JPH11230944A - 磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置 - Google Patents
磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置Info
- Publication number
- JPH11230944A JPH11230944A JP3249198A JP3249198A JPH11230944A JP H11230944 A JPH11230944 A JP H11230944A JP 3249198 A JP3249198 A JP 3249198A JP 3249198 A JP3249198 A JP 3249198A JP H11230944 A JPH11230944 A JP H11230944A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- magnetic field
- shielding
- holding plate
- coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 小型、簡単な構成で、ケーブルに流れる電流
により発生する磁界分布に近い環境を再現して磁気遮蔽
用材料の遮蔽性能の試験を行えるようにする。 【解決手段】 磁気遮蔽に用いられる遮蔽用材料を試料
として性能試験を行う磁気遮蔽性能試験装置であって、
遮蔽用材料からなる試料６を抑える試料抑え板５と、試
料抑え板５の上面より下方で磁場を発生するコイル１
と、試料抑え板５を上面に載置すると共にコイル１を中
間で保持する測定用架台３−１、３−２と、試料抑え板
５の上方で磁場を測定する測定プローブ４と備え、測定
用架台３−１、３−２の上に試料抑え板５で試料６を抑
え、コイル１で磁場を発生させて測定プローブ４で磁場
を測定する。試料抑え板５で試料６を抑えたときの磁場
と試料６のないときの磁場を測定して測定値の比を算出
して遮蔽率を求める。
により発生する磁界分布に近い環境を再現して磁気遮蔽
用材料の遮蔽性能の試験を行えるようにする。 【解決手段】 磁気遮蔽に用いられる遮蔽用材料を試料
として性能試験を行う磁気遮蔽性能試験装置であって、
遮蔽用材料からなる試料６を抑える試料抑え板５と、試
料抑え板５の上面より下方で磁場を発生するコイル１
と、試料抑え板５を上面に載置すると共にコイル１を中
間で保持する測定用架台３−１、３−２と、試料抑え板
５の上方で磁場を測定する測定プローブ４と備え、測定
用架台３−１、３−２の上に試料抑え板５で試料６を抑
え、コイル１で磁場を発生させて測定プローブ４で磁場
を測定する。試料抑え板５で試料６を抑えたときの磁場
と試料６のないときの磁場を測定して測定値の比を算出
して遮蔽率を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気遮蔽に用いら
れる遮蔽用材料を試料として性能試験を行う磁気遮蔽用
材料の遮蔽性能試験装置に関する。
れる遮蔽用材料を試料として性能試験を行う磁気遮蔽用
材料の遮蔽性能試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】医療分野において、生体から微弱な磁場
を検出する場合には、外部の磁場を遮蔽した磁気シール
ドルームが必要になる。また、物理計測分野において
も、高性能で磁場等の測定をするために外部の磁場を遮
蔽した磁気シールドルームを必要とする場合や、電子顕
微鏡その他荷電粒子のビームを扱う分野においても、外
部の磁場の影響を排除するために磁気シールドルームを
必要とする場合がある。
を検出する場合には、外部の磁場を遮蔽した磁気シール
ドルームが必要になる。また、物理計測分野において
も、高性能で磁場等の測定をするために外部の磁場を遮
蔽した磁気シールドルームを必要とする場合や、電子顕
微鏡その他荷電粒子のビームを扱う分野においても、外
部の磁場の影響を排除するために磁気シールドルームを
必要とする場合がある。
【０００３】上記のように高感度の磁気センサー（ＳＱ
ＵＩＤ）を用いた生体磁気計測や電子顕微鏡等の精密電
子機器その他種々の分野で磁気シールドルームが必要と
される場合、従来の磁気シールドルームでは、例えば珪
素鋼板等、強磁性材料からなる鋼板を用いたり、木板等
の非磁性材料からなるパネルにパーマロイやアモルファ
ス等の強磁性材料からなるシートを張り付けた磁気シー
ルドパネルを用いてシールド空間を構成している。
ＵＩＤ）を用いた生体磁気計測や電子顕微鏡等の精密電
子機器その他種々の分野で磁気シールドルームが必要と
される場合、従来の磁気シールドルームでは、例えば珪
素鋼板等、強磁性材料からなる鋼板を用いたり、木板等
の非磁性材料からなるパネルにパーマロイやアモルファ
ス等の強磁性材料からなるシートを張り付けた磁気シー
ルドパネルを用いてシールド空間を構成している。
【０００４】しかし、パーマロイのような強磁性材料を
用いた磁気シールドルームでは、使用するシールド材料
が高価になるため、磁気シールドルームの建設費がかな
り高いものとなってしまう。そこで、アルミや銅のよう
な導電性材料の渦電流を利用した磁気シールドルームの
採用例もある。
用いた磁気シールドルームでは、使用するシールド材料
が高価になるため、磁気シールドルームの建設費がかな
り高いものとなってしまう。そこで、アルミや銅のよう
な導電性材料の渦電流を利用した磁気シールドルームの
採用例もある。
【０００５】また、磁気シールドルームでは、計測等の
作業を行うのに十分な照度が必要であり、当然何らかの
照明が必要である。そこで、従来の磁気シールドルーム
内の照明方法は、バッテリーなどを直流電源とする照明
器を利用したものや、光ファイバーを利用したものがあ
る。
作業を行うのに十分な照度が必要であり、当然何らかの
照明が必要である。そこで、従来の磁気シールドルーム
内の照明方法は、バッテリーなどを直流電源とする照明
器を利用したものや、光ファイバーを利用したものがあ
る。
【０００６】上記のように磁気シールドルームには、様
々な使用目的があり、その使用目的や建設条件等に応じ
て要求される遮蔽性能が違い、また、使用される遮蔽用
材料が違ってくる。そのため、要求される所望の遮蔽性
能を満足するか否かを評価するには、基本的に使用され
る遮蔽用材料の評価、つまり性能試験が必要となる。図
３は従来の磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置の構成例
を示す図であり、遮蔽用材料の評価を行うための従来の
磁気遮蔽性能試験装置は、図３に示すようにヘルムホル
ツコイル１１を使用して、電源装置１４によりヘルムホ
ルツコイル１１を励磁しその中央部に一様磁場を発生
し、その中に試料１２として箱のような遮蔽体を設置し
て、その遮蔽体の中の磁場を測定器１３により測定する
ものである。そして、性能試験は、試料１２を設置した
場合の磁場の測定値と試料１２を設置しない場合の磁場
の測定値とを比較し遮蔽率を算出することにより行われ
ていた。
々な使用目的があり、その使用目的や建設条件等に応じ
て要求される遮蔽性能が違い、また、使用される遮蔽用
材料が違ってくる。そのため、要求される所望の遮蔽性
能を満足するか否かを評価するには、基本的に使用され
る遮蔽用材料の評価、つまり性能試験が必要となる。図
３は従来の磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置の構成例
を示す図であり、遮蔽用材料の評価を行うための従来の
磁気遮蔽性能試験装置は、図３に示すようにヘルムホル
ツコイル１１を使用して、電源装置１４によりヘルムホ
ルツコイル１１を励磁しその中央部に一様磁場を発生
し、その中に試料１２として箱のような遮蔽体を設置し
て、その遮蔽体の中の磁場を測定器１３により測定する
ものである。そして、性能試験は、試料１２を設置した
場合の磁場の測定値と試料１２を設置しない場合の磁場
の測定値とを比較し遮蔽率を算出することにより行われ
ていた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来の磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験では、一様な磁場
空間ができるのは２つのコイル中央部の小さな領域だけ
である。一様な磁場の領域を大きくするためには、大き
なコイルが必要になる。大きなコイルは、大きな空間を
占めることになるので、そのために空間の利用率が悪く
なる。そこで、実際の磁気シールドルームに近い環境で
性能試験をするためには、相似模型を作ることも行われ
ているが、そのためには手間や時間、経費がかかるとい
う問題がある。
従来の磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験では、一様な磁場
空間ができるのは２つのコイル中央部の小さな領域だけ
である。一様な磁場の領域を大きくするためには、大き
なコイルが必要になる。大きなコイルは、大きな空間を
占めることになるので、そのために空間の利用率が悪く
なる。そこで、実際の磁気シールドルームに近い環境で
性能試験をするためには、相似模型を作ることも行われ
ているが、そのためには手間や時間、経費がかかるとい
う問題がある。
【０００８】図４は送電線に流れる送電電流により発生
する磁界分布の例を示す図、図５は電線に流れる電流に
より発生する回転磁場の例を示す図である。図４では４
５０Ａの送電電流により発生する磁界分布を単位ｍＯｅ
で示したものであるが、例えば磁場発生源がこの図４に
示す送電線のようなケーブルの場合、磁場は、図５に示
すような回転磁場になり、一様な磁場とは異なる。この
ような環境の場合には実際に近い環境を従来の磁気遮蔽
用材料の遮蔽性能試験装置で再現することは難しい。
する磁界分布の例を示す図、図５は電線に流れる電流に
より発生する回転磁場の例を示す図である。図４では４
５０Ａの送電電流により発生する磁界分布を単位ｍＯｅ
で示したものであるが、例えば磁場発生源がこの図４に
示す送電線のようなケーブルの場合、磁場は、図５に示
すような回転磁場になり、一様な磁場とは異なる。この
ような環境の場合には実際に近い環境を従来の磁気遮蔽
用材料の遮蔽性能試験装置で再現することは難しい。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するものであり、小型、簡単な構成で、ケーブルに流
れる電流により発生する磁界分布に近い環境を再現して
磁気遮蔽用材料の遮蔽性能の試験を行えるようにするも
のである。
決するものであり、小型、簡単な構成で、ケーブルに流
れる電流により発生する磁界分布に近い環境を再現して
磁気遮蔽用材料の遮蔽性能の試験を行えるようにするも
のである。
【００１０】そのために本発明は、磁気遮蔽に用いられ
る遮蔽用材料を試料として性能試験を行う磁気遮蔽用材
料の遮蔽性能試験装置であって、前記遮蔽用材料からな
る試料を抑える試料抑え板と、前記試料抑え板の上面よ
り下方で磁場を発生するコイルと、前記試料抑え板を上
面に載置すると共に前記コイルを中間で保持する測定用
架台と、前記試料抑え板の上方で磁場を測定する測定プ
ローブと備え、前記測定用架台の上に前記試料抑え板で
試料を抑え、前記コイルで磁場を発生させて前記測定プ
ローブで磁場を測定するように構成したことを特徴と
し、前記試料抑え板で試料を抑えたときの磁場と試料の
ないときの磁場を測定して測定値の比を算出して遮蔽率
を求めることを特徴とするものである。
る遮蔽用材料を試料として性能試験を行う磁気遮蔽用材
料の遮蔽性能試験装置であって、前記遮蔽用材料からな
る試料を抑える試料抑え板と、前記試料抑え板の上面よ
り下方で磁場を発生するコイルと、前記試料抑え板を上
面に載置すると共に前記コイルを中間で保持する測定用
架台と、前記試料抑え板の上方で磁場を測定する測定プ
ローブと備え、前記測定用架台の上に前記試料抑え板で
試料を抑え、前記コイルで磁場を発生させて前記測定プ
ローブで磁場を測定するように構成したことを特徴と
し、前記試料抑え板で試料を抑えたときの磁場と試料の
ないときの磁場を測定して測定値の比を算出して遮蔽率
を求めることを特徴とするものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係る磁気遮蔽用
材料の遮蔽性能試験装置の実施の形態を示す図、図２は
本発明に係る磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置で使用
されるコイルと回転磁場の例を示す図である。図中、１
はコイル、２は定電流発生装置、３−１、３−２は測定
用架台、４は測定用プローブ、５は試料抑え板、６は試
料、７は指示計器を示す。
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係る磁気遮蔽用
材料の遮蔽性能試験装置の実施の形態を示す図、図２は
本発明に係る磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置で使用
されるコイルと回転磁場の例を示す図である。図中、１
はコイル、２は定電流発生装置、３−１、３−２は測定
用架台、４は測定用プローブ、５は試料抑え板、６は試
料、７は指示計器を示す。
【００１２】図１において、コイル１は、２つの測定用
架台３−１、３−２の間に保持されて、例えば測定用架
台３−１から測定用架台３−２へ上側を、測定用架台３
−２から測定用架台３−１へ下側を巻回して、図１
（Ｂ）の正面に開口を有し、定電流発生装置２により励
磁されるものであり、図１（Ｂ）に示す正面図において
紙面を貫通する方向に磁界を発生する。つまり、コイル
１は、図１（Ａ）に示す立面図においては、図２に示す
ように紙面に沿って回転磁界を発生する。試料抑え板５
は、測定用架台３−２の上に載置され、平板の遮蔽用材
料からなる試料６を抑えるものであり、１枚で試料６を
上から抑え、或いは２枚で試料６を挟んで抑える。測定
用プローブ４は、試料抑え板５の上に置かれた所定の高
さのポールで保持され、磁場強度を測定するものであ
り、指示計器７は、測定用プローブ４による磁場強度の
測定値等を指示するものである。
架台３−１、３−２の間に保持されて、例えば測定用架
台３−１から測定用架台３−２へ上側を、測定用架台３
−２から測定用架台３−１へ下側を巻回して、図１
（Ｂ）の正面に開口を有し、定電流発生装置２により励
磁されるものであり、図１（Ｂ）に示す正面図において
紙面を貫通する方向に磁界を発生する。つまり、コイル
１は、図１（Ａ）に示す立面図においては、図２に示す
ように紙面に沿って回転磁界を発生する。試料抑え板５
は、測定用架台３−２の上に載置され、平板の遮蔽用材
料からなる試料６を抑えるものであり、１枚で試料６を
上から抑え、或いは２枚で試料６を挟んで抑える。測定
用プローブ４は、試料抑え板５の上に置かれた所定の高
さのポールで保持され、磁場強度を測定するものであ
り、指示計器７は、測定用プローブ４による磁場強度の
測定値等を指示するものである。
【００１３】上記構成の磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験
装置では、定電流発生装置２によりコイル１を励磁して
磁場を発生させ、測定用プローブ４により試料６がある
場合における磁場強度とない場合における磁場強度を測
定するものであるので、これらの構成以外の測定用架台
３−１、３−２、試料抑え板５、測定用プローブ４を保
持するポール等は、非磁性材料の合成樹脂や木等、磁場
に全く影響を与えない材料が用いられる。例えば具体的
なサイズ等は、次のようなものである。測定用架台３−
１、３−２の高さを１２００ｍｍとすると、コイル１
は、中心が８５０ｍｍ、上面が１０００ｍｍ、下面が８
００ｍｍの高さ位置に保持される。つまり、コイル１
は、高さが３００ｍｍとなる。また、測定用架台３−
１、３−２の断面を５００ｍｍ×５００ｍｍ、測定用架
台３−１と３−２との間は１０００ｍｍとし、試料抑え
板５は、９００ｍｍ幅×１８００ｍｍ長さ×６ｍｍ厚さ
とする。この場合、試料６は、試料抑え板５とほぼ同じ
サイズで、その材料に応じた厚さとなる。
装置では、定電流発生装置２によりコイル１を励磁して
磁場を発生させ、測定用プローブ４により試料６がある
場合における磁場強度とない場合における磁場強度を測
定するものであるので、これらの構成以外の測定用架台
３−１、３−２、試料抑え板５、測定用プローブ４を保
持するポール等は、非磁性材料の合成樹脂や木等、磁場
に全く影響を与えない材料が用いられる。例えば具体的
なサイズ等は、次のようなものである。測定用架台３−
１、３−２の高さを１２００ｍｍとすると、コイル１
は、中心が８５０ｍｍ、上面が１０００ｍｍ、下面が８
００ｍｍの高さ位置に保持される。つまり、コイル１
は、高さが３００ｍｍとなる。また、測定用架台３−
１、３−２の断面を５００ｍｍ×５００ｍｍ、測定用架
台３−１と３−２との間は１０００ｍｍとし、試料抑え
板５は、９００ｍｍ幅×１８００ｍｍ長さ×６ｍｍ厚さ
とする。この場合、試料６は、試料抑え板５とほぼ同じ
サイズで、その材料に応じた厚さとなる。
【００１４】次に、上記構成の磁気遮蔽用材料の遮蔽性
能試験装置による平板の遮蔽用材料からなる試料６の性
能試験の方法について説明する。まず、測定用架台３−
１、３−２の上に試料６を置かないで定電流発生装置２
によりコイル１を励磁し、測定用プローブ４により測定
を行う。このときの測定値をＶ0 とする。次に、測定用
架台３−１、３−２の上に試料６を置き試料抑え板５で
抑えて定電流発生装置２によりコイル１を励磁し、測定
用プローブ４により同じ位置で測定を行う。このときの
測定値をＶ1 とする。そして、これらの２つの測定値Ｖ
0 、Ｖ1 を比較して性能を評価する。例えば平板の遮蔽
用材料からなる試料６の遮蔽率は、２つの測定値Ｖ0 、
Ｖ1 の比Ｓ＝Ｖ1 ／Ｖ0 として算出される。
能試験装置による平板の遮蔽用材料からなる試料６の性
能試験の方法について説明する。まず、測定用架台３−
１、３−２の上に試料６を置かないで定電流発生装置２
によりコイル１を励磁し、測定用プローブ４により測定
を行う。このときの測定値をＶ0 とする。次に、測定用
架台３−１、３−２の上に試料６を置き試料抑え板５で
抑えて定電流発生装置２によりコイル１を励磁し、測定
用プローブ４により同じ位置で測定を行う。このときの
測定値をＶ1 とする。そして、これらの２つの測定値Ｖ
0 、Ｖ1 を比較して性能を評価する。例えば平板の遮蔽
用材料からなる試料６の遮蔽率は、２つの測定値Ｖ0 、
Ｖ1 の比Ｓ＝Ｖ1 ／Ｖ0 として算出される。
【００１５】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上
記実施の形態では、平板の遮蔽用材料からなる試料の試
験を行ったが、アングル形状やコの字形状の遮蔽用材料
からなる試料を測定用架台３−１、３−２の上に置いて
試験を行ってもよい。また、測定用架台３−１、３−２
は、１対の構成のものを示したが、これらは一体のもの
であってもよいし、形状も箱状や櫓状、円筒状等のもの
であってもよい。さらに、測定用架台やコイル、試料抑
え板等のサイズ、位置関係を具体的な数値で示したが、
これらの数値は、任意に変更可能であることはいうまで
もない。例えば測定用架台の上面の高さとコイルの中心
位置の高さや、測定用プローブの高さ等は、磁場発生源
に対する磁気シールドルームの位置、磁気シールドルー
ム内の注目地点に対応し、これらの関係は種々の条件に
より変わるからである。
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上
記実施の形態では、平板の遮蔽用材料からなる試料の試
験を行ったが、アングル形状やコの字形状の遮蔽用材料
からなる試料を測定用架台３−１、３−２の上に置いて
試験を行ってもよい。また、測定用架台３−１、３−２
は、１対の構成のものを示したが、これらは一体のもの
であってもよいし、形状も箱状や櫓状、円筒状等のもの
であってもよい。さらに、測定用架台やコイル、試料抑
え板等のサイズ、位置関係を具体的な数値で示したが、
これらの数値は、任意に変更可能であることはいうまで
もない。例えば測定用架台の上面の高さとコイルの中心
位置の高さや、測定用プローブの高さ等は、磁場発生源
に対する磁気シールドルームの位置、磁気シールドルー
ム内の注目地点に対応し、これらの関係は種々の条件に
より変わるからである。
【００１６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、遮蔽用材料からなる試料を抑える平板の試料
抑え板と、試料抑え板の下方で磁場を発生するコイル
と、試料抑え板を上面に載置すると共にコイルを中間で
保持する測定用架台と、試料抑え板の上方で磁場を測定
する測定プローブとを備え、測定用架台の上に試料抑え
板で試料を抑え、コイルで磁場を発生させて測定プロー
ブで磁場を測定するので、簡単な構成で磁気遮蔽用材料
の遮蔽性能の試験を行うことができる。また、試料抑え
板とコイルと測定プローブとの位置を変えることによ
り、条件の異なる磁気遮蔽性能の試験に簡単に対応でき
る。しかも、コイルに定電流発生装置により励磁するの
で、試験のための磁場をその電流の制御により簡単、か
つ、広範囲に変えることができ、実際の近い環境での試
験を行うことができる。
によれば、遮蔽用材料からなる試料を抑える平板の試料
抑え板と、試料抑え板の下方で磁場を発生するコイル
と、試料抑え板を上面に載置すると共にコイルを中間で
保持する測定用架台と、試料抑え板の上方で磁場を測定
する測定プローブとを備え、測定用架台の上に試料抑え
板で試料を抑え、コイルで磁場を発生させて測定プロー
ブで磁場を測定するので、簡単な構成で磁気遮蔽用材料
の遮蔽性能の試験を行うことができる。また、試料抑え
板とコイルと測定プローブとの位置を変えることによ
り、条件の異なる磁気遮蔽性能の試験に簡単に対応でき
る。しかも、コイルに定電流発生装置により励磁するの
で、試験のための磁場をその電流の制御により簡単、か
つ、広範囲に変えることができ、実際の近い環境での試
験を行うことができる。
【図１】 本発明に係る磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験
装置の実施の形態を示す図である。
装置の実施の形態を示す図である。
【図２】 本発明に係る磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験
装置で使用されるコイルと回転磁場の例を示す図であ
る。
装置で使用されるコイルと回転磁場の例を示す図であ
る。
【図３】 従来の磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【図４】 送電線に流れる送電電流により発生する磁界
分布の例を示す図である。
分布の例を示す図である。
【図５】 電線に流れる電流により発生する回転磁場の
例を示す図である。
例を示す図である。
１…コイル、２…定電流発生装置、３−１、３−２…測
定用架台、４…測定用プローブ、５…試料抑え板、６…
試料、７…指示計器
定用架台、４…測定用プローブ、５…試料抑え板、６…
試料、７…指示計器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石川 敏行 東京都港区芝浦一丁目２番３号 清水建設 株式会社内 (72)発明者 澁谷 紳一 東京都港区芝浦一丁目２番３号 清水建設 株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 磁気遮蔽に用いられる遮蔽用材料を試料
として性能試験を行う磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装
置であって、前記遮蔽用材料からなる試料を抑える試料
抑え板と、前記試料抑え板の上面より下方で磁場を発生
するコイルと、前記試料抑え板を上面に載置すると共に
前記コイルを中間で保持する測定用架台と、前記試料抑
え板の上方で磁場を測定する測定プローブとを備え、前
記測定用架台の上に前記試料抑え板で試料を抑え、前記
コイルで磁場を発生させて前記測定プローブで磁場を測
定するように構成したことを特徴とする磁気遮蔽用材料
の遮蔽性能試験装置。 - 【請求項２】 前記試料抑え板で試料を抑えたときの磁
場と試料のないときの磁場を測定して測定値の比を算出
して遮蔽率を求めることを特徴とする請求項１記載の磁
気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3249198A JPH11230944A (ja) | 1998-02-16 | 1998-02-16 | 磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3249198A JPH11230944A (ja) | 1998-02-16 | 1998-02-16 | 磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11230944A true JPH11230944A (ja) | 1999-08-27 |
Family
ID=12360472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3249198A Pending JPH11230944A (ja) | 1998-02-16 | 1998-02-16 | 磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11230944A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001131811A (ja) * | 1999-11-02 | 2001-05-15 | Gunze Ltd | 電磁波シールド衣服 |
-
1998
- 1998-02-16 JP JP3249198A patent/JPH11230944A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001131811A (ja) * | 1999-11-02 | 2001-05-15 | Gunze Ltd | 電磁波シールド衣服 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Altarev et al. | A magnetically shielded room with ultra low residual field and gradient | |
| Cardelli et al. | Surface field measurements in vector characterization of Si-Fe magnetic steel samples | |
| JP2018517123A (ja) | 回転磁場ホール装置、回転磁場ホール装置を動作させる方法、およびコンピューティング・システム | |
| JPH06324021A (ja) | 非破壊検査装置 | |
| Tsukamoto et al. | Development of eddy current testing system using HTS-SQUID on a hand cart for detection of fatigue cracks of steel plate used in expressways | |
| CN211122663U (zh) | 一种无损检测传感器用磁化元件及传感器 | |
| US6586930B1 (en) | Material thickness measurement using magnetic information | |
| CN105301549B (zh) | 一种利用三维磁场测试电流互感器磁屏蔽的方法及系统 | |
| Hartmann et al. | A system for measurement of AC Barkhausen noise in electrical steels | |
| JPH11230944A (ja) | 磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置 | |
| Cui et al. | Development of electromagnetic tomography system using LCR meter | |
| JP2779727B2 (ja) | 変動磁場発生装置 | |
| US11333722B2 (en) | GMI bio-magnetic measuring device based on magnetic-bead concentration and simulated lesion shape | |
| Knappe-Grueneberg et al. | Influence of demagnetization coil configuration on residual field in an extremely magnetically shielded room: Model and measurements | |
| CN211179641U (zh) | 一种基于交流电磁场的线圈传感器阵列探头 | |
| Allmendinger et al. | Degaussing procedure and performance enhancement by low-frequency shaking of a 3-layer magnetically shielded room | |
| Schambach et al. | SQUID gradiometer measurement system for magnetorelaxometry in a disturbed environment | |
| Warzemann et al. | LTS SQUID gradiometer system for in vivo magnetorelaxometry | |
| Staton et al. | High-resolution magnetic mapping using a SQUID magnetometer array | |
| RU2591027C1 (ru) | Способ измерения величины и пространственного распределения локальных магнитных полей, возникающих вследствие протекания коррозионных процессов на металлической поверхности в проводящем растворе | |
| CN212905398U (zh) | 三维磁场探针台测试系统 | |
| US11953561B2 (en) | Methods and apparatuses related to magnetic relaxometry measurements in the presence of environmental response to magnetic excitation | |
| Ioniţă et al. | Coils-Based Measurement System for Soft Magnetic Materials | |
| Cardelli et al. | Experimental verification of the deletion and congruency properties in Si-Fe magnetic steels | |
| Michalski | Magnetovision [magnetic field scanning system] |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040526 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20041006 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |