JPH11170597A - Laser beam printer - Google Patents
Laser beam printerInfo
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- JPH11170597A JPH11170597A JP34517497A JP34517497A JPH11170597A JP H11170597 A JPH11170597 A JP H11170597A JP 34517497 A JP34517497 A JP 34517497A JP 34517497 A JP34517497 A JP 34517497A JP H11170597 A JPH11170597 A JP H11170597A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- test print
- interval
- sub
- scanning direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Laser Beam Printer (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、マルチビームレー
ザを用いたレーザビームプリンタに係り、特にそのテス
トパターン発生回路を有したレーザビームプリンタに関
するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser beam printer using a multi-beam laser, and more particularly to a laser beam printer having a test pattern generating circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、複数の光ビームを用いて画像を形
成するマルチビームレーザプリンタが提案されている。
図20はこのようなマルチビームレーザを使用したレー
ザプリンタの構成例を示す図である。2. Description of the Related Art In recent years, a multi-beam laser printer for forming an image using a plurality of light beams has been proposed.
FIG. 20 is a diagram showing a configuration example of a laser printer using such a multi-beam laser.
【0003】図20に示すレーザプリンタ30は、コン
ピュータなどの外部機器31に接続され、外部機器31
の制御に基づいて記録紙にプリントを行う。外部機器3
1は、ビデオコントローラ27に各種制御信号および画
像情報を供給し、ビデオ信号として出力する。プリント
制御部26は、装置内の各部を制御するための制御回路
となっている。[0003] A laser printer 30 shown in FIG. 20 is connected to an external device 31 such as a computer.
Print on the recording paper based on the control of. External device 3
1 supplies various control signals and image information to the video controller 27 and outputs them as video signals. The print control unit 26 is a control circuit for controlling each unit in the apparatus.
【0004】図21に図20のマルチビームレーザプリ
ンタの動作タイミングを示す。ビデオコントローラ27
は、図21の(a)に示すように、外部機器31からの
RDY信号がTRUE(図では高レベル)になると、図
21の(b)のようにPRINT信号をTRUEとす
る。プリント制御部26は、PRINT信号がTRUE
になると、図21の(f)、(g)のように、メインモ
ータ23、ポリゴンモータ14の駆動を開始する。FIG. 21 shows the operation timing of the multi-beam laser printer shown in FIG. Video controller 27
As shown in FIG. 21A, when the RDY signal from the external device 31 becomes TRUE (high level in the figure), the PRINT signal is set to TRUE as shown in FIG. 21B. The print control unit 26 determines that the PRINT signal is TRUE
Then, the drive of the main motor 23 and the polygon motor 14 is started as shown in FIGS.
【0005】そして、メインモータ23の駆動によっ
て、感光ドラム17、定着部9の定着ローラ、排紙ロー
ラ11が回転を開始する。その後、プリント制御部26
は半導体レーザ13の光量制御を開始するとともに、一
次帯電器19、現像器20、転写帯電器21の高圧の駆
動を順次行う。When the main motor 23 is driven, the photosensitive drum 17, the fixing roller of the fixing unit 9, and the discharge roller 11 start rotating. Thereafter, the print control unit 26
Starts the light quantity control of the semiconductor laser 13 and sequentially drives the primary charger 19, the developing unit 20, and the transfer charger 21 at a high voltage.
【0006】また、プリント制御部26は、図21の
(g)のように、ポリゴンモータ14の駆動開始から時
間T1を経過し、ポリゴンモータ14の回転が定常状態
になると、図21の(h)のように給紙クラッチ24を
オン(ON)して給紙ローラ5を駆動し、給紙カセット
2内の記録紙18をレジストローラ6に向けて給紙す
る。そして、記録紙18がレジストローラ6に到達する
タイミングで図21の(c)のようにVSREQ信号を
ビデオコントローラ17に出力し、かつ図21の(h)
のように給紙クラッチ24をオフ(OFF)して給紙ロ
ーラ5の駆動を停止する。When the time T1 has elapsed from the start of driving of the polygon motor 14 and the rotation of the polygon motor 14 is in a steady state, as shown in FIG. ), The paper feed clutch 24 is turned on (ON) to drive the paper feed roller 5, and the recording paper 18 in the paper feed cassette 2 is fed toward the registration roller 6. Then, the VSREQ signal is output to the video controller 17 as shown in FIG. 21 (c) at the timing when the recording paper 18 reaches the registration roller 6, and (h) in FIG.
As described above, the paper feed clutch 24 is turned off and the driving of the paper feed roller 5 is stopped.
【0007】一方、ビデオコントローラ27は、外部機
器31からの画像情報のドットイメージへの展開を終え
てVDO信号の出力の準備を完了すると、図21の
(c)のVSREQ信号がTRUEであることを確認し
た後、図21の(d)に示すようにVSYNC信号をT
RUEとする。そして、これに同期して図21の(e)
のように時間Tv後に1ページ分の画像データとしての
VDO信号の出力を開始する。On the other hand, when the video controller 27 completes the preparation of the output of the VDO signal after developing the image information from the external device 31 into a dot image, the VSREQ signal in FIG. Is confirmed, the VSYNC signal is changed to T as shown in FIG.
RUE. Then, in synchronization with this, (e) of FIG.
After the time Tv, the output of the VDO signal as the image data for one page is started.
【0008】このとき、プリント制御部26は、図21
の(i)のようにVSYNC信号の立ち上がりから時間
T3後にレジストローラクラッチ25をオンし、レジス
トローラ6を駆動している。このレジストローラ6の駆
動は、図21の(i)のように記録紙18の後端がレジ
ストローラ6を通過するまでの時間T4間行う。また、
この間、プリント制御部26はビデオコントローラ27
からのVDO信号に応じて半導体レーザ13を駆動す
る。At this time, the print control unit 26
As shown in (i), the registration roller clutch 25 is turned on and the registration roller 6 is driven after the time T3 from the rise of the VSYNC signal. The driving of the registration roller 6 is performed for a time T4 until the rear end of the recording paper 18 passes through the registration roller 6 as shown in FIG. Also,
During this time, the print control unit 26 controls the video controller 27
The semiconductor laser 13 is driven according to the VDO signal from the semiconductor laser 13.
【0009】半導体レーザ13は2つ設けられていて、
プリント制御部26では各々の半導体レーザをVDO信
号に応じて駆動し、2つの半導体レーザから発したレー
ザ光はスキャナー部7のポリゴンミラー15の回転によ
って直線状の走査に変換される。そして、2つの半導体
レーザのレーザ光はミラー16によって感光体ドラム1
7に照射される。Two semiconductor lasers 13 are provided,
The print controller 26 drives each semiconductor laser according to the VDO signal, and the laser light emitted from the two semiconductor lasers is converted into a linear scan by the rotation of the polygon mirror 15 of the scanner unit 7. The laser light of the two semiconductor lasers is applied to the photosensitive drum 1 by the mirror 16.
7 is irradiated.
【0010】このようにして、各々VDO信号に応じて
変調された2つのレーザ光を同時に感光ドラム17上に
走査することによって、感光ドラム17上に2ラインの
潜像を形成し、以下同じ動作を繰り返すことによって感
光ドラム17上に1ページ分の潜像が形成される。In this manner, two lines of laser light, each modulated in accordance with the VDO signal, are simultaneously scanned on the photosensitive drum 17 to form a two-line latent image on the photosensitive drum 17, and the same operation is performed thereafter. Are repeated to form a latent image for one page on the photosensitive drum 17.
【0011】上記感光ドラム17に形成された潜像は、
現像器20によって現像され、その後転写帯電器21に
よって記録紙18にトナーが転写される。転写が終了す
ると、記録紙18は定着器9に搬送されてトナー像が定
着された後、排紙ローラ11によって機外に排紙され
る。また、続けて次のページのプリントを行う場合は、
プリント制御部26は図21の(b)のように時間T5
後に再びPRINT信号をTRUEとし、1ページ目の
プリントと同様の制御を行う。The latent image formed on the photosensitive drum 17 is
The toner is transferred to the recording paper 18 by the transfer charger 21 after being developed by the developing device 20. When the transfer is completed, the recording paper 18 is conveyed to the fixing device 9 where the toner image is fixed, and then discharged outside the apparatus by the discharge roller 11. If you want to continue printing the next page,
The print control unit 26 operates at time T5 as shown in FIG.
Later, the PRINT signal is set to TRUE again, and the same control as that for printing the first page is performed.
【0012】このようなマルチビームプリンタのテスト
パターン発生回路は、例えば図22のように構成されて
いる。例として挙げた図22は、2ビームレーザプリン
タで縦線のテストプリントパターンを発生する回路とな
っている。A test pattern generating circuit of such a multi-beam printer is configured, for example, as shown in FIG. FIG. 22 given as an example shows a circuit for generating a vertical line test print pattern by a two-beam laser printer.
【0013】以下、図22の回路の構成及び作用を説明
する。図22のマスク信号発生タイミング設定レジスタ
101は、テストプリントに必要な/MASK1信号1
24と/MASK2信号224を解除するタイミング
(=カウンタ値)及び発生するタイミング(=カウンタ
値)を格納するレジスタである。このレジスタ101へ
の格納は、テストプリントの初めに行われる。その後は
図23のテストプリント発生回路の動作タイミングチャ
ートに従ってテストプリントが行われる。The configuration and operation of the circuit shown in FIG. 22 will be described below. The mask signal generation timing setting register 101 shown in FIG. 22 stores a / MASK1 signal 1 required for test printing.
This register stores the timing (= counter value) for releasing the H.24 and / MASK2 signal 224 and the timing of occurrence (= counter value). The storage in the register 101 is performed at the beginning of the test print. Thereafter, test printing is performed according to the operation timing chart of the test print generation circuit of FIG.
【0014】ここで、テストプリントの水平同期を揃え
るため、/BD1信号120は第1位相同期発振器10
2及び第1主走査カウンタ103に入力されている。そ
して、図23の(a)のように/BD1信号120がT
RUEになると、まず第1主走査カウンタ103がリセ
ットされる。続いて、第1位相同期発振器102が図2
3の(b)に示すように、/BD1信号120に同期し
た画像クロック信号(CLK1信号)121を発生す
る。このCLK1信号121は、第1主走査カウンタ1
03及びテストパターンを生成するためのカウンタ10
6に入力される。Here, the / BD1 signal 120 is supplied to the first phase-locked oscillator 10 in order to align the horizontal synchronization of the test print.
2 and the first main scanning counter 103. Then, as shown in FIG. 23 (a), the / BD1 signal 120 is T
When it becomes RUE, first, the first main scanning counter 103 is reset. Subsequently, the first phase locked oscillator 102
As shown in FIG. 3B, an image clock signal (CLK1 signal) 121 synchronized with the / BD1 signal 120 is generated. This CLK1 signal 121 is output from the first main scanning counter 1
03 and a counter 10 for generating a test pattern
6 is input.
【0015】第1主走査カウンタ103は、クロックパ
ルスの数を計測するため、第1主走査カウンタ値122
は時と共に増加していく。また主走査カウンタ値122
は、コンパレータ104にて、マスク信号タイミング設
定レジスタ101にセットされたマスクを解除するカウ
ンタ値と比較される。一方、このときカウンタ106の
値は0のままである。これは、/書き込み禁止信号12
6がTRUEであるため、カウンタ106はクリアされ
続けているからである。The first main scanning counter 103 counts the first main scanning counter value 122 to measure the number of clock pulses.
Increases with time. The main scanning counter value 122
Is compared with a counter value for canceling the mask set in the mask signal timing setting register 101 by the comparator 104. On the other hand, at this time, the value of the counter 106 remains 0. This is the / write inhibit signal 12
This is because the counter 106 continues to be cleared because 6 is TRUE.
【0016】図23の(f)のように、/BD1信号1
20に続いて/BD2信号220がFALSEからTR
UEになると、先に説明した第1主走査カウンタ103
同様、第2主走査カウンタ203がリセットされ、図2
3の(g)のように第2位相同期発振器202が第2画
像クロックパルス信号(CLK2信号)221を発生さ
せる。そして、第2主走査カウンタ203がクロックパ
ルスの数を計測する。また、第2コンパレータにおいて
もレーザ2のマスク解除値と第2主走査カウンタ値22
2が比較される。その結果、第2主走査カウンタ値22
2の方が小さい間、/MASK2信号224はTRUE
のままである。As shown in FIG. 23 (f), the / BD1 signal 1
Following / 20, the / BD2 signal 220 changes from FALSE to TR.
When it comes to the UE, the first main scanning counter 103 described above
Similarly, the second main scanning counter 203 is reset, and FIG.
The second phase-locked oscillator 202 generates the second image clock pulse signal (CLK2 signal) 221 as shown in FIG. Then, the second main scanning counter 203 measures the number of clock pulses. In the second comparator, the mask release value of the laser 2 and the second main scanning counter value 22
2 are compared. As a result, the second main scanning counter value 22
2 is smaller, / MASK2 signal 224 is TRUE
Remains.
【0017】第1主走査カウンタ値122がマスク解除
の値となり、図23の(c)のようにレーザ1のマスク
が解除されると、/MASK1信号はNANDゲート1
05に入力される。When the first main scanning counter value 122 becomes a mask release value and the mask of the laser 1 is released as shown in FIG. 23C, the / MASK1 signal becomes the NAND gate 1
05 is input.
【0018】このとき、NANDゲート105に/TO
PE信号125FALSEが入力されていると、図23
の(d)のようにカウンタ106がカウントを始める。
そして、4ビットのカウンタ106のそれぞれのビット
を入力値とするNANDゲート107が/TEST P
ATTERN1信号127を生成する。図23の(e)
のように第1カウンタ値=Fhのとき、/TEST P
ATTERN1信号127がTRUEになる。At this time, / TO is applied to NAND gate 105.
When the PE signal 125 FALSE is input, FIG.
The counter 106 starts counting as shown in FIG.
Then, the NAND gate 107 having each bit of the 4-bit counter 106 as an input value is set to / TEST P
An ATTERN1 signal 127 is generated. (E) of FIG.
/ TEST P when the first counter value = Fh as in
The ATTERN1 signal 127 becomes TRUE.
【0019】第2主走査カウンタ値222もマスク解除
の値に達すると、同様な過程を経て/TEST PAT
TERN2信号227を生成する。When the value of the second main scanning counter 222 also reaches the value of the mask release, the / TEST PAT goes through a similar process.
Generate the TERN2 signal 227.
【0020】そして、第1主走査カウンタ値122がマ
スク発生の値になると、/TESTPATTERN1信
号127はFALSEとなる。レーザ2に付いても同様
にマスクが発生して書き込みが禁止される。この一連の
主走査は、/TOPE信号125がTRUEになるまで
繰り返される。When the first main scanning counter value 122 becomes a value at which a mask is generated, the / TESTPATTERN1 signal 127 becomes FALSE. Similarly, a mask is generated on the laser 2 and writing is prohibited. This series of main scanning is repeated until the / TOPE signal 125 becomes TRUE.
【0021】このようにして、縦線のテストパターンが
プリントされる。In this manner, a vertical line test pattern is printed.
【0022】[0022]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようなマルチビームレーザプリンタにおいては、複数あ
るレーザのそれぞれの副走査方向の間隔は、スキャナユ
ニット単体を製造するときに調整されている。そのた
め、本体に取り付けた後でビームそれぞれの副走査方向
の間隔を確認するためには、ビームの間隔を測定するた
めの特殊な工具が必要になるという問題点があった。However, in the above-described multi-beam laser printer, the distance between the plurality of lasers in the sub-scanning direction is adjusted when a single scanner unit is manufactured. Therefore, there is a problem that a special tool for measuring the interval between the beams is required in order to confirm the interval between the beams in the sub-scanning direction after the beam is attached to the main body.
【0023】また、完成品の状態で検査する方法として
テストプリントがあるが、従来より提案されてきたマル
チビームレーザプリンタのプリントパターン発生回路が
作る縦線のテストプリントパターンから検査できる項目
は、印字が可能であること、斜行の程度、スキャナモー
タのジッタの程度、マスク領域の確認程度であった。As a method of inspecting a finished product, there is a test print. An item which can be inspected from a vertical line test print pattern created by a print pattern generating circuit of a conventionally proposed multi-beam laser printer is printing. Were possible, the degree of skew, the degree of jitter of the scanner motor, and the degree of confirmation of the mask area.
【0024】本発明は、上記のような問題点に鑑みてな
されたもので、副走査方向のレーザビームの間隔を容易
に検査可能なテストプリントパターンを発生するテスト
プリントパターン発生回路を備えるレーザビームプリン
タを提供することを目的としている。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has a laser beam having a test print pattern generating circuit for generating a test print pattern capable of easily inspecting the interval between laser beams in the sub-scanning direction. It is intended to provide a printer.
【0025】[0025]
【課題を解決するための手段】本発明に係るレーザビー
ムプリンタは、次のように構成したものである。A laser beam printer according to the present invention is constructed as follows.
【0026】(1)画像信号により変調された複数のレ
ーザビームを回転多面鏡を介して感光体に走査し画像を
形成するレーザビームプリンタにおいて、前記回転多面
鏡の任意の走査面より一つ前の前走査面の最後のレーザ
ビームと現走査面の最初のレーザビームからなる画素を
使用して画像を形成する第1のテストプリントパターン
領域と、現走査面の連続する二つのレーザビームからな
る画素を使用して画像を形成する第2のテストプリント
パターン領域を発生するテストプリントパターン発生手
段を有するようにした。(1) In a laser beam printer for forming an image by scanning a plurality of laser beams modulated by an image signal on a photoreceptor via a rotary polygon mirror, a laser beam printer immediately before an arbitrary scanning surface of the rotary polygon mirror is used. A first test print pattern area for forming an image using pixels consisting of the last laser beam on the previous scan plane and the first laser beam on the current scan plane, and two consecutive laser beams on the current scan plane A test print pattern generating means for generating a second test print pattern area for forming an image using pixels is provided.
【0027】(2)上記(1)の構成において、第1の
テストプリントパターン及び第2のテストプリントパタ
ーンは横線とした。(2) In the above configuration (1), the first test print pattern and the second test print pattern are horizontal lines.
【0028】(3)上記(1)の構成において、第1の
テストプリントパターン及び第2のテストプリントパタ
ーンは網点画像とした。(3) In the above configuration (1), the first test print pattern and the second test print pattern are halftone images.
【0029】[0029]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。なお、レーザビームプリンタの概要は
図20と同様であるので説明は省略する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The outline of the laser beam printer is the same as that in FIG. 20, and the description is omitted.
【0030】(実施例1)図1は本実施例の2ビームレ
ーザプリンタにおけるテストプリントパターン発生回路
の構成を示すブロック図である。以下、図1の回路の構
成及び作用を説明する。(Embodiment 1) FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a test print pattern generation circuit in a two-beam laser printer of this embodiment. Hereinafter, the configuration and operation of the circuit of FIG. 1 will be described.
【0031】マスク信号発生タイミング設定レジスタ3
01は、テストプリントに必要な/MASK1信号32
4と/MASK2信号424を解除するタイミング(=
カウンタ値)及び発生するタイミング(=カウンタ値)
と、TOGGLE信号326を発生するタイミング(=
カウンタ値)を格納するレジスタである。このレジスタ
301への格納は、テストプリントの初めに行われる。
その後は図2に示すテストプリントパターン発生回路の
動作タイミングチャートに従ってテストプリントが行わ
れる。Mask signal generation timing setting register 3
01 is the / MASK1 signal 32 required for test printing
4 and the timing for releasing the / MASK2 signal 424 (=
Counter value) and timing of occurrence (= counter value)
And the timing of generating the TOGGLE signal 326 (=
(A counter value). The storing in the register 301 is performed at the beginning of the test print.
Thereafter, test printing is performed according to the operation timing chart of the test print pattern generation circuit shown in FIG.
【0032】/BD1信号320は、第1位相同期発振
器302、第1主走査カウンタ303へ入力される。そ
して、図2の(a)のように/BD1信号320がTR
UEになると、第1主走査カウンタ303はリセットさ
れる。また、/BD1信号320がTRUEになること
をトリガーとして、第1位相同期発振器302は/BD
1信号320に同期した第1画像クロック信号(CLK
1信号)321の生成を開始する。The / BD1 signal 320 is input to the first phase locked oscillator 302 and the first main scanning counter 303. Then, as shown in FIG. 2A, the / BD1 signal 320 is TR
When it becomes UE, the first main scanning counter 303 is reset. Further, triggered by the / BD1 signal 320 being TRUE, the first phase-locked oscillator 302
The first image clock signal (CLK
1) 321 is started.
【0033】第1画像クロック信号(CLK1信号)3
21は、第1主走査カウンタ303に入力される。この
第1主走査カウンタ303はCLK1のパルスを計測す
るもので、その第1主走査カウンタ値322は、第1コ
ンパレータ304にて、マスク信号タイミング設定レジ
スタ301に設定された値と比較される。比較された結
果、/マスク1信号(/MASK1信号)324が図2
の(c)のように第1コンパレータ304より第1NA
NDゲート306に出力される。First image clock signal (CLK1 signal) 3
21 is input to the first main scanning counter 303. The first main scanning counter 303 measures the pulse of CLK1. The first main scanning counter value 322 is compared by the first comparator 304 with the value set in the mask signal timing setting register 301. As a result of the comparison, the / mask 1 signal (/ MASK1 signal) 324 is
As shown in (c) of FIG.
Output to ND gate 306.
【0034】このようにして、ビーム1の主走査方向の
書き込みを禁止する信号の制御を行っている。また、第
1コンパレータ304は、第1主走査カウンタ303と
マスク信号発生タイミング設定レジスタ301を比較し
た結果、図2の(e)のようにTOGGLE信号326
をT−フリップフロップ305に出力する。In this way, the signal for inhibiting the writing of the beam 1 in the main scanning direction is controlled. The first comparator 304 compares the first main scanning counter 303 with the mask signal generation timing setting register 301, and as a result, the TOGGLE signal 326 as shown in FIG.
To the T-flip-flop 305.
【0035】また、垂直方向の書き込み禁止の制御は、
プリント制御部26より/トップイレース信号(/TO
PE信号)325として受け取ることにより行う。この
/TOPE信号325は、テストプリントデータを生成
する第1T−フリップフロップ305の/CLR信号入
力端子に入力される。このようにして、ビーム1の副走
査方向の書き込み禁止を行っている。図1の/TOPE
信号325はFALSEである。In addition, the control of write inhibition in the vertical direction is performed as follows.
From the print control unit 26 / top erase signal (/ TO
(PE signal) 325. This / TOPE signal 325 is input to the / CLR signal input terminal of the first T-flip-flop 305 that generates test print data. In this way, the writing of the beam 1 in the sub-scanning direction is prohibited. / TOPE in Fig. 1
Signal 325 is FALSE.
【0036】/TOPE信号325がFALSEのと
き、第1T−フリッププロップ305はTOGGEL信
号326に従って、テストパターン1信号の元になる信
号327を出力する。このテストプリントパターン1信
号の元になる信号327は、第1NANDゲート306
において、/MASK1信号324によりマスクがかけ
られる。このようにして、第1NANDゲート306か
ら/TEST PATTERN1信号328が出力され
る。When the / TOPE signal 325 is FALSE, the first T-flip prop 305 outputs a signal 327 which is a source of the test pattern 1 signal in accordance with the TOGGEL signal 326. The signal 327 which is the source of the test print pattern 1 signal is supplied to the first NAND gate 306.
Is masked by the / MASK1 signal 324. In this manner, the / TEST PATTERN1 signal 328 is output from the first NAND gate 306.
【0037】一方、/BD2信号420は、第2位相同
期発振器402、第2主走査カウンタ403、第2T−
フリップフロップ405へ入力される。図2の(b)の
ように/BD1信号320に続いて、/BD2信号42
0がFALSEからTRUEになると、第2主走査カウ
ンタ403はリセットされる。また、/BD2信号20
がTRUEになると、第2T−フリップフロップ405
から出力されるテストプリントパターンの元となる信号
427の論理が反転する。On the other hand, the / BD2 signal 420 is output from the second phase-locked oscillator 402, the second main scanning counter 403, and the second T-
The signal is input to the flip-flop 405. As shown in FIG. 2B, following the / BD1 signal 320, the / BD2 signal 42
When 0 changes from FALSE to TRUE, the second main scanning counter 403 is reset. Also, the / BD2 signal 20
Becomes TRUE, the second T-flip-flop 405
The logic of the signal 427, which is the basis of the test print pattern output from, is inverted.
【0038】さらに、/BD2信号420がTRUEに
なることをトリガーとして、第2位相同期発振器402
は/BD信号420に同期した第2画像クロック信号
(CLK2信号)421の生成を開始する。この第2画
像クロック信号(CLK2信号)421は、第2主走査
カウンタ403に入力され、第2主走査カウンタ403
は、CLK2信号421のパルスを計測する。Further, triggered by the / BD2 signal 420 being TRUE, the second phase-locked oscillator 402
Starts generation of the second image clock signal (CLK2 signal) 421 synchronized with the / BD signal 420. The second image clock signal (CLK2 signal) 421 is input to the second main scanning counter 403, and the second main scanning counter 403
Measures the pulse of the CLK2 signal 421.
【0039】第2主走査カウンタ値422は、第2コン
パレータ404にて、マスク信号タイミング設定レジス
タ301に設定された値と比較される。比較された結
果、/マスク2信号(/MASK2信号)424が図2
の(d)のように第2コンパレータ404より第2NA
NDゲート406に出力される。結果的に、/MASK
2信号424は、/MASK1信号324がある時間だ
け遅れた信号になっている。この遅れ時間の量は、/B
D1信号320がTRUEになってから/BD2信号4
20がTRUEになるまでの時間である。The second main scanning counter value 422 is compared by the second comparator 404 with the value set in the mask signal timing setting register 301. As a result of the comparison, the / mask 2 signal (/ MASK2 signal) 424 is
As shown in (d) of FIG.
Output to ND gate 406. As a result, / MASK
The two signal 424 is a signal delayed by a certain time from the / MASK1 signal 324. The amount of this delay time is / B
After the D1 signal 320 becomes TRUE, the / BD2 signal 4
Time until 20 becomes TRUE.
【0040】また、/トップイレース信号(/TOPE
信号)325は、第2T−フリップフロップ405の/
CLR信号入力端子にも入力される。このようにして、
副走査方向の書き込み禁止が行われている。Also, a / top erase signal (/ TOPE
Signal) 325 is the / T signal of the second T-flip-flop 405.
It is also input to the CLR signal input terminal. In this way,
Writing is prohibited in the sub-scanning direction.
【0041】/TOPE信号325がFALSEのと
き、第2T−フリップフロップ405は、1走査置きT
RUEとなる信号427を第2NANDゲート406に
出力する。この1走査置きTRUEとなる信号427
は、第2NANDゲート406で、/MASK2信号4
24によりマスクがかけられる。このようにして、第2
NANDゲート406から図2の(g)のような/TE
ST PATTERN2信号428が出力される。When the / TOPE signal 325 is FALSE, the second T-flip-flop 405 operates every other scan.
An RUE signal 427 is output to the second NAND gate 406. The signal 427 which becomes TRUE every other scan
Is the / MASK2 signal 4 at the second NAND gate 406
24 masks it. In this way, the second
From the NAND gate 406, / TE as shown in FIG.
An ST PATTERN2 signal 428 is output.
【0042】図3は本実施例のテストプリントパターン
発生回路を備えたマルチビームレーザプリンタにてテス
トプリントを実行したときに印刷されるテストプリント
パターン結果(正常な場合)を示す図である。FIG. 3 is a view showing a test print pattern result (normal case) printed when a test print is executed by the multi-beam laser printer having the test print pattern generating circuit of the present embodiment.
【0043】図3に示すテストプリントパターンの左半
面51は、回転多面鏡の走査面より1つ前の走査面でビ
ーム2により走査した横線と当該走査面でビーム1によ
り走査した横面と2ライン分のスペースによる2ドット
2スペースの横線である。また、同テストプリントパタ
ーンの右半面52は、走査面でビーム1とビーム2によ
り走査した横線と2ライン分のスペースによる2ドット
2スペースの横面である。The left half surface 51 of the test print pattern shown in FIG. 3 is composed of a horizontal line scanned by the beam 2 on the scanning surface immediately before the scanning surface of the rotary polygon mirror and a horizontal surface scanned by the beam 1 on the scanning surface. This is a horizontal line of 2 dots and 2 spaces by the space of the line. The right half surface 52 of the test print pattern is a horizontal surface of 2 dots and 2 spaces formed by a horizontal line scanned by the beam 1 and the beam 2 on the scanning surface and a space of 2 lines.
【0044】このとき、副走査方向のレーザ間隔は図4
で示される。図4はビーム1とビーム2により感光ドラ
ム面に照射された光スポットを2走査分示したものであ
る。At this time, the laser interval in the sub-scanning direction is as shown in FIG.
Indicated by FIG. 4 shows the light spot irradiated on the photosensitive drum surface by the beam 1 and the beam 2 for two scans.
【0045】光スポット53は第1走査のレーザ1によ
る光スポットである。光スポット54は第1走査のレー
ザ2による光スポットである。光スポット55は第2走
査のレーザ1による光スポットである。光スポット56
は第2走査のレーザ2による光スポットである。また間
隔57は同じ走査面で照射されるビーム1とビーム2の
副走査方向の間隔である。そして、図3に示すテストプ
リント結果の右半面52が、間隔57の2本のビームで
2ライン2スペースを書いた結果である。The light spot 53 is a light spot by the laser 1 in the first scanning. The light spot 54 is a light spot of the first scanning laser 2. The light spot 55 is a light spot by the laser 1 in the second scanning. Light spot 56
Is a light spot by the laser 2 in the second scanning. The interval 57 is the interval between the beams 1 and 2 irradiated on the same scanning surface in the sub-scanning direction. Then, the right half surface 52 of the test print result shown in FIG. 3 is a result of writing two lines and two spaces with two beams at an interval 57.
【0046】また、間隔58は連続する2走査の先の走
査ビーム2と後の走査のビーム1の副走査方向の間隔で
ある。そして、図3に示すテストプリント結果の左半面
51が、間隔58の2本のビームで2ライン2スペース
を書いた結果である。正常時においては、間隔57と間
隔58は等しい。このため、テストプリント結果左半面
51と右半面52は同じパターンが描かれる。The interval 58 is the interval between the preceding scanning beam 2 of two successive scans and the subsequent scanning beam 1 in the sub-scanning direction. The left half surface 51 of the test print result shown in FIG. 3 is a result of writing two lines and two spaces with two beams at an interval 58. In a normal state, the intervals 57 and 58 are equal. Therefore, the same pattern is drawn on the left half 51 and the right half 52 of the test print result.
【0047】次に、2ビームレーザの副走査方向の間隔
が規定の値より広い場合について説明する。図5は2ビ
ームレーザの副走査方向の間隔が規定の値より広い場合
のビーム間隔を示す図であり、図4と同様ビーム1とビ
ーム2により感光ドラム面に照射された光スポットを2
走査分示したものある。Next, a case where the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is wider than a specified value will be described. FIG. 5 is a diagram showing the beam interval when the interval in the sub-scanning direction of the two-beam laser is wider than a specified value. Similarly to FIG.
Some are shown for scanning.
【0048】光スポット59は第1走査のレーザ1によ
る光スポットである。光スポット60は第1走査のレー
ザ2による光スポットである。光スポット61は第2走
査のレーザ1による光スポットである。光スポット62
は第2走査のレーザ2による光スポットである。また、
間隔63は同じ走査面で照射されるビーム1とビーム2
の副走査方向の間隔である。そして、仮定した通り、間
隔63は規定の間隔より広い。間隔64は、連続する2
走査の先の走査ビーム2と後の走査ビーム1の副走査方
向の間隔である。The light spot 59 is a light spot of the first scanning laser 1. The light spot 60 is a light spot of the first scanning laser 2. The light spot 61 is a light spot by the laser 1 in the second scanning. Light spot 62
Is a light spot by the laser 2 in the second scanning. Also,
The interval 63 is between the beam 1 and the beam 2 irradiated on the same scanning plane.
In the sub-scanning direction. Then, as assumed, the interval 63 is wider than the specified interval. The interval 64 is two consecutive
This is the distance in the sub-scanning direction between the scanning beam 2 before scanning and the scanning beam 1 after scanning.
【0049】このとき、間隔64は規定の間隔よりも狭
くなる。このため、2ビームレーザの副走査方向の間隔
が広いときのテストプリント結果は図6に示すようにな
る。図6に示すテストプリント結果の左半面65は、正
常時と比べて2ビームの幅は狭く、2スペースの間隔は
広くプリントされる。また、同テストプリント結果の右
半面66は、正常時と比べて2ビームの間隔が広く、2
スペースの間隔は狭くなる。このように2ビームの間隔
が広がった結果、2ビームは太くなる場合や2本に別れ
る場合が起きる。At this time, the interval 64 becomes narrower than the specified interval. Therefore, the test print result when the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is wide is as shown in FIG. On the left half surface 65 of the test print result shown in FIG. 6, the width of the two beams is narrower and the space between the two spaces is printed wider than in the normal state. In addition, the right half surface 66 of the test print result has a wider interval between the two beams compared to the normal state,
The space spacing is reduced. As a result of the increase in the interval between the two beams, the two beams may become thick or separate into two beams.
【0050】したがって、2ビームレーザの副走査方向
の間隔が規定の値よりも広い場合は、図6のテストプリ
ント結果の左半面65と右半面66の2ドット2スペー
スの横線の濃度に違いが生じる。このようなしくみで、
2ビームレーザの副走査方向の間隔が広い場合を判別す
ることができる。Therefore, when the interval in the sub-scanning direction of the two-beam laser is wider than the specified value, the density of the horizontal line of two dots and two spaces on the left half surface 65 and the right half surface 66 in the test print result of FIG. Occurs. With such a mechanism,
It is possible to determine a case where the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is wide.
【0051】同様に、2ビームレーザの副走査方向の間
隔が規定の値よりも狭い場合も説明することができる。
図7は2ビームレーザの副走査方向の間隔が規定の値よ
り狭い場合のビーム間隔を示す図であり、図4と同様ビ
ーム1とビーム2により感光ドラム面に照射された光ス
ポットを2走査分示したものである。Similarly, the case where the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is narrower than a prescribed value can be explained.
FIG. 7 is a diagram showing the beam interval when the interval of the two-beam laser in the sub-scanning direction is smaller than a prescribed value. As in FIG. It is shown in minutes.
【0052】光スポット67は第1走査のレーザ1によ
る光スポットである。光スポット68は第1走査のレー
ザ2による光スポットである。光スポット69は第2走
査のレーザ1による光スポットである。光スポット70
は第2走査レーザ2による光スポットである。また、間
隔71は同じ走査面で照射されるビーム1とビーム2の
副走査方向の間隔である。そして、仮定した通り、間隔
71は規定の間隔より狭い。間隔72は、連続する2走
査の先の走査のビーム2と後の走査のビーム1の副走査
方向の間隔である。The light spot 67 is a light spot of the first scanning laser 1. The light spot 68 is a light spot by the laser 2 in the first scanning. The light spot 69 is a light spot of the second scanning laser 1. Light spot 70
Is a light spot by the second scanning laser 2. The interval 71 is an interval between the beams 1 and 2 irradiated on the same scanning surface in the sub-scanning direction. Then, as assumed, the interval 71 is narrower than the specified interval. The interval 72 is the interval in the sub-scanning direction between the beam 2 of the preceding scan and the beam 1 of the subsequent scan in two successive scans.
【0053】このとき、間隔72は規定の間隔よりも広
くなる。このため、2ビームレーザの副走査方向の間隔
が狭いときのテストプリント結果は図8に示すようにな
る。図8のテストプリント結果(図8)の左半面73
は、正常時と比べて2ビームの間隔は広く、2スペース
の間隔は狭くプリントされる。このように、2ビームの
間隔が広がった結果、2ビームは太くなる場合や2本に
別れる場合が起きる。また、同テストプリント結果の右
半面74は、正常時と比べて2ビームの間隔が狭く、2
スペースの間隔は広くなる。At this time, the interval 72 is wider than the specified interval. Therefore, the test print result when the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is narrow is as shown in FIG. Left half 73 of the test print result of FIG. 8 (FIG. 8)
Is printed with a wider interval between two beams than in a normal state and a narrow interval between two spaces. As described above, as a result of the increase in the interval between the two beams, the two beams may become thick or separate into two beams. In the right half surface 74 of the test print result, the interval between the two beams is smaller than in the normal state,
The spacing between the spaces is increased.
【0054】したがって、2ビームレーザの副走査方向
の間隔が規定の値よりも狭い場合は、テストプリント結
果の左半面73と右半面74の2ドット2スペースの横
線の濃度に違いが生じる。このようなしくみで、2ビー
ムレーザの副走査方向の間隔が狭い場合も判別すること
ができる。Therefore, when the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is smaller than the specified value, the density of the horizontal line of two dots and two spaces on the left half 73 and the right half 74 of the test print results. With such a structure, it is possible to determine a case where the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is narrow.
【0055】以上、説明したように、実施例1では、2
ビームレーザの副走査方向の間隔が規定の値になってい
ることを、2種類の2ドット2スペースの横線を用いた
テストプリントで容易に判別することができる。As described above, in the first embodiment, 2
The fact that the interval in the sub-scanning direction of the beam laser is a prescribed value can be easily determined by test printing using two types of horizontal lines of two dots and two spaces.
【0056】また、本実施例では1枚の用紙の片面に領
域を2つ設けてプリントすることを例に挙げて説明して
きたが、本発明は1枚の用紙の片面にプリントすること
に限定されるものではない。例えば、1枚目の用紙に第
1のパターンの領域を、2枚目の用紙に第2のパターン
の領域を設けてプリントすることや、用紙の表面は第1
のパターンの領域を、用紙の裏面は第2のパターンの領
域を設けてプリントすることが可能である。Although the present embodiment has been described by taking as an example the case where two areas are provided on one side of one sheet for printing, the present invention is limited to printing on one side of one sheet. It is not something to be done. For example, printing is performed by providing an area of the first pattern on the first sheet and an area of the second pattern on the second sheet.
It is possible to print the area of the pattern and the area of the second pattern on the back side of the sheet.
【0057】(実施例2)図9は2ビームレーザプリン
タにおいて実施例2を実現するテストプリントバターン
発生回路の構成を示すブロック図である。以下、図9の
回路の構成及び作用を説明する。(Embodiment 2) FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a test print pattern generation circuit for realizing Embodiment 2 in a two-beam laser printer. Hereinafter, the configuration and operation of the circuit of FIG. 9 will be described.
【0058】マスク信号発生タイミング設定レジスタ5
01は、テストプリントに必要な/MASK1信号52
4と/MASK2信号624を解除するタイミング(=
カウンタ値)及び発生するタイミング(=カウンタ値)
を格納するレジスタである。このレジスタ501への格
納は、テストプリントの初めに行われる。その後は図1
0に示すテストプリントパターン発生回路の動作タイミ
ングチャートに従ってテストプリントが行われる。Mask signal generation timing setting register 5
01 is a / MASK1 signal 52 required for test printing.
4 and the timing for releasing the / MASK2 signal 624 (=
Counter value) and timing of occurrence (= counter value)
Is a register for storing. The storage in the register 501 is performed at the beginning of the test print. After that Figure 1
Test printing is performed according to the operation timing chart of the test print pattern generation circuit shown in FIG.
【0059】/トップイレース信号(/TOPE信号)
525は、テストプリントパターンを発生するD−フリ
ップフロップ505〜507、605〜607の/CL
R信号入力端子に入力される。図10の(a)のよう
に、/TOPE信号525がTRUEからFALSEに
切り換わると、副走査方向の書き込み禁止が解除され
る。/ Top erase signal (/ TOPE signal)
Reference numeral 525 denotes D-flip-flops 505 to 507 for generating test print patterns, and / CL of 605 to 607.
The signal is input to the R signal input terminal. As shown in FIG. 10A, when the / TOPE signal 525 switches from TRUE to FALSE, the write inhibition in the sub-scanning direction is released.
【0060】一方/BD1信号520は、第1位相同期
発振器502、第1主走査カウンタ503、第1T−フ
リップフロップ507へ入力される。そして、図10の
(b)のように/BD1信号520がTRUEになる
と、第1主走査カウンタ503はリセットされる。ま
た、/BD1信号520がTRUEになると、第1T−
フリップフロップ507の出力信号529はFALSE
からTRUEあるいはTRUEからFALSEに切り換
わる。この第1T−フリップフロップ507の出力信号
529は、第1NANDゲート508に入力される。On the other hand, the / BD1 signal 520 is input to the first phase-locked oscillator 502, the first main scanning counter 503, and the first T-flip-flop 507. Then, when the / BD1 signal 520 becomes TRUE as shown in FIG. 10B, the first main scanning counter 503 is reset. When the / BD1 signal 520 becomes TRUE, the first T-
The output signal 529 of the flip-flop 507 is FALSE
To TRUE or TRUE to FALSE. The output signal 529 of the first T-flip-flop 507 is input to the first NAND gate 508.
【0061】さらに、/BD1信号520がTRUEに
なることをトリガーとして、第1位相同期発振器502
は/BD1信号520に同期した第1画像クロック信号
(CLK1信号)521の生成を開始する。この第1画
像クロック信号(CLK1信号)521は、第1主走査
カウンタ503、第11D−フリップフロップ507、
第12D−フリップフロップ508にそれぞれ入力され
る。第1主走査カウンタ503は、CLK1信号521
のパルスを計測する。第1主走査カウンタ値522は、
第1コンパレータ504にてマスク信号タイミング設定
レジスタ501に設定された値と比較される。比較され
た結果、/マスク1信号(/MASK1信号)524が
図10の(c)のように第1コンパレータ504より第
11−Dフリップフロップ507、第12D−フリップ
フロップ508の/CLR信号入力端子に入力される。
このようにして、ビーム1の主走査方向の書き込みを禁
止する制御を行っている。Further, triggered by the / BD1 signal 520 being TRUE, the first phase-locked oscillator 502
Starts generation of a first image clock signal (CLK1 signal) 521 synchronized with the / BD1 signal 520. The first image clock signal (CLK1 signal) 521 includes a first main scanning counter 503, an 11th D-flip-flop 507,
The signals are input to the twelfth D-flip-flop 508, respectively. The first main scanning counter 503 outputs the CLK1 signal 521
The pulse of is measured. The first main scanning counter value 522 is:
The first comparator 504 compares the value with the value set in the mask signal timing setting register 501. As a result of the comparison, the / mask 1 signal (/ MASK1 signal) 524 is supplied from the first comparator 504 to the / CLR signal input terminal of the eleventh-D flip-flop 507 and the twelfth D-flip-flop 508 as shown in FIG. Is input to
In this way, the control for inhibiting the writing of the beam 1 in the main scanning direction is performed.
【0062】上記11D−フリップフロップ(D−F
F)507と第12−フリップフロップ(D−FF)5
08は、次のように接続する。第11D−FF507の
Q出力端子は第12D−FF508のD入力端子に、第
12D−FF508の/Q出力端子は第11D−FF5
007のD入力端子に、第12−FF508のQ出力端
子は第1NANDゲート509の入力端子にそれぞれ接
続する。このように接続することにより、NANDゲー
ト509に出力される信号528、CLK1信号に応じ
てFALSE→FALSE→TRUE→TRUE→最初
へと切り替わる。The 11D flip-flop (DF)
F) 507 and twelfth flip-flop (D-FF) 5
08 is connected as follows. The Q output terminal of the eleventh D-FF 507 is the D input terminal of the twelfth D-FF 508, and the / Q output terminal of the twelfth D-FF 508 is the eleventh D-FF5.
007, and the Q output terminal of the twelfth FF 508 are connected to the input terminal of the first NAND gate 509, respectively. With this connection, the signal is switched from FALSE, FALSE, TRUE, TRUE, and first according to the signal 528 output to the NAND gate 509 and the CLK1 signal.
【0063】そして、レーザ1の主走査方向の信号52
8と副走査方向の信号529が第1NANDゲート50
8で合成されて、/TEST PATTERN1信号5
30が出力される。The signal 52 in the main scanning direction of the laser 1
8 and the signal 529 in the sub-scanning direction are
8 and the / TEST PATTERN1 signal 5
30 is output.
【0064】レーザ1と同様に、図10の(e)のよう
に/BD2信号620がTRUEになるタイミングで、
CLK2信号621が発生する。このCLK2信号62
1を元にして、図10の(f)のように/MASK2信
号624と、レーザ2の主走査方向の信号628が生成
される。Similarly to the laser 1, at the timing when the / BD2 signal 620 becomes TRUE as shown in FIG.
A CLK2 signal 621 is generated. This CLK2 signal 62
1, a / MASK2 signal 624 and a signal 628 in the main scanning direction of the laser 2 are generated as shown in FIG.
【0065】レーザ2のテストパターン発生回路がレー
ザ1のテストパターン発生回路と異なる点は、副走査方
向の信号回路部にある。すなわち、/BD2信号620
と/CHG信号631がANDゲート609に入力され
る。ANDゲート609の出力信号632は第2T−フ
リップフロップ(第2T−FF)に入力され、レーザ2
の副走査方向の信号629が出力される。The difference between the test pattern generation circuit of the laser 2 and the test pattern generation circuit of the laser 1 lies in the signal circuit section in the sub-scanning direction. That is, the / BD2 signal 620
And / CHG signal 631 are input to AND gate 609. The output signal 632 of the AND gate 609 is input to a second T-flip-flop (second T-FF),
Is output in the sub-scanning direction.
【0066】そして、レーザ2の主走査方向の信号62
8と副走査方向の信号629が第2NANDゲート60
8で合成されて、/TEST PATTERN2信号6
30が出力される。The signal 62 in the main scanning direction of the laser 2
8 and the signal 629 in the sub-scanning direction are
8 and the / TEST PATTERN2 signal 6
30 is output.
【0067】また、/CHG信号631がTRUEにな
ると、レーザの副走査方向の書き込み周期が反転する。
本実施例では、/CHG信号631は用紙の真ん中でパ
ルス信号の形で入力する。When the / CHG signal 631 becomes TRUE, the writing cycle of the laser in the sub-scanning direction is reversed.
In this embodiment, the / CHG signal 631 is input in the form of a pulse signal in the middle of the sheet.
【0068】上記構成のテストプリントパターン発生回
路によってテストプリントを実行すると、図11に示す
2種類の2×2の網点パターンが得られる。1つ目の網
点80は、上部がビーム1、下部がビーム2によって構
成されている。2つ目の網点81は、上部がビーム2、
下部がビーム1によって構成されている。図11は2ビ
ームレーザの副走査方向の間隔を確認するためのテスト
プリントであり、2種類の網点パターンの濃度が等しい
とき、正常である。When a test print is executed by the test print pattern generation circuit having the above configuration, two types of 2 × 2 halftone dot patterns shown in FIG. 11 are obtained. The first halftone dot 80 is composed of the beam 1 at the upper part and the beam 2 at the lower part. The second halftone dot 81 has a beam 2 at the top,
The lower part is constituted by the beam 1. FIG. 11 shows a test print for confirming the interval of the two-beam laser beam in the sub-scanning direction.
【0069】また、2ビームレーザの副走査方向の間隔
が広いときの網点パターンは図12に示すようになる。
図12において1つ目の網点82縦長になる。また、1
つ目の網点領域において副走査方向に隣接する網点の間
隔を正常時と比べて狭い。2つ目の網点83は縦方向に
縮んだ網点として印刷され、2つ目の網点領域において
副走査方向に隣接する網点の間隔は、正常時と比べて広
い。このため、1つ目の網点の領域の濃度と2つ目の網
点の領域の濃度が異なり、容易に2ビームレーザの副走
査方向の間隔が広いことがわかる。FIG. 12 shows a halftone dot pattern when the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is wide.
In FIG. 12, the first halftone dot 82 is vertically long. Also, 1
In the second halftone dot area, the interval between halftone dots adjacent in the sub-scanning direction is narrower than in the normal case. The second halftone dot 83 is printed as a halftone dot shrunk in the vertical direction, and the interval between halftone dots adjacent in the sub-scanning direction in the second halftone dot area is wider than in the normal case. Therefore, it can be seen that the density of the area of the first halftone dot is different from the density of the area of the second halftone dot, and the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is easily wide.
【0070】また、2ビームレーザの副走査方向の間隔
が狭いときの網点パターンは図13に示すようになる。
図13において1つ目の網点84は縦方向に縮んだ網点
として印刷される。また、1つ目の網点領域において副
走査方向に隣接する網点の間隔は正常時と比べて広い。
2つ目の網点85は縦長になり、2つ目の網点領域にお
いて副走査方向に隣接する網点の間隔は、正常時と比べ
て狭い。このため、1つ目の網点の領域の濃度と2つ目
の網点の領域が異なり、容易に2ビームレーザの副走査
方向の間隔が狭いことがわかる。FIG. 13 shows a halftone dot pattern when the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is narrow.
In FIG. 13, the first halftone dot 84 is printed as a halftone dot shrunk in the vertical direction. In the first halftone dot area, the interval between halftone dots adjacent in the sub-scanning direction is wider than in the normal case.
The second halftone dot 85 is vertically elongated, and the interval between halftone dots adjacent in the sub-scanning direction in the second halftone dot area is smaller than that in the normal state. Therefore, it can be seen that the density of the first halftone dot region is different from the density of the second halftone dot region, and the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is easily narrow.
【0071】このようして、実施例2では、2ビームレ
ーザの副走査方向の間隔が規定の値になっていること
を、2種類の2×2の網点を用いたテストプリントで容
易に判別することができる。As described above, in the second embodiment, the fact that the interval between the two-beam lasers in the sub-scanning direction is a specified value can be easily determined by test printing using two types of 2 × 2 halftone dots. Can be determined.
【0072】(実施例3)本発明の実施例3では、レー
ザビームを3つ以上持つマルチビームレーザプリンタに
おいて、レーザビームの副走査方向の間隔を確認する方
法について説明する。図14,図15及び図16は3ビ
ームレーザを使用したマルチビームレーザプリンタのテ
ストプリント結果を示す図である。(Embodiment 3) In Embodiment 3 of the present invention, a method for confirming the interval between laser beams in the sub-scanning direction in a multi-beam laser printer having three or more laser beams will be described. FIGS. 14, 15 and 16 show test print results of a multi-beam laser printer using a three-beam laser.
【0073】図14は3ビームの副走査方向の間隔が規
定の値である場合のテストプリント結果である。図14
に示すテストプリントバターンは、2つの網点パターン
の領域で構成され、どちらも網点の一点の大きさは2ド
ット×2ドットで構成される。また、どちらも網点の点
と点の間隔は、走査方向に2ドット副走査方向に4ドッ
トである。ただし、網点と網点の間隔は、上記の値に限
定されるものではない。FIG. 14 shows a test print result when the interval between the three beams in the sub-scanning direction is a prescribed value. FIG.
Is composed of two halftone dot pattern areas, and the size of one halftone dot in each case is 2 dots × 2 dots. In both cases, the interval between the halftone dots is 2 dots in the scanning direction and 4 dots in the sub-scanning direction. However, the interval between halftone dots is not limited to the above value.
【0074】上記の2つの網点のうち1つは網点86で
ある。この網点86の点の上半分はビーム1で書かれ、
下半分はビーム2で書かれる。この網点86は、1回の
走査で書かれることが特徴である。One of the two halftone dots is a halftone dot 86. The upper half of this halftone dot 86 is written with beam 1,
The lower half is written with beam 2. The halftone dot 86 is characterized by being written by one scan.
【0075】もう一つの網点は網点87である。この網
点87の上半分はビーム3で書かれ、下半分はビーム1
で書かれる。この網点87は連続する2走査の先の走査
と後の走査で書かれることが特徴である。そして、副走
査方向のビーム間隔が規定の値であるとき、図14に示
すテストプリント結果の図から、2種類の網点の濃度は
同じであることが推察される。Another dot is a dot 87. The upper half of this halftone dot 87 is written in beam 3 and the lower half is beam 1
Written in The halftone dot 87 is characterized in that it is written by the preceding scan and the subsequent scan of two consecutive scans. When the beam interval in the sub-scanning direction is a specified value, it is inferred from the test print result shown in FIG. 14 that the densities of the two types of halftone dots are the same.
【0076】図15は3ビームの副走査方向の間隔が規
定後よりも広い場合のテストプリント結果を示す図であ
る。以下、図14の規定の間隔のときのテストプリント
結果と比較して説明する。FIG. 15 is a diagram showing a test print result when the interval between the three beams in the sub-scanning direction is wider than that after the regulation. Hereinafter, a description will be given in comparison with the test print result at the specified interval in FIG.
【0077】ビーム1とビーム2で書かれる網点88の
点は、副走査方向に長い点になる。また、網点88の点
と点の間隔については、主走査方向の間隔2ドットで変
わらず、副走査方向の間隔は4ドットよりも短くなる。The dot 88 written by the beam 1 and the beam 2 is a long point in the sub-scanning direction. The interval between the halftone dots 88 is the same as the interval of 2 dots in the main scanning direction, and the interval in the sub-scanning direction is shorter than 4 dots.
【0078】もう一方のビーム3とビーム1で書かれる
網点89の点は、副走査方向に縮んだ点になる。また、
網点89の点と点の間隔については、主走査方向の間隔
は2ドットで変わらず、副走査方向の間隔4ドットより
も長くなる。したがって、副走査方向のビーム間隔が規
定の値よりも広いとき、2種類の網点の濃度に差がある
テストプリントパターンが印刷される。The halftone dot 89 written by the other beam 3 and beam 1 is a point contracted in the sub-scanning direction. Also,
Regarding the interval between the halftone dots 89, the interval in the main scanning direction remains the same at 2 dots, and is longer than the interval of 4 dots in the sub-scanning direction. Therefore, when the beam interval in the sub-scanning direction is wider than the prescribed value, a test print pattern having a difference in density between the two types of halftone dots is printed.
【0079】図16は3ビームの副走査方向の間隔が規
定の値よりも狭い場合のテストプリント結果を示す図で
ある。以下、同様に図14の規定の間隔の時のテストプ
リント結果と比較して説明する。FIG. 16 is a diagram showing a test print result when the interval between the three beams in the sub-scanning direction is smaller than a specified value. Hereinafter, a description will be made in comparison with the test print result at the specified interval in FIG.
【0080】ビーム1とビーム2で書かれる網点90の
点は、副走査方向に短い点になる。また、網点90の点
と点の間隔については、主走査方向の間隔は2ドットで
変わらず、副走査方向の間隔は4ドットよりも長くな
る。The dot 90 written by the beam 1 and the beam 2 is a short point in the sub-scanning direction. As for the interval between the halftone dots 90, the interval in the main scanning direction remains the same at 2 dots, and the interval in the sub-scanning direction is longer than 4 dots.
【0081】もう一方のビーム3とビーム1で書かれる
網点91の点は、副走査方向に縮んだ点になる。また、
網点91の点と点の間隔については、主走査方向の間隔
は2ドットで変わらず、副走査方向の間隔は4ドットよ
りも短くなる。したがって、副走査方向のビーム間隔が
規定の値よりも狭いとき、2種類の網点の濃度に差があ
るテストプリントパターンが印刷される。The halftone dot 91 written by the other beam 3 and beam 1 is a point contracted in the sub-scanning direction. Also,
Regarding the interval between the halftone dots 91, the interval in the main scanning direction remains the same at 2 dots, and the interval in the sub-scanning direction is shorter than 4 dots. Therefore, when the beam interval in the sub-scanning direction is smaller than the prescribed value, a test print pattern having a difference in density between the two types of halftone dots is printed.
【0082】このようして、3ビームレーザの副走査方
向の間隔が規定の値になっていることを、2種類の2×
2の網点を用いたテストプリントで容易に判別すること
ができる。As described above, the fact that the interval between the three-beam lasers in the sub-scanning direction is a specified value is determined by two types of 2 ×
It can be easily determined by a test print using the second halftone dot.
【0083】さらに、4ビームレーザを使用した本実施
例のマルチビームレーザプリンタにおいて、4ビームの
副走査方向の間隔を確認するテストプリントパターンに
ついて説明する。図17,図18及び図19は4ビーム
レーザを使用したマルチビームレーザプリンタのテスト
プリント結果を示す図である。Further, a test print pattern for confirming the interval of the four beams in the sub-scanning direction in the multi-beam laser printer of this embodiment using the four-beam laser will be described. FIGS. 17, 18 and 19 show test print results of a multi-beam laser printer using a four-beam laser.
【0084】図17は4ビームの副走査方向の間隔が規
定の値である場合のテストプリント結果を示したもので
ある。図14と同様、図17に示すテストプリントパタ
ーンは2つの網点パターンの領域で構成され、どちらも
網点の一点の大きさは2ドット×2ドットで構成され
る。また、どちらも網点の点と点の間隔は、走査方向に
2ドット、副走査方向に2ドットである。ただし、網点
と網点の間隔は、上記の値に限定されるものではない。FIG. 17 shows a test print result when the interval between the four beams in the sub-scanning direction is a prescribed value. As in FIG. 14, the test print pattern shown in FIG. 17 is composed of two dot pattern areas, and in each case, the size of one dot is 2 dots × 2 dots. In both cases, the interval between the halftone dots is 2 dots in the scanning direction and 2 dots in the sub-scanning direction. However, the interval between halftone dots is not limited to the above value.
【0085】上記2つの網点のうち1つは網点92であ
る。この網点92の点の上半分はビーム1で書かれ、下
半分はビーム2で書かれる。この網点92は、1回の走
査で書かれることが特徴である。One of the two halftone dots is a halftone dot 92. The upper half of this halftone dot 92 is written with beam 1 and the lower half is written with beam 2. The halftone dot 92 is characterized by being written by one scan.
【0086】もう一つの網点は網点93である。この網
点93の上半分はビーム4で書かれ、下半分はビーム1
で書かれる。この網点93は連続する2走査のときの走
査と後の走査で書かれることが特徴である。Another halftone dot is a halftone dot 93. The upper half of this dot 93 is written with beam 4 and the lower half is beam 1
Written in The halftone dot 93 is characterized by being written by two consecutive scans and a subsequent scan.
【0087】図18は4ビームの副走査方向の間隔が規
定の値よるも広い場合のテストプリント結果を示す図で
ある。また図19は4ビームの副走査方向の間隔が規定
の値よりも狭い場合のテストプリント結果を示す図であ
る。FIG. 18 is a diagram showing test print results when the interval between the four beams in the sub-scanning direction is wider than a specified value. FIG. 19 is a diagram showing test print results when the interval between the four beams in the sub-scanning direction is smaller than a specified value.
【0088】副走査方向のビーム間隔が規定の値である
とき、図17に示すテストプリント結果の図から、2種
類の網点の濃度は同じであることが推察される。また、
副走査方向のビーム間隔が規定の値よりも低いとき、図
18に示すテストプリント結果の図から、2種類の網点
の濃度が異なることが推察される。同様に、副走査方向
のビーム間隔が規定の値より狭いとき、図19に示すテ
ストプリント結果の図から、2種類の網点の濃度は異な
ることが推察される。When the beam interval in the sub-scanning direction is a prescribed value, it can be inferred from the test print result shown in FIG. 17 that the densities of the two types of halftone dots are the same. Also,
When the beam interval in the sub-scanning direction is smaller than the prescribed value, it is inferred from the test print result diagram shown in FIG. 18 that the densities of the two types of halftone dots are different. Similarly, when the beam interval in the sub-scanning direction is narrower than the specified value, it can be inferred from the test print results shown in FIG. 19 that the densities of the two types of halftone dots are different.
【0089】同様に、nビームレーザを使用したマルチ
ビームレーザプリンタにおいて、nビームの副走査方向
の間隔を確認するテストプリントパターンは、例えば以
下のようにして実現できる。1走査でビーム1とビーム
2を用いて2ドット×2ドットの点を書く網点パターン
と、連続した走査でビームnとビーム1を用いて2ドッ
ト×2ドットの点を書く網点パターンでテストプリント
パターンを構成する。Similarly, in a multi-beam laser printer using an n-beam laser, a test print pattern for confirming the interval in the sub-scanning direction of the n-beam can be realized, for example, as follows. A halftone dot pattern in which 2 dots × 2 dots are written using beam 1 and beam 2 in one scan, and a halftone dot pattern in which 2 dots × 2 dots are written using beam n and beam 1 in continuous scanning Construct a test print pattern.
【0090】このようにして、nビームレーザプリンタ
において、レーザビームの副走査方向の間隔を確認する
ことが可能となる。As described above, in the n-beam laser printer, it is possible to confirm the interval between the laser beams in the sub-scanning direction.
【0091】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明は上述のように、画像信号により変調された
複数のレーザビームを、回転多面鏡を用い感光ドラム上
に走査し画像を形成するレーザビームプリンタにおい
て、回転多面鏡の任意の一面で一度に走査されるn本の
(n≧2)のレーザビームを用紙先端側に相当するビー
ムよりB1,B2,……,Bn−1,Bnとしたとき、
該回転多面鏡の現走査面より一つ前の前走査面によりビ
ームBnと現走査面によるビームB1からなる画素を使
用して、画像を形成する第1のテストプリントパターン
領域と、現走査面のビームBm−1と該走査面のビーム
Bm(mはn以下の整数)からなる画素を使用して画像
を形成する第2のテストプリントパターン領域を発生さ
れるテストプリントパターン発生手段を有するようにし
たものである。The embodiments of the present invention have been described above. In the present invention, as described above, a plurality of laser beams modulated by an image signal are scanned on a photosensitive drum using a rotating polygon mirror to form an image. In a laser beam printer, n (n ≧ 2) laser beams scanned at one time on any one surface of a rotary polygon mirror are converted into B1, B2,. And when
A first test print pattern area for forming an image using a pixel consisting of the beam Bn and the beam B1 of the current scanning plane one before the current scanning plane of the rotary polygon mirror; And a test print pattern generating means for generating a second test print pattern area for forming an image by using pixels consisting of the beam Bm-1 of the scanning surface and the beam Bm of the scanning surface (m is an integer of n or less). It was made.
【0092】そして、それぞれの副走査方向の間隔の差
を、上記第1のテストプリンてパターン領域々第2のテ
ストプリントパターン領域の濃度差として得ることがで
きる。The difference between the intervals in the sub-scanning direction can be obtained as the density difference between the first test print pattern area and the second test print pattern area.
【0093】[0093]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
マルチビームレーザプリンタに固有なレーザビームの副
走査方向の間隔を特殊なテストプリントパターンとテス
トプリントパターン発生回路によって、外部装置を用い
てることなく、しかも安価に確認することができる。As described above, according to the present invention,
The interval in the sub-scanning direction of the laser beam, which is unique to the multi-beam laser printer, can be checked at low cost by using a special test print pattern and a test print pattern generating circuit without using an external device.
【0094】また、副走査方向の間隔をテストプリント
というレーザビームプリンタの最終工程を経た結果とし
て確認することができる。Further, the interval in the sub-scanning direction can be confirmed as a result of a final step of a laser beam printer called a test print.
【図1】 実施例1のテストプリントパターン発生の構
成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a test print pattern generation according to a first embodiment.
【図2】 図1のテストパターンプリントパターン発生
回路の動作を示すタイムチャートFIG. 2 is a time chart showing an operation of the test pattern print pattern generation circuit of FIG. 1;
【図3】 実施例1の2ビームレーザプリンタのテスト
プリント結果(正常時)を示す図FIG. 3 is a diagram showing a test print result (in a normal state) of the two-beam laser printer according to the first embodiment.
【図4】 2ビームレーザプリンタにおける2走査分の
ビームスポット(正常時)を示す図FIG. 4 is a diagram showing a beam spot for two scans in a two-beam laser printer (in a normal state).
【図5】 2ビームレーザプリンタにおける2走査分の
ビームスポット(ビーム間隔が広い時)を示す図FIG. 5 is a diagram showing a beam spot for two scans (when the beam interval is wide) in a two-beam laser printer.
【図6】 実施例1の2ビームレーザプリンタのテスト
プリント結果(ビーム間隔が広い時)を示す図FIG. 6 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is wide) of the two-beam laser printer according to the first embodiment.
【図7】 2ビームレーザプリンタにおける2走査分の
ビームスポット(ビーム間隔が狭い時)を示す図FIG. 7 is a diagram showing a beam spot for two scans (when the beam interval is narrow) in a two-beam laser printer.
【図8】 実施例1の2ビームレーザプリンタのテスト
プリント結果(ビーム間隔が狭い時)を示す図FIG. 8 is a diagram showing a test print result (when the beam interval is narrow) of the two-beam laser printer of the first embodiment.
【図9】 実施例2のテストパターンプリントパターン
発生回路の構成を示すブロック図FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of a test pattern print pattern generation circuit according to a second embodiment.
【図10】 図9のテストプリントパターン発生回路の
動作を示すタイムチャートFIG. 10 is a time chart showing the operation of the test print pattern generation circuit of FIG. 9;
【図11】 実施例2の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(正常時)を示す図FIG. 11 is a diagram illustrating a test print result (in a normal state) of the two-beam laser printer according to the second embodiment.
【図12】 実施例2の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(ビーム間隔が広い時)を示す図FIG. 12 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is wide) of the two-beam laser printer according to the second embodiment.
【図13】 実施例2の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(ビーム間隔が狭い時)を示す図FIG. 13 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is small) of the two-beam laser printer according to the second embodiment.
【図14】 実施例3の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(正常時)を示す図FIG. 14 is a diagram illustrating a test print result (in a normal state) of the two-beam laser printer according to the third embodiment.
【図15】 実施例3の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(ビーム間隔が広い時)を示す図FIG. 15 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is wide) of the two-beam laser printer according to the third embodiment.
【図16】 実施例3の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(ビーム間隔が狭い時)を示す図FIG. 16 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is narrow) of the two-beam laser printer according to the third embodiment.
【図17】 実施例4の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(正常時)を示す図FIG. 17 is a diagram illustrating a test print result (in a normal state) of the two-beam laser printer according to the fourth embodiment.
【図18】 実施例4の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(ビーム間隔が広い時)を示す図FIG. 18 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is wide) of the two-beam laser printer according to the fourth embodiment.
【図19】 実施例4の2ビームレーザプリンタのテス
トプリント結果(ビーム間隔が狭い時)を示す図FIG. 19 is a diagram illustrating a test print result (when the beam interval is small) of the two-beam laser printer according to the fourth embodiment.
【図20】 マルチビームレーザプリンタの構成例を示
す図FIG. 20 illustrates a configuration example of a multi-beam laser printer.
【図21】 図20のマルチビームレーザプリンタの動
作を示すタイムチャートFIG. 21 is a time chart showing the operation of the multi-beam laser printer shown in FIG. 20;
【図22】 従来のマルチビームレーザプリンタのテス
トプリントパターン発生回路の構成を示すブロック図FIG. 22 is a block diagram showing a configuration of a test print pattern generation circuit of a conventional multi-beam laser printer.
【図23】 図22のテストプリントバターン発生回路
の動作を示すタイムチャートFIG. 23 is a time chart showing the operation of the test print pattern generation circuit of FIG. 22;
301 マスク信号発生タイミング発生回路 302 第1位相同期発振器 303 第1主走査カウンタ 304 第1コンパレータ 402 第2位相同期発振器 403 第2主走査カウンタ 404 第2コンパレータ 501 マスク信号発生タイミング発生回路 502 第1位相同期発振器 503 第1主走査カウンタ 504 第1コンパレータ 602 第2位相同期発振器 603 第2主走査カウンタ 604 第2コンパレータ 301 Mask signal generation timing generation circuit 302 First phase locked oscillator 303 First main scanning counter 304 First comparator 402 Second phase locked oscillator 403 Second main scanning counter 404 Second comparator 501 Mask signal generation timing generation circuit 502 First phase Synchronous oscillator 503 First main scanning counter 504 First comparator 602 Second phase locked oscillator 603 Second main scanning counter 604 Second comparator
Claims (3)
ビームを回転多面鏡を介して感光体に走査し画像を形成
するレーザビームプリンタにおいて、前記回転多面鏡の
任意の走査面より一つ前の前走査面の最後のレーザビー
ムと現走査面の最初のレーザビームからなる画素を使用
して画像を形成する第1のテストプリントパターン領域
と、現走査面の連続する二つのレーザビームからなる画
素を使用して画像を形成する第2のテストプリントパタ
ーン領域を発生するテストプリントパターン発生手段を
有することを特徴とするレーザビームプリンタ。1. A laser beam printer which forms an image by scanning a plurality of laser beams modulated by an image signal on a photosensitive member via a rotary polygon mirror, wherein the laser beam printer is located immediately before an arbitrary scanning surface of the rotary polygon mirror. A first test print pattern area for forming an image using pixels consisting of the last laser beam of the previous scanning plane and the first laser beam of the current scanning plane, and pixels consisting of two consecutive laser beams of the current scanning plane A laser beam printer having test print pattern generating means for generating a second test print pattern area for forming an image by using the method.
のテストプリントパターンは横線であることを特徴とす
る請求項1記載のレーザビームプリンタ。2. A first test print pattern and a second test print pattern.
2. The laser beam printer according to claim 1, wherein the test print pattern is a horizontal line.
のテストプリントパターンは網点画像であることを特徴
とする請求項1記載のレーザビームプリンタ。3. A first test print pattern and a second test print pattern.
2. The laser beam printer according to claim 1, wherein the test print pattern is a halftone image.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34517497A JPH11170597A (en) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | Laser beam printer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34517497A JPH11170597A (en) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | Laser beam printer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11170597A true JPH11170597A (en) | 1999-06-29 |
Family
ID=18374799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34517497A Withdrawn JPH11170597A (en) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | Laser beam printer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11170597A (en) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050301 |