JPH11242064A - Inspection apparatus for mounting board - Google Patents
Inspection apparatus for mounting boardInfo
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- JPH11242064A JPH11242064A JP10043095A JP4309598A JPH11242064A JP H11242064 A JPH11242064 A JP H11242064A JP 10043095 A JP10043095 A JP 10043095A JP 4309598 A JP4309598 A JP 4309598A JP H11242064 A JPH11242064 A JP H11242064A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は実装基板検査装置に
関し、実装基板検査装置のプローブピンに静電気がチャ
ージされている状態で検査をしても、基板側に静電気破
壊が生じないように工夫したものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting board inspection apparatus, and has been devised so that even if an inspection is performed in a state in which static electricity is charged to the probe pins of the mounting board inspection apparatus, static electricity is not destroyed on the substrate side. Things.
【０００２】[0002]
【従来の技術】プリント基板にＩＣ等の電子部品を実装
した実装基板に対しては、実装後に、インサーキットテ
ストやファンクションテストが行われる。インサーキッ
トテストとは、各電子部品が所要の特性、例えば抵抗や
インダクタンスやキャパシタンスを有しているかどうか
を調べるテストであり、ファンクションテストとは実装
基板に形成された電気回路が所要の入出力特性を有して
いるかどうかを調べるテストである。2. Description of the Related Art After mounting, an in-circuit test and a function test are performed on a mounting board in which electronic components such as an IC are mounted on a printed board. An in-circuit test is a test to check whether each electronic component has required characteristics, such as resistance, inductance, and capacitance.A function test is a test in which an electric circuit formed on a mounting board has the required input / output characteristics. This is a test to determine whether or not the user has
【０００３】上述したインサーキットテストやファンク
ションテストを行うために、実装基板検査装置が用いら
れる。図４は従来の実装基板検査装置を示す。同図に示
すように、実装基板１０は、基板１１上に電子部品（Ｉ
Ｃ等）１２を実装したものであり、基板１１には基準孔
１３が形成されている。In order to perform the above-described in-circuit test and function test, a mounting board inspection apparatus is used. FIG. 4 shows a conventional mounting board inspection apparatus. As shown in FIG. 1, the mounting substrate 10 includes electronic components (I
C) 12 are mounted, and a reference hole 13 is formed in the substrate 11.
【０００４】上記実装基板１０の検査を行う実装基板検
査装置では、ベース板２０に基板位置決めピン２１を立
設している。[0004] In the mounting board inspection apparatus for inspecting the mounting board 10, board positioning pins 21 are erected on a base plate 20.
【０００５】一方、アクリル板で形成した上板３０には
多数本のプローブピン３１が備えられている。各プロー
ブピン３１は、それぞれソケット３２を介して上板３０
に備えられている。しかも、ソケット３２内に配置した
バネ（図示省略）により、プローブピン３１は、弾性的
に支持されている。即ち、プローブピン３１に、下方か
ら上方に向かう外力が作用すると、プローブピン３１は
上板３０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなる
とバネ力により上板３０から下方に突出して初期位置に
まで戻る。各プローブピン３１は、アース用、電源用、
信号入出力用のピンとして利用する。On the other hand, an upper plate 30 formed of an acrylic plate is provided with a large number of probe pins 31. Each probe pin 31 is connected to the upper plate 30 via a socket 32.
It is provided in. Moreover, the probe pins 31 are elastically supported by springs (not shown) arranged in the socket 32. That is, when an external force from the lower side to the upper side acts on the probe pin 31, the probe pin 31 is pushed into the upper plate 30 side. Return to Each probe pin 31 is for ground, power,
Used as signal input / output pins.
【０００６】上板３０は、図示しない昇降機構により、
ベース板２０に対して正確に位置決めした状態で昇降す
るようになっている。The upper plate 30 is moved by a lifting mechanism (not shown).
It moves up and down while being accurately positioned with respect to the base plate 20.
【０００７】検査時には、まず基板位置決めピン２１が
基準孔１３を貫通するよう位置決めして、実装基板１０
をベース板２０上に載置する。次に上板３０を降下させ
ていく。そうすると、実装基板１０の各検査点に各プロ
ーブピン３１の下端（先端）が同時に接触し、この状態
から更に上板３０を降下させてクランプすると、各プロ
ーブピン３１は上板３０側に押し込まれる状態となり、
各プローブピン３１は前記バネにより下方に押される状
態で、各検査点に押圧される。At the time of inspection, first, the board positioning pins 21 are positioned so as to pass through the reference holes 13, and the mounting board 10 is mounted.
Is placed on the base plate 20. Next, the upper plate 30 is lowered. Then, the lower ends (tips) of the probe pins 31 simultaneously come into contact with the respective inspection points of the mounting board 10, and when the upper plate 30 is further lowered and clamped from this state, the probe pins 31 are pushed into the upper plate 30 side. State
Each probe pin 31 is pressed to each inspection point while being pressed downward by the spring.
【０００８】各プローブピン３１の下端（先端）が、各
検査点にバネ力により押圧された状態で、電圧印加や電
流供給をしたり、所要の信号の入出力の検査をして、各
種のテストをする。テスト終了後は上板３０が上昇し、
各プローブピン３１はバネ力により初期位置にまで戻
る。While the lower end (tip) of each probe pin 31 is pressed against each inspection point by a spring force, a voltage is applied or a current is supplied, and input / output of required signals is inspected. Test. After the test, the upper plate 30 rises,
Each probe pin 31 returns to the initial position by a spring force.
【０００９】なお、実装基板１０に押釦タイプのスイッ
チが実装されているタイプのものでは、押釦スイッチを
押した状態にして、各種試験をすることがある。この場
合には、従来では、作業者が前記押釦スイッチを指で押
した状態にして、実装基板検査装置を作動させて試験を
行っている。In the case of a type in which a push-button switch is mounted on the mounting board 10, various tests may be performed with the push-button switch pressed. In this case, conventionally, a test is performed by operating the mounting board inspection apparatus with the operator pressing the push button switch with a finger.
【００１０】[0010]
【発明が解決しようとする課題】ところで上記従来技術
では、アース用、電源用、信号入出力用の各プローブピ
ン３１が同時に検査点に接触するため、プローブピン３
１に静電気がチャージされていた場合には、この静電気
により、本来の検査仕様とは異なる手順で電圧（静電気
に起因する電圧）や電流（静電気に起因する電流）が流
れてしまい、実装基板１０が静電気破壊することがあっ
た。In the above prior art, the probe pins 31 for grounding, power supply, and signal input / output come into contact with the inspection point at the same time.
If the static electricity has been charged in the mounting substrate 10, the static electricity causes a voltage (a voltage caused by the static electricity) or a current (a current caused by the static electricity) to flow in a procedure different from the original inspection specification. Could be destroyed by static electricity.
【００１１】また、実装基板１０に押釦タイプのスイッ
チが実装されているタイプのものであって、押釦スイッ
チを押した状態にして、各種試験をする場合には、、作
業者が前記押釦スイッチを指で押した状態にして、実装
基板検査装置を作動させて試験を行っている。このた
め、作業が面倒であった。When a push-button type switch is mounted on the mounting board 10 and various tests are performed with the push-button switch being pressed, an operator operates the push-button switch. The test is performed by operating the mounting board inspection apparatus with the finger pressed. Therefore, the work was troublesome.
【００１２】本発明は、上記従来技術に鑑み、プローブ
ピンに静電気がチャージされていても、実装基板を静電
気破壊から保護して必要な検査ができ、しかも、押釦タ
イプのスイッチが実装されている実装基板に対しては押
釦スイッチを自動的に押した状態で必要な検査のできる
実装基板の検査装置を提供することを目的とする。In view of the above prior art, the present invention protects a mounting substrate from electrostatic destruction even if static electricity is charged to a probe pin, and can perform necessary inspection. In addition, a push button type switch is mounted. An object of the present invention is to provide a mounting board inspection apparatus capable of performing a necessary inspection on a mounting board while automatically pressing a push button switch.
【００１３】[0013]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の構成は、実装基板が上方から載置されるベース板に
備えられると共にアース接地されており、実装基板側か
らベース板側に向かう外力が作用すると押し込められ、
前記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板側に
向かい初期位置にまで突出するアース用プローブピン
と、前記ベース板に対して昇降する上板に備えられてお
り、ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押
し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により
ベース板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び
信号入出力用のプローブピンと、前記上板に備えられて
おり、ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると
押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によ
りベース板側に向かい初期位置にまで突出し、しかも初
期位置における突出ストロークが初期位置における前記
プローブピンの突出ストロークよりも長くなっている押
さえピンとを有することを特徴とする。According to the structure of the present invention, which solves the above-mentioned problems, a mounting board is provided on a base plate on which the mounting board is mounted from above, and is grounded, and goes from the mounting board side to the base plate side. It is pushed in when external force acts,
A grounding probe pin that projects toward the mounting substrate side by the spring force when the external force stops acting and protrudes to the initial position, and is provided on an upper plate that moves up and down with respect to the base plate, and is provided from the base plate side to the upper plate side. When an external force is applied, the probe is pushed in, and when the external force is no longer applied, the power supply and signal input / output probe pins project toward the base plate side to the initial position by a spring force, and are provided on the upper plate. When an external force from the plate side to the upper plate side acts, it is pushed in, and when the external force stops acting, it protrudes toward the base plate side to the initial position by the spring force, and furthermore, the projecting stroke at the initial position causes the probe pin at the initial position to move. A holding pin that is longer than the protruding stroke.
【００１４】また本発明の構成は、実装基板が上方から
載置されるベース板に備えられており、実装基板側から
ベース板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前
記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板側に向
かい初期位置にまで突出する押しピンと、前記ベース板
に対して昇降する上板に備えられており、ベース板側か
ら上板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前記
外力が作用しなくなるとバネ力によりベース板側に向か
い初期位置にまで突出する電源用及び信号入出力用のプ
ローブピンと、前記上板に備えられており、ベース板側
から上板側に向かう外力が作用すると押し込められ、前
記外力が作用しなくなるとバネ力によりベース板側に向
かい初期位置にまで突出し、しかも初期位置における突
出ストロークが初期位置における前記プローブピンの突
出ストロークよりも長くなっている押さえピンとを有す
ることを特徴とする。Further, according to the structure of the present invention, the mounting board is provided on the base plate on which the mounting board is mounted from above. When an external force from the mounting board side to the base plate side is applied, it is pushed in, and when the external force stops acting. A push pin protruding toward the mounting board side to the initial position by a spring force is provided on an upper plate that moves up and down with respect to the base plate, and is pushed in when an external force from the base plate side toward the upper plate side is applied. A probe pin for power supply and signal input / output protruding toward the base plate side to an initial position by a spring force when the external force stops acting, and an external force provided on the upper plate and directed from the base plate side to the upper plate side. When the external force no longer acts, the spring is protruded toward the base plate by the spring force to the initial position. And having a pressing pin is longer than the projection stroke of the probe pins in position.
【００１５】[0015]
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。図１及び図２は本発明の第１
の実施の形態にかかる実装基板検査装置を示す。なお図
１は検査準備時の状態を示し、図２は検査実行時の状態
を示す。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. 1 and 2 show a first embodiment of the present invention.
1 shows a mounting board inspection apparatus according to an embodiment. 1 shows a state at the time of preparation for inspection, and FIG. 2 shows a state at the time of execution of inspection.
【００１６】両図に示すように、実装基板１１０は、基
板１１１の上面に電子部品（ＩＣ等）１１２を実装した
ものであり、上面に電源用及び信号入出力用のランドを
集中して形成している。また、基板１１１の下面には、
アース用のランドや、筺体取付け用のパターン等の、ア
ース部分が形成されている。更に、基板１１１には基準
孔１１３が形成されている。結局、基板１１１の上面に
電源用及び信号入出力用のランドを集中して形成し、基
板１１１の下面にアース部分が形成されるように、基板
１１１が設計・製造されている。As shown in FIGS. 1 and 2, a mounting substrate 110 has an electronic component (such as an IC) 112 mounted on an upper surface of a substrate 111, and lands for power supply and signal input / output are formed on the upper surface in a concentrated manner. doing. Also, on the lower surface of the substrate 111,
A grounding portion such as a grounding land and a housing mounting pattern is formed. Further, a reference hole 113 is formed in the substrate 111. After all, the substrate 111 is designed and manufactured such that lands for power supply and signal input / output are formed on the upper surface of the substrate 111 in a concentrated manner, and a ground portion is formed on the lower surface of the substrate 111.
【００１７】上記実装基板１１０の検査を行う第１の実
施の形態に係る実装基板検査装置では、ベース板１２０
に基板位置決めピン１２１を立設すると共に、複数本の
アース用プローブピン１２２が備えられている。各アー
ス用プローブピン１２２は、それぞれソケット１２３を
介してベース板１２０に備えられており、アース接地さ
れている。しかも、ソケット１２３内に配置したバネ
（図示省略）により、アース用プローブピン１２２は、
弾性的に支持されている。即ち、アース用プローブピン
１２２に、上方から下方に向かう外力が作用すると、ア
ース用プローブピン１２２はベース板１２０側に押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板１２０から上方に突出して初期位置にまで戻る。In the mounting board inspection apparatus according to the first embodiment for inspecting the mounting board 110, the base plate 120
And a plurality of grounding probe pins 122 are provided. Each ground probe pin 122 is provided on the base plate 120 via a socket 123, and is grounded. Moreover, the spring (not shown) arranged in the socket 123 allows the grounding probe pin 122 to
It is elastically supported. That is, when an external force from the upper side to the lower side acts on the grounding probe pin 122, the grounding probe pin 122 is pushed into the base plate 120 side. To return to the initial position.
【００１８】一方、アクリル板で形成した上板１３０に
は電源用及び信号入出力用の多数本のプローブピン１３
１が備えられている。各プローブピン１３１は、それぞ
れソケット１３２を介して上板１３０に備えられてい
る。しかも、ソケット１３２内に配置したバネ（図示省
略）により、プローブピン１３１は、弾性的に支持され
ている。即ち、プローブピン１３１に、下方から上方に
向かう外力が作用すると、プローブピン１３１は上板１
３０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバ
ネ力により上板１３０から下方に突出して初期位置にま
で戻る。On the other hand, an upper plate 130 made of an acrylic plate has a large number of probe pins 13 for power supply and signal input / output.
1 is provided. Each probe pin 131 is provided on the upper plate 130 via a socket 132. Moreover, the probe pins 131 are elastically supported by springs (not shown) arranged in the socket 132. That is, when an external force that acts upward from below acts on the probe pin 131, the probe pin 131
When the external force is no longer applied, it is pushed downward from the upper plate 130 by the spring force and returns to the initial position.
【００１９】更に上板１３０には複数本の押さえピン１
３３が備えられている。各押さえピン１３３は、それぞ
れソケット１３４を介して上板１３０に備えられてい
る。しかも、ソケット１３４内に配置したバネ（図示省
略）により、押さえピン１３３は、弾性的に支持されて
いる。即ち、押さえピン１３３に、下方から上方に向か
う外力が作用すると、押さえピン１３３は上板１３０側
に押し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力に
より上板１３０から下方に突出して初期位置にまで戻
る。Further, the upper plate 130 has a plurality of holding pins 1.
33 are provided. Each holding pin 133 is provided on the upper plate 130 via a socket 134, respectively. Moreover, the holding pin 133 is elastically supported by a spring (not shown) arranged in the socket 134. That is, when an external force from the lower side to the upper side acts on the pressing pin 133, the pressing pin 133 is pushed into the upper plate 130 side. Return to
【００２０】しかも、外力の作用していない初期位置で
は、押さえピン１３３の突出ストロークは、プローブピ
ン１３１の突出ストロークよりも長くなるように設計し
ている。In addition, in the initial position where no external force acts, the projecting stroke of the holding pin 133 is designed to be longer than the projecting stroke of the probe pin 131.
【００２１】また上板１３０は、図示しない昇降機構に
より、ベース板１２０に対して正確に位置決めした状態
で昇降するようになっている。The upper plate 130 is moved up and down by a not-shown elevating mechanism while being accurately positioned with respect to the base plate 120.
【００２２】検査時には、まず基板位置決めピン１２１
が基準孔１１３を貫通するよう位置決めして、実装基板
１１０をベース板１２０上に載置する。このようにする
とアース用プローブピン１２２の上端（先端）が、実装
基板１１１の下面のアース部分に接触する。At the time of inspection, first, the board positioning pins 121 are used.
Is positioned so as to pass through the reference hole 113, and the mounting substrate 110 is placed on the base plate 120. By doing so, the upper end (tip) of the grounding probe pin 122 contacts the grounding portion on the lower surface of the mounting board 111.
【００２３】次に上板１３０を降下させていく。そうす
ると、まず押さえピン１３５の下端（先端）が基板１１
１の上面に接触し、この状態から更に上板１３０を降下
させていくと、押さえピン１３５は上板１３０側に押し
込まれる状態となり（突出ストロークが短くなり）、押
さえピン１３５は前記バネにより下方に押される状態で
基板１１１の上面に押圧される。この押圧力により、ア
ース用プローブピン１２２はベース板１２０側に押し込
まれる状態となり（突出ストロークが短くなり）、アー
ス用プローブピン１２２は前記バネにより上方に押され
る状態で基板１１１の下面のアース部に押圧される。こ
のため、アース用プローブピン１２２と基板１１１のア
ース部との電気的接触が確実となる。Next, the upper plate 130 is lowered. Then, the lower end (tip) of the holding pin 135 is first
When the upper plate 130 is further lowered from this state, the pressing pin 135 is pushed into the upper plate 130 side (a protruding stroke is shortened), and the pressing pin 135 is moved downward by the spring. Is pressed against the upper surface of the substrate 111. With this pressing force, the grounding probe pin 122 is pushed into the base plate 120 side (a protruding stroke is shortened), and the grounding probe pin 122 is pushed upward by the spring, and the grounding portion on the lower surface of the substrate 111 is pressed. Is pressed. Therefore, electrical contact between the grounding probe pin 122 and the grounding portion of the substrate 111 is ensured.
【００２４】上記状態から更に上板１３０を降下させて
いくと、今度は電源用及び信号入出力用のプローブピン
１３１の下端（先端）が実装基板１１０の各検査点に同
時に接触し、この状態から更に上板１３０を降下させて
クランプすると、各プローブピン１３１は上板１３０側
に押し込まれる状態となり（突出ストロークが短くな
り）、各プローブピン１３１は前記バネにより下方に押
される状態で、各検査点に押圧される。When the upper plate 130 is further lowered from the above state, the lower ends (tips) of the probe pins 131 for power supply and signal input / output simultaneously come into contact with each inspection point of the mounting board 110, and in this state, When the upper plate 130 is further lowered from below and clamped, each probe pin 131 is pushed into the upper plate 130 side (a protruding stroke is shortened), and each probe pin 131 is pushed downward by the spring. Pressed to inspection point.
【００２５】このとき、プローブピン１３１に静電気が
チャージされている場合に、このプローブピン１３１が
実装基板１１０の各検査点に接触しても、実装基板１１
０はアース用プローブピン１２２を介して接地されてい
るため、静電気に起因する不要な電圧や電流はアースさ
れてしまい、実装基板１１０が静電気破壊することはな
い。At this time, when the probe pins 131 are charged with static electricity, even if the probe pins 131 come into contact with each inspection point of the mounting
Since 0 is grounded via the grounding probe pin 122, unnecessary voltage and current due to static electricity are grounded, and the mounting substrate 110 is not destroyed by static electricity.
【００２６】そこで、各プローブピン１３１の下端（先
端）が、各検査点にバネ力により押圧された状態で、電
圧印加や電流供給をしたり、所要の信号の入出力の検査
をして、各種のテストを良好に実行することができる。
テスト終了後は上板１３０が上昇し、各プローブピン１
３１はバネ力により初期位置にまで戻る。Then, while the lower end (tip) of each probe pin 131 is pressed against each inspection point by a spring force, a voltage is applied or a current is supplied, and an inspection of required signal input / output is performed. Various tests can be performed well.
After the test is completed, the upper plate 130 rises, and each probe pin 1
31 returns to the initial position by the spring force.
【００２７】次に本発明の第２の実施の形態に係る実装
基板検査装置を、図３を参照して説明する。なお第１の
実施の形態に係る実装基板検査装置と同様な機能を果た
す部分には、同一符号を付し、重複する説明は省略す
る。Next, a mounting board inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. Portions that perform the same functions as those of the mounting board inspection apparatus according to the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
【００２８】図３に示すように、第２の実施の形態に係
る実装基板検査装置では、ベース板１２０に、ソケット
１２５内のバネを介して押しピン１２４が弾性的に備え
られている。即ち、押しピン１２４に上方から下方に向
かう外力が作用すると、押しピン１２４はベース板１２
０側に押し込められ、前記外力が作用しなくなると、押
しピン１２４はバネ力によりベース板１２０から上方に
突出して初期位置にまで戻る。As shown in FIG. 3, in the mounting board inspection apparatus according to the second embodiment, a push pin 124 is elastically provided on a base plate 120 via a spring in a socket 125. That is, when an external force from the upper side to the lower side acts on the push pin 124, the push pin 124
When pushed to the 0 side and the external force stops acting, the push pin 124 projects upward from the base plate 120 by the spring force and returns to the initial position.
【００２９】一方、基板１１１の下面には押釦スイッチ
１１４が実装されている。On the other hand, a push button switch 114 is mounted on the lower surface of the substrate 111.
【００３０】検査実行時には、押しピン１２４が押釦ス
イッチ１１４に接触・押圧されて下方に押し込まれると
共に、その反力により押釦スイッチ１１４が押されるた
め、作業者が押釦スイッチ１１４を指で押すことなく検
査ができる。このため、検査効率が向上する。At the time of execution of the inspection, the push pin 124 is contacted and pressed by the push button switch 114 and is pushed downward, and the push button switch 114 is pushed by the reaction force. Therefore, the operator does not press the push button switch 114 with a finger. Inspection is possible. Therefore, the inspection efficiency is improved.
【００３１】[0031]
【発明の効果】以上実施の形態と共に具体的に説明した
ように、本発明によれば、実装基板のアース部分をアー
ス用プローブピンによりアース接地した状態にしてか
ら、電源用及び信号入出力用の複数のプローブピンが各
検査点に接触するので、たとえプローブピンに静電気が
チャージされていても、実装基板が静電気破壊すること
はない。According to the present invention, as described in detail with the above embodiments, the grounding portion of the mounting board is grounded by the grounding probe pin before the power supply and the signal input / output. Since the plurality of probe pins contact each inspection point, even if the probe pins are charged with static electricity, the mounting substrate is not damaged by static electricity.
【００３２】また、押釦スイッチが実装されているタイ
プの実装基板では、押しピンにより押釦スイッチを自動
的に押した状態にして、プローブピンが検査点に接触す
るので、検査を効率的に行うことができる。In the case of a mounting board on which a push-button switch is mounted, the push-button switch is automatically pushed by a push pin, and the probe pin comes into contact with the inspection point. Can be.
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る実装基板検査
装置を検査準備時の状態で示す構成図。FIG. 1 is a configuration diagram showing a mounted board inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention in a state of preparing for inspection.
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る実装基板検査
装置を検査実行時の状態で示す構成図。FIG. 2 is a configuration diagram showing the mounting board inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention in a state at the time of performing an inspection.
【図３】本発明の第２の実施の形態に係る実装基板検査
装置を検査実行時の状態で示す構成図。FIG. 3 is a configuration diagram showing a mounting board inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention in a state at the time of performing an inspection.
【図４】従来の実装基板検査装置を検査実行時の状態で
示す構成図。FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional mounting board inspection apparatus in a state where an inspection is performed.
１１０ 実装基板 １１１ 基板 １１２ 電子部品 １１３ 基準孔 １１４ 押釦スイッチ １２０ ベース板 １２１ 基板位置決めピン １２２ アース用プローブピン １２３ ソケット １２４ 押しピン １２５ ソケット １３０ 上板 １３１ プローブピン １３２ ソケット １３３ 押さえピン １３４ ソケット 110 mounting board 111 board 112 electronic component 113 reference hole 114 push button switch 120 base plate 121 board positioning pin 122 grounding probe pin 123 socket 124 push pin 125 socket 130 upper plate 131 probe pin 132 socket 133 holding pin 134 socket
Claims (2)
に備えられると共にアース接地されており、実装基板側
からベース板側に向かう外力が作用すると押し込めら
れ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により実装基板
側に向かい初期位置にまで突出するアース用プローブピ
ンと、 前記ベース板に対して昇降する上板に備えられており、
ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び信号
入出力用のプローブピンと、 前記上板に備えられており、ベース板側から上板側に向
かう外力が作用すると押し込められ、前記外力が作用し
なくなるとバネ力によりベース板側に向かい初期位置に
まで突出し、しかも初期位置における突出ストロークが
初期位置における前記プローブピンの突出ストロークよ
りも長くなっている押さえピンとを有することを特徴と
する実装基板検査装置。1. A mounting board is provided on a base plate on which the mounting board is mounted from above and is grounded. When an external force from the mounting board side toward the base plate is applied, the mounting board is pushed in. A grounding probe pin protruding toward the mounting board side to the initial position by a force, and an upper plate that is raised and lowered with respect to the base plate,
When an external force from the base plate side to the upper plate side is applied, the probe pin is pushed in, and when the external force is no longer applied, the power supply and signal input / output probe pins project toward the base plate side to an initial position by a spring force; When the external force from the base plate side to the upper plate side is applied, it is pushed in, and when the external force is no longer applied, it is protruded toward the base plate side by the spring force to the initial position, and furthermore, the projecting stroke at the initial position And a press pin that is longer than a protruding stroke of the probe pin at an initial position.
に備えられており、 実装基板側からベース板側に向かう外力が作用すると押
し込められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力により
実装基板側に向かい初期位置にまで突出する押しピン
と、 前記ベース板に対して昇降する上板に備えられており、
ベース板側から上板側に向かう外力が作用すると押し込
められ、前記外力が作用しなくなるとバネ力によりベー
ス板側に向かい初期位置にまで突出する電源用及び信号
入出力用のプローブピンと、 前記上板に備えられており、ベース板側から上板側に向
かう外力が作用すると押し込められ、前記外力が作用し
なくなるとバネ力によりベース板側に向かい初期位置に
まで突出し、しかも初期位置における突出ストロークが
初期位置における前記プローブピンの突出ストロークよ
りも長くなっている押さえピンとを有することを特徴と
する実装基板検査装置。2. A mounting board is provided on a base plate on which the mounting board is placed from above. When an external force is applied from the mounting board side to the base plate side, the mounting board is pushed in. When the external force stops working, the mounting board is spring-loaded. A push pin protruding toward the initial position toward the side, and an upper plate that moves up and down with respect to the base plate,
When an external force from the base plate side to the upper plate side is applied, the probe pin is pushed in, and when the external force is no longer applied, the power supply and signal input / output probe pins project toward the base plate side to an initial position by a spring force; When the external force from the base plate side to the upper plate side is applied, it is pushed in, and when the external force is no longer applied, it is protruded toward the base plate side by the spring force to the initial position, and furthermore, the projecting stroke at the initial position And a press pin that is longer than a protruding stroke of the probe pin at an initial position.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10043095A JPH11242064A (en) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | Inspection apparatus for mounting board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10043095A JPH11242064A (en) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | Inspection apparatus for mounting board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11242064A true JPH11242064A (en) | 1999-09-07 |
Family
ID=12654288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10043095A Withdrawn JPH11242064A (en) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | Inspection apparatus for mounting board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11242064A (en) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1998
- 1998-02-25 JP JP10043095A patent/JPH11242064A/en not_active Withdrawn
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