JPH11177174A - Light emitting module - Google Patents

Light emitting module

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JPH11177174A
JPH11177174A JP33963297A JP33963297A JPH11177174A JP H11177174 A JPH11177174 A JP H11177174A JP 33963297 A JP33963297 A JP 33963297A JP 33963297 A JP33963297 A JP 33963297A JP H11177174 A JPH11177174 A JP H11177174A
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JP
Japan
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light emitting
output
transistor
laser diode
voltage
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Application number
JP33963297A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuaki Nishie
光昭 西江
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent runaway of a semiconductor light emitting device due to malfunction of an APC control system. SOLUTION: When photocurrent becomes zero due to malfunction of an APC control system, the output voltage of a current-voltage converting part 3 becomes maximum and higher than a reference voltage Vth2 and the output level of an anomaly detecting part 5 becomes high. Then intermittent operation signals from an intermittent operation signals generating part 6 appear at the output of an AND gate 7 and at the output of a NOR gate 8. In response to the intermittent operation signals, a transistor 901 of a bias current controlling part 9 is intermittently driven and a transistor 1103 of a modulation current controlling part 11 is also intermittently driven.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体発光素子の
検出出力に基づき該半導体発光素子の出力を制御する発
光モジュールに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting module for controlling an output of a semiconductor light emitting device based on a detection output of the semiconductor light emitting device.

【0002】[0002]

【従来の技術】光通信では、送信側において電気信号を
光信号に変換することが行われており、電気信号を光信
号に変換するものとしては、例えば、図3に示すように
構成された発光モジュールが知られている。
2. Description of the Related Art In an optical communication, an electric signal is converted into an optical signal on a transmitting side, and the electric signal is converted into an optical signal, for example, as shown in FIG. Light emitting modules are known.

【0003】この発光モジュールでは、入力されたデジ
タルデータ信号に基づき、変調電流制御部31によりレ
ーザダイオード32が駆動制御され、レーザダイオード
32の変調電流が制御される。レーザダイオード32か
ら出射されるレーザ光は一部がフォトダイオード33に
よりモニタされ、フォトダイオード33に流れる光電流
がAPC(auto power control)制御部34により電圧
に変換されるとともに平滑化処理され、得られた電圧と
所定の基準電圧の差電圧がバイアス電流制御部35に印
加され、バイアス電流制御部35により差電圧に応じた
バイアス電流がレーザダイオード32に流され、レーザ
ダイオード32の発光出力が一定になるように制御され
る。バイアス電流および変調電流値とレーザダイオード
32の発光強度との関係の一例を図4に示す。
In this light-emitting module, the drive of the laser diode 32 is controlled by the modulation current controller 31 based on the input digital data signal, and the modulation current of the laser diode 32 is controlled. A part of the laser light emitted from the laser diode 32 is monitored by the photodiode 33, and the photocurrent flowing through the photodiode 33 is converted to a voltage by an APC (auto power control) control unit 34 and smoothed. The difference voltage between the applied voltage and the predetermined reference voltage is applied to the bias current control unit 35, and the bias current according to the difference voltage flows to the laser diode 32 by the bias current control unit 35, so that the light emission output of the laser diode 32 is constant. Is controlled so that FIG. 4 shows an example of the relationship between the bias current and the modulation current value and the emission intensity of the laser diode 32.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このように、レーザダ
イオード32はAPC制御されるので、APC制御系に
障害が発生して、APC制御部34により光電流が検出
されないと、バイアス電流制御部35により過大なバイ
アス電流がレーザダイオード32に流されることにな
り、レーザダイオード32が暴走することになる。そこ
で、このような場合には、ユーザがレーザダイオード3
2の駆動を強制的に停止させ、故障箇所を特定してAP
C制御系を回復させ、その後、再度、レーザダイオード
32を駆動させている。しかし、APC制御系が依然と
して機能せず、再び、APC制御系に正帰還がかかった
場合には、上述した帰還制御によりレーザダイオード3
2が過大に発光し、レーザダイオード光の安全性を取り
決めた国際規格であるIEC−825規格のクラス1で
規定されている8.8mW以上の出力が生じることもあ
った。
As described above, since the laser diode 32 is APC-controlled, if a failure occurs in the APC control system and no photocurrent is detected by the APC control unit 34, the bias current control unit 35 As a result, an excessive bias current flows to the laser diode 32, and the laser diode 32 runs away. Therefore, in such a case, the user sets the laser diode 3
2 is forcibly stopped, the fault location is identified and the AP
The C control system is restored, and thereafter, the laser diode 32 is driven again. However, if the APC control system still does not function and positive feedback is applied to the APC control system again, the laser diode 3
2 may emit too much light, and an output of 8.8 mW or more, which is specified in Class 1 of the IEC-825 standard, which is an international standard that regulates the safety of laser diode light, may occur.

【0005】本発明の目的は、上記のような問題点を解
決し、APC制御系の障害に起因する半導体発光素子の
暴走を防止することができる発光モジュールを提供する
ことにある。
It is an object of the present invention to provide a light emitting module which can solve the above-mentioned problems and can prevent runaway of a semiconductor light emitting element due to a failure in an APC control system.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の発光モジュール
は、半導体発光素子と、該半導体発光素子を所定の出力
になるように駆動制御する駆動制御手段と、該駆動制御
手段により駆動制御されている半導体発光素子の出力を
検出する出力検出手段とを有する発光モジュールにおい
て、前記出力検出手段により検出された出力が所定の基
準値より低いか否かを比較する比較手段と、該比較手段
により比較した結果、検出出力が所定の基準値より低い
場合に、前記半導体発光素子を間欠駆動制御する間欠駆
動制御手段とを備えている。
A light emitting module according to the present invention includes a semiconductor light emitting device, drive control means for driving and controlling the semiconductor light emitting device to have a predetermined output, and drive control by the drive control means. A light emitting module having output detection means for detecting the output of the semiconductor light emitting element, wherein the comparison means compares whether the output detected by the output detection means is lower than a predetermined reference value, and the comparison means And an intermittent drive control means for intermittently controlling the semiconductor light emitting element when the detection output is lower than a predetermined reference value.

【0007】本発明のモジュールは、さらに、半導体発
光素子の駆動を強制的に停止するための強制停止手段を
備えることができ、この強制停止手段は間欠駆動制御手
段よりも優先して動作することができる。
The module according to the present invention may further include a forced stop means for forcibly stopping the driving of the semiconductor light emitting element, and the forced stop means operates with priority over the intermittent drive control means. Can be.

【0008】半導体発光素子は半導体レーザダイオード
とすることができ、発光ダイオードとすることができ
る。
The semiconductor light emitting device can be a semiconductor laser diode, and can be a light emitting diode.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明の一実施の形態を示す。図1
において、1はレーザダイオードであり、出射端面から
のレーザ光を図示しない光ファイバに入射させ、後端面
から漏れるレーザ光をフォトダイオード2に入射させる
ようにしてある。レーザダイオード1の後端面の反射率
(通常は100%に近く設定されている)は、数%低下
させてある。このような構成に代えて、レーザダイオー
ド1の出射端面からのレーザ光を図示しないハーフミラ
ーにより一部取り出してフォトダイオード2に入射さ
せ、ハーフミラーを通過したレーザ光を図示しない光フ
ァイバに入射させるようにしてもよい。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG.
In the figure, reference numeral 1 denotes a laser diode, which causes laser light from an emission end face to enter an optical fiber (not shown) and laser light leaking from a rear end face to enter a photodiode 2. The reflectivity of the rear end face of the laser diode 1 (usually set near 100%) is reduced by several percent. Instead of such a configuration, a part of the laser light from the emission end face of the laser diode 1 is extracted by a half mirror (not shown) and is incident on the photodiode 2, and the laser light passing through the half mirror is incident on an optical fiber (not shown). You may do so.

【0011】3は電流電圧変換器であり、フォトダイオ
ード2で発生した光電流Ipdを電圧(出力電圧は光電流
Ipdに反比例する)に変換するものであり、レーザダイ
オード1の出力の平均値が検出される。電流電圧変換器
3では、増幅器301の入力インピータンスが高いの
で、光電流Ipdは入力には導入されず、帰還抵抗302
を介して増幅器301の出力側に流れ、その結果、帰還
抵抗302間にIpd×Rの電圧が発生し、発生された電
圧が、帰還抵抗302に並列接続したコンデンサ303
により平滑化され、電流−電圧変換が実現される。帰還
抵抗302とコンデンサ303によって定まる時定数
は、データ信号の繰り返し時間よりも大きくしてある。
4は光強度検出部であり、所定の基準電圧と、電流電圧
変換部3の出力電圧との差電圧を出力するものである。
5は異常検出部であり、電流電圧変換部3の出力電圧が
所定の基準電圧(異常検出部5の最大出力電圧より低く
設定してある)より低い場合、すなわち、フォトダイオ
ード2の異常が検出された場合に、出力信号レベルをハ
イレベルに遷移させ、高い場合に、出力信号レベルをロ
ーレベルに遷移させるようになっている。6は間欠動作
信号発生部であり、レーザダイオード1が過大に発光さ
れた場合でもその平均の出力が抑制されるようにデュー
ティを設定したパルス信号である間欠動作信号を発生す
るものである。7はANDゲートであり、異常検出部5
の出力レベルがハイレベルに遷移した場合に、間欠動作
信号発生部6からの間欠動作信号を出力させ、異常検出
部5の出力レベルがローレベルの場合に、出力レベルを
ローレベルに遷移させるものである。8はNORゲート
であり、光出力停止信号のレベルと、ANDゲート7の
出力レベルとをNOR演算するものである。
Reference numeral 3 denotes a current-voltage converter, which converts the photocurrent Ipd generated by the photodiode 2 into a voltage (the output voltage is inversely proportional to the photocurrent Ipd). Is detected. In the current-voltage converter 3, since the input impedance of the amplifier 301 is high, the photocurrent Ipd is not introduced into the input, and the feedback resistor 302
Flows to the output side of the amplifier 301 through the feedback resistor 302. As a result, a voltage of Ipd × R is generated between the feedback resistors 302, and the generated voltage is connected to the capacitor 303 connected in parallel to the feedback resistor 302.
And current-voltage conversion is realized. The time constant determined by the feedback resistor 302 and the capacitor 303 is longer than the data signal repetition time.
Reference numeral 4 denotes a light intensity detector which outputs a difference voltage between a predetermined reference voltage and an output voltage of the current-voltage converter 3.
Reference numeral 5 denotes an abnormality detection unit that detects when the output voltage of the current-voltage conversion unit 3 is lower than a predetermined reference voltage (set lower than the maximum output voltage of the abnormality detection unit 5), that is, detects an abnormality of the photodiode 2. In this case, the output signal level is changed to a high level, and when it is high, the output signal level is changed to a low level. Reference numeral 6 denotes an intermittent operation signal generation unit that generates an intermittent operation signal that is a pulse signal whose duty is set so that the average output is suppressed even when the laser diode 1 emits excessive light. Reference numeral 7 denotes an AND gate.
The intermittent operation signal is output from the intermittent operation signal generating section 6 when the output level of the abnormality detecting section 5 transits to the high level, and the output level is transited to the low level when the output level of the abnormality detecting section 5 is the low level. It is. Reference numeral 8 denotes a NOR gate that performs a NOR operation on the level of the optical output stop signal and the output level of the AND gate 7.

【0012】9はバイアス電流制御部であって、レーザ
ダイオード1のバイアス電流を制御するものであり、光
強度検出部4の出力電圧に応じた電流を流すバイポーラ
トランジスタ(以下、トランジスタという)902を、
トランジスタ901を介してレーザダイオード1に直列
に接続してあり、トランジスタ901はORゲート8の
出力がハイレベルの場合にアクティブになり、ローレベ
ルの場合にインアクティブになるようになっている。1
0は増幅器であり、デジタル入力信号の0,1に対応す
る相補的な信号を出力するものである。11は変調電流
制御部であり、トランジスタ1101,1102のエミ
ッタを共通接続し、この共通接続したエミッタに、変調
電流制御信号に応じた電流を流すトランジスタ1104
を、トランジスタ1103を介して直列接続してあり、
トランジスタ1102のコレクタにはレーザダイオード
1が接続してあり、トランジスタ1103はNORゲー
ト8の出力レベルがハイレベルの場合にアクティブにな
り、ローレベルの場合にインアクティブになり、トラン
ジスタ1101,1102は、ベースに入力される増幅
器10からの相補的な信号により、一方がON、他方が
OFFにされ、トランジスタ1104のコレクタに流れ
る電流を切り換えるようになっている。
Reference numeral 9 denotes a bias current control unit which controls a bias current of the laser diode 1, and includes a bipolar transistor (hereinafter, referred to as a transistor) 902 for flowing a current corresponding to an output voltage of the light intensity detection unit 4. ,
The transistor 901 is connected in series to the laser diode 1 via a transistor 901. The transistor 901 becomes active when the output of the OR gate 8 is at a high level, and becomes inactive when the output of the OR gate 8 is at a low level. 1
Reference numeral 0 denotes an amplifier that outputs a complementary signal corresponding to digital input signals 0 and 1. Reference numeral 11 denotes a modulation current control unit which connects the emitters of the transistors 1101 and 1102 in common, and supplies a current corresponding to the modulation current control signal to the commonly connected emitter.
Are connected in series via a transistor 1103,
The laser diode 1 is connected to the collector of the transistor 1102, and the transistor 1103 becomes active when the output level of the NOR gate 8 is at the high level, becomes inactive when the output level of the NOR gate 8 is at the low level, and the transistors 1101 and 1102 are: One is turned on and the other is turned off by a complementary signal from the amplifier 10 input to the base, and the current flowing to the collector of the transistor 1104 is switched.

【0013】次に、動作を説明する。レーザダイオード
1からの光信号がフォトダイオード2により受信される
と、受光されたレーザ光の強度に応じてフォトダイオー
ド2に光電流が発生する。フォトダイオード2に発生し
た光電流は、電流電圧変換部3により電圧(出力電圧は
光電流に反比例する)に変換され、電流電圧変換部3の
出力電圧が、光強度検出部4により所定の基準電圧Vth
1 と比較され、同時に、異常検出部5により基準電圧V
th2 と比較される。
Next, the operation will be described. When an optical signal from the laser diode 1 is received by the photodiode 2, a photocurrent is generated in the photodiode 2 according to the intensity of the received laser light. The photocurrent generated in the photodiode 2 is converted into a voltage (the output voltage is inversely proportional to the photocurrent) by the current / voltage converter 3, and the output voltage of the current / voltage converter 3 is converted into a predetermined reference voltage by the light intensity detector 4. Voltage Vth
1 and, at the same time, the reference voltage V
Compared to th2.

【0014】そして、電流電圧変換部3の出力電圧と基
準電圧Vth1 との差電圧に応じて、光強度検出部4によ
りバイアス電流制御部9のトランジスタ902が駆動さ
れる。一方、異常検出部5の出力レベルは、光電流がゼ
ロでない場合、電流電圧変換部3の出力電圧が基準電圧
Vth2 より低いので、ローレベルになる。異常検出部5
の出力レベルがローレベルになると、間欠動作信号はA
NDゲートの出力に現われずANDゲート7の出力レベ
ルがローレベルとなる。この時、光出力停止信号がロー
レベル(光出力)であればバイアス電流制御部9のトラ
ンジスタ901はONとなってバイアス電流に影響を与
えない。レーザダイオード1のバイアス電流は、電流電
圧変換部3の出力電圧と基準電圧Vth1 との差電圧に応
じて制御され、光電流が小さい場合には増加するよう
に、光電流が大きい場合には減少するように制御され、
レーザダイオード1の出力が一定にされる。
The transistor 902 of the bias current control unit 9 is driven by the light intensity detection unit 4 according to the difference voltage between the output voltage of the current-voltage conversion unit 3 and the reference voltage Vth1. On the other hand, when the photocurrent is not zero, the output level of the abnormality detection unit 5 becomes low because the output voltage of the current-voltage conversion unit 3 is lower than the reference voltage Vth2. Abnormality detector 5
Becomes low level, the intermittent operation signal becomes A
It does not appear at the output of the ND gate, and the output level of the AND gate 7 goes low. At this time, if the light output stop signal is at a low level (light output), the transistor 901 of the bias current control unit 9 is turned on and does not affect the bias current. The bias current of the laser diode 1 is controlled according to the difference voltage between the output voltage of the current-to-voltage converter 3 and the reference voltage Vth1, and increases when the photocurrent is small and decreases when the photocurrent is large. Is controlled to
The output of the laser diode 1 is made constant.

【0015】他方、このAPC制御系に障害が生じたた
め、光電流がゼロになると、電流電圧変換部3の出力電
圧は最大電圧となって基準電圧Vth2 より高くなり、異
常検出部5の出力レベルがハイレベルになる。すると、
間欠動作信号発生部6からの間欠動作信号が、ANDゲ
ート7の出力に現われるととともに、光出力停止信号の
状態によらずNORゲート8の出力にも現われ、この間
欠動作信号に応答してバイアス電流制御部9のトランジ
スタ901が間欠駆動されるとともに、変調電流制御部
11のトランジスタ1103も間欠駆動される。すなわ
ち、トランジスタ901,1103がインアクティブの
場合は、レーザダイオード1には変調電流およびバイア
ス電流が一切流れない状態になり、他方、トランジスタ
901,1103がアクティブの場合は、変調電流は所
定の電流値に制御され、バイアス電流は上述したように
帰還制御されるが、APC制御系の障害が回復していな
ので、バイアス電流は最高値に維持されようとする。間
欠動作信号のデューティが例えば10%であって、レー
ザダイオードの出力が、例えば、10mWである場合に
は、レーザダイオードの平均出力は1.0mWとなり、
IEC−825規格をクリアすることができる。
On the other hand, when the photocurrent becomes zero due to a failure in the APC control system, the output voltage of the current-to-voltage converter 3 becomes the maximum voltage, becomes higher than the reference voltage Vth2, and the output level of the abnormality detector 5 Becomes high level. Then
The intermittent operation signal from the intermittent operation signal generator 6 appears at the output of the AND gate 7 and also at the output of the NOR gate 8 regardless of the state of the optical output stop signal. The transistor 901 of the current control unit 9 is intermittently driven, and the transistor 1103 of the modulation current control unit 11 is also intermittently driven. That is, when the transistors 901 and 1103 are inactive, the modulation current and the bias current do not flow through the laser diode 1 at all. On the other hand, when the transistors 901 and 1103 are active, the modulation current has a predetermined current value. And the bias current is feedback-controlled as described above. However, since the failure of the APC control system has been recovered, the bias current tends to be maintained at the maximum value. When the duty of the intermittent operation signal is, for example, 10% and the output of the laser diode is, for example, 10 mW, the average output of the laser diode is 1.0 mW,
IEC-825 standard can be cleared.

【0016】ここで、レーザダイオード1が動作(間欠
動作を含む)中に、光出力停止信号のレベルがローレベ
ルに遷移すると、NORゲート8の出力レベルがローレ
ベルに遷移したままになり、バイアス電流制御部9のト
ランジスタ901がOFFにされるとともに、変調電流
制御部11のトランジスタ1103がOFFにされ、レ
ーザダイオード1には変調電流およびバイアス電流が一
切流れない状態になり、この時にもレーザダイオード1
の発光を停止することができる。
Here, when the level of the optical output stop signal changes to the low level during the operation of the laser diode 1 (including the intermittent operation), the output level of the NOR gate 8 remains at the low level, and the bias is maintained. The transistor 901 of the current control unit 9 is turned off, the transistor 1103 of the modulation current control unit 11 is turned off, and the modulation current and the bias current do not flow through the laser diode 1 at all. 1
Can be stopped.

【0017】また、障害回復作業後に、レーザダイオー
ド1を発光させた時、再び、電流電圧変換部3の出力電
圧は最大電圧となって基準電圧Vth2 より高くなり、異
常検出部5の出力レベルがハイレベルになった場合に
は、上述したように、間欠動作信号発生部6からの間欠
動作信号が、ANDゲート7の出力に現われるとととも
に、NORゲート8の出力に現われ、この間欠動作信号
に応答してバイアス電流制御部9のトランジスタ901
が間欠駆動されるとともに、変調電流制御部11のトラ
ンジスタ1103が間欠駆動される。
When the laser diode 1 emits light after the failure recovery work, the output voltage of the current-to-voltage converter 3 becomes the maximum voltage again, becomes higher than the reference voltage Vth2, and the output level of the abnormality detector 5 becomes lower. When the signal goes high, the intermittent operation signal from the intermittent operation signal generator 6 appears at the output of the AND gate 7 and at the output of the NOR gate 8 as described above. In response, the transistor 901 of the bias current control unit 9
Are intermittently driven, and the transistor 1103 of the modulation current control unit 11 is intermittently driven.

【0018】変調電流制御部11のトランジスタ110
1,1102には、増幅器10からの相補的な信号が入
力されるので、一方がON、他方がOFFにされ、トラ
ンジスタ1102がONにされた場合はレーザダイオー
ド1に電流が流れ、OFFにされた場合には、電流が流
れず、レーザダイオード1は増幅器10のデジタル入力
信号に基づき点滅する。
Transistor 110 of modulation current control section 11
Complementary signals from the amplifier 10 are input to 1, 1102, so that one is turned on and the other is turned off. When the transistor 1102 is turned on, a current flows through the laser diode 1 and the laser diode 1 is turned off. In this case, no current flows and the laser diode 1 blinks based on the digital input signal of the amplifier 10.

【0019】以上、発光モジュールの動作を図1を参照
して説明したが、発光モジュールを図2に示すように構
成しても、本質的に同様の動作を行わせることができ
る。図2において、1〜7,10,301〜303,1
101,1102は図1と同一部分を示す。図2の発光
モジュールは、図1のNORゲート8に代えてORゲー
ト208を採用してあり、図1の発光モジュールとの比
較で言えば、バイアス電流制御部と、変調電流制御部と
の構成が相違する。
Although the operation of the light emitting module has been described with reference to FIG. 1, essentially the same operation can be performed even when the light emitting module is configured as shown in FIG. In FIG. 2, 1 to 7, 10, 301 to 303, 1
Reference numerals 101 and 1102 denote the same parts as in FIG. The light emitting module of FIG. 2 employs an OR gate 208 instead of the NOR gate 8 of FIG. 1, and in comparison with the light emitting module of FIG. 1, the configuration of the bias current control unit and the modulation current control unit Are different.

【0020】すなわち、図2に示すバイアス電流制御部
209は、光強度検出部4の出力電圧に応じた電流を流
すトランジスタ2902をレーザダイオード1に直列に
接続するとともに、トランジスタ2902のベースをト
ランジスタ2901を介して接地してあり、ORゲート
208の出力レベルがハイレベルの場合は、トランジス
タ2901がアクティブになって、トランジスタ290
2のベース電位をほぼ接地電位にクランプするのでバイ
アス電流が流れず、ローレベルの場合には、トランジス
タ2901がインアクティブになって、バイアス電流が
流れるようにした。
That is, the bias current control unit 209 shown in FIG. 2 connects the transistor 2902 for flowing a current corresponding to the output voltage of the light intensity detection unit 4 to the laser diode 1 in series, and connects the base of the transistor 2902 to the transistor 2901. When the output level of the OR gate 208 is at a high level, the transistor 2901 becomes active and the transistor 290
No bias current flows because the base potential of No. 2 is substantially clamped to the ground potential. When the base level is low, the transistor 2901 becomes inactive and a bias current flows.

【0021】図2の変調電流制御部211は、トランジ
スタ1101,1102の共通接続したエミッタに、変
調電流制御信号に応じた電流を流すトランジスタ211
4および抵抗を直列に接続し、トランジスタ2114の
ベースをトランジスタ2113を介して接地するように
し、ORゲート208の出力がハイレベルの場合に、ト
ランジスタ2113がアクティブになって、変調電流が
流れず、ローレベルの場合にトランジスタ2113がイ
ンアクティブになって変調電流が流れるようにした。
The modulation current control unit 211 shown in FIG. 2 includes a transistor 211 for supplying a current according to a modulation current control signal to the commonly connected emitters of the transistors 1101 and 1102.
4 and a resistor are connected in series so that the base of the transistor 2114 is grounded via the transistor 2113. When the output of the OR gate 208 is at a high level, the transistor 2113 becomes active and no modulation current flows, When the level is low, the transistor 2113 becomes inactive and a modulation current flows.

【0022】以上説明した実施の形態では、レーザダイ
オードのバイアス電流のみをAPC制御する例を説明し
たが、バイアス電流および変調電流の両方にAPC制御
を行う例でも、本質的に同様にして、間欠動作制御は可
能である。
In the embodiment described above, the example in which only the bias current of the laser diode is APC controlled has been described. However, in the example in which the APC control is performed on both the bias current and the modulation current, the intermittent operation is performed in substantially the same manner. Operation control is possible.

【0023】また、本実施の形態では、レーザダイオー
ド出力の平均値を検出する例を説明したが、レーザダイ
オード出力の最大値および最小値の両方を検出してAF
C制御を行わせるようにしても良い。
In this embodiment, an example has been described in which the average value of the laser diode output is detected.
C control may be performed.

【0024】さらに、本実施の形態では、半導体発光素
子としてレーザダイオードを採用した例を説明したが、
レーザダイオードに代えてLED(light emitting diod
e)を採用しても本質的に同様に制御することができ、バ
イポーラトランジスタに代えてFET(field effect tr
ansistor) 等の他の素子を採用することができることは
当然であり、バイポーラトランジスタおよびFETを混
在化させた素子を採用することもできる。
Further, in this embodiment, an example in which a laser diode is employed as a semiconductor light emitting element has been described.
LED (light emitting diod) instead of laser diode
e) can be controlled essentially in the same way, and a field effect transistor (FET) can be used instead of a bipolar transistor.
It is a matter of course that other elements such as an anistor can be adopted, and an element in which a bipolar transistor and an FET are mixed can also be adopted.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
上記のように構成したので、APC制御系の障害に起因
する半導体発光素子の暴走を防止することができる。
As described above, according to the present invention,
With the configuration described above, runaway of the semiconductor light emitting element due to a failure in the APC control system can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す発光モジュールの変形例を示すブロ
ック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a modification of the light emitting module shown in FIG.

【図3】発光モジュールの従来例を示すブロック図であ
る。
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional example of a light emitting module.

【図4】レーザダイオードのバイアス電流および変調電
流と発光強度との関係の一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a relationship between a bias current and a modulation current of a laser diode and light emission intensity.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザダイオード 2 フォトダイオード 3 電流電圧変換器 4 光強度検出部 5 異常検出部 6 間欠動作信号発生部 7 ANDゲート 8 NORゲート 9 バイアス電流制御部 10 増幅器 11 変調電流制御部 208 ORゲート 301 増幅器 302 帰還抵抗 303 コンデンサ 901,902 トランジスタ 1101,1102,1103,1104 トランジス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser diode 2 Photodiode 3 Current-voltage converter 4 Light intensity detection part 5 Abnormality detection part 6 Intermittent operation signal generation part 7 AND gate 8 NOR gate 9 Bias current control part 10 Amplifier 11 Modulation current control part 208 OR gate 301 Amplifier 302 Feedback resistor 303 Capacitor 901,902 Transistor 1101,1102,1103,1104 Transistor

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体発光素子と、 該半導体発光素子を所定の出力になるように駆動制御す
る駆動制御手段と、 該駆動制御手段により駆動制御されている半導体発光素
子の出力を検出する出力検出手段とを有する発光モジュ
ールにおいて、 前記出力検出手段により検出された出力が所定の基準値
より低いか否かを比較する比較手段と、 該比較手段により比較した結果、検出出力が所定の基準
値より低い場合に、前記半導体発光素子を間欠駆動制御
する間欠駆動制御手段とを備えたことを特徴とする発光
モジュール。
1. A semiconductor light emitting device, drive control means for driving and controlling the semiconductor light emitting device to have a predetermined output, and output detection for detecting an output of the semiconductor light emitting device being driven and controlled by the drive control means Means for comparing whether the output detected by the output detecting means is lower than a predetermined reference value, and a result of the comparison by the comparing means, wherein the detected output is higher than a predetermined reference value. An intermittent drive control means for intermittently controlling the semiconductor light emitting element when the power is low.
【請求項2】 請求項1において、前記半導体発光素子
の駆動を強制的に停止するための強制停止手段をさらに
備えたことを特徴とする発光モジュール。
2. The light emitting module according to claim 1, further comprising a forced stop means for forcibly stopping the driving of the semiconductor light emitting element.
【請求項3】 請求項2において、前記強制停止手段は
前記間欠駆動制御手段よりも優先して動作することを特
徴とする発光モジュール。
3. The light emitting module according to claim 2, wherein the forcible stop means operates with priority over the intermittent drive control means.
【請求項4】 請求項1において、前記半導体発光素子
は半導体レーザダイオードであることを特徴とする発光
モジュール。
4. The light emitting module according to claim 1, wherein said semiconductor light emitting device is a semiconductor laser diode.
【請求項5】 請求項1において、前記半導体発光素子
は発光ダイオードであることを特徴とする発光モジュー
ル。
5. The light emitting module according to claim 1, wherein the semiconductor light emitting device is a light emitting diode.
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