JPH11211558A - Sensor and sensor array - Google Patents

Sensor and sensor array

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Publication number
JPH11211558A
JPH11211558A JP10014120A JP1412098A JPH11211558A JP H11211558 A JPH11211558 A JP H11211558A JP 10014120 A JP10014120 A JP 10014120A JP 1412098 A JP1412098 A JP 1412098A JP H11211558 A JPH11211558 A JP H11211558A
Authority
JP
Japan
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sensor
substrate
layer
unit
detection unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP10014120A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiyuki Nakagi
義幸 中木
Hisatoshi Hata
久敏 秦
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH11211558A publication Critical patent/JPH11211558A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/0225Shape of the cavity itself or of elements contained in or suspended over the cavity
    • G01J5/023Particular leg structure or construction or shape; Nanotubes

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sensor and sensor array allowing the thermal isolation to be taken high. SOLUTION: In an element set in a hollow state on a substrate 2, a conductive part is provide for connecting a detector 1 to the substrate 2. This allows a support leg 3 to be taken long for a region occupied by the element, hence the thermal isolation to be taken high between the element and board 2 to improve the efficiency of a thermal sensor and the sensor integration degree can be increased.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、外部からの信号
を検知するセンサおよびセンサが2次元アレイ状に配置
されたセンサアレイに関するもので、特に、赤外線を検
出する赤外線センサおよびそのセンサアレイに関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sensor for detecting external signals and a sensor array in which the sensors are arranged in a two-dimensional array, and more particularly to an infrared sensor for detecting infrared rays and its sensor array. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】熱型赤外線センサに代表される熱型セン
サの開発が活発であり、特にマイクロマシーニング技術
を用いた微細なセンサが実用段階にある。センサ機能と
しては熱線受光による温度変化を電気抵抗、自発分極、
あるいは、熱起電力等の物理量に変換して熱・温度を検
出している。ここで、検出部の熱量変化を有効に温度変
化に変換するために、検出部と外界との熱の遮断を図る
必要がある。感温部分の周囲を真空にして、対流による
環境への熱伝達を低下させたり、また、素子構造として
は素子を形成している基板への熱伝導を低下させる構造
が採用されている。
2. Description of the Related Art The development of thermal sensors typified by thermal infrared sensors is active, and in particular, fine sensors using micromachining technology are in the practical stage. Sensor functions include temperature change due to heat ray reception, electrical resistance, spontaneous polarization,
Alternatively, heat and temperature are detected by converting into physical quantities such as thermoelectromotive force. Here, in order to effectively convert a change in the amount of heat of the detection unit into a change in temperature, it is necessary to cut off heat between the detection unit and the outside world. A structure is adopted in which the area around the temperature-sensitive portion is evacuated to reduce heat transfer to the environment due to convection, and to reduce heat conduction to the substrate on which the element is formed.

【0003】図12は例えば特表平7―508095号
公報に示された集積されたセンサ素子の構成図であり、
図中(a)は平面図、(b)はG―G’での断面図であ
り、また117は検知部(感知領域)、120、121
は支持脚、102は基板、114は検知層である。検知
部117と支持脚120、121下の基板102はマイ
クロマシーニング技術をもって除去されており、検知部
117は支持脚120、121で保持され、基板に接続
されている。検知部117は検知層114、吸収層11
6、および、支持層となる絶縁層112と113から構
成されている。検知部117に入射する熱線を受光する
ことにより検知部117の温度が上昇する。この温度上
昇を感熱素子である検知層114によって電気信号に変
換することで熱線検知を行なわれている。電気信号は支
持脚120、121の上層にある導電層をもって基板ま
で導かれ、ここには図示されていない処理回路等を経て
信号が得られている。この従来技術の構造は検知部11
7の基板に対する断熱特性を向上させるために設けられ
た構造である。検知部117を基板から浮かせて、熱の
伝達経路を少なくしている。ここでの基板への伝達経路
は支持脚120、121であり、各々の支持脚を長く、
細く、かつ、熱伝導の少ない脚材料を用いることで断熱
特性を向上させている。
FIG. 12 is a configuration diagram of an integrated sensor element disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 7-508095.
In the figure, (a) is a plan view, (b) is a cross-sectional view taken along line GG ', and 117 is a detection unit (sensing area), 120 and 121.
Is a support leg, 102 is a substrate, and 114 is a detection layer. The detection unit 117 and the substrate 102 below the support legs 120 and 121 have been removed by a micromachining technique, and the detection unit 117 is held by the support legs 120 and 121 and connected to the substrate. The detection unit 117 includes the detection layer 114 and the absorption layer 11.
6 and insulating layers 112 and 113 serving as support layers. The temperature of the detection unit 117 rises by receiving the heat ray incident on the detection unit 117. The heat ray is detected by converting the temperature rise into an electric signal by the detection layer 114 which is a thermosensitive element. The electric signal is guided to the substrate with the conductive layer above the support legs 120 and 121, and the signal is obtained through a processing circuit (not shown) or the like. The structure of this prior art is based on the detection unit 11.
7 is a structure provided for improving the heat insulating property of the substrate. The detection unit 117 is lifted off the substrate to reduce the heat transmission path. The transmission path to the substrate here is the supporting legs 120 and 121, and each supporting leg is long,
The heat insulating property is improved by using the leg material which is thin and has little heat conduction.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来のセンサ素子にお
いて、素子の大きさは基板除去孔140、150に囲ま
れる一点破線に示された領域αになる。この領域内に、
従来示されている方法で支持脚を長く、細くとることは
幾何学的には可能であるものの、この構造は、例えば半
導体作製技術に代表される微細加工技術の限界によりき
まるものであり、無為に長くとることは不可能となる。
また、支持脚120、121を極めて細くすることは、
支持脚自体の機械的強度の低下を招き、空隙作製の困難
さ、および、信頼性の低下を招くことになる。さらに、
素子の占める領域を小さくして、同じ面積に多数の素子
を組み込むことになれば、同じ設計指針であると断熱特
性の劣化が生じて所望の性能が得られないことになるな
どの問題点があった。また、検知層114を形成できる
領域がセンサ素子が占める一点破線に示された領域αに
比べ狭いために、センサ素子の占める領域を小さくしよ
うとすると検知層を形成する領域が著しく狭くなるとい
う問題点もあった。
In the conventional sensor element, the size of the element is an area α indicated by a dashed line surrounded by the substrate removing holes 140 and 150. Within this area,
Although it is possible geometrically to make the support legs longer and thinner by the method shown heretofore, this structure is determined by the limitations of microfabrication technology represented by, for example, semiconductor fabrication technology. It is impossible to take a long time.
Also, making the support legs 120 and 121 extremely thin is
The mechanical strength of the support leg itself is reduced, which makes it difficult to form a gap and reduces reliability. further,
If the area occupied by the elements is reduced and a large number of elements are incorporated in the same area, there is a problem that if the same design guideline is used, the heat insulation characteristics deteriorate and the desired performance cannot be obtained. there were. Further, since the area where the sensing layer 114 can be formed is smaller than the area α indicated by the dashed line occupied by the sensor element, the area where the sensor element is occupied becomes extremely narrow when the area occupied by the sensor element is reduced. There were also points.

【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、断熱特性の向上、さらには、セ
ンサ素子の縮小化による多数センサ化・高密度集積を可
能とするセンサ構成を得ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and has a sensor configuration which enables improvement of heat insulation characteristics and furthermore, a large number of sensors and high-density integration by reducing the size of sensor elements. The purpose is to gain.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
わるセンサは、基板上に設けられ、外部からの信号を検
知する検知部を支持し、該検知部の信号を外部へ取り出
すための導電部を備えた支持部を有するセンサにおい
て、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形成され
た前記支持部により、前記検知部と前記基板とを断熱し
ものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a sensor provided on a substrate, supporting a detection unit for detecting a signal from the outside, and extracting a signal from the detection unit to the outside. In the sensor having a supporting portion provided with a conductive portion, the detecting portion and the substrate are insulated from each other by the supporting portion formed to meander in a rectangular shape in the normal direction of the substrate surface.

【0007】この発明の請求項2に係わるセンサは、請
求項1において、検知部が基板の上方に配置されるもの
である。
A sensor according to a second aspect of the present invention is the sensor according to the first aspect, wherein the detecting unit is disposed above the substrate.

【0008】この発明の請求項3に係わるセンサは、請
求項2において、検知部が支持部の上方に配置されるも
のである。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the detecting section is disposed above the supporting section.

【0009】この発明の請求項4に係わるセンサは、請
求項1において、検知部が基板の略同一面内に配置され
るものである。
A sensor according to a fourth aspect of the present invention is the sensor according to the first aspect, wherein the detection unit is disposed in substantially the same plane of the substrate.

【0010】この発明の請求項5に係わるセンサは、請
求項1において、少なくとも検知部の下方の基板に該検
知部の領域に相当する溝を有し、支持部が基板の深さ方
向に配置されるものである。
A sensor according to a fifth aspect of the present invention is the sensor according to the first aspect, wherein at least the substrate below the detecting portion has a groove corresponding to a region of the detecting portion, and the supporting portion is arranged in a depth direction of the substrate. Is what is done.

【0011】この発明の請求項6に係わるセンサは、請
求項5において、支持部及び検知部が形成される領域の
基板に溝が形成されるものである。
A sensor according to a sixth aspect of the present invention is the sensor according to the fifth aspect, wherein a groove is formed in the substrate in a region where the supporting portion and the detecting portion are formed.

【0012】この発明の請求項7に係わるセンサは、請
求項1において、検知部に信号吸収部をさらに備えたも
のである。
A sensor according to a seventh aspect of the present invention is the sensor according to the first aspect, further comprising a signal absorbing section in the detecting section.

【0013】この発明の請求項8に係わるセンサアレイ
は、基板上に設けられ、外部からの信号を検知するため
の検知部と、その一部が基板に接続されて前記検知部で
検知された信号を外部に取り出す導電部とを備えたセン
サが、2次元アレイ状に複数個配設されたセンサアレイ
において、前記導電層が隣接するセンサ、あるいはさら
に離れた場所のセンサ部で基板に接続されるものであ
る。
[0013] The sensor array according to claim 8 of the present invention is provided on a substrate, and has a detection unit for detecting an external signal, and a part of the detection unit is connected to the substrate and detected by the detection unit. In a sensor array in which a plurality of conductive parts for extracting signals to the outside are arranged in a two-dimensional array, the conductive layer is connected to the substrate at an adjacent sensor or at a further apart sensor part. Things.

【0014】この発明の請求項9に係わるセンサアレイ
は、請求項8において、1個のセンサが複数の導電部を
有し、該複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を
有する基板に電気的に接続されるものである。
According to a ninth aspect of the present invention, in the sensor array according to the ninth aspect, one sensor has a plurality of conductive portions, and at least one of the plurality of conductive portions is electrically connected to a substrate having conductivity. It is what is connected.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、本発明の
一実施の形態によるセンサの構成を示した斜視図、図2
は各断面図であり、図2(a)は図1中のA―A’断面
図、図2(b)は図2(a)中のB―B’断面図、図2
(c)は図2(a)中のC―C’断面図である。図にお
いて、1は基体層5(の下層)上に検知層7を備えた検
知部、2は基板、3は基体層5(の下層)上に導電層6
を備えた支持脚、8は接続部である。検知部1は基板か
ら立体的に延びた2本の支持脚3により支持され、検知
層7とその信号をとりだす導電層6の電極、基体層5か
らなる。基体層5は検知部1、支持脚3の構造を支える
層で、下層5a、上層5bからなる。支持脚3は導電層
6と基体層5からなる。これらの図では、検知領域のほ
かに3層の多層空中配線された様子を示している。各々
の支持脚3はそれらの端部において隣接する支持脚3、
検知部1、あるいは、基板2に接続部8をもって接続さ
れる。従来のように支持脚3を基板の面内方向だけでは
なく、本実施の形態のように法線方向に形成すること
で、支持脚の総延長を十分に長くすることができる。さ
らに、本発明によれば検知部を支持する支持体としての
支持脚を、従来のように細くしなくてもセンサ素子は作
製しうるために、センサの衝撃信頼性、保管信頼性等を
満足し得るセンサが作製できる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a sensor according to an embodiment of the present invention, and FIG.
2A is a sectional view, FIG. 2A is a sectional view taken along the line AA ′ in FIG. 1, FIG. 2B is a sectional view taken along the line BB ′ in FIG.
FIG. 2C is a cross-sectional view taken along the line CC ′ in FIG. In the drawing, reference numeral 1 denotes a detection unit having a detection layer 7 on a base layer 5 (lower layer), 2 denotes a substrate, and 3 denotes a conductive layer 6 on the base layer 5 (lower layer).
The supporting leg 8 has a connecting portion. The detection unit 1 is supported by two support legs 3 extending three-dimensionally from the substrate, and includes a detection layer 7, electrodes of a conductive layer 6 for extracting signals from the detection layer 7, and a base layer 5. The base layer 5 is a layer that supports the structure of the detection unit 1 and the support leg 3, and includes a lower layer 5a and an upper layer 5b. The support leg 3 includes a conductive layer 6 and a base layer 5. In these figures, three layers of aerial wiring are shown in addition to the detection area. Each support leg 3 is adjacent at its end a support leg 3,
The connection unit 8 is connected to the detection unit 1 or the substrate 2. By forming the support legs 3 not only in the in-plane direction of the substrate as in the conventional case but also in the normal direction as in the present embodiment, the total extension of the support legs can be made sufficiently long. Further, according to the present invention, since the sensor element can be manufactured without making the supporting legs for supporting the detecting portion thinner as in the related art, the impact reliability and storage reliability of the sensor are satisfied. A sensor that can be manufactured.

【0016】ここに示した一実施の形態の構成は、例え
ば以下のようにして作製される。図3は以下に示す作製
方法を示す図である。センサの信号処理回路を有する珪
素基板に保護用の酸化珪素を積層する。基板2も最後に
示される溶解層9の除去に耐え得る材質、あるいは、保
護層13を有するものであれば特に問われるものではな
い。この基板2上に、例えば、珪素からなる溶解層9を
積層する。基板2に接続するために該溶解層9に接続部
8の箇所に孔を設け、酸化珪素からなる基体層5の下層
5aを設け、さらに基板に電気接続する孔を接続部8内
に設ける(図3(a))。次に例えばクロム金属からな
る導電層6を積層し、図2(b)に示された形状に導電
層6を整える。さらに、例えば窒化珪素からなる基体層
5の上層5bを積層する(図3(b))。これら支持脚
3となる基体層5と導電層6を所望の形状に整形する
(図3(c))。この後、必要とするだけ溶解層9、基
体層5、導電層6を積層、および、形状を整え得ること
で積層型の支持脚3は形成できる。検知部1として酸化
珪素からなる支持層、金属、酸化物、窒化物等、温度変
化で電気抵抗の変化する検知層7、電極としての導電層
6を設け、図2(c)に示される形状に整える。ここで
は最後に保護層として窒化珪素を付加している(図3
(d))。最後に、溶解層9として設けた珪素を弗化キ
セノンガス中にさらすことで除去する(図3(e))。
これらの工程を経て、図1に示された構造を得ることが
できる。
The configuration of the embodiment shown here is manufactured, for example, as follows. FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing method described below. Silicon oxide for protection is laminated on a silicon substrate having a signal processing circuit of the sensor. The substrate 2 is not particularly limited as long as it is made of a material that can withstand the removal of the last dissolved layer 9 or has a protective layer 13. On this substrate 2, for example, a dissolution layer 9 made of silicon is laminated. In order to connect to the substrate 2, a hole is provided in the dissolving layer 9 at the location of the connection portion 8, a lower layer 5a of the base layer 5 made of silicon oxide is provided, and a hole for electrical connection to the substrate is provided in the connection portion 8 ( FIG. 3 (a). Next, a conductive layer 6 made of, for example, chromium metal is laminated, and the conductive layer 6 is adjusted to the shape shown in FIG. Further, an upper layer 5b of the base layer 5 made of, for example, silicon nitride is laminated (FIG. 3B). The base layer 5 and the conductive layer 6 serving as the support legs 3 are shaped into a desired shape (FIG. 3C). Thereafter, the dissolving layer 9, the base layer 5, and the conductive layer 6 can be laminated as necessary, and the shape can be adjusted, whereby the laminated supporting leg 3 can be formed. As the detection unit 1, a support layer made of silicon oxide, a detection layer 7 such as a metal, an oxide, a nitride, etc., whose electric resistance changes according to a temperature change, and a conductive layer 6 as an electrode are provided, and the shape shown in FIG. Prepare. Here, silicon nitride is added last as a protective layer (FIG.
(D)). Finally, the silicon provided as the dissolution layer 9 is removed by exposing it to xenon fluoride gas (FIG. 3E).
Through these steps, the structure shown in FIG. 1 can be obtained.

【0017】このように本発明で作製されるセンサ素子
は例えば数十ミクロン角の領域においても伝熱的にみた
実質的な支持脚長さが従来の平面的な手法で作製される
ものより数倍、あるいは、それ以上の長さを得ることが
できる。センサの占める領域を一定としても断熱特性の
向上が図れる。さらに、1個のセンサの占める領域を狭
くして同一面積上に多数のセンサ素子を設ける場合にも
断熱特性の劣化なしに、あるいは、さらに向上させて作
製しうる。また、検知部1をを最上面に設けることで、
センサが占める領域に対して検知層7を形成できる領域
が広くでき、特にセンサを小型、あるいは、多素子化す
るときに検知層領域を広くとれることで、微細な形状に
は加工しにくい検知層を適用できるといった利点があ
る。
As described above, the sensor element manufactured according to the present invention has a substantial support leg length several times as large as that manufactured by a conventional planar method even in a region of several tens of microns square, for example. Alternatively, longer lengths can be obtained. Even if the area occupied by the sensor is fixed, the heat insulation characteristics can be improved. Further, even when a large number of sensor elements are provided on the same area by narrowing the area occupied by one sensor, the sensor element can be manufactured without deterioration of the heat insulating property or with further improvement. Also, by providing the detection unit 1 on the top surface,
The area in which the sensor layer 7 can be formed can be made larger than the area occupied by the sensor. In particular, when the sensor is made smaller or the number of elements can be increased, the area of the sensor layer can be made larger, so that the sensor layer is hard to be processed into a fine shape. There is an advantage that can be applied.

【0018】実施の形態2.図4は、実施の形態1に示
したセンサの一部上面図に相当するもので、支持脚3の
層の上面図であり、実施の形態1に関する図2(b)に
相当するものである。実施の形態1に比べて支持脚3が
面内に延びて屈曲した構造となっている。この屈曲した
構造は従来の技術にもみられるもので、面内の領域をよ
り有効に利用とするものである。面内で支持脚の長さが
長くなるために、積層する支持脚の層数を軽減可能とな
る。
Embodiment 2 FIG. FIG. 4 corresponds to a partial top view of the sensor shown in the first embodiment, and is a top view of a layer of the support leg 3 and corresponds to FIG. 2B relating to the first embodiment. . The structure is such that the support leg 3 extends in the plane and is bent as compared with the first embodiment. This bent structure is also found in the prior art, and makes more efficient use of the in-plane area. Since the length of the support legs is increased in the plane, the number of layers of the support legs to be stacked can be reduced.

【0019】上記実施の形態1、2においては示される
材料は、成熟したとみられる珪素系の半導体微細加工に
適用されているものであり、工業的に作製しやすいもの
である。支持脚として珪素、酸化珪素、窒化珪素を主に
使用することは半導体微細加工技術の適用で微細で、安
価なセンサを作製しやすいという利点を有する。
The materials described in the first and second embodiments are applied to silicon-based semiconductor fine processing which is considered to be mature, and are easily manufactured industrially. The main use of silicon, silicon oxide, or silicon nitride as the support legs has the advantage that a fine and inexpensive sensor can be easily manufactured by applying semiconductor fine processing technology.

【0020】実施の形態3.図5は同じく積層型支持脚
を有するセンサの別の形態の例である。図5(a)は平
面型の検知部1、および、支持脚3を有する形態におい
て、支持脚3を複数層設けたもので、この構造を用いる
ことにより、断熱特性の向上がはかることができる。
Embodiment 3 FIG. 5 shows another example of the sensor having the stacked support legs. FIG. 5A shows a configuration having the flat-type detection unit 1 and the support legs 3 in which a plurality of support legs 3 are provided. By using this structure, it is possible to improve the heat insulation characteristics. .

【0021】ここで、例えば熱型の赤外線センサにおい
てはよく知られているように受光面積が性能に影響する
ことになる。赤外光学系と被測定体を決めると入射して
くる放射強度は面積密度で一定となるため、受光面積に
比例した性能が得られる。このため、開口率向上層10
を設けることも可能となる。また、図5(b)は実施の
形態1に吸収層11を設けた構造である。前述のように
検知部1を最上面に設けることで、センサ領域に対し
て、検知層を形成できる領域が決して狭くならない。こ
の形態においても吸収層11を有効にセンサ領域の多く
の領域に形成でき、センサとしての性能がさらに向上す
る。
Here, for example, in a thermal infrared sensor, the light receiving area affects the performance, as is well known. When the infrared optical system and the object to be measured are determined, the intensity of incident radiation is constant at the area density, so that a performance proportional to the light receiving area can be obtained. For this reason, the aperture ratio improving layer 10
Can also be provided. FIG. 5B shows a structure in which the absorption layer 11 is provided in the first embodiment. By providing the detection unit 1 on the uppermost surface as described above, the area where the detection layer can be formed does not become narrower than the sensor area. Also in this embodiment, the absorption layer 11 can be effectively formed in many areas of the sensor area, and the performance as a sensor is further improved.

【0022】実施の形態4.さらに、図6に示すよう
に、検知層7を基板面上に位置させて支持脚3が基板2
の上面に張り出した構造も有効となる。材料的には、マ
イクロマシーニング技術として良く知られているよう
に、溶解層として酸化珪素、構造・支持脚として窒化珪
素、珪素他の組み合わせとか、溶解層として有機層、構
造層として無機層を用いるなど構造体の材料は実施の形
態1に限られるものではない。
Embodiment 4 Further, as shown in FIG. 6, the detection layer 7 is positioned on
Also, the structure protruding on the upper surface is effective. As a material, as is well known as a micromachining technology, silicon oxide is used as a dissolution layer, silicon nitride, silicon, or another combination as a structure / support leg, or an organic layer as a dissolution layer and an inorganic layer as a structure layer. The material of the structure, such as use, is not limited to the first embodiment.

【0023】実施の形態5.図7は発明の実施の形態5
によるセンサの構成図である。図7(a)は図7(c)
中のD―D’破線での断面図であり、図7(b)は図7
(c)中のE―E’破線での断面図である。このセンサ
素子においては支持脚3は基板2中に埋め込まれて作製
される。作製手段の一例は以下の通りである。
Embodiment 5 FIG. 7 shows Embodiment 5 of the present invention.
FIG. 3 is a configuration diagram of a sensor according to FIG. FIG. 7A shows FIG. 7C.
FIG. 7B is a cross-sectional view taken along a broken line DD ′ in FIG.
It is sectional drawing by the EE 'broken line in (c). In this sensor element, the support leg 3 is manufactured by being embedded in the substrate 2. An example of the manufacturing means is as follows.

【0024】基板2に深溝加工で例えば閉じられた矩形
状の溝を形成する。その上に酸化珪素からなる溶解層9
を設ける。この溶解層9は溝部、および、検知部1の下
部にのみ残すように整えられる。この後、基体層5、導
電層6、検知層7を積層し、その形状を整える。基体層
5、導電層6は溝側壁に付きやすいように気相成長型成
膜法で作製される。基体層5の形状を整えることで酸化
珪素の溶解層の一部は再表面に露出することになる。こ
の状態で弗化水素酸を主体として酸化珪素を除去するこ
とでセンサ素子が完成する。図7(a)では溶解層9は
除去されており空隙4となっている。支持脚3は基板2
中に設けられた溝に従って基板2中に延びる構造となっ
ている。支持脚の長さに比べて支持脚を形成する面積が
小さくできる。これにより、センサ領域の有効利用、あ
るいは、センサの小型化によって支持脚が短くならない
構造となりうる。この構造においても、放射線検出型セ
ンサとしての性能を向上させる前述開口向上層10を設
けることは有効である。
For example, a closed rectangular groove is formed in the substrate 2 by deep groove processing. A dissolution layer 9 made of silicon oxide is formed thereon.
Is provided. The dissolving layer 9 is prepared so as to remain only in the groove and the lower part of the detecting unit 1. After that, the base layer 5, the conductive layer 6, and the detection layer 7 are laminated, and their shapes are adjusted. The base layer 5 and the conductive layer 6 are formed by a vapor deposition type film forming method so as to be easily attached to the groove side walls. By adjusting the shape of the base layer 5, a part of the dissolved layer of silicon oxide is exposed on the re-surface. In this state, the sensor element is completed by removing silicon oxide mainly using hydrofluoric acid. In FIG. 7A, the dissolving layer 9 has been removed to form the gap 4. Support leg 3 is substrate 2
The structure extends into the substrate 2 according to the groove provided therein. The area for forming the support leg can be made smaller than the length of the support leg. Thus, a structure in which the support legs are not shortened due to the effective use of the sensor area or the downsizing of the sensor can be achieved. Also in this structure, it is effective to provide the above-described opening enhancement layer 10 for improving the performance as a radiation detection type sensor.

【0025】実施の形態6.図8は発明の実施の形態6
によるセンサ構成の断面図である。この場合にも実施の
形態5と同様に基板を溶解する方法を適用する。ここで
は結晶異方性のない加工法で作製されるもので、珪素を
基板材料としたときに弗化キセノンや硝酸弗酸を主体と
した溶液で加工可能となる。断熱特性を得るための支持
脚3を設けた領域を囲むように溝が設けられている。こ
の溝は例えば支持脚3を形成するときに形成したものと
同じように溝形成してもよく、あらためて設けられても
よい。この溝は空隙を有するセンサ部を取り囲むように
作製されるもので、空隙の形状を決めている。前述の空
隙作製方法では、基板を選択の余地無く加工されるた
め、センサを狭い領域に多素子化すると、隣接素子の空
隙部分がつながり、センサが基板に保持できなくなる。
この外周部にある閉じられた溝部は加工を止めるために
設けられるものである。この構造とすることで、基板の
一部を除去して空隙を設け、形成されるセンサにおいて
も、空隙を作製する方法として良好な特性を提供される
前述加工法の適用ができ、さらに、センサの小型化が容
易に可能となる。
Embodiment 6 FIG. FIG. 8 shows Embodiment 6 of the present invention.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a sensor configuration according to the present invention. Also in this case, a method for melting the substrate is applied as in the fifth embodiment. Here, it is manufactured by a processing method without crystal anisotropy, and when silicon is used as a substrate material, processing can be performed using a solution mainly composed of xenon fluoride or nitric hydrofluoric acid. A groove is provided so as to surround a region where the support leg 3 for obtaining heat insulating properties is provided. This groove may be formed, for example, in the same manner as that formed when forming the support leg 3, or may be provided anew. The groove is formed so as to surround the sensor portion having the gap, and determines the shape of the gap. In the above-described method for producing a gap, the substrate is processed without any choice. Therefore, if the sensor is formed into multiple elements in a narrow area, the gaps of adjacent elements are connected, and the sensor cannot be held on the substrate.
The closed groove on the outer periphery is provided for stopping the processing. With this structure, a gap is formed by removing a part of the substrate, and in the sensor to be formed, the above-described processing method which provides good characteristics as a method for forming the gap can be applied. Can be easily reduced in size.

【0026】実施の形態7.図9は発明の実施の形態7
によるセンサ構成の断面図と上面図である。図9(a)
は図9(b)中のF―F’破線での断面図である。この
センサにおいては基板は結晶性のものに限定される。例
えば良く知られた(100)方位を表面に有する珪素基
板である。基板2に溝加工、基体層5、導電層6、検知
層7等の積層、整形した後、基板の{110}方向に平
行となる基板除去孔12を基板2に到達するまで開口す
る。この状態で例えば水酸化カリウム溶液に浸すことで
基板2は特定の結晶方位面が露出したところで加工がと
まる。従来の技術にも示されている良く知られた結晶異
方性加工法である。これにより熱分離が良好なセンサ素
子が完成する。実施の形態4において必要であった溶解
層9が不要となりセンサの作製が可能になる。基板は他
にも酸化マグネシウム等も用いることができ燐酸を主成
分をするもので同様の構造を得ることが出来る。
Embodiment 7 FIG. 9 shows Embodiment 7 of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view and a top view of a sensor configuration according to the first embodiment. FIG. 9 (a)
FIG. 10 is a sectional view taken along a broken line FF ′ in FIG. 9B. In this sensor, the substrate is limited to a crystalline one. For example, it is a silicon substrate having a well-known (100) orientation on its surface. After grooves are formed in the substrate 2, the base layer 5, the conductive layer 6, the detection layer 7, and the like are laminated and shaped, a substrate removal hole 12 parallel to the {110} direction of the substrate is opened until the substrate 2 is reached. In this state, when the substrate 2 is immersed in, for example, a potassium hydroxide solution, the processing is stopped when the specific crystal orientation plane is exposed. This is a well-known crystal anisotropic processing method shown in the prior art. This completes a sensor element with good thermal separation. The dissolving layer 9 required in the fourth embodiment becomes unnecessary, and the sensor can be manufactured. As the substrate, other materials such as magnesium oxide can be used, and a substrate having phosphoric acid as a main component can obtain a similar structure.

【0027】実施の形態8.図10は発明の実施の形態
8によるセンサアレイの構成を示した上面図である。図
11は従来の発明によるセンサをアレイ化して作製され
たセンサアレイを示す。図中20、21は基板に接続さ
れる箇所である。従来の形態ではセンサの占める領域内
に検知部1、及び検知部からの信号を取り出す導電部
(図示せず)を備えた支持脚3を設けており、従来の技
術で述べたように、本構造では断熱特性の向上は図りに
くい問題があった。実施の形態8の図10においては、
アレイ化されたセンサで各センサ領域のみならず隣接、
あるいは、それより離れたセンサ部で支持脚(支持脚の
導電部)を基板に接続する構造としている。このような
構成にすることで、断熱特性の向上が図れる。
Embodiment 8 FIG. FIG. 10 is a top view showing a configuration of a sensor array according to Embodiment 8 of the present invention. FIG. 11 shows a sensor array produced by arraying sensors according to the conventional invention. In the figure, reference numerals 20 and 21 are portions connected to the substrate. In the conventional embodiment, a support leg 3 having a detection unit 1 and a conductive unit (not shown) for extracting a signal from the detection unit is provided in an area occupied by the sensor. The structure has a problem that it is difficult to improve the heat insulating property. In FIG. 10 of the eighth embodiment,
Arrayed sensors not only in each sensor area but also adjacent,
Alternatively, the supporting leg (conductive portion of the supporting leg) is connected to the substrate by a sensor unit farther away from the sensor unit. With such a configuration, the heat insulation characteristics can be improved.

【0028】さらに、基板に導電性をもので、かつ、各
センサが共通接地が可能なときには基板接続部の一方、
例えば図9において電気接続部21を基板に接続させる
ことは有効となる。配線数を減らせること、また、アレ
イ動作させる周辺回路は従来のものと同様に駆動させて
も同じ動作が可能となることである。
Further, when the substrate has conductivity and each sensor can be grounded in common, one of the substrate connecting portions can be used.
For example, it is effective to connect the electric connection portion 21 to the substrate in FIG. That is, the number of wirings can be reduced, and the same operation can be performed even if the peripheral circuits for performing the array operation are driven in the same manner as the conventional one.

【0029】なお、上記実施の形態においては、センサ
は赤外線センサについて例示したが、赤外線以外の放射
線やその他の物理量を検知する温度センサや、真空領域
内での真空度を測定するセンサ、流量センサなどに応用
できることは言うまでもない。
In the above embodiment, the sensor is exemplified by an infrared sensor. However, a temperature sensor for detecting radiation other than infrared rays and other physical quantities, a sensor for measuring the degree of vacuum in a vacuum region, and a flow sensor Needless to say, it can be applied to such applications.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上のように、本願発明の第1の発明に
よれば、基板上に設けられ、外部からの信号を検知する
検知部を支持し、該検知部で検知された信号を外部へ取
り出すための導電部を備えた支持部を有するセンサにお
いて、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形成さ
れた前記支持部により、前記検知部と前記基板とを断熱
したので、さらに、検知部が基板あるいは支持部の上方
に配置され、また検知部が基板の略面内に配置されるの
で、断熱特性が向上し、センサの縮小も可能となる。ま
た、上記構造において、支持部を基板の深さ方向に配置
する構造上記構造としたので、従来よりも支持部を長く
とることができ、断熱特性が向上し、また支持体を平面
に設けるよりも支持部の面内占有率が減少し、センサの
縮小も可能となる。さらに、上記構造において、検知部
に信号吸収部をさらに備えたので、信号の取り込みが効
率的に行われ、センサとしての性能が向上する。
As described above, according to the first aspect of the present invention, a detection unit provided on a substrate and detecting an external signal is supported, and a signal detected by the detection unit is transmitted to an external device. In the sensor having a support portion having a conductive portion for taking out to the, since the support portion formed to meander in a rectangular shape in the normal direction of the substrate surface, the detection portion and the substrate were insulated, Further, since the detection unit is disposed above the substrate or the support unit, and the detection unit is disposed substantially in the plane of the substrate, the heat insulation characteristics are improved, and the sensor can be reduced. Further, in the above structure, the support portion is arranged in the depth direction of the substrate. Since the above structure is adopted, the support portion can be longer than before, the heat insulating property is improved, and the support is provided on a flat surface. Also, the in-plane occupancy of the support portion is reduced, and the sensor can be reduced in size. Further, in the above structure, since the detection unit is further provided with the signal absorption unit, the signal is efficiently captured, and the performance as a sensor is improved.

【0031】また、本願発明の第2の発明によれば、基
板上に設けられ、外部からの信号を検知するための検知
部と、その一部が基板に接続されて前記検知部で検知さ
れた信号を外部に取り出す導電部とを備えたセンサが2
次元アレイ状に複数個配設されたセンサアレイにおい
て、前記導電部が隣接するセンサ、あるいはさらに離れ
た場所のセンサ部で基板に接続されるので、断熱特性が
向上し、素子の集積度を上げることが可能となる。ま
た、上記構造において、1個のセンサが複数の導電部を
有し、該複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を
有する基板に電気的に接続されるので、基板内での配線
が容易なセンサの作製が可能になる。
According to the second aspect of the present invention, a detecting unit provided on the substrate for detecting an external signal and a part of which is connected to the substrate and detected by the detecting unit are provided. And a conductive part for taking out a signal to the outside.
In a sensor array in which a plurality of sensor elements are arranged in a two-dimensional array, the conductive portion is connected to the substrate at an adjacent sensor or a sensor portion at a further distant location, so that heat insulation characteristics are improved and the degree of integration of elements is increased. It becomes possible. In addition, in the above structure, one sensor has a plurality of conductive portions, and at least one of the plurality of conductive portions is electrically connected to a conductive substrate, so that wiring in the substrate is easy. It is possible to manufacture a simple sensor.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1によるセンサ構成の
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a sensor configuration according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態1によるセンサ構成の
断面図、上面図である。
FIG. 2 is a sectional view and a top view of a sensor configuration according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 この発明の実施の形態1によるセンサ構成の
作製方法に関する図である。
FIG. 3 is a diagram related to a method for manufacturing a sensor configuration according to the first embodiment of the present invention;

【図4】 この発明の実施の形態2によるセンサ構成の
上面図である。
FIG. 4 is a top view of a sensor configuration according to Embodiment 2 of the present invention.

【図5】 この発明の実施の形態3によるセンサ構成の
断面図である。
FIG. 5 is a sectional view of a sensor configuration according to Embodiment 3 of the present invention.

【図6】 この発明の実施の形態4によるセンサの構成
を示す断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing a configuration of a sensor according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の実施の形態5によるセンサ構成の
断面図、上面図である。
FIG. 7 is a sectional view and a top view of a sensor configuration according to a fifth embodiment of the present invention.

【図8】 この発明の実施の形態6によるセンサ構成の
断面図である。
FIG. 8 is a sectional view of a sensor configuration according to Embodiment 6 of the present invention.

【図9】 この発明の実施の形態7によるセンサ構成の
断面図、上面図である。
FIG. 9 is a sectional view and a top view of a sensor configuration according to a seventh embodiment of the present invention.

【図10】 この発明の実施の形態8によるセンサアレ
イ構成の上面図である。
FIG. 10 is a top view of a sensor array configuration according to an eighth embodiment of the present invention.

【図11】 従来のセンサアレイの配置を示した上面図
である。
FIG. 11 is a top view showing the arrangement of a conventional sensor array.

【図12】 従来のセンサの上面図、断面図である。FIG. 12 is a top view and a sectional view of a conventional sensor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検知部、 2 基板、 3 支持脚、 4
空隙、 5 基体層、5a 基体層の下層、 5b
基板層の上層、 6 導電層、7 検知層、 8
接続部、 9 溶解層、 10 開口向上層、1
1 吸収層、 12 基板除去孔、 13 保護
層、20 基板接続部、 21 基板電気接続部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Detection part, 2 Substrate, 3 Support leg, 4
Air gap, 5 base layer, 5a lower layer of base layer, 5b
Upper layer of substrate layer, 6 Conductive layer, 7 Detection layer, 8
Connection part, 9 dissolution layer, 10 opening enhancement layer, 1
1 Absorption layer, 12 Substrate removal hole, 13 Protective layer, 20 Substrate connection, 21 Substrate electrical connection.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に設けられ、外部からの信号を検
知する検知部を支持し、該検知部で検知した信号を外部
へ取り出すための導電部を備えた支持部を有するセンサ
において、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形
成された前記支持部により、前記検知部と前記基板とを
断熱したことを特徴とするセンサ。
1. A sensor provided on a substrate and supporting a detection unit for detecting a signal from outside, and having a support unit provided with a conductive unit for extracting a signal detected by the detection unit to the outside, A sensor, wherein the detection unit and the substrate are insulated from each other by the support unit, which is meandering in a rectangular shape in a direction normal to a substrate surface.
【請求項2】 検知部が基板の上方に配置されることを
特徴とする請求項1に記載のセンサ。
2. The sensor according to claim 1, wherein the detection unit is disposed above the substrate.
【請求項3】 検知部が支持部の上方に配置されること
を特徴とする請求項2に記載のセンサ。
3. The sensor according to claim 2, wherein the detection unit is disposed above the support unit.
【請求項4】 検知部が基板の略同一面内に配置される
ことを特徴とする請求項1に記載のセンサ。
4. The sensor according to claim 1, wherein the detection unit is disposed in substantially the same plane of the substrate.
【請求項5】 少なくとも検知部の下方の基板に該検知
部の領域に相当する溝を有し、支持部が基板の深さ方向
に配置されることを特徴とする請求項1に記載のセン
サ。
5. The sensor according to claim 1, wherein at least the substrate below the detection section has a groove corresponding to the area of the detection section, and the support section is arranged in the depth direction of the substrate. .
【請求項6】 支持部及び検知部が形成される領域の基
板に溝が形成されることを特徴とする請求項5に記載の
センサ。
6. The sensor according to claim 5, wherein a groove is formed in the substrate in a region where the support part and the detection part are formed.
【請求項7】 検知部に信号吸収部をさらに備えたこと
を特徴とする請求項1に記載のセンサ。
7. The sensor according to claim 1, further comprising a signal absorbing unit in the detecting unit.
【請求項8】 基板上に設けられ、外部からの信号を検
知するための検知部と、その一部が基板に接続されて前
記検知部で検知された信号を外部に取り出す導電部とを
備えたセンサが、2次元アレイ状に複数個配設されたセ
ンサアレイにおいて、前記導電層が隣接するセンサ、あ
るいはさらに離れた場所のセンサ部で基板に接続される
ことを特徴とするセンサアレイ。
8. A detecting unit provided on a substrate for detecting a signal from the outside, and a conductive unit partially connected to the substrate and extracting a signal detected by the detecting unit to the outside. A sensor array in which a plurality of sensors are arranged in a two-dimensional array, wherein the conductive layer is connected to the substrate at an adjacent sensor or a sensor unit at a further distant place.
【請求項9】 1個のセンサが複数の導電部を有し、該
複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を有する基
板に電気的に接続されることを特徴とする請求項8に記
載のセンサアレイ。
9. The sensor according to claim 8, wherein one sensor has a plurality of conductive portions, and at least one of the plurality of conductive portions is electrically connected to a conductive substrate. Sensor array.
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