JPH11249930A - System verification method and device therefor - Google Patents

System verification method and device therefor

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JPH11249930A
JPH11249930A JP5193298A JP5193298A JPH11249930A JP H11249930 A JPH11249930 A JP H11249930A JP 5193298 A JP5193298 A JP 5193298A JP 5193298 A JP5193298 A JP 5193298A JP H11249930 A JPH11249930 A JP H11249930A
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JP
Japan
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data
simulation
emulation
time
storage element
Prior art date
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JP5193298A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Ishikawa
淳士 石川
Naohiro Kobayashi
直弘 小林
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To speedily verify a system with high debugging performance by executing the simulation or emulation at a desired time based on the stored data and specifying a trouble of the system. SOLUTION: A data storage mechanism 17 which stores the contents of a storage element necessary for the rerun is previously added to a model (9), the S/E(simulation/emulation) is executed (10) and the information on the storage element is stored in the mechanism 17 at each fixed time. Then the S/E result is checked (11). If the S/E result is not correct, a time (t) when a trouble occurred is specified and the data at the time Ti preceding the stored time (t) are loaded into an S/E model (18). Then the S/E is started again at the time Ti (19), and the trouble area is specified by the detailed check of the signal value, etc. (15)., Thereafter, the trouble area is corrected (16) and the S/E is carried on again.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、シミュレーショ
ン/エミュレーションに基づくシステム検証方法及び検
証装置に関し、特にハードウェアとアプリケーションソ
フトウェアを含むシステム(LSI)の検証方法及び検
証装置に関するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a system verification method and a verification apparatus based on simulation / emulation, and more particularly to a verification method and a verification apparatus for a system (LSI) including hardware and application software.

【0002】[0002]

【従来の技術】システム(LSI)は、通常、CPU
(中央演算処理ユニット)、メモリ、及び周辺ハードウ
ェア{ASIC:Application Specific IC(特定用途
向けIC)}等により構成される。これらのシステム設
計において、システム検証のためには、ハードウェア部
分とCPU上で動作するアプリケーションソフトウェア
を同時に検証することが必要である。システム検証に
は、一般にシミュレーション方式とエミュレーション方
式の二つの方式が用いられているが、それぞれ以下に示
すような長所及び短所を有している。
2. Description of the Related Art A system (LSI) usually includes a CPU.
(Central Processing Unit), memory, and peripheral hardware {ASIC: Application Specific IC}. In these system designs, it is necessary to simultaneously verify the hardware portion and application software operating on the CPU for system verification. In general, two methods, a simulation method and an emulation method, are used for system verification, but each has the following advantages and disadvantages.

【0003】(1)シミュレーション方式 シミュレーション方式とは、HDL(Hardware Descrip
tion Language:ハードウェア記述言語)又はC等のプロ
グラミング言語によりシステム全体をモデル化し、コン
ピュータ(EWS:Engineering Work Station,パソコ
ン等)上のシミュレーションによりシステムを検証する
方式である。
(1) Simulation method The simulation method is an HDL (Hardware Description)
This is a method in which the whole system is modeled by a programming language such as Ction Language (hardware description language) or C, and the system is verified by simulation on a computer (EWS: Engineering Work Station, personal computer, etc.).

【0004】図10はシミュレーション方式を説明する
ための概略構成図であり、図において、1はシミュレー
ションを実行するコンピュータであり、このコンピュー
タ1上において、CPUモデル2、メモリモデル3、及
びハードウェア(ASIC等)モデル4がそれぞれ動作
する。
FIG. 10 is a schematic configuration diagram for explaining a simulation method. In the figure, reference numeral 1 denotes a computer for executing a simulation. On this computer 1, a CPU model 2, a memory model 3, and hardware ( ASIC etc.) Model 4 operates.

【0005】このシミュレーション方式は以下の様な特
徴(長所/短所)を有する。 (長所)全てコンピュータ上で実現したモデルによるシ
ミュレーションによりソフトウェア的に検証するため、
システム内部信号の動作が全て観測でき、任意の時刻で
実行を止める又はステップ実行する等、柔軟な検証が可
能となり、デバッグ(不具合箇所特定/修正)が容易と
なる。 (短所)全ての検証をコンピュータ上のシミュレーショ
ンで行うために、膨大な実行時間がかかる。
This simulation method has the following features (advantages / disadvantages). (Advantages) All software is verified by simulation using a model realized on a computer.
The operation of all signals in the system can be observed, the execution can be stopped at an arbitrary time, the execution of steps can be performed, and the like, flexible verification can be performed, and debugging (specifying / correcting a defective portion) becomes easy. (Disadvantages) It takes a huge amount of execution time to perform all verifications by computer simulation.

【0006】(2)エミュレーション(プロトタイピン
グ)方式 エミュレーション方式とは、実CPUチップ(又はIC
E:In-Circuit Emulator)、実部品(メモリ等)、FP
GA(Field Programmable Gate Array)等で実装した
ASIC部分等をボード上に実装(Prototyping:プロ
トタイピング)し、エミュレーションによりシステム検
証を行う方式である。
(2) Emulation (prototyping) system An emulation system is a real CPU chip (or IC).
E: In-Circuit Emulator), real parts (memory, etc.), FP
This is a method in which an ASIC part or the like implemented by a GA (Field Programmable Gate Array) or the like is mounted (prototyping) on a board, and system verification is performed by emulation.

【0007】図11はエミュレーション方式を説明する
ための図であり、図において、5はエミュレーションを
実行するためのボードを示し、このボード5上に、実C
PUチップ(又はICE)6、実部品(メモリ等)7、
ASIC(FPGA)8を実装している。
FIG. 11 is a diagram for explaining the emulation method. In the figure, reference numeral 5 denotes a board for executing the emulation.
PU chip (or ICE) 6, real parts (memory, etc.) 7,
An ASIC (FPGA) 8 is mounted.

【0008】このエミュレーション方式は以下に述べる
様な特徴(長所/短所)を有する。 (長所)実部品を利用したエミュレーションで検証する
ため、シミュレーション方式に比べて実行時間が非常に
短い。 (短所)エミュレーションによりハードウェア的にシス
テム検証を行うため、内部信号の観測が制限され、また
任意の時刻で実行を止められない等、柔軟な検証が不可
能であり、デバッグが非常に困難である。
This emulation system has the following features (advantages / disadvantages). (Advantage) Since the verification is performed by emulation using real parts, the execution time is very short as compared with the simulation method. (Disadvantages) Since system verification is performed by hardware using emulation, observation of internal signals is limited, and execution cannot be stopped at an arbitrary time. Therefore, flexible verification is impossible, and debugging is extremely difficult. is there.

【0009】また、シミュレーション/エミュレーショ
ンによるシステム検証のフローチャートは一般に図12
に示すようになる。図12において、Step9はシステム
検証の開始を表わし、図10又は図11に示したような
シミュレーション/エミュレーション用のモデルを準備
する。その後、Step10でシミュレーション/エミュレ
ーションを実行し、Step11でシミュレーション/エミ
ュレーション結果が正しいかどうかをチェックする。St
ep12にて前記結果が正しければ、Step13に進みシス
テム検証を終了する。正しくなければStep14に進む。
Step14では、不具合箇所を特定するために、不具合が
起こった時刻の少し手前までシミュレーション/エミュ
レーションを最初から再実行する。次に、Step15に
て、ステップ実行、信号値の詳細チェック等により不具
合箇所を特定する。以降、Step16でシステム設計の不
具合箇所の修正を行い、再度Step10に戻ってシミュレ
ーション/エミュレーションを再実行する。
A flow chart of system verification by simulation / emulation is generally shown in FIG.
It becomes as shown in. In FIG. 12, Step 9 represents the start of system verification, and prepares a model for simulation / emulation as shown in FIG. 10 or FIG. After that, simulation / emulation is executed in Step 10, and it is checked in Step 11 whether the simulation / emulation result is correct. St
If the result is correct at ep12, the process proceeds to Step 13 to end the system verification. If not correct, proceed to Step 14.
In Step 14, the simulation / emulation is re-executed from the beginning up to a time shortly before the time at which the failure occurred in order to identify the location of the failure. Next, in Step 15, a defective portion is specified by executing steps, checking signal values in detail, and the like. Thereafter, in Step 16, a defective portion of the system design is corrected, and the process returns to Step 10 again to execute the simulation / emulation again.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のシミュレー
ション/エミュレーションによるシステム検証のフロー
においては、先に述べたシミュレーション/エミュレー
ション方式のそれぞれが有する短所のため、シミュレー
ション方式ではStep14のエラー箇所までの再実行の時
間が非常に長くなり、エミュレーション方式ではStep1
5の不具合箇所の特定が困難となる問題を有している。
In the above-described conventional system verification flow using simulation / emulation, the simulation / emulation method has the disadvantages, and the simulation method requires re-execution up to the error point in step 14 in the simulation method. Time becomes very long.
5 has a problem that it is difficult to identify a defective portion.

【0011】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたものであり、シミュレーション又はエ
ミュレーションのそれぞれの方式の長所を活かし高速で
デバッグ(debug)性の良いシステム検証方法及び検証
装置を提供する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and utilizes the advantages of each of the simulation and emulation methods to provide a high-speed system verification method and a high-performance debug apparatus. I will provide a.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1記載のシステム
検証方法の発明は、シミュレーション又はエミュレーシ
ョンによりハードウェア及びソフトウェアを含むシステ
ムを検証するシステム検証方法であって、シミュレーシ
ョン又はエミュレーションモデルによりシステムを検証
するステップと、シミュレーション又はエミュレーショ
ン実行中の所定時刻毎に、システムの再実行に必要なシ
ステム内記憶素子の内容をデータ保存機構に保存するス
テップと、データ保存機構に保存したデータをシミュレ
ーション又はエミュレーションモデルにロードし、所望
する時刻Tiからシミュレーション又はエミュレーショ
ンを実行し、システムの不具合箇所を特定するステップ
を備えたものである。
The invention of a system verification method according to claim 1 is a system verification method for verifying a system including hardware and software by simulation or emulation, and verifies the system by simulation or emulation model. And storing the contents of the storage elements in the system necessary for re-execution of the system in the data storage mechanism at each predetermined time during the execution of the simulation or emulation, and simulating or emulating the data stored in the data storage mechanism. And executing a simulation or emulation from a desired time T i to specify a defective portion of the system.

【0013】請求項2記載のシステム検証方法の発明
は、エミュレーションモデルによりシステムを検証する
ステップと、エミュレーション実行中の所定時刻毎に、
システムの再実行に必要なシステム内記憶素子の内容を
データ保存機構に保存するステップと、データ保存機構
に保存したデータをシミュレーションモデルにロード
し、所望する時刻Tiからシミュレーションを実行し、
システムの不具合箇所を特定するステップとを備えたも
のである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a system verification method, comprising the steps of: verifying a system by using an emulation model;
Loads and storing the contents of the system memory element needed to re-run the system in the data storage mechanism, the data stored in the data storage mechanism to the simulation model, running the simulation from a desired time T i,
And a step of identifying a defective portion of the system.

【0014】請求項3記載のシステム検証方法の発明
は、システムの不具合箇所を特定した後、システムが正
常に動作する時刻Tkのデータをデータ保存機構からシ
ステム内記憶素子にロードし、この時刻Tkからシステ
ムの再検証を行うことを特徴とする。
[0014] invention the system verification method of claim 3 wherein loads after identifying the problem location system, the data of the time T k for the system to work properly from a data storage mechanism within system memory element, this time It is characterized in that the system is re-verified from T k .

【0015】請求項4記載のシステム検証方法の発明
は、システム内記憶素子(FF等)毎にスキャン機能を
有する記憶素子(SFF)を接続し、このスキャン用記
憶素子(SFF等)を連続して接続(スキャンチェーン
を構成)し、システムの再実行に必要なシステム内記憶
素子(FF等)の内容をスキャン用記憶素子(SFF)
を介して連続的にデータ保存機構に保存することを特徴
とする。
According to a fourth aspect of the present invention, a storage element (SFF) having a scan function is connected to each storage element (FF, etc.) in the system, and the storage elements (SFF, etc.) for scanning are connected continuously. (Scan chain configuration) and scan the contents of the storage elements (FF etc.) in the system necessary for re-execution of the system.
The data is continuously stored in the data storage mechanism through the data storage device.

【0016】請求項5記載のシステム検証方法の発明
は、システム内記憶素子の内容をデータ保存機構に保存
する際に、保存に適した時刻(バスサイクルの切れ目や
命令サイクルの切れ目等)まで進めた後、自動的に保存
することを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, when the contents of the storage elements in the system are stored in the data storage mechanism, the contents are advanced to a time suitable for storage (a break in a bus cycle or a break in an instruction cycle). After that, it is automatically saved.

【0017】請求項6記載のシステム検証方法の発明
は、システム内記憶素子の内容をデータ保存機構に保存
する際に、データ圧縮処理を施して保存する。
According to a sixth aspect of the present invention, when the contents of the storage elements in the system are stored in the data storage mechanism, the data is subjected to data compression processing and stored.

【0018】請求項7記載のシステム検証装置の発明
は、シミュレーション又はエミュレーション実行中の所
定時刻毎に、システムの再実行に必要なシステム内記憶
素子の内容を保存するデータ保存機構と、データ保存機
構に保存したデータをシステム内記憶素子にロードし、
所望する時刻からシミュレーション又はエミュレーショ
ンを再開する手段とを備えたものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a data storage mechanism for storing contents of a storage element in a system necessary for re-execution of a system at a predetermined time during execution of simulation or emulation, and a data storage mechanism. Load the data saved in the storage element in the system,
Means for restarting simulation or emulation from a desired time.

【0019】請求項8記載のシステム検証装置の発明
は、システムを検証するエミュレーションモデルと、エ
ミュレーション実行中の所定時刻毎にシステムの再実行
に必要なシステム内記憶素子の内容を保存するデータ保
存機構と、上記保存機構に保存したデータをロードし、
所望する時刻Tiからシミュレーションを実行してシス
テムの不具合箇所を特定するシミュレーションモデルと
を備えたシステム検証装置。
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided an emulation model for verifying a system, and a data storage mechanism for storing the contents of a storage element in the system necessary for re-execution of the system at predetermined times during execution of the emulation. And load the data saved in the above saving mechanism,
And a simulation model for executing a simulation from a desired time T i to specify a failure point of the system.

【0020】請求項9記載のシステム検証装置の発明
は、システム内記憶素子にスキャン機能を有する記憶素
子を接続し、システムの再実行に必要なシステム内記憶
素子の内容を上記スキャン用記憶素子を介して連続的に
データ保存機構に保存することを特徴とする。
According to a ninth aspect of the present invention, a storage element having a scan function is connected to the storage element in the system, and the contents of the storage element in the system required for re-execution of the system are stored in the storage element for scanning. Through a data storage mechanism.

【0021】請求項10記載のシステム検証装置の発明
は、システム内記憶素子の内容をデータ圧縮処理を施し
てデータ保存機構に保存するデータ圧縮機構を備えたも
のである。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a system verification device including a data compression mechanism for performing data compression processing on the contents of the storage elements in the system and storing the data in a data storage mechanism.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1はこの発明の
実施の形態1に係るシステム検証装置の検証フローを示
す図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a diagram showing a verification flow of the system verification apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.

【0023】図において、Step9はシステム検証の開始
を示し、図10又は図11に示すようなシミュレーショ
ン/エミュレーション用のモデルを準備する。この際、
後の過程(Step19)で途中の時刻からの再実行が可能
なように、再実行に必要な、システム内のハードウェア
/ソフトウェアに関する記憶素子(レジスタ、メモリ
等)の内容を、一定時刻毎(例えば1,000クロック毎)
に保存(内容をダンプ)するデータ保存機構17をモデ
ルに加えておく。これにより、Step10でシミュレーシ
ョン/エミュレーションを実行を行えば、一定時刻毎の
記憶素子(メモリ/レジスタ)情報がデータ保存機構1
7に蓄えられる。その後、Step11においてシミュレー
ション/エミュレーション結果が正しいかどうかをチェ
ックする。Step12で前記結果が正しければStep13に
進みシステム検証を終了する。正しくなければStep18
に進む。
In the figure, Step 9 indicates the start of system verification, and prepares a model for simulation / emulation as shown in FIG. 10 or FIG. On this occasion,
The contents of storage elements (registers, memories, etc.) related to hardware / software in the system necessary for re-execution are stored at regular time intervals (Step 19) so that re-execution from an intermediate time is possible in a later process (Step 19). (For example, every 1,000 clocks)
A data saving mechanism 17 for saving (dumping the contents) to the model is added to the model. Thus, if the simulation / emulation is performed in Step 10, the storage element (memory / register) information at a certain time is stored in the data storage mechanism 1
7 is stored. Then, in Step 11, it is checked whether the simulation / emulation result is correct. If the result is correct in Step 12, the process goes to Step 13 to end the system verification. Step 18 if not correct
Proceed to.

【0024】Step18では、不具合箇所が起こった(可
能性のある)時刻tをまず特定し、保存手段17で保存
していた時刻tの手前の時刻Ti(Ti<t≦Ti+1)の
データをシミュレーション/エミュレーション用モデル
にロードする{記憶素子(メモリ/レジスタ)に戻
す}。Step19において不具合箇所を特定するために、
時刻Tiからシミュレーション/エミュレーションを再
開する。次に、Step15で、ステップ実行、信号値の詳
細チェック等により不具合箇所を特定する。以降、Step
16でシステムの不具合箇所の修正を行い、再度Step1
0に戻ってシミュレーション/エミュレーションを再実
行する。
In Step 18, the time t at which the failure point has occurred (possibly) is first specified, and the time T i (T i <t ≦ T i + 1) before the time t stored by the storage unit 17 is specified. ) Is loaded into the simulation / emulation model {return to storage element (memory / register)}. In order to identify the defect in Step 19,
Resume the simulation / emulation from time T i. Next, in Step 15, a defective part is specified by executing a step, checking a signal value in detail, and the like. Hereafter, Step
Step 16 corrects the faulty part of the system and repeats Step 1
Return to 0 and re-execute simulation / emulation.

【0025】なお、図1において、Step16で不具合箇
所を修正した後、Step10に戻って最初から実行を再開
したが、ある時刻Tkまでは正常に動作することが分か
っている場合は、Step10の段階で保存手段17から時
刻Tkのデータをロードし、時刻Tkからシミュレーショ
ン/エミュレーションの実行を再開することも可能であ
る。
[0025] In FIG. 1, after correcting the problem location in Step 16, when it resumes execution at the first back to Step10, until a certain time T k is known to be working properly, the Step10 load the data of time T k from the storage means 17 in the stage, it is also possible to resume execution of the simulation / emulation from the time T k.

【0026】また、シミュレーション/エミュレーショ
ンモデルに一定時刻毎のダンプ処理を行う保存手段を加
える際、そのダンプする一定時刻間隔はパラメータ等の
変更により容易に変更可能にしておけば、より柔軟にシ
ステム検証を行うことができる。
In addition, when a storage means for performing a dump process at fixed time intervals is added to the simulation / emulation model, if the fixed time interval for dumping can be easily changed by changing parameters or the like, system verification can be performed more flexibly. It can be performed.

【0027】以上のように、実施の形態1によれば、必
要に応じて適当な時刻からシミュレーション/エミュレ
ーションを再開することができるため、デバッグ(不具
合箇所特定及び修正)に要する実行時間を短縮すること
ができる。
As described above, according to the first embodiment, since the simulation / emulation can be restarted from an appropriate time if necessary, the execution time required for debugging (specifying and correcting a defective portion) is reduced. be able to.

【0028】特に、エミュレーションと違って設計の早
期に行えるシミュレーションの場合には、非常に実行時
間のかかるデバッグ処理の時間を大幅に短縮することが
できる。
In particular, in the case of a simulation that can be carried out at an early stage of the design unlike emulation, it is possible to greatly reduce the time required for debugging, which requires a very long execution time.

【0029】また、本実施の形態では、システムのソフ
トウェアのデバッグ効率向上ばかりでなく、ソフトウェ
アとハードウェアの両方を視野に入れて、デバッグ効率
の向上を図るものである。
In the present embodiment, not only the debugging efficiency of the software of the system is improved, but also the debugging efficiency is improved from the viewpoint of both software and hardware.

【0030】実施の形態2.図2は実施の形態2に係る
システム検証装置の検証フローを示す図であり、図3は
当該システム検証装置の制御を説明するための模式図で
ある
Embodiment 2 FIG. FIG. 2 is a diagram showing a verification flow of the system verification device according to the second embodiment, and FIG. 3 is a schematic diagram for explaining control of the system verification device.

【0031】図2において、Step9はシステム検証の開
始を示し、図11に示すようなエミュレーション用のモ
デルを準備する。この際、実施の形態1で述べた一定時
刻毎(例えば1,000クロック毎)にシステム内の記憶素
子(レジスタ、メモリ等)の内容をダンプするデータ保
存機構17をモデルに加えておくと共に、そのダンプし
た情報がシミュレーションモデルにもロード可能なよう
に、保存するダンプ形式をエミュレーションとシミュレ
ーションで共通化しておく。次に、Step20でエミュレ
ーションを実行し、一定時刻毎のメモリ/レジスタ情報
をデータ保存機構17にダンプする。その後、Step11
でエミュレーション結果が正しいかどうかをチェックす
る。Step12でエミュレーション結果が正しければStep
13に進みシステム検証を終了する。正しくなければSt
ep21に進む。
In FIG. 2, Step 9 indicates the start of system verification, and prepares a model for emulation as shown in FIG. At this time, a data storage mechanism 17 for dumping the contents of the storage elements (registers, memories, etc.) in the system at regular time intervals (for example, every 1,000 clocks) described in the first embodiment is added to the model, and the dumping is performed. The dump format to be saved is shared between emulation and simulation so that the obtained information can be loaded into the simulation model. Next, emulation is performed in Step 20, and the memory / register information for each fixed time is dumped to the data storage mechanism 17. Then, Step 11
Check if the emulation result is correct. If the emulation result is correct in Step 12, Step
Proceed to 13 to end the system verification. St if not correct
Proceed to ep21.

【0032】Step21では、不具合箇所が起こった(可
能性のある)時刻tをまず特定し、データ保存機構17
に保存していた時刻tの手前の時刻Ti(Ti<t≦T
i+1)のデータを図10に示すようなシミュレーション
用モデルにロードする{記憶素子(メモリ/レジスタ)
に戻す}。Step22では不具合箇所を特定するために、
時刻Tiからシミュレーションを再開する。次に、Step
15で、ステップ実行、信号値の詳細チェック等により
不具合箇所を特定する。以降、Step16でシステム設計
の不具合箇所の修正を行い、再度Step20に戻ってエミ
ュレーションを再実行する。
In Step 21, the time t at which the failure point occurs (possibly) is first specified, and the data saving mechanism 17
At the time T i (T i <t ≦ T
i + 1 ) is loaded into the simulation model as shown in FIG. 10 {memory element (memory / register)
Return to}. In Step 22, in order to identify the trouble spot,
Resume the simulation from the time T i. Next, Step
At 15, a defective portion is identified by executing a step, checking a signal value in detail, and the like. Thereafter, in Step 16, a defective portion of the system design is corrected, and the process returns to Step 20 again to execute the emulation again.

【0033】なお、図2では、Step16で不具合箇所を
修正した後、Step20に戻って最初から実行を再開した
が、ある時刻Tkまでは正常に動作することが分かって
いる場合は、Step20の段階でデータ保存機構17から
時刻Tkのデータをロードし、時刻Tkから実行を再開す
ることも可能である。このシステム検証を模式的に表わ
したのが図3である。
[0033] In FIG. 2, after correcting the problem location in Step 16, has been to resume execution at the first back to Step 20, if it is known that to operate normally until the time T k is the Step 20 load the data of time T k from the data storage mechanism 17 in the stage, it is also possible to resume execution at the time T k. FIG. 3 schematically shows this system verification.

【0034】以上のように、この実施の形態によれば、
エミュレーションで得た途中時刻のダンプ結果をシミュ
レーション装置に持って行き、その時刻からシミュレー
ションを再開することができるため、エミュレーション
の高速性とシミュレーションのデバッグ(不具合箇所特
定及び修正)容易性という両方式の長所を生かすことが
できる。
As described above, according to this embodiment,
Since the simulation result can be taken to the simulation device at the halfway time obtained by the emulation and the simulation can be resumed from that time, both the high-speed emulation and the ease of debugging (specifying and correcting defects) of the simulation can be performed. You can take advantage of the advantages.

【0035】実施の形態3.図4は一般的なLSI(大
規模集積回路)の論理回路を模式化した図である。一般
に、LSIは組合せ回路23とフリップフロップ(F
F)やラッチのような記憶素子24から構成され、クロ
ック(clk)27に同期して処理が行われる。なお、
(data_in_1〜n)25はシステム入力端子、
(data_out_1〜m)26はシステム出力端子
を表わしている。
Embodiment 3 FIG. FIG. 4 is a diagram schematically illustrating a logic circuit of a general LSI (large-scale integrated circuit). Generally, an LSI is composed of a combinational circuit 23 and a flip-flop (F
F) and a storage element 24 such as a latch, and a process is performed in synchronization with a clock (clk) 27. In addition,
(Data_in_1 to n) 25 is a system input terminal,
(Data_out_1 to m) 26 represents a system output terminal.

【0036】この発明の実施の形態3では、システム検
証前に、図4のLSI回路を図5のようなシステム検証
用回路に変換する(この変換処理はプログラムによる自
動化が可能である)。この回路変換(図5)では、シミ
ュレーション/エミュレーションを再実行する際に必要
な記憶素子24(この例の場合はFF)毎にスキャン機
能をもった記憶素子28(この例の場合はスキャン・フ
リップフロップ“SFF”)を追加し、各FF24の出
力端子Qと各SFF28のデータ入力端子Dとを接続す
る。次に、全SFF28のスキャンモード端子SMとク
ロック端子Tにそれぞれスキャンモード信号(scan
_mode)31とクロック信号(clk)27を接続
する。さらに、全SFF28を順にスキャンチェーンで
接続する。スキャンチェーンとは、図5に示すように、
スキャン・イン信号(scan_in)29からスキャ
ンアウト信号(scan_out)30に向って、各S
FFのスキャン・イン端子SIと出力端子Qを経由し
て、全SFFを連続的に接続したものを言う。
In the third embodiment of the present invention, before the system verification, the LSI circuit of FIG. 4 is converted into a system verification circuit as shown in FIG. 5 (this conversion process can be automated by a program). In this circuit conversion (FIG. 5), a storage element 28 having a scan function (a scan flip-flop in this example) is provided for each storage element 24 (FF in this example) necessary for re-executing the simulation / emulation. Then, the output terminal Q of each FF 24 and the data input terminal D of each SFF 28 are connected. Next, a scan mode signal (scan) is applied to the scan mode terminal SM and the clock terminal T of all SFFs 28, respectively.
_Mode) 31 and the clock signal (clk) 27 are connected. Further, all the SFFs 28 are sequentially connected by a scan chain. A scan chain is, as shown in FIG.
From the scan-in signal (scan_in) 29 to the scan-out signal (scan_out) 30, each S
This means that all SFFs are continuously connected via the scan-in terminal SI and the output terminal Q of the FF.

【0037】図5の回路シミュレーション/エミュレー
ションでは、スキャンモード信号(scan_mod
e)31の値に係わりなく、(data_in)端子2
5から(data_out)端子26へのデータの流れ
は元の回路(図4の回路)と全く同じである。一方、時
刻tでの再実行に必要な記憶素子の内容をダンプしたい
場合、次の手順に従う(図6参照)。
In the circuit simulation / emulation of FIG. 5, the scan mode signal (scan_mod)
e) Regardless of the value of 31, (data_in) terminal 2
5 to the (data_out) terminal 26 is exactly the same as the original circuit (the circuit of FIG. 4). On the other hand, when it is desired to dump the contents of the storage element required for re-execution at time t, the following procedure is performed (see FIG. 6).

【0038】(1)時刻(t+1)までは、スキャンモ
ード信号(scan_mode)31の値を“0”(無
効)にしておく。これにより、各SFF28にはそのD
端子につながった前段のFF24の1クロック前の値が
常に蓄えられる(矢印32参照)。従って、時刻(t+
1)で、各SFF28には時刻tの各FFの内容が蓄え
られていることになる。
(1) Until the time (t + 1), the value of the scan mode signal (scan_mode) 31 is set to “0” (invalid). As a result, each SFF 28 has its D
The value one clock before the previous FF 24 connected to the terminal is always stored (see arrow 32). Therefore, the time (t +
In 1), each SFF 28 stores the contents of each FF at time t.

【0039】(2)時刻(t+1)と時刻(t+2)の
間にスキャンモード信号(scan_mode)31の
値を“0”から“1”(有効:enable)に変える。これ
により、時刻(t+2)以降、SFF28はスキャンモ
ードに入り、SFF28の値はFF24の値と無関係に
なる。スキャンモードでは、クロックに同期してスキャ
ン・イン信号(scan_in)29からスキャンアウ
ト信号(scan_out)30に向って、スキャンチ
ェーンの順に1ビットずつSFFのデータがシフトされ
ていく。
(2) The value of the scan mode signal (scan_mode) 31 is changed from “0” to “1” (valid: enable) between the time (t + 1) and the time (t + 2). Thus, after time (t + 2), the SFF enters the scan mode, and the value of the SFF becomes independent of the value of the FF. In the scan mode, the data of the SFF is shifted bit by bit in the order of the scan chain from the scan-in signal (scan_in) 29 to the scan-out signal (scan_out) 30 in synchronization with the clock.

【0040】(3)時刻(t+2)以降、スキャンチェ
ーンにつながったSFF28の数だけ、スキャンアウト
信号(scan_out)30からクロックに同期して
順にデータを取り出し前述のデータ保存機構に保存す
る。図5の例では4個のSFF28がスキャンチェーン
につながっているので、時刻(t+2)から4クロック
の間(時刻t+5まで)、スキャンアウト信号(sca
n_out)30から出力されるデータを保存すること
になる。
(3) After time (t + 2), data is sequentially extracted from the scan-out signal (scan_out) 30 in synchronization with the clock, and stored in the above-mentioned data storage mechanism by the number of SFFs 28 connected to the scan chain. In the example of FIG. 5, since the four SFFs 28 are connected to the scan chain, the scan-out signal (sca) is output for four clocks from time (t + 2) (until time t + 5).
n_out) 30 will be saved.

【0041】(4)上記(3)の処理が終った後、再度
スキャンモード信号(scan_mode)31の値を
“0”(無効)に戻すことによりスキャンモードが終了
し、以降はまた1クロック前の各FF24の値が各SF
F28に蓄えられるようになる。図5の例では、(3)
の処理が終了する時刻(t+5)より後にスキャンモー
ド信号(scan_mode)31の値を“0”(無
効)に戻すようにすれば良い。
(4) After the above process (3) is completed, the scan mode is ended by returning the value of the scan mode signal (scan_mode) 31 to "0" (invalid) again. Of each FF 24 is
It will be stored in F28. In the example of FIG. 5, (3)
The value of the scan mode signal (scan_mode) 31 may be returned to “0” (invalid) after the time (t + 5) at which the processing of (1) is completed.

【0042】(5)一定時刻毎(例えば1,000毎)にダ
ンプ処理を行う場合には、その時刻毎に上記(1)〜
(4)の処理を繰り返す。ただし、ここでの条件として
は、ダンプ処理の時刻サイクル(例えば1,000クロッ
ク)を、保存する記憶素子(FF等)の数よりも大きく
取ること必要がである。この時刻サイクルが小さいと、
ダンプ処理が終了する前に新しいデータが検証用記憶素
子(SFF)に入ってくることになる。
(5) When the dump process is performed at regular time intervals (for example, at every 1,000 times), the above (1) to (4) are performed at each time.
The process of (4) is repeated. However, as a condition here, it is necessary to set the time cycle (for example, 1,000 clocks) of the dump processing to be larger than the number of storage elements (FFs or the like) to be stored. If this time cycle is small,
New data comes into the verification storage element (SFF) before the dump processing ends.

【0043】なお、上述の例では、記憶素子としてフリ
ップフロップFFを用いているが、ラッチやメモリのよ
うな記憶素子でも同様にダンプすることが可能である。
Although the flip-flop FF is used as the storage element in the above-described example, it is also possible to dump a storage element such as a latch or a memory.

【0044】また、この例では1本のスキャンチェーン
で回路を構成しているが、複数のスキャンチェーンを作
ることも可能である。
In this example, the circuit is constituted by one scan chain. However, a plurality of scan chains can be formed.

【0045】以上のように、この実施の形態によれば、
スキャン設計方式を活用することによりダンプ処理に伴
う実行時間のペナルティがなく、また少数の外部端子
(scan_in29,scan_out30,sca
n_mode31)を増やすだけで、シミュレーション
/エミュレーションを行うことができる。なお、スキャ
ン回路を挿入するような処理(図5)はあくまでシステ
ム検証用であり、実際の設計(implementation)では元
の回路(図4)を使用するため、設計上のハードウェア
・ペナルティもない。
As described above, according to this embodiment,
By utilizing the scan design method, there is no execution time penalty associated with the dump processing, and a small number of external terminals (scan_in29, scan_out30, scana
Simulation / emulation can be performed only by increasing n_mode 31). The process of inserting a scan circuit (FIG. 5) is only for system verification, and the actual design (implementation) uses the original circuit (FIG. 4), so there is no hardware penalty in the design. .

【0046】実施の形態4.図7及び図8は実施の形態
4を説明するためのダンプ用のテストベンチを示す図で
ある。
Embodiment 4 FIG. 7 and 8 are views showing a dump test bench for explaining the fourth embodiment.

【0047】途中からの再実行に必要な記憶素子の数は
システムによって異なるが、一つのシステムであって
も、バスサイクルの切れ目や命令(例えば、読み込み命
令/書き込み命令)サイクルの切れ目で考えれば、保存
すべき記憶素子の数が少なくて済む場合が多々ある。
The number of storage elements required for re-execution from the middle differs depending on the system. However, even in a single system, the number of storage elements can be considered at the break of a bus cycle or the break of an instruction (eg, a read instruction / write instruction) cycle. In many cases, the number of storage elements to be stored may be small.

【0048】図7は実施の形態1を実現する際に用い
る、通常のダンプ用ベンチテストを示す図である。図7
において、変数“Last”はシミュレーション(エミ
ュレーション)の最終時刻を表わし、変数“Inter
val”はダンプする時刻間隔を表わす。図7のfor
文は、「時刻0から最終時刻“Last”まで、時刻間
隔“Interval”毎に再実行に必要な記憶素子の
情報をダンプする」ことを示している。
FIG. 7 is a diagram showing a normal dump bench test used to implement the first embodiment. FIG.
, The variable “Last” represents the last time of the simulation (emulation), and the variable “Inter”.
"val" indicates a time interval for dumping. For in FIG.
The sentence indicates that "from time 0 to the last time" Last ", information on storage elements necessary for re-execution is dumped at each time interval" Interval "".

【0049】図8は実施の形態4を実現するためのダン
プ用ベンチテストを示す図である。図7のベンチテスト
では、正確に“Interval”毎にダンプを行って
いるが、図8ではダンプするのに適した時刻(例えば、
バスサイクルの切れ目や命令サイクルの切れ目)まで時
刻を進めた後、ダンプ処理を実行する。この条件文(i
f文)の中にある条件「ダンプに適した時刻かどうか」
は、システム中の適当な信号をモニターしておくことに
よって条件として記述できる。すなわち、ダンプする時
刻は、予め指定されたクロック時刻ではなく、その時刻
に近接したバスサイクルの切れ目又は命令サイクルのよ
うな再実行に必要な情報ができるだけ少なくて済む時刻
に自動修正する。
FIG. 8 is a diagram showing a dump bench test for realizing the fourth embodiment. In the bench test of FIG. 7, the dump is performed exactly for each “Interval”, but in FIG. 8, a time suitable for dumping (for example,
After advancing the time until a bus cycle break or an instruction cycle break), a dump process is executed. This conditional statement (i
f statement) in the condition "whether the time is suitable for dumping"
Can be described as a condition by monitoring the appropriate signal in the system. That is, the dumping time is not a clock time designated in advance, but is automatically corrected to a time at which information necessary for re-execution, such as a break of a bus cycle or an instruction cycle, which is close to the time, requires as little information as possible.

【0050】なお、図8ではC言語でテストベンチを記
述したが、HDL等で記述することも可能である。ま
た、同様の処理を、for文、if文以外を用いて記述
することも可能である。
Although the test bench is described in C language in FIG. 8, it can be described in HDL or the like. Further, the same processing can be described using a statement other than the for statement and the if statement.

【0051】以上のように、この実施の形態によれば、
自動的にダンプに適した時刻まで進めた後にダンプ処理
を実行できるため、保存するデータ量を少なくすること
ができる。
As described above, according to this embodiment,
Since the dump processing can be executed after automatically proceeding to a time suitable for dumping, the amount of data to be saved can be reduced.

【0052】実施の形態5.図9は実施の形態5に係る
システム検証装置の検証フローを示す図である。
Embodiment 5 FIG. FIG. 9 is a diagram showing a verification flow of the system verification device according to the fifth embodiment.

【0053】この発明の実施の形態5は、再実行に必要
な記憶素子のデータを保存機構に保存する際にデータ圧
縮処理を行うことを特徴とする。すなわち、図9に示す
ように、実施の形態1で示した検証フロー(図1)にデ
ータ圧縮機構33が付加されている。このデータ圧縮機
構33により、再実行に必要な記憶素子のデータを保存
する際、データ圧縮処理を施してからデータ保存機構1
7に保存する。特にメモリデータの保存において、メモ
リ(DRAM等)中に未使用領域や値が定まっていない
(値が不定値“X”の)部分が多く存在する場合には有
効である。このデータ圧縮処理には既存のデータ圧縮ア
ルゴリズムを実装して使用することができる。
The fifth embodiment of the present invention is characterized in that a data compression process is performed when data of a storage element necessary for re-execution is stored in a storage mechanism. That is, as shown in FIG. 9, a data compression mechanism 33 is added to the verification flow (FIG. 1) shown in the first embodiment. When storing data of the storage element required for re-execution by the data compression mechanism 33, the data compression mechanism 33 performs a data compression process and then stores the data in the data storage mechanism 1.
Save to 7. This is particularly effective when storing memory data when there are many unused areas or portions where the value is not determined (the value is an undefined value “X”) in the memory (DRAM or the like). For this data compression processing, an existing data compression algorithm can be implemented and used.

【0054】なお、エミュレーションの場合には、デー
タ圧縮処理をハードウェアとして実装することも可能で
ある。
In the case of emulation, the data compression processing can be implemented as hardware.

【0055】以上のように、この実施の形態によれば、
ダンプ結果を自動的にデータ圧縮して保存できるため、
保存するデータ量を少なくすることができる。
As described above, according to this embodiment,
Since the data of the dump can be automatically compressed and saved,
The amount of data to be saved can be reduced.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上のように、請求項1〜請求項9の発
明によれば、シミュレーション/エミュレーション時間
を短縮することができ、システム検証のデバッグ(不具
合箇所特定及び修正)性が向上する。
As described above, according to the first to ninth aspects of the present invention, the simulation / emulation time can be shortened, and the debugging (specifying and correcting a defective portion) of the system verification is improved.

【0057】特に、請求項2又は請求項8の発明によれ
ば、エミュレーションモデルで得た途中時刻のダンプ結
果をシミュレーションモデルに持って行き、その時刻か
らシミュレーションを再開することができるため、エミ
ュレーションの高速性とシミュレーションのデバッグ容
易性という両方式の長所を生かすことができる。
In particular, according to the second or eighth aspect of the present invention, the dump result at an intermediate time obtained by the emulation model can be taken to the simulation model, and the simulation can be resumed from that time. You can take advantage of the advantages of both high speed and easy debugging of simulation.

【0058】また、請求項3又は請求項9の発明によれ
ば、スキャン設計方式を活用することによりダンプ処理
に伴う実行時間のペナルティがなく、また少数の外部端
子を増やすだけでシミュレーション/エミュレーション
を行うことができる。また、設計上のハードウェア・ペ
ナルティもない。
According to the third or ninth aspect of the present invention, by utilizing the scan design method, there is no execution time penalty associated with the dump processing, and simulation / emulation can be performed only by increasing a small number of external terminals. It can be carried out. Also, there is no hardware penalty in the design.

【0059】また、請求項4又は請求項10の発明によ
れば、ダンプ結果を自動的にデータ圧縮して保存できる
ため、保存するデータ量を少なくすることができる。
Further, according to the invention of claim 4 or claim 10, since the dump result can be automatically compressed and stored, the amount of data to be stored can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1によるシステム検証
装置の検証フローを示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a verification flow of a system verification device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 実施の形態2によるシステム検証装置の検証
フローを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a verification flow of a system verification device according to a second embodiment.

【図3】 実施の形態2によるシステム検証装置の制御
を説明するための模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining control of a system verification device according to a second embodiment.

【図4】 一般的なLSIの論理回路を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a logic circuit of a general LSI.

【図5】 実施の形態3によるシステム検証用の論理回
路構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a logic circuit for system verification according to a third embodiment;

【図6】 実施の形態3によるフリップフロップ(F
F)とスキャンフリップフロップ(SFF)の値の変化
(信号伝搬)を示す図である。
FIG. 6 illustrates a flip-flop (F) according to the third embodiment.
FIG. 3F is a diagram showing a change (signal propagation) of the value of the scan flip-flop (SFF).

【図7】 実施の形態1によるダンプ用ベンチテストを
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a dump bench test according to the first embodiment.

【図8】 実施の形態4によるダンプ用ベンチテストを
示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a dump bench test according to the fourth embodiment.

【図9】 実施の形態5によるシステム検証装置の検証
フローを示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a verification flow of the system verification device according to the fifth embodiment.

【図10】 シミュレーション方式を説明するための構
成概略図である。
FIG. 10 is a schematic configuration diagram for explaining a simulation method.

【図11】 エミュレーション方式を説明するための構
成概略図である。
FIG. 11 is a schematic configuration diagram illustrating an emulation method.

【図12】 従来のシミュレーション/エミュレーショ
ン方式によるシステム検証フローを示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a system verification flow according to a conventional simulation / emulation method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 シミュレーション実行用コンピュータ、2 CPU
モデル、3 メモリモデル、4 ハードウェア(ASI
C等)モデル、5 エミュレーション実行用ボード、6
実CPUチップ(又はICE)、7 実部品(メモリ
等)、8 ASIC(FPGA)、17 データ保存機
構、24 システム内記憶素子(FF)、28 スキャ
ン用記憶素子(SFF)、33 データ圧縮機構。
1. Computer for executing simulation, 2 CPU
Model, 3 memory model, 4 hardware (ASI
C) model, 5 emulation execution board, 6
Real CPU chip (or ICE), 7 real parts (memory, etc.), 8 ASIC (FPGA), 17 data storage mechanism, 24 storage element (FF) in system, 28 storage element for scanning (SFF), 33 data compression mechanism.

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 シミュレーション又はエミュレーション
によりハードウェア及びソフトウェアを含むシステムを
検証するシステム検証方法であって、 シミュレーション又はエミュレーションモデルによりシ
ステムを検証するステップと、 シミュレーション又はエミュレーション実行中の所定時
刻毎に、システムの再実行に必要なシステム内記憶素子
の内容をデータ保存機構に保存するステップと、 上記保存機構に保存したデータをシミュレーション又は
エミュレーションモデルにロードし、所望する時刻Ti
からシミュレーション又はエミュレーションを実行し、
システムの不具合箇所を特定するステップとを備えたこ
とを特徴とするシステム検証方法。
1. A system verification method for verifying a system including hardware and software by simulation or emulation, comprising the steps of: verifying a system by simulation or emulation model; time T i which of and storing the contents of the system memory device required for data storage mechanism to re-execute, load the data stored in the storage mechanism to the simulation or emulation model, desired
Run a simulation or emulation from
A step of identifying a faulty part of the system.
【請求項2】 システムを検証するシステム検証方法で
あって、 エミュレーションモデルによりシステムを検証するステ
ップと、 エミュレーション実行中の所定時刻毎に、システムの再
実行に必要なシステム内記憶素子の内容をデータ保存機
構に保存するステップと、 上記保存機構に保存したデータをシミュレーションモデ
ルにロードし、所望する時刻Tiからシミュレーション
を実行し、システムの不具合箇所を特定するステップと
を備えたシステム検証方法。
2. A system verification method for verifying a system, comprising the steps of: verifying the system by an emulation model; and storing data of a storage element in the system required for re-execution of the system at predetermined times during execution of the emulation. A system verification method comprising: a step of storing data in a storage mechanism; and a step of loading data stored in the storage mechanism into a simulation model, executing a simulation from a desired time T i , and identifying a defective portion of the system.
【請求項3】 システムの不具合箇所を特定した後、シ
ステムが正常に動作する時刻Tkのデータを上記保存機
構からシステム内記憶素子にロードし、上記時刻Tk
らシステムの再検証を行うことを特徴とする請求項1又
は請求項2記載のシステム検証方法。
3. After identifying the defective part of the system, the data of the time T k for the system to work properly loaded into system memory element from the storage mechanism, to perform the revalidation of the system from the time T k The system verification method according to claim 1 or 2, wherein:
【請求項4】 システム内記憶素子にスキャン機能を有
する記憶素子を接続し、システムの再実行に必要なシス
テム内記憶素子の内容を上記スキャン用記憶素子を介し
て連続的にデータ保存機構に保存することを特徴とする
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のシステム
検証方法。
4. A storage element having a scan function is connected to the storage element in the system, and the contents of the storage element in the system necessary for re-execution of the system are continuously stored in the data storage mechanism via the storage element for scanning. The system verification method according to any one of claims 1 to 3, wherein the system verification method is performed.
【請求項5】 システム内記憶素子の内容をデータ保存
機構に保存する際に、保存に適した時刻まで進めた後、
自動的に保存することを特徴とする請求項1から請求項
4のいずれか1項に記載のシステム検証方法。
5. When storing the contents of a storage element in a system in a data storage mechanism, advance to a time suitable for storage.
The system verification method according to claim 1, wherein the system verification is automatically stored.
【請求項6】 システム内記憶素子の内容をデータ保存
機構に保存する際に、データ圧縮処理を施して保存する
ことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項
に記載のシステム検証方法。
6. The system according to claim 1, wherein when the contents of the storage elements in the system are saved in the data saving mechanism, the contents are subjected to data compression processing and saved. Method of verification.
【請求項7】 シミュレーション又はエミュレーション
によりシステムを検証するシステム検証装置において、 シミュレーション又はエミュレーション実行中の所定時
刻毎に、システムの再実行に必要なシステム内記憶素子
の内容を保存するデータ保存機構と、 上記保存機構に保存したデータをシステム内記憶素子に
ロードし、所望する時刻からシミュレーション又はエミ
ュレーションを再開する手段とを備えたシステム検証装
置。
7. A system verification device for verifying a system by simulation or emulation, wherein at every predetermined time during execution of simulation or emulation, a data storage mechanism for storing contents of a storage element in the system required for re-execution of the system; Means for loading data stored in the storage mechanism into a storage element in the system and restarting simulation or emulation from a desired time.
【請求項8】 システムを検証するシステム検証装置で
あって、 システムを検証するエミュレーションモデルと、 エミュレーション実行中の所定時刻毎に、システムの再
実行に必要なシステム内記憶素子の内容を保存するデー
タ保存機構と、 上記保存機構に保存したデータをロードし、所望する時
刻Tiからシミュレーションを実行してシステムの不具
合箇所を特定するシミュレーションモデルとを備えたシ
ステム検証装置。
8. A system verification device for verifying a system, comprising: an emulation model for verifying the system; and data for storing contents of a storage element in the system required for re-execution of the system at predetermined times during execution of the emulation. a storage mechanism, and load the data stored in the storage mechanism, system verification apparatus and a simulation model to identify the problem location of the system running the simulation from a desired time T i.
【請求項9】 システム内記憶素子にスキャン機能を有
する記憶素子を接続し、システムの再実行に必要なシス
テム内記憶素子の内容を上記スキャン用記憶素子を介し
て連続的にデータ保存機構に保存することを特徴とする
請求項7又は請求項8記載のシステム検証装置。
9. A storage element having a scan function is connected to the storage element in the system, and the contents of the storage element in the system necessary for re-execution of the system are continuously stored in the data storage mechanism via the storage element for scanning. 9. The system verification device according to claim 7, wherein the system verification is performed.
【請求項10】 システム内記憶素子の内容をデータ圧
縮処理を施してデータ保存機構に保存するデータ圧縮機
構を備えた請求項7から請求項9のいずれか1項に記載
のシステム検証装置。
10. The system verification apparatus according to claim 7, further comprising a data compression mechanism for performing data compression processing on the contents of the storage elements in the system and storing the data in a data storage mechanism.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009245242A (en) * 2008-03-31 2009-10-22 Nec Corp Apparatus and method for verifying circuit

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