is formed on a paddle portion at the base end of the flexible printed board.

【0016】ケース内において、導電性リードなどが接
触する可能性のある領域が半導電性材料で形成されてい
ると、前記配線材の絶縁体が帯電している状態で、導電
性リードがケースに接触したときに、導電性リードと、
ケースを構成する半導電性材料との間で電子が遅い速度
で流れて導電性リード内の静電分極の平衡状態が解消さ
れるが、このとき薄膜素子に流れる電流は微小となり、
薄膜素子の劣化や静電破壊を防止できる。
In the case, if a region to which a conductive lead or the like may come in contact is formed of a semiconductive material, the conductive lead is placed in a state where the insulator of the wiring member is charged. When contacted with the conductive lead,
Electrons flow at a slow speed between the semiconductive material constituting the case and the equilibrium state of the electrostatic polarization in the conductive lead is eliminated, but at this time, the current flowing through the thin film element becomes small,
Deterioration of the thin film element and electrostatic breakdown can be prevented.

【0017】例えば、前記半導電性材料は、イオン導電
性セラミック、イオン導電性高分子、または高分子中に
導電性フィラーが混入された複合導電材料である。
For example, the semiconductive material is an ionic conductive ceramic, an ionic conductive polymer, or a composite conductive material in which a conductive filler is mixed in a polymer.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】図1は本発明の薄膜磁気ヘッド装
置用ケースの全体斜視図、図2はケースの内部構造の一
例を示す部分斜視図である。図1および図2に示す磁気
ヘッド装置Hは、基本的な構成が図8に示すものと同じ
である。この磁気ヘッド装置Hは、ロードビーム1の先
部にフレキシャが設けられ、このフレキシャにスライダ
4が接合されている。ロードビーム1とフレキシャは板
ばねなどで形成された弾性支持部材である。ロードビー
ム1の基端部にはマウント板2が接合されている。
FIG. 1 is an overall perspective view of a case for a thin film magnetic head device according to the present invention, and FIG. 2 is a partial perspective view showing an example of the internal structure of the case. The basic configuration of the magnetic head device H shown in FIGS. 1 and 2 is the same as that shown in FIG. In the magnetic head device H, a flexure is provided at the tip of the load beam 1, and a slider 4 is joined to the flexure. The load beam 1 and the flexure are elastic support members formed of a leaf spring or the like. A mount plate 2 is joined to the base end of the load beam 1.

【0019】図4に示すように、スライダ4はα側がリ
ーディング側で、β側がトレーリング側であり、ハード
ディスクなどの記録媒体はリーディング側からトレーリ
ング側へ向かって走行する。スライダ4の記録媒体との
対向面には、記録媒体上の空気流による浮上力を受ける
レール状のABS面4a,4aが形成されており、また
トレーリング側の端面4bに薄膜素子5が設けられてい
る。
As shown in FIG. 4, the slider 4 has a leading side on the α side and a trailing side on the β side, and a recording medium such as a hard disk travels from the leading side to the trailing side. Rail-shaped ABS surfaces 4a, 4a are formed on a surface of the slider 4 facing the recording medium, which receives a levitation force due to an air flow on the recording medium, and a thin film element 5 is provided on an end surface 4b on the trailing side. I have.

【0020】図5は、薄膜素子5の再生部をABS面4
a側から見た断面図である。薄膜素子5は図5に示す磁
気抵抗効果を用いた再生部と、この再生部に重ねて設け
られた記録部とから構成されている。図5に示す薄膜素
子5の再生部は、スライダ4のトレーリング側の端面4
b側から、下部シールド層11、絶縁層である下部ギャ
ップ層12が順に形成され、その上にMR素子13が積
層され、さらに絶縁層である上部ギャップ層14、上部
シールド層15が積層されて形成されている。MR層1
3は、SAL、SHANT、MRの三層構造であり、そ
の両側にはハードバイアス層16および導電層17が形
成されている。あるいはMR素子は、スピンバルブ型素
子、デュアルスピンバルブ型素子などでも同様に素子の
両側にはハードバイアス層16および導電層が形成され
ている。
FIG. 5 shows the reproducing section of the thin film element 5 as the ABS 4
It is sectional drawing seen from a side. The thin-film element 5 includes a reproducing unit using the magnetoresistance effect shown in FIG. 5 and a recording unit provided so as to overlap the reproducing unit. The reproducing section of the thin film element 5 shown in FIG.
From the side b, a lower shield layer 11 and a lower gap layer 12 as an insulating layer are sequentially formed, an MR element 13 is stacked thereon, and an upper gap layer 14 and an upper shield layer 15 as insulating layers are further stacked. Is formed. MR layer 1
Reference numeral 3 denotes a three-layer structure of SAL, SHANT, and MR, and a hard bias layer 16 and a conductive layer 17 are formed on both sides thereof. Alternatively, as for the MR element, a hard bias layer 16 and a conductive layer are formed on both sides of the element similarly in a spin valve element and a dual spin valve element.

【0021】また薄膜素子5では、図5に示す再生部の
上に、コイル層、上部コア層などを有するインダクティ
ブ型の記録部が形成されている。そして、図4に示すよ
うに、スライダ4のトレーリング側の端面4bには、前
記導電層17および、記録部のコイル層に導通される電
極パッド6が形成されている。
In the thin film element 5, an inductive recording section having a coil layer, an upper core layer and the like is formed on the reproducing section shown in FIG. As shown in FIG. 4, on the trailing end surface 4b of the slider 4, the conductive layer 17 and the electrode pad 6 electrically connected to the coil layer of the recording section are formed.

【0022】また、磁気ヘッド装置Hには、配線材Cが
設けられている。配線材Cは、導線などの線材による4
本の導電性リード7が樹脂材料などの絶縁体8で被覆さ
れている。導電性リード7の一端は、図4に示すスライ
ダ4の各電極パッド6に半田付けなどで接続されてお
り、導電性リード7の他端は、パドル9上のランド部9
a,9b,9c,9dに半田付けられている。図8に示
すパドル9は、検査・測定用であり、絶縁材料で形成さ
れ、ランド部9a,9b,9c,9dは、銅箔などで形
成されている。図1と図2に示すケース20内に磁気ヘ
ッド装置Hを収納する時点では、ランド部9a,9b,
9c,9dを用いた検査・測定が完了しており、導電性
リード7が切断されてパドル9が除去されている。
The magnetic head device H is provided with a wiring member C. The wiring material C is made of a wire such as a conductive wire.
The conductive leads 7 are covered with an insulator 8 such as a resin material. One end of the conductive lead 7 is connected to each electrode pad 6 of the slider 4 shown in FIG. 4 by soldering or the like, and the other end of the conductive lead 7 is connected to a land 9 on the paddle 9.
a, 9b, 9c, 9d. The paddle 9 shown in FIG. 8 is for inspection / measurement, is formed of an insulating material, and the lands 9a, 9b, 9c, 9d are formed of copper foil or the like. When the magnetic head device H is stored in the case 20 shown in FIGS. 1 and 2, the lands 9a, 9b,
The inspection / measurement using 9c and 9d has been completed, and the conductive lead 7 has been cut and the paddle 9 has been removed.

【0023】ただし、図8に示すように、配線材Cにパ
ドル9が接続されている状態で、磁気ヘッド装置Hがパ
ドル9と共にケース20内に収納されていてもよい。図
1に示すようにケース20は上半部21と下半部22と
から成り、上半部21と下半部22は、互いに組み合わ
せおよび分離可能となっている。
However, as shown in FIG. 8, the magnetic head device H may be housed in the case 20 together with the paddle 9 in a state where the paddle 9 is connected to the wiring member C. As shown in FIG. 1, the case 20 includes an upper half 21 and a lower half 22, and the upper half 21 and the lower half 22 can be combined and separated from each other.

【0024】図2に示すように、ケース20の下半部2
2には、保持リブ23が一体に形成され、この保持リブ
23には溝23aおよび支持ピン23bが一体に形成さ
れている。この保持リブ23と対向する上半部21の下
面には、同じく保持リブ24が形成されており、この保
持リブ24にも溝24aが形成されている。磁気ヘッド
装置Hのロードビーム1の基端部にはマウント板2と連
通する支持穴1aが開口しており、前記支持ピン23b
の部分にこの支持穴1aが挿通される。上半部21と下
半部22とが組合わされたときには、マウント板2の部
分が保持リブ23の溝23aと保持リブ24の溝24a
とで挟持される。
As shown in FIG. 2, the lower half 2 of the case 20
2, a holding rib 23 is integrally formed, and the holding rib 23 is integrally formed with a groove 23a and a support pin 23b. Similarly, a holding rib 24 is formed on the lower surface of the upper half 21 facing the holding rib 23, and a groove 24a is also formed in the holding rib 24. At the base end of the load beam 1 of the magnetic head device H, a support hole 1a communicating with the mount plate 2 is opened.
This support hole 1a is inserted through the portion. When the upper half portion 21 and the lower half portion 22 are combined, the portion of the mounting plate 2 becomes the groove 23a of the holding rib 23 and the groove 24a of the holding rib 24.
And sandwiched between.

【0025】また下半部22には他の保持リブ25が形
成されて、この保持リブ25に溝25aが形成されてい
る。この保持リブ25と対向する上半部21の下面には
保持リブ26が形成されて、この保持リブ26に溝26
aが形成されている。上半部21と下半部22とが組合
わされたときに、前記溝25aと溝26aとで、ロード
ビーム1の先部のスライダ7が接合されている部分より
もやや基端側が保持される。ケース20内には図2に示
す保持構造部分が複数箇所形成されており、図1に示す
ように、ケース20内には複数個の磁気ヘッド装置Hを
収納保持することが可能となっている。
Further, another holding rib 25 is formed in the lower half portion 22, and a groove 25a is formed in the holding rib 25. A holding rib 26 is formed on the lower surface of the upper half 21 opposed to the holding rib 25.
a is formed. When the upper half 21 and the lower half 22 are combined, the groove 25a and the groove 26a hold the base end of the load beam 1 at a position slightly closer to the base end than the part where the slider 7 is joined. . A plurality of holding structures shown in FIG. 2 are formed in the case 20, and a plurality of magnetic head devices H can be housed and held in the case 20, as shown in FIG. .

【0026】そして前記ケース20の上半部21と下半
部22は、それ全体が半導電性材料により形成されてい
る。本明細書では、表面抵抗が1×106Ω/squa
re以上で1×1012Ω/square未満の材料を半
導電性材料と定義する。また表面抵抗が1×106Ω/
square未満の材料を導電性材料、表面抵抗が1×
1012Ω/square以上の材料を絶縁材料として定
義する。
The entire upper half 21 and lower half 22 of the case 20 are formed of a semiconductive material. In this specification, the surface resistance is 1 × 10 6 Ω / square.
A material that is equal to or more than re and less than 1 × 10 12 Ω / square is defined as a semiconductive material. The surface resistance is 1 × 10 6 Ω /
A material less than square is a conductive material and the surface resistance is 1 ×
A material of 10 12 Ω / square or more is defined as an insulating material.

【0027】ここで、表面抵抗が1×106Ω/squ
are以上で1×1012Ω/square未満の半導電
性材料は、イオン導電体であり、例えばジルコニアセラ
ミック、β−アルミナセラミックなどのイオン導電性セ
ラミック、ポリアセチレン、ポリ−p−フェニレンビニ
レンなどのイオン導電性高分子、カーボンや金属粉末な
どの導電性フィラーが高分子中に混入された複合導電材
料などである。前記ケース20はこれらの材料で形成さ
れている。なお、ケース20全体が半導電性材料で形成
されていなくても、例えば下半部22のリブ27と上半
部21のリブ28のみを前記半導電性材料で形成して、
リブ27とリブ28とで絶縁体8から露出する導電性リ
ード7を保持するようにし、このリブ27と28以外の
部分をポリカーボネートなどで形成してもよい。
Here, the surface resistance is 1 × 10 6 Ω / squ.
The semiconductive material having an area of not less than 1 × 10 12 Ω / square is an ionic conductor, for example, an ion conductive ceramic such as zirconia ceramic or β-alumina ceramic, or an ion such as polyacetylene or poly-p-phenylenevinylene. The conductive polymer is a composite conductive material in which a conductive filler such as carbon or metal powder is mixed in the polymer. The case 20 is formed of these materials. Even if the entire case 20 is not formed of a semiconductive material, for example, only the rib 27 of the lower half 22 and the rib 28 of the upper half 21 are formed of the semiconductive material,
The conductive leads 7 exposed from the insulator 8 may be held by the ribs 27 and 28, and a portion other than the ribs 27 and 28 may be formed of polycarbonate or the like.

【0028】図6に示したように、作業環境での湿度、
温度、および配線材Cに与えられる摩擦により、絶縁体
8に静電気が帯電すると、導電性リード7の内部では電
子に偏りが生じて誘電分極が発生し平衡状態となる。過
剰な誘電分極が生じているとき、導電性リード7が導電
性材料に導通されると、導電性材料と導電性リードとの
間で電子が急激に移動して、薄膜素子5の特にMR素子
13に過大電流が流れ、ジュール熱による層間のマイグ
レーションや、さらにはMR素子13の溶融破壊が発生
する。本発明では、ケース20内で、導電性リード7が
接触する可能性のある部分(領域)が半導電性材料で形
成されているため、導電性リード7がケース20の内面
に接触したときに、導電性リード7とケース20を構成
している半導電性材料との間で電流が徐々に流れる。こ
れにより図6に示すような導電性リード7内の誘電分極
の平衡状態が緩和されまたは解消される。このときに導
電性リード7から図5に示す導電層17を経てMR素子
13に流れる電流値はわずかとなるため、MR素子13
の温度上昇を抑制でき、前記マイグレーションの発生や
溶融破壊を防止できる。
As shown in FIG. 6, the humidity in the working environment,
When the insulator 8 is charged with static electricity due to the temperature and the friction given to the wiring member C, the electrons are biased inside the conductive lead 7 and dielectric polarization occurs to be in an equilibrium state. When the conductive lead 7 is electrically connected to the conductive material when excessive dielectric polarization occurs, electrons rapidly move between the conductive material and the conductive lead, and the thin film element 5, particularly the MR element, Excess current flows through the layer 13, causing migration between layers due to Joule heat, and furthermore, melting and destruction of the MR element 13. In the present invention, since a portion (region) to which the conductive lead 7 may come into contact in the case 20 is formed of a semiconductive material, when the conductive lead 7 comes into contact with the inner surface of the case 20. A current gradually flows between the conductive lead 7 and the semiconductive material forming the case 20. Thereby, the equilibrium state of the dielectric polarization in the conductive lead 7 as shown in FIG. 6 is relaxed or eliminated. At this time, the current flowing from the conductive lead 7 to the MR element 13 via the conductive layer 17 shown in FIG.
Can be suppressed, and the occurrence of the migration and the melt fracture can be prevented.

【0029】なお、ケース20が絶縁材料で形成されて
いると、導電性リード7が接触したときに、導電性リー
ド7と絶縁材料との間での電子の移動が発生せず、図6
に示す誘電分極の平衡状態を緩和しまたは解消すること
ができない。また絶縁材料はそれ自体が帯電しやすいた
め、ケース内にて絶縁体8の帯電がさらに促進され、導
電性リード7内の誘電分極を助長しやすくなる。
When the case 20 is made of an insulating material, when the conductive leads 7 come into contact with each other, electrons do not move between the conductive leads 7 and the insulating material.
Cannot be relaxed or eliminated. In addition, since the insulating material itself is easily charged, the charging of the insulator 8 is further promoted in the case, and the dielectric polarization in the conductive lead 7 is easily promoted.

【0030】図3は薄膜磁気ヘッド装置の他の構成例を
示している。この磁気ヘッド装置Haでは、配線材Ca
がフレキシブルプリント基板Fにより構成されている。
このフレキシブルプリント基板Fは、絶縁性フィルムの
表面に導電性リードがパターン形成されており、その表
面がレジストにより被覆されている。そして基端にはパ
ドル部Faが一体に形成されており、このパドル部Fa
に、導電性材料によるランド部9a,9b,9c,9d
が露出しており、このランド部は前記各導電性リードを
介して薄膜素子5に導通されている。
FIG. 3 shows another configuration example of the thin-film magnetic head device. In this magnetic head device Ha, the wiring material Ca
Are constituted by the flexible printed circuit board F.
In the flexible printed board F, conductive leads are pattern-formed on the surface of an insulating film, and the surface is covered with a resist. A paddle portion Fa is integrally formed at the base end.
Land portions 9a, 9b, 9c, 9d made of conductive material
Are exposed, and the lands are electrically connected to the thin film element 5 through the respective conductive leads.

【0031】パドル部Faは前記パドル9と同様に検査
・測定用であり、このパドル部Faよりも先部には、ハ
ードディスク装置などに搭載された状態で、磁気ヘッド
と装置本体との間での信号を伝達するための接続ランド
33a,33b,33c,33dが設けられている。こ
の磁気ヘッド装置Haが製造されて、パドル部Faのラ
ンド部9a,9b,9c,9dを介して薄膜素子5の検
査・測定が完了した後に、フレキシブルプリント基板F
が線Lの部分で切断されてパドル部Faが除去される。
The paddle portion Fa is used for inspection and measurement like the paddle 9, and is provided between the magnetic head and the device main body in a state mounted on a hard disk device or the like before the paddle portion Fa. Are provided with connection lands 33a, 33b, 33c, 33d for transmitting the signals. After the magnetic head device Ha is manufactured and the inspection / measurement of the thin film element 5 is completed via the land portions 9a, 9b, 9c, 9d of the paddle portion Fa, the flexible printed circuit board F
Is cut at the line L to remove the paddle portion Fa.

【0032】パドル部Faが除去された状態で、この磁
気ヘッド装置Haが本発明のケース20内に収納されて
保持されると、前記接続ランド33a,33b,33
c,33dがケースの内面に接触しても、薄膜素子の静
電破壊などを防止できる。またパドル部Faが切断され
ないままの状態でケース20内に保持されたときに、ラ
ンド部9a,9b,9c,9dがケース20の内面に接
触しても、同様にして静電破壊を防止できる。なお、本
発明の磁気ヘッド装置は、ハードディスク用に限られ
ず、他の磁気記録媒体からの磁気検出用、またはその他
の各種磁気センサとして用いられるものであってもよ
い。
When the magnetic head device Ha is housed and held in the case 20 of the present invention with the paddle portion Fa removed, the connection lands 33a, 33b, 33 are provided.
Even if c and 33d make contact with the inner surface of the case, electrostatic breakdown of the thin film element can be prevented. Further, even if the lands 9a, 9b, 9c, and 9d come in contact with the inner surface of the case 20 when the paddle portion Fa is held in the case 20 without being cut, the electrostatic breakdown can be similarly prevented. . The magnetic head device of the present invention is not limited to a hard disk, but may be used for detecting magnetism from another magnetic recording medium or as other various magnetic sensors.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上のように本発明の薄膜磁気ヘッド装
置用ケースを用いると、導電性リードが接触する領域が
半導電性材料で形成されているため、薄膜素子に過大電
流が流れるのを防止でき、薄膜素子の層間のマイグレー
ションや溶融破壊が発生するのを有効に防止できる。
As described above, when the thin-film magnetic head device case of the present invention is used, the region where the conductive leads come into contact is formed of a semiconductive material. This can effectively prevent migration between layers of the thin film element and melting and destruction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の薄膜磁気ヘッド用ケースを示す斜視
図、
FIG. 1 is a perspective view showing a thin film magnetic head case of the present invention;

【図2】ケースの内部構造の一例を示す部分斜視図、FIG. 2 is a partial perspective view showing an example of an internal structure of a case;

【図3】薄膜磁気ヘッド装置の他の構成例を示す斜視
図、
FIG. 3 is a perspective view showing another configuration example of the thin-film magnetic head device;

【図4】スライダを記録媒体との対向面を上向きにして
示した斜視図、
FIG. 4 is a perspective view showing a slider with a surface facing a recording medium facing upward;

【図5】薄膜素子の再生部をABS面側から見た断面
図、
FIG. 5 is a cross-sectional view of the reproducing section of the thin-film element viewed from the ABS side.

【図6】導電性リードの誘電分極の説明図、FIG. 6 is an explanatory diagram of dielectric polarization of a conductive lead,

【図7】静電気による電流の流れを説明する線図であ
り、Aは金属材料がチャージプレートに接触した場合、
Bはポリカーボネートがチャージプレートに接触した場
合である。
FIG. 7 is a diagram illustrating the flow of current due to static electricity, where A is the case where a metal material contacts a charge plate;
B shows the case where the polycarbonate came into contact with the charge plate.

【図8】磁気ヘッド装置を示す斜視図、FIG. 8 is a perspective view showing a magnetic head device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ロードビーム 2 マウント板 3 フレキシャ 4 スライダ 5 薄膜素子 7 導電性リード 8 絶縁体 9 パドル 9a,9b,9c,9d ランド部 13 MR素子 20 ケース 21 上半部 22 下半部 C,Ca 配線材 F フレキシブルプリント基板 Fa パドル部 H,Ha 薄膜磁気ヘッド装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Load beam 2 Mount plate 3 Flexure 4 Slider 5 Thin film element 7 Conductive lead 8 Insulator 9 Paddle 9a, 9b, 9c, 9d Land part 13 MR element 20 Case 21 Upper half 22 Lower half C, Ca Wiring material F Flexible printed circuit board Fa paddle section H, Ha Thin film magnetic head device

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 薄膜素子を搭載したスライダが弾性支持
部材に取付けられ、且つ前記薄膜素子に導通される導電
性リードとこの導電性リードを覆う絶縁体とから成る配
線材が設けられている薄膜磁気ヘッド装置を保持するケ
ースにおいて、少なくとも前記導電性リードに接触する
領域またはこの導電性リードと導通する部分に接触する
領域が、表面抵抗が1×106Ω/square以上で
1×1012Ω/square未満の半導電性材料で形成
されていることを特徴とする薄膜磁気ヘッド装置用ケー
ス。
1. A thin film in which a slider on which a thin film element is mounted is attached to an elastic support member, and a wiring member comprising a conductive lead electrically connected to the thin film element and an insulator covering the conductive lead is provided. In the case of holding the magnetic head device, at least a region in contact with the conductive lead or a region in contact with the conductive lead has a surface resistance of 1 × 10 6 Ω / square or more and 1 × 10 12 Ω. A case for a thin-film magnetic head device, wherein the case is formed of a semiconductive material less than / square.
【請求項2】 前記磁気ヘッド装置を挟持できるように
上下に2つに分離可能とされており、互いに分離される
上半部と下半部の双方の全体が前記半導電性材料で形成
されている請求項1記載の薄膜磁気ヘッド装置用ケー
ス。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the magnetic head device is vertically separable into two parts so that the magnetic head device can be sandwiched between the upper and lower halves. The case for a thin film magnetic head device according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記半導電性材料が、イオン導電性セラ
ミックである請求項1または2記載の薄膜磁気ヘッド装
置用ケース。
3. The thin-film magnetic head device case according to claim 1, wherein the semiconductive material is an ionic conductive ceramic.
【請求項4】 前記半導電性材料が、イオン導電性高分
子である請求項1または2記載の薄膜磁気ヘッド装置用
ケース。
4. The thin-film magnetic head device case according to claim 1, wherein the semiconductive material is an ionic conductive polymer.
【請求項5】 前記半導電性材料が、高分子中に導電性
フィラーが混入された複合導電材料である請求項1また
は2記載の薄膜磁気ヘッド装置用ケース。
5. The thin-film magnetic head device case according to claim 1, wherein the semiconductive material is a composite conductive material in which a conductive filler is mixed in a polymer.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2001011612A1 (en) * 1999-08-06 2001-02-15 Mitsubishi Chemical Corporation Tray for conveying magnetic head for magnetic disk

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001011612A1 (en) * 1999-08-06 2001-02-15 Mitsubishi Chemical Corporation Tray for conveying magnetic head for magnetic disk
US6780490B1 (en) 1999-08-06 2004-08-24 Yukadenshi Co., Ltd. Tray for conveying magnetic head for magnetic disk

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