JPH11204725A - Memory module - Google Patents

Memory module

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JPH11204725A
JPH11204725A JP10001415A JP141598A JPH11204725A JP H11204725 A JPH11204725 A JP H11204725A JP 10001415 A JP10001415 A JP 10001415A JP 141598 A JP141598 A JP 141598A JP H11204725 A JPH11204725 A JP H11204725A
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JP
Japan
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memory
circuit
semiconductor integrated
memory module
power supply
Prior art date
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Application number
JP10001415A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiyuki Okuma
禎幸 大熊
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH11204725A publication Critical patent/JPH11204725A/en
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To inexpensively improve a reliability of a memory module without being affected by noise and generated heat. SOLUTION: Eight memories 2 where boosting power circuits becoming noise generation sources are not provided are mounted on the surface 1a and the backside 1b of a module wiring board 1 and a power IC 3 where only the boosting power circuit is made into a different chip is mounted on the surface 1a. A wiring pattern is formed so that boosting power generated by the power 1C 3 is supplied to the eight memories 2. Thus, the power IC 3 being the circuit becoming the noise generation source is provided for the memory module MM independent of the memories 2. Thus, the malfunction of the memories 2 owing to noise can be reduced and the operation margin of the memory module MM can be improved greatly.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、メモリモジュール
に関し、特に、半導体集積回路装置の安定動作に適用し
て有効な技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory module and, more particularly, to a technology effective when applied to a stable operation of a semiconductor integrated circuit device.

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明者が検討したところによれば、パ
ーソナルコンピュータやワークステーションなどの拡張
メモリに用いられるメモリモジュールは、大容量化、デ
ータの書き込み読み出しにおける高速化の要求に応える
ために、たとえば、SOP(Small Outlin
e Package)形の樹脂封止パッケージからなる
1チップ化されたDRAM(Dynamic Rand
om Access Memory)メモリである半導
体集積回路装置がモジュール配線基板に実装されること
により構成されている。
2. Description of the Related Art According to studies made by the present inventor, memory modules used for extended memories such as personal computers and workstations are required to have a large capacity and a high speed in writing and reading data. For example, SOP (Small Outlin
e-Package (ePackage) -type resin-sealed package into a single chip DRAM (Dynamic Land)
The semiconductor integrated circuit device, which is an om Access Memory (om Access Memory) memory, is mounted on a module wiring board.

【0003】なお、この種のメモリ拡張システムについ
て詳しく述べてある例としては、1990年8月30
日、日刊工業新聞社発行、鈴木八十二(編著)「半導体
MOSメモリとその使い方」P114〜P126があ
り、この文献には、メモリ拡張用DRAMボードの回路
構成や動作などが記載されている。
[0003] An example describing this type of memory expansion system in detail is August 30, 1990.
Published by Nikkan Kogyo Shimbun (published by Nikkan Kogyo Shimbun) and edited by Yasuji Suzuki (eds.), "Semiconductor MOS Memory and How to Use It," P114-P126. .

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
なメモリモジュールでは、次のような問題点があること
が本発明者により見い出された。
However, it has been found by the present inventors that the above-mentioned memory module has the following problems.

【0005】すなわち、DRAMメモリなどの半導体集
積回路装置では、高速化に伴って電源回路やインタフェ
ース回路などの消費電力も増大する傾向にあり、それに
より、半導体集積回路装置それ自体の発熱量が大きくな
ってしまい、リフレッシュ特性が悪化し、メモリモジュ
ールの性能を低下させてしまう恐れが生じている。そし
て、この消費電力の増大は、たとえば、Rambus
DRAMなどの高速動作が行われる半導体集積回路装置
において、顕著になっている。
That is, in a semiconductor integrated circuit device such as a DRAM memory, the power consumption of a power supply circuit, an interface circuit, and the like tends to increase with an increase in the operating speed. As a result, the heat generation of the semiconductor integrated circuit device itself increases. As a result, the refresh characteristics are deteriorated, and the performance of the memory module may be reduced. This increase in power consumption is, for example, due to Rambus
This has become prominent in semiconductor integrated circuit devices such as DRAMs that operate at high speed.

【0006】また、半導体集積回路装置の発熱量を小さ
くするために、各々のパッケージに放熱板などの放熱対
策が必要となり、メモリモジュールのコストも高くなっ
てしまうという問題もある。
Further, in order to reduce the amount of heat generated by the semiconductor integrated circuit device, it is necessary to provide a heat radiation plate or the like for each package, and there is also a problem that the cost of the memory module is increased.

【0007】さらに、1チップ化された半導体集積回路
装置では、ワード線に供給する昇圧電源を生成する昇圧
電源回路などが発生するノイズによって半導体集積回路
装置の動作に悪影響を及ぼしてしまう恐れもある。
Further, in a semiconductor integrated circuit device formed into one chip, noise generated by a boosted power supply circuit for generating a boosted power supply to be supplied to a word line may adversely affect the operation of the semiconductor integrated circuit device. .

【0008】本発明の目的は、ノイズや発熱などの影響
を受けることなく、低コストで信頼性を向上することの
できるメモリモジュールを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a memory module which can be improved in reliability at low cost without being affected by noise or heat generation.

【0009】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.

【0011】すなわち、本発明のメモリモジュールは、
半導体メモリからなる少なくとも1個の半導体集積回路
装置と、その半導体集積回路装置が構成される電子回路
の内、当該半導体集積回路装置の動作に悪影響を及ぼす
電子回路により構成された分離回路と、該半導体集積回
路装置および分離回路が実装され、半導体集積回路装置
と分離回路との所定の配線を行う配線パターンが形成さ
れたプリント配線基板とよりなるものである。
That is, the memory module of the present invention comprises:
At least one semiconductor integrated circuit device including a semiconductor memory, and an isolation circuit including an electronic circuit that adversely affects the operation of the semiconductor integrated circuit device among electronic circuits included in the semiconductor integrated circuit device; The printed circuit board has a semiconductor integrated circuit device and a separation circuit mounted thereon, and a printed wiring board on which a wiring pattern for performing predetermined wiring between the semiconductor integrated circuit device and the separation circuit is formed.

【0012】本発明のメモリモジュールは、前記分離回
路が、すべての半導体集積回路装置に供給される内部電
源を生成する電源回路よりなるものである。
[0012] In the memory module of the present invention, the separation circuit includes a power supply circuit for generating an internal power supply supplied to all the semiconductor integrated circuit devices.

【0013】それらにより、ノイズ発生源となる電源回
路を半導体集積回路装置とは個別にメモリモジュールに
設けることができるので半導体集積回路装置の耐ノイズ
性能を大幅に向上することができる。
Accordingly, a power supply circuit serving as a noise generation source can be provided in the memory module separately from the semiconductor integrated circuit device, so that the noise resistance performance of the semiconductor integrated circuit device can be greatly improved.

【0014】本発明のメモリモジュールは、前記分離回
路が、すべての半導体集積回路装置における入出力のデ
ータのインタフェースを行うインタフェース回路よりな
るものである。
In the memory module according to the present invention, the separation circuit includes an interface circuit for interfacing input / output data in all the semiconductor integrated circuit devices.

【0015】それにより、インタフェース回路がRam
bus仕様などの高速で発熱量の大きい場合に、インタ
フェース回路を半導体集積回路装置とは個別にメモリモ
ジュールに設けることができるので半導体集積回路装置
のリフレッシュ特性などの特性の劣化を大幅に低減する
ことができる。
[0015] Thereby, the interface circuit is Ram
In the case of high-speed and large heat generation such as bus specifications, the interface circuit can be provided in the memory module separately from the semiconductor integrated circuit device, so that deterioration of characteristics such as refresh characteristics of the semiconductor integrated circuit device can be significantly reduced. Can be.

【0016】以上のことにより、メモリモジュールの動
作マージンを大幅に向上することができる。
As described above, the operation margin of the memory module can be greatly improved.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0018】(実施の形態1)図1は、本発明の実施の
形態1によるメモリモジュールにおけるメモリを実装し
たモジュール配線基板における実装の説明図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is an explanatory view of mounting on a module wiring board on which a memory is mounted in a memory module according to Embodiment 1 of the present invention.

【0019】本実施の形態1において、パーソナルコン
ピュータなどの拡張メモリとして用いられ、所定のメモ
リ構成を構成するメモリモジュールMMは、電子部品を
実装するモジュール配線基板(プリント配線基板)1が
設けられている。
In the first embodiment, a memory module MM that is used as an extended memory of a personal computer or the like and has a predetermined memory configuration is provided with a module wiring board (printed wiring board) 1 on which electronic components are mounted. I have.

【0020】また、モジュール配線基板1は両面実装基
板となっており、モジュール配線基板1の表面1aおよ
び裏面1bには、後述するメモリなどの電子部品が実装
される。ここで、モジュール配線基板1は片面実装基板
であってもよい。
The module wiring board 1 is a double-sided mounting board, and electronic components such as memories to be described later are mounted on the front surface 1a and the back surface 1b of the module wiring substrate 1. Here, the module wiring board 1 may be a single-sided mounting board.

【0021】さらに、モジュール配線基板1における長
辺の一方には、所定の数のモジュールI/O端子MTが
モジュール配線基板1の長手方向に沿って設けられてい
る。また、モジュール配線基板1の表面1a、裏面1b
には配線パターンが形成されており、これらの配線パタ
ーンによって各々のランドならびにモジュールI/O端
子MTが所定の接続先にそれぞれ電気的に接続されてい
る。
Further, on one of the long sides of the module wiring board 1, a predetermined number of module I / O terminals MT are provided along the longitudinal direction of the module wiring board 1. The front surface 1a and the back surface 1b of the module wiring board 1
Are formed, and each land and module I / O terminal MT are electrically connected to a predetermined connection destination by these wiring patterns.

【0022】そして、モジュール配線基板1の表面1a
における一方の長辺のコーナ部近傍には、たとえば、メ
モリモジュールMMに供給される電源電圧のノイズ除去
用などのチップ部品であるコンデンサCが実装されてい
る。
Then, the surface 1a of the module wiring board 1
In the vicinity of the corner on one long side of the above, for example, a capacitor C which is a chip component for removing noise of a power supply voltage supplied to the memory module MM is mounted.

【0023】次に、モジュール配線基板1の表面1aお
よび裏面1bには、たとえば、SOP(Small O
utline Package)形パッケージからなる
DRAMのメモリ(半導体集積回路装置)2がモジュー
ル配線基板1の長手方向に、それぞれ4個ずつ縦向きに
実装されている。
Next, on the front surface 1a and the back surface 1b of the module wiring board 1, for example, SOP (Small O
The memory (semiconductor integrated circuit device) 2 of a DRAM composed of an U.S.A. package (U.S.A. package) is mounted vertically four in the longitudinal direction of the module wiring board 1.

【0024】また、これらメモリ2には、ノイズ発生源
となる回路、たとえば、ワード線に供給する昇圧電源を
生成する昇圧電源回路が設けられておらず、この昇圧電
源回路のみを別チップにした同じくSOP形パッケージ
からなる半導体集積回路装置である電源IC(分離回
路、電源回路)3がモジュール配線基板1の表面1aに
おける一方の短辺の中央部近傍に実装されている。
Further, these memories 2 are not provided with a circuit serving as a noise generating source, for example, a boosting power supply circuit for generating a boosting power supply to be supplied to a word line, and only this boosting power supply circuit is provided on a separate chip. A power supply IC (separation circuit, power supply circuit) 3 which is a semiconductor integrated circuit device also formed of an SOP type package is mounted near the center of one short side of the front surface 1a of the module wiring board 1.

【0025】さらに、モジュール配線基板1は、表面1
aに実装された電源IC3によって生成された昇圧電源
が、表面1aおよび裏面1bに実装された8つのすべて
のメモリ2に供給されるように配線パターンが形成され
ている。すなわち、この電源IC3は、8つのメモリ2
によって共有化されていることになる。
Further, the module wiring board 1
The wiring pattern is formed such that the boosted power generated by the power supply IC 3 mounted on the memory a is supplied to all eight memories 2 mounted on the front surface 1a and the back surface 1b. In other words, the power supply IC 3 has eight memories 2
Will be shared.

【0026】それにより、本実施の形態1では、メモリ
2にノイズ発生源となる回路である電源IC3をメモリ
2とは個別にメモリモジュールMMに設けることによっ
て、メモリ2のノイズによる誤動作などを低減すること
ができ、メモリモジュールMMの動作マージンを大幅に
向上することができる。
Thus, in the first embodiment, the malfunction of the memory 2 due to noise is reduced by providing the power supply IC 3 which is a circuit serving as a noise source in the memory 2 separately from the memory 2. And the operating margin of the memory module MM can be greatly improved.

【0027】また、メモリ2に昇圧電源回路が不要とな
るので、半導体チップ面積を小さくできるので、各々の
メモリ2を小型化することができる。
Further, since a booster power supply circuit is not required for the memory 2, the area of the semiconductor chip can be reduced, so that each memory 2 can be downsized.

【0028】ただし、電源IC3は、8つのメモリ2の
すべてに昇圧電源を供給しなければならないので、必要
充分な電源用量を確保できるように設計する必要があ
る。
However, since the power supply IC 3 must supply boosted power to all eight memories 2, it is necessary to design the power supply IC 3 to secure a necessary and sufficient power supply.

【0029】また、ここでは、8つのメモリ2に対して
1つの電源IC3を用いているが、モジュール配線基板
1の表面1a、裏面1bに各々の1つの電源IC3を実
装し、4つのメモリ2に対して1つの電源IC3により
昇圧電源を供給する構成でもよい。
Although one power supply IC 3 is used for the eight memories 2 here, one power supply IC 3 is mounted on each of the front surface 1 a and the back surface 1 b of the module wiring board 1, and the four memories 2 are provided. In this case, a single power supply IC 3 may be used to supply boosted power.

【0030】さらに、本実施の形態1によれば、前述し
たメモリ2に昇圧電源回路を設けていなかったが、たと
えば、メモリ2(図1)に昇圧電源回路を設けたまま
で、メモリ2に所定の制御信号を入力するなどによって
昇圧電源回路を非活性とし、電源ICによって昇圧電源
を供給するようにしてもよい。
Further, according to the first embodiment, the above-described memory 2 is not provided with the boost power supply circuit. However, for example, while the memory 2 (FIG. 1) is provided with the boost power supply circuit, The boosting power supply circuit may be deactivated by inputting the control signal described above, and the boosting power may be supplied by the power supply IC.

【0031】また、本実施の形態1においては、ノイズ
発生源となる回路として前述した昇圧電源回路を電源I
C3(図1)として設けたが、この電源IC3に設けら
れる回路は、ノイズ発生源となる回路であれば昇圧電源
回路以外の回路でもよく、たとえば、メモリセルに供給
される基板電位が生成される基板電位発生回路やビット
線のプリチャージに用いられるプリチャージ電位を生成
するプリチャージ電源回路などのノイズ発生源となる回
路を電源IC3に設けるようにしてもよい。
In the first embodiment, the boosting power supply circuit described above is used as a circuit serving as a noise generation source.
Although provided as C3 (FIG. 1), the circuit provided in the power supply IC3 may be a circuit other than the boosting power supply circuit as long as it is a circuit that becomes a noise generation source. For example, a substrate potential supplied to a memory cell is generated. A circuit serving as a noise generation source, such as a substrate potential generation circuit for generating a precharge potential used for precharging a bit line or a precharge power supply circuit used for precharging a bit line, may be provided in the power supply IC 3.

【0032】(実施の形態2)図2は、本発明の実施の
形態1によるメモリモジュールにおけるメモリを実装し
たモジュール配線基板の実装説明図、図3は、メモリモ
ジュールにおけるメモリとインタフェース回路の接続説
明図、図4は、メモリモジュールにおけるメモリとイン
タフェース回路の配線説明図である。
(Embodiment 2) FIG. 2 is an explanatory view of mounting a module wiring board on which a memory is mounted in a memory module according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 3 is an explanatory view of connection between a memory and an interface circuit in a memory module. FIGS. 4A and 4B are explanatory diagrams of wiring between the memory and the interface circuit in the memory module.

【0033】本実施の形態2においては、図2に示すよ
うに、メモリモジュールMMが、高速動作を行うRam
bus仕様となっている。
According to the second embodiment, as shown in FIG.
It is a bus specification.

【0034】この場合も、同様にメモリ(半導体集積回
路装置)2aなどの電子部品を実装する長方形のモジュ
ール配線基板1は両面実装基板となっており、モジュー
ル配線基板1の表面1a、裏面1bには、それぞれ4つ
のSOP形パッケージからなるメモリ2aがモジュール
配線基板1の長手方向に実装されている。また、モジュ
ール配線基板1は、片面実装基板であってもよい。
Also in this case, similarly, the rectangular module wiring board 1 on which electronic components such as a memory (semiconductor integrated circuit device) 2a are mounted is a double-sided mounting board, and the front and back surfaces 1a and 1b of the module wiring board 1 are provided. The memory 2a composed of four SOP type packages is mounted on the module wiring board 1 in the longitudinal direction. Further, the module wiring board 1 may be a single-sided mounting board.

【0035】さらに、モジュール配線基板1における長
辺の一方には、所定の数のモジュールI/O端子MTが
モジュール配線基板1の長手方向に沿って設けられてい
る。また、モジュール配線基板1の表面1a、裏面1b
には配線パターンが形成されており、これらの配線パタ
ーンによって各々のランドならびにモジュールI/O端
子MTが所定の接続先にそれぞれ電気的に接続されてい
る。
Further, on one of the long sides of the module wiring board 1, a predetermined number of module I / O terminals MT are provided along the longitudinal direction of the module wiring board 1. The front surface 1a and the back surface 1b of the module wiring board 1
Are formed, and each land and module I / O terminal MT are electrically connected to a predetermined connection destination by these wiring patterns.

【0036】そして、モジュール配線基板1の表面1a
における一方の長辺のコーナ部近傍には、たとえば、メ
モリモジュールMMに供給される電源電圧のノイズ除去
用などのチップ部品であるコンデンサCが実装されてい
る。
The surface 1a of the module wiring board 1
In the vicinity of the corner on one long side of the above, for example, a capacitor C which is a chip component for removing noise of a power supply voltage supplied to the memory module MM is mounted.

【0037】また、モジュール配線基板1に実装された
メモリ2a内にはRambus仕様のインタフェース回
路が設けられておらず、このインタフェース回路を別チ
ップにした同じくSOP形パッケージからなる半導体集
積回路装置であるインタフェースIC(分離回路、イン
タフェース回路)4がモジュール配線基板1の表面1a
におけるモジュールI/O端子MT近傍の中央部に実装
されている。
The memory 2a mounted on the module wiring board 1 is not provided with an interface circuit of Rambus specification, and is a semiconductor integrated circuit device having the same SOP type package in which this interface circuit is formed as a separate chip. The interface IC (separation circuit, interface circuit) 4 is the surface 1a of the module wiring board 1.
Are mounted at the central portion near the module I / O terminal MT.

【0038】さらに、表面1aに実装されたインタフェ
ースIC4は、同じく表面1a、裏面1bに実装された
8つのメモリ2aのインタフェースとして共有化されて
いる。
Further, the interface IC 4 mounted on the front surface 1a is shared as an interface of eight memories 2a similarly mounted on the front surface 1a and the back surface 1b.

【0039】このインタフェースIC4を個別に設ける
場合、図3に示すように、このインタフェース回路がパ
ラレル/シリアル変換を行っているために1I/Oあた
りインタフェースIC4とメモリ2aとの間には8本の
信号線が必要となってしまう。
When the interface ICs 4 are provided individually, as shown in FIG. 3, since this interface circuit performs parallel / serial conversion, eight I / Os are provided between the interface IC 4 and the memory 2a. A signal line is required.

【0040】そのために、たとえば、メモリモジュール
MMが8I/Oである場合、データ線のみで64本もの
信号線をメモリ2aとインタフェースIC4との間で接
続する必要が生じてしまい、実現が困難となってしま
う。
For this reason, for example, when the memory module MM has 8 I / Os, it is necessary to connect as many as 64 signal lines only between data lines between the memory 2a and the interface IC 4, which is difficult to realize. turn into.

【0041】そこで、図4に示すように、すべてのメモ
リ2aを同時に動作させ、それぞれのメモリ2aが一部
のI/Oのみの担当を行う。
Therefore, as shown in FIG. 4, all the memories 2a are operated at the same time, and each memory 2a takes charge of only a part of the I / O.

【0042】たとえば、それぞれのメモリ2aとインタ
フェースIC4との間を2本の信号線によって接続を行
うと、8つのメモリ2aとインタフェースIC4との間
の信号線の本数は16本で済むことになる。ここで、図
4は、4つのメモリ2aと1つのインタフェースIC4
との接続関係を示している。
For example, when the connection between each memory 2a and the interface IC 4 is made by two signal lines, the number of signal lines between the eight memories 2a and the interface IC 4 is only 16. . Here, FIG. 4 shows four memories 2a and one interface IC 4
It shows the connection relationship with.

【0043】また、このRambus仕様のメモリモジ
ュールMMにおいては、消費電力の大半を前述したイン
タフェース回路によって消費するので充分な放熱対策が
必要であるが、インタフェース回路をメモリ2aとは別
にインタフェースIC4として設けることによりこのイ
ンタフェースIC4のみに放熱板を設けるなどの対策を
施せばよいことになる。
In the Rambus-specification memory module MM, sufficient power dissipation is required because most of the power consumption is consumed by the above-described interface circuit. However, the interface circuit is provided as an interface IC 4 separately from the memory 2a. Thus, it is only necessary to take measures such as providing a heat radiation plate only for the interface IC 4.

【0044】さらに、メモリ2aとインタフェースIC
4とを個別化することによって、メモリ2aから熱源と
なるインタフェース回路を離すことができるので、熱に
よるリフレッシュ特性の低下などを大幅に低減すること
ができる。
Further, the memory 2a and the interface IC
4 can be separated from the memory 2a as an interface circuit serving as a heat source, so that a decrease in refresh characteristics due to heat can be significantly reduced.

【0045】それにより、本実施の形態2によれば、発
熱量の大きいインタフェース回路をインタフェースIC
4としてメモリ2aとは個別にメモリモジュールMMに
設けることによって、リフレッシュ特性などのメモリモ
ジュールMMにおける特性劣化を大幅に低減することが
できる。
Thus, according to the second embodiment, the interface circuit generating a large amount of heat is connected to the interface IC.
By providing the memory module MM separately from the memory 2a as 4, the characteristic deterioration in the memory module MM such as the refresh characteristic can be significantly reduced.

【0046】また、それぞれのメモリ2aには、放熱板
などの熱対策が不要となるので、メモリモジュールMM
のコストを低減することができる。
Further, since no heat countermeasures such as heat radiating plates are required for each memory 2a, the memory module MM
Cost can be reduced.

【0047】さらに、本実施の形態2の場合、インタフ
ェース回路をインタフェースIC4として外部に設けた
ことにより、メモリ2aの出力回路における信号遅延が
懸念されるが、これについては、メモリモジュールMM
内部のインターフェース回路のみを駆動するよう設計
し、メモリ2aは、駆動負荷を小さくすることでスピー
ドペナルティをなくすことができる。
Further, in the case of the second embodiment, the signal delay in the output circuit of the memory 2a is feared by providing the interface circuit as the interface IC 4 externally.
Designed to drive only the internal interface circuit, the memory 2a can eliminate the speed penalty by reducing the drive load.

【0048】また、本実施の形態2では、Rambus
仕様のメモリモジュールMMについて記載したが、イン
タフェース回路をインタフェースICとして個別に設け
るメモリモジュールの構成は、Rambus仕様以外に
同じく高速動作を行うSynclink DRAMなど
の高速なDRAMの場合にリフレッシュ特性などのメモ
リモジュールにおける特性劣化を大幅に低減することが
でき、かつメモリモジュールのコストを低減することが
できる。
In the second embodiment, Rambus
Although the memory module MM of the specification has been described, the configuration of the memory module in which an interface circuit is individually provided as an interface IC is not limited to the Rambus specification. In this case, it is possible to greatly reduce the characteristic deterioration and to reduce the cost of the memory module.

【0049】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を
逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでも
ない。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications may be made without departing from the gist of the invention. Needless to say, it can be changed.

【0050】たとえば、前記実施の形態1,2では、電
源ICまたはインタフェースICのいずれかを個別に実
装した場合について記載したが、たとえば、図5に示す
ように、メモリモジュールMMにおけるモジュール配線
基板1に電源IC3ならびにインタフェースIC4の両
方を実装するようにしてもよい。
For example, in the first and second embodiments, a case has been described in which either the power supply IC or the interface IC is individually mounted. For example, as shown in FIG. And both the power supply IC 3 and the interface IC 4 may be mounted.

【0051】それによって、メモリモジュールMMの動
作マージンを大幅に向上することができ、かつリフレッ
シュ特性などのメモリモジュールMMにおける特性劣化
を大幅に低減することができる。また、それぞれのメモ
リ2aには、放熱板などの熱対策が不要となるので、メ
モリモジュールMMのコストを低減することもできる。
As a result, the operation margin of the memory module MM can be greatly improved, and the deterioration of characteristics of the memory module MM such as the refresh characteristic can be greatly reduced. In addition, since each memory 2a does not need a heat countermeasure such as a heat radiating plate, the cost of the memory module MM can be reduced.

【0052】この他にも、メモリモジュールのテストを
行うテスト用の回路からなるメモリテストICをモジュ
ール配線基板に個別に実装することにより、複雑な試験
をメモリモジュール上で行う例が考えられる。
In addition, there may be an example in which a complicated test is performed on the memory module by individually mounting a memory test IC including a test circuit for testing the memory module on the module wiring board.

【0053】さらに、前記実施の形態1,2において
は、メモリモジュールについて記載したが、これら電源
IC,インタフェースICの個別の実装は、たとえば、
パーソナルコンピュータなどの一時記憶メモリとして使
用されるメモリカードや高機能カードであるICカード
などのDRAMなどのメモリである半導体集積回路装置
が用いられている電子装置であれば、動作性能を大幅に
向上することができる。
Further, in the first and second embodiments, the description has been given of the memory module.
Significantly improved operating performance of electronic devices that use semiconductor integrated circuit devices, such as memory cards used as temporary storage memory in personal computers and DRAMs, such as IC cards that are high-performance cards, etc. can do.

【0054】また、前記実施の形態1,2によれば、メ
モリ、電源ICならびにインタフェースICは、SOP
形パッケージであったが、たとえば、TSOP(Thi
nSmall Outline Package)、S
OJ(Small Outline J−leaded
Package)、FPG(Flat Packag
e Glass)や半導体チップを直接モジュール配線
基板の電極部と電気的に接続するフリップチップなどど
のようなパッケージ形式であってもよい。
According to the first and second embodiments, the memory, the power supply IC, and the interface IC
Type package, for example, TSOP (Thi
nSmall Outline Package), S
OJ (Small Outline J-leaded
Package), FPG (Flat Package)
e Glass) or a flip chip for electrically connecting a semiconductor chip directly to an electrode portion of a module wiring board.

【0055】[0055]

【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
Advantageous effects obtained by typical ones of the inventions disclosed by the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0056】(1)本発明によれば、ノイズ発生源とな
る電源回路などの分離回路を半導体集積回路装置とは個
別にメモリモジュールに設けることにより、半導体集積
回路装置の耐ノイズ性能を大幅に向上することができ
る。
(1) According to the present invention, by providing a separation circuit such as a power supply circuit as a noise generation source in a memory module separately from a semiconductor integrated circuit device, the noise resistance performance of the semiconductor integrated circuit device is greatly improved. Can be improved.

【0057】(2)また、本発明では、発熱量の大きい
インタフェース回路などの分離回路を半導体集積回路装
置とは個別にメモリモジュールに設けることによって、
半導体集積回路装置のリフレッシュ特性などの特性の劣
化を大幅に低減することができ、かつ半導体集積回路装
置に放熱板などの放熱対策を不要とすることができる。
(2) According to the present invention, a separation circuit such as an interface circuit which generates a large amount of heat is provided in a memory module separately from a semiconductor integrated circuit device.
Deterioration of characteristics such as refresh characteristics of the semiconductor integrated circuit device can be significantly reduced, and the semiconductor integrated circuit device does not need to take measures for heat dissipation such as a heat sink.

【0058】(3)さらに、本発明においては、電源回
路およびインタフェース回路を半導体集積回路装置とは
個別に分離回路としてメモリモジュールに設けることに
より、半導体集積回路装置の耐ノイズ性能を大幅に向上
することができ、かつリフレッシュ特性などの特性の劣
化を大幅に低減することができる。
(3) Further, in the present invention, by providing the power supply circuit and the interface circuit in the memory module as separate circuits separately from the semiconductor integrated circuit device, the noise resistance performance of the semiconductor integrated circuit device is greatly improved. And deterioration of characteristics such as refresh characteristics can be greatly reduced.

【0059】(4)上記(1)〜(3)により、メモリ
モジュールの動作マージンを大幅に向上することがで
き、かつメモリモジュールのコストを大幅に低減するこ
とができる。
(4) According to the above (1) to (3), the operating margin of the memory module can be greatly improved, and the cost of the memory module can be significantly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1によるメモリモジュール
におけるメモリを実装したモジュール配線基板における
実装の説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram of mounting on a module wiring board on which a memory is mounted in a memory module according to a first embodiment of the present invention;

【図2】本発明の実施の形態2によるメモリモジュール
におけるメモリを実装したモジュール配線基板の実装の
説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view of mounting a module wiring board on which a memory is mounted in a memory module according to a second embodiment of the present invention;

【図3】メモリモジュールにおけるメモリとインタフェ
ース回路の接続説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of connection between a memory and an interface circuit in a memory module.

【図4】メモリモジュールにおけるメモリとインタフェ
ース回路の配線説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of wiring between a memory and an interface circuit in the memory module.

【図5】本発明の他の実施の形態によるメモリモジュー
ルにおけるメモリを実装したモジュール配線基板の実装
の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory view of mounting a module wiring board on which a memory is mounted in a memory module according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 モジュール配線基板(プリント配線基板) 1a 表面 1b 裏面 2 メモリ(半導体集積回路装置) 2a メモリ(半導体集積回路装置) 3 電源IC(分離回路、電源回路) 4 インタフェースIC(分離回路、インタフェース回
路) MM メモリモジュール MT モジュールI/O端子 C コンデンサ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Module wiring board (printed wiring board) 1a Front surface 1b Back surface 2 Memory (semiconductor integrated circuit device) 2a Memory (semiconductor integrated circuit device) 3 Power supply IC (separation circuit, power supply circuit) 4 Interface IC (separation circuit, interface circuit) MM Memory module MT module I / O terminal C capacitor

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体メモリからなる少なくとも1個の
半導体集積回路装置と、 前記半導体集積回路装置が構成される電子回路の内、前
記半導体集積回路装置の動作に悪影響を及ぼす電子回路
により構成された分離回路と、 前記半導体集積回路装置および前記分離回路が実装さ
れ、前記半導体集積回路装置と前記分離回路との所定の
配線を行う配線パターンが形成されたプリント配線基板
とよりなることを特徴とするメモリモジュール。
At least one semiconductor integrated circuit device comprising a semiconductor memory, and an electronic circuit which adversely affects the operation of the semiconductor integrated circuit device among electronic circuits constituting the semiconductor integrated circuit device. An isolation circuit; and a printed wiring board on which the semiconductor integrated circuit device and the isolation circuit are mounted and on which a wiring pattern for performing predetermined wiring between the semiconductor integrated circuit device and the isolation circuit is formed. Memory module.
【請求項2】 請求項1記載のメモリモジュールにおい
て、前記分離回路が、すべての前記半導体集積回路装置
に供給される内部電源を生成する電源回路であることを
特徴とするメモリモジュール。
2. The memory module according to claim 1, wherein said separation circuit is a power supply circuit for generating an internal power supply supplied to all of said semiconductor integrated circuit devices.
【請求項3】 請求項2記載のメモリモジュールにおい
て、前記電源回路が、ワード線電位として供給される昇
圧電源を生成する昇圧電源回路よりなることを特徴とす
るメモリモジュール。
3. The memory module according to claim 2, wherein said power supply circuit comprises a boosted power supply circuit for generating a boosted power supply supplied as a word line potential.
【請求項4】 請求項1または2記載のメモリモジュー
ルにおいて、前記分離回路が、すべての前記半導体集積
回路装置における入出力のデータのインタフェースを行
うインタフェース回路であることを特徴とするメモリモ
ジュール。
4. The memory module according to claim 1, wherein said separation circuit is an interface circuit for interfacing input / output data in all said semiconductor integrated circuit devices.
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