JPH11175978A

JPH11175978A - 光記録方法および光記録装置

Info

Publication number: JPH11175978A
Application number: JP9341334A
Authority: JP
Inventors: Koichiro Ishii; 浩一郎石井
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1997-12-11
Filing date: 1997-12-11
Publication date: 1999-07-02

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は、光の照射によって光記録媒体に情
報を記録する光記録方法および光記録装置に関し、個々
の光記録媒体に適した記録を行うことによって、装置の
性能を向上させる光記録方法および光記録装置を提供す
ることを目的とする【解決手段】光記録媒体に光を照射してテスト記録を
行い、正規の記録時における光強度を、前記テスト記録
の結果得た許容範囲内の値に設定する第１の手順と、前
記光記録媒体の温度変化分が所定値以上となった場合
に、正規の記録時における光強度を再設定する第２の手
順とを有する光記録方法において、前記許容範囲の幅が
所定幅以上である場合には、前記第２の手順を実行しな
いことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、記録光の照射によ
って光記録媒体に情報を記録する光記録方法および光記
録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】高度情報化社会の進展に伴って、大容量
のファイルメモリへのニーズが高まっている。これに応
えるシステムとしては、光記録が現在最も注目を集めて
いる。光記録媒体には、相変化型光ディスクや光磁気デ
ィスクがあるが、これらの光記録媒体は、何れもレーザ
光を利用したｎｍオーダーの記録マーク形成、さらに状
態の可逆性を利用した繰り返しの記録が可能である。そ
して、これらの光記録では、書き換え時間を短縮するた
めに、古い情報の上から直接新しい情報を書き込むタイ
プの、いわゆるオーバーライト方式が開発された。

【０００３】以下、光変調オーバーライト方式の概要を
説明する。この方式が適用された光磁気ディスクは、情
報が記録されるメモリー層の他に、オーバーライト記録
に係わる記録層を有しており、この記録層は、メモリー
層と比べてキュリー温度が高く保磁力が低く設定されて
いる。記録時には、各層の磁化を喪失させてメモリー層
磁化向きを外部の記録磁界の方向に倣わせる記録（消
去）動作と、記録層の磁化向きを一部反転させたところ
へメモリー層の磁化のみを喪失させ、メモリー層の磁化
向きをその記録層と同じ向きへ反転させる消去（記録）
動作とによって、強制的にメモリー層の磁化向きを変化
させる。

【０００４】この磁化向きの反転操作は、記録用レーザ
光を外部磁界の下で回転している光磁気ディスクに照射
し、その記録用レーザ光のパワーを高パワーレベルＰＨ
と低パワーレベルＰＬとに変調することによって行われ
る。これにより、新たな情報を古い情報の上から書込む
オーバーライト記録が実現する。ところで、この記録用
レーザ光のパワーレベルのうち低パワーレベルＰＬは、
メモリー層の磁化のみを喪失させるために、ある範囲内
の値に設定されなければならない。言い換えると、光磁
気ディスクには、その特性から決まる記録感度があるの
で、正常な記録を行うためには、記録用レーザ光のパワ
ー（以下、単に「記録パワー」という。）を、適正な値
に設定する必要がある。

【０００５】記録再生装置には、記録媒体たる様々な光
磁気ディスクが入れ替わり装填されるが、光磁気ディス
ク間での記録感度は、組成によって異なることはいうま
でもなく、製造のばらつきによっても異なる。この相異
に対応するために、記録再生装置では、装填された光デ
ィスク毎にテスト記録を行い、正規の記録時における記
録パワーＰ１の設定を行っている。

【０００６】以下、記録再生装置について説明する。こ
の記録再生装置では、光ディスクのテスト領域に予め決
められた基準データをテスト記録した後、その基準デー
タと、実際に再生を行って得られる再生データとを比較
して記録のエラー数を計数する。このテスト記録は、記
録パワーＰを種々の値に変化させて繰り返し行われる。

【０００７】図６は、このようにして求めた記録パワー
とエラー数との関係を示したものである。図６では、記
録パワーＰの増加に伴ってエラー数は減少し、記録パワ
ーＰがある範囲にあるときにはエラー数が最小となり、
さらに記録パワーＰがその範囲の上限値より大きい場合
にはパワーＰの増加に伴ってエラー数は増加することが
示されている。

【０００８】ここで、装置の再生系が許容できるエラー
数が既知であることから、記録パワーＰのうち、エラー
数がこの許容エラー数以下となる範囲（以下、単に「許
容範囲」という。）を求める。例えば、許容範囲が（Ｐ
ａ〜Ｐｂ）であるとすると、正規の記録パワーＰ１は、
許容範囲（Ｐａ〜Ｐｂ）のうちパワーマージンが最も大
きくなるパワー、即ち、許容範囲（Ｐａ〜Ｐｂ）の中間
値（（Ｐｂ＋Ｐａ）／２）に設定される。

【０００９】その後、環境温度に変動が生じると、同一
の光磁気ディスクであっても記録感度は変化し、図６に
おいては、許容範囲（Ｐａ〜Ｐｂ）が横軸方向に移動す
る。このときに、記録パワーＰ１が許容範囲から外れる
ことがあると、正常な記録が不可能になる。

【００１０】したがって、記録再生装置では、光ディス
ク装填時だけでなく、ある温度変化を検知する度にテス
ト記録を行い、記録パワーＰ１を常に許容範囲内に収ま
る値に設定し直すことが望まれる。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】ここで、装填されうる
光ディスクの全てに対応するためには、比較的小さい温
度変化毎に記録パワーＰ１の再設定を行うことが考えら
れるが、これでは、記録再生装置のデータ転送レートが
低下する。

【００１２】また、頻繁にテスト記録を行うと、光ディ
スクのテスト領域の劣化速度が速くなるという問題も生
じる。温度変化の影響を受けやすい光ディスクなら頻繁
のテスト記録が必須であるが、そうでない光ディスクの
寿命を短縮するのは不合理である。本発明は、かかる事
情に鑑みてなされたもので、個々の光記録媒体に適した
記録を行うことによって、装置の性能を向上させる光記
録方法および光記録装置を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光記録
方法は、光記録媒体に光を照射してテスト記録を行い、
正規の記録時における光強度を、前記テスト記録の結果
得た許容範囲内の値に設定する第１の手順と、前記光記
録媒体の温度変化分が所定値以上となった場合に、正規
の記録時における光強度を再設定する第２の手順とを有
する光記録方法において、前記許容範囲の幅が所定幅以
上である場合には、前記第２の手順を実行しないことを
特徴とする。

【００１４】請求項２に記載の光記録方法は、光記録媒
体に光を照射してテスト記録を行い、正規の記録時にお
ける光強度を、前記テスト記録の結果得た許容範囲内の
値に設定する第１の手順と、前記光記録媒体の温度変化
分が所定値以上となった場合に、正規の記録時における
光強度を再設定する第２の手順とを有する光記録方法に
おいて、前記温度変化分の前記所定値を、前記許容範囲
に基づいて設定することを特徴とする。

【００１５】請求項３に記載の光記録方法は、光記録媒
体に光を照射してテスト記録を行い、正規の記録時にお
ける光強度を、前記テスト記録の結果得た許容範囲内の
値に設定する第１の手順と、前記光記録媒体の温度変化
分が所定値以上となった場合に、正規の記録時における
光強度を再設定する第２の手順とを有する光記録方法に
おいて、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合に
は、前記第２の手順を実行せず、前記許容範囲の幅が所
定幅未満である場合には、前記温度変化分の前記所定値
を、前記許容範囲に基づいて設定することを特徴とす
る。

【００１６】請求項４に記載の光記録方法は、請求項２
または請求項３に記載の光記録方法において、前記温度
変化分の前記所定値を、前記許容範囲の幅が広いほど大
きく設定することを特徴とする。請求項５に記載の光記
録方法は、請求項１〜請求項４の何れか一項に記載の光
記録方法において、前記テスト記録では、前記光記録媒
体の所定領域に基準情報を記録し、前記所定領域につい
て再生を行い、前記基準情報と前記再生で得た再生情報
との比較結果に基づいて前記許容範囲を求めることを特
徴とする。

【００１７】請求項６に記載の光記録方法は、請求項１
〜請求項５の何れか一項に記載の光記録方法において、
前記第２の手順で再設定される前記記録光強度は、前記
第１の手順と同様にして決定されることを特徴とする。
請求項７に記載の光記録方法は、請求項１〜請求項５の
何れか一項に記載の光記録方法において、前記第２の手
順で再設定される前記記録光強度は、前記光記録媒体の
温度変化分に基づく演算によって決定されることを特徴
とする。

【００１８】請求項８に記載の光記録方法は、請求項１
〜請求項７の何れか一項に記載の光記録方法において、
前記光記録媒体は、光変調オーバーライト方式が適用さ
れた光磁気記録媒体であることを特徴とする。

【００１９】請求項９に記載の光記録装置は、光記録媒
体に光を照射してテスト記録を行い、正規の記録時にお
ける光強度を、前記テスト記録の結果得た許容範囲内の
値に設定する強度設定手段と、前記光記録媒体または装
置内の温度変化を検出する温度検出手段と、前記温度検
出手段が検出した温度変化分が所定値以上となった場合
に、正規の記録時における光強度を再設定する再設定手
段と、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合には、
前記再設定手段の動作を禁止する禁止手段とを備えたこ
とを特徴とする。

【００２０】請求項１０に記載の光記録装置は、光記録
媒体に光を照射してテスト記録を行い、正規記録時にお
ける光強度を、前記テスト記録の結果得た許容範囲内の
値に設定する強度設定手段と、前記光記録媒体または装
置内の温度変化を検出する温度検出手段と、前記温度検
出手段が検出した温度変化分が所定値以上となった場合
に、正規の記録時における光強度を再設定する再設定手
段と、前記温度変化分の前記所定値を、前記許容範囲に
基づいて設定する所定値設定手段とを備えたことを特徴
とする。

【００２１】請求項１１に記載の光記録装置は、光記録
媒体に光を照射してテスト記録を行い、正規の記録時に
おける光強度を、前記テスト記録の結果得た許容範囲内
の値に設定する強度設定手段と、前記光記録媒体または
装置内の温度変化を検出する温度検出手段と、前記温度
検出手段が検出した温度変化分が所定値以上となった場
合に、正規の記録時における光強度を再設定する再設定
手段と、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合に
は、前記再設定手段の動作を禁止する禁止手段と、前記
許容範囲の幅が所定幅未満である場合には、前記温度変
化分の前記所定値を、前記許容範囲に基づいて設定する
所定値設定手段とを備えたことを特徴とする。

【００２２】請求項１２に記載の光記録装置は、請求項
１０または請求項１１に記載の光記録装置において、前
記所定値設定手段は、前記温度変化分の前記所定値を、
前記許容範囲の幅が広いほど大きく設定することを特徴
とする。

【００２３】請求項１３に記載の光記録装置は、請求項
９〜請求項１２の何れか一項に記載の光記録装置におい
て、前記設定手段は、前記テスト記録では、前記光記録
媒体の所定領域に基準情報を記録し、前記所定領域につ
いて再生を行い、前記基準情報と前記再生で得た再生情
報との比較結果に基づいて前記許容範囲を求めることを
特徴とする。

【００２４】請求項１４に記載の光記録装置は、請求項
９〜請求項１３の何れか一項に記載の光記録装置におい
て、前記再設定手段は、前記記録光強度を、前記強度設
定手段と同様にして決定することを特徴とする。請求項
１５に記載の光記録装置は、請求項９〜請求項１３の何
れか一項に記載の光記録装置において、前記再設定手段
は、前記記録光強度を、前記光記録媒体の温度変化分に
基づく演算によって決定することを特徴とする。

【００２５】請求項１６に記載の光記録装置は、請求項
９〜請求項１５の何れか一項に記載の光記録装置におい
て、前記光記録媒体は、光変調オーバーライト方式が適
用された光磁気記録媒体であることを特徴とする。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施形態について詳細に説明する。

【００２７】図１は、請求項１〜請求項１６に記載の発
明に対応した実施形態に係る記録再生装置の主な構成を
示すブロック図である。この記録再生装置は、光ヘッド
１１、レーザダイオード駆動回路（ＬＤ駆動回路）１
３、記録波形生成回路１２、再生回路１６、中央処理装
置（ＣＰＵ）１４、メモリ１５、温度センサ１７、図示
されない磁界発生回路等を備える。

【００２８】光ヘッド１１は、レーザダイオード、光学
系（レンズ、回折格子等）、光検出素子等を搭載する。
記録および再生時において、光ヘッド１１は、レーザダ
イオードの出射光を集光してなる記録用または再生用レ
ーザ光を、回転制御された光ディスク１０のトラック上
に照射する。また、再生時において、光ヘッド１１は、
光ディスク１０にて反射された光を、その偏光角に応じ
た電気信号に変換して再生回路１６に与える。

【００２９】記録波形生成回路１２は、記録時におい
て、ＣＰＵ１４が出力する記録データのデータビット列
に応じた記録波形を生成し、その波形をＬＤ駆動回路１
３に出力する。この記録波形は、データビット列の”
１””０”に応じて生成され、記録用レーザ光が高パワ
ーレベルＰＨと低パワーレベルＰＬとなるタイミングを
規定するタイミング波形である。この記録波形には、種
々のものがあり、記録用レーザ光のパワーレベルで示せ
ば、例えば図４（１）（２）のとおりである。因みに、
この図４（１）（２）では、光ディスク１０に形成され
る記録マークの形状を整えることを目的とし、高パワー
レベルＰＨをさらにＰＨ１とＰＨ２の２値に変調したも
のを示している。

【００３０】ＬＤ駆動回路１３は、記録波形が示すタイ
ミングおよびレベルに応じて、光ヘッドに搭載されたレ
ーザダイオードを駆動する。具体的には、記録波形の各
レベルに対応した電流値を、記録波形が示すタイミング
でレーザダイオードに与える。そしてこれらの各電流値
は、ＣＰＵ１４により予め決められる設定値である。一
方、再生時においてＬＤ駆動回路１３は、レーザダイオ
ードを定常的に駆動して、連続光を出射させる。

【００３１】再生回路１６は、光ヘッド１１から得られ
る電気信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換を行うことによって再
生データを生成する。メモリ１５には、記録・再生の制
御プログラムが格納され、本実施形態の記録方法を実現
する記録プログラムは、例えば、図２に示す手順を含む
ものである。温度センサ１７は、例えば、光ディスク１
０の表面に対面して備えられた放射温度センサであり、
少なくとも記録時には、光ディスク１０の温度を監視
し、監視した温度値をＣＰＵ１４に与える。

【００３２】ＣＰＵ１４は、光ディスク１０が装填され
たときに発生する装填信号を受けて、メモリ１５に格納
された記録・再生プログラムに基づく各部の制御を開始
し、記録再生装置の諸機能を実現する。ＣＰＵ１４の制
御態様については、記録時には、光ヘッド１１と光ディ
スク１０の相対位置を制御し、光ヘッド１１の出射口を
指定領域に正対させる。そして、記録データ（基準デー
タ）を記録波形生成回路１２に与えると共に、ＬＤ駆動
回路１３が光ヘッド１１に与えるべき電流値を記録用の
値に設定することによって、記録パワーを設定する。こ
の記録時には、図示されない磁界発生回路を駆動するこ
とにより、光ディスク１０に記録磁界を印加する。

【００３３】一方、再生時において、ＣＰＵ１４は、Ｌ
Ｄ駆動回路１３が光ヘッド１１に与えるべき電流値を再
生用の値に設定することにより、記録パワーより低いパ
ワーの再生パワーの設定を行う。また、通常の再生時に
は、再生回路１６から得られた再生データのエラー訂正
を行い、復元された情報を外部に出力する。ここで、請
求項と、以上の構成との対応関係については、強度設定
手段、再設定手段、禁止手段、所定値設定手段には、主
としてＣＰＵ１４が対応し、温度検出手段には、温度セ
ンサ１７とＣＰＵ１４とが対応する。

【００３４】以下、図１〜図５を参照して、本実施形態
の動作を説明する。図２は、本実施形態におけるＣＰＵ
１４の動作フローチャートである。図３は、本実施形態
で用いる光ディスク１０のテスト領域を示す図である。
図４は、記録用レーザ光のパワーレベルの時間変化を示
す図である。図５は、記録パワーの設定の仕方を説明す
る図である。

【００３５】図２において、ＣＰＵ１４は、光ディスク
１０が装填されたことを認識すると（Ｓ１）、正規の記
録時における記録パワーＰ１の設定および基準温度の計
測を行う（Ｓ２）。

【００３６】先ず、Ｓ２における記録パワーＰ１の設定
について説明する。本実施形態では、光ディスク１０の
領域Ｅ１〜Ｅ４（図３）において、基準データのテスト
記録および再生を３回繰り返し、記録パワーＰ１を設定
するためのデータが取得される。図３において、４つの
テスト領域Ｅ１〜Ｅ４は、通常の記録に使用されるユー
ザ領域とは別に、光ディスク１０の最外周に等間隔で設
けられている。そして、この光ディスク１０は、光変調
オーバーライト方式が適用されているもので、常に一方
向に磁化向きを保持する初期化層を備えた光磁気ディス
クであるとする。

【００３７】各回のテスト記録と再生の動作は、次のよ
うになっている。即ち、ＣＰＵ１４は、光ヘッド１１の
照射位置を移動制御し、光ディスク１０が一回転するま
での間に、異なる記録パワーでテスト領域Ｅ１〜Ｅ４に
基準データを記録する。その後、レーザ光のパワーを再
生用の値に設定して、これらのテスト領域Ｅ１〜Ｅ４に
ついて再生を行い、各テスト領域から得られた再生デー
タと基準データとを比較して、再生データに含まれるエ
ラー数を計数する。計数されたエラー数については、各
記録パワーの値に対応付けてメモリ１５に格納する。

【００３８】なお、このテスト領域Ｅ１〜Ｅ４間で記録
パワーを変化させる際には、記録用レーザ光の各パワー
レベルの比は一定に保たれる。例えば、記録用レーザ光
が図４（１）（２）に示すような波形である場合には、
パワーレベルＰＨ１、ＰＨ２、ＰＬの３者の比を一定と
する。ここでは、記録パワーという文言を、各パワーレ
ベルの平均値という意味で用いている。

【００３９】３回のテスト記録における記録パワーＰの
変化のさせ方については、例えば、図５（１）に示すよ
うに、テスト領域Ｅ１〜Ｅ４それぞれに照射されるレー
ザ光の記録パワーＰは、例えば０．１ｍＷずつ順に高値
へと変化する。記録パワーＰは、テスト記録の１回目で
は値Ｐｎ１〜Ｐｎ４に設定され、２回目では値Ｐｎ５〜
Ｐｎ８に設定され、３回目ではＰｎ９〜Ｐｎ１２に設定
される。これにより、１２の異なる記録パワーの値Ｐｎ
１〜Ｐｎ１２について記録エラー数を取得することがで
きる。

【００４０】また、記録される基準データは、例えば、
１回目のテスト記録では最小値００ ₁₆〜最大値ＦＦ₁₆が
順に並ぶインクリメントパターン、２回目のテスト記録
では値ＦＦ₁₆〜値００₁₆が順に並ぶデクリメントパター
ン、３回目のテスト記録では再びインクリメントパター
ンというように、各テスト領域Ｅ１〜Ｅ４において先行
して形成されたパターンと異なるパターンが形成される
ようにしてある。もし、同じパターンを形成すると、オ
ーバーライト記録特有の動作である古い記録マークの消
去動作が行われたか否かのテストができなくなるからで
ある。

【００４１】次いで、ＣＰＵ１４は、正規の記録時に設
定すべき記録パワーＰ１の決定を行う。図５（２）は、
テスト記録で求めた記録パワーＰとエラー数との関係を
示したものである。図５（２）では、記録パワーＰの増
加に伴ってエラー数は減少し、記録パワーＰがある範囲
にあるときにはエラー数が最小となり、さらに、記録パ
ワーＰがその範囲の上限値より大きい場合にはパワーＰ
の増加に伴ってエラー数は増加することが示されてい
る。

【００４２】ＣＰＵ１４は、メモリ１５に格納されたこ
のような記録パワーＰとエラー数との関係を参照して、
再生系の許容エラー数（例えば２０）以下となる記録パ
ワーＰの許容範囲を求める。例えば、記録パワーＰの許
容範囲が、図５（２）（ａ）に示すように（Ｐａ〜Ｐ
ｂ）であるとすると、ＣＰＵ１４は、その許容範囲の上
限値および下限値（Ｐａ，Ｐｂ）をメモリ１５に格納す
ると共に、その範囲の中心値（（Ｐａ＋Ｐｂ）／２）を
正規の記録時の記録パワーＰ１としてＬＤ駆動回路１３
に設定する。

【００４３】以上、図２のＳ２における正規の記録パワ
ーＰ１の設定について説明した。また、このＳ２では、
ＣＰＵ１４は、３回目のテスト記録終了時に温度センサ
１７から与えられる光ディスク１０の温度を、後続する
判定に用いられる基準温度Ｔｏとしてメモリ１５に格納
する。

【００４４】次いで、Ｓ３においてＣＰＵ１４は、Ｓ２
でメモリ１５に格納された値（Ｐａ，Ｐｂ）から記録パ
ワーの許容範囲の幅Ｗ（Ｗ＝Ｐｂ−Ｐａ）を求め、この
幅Ｗが予め決められた所定幅Ｗαより大きいか否かの判
別を行う。ここに、環境温度に応じて記録パワーＰの許
容範囲（Ｐａ〜Ｐｂ）（図５（２）参照）は変動する
が、許容範囲の幅Ｗは、通常、光ディスク固有であり不
変とみなすことができる。

【００４５】そして、この許容範囲（Ｐａ，Ｐｂ）は、
温度変化によってパワーレベルの高い方または低い方に
移動（シフト）する。このとき、許容範囲の幅Ｗが広け
れば、許容範囲（Ｐａ〜Ｐｂ）がシフトしても記録パワ
ーＰ１がその許容範囲から外れる確率は低いが、許容範
囲Ｗが狭ければ、記録パワーＰ１がその許容範囲から外
れる確率は高くなる。言い換えると、幅Ｗが広いほど、
その光ディスク１０は、記録パワーＰ１に多くのマージ
ンを与えていることになる。

【００４６】そこで、このＳ３において許容範囲の幅Ｗ
と所定幅Ｗαとの大小関係をみることで、装填された光
ディスク１０が、以後、記録パワーＰ１の再設定を要す
るか否かを判断できる。因みに、この所定幅Ｗαは、（所定幅Ｗα）＝２×（最大温度変化分ΔＴｍａｘ）×（単位温度変化当たりの記録感度変化量ΔＰα）・・・（１）として予め決めることができる。この所定幅Ｗαは、想
定しうる最大の温度変化（例えば±１０℃）が生じた場
合、つまり記録パワーＰの許容範囲が最高にシフトした
場合であっても、Ｓ２で設定した記録パワーＰ１が許容
範囲から外れることがないような広い幅となっている。

【００４７】よって、Ｓ３での判別結果が否定（ＮＯ）
である場合には、温度変化に応じて記録パワーＰ１の再
設定を行う必要があるので、Ｓ４〜Ｓ８の処理へ進む。
Ｓ４において、ＣＰＵ１４は、Ｓ２で求めた記録パワー
Ｐの許容範囲の幅Ｗに基づき、後続するＳ５での判断の
基準値ΔＴαを、 ΔＴα＝Ｗ／（２×ΔＰα）・・・（２）の式により決定する。この基準値ΔＴαは、Ｓ２で設定
した記録パワーＰ１が、温度変化によりシフトした許容
範囲（例えば図５（２）（ｃ）で示す特性の記録パワー
Ｐの許容範囲（Ｐａ’，Ｐｂ’）から外れたか否かを判
別するための温度変化分の基準値である。

【００４８】そして、ＣＰＵ１４は、温度センサ１７の
出力に基づき光ディスク１０の温度Ｔを監視して、上記
基準温度Ｔｏからの温度変化分ΔＴ（ΔＴ＝｜Ｔ−Ｔｏ
｜）がΔＴα以上であるか否かを判別し（Ｓ５）、判別
の結果否定（ＮＯ）であるときには記録パワーＰ１の再
設定の必要がないとみなし、Ｓ６、Ｓ７の処理に進む。
即ち、ＣＰＵ１４は、記録すべき情報と、その情報を書
込む領域の指定との入力を待機し（Ｓ６）、それらが入
力されると、上記Ｓ２において設定された記録パワーＰ
１で、正規の記録を行う（Ｓ７）。

【００４９】また、Ｓ５における判別の結果が肯定（Ｙ
ＥＳ）であるときには記録パワーＰ１の再設定の必要が
生じているので、ＣＰＵ１４は、Ｓ８において再設定を
行った後Ｓ５に戻り、温度変化の有無を監視する。この
Ｓ８において、ＣＰＵ１４は、上記Ｓ２における設定と
同様に、記録パワーＰを値Ｐｎ１〜Ｐｎ１２まで変化さ
せて基準データの記録および再生を行い、記録パワーＰ
の許容範囲を求め、その許容範囲の中間値を新規の記録
パワーＰ１として設定する。なお、このＳ８では、Ｓ２
と同様に、テスト記録終了時の光ディスク１０温度を基
準温度Ｔｏとしてメモリ１５に格納することで、基準温
度Ｔｏを更新する。

【００５０】一方、Ｓ３における判別の結果が肯定（Ｙ
ＥＳ）である場合には、装填された光ディスク１０の許
容範囲の幅Ｗが十分に広く、温度変化に関わらず、最初
に設定された記録パワーＰ１での記録が可能であると判
断できるので、ＣＰＵ１４は、Ｓ９、Ｓ１０の処理へ進
み、Ｓ６、Ｓ７と同様に指示があり次第正規の記録を行
う。つまり、この場合には、記録パワーＰ１の再設定が
一切行われない。

【００５１】要するに、本実施形態では、従来例とは異
なり、装填された光ディスク１０について記録パワーＰ
１の再設定の必要性があるか否かを判別し、その必要性
のないディスクに関しては再設定の処理を行わない。ま
た、再設定の必要があると判断された光ディスクについ
ても、記録パワーの許容範囲の幅および温度変化の程度
に基づいて、その必要が生じた時にだけ再設定を行うよ
うにしている。

【００５２】これにより、本実施形態では、テスト記録
の回数を極力減少させて、不要な媒体劣化や装置性能の
低下を防ぐことができる。なお、上記実施形態では、温
度によって許容範囲の幅Ｗが変化しないことを仮定して
いるが、この幅Ｗの変化を考慮する場合には、「基準温
度Ｔｏに対する許容範囲の幅の拡大倍率γ１（Ｔ
ｏ）」、または、「記録パワーＰ１に対する許容範囲の
幅Ｗの拡大倍率γ２（Ｐ１）」等の関数を予め求めてお
き、Ｓ３で利用すればよい。

【００５３】例えば、式（１）に代えて、（所定幅Ｗα）＝２×（最大温度変化分ΔＴｍａｘ）×（単位温度変化当たりの記録感度変化量ΔＰα）／γ２（Ｐ１）・・・（１’）とする。また、上記実施形態では、単位温度変化当たり
の記録感度変化量ΔＰαが定数となっているが、これを
記録パワーの設定値Ｐ１や基準温度Ｔｏの関数ΔＰα
（Ｐ１）、ΔＰα（Ｔｏ）とすれば、Ｓ３、Ｓ４および
Ｓ５における演算の精度を向上させることが可能であ
る。但し、Ｓ４でこの関数を利用する場合には、基準値
ΔＴａの設定を、基準温度Ｔｏが更新される度に行う必
要がある。

【００５４】上記実施形態では、記録パワーＰ１を光デ
ィスク１０の最外周の領域で求めているが、回転速度が
一定の場合には、同一の光ディスク上であっても半径位
置によりその適正値が異なるので、異なる半径位置の複
数の領域でテスト記録を行ってもよい。その他、ある半
径位置の領域についてテスト記録を行い、その領域と異
なる半径位置の適正値については、そのテスト記録の結
果に基づく演算によって求めてもよい。

【００５５】上記実施形態では、図２のＳ８における記
録パワーＰ１の再設定を、テスト記録と再生とで行って
いるが、単位温度変化当たりの感度変化量ΔＰαを利用
して、ＣＰＵ１４による演算で実施することができる。
この場合には、Ｓ８における処理時間が短縮できるの
で、装置の性能がさらに向上する。上記実施形態では、
テスト記録時に、高パワーレベルＰＨと低パワーレベル
ＰＬとの比を一定として記録パワーを変化させている
が、本来、光変調オーバーライト方式が適用された光磁
気ディスクで記録パワーの設定が必要となる原因は、低
パワーレベルＰＬのパワーマージンが狭いことにあるの
で、一定の高パワーレベルＰＨの下で、低パワーレベル
ＰＬについてのみ変化させてデータ収集を行ってもよ
い。

【００５６】上記実施形態では、光ディスク１０の温度
変化を直接監視しているが、これに代えて装置内の所定
位置の温度変化を監視してもよい。上記実施形態では、
テスト記録時における記録パワーＰの変化のさせ方が、
値の小さい方から大きい方となっているが、この順序は
基本的に任意であることはいうまでもない。

【００５７】

【発明の効果】請求項１に記載の発明では、種々の特性
を有する光記録媒体のうち、記録時の光強度の許容範囲
幅が狭い光記録媒体については従来と同様に強度再設定
を適宜行い、光強度の許容範囲の幅が十分に広い光記録
媒体についてはこの再設定を行わないので、不要な処理
動作を省略することができる。

【００５８】請求項２に記載の発明では、光強度再設定
を行うべき温度変化分が、光強度の許容範囲幅に基づい
て設定されるので、個々の光記録媒体の特性に適応した
頻度で強度再設定の処理を行うことができる。請求項３
に記載の発明では、光記録媒体について請求項１および
請求項２に記載の発明を実施するので、不要な処理動作
を省略できると共に、個々の光記録媒体の特性に適応し
た頻度で強度再設定の処理を行うことができる。

【００５９】請求項４に記載の発明では、請求項２また
は請求項３に記載の発明において、光強度再設定を行う
頻度が、光強度の許容範囲の幅に応じたものとなるの
で、個々の光記録媒体の必要性に応じた強度再設定の処
理が行える。請求項５に記載の発明では、光強度の許容
範囲を、所定のテスト記録および再生の方法により確実
に求めることができる。

【００６０】請求項６に記載の発明では、再設定は、第
１の手順と同様にして行われるので、記録時における光
強度を適正な値に設定することができる。請求項７に記
載の発明では、再設定は、演算により行われるので、処
理時間の短縮が図れる。請求項８に記載の発明は、光変
調オーバーライト方式が適用された光磁気記録媒体につ
いて、記録時における適正な光強度を設定することがで
きる。

【００６１】請求項９〜請求項１６に記載の発明では、
請求項１〜請求項８に記載の光記録方法を実施する光記
録装置を提供することができる。要するに、本発明で
は、個々の光記録媒体の特性に適した記録を行うので、
装置の性能低下や、記録媒体の劣化を可能な限りにおい
て抑えることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】記録再生装置の主な構成を示すブロック図であ
る。

【図２】光ディスク１０のテスト領域を示す図である。

【図３】ＣＰＵ１４の動作フローチャートである。

【図４】記録用レーザ光のパワーレベルの時間変化を示
す図である。

【図５】記録パワーの設定の仕方を説明する図である。
（１）は、各テスト領域の記録パワーを示す図である。
（２）は、記録パワーと再生データのエラー数との関係
を示す図である。

【図６】記録パワーと再生データのエラー数との関係を
示す図である。

【符号の説明】

１０光ディスク１１光ヘッド１２記録波形生成回路１３レーザダイオード駆動回路１４中央処理装置１５メモリ１７温度センサ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光記録媒体に光を照射してテスト記録を
行い、正規の記録時における光強度を、前記テスト記録
の結果得た許容範囲内の値に設定する第１の手順と、前記光記録媒体の温度変化分が所定値以上となった場合
に、正規の記録時における光強度を再設定する第２の手
順とを有する光記録方法において、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合には、前記第
２の手順を実行しないことを特徴とする光記録方法。
【請求項２】光記録媒体に光を照射してテスト記録を
行い、正規の記録時における光強度を、前記テスト記録
の結果得た許容範囲内の値に設定する第１の手順と、前記光記録媒体の温度変化分が所定値以上となった場合
に、正規の記録時における光強度を再設定する第２の手
順とを有する光記録方法において、前記温度変化分の前記所定値を、前記許容範囲に基づい
て設定することを特徴とする光記録方法。
【請求項３】光記録媒体に光を照射してテスト記録を
行い、正規の記録時における光強度を、前記テスト記録
の結果得た許容範囲内の値に設定する第１の手順と、前記光記録媒体の温度変化分が所定値以上となった場合
に、正規の記録時における光強度を再設定する第２の手
順とを有する光記録方法において、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合には、前記第
２の手順を実行せず、前記許容範囲の幅が所定幅未満である場合には、前記温
度変化分の前記所定値を、前記許容範囲に基づいて設定
することを特徴とする光記録方法。
【請求項４】請求項２または請求項３に記載の光記録
方法において、前記温度変化分の前記所定値を、前記許容範囲の幅が広
いほど大きく設定することを特徴とする光記録方法。
【請求項５】請求項１〜請求項４の何れか一項に記載
の光記録方法において、前記テスト記録では、前記光記録媒体の所定領域に基準情報を記録し、前記所
定領域について再生を行い、前記基準情報と前記再生で
得た再生情報との比較結果に基づいて前記許容範囲を求
めることを特徴とする光記録方法。
【請求項６】請求項１〜請求項５の何れか一項に記載
の光記録方法において、前記第２の手順で再設定される前記記録光強度は、前記第１の手順と同様にして決定されることを特徴とす
る光記録方法。
【請求項７】請求項１〜請求項５の何れか一項に記載
の光記録方法において、前記第２の手順で再設定される前記記録光強度は、前記光記録媒体の温度変化分に基づく演算によって決定
されることを特徴とする光記録方法。
【請求項８】請求項１〜請求項７の何れか一項に記載
の光記録方法において、前記光記録媒体は、光変調オーバーライト方式が適用された光磁気記録媒体
であることを特徴とする光記録方法。
【請求項９】光記録媒体に光を照射してテスト記録を
行い、正規の記録時における光強度を、前記テスト記録
の結果得た許容範囲内の値に設定する強度設定手段と、前記光記録媒体または装置内の温度変化を検出する温度
検出手段と、前記温度検出手段が検出した温度変化分が所定値以上と
なった場合に、正規の記録時における光強度を再設定す
る再設定手段と、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合には、前記再
設定手段の動作を禁止する禁止手段とを備えたことを特
徴とする光記録装置。
【請求項１０】光記録媒体に光を照射してテスト記録
を行い、正規記録時における光強度を、前記テスト記録
の結果得た許容範囲内の値に設定する強度設定手段と、前記光記録媒体または装置内の温度変化を検出する温度
検出手段と、前記温度検出手段が検出した温度変化分が所定値以上と
なった場合に、正規の記録時における光強度を再設定す
る再設定手段と、前記温度変化分の前記所定値を、前記許容範囲に基づい
て設定する所定値設定手段とを備えたことを特徴とする
光記録装置。
【請求項１１】光記録媒体に光を照射してテスト記録
を行い、正規の記録時における光強度を、前記テスト記
録の結果得た許容範囲内の値に設定する強度設定手段
と、前記光記録媒体または装置内の温度変化を検出する温度
検出手段と、前記温度検出手段が検出した温度変化分が所定値以上と
なった場合に、正規の記録時における光強度を再設定す
る再設定手段と、前記許容範囲の幅が所定幅以上である場合には、前記再
設定手段の動作を禁止する禁止手段と、前記許容範囲の幅が所定幅未満である場合には、前記温
度変化分の前記所定値を、前記許容範囲に基づいて設定
する所定値設定手段とを備えたことを特徴とする光記録
装置。
【請求項１２】請求項１０または請求項１１に記載の
光記録装置において、前記所定値設定手段は、前記温度変化分の前記所定値を、前記許容範囲の幅が広
いほど大きく設定することを特徴とする光記録装置。
【請求項１３】請求項９〜請求項１２の何れか一項に
記載の光記録装置において、前記設定手段は、前記テスト記録では、前記光記録媒体の所定領域に基準情報を記録し、前記所
定領域について再生を行い、前記基準情報と前記再生で
得た再生情報との比較結果に基づいて前記許容範囲を求
めることを特徴とする光記録装置。
【請求項１４】請求項９〜請求項１３の何れか一項に
記載の光記録装置において、前記再設定手段は、前記記録光強度を、前記強度設定手段と同様にして決定
することを特徴とする光記録装置。
【請求項１５】請求項９〜請求項１３の何れか一項に
記載の光記録装置において、前記再設定手段は、前記記録光強度を、前記光記録媒体の温度変化分に基づ
く演算によって決定することを特徴とする光記録装置。
【請求項１６】請求項９〜請求項１５の何れか一項に
記載の光記録装置において、前記光記録媒体は、光変調オーバーライト方式が適用された光磁気記録媒体
であることを特徴とする光記録装置。