JPH1119801A - 割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤 - Google Patents
割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤Info
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- JPH1119801A JPH1119801A JP17710297A JP17710297A JPH1119801A JP H1119801 A JPH1119801 A JP H1119801A JP 17710297 A JP17710297 A JP 17710297A JP 17710297 A JP17710297 A JP 17710297A JP H1119801 A JPH1119801 A JP H1119801A
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- microscope
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 経験度を要することなく割り出しテーブルの
旋回中心位置の計測を高精度に行うこと。 【解決手段】 割り出しテーブル１３の旋回中心位置に
取り付けられた測定基準ブロック１７の外周面の最左位
置と最右位置とを顕微鏡２１により拡大観察してこの最
左位置と最右位置のＸ座標値より割り出しテーブル１３
の旋回中心のＸ座標値を算出し、顕微鏡２１により測定
基準ブロック１７の外周面の最上位置と最下位置とを拡
大観察してこの最上位置と最下位置のＸ座標値より割り
出しテーブル１３の旋回中心のＹ座標値を算出して割り
出しテーブル１３の旋回中心位置の測定する。
旋回中心位置の計測を高精度に行うこと。 【解決手段】 割り出しテーブル１３の旋回中心位置に
取り付けられた測定基準ブロック１７の外周面の最左位
置と最右位置とを顕微鏡２１により拡大観察してこの最
左位置と最右位置のＸ座標値より割り出しテーブル１３
の旋回中心のＸ座標値を算出し、顕微鏡２１により測定
基準ブロック１７の外周面の最上位置と最下位置とを拡
大観察してこの最上位置と最下位置のＸ座標値より割り
出しテーブル１３の旋回中心のＹ座標値を算出して割り
出しテーブル１３の旋回中心位置の測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、割り出しテーブ
ルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤に関し、特
に、竪旋盤に設けられてバイト工具の刃物傾き角を可変
設定する割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法お
よび竪旋盤に関するものである。
ルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤に関し、特
に、竪旋盤に設けられてバイト工具の刃物傾き角を可変
設定する割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法お
よび竪旋盤に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】竪旋盤によってフレネルレンズやそれの
成形金型を切削加工する場合、フレネルレンズ角がレン
ズ中心からの半径に応じて連続的に変化するから、バイ
ト工具の刃物傾き角をフレネルレンズ角に合わせて連続
的に変化される必要があり、このバイト工具の刃物傾き
角の可変設定は、バイト工具を割り出しテーブルに取り
付けることで、割り出しテーブルの旋回により行われて
いる。
成形金型を切削加工する場合、フレネルレンズ角がレン
ズ中心からの半径に応じて連続的に変化するから、バイ
ト工具の刃物傾き角をフレネルレンズ角に合わせて連続
的に変化される必要があり、このバイト工具の刃物傾き
角の可変設定は、バイト工具を割り出しテーブルに取り
付けることで、割り出しテーブルの旋回により行われて
いる。
【０００３】バイト工具の刃物傾き角が変化すると、そ
の刃物傾き角に応じて刃先の座標位置（機械座標位置）
が変化するから、刃物傾き角に応じて工具補正を行う必
要がある。この工具補正のためには、割り出しテーブル
の旋回中心位置と刃先位置とが正確に判っている分かっ
ている必要がある。
の刃物傾き角に応じて刃先の座標位置（機械座標位置）
が変化するから、刃物傾き角に応じて工具補正を行う必
要がある。この工具補正のためには、割り出しテーブル
の旋回中心位置と刃先位置とが正確に判っている分かっ
ている必要がある。
【０００４】従来、この割り出しテーブルの旋回中心位
置と刃先位置の計測は専用機器では行われておらず、作
業者の直接的な目視により割り出しテーブルの旋回中心
位置と刃先位置の計測が行われている。
置と刃先位置の計測は専用機器では行われておらず、作
業者の直接的な目視により割り出しテーブルの旋回中心
位置と刃先位置の計測が行われている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】作業者の直接的な目視
による割り出しテーブルの旋回中心位置と刃先位置の計
測では、経験度が必要であり、特に割り出しテーブルの
旋回中心位置の計測は難しく、測定精度には限度があ
る。
による割り出しテーブルの旋回中心位置と刃先位置の計
測では、経験度が必要であり、特に割り出しテーブルの
旋回中心位置の計測は難しく、測定精度には限度があ
る。
【０００６】このため、刃物傾き角に応じた工具補正が
高精度に行われなくなり、特に、フレネルレンズのよう
な精密光学機器の製作では、所要の工具補正精度を得る
ことができず、割り出しテーブルの旋回中心位置の計測
が高精度に行われないことが、高品質の精密光学機器を
製作できなくする一つの原因になっている。
高精度に行われなくなり、特に、フレネルレンズのよう
な精密光学機器の製作では、所要の工具補正精度を得る
ことができず、割り出しテーブルの旋回中心位置の計測
が高精度に行われないことが、高品質の精密光学機器を
製作できなくする一つの原因になっている。
【０００７】この発明は、上述の如き問題点に着目して
なされたものであり、経験度を要することなく割り出し
テーブルの旋回中心位置の計測を高精度に行うことがで
きる測定方法および竪旋盤を提供することを目的として
いる。
なされたものであり、経験度を要することなく割り出し
テーブルの旋回中心位置の計測を高精度に行うことがで
きる測定方法および竪旋盤を提供することを目的として
いる。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、請求項１の発明による割り出しテーブルの旋回中
心位置の測定方法は、割り出しテーブルに当該割り出し
テーブルの旋回中心と同心の位置に円柱体あるいは円筒
体による測定基準ブロックを固定し、割り出しテーブル
と機械フレーム側に設けられた顕微鏡とを相対的にＸ座
標軸方向に移動させて前記顕微鏡により前記測定基準ブ
ロックの外周面の最左位置を拡大観察してこの最左位置
のＸ座標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度
旋回させ、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対
的にＸ座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基
準ブロックの外周面の最右位置を拡大観察してこの最右
位置のＸ座標値を取得し、前記測定基準ブロックの最左
位置のＸ座標値と最右位置のＸ座標値とから前記割り出
しテーブルの旋回中心のＸ座標値を算出し、前記割り出
しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にＹ座標軸方向に移
動させて前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の
最上位置を拡大観察してこの最上位置のＹ座標値を取得
し、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にＹ
座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基準ブロ
ックの外周面の最下位置を拡大観察してこの最下位置の
Ｙ座標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度旋
回させ、前記測定基準ブロックの最上位置のＹ座標値と
最下位置のＹ座標値とから前記割り出しテーブルの旋回
中心のＹ座標値を算出し、前記割り出しテーブルの旋回
中心のＸ座標値とＹ座標値とを得るものである。
めに、請求項１の発明による割り出しテーブルの旋回中
心位置の測定方法は、割り出しテーブルに当該割り出し
テーブルの旋回中心と同心の位置に円柱体あるいは円筒
体による測定基準ブロックを固定し、割り出しテーブル
と機械フレーム側に設けられた顕微鏡とを相対的にＸ座
標軸方向に移動させて前記顕微鏡により前記測定基準ブ
ロックの外周面の最左位置を拡大観察してこの最左位置
のＸ座標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度
旋回させ、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対
的にＸ座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基
準ブロックの外周面の最右位置を拡大観察してこの最右
位置のＸ座標値を取得し、前記測定基準ブロックの最左
位置のＸ座標値と最右位置のＸ座標値とから前記割り出
しテーブルの旋回中心のＸ座標値を算出し、前記割り出
しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にＹ座標軸方向に移
動させて前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の
最上位置を拡大観察してこの最上位置のＹ座標値を取得
し、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にＹ
座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基準ブロ
ックの外周面の最下位置を拡大観察してこの最下位置の
Ｙ座標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度旋
回させ、前記測定基準ブロックの最上位置のＹ座標値と
最下位置のＹ座標値とから前記割り出しテーブルの旋回
中心のＹ座標値を算出し、前記割り出しテーブルの旋回
中心のＸ座標値とＹ座標値とを得るものである。
【０００９】請求項２の発明による割り出しテーブルの
旋回中心位置の測定方法は、前記割り出しテーブルが、
竪旋盤に設けられてバイト工具を装着され、旋回により
前記バイト工具の刃物傾き角を可変設定するものであ
る。
旋回中心位置の測定方法は、前記割り出しテーブルが、
竪旋盤に設けられてバイト工具を装着され、旋回により
前記バイト工具の刃物傾き角を可変設定するものであ
る。
【００１０】また、上述の目的を達成するために、請求
項３の発明による竪旋盤は、軸移動可能に設けられた割
り出しテーブルの旋回中心と同心の位置に固定された円
柱体あるいは円筒体による測定基準ブロックと、機械フ
レーム側に固定され前記割り出しテーブルの軸移動可能
範囲内で前記測定基準ブロックの外周面位置を拡大観察
できるクロスカーソルライン付きの顕微鏡とを有してい
るものである。
項３の発明による竪旋盤は、軸移動可能に設けられた割
り出しテーブルの旋回中心と同心の位置に固定された円
柱体あるいは円筒体による測定基準ブロックと、機械フ
レーム側に固定され前記割り出しテーブルの軸移動可能
範囲内で前記測定基準ブロックの外周面位置を拡大観察
できるクロスカーソルライン付きの顕微鏡とを有してい
るものである。
【００１１】この竪旋盤では、割り出しテーブルをＸ座
標軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルラインに
よって測定基準ブロックの外周面の最左位置を拡大観察
してこの最左位置のＸ座標値を取得し、前記割り出しテ
ーブルを１８０度旋回させ、割り出しテーブルをＸ座標
軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルラインによ
って測定基準ブロックの外周面の最右位置を拡大観察し
てこの最右位置のＸ座標値を取得し、測定基準ブロック
の最左位置のＸ座標値と最右位置のＸ座標値とから前記
割り出しテーブルの旋回中心のＸ座標値を算出する。ま
た、割り出しテーブルをＹ座標軸方向に移動させて顕微
鏡のクロスカーソルラインによって測定基準ブロックの
外周面の最上位置を拡大観察してこの最上位置のＹ座標
値を取得し、割り出しテーブルをＹ座標軸方向に移動さ
せて顕微鏡のクロスカーソルラインによって測定基準ブ
ロックの外周面の最下位置を拡大観察してこの最下位置
のＹ座標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度
旋回させ、前記測定基準ブロックの最上位置のＹ座標値
と最下位置のＹ座標値とから前記割り出しテーブルの旋
回中心のＹ座標値を算出する。これにより割り出しテー
ブルの旋回中心のＸ座標値とＹ座標値とを得ることがで
きる。
標軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルラインに
よって測定基準ブロックの外周面の最左位置を拡大観察
してこの最左位置のＸ座標値を取得し、前記割り出しテ
ーブルを１８０度旋回させ、割り出しテーブルをＸ座標
軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルラインによ
って測定基準ブロックの外周面の最右位置を拡大観察し
てこの最右位置のＸ座標値を取得し、測定基準ブロック
の最左位置のＸ座標値と最右位置のＸ座標値とから前記
割り出しテーブルの旋回中心のＸ座標値を算出する。ま
た、割り出しテーブルをＹ座標軸方向に移動させて顕微
鏡のクロスカーソルラインによって測定基準ブロックの
外周面の最上位置を拡大観察してこの最上位置のＹ座標
値を取得し、割り出しテーブルをＹ座標軸方向に移動さ
せて顕微鏡のクロスカーソルラインによって測定基準ブ
ロックの外周面の最下位置を拡大観察してこの最下位置
のＹ座標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度
旋回させ、前記測定基準ブロックの最上位置のＹ座標値
と最下位置のＹ座標値とから前記割り出しテーブルの旋
回中心のＹ座標値を算出する。これにより割り出しテー
ブルの旋回中心のＸ座標値とＹ座標値とを得ることがで
きる。
【００１２】また、割り出しテーブルをＸ座標軸方向と
Ｙ座標軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルライ
ンによって割り出しテーブルの装備されているバイト工
具の刃先位置を拡大観察して刃先位置のＸ座標値とＹ座
標値とを取得することができる。
Ｙ座標軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルライ
ンによって割り出しテーブルの装備されているバイト工
具の刃先位置を拡大観察して刃先位置のＸ座標値とＹ座
標値とを取得することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下にこの発明の実施の形態を図
面を用いて詳細に説明する。
面を用いて詳細に説明する。
【００１４】図１〜図３はこの発明による割り出しテー
ブルの旋回中心位置の測定方法の実施に使用される竪旋
盤の一つの実施の形態を示している。この竪旋盤はＮＣ
旋盤であり、ワークテーブル台１と、ワークテーブル台
１上に配置されて電動機３によって垂直軸周りに回転駆
動されるワークテーブル５と、コの字形のコラム組立体
７と、コラム組立体７にＸ座標軸方向（図１で左右方
向）に軸移動可能に設けられたサドル９と、サドル９に
Ｙ座標軸方向（垂直方向）に軸移動可能に設けられたラ
ム１１と、ラム１１の下端にＢ軸周りに旋回可能に設け
られた割り出しテーブル（タレット刃物台）１３とを有
し、割り出しテーブル１３にバイト工具Ｔ（図３参照）
が取り付けられている。割り出しテーブル１３はＢ軸周
りの旋回（Ｂ軸制御）によりバイト工具Ｔの刃物傾き角
を連続的に可変設定する。
ブルの旋回中心位置の測定方法の実施に使用される竪旋
盤の一つの実施の形態を示している。この竪旋盤はＮＣ
旋盤であり、ワークテーブル台１と、ワークテーブル台
１上に配置されて電動機３によって垂直軸周りに回転駆
動されるワークテーブル５と、コの字形のコラム組立体
７と、コラム組立体７にＸ座標軸方向（図１で左右方
向）に軸移動可能に設けられたサドル９と、サドル９に
Ｙ座標軸方向（垂直方向）に軸移動可能に設けられたラ
ム１１と、ラム１１の下端にＢ軸周りに旋回可能に設け
られた割り出しテーブル（タレット刃物台）１３とを有
し、割り出しテーブル１３にバイト工具Ｔ（図３参照）
が取り付けられている。割り出しテーブル１３はＢ軸周
りの旋回（Ｂ軸制御）によりバイト工具Ｔの刃物傾き角
を連続的に可変設定する。
【００１５】なお、サドル９のＸ座標軸移動とラム１１
のＹ座標軸移動は、各々図示省略のＸ軸サーボモータ、
Ｙ軸サーボモータによりフィードバック制御式に行わ
れ、割り出しテーブル１３の旋回はＢ軸サーボモータ１
５によりフィードバック制御式に行われる。
のＹ座標軸移動は、各々図示省略のＸ軸サーボモータ、
Ｙ軸サーボモータによりフィードバック制御式に行わ
れ、割り出しテーブル１３の旋回はＢ軸サーボモータ１
５によりフィードバック制御式に行われる。
【００１６】割り出しテーブル１３の旋回中心と同心の
位置には円柱体あるいは円筒体による測定基準ブロック
１７が取り外し可能に固定装着されている。この測定基
準ブロック１７は、割り出しテーブル１３の基準半径が
１００〜１５０ｍｍ程度である場合には、直径が１５〜
２５ｍｍ程度のものであり、真円度が高いものである。
位置には円柱体あるいは円筒体による測定基準ブロック
１７が取り外し可能に固定装着されている。この測定基
準ブロック１７は、割り出しテーブル１３の基準半径が
１００〜１５０ｍｍ程度である場合には、直径が１５〜
２５ｍｍ程度のものであり、真円度が高いものである。
【００１７】コラム７にはガイド部材１９によって顕微
鏡２１が吊り下げ式に設けられている。顕微鏡２１は、
１００倍程度の倍率で、ファインダ２３内に可視のクロ
スカーソルライン（図５参照）２５を有し、割り出しテ
ーブル１３の軸移動可能範囲内で、割り出しテーブル１
３の旋測定基準ブロック１７の外周面位置とバイト工具
Ｔの刃先位置とを拡大観察できるようになっている。
鏡２１が吊り下げ式に設けられている。顕微鏡２１は、
１００倍程度の倍率で、ファインダ２３内に可視のクロ
スカーソルライン（図５参照）２５を有し、割り出しテ
ーブル１３の軸移動可能範囲内で、割り出しテーブル１
３の旋測定基準ブロック１７の外周面位置とバイト工具
Ｔの刃先位置とを拡大観察できるようになっている。
【００１８】つぎに、図４、図５を参照して割り出しテ
ーブル１３の旋回中心位置の測定と、工具刃先初期傾き
角検出および刃物傾き角による工具補正の要領を説明す
る。なお、図４において、Ｗはフレネルレンズ成形金型
を示しており、ワークテーブル５の回転によりフレネル
レンズ成形金型Ｗをレンズ中心周りに回転させて、サド
ル９のＸ座標軸移動とラム１１のＹ座標軸移動と割り出
しテーブル１３のＢ軸旋回によりフレネルレンズ溝ｆを
彫成する。
ーブル１３の旋回中心位置の測定と、工具刃先初期傾き
角検出および刃物傾き角による工具補正の要領を説明す
る。なお、図４において、Ｗはフレネルレンズ成形金型
を示しており、ワークテーブル５の回転によりフレネル
レンズ成形金型Ｗをレンズ中心周りに回転させて、サド
ル９のＸ座標軸移動とラム１１のＹ座標軸移動と割り出
しテーブル１３のＢ軸旋回によりフレネルレンズ溝ｆを
彫成する。
【００１９】（１）まず、割り出しテーブル１３の旋回
中心と同心の位置に測定基準ブロック１７をねじ等によ
って取り付ける。
中心と同心の位置に測定基準ブロック１７をねじ等によ
って取り付ける。
【００２０】（２）次に、サドル９のＸ座標軸方向の移
動とラム１１のＹ座標軸方向の移動により、割り出しテ
ーブル１３の測定基準ブロック１７が顕微鏡２１の視界
内に入るように移動させ、顕微鏡２１により測定基準ブ
ロック１７の外周面を拡大観察し、図５（ａ）に示され
ているように、測定基準ブロック１７の外周面の最左部
がファインダ２３内のクロスカーソルライン２５の垂直
線に接した位置でのＸ座標値Ｘｍｌを取得（記録）す
る。
動とラム１１のＹ座標軸方向の移動により、割り出しテ
ーブル１３の測定基準ブロック１７が顕微鏡２１の視界
内に入るように移動させ、顕微鏡２１により測定基準ブ
ロック１７の外周面を拡大観察し、図５（ａ）に示され
ているように、測定基準ブロック１７の外周面の最左部
がファインダ２３内のクロスカーソルライン２５の垂直
線に接した位置でのＸ座標値Ｘｍｌを取得（記録）す
る。
【００２１】（３）次に、割り出しテーブル１３を１８
０度旋回させて左右反転させ、サドル９をＸ座標軸方向
に移動させて顕微鏡２１により測定基準ブロック１７の
外周面を拡大観察し、図５（ｂ）に示されているよう
に、測定基準ブロック１７の外周面の最右部がファイン
ダ２３内のクロスカーソルライン２５の垂直線に接した
位置でのＸ座標値Ｘｍｒを取得（記録）する。
０度旋回させて左右反転させ、サドル９をＸ座標軸方向
に移動させて顕微鏡２１により測定基準ブロック１７の
外周面を拡大観察し、図５（ｂ）に示されているよう
に、測定基準ブロック１７の外周面の最右部がファイン
ダ２３内のクロスカーソルライン２５の垂直線に接した
位置でのＸ座標値Ｘｍｒを取得（記録）する。
【００２２】（４）次に、割り出しテーブル１３を９０
度旋回させ、サドル９をＸ座標軸方向に移動させると共
にラム１１をＹ座標軸方向に移動させて顕微鏡２１によ
り測定基準ブロック１７の外周面を拡大観察し、図５
（ｃ）に示されているように、測定基準ブロック１７の
外周面の最上部がファインダ２３内のクロスカーソルラ
イン２５の水平線に接した位置でのＹ座標値Ｙｍｕを取
得（記録）する。
度旋回させ、サドル９をＸ座標軸方向に移動させると共
にラム１１をＹ座標軸方向に移動させて顕微鏡２１によ
り測定基準ブロック１７の外周面を拡大観察し、図５
（ｃ）に示されているように、測定基準ブロック１７の
外周面の最上部がファインダ２３内のクロスカーソルラ
イン２５の水平線に接した位置でのＹ座標値Ｙｍｕを取
得（記録）する。
【００２３】（５）次に、割り出しテーブル１３を１８
０度旋回させて上下反転させ、サドル９をＸ座標軸方向
に移動させて顕微鏡２１により測定基準ブロック１７の
外周面を拡大観察し、図５（ｄ）に示されているよう
に、測定基準ブロック１７の外周面の最下部がファイン
ダ２３内のクロスカーソルライン２５の水平線に接した
位置でのＹ座標値Ｙｍｄを取得（記録）する。
０度旋回させて上下反転させ、サドル９をＸ座標軸方向
に移動させて顕微鏡２１により測定基準ブロック１７の
外周面を拡大観察し、図５（ｄ）に示されているよう
に、測定基準ブロック１７の外周面の最下部がファイン
ダ２３内のクロスカーソルライン２５の水平線に接した
位置でのＹ座標値Ｙｍｄを取得（記録）する。
【００２４】（６）Ｘ座標値Ｘｍｒ＋｛（Ｘ座標値Ｘｍ
ｌ−Ｘ座標値Ｘｍｒ）／２｝なる演算によって割り出し
テーブル１３の旋回中心のＸ座標値Ｘｍを算出し、Ｙ座
標値Ｙｍｄ＋｛（Ｙ座標値Ｘｍｕ−Ｘ座標値Ｘｍｄ）／
２｝なる演算によって割り出しテーブル１３の旋回中心
のＹ座標値Ｙｍを算出する。これにより、図４に示され
ているような、割り出しテーブル１３の旋回中心の座標
値（Ｘｍ、Ｙｍ）が判明する。
ｌ−Ｘ座標値Ｘｍｒ）／２｝なる演算によって割り出し
テーブル１３の旋回中心のＸ座標値Ｘｍを算出し、Ｙ座
標値Ｙｍｄ＋｛（Ｙ座標値Ｘｍｕ−Ｘ座標値Ｘｍｄ）／
２｝なる演算によって割り出しテーブル１３の旋回中心
のＹ座標値Ｙｍを算出する。これにより、図４に示され
ているような、割り出しテーブル１３の旋回中心の座標
値（Ｘｍ、Ｙｍ）が判明する。
【００２５】（７）次に、サドル９のＸ座標軸方向の移
動とラム１１のＹ座標軸方向の移動により、割り出しテ
ーブル１３の旋回角が０度である状態において割り出し
テーブル１３の工具Ｔの刃先が顕微鏡２１の視界内に入
るように移動させ、顕微鏡２１により工具Ｔの刃先を拡
大観察し、図５（ｅ）に示されているように、工具Ｔの
刃先がファインダ２３内のクロスカーソルライン２５の
垂直線と水平線との交差点に合致した位置でのＸ座標値
ＸｔとＹ座標値Ｙｔとを取得（記録）する。これによ
り、図４に示されているような、割り出しテーブル１３
に取り付けられている旋回角０度での工具Ｔの刃先の座
標値（Ｘｔ、Ｙｔ）が判明する。
動とラム１１のＹ座標軸方向の移動により、割り出しテ
ーブル１３の旋回角が０度である状態において割り出し
テーブル１３の工具Ｔの刃先が顕微鏡２１の視界内に入
るように移動させ、顕微鏡２１により工具Ｔの刃先を拡
大観察し、図５（ｅ）に示されているように、工具Ｔの
刃先がファインダ２３内のクロスカーソルライン２５の
垂直線と水平線との交差点に合致した位置でのＸ座標値
ＸｔとＹ座標値Ｙｔとを取得（記録）する。これによ
り、図４に示されているような、割り出しテーブル１３
に取り付けられている旋回角０度での工具Ｔの刃先の座
標値（Ｘｔ、Ｙｔ）が判明する。
【００２６】（８）工具実旋回半径（工具長）Ｌと、旋
回角０度での工具刃先初期傾き角αを下式により算出す
る。
回角０度での工具刃先初期傾き角αを下式により算出す
る。
【００２７】χ＝Ｘｍ−Ｘｔ ｙ＝Ｙｍ−Ｙｔ Ｌ＝〓√（χ2 ＋ｙ2 ) α＝ａｒｃｓｉｎ（χ／ｙ） （９）割り出しテーブル１３の旋回角がθである場合の
刃先の座標値（Ｘ、Ｙ）は下式により算出できる。
刃先の座標値（Ｘ、Ｙ）は下式により算出できる。
【００２８】Ｘ＝Ｌ・ｓｉｎ（α＋θ） Ｙ＝Ｌ・ｃｏｓ（α＋θ） 以上により、経験度を要することなく割り出しテーブル
１３の旋回中心位置の計測が高精度に行うことができ、
このことに応じて工具実旋回半径Ｌと、旋回角０度での
工具刃先初期傾き角αが高精度に求められ、割り出しテ
ーブル１３の旋回角がθである場合の刃先の座標値
（Ｘ、Ｙ）より、フレネルレンズ成形金型の製作等にお
いて、所要の工具補正精度を得ることができるようにな
る。
１３の旋回中心位置の計測が高精度に行うことができ、
このことに応じて工具実旋回半径Ｌと、旋回角０度での
工具刃先初期傾き角αが高精度に求められ、割り出しテ
ーブル１３の旋回角がθである場合の刃先の座標値
（Ｘ、Ｙ）より、フレネルレンズ成形金型の製作等にお
いて、所要の工具補正精度を得ることができるようにな
る。
【００２９】なお、上述の実施の形態では、工具がＸ座
標軸方向とＹ座標軸方向とに軸移動するものについて述
べたが、座標軸名は、便宜上、定義しているだけで、こ
れ以外の組み合わせによる軸移動のもので、この発明は
上述の実施の形態と同様に適用できる。
標軸方向とＹ座標軸方向とに軸移動するものについて述
べたが、座標軸名は、便宜上、定義しているだけで、こ
れ以外の組み合わせによる軸移動のもので、この発明は
上述の実施の形態と同様に適用できる。
【００３０】以上に於ては、この発明を特定の実施の形
態について詳細に説明したが、この発明は、これに限定
されるものではなく、この発明の範囲内にて種々の実施
の形態が可能であることは当業者にとって明らかであろ
う。
態について詳細に説明したが、この発明は、これに限定
されるものではなく、この発明の範囲内にて種々の実施
の形態が可能であることは当業者にとって明らかであろ
う。
【００３１】
【発明の効果】以上の説明から理解される如く、請求項
１の発明による割り出しテーブルの旋回中心位置の測定
方法によれば、割り出しテーブルの旋回中心位置に取り
付けられた測定基準ブロックの外周面の最左位置と最右
位置とを顕微鏡により拡大観察してこの最左位置と最右
位置のＸ座標値より割り出しテーブルの旋回中心のＸ座
標値を算出し、顕微鏡により測定基準ブロックの外周面
の最上位置と最下位置とを拡大観察してこの最上位置と
最下位置のＸ座標値より割り出しテーブルの旋回中心の
Ｙ座標値を算出して割り出しテーブルの旋回中心位置の
測定するから、割り出しテーブルの旋回中心位置の測定
が、作業者の経験度を要することなく高精度に行われる
ようになる。
１の発明による割り出しテーブルの旋回中心位置の測定
方法によれば、割り出しテーブルの旋回中心位置に取り
付けられた測定基準ブロックの外周面の最左位置と最右
位置とを顕微鏡により拡大観察してこの最左位置と最右
位置のＸ座標値より割り出しテーブルの旋回中心のＸ座
標値を算出し、顕微鏡により測定基準ブロックの外周面
の最上位置と最下位置とを拡大観察してこの最上位置と
最下位置のＸ座標値より割り出しテーブルの旋回中心の
Ｙ座標値を算出して割り出しテーブルの旋回中心位置の
測定するから、割り出しテーブルの旋回中心位置の測定
が、作業者の経験度を要することなく高精度に行われる
ようになる。
【００３２】請求項２の発明による割り出しテーブルの
旋回中心位置の測定方法によれば、割り出しテーブル
が、竪旋盤に設けられてバイト工具を装着され、旋回に
よりバイト工具の刃物傾き角を可変設定するものである
ことにより、フレネルレンズやフレネルレンズ成形金型
を切削する竪旋盤において、割り出しテーブルの旋回中
心位置の測定が、作業者の経験度を要することなく高精
度に行われるようになり、高精度のフレネルレンズやフ
レネルレンズ成形金型が製作され得るようになる。
旋回中心位置の測定方法によれば、割り出しテーブル
が、竪旋盤に設けられてバイト工具を装着され、旋回に
よりバイト工具の刃物傾き角を可変設定するものである
ことにより、フレネルレンズやフレネルレンズ成形金型
を切削する竪旋盤において、割り出しテーブルの旋回中
心位置の測定が、作業者の経験度を要することなく高精
度に行われるようになり、高精度のフレネルレンズやフ
レネルレンズ成形金型が製作され得るようになる。
【００３３】請求項３の発明による竪旋盤によれば、顕
微鏡により測定基準ブロックの外周面の最左位置と最右
位置とを拡大観察してこの最左位置と最右位置のＸ座標
値より割り出しテーブルの旋回中心のＸ座標値を算出
し、顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最上位置
と最下位置とを拡大観察してこの最上位置と最下位置の
Ｘ座標値より割り出しテーブルの旋回中心のＹ座標値を
算出して割り出しテーブルの旋回中心位置を高精度に測
定でき、また割り出しテーブルをＸ座標軸方向とＹ座標
軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルラインによ
って割り出しテーブルの装備されているバイト工具の刃
先位置を拡大観察してバイト工具の刃先位置を高精度に
測定することができる。
微鏡により測定基準ブロックの外周面の最左位置と最右
位置とを拡大観察してこの最左位置と最右位置のＸ座標
値より割り出しテーブルの旋回中心のＸ座標値を算出
し、顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最上位置
と最下位置とを拡大観察してこの最上位置と最下位置の
Ｘ座標値より割り出しテーブルの旋回中心のＹ座標値を
算出して割り出しテーブルの旋回中心位置を高精度に測
定でき、また割り出しテーブルをＸ座標軸方向とＹ座標
軸方向に移動させて顕微鏡のクロスカーソルラインによ
って割り出しテーブルの装備されているバイト工具の刃
先位置を拡大観察してバイト工具の刃先位置を高精度に
測定することができる。
【図１】この発明による割り出しテーブルの旋回中心位
置の測定方法の実施に使用される竪旋盤の一つの実施の
形態を側面図である。
置の測定方法の実施に使用される竪旋盤の一つの実施の
形態を側面図である。
【図２】この発明による割り出しテーブルの旋回中心位
置の測定方法の実施に使用される竪旋盤の一つの実施の
形態を正面図である。
置の測定方法の実施に使用される竪旋盤の一つの実施の
形態を正面図である。
【図３】この発明による割り出しテーブルの旋回中心位
置の測定方法の実施に使用される竪旋盤の割り出しテー
ブルの拡大図である。
置の測定方法の実施に使用される竪旋盤の割り出しテー
ブルの拡大図である。
【図４】この発明による割り出しテーブルの旋回中心位
置と刃先位置との関係を示す説明図である。
置と刃先位置との関係を示す説明図である。
【図５】（ａ）〜（ｅ）は、この発明による割り出しテ
ーブルの旋回中心位置および刃先位置の測定要領を示す
説明図である。
ーブルの旋回中心位置および刃先位置の測定要領を示す
説明図である。
１ ワークテーブル台 ５ ワークテーブル ７ コラム組立体 ９ サドル １１ ラム １３ 割り出しテーブル １７ 割り出しテーブル １７ 測定基準ブロック ２１ 顕微鏡 ２５ クロスカーソルライン Ｔ バイト工具
Claims (3)
- 【請求項１】 割り出しテーブルに当該割り出しテーブ
ルの旋回中心と同心の位置に円柱体あるいは円筒体によ
る測定基準ブロックを固定し、割り出しテーブルと機械
フレーム側に設けられた顕微鏡とを相対的にＸ座標軸方
向に移動させて前記顕微鏡により前記測定基準ブロック
の外周面の最左位置を拡大観察してこの最左位置のＸ座
標値を取得し、前記割り出しテーブルを１８０度旋回さ
せ、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にＸ
座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基準ブロ
ックの外周面の最右位置を拡大観察してこの最右位置の
Ｘ座標値を取得し、前記測定基準ブロックの最左位置の
Ｘ座標値と最右位置のＸ座標値とから前記割り出しテー
ブルの旋回中心のＸ座標値を算出し、前記割り出しテー
ブルと前記顕微鏡とを相対的にＹ座標軸方向に移動させ
て前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最上位
置を拡大観察してこの最上位置のＹ座標値を取得し、前
記割り出しテーブルを１８０度旋回させ、前記割り出し
テーブルと前記顕微鏡とを相対的にＹ座標軸方向に移動
させて前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最
下位置を拡大観察してこの最下位置のＹ座標値を取得
し、 前記測定基準ブロックの最上位置のＹ座標値と最下位置
のＹ座標値とから前記割り出しテーブルの旋回中心のＹ
座標値を算出し、前記割り出しテーブルの旋回中心のＸ
座標値とＹ座標値とを得ることを相対的に特徴とする割
り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法。 - 【請求項２】 前記割り出しテーブルは、竪旋盤に設け
られてバイト工具を装着され、旋回により前記バイト工
具の刃物傾き角を可変設定することを特徴とする請求項
１に記載の割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方
法。 - 【請求項３】 軸移動可能に設けられた割り出しテーブ
ルの旋回中心と同心の位置に固定された円柱体あるいは
円筒体による測定基準ブロックと、 機械フレーム側に固定され、前記割り出しテーブルの軸
移動可能範囲内で、前記測定基準ブロックの外周面位置
を拡大観察できるクロスカーソルライン付きの顕微鏡
と、 を有していることを特徴とする竪旋盤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17710297A JPH1119801A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | 割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17710297A JPH1119801A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | 割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1119801A true JPH1119801A (ja) | 1999-01-26 |
Family
ID=16025191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17710297A Pending JPH1119801A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | 割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1119801A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003071604A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-12 | Toshiba Mach Co Ltd | 立旋盤 |
| JP2003071603A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-12 | Toshiba Mach Co Ltd | 立旋盤 |
| JP2003089033A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Toshiba Mach Co Ltd | 集塵ノズル移動装置 |
| JP2003089025A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Toshiba Mach Co Ltd | 複合加工テーブルおよび同テーブルを備えた立旋盤 |
| CN1307019C (zh) * | 2004-10-11 | 2007-03-28 | 天水星火机床有限责任公司 | 透镜模板超精密车床结构 |
-
1997
- 1997-07-02 JP JP17710297A patent/JPH1119801A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003071604A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-12 | Toshiba Mach Co Ltd | 立旋盤 |
| JP2003071603A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-12 | Toshiba Mach Co Ltd | 立旋盤 |
| JP4643075B2 (ja) * | 2001-08-30 | 2011-03-02 | 東芝機械株式会社 | 立旋盤 |
| JP2003089033A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Toshiba Mach Co Ltd | 集塵ノズル移動装置 |
| JP2003089025A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Toshiba Mach Co Ltd | 複合加工テーブルおよび同テーブルを備えた立旋盤 |
| KR100563950B1 (ko) * | 2001-09-12 | 2006-03-29 | 도시바 기카이 가부시키가이샤 | 복합가공테이블 및 이 테이블을 구비한 수직선반 |
| CN1307019C (zh) * | 2004-10-11 | 2007-03-28 | 天水星火机床有限责任公司 | 透镜模板超精密车床结构 |
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