JPH11173839A - 構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザ - Google Patents
構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザInfo
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- JPH11173839A JPH11173839A JP34612597A JP34612597A JPH11173839A JP H11173839 A JPH11173839 A JP H11173839A JP 34612597 A JP34612597 A JP 34612597A JP 34612597 A JP34612597 A JP 34612597A JP H11173839 A JPH11173839 A JP H11173839A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】現場での作業が極めて簡単で、不慣れな作業者
でも短時間で正確に構築物の変形状態を解析するための
基礎データを採取できるようにする。 【解決手段】構築物等の調査対象物(W) の測定ポイント
となるひび割れ(C) が形成された位置の両側に基準マー
カ(M0)と測定用マーカ(M1)を貼り付け、これをデータレ
コーダ(3) で撮像し、この画像データをデータアナライ
ザ(4) で分析することにより測定用マーカ(M1)に形成さ
れた測定点(P1)のＸ−Ｙ−Ｚ座標が算出される。現場作
業としては、各測定ポイントに基準マーカ(M0)及び測定
用マーカ(M 1)を貼り付けてしまえば、あとは、各マーカ
(M0, M1)を撮像するだけで足りるので、極めて簡単で且
つ短時間で済む。そして，１カ月〜数カ月ごとに、画像
データを取り込み、同一測定点(P1)の座標データを比較
することにより、その変位量及び変位方向を知ることが
できる。
でも短時間で正確に構築物の変形状態を解析するための
基礎データを採取できるようにする。 【解決手段】構築物等の調査対象物(W) の測定ポイント
となるひび割れ(C) が形成された位置の両側に基準マー
カ(M0)と測定用マーカ(M1)を貼り付け、これをデータレ
コーダ(3) で撮像し、この画像データをデータアナライ
ザ(4) で分析することにより測定用マーカ(M1)に形成さ
れた測定点(P1)のＸ−Ｙ−Ｚ座標が算出される。現場作
業としては、各測定ポイントに基準マーカ(M0)及び測定
用マーカ(M 1)を貼り付けてしまえば、あとは、各マーカ
(M0, M1)を撮像するだけで足りるので、極めて簡単で且
つ短時間で済む。そして，１カ月〜数カ月ごとに、画像
データを取り込み、同一測定点(P1)の座標データを比較
することにより、その変位量及び変位方向を知ることが
できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、トンネル，橋梁，
ビルディングなどの構築物や、岩盤，地盤などの地表面
に、地震，地下水圧などに起因する外部応力が作用する
場合に、その変形量及び変形方向を測定する構築物など
の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコーダ及び
データアナライザに関する。
ビルディングなどの構築物や、岩盤，地盤などの地表面
に、地震，地下水圧などに起因する外部応力が作用する
場合に、その変形量及び変形方向を測定する構築物など
の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコーダ及び
データアナライザに関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、トンネルは、その内壁がコンク
リートなどで覆工されており、地震や地下水圧などによ
る外部応力が作用したり、コンクリートの劣化により外
部荷重に耐えられなくなってくると変形してしまい、そ
の結果、側面内側にへき開, ブロックずれによる目違い
（段差）, 剪断荷重によるひび割れを生ずる。そして、
このような変形が生ずると、以後も継続して変形が進行
し続ける可能性が高いので、一方向の変形量を電気的に
測定するひび割れ変位計や、直交する三方向の変形量を
測定する三方ゲージを用いて、その変形を経時的に計測
するようにしている。
リートなどで覆工されており、地震や地下水圧などによ
る外部応力が作用したり、コンクリートの劣化により外
部荷重に耐えられなくなってくると変形してしまい、そ
の結果、側面内側にへき開, ブロックずれによる目違い
（段差）, 剪断荷重によるひび割れを生ずる。そして、
このような変形が生ずると、以後も継続して変形が進行
し続ける可能性が高いので、一方向の変形量を電気的に
測定するひび割れ変位計や、直交する三方向の変形量を
測定する三方ゲージを用いて、その変形を経時的に計測
するようにしている。
【０００３】 図７はひび割れ変位計を示す概略構成
図、図８は三方ゲージを示す斜視図である。図７に示す
ひび割れ変位計５１は、左右両端に形成された台座５２
Ｒ，５２Ｌの間に、湾曲した板バネで受感部５３が形成
されて、その受感部５３にはストレインゲージ５４が貼
り付けられている。このひび割れ変位計５１の左右の台
座５２Ｒ，５２Ｌを、構築物等の調査対象物Ｗに形成さ
れたひび割れＣの両側に固定すれば、その変形に伴いひ
び割れＣの幅が変動した場合に、ストレインゲージ５４
の抵抗変化に基づいてその幅を検出することができる。
したがって、１カ月〜数カ月おきにストレインゲージ５
４の抵抗変化を測定すれば、ひび割れＣの幅の経時的変
化を知ることができる。
図、図８は三方ゲージを示す斜視図である。図７に示す
ひび割れ変位計５１は、左右両端に形成された台座５２
Ｒ，５２Ｌの間に、湾曲した板バネで受感部５３が形成
されて、その受感部５３にはストレインゲージ５４が貼
り付けられている。このひび割れ変位計５１の左右の台
座５２Ｒ，５２Ｌを、構築物等の調査対象物Ｗに形成さ
れたひび割れＣの両側に固定すれば、その変形に伴いひ
び割れＣの幅が変動した場合に、ストレインゲージ５４
の抵抗変化に基づいてその幅を検出することができる。
したがって、１カ月〜数カ月おきにストレインゲージ５
４の抵抗変化を測定すれば、ひび割れＣの幅の経時的変
化を知ることができる。
【０００４】 また、図８に示す三方ゲージ６１は、構
築物等の調査対象物Ｗに形成されたひび割れＣの片側に
固定される門型の基準点設定ゲート６２と、ひび割れＣ
を挟んで基準点設定ゲート６２の反対側に固定されるＴ
字型の測定点設定器６３とからなる。そして、直交３軸
に沿って基準点設定ゲート６２に開口された測定基準孔
６４ｘ，６４ｙ，６４ｚからこれらに対向する測定点設
定器６３の各面６５ｘ，６５ｙ，６５ｚまでの距離をノ
ギスなどで経時的に測定することにより、ひび割れＣの
三次元の変形量及び変形方向を測定することができる。
築物等の調査対象物Ｗに形成されたひび割れＣの片側に
固定される門型の基準点設定ゲート６２と、ひび割れＣ
を挟んで基準点設定ゲート６２の反対側に固定されるＴ
字型の測定点設定器６３とからなる。そして、直交３軸
に沿って基準点設定ゲート６２に開口された測定基準孔
６４ｘ，６４ｙ，６４ｚからこれらに対向する測定点設
定器６３の各面６５ｘ，６５ｙ，６５ｚまでの距離をノ
ギスなどで経時的に測定することにより、ひび割れＣの
三次元の変形量及び変形方向を測定することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ひび割
れ変位計５１は、正確には調査対象物Ｗに固定された台
座５２Ｒ，５２Ｌ間の距離の変化を測定することができ
るのみで、その変形方向を知ることができないため、調
査対象物Ｗにどのような方向から力が作用しているかを
判断することが困難であった。また、このひび割れ変位
計５１に用いられているストレインゲージ５４は、４つ
の抵抗体を用いてブリッジ回路を組んでいるのが普通で
あるが、前回測定時と今回測定時とで雰囲気温度が異な
る場合にブリッジ平衡点が移動してしまうため、正確な
変位を測定するために、温度補正をしなければならない
という面倒がある。さらに、ストレインゲージ５４を接
着している受感部５３の弾性率が、雰囲気温度によって
変化するために誤差を生じたり、ストレインゲージ５４
を受感部５３に接着している接着剤は高分子材料で形成
されているため、温度によって特性が大きく変動し、受
感部５３のヒステリシス，ストレインゲージ５４のクリ
ープやリラクゼーションに起因する誤差を生ずる。した
がって、正確な変位を測定するためには、種々の補正を
行いながら測定しなければならず、専門知識を必要と
し、必要なデータを誰でも簡単に且つ正確に採取するこ
とができるというものではなかった。
れ変位計５１は、正確には調査対象物Ｗに固定された台
座５２Ｒ，５２Ｌ間の距離の変化を測定することができ
るのみで、その変形方向を知ることができないため、調
査対象物Ｗにどのような方向から力が作用しているかを
判断することが困難であった。また、このひび割れ変位
計５１に用いられているストレインゲージ５４は、４つ
の抵抗体を用いてブリッジ回路を組んでいるのが普通で
あるが、前回測定時と今回測定時とで雰囲気温度が異な
る場合にブリッジ平衡点が移動してしまうため、正確な
変位を測定するために、温度補正をしなければならない
という面倒がある。さらに、ストレインゲージ５４を接
着している受感部５３の弾性率が、雰囲気温度によって
変化するために誤差を生じたり、ストレインゲージ５４
を受感部５３に接着している接着剤は高分子材料で形成
されているため、温度によって特性が大きく変動し、受
感部５３のヒステリシス，ストレインゲージ５４のクリ
ープやリラクゼーションに起因する誤差を生ずる。した
がって、正確な変位を測定するためには、種々の補正を
行いながら測定しなければならず、専門知識を必要と
し、必要なデータを誰でも簡単に且つ正確に採取するこ
とができるというものではなかった。
【０００６】 また、三方ゲージ６１を用いればひび割
れＣの変位量を三次元的に測定することができるので、
これらのデータに基づいて変形量及び変形方向を知るこ
とができる。しかし、一つのトンネルで測定ポイントは
数十点〜数百点もあり、個々の測定ポイントごとに三方
向のデータを読み取らなければならないので、全部で約
百〜千程度のデータを採取しなければならない。しか
も、自動車通行量が多い所では排気ガスや路面から舞い
上がる埃により空気が汚染されている環境下で、作業者
は、ノギスでデータを読み取るという原始的な作業を強
いられており、設備の整った高速道路のトンネルでも、
その内部はノギスの目盛を読み取るには薄暗いという問
題があった。このように、作業環境が悪いため、作業者
の熟練度に関係なく測定誤差が大きく、データ採取に長
時間要するのみならず、正確なデータ採取が困難であっ
た。さらに、ひび割れ変位計５１及び三方ゲージ６１の
いずれの場合であっても、全ての測定ポイントに設置す
ると、その設備費及び設置費用が嵩むだけでなく、設置
した状態でひび割れ変位計５１及び三方ゲージ６１を壁
面から突出させて設けざるを得ず、見栄えも悪いという
問題もあった。これらの事情は、トンネルの変形量を測
定する場合だけでなく、橋梁，ビルディングなどの構築
物や、岩盤，地盤などの地表面に生じた変形量を測定す
る場合も同様である。
れＣの変位量を三次元的に測定することができるので、
これらのデータに基づいて変形量及び変形方向を知るこ
とができる。しかし、一つのトンネルで測定ポイントは
数十点〜数百点もあり、個々の測定ポイントごとに三方
向のデータを読み取らなければならないので、全部で約
百〜千程度のデータを採取しなければならない。しか
も、自動車通行量が多い所では排気ガスや路面から舞い
上がる埃により空気が汚染されている環境下で、作業者
は、ノギスでデータを読み取るという原始的な作業を強
いられており、設備の整った高速道路のトンネルでも、
その内部はノギスの目盛を読み取るには薄暗いという問
題があった。このように、作業環境が悪いため、作業者
の熟練度に関係なく測定誤差が大きく、データ採取に長
時間要するのみならず、正確なデータ採取が困難であっ
た。さらに、ひび割れ変位計５１及び三方ゲージ６１の
いずれの場合であっても、全ての測定ポイントに設置す
ると、その設備費及び設置費用が嵩むだけでなく、設置
した状態でひび割れ変位計５１及び三方ゲージ６１を壁
面から突出させて設けざるを得ず、見栄えも悪いという
問題もあった。これらの事情は、トンネルの変形量を測
定する場合だけでなく、橋梁，ビルディングなどの構築
物や、岩盤，地盤などの地表面に生じた変形量を測定す
る場合も同様である。
【０００７】 そこで本発明は、現場での作業が極めて
簡単で、不慣れな作業者でも短時間で正確に再現性のよ
いデータを採取できるようにすることを技術的課題とし
ている。
簡単で、不慣れな作業者でも短時間で正確に再現性のよ
いデータを採取できるようにすることを技術的課題とし
ている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明は、構築物等の調査対象物に予め設定した測
定点の変位量及び変位方向を測定する構築物等の変形状
態解析装置であって、基準点と校正点を所定距離だけ離
した位置に形成して成る基準マーカを調査対象物に固定
すると共に、測定点が形成された測定用マーカを前記基
準マーカから任意の距離だけ離して調査対象物に固定し
た状態で、少なくとも前記基準点，校正点及び測定点を
撮像した画像データを記憶媒体に記憶するデータレコー
ダと、前記記憶媒体に記憶された画像データに基づいて
測定点の座標データを算出し、同一の測定点の座標デー
タの経時的変化に基づいてその変位量及び変位方向を解
析するデータアナライザとからなることを特徴とする。
に、本発明は、構築物等の調査対象物に予め設定した測
定点の変位量及び変位方向を測定する構築物等の変形状
態解析装置であって、基準点と校正点を所定距離だけ離
した位置に形成して成る基準マーカを調査対象物に固定
すると共に、測定点が形成された測定用マーカを前記基
準マーカから任意の距離だけ離して調査対象物に固定し
た状態で、少なくとも前記基準点，校正点及び測定点を
撮像した画像データを記憶媒体に記憶するデータレコー
ダと、前記記憶媒体に記憶された画像データに基づいて
測定点の座標データを算出し、同一の測定点の座標デー
タの経時的変化に基づいてその変位量及び変位方向を解
析するデータアナライザとからなることを特徴とする。
【０００９】 本発明によれば、構築物等の調査対象物
の表面に形成されたひび割れの両側に基準マーカと測定
用マーカを貼り付け、これをデータレコーダにより撮像
し、各測定ポイントにおける画像データを記憶させる。
そして、この取り込んだ画像データを持ち返り、データ
アナライザで分析すると各測定ポイントにおける測定点
の座標が算出される。したがって、現場作業としては、
各測定ポイントに基準マーカ及び測定用マーカを貼り付
けてしまえば、あとは、各測定ポイントの基準点，校正
点，測定点をデータレコーダで撮像するだけで足りるの
で、現場作業は、極めて簡単で且つ短時間で済む。ま
た、現場では変位量などの数値データを採取する面倒は
一切ないので、不慣れな作業者や、専門的な技術知識が
ない全くの素人でも、正確にデータの採取作業を行うこ
とができる。
の表面に形成されたひび割れの両側に基準マーカと測定
用マーカを貼り付け、これをデータレコーダにより撮像
し、各測定ポイントにおける画像データを記憶させる。
そして、この取り込んだ画像データを持ち返り、データ
アナライザで分析すると各測定ポイントにおける測定点
の座標が算出される。したがって、現場作業としては、
各測定ポイントに基準マーカ及び測定用マーカを貼り付
けてしまえば、あとは、各測定ポイントの基準点，校正
点，測定点をデータレコーダで撮像するだけで足りるの
で、現場作業は、極めて簡単で且つ短時間で済む。ま
た、現場では変位量などの数値データを採取する面倒は
一切ないので、不慣れな作業者や、専門的な技術知識が
ない全くの素人でも、正確にデータの採取作業を行うこ
とができる。
【００１０】 このようにして取り込んだ画像データに
は、基準点と校正点と測定点が撮像されており、基準点
から校正点までの距離は予め設定されているので、この
二つの点の位置と距離に基づいて画面上にＸ−Ｙ座標を
設定することができ、このＸ─Ｙ座標上の測定点の座標
データが読み取れる。したがって、１カ月〜数カ月ごと
に、画像データを取り込み、同一測定点の座標データが
経時的に変化していれば、その変位量及び変位方向を解
析することができ、調査対象物の表面に対して直交する
Ｚ方向の変位がほとんどない場合には、このＸ─Ｙ座標
データに基づいて変形状態を解析することができる。
は、基準点と校正点と測定点が撮像されており、基準点
から校正点までの距離は予め設定されているので、この
二つの点の位置と距離に基づいて画面上にＸ−Ｙ座標を
設定することができ、このＸ─Ｙ座標上の測定点の座標
データが読み取れる。したがって、１カ月〜数カ月ごと
に、画像データを取り込み、同一測定点の座標データが
経時的に変化していれば、その変位量及び変位方向を解
析することができ、調査対象物の表面に対して直交する
Ｚ方向の変位がほとんどない場合には、このＸ─Ｙ座標
データに基づいて変形状態を解析することができる。
【００１１】 また、データレコーダに、基準点及び測
定点までの距離を測定する距離センサを設け、距離セン
サで測定された夫々の距離データに基づいてその差を算
出し、これを測定点のＺ座標とすれば、測定点の三次元
データを算出できるので、調査対象物の表面に対して直
交するＺ方向の変位が無視できない場合には、この三次
元データに基づいて変形状態を解析すればよい。
定点までの距離を測定する距離センサを設け、距離セン
サで測定された夫々の距離データに基づいてその差を算
出し、これを測定点のＺ座標とすれば、測定点の三次元
データを算出できるので、調査対象物の表面に対して直
交するＺ方向の変位が無視できない場合には、この三次
元データに基づいて変形状態を解析すればよい。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて具体的に説明する。図１は本発明に係る構築
物等の変形状態解析装置の概略構成図、図２はデータレ
コーダを示す斜視図、図３（ａ）〜（ｄ）はデータの解
析原理を示す説明図、図４は他のデータレコーダを示す
斜視図、図５は他のデータアナライザの概略構成図、図
６はそのデータの解析原理を示す説明図である。
に基づいて具体的に説明する。図１は本発明に係る構築
物等の変形状態解析装置の概略構成図、図２はデータレ
コーダを示す斜視図、図３（ａ）〜（ｄ）はデータの解
析原理を示す説明図、図４は他のデータレコーダを示す
斜視図、図５は他のデータアナライザの概略構成図、図
６はそのデータの解析原理を示す説明図である。
【００１３】 図１に示す構築物等の変形状態解析装置
１は、調査対象物Ｗとなるトンネル，橋梁，ビルディン
グなどの構築物や、岩盤，地盤などの地表面などに予め
設定した測定点Ｐ1 の変位量及び変位方向を測定するも
のであって、基準点Ｐ0 と校正点Ｑ0 を所定距離だけ離
した位置に形成して成る基準マーカＭ0 を調査対象物Ｗ
の表面に固定すると共に、測定点Ｐ1 の位置を設定する
測定用マーカＭ1 を任意の間隔で調査対象物Ｗの表面に
固定した状態で、少なくとも前記基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ
0 及び測定点Ｐ1 を撮像した画像データを記憶媒体２に
記憶するデータレコーダ３と、その画像データに基づい
て測定点Ｐ1 の座標データを算出し、同一測定点Ｐ1 の
座標データの経時的変化に基づいてその変位量及び変位
方向を解析するデータアナライザ４とからなる。
１は、調査対象物Ｗとなるトンネル，橋梁，ビルディン
グなどの構築物や、岩盤，地盤などの地表面などに予め
設定した測定点Ｐ1 の変位量及び変位方向を測定するも
のであって、基準点Ｐ0 と校正点Ｑ0 を所定距離だけ離
した位置に形成して成る基準マーカＭ0 を調査対象物Ｗ
の表面に固定すると共に、測定点Ｐ1 の位置を設定する
測定用マーカＭ1 を任意の間隔で調査対象物Ｗの表面に
固定した状態で、少なくとも前記基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ
0 及び測定点Ｐ1 を撮像した画像データを記憶媒体２に
記憶するデータレコーダ３と、その画像データに基づい
て測定点Ｐ1 の座標データを算出し、同一測定点Ｐ1 の
座標データの経時的変化に基づいてその変位量及び変位
方向を解析するデータアナライザ４とからなる。
【００１４】 データレコーダ３は、前記基準点Ｐ0 ，
校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1を撮像する画像データ入力装置
５と、前記基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 までの夫々の距離
データｄ0 及びｄ1 を光学的に測定する距離センサ６，
７と、撮像された画像データ及び測定された距離データ
をフロッピーディスクや光磁気ディスクなどの記憶媒体
２に記憶するデータ記録装置９を備えている。画像デー
タ入力装置５は、基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1
を同一画面上に撮像するＣＣＤカメラなどの撮像装置Ｓ
からなり、当該撮像装置Ｓが、内部照明１０を備えた先
端開口径１０ｃｍ程の円錐筒状のデータ入力プローブ１
１の底部１１ａの中心位置に取り付けられている。ま
た、前記距離センサ６，７は、撮像装置Ｓの両側に、予
め設定された間隔（例えば基準点Ｐ0 と測定点Ｐ1 の間
隔と略等しい間隔）で、その光軸を平行にした状態で取
り付けられている。そして、データ入力プローブ１１の
先端開口部１１ｂを調査対象物Ｗの表面に当接させる
と、撮像装置Ｓ及び距離センサ６，７は、夫々の光軸が
当該調査対象物Ｗの表面に対して直角になるように位置
決めされる。
校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1を撮像する画像データ入力装置
５と、前記基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 までの夫々の距離
データｄ0 及びｄ1 を光学的に測定する距離センサ６，
７と、撮像された画像データ及び測定された距離データ
をフロッピーディスクや光磁気ディスクなどの記憶媒体
２に記憶するデータ記録装置９を備えている。画像デー
タ入力装置５は、基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1
を同一画面上に撮像するＣＣＤカメラなどの撮像装置Ｓ
からなり、当該撮像装置Ｓが、内部照明１０を備えた先
端開口径１０ｃｍ程の円錐筒状のデータ入力プローブ１
１の底部１１ａの中心位置に取り付けられている。ま
た、前記距離センサ６，７は、撮像装置Ｓの両側に、予
め設定された間隔（例えば基準点Ｐ0 と測定点Ｐ1 の間
隔と略等しい間隔）で、その光軸を平行にした状態で取
り付けられている。そして、データ入力プローブ１１の
先端開口部１１ｂを調査対象物Ｗの表面に当接させる
と、撮像装置Ｓ及び距離センサ６，７は、夫々の光軸が
当該調査対象物Ｗの表面に対して直角になるように位置
決めされる。
【００１５】 また、データアナライザ４は、記憶媒体
２に記憶されている前記基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 及び測
定点Ｐ1 を撮像した画像データと、基準点Ｐ0 及び測定
点Ｐ1 までの夫々の距離データｄ0 及びｄ1 に基づい
て、測定点Ｐ1 の変位量及び変位方向を解析するもので
ある。そして、当該データアナライザ４は、記憶媒体２
に記憶されているデータをデータリーダ１９などを介し
て入力するデータ入力部２０と、基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ
0 及び測定点Ｐ1 が撮像された画面上にＸ−Ｙ座標を設
定するＸ−Ｙ座標設定器２１と、測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座
標上の座標データを算出するＸ−Ｙ座標データ算出装置
２２と、測定点Ｐ1 のＺ軸上の座標データを算出するＺ
座標データ算出装置２３と、前記Ｘ−Ｙ座標データ算出
装置２２及び前記Ｚ座標データ算出装置２３で算出され
た測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを夫々記憶する座
標データメモリ２４と、同一測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座
標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向
を三次元的に算出する演算装置２５を備えている。
２に記憶されている前記基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 及び測
定点Ｐ1 を撮像した画像データと、基準点Ｐ0 及び測定
点Ｐ1 までの夫々の距離データｄ0 及びｄ1 に基づい
て、測定点Ｐ1 の変位量及び変位方向を解析するもので
ある。そして、当該データアナライザ４は、記憶媒体２
に記憶されているデータをデータリーダ１９などを介し
て入力するデータ入力部２０と、基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ
0 及び測定点Ｐ1 が撮像された画面上にＸ−Ｙ座標を設
定するＸ−Ｙ座標設定器２１と、測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座
標上の座標データを算出するＸ−Ｙ座標データ算出装置
２２と、測定点Ｐ1 のＺ軸上の座標データを算出するＺ
座標データ算出装置２３と、前記Ｘ−Ｙ座標データ算出
装置２２及び前記Ｚ座標データ算出装置２３で算出され
た測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを夫々記憶する座
標データメモリ２４と、同一測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座
標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向
を三次元的に算出する演算装置２５を備えている。
【００１６】 Ｘ−Ｙ座標設定器２１は、前記画像デー
タから読み取れる基準点Ｐ0 及び校正点Ｑ0 の位置に基
づいて座標面を設定するもので、例えば、図３（ａ）及
び（ｂ）に示すように、基準点Ｐ0 を原点とし、校正点
Ｑ0 に向かう直線をＹ軸，基準点Ｐ0 を通りＹ軸に直交
する軸をＸ軸として設定すると共に、画面上の単位長さ
を設定する。このとき、単位長さは、基準点Ｐ0 及び校
正点Ｑ0 の前記Ｘ−Ｙ座標における位置と、基準マーカ
Ｍ0 上に形成されている両者の実際の間隔に基づいて定
められる。そして、Ｘ−Ｙ座標データ算出装置２２で
は、前記Ｘ−Ｙ座標設定器２１により設定された画面上
のＸ−Ｙ座標に基づき、図３（ａ）に示すように、画像
データ中の測定点Ｐ1 の二次元座標データ（ｘ1 ，
ｙ1 ）を算出する。
タから読み取れる基準点Ｐ0 及び校正点Ｑ0 の位置に基
づいて座標面を設定するもので、例えば、図３（ａ）及
び（ｂ）に示すように、基準点Ｐ0 を原点とし、校正点
Ｑ0 に向かう直線をＹ軸，基準点Ｐ0 を通りＹ軸に直交
する軸をＸ軸として設定すると共に、画面上の単位長さ
を設定する。このとき、単位長さは、基準点Ｐ0 及び校
正点Ｑ0 の前記Ｘ−Ｙ座標における位置と、基準マーカ
Ｍ0 上に形成されている両者の実際の間隔に基づいて定
められる。そして、Ｘ−Ｙ座標データ算出装置２２で
は、前記Ｘ−Ｙ座標設定器２１により設定された画面上
のＸ−Ｙ座標に基づき、図３（ａ）に示すように、画像
データ中の測定点Ｐ1 の二次元座標データ（ｘ1 ，
ｙ1 ）を算出する。
【００１７】 また、調査対象物Ｗの表面に対して直交
する方向をＺ軸とすると、測定点Ｐ1 のＺ座標データ
は、図３（ｃ）に示すように、基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ
1 までの夫々の距離データｄ0 及びｄ1 に基づいて算出
することができる。すなわち、Ｚ座標データ算出装置２
３では、前記各距離データｄ0 及びｄ1 の差を算出し、
これを測定点Ｐ1 のＺ座標データ（ｚ1 ）として設定す
る。
する方向をＺ軸とすると、測定点Ｐ1 のＺ座標データ
は、図３（ｃ）に示すように、基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ
1 までの夫々の距離データｄ0 及びｄ1 に基づいて算出
することができる。すなわち、Ｚ座標データ算出装置２
３では、前記各距離データｄ0 及びｄ1 の差を算出し、
これを測定点Ｐ1 のＺ座標データ（ｚ1 ）として設定す
る。
【００１８】 このようにして、調査対象物Ｗに設定し
た各測定点ポイントについて、夫々の測定点Ｐ1 のＸ−
Ｙ−Ｚ座標データを算出して、その座標データを座標デ
ータメモリ２４に記憶しておく。次いで、１カ月〜数カ
月経過した後、調査対象物Ｗの各測定ポイントについて
同様にデータレコーダ３でデータを採取し、データアナ
ライザ４で各測定点Ｐ1のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを算出
し、その座標データを座標データメモリ２４に記憶させ
れば、同一測定点Ｐ1 についての経時的な座標データが
採取される。このとき、データレコーダ３の位置が以前
に撮像したときと多少ずれて、図３（ｂ）に示すよう
に、基準点Ｐ0 及び校正点Ｑ0 の画面上の位置が図３
（ａ）に示す前回撮影時の画面の位置と異なる場合であ
っても、測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標は、常に基準点Ｐ0 を
原点とするＸ−Ｙ座標上の点として特定できるので、同
一座標上の座標データとして取り込むことができ、測定
誤差を生ずることはない。
た各測定点ポイントについて、夫々の測定点Ｐ1 のＸ−
Ｙ−Ｚ座標データを算出して、その座標データを座標デ
ータメモリ２４に記憶しておく。次いで、１カ月〜数カ
月経過した後、調査対象物Ｗの各測定ポイントについて
同様にデータレコーダ３でデータを採取し、データアナ
ライザ４で各測定点Ｐ1のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを算出
し、その座標データを座標データメモリ２４に記憶させ
れば、同一測定点Ｐ1 についての経時的な座標データが
採取される。このとき、データレコーダ３の位置が以前
に撮像したときと多少ずれて、図３（ｂ）に示すよう
に、基準点Ｐ0 及び校正点Ｑ0 の画面上の位置が図３
（ａ）に示す前回撮影時の画面の位置と異なる場合であ
っても、測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標は、常に基準点Ｐ0 を
原点とするＸ−Ｙ座標上の点として特定できるので、同
一座標上の座標データとして取り込むことができ、測定
誤差を生ずることはない。
【００１９】 そして、演算装置２５では、座標データ
メモリ２４に記憶された同一測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座
標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向
が三次元的に算出される。例えば、図３（ｄ）に示すよ
うに、前回測定した測定点Ｐ1 の座標データＤ
1（ｘ1 ，ｙ1 ，ｚ1 ）と、今回測定した測定点Ｐ1 の
座標データＤ2 （ｘ2 ，ｙ 2 ，ｚ2 ）から、変位量ΔＬ
は、２地点Ｄ1 ，Ｄ2 を結ぶ線分の長さで表され、 ΔＬ＝〔（ｘ2 −ｘ1 ）2 ＋（ｙ2 −ｙ1 ）2 ＋（ｚ2
−ｚ1 ）2 〕1/2 で求められる。また、測定点Ｐ1 の変位方向は、Ｄ1 ，
Ｄ2 を結ぶ線分と、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸となす角をα，
β，γとすれば、 α＝ cos-1〔（ｘ2 −ｘ1 ）／ΔＬ〕 β＝ cos-1〔（ｙ2 −ｙ1 ）／ΔＬ〕 γ＝ cos-1〔（ｚ2 −ｚ1 ）／ΔＬ〕 で求められる。
メモリ２４に記憶された同一測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座
標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向
が三次元的に算出される。例えば、図３（ｄ）に示すよ
うに、前回測定した測定点Ｐ1 の座標データＤ
1（ｘ1 ，ｙ1 ，ｚ1 ）と、今回測定した測定点Ｐ1 の
座標データＤ2 （ｘ2 ，ｙ 2 ，ｚ2 ）から、変位量ΔＬ
は、２地点Ｄ1 ，Ｄ2 を結ぶ線分の長さで表され、 ΔＬ＝〔（ｘ2 −ｘ1 ）2 ＋（ｙ2 −ｙ1 ）2 ＋（ｚ2
−ｚ1 ）2 〕1/2 で求められる。また、測定点Ｐ1 の変位方向は、Ｄ1 ，
Ｄ2 を結ぶ線分と、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸となす角をα，
β，γとすれば、 α＝ cos-1〔（ｘ2 −ｘ1 ）／ΔＬ〕 β＝ cos-1〔（ｙ2 −ｙ1 ）／ΔＬ〕 γ＝ cos-1〔（ｚ2 −ｚ1 ）／ΔＬ〕 で求められる。
【００２０】 以上が本発明の一例構成であって、次に
その作用を説明する。まず、表面にひび割れＣを生じた
構築物等の調査対象物Ｗの変形状態を調査しようとする
場合、変形状態を測定しようとする全ての測定ポイント
について、ひび割れＣを挟んでその両側に基準マーカＭ
0 と測定用マーカＭ1 を、エポキシ系の接着剤などで貼
り付ける。このとき、基準マーカＭ0 に形成された基準
点Ｐ0 と校正点Ｑ0 を結ぶ線分Ｐ 0 Ｑ0 がひび割れＣと
略平行になるように当該基準マーカＭ0 を貼り付け、ま
た、測定用マーカＭ1 に形成された測定点Ｐ1 と基準点
Ｐ0 を結ぶ線分Ｐ0 Ｐ1 が前記線分Ｐ0 Ｑ0 と直交する
ように、測定用マーカＭ1 を貼り付けるのが好ましい。
また、これらのマーカＭ0 ，Ｍ1 は合成樹脂のシートな
どに印刷することにより製造することができるので、そ
のコストが極めて安価で、しかも、調査対象物Ｗの表面
に貼り付けてもその表面から突出しないので、全く目立
たない。
その作用を説明する。まず、表面にひび割れＣを生じた
構築物等の調査対象物Ｗの変形状態を調査しようとする
場合、変形状態を測定しようとする全ての測定ポイント
について、ひび割れＣを挟んでその両側に基準マーカＭ
0 と測定用マーカＭ1 を、エポキシ系の接着剤などで貼
り付ける。このとき、基準マーカＭ0 に形成された基準
点Ｐ0 と校正点Ｑ0 を結ぶ線分Ｐ 0 Ｑ0 がひび割れＣと
略平行になるように当該基準マーカＭ0 を貼り付け、ま
た、測定用マーカＭ1 に形成された測定点Ｐ1 と基準点
Ｐ0 を結ぶ線分Ｐ0 Ｐ1 が前記線分Ｐ0 Ｑ0 と直交する
ように、測定用マーカＭ1 を貼り付けるのが好ましい。
また、これらのマーカＭ0 ，Ｍ1 は合成樹脂のシートな
どに印刷することにより製造することができるので、そ
のコストが極めて安価で、しかも、調査対象物Ｗの表面
に貼り付けてもその表面から突出しないので、全く目立
たない。
【００２１】 次いで、データレコーダ３により、デー
タの採取を行う。これは、各測定ポイントの基準点
Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 を撮像装置Ｓにより撮像
すると共に、基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1 までの距離を距離
センサ６，７で測定し、画像データ及び距離データをデ
ータ記録装置９により記憶媒体２に記憶させる。このと
き、データ入力プローブ１１内は内部照明１０で照明さ
れるので、トンネルのような薄暗いところや、夜間でも
撮像可能である。また、距離センサ６，７から出射され
た光が、基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 で反射されて、その
反射光の角度を検出することにより基準点Ｐ0 及び測定
点Ｐ1 までの距離を測定することができる。このとき、
各距離センサ６，７から出射された光が正確に基準点Ｐ
0 及び測定点Ｐ1 に照射されない場合であっても、基準
マーカＭ0 及び測定用マーカＭ1 の表面に照射すれば、
基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1までの距離ｄ1 及びｄ2 をほ
とんど誤差なく測定できる。
タの採取を行う。これは、各測定ポイントの基準点
Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 を撮像装置Ｓにより撮像
すると共に、基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1 までの距離を距離
センサ６，７で測定し、画像データ及び距離データをデ
ータ記録装置９により記憶媒体２に記憶させる。このと
き、データ入力プローブ１１内は内部照明１０で照明さ
れるので、トンネルのような薄暗いところや、夜間でも
撮像可能である。また、距離センサ６，７から出射され
た光が、基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 で反射されて、その
反射光の角度を検出することにより基準点Ｐ0 及び測定
点Ｐ1 までの距離を測定することができる。このとき、
各距離センサ６，７から出射された光が正確に基準点Ｐ
0 及び測定点Ｐ1 に照射されない場合であっても、基準
マーカＭ0 及び測定用マーカＭ1 の表面に照射すれば、
基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1までの距離ｄ1 及びｄ2 をほ
とんど誤差なく測定できる。
【００２２】 そして、調査対象物Ｗの全ての測定ポイ
ントについて、画像データ及び距離データを採取すると
現場での作業は終了する。このように、データ採取現場
では、データレコーダ３を用いて、撮像装置Ｓで基準点
Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 を撮像すると共に、距離
センサ６，７で基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1 までの距離を光
学的に測定しているので、作業者は、撮像装置Ｓのシャ
ッターや距離センサ６，７のスイッチを押すだけの極め
て簡単な作業を行えば足り、夫々のデータを取り込む際
に、そのデータを肉眼で読み取ったり、集計用紙に書き
込んだりする必要もないので、特別な専門知識や専門技
能が全くないものであっても、簡単に且つ短時間で、正
確なデータを取り込むことができる。なお、調査対象物
Ｗとして構築物などの変形状態を解析する場合は、徐々
に形状が変化していくので、例えば１ヵ月〜数カ月おき
に、データレコーダ３を用いてデータ採取を行う。
ントについて、画像データ及び距離データを採取すると
現場での作業は終了する。このように、データ採取現場
では、データレコーダ３を用いて、撮像装置Ｓで基準点
Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 を撮像すると共に、距離
センサ６，７で基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1 までの距離を光
学的に測定しているので、作業者は、撮像装置Ｓのシャ
ッターや距離センサ６，７のスイッチを押すだけの極め
て簡単な作業を行えば足り、夫々のデータを取り込む際
に、そのデータを肉眼で読み取ったり、集計用紙に書き
込んだりする必要もないので、特別な専門知識や専門技
能が全くないものであっても、簡単に且つ短時間で、正
確なデータを取り込むことができる。なお、調査対象物
Ｗとして構築物などの変形状態を解析する場合は、徐々
に形状が変化していくので、例えば１ヵ月〜数カ月おき
に、データレコーダ３を用いてデータ採取を行う。
【００２３】 そして、このようにして取り込まれた画
像データ及び距離データに基づいて、各測定点Ｐ1 の経
時的な変位量及び変位方向をデータアナライザ４で解析
する。データアナライザ４では、前回測定されたデータ
に基づき変位前の測定点のＰ 1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データ
Ｄ1 （ｘ1 ，ｙ1 ，ｚ1 ）と、今回測定されたデータに
基づき変位後の測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ2
（ｘ2 ，ｙ2 ，ｚ2 ）が算出されて、これらに基づい
て、夫々の測定点Ｐ1 の変位量及び変位方向が算出され
る。
像データ及び距離データに基づいて、各測定点Ｐ1 の経
時的な変位量及び変位方向をデータアナライザ４で解析
する。データアナライザ４では、前回測定されたデータ
に基づき変位前の測定点のＰ 1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データ
Ｄ1 （ｘ1 ，ｙ1 ，ｚ1 ）と、今回測定されたデータに
基づき変位後の測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ2
（ｘ2 ，ｙ2 ，ｚ2 ）が算出されて、これらに基づい
て、夫々の測定点Ｐ1 の変位量及び変位方向が算出され
る。
【００２４】 まず、前回測定された画像データ及び距
離データがデータリーダ１９により読み出されて、デー
タ入力部２０から入力されると、まず、Ｘ−Ｙ座標設定
器２１で、基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 及び測定点Ｐ1 が撮
像された画面上に、基準点Ｐ0 から校正点Ｑ0 に向かう
方向をＹ軸とし、これに直交して基準点Ｐ 0 からＹ軸に
直交する方向がＸ軸となるＸ−Ｙ座標を設定し、このＸ
−Ｙ座標の単位長さを基準点Ｐ0 と校正点Ｑ0 と両者間
の実際の距離に基づいて定める。そして、このように設
定されたＸ−Ｙ座標軸上において、Ｘ−Ｙ座標データ算
出装置２２で測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標データ（ｘ1 ，ｙ
1 ）が読み取られる。また、Ｚ座標データ算出装置２３
では、基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 までの夫々の距離デー
タｄ0 及びｄ1 の差が算出され、これを測定点Ｐ1 のＺ
座標データ（ｚ1 ）として設定される。そして、測定点
Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ1 （ｘ1 ，ｙ1 ，ｚ1 ）
が座標データメモリ２４に記憶される。
離データがデータリーダ１９により読み出されて、デー
タ入力部２０から入力されると、まず、Ｘ−Ｙ座標設定
器２１で、基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 及び測定点Ｐ1 が撮
像された画面上に、基準点Ｐ0 から校正点Ｑ0 に向かう
方向をＹ軸とし、これに直交して基準点Ｐ 0 からＹ軸に
直交する方向がＸ軸となるＸ−Ｙ座標を設定し、このＸ
−Ｙ座標の単位長さを基準点Ｐ0 と校正点Ｑ0 と両者間
の実際の距離に基づいて定める。そして、このように設
定されたＸ−Ｙ座標軸上において、Ｘ−Ｙ座標データ算
出装置２２で測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標データ（ｘ1 ，ｙ
1 ）が読み取られる。また、Ｚ座標データ算出装置２３
では、基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 までの夫々の距離デー
タｄ0 及びｄ1 の差が算出され、これを測定点Ｐ1 のＺ
座標データ（ｚ1 ）として設定される。そして、測定点
Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ1 （ｘ1 ，ｙ1 ，ｚ1 ）
が座標データメモリ２４に記憶される。
【００２５】 次いで、今回測定された画像データ及び
距離データがデータリーダ１９により読み出されて、デ
ータ入力部２０から入力されると、前述と同様に、測定
点Ｐ1 について変位後のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ2 （ｘ
2 ，ｙ2 ，ｚ2 ）が算出され、これが座標データメモリ
２４に記憶される。そして、同一測定点Ｐ1 における座
標データＤ1 ，Ｄ2 の経時的な変化に基づいて、演算装
置２５で、各測定点Ｐ1 の変位量と変位方向が算出され
る。この算出結果に基づいて、例えば、コンピュータデ
ィスプレイに調査対象物Ｗとなるトンネルや構築物を三
次元表示させ、その各測定点Ｐ1 に対応する位置に、そ
の変位量を表す所定長さの矢印をその変位方向に向け
て、図３（ｄ）に示すように表示させれば、変形状態を
一目で認識することができる。
距離データがデータリーダ１９により読み出されて、デ
ータ入力部２０から入力されると、前述と同様に、測定
点Ｐ1 について変位後のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ2 （ｘ
2 ，ｙ2 ，ｚ2 ）が算出され、これが座標データメモリ
２４に記憶される。そして、同一測定点Ｐ1 における座
標データＤ1 ，Ｄ2 の経時的な変化に基づいて、演算装
置２５で、各測定点Ｐ1 の変位量と変位方向が算出され
る。この算出結果に基づいて、例えば、コンピュータデ
ィスプレイに調査対象物Ｗとなるトンネルや構築物を三
次元表示させ、その各測定点Ｐ1 に対応する位置に、そ
の変位量を表す所定長さの矢印をその変位方向に向け
て、図３（ｄ）に示すように表示させれば、変形状態を
一目で認識することができる。
【００２６】 なお、前述の例では、基準点Ｐ0 ，校正
点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 を同一画面上に撮像する撮像装置Ｓ
を用いた場合について説明したが、Ｘ−Ｙ座標の測定精
度は、撮像装置Ｓの解像度がそのまま影響することとな
り、精度よく測定しても１画素あたりの長さが１／２０
ｍｍ（５０μｍ）程度になってしまう。そこで、図４は
Ｘ−Ｙ座標の測定精度を向上させたデータレコーダを示
し、図５はそのデータ解析用のデータアナライザを示
し、図１及び図２と共通する部分については同一符号を
付して詳細説明は省略する。
点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 を同一画面上に撮像する撮像装置Ｓ
を用いた場合について説明したが、Ｘ−Ｙ座標の測定精
度は、撮像装置Ｓの解像度がそのまま影響することとな
り、精度よく測定しても１画素あたりの長さが１／２０
ｍｍ（５０μｍ）程度になってしまう。そこで、図４は
Ｘ−Ｙ座標の測定精度を向上させたデータレコーダを示
し、図５はそのデータ解析用のデータアナライザを示
し、図１及び図２と共通する部分については同一符号を
付して詳細説明は省略する。
【００２７】 このデータレコーダ３１は、基準点
Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ 1 を別々の画面に撮像する
画像データ入力装置３２と、基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1ま
での距離を測定する距離測定装置３３と、画像データ入
力装置３２で撮像された画像データ及び距離測定装置３
３で測定された距離データを記憶媒体２に記憶するデー
タ記録装置９からなる。そして、画像データ入力装置３
２は、前記基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ 1 を別々
に撮像する三つのＣＣＤカメラなどの撮像装置Ｓ1 ，Ｓ
2 ，Ｓ3 が、内部照明３４を配した角筒型のデータ入力
プローブ３５内に、予め設定された所定の位置関係で取
り付けて成る。具体的には、基準マーカＭ0 と測定用マ
ーカＭ1 を標準的な位置に貼り付けたときに、基準点Ｐ
0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 で形成される直角三角形の
頂点と対向する位置に各撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 Ｓ3 が配
設されている。例えば、基準点Ｐ0 と校正点Ｑ0 との距
離が１０ｍｍ，基準点Ｐ0 と測定点Ｐ 1 の距離が１５ｍ
ｍで、基準点Ｐ0 に対して校正点Ｑ0 と測定点Ｐ1 が直
角に位置する場合、基準点撮影用の撮像装置Ｓ1 と校正
点撮像用の撮像装置Ｓ2 の光軸が１０ｍｍ間隔で平行に
なるように配設され、測定点撮像用の撮像装置Ｓ3 の光
軸が基準点撮影用の撮像装置Ｓ1 の光軸に対して１５ｍ
ｍ間隔で平行になるように配設されている。そして、夫
々の撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 で基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ
0 ，測定点Ｐ1 を拡大して撮像すれば、その分精度を向
上させることができる。なお、距離測定装置３３は、前
記基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1 までの距離を光学的に測定す
る距離センサ６，７が、その光軸を所定角度傾けた状態
で、前記撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 に隣接して配設されてい
る。
Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ 1 を別々の画面に撮像する
画像データ入力装置３２と、基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1ま
での距離を測定する距離測定装置３３と、画像データ入
力装置３２で撮像された画像データ及び距離測定装置３
３で測定された距離データを記憶媒体２に記憶するデー
タ記録装置９からなる。そして、画像データ入力装置３
２は、前記基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ 1 を別々
に撮像する三つのＣＣＤカメラなどの撮像装置Ｓ1 ，Ｓ
2 ，Ｓ3 が、内部照明３４を配した角筒型のデータ入力
プローブ３５内に、予め設定された所定の位置関係で取
り付けて成る。具体的には、基準マーカＭ0 と測定用マ
ーカＭ1 を標準的な位置に貼り付けたときに、基準点Ｐ
0 ，校正点Ｑ0 ，測定点Ｐ1 で形成される直角三角形の
頂点と対向する位置に各撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 Ｓ3 が配
設されている。例えば、基準点Ｐ0 と校正点Ｑ0 との距
離が１０ｍｍ，基準点Ｐ0 と測定点Ｐ 1 の距離が１５ｍ
ｍで、基準点Ｐ0 に対して校正点Ｑ0 と測定点Ｐ1 が直
角に位置する場合、基準点撮影用の撮像装置Ｓ1 と校正
点撮像用の撮像装置Ｓ2 の光軸が１０ｍｍ間隔で平行に
なるように配設され、測定点撮像用の撮像装置Ｓ3 の光
軸が基準点撮影用の撮像装置Ｓ1 の光軸に対して１５ｍ
ｍ間隔で平行になるように配設されている。そして、夫
々の撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 で基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ
0 ，測定点Ｐ1 を拡大して撮像すれば、その分精度を向
上させることができる。なお、距離測定装置３３は、前
記基準点Ｐ0 ，測定点Ｐ1 までの距離を光学的に測定す
る距離センサ６，７が、その光軸を所定角度傾けた状態
で、前記撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 に隣接して配設されてい
る。
【００２８】 このデータレコーダ３１で取り込んだ画
像データを解析するデータアナライザ３７は、記憶媒体
２に記憶されているデータをデータリーダ１９などを介
して入力するデータ入力部２０と、前記画像データ入力
装置３２で入力された画面上のＸ−Ｙ座標を設定するＸ
−Ｙ座標設定器２１と、測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標上の座
標データを算出するＸ−Ｙ座標データ算出装置２２と、
測定点Ｐ1のＺ軸上の座標データを算出するＺ座標デー
タ算出装置２３と、前記Ｘ−Ｙ座標データ算出装置２２
及び前記Ｚ座標データ算出装置２３で算出された測定点
Ｐ1のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを夫々記憶する座標データ
メモリ２４と、同一測定点Ｐ 1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データ
の経時的変化に基づきその変位量及び変位方向を三次元
的に算出する演算装置２５を備えている。
像データを解析するデータアナライザ３７は、記憶媒体
２に記憶されているデータをデータリーダ１９などを介
して入力するデータ入力部２０と、前記画像データ入力
装置３２で入力された画面上のＸ−Ｙ座標を設定するＸ
−Ｙ座標設定器２１と、測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標上の座
標データを算出するＸ−Ｙ座標データ算出装置２２と、
測定点Ｐ1のＺ軸上の座標データを算出するＺ座標デー
タ算出装置２３と、前記Ｘ−Ｙ座標データ算出装置２２
及び前記Ｚ座標データ算出装置２３で算出された測定点
Ｐ1のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを夫々記憶する座標データ
メモリ２４と、同一測定点Ｐ 1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データ
の経時的変化に基づきその変位量及び変位方向を三次元
的に算出する演算装置２５を備えている。
【００２９】 そして、Ｘ−Ｙ座標設定器２１は、前記
各撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 の位置関係が設定された基
準座標設定器３８と、いずれかの撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 ，
Ｓ3 で撮像された所定長さの被写体に基づいて前記Ｘ−
Ｙ座標の単位長さを設定する単位長さ設定器３９と、前
記撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 で撮像された基準点Ｐ0 ，校正点
Ｑ0 の位置に基づき基準点Ｐ0 を原点とするＸ−Ｙ座標
を設定する座標変換器４０とを備えている。
各撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 の位置関係が設定された基
準座標設定器３８と、いずれかの撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 ，
Ｓ3 で撮像された所定長さの被写体に基づいて前記Ｘ−
Ｙ座標の単位長さを設定する単位長さ設定器３９と、前
記撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 で撮像された基準点Ｐ0 ，校正点
Ｑ0 の位置に基づき基準点Ｐ0 を原点とするＸ−Ｙ座標
を設定する座標変換器４０とを備えている。
【００３０】 基準座標設定器３８には、基準座標Ｇ0
の座標軸ＧＸ，ＧＹ上に、各撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 Ｓ3
で撮像された画面Ｇ1 ，Ｇ2 ，Ｇ3 の中心（光軸位置）
Ａ1 ，Ａ2 ，Ａ3 が位置するように設定されると共に、
夫々の中心位置Ａ 1 ，Ａ2 ，Ａ3 の基準座標Ｇ0 におけ
る座標データが記憶されている。そして、単位長さ設定
器３９では、例えば、測定点撮像用の撮像装置Ｓ3 で撮
像された測定用マーカＭ1 の直径（例えば５ｍｍ）に対
応する画素数が設定され、これにより、基準座標Ｇ0 上
の単位長さと画素数の関係がわかる。
の座標軸ＧＸ，ＧＹ上に、各撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 Ｓ3
で撮像された画面Ｇ1 ，Ｇ2 ，Ｇ3 の中心（光軸位置）
Ａ1 ，Ａ2 ，Ａ3 が位置するように設定されると共に、
夫々の中心位置Ａ 1 ，Ａ2 ，Ａ3 の基準座標Ｇ0 におけ
る座標データが記憶されている。そして、単位長さ設定
器３９では、例えば、測定点撮像用の撮像装置Ｓ3 で撮
像された測定用マーカＭ1 の直径（例えば５ｍｍ）に対
応する画素数が設定され、これにより、基準座標Ｇ0 上
の単位長さと画素数の関係がわかる。
【００３１】 次いで、座標変換器４０では、撮像装置
Ｓ1 ，Ｓ2 で撮像された基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 の基準
座標Ｇ0 上の座標Ｐ0 （ｐｘ，ｐｙ），Ｑ0 （ｑｘ，ｑ
ｙ）と、前記単位長さ設定器３９で設定された単位長さ
に基づいて、基準座標Ｇ0 上に、基準点Ｐ0 を原点と
し、基準点Ｐ0 から校正点Ｑ0 に向かう軸をＹ軸とし、
基準点Ｐ0 を通りＹ軸に直交する軸をＸ軸とする新たな
Ｘ−Ｙ座標Ｋを設定し、基準座標Ｇ0 をＸ−Ｙ座標Ｋに
変換する座標変換を行う。
Ｓ1 ，Ｓ2 で撮像された基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 の基準
座標Ｇ0 上の座標Ｐ0 （ｐｘ，ｐｙ），Ｑ0 （ｑｘ，ｑ
ｙ）と、前記単位長さ設定器３９で設定された単位長さ
に基づいて、基準座標Ｇ0 上に、基準点Ｐ0 を原点と
し、基準点Ｐ0 から校正点Ｑ0 に向かう軸をＹ軸とし、
基準点Ｐ0 を通りＹ軸に直交する軸をＸ軸とする新たな
Ｘ−Ｙ座標Ｋを設定し、基準座標Ｇ0 をＸ−Ｙ座標Ｋに
変換する座標変換を行う。
【００３２】 これにより、撮像装置Ｓ3 で撮像された
画面Ｇ3 上に、他の撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 で撮像した画面
と共通するＸ−Ｙ座標Ｋが設定されるので、Ｘ−Ｙ座標
データ算出装置２２では、Ｘ−Ｙ座標Ｋ上における測定
点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標データ（ｘ1 ，ｙ1 ）と、撮像装置
Ｓ3 で撮像された画面Ｇ3 上の測定点Ｐ1のＸ−Ｙ座標
データ（ｘ1 ，ｙ1 ）が読み取れる。そして、このよう
に、各撮像装置Ｓ1 〜Ｓ3 で基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，
測定点Ｐ1 を夫々の画面で拡大して撮像できるので、一
画素あたりの長さを短くすることができ、したがって精
度を向上させることができる。
画面Ｇ3 上に、他の撮像装置Ｓ1 ，Ｓ2 で撮像した画面
と共通するＸ−Ｙ座標Ｋが設定されるので、Ｘ−Ｙ座標
データ算出装置２２では、Ｘ−Ｙ座標Ｋ上における測定
点Ｐ1 のＸ−Ｙ座標データ（ｘ1 ，ｙ1 ）と、撮像装置
Ｓ3 で撮像された画面Ｇ3 上の測定点Ｐ1のＸ−Ｙ座標
データ（ｘ1 ，ｙ1 ）が読み取れる。そして、このよう
に、各撮像装置Ｓ1 〜Ｓ3 で基準点Ｐ0 ，校正点Ｑ0 ，
測定点Ｐ1 を夫々の画面で拡大して撮像できるので、一
画素あたりの長さを短くすることができ、したがって精
度を向上させることができる。
【００３３】 次いで、Ｚ座標データ算出装置２３で
は、距離測定装置３３の各距離センサ６，７で測定され
た基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 までの夫々の距離データｄ
0 及びｄ1 の差が算出され、これを測定点Ｐ1 のＺ座標
データ（ｚ1 ）として設定される。そして、変形前後の
測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ1 （ｘ1 ，ｙ1 ，
ｚ 1 ）及びＤ2 （ｘ2 ，ｙ2 ，ｚ2 ）が座標データメモ
リ２４に記憶され、演算装置２５では、前記座標データ
メモリ２４に記憶された同一測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座
標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向
が三次元的に算出される。
は、距離測定装置３３の各距離センサ６，７で測定され
た基準点Ｐ0 及び測定点Ｐ1 までの夫々の距離データｄ
0 及びｄ1 の差が算出され、これを測定点Ｐ1 のＺ座標
データ（ｚ1 ）として設定される。そして、変形前後の
測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座標データＤ1 （ｘ1 ，ｙ1 ，
ｚ 1 ）及びＤ2 （ｘ2 ，ｙ2 ，ｚ2 ）が座標データメモ
リ２４に記憶され、演算装置２５では、前記座標データ
メモリ２４に記憶された同一測定点Ｐ1 のＸ−Ｙ−Ｚ座
標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向
が三次元的に算出される。
【００３４】 なお、上述の説明では測定点Ｐ1 の変位
を三次元変位量として扱う場合について説明したが、Ｚ
軸方向の変位が無視できる場合には、距離センサ６，７
を用いずに、二次元データとして変位量及び変位方向を
算出する場合であってもよい。この場合は、データレコ
ーダ３及び３１は、距離センサ６，７のないものを使用
でき、データアナライザ４及び３７もＺ座標データ算出
装置２３がないものを使用すればよい。
を三次元変位量として扱う場合について説明したが、Ｚ
軸方向の変位が無視できる場合には、距離センサ６，７
を用いずに、二次元データとして変位量及び変位方向を
算出する場合であってもよい。この場合は、データレコ
ーダ３及び３１は、距離センサ６，７のないものを使用
でき、データアナライザ４及び３７もＺ座標データ算出
装置２３がないものを使用すればよい。
【００３５】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、現
場作業としては、各測定ポイントに貼り付けられた基準
マーカ及び測定用マーカに形成された基準点，校正点，
測定点を撮像し、基準点及び測定点までの距離を光学的
に測定すればよく、このようにして取り込んだ画像デー
タ及び距離データを持ちかえってデータアナライザで解
析すれば足りるので、現場作業は、極めて簡単で且つ短
時間で済み、現場では変位量などの数値データを採取す
る面倒は一切ないので、不慣れな作業者や、専門的な技
術知識がない全くの素人でも、正確にデータの採取作業
を行うことができるという大変優れた効果がある。ま
た、このようにして取り込んだ画像データから測定点の
座標データを得ることができ、同一の測定点について１
カ月〜数カ月ごとに取り込んだ座標データに基づいて、
測定点の変位量及び変位方向を簡単に解析することがで
きるという大変優れた効果がある。
場作業としては、各測定ポイントに貼り付けられた基準
マーカ及び測定用マーカに形成された基準点，校正点，
測定点を撮像し、基準点及び測定点までの距離を光学的
に測定すればよく、このようにして取り込んだ画像デー
タ及び距離データを持ちかえってデータアナライザで解
析すれば足りるので、現場作業は、極めて簡単で且つ短
時間で済み、現場では変位量などの数値データを採取す
る面倒は一切ないので、不慣れな作業者や、専門的な技
術知識がない全くの素人でも、正確にデータの採取作業
を行うことができるという大変優れた効果がある。ま
た、このようにして取り込んだ画像データから測定点の
座標データを得ることができ、同一の測定点について１
カ月〜数カ月ごとに取り込んだ座標データに基づいて、
測定点の変位量及び変位方向を簡単に解析することがで
きるという大変優れた効果がある。
【図１】本発明に係る構築物等の変形状態解析装置の概
略構成図。
略構成図。
【図２】データレコーダを示す斜視図。
【図３】（ａ）〜（ｄ）はデータの解析原理を示す説明
図。
図。
【図４】他のデータレコーダを示す斜視図。
【図５】他のデータアナライザの概略構成図。
【図６】そのデータの解析原理を示す説明図。
【図７】従来のひび割れ変位計を示す概略構成図。
【図８】従来の三方ゲージを示す斜視図。
１・・・変形状態解析装置 ２・・・記憶媒体 ３・・・データレコーダ ４・・・データアナライザ ５・・・画像データ入力装置 ６，７・・距離センサ ９・・・データ記録装置 ２１・・・Ｘ−Ｙ座標設定器 ２２・・・Ｘ−Ｙ座標データ算出装置 ２３・・・Ｚ座標データ算出装置 ２４・・・座標データメモリ ２５・・・演算装置 ３１・・・データレコーダ ３２・・・画像データ入力装置 Ｓ1 〜Ｓ3 ・・・撮像装置 ３７・・・データアナライザ ３８・・・基準座標設定器 ３９・・・単位長さ設定器 ４０・・・座標変換器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉 田 昭 新潟県新潟市女池七丁目13番11号 地中サ ルベージ株式会社内 (72)発明者 大 澤 廣 新潟県新潟市弁天橋通一丁目８番23号 日 本サミコン株式会社内
Claims (10)
- 【請求項１】 構築物等の調査対象物（Ｗ）に予め設定
した測定点（P1) の変位量及び変位方向を測定する構築
物等の変形状態解析装置であって、 基準点 (P0) と校正点 (Q0) を所定距離だけ離した位置
に形成して成る基準マーカ (M0) を調査対象物（Ｗ）に
固定すると共に、測定点（P1) が形成された測定用マー
カ (M1) を前記基準マーカ(M0)から任意の距離だけ離し
て調査対象物（Ｗ）に固定した状態で、少なくとも前記
基準点 (P0) ，校正点 (Q0) 及び測定点（P1) を撮像し
た画像データを記憶媒体（２）に記憶するデータレコー
ダ（３）と、 前記記憶媒体（２）に記憶された画像データに基づいて
測定点（P1) の座標データを算出し、同一の測定点
（P1) の座標データの経時的変化に基づいてその変位量
及び変位方向を解析するデータアナライザ（４）とから
なることを特徴とする構築物等の変形状態解析装置。 - 【請求項２】 前記データレコーダ（３）は、前記各マ
ーカ（M0, M1) を撮像する画像データ入力装置（５, 3
2）と、前記基準点 (P0) 及び測定点（P1) までの夫々
の距離データを光学的に測定する距離センサ（６，７）
と、前記画像データ入力装置（５, 32）で撮像された画
像データ及び距離センサ（６，７）で測定された距離デ
ータを記憶媒体（２）に記録するデータ記録装置（９）
を備えてなる請求項１記載の構築物等の変形状態解析装
置。 - 【請求項３】 前記データアナライザ（４）は、前記記
憶媒体（２）から出力された前記画像データに記録され
ている基準点 (P0) 及び校正点 (Q0) の位置に基づき画
面上でＸ−Ｙ座標を設定するＸ−Ｙ座標設定器（21）
と、前記Ｘ−Ｙ座標設定器（21）で設定されたＸ−Ｙ座
標に基づき画像データ中の測定点（P1)の二次元座標位
置を算出するＸ−Ｙ座標データ算出装置（22）と、前記
記憶媒体（２）に記憶された基準点 (P0) 及び測定点
（P1) までの夫々の距離データ（d0，d1）に基づきその
差を算出し、これを測定点（P1) のＺ座標とするＺ座標
データ算出装置（23）と、同一の測定点（P1) について
前記Ｘ−Ｙ座標データ算出装置（22）及び前記Ｚ座標デ
ータ算出装置（23）で算出されたＸ−Ｙ−Ｚ座標データ
を記憶する座標データメモリ（24）と、当該座標データ
メモリ（24）に記憶された同一測定点（P1) のＸ−Ｙ−
Ｚ座標データの経時的変化に基づきその変位量及び変位
方向を三次元的に算出する演算装置（25）を備えてなる
請求項１記載の構築物等の変形状態解析装置。 - 【請求項４】 構築物等の調査対象物（Ｗ）に予め設定
した測定点（P1) の変位量及び変位方向を測定する際に
使用するデータレコーダであって、基準点 (P0) と校正
点 (Q0) を所定距離だけ離した位置に形成して成る基準
マーカ (M0)を調査対象物（Ｗ）に固定すると共に、測
定点（P1) が形成された測定用マーカ(M1) を前記基準
マーカ(M0)から任意の距離だけ離して調査対象物（Ｗ）
に固定した状態で、前記基準点 (P0) , 校正点 (Q0) ,
測定点（P1) を撮像する画像データ入力装置（５, 32）
と、前記基準点 (P0) 及び測定点（P1) までの夫々の距
離データを光学的に測定する距離センサ（６，７）と、
前記画像データ入力装置（５, 32) で撮像された画像デ
ータ及び距離センサ（６，７）で測定された距離データ
を記憶媒体（２）に記憶するデータ記録装置（９）とを
備えたことを特徴とするデータレコーダ。 - 【請求項５】 前記画像データ入力装置 (32) が、前記
各基準点 (P0) ，校正点 (Q0) ，測定点（P1) を別々に
撮像する三つの撮像装置（S1, S2, S3) を予め設定され
た所定の位置関係で取り付けてなる請求項４記載のデー
タレコーダ。 - 【請求項６】 構築物等の調査対象物（Ｗ）に、基準点
(P0) と校正点 (Q0) を所定距離だけ離した位置に形成
して成る基準マーカ (M0) を固定すると共に、測定点
（P1) が形成された測定用マーカ (M1) を前記基準マー
カ(M0)から任意の距離だけ離して固定した状態で、前記
基準点(P0)，校正点 (Q0) 及び測定点（P1) を撮像した
画像データと、基準点(P0)及び測定点（P1) までの夫々
の距離データに基づいて当該測定点（P1) の変位量及び
変位方向を解析するデータアナライザであって、 前記画像データに記録されている基準点(P0)及び校正点
(Q0) の位置に基づき画面上でＸ−Ｙ座標を設定するＸ
−Ｙ座標設定器 (21) と、当該Ｘ−Ｙ座標設定器 (21)
で設定されたＸ−Ｙ座標に基づき画像データ中の測定点
（P1) の二次元座標位置を算出するＸ−Ｙ座標データ算
出装置 (22) と、前記基準点(P0)までの距離データ
(d0) 及び測定点（P1) までの距離データ (d1) に基づ
きその差を算出し、これを測定点（P1) のＺ座標とする
Ｚ座標データ算出装置（23）と、前記Ｘ−Ｙ座標データ
算出装置（22）及び前記Ｚ座標データ算出装置（23）で
算出された当該測定点（P1) のＸ−Ｙ−Ｚ座標データを
記憶する座標データメモリ（24）と、当該座標データメ
モリ（24）に記憶された同一測定点（P1) のＸ−Ｙ−Ｚ
座標データの経時的変化に基づいてその変位量及び変位
方向を三次元的に算出する演算装置（25）を備えている
ことを特徴とするデータアナライザ。 - 【請求項７】 前記データレコーダ（３）は、前記各マ
ーカ（M0，M1) を撮像する画像データ入力装置（５，3
2）と、撮像された画像データを記憶媒体（２）に記憶
するデータ記録装置（９）を備え、 前記データアナライザ（４）は、前記記憶媒体（２）か
ら出力された前記画像データに記録されている基準点(P
0)及び校正点 (Q0) の位置に基づき画面上でＸ−Ｙ座標
を設定するＸ−Ｙ座標設定器（21）と、前記Ｘ−Ｙ座標
設定器（21）で設定されたＸ−Ｙ座標に基づき画像デー
タ中の測定点（P1) の二次元座標位置を算出するＸ−Ｙ
座標データ算出装置（22）と、前記Ｘ−Ｙ座標データ算
出装置（22）で算出された当該測定点（P1) のＸ−Ｙ座
標データを記憶する座標データメモリ（24）と、当該座
標データメモリ（24）に記憶された同一測定点（P1) の
Ｘ−Ｙ座標データの経時的変化に基づきその変位量及び
変位方向を二次元的に算出する演算装置（25）を備えて
なる請求項１記載の構築物等の変形状態解析装置。 - 【請求項８】 構築物等の調査対象物（Ｗ）に予め設定
した測定点（P1) の変位量及び変位方向を測定する際に
使用するデータレコーダであって、 基準点 (P0) と校正点 (Q0) を所定距離だけ離した位置
に形成して成る基準マーカ (M0) を調査対象物（Ｗ）に
固定すると共に、測定点（P1) が形成された測定用マー
カ (M1) を前記基準マーカ(M0)から任意の距離だけ離し
て調査対象物（Ｗ）に固定した状態で、前記基準点
(P0) , 校正点 (Q0) , 測定点（P1) を撮像する画像デ
ータ入力装置（５，32）と、当該画像データ入力装置
（５，32）で撮像された画像データを記憶媒体（２）に
記録するデータ記録装置（９）とを備えたことを特徴と
するデータレコーダ。 - 【請求項９】 構築物等の調査対象物（Ｗ）に、基準点
(P0) と校正点 (Q0) を所定距離だけ離した位置に形成
して成る基準マーカ (M0) を固定すると共に、測定点
（P1) が形成された測定用マーカ (M1) を前記基準マー
カ(M0)から任意の距離だけ離して固定した状態で、前記
基準点(P0)，校正点 (Q0) 及び測定点（P1) を撮像した
画像データに基づいて当該測定点（P1) の変位量及び変
位方向を解析するデータアナライザであって、 前記画像データに記録されている基準点(P0)及び校正点
(Q0) の位置に基づき画面上でＸ−Ｙ座標を設定するＸ
−Ｙ座標設定器（21）と、前記Ｘ−Ｙ座標設定器（21）
で設定されたＸ−Ｙ座標に基づき画像データ中の測定点
（P1) の二次元座標位置を算出するＸ−Ｙ座標データ算
出装置（22）と、当該Ｘ−Ｙ座標データ算出装置（22）
で算出された測定点（P1) のＸ−Ｙ座標データを記憶す
る座標データメモリ（24）と、当該座標データメモリ
（24）に記憶された同一測定点（P1) のＸ−Ｙ座標デー
タの経時的変化に基づきその変位量及び変位方向を二次
元的に算出する演算装置（25）を備えたことを特徴とす
るデータアナライザ。 - 【請求項10】 前記画像データが、前記基準点 (P0) ，
校正点 (Q0) 及び測定点（P1) を予め設定された位置関
係で設けられた三つの撮像装置（S1, S2, S3) で別々に
撮像されている場合に、前記Ｘ−Ｙ座標設定器（21）
が、三つの撮像装置（S1, S2, S3) の撮像位置に基づき
各画面に共通する基準座標 (G0) を設定する基準座標設
定器（38）と、いずれかの撮像装置（S1, S2, S3) で撮
像されたマーカ（M0，M1）に形成された基準長さに基づ
き基準座標 (G0) 上の単位長さと画素数の関係を設定す
る単位長さ設定器 (39) と、二つの撮像装置（S1, S2)
で撮像された基準点 (P0) 及び校正点 (Q0) の基準座標
(G0) 上の位置及び前記単位長さ設定器（39）で設定さ
れた単位長さに基づき基準座標 (G0) 上に基準点 (P0)
を原点とし、基準点 (P0) から校正点 (Q0) に向かう軸
をＹ軸とし、基準点(P0) を通りＹ軸に直交する軸をＸ
軸とするＸ−Ｙ座標（Ｋ）を設定して、前記基準座標
(G0) をＸ−Ｙ座標（Ｋ）に変換する座標変換を行う座
標変換器（40）とを備えた請求項６又は９記載のデータ
アナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34612597A JPH11173839A (ja) | 1997-12-16 | 1997-12-16 | 構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34612597A JPH11173839A (ja) | 1997-12-16 | 1997-12-16 | 構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11173839A true JPH11173839A (ja) | 1999-07-02 |
Family
ID=18381308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34612597A Pending JPH11173839A (ja) | 1997-12-16 | 1997-12-16 | 構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11173839A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005536739A (ja) * | 2002-08-20 | 2005-12-02 | レジナルド ヴァーション | 圧縮型記号体系ひずみゲージ |
| JP2007147146A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ボイラ管の変形管理方法及びその装置 |
| WO2013135033A1 (zh) * | 2012-03-16 | 2013-09-19 | 同济大学 | 基于图像分析的隧道变形在线监测系统及其应用 |
| CN114087983A (zh) * | 2021-10-29 | 2022-02-25 | 深圳大学 | 墩-梁支承连接部位安全状态监测方法 |
-
1997
- 1997-12-16 JP JP34612597A patent/JPH11173839A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005536739A (ja) * | 2002-08-20 | 2005-12-02 | レジナルド ヴァーション | 圧縮型記号体系ひずみゲージ |
| JP2007147146A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ボイラ管の変形管理方法及びその装置 |
| WO2013135033A1 (zh) * | 2012-03-16 | 2013-09-19 | 同济大学 | 基于图像分析的隧道变形在线监测系统及其应用 |
| CN114087983A (zh) * | 2021-10-29 | 2022-02-25 | 深圳大学 | 墩-梁支承连接部位安全状态监测方法 |
| CN114087983B (zh) * | 2021-10-29 | 2024-04-26 | 深圳大学 | 墩-梁支承连接部位安全状态监测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041213 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070227 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070703 |