JPH11215059A - Light line testing device - Google Patents
Light line testing deviceInfo
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- JPH11215059A JPH11215059A JP10009399A JP939998A JPH11215059A JP H11215059 A JPH11215059 A JP H11215059A JP 10009399 A JP10009399 A JP 10009399A JP 939998 A JP939998 A JP 939998A JP H11215059 A JPH11215059 A JP H11215059A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、光線路試験装置
に関し、詳細には、光ファイバを用いた光線路で構成さ
れる光線路通信網において、光線路の光パルス試験等の
試験を行って光線路異常を検出する光線路試験装置に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical line test apparatus, and more particularly, to a test such as an optical pulse test of an optical line in an optical line communication network composed of optical lines using optical fibers. The present invention relates to an optical line test device for detecting an optical line abnormality.
【0002】[0002]
【従来の技術】図16は、例えば特開平2−1632号
公報による従来の光線路試験装置を示すブロック図であ
る。従来の光線路試験装置は、図16に示したように、
光伝送装置間101,102に光ファイバケーブル10
5,106を接続している。これら光ファイバケーブル
105,106の途中には、外部からの試験光を光ファ
イバケーブルへの挿入の制御を行う、N/2(Nは整
数)個の合分波光カップラ107…を含む構成と、試験
波長光の発生ならびに光ファイバケーブル105,10
6から戻された試験波長光の検出を行う、光パルス試験
器12を含む構成とが設けられる。2. Description of the Related Art FIG. 16 is a block diagram showing a conventional optical line test apparatus disclosed, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 2-1632. As shown in FIG. 16, the conventional optical line test apparatus has
Optical fiber cable 10 between optical transmission devices 101 and 102
5,106 are connected. A configuration including N / 2 (N is an integer) multiplexing / demultiplexing optical couplers 107 for controlling the insertion of test light from the outside into the optical fiber cables in the middle of the optical fiber cables 105 and 106; Generation of test wavelength light and optical fiber cables 105 and 10
And a configuration including an optical pulse tester 12 for detecting the test wavelength light returned from 6.
【0003】合分波光カップラ107…は、光ファイバ
ケーブル105,106の任意の点に挿入される。ま
た、光パルス試験器12を含む構成は、光パルス試験器
12の他に、合分波光カップラ107…の試験回線用ポ
ートを選択する1XN光スイッチ110、この1XN光
スイッチ110のプログラム制御を行う制御装置114
および表示を行う表示装置115とを含んでいる。The multiplexing / demultiplexing optical couplers 107 are inserted at arbitrary points of the optical fiber cables 105 and 106. In addition, the configuration including the optical pulse tester 12 performs, in addition to the optical pulse tester 12, a 1XN optical switch 110 for selecting a test line port of the multiplexing / demultiplexing optical coupler 107, and program control of the 1XN optical switch 110. Control device 114
And a display device 115 for performing display.
【0004】つぎに、動作について説明する。図16に
示した光線路試験装置において、光パルス試験器12か
ら出力された試験光は、1XN光スイッチ110に入力
され、この光スイッチ110は外部にある制御装置11
4により指令を受け、所定の光線路に接続された試験光
挿入用の光ファイバ心線109,108,…へ試験光を
導くものである。試験光はこの1/N光スイッチ110
を通過して合分波光カップラ107で光線路に入力され
る。Next, the operation will be described. In the optical line test apparatus shown in FIG. 16, the test light output from the optical pulse tester 12 is input to a 1 × N optical switch 110, and this optical switch 110 is connected to an external control device 11
4, the test light is guided to the test light insertion optical fibers 109, 108,... Connected to a predetermined optical line. The test light is the 1 / N optical switch 110
, And is input to the optical line by the multiplexing / demultiplexing optical coupler 107.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】従来の光線路試験装置
は以上のように構成されているので、つぎのような問題
が生じた。すなわち、 (1)1xN光スイッチ105,106を導入するた
め、コストや光線路試験の運用上のコストが高価であっ
た。 (2)多数の光線路の試験を行う場合、光線路を1本1
本個別に選択してから測定するため、光線路全体の測定
に膨大な時間を要していた。 (3)多数の光線路を試験するためには光スイッチのポ
ート数を多く設ける必要があるため、構造が複雑化して
いた。Since the conventional optical line test apparatus is configured as described above, the following problems occur. (1) Since the 1 × N optical switches 105 and 106 are introduced, the cost and the operational cost of the optical line test are high. (2) When testing a large number of optical lines, one optical line
Since the measurement is performed after the individual selection, it takes an enormous amount of time to measure the entire optical line. (3) In order to test a large number of optical lines, it is necessary to provide a large number of ports of the optical switch, so that the structure is complicated.
【0006】この発明は、上述した従来例による問題を
解消するため、保守等の運用上のコスト削減、測定時間
の短縮化,装置構成の簡略化等の条件を前提にして、複
数の光線路に対する試験をほぼ同時に実施することが可
能な光線路試験装置を得ることを目的とする。The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art by providing a plurality of optical transmission lines on the premise of reducing operational costs such as maintenance, shortening measurement time, simplifying a device configuration, and the like. It is an object of the present invention to obtain an optical line test apparatus capable of performing a test on the optical line almost simultaneously.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、この発明に係る光線路試験装置
は、通信用光を送受信する第1および第2光伝送装置間
を複数本の光線路で接続し、前記複数本の光線路に前記
通信用光とは異なる波長をもつ試験光を伝送して光線路
の試験を実施する光線路試験装置において、前記各光線
路が前記各光線路に隣接する2本の光線路に対して、前
記隣接する一方の光線路に前記第1光伝送装置側である
一端が結合され、かつ前記隣接する他方の光線路に前記
第2光伝送装置側である他端が結合されるとともに、前
記一方の光線路と前記他方の光線路との間では前記試験
光とその反射光だけを分岐して伝送する複数の合分波手
段と、前記複数本の光線路の先頭の光線路に結合され、
前記先頭の光線路を基点に前記試験光およびその反射光
だけを分岐して前記各光線路を試験する試験手段と、を
備えたことを特徴とする。Means for Solving the Problems The above-mentioned problems are solved,
In order to achieve the object, an optical line test apparatus according to the present invention connects a first and a second optical transmission device for transmitting and receiving communication light with a plurality of optical lines, and connects the first and second optical transmission devices to the plurality of optical lines. In an optical line test apparatus for transmitting a test light having a wavelength different from that for use and performing an optical line test, each optical line is connected to two optical lines adjacent to each optical line. One of the two optical transmission lines is coupled to one end of the first optical transmission device, and the other adjacent optical line is coupled to the other end of the second optical transmission device. A plurality of multiplexing / demultiplexing means for branching and transmitting only the test light and the reflected light thereof between the optical path and the other optical line, and coupled to a head optical line of the plurality of optical lines,
Test means for branching only the test light and its reflected light from the leading optical line as a base point and testing each of the optical lines.
【0008】この発明によれば、複数の光線路の内で先
頭の光線路を基点にして試験光のみを隣接する光線路へ
結合して各光線路を試験するようにしたので、ひとつの
試験光だけを用いて各光線路をほぼ同時に試験すること
ができ、これにより、保守等の運用上のコスト削減、測
定時間の短縮化,装置構成の簡略化等を実現することが
可能である。According to the present invention, since only the test light is coupled to the adjacent optical line starting from the first optical line among the plurality of optical lines, each optical line is tested. Each optical line can be tested almost simultaneously using only light, thereby making it possible to reduce operational costs such as maintenance, shorten measurement time, simplify the device configuration, and the like.
【0009】つぎの発明に係る光線路試験装置は、通信
用光を送受信する第1および第2光伝送装置間を複数本
の光線路で接続し、前記複数本の光線路に前記通信用光
とは異なる波長をもつ試験光を伝送して光線路の試験を
実施する光線路試験装置において、前記各光線路が前記
各光線路に隣接する2本の光線路に対して、前記隣接す
る一方の光線路に前記第1光伝送装置側である一端が結
合され、かつ前記隣接する他方の光線路に前記第2光伝
送装置側である他端が結合されるとともに、前記一方の
光線路と前記他方の光線路との間では前記試験光とその
反射光だけを分岐して伝送する複数の合分波手段と、前
記複数本の光線路の先頭の光線路に結合され、前記先頭
の光線路を基点に前記試験光およびその反射光だけを分
岐して前記各光線路を試験する試験手段と、前記光線路
と前記合分波手段とを含む光経路の所要の箇所に設けら
れ、前記伝送される、少なくとも試験光を増幅する1ま
たは複数の増幅手段と、を備えたことを特徴とする。In the optical line testing apparatus according to the next invention, the first and second optical transmission devices for transmitting and receiving communication light are connected by a plurality of optical lines, and the communication light is connected to the plurality of optical lines. An optical line test apparatus that transmits a test light having a wavelength different from that of the optical line and performs an optical line test, wherein each of the optical lines is adjacent to one of the two adjacent optical lines. One end on the first optical transmission device side is coupled to the optical line, and the other end on the second optical transmission device side is coupled to the other adjacent optical line. A plurality of multiplexing / demultiplexing means for branching and transmitting only the test light and the reflected light thereof with the other optical line, and being coupled to a first optical line of the plurality of optical lines, The test light and its reflected light are branched from the path as a starting point, and Test means, and one or more amplifying means provided at a required portion of an optical path including the optical line and the multiplexing / demultiplexing means, and amplifying at least the transmitted test light. It is characterized by having.
【0010】この発明によれば、複数の光線路の内で先
頭の光線路を基点にして試験光のみを隣接する光線路へ
結合するとともに、光経路の所要の箇所で光増幅して各
光線路を試験するようにしたので、ひとつの試験光だけ
を用いて各光線路をほぼ同時に試験することができるこ
とはもちろん、試験光の光伝送損失を補うことでより多
数の光線路を試験することができ、これにより、保守等
の運用上のコスト削減、測定時間の短縮化,装置構成の
簡略化等を実現することが可能である。According to the present invention, only the test light is coupled to the adjacent optical line with the leading optical line as a base point among the plurality of optical lines, and the light is amplified at a required portion of the optical path and each light beam is amplified. Since the test is performed on each optical path, not only can each optical line be tested almost simultaneously using only one test light, but also more optical lines can be tested by compensating for the optical transmission loss of the test light. As a result, it is possible to reduce the operational costs such as maintenance, shorten the measurement time, and simplify the device configuration.
【0011】つぎの発明に係る光線路試験装置は、前記
光線路に設けられた前記増幅手段は、前記試験光の進行
方向とは逆方向に進行する反射光を増幅経路を通過させ
ないための迂回路を有したことを特徴とする。In the optical line testing apparatus according to the next invention, the amplifying means provided on the optical line includes a detour for preventing reflected light traveling in a direction opposite to the traveling direction of the test light from passing through an amplification path. It has a road.
【0012】この発明によれば、迂回路によって試験光
の進行方向とは逆方向に進行する反射光を増幅しないで
通過させるようにしたので、試験光の進行方向で光増幅
経路よりも後段の光線路についても試験することが可能
である。According to this invention, the reflected light propagating in the direction opposite to the traveling direction of the test light is allowed to pass through without being amplified by the detour, so that the reflected light traveling in the traveling direction of the test light is located downstream of the optical amplification path. Optical lines can also be tested.
【0013】つぎの発明に係る光線路試験装置は、前記
試験手段は前記第1光伝送装置内で前記先頭の光線路に
接続されるとともに、前記各光線路の一端に結合された
前記合分波手段は前記第1光伝送装置内に設けられ、一
方、前記各光線路の他端に結合された前記合分波手段は
前記第2光伝送装置内に設けられことを特徴とする。[0013] In the optical line testing apparatus according to the next invention, the test means is connected to the first optical line in the first optical transmission device, and the coupling unit coupled to one end of each of the optical lines. The wave means is provided in the first optical transmission device, while the multiplexing / demultiplexing means coupled to the other end of each of the optical lines is provided in the second optical transmission device.
【0014】この発明によれば、各光線路の一端に結合
された合分波手段を第1光伝送装置内に設け、一方、各
光線路の他端に結合された合分波手段を第2光伝送装置
内に設けるようにしたので、光線路の末端から試験をす
ることができ、これにより、各光伝送装置から外部の光
線路のほぼ全長についての光伝送損失を知ることが可能
である。According to the present invention, the multiplexing / demultiplexing means coupled to one end of each optical line is provided in the first optical transmission device, while the multiplexing / demultiplexing means coupled to the other end of each optical line is provided in the first optical transmission device. (2) Since the optical transmission device is provided in the optical transmission device, the test can be performed from the end of the optical line, whereby it is possible to know the optical transmission loss over almost the entire length of the external optical line from each optical transmission device. is there.
【0015】つぎの発明に係る光線路試験装置は、前記
第1および第2光伝送装置を結合する前記複数の光線路
は、前記光線路および前記合分波手段を含む光経路長に
伴う試験のダイナミックレンジに応じて複数の組に分割
され、前記試験手段は、試験対象となる光線路の組を選
択的に切り換えて当該切り換えられた組との間だけで前
記試験光とその反射光とを通過させるスイッチを有した
ことを特徴とする。In the optical line testing apparatus according to the next invention, the plurality of optical lines coupling the first and second optical transmission devices may include a test associated with an optical path length including the optical line and the multiplexing / demultiplexing means. Is divided into a plurality of sets according to the dynamic range of the test light, and the test means selectively switches the set of optical paths to be tested, and sets the test light and its reflected light only between the switched set. Characterized by having a switch for passing
【0016】この発明によれば、光線路を光経路長に伴
う試験のダイナミックレンジに応じて複数の組に分割し
て、スイッチにより試験対象となる光線路の組を選択的
に切り換えるようにしたので、どの光線路の組が選択さ
れても光伝送損失が低く抑えられ、試験のダイナミック
レンジを超えずに済むことから、設置される光線路数が
多くなっても精度の高い安定した試験を実施することが
可能である。According to the present invention, the optical line is divided into a plurality of sets according to the dynamic range of the test accompanying the optical path length, and the set of the optical lines to be tested is selectively switched by the switch. Therefore, no matter which optical line set is selected, the optical transmission loss is kept low and the dynamic range of the test is not exceeded. It is possible to implement.
【0017】つぎの発明に係る光線路試験装置は、前記
試験手段は、前記複数本の光線路の先頭,末尾それぞれ
の光線路に結合する第1,第2経路と、前記試験光を導
波させる際の進行方向に応じて前記第1および第2経路
のいずれか一方を選択的に切り換え、当該切り換えられ
た経路で前記試験光とその反射光とを通過させるスイッ
チとを有したことを特徴とする。In the optical line testing apparatus according to the next invention, the test means comprises: first and second paths that are respectively coupled to the first and last optical lines of the plurality of optical lines; A switch that selectively switches one of the first and second paths according to a traveling direction when the test light is made to pass, and that passes the test light and the reflected light thereof on the switched path. And
【0018】この発明によれば、スイッチにより試験光
の進行方向(経路)を選択的に切り換え、その進行方向
で試験を行うようにしたので、例えばある光線路に故障
が発生してもその故障位置に向かって試験光をどちらの
方向からでも進行させることができ、これにより、線路
上のどの位置で故障が発生しても、全ての光線路の試験
が可能である。According to the present invention, the traveling direction (path) of the test light is selectively switched by the switch, and the test is performed in the traveling direction. The test light can be made to travel from any direction toward the position, so that even if a failure occurs at any position on the line, all the optical lines can be tested.
【0019】つぎの発明に係る光線路試験装置は、通信
用光を送受信する複数の光伝送装置間を複数本の光線路
で接続し、前記複数本の光線路に前記通信用光とは異な
る波長をもつ試験光を伝送して光線路の試験を実施する
光線路試験装置において、前記複数の光線路の両端にそ
れぞれ試験および通信を行うための試験通信制御装置が
一台ずつ接続され、前記各試験通信制御装置は、前記各
光線路に接続され、前記各光線路との間で前記試験光と
同じ波長を持つ光だけを分岐して伝送する複数の合分波
手段と、前記試験光と同じ波長をもつ通信用光が使用さ
れ、前記各合分波手段および前記接続された各光線路を
通じて相手試験通信制御装置との間で試験通信を行う試
験通信手段と、を備えたことを特徴とする。In the optical line test apparatus according to the next invention, a plurality of optical transmission devices for transmitting and receiving communication light are connected by a plurality of optical lines, and the plurality of optical lines are different from the communication light. In an optical line test apparatus for transmitting a test light having a wavelength and performing an optical line test, a test communication control device for performing a test and communication at each end of the plurality of optical lines is connected one by one, Each test communication control device is connected to each of the optical lines, and a plurality of multiplexing / demultiplexing means for branching and transmitting only light having the same wavelength as the test light to and from each of the optical lines, Communication communication light having the same wavelength as that of the optical communication device, and test communication means for performing test communication with the partner test communication control device through the respective multiplexing / demultiplexing means and the connected optical lines. Features.
【0020】この発明によれば、複数の試験通信制御装
置を線路に接続させ、試験通信制御装置で扱う通信用光
を試験光と同じ波長にして光線路の試験通信を行うよう
にしたので、試験通信に使用する通信用光が光伝送装置
で扱う通常の通信用光に影響を及ぼすことがないととも
に、試験通信制御装置をノードとして光線路網を拡大す
ることができ、これにより、大規模な光線路網の光線路
試験をある一つの端末から実施することが可能である。According to the present invention, a plurality of test communication control devices are connected to the line, and the communication light handled by the test communication control device is set to the same wavelength as the test light to perform the test communication of the optical line. The communication light used for test communication does not affect the normal communication light handled by the optical transmission device, and the optical communication network can be expanded using the test communication control device as a node. It is possible to perform an optical line test of a simple optical line network from a certain terminal.
【0021】つぎの発明に係る光線路試験装置は、前記
試験通信手段は、送信側となった場合に前記通信用光を
送信する際に所定のパターンを挿入し、受信側となった
場合に前記通信用光を受信した際に前記挿入された前記
所定のパターンに基づいてビット誤り率を測定し、前記
各試験通信制御装置は、前記測定されたビット誤り率に
応じて光線路の正常/異常を判断して、異常という判断
結果が得られた場合に光線路の試験を制御することを特
徴とする。In the optical line testing apparatus according to the next invention, the test communication unit inserts a predetermined pattern when transmitting the communication light when the transmission side is set, and when the test communication unit is the reception side. When the communication light is received, the bit error rate is measured based on the inserted predetermined pattern, and each of the test communication control devices determines whether the optical line is normal / uncorrected according to the measured bit error rate. It is characterized in that an abnormality is judged and a test of the optical line is controlled when a result of the judgment is obtained.
【0022】この発明によれば、送信側の試験通信制御
装置で試験光と同じ波長を持つ通信用光に挿入された所
定のパターンを受信側の試験通信制御装置で受信された
場合、その受信された所定のパターンのビット誤り率か
ら異常が確認された場合に光線路の試験を実施するよう
にしたので、光線路の状態に応じて自動的に光線路の試
験を実施することが可能である。According to this invention, when a predetermined pattern inserted in the communication light having the same wavelength as the test light in the test communication control device on the transmitting side is received by the test communication control device on the receiving side, the reception Since the test of the optical line is performed when an abnormality is confirmed from the bit error rate of the predetermined pattern, the test of the optical line can be automatically performed according to the state of the optical line. is there.
【0023】つぎの発明に係る光線路試験装置は、前記
各試験通信制御装置は、上位装置とのインタフェースを
司る外部インタフェース部を有しており、前記正常/異
常の判断で異常という判断結果が得られた場合に前記外
部インタフェース部を介して前記上位装置に対して異常
を通知することを特徴とする。In the optical line test apparatus according to the next invention, each of the test communication control devices has an external interface section that controls an interface with a higher-level device. When it is obtained, the abnormality is notified to the host device through the external interface unit.
【0024】この発明によれば、各試験通信制御装置に
おいて、正常/異常の判断で異常という判断結果が得ら
れた場合に外部インタフェース部を介して前記上位装置
に対して異常を通知するようにしたので、光線路網に多
くの試験通信制御装置を設ければ、大規模な光線路網の
自動監視を行うことができ、これにより、光線路の保守
コストの大幅な削減が可能である。According to the present invention, in each test communication control device, when a determination result of abnormality is obtained in the determination of normal / abnormal, the abnormality is notified to the upper-level device via the external interface unit. Therefore, if a large number of test communication control devices are provided in the optical line network, a large-scale automatic monitoring of the optical line network can be performed, thereby greatly reducing the maintenance cost of the optical line.
【0025】[0025]
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る光線路試験装置の好適な実施の形態を詳細に
説明する。 実施の形態1.まず、構成について説明する。図1はこ
の発明の実施の形態1による光線路試験装置を示すブロ
ック図である。この光線路試験装置は、例えば、図1に
示したように、光伝送装置1A,2A、この光伝送装置
1A,2A間を接続する、N本の光線路86,87,8
8…よりなる光ファイバケーブル31、各光線路86,
87,88…へ試験波長光を結合する手段である合分波
光カップラ21,22,23…、および、合分波光カッ
プラ20、光線路86に接続され、試験波長光を発して
光線路での反射光により光線路の光伝送損失を測定する
光パルス試験器12より構成される。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the optical line test apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Embodiment 1 FIG. First, the configuration will be described. FIG. 1 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. For example, as shown in FIG. 1, this optical line test device includes N optical lines 86, 87, and 8 that connect the optical transmission devices 1A and 2A and the optical transmission devices 1A and 2A.
8, the optical fiber cable 31, each optical line 86,
Are coupled to the multiplexing / demultiplexing optical couplers 21, 22, 23..., Which are means for coupling the test wavelength light to 87, 88. The optical pulse tester 12 measures the optical transmission loss of the optical line by the reflected light.
【0026】光伝送装置1A,2Aは、それぞれN個の
光送受信部5…と、各光送受信部5…に対応するN個の
光コネクタ35…とを有している。また、光線路86,
87,88…において、合分波光カップラ20,22…
の光伝送装置2A側にも光コネクタ35…が設けられ、
一方、合分波光カップラ21,23…の光伝送装置1A
側にも光コネクタ35…が設けられている。Each of the optical transmission apparatuses 1A and 2A has N optical transmission / reception units 5 and N optical connectors 35 corresponding to the optical transmission / reception units 5 respectively. Also, the optical line 86,
87, 88... Multiplex / demultiplex optical couplers 20, 22,.
Optical connectors 35 are also provided on the side of the optical transmission device 2A.
On the other hand, the optical transmission device 1A of the multiplexing / demultiplexing optical couplers 21, 23,.
Optical connectors 35 are also provided on the side.
【0027】つぎに、動作について説明する。以上の構
成において、光ファイバケーブル31内の各光線路8
6,87,88…の端には、光パルス試験器12から発
出された試験光が合分波光カップラ20、21,22,
23…を通じて異なる光線路の端へ接続される。すなわ
ち、光パルス試験器12から発出された試験光は、まず
第1の合分波光カップラ20により第1の光線路86に
導かれる。Next, the operation will be described. In the above configuration, each optical line 8 in the optical fiber cable 31
The test light emitted from the optical pulse tester 12 is coupled to the ends of 6, 87, 88,.
23 are connected to the ends of different optical lines. That is, the test light emitted from the optical pulse tester 12 is first guided to the first optical line 86 by the first multiplex / demultiplex optical coupler 20.
【0028】この試験光は、第1の光線路86のほぼ全
長に亘って伝搬され、その端から光伝送装置2手前に設
けられた試験光を下部の第2の光線路87へ導く第2の
合分波光カップラ22を伝搬される。この試験光は、第
2の光線路87へ導かれ、その第2の光線路87を伝搬
され通過して光伝送装置1手前に設けられた第3の合分
波光カップラ22へ導かれる。さらに、試験光は第3の
光線路88を通過することになり、以降も同様の流れで
順次結合された光線路内を伝搬されることになる。The test light propagates over substantially the entire length of the first optical line 86, and guides the test light provided in front of the optical transmission device 2 from the end to the second optical line 87 below. Are transmitted through the multiplexing / demultiplexing optical coupler 22. This test light is guided to the second optical line 87, propagates through the second optical line 87, passes therethrough, and is guided to the third multi / demultiplex optical coupler 22 provided in front of the optical transmission device 1. Further, the test light passes through the third optical line 88, and thereafter propagates in the optical lines that are sequentially coupled in the same flow.
【0029】ここに挙げた光線路86,87,88…
は、同一材質でできており、各部でレイリー散乱を起こ
し反射光として逆方向へ進む。例えば第3の光線路88
のある部分で反射された光は、合分波光カップラ22で
上部の第2の光線路87へ伝搬され、さらに上部の第1
の光線路86へ伝搬されて、最終的に光パルス試験器1
2へ入力される。このようにして、光線路での光伝送損
失を知ることができる。The optical paths 86, 87, 88,...
Are made of the same material, cause Rayleigh scattering in each part, and travel in the opposite direction as reflected light. For example, the third optical line 88
The light reflected by a certain portion is propagated to the upper second optical line 87 by the multiplexing / demultiplexing optical coupler 22 and further to the upper first optical line 87.
Of the optical pulse tester 1
2 is input. Thus, the optical transmission loss in the optical line can be known.
【0030】続いて、合分波光カップラ20内の光の流
れについて説明する。図2はこの実施の形態1による合
分波光カップラ20の入出力を説明する図である。同図
において、λ0,λ1,λ2はそれぞれ異なる波長をも
った光を示し、41,42,43,44はそれぞれポー
トを示している。Next, the flow of light in the multi / demultiplex optical coupler 20 will be described. FIG. 2 is a diagram for explaining input and output of the multiplexing / demultiplexing optical coupler 20 according to the first embodiment. In the figure, λ0, λ1, and λ2 indicate lights having different wavelengths, respectively, and 41, 42, 43, and 44 indicate ports, respectively.
【0031】まず、ポート41から試験光として入力さ
れた光λ0は、ポート43へほとんど損失無く進行し、
逆に、ポート43から入力された光λ0は、ポート41
にほとんど損失無く進行する。さらに、ポート44から
入力された光λ1およびλ2は、ポート43にほとんど
損失無く進行し、ポート43から入力された光λ1およ
びλ2は、ほとんど損失することなくポート41に進行
する。したがって、光λ0を試験光としてポート41か
ら入力し、光λ1およびλ2は通信光として使用するこ
とによって、光パルス試験器12から発出された試験光
を光線路に挿入することができる。First, the light λ0 input as test light from the port 41 travels to the port 43 with almost no loss.
Conversely, the light λ0 input from the port 43
Progress with little loss. Further, the lights λ1 and λ2 input from the port 44 travel to the port 43 with little loss, and the lights λ1 and λ2 input from the port 43 travel to the port 41 with little loss. Therefore, by inputting the light λ0 as test light from the port 41 and using the lights λ1 and λ2 as communication light, the test light emitted from the optical pulse tester 12 can be inserted into the optical line.
【0032】続いて、合分波光カップラについて説明す
る。図9はこの実施の形態4による合分波光カップラの
入出力を説明する図である。同図において、45,46
は光線路86のポートであり、47,48は光線路87
のポートである。また、信号について、λ3,λ4は通
信用光である。Next, the multi / demultiplex optical coupler will be described. FIG. 9 is a diagram for explaining input and output of the multiplexing / demultiplexing optical coupler according to the fourth embodiment. In the figure, 45, 46
Are the ports of the optical line 86, and 47 and 48 are the optical lines 87
Port. In addition, λ3 and λ4 are communication lights for signals.
【0033】図9において、第1の光線路86を伝わっ
てきたλ1,λ2の波長である光はそのままポート46
へ伝送されるが、同様に伝わってきた光λ0は、ポート
46の方向へはほとんど伝わることなく、合分波光カッ
プラ21へ伝送され、更に第2の光線路87のポート4
8へと伝搬される。In FIG. 9, light having wavelengths of λ1 and λ2 transmitted through the first optical line 86 is directly transmitted to the port 46.
Transmitted to the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21 with almost no transmission in the direction of the port 46, and further transmitted to the port 4 of the second optical line 87.
8 is propagated.
【0034】したがって、光パルス試験器12から発出
された試験光λ0は、第1の光線路86をほぼ全長通過
するとともに、合分波光カップラ21を通って第2の光
線路87に入力され、その終端まで伝送される。このた
め、それぞれの光導波部分で主にレーリー散乱による反
射光が逆に進行することになり、各光線路86,87の
終端には届かず、最終的に光パルス試験器12に戻る。
以上の内部機能により、光線路の光伝送損失を測定する
ことができる。Therefore, the test light λ0 emitted from the optical pulse tester 12 passes through the first optical line 86 for substantially the entire length, and is input to the second optical line 87 through the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21. It is transmitted to its end. For this reason, the reflected light mainly due to Rayleigh scattering proceeds in the respective optical waveguide portions in the reverse direction, and does not reach the ends of the optical lines 86 and 87, and finally returns to the optical pulse tester 12.
With the above internal functions, the optical transmission loss of the optical line can be measured.
【0035】また、第1の光線路86と第2の光線路8
7のそれぞれの光伝送損失は、合分波光カップラ21の
挿入損失を若干大きくすることで、第1と第2の光線路
86,87の伝送損失の切り分けを行い易くすることが
できる。あるいは、設置した各光線路の長さや合分波光
カップラの長さが判れば、測定データからそれぞれの伝
送損失を知ることができる。The first optical line 86 and the second optical line 8
7 can make it easier to separate the transmission loss of the first and second optical lines 86 and 87 by slightly increasing the insertion loss of the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21. Alternatively, if the length of each installed optical line and the length of the multiplexing / demultiplexing optical coupler are known, each transmission loss can be known from the measurement data.
【0036】つぎに、光線路に関して距離と光伝送損失
との関係について説明する。図3はこの実施の形態1に
おいて距離に対する光伝送損失をグラフ化して示す図で
ある。図3には、光線路の試験結果の一例が示されてお
り、グラフの横軸は被測定部の距離(km)であり、縦
軸は光伝送損失(dB)である。Next, the relationship between the distance and the optical transmission loss for the optical line will be described. FIG. 3 is a graph showing optical transmission loss with respect to distance in the first embodiment. FIG. 3 shows an example of a test result of the optical line. The horizontal axis of the graph is the distance (km) of the measured part, and the vertical axis is the optical transmission loss (dB).
【0037】図3において、光線路(一例として光線路
86,87,88)の部分はほぼ直線状の部分(図中、
右下がりの直線状部分)である。また、上記光線路8
6,87,88部分で、光コネクタ−合分波光カップラ
(合分波光カップラ21,22,23)−光コネクタと
つながる部分は、上下にゆれる波形の部分である。光コ
ネクタ35は光線路の接続点で反射レベルがやや高く、
更に接続部からの光のもれによる接続損失が存在する。
合分波光カップラ21,22,23にはほとんど挿入損
失が無く、破断点等障害点が無ければ波形は直線状にな
る(図中、右下がりの直線状部分)。In FIG. 3, the portions of the optical lines (for example, the optical lines 86, 87 and 88) are substantially straight portions (in the figure,
(A linear portion falling to the right). In addition, the optical line 8
In the portions 6, 87 and 88, the portions connected to the optical connector, the multiplexing / demultiplexing optical coupler (the multiplexing / demultiplexing optical couplers 21, 22, 23) and the optical connector are portions having a waveform that swings up and down. The optical connector 35 has a slightly higher reflection level at the connection point of the optical line,
Further, there is a connection loss due to light leakage from the connection portion.
The multiplexer / demultiplexer couplers 21, 22, and 23 have almost no insertion loss, and if there is no fault point such as a break point, the waveform becomes linear (in the figure, a downward-sloping linear portion).
【0038】さらに、図3から光線路の光伝送損失を求
めるには、光パルス試験器12からの光線路の位置が判
れば、光線路の長さあるいは光コネクタ35の反射、接
続損出による異形な波形間に存在するほぼ直線状の部分
の傾きにより認識することができる。光線路に破断点が
ある場合には、その破断位置では反射光レベルが著しく
高まるため、この図3を見れば容易に異常があることが
分かり、かつ、その破断位置も分かり得る。Further, in order to determine the optical transmission loss of the optical line from FIG. 3, if the position of the optical line from the optical pulse tester 12 is known, the length of the optical line or the reflection or connection loss of the optical connector 35 can be used. It can be recognized from the inclination of the substantially linear portion existing between the irregular waveforms. If there is a break in the optical line, the level of the reflected light is significantly increased at that break, so that it is easy to see from FIG. 3 that there is an abnormality and that the break is also visible.
【0039】以上説明したように、この実施の形態1に
よれば、複数の異なる光線路を合分波光カップラ21…
で結合するようにしたので、通信用光とは異なる試験光
だけが合分波光カップラ経由で順次他の光線路へ導かれ
る。これにより、複数の光線路を1台の光パルス試験器
20でほぼ同時に試験することが可能である。その結
果、測定時間の短縮化,装置構成の簡略化等が図れる。
また、試験結果から故障位置を容易に知ることが可能で
ある。As described above, according to the first embodiment, a plurality of different optical lines are connected to the multiplexing / demultiplexing optical couplers 21.
Therefore, only the test light different from the communication light is sequentially guided to another optical line via the multiplexing / demultiplexing optical coupler. Thus, it is possible to test a plurality of optical lines almost simultaneously with one optical pulse tester 20. As a result, the measurement time can be shortened, the device configuration can be simplified, and the like.
Further, it is possible to easily find the failure position from the test result.
【0040】実施の形態2.さて、前述した実施の形態
1では、光伝送損失に関して何ら言及していないが、以
下に説明する実施の形態2のように、経路上で試験光を
増幅して光伝送損失を修正するようにしてもよい。な
お、この実施の形態2は、全体構成を前述した実施の形
態1と同様とするため、個々の相違する構成については
新たな番号を付し、同様の構成については同様の番号を
用いてその説明を省略する。以下に相違する部分につい
てのみ説明する。Embodiment 2 In the first embodiment, no mention is made of the optical transmission loss. However, as in the second embodiment described below, the test light is amplified on the path to correct the optical transmission loss. You may. In the second embodiment, since the overall configuration is the same as that of the above-described first embodiment, each different configuration is assigned a new number, and the same configuration is denoted by the same numeral. Description is omitted. Only the differences will be described below.
【0041】まず、構成について説明する。図4はこの
発明の実施の形態2による光線路試験装置を示すブロッ
ク図である。図4に示した構成は、前述した実施の形態
1の構成と全体的に同一となる。相違する構成として
は、図4に示した如く、合分波光カップラ22に設けら
れたファイバ型光増幅器24と、上から4本目の光線路
89上で合分波光カップラ23の接続部位近傍に設けら
れたファイバ型光増幅器24、25とが追加された点で
ある。以上のファイバ型光増幅器25,26は少なくと
も試験波長光を増幅することのできる増幅器である。First, the configuration will be described. FIG. 4 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. The configuration shown in FIG. 4 is entirely the same as the configuration of the first embodiment described above. As a different configuration, as shown in FIG. 4, the fiber type optical amplifier 24 provided in the multiplexing / demultiplexing optical coupler 22 and the fiber optical amplifier 24 provided near the connecting portion of the multiplexing / demultiplexing optical coupler 23 on the fourth optical line 89 from the top. That is, the added fiber type optical amplifiers 24 and 25 are added. The above fiber type optical amplifiers 25 and 26 are amplifiers capable of amplifying at least the test wavelength light.
【0042】図1または図3において、多数の光線路を
接続する際には、光コネクタ35…の光接続損失、ある
いは合分波光カップラ20,21,22,23…による
挿入損失など接続数が多くなることが考えられる。この
ため、光接続損失や挿入損失が大きいと接続数の累積に
より損失絶対値が大きくなるので、光パルス試験器12
で測定可能なダイナミックレンジがオーバーし易くな
る。そこで、この実施の形態2では、ファイバ型光増幅
器24および25の導入がなされている。In FIG. 1 or FIG. 3, when connecting a large number of optical lines, the number of connections such as the optical connection loss of the optical connectors 35 or the insertion loss due to the multiplexing / demultiplexing optical couplers 20, 21, 22, 23. It is likely that it will increase. Therefore, if the optical connection loss or the insertion loss is large, the absolute value of the loss increases due to the accumulation of the number of connections.
, The dynamic range that can be measured is easily exceeded. Therefore, in the second embodiment, fiber optical amplifiers 24 and 25 are introduced.
【0043】ファイバ型光増幅器24,25は、試験光
の通過する伝送路上のある箇所に配置され、伝送してい
る複数の波長の光の内、少なくとも試験光を増幅するも
のである。図4において、ファイバ型光増幅器25は、
光線路89上に設けられ、通信用光λ3,λ4と試験波
長光λ0とのどちらも増幅して伝送するが、ファイバ型
光増幅器24は、合分波光カップラ21に設けられてい
ることいから、試験波長光λ0のみを増幅して伝送す
る。The fiber type optical amplifiers 24 and 25 are arranged at certain locations on the transmission path through which the test light passes, and amplify at least the test light among the plurality of wavelengths of light being transmitted. In FIG. 4, the fiber type optical amplifier 25 includes:
It is provided on the optical line 89 and amplifies and transmits both the communication light λ3 and λ4 and the test wavelength light λ0. However, since the fiber optical amplifier 24 is provided in the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21. , Only the test wavelength light λ0 is amplified and transmitted.
【0044】したがって、ファイバ型光増幅器24,2
5により少なくとも試験波長光が増幅されることから、
増幅された後の試験光の通過する線路での反射光は、フ
ァイバ型光増幅器を持たない線路の場合と比べて大きく
なる。これにより、光パルス試験器12のダイナミック
レンジを越えないようにすることができる。Therefore, the fiber type optical amplifiers 24, 2
5 amplifies at least the test wavelength light,
The reflected light on the line through which the amplified test light passes is greater than that on the line without the fiber optical amplifier. Thus, the dynamic range of the optical pulse tester 12 can be prevented from being exceeded.
【0045】ただし、ファイバ型光増幅器を用いる場合
には(角田正豊、古川真一、田中郁昭、雨宮正樹、“海
底光増幅中継伝送系における故障位置探査技術の検討”
電子情報学会論文誌 VOL.J78−B−I N
o.12 pp745〜752)、ファイバ型光増幅器
が高い増幅度を持っているので、多重反射を防止して安
定して動作させるための光アイソレータが配置される。
このアイソレータによりそれより先に進んだ試験光の反
射光は光パルス試験器12への通路を絶たれるため、測
定は不可能となる。However, when a fiber-type optical amplifier is used (see Masatoyo Tsunoda, Shinichi Furukawa, Ikuaki Tanaka, Masaki Amemiya, "Study of fault location technology in submarine optical amplification repeater transmission system")
IEICE Transactions Vol. J78-BIN
o. 12 pp 745 to 752), since the fiber type optical amplifier has a high amplification degree, an optical isolator for preventing multiple reflection and operating stably is arranged.
Since the reflected light of the test light that has proceeded further by this isolator is cut off the path to the optical pulse tester 12, the measurement becomes impossible.
【0046】以上を考慮して、ファイバ型光増幅器2
4,25についてさらに詳述する。図5はこの実施の形
態2によるファイバ型光増幅器の代表的な構成を示すブ
ロック図である。図5には、代表例として、ファイバ型
光増幅器25の構成が示されている。図5において、1
6,17はそれぞれ入出力先を切り換える光サーキュレ
ータ、18は光を増幅するポンプ光レーザ、49,5
0,51はそれぞれ光サーキュレータ16のポート、5
2,53,54はそれぞれ光サーキュレータ17のポー
ト、そして、89cは光サーキュレータ16,17間で
ポンプ光レーザ18による増幅経路を介さない迂回路で
ある。In consideration of the above, the fiber type optical amplifier 2
4 and 25 will be described in more detail. FIG. 5 is a block diagram showing a typical configuration of the fiber type optical amplifier according to the second embodiment. FIG. 5 shows a configuration of the fiber type optical amplifier 25 as a representative example. In FIG. 5, 1
Reference numerals 6 and 17 denote optical circulators for switching input and output destinations, respectively, 18 a pump light laser for amplifying light, and 49 and 5 respectively.
0 and 51 are ports of the optical circulator 16 and 5 and 5 respectively.
Reference numerals 2, 53, and 54 denote ports of the optical circulator 17, respectively, and reference numeral 89c denotes a bypass route between the optical circulators 16 and 17 that does not pass through an amplification path by the pump light laser 18.
【0047】例えば、第3の光線路88には、通信光λ
1,2と試験光λ0が伝送しているが試験光λ0は合分
岐光カップラ23でa地点からb地点へ伝搬され、第1
の光サーキュレータ16に入力される。第1の光サーキ
ュレータ16では、図5に示すようにポート49から入
力された光はポート50へ、ポート50から入力された
光は出力されず、ポート51から入力された光はポート
49へ出力する方向性をもつことになる。For example, the communication light λ is
The test light λ0 is transmitted from the point a to the point b by the multiplexing / branching optical coupler 23.
Is input to the optical circulator 16. In the first optical circulator 16, as shown in FIG. 5, the light input from the port 49 is output to the port 50, the light input from the port 50 is not output, and the light input from the port 51 is output to the port 49. It will have the direction to do.
【0048】したがって、第1の光サーキュレータ16
に入力された試験光λ0は、ファイバ型光増幅器25内
部へ進み、そこで増幅され、第2の光サーキュレータ1
7のポート52へ入力される。この光サーキュレータ1
7では、前述の方向性によりポート53へ試験光λ0が
出力され、第4の光線路89の一方の光線路89bを伝
搬される。Therefore, the first optical circulator 16
The test light λ0 input to the optical fiber amplifier 25 travels into the fiber optical amplifier 25, where it is amplified and the second optical circulator 1
7 is input to port 52. This optical circulator 1
At 7, the test light λ0 is output to the port 53 due to the above-described directionality, and propagates through one optical line 89 b of the fourth optical line 89.
【0049】ここで、光線路89bを伝搬される試験光
λ0の反射光は、第2の光サーキュレータ17のポート
53に入力され、前述の方向性のためポート54へ出力
され、迂回路89cを伝搬される。この迂回路89cを
伝搬した前述の反射光は、光サーキュレータ16のポー
ト51から入力され、ポート49へ出力される。Here, the reflected light of the test light λ0 propagating through the optical line 89b is input to the port 53 of the second optical circulator 17 and is output to the port 54 for the above-mentioned directionality, and is output to the bypass 89c. Propagated. The above-described reflected light that has propagated through the detour 89c is input from the port 51 of the optical circulator 16 and output to the port 49.
【0050】このポート49から出力された反射光は、
合分波光カップラ23のb地点からa地点、そして、第
3の光線路88へ入力される。さらに、反射光は、光線
路88,合分波光カップラ22,第2の光線路87,合
分波光カップラ21,第1の光線路86経由で合分波光
カップラ20を介して光パルス試験器12へと戻る。以
上のように迂回路89cを設けることで、ファイバ型光
増幅器24,25通過後の光線路についても試験が可能
である。The reflected light output from this port 49 is
The signal is input from the point b to the point a of the multi / demultiplex optical coupler 23 and then to the third optical line 88. Further, the reflected light passes through the optical line 88, the multiplexing / demultiplexing optical coupler 22, the second optical line 87, the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21, and the first optical line 86 via the multiplexing / demultiplexing optical coupler 20 and the optical pulse tester 12. Return to. By providing the detour 89c as described above, it is possible to test the optical line after passing through the fiber type optical amplifiers 24 and 25.
【0051】つぎに、光線路に関して距離と光伝送損失
との関係について説明する。図6はこの発明の実施の形
態2において距離に対する光伝送損失をグラフ化して示
す図である。図6には、光線路の試験結果の一例が示さ
れており、グラフの横軸は被測定部の距離(km)であ
り、縦軸は光伝送損失(dB)である。Next, the relationship between the distance and the optical transmission loss for the optical line will be described. FIG. 6 is a graph showing light transmission loss with respect to distance in the second embodiment of the present invention. FIG. 6 shows an example of the test result of the optical line. The horizontal axis of the graph is the distance (km) of the measured part, and the vertical axis is the optical transmission loss (dB).
【0052】図6において、光パルス試験器12から発
出された試験光の反射光は、伝搬の際に、ファイバ型光
増幅器24の入力部にある光サーキュレータ16に到達
するまで強度が減衰していく。ところが、その後の波形
は、試験光がファイバ型光増幅器24により増幅される
ため、反射光の強度が増して損失が修正される。その結
果、試験光の波形は上方向に戻る。このようにすること
で、より多数の光線路の試験が可能となる。In FIG. 6, the reflected light of the test light emitted from the optical pulse tester 12 has its intensity attenuated until it reaches the optical circulator 16 at the input of the fiber type optical amplifier 24 during propagation. Go. However, in the subsequent waveform, since the test light is amplified by the fiber-type optical amplifier 24, the intensity of the reflected light increases and the loss is corrected. As a result, the waveform of the test light returns upward. By doing so, it is possible to test a larger number of optical lines.
【0053】以上説明したように、この実施の形態2に
よれば、前述した実施の形態1の効果が得られることは
もちろん、ファイバ型光増幅器を試験光の経路に挿入す
るようにしたので、光増幅によって試験光の光伝送損失
を補うことができ、これによって、前述した実施の形態
1よりもより多数の光線路についての試験が可能であ
る。As described above, according to the second embodiment, not only the effect of the first embodiment can be obtained, but also the fiber optical amplifier is inserted into the path of the test light. The optical amplification can compensate for the optical transmission loss of the test light, thereby making it possible to test a larger number of optical lines than in the first embodiment.
【0054】さて、以上の実施の形態2において、増幅
度を調整するために、光サーキュレータ17前段に光の
強度を減衰させる減衰器を設けるようにしてもよい。In the second embodiment, an attenuator for attenuating the intensity of light may be provided in a stage preceding the optical circulator 17 in order to adjust the amplification degree.
【0055】実施の形態3.さて、前述した実施の形態
1および3では、合分波光カップラと光送受信部間の距
離が長く設定された場合、その間の光伝送損失を知るこ
とはできなかったが、以下に説明する実施の形態3のよ
うに、光伝送装置内部に合分波光カップラを設置して、
外部の光線路全長における光伝送損失を知るようにして
もよい。Embodiment 3 In the first and third embodiments, when the distance between the multiplexing / demultiplexing optical coupler and the optical transmitting / receiving unit is set to be long, it is not possible to know the optical transmission loss therebetween. As in Embodiment 3, a multiplexing / demultiplexing optical coupler is installed inside the optical transmission device,
The optical transmission loss over the entire length of the external optical line may be known.
【0056】なお、この実施の形態3は、全体的には前
述した実施の形態1とほぼ近い構成のため、個々の相違
する構成については新たな番号を付し、同様の構成につ
いては同様の番号を用いてその説明を省略する。以下に
相違する部分についてのみ説明する。Since the third embodiment is generally similar in structure to the first embodiment described above, each different configuration is assigned a new number, and the same configuration is assigned the same reference numeral. The description is omitted using the numbers. Only the differences will be described below.
【0057】まず、構成について説明する。図7はこの
発明の実施の形態3による光線路試験装置を示すブロッ
ク図である。同図において、1B,3は前述した光伝送
装置1に相当する機能を果たす光伝送装置、2B1,2
B2,2B3は前述した光伝送装置2に相当する機能を
果たす光伝送装置である。前述した実施の形態1および
3では、光伝送装置1と合分波光カップラとは別体に設
けられていたが、この実施の形態3では、図7に示した
ように、光伝送装置1B,2B1,2B2,2B3,3
内にそれぞれ合分波光カップラが設けられる。First, the configuration will be described. FIG. 7 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 3 of the present invention. In the figure, reference numerals 1B and 3 denote optical transmission devices that perform functions corresponding to the above-described optical transmission device 1, and 2B1 and 2B2.
B2 and 2B3 are optical transmission devices that perform functions corresponding to the optical transmission device 2 described above. In the first and third embodiments described above, the optical transmission device 1 and the multiplexing / demultiplexing optical coupler are provided separately, but in the third embodiment, as shown in FIG. 2B1, 2B2, 2B3, 3
A multiplexing / demultiplexing optical coupler is provided therein.
【0058】各光伝送装置1B,2B1,2B2,2B
3,3において、光送受信部5は光通信信号の送受信の
機能を持ち、光線路インターフェース部8は光線路と光
送受信部とを結合する。ここでは、各光伝送装置1B,
2B1,2B2,2B3,3は、光ファイバである光線
路インターフェース部8を用いて光コネクタ35で外部
の光線路(光線路86、87,88,89などに結合し
ている。Each optical transmission device 1B, 2B1, 2B2, 2B
In 3 and 3, the optical transmitting and receiving unit 5 has a function of transmitting and receiving an optical communication signal, and the optical line interface unit 8 couples the optical line and the optical transmitting and receiving unit. Here, each optical transmission device 1B,
2B1, 2B2, 2B3, and 3 are connected to external optical lines (optical lines 86, 87, 88, 89, etc.) by an optical connector 35 using an optical line interface unit 8 that is an optical fiber.
【0059】光伝送装置1Bにおいて、光線路インター
フェース部8の部分には、光パルス試験器12から発せ
られる光の入力用である合分波光カップラ20と、光線
路87,88間すなわち異なる光線路間の試験光結合用
の合分波光カップラ22が設けられている。同様に、光
伝送装置2B1,2B2において、光線路インターフェ
ース部8の部分には、光線路86,87間、光線路8
7,88間の試験光結合用の合分波光カップラ21,2
3が設けられている。このように、合分波光カップラ2
0および22を配置することで光伝送装置1Aと2B
1,2B2,2B3間の光線路全長におよび測定可能で
ある。In the optical transmission device 1B, a portion of the optical line interface section 8 includes a multiplexing / demultiplexing optical coupler 20 for inputting light emitted from the optical pulse tester 12 and the optical lines 87 and 88, that is, different optical lines. A multiplexing / demultiplexing optical coupler 22 for coupling test light therebetween is provided. Similarly, in the optical transmission devices 2B1 and 2B2, the portion of the optical line interface section 8 includes the portion between the optical lines 86 and 87,
Multiplexing / demultiplexing optical couplers 21 and 2 for coupling test light between 7, 88
3 are provided. Thus, the multiplexing / demultiplexing optical coupler 2
By disposing the optical transmission devices 1A and 2B
Measurement is possible over the entire length of the optical line between 1, 2, B2 and 2B3.
【0060】また、光線路および合分波光カップラを含
む光線路網で伝送異常が発生した場合には、その異常箇
所として光伝送装置内外の切り分けが容易にできる。Further, when a transmission abnormality occurs in the optical line network including the optical line and the multiplexing / demultiplexing optical coupler, the inside and outside of the optical transmission device can be easily separated as the abnormal part.
【0061】また、光パルス試験器12の光線路との入
出力部は測定不可能なデッドゾーンが存在するので、光
パルス試験器12と試験実施する光線路との間には、図
7に示したように、デッドゾーンを解消する長さの光フ
ァイバ心線81を用いることが望ましい。Since there is a dead zone in the input / output part of the optical pulse tester 12 with respect to the optical line, which cannot be measured, there is a gap between the optical pulse tester 12 and the optical line to be tested as shown in FIG. As shown, it is desirable to use the optical fiber core 81 having a length that eliminates the dead zone.
【0062】また、一端が光伝送装置等なく加入者等光
線路個別に配線される場合は、光ケーブル31の終端処
理部、あるいは、ケーブルの分岐部に合分波光カップラ
を設けることで、光ケーブル内の光線路の試験を全長に
亘って行うことが可能である。In the case where one end is individually wired to an optical line such as a subscriber without an optical transmission device or the like, a multiplexing / demultiplexing optical coupler is provided at a terminating section of the optical cable 31 or a branching section of the cable. Can be tested over the entire length.
【0063】また、図7に示したように、光ファイバ心
線82を用いて光伝送装置1と3とをコネクタ35,3
5で結合することより、多数の光線路の試験を行うこと
が可能である。光伝送装置3では、光ファイバ心線82
を接続したコネクタ35と光線路90とが合分波光カッ
プラ20Bにより結合される。光伝送装置3は、光ファ
イバケーブル32を介して光伝送装置2B3に接続され
る。As shown in FIG. 7, the optical transmission devices 1 and 3 are connected to the connectors 35 and 3 by using the optical fiber 82.
By coupling at 5, it is possible to test many optical lines. In the optical transmission device 3, the optical fiber core 82
Is connected to the optical line 90 by the multiplexing / demultiplexing optical coupler 20B. The optical transmission device 3 is connected to the optical transmission device 2B3 via the optical fiber cable 32.
【0064】以上説明したように、この実施の形態3に
よれば、光パルス試験器12を結合するとともに光線路
間を結合するための合分波光カップラを光線路側ではな
く、光伝送装置側(内部)に設置するようにしたので、
光線路の末端からの試験が可能となり、光伝送装置から
外部の光線路のほぼ全長に亘って試験が行われる。これ
により、外部の光線路のほぼ全長についての光伝送損失
を知ることが可能であるとともに、前述した実施の形態
1と同様に、試験結果から故障位置を知ることが可能で
ある。As described above, according to the third embodiment, the multiplexing / demultiplexing optical coupler for coupling the optical pulse tester 12 and coupling between the optical lines is not provided on the optical line side but on the optical transmission apparatus side ( Inside)
The test can be performed from the end of the optical line, and the test is performed over almost the entire length of the external optical line from the optical transmission device. Thus, it is possible to know the optical transmission loss for almost the entire length of the external optical line, and also to know the failure position from the test result as in the first embodiment.
【0065】実施の形態4.さて、前述した実施の形態
3では、光パルス試験器12の注入口を1つにして1台
の光伝送装置1Bから試験光を取り込むシステムとなっ
ていたが、以下に説明する実施の形態4のように、注入
口を複数設けて試験可能な光線路の数を増やすようにし
てもよい。なお、この実施の形態4は、全体構成を前述
した実施の形態3と同様とするため、個々の相違する構
成については新たな番号を付し、同様の構成については
同様の番号を用いてその説明を省略する。以下に相違す
る部分についてのみ説明する。Embodiment 4 In the third embodiment described above, the system is configured such that the injection port of the optical pulse tester 12 is one and the test light is taken in from one optical transmission device 1B. As described above, a plurality of injection ports may be provided to increase the number of optical paths that can be tested. In the fourth embodiment, since the overall configuration is the same as that of the above-described third embodiment, each different configuration is assigned a new number, and the same configuration is denoted by the same numeral. Description is omitted. Only the differences will be described below.
【0066】まず、構成について説明する。図8はこの
発明の実施の形態4による光線路試験装置を示すブロッ
ク図である。この実施の形態4では、光パルス試験器1
2に光ファイバ芯線83を介して光スイッチ60が接続
され、その光スイッチ60の出力は2つ設けられる。一
方の出力は、光ファイバ芯線81を介して光伝送装置1
Bのコネクタ35に結合され、他方の出力は、光ファイ
バ芯線82を介して光伝送装置3のコネクタ35に結合
される。First, the configuration will be described. FIG. 8 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 4 of the present invention. In the fourth embodiment, the optical pulse tester 1
2, an optical switch 60 is connected via an optical fiber core 83, and two outputs of the optical switch 60 are provided. One output is supplied to the optical transmission device 1 via the optical fiber core 81.
B, and the other output is connected to the connector 35 of the optical transmission device 3 via the optical fiber core wire 82.
【0067】なお、光伝送装置1Bでは、前述した実施
の形態3において光伝送装置3のコネクタ35に結合さ
れる光ファイバ芯線82が光伝送装置1Bのコネクタ3
5に接続されていない構成を採用していることから、光
伝送装置1Bのコネクタ35部分に無反射終端処理をし
ておくとよい。In the optical transmission device 1B, the optical fiber core wire 82 connected to the connector 35 of the optical transmission device 3 in the third embodiment is connected to the connector 3 of the optical transmission device 1B.
5, the connector 35 of the optical transmission device 1B is preferably subjected to a non-reflection termination process.
【0068】図8に示すように、実施の形態4では、
1;Nの光スイッチ(Nは分岐数)を導入する。このこ
とにより、実施の形態1、2、3の場合に起きうる測定
する光線路がパルス試験器12の測定仕様範囲(測定
長、分解能、ダイナミックレンジ等)を越えてしまうよ
うな場合にも対応可能である。As shown in FIG. 8, in the fourth embodiment,
1: Introduce N optical switches (N is the number of branches). Accordingly, it is possible to cope with a case where an optical line to be measured which can occur in the first, second, and third embodiments exceeds the measurement specification range (measurement length, resolution, dynamic range, etc.) of the pulse tester 12. It is possible.
【0069】したがって、試験光を第1の光ファイバ芯
線81と第2光ファイバ芯線82とのどちらか一方を選
択できるように、1:2の光スイッチ60が設けられて
いる。選択指令については、図示せぬ制御部から発行さ
れるものとする。少なくとも第2の光ファイバ芯線82
は1個の光線路からのみ構成されるものとする。Therefore, the 1: 2 optical switch 60 is provided so that either one of the first optical fiber core 81 and the second optical fiber core 82 can be selected for the test light. The selection command is issued from a control unit (not shown). At least a second optical fiber core 82
Is composed of only one optical line.
【0070】前述した従来例による技術では(特開平2
−1632号公報参照)、N/2本の光線路に対して
1:Nの光スイッチが必要であったが、この実施の形態
4では、1:Nの光スイッチ60を用いることで、最低
N本(従来の2倍)の光線路まで試験することが可能であ
る。すなわち、この実施の形態4によれば、従来技術と
同じ機能の光スイッチを用いたとしても、従来よりも多
くの光線路を試験することが可能である。The technique according to the conventional example described above (Japanese Patent Laid-Open No.
Although a 1: N optical switch was required for N / 2 optical lines, the fourth embodiment uses the 1: N optical switch 60 to minimize the number of optical switches. It is possible to test up to N (twice the conventional) optical lines. That is, according to the fourth embodiment, even if an optical switch having the same function as that of the related art is used, it is possible to test more optical lines than before.
【0071】続いて、合分波光カップラについて説明す
る。図9はこの実施の形態4による合分波光カップラの
入出力を説明する図である。同図において、45,46
は光線路86のポートであり、47,48は光線路87
のポートである。また、信号について、λ3,λ4は通
信用光である。Next, the multi / demultiplex optical coupler will be described. FIG. 9 is a diagram for explaining input and output of the multiplexing / demultiplexing optical coupler according to the fourth embodiment. In the figure, 45, 46
Are the ports of the optical line 86, and 47 and 48 are the optical lines 87
Port. In addition, λ3 and λ4 are communication lights for signals.
【0072】図9において、第1の光線路86を伝わっ
てきたλ1,λ2の波長である光はそのままポート46
へ伝送されるが、同様に伝わってきた光λ0は、ポート
46の方向へはほとんど伝わることなく、合分波光カッ
プラ21へ伝送され、更に第2の光線路87のポート4
8へと伝搬される。In FIG. 9, light having wavelengths of λ1 and λ2 transmitted through the first optical line 86 is directly transmitted to the port 46.
Transmitted to the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21 with almost no transmission in the direction of the port 46, and further transmitted to the port 4 of the second optical line 87.
8 is propagated.
【0073】したがって、光パルス試験器12から発出
された試験光λ0は、第1の光線路86をほぼ全長通過
するとともに、合分波光カップラ21を通って第2の光
線路87に入力され、その終端まで伝送される。このた
め、それぞれの光導波部分で主にレーリー散乱による反
射光が逆に進行することになり、各光線路86,87の
終端には届かず、最終的に光パルス試験器12に戻る。
以上の内部機能により、光線路の光伝送損失を測定する
ことができる。Therefore, the test light λ0 emitted from the optical pulse tester 12 passes through the first optical line 86 for substantially the entire length, and is input to the second optical line 87 through the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21. It is transmitted to its end. For this reason, the reflected light mainly due to Rayleigh scattering proceeds in the respective optical waveguide portions in the reverse direction, and does not reach the ends of the optical lines 86 and 87, and finally returns to the optical pulse tester 12.
With the above internal functions, the optical transmission loss of the optical line can be measured.
【0074】また、第1の光線路86と第2の光線路8
7のそれぞれの光伝送損失は、合分波光カップラ21の
挿入損失を若干大きくすることで、第1と第2の光線路
86,87の伝送損失の切り分けを行い易くすることが
できる。あるいは、設置した各光線路の長さや合分波光
カップラの長さが判れば、測定データからそれぞれの伝
送損失を知ることができる。The first optical line 86 and the second optical line 8
7 can make it easier to separate the transmission loss of the first and second optical lines 86 and 87 by slightly increasing the insertion loss of the multiplexing / demultiplexing optical coupler 21. Alternatively, if the length of each installed optical line and the length of the multiplexing / demultiplexing optical coupler are known, each transmission loss can be known from the measurement data.
【0075】以上説明したように、この実施の形態4に
よれば、前述した実施の形態1の効果が得られることは
もちろん、1台の光パルス試験器12に光スイッチ60
を接続させ、そこから複数の出力先を得るようにしたの
で、光パルス試験器1台に対する試験可能な光線路の数
が増加させることが可能である。As described above, according to the fourth embodiment, the effect of the first embodiment can be obtained, and the optical switch 60 can be connected to one optical pulse tester 12.
And a plurality of output destinations are obtained therefrom, so that the number of optical lines that can be tested for one optical pulse tester can be increased.
【0076】実施の形態5.さて、前述した実施の形態
1〜4では、光線路の一部に障害が起きたときには、そ
の障害レベルおよび位置を特定することができるが、そ
の部分の補修、あるいは撤去するための構成ついての考
慮はない。そこで、補修や撤去の際に長時間に亘り試験
ができない光線路が現れる不具合を防止するため、この
発明は、以下に説明する実施の形態5のように、一部の
光線路の補修や撤去の際にも他の光線路において試験の
実施を実現できるようにしてもよい。Embodiment 5 In the first to fourth embodiments, when a failure occurs in a part of the optical path, the level and position of the failure can be specified. However, the configuration for repairing or removing the part is described. No consideration. Therefore, in order to prevent a problem that an optical line that cannot be tested for a long time appears at the time of repair or removal, the present invention provides repair or removal of a part of the optical line as in a fifth embodiment described below. In this case, the test may be performed on another optical path.
【0077】なお、この実施の形態5は、接続関係を除
く全体構成を前述した実施の形態4と同様とするため、
同様の構成については同様の番号を用いてその説明を省
略する。以下に相違する部分についてのみ説明する。In the fifth embodiment, since the entire structure except for the connection relation is the same as that of the fourth embodiment,
Similar components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. Only the differences will be described below.
【0078】まず、構成について説明する。図10はこ
の発明の実施の形態5による光線路試験装置を示すブロ
ック図である。図10において、前述した光伝送装置3
およびこれに関連する構成については、この実施の形態
5では、説明上、不要のため、図面から省略する。前述
した実施の形態4では、光スイッチ60の2つの出力
は、一方が光伝送装置1Bの光線路86に結合され、他
方が光伝送装置3の光線路90に結合される構成であ
る。これに対して、この実施の形態5では、図10に示
したように、光パルス試験器12の出力1:2とする光
スイッチ60の2つの出力は、一方が光伝送装置1Bの
光線路86に結合され、他方が同装置1の光線路89に
結合される構成である。First, the configuration will be described. FIG. 10 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 5 of the present invention. In FIG. 10, the above-described optical transmission device 3
In the fifth embodiment, the configuration related to this is unnecessary for explanation, and thus is omitted from the drawings. In the fourth embodiment described above, one of the two outputs of the optical switch 60 is coupled to the optical line 86 of the optical transmission device 1B, and the other is coupled to the optical line 90 of the optical transmission device 3. On the other hand, in the fifth embodiment, as shown in FIG. 10, two outputs of the optical switch 60 that make the output of the optical pulse tester 12 1: 2 are one of the optical lines of the optical transmission device 1B. 86, and the other is connected to the optical line 89 of the device 1.
【0079】すなわち、光スイッチ60からの2つの出
力(試験光)が同一の光伝送装置1Bに対して結合さ
れ、一方の出力は上方から下方へ流れ、他方の出力は下
方から上方へ流れるように注入される。すなわち、同一
の光伝送装置1B内において試験光を双方向から注入で
きる構成となっている。That is, two outputs (test lights) from the optical switch 60 are coupled to the same optical transmission device 1B, one output flows from above to below, and the other output flows from below to above. Is injected into. That is, the configuration is such that test light can be injected from both directions in the same optical transmission device 1B.
【0080】この光ファイバケーブル31で障害がおき
ていないときは、一方すなわち光スイッチ60が光ファ
イバ芯線81を選択して上方からの測定のみで全光線路
の測定が可能であるが、例えば線路上の1カ所(例えば
図10のP点)に障害が発生し、かつ損失レベルが高い
ときには、その先(光線路87以降)の測定が不可能と
なる場合がある。この場合には、光スイッチ60でもう
一方の出力端側の光ファイバ心線82を選択すれば、下
方からの測定が行われることになり、測定不可能である
部分よりも先(光線路87,88,89)の測定が可能
となる。When there is no failure in the optical fiber cable 31, one of the optical switches 60 selects the optical fiber core wire 81 and the measurement of the entire optical line is possible only by measuring from above. When a failure occurs at one of the above locations (for example, point P in FIG. 10) and the loss level is high, it may not be possible to measure beyond that point (after the optical line 87). In this case, if the optical fiber 60 on the other output end side is selected by the optical switch 60, the measurement is performed from below, and the measurement is performed before the unmeasurable portion (the optical line 87). , 88, 89).
【0081】以上説明したように、この実施の形態5に
よれば、前述した実施の形態4の効果が得られることは
もちろん、その故障箇所が修理されるまで光スイッチ6
0の両出力端(光ファイバ芯線81,82)を使用する
ようにしたので、故障位置に向かって試験光をどちらの
方向からでも進行させることができる。すなわち、線路
上のどの位置で故障が発生しても、全ての光線路の試験
が可能であるとともに、故障位置を知ることが可能であ
る。As described above, according to the fifth embodiment, not only the effect of the fourth embodiment described above can be obtained, but also the optical switch 6 can be used until the failed part is repaired.
Since the two output ends (optical fiber core wires 81 and 82) are used, the test light can travel from any direction toward the failure position. That is, even if a failure occurs at any position on the line, it is possible to test all the optical lines and to know the position of the failure.
【0082】実施の形態6.さて、前述した実施の形態
1〜5では、試験光を光線路の試験にのみ採用していた
が、以下に説明する実施の形態6のように、試験光を、
光線路の試験のみならず、光パルス試験器の通信に用い
るようにしてもよい。Embodiment 6 FIG. In the first to fifth embodiments, the test light is used only for the test of the optical line. However, as in the sixth embodiment described below, the test light is
It may be used not only for the test of the optical line but also for the communication of the optical pulse tester.
【0083】まず、構成について説明する。図11はこ
の発明の実施の形態6による光線路試験装置を示すブロ
ック図である。同図において、1C,2Cはそれぞれ前
述した実施の形態1の光伝送装置1,2と同様の機能を
果たす光伝送装置であり、それぞれ光線路91,92を
接続させている。70Aは光線路試験装置全体の光線路
網について試験光を用いて試験する試験通信制御装置で
あり、光線路91,92に対してそれぞれ合分波光カッ
プラ20A,20Bを結合させている。First, the configuration will be described. FIG. 11 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 6 of the present invention. In the figure, reference numerals 1C and 2C denote optical transmission devices that perform the same functions as the optical transmission devices 1 and 2 of the first embodiment, respectively, and connect optical lines 91 and 92, respectively. Reference numeral 70A denotes a test communication control device for testing the optical line network of the entire optical line test device using test light, and multiplex / demultiplex optical couplers 20A and 20B are coupled to the optical lines 91 and 92, respectively.
【0084】試験通信制御装置70Aは、例えば、光送
受信器72Aおよび72B,光パルス試験器73,光ス
イッチ75,76および77を制御する、MPU、メモ
リなどで構成される制御部71、試験光と同じ波長であ
り、光線路網の試験光経路のみで装置間通信および光線
路の試験するための通信光を送受信する光送受信器72
A,72B、試験光を発出する光パルス試験器73から
出力される試験光を光線路91,92のいずれかに選択
結合するために光スイッチ76,77のいずれか一方を
選択する光スイッチ75、光送受信部72A,72Bか
ら送受信される通信光か、それとも光パルス試験器73
から出力される試験光かを選択して光線路91,92へ
供給する光スイッチ76,77より構成される。The test communication control device 70A controls, for example, the optical transceivers 72A and 72B, the optical pulse tester 73, the optical switches 75, 76 and 77, a control unit 71 composed of an MPU, a memory and the like, a test light And an optical transceiver 72 for transmitting and receiving communication light for inter-device communication and optical line test only with the test optical path of the optical line network.
A, 72B, and an optical switch 75 for selecting one of the optical switches 76, 77 to selectively couple the test light output from the optical pulse tester 73 that emits the test light to one of the optical lines 91, 92. Communication light transmitted and received from the optical transmission / reception units 72A and 72B or the optical pulse tester 73
And optical switches 76 and 77 for selecting the test light output from the optical path and supplying the selected test light to the optical lines 91 and 92.
【0085】続いて、光送受信部72A,72Bについ
て説明する。図12はこの実施の形態6による光送受信
部の代表的な構成を示すブロック図である。光送受信部
72A,72Bの代表的な構成は、図12に示したよう
に、光サーキュレータ721、光送信部722および光
受信部723の組み合わせである。光送信部722に
は、LD、LEDなどが用いられ、光受信部723には
フォトダイオード等の光受信素子が用いられる。光サー
キュレータ721は、1本の光線路で送受信行うため、
送受信方向の判別を行うものである。Next, the optical transmission / reception units 72A and 72B will be described. FIG. 12 is a block diagram showing a typical configuration of an optical transceiver according to the sixth embodiment. A typical configuration of the optical transmitting / receiving units 72A and 72B is a combination of an optical circulator 721, an optical transmitting unit 722, and an optical receiving unit 723, as shown in FIG. An LD, an LED, or the like is used for the light transmitting unit 722, and a light receiving element such as a photodiode is used for the light receiving unit 723. Since the optical circulator 721 performs transmission and reception by one optical line,
This is to determine the transmission / reception direction.
【0086】続いて、制御部14について説明する。図
13はこの実施の形態6による制御部71の動作シーケ
ンスを説明する図である。ここでは、1本の光伝送経路
に対して試験通信制御装置70Aとこの装置70A同様
の構成よりなる試験通信制御装置70Bが接続されてい
る場合を例に挙げる。Next, the control section 14 will be described. FIG. 13 is a diagram illustrating an operation sequence of the control unit 71 according to the sixth embodiment. Here, an example is described in which a test communication control device 70A and a test communication control device 70B having the same configuration as this device 70A are connected to one optical transmission path.
【0087】まず、試験通信制御装置70A,70Bが
共に電源投入された後、通常状態として光線路の試験光
経路が各制御部14,14とつながり、各制御部14,
14は試験要求待ち状態となっている。ここでは、試験
起動は、試験通信制御装置70Aに対して人によるマニ
ュアル起動とする。First, after the test communication control devices 70A and 70B are both powered on, the test optical path of the optical line is connected to each control unit 14 in a normal state, and each control unit 14
14 is in a test request waiting state. Here, the test activation is a manual activation by a person for the test communication control device 70A.
【0088】そして、試験通信制御装置70Aが試験要
求発出および試験許可確認タイマが起動されると、試験
通信制御装置70Bでは、その試験要求を受信して試験
許可発出および試験待ちタイマが起動され、通信および
試験線路への結合が解除される。そして、試験通信制御
装置70Aでは、光パルス試験器73の選択が光スイッ
チ75,76および77に対する制御部14の制御によ
って実施され、試験が実施されることで試験実施のため
の試験タイマが動作する。When the test communication control device 70A issues the test request and activates the test permission confirmation timer, the test communication control device 70B receives the test request and activates the test permission issuance and test waiting timer. The connection to the communication and test lines is released. Then, in the test communication control device 70A, the selection of the optical pulse tester 73 is performed under the control of the control unit 14 for the optical switches 75, 76, and 77, and the test is performed. I do.
【0089】試験通信制御装置70Bでは、試験待ち状
態のために試験待ちタイマが作動し、一方、試験通信制
御装置70Aでは、試験完了通知発出および完了通知受
信確認のタイマが起動される。試験通信制御装置70B
では、試験完了待ちおよび試験完了確認のタイマが起動
される。試験通信制御装置70Aでは、試験完了通知受
信が通知されると、試験完了通知受信の通知が受信され
た後に応答確認タイマが終了すれば、動作は通常状態へ
戻る。In the test communication control device 70B, a test waiting timer is activated due to the test waiting state, while in the test communication control device 70A, a timer for issuing a test completion notification and confirming completion notification reception is started. Test communication control device 70B
Then, a timer for waiting for test completion and a test completion confirmation is started. In the test communication control device 70A, when the test completion notification is received, if the response confirmation timer expires after the test completion notification is received, the operation returns to the normal state.
【0090】以上の動作において、試験待ちタイマおよ
び試験タイマを除く各タイマは、タイマ完了までに正常
通知がない場合、あるいは異常通知があった場合に、試
験要求を発出して、試験許可の有り無しに関わらず、試
験を実施すればよい。なお、異常通知があった場合に
は、その異常を上位の図示せぬ監視装置に通知するよう
にするものとする。In the above operation, each of the timers except the test waiting timer and the test timer issues a test request when there is no normal notification by the time of completion of the timer or when there is an abnormal notification, and the test is permitted. The test may be performed with or without the test. If an abnormality is notified, the abnormality is notified to a higher-level monitoring device (not shown).
【0091】また、各光送受信部72A,72Bの光受
信部723は試験光の受信により故障しないようにする
ため、通信光の受信レベルと試験光の受信レベルとを判
別する検討が必要であり、そのために、光受信部723
の手前に適したフィルタを挿入したり、あるいは通信
光,試験光それぞれの送信光レベルを調整すればよい。Further, in order to prevent the optical receiving section 723 of each of the optical transmitting / receiving sections 72A and 72B from being damaged by receiving the test light, it is necessary to consider discriminating the reception level of the communication light from the reception level of the test light. For that purpose, the optical receiving unit 723
A suitable filter may be inserted before the above, or the transmission light levels of the communication light and the test light may be adjusted.
【0092】以上説明したように、この実施の形態6に
よれば、複数の試験通信制御装置を線路に接続させ、試
験通信制御装置で扱う通信用光を試験光と同じ波長にし
て光線路の試験通信を行うようにしたので、試験通信に
使用する通信用光が光伝送装置で扱う通常の通信用光に
影響を及ぼすことがないとともに、試験通信制御装置を
ノードとして光線路網を拡大することができる。これに
より、大規模な光線路網の光線路試験をある一つの端末
から実施することが可能であり、この場合にも、試験結
果から故障位置をしることができる。As described above, according to the sixth embodiment, a plurality of test communication control devices are connected to the line, and the communication light handled by the test communication control device is set to the same wavelength as the test light, so that the optical communication line is controlled. Since test communication is performed, communication light used for test communication does not affect ordinary communication light handled by the optical transmission device, and the optical line network is expanded using the test communication control device as a node. be able to. As a result, it is possible to carry out an optical line test of a large-scale optical line network from a certain terminal, and in this case also, it is possible to determine a failure position from the test result.
【0093】実施の形態7.さて、前述した実施の形態
6では、大規模な光線路網の試験を一台の端末すなわち
試験通信制御装置で行うことを目的としていたが、以下
に説明する実施の形態7のように、通信内容に固定パタ
ンを挿入することで異常がある線路を自動的に試験して
異常を検出するようにしてもよい。なお、この実施の形
態7は、システムの全体構成を前述した実施の形態6と
同様とするため、個々の相違する構成については新たな
番号を付し、同様の構成については同様の番号を用いて
その説明を省略する。以下に相違する部分についてのみ
説明する。Embodiment 7 FIG. In the sixth embodiment described above, the purpose of performing a large-scale optical line network test with one terminal, that is, a test communication control device, is described. By inserting a fixed pattern into the contents, a line having an abnormality may be automatically tested to detect the abnormality. In the seventh embodiment, since the overall configuration of the system is the same as that of the above-described sixth embodiment, a different number is assigned to each different configuration, and the same number is used for the same configuration. The description is omitted. Only the differences will be described below.
【0094】まず、構成について説明する。図14はこ
の発明の実施の形態7による光線路試験装置を示すブロ
ック図である。図14において、70C,70Dは実施
の形態7による試験通信制御装置であり、前述した実施
の形態6の試験通信制御装置70Aと全体的にはほぼ同
様の構成からなる。3C,3Dは前述した光伝送装置1
と同様の機能を果たす光伝送装置である。First, the configuration will be described. FIG. 14 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 7 of the present invention. In FIG. 14, reference numerals 70C and 70D denote test communication control devices according to the seventh embodiment, which generally have substantially the same configuration as the test communication control device 70A according to the sixth embodiment. 3C and 3D are the optical transmission device 1 described above.
This is an optical transmission device that performs the same function as.
【0095】試験通信制御装置70Cは、前述した実施
の形態6と同様に、光伝送装置1C,2Cに接続される
光線路91,92に対してそれぞれ合分波光カップラ2
0A,20Bで結合される。一方、試験通信制御装置7
0Dは、上記試験通信制御装置70Cに対して試験光線
路上で対向するように、光伝送装置3C,4Cに接続さ
れる光線路91,93に対してそれぞれ合分波光カップ
ラ20A,20Bで結合される。As in the sixth embodiment, the test communication control device 70C couples the multiplex / demultiplex optical coupler 2 to the optical lines 91 and 92 connected to the optical transmission devices 1C and 2C.
0A and 20B are combined. On the other hand, the test communication control device 7
OD is coupled to optical lines 91 and 93 connected to the optical transmission devices 3C and 4C by multiplexing / demultiplexing optical couplers 20A and 20B, respectively, so as to face the test communication control device 70C on the test optical line. You.
【0096】前述した実施の形態6とは、制御部71に
試験結果である光線路の異常の有り無しを外部へ通知す
るための外部インタフェース部が接続され、バス74に
所定のビット誤り率と計測値とを比較するビット誤り率
比較部79が接続される点で相違する。さらにこの実施
の形態7では、光送受信部72Aおよび72Bには、図
12に示した構成の他に、通信光に固定パターンを挿入
するための固定パターン挿入部724とその固定パター
ンのビット誤りを計測するビット誤り測定部725とが
設けられることになる。The sixth embodiment is different from the sixth embodiment in that an external interface unit for notifying the controller 71 of the presence or absence of an optical line abnormality as a test result to the outside is connected to the control unit 71, and a predetermined bit error rate and a predetermined bit error rate are connected to the bus 74. The difference is that a bit error rate comparison unit 79 that compares the measured value with the measured value is connected. Further, in the seventh embodiment, in addition to the configuration shown in FIG. 12, a fixed pattern insertion unit 724 for inserting a fixed pattern into communication light and a bit error of the fixed pattern are added to the optical transmitting / receiving units 72A and 72B. A bit error measuring unit 725 for measuring is provided.
【0097】続いて、制御部71の動作について説明す
る。図15はこの実施の形態7による制御部の動作シー
ケンスを説明する図である。この実施の形態7では、図
14に示したように、試験通信制御装置70C,70D
が試験光経路(光線路91,92,93)を通じて対向
して配置される。Next, the operation of the control unit 71 will be described. FIG. 15 is a diagram illustrating an operation sequence of the control unit according to the seventh embodiment. In the seventh embodiment, as shown in FIG. 14, test communication control devices 70C and 70D
Are arranged to face each other through the test light path (optical paths 91, 92, 93).
【0098】今、試験通信制御装置70C,70D間で
は、送信側で固定パターン挿入部724の操作で固定パ
ターン信号が通信光に挿入され、受信側でその固定パタ
ーン信号が受信される。その受信側において、ビット誤
り率比較部79では、ビット誤り率がどの程度であるの
かビット誤り計測部725の計測値と所定のビット誤り
率との比較によって判断される。送信側は、固定パター
ン信号の送信後、相手(受信側)からの固定パターン信
号の受信待ち状態となる。Now, between the test communication control devices 70C and 70D, the fixed pattern signal is inserted into the communication light by operating the fixed pattern insertion unit 724 on the transmitting side, and the fixed pattern signal is received on the receiving side. On the receiving side, the bit error rate comparing section 79 determines the bit error rate by comparing the measurement value of the bit error measuring section 725 with a predetermined bit error rate. After transmitting the fixed pattern signal, the transmission side waits for reception of the fixed pattern signal from the other party (reception side).
【0099】その際に、送信側はタイマを動作させ、そ
の間は固定パターン信号を送信しない状態となる。ま
た、送信側と受信側とでお互いのタイマスタートタイミ
ングを互い違いとするため、それぞれの装置72,73
には識別情報としてID番号が使用され、その番号の大
小などを比較することにより、送受信側の一方のタイミ
ングをずらす工夫がなされる。At this time, the transmitting side operates the timer, during which time the fixed pattern signal is not transmitted. In addition, in order to make the timer start timings of the transmission side and the reception side different from each other, the respective devices 72, 73
An ID number is used as the identification information, and the timing of one of the transmitting and receiving sides is shifted by comparing the size of the number and the like.
【0100】図15において、試験通信制御装置70C
では、試験通信制御装置70Dから送付された固定パタ
ーン信号が受信され、それを基準となる所定のビット誤
り率と比較する処理が実施される。その結果、上記固定
パターン信号のビット誤り率が所定のビット誤り率より
高かった場合には、試験通信制御装置70Cは試験要求
を試験通信制御装置70Dへ送付し、一方、試験通信制
御装置70Dは試験許可を試験通信制御装置70Cへ送
信する。In FIG. 15, test communication control device 70C
In the processing, the fixed pattern signal sent from the test communication control device 70D is received, and a process of comparing the received signal with a predetermined bit error rate serving as a reference is performed. As a result, when the bit error rate of the fixed pattern signal is higher than a predetermined bit error rate, the test communication control device 70C sends a test request to the test communication control device 70D, while the test communication control device 70D The test permission is transmitted to the test communication control device 70C.
【0101】ただし、試験通信制御装置70Cでは、試
験通信制御装置70Dの試験許可が無くとも試験許可確
認タイマ終了時に試験が開始される。試験通信制御装置
70Dからの試験許可信号がタイマ時間内に着信されな
い場合には、試験通信制御装置70Cの試験確認タイマ
は試験通信制御装置70Dからの試験光が来ないか試験
通信制御装置70Dにおける固定パターン受信タイマ分
を足した値で待つことになる。However, in the test communication control device 70C, the test is started when the test permission confirmation timer ends even if the test communication control device 70D does not have the test permission. When the test permission signal from the test communication control device 70D is not received within the timer time, the test confirmation timer of the test communication control device 70C determines whether the test light from the test communication control device 70D comes or not. It waits for a value obtained by adding the fixed pattern reception timer.
【0102】試験通信制御装置70Cは光スイッチ76
を光送受信部側へ切り替え、光スイッチ77を光パルス
試験器の方へ切替える。その後、試験が行われ、試験通
信制御装置70Cは光スイッチ77を光送受信部の方へ
切替えて試験通信制御装置70Dに試験完了通知を送付
する。The test communication control device 70 C
Is switched to the optical transmitting and receiving unit side, and the optical switch 77 is switched to the optical pulse tester. Thereafter, a test is performed, and the test communication control device 70C switches the optical switch 77 to the optical transmission / reception unit and sends a test completion notification to the test communication control device 70D.
【0103】また、試験通信制御装置70Cの測定結果
が悪かった場合、あるいは、試験通信制御装置70Dや
他のポートでつながっている図示せぬ試験通信制御装置
へ結果報告が行われる。If the measurement result of the test communication control device 70C is bad, or the result is reported to the test communication control device 70D or a test communication control device (not shown) connected to another port.
【0104】さらに、試験通信制御装置70Dは試験完
了通知を受信した後、試験通信制御装置70Cに対して
試験完了受信通知が送付される。この後、更に試験通信
制御装置70Dが同様に試験要求を行うようにすれば、
より正確なデータ、結果が判る。Further, after receiving the test completion notification, the test communication control device 70D sends a test completion notification to the test communication control device 70C. Thereafter, if the test communication control device 70D makes a test request similarly,
More accurate data, results are understood.
【0105】また、試験通信制御装置70C,70Dの
ように外部とインターフェースを司る外部インタフェー
ス部78を設けることで、異常の警告を外部へ報告する
ことができる。Further, by providing the external interface unit 78 for controlling the interface with the outside like the test communication control units 70C and 70D, it is possible to report a warning of abnormality to the outside.
【0106】また、入力端末を設け、通信コマンドの中
に試験通信制御装置のID番号(例えばアドレス番
号),試験要求,データ要求,結果データ等を設けるこ
とで、ある試験通信制御装置から異なる試験通信制御装
置へ試験要求,データ要求,結果データを取り込ませる
ことができる。Further, by providing an input terminal and providing an ID number (for example, an address number) of a test communication control device, a test request, a data request, and result data in a communication command, a different test communication control device can perform different tests. Test requests, data requests, and result data can be taken into the communication control device.
【0107】以上説明したように、この実施の形態7に
よれば、信号のビット誤り率を監視して、あるレベル以
上(ビットエラー率が悪い)になった場合に試験を行
い、その試験結果が正常であれば、試験通信制御装置の
異常を上位の監視装置に対して通知し、一方、その試験
結果が異常であれば、光線路の異常を上位の監視装置に
対して通知する。これにより、自動的に光線路の異常を
検出し外部へ異常警告を報告することができ、更に多く
の光線路網に試験通信制御装置を設けることにより、大
規模な光線路網の自動監視を行うことが可能である。こ
の場合、光線路の保守コストの大幅な削減が可能とな
る。As described above, according to the seventh embodiment, the bit error rate of a signal is monitored, and a test is performed when the bit error rate exceeds a certain level (the bit error rate is low). Is normal, the abnormality of the test communication control device is notified to the upper monitoring device, while if the test result is abnormal, the abnormality of the optical line is notified to the upper monitoring device. As a result, it is possible to automatically detect an abnormality in the optical line and report an alarm to the outside, and by installing a test communication control device in more optical line networks, it is possible to automatically monitor a large-scale optical line network. It is possible to do. In this case, the maintenance cost of the optical line can be significantly reduced.
【0108】さて、前述した実施の形態2の光ファイバ
型増幅器は、他の実施の形態3〜7にも適用可能であ
り、これにより、各実施の形態3〜7において光伝送損
失を補うことができる。The optical fiber amplifier according to the second embodiment can be applied to the other embodiments 3 to 7, thereby compensating the optical transmission loss in each of the embodiments 3 to 7. Can be.
【0109】[0109]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、複数の光線路の内で先頭の光線路を基点にして試験
光のみを隣接する光線路へ結合して各光線路を試験する
ようにしたので、ひとつの試験光だけを用いて各光線路
をほぼ同時に試験することができ、これにより、保守等
の運用上のコスト削減、測定時間の短縮化,装置構成の
簡略化等を実現することが可能な光線路試験装置が得ら
れるという効果を奏する。As described above, according to the present invention, only the test light is coupled to an adjacent optical line from the leading optical line among a plurality of optical lines to test each optical line. As a result, each optical line can be tested almost simultaneously using only one test light, thereby reducing operation costs such as maintenance, shortening measurement time, simplifying device configuration, and the like. There is an effect that an optical line test apparatus that can be realized is obtained.
【0110】つぎの発明によれば、複数の光線路の内で
先頭の光線路を基点にして試験光のみを隣接する光線路
へ結合するとともに、光経路の所要の箇所で光増幅して
各光線路を試験するようにしたので、ひとつの試験光だ
けを用いて各光線路をほぼ同時に試験することができる
ことはもちろん、試験光の光伝送損失を補うことでより
多数の光線路を試験することができ、これにより、保守
等の運用上のコスト削減、測定時間の短縮化,装置構成
の簡略化等を実現することが可能な光線路試験装置が得
られるという効果を奏する。According to the next invention, only the test light is coupled to an adjacent optical line starting from the first optical line among the plurality of optical lines, and is also optically amplified at a required portion of the optical path. Since the optical lines are tested, not only can each optical line be tested almost simultaneously using only one test light, but also a larger number of optical lines can be tested by compensating for the optical transmission loss of the test light. As a result, there is an effect that an optical line test apparatus capable of realizing reduction of operation costs such as maintenance, reduction of measurement time, simplification of apparatus configuration, and the like can be obtained.
【0111】つぎの発明によれば、迂回路によって試験
光の進行方向とは逆方向に進行する反射光を増幅しない
で通過させるようにしたので、試験光の進行方向で光増
幅経路よりも後段の光線路についても試験することが可
能な光線路試験装置が得られるという効果を奏する。According to the next invention, the reflected light propagating in the direction opposite to the traveling direction of the test light is passed without amplifying by the detour, so that the reflected light propagating in the traveling direction of the test light is located downstream of the optical amplification path. Thus, an optical line test apparatus capable of testing even the optical line is obtained.
【0112】つぎの発明によれば、各光線路の一端に結
合された合分波手段を第1光伝送装置内に設け、一方、
各光線路の他端に結合された合分波手段を第2光伝送装
置内に設けるようにしたので、光線路の末端から試験を
することができ、これにより、各光伝送装置から外部の
光線路のほぼ全長についての光伝送損失を知ることが可
能な光線路試験装置が得られるという効果を奏する。According to the next invention, the multiplexing / demultiplexing means coupled to one end of each optical line is provided in the first optical transmission device.
Since the multiplexing / demultiplexing means coupled to the other end of each optical line is provided in the second optical transmission device, the test can be performed from the end of the optical line. There is an effect that an optical line test apparatus capable of knowing the optical transmission loss over almost the entire length of the optical line can be obtained.
【0113】つぎの発明によれば、光線路を光経路長に
伴う試験のダイナミックレンジに応じて複数の組に分割
して、スイッチにより試験対象となる光線路の組を選択
的に切り換えるようにしたので、どの光線路の組が選択
されても光伝送損失が低く抑えられ、試験のダイナミッ
クレンジを超えずに済むことから、設置される光線路数
が多くなっても精度の高い安定した試験を実施すること
が可能な光線路試験装置が得られるという効果を奏す
る。According to the next invention, the optical line is divided into a plurality of sets according to the dynamic range of the test associated with the optical path length, and the set of optical lines to be tested is selectively switched by the switch. No matter which optical line pair is selected, the optical transmission loss is kept low and the test dynamic range is not exceeded. Is obtained.
【0114】つぎの発明によれば、スイッチにより試験
光の進行方向(経路)を選択的に切り換え、その進行方
向で試験を行うようにしたので、例えばある光線路に故
障が発生してもその故障位置に向かって試験光をどちら
の方向からでも進行させることができ、これにより、線
路上のどの位置で故障が発生しても、全ての光線路の試
験が可能な光線路試験装置が得られるという効果を奏す
る。According to the next invention, the traveling direction (path) of the test light is selectively switched by the switch, and the test is performed in the traveling direction. The test light can be made to travel from either direction toward the fault position, and thus, even if a fault occurs at any position on the line, an optical line test apparatus capable of testing all the optical lines can be obtained. The effect is that it can be done.
【0115】つぎの発明によれば、複数の試験通信制御
装置を線路に接続させ、試験通信制御装置で扱う通信用
光を試験光と同じ波長にして光線路の試験通信を行うよ
うにしたので、試験通信に使用する通信用光が光伝送装
置で扱う通常の通信用光に影響を及ぼすことがないとと
もに、試験通信制御装置をノードとして光線路網を拡大
することができ、これにより、大規模な光線路網の光線
路試験をある一つの端末から実施することが可能な光線
路試験装置が得られるという効果を奏する。According to the next invention, a plurality of test communication control devices are connected to the line, and the communication light handled by the test communication control device is set to the same wavelength as the test light to perform the test communication of the optical line. In addition, the communication light used for test communication does not affect the normal communication light handled by the optical transmission device, and the optical communication network can be expanded by using the test communication control device as a node. There is an effect that an optical line test apparatus capable of performing an optical line test of a large-scale optical line network from a certain terminal can be obtained.
【0116】つぎの発明によれば、送信側の試験通信制
御装置で試験光と同じ波長を持つ通信用光に挿入された
所定のパターンを受信側の試験通信制御装置で受信され
た場合、その受信された所定のパターンのビット誤り率
から異常が確認された場合に光線路の試験を実施するよ
うにしたので、光線路の状態に応じて自動的に光線路の
試験を実施することが可能な光線路試験装置が得られる
という効果を奏する。According to the next invention, when a predetermined pattern inserted into communication light having the same wavelength as the test light is received by the test communication control device on the receiving side, the test communication control device on the receiving side receives the predetermined pattern. Since the test of the optical line is performed when an abnormality is confirmed from the bit error rate of the received predetermined pattern, the test of the optical line can be automatically performed according to the state of the optical line. This has an effect that a simple optical line test apparatus can be obtained.
【0117】つぎの発明によれば、各試験通信制御装置
において、正常/異常の判断で異常という判断結果が得
られた場合に外部インタフェース部を介して前記上位装
置に対して異常を通知するようにしたので、光線路網に
多くの試験通信制御装置を設ければ、大規模な光線路網
の自動監視を行うことができ、これにより、光線路の保
守コストの大幅な削減が可能な光線路試験装置が得られ
るという効果を奏する。According to the next invention, in each of the test communication control devices, when a determination result of abnormality is obtained in the determination of normal / abnormal, the abnormality is notified to the upper-level device via the external interface unit. Therefore, if a large number of test communication control devices are provided in the optical line network, it is possible to automatically monitor a large-scale optical line network, thereby reducing the maintenance cost of the optical line. An effect is obtained that a road test apparatus can be obtained.
【図1】 この発明の実施の形態1による光線路試験装
置を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
【図2】 この実施の形態1による合分波光カップラの
入出力を説明する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating input and output of the multiplexing / demultiplexing optical coupler according to the first embodiment.
【図3】 この発明の実施の形態1において距離に対す
る光伝送損失をグラフ化して示す図である。FIG. 3 is a graph showing optical transmission loss with respect to distance in the first embodiment of the present invention;
【図4】 この発明の実施の形態2による光線路試験装
置を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
【図5】 この実施の形態2によるファイバ型光増幅器
を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a fiber type optical amplifier according to a second embodiment.
【図6】 この発明の実施の形態2において距離に対す
る光伝送損失をグラフ化して示す図である。FIG. 6 is a graph showing optical transmission loss with respect to distance in a second embodiment of the present invention;
【図7】 この発明の実施の形態3による光線路試験装
置を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 3 of the present invention.
【図8】 この発明の実施の形態4による光線路試験装
置を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 4 of the present invention.
【図9】 はこの実施の形態4による合分波光カップラ
の入出力を説明する図である。FIG. 9 is a diagram for explaining input and output of the multiplexing / demultiplexing optical coupler according to the fourth embodiment.
【図10】 この発明の実施の形態5による光線路試験
装置を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 5 of the present invention.
【図11】 この発明の実施の形態6による光線路試験
装置を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 6 of the present invention.
【図12】 この実施の形態6による光送受信部の構成
を示すブロック図である。FIG. 12 is a block diagram showing a configuration of an optical transceiver according to the sixth embodiment.
【図13】 この実施の形態6による制御部の動作シー
ケンスを説明する図である。FIG. 13 is a diagram illustrating an operation sequence of a control unit according to the sixth embodiment.
【図14】 この発明の実施の形態7による光線路試験
装置を示すブロック図である。FIG. 14 is a block diagram showing an optical line test apparatus according to Embodiment 7 of the present invention.
【図15】 この実施の形態7による制御部の動作シー
ケンスを説明する図である。FIG. 15 is a diagram illustrating an operation sequence of a control unit according to the seventh embodiment.
【図16】 従来における光線路試験装置を示すブロッ
ク図である。FIG. 16 is a block diagram showing a conventional optical line test apparatus.
1A,1B,2A,2B1,2B2,2B3,3 光伝
送装置、12,73光パルス試験器、16,17 光サ
ーキュレータ、18 ポンプ光レーザ、20,20A,
20B,21,22,23 合分波光カップラ、24,
25 ファイバ型光増幅器、60 光スイッチ、70
A,70B,70C,70D 試験通信制御装置、71
制御部、78 外部インタフェース部、79 ビット
誤り率比較部、81,82,83 光ファイバ芯線、8
6,87,88,89,91,92,93 光線路、8
9c 迂回路、724 固定パターン挿入部、725
ビット誤り計測部。1A, 1B, 2A, 2B1, 2B2, 2B3, 3 Optical transmission device, 12,73 optical pulse tester, 16,17 optical circulator, 18 pump optical laser, 20,20A,
20B, 21, 22, 23 multiplexing / demultiplexing optical coupler, 24,
25 fiber optical amplifier, 60 optical switch, 70
A, 70B, 70C, 70D Test communication control device, 71
Control unit, 78 external interface unit, 79 bit error rate comparison unit, 81, 82, 83 optical fiber core wire, 8
6, 87, 88, 89, 91, 92, 93 Optical line, 8
9c detour, 724 fixed pattern insertion part, 725
Bit error measurement unit.
Claims (9)
伝送装置間を複数本の光線路で接続し、前記複数本の光
線路に前記通信用光とは異なる波長をもつ試験光を伝送
して光線路の試験を実施する光線路試験装置において、 前記各光線路が前記各光線路に隣接する2本の光線路に
対して、前記隣接する一方の光線路に前記第1光伝送装
置側である一端が結合され、かつ前記隣接する他方の光
線路に前記第2光伝送装置側である他端が結合されると
ともに、前記一方の光線路と前記他方の光線路との間で
は前記試験光とその反射光だけを分岐して伝送する複数
の合分波手段と、 前記複数本の光線路の先頭の光線路に結合され、前記先
頭の光線路を基点に前記試験光およびその反射光だけを
分岐して前記各光線路を試験する試験手段と、 を備えたことを特徴とする光線路試験装置。A first and a second optical transmission device for transmitting and receiving communication light are connected by a plurality of optical lines, and test light having a wavelength different from that of the communication light is supplied to the plurality of optical lines. An optical line test apparatus for transmitting and testing an optical line, wherein each of the optical lines is connected to one of the adjacent optical lines with respect to two of the adjacent optical lines. One end on the device side is coupled, and the other end on the second optical transmission device side is coupled to the other adjacent optical line, and between the one optical line and the other optical line. A plurality of multiplexing / demultiplexing means for branching and transmitting only the test light and the reflected light thereof, coupled to a first optical line of the plurality of optical lines, and the test light and its Testing means for branching only the reflected light to test each of the optical lines. An optical line test apparatus, characterized in that:
伝送装置間を複数本の光線路で接続し、前記複数本の光
線路に前記通信用光とは異なる波長をもつ試験光を伝送
して光線路の試験を実施する光線路試験装置において、 前記各光線路が前記各光線路に隣接する2本の光線路に
対して、前記隣接する一方の光線路に前記第1光伝送装
置側である一端が結合され、かつ前記隣接する他方の光
線路に前記第2光伝送装置側である他端が結合されると
ともに、前記一方の光線路と前記他方の光線路との間で
は前記試験光とその反射光だけを分岐して伝送する複数
の合分波手段と、 前記複数本の光線路の先頭の光線路に結合され、前記先
頭の光線路を基点に前記試験光およびその反射光だけを
分岐して前記各光線路を試験する試験手段と、 前記光線路と前記合分波手段とを含む光経路の所要の箇
所に設けられ、前記伝送される、少なくとも試験光を増
幅する1または複数の増幅手段と、 を備えたことを特徴とする光線路試験装置。2. A first and a second optical transmission device for transmitting and receiving communication light are connected by a plurality of optical lines, and a test light having a wavelength different from the communication light is supplied to the plurality of optical lines. An optical line test apparatus for transmitting and testing an optical line, wherein each of the optical lines is connected to one of the adjacent optical lines with respect to two of the adjacent optical lines. One end on the device side is coupled, and the other end on the second optical transmission device side is coupled to the other adjacent optical line, and between the one optical line and the other optical line. A plurality of multiplexing / demultiplexing means for branching and transmitting only the test light and the reflected light thereof, coupled to a first optical line of the plurality of optical lines, and the test light and its Testing means for branching only the reflected light to test each of the optical paths; An optical path test provided at a required portion of an optical path including a path and the multiplexing / demultiplexing means and amplifying at least the test light to be transmitted. apparatus.
は、前記試験光の進行方向とは逆方向に進行する反射光
を増幅経路を通過させないための迂回路を有したことを
特徴とする請求項2に記載の光線路試験装置。3. The amplifying means provided on the optical line has a bypass for preventing reflected light traveling in a direction opposite to the traveling direction of the test light from passing through an amplification path. The optical line test device according to claim 2.
前記先頭の光線路に接続されるとともに、前記各光線路
の一端に結合された前記合分波手段は前記第1光伝送装
置内に設けられ、一方、前記各光線路の他端に結合され
た前記合分波手段は前記第2光伝送装置内に設けられこ
とを特徴とする請求項1または2に記載の光線路試験装
置。4. The test means is connected to the first optical line in the first optical transmission device, and the multiplexing / demultiplexing means coupled to one end of each optical line is connected to the first optical transmission device. The optical line test according to claim 1, wherein the multiplexing / demultiplexing means coupled to the other end of each optical line is provided within the second optical transmission device. apparatus.
る前記複数の光線路は、前記光線路および前記合分波手
段を含む光経路長に伴う試験のダイナミックレンジに応
じて複数の組に分割され、前記試験手段は、試験対象と
なる光線路の組を選択的に切り換えて当該切り換えられ
た組との間だけで前記試験光とその反射光とを通過させ
るスイッチを有したことを特徴とする請求項4に記載の
光線路試験装置。5. A plurality of optical lines for coupling the first and second optical transmission devices, wherein a plurality of groups are provided in accordance with a dynamic range of a test involving an optical path length including the optical lines and the multiplexing / demultiplexing means. And the test means has a switch for selectively switching a set of optical paths to be tested and passing the test light and the reflected light only between the switched set. The optical line test apparatus according to claim 4, wherein:
先頭,末尾それぞれの光線路に結合する第1,第2経路
と、前記試験光を導波させる際の進行方向に応じて前記
第1および第2経路のいずれか一方を選択的に切り換
え、当該切り換えられた経路で前記試験光とその反射光
とを通過させるスイッチとを有したことを特徴とする請
求項4に記載の光線路試験装置。6. The test means according to a first and a second path coupled to the first and last optical lines of the plurality of optical lines and a traveling direction when guiding the test light. 5. The light beam according to claim 4, further comprising a switch for selectively switching one of the first and second paths and passing the test light and the reflected light through the switched path. Road test equipment.
間を複数本の光線路で接続し、前記複数本の光線路に前
記通信用光とは異なる波長をもつ試験光を伝送して光線
路の試験を実施する光線路試験装置において、 前記複数の光線路の両端にそれぞれ試験および通信を行
うための試験通信制御装置が一台ずつ接続され、 前記各試験通信制御装置は、 前記各光線路に接続され、前記各光線路との間で前記試
験光と同じ波長を持つ光だけを分岐して伝送する複数の
合分波手段と、 前記試験光と同じ波長をもつ通信用光が使用され、前記
各合分波手段および前記接続された各光線路を通じて相
手試験通信制御装置との間で試験通信を行う試験通信手
段と、 を備えたことを特徴とする光線路試験装置。7. A plurality of optical transmission devices for transmitting and receiving communication light are connected by a plurality of optical lines, and test light having a wavelength different from that of the communication light is transmitted to the plurality of optical lines. In an optical line test device that performs a test of an optical line, a test communication control device for performing a test and communication is connected to each end of each of the plurality of optical lines, and each of the test communication control devices includes: A plurality of multiplexing / demultiplexing means connected to an optical line and branching and transmitting only light having the same wavelength as the test light between the optical lines, and communication light having the same wavelength as the test light; And a test communication unit for performing test communication with a partner test communication control device through each of the multiplexing / demultiplexing units and the connected optical lines.
合に前記通信用光を送信する際に所定のパターンを挿入
し、受信側となった場合に前記通信用光を受信した際に
前記挿入された前記所定のパターンに基づいてビット誤
り率を測定し、前記各試験通信制御装置は、前記測定さ
れたビット誤り率に応じて光線路の正常/異常を判断し
て、異常という判断結果が得られた場合に光線路の試験
を制御することを特徴とする請求項7に記載の光線路試
験装置。8. The test communication means inserts a predetermined pattern when transmitting the communication light when it is on the transmission side, and when the communication light is received when it is on the reception side. A bit error rate is measured based on the inserted predetermined pattern, and each of the test communication control devices determines whether the optical line is normal or abnormal according to the measured bit error rate, and determines that the optical line is abnormal. The optical line test apparatus according to claim 7, wherein the optical line test is controlled when a result is obtained.
のインタフェースを司る外部インタフェース部を有して
おり、前記正常/異常の判断で異常という判断結果が得
られた場合に前記外部インタフェース部を介して前記上
位装置に対して異常を通知することを特徴とする請求項
8に記載の光線路試験装置。9. Each of the test communication control devices has an external interface unit that manages an interface with a higher-level device, and when the normal / abnormal judgment results in an abnormality, the external interface unit The optical line test apparatus according to claim 8, wherein an abnormality is notified to the higher-level device via the interface.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10009399A JPH11215059A (en) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | Light line testing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10009399A JPH11215059A (en) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | Light line testing device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11215059A true JPH11215059A (en) | 1999-08-06 |
Family
ID=11719353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10009399A Pending JPH11215059A (en) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | Light line testing device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11215059A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100308923B1 (en) * | 1999-10-15 | 2001-09-26 | 서평원 | A testing device of dispersion character for optical fiber |
WO2013047956A1 (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-04 | 주식회사 이스트포토닉스 | Optical communication system for simultaneously analyzing wavelength properties in real time |
JP2018169234A (en) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | アンリツ株式会社 | Optical pulse testing device and method for testing optical pulse |
WO2022168576A1 (en) * | 2021-02-04 | 2022-08-11 | 日本電気株式会社 | Connection state identification system and connection state identification method |
-
1998
- 1998-01-21 JP JP10009399A patent/JPH11215059A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100308923B1 (en) * | 1999-10-15 | 2001-09-26 | 서평원 | A testing device of dispersion character for optical fiber |
WO2013047956A1 (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-04 | 주식회사 이스트포토닉스 | Optical communication system for simultaneously analyzing wavelength properties in real time |
JP2018169234A (en) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | アンリツ株式会社 | Optical pulse testing device and method for testing optical pulse |
WO2022168576A1 (en) * | 2021-02-04 | 2022-08-11 | 日本電気株式会社 | Connection state identification system and connection state identification method |
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