JPH11167198A - Pellicle for lithography - Google Patents

Pellicle for lithography

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JPH11167198A
JPH11167198A JP33256497A JP33256497A JPH11167198A JP H11167198 A JPH11167198 A JP H11167198A JP 33256497 A JP33256497 A JP 33256497A JP 33256497 A JP33256497 A JP 33256497A JP H11167198 A JPH11167198 A JP H11167198A
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pellicle
frame
adhesive
pellicle frame
film
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely and easily detect foreign matter on the inner face of a pellicle frame by specifying the surface roughness of the inner face of the pellicle frame and coating the inner face with an adhesive resin. SOLUTION: A pellicle film 2 is stretched on the top face of a pellicle frame 1 by way of an adhesive layer and the inner face of the pellicle frame 1 is coated with an adhesive. A sticky layer 3 is formed on the bottom of the pellicle frame 1 and a peelable releasing layer 4 is stuck on the bottom. At this time, the surface roughness of the inner face of the pellicle frame 1 is regulated to 0.3-0.9 μm Ra, 4.0-8.57 μm Rt and 0.3-1.1 μm RMS. The material of the pellicle film 2 is not particularly limited and nitrocellulose, cellulose acetate, cellulose propionate or a non-crystalline fluorine-contg. polymer may be used. The material of the adhesive layer is, e.g. an acrylic resin adhesive, an epoxy resin adhesive, a silicone resin adhesive or a fluorine-contg. polymer such as a fluorine- contg. silicone adhesive.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LSI、超LSI
等の半導体装置や液晶表示板を製造する際、リソグラフ
ィー工程で使用されるマスクに塵埃が付着するのを防止
するリソグラフィー用ペリクル(以下、ペリクルとい
う)に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an LSI,
The present invention relates to a pellicle for lithography (hereinafter, referred to as a pellicle) that prevents dust from adhering to a mask used in a lithography process when manufacturing a semiconductor device such as a liquid crystal display panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置や液晶表示板を製造する際、
光を照射してパターンを基板上に転写させるのに、マス
ク(露光原板)が使用される。このマスクに塵埃が付着
すると、塵埃による光の吸収や屈曲が起こり、転写した
パターンが変形したり、パターンエッジががさついたり
する他、下地が黒く汚れたりして、製品の寸法、品質、
外観等の低下を招くことになる。そのため、パターンの
転写作業は、通常、清浄なクリーンルーム内で行われ
る。しかし、クリーンルームの雰囲気の中であっても、
マスクを常に清浄に保つことは実際には困難である。そ
こで、上記マスクの表面に、良好な光透過性を有するペ
リクルを貼着することにより、塵埃がマスクに付着する
のを防いでいる。すなわち、ペリクルの使用によって、
塵埃はペリクル表面に付着し、マスク表面には直接付着
しなくなる。したがって、リソグラフィー工程時に、焦
点をマスクのパターン上に合わせておけば、塵埃による
転写への悪影響はみられなくなる。
2. Description of the Related Art When manufacturing semiconductor devices and liquid crystal display panels,
A mask (exposure original plate) is used to irradiate light to transfer a pattern onto a substrate. If dust adheres to this mask, the light absorbs or bends due to the dust, resulting in deformation of the transferred pattern, roughening of the pattern edges, and blacking of the base, resulting in product dimensions, quality,
The appearance and the like are deteriorated. Therefore, the pattern transfer operation is usually performed in a clean clean room. However, even in a clean room atmosphere,
It is actually difficult to keep the mask clean at all times. Therefore, by attaching a pellicle having good light transmittance to the surface of the mask, dust is prevented from adhering to the mask. That is, by using a pellicle,
Dust adheres to the pellicle surface and does not directly adhere to the mask surface. Therefore, if the focus is set on the pattern of the mask at the time of the lithography process, adverse effects on the transfer due to dust will not be observed.

【0003】このような役割を果たすペリクルの基本的
な構成は、一般には、図1に示すように、アルミニウ
ム、ステンレス、ポリスチレン等からなる黒色のペリク
ル枠1と、その上端面に接着剤層(図示せず)を介して
張設された、ニトロセルロース、酢酸セルロース等から
なる光透過性に優れた透明なペリクル膜2と、マスクに
装着するためにペリクル枠1の下端に設けられた粘着層
3と、粘着層3を保護するための離型層(セパレータ
ー)4とからなる。ペリクル膜2をペリクル枠1の上端
面に張設させるには、ペリクル膜2の良溶媒をペリクル
枠1に塗布して風乾させる方法(特開昭58−2190
23号公報参照)や、アクリル樹脂、エポキシ樹脂等か
らなる接着剤で接着する方法(米国特許第486140
2号明細書、特公昭63−27,702号公報参照)が
ある。上記したように、ペリクルは、リソグラフィー工
程で使用されるため、その構成部材には高い清浄性が要
求される。特に、ペリクル枠の内側面は、異物が付着し
ていると、レチクル表面を汚染する可能性が大きくなる
ため、高い清浄性が要求される。一般に、ペリクル枠の
内側面には、内側面に付着した異物が脱落しないように
粘着性樹脂を10〜50μm程度、コーティングする。
これにより、付着した異物は保持されるわけであるが、
異物の大きさや付着の状態によっては完全に保持されな
い場合もある。そこで、ペリクル製造時や使用前の受け
入れ検査時等に、ペリクル枠内側面の付着異物検査を行
っている。
As shown in FIG. 1, the basic structure of a pellicle that plays such a role is generally a black pellicle frame 1 made of aluminum, stainless steel, polystyrene, or the like, and an adhesive layer ( (Not shown), a transparent pellicle film 2 made of nitrocellulose, cellulose acetate or the like and having excellent light transmittance, and an adhesive layer provided at the lower end of the pellicle frame 1 to be mounted on a mask. 3 and a release layer (separator) 4 for protecting the adhesive layer 3. To stretch the pellicle film 2 on the upper end surface of the pellicle frame 1, a good solvent for the pellicle film 2 is applied to the pellicle frame 1 and air-dried (Japanese Patent Laid-Open No. 58-2190).
No. 23) or a method of bonding with an adhesive made of acrylic resin, epoxy resin or the like (US Pat. No. 486140).
No. 2, Japanese Patent Publication No. 63-27,702). As described above, since the pellicle is used in the lithography process, its constituent members are required to have high cleanliness. In particular, if foreign matter adheres to the inner surface of the pellicle frame, the possibility of contaminating the reticle surface increases, so high cleanliness is required. In general, the inner surface of the pellicle frame is coated with an adhesive resin to a thickness of about 10 to 50 μm so that foreign substances attached to the inner surface do not fall off.
As a result, the attached foreign matter is retained,
Depending on the size of foreign matter and the state of adhesion, it may not be completely retained. Therefore, at the time of manufacturing the pellicle or at the time of the acceptance inspection before use, the attached foreign matter inspection on the inner surface of the pellicle frame is performed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ペリク
ル枠表面は、一般に、サンドブラストや化学研磨により
粗化され、艶消し状態にされている。そのため、ペリク
ル枠内側面に粘着性樹脂をコーティングすると、この樹
脂は粗化された表面に入り込み、検査光を乱反射するよ
うになり、異物による反射光と乱反射光との区別が付か
ないため、あたかもペリクル枠内側面に多数の異物が付
着しているように見えたり、あるいは、本来検出すべき
異物を見落とすことになり、ひいては、歩留りの低下を
招いていた。
However, the surface of the pellicle frame is generally roughened by sand blasting or chemical polishing to make it matt. Therefore, if the inner surface of the pellicle frame is coated with an adhesive resin, this resin enters the roughened surface and diffuses the inspection light. Many foreign substances seem to adhere to the inner surface of the pellicle frame, or foreign substances that should be detected are overlooked, resulting in a decrease in yield.

【0005】そこで、本発明は、ペリクル枠内側面に粘
着性樹脂をコーティングすることによる光の乱反射を抑
制し、ペリクル枠内側面の異物検出を確実かつ容易に行
うことができるペリクルを提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention provides a pellicle capable of suppressing irregular reflection of light by coating an inner surface of a pellicle frame with an adhesive resin and reliably and easily detecting foreign matter on the inner surface of the pellicle frame. With the goal.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
解決すべく、鋭意検討を重ねた結果、ペリクル枠内側面
の表面粗さを所定範囲内にすることにより、粘着性樹脂
をコーティングしたペリクル枠内側面で、検査光の乱反
射を抑制することができることを見いだし、この知見に
基づいて本発明を完成するに至った。すなわち、本発明
は、ペリクル枠内側面の表面粗さが、Ra0.3〜0.
9μm、Rt4.0〜8.5μm、RMS0.3〜1.
1μmの範囲にあり、ペリクル枠内側面が粘着性樹脂に
よってコーティングされていることを特徴とするリソグ
ラフィー用ペリクルである。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have conducted intensive studies to solve the above-mentioned problems, and as a result, the surface roughness of the inner surface of the pellicle frame has been adjusted to a predetermined range, thereby coating the adhesive resin. It has been found that irregular reflection of inspection light can be suppressed on the inner surface of the pellicle frame, and the present invention has been completed based on this finding. That is, in the present invention, the surface roughness of the inner surface of the pellicle frame is Ra 0.3 to 0.5.
9 μm, Rt 4.0-8.5 μm, RMS 0.3-1.
A pellicle for lithography, wherein the pellicle is in a range of 1 μm and the inner surface of the pellicle frame is coated with an adhesive resin.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
して詳細に説明する。本発明のペリクルは、図1に示す
ように、ペリクル枠1の上端面に接着剤層(図示せず)
を介してペリクル膜2を張設し、ペリクル枠1の内側面
に粘着剤をコーティングしたもので、通常、さらにペリ
クル枠1の下部には粘着層3が形成され、その下端面に
は剥離可能な離型層4が貼着される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, the pellicle of the present invention has an adhesive layer (not shown) on an upper end surface of a pellicle frame 1.
A pellicle film 2 is stretched through the pellicle frame, and an adhesive is coated on the inner surface of the pellicle frame 1. Usually, an adhesive layer 3 is further formed at a lower portion of the pellicle frame 1, and the lower end surface thereof is peelable. The proper release layer 4 is stuck.

【0008】ペリクル枠1の材質については、特に限定
はなく、例えば、従来使用されているアルミ材の陽極酸
化処理物、ステンレス、ポリアセタール、ポリカーボネ
ート、PMMA、アクリル樹脂等の樹脂や青ガラスが挙
げられる。ペリクル枠1の表面は、通常、粗化するが、
その方法は限定されず、サンドブラストや化学研磨によ
る方法が挙げられる。例えば、アルミ材を使用した場合
は、カーボランダム、ガラスビーズ等によりブラスト処
理を行い、さらにNaOH等によって化学研磨して表面
を粗化する方法が知られている。
The material of the pellicle frame 1 is not particularly limited, and examples thereof include conventionally used anodized aluminum materials, stainless steel, polyacetal, polycarbonate, PMMA, acrylic resin and other resins, and blue glass. . The surface of the pellicle frame 1 is usually roughened,
The method is not limited, and examples include sandblasting and chemical polishing. For example, when an aluminum material is used, a method is known in which blasting is performed using carborundum, glass beads, or the like, and the surface is roughened by chemical polishing using NaOH or the like.

【0009】異物を付着して保持し、また、塵埃の発生
を防止するため、ペリクル枠1内側面は、粘着性樹脂で
コーティングする。粘着性樹脂としては、シリコーン系
粘着剤、アクリル系粘着剤等が例示される。また、コー
ティングは、厚さ10〜50μmとなるようにする。
[0009] The inner surface of the pellicle frame 1 is coated with an adhesive resin in order to adhere and hold foreign matter and to prevent generation of dust. Examples of the adhesive resin include a silicone adhesive and an acrylic adhesive. Further, the coating has a thickness of 10 to 50 μm.

【0010】本発明では、ペリクル枠1内側面の表面粗
さを、触針式表面粗さ計で測定した場合、Ra0.3〜
0.9μm、Rt4.0〜8.5μm、RMS0.3〜
1.1μmの範囲となるようにする。ペリクル枠1内側
面の表面粗さが、本発明で規定する値よりも小さい場
合、ペリクル枠内側面に粘着性樹脂をコーティングする
と、内側面表面の凹凸内に入り込んだ該樹脂は凹凸を埋
めるため、検査光を乱反射して異物として誤認すること
はなくなるが、ペリクル枠内側面での反射光が大きくな
るため、例えば、ペリクル膜2上の異物をレーザー散乱
方式の検査装置で検査する場合に、レーザー光がペリク
ル枠内側面で反射して、あたかもペリクル膜上に異物が
存在するとして誤るおそれがある。一方、ペリクル枠1
内側面の表面粗さが、本発明で規定する値よりも大きい
場合、ペリクル枠内側面で散乱する光の量を少なくする
ことができる反面、ペリクル枠内側面に粘着性樹脂をコ
ーティングすると、内側面表面の凹凸内に入り込んだ該
樹脂が検査光を乱反射して、あたかも多数の異物が内側
面表面に付着していると誤認が生じ、検査が困難となる
ばかりでなく、実際に異物が付着していた場合、これを
見落とすことがあり、その結果、ペリクルを使用した際
に、この異物が脱落してレチクル表面に付着し、歩留り
の低下を招くことになる。
In the present invention, when the surface roughness of the inner surface of the pellicle frame 1 is measured by a stylus type surface roughness meter, Ra 0.3 to
0.9 μm, Rt 4.0 to 8.5 μm, RMS 0.3 to
The range is 1.1 μm. When the surface roughness of the inner surface of the pellicle frame 1 is smaller than the value specified in the present invention, if the inner surface of the pellicle frame is coated with an adhesive resin, the resin that has entered the unevenness of the inner surface surface fills the unevenness. Although the inspection light is not irregularly reflected and is not erroneously recognized as a foreign substance, since the reflected light on the inner surface of the pellicle frame increases, for example, when the foreign substance on the pellicle film 2 is inspected by a laser scattering type inspection apparatus, The laser light may be reflected on the inner surface of the pellicle frame and may be mistaken as if a foreign substance exists on the pellicle film. Meanwhile, pellicle frame 1
When the surface roughness of the inner surface is larger than the value specified in the present invention, the amount of light scattered on the inner surface of the pellicle frame can be reduced. The resin that has entered the irregularities on the side surface irregularly reflects the inspection light, and it is erroneously recognized that many foreign substances are attached to the inner side surface, which makes not only the inspection difficult, but also the foreign substance actually attached. If the pellicle is used, the foreign matter falls off and adheres to the reticle surface when the pellicle is used, thereby lowering the yield.

【0011】ペリクル膜2の材質については、特に限定
はなく、従来使用されているニトロセルロース、酢酸セ
ルロース、プロピオン酸セルロース、非晶質フッ素ポリ
マー等が例示される。非晶質フッ素ポリマーとしては、
例えば、サイトップ(旭硝子社製、商品名)、テフロン
AF(デュポン社製、商品名)が挙げられる。これらの
ポリマーは、ペリクル膜の作製時に必要に応じてフッ素
系溶媒等に溶解して使用してもよい。
The material of the pellicle film 2 is not particularly limited, and examples thereof include conventionally used nitrocellulose, cellulose acetate, cellulose propionate, and an amorphous fluoropolymer. As an amorphous fluoropolymer,
Examples include Cytop (trade name, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) and Teflon AF (trade name, manufactured by DuPont). These polymers may be used by dissolving them in a fluorinated solvent or the like as necessary at the time of producing the pellicle film.

【0012】接着剤層の材質についても、従来より使用
されているものを適宜選択すればよく、アクリル樹脂接
着剤、エポキシ樹脂接着剤、シリコーン樹脂接着剤、含
フッ素シリコーン接着剤等のフッ素系ポリマーが挙げら
れるが、特にはフッ素系ポリマーが好適である。フッ素
系ポリマーとしては、フッ素系ポリマーCT69(旭硝
子社製、商品名)が挙げられる。粘着層3としては、両
面粘着テープ、シリコーン樹脂粘着剤、アクリル系粘着
剤等を用いて形成すればよい。離型層4の材質について
も、一般に用いられているシリコーン離型剤、フッ素変
性シリコーン離型剤等を選択すればよい。また、上記各
ペリクル構成部材の大きさは、特に限定はなく、通常の
ペリクルと同様とすればよい。
The material of the adhesive layer may be appropriately selected from those conventionally used. Fluoropolymers such as acrylic resin adhesives, epoxy resin adhesives, silicone resin adhesives, and fluorine-containing silicone adhesives can be used. And a fluorine-based polymer is particularly preferable. Examples of the fluorine-based polymer include a fluorine-based polymer CT69 (trade name, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.). The adhesive layer 3 may be formed using a double-sided adhesive tape, a silicone resin adhesive, an acrylic adhesive, or the like. As for the material of the release layer 4, a generally used silicone release agent, a fluorine-modified silicone release agent, or the like may be selected. The size of each pellicle component is not particularly limited, and may be the same as a normal pellicle.

【0013】本発明のペリクルを製造するには、通常の
方法により、内側面に粘着性樹脂をコーティングしたペ
リクル枠1の上端面に接着剤層を介してペリクル膜2を
張設し、適宜、ペリクル枠1の下端面に粘着層3を形成
し、この粘着層3の下端面に、剥離できるように離型層
4を貼り付ければよい。ここで、接着剤層は、必要によ
り接着剤を溶媒で希釈してペリクル枠1の上端面に塗布
し、加熱して乾燥し、硬化させることにより形成するこ
とができる。この場合、接着剤の塗布方法としては、刷
毛塗り、スプレー、自動ディスペンサーによる方法等が
挙げられる。
In order to manufacture the pellicle of the present invention, a pellicle film 2 is stretched through an adhesive layer on an upper end surface of a pellicle frame 1 having an inner surface coated with an adhesive resin by an ordinary method. The adhesive layer 3 may be formed on the lower end surface of the pellicle frame 1 and the release layer 4 may be attached to the lower end surface of the adhesive layer 3 so as to be peelable. Here, the adhesive layer can be formed by diluting the adhesive with a solvent, if necessary, applying the diluted adhesive to the upper end surface of the pellicle frame 1, heating, drying, and curing. In this case, examples of the method of applying the adhesive include brush coating, spraying, and a method using an automatic dispenser.

【0014】[0014]

【実施例】次に、実施例を挙げて本発明をさらに詳細に
説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されるも
のではない。
Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples. Note that the present invention is not limited to the following embodiments.

【0015】(実施例1)初めに、ペリクル枠として、
枠外寸100mm×100mm×6mm、枠厚さ2mm
のアルミニウム合金製枠を用意した。この物を、表面洗
浄した後、粒径90μmのガラスビーズを使用し吐出圧
1.5kgのサンドブラスト装置にて10分間表面処理
し表面を粗化した。次いでこのものを、NaOH処理浴
中にて10秒間処理し洗浄した後、陽極酸化、黒色染
色、封孔処理して表面に黒色の酸化皮膜を形成した。仕
上がった枠の表面を表面粗さ計サーフコーダー(小坂研
究所製、商品名)にて測定したところ、Ra0.45μ
m、Rt4.5μm、RMS0.45μmであった。こ
のアルミ枠を純水と超音波洗浄装置を併用して、洗浄し
た。次いで、この枠にスプレーコーティング装置を用い
て、シリコーン系粘着剤を10μmコーティングした。
次いで、テフロンAF1600(米国デュポン社製、商
品名)を、フッ素系溶剤フロリナートFC−75(米国
スリーエム社製、商品名)に溶解させて濃度8%の溶液
を調製した。次に、この溶液により、直径200mm、
厚さ600μmの鏡面研磨したシリコン基板面に、スピ
ンコーターを用いて膜の厚みが0.8μmの透明膜を形
成させた。次に、この膜上に外寸200mm×200m
m×5mm幅、厚さ5mmの枠を、エポキシ系接着剤ア
ラルダイトラピッド(昭和高分子社製、商品名)を用い
て接着し水中で剥離した。次に、前記のようにして準備
した、アルミニウム合金製枠を、エポキシ系接着剤アラ
ルダイトラピッド(同前)を用いて成膜したテフロンA
F1600の膜表面に接着した。二つの枠はペリクル枠
の接着面を上向きにして固定用の治具に取り付けて相対
的に位置がずれないように固定した。次いで、ペリクル
枠外側の枠を引き上げて固定し、ペリクル枠外側の膜部
に0.5g/cmの張力を与えた。また、別に膜切断用
の器具として、スカラーロボットにステンレス製カッタ
ー、厚さ0.25mmを取り付けした。このカッターに
チューブ式ディスペンサーを用いて、フロリナートFC
75(同前)を毎分10μl滴下しながら、前記ペリク
ル枠上の接着剤部分の周辺部に沿ってカッターを移動し
ながら、ペリクル枠外側の不要膜部分を切断除去した。
次に、不要膜部分を除去し、得られたペリクルの内面を
ハロゲンランプにて照明しながら検査したところ、表面
に異物と思われる物は存在せず、枠表面での光の乱反射
もなかった。そこで、粒子径1.0μmのポリスチレン
製標準粒子を枠内面に付着させた。これを同様にハロゲ
ンランプにて照明しながら検査したところ容易に付着し
ていることを確認できた。また、レーザー散乱異物検査
装置を用いたペリクル膜上の異物検査を行ったところ、
枠からの散乱光による誤検出はなかった。
(Embodiment 1) First, as a pellicle frame,
Frame outer dimensions 100mm x 100mm x 6mm, frame thickness 2mm
Was prepared. After the surface was washed, the surface was roughened by using glass beads having a particle diameter of 90 μm for 10 minutes using a sandblasting device with a discharge pressure of 1.5 kg. Next, this was treated in an NaOH treatment bath for 10 seconds, washed, and then subjected to anodizing, black dyeing, and sealing to form a black oxide film on the surface. When the surface of the finished frame was measured with a surface roughness meter surf coder (trade name, manufactured by Kosaka Laboratories), Ra 0.45 μm was obtained.
m, Rt 4.5 μm, and RMS 0.45 μm. The aluminum frame was cleaned using pure water and an ultrasonic cleaning device together. Next, this frame was coated with a silicone-based pressure-sensitive adhesive at 10 μm using a spray coating device.
Next, Teflon AF1600 (trade name, manufactured by DuPont, USA) was dissolved in a fluorinated solvent Florinert FC-75 (trade name, manufactured by 3M, USA) to prepare a solution having a concentration of 8%. Next, with this solution, a diameter of 200 mm,
A transparent film having a film thickness of 0.8 μm was formed on a mirror-polished silicon substrate surface having a thickness of 600 μm using a spin coater. Next, an outer dimension of 200 mm x 200 m
A frame having a width of 5 mm and a width of 5 mm was adhered using an epoxy adhesive Aralditrapid (trade name, manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.) and peeled off in water. Next, a Teflon A film formed from the aluminum alloy frame prepared as described above using an epoxy-based adhesive Aralditrapid (same as above).
It adhered to the film surface of F1600. The two frames were attached to a fixing jig with the bonding surface of the pellicle frame facing upward and fixed so as not to be relatively displaced. Next, the frame outside the pellicle frame was pulled up and fixed, and a tension of 0.5 g / cm was applied to the film portion outside the pellicle frame. Separately, a stainless steel cutter having a thickness of 0.25 mm was attached to a scalar robot as a film cutting instrument. Using a tube dispenser for this cutter, Florinert FC
75 (same as above) was dropped at 10 μl / min, and the unnecessary film portion outside the pellicle frame was cut and removed while moving the cutter along the periphery of the adhesive portion on the pellicle frame.
Next, the unnecessary film portion was removed, and the inner surface of the obtained pellicle was inspected while illuminating it with a halogen lamp. As a result, there was no foreign matter on the surface, and there was no irregular reflection of light on the frame surface. . Therefore, polystyrene standard particles having a particle diameter of 1.0 μm were attached to the inner surface of the frame. When this was similarly inspected while illuminating with a halogen lamp, it was confirmed that it was easily adhered. In addition, when a foreign substance on the pellicle film was inspected using a laser scattering foreign substance inspection device,
There was no erroneous detection due to scattered light from the frame.

【0016】(比較例1)初めに、ペリクル枠として、
枠外寸100mm×100mm×6mm、枠厚さ2mm
のアルミニウム合金製枠を用意した。この物を、表面洗
浄した後、粒径90μmのガラスビーズを使用し吐出圧
1.5kgのサンドブラスト装置にて10分間表面処理
し表面を粗化した。次いでこのものを、NaOH処理浴
中にて10秒間処理し洗浄した後、陽極酸化、黒色染
色、封孔処理して表面に黒色の酸化皮膜を形成した。仕
上がった枠の表面を表面粗さ計サーフコーダー(同前)
にて測定したところ、Ra0.9μm、Rt9.1μ
m、RMS1.2μmであった。このアルミ枠を純水と
超音波洗浄装置を併用して、洗浄した。次いで、この枠
にスプレーコーティング装置を用いて、シリコーン系粘
着剤を10μmコーティングした。次いで、テフロンA
F1600(同前)を、フッ素系溶剤フロリナートFC
−75(同前)に溶解させて濃度8%の溶液を調製し
た。次に、この溶液により、直径200mm、厚さ60
0μmの鏡面研磨したシリコン基板面に、スピンコータ
ーを用いて膜の厚みが0.8μmの透明膜を形成させ
た。次に、この膜上に外寸200mm×200mm×5
mm幅、厚さ5mmの枠を、エポキシ系接着剤アラルダ
イトラピッド(同前)を用いて接着し水中で剥離した。
次に、前記のようにして準備した、アルミニウム合金製
枠を、エポキシ系接着剤アラルダイトラピッド(同前)
を用いて成膜したテフロンAF1600の膜表面に接着
した。二つの枠はペリクル枠の接着面を上向きにして固
定用の治具に取り付けて相対的に位置がずれないように
固定した。次いで、ペリクル枠外側の枠を引き上げて固
定し、ペリクル枠外側の膜部に0.5g/cmの張力を
与えた。また、別に膜切断用の器具として、スカラーロ
ボットにステンレス製カッター、厚さ0.25mmを取
り付けした。このカッターにチューブ式ディスペンサー
を用いて、フロリナートFC75(同前)を毎分10μ
l滴下しながら、前記ペリクル枠上の接着剤部分の周辺
部に沿ってカッターを移動しながら、ペリクル枠外側の
不要膜部分を切断除去した。次に、不要膜部分を除去
し、得られたペリクルの内面をハロゲンランプにて照明
しながら検査したところ、表面に異物と思われる物が多
数存在した。そこで、実体顕微鏡を用いてペリクル内面
を検査したが付着異物は認められなかった。そこで、こ
れは、枠表面での光の乱反射であることが判明した。こ
こで粒子径1.0μmのポリスチレン製標準粒子を枠内
面に付着させた。これを同様にハロゲンランプにて照明
しながら検査したところ他の多数の散乱光と判別できな
かった。また、レーザー散乱異物検査装置を用いたペリ
クル膜上の異物検査を行ったところ、枠からの散乱光に
よる誤検出はなかった。
(Comparative Example 1) First, as a pellicle frame,
Frame outer dimensions 100mm x 100mm x 6mm, frame thickness 2mm
Was prepared. After the surface was washed, the surface was roughened by using glass beads having a particle diameter of 90 μm for 10 minutes using a sandblasting device with a discharge pressure of 1.5 kg. Next, this was treated in an NaOH treatment bath for 10 seconds, washed, and then subjected to anodizing, black dyeing, and sealing to form a black oxide film on the surface. Surface finisher surf coder (same as above)
When measured at, Ra 0.9 μm, Rt 9.1 μm
m, RMS 1.2 μm. The aluminum frame was cleaned using pure water and an ultrasonic cleaning device together. Next, this frame was coated with a silicone-based pressure-sensitive adhesive at 10 μm using a spray coating device. Next, Teflon A
F1600 (same as above) with fluorinated solvent Fluorinert FC
-75 (same as above) to prepare an 8% concentration solution. Next, a diameter of 200 mm and a thickness of 60
A 0.8 μm thick transparent film was formed on a 0 μm mirror-polished silicon substrate surface using a spin coater. Next, an outer dimension of 200 mm × 200 mm × 5
A frame having a width of 5 mm and a thickness of 5 mm was adhered using an epoxy-based adhesive Aralditrapid (the same as above) and peeled off in water.
Next, the aluminum alloy frame prepared as described above was attached to the epoxy-based adhesive Aralditrapid (same as above).
Was adhered to the film surface of Teflon AF1600 formed by using the method described above. The two frames were attached to a fixing jig with the bonding surface of the pellicle frame facing upward and fixed so as not to be relatively displaced. Next, the frame outside the pellicle frame was pulled up and fixed, and a tension of 0.5 g / cm was applied to the film portion outside the pellicle frame. Separately, a stainless steel cutter having a thickness of 0.25 mm was attached to a scalar robot as a film cutting instrument. Using a tube type dispenser for this cutter, Florinert FC75 (same as above) was added at 10 μm / min.
While dropping, the unnecessary film portion outside the pellicle frame was cut and removed while moving the cutter along the periphery of the adhesive portion on the pellicle frame. Next, the unnecessary film portion was removed, and the inner surface of the obtained pellicle was inspected while illuminating it with a halogen lamp. Then, the inner surface of the pellicle was examined using a stereomicroscope, but no adhering foreign matter was found. Therefore, this was found to be irregular reflection of light on the surface of the frame. Here, standard polystyrene particles having a particle diameter of 1.0 μm were attached to the inner surface of the frame. When this was similarly inspected while illuminating with a halogen lamp, it could not be distinguished from many other scattered lights. Further, when a foreign substance inspection on the pellicle film was performed using the laser scattering foreign substance inspection apparatus, no erroneous detection due to scattered light from the frame was found.

【0017】(実施例2)初めに、ペリクル枠として、
枠外寸100mm×100mm×6mm、枠厚さ2mm
のアルミニウム合金製枠を用意した。この物を、表面洗
浄した後、粒径90μmのガラスビーズを使用し吐出圧
2.0kgのサンドブラスト装置にて10分間表面処理
し表面を粗化した。次いでこのものを、NaOH処理浴
中にて10秒間処理し洗浄した後、陽極酸化、黒色染
色、封孔処理して表面に黒色の酸化皮膜を形成した。仕
上がった枠の表面を表面粗さ計サーフコーダー(同前)
にて測定したところ、Ra0.5μm、Rt5.1μ
m、RMS0.5μmであった。このアルミ枠を純水と
超音波洗浄装置を併用して、洗浄した。次いで、この枠
にスプレーコーティング装置を用いて、シリコーン系粘
着剤を10μmコーティングした。次いで、テフロンA
F1600(同前)を、フッ素系溶剤フロリナートFC
−75(同前)に溶解させて濃度8%の溶液を調製し
た。次に、この溶液により、直径200mm、厚さ60
0μmの鏡面研磨したシリコン基板面に、スピンコータ
ーを用いて膜の厚みが0.8μmの透明膜を形成させ
た。次に、この膜上に外寸200mm×200mm×5
mm幅、厚さ5mmの枠を、エポキシ系接着剤アラルダ
イトラピッド(同前)を用いて接着し水中で剥離した。
次に、前記のようにして準備した、アルミニウム合金製
枠を、エポキシ系接着剤アラルダイトラピッド(同前)
を用いて成膜したテフロンAF1600の膜表面に接着
した。二つの枠はペリクル枠の接着面を上向きにして固
定用の治具に取り付けて相対的に位置がずれないように
固定した。次いで、ペリクル枠外側の枠を引き上げて固
定し、ペリクル枠外側の膜部に0.5g/cmの張力を
与えた。また、別に膜切断用の器具として、スカラーロ
ボットにステンレス製カッター、厚さ0.25mmを取
り付けした。このカッターにチューブ式ディスペンサー
を用いて、フロリナートFC75(同前)を毎分10μ
l滴下しながら、前記ペリクル枠上の接着剤部分の周辺
部に沿ってカッターを移動しながら、ペリクル枠外側の
不要膜部分を切断除去した。次に、不要膜部分を除去
し、得られたペリクルの内面をハロゲンランプにて照明
しながら検査したところ、表面に異物と思われる物は存
在せず、枠表面での光の乱反射もなかった。そこで、粒
子径1.0μmのポリスチレン製標準粒子を枠内面に付
着させた。これを同様にハロゲンランプにて照明しなが
ら検査したところ容易に付着していることを確認でき
た。また、レーザー散乱異物検査装置を用いたペリクル
膜上の異物検査を行ったところ、枠からの散乱光による
誤検出はなかった。
(Embodiment 2) First, as a pellicle frame,
Frame outer dimensions 100mm x 100mm x 6mm, frame thickness 2mm
Was prepared. After the surface was washed, the surface was roughened by using glass beads having a particle size of 90 μm for 10 minutes using a sand blasting apparatus having a discharge pressure of 2.0 kg. Next, this was treated in an NaOH treatment bath for 10 seconds, washed, and then subjected to anodizing, black dyeing, and sealing to form a black oxide film on the surface. Surface finisher surf coder (same as above)
When measured at, Ra 0.5 μm, Rt 5.1 μ
m, RMS 0.5 μm. The aluminum frame was cleaned using pure water and an ultrasonic cleaning device together. Next, this frame was coated with a silicone-based pressure-sensitive adhesive at 10 μm using a spray coating device. Next, Teflon A
F1600 (same as above) with fluorinated solvent Fluorinert FC
-75 (same as above) to prepare an 8% concentration solution. Next, a diameter of 200 mm and a thickness of 60
A 0.8 μm thick transparent film was formed on a 0 μm mirror-polished silicon substrate surface using a spin coater. Next, an outer dimension of 200 mm × 200 mm × 5
A frame having a width of 5 mm and a thickness of 5 mm was adhered using an epoxy-based adhesive Aralditrapid (the same as above) and peeled off in water.
Next, the aluminum alloy frame prepared as described above was used as an epoxy-based adhesive
Was adhered to the film surface of Teflon AF1600 formed by using the method described above. The two frames were attached to a fixing jig with the bonding surface of the pellicle frame facing upward and fixed so as not to be relatively displaced. Next, the frame outside the pellicle frame was pulled up and fixed, and a tension of 0.5 g / cm was applied to the film portion outside the pellicle frame. Separately, a stainless steel cutter having a thickness of 0.25 mm was attached to a scalar robot as a film cutting instrument. Using a tube type dispenser for this cutter, Florinert FC75 (same as above) was added at 10 μ / min
While dropping, the unnecessary film portion outside the pellicle frame was cut and removed while moving the cutter along the periphery of the adhesive portion on the pellicle frame. Next, the unnecessary film portion was removed, and the inner surface of the obtained pellicle was inspected while illuminating with a halogen lamp. . Therefore, polystyrene standard particles having a particle diameter of 1.0 μm were attached to the inner surface of the frame. When this was similarly inspected while illuminating with a halogen lamp, it was confirmed that it was easily adhered. Further, when a foreign substance inspection on the pellicle film was performed using the laser scattering foreign substance inspection apparatus, no erroneous detection due to scattered light from the frame was found.

【0018】(比較例2)初めに、ペリクル枠として、
枠外寸100mm×100mm×6mm、枠厚さ2mm
のアルミニウム合金製枠を用意した。この物を、表面洗
浄した後、粒径40μmのガラスビーズを使用し吐出圧
1.5kgのサンドブラスト装置にて10分間表面処理
し表面を粗化した。次いでこのものを、NaOH処理浴
中にて10秒間処理し洗浄した後、陽極酸化、黒色染
色、封孔処理して表面に黒色の酸化皮膜を形成した。仕
上がった枠の表面を表面粗さ計サーフコーダー(同前)
にて測定したところ、Ra0.2μm、Rt3.0μ
m、RMS0.2μmであった。このアルミ枠を純水と
超音波洗浄装置を併用して、洗浄した。次いで、この枠
にスプレーコーティング装置を用いて、シリコーン系粘
着剤を10μmコーティングした。次いで、テフロンA
F1600(同前)を、フッ素系溶剤フロリナートFC
−75(同前)に溶解させて濃度8%の溶液を調製し
た。次に、この溶液により、直径200mm、厚さ60
0μmの鏡面研磨したシリコン基板面に、スピンコータ
ーを用いて膜の厚みが0.8μmの透明膜を形成させ
た。次に、この膜上に外寸200mm×200mm×5
mm幅、厚さ5mmの枠を、エポキシ系接着剤アラルダ
イトラピッド(同前)を用いて接着し水中で剥離した。
次に、前記のようにして準備した、アルミニウム合金製
枠を、エポキシ系接着剤アラルダイトラピッド(同前)
を用いて成膜したテフロンAF1600の膜表面に接着
した。二つの枠はペリクル枠の接着面を上向きにして固
定用の治具に取り付けて相対的に位置がずれないように
固定した。次いで、ペリクル枠外側の枠を引き上げて固
定し、ペリクル枠外側の膜部に0.5g/cmの張力を
与えた。また、別に膜切断用の器具として、スカラーロ
ボットにステンレス製カッター、厚さ0.25mmを取
り付けした。このカッターにチューブ式ディスペンサー
を用いて、フロリナートFC75(同前)を毎分10μ
l滴下しながら、前記ペリクル枠上の接着剤部分の周辺
部に沿ってカッターを移動しながら、ペリクル枠外側の
不要膜部分を切断除去した。次に、不要膜部分を除去
し、得られたペリクルの内面をハロゲンランプにて照明
しながら検査したところ、表面に異物と思われるものは
存在しなかった。そこで、粒径1.0μmのポリスチレ
ン製標準粒子を枠内面に付着させた。これを同様にハロ
ゲンランプにて照明しながら検査したところ容易に検出
することができた。また、レーザー散乱異物検査装置を
用いたペリクル膜上の異物検査を行ったところ、枠から
の散乱光による誤検出が枠近傍の膜上に現れた。
Comparative Example 2 First, as a pellicle frame,
Frame outer dimensions 100mm x 100mm x 6mm, frame thickness 2mm
Was prepared. After washing the surface, the surface was roughened by using glass beads having a particle diameter of 40 μm for 10 minutes using a sand blasting apparatus having a discharge pressure of 1.5 kg. Next, this was treated in an NaOH treatment bath for 10 seconds, washed, and then subjected to anodizing, black dyeing, and sealing to form a black oxide film on the surface. Surface finisher surf coder (same as above)
When measured at, Ra 0.2 μm, Rt 3.0 μ
m, RMS 0.2 μm. The aluminum frame was cleaned using pure water and an ultrasonic cleaning device together. Next, this frame was coated with a silicone-based pressure-sensitive adhesive at 10 μm using a spray coating device. Next, Teflon A
F1600 (same as above) with fluorinated solvent Fluorinert FC
-75 (same as above) to prepare an 8% concentration solution. Next, a diameter of 200 mm and a thickness of 60
A 0.8 μm thick transparent film was formed on a 0 μm mirror-polished silicon substrate surface using a spin coater. Next, an outer dimension of 200 mm × 200 mm × 5
A frame having a width of 5 mm and a thickness of 5 mm was adhered using an epoxy-based adhesive Aralditrapid (the same as above) and peeled off in water.
Next, the aluminum alloy frame prepared as described above was attached to the epoxy-based adhesive Aralditrapid (same as above).
Was adhered to the film surface of Teflon AF1600 formed by using the method described above. The two frames were attached to a fixing jig with the bonding surface of the pellicle frame facing upward and fixed so as not to be relatively displaced. Next, the frame outside the pellicle frame was pulled up and fixed, and a tension of 0.5 g / cm was applied to the film portion outside the pellicle frame. Separately, a stainless steel cutter having a thickness of 0.25 mm was attached to a scalar robot as a film cutting instrument. Using a tube type dispenser for this cutter, Florinert FC75 (same as above) was added at 10 μm / min.
While dropping, the unnecessary film portion outside the pellicle frame was cut and removed while moving the cutter along the periphery of the adhesive portion on the pellicle frame. Next, the unnecessary film portion was removed, and the inner surface of the obtained pellicle was inspected while illuminating it with a halogen lamp. As a result, there was no foreign matter on the surface. Therefore, polystyrene standard particles having a particle size of 1.0 μm were attached to the inner surface of the frame. When this was similarly inspected while illuminating with a halogen lamp, it could be easily detected. Further, when a foreign substance inspection on the pellicle film was performed using the laser scattering foreign substance inspection apparatus, erroneous detection due to scattered light from the frame appeared on the film near the frame.

【0019】[0019]

【発明の効果】本発明のペリクルは、ペリクル枠の内側
面にある異物の検出を確実かつ容易に行うことができる
ので、歩留りの低下を防止することができる。
The pellicle of the present invention can reliably and easily detect foreign matter on the inner surface of the pellicle frame, thereby preventing a decrease in yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】ペリクルの一例を示す概略斜視図である。FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of a pellicle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ペリクル枠 2 ペリクル膜 3 粘着層 4 離型層 Reference Signs List 1 pellicle frame 2 pellicle film 3 adhesive layer 4 release layer

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ペリクル枠内側面の表面粗さが、Ra
0.3〜0.9μm、Rt4.0〜8.5μm、RMS
0.3〜1.1μmの範囲にあり、ペリクル枠内側面が
粘着性樹脂によってコーティングされていることを特徴
とするリソグラフィー用ペリクル。
The surface roughness of the inner surface of the pellicle frame is Ra.
0.3-0.9 μm, Rt 4.0-8.5 μm, RMS
A pellicle for lithography, wherein the pellicle is in the range of 0.3 to 1.1 [mu] m and the inner surface of the pellicle frame is coated with an adhesive resin.
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