JPH11167134A - Shake correcting function inspecting system, optical instrument provided with shake correcting function and shake correcting function inspecting method - Google Patents

Shake correcting function inspecting system, optical instrument provided with shake correcting function and shake correcting function inspecting method

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JPH11167134A
JPH11167134A JP33444397A JP33444397A JPH11167134A JP H11167134 A JPH11167134 A JP H11167134A JP 33444397 A JP33444397 A JP 33444397A JP 33444397 A JP33444397 A JP 33444397A JP H11167134 A JPH11167134 A JP H11167134A
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JP
Japan
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shake
unit
signal
driving
position data
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Application number
JP33444397A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomonori Sato
友則 佐藤
Yoshihiro Hara
吉宏 原
Kazuhiko Yugawa
和彦 湯川
Keiji Tamai
啓二 玉井
Toshihiro Hamamura
俊宏 濱村
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH11167134A publication Critical patent/JPH11167134A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily inspect and adjust a correcting lens driving system for an optical instrument provided with a shake correcting function, with high accuracy. SOLUTION: Target position data approximating a camera-shake and using αSIN function, etc., is inputted instead of a shake signal from a shake detecting part 4, from an external inspecting device 100 and a driving part 6 is driven on the basis of the target position data. The positions of correcting lenses 31 and 32 after being driven are detected by a position detecting part 7 and the detected position data is outputted to the external inspecting device 100 and compared with the target position data inputted first.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被写体に対する手
振れを補正しうるカメラ、双眼鏡等の光学機器、その補
正レンズ駆動系の検査システム及び検査方法に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an optical apparatus such as a camera and binoculars capable of correcting camera shake of a subject, an inspection system and an inspection method for a correction lens driving system thereof.

【0002】[0002]

【従来技術】一般的に、モータ及びギヤを用いた駆動系
では、ギヤの噛み合わせ等に起因して、駆動特性に個体
差がある。特に、振れ補正レンズの位置制御及び駆動制
御においては駆動系の個体差による影響が大きい。その
ため、振れ補正機能付き光学機器において一定以上の振
れ補正性能を発揮するために、補正レンズ駆動系の調整
を行う必要がある。
2. Description of the Related Art Generally, in a drive system using a motor and a gear, there are individual differences in drive characteristics due to meshing of gears and the like. In particular, position control and drive control of the shake correction lens are greatly affected by individual differences in the drive system. Therefore, it is necessary to adjust the correction lens drive system in order to exhibit a certain or more shake correction performance in an optical device with a shake correction function.

【0003】例えば、特開平7−261228号公報に
記載された従来の振れ補正機能付き光学機器の補正レン
ズ駆動系の調整方法では、光学機器を振動台に固定し、
光学機器と外部検査装置とを接続した状態で振動台を駆
動する。そして、光学機器にSIN波状振動を与えた状
態で、外部検査装置により補正レンズ駆動系の駆動特性
をモニタしながら、種々の調整を行っている。
For example, in the conventional method of adjusting a correction lens drive system of an optical device with a shake correction function described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-261228, the optical device is fixed to a shaking table,
The shaking table is driven while the optical device and the external inspection device are connected. Then, various adjustments are made while monitoring the drive characteristics of the correction lens drive system with an external inspection device in a state where the SIN waveform is applied to the optical device.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
は、不連続波形のように振動台では実現することが極め
て困難ないしは不可能な波形が存在する。仮に、そのよ
うな振動波形を駆動信号として実現することができて
も、介在する振動台によって滑らかな波形に変形された
形で再現されてしまい、光学機器には、なまった波形を
与えることになる。また、光学機器が振動台に強固に固
定されていない場合、振動台を駆動すると、光学機器は
振動台の振動波形とは異なった波形で振動することも考
えられる。いずれの場合も、補正レンズ駆動系の駆動特
性は正しく検査されず、また正しく調整されない可能性
がある。そのため、実際に光学機器に振動を与えて行う
検査及び調整方法では、補正レンズ駆動系のような高精
度の要求される部分の検査及び調整には限界がある。
In practice, however, there are waveforms, such as discontinuous waveforms, which are extremely difficult or impossible to realize with a shaking table. Even if such a vibration waveform could be realized as a drive signal, it would be reproduced in a form that was transformed into a smooth waveform by the intervening shaking table, and the optical equipment would be given a blunt waveform. Become. When the optical device is not firmly fixed to the shaking table, driving the shaking table may cause the optical device to vibrate with a waveform different from the vibration waveform of the shaking table. In either case, the drive characteristics of the correction lens drive system may not be inspected correctly and may not be adjusted correctly. Therefore, in the inspection and adjustment method actually performed by applying vibration to the optical device, there is a limit to the inspection and adjustment of a part requiring high accuracy such as a correction lens driving system.

【0005】本発明は、上記従来例の問題点を解決する
ためになされたものであり、光学機器に実際に振動を与
えることなく、容易、かつ高精度に補正レンズ駆動系の
検査及び調整が可能な振れ補正機能付き光学機器、その
振れ補正機能検査システム及び検査方法を提供すること
を目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and it is possible to easily and accurately inspect and adjust a correction lens drive system without actually applying vibration to optical equipment. It is an object of the present invention to provide a possible optical device with a shake correction function, a shake correction function inspection system and an inspection method.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の振れ補正機能検査システムは、振れを補正
するための振れ補正手段と、振れ補正手段を駆動するた
めの駆動手段と、振れ補正手段を制御するための制御手
段と、振れ補正手段の位置を検出する位置検出手段と、
駆動手段の駆動特性を検査するための検査手段と、検査
手段と制御手段との間で疑似振れ信号を、検査手段と位
置検出手段との間で検出位置信号をそれぞれ交信する交
信手段と、疑似振れ信号及び検出位置信号を一時的に記
憶するための記憶手段とを具備する。
In order to achieve the above object, a shake correction function inspection system according to the present invention comprises: a shake correction means for correcting a shake; a driving means for driving the shake correction means; Control means for controlling the correction means, position detection means for detecting the position of the shake correction means,
Inspection means for inspecting the driving characteristics of the driving means; a pseudo-oscillation signal between the inspection means and the control means; a communication means for communicating a detected position signal between the inspection means and the position detection means; Storage means for temporarily storing the shake signal and the detected position signal.

【0007】すなわち、光学機器自体に振動を与える代
わりに、光学機器外部の検査手段から交信手段を介して
制御手段に対して、実際に光学機器に振動を与えた場合
と等価な疑似振れ信号(目標位置データ)を送信し、疑
似振れ信号に基づいて駆動手段を制御し、実際に補正手
段(補正レンズ)を駆動する。さらに、位置検出手段に
より、実際に駆動された補正レンズの位置を検出し、交
信手段を介して補正レンズの位置に相当する検出位置信
号(検出位置データ)を外部検査手段に送信する。外部
検査手段により送信した疑似振れ信号と受信した検出位
置信号を比較することにより、駆動手段の駆動特性を知
ることができる。その結果、実際に光学機器に振動を与
えることなく、補正レンズ駆動系の検査及び調整を行う
ことができ、検査及び調整を極めて簡単、かつ容易にす
ることが可能となる。また、光学機器に振動を与えてい
ないので、光学機器の振動台への固定不良等に起因する
誤差も生じない。
That is, instead of giving vibration to the optical device itself, a pseudo shake signal (equivalent to the case where vibration is actually given to the optical device) is sent from the inspection means outside the optical device to the control means via the communication means. Target position data) is transmitted, and the driving unit is controlled based on the pseudo shake signal, and the correction unit (correction lens) is actually driven. Furthermore, the position of the correction lens actually driven is detected by the position detection means, and a detection position signal (detection position data) corresponding to the position of the correction lens is transmitted to the external inspection means via the communication means. By comparing the pseudo shake signal transmitted by the external inspection means with the received detection position signal, it is possible to know the drive characteristics of the drive means. As a result, the inspection and adjustment of the correction lens drive system can be performed without actually applying vibration to the optical device, and the inspection and adjustment can be made extremely simple and easy. Further, since no vibration is given to the optical device, there is no error caused by improper fixing of the optical device to the vibration table.

【0008】また、一般的に、交信手段による外部検査
手段と制御手段との間及び外部検査手段と位置検出手段
との間での信号交信速度は、制御手段と駆動手段の間等
における信号交信速度よりも遅いが、交信される信号を
一旦記憶手段(RAM等)に記憶することにより、これ
らの信号交信速度の違いを調整することが可能となる。
In general, the signal communication speed between the external inspection means and the control means and between the external inspection means and the position detection means by the communication means depends on the signal communication speed between the control means and the driving means. Although the speed is lower than the speed, once the signals to be communicated are stored in the storage means (RAM or the like), it is possible to adjust the difference between these signal communication speeds.

【0009】上記構成において、検査手段は任意の振動
波形に相当する信号を発生するように構成しても良い。
すなわち、実際に光学機器に振動を与えないで補正レン
ズ駆動系の検査及び調整を行うので、従来の振動台を用
いて実際に光学機器に振動を与える方法では実現できな
かった振動波形による検査及び調整も可能となる。
In the above configuration, the inspection means may be configured to generate a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform.
That is, since the inspection and adjustment of the correction lens drive system are performed without actually applying vibration to the optical device, the inspection and the vibration waveform cannot be realized by the method of actually applying vibration to the optical device using the conventional vibration table. Adjustment is also possible.

【0010】また、記憶手段は、検査手段から送信され
た疑似振れ信号を所定のタイミングで各アドレスから順
次駆動手段に送信し、位置検出手段からの検出位置信号
を順次疑似振れ信号を送信した後に対応するアドレスに
順次記憶するように構成しても良い。疑似振れ信号は外
部検査手段により記憶され又は随時発生可能であるの
で、補正レンズ駆動手段に送信した後はもはや記憶手段
により記憶する必要はない。また、検出位置信号は疑似
振れ信号を送信することにより発生するので、疑似振れ
信号の総数と検出位置信号の総数は同じである。従っ
て、この構成により、記憶手段の必要な記憶容量を小さ
くすることが可能となる。また、記憶手段の容量に余裕
がある場合、疑似振れ信号の総数よりも多くの位置信号
を検出するようにしても良い。
The storage means transmits the pseudo shake signal transmitted from the inspection means to the drive means sequentially from each address at a predetermined timing, and transmits the detected position signal from the position detection means sequentially to the pseudo shake signal. You may comprise so that it may memorize | store sequentially in the corresponding address. Since the pseudo shake signal is stored by the external inspection means or can be generated at any time, it is no longer necessary to store it by the storage means after transmitting to the correction lens driving means. Further, since the detection position signal is generated by transmitting the pseudo shake signal, the total number of the pseudo shake signals and the total number of the detection position signals are the same. Therefore, this configuration makes it possible to reduce the required storage capacity of the storage means. Further, if there is room in the capacity of the storage means, more position signals may be detected than the total number of pseudo shake signals.

【0011】また、本発明の振れ補正機能付き光学機器
は、撮像光学系の一部に挿入された振れ補正レンズと、
振れ補正レンズを駆動する駆動手段と、振れ補正レンズ
の位置を検出する位置検出手段と、光学機器外部に設け
られた検査手段との間で所定の信号を交信する交信手段
と、交信手段を介して、検査手段から入力された疑似振
れ信号を用いて駆動手段を駆動し、駆動手段により駆動
され、位置検出手段により検出された振れ補正レンズの
位置に対応する検出位置信号を検査手段に出力する制御
手段とを具備する。
[0011] Also, an optical apparatus with a shake correction function according to the present invention includes a shake correction lens inserted into a part of an imaging optical system;
Driving means for driving the shake correction lens, position detection means for detecting the position of the shake correction lens, communication means for communicating a predetermined signal between inspection means provided outside the optical device, and communication means The driving unit is driven using the pseudo shake signal input from the inspection unit, and the detection unit outputs a detection position signal corresponding to the position of the shake correction lens that is driven by the driving unit and detected by the position detection unit. Control means.

【0012】上記構成において、疑似振れ信号及び検出
位置信号を一時的に記憶するための記憶手段をさらに具
備するように構成しても良い。
[0012] In the above configuration, a storage means for temporarily storing the pseudo shake signal and the detected position signal may be further provided.

【0013】また、疑似振れ信号を任意の振動波形の相
当する信号としても良い。
Further, the pseudo shake signal may be a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform.

【0014】さらに、記憶手段は、検査手段から送信さ
れた疑似振れ信号を所定のタイミングで各アドレスから
順次駆動手段に送信し、位置検出手段からの検出位置信
号を順次疑似振れ信号を送信した後に対応するアドレス
に順次記憶するように構成しても良い。
Further, the storage means transmits the pseudo shake signal transmitted from the inspection means to the driving means sequentially from each address at a predetermined timing, and transmits the detected position signal from the position detection means sequentially to the pseudo shake signal. You may comprise so that it may memorize | store sequentially in the corresponding address.

【0015】このように、本発明の振れ補正機能付き光
学機器を交信手段を介して上記本発明の振れ補正機能検
査装置に接続することにより、実際に光学機器に振動を
与えることなく、振れ補正機構の動作特性を調節するこ
とが可能となる。
As described above, by connecting the optical apparatus with the shake correction function of the present invention to the shake correction function inspection apparatus of the present invention via the communication means, the shake correction can be performed without actually applying vibration to the optical apparatus. The operating characteristics of the mechanism can be adjusted.

【0016】また、本発明の振れ補正機能検査方法は、
振れを補正するための振れ補正手段、振れ補正手段を駆
動するための駆動手段、振れ補正手段を制御するための
制御手段及び振れ補正手段の位置を検出する位置検出手
段とを具備する機器に疑似振れ信号を入力し、疑似振れ
信号を用いて駆動手段により振れ補正手段を駆動し、位
置検出手段により振れ補正手段に位置を検出し、検出し
た位置信号を用いて駆動手段の駆動特性を検査する。
Further, the method for inspecting a shake correction function according to the present invention comprises:
A device having a shake correcting unit for correcting shake, a driving unit for driving the shake correcting unit, a control unit for controlling the shake correcting unit, and a position detecting unit for detecting a position of the shake correcting unit. The shake signal is input, the shake correction means is driven by the drive means using the pseudo shake signal, the position is detected by the shake correction means by the position detection means, and the drive characteristics of the drive means are inspected using the detected position signal. .

【0017】上記方法において、疑似振れ信号を任意の
振動波形の相当する信号としても良い。
In the above method, the pseudo shake signal may be a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform.

【0018】このように、本発明の振れ補正機能検査方
法を用いれば、振れ補正機能を有する機器を実際に振動
させることなく、振れ補正機能、特に振れ補正レンズ等
の駆動特性を検査することができ、検査及び調整を極め
て簡単、かつ容易にすることが可能となる。また、光学
機器等の機器に振動を与えていないので、機器の振動台
への固定不良等に起因する誤差も生じない。
As described above, according to the method for inspecting the shake correction function of the present invention, it is possible to inspect the shake correction function, particularly the drive characteristics of the shake correction lens and the like without actually vibrating the device having the shake correction function. It is possible to make inspection and adjustment extremely simple and easy. Further, since no vibration is given to the device such as the optical device, there is no error caused by improper fixing of the device to the vibration table.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の振れ補正機能付き光学機
器の一実施形態のブロック構成を図1に示す。光学機器
の一例として、例えばカメラ1は、撮影部2、補正レン
ズ部3、振れ検出部4、振れ補正量設定部5、駆動部
6、位置検出部7、露出制御部8、レリーズ監視部9、
測距モジュール10、フォーカス部11、振れ表示部1
2、外部接続部13等で構成されている。また、外部接
続部13は、カメラ1の外装部に設けられた接続端子1
4を介して外部検査装置100に接続される。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an optical apparatus having a shake correcting function according to the present invention. As an example of the optical device, for example, the camera 1 includes a photographing unit 2, a correction lens unit 3, a shake detection unit 4, a shake correction amount setting unit 5, a driving unit 6, a position detection unit 7, an exposure control unit 8, and a release monitoring unit 9. ,
Distance measuring module 10, focus unit 11, shake display unit 1
2. It is composed of the external connection unit 13 and the like. The external connection unit 13 includes a connection terminal 1 provided on the exterior of the camera 1.
4 is connected to the external inspection apparatus 100.

【0020】被写体像を撮影するための撮影部2は、光
軸Lを有する撮影レンズ21、装填されたフィルム22
を光軸L上の結像位置に給送する機構部(図示せず)、
フィルム22の前方に配置されるシャッタ23等を具備
する。
A photographing unit 2 for photographing a subject image includes a photographing lens 21 having an optical axis L and a loaded film 22.
(Not shown) for feeding the image to an image forming position on the optical axis L;
A shutter 23 and the like are provided in front of the film 22.

【0021】補正レンズ部3は、撮影レンズ21の前方
に配置された横振れ補正レンズ31及び縦振れ補正レン
ズ32で構成され、被写体像振れをプリズム方式で補正
する。横振れ補正レンズ31及び縦振れ補正レンズ32
は、それぞれ光軸Lに平行な光軸を有し、光軸Lと直交
する面上を互いに直交する横及び縦方向に移動可能に支
持されている。図2に示すように、縦振れ補正レンズ3
2は鏡胴24内に収納され、支点Oで回動可能に支持さ
れたフレーム321に取り付けられている。フレーム3
21の外周部における支点Oの反対側には、ギヤ部32
2が形成されている。このギヤ部322とモータ632
の回転軸に固定されたギヤ631が噛合する。モータ6
32を駆動することにより、縦振れ補正レンズ32は略
縦方向に移動する。縦振れ補正レンズ32は、鏡胴24
の内径に当たる可動範囲R内において、略縦方向に移動
可能である。横振れ補正レンズ31についても同様であ
る。
The correction lens unit 3 includes a horizontal shake correction lens 31 and a vertical shake correction lens 32 disposed in front of the photographing lens 21, and corrects a subject image shake by a prism method. Lateral shake correction lens 31 and vertical shake correction lens 32
Have optical axes parallel to the optical axis L, and are supported movably in the horizontal and vertical directions orthogonal to each other on a plane orthogonal to the optical axis L. As shown in FIG.
Reference numeral 2 is housed in the lens barrel 24, and is attached to a frame 321 supported rotatably at a fulcrum O. Frame 3
On the opposite side of the fulcrum O on the outer peripheral portion of the
2 are formed. The gear 322 and the motor 632
The gear 631 fixed to the rotation shaft of the gear meshes with the gear. Motor 6
By driving the lens 32, the vertical shake correction lens 32 moves substantially in the vertical direction. The vertical shake correction lens 32 is attached to the lens barrel 24.
Is movable in a substantially vertical direction within a movable range R corresponding to the inner diameter of the lens. The same applies to the lateral shake correction lens 31.

【0022】振れ検出部4は、検出用レンズ41、振れ
センサ42、振れセンサ制御部43、信号処理部44等
により構成されている。振れ検出部4は、被写体に対す
るカメラ1本体の相対的な振れにより生じる被写体像振
れを検出するための画像データを得る。検出用レンズ4
1は、撮影レンズ21の光軸Lと平行な光軸を有し、被
写体像を後方の振れセンサ42上に結像させる。振れセ
ンサ42は、複数のCCD等の光電変換素子が二次元状
に配列されたエリアセンサであり、検出用レンズ41に
より結像された被写体像を受光し、受光量に応じた電気
信号を得る。被写体像の画像信号は、各光電変換素子で
受光されて得られた電気信号である画素信号の平面的な
集合として得られる。振れセンサ制御部43は、振れセ
ンサ42を制御して所定の電荷蓄積時間(積分時間)ご
とに周期的に受光動作させ、各受光動作で得られた画像
信号を信号処理部44に送出させる。信号処理部44
は、振れセンサ42からの各画素信号に対し、所定の信
号処理(信号増幅及びオフセット調整等の処理)を施し
て画素データにA/D変換し、振れ補正量設定部5の振
れ量検出部51に出力する。
The shake detecting section 4 includes a detecting lens 41, a shake sensor 42, a shake sensor control section 43, a signal processing section 44 and the like. The shake detecting section 4 obtains image data for detecting a subject image shake caused by a relative shake of the camera 1 main body with respect to the subject. Detection lens 4
Reference numeral 1 has an optical axis parallel to the optical axis L of the photographing lens 21, and forms an object image on a shake sensor 42 behind. The shake sensor 42 is an area sensor in which a plurality of photoelectric conversion elements such as CCDs are two-dimensionally arranged, receives a subject image formed by the detection lens 41, and obtains an electric signal corresponding to the amount of received light. . The image signal of the subject image is obtained as a planar set of pixel signals, which are electric signals obtained by being received by the respective photoelectric conversion elements. The shake sensor control unit 43 controls the shake sensor 42 to periodically perform a light receiving operation at every predetermined charge accumulation time (integration time), and sends an image signal obtained by each light receiving operation to the signal processing unit 44. Signal processing unit 44
Performs predetermined signal processing (processing such as signal amplification and offset adjustment) on each pixel signal from the shake sensor 42 to A / D-convert the pixel data, and outputs a shake amount detection unit of the shake correction amount setting unit 5. 51.

【0023】振れ補正量設定部5は、振れ量検出部5
1、係数変換部52、目標位置設定部53、補正ゲイン
設定部54、温度センサ55、メモリ56、位置データ
入力部57等により構成されている。振れ補正量設定部
5は、振れ補正駆動のための振れ補正データを生成す
る。
The shake correction amount setting unit 5 includes a shake amount detection unit 5
1, a coefficient conversion unit 52, a target position setting unit 53, a correction gain setting unit 54, a temperature sensor 55, a memory 56, a position data input unit 57, and the like. The shake correction amount setting unit 5 generates shake correction data for shake correction driving.

【0024】一般に、環境温度変化に伴って、検出用レ
ンズ41の焦点距離や補正レンズ部3による光の屈折率
(パワー)に変動が生じる。そのため、環境温度変化に
よる誤差を補正するために、温度センサ55により、カ
メラ1の環境温度を検出する。メモリ56は、振れ量検
出部51で用いられる画像データや振れ量等のデータを
一時記憶するRAMや、係数変換部52で用いられる変
換係数等を記憶するROMにより構成されている。ま
た、メモリ56が外部接続部13に接続されており、後
述するように、外部検査装置100から、外部接続部1
3等を介して送信された目標位置データ群を記憶すると
共に、位置データ入力部57を介して位置検出部7から
送信されてきた補正レンズ31,32の検出位置データ
を記憶する。
In general, the focal length of the detection lens 41 and the refractive index (power) of light by the correction lens unit 3 fluctuate with the change in the environmental temperature. Therefore, the environmental temperature of the camera 1 is detected by the temperature sensor 55 in order to correct an error due to the environmental temperature change. The memory 56 includes a RAM for temporarily storing image data and data such as a shake amount used in the shake amount detection unit 51 and a ROM for storing conversion coefficients and the like used in the coefficient conversion unit 52. Further, the memory 56 is connected to the external connection unit 13, and as described later, the external inspection device 100 transmits the external connection unit 1.
The target position data group transmitted through the position data input unit 57 and the detection position data of the correction lenses 31 and 32 transmitted from the position detection unit 7 via the position data input unit 57 are stored.

【0025】振れ量検出部51の詳細を図3に示す。振
れ量検出部51は、振れ量算出部511、データ選択部
512、予測振れ量算出部513等で構成されている。
振れ量算出部511は、画像データダンプ部511a及
び画像比較演算部511bにより構成されている。
FIG. 3 shows the details of the shake amount detector 51. The shake amount detection unit 51 includes a shake amount calculation unit 511, a data selection unit 512, a predicted shake amount calculation unit 513, and the like.
The shake amount calculation unit 511 includes an image data dump unit 511a and an image comparison calculation unit 511b.

【0026】画像データダンプ部511aは、信号処理
部44からの画像データをメモリ56(RAM)にダン
プする。メモリ56は、ダンプされた画像データを記憶
する。画像比較演算部511bは、メモリ56に記憶さ
れている最新の画像データから、基準画像に対応する画
像を参照画像として抽出し、最初に設定された基準画像
の位置に対する参照画像位置の変化量から画素数単位の
振れ量を求める。また、画像比較演算部511bは、求
めた振れ量を係数変換部52に送出するとともに、求め
た振れ量と1つ前の振れ量との振れ傾きを求めて、所定
時間間隔毎に振れ量を算出して係数変換部52に送出す
る。なお、振れ量は、横及び縦方向の各々について求め
られ、メモリ56に一時記憶されるとともに振れ表示部
12に送出される。データ選択部512は、例えば所定
の基準時間間隔を利用して、メモリ56から最新の振れ
量を含む複数(例えば4個)の振れ量を選択抽出する。
予測振れ量算出部513は、横及び縦方向の各々につい
て、選択抽出された振れ量を用いて予測振れ量を算出す
る。
The image data dump section 511a dumps the image data from the signal processing section 44 to a memory 56 (RAM). The memory 56 stores the dumped image data. The image comparison / calculation unit 511b extracts an image corresponding to the reference image from the latest image data stored in the memory 56 as a reference image, and calculates a reference image position change amount with respect to the initially set reference image position. The shake amount in pixel units is obtained. Further, the image comparison calculation unit 511b sends the obtained shake amount to the coefficient conversion unit 52, obtains the shake inclination between the obtained shake amount and the previous shake amount, and calculates the shake amount at predetermined time intervals. The calculated value is sent to the coefficient conversion unit 52. The shake amount is obtained for each of the horizontal and vertical directions, is temporarily stored in the memory 56, and is sent to the shake display unit 12. The data selection unit 512 selects and extracts a plurality (for example, four) of shake amounts including the latest shake amount from the memory 56 using, for example, a predetermined reference time interval.
The predicted shake amount calculation unit 513 calculates the predicted shake amount using the selectively extracted shake amount in each of the horizontal and vertical directions.

【0027】図1に戻って、係数変換部52は、横及び
縦方向の各々について、メモリ56に記憶されている変
換係数を用いて、振れ量検出部51からの出力を補正レ
ンズ部3に対する目標角度位置(駆動量)に変換する。
また、係数変換部52は、温度センサ55で検出された
環境温度に応じて補正係数を算出し、この補正係数で横
及び縦方向の目標角度位置を補正する。但し、減速処理
部52の出力に対しては、温度補正は必要ない。
Returning to FIG. 1, the coefficient conversion unit 52 uses the conversion coefficients stored in the memory 56 for the horizontal and vertical directions to output the output from the shake amount detection unit 51 to the correction lens unit 3. It is converted to the target angle position (drive amount).
Further, the coefficient conversion unit 52 calculates a correction coefficient according to the environmental temperature detected by the temperature sensor 55, and corrects the horizontal and vertical target angle positions using the correction coefficient. However, no temperature correction is necessary for the output of the deceleration processing unit 52.

【0028】目標位置設定部53は、係数変換部52か
らの出力を目標位置情報(駆動終了位置)に変換する。
横及び縦方向の目標位置情報を、それぞれ設定データS
DPH,SDPVとする。目標位置設定部53は、振れ
補正の初期動作時に、補正レンズ部3の各レンズを中央
位置に停止させるために、設定データSDPH,SDP
Vを駆動部6に出力する。
The target position setting section 53 converts the output from the coefficient conversion section 52 into target position information (drive end position).
The target position information in the horizontal and vertical directions is stored in the setting data S
DPH and SDPV. The target position setting unit 53 sets the setting data SDPH and SDP in order to stop each lens of the correction lens unit 3 at the center position during the initial operation of the shake correction.
V is output to the drive unit 6.

【0029】補正ゲイン設定部54は、温度センサ55
で検出された環境温度に応じて、横及び縦方向のゲイン
補正量を求め、それぞれを設定データSDGH,SDG
Vとして駆動部6に出力する。横及び縦方向のゲイン補
正量は、それぞれ横及び縦方向の基本ゲインを補正する
ものである。設定データSDGH,SDGV及び基本ゲ
インの詳細については後述する。
The correction gain setting section 54 includes a temperature sensor 55
The gain correction amounts in the horizontal and vertical directions are obtained in accordance with the environmental temperature detected in step (1), and the gain correction amounts are respectively set in the setting data SDGH, SDG
V is output to the drive unit 6. The horizontal and vertical gain correction amounts correct the horizontal and vertical basic gains, respectively. Details of the setting data SDGH, SDGV and the basic gain will be described later.

【0030】位置データ入力部57は、位置検出部7の
各出力信号をA/D変換し、得られた各出力データか
ら、横振れ補正レンズ31及び縦振れ補正レンズ32の
各位置をモニターすると共にメモリ56に記憶する。こ
の位置データをモニターすることにより、補正レンズ部
3用の駆動メカの異常状態等が検出可能となる。
The position data input unit 57 A / D converts each output signal of the position detection unit 7 and monitors each position of the horizontal shake correction lens 31 and the vertical shake correction lens 32 from the obtained output data. And stored in the memory 56. By monitoring this position data, it is possible to detect an abnormal state or the like of the drive mechanism for the correction lens unit 3.

【0031】駆動部6は、駆動制御回路61、横アクチ
ュエータ62、縦アクチュエータ63等により構成され
ている。駆動制御回路61は、目標位置設定部53及び
補正ゲイン設定部54からの設定データSDPH,SD
PV,SDGH,SDGVに応じて、横及び縦方向の駆
動信号を生成する。横アクチュエータ62及び縦アクチ
ュエータ63は、それぞれコアレスモータ等で構成され
(図2のモータ632及びギヤ631参照)、駆動制御
回路61で生成された横及び縦方向の駆動信号に応じ
て、横振れ補正レンズ31及び縦振れ補正レンズ32を
駆動する。
The drive section 6 includes a drive control circuit 61, a horizontal actuator 62, a vertical actuator 63, and the like. The drive control circuit 61 includes setting data SDPH, SDPH from the target position setting unit 53 and the correction gain setting unit 54.
A drive signal in the horizontal and vertical directions is generated according to PV, SDGH, and SDGV. Each of the horizontal actuator 62 and the vertical actuator 63 is configured by a coreless motor or the like (see the motor 632 and the gear 631 in FIG. 2), and corrects the horizontal shake according to the horizontal and vertical drive signals generated by the drive control circuit 61. The lens 31 and the vertical shake correction lens 32 are driven.

【0032】サーボ回路の一部を構成する駆動制御回路
61のブロック構成を図4に示す。まず、駆動制御回路
61にセットされる設定データSDGH,SDGVにつ
いて説明する。カメラ1は、その環境温度が変化する
と、振れ補正の駆動系に関する種々の特性が変化する。
例えば環境温度変化に伴って、駆動部6における各モー
タ(図2のモータ632参照)のトルク定数、補正レン
ズ部3及び駆動部6における駆動系(可動メカ)のバッ
クラッシュ及びその駆動系のギヤ(図2のギヤ部322
及びギヤ631参照)の硬さ等が変化する。
FIG. 4 shows a block configuration of a drive control circuit 61 constituting a part of the servo circuit. First, the setting data SDGH and SDGV set in the drive control circuit 61 will be described. When the environmental temperature of the camera 1 changes, various characteristics of the drive system for shake correction change.
For example, the torque constant of each motor (see the motor 632 in FIG. 2) in the drive unit 6, the backlash of the drive system (movable mechanism) in the correction lens unit 3 and the drive unit 6 and the gear of the drive system in accordance with the environmental temperature change. (Gear part 322 in FIG. 2)
And the gear 631).

【0033】この変化の一要因となるモータトルクの温
度特性を図5に示す。図から明らかなように、環境温度
が基準温度(例えば25℃)から外れると、モータトル
クは基準温度での値とは異なる値を示す。その結果、振
れ補正に関する駆動特性が変化する。このように、横及
び縦方向の基本ゲイン(基準温度における駆動ゲイン)
による駆動特性は、温度センサ55で得た環境温度が基
準温度から外れると、変動するようになる。
FIG. 5 shows a temperature characteristic of the motor torque which is one factor of this change. As is clear from the figure, when the ambient temperature deviates from the reference temperature (for example, 25 ° C.), the motor torque shows a value different from the value at the reference temperature. As a result, drive characteristics related to shake correction change. Thus, the basic gain in the horizontal and vertical directions (the drive gain at the reference temperature)
The driving characteristics vary when the environmental temperature obtained by the temperature sensor 55 deviates from the reference temperature.

【0034】そこで、補正ゲイン設定部54は、温度セ
ンサ55で得た環境温度に応じて、横及び縦方向の各基
本ゲインによる駆動特性の変動を補正するゲイン補正量
を生成する。本実施形態では、環境温度が基準温度から
外れることにより生じるモータトルク、バックラッシュ
及びギヤの硬さ等の各変動を個別に補正するゲイン補正
量を求めるための関数(環境温度を引数とする。)が、
横及び縦方向の各々について予め求められている。そし
て、横及び縦方向の各々について、各補正関数に温度セ
ンサ55で検出された環境温度が入力され、得られた各
値の合計値がゲイン補正量として求められる。これら横
及び縦方向のゲイン補正量は、それぞれ設定データSD
GH,SDGVとして、駆動制御回路61に出力され
る。
Therefore, the correction gain setting section 54 generates a gain correction amount for correcting a change in drive characteristics due to each of the basic gains in the horizontal and vertical directions according to the environmental temperature obtained by the temperature sensor 55. In the present embodiment, a function (environment temperature is used as an argument) for obtaining a gain correction amount for individually correcting each variation such as motor torque, backlash, and gear hardness that occurs when the environment temperature deviates from the reference temperature. )But,
It is determined in advance for each of the horizontal and vertical directions. Then, for each of the horizontal and vertical directions, the environmental temperature detected by the temperature sensor 55 is input to each correction function, and the total value of the obtained values is obtained as a gain correction amount. These gain correction amounts in the horizontal and vertical directions are respectively set in the setting data SD.
The signals are output to the drive control circuit 61 as GH and SDGV.

【0035】次に、駆動制御回路61について説明す
る。図1では、説明の便宜上、設定データSDGH,S
DGVは、2本の信号線で伝送されるように図示してい
るが、実際には、図略の2本のデータ線(SCK,S
D)及び3本の制御線(CS,DA/GAIN,X/
Y)によりシリアル伝送されてセットされる。同様に、
設定データDPH,SDPVも交互に駆動制御回路61
に送出される。
Next, the drive control circuit 61 will be described. In FIG. 1, for convenience of explanation, the setting data SDGH, S
Although the DGV is illustrated as being transmitted by two signal lines, in practice, two data lines (SCK, SCK,
D) and three control lines (CS, DA / GAIN, X /
Y) is serially transmitted and set. Similarly,
The setting data DPH and SDPV are also alternately driven by the drive control circuit 61.
Sent to

【0036】このため、駆動制御回路61は、バッファ
及びサンプルホールド回路等を備えている。即ち、図4
において、バッファ601,602は、それぞれ目標位
置設定部53から交互に出力された設定データSDP
H,SDPVを記憶するメモリである。
For this purpose, the drive control circuit 61 includes a buffer, a sample hold circuit, and the like. That is, FIG.
, The buffers 601 and 602 respectively store the setting data SDP output alternately from the target position setting unit 53.
H, a memory for storing SDPV.

【0037】DAC603は、D/A変換器であり、バ
ッファ601にセットされた設定データSDPHを目標
位置電圧VPHに変換する。また、DAC603は、バ
ッファ602にセットされた設定データSDPVを目標
位置電圧VPVに変換する。
The DAC 603 is a D / A converter, and converts the setting data SDPH set in the buffer 601 into a target position voltage VPH. Further, the DAC 603 converts the setting data SDPV set in the buffer 602 into a target position voltage VPV.

【0038】S/H604,605はそれぞれサンプル
ホールド回路である。S/H604は、DAC603で
変換された目標位置電圧VPHをサンプリングし、次の
サンプリングまでその値をホールドする。同様に、S/
H605は、DAC603で変換された目標位置電圧V
PVをサンプリングし、次のサンプリングまでその値を
ホールドする。
S / Hs 604 and 605 are sample hold circuits. The S / H 604 samples the target position voltage VPH converted by the DAC 603, and holds the value until the next sampling. Similarly, S /
H605 is the target position voltage V converted by the DAC 603.
The PV is sampled and its value is held until the next sampling.

【0039】加算回路606は、目標位置電圧VPHと
横位置検出部71からの出力電圧VH との差電圧を求
めるものである。加算回路607は、目標位置電圧VP
Vと縦位置検出部72からの出力電圧VV との差電圧
を求める。後述する横位置検出部71及び縦位置検出部
72では出力電圧VH,VVが負となるように構成され
ているので、加算回路606,607において、横位置
検出部71及び縦位置検出部72からの出力電圧VH,
VVを加算することにより差電圧が求められる。
The adder circuit 606 calculates a difference voltage between the target position voltage VPH and the output voltage VH from the lateral position detector 71. The adding circuit 607 calculates the target position voltage VP
A difference voltage between V and the output voltage VV from the vertical position detection unit 72 is obtained. The output voltages VH and VV are configured to be negative in a horizontal position detection unit 71 and a vertical position detection unit 72, which will be described later, so that in the addition circuits 606 and 607, the horizontal position detection unit 71 and the vertical position detection unit 72 Output voltage VH,
The difference voltage is obtained by adding VV.

【0040】V/V608は、入力電圧を、基準温度に
対して予め設定された比率で、横方向の比例ゲインとし
ての電圧に増幅する。また、V/V609は、入力電圧
を、基準温度に対して予め設定された比率で、縦方向の
比例ゲインとしての電圧に増幅する。ここで、横方向の
比例ゲインとは、横振れ補正レンズ31の目標位置と横
位置検出部71により検出された横振れ補正レンズ31
の位置との差に比例するゲインのことである。また、縦
方向の比例ゲインとは、縦振れ補正レンズ32の目標位
置と縦位置検出部72により検出された縦振れ補正レン
ズ32の位置との差に比例するゲインのことである。
V / V 608 amplifies the input voltage to a voltage as a lateral proportional gain at a preset ratio with respect to the reference temperature. The V / V 609 amplifies the input voltage into a voltage as a vertical proportional gain at a preset ratio with respect to the reference temperature. Here, the lateral proportional gain is the target position of the lateral vibration correcting lens 31 and the lateral vibration correcting lens 31 detected by the lateral position detecting unit 71.
The gain is proportional to the difference from the position. The vertical proportional gain is a gain proportional to the difference between the target position of the vertical shake correction lens 32 and the position of the vertical shake correction lens 32 detected by the vertical position detection unit 72.

【0041】微分回路610は、基準温度に対して予め
設定された時定数による微分を、加算回路606で求め
られた差電圧に施して、横方向の微分ゲインとしての電
圧を得る。微分回路610により得られた電圧は、横方
向の速度差(目標の駆動速度と現在の駆動速度との差)
に相当する。同様に、微分回路611は、基準温度に対
して予め設定された時定数による微分を、加算回路60
7で求められた差電圧に施して、縦方向の微分ゲインと
しての電圧を得る。微分回路611により得られた電圧
は、縦方向の速度差(目標の駆動速度と現在の駆動速度
との差)に相当する。
The differentiating circuit 610 performs a differentiation by a preset time constant with respect to the reference temperature to the difference voltage obtained by the adding circuit 606 to obtain a voltage as a differential gain in the horizontal direction. The voltage obtained by the differentiating circuit 610 is the difference in speed in the horizontal direction (the difference between the target drive speed and the current drive speed).
Is equivalent to Similarly, the differentiating circuit 611 calculates the differentiation by the time constant set in advance with respect to the reference temperature,
The differential voltage obtained in step 7 is applied to obtain a voltage as a differential gain in the vertical direction. The voltage obtained by the differentiating circuit 611 corresponds to a vertical speed difference (difference between a target driving speed and a current driving speed).

【0042】このように、V/V608,609及び微
分回路610,611によって、横及び縦方向の各々に
ついて、基準温度に対する基本ゲインとしての比例及び
微分ゲインの設定が行われる。
As described above, the V / V 608 and 609 and the differentiating circuits 610 and 611 set the proportional and differential gains as the basic gain with respect to the reference temperature in each of the horizontal and vertical directions.

【0043】バッファ612は、補正ゲイン設定部54
からの設定データSDGHを記憶するメモリである。設
定データSDGHとは、横方向の基本ゲイン(比例及び
微分ゲイン)を補正するゲイン補正量(比例及び微分ゲ
イン補正量)である。バッファ613は、補正ゲイン設
定部54からの設定データSDGVを記憶するメモリで
ある。設定データSDGVとは、縦方向の基本ゲイン
(比例及び微分ゲイン)を補正するゲイン補正量(比例
及び微分ゲイン補正量)である。
The buffer 612 includes the correction gain setting section 54
This is a memory for storing the setting data SDGH from. The setting data SDGH is a gain correction amount (proportional and differential gain correction amount) for correcting the horizontal basic gain (proportional and differential gain). The buffer 613 is a memory that stores the setting data SDGV from the correction gain setting unit 54. The setting data SDGV is a gain correction amount (proportional and differential gain correction amount) for correcting the vertical basic gain (proportional and differential gain).

【0044】HPゲイン補正回路614は、V/V60
8で得られた横方向の比例ゲインに対して、バッファ6
12からの横方向の比例ゲイン補正量に相当するアナロ
グ電圧を加えて、温度補正後における横方向の比例ゲイ
ンを出力する。また、VPゲイン補正回路615は、V
/V609で得られた縦方向の比例ゲインに対して、バ
ッファ613からの縦方向の比例ゲイン補正量に相当す
るアナログ電圧を加えて、温度補正後における縦方向の
比例ゲインを出力する。
The HP gain correction circuit 614 has a V / V60
8 with respect to the horizontal proportional gain obtained in
An analog voltage corresponding to the horizontal proportional gain correction amount from 12 is added to output a horizontal proportional gain after temperature correction. Further, the VP gain correction circuit 615
An analog voltage corresponding to the vertical proportional gain correction amount from the buffer 613 is added to the vertical proportional gain obtained by / V609 to output a vertical proportional gain after temperature correction.

【0045】HDゲイン補正回路616は、微分回路6
10で得られた横方向の微分ゲインに対して、バッファ
612からの横方向の微分ゲイン補正量に相当するアナ
ログ電圧を加えて、温度補正後における横方向の微分ゲ
インを出力する。また、VDゲイン補正回路617は、
微分回路611で得られた縦方向の微分ゲインに対し
て、バッファ613からの縦方向の微分ゲイン補正量に
相当するアナログ電圧を加えて、温度補正後における縦
方向の微分ゲインを出力する。
The HD gain correction circuit 616 is
An analog voltage corresponding to the horizontal differential gain correction amount from the buffer 612 is added to the horizontal differential gain obtained in step 10 to output the horizontal differential gain after temperature correction. In addition, the VD gain correction circuit 617
An analog voltage corresponding to the vertical differential gain correction amount from the buffer 613 is added to the vertical differential gain obtained by the differentiating circuit 611, and the vertical differential gain after temperature correction is output.

【0046】このように、HPゲイン補正回路614、
VPゲイン補正回路615、HDゲイン補正回路616
及びVDゲイン補正回路617によって、基本ゲインと
しての比例及び微分ゲインが温度補正される。
As described above, the HP gain correction circuit 614,
VP gain correction circuit 615, HD gain correction circuit 616
And the VD gain correction circuit 617 performs temperature correction on the proportional and differential gains as the basic gain.

【0047】LPF618は、HPゲイン補正回路61
4及びHDゲイン補正回路616の各出力電圧に含まれ
る高周波ノイズを除去するローパスフィルタである。L
PF619は、VPゲイン補正回路615及びVDゲイ
ン補正回路617の各出力電圧に含まれる高周波ノイズ
を除去するローパスフィルタである。
The LPF 618 includes an HP gain correction circuit 61
4 and a low-pass filter for removing high-frequency noise included in each output voltage of the HD gain correction circuit 616. L
The PF 619 is a low-pass filter that removes high-frequency noise included in each output voltage of the VP gain correction circuit 615 and the VD gain correction circuit 617.

【0048】ドライバー620は、LPF618、61
9の出力電圧に対応した駆動電力を、それぞれ横アクチ
ュエータ62及び縦アクチュエータ63に供給するモー
タ駆動用のICである。
The driver 620 includes LPFs 618 and 61
9 is a motor driving IC that supplies drive power corresponding to the output voltage of No. 9 to the horizontal actuator 62 and the vertical actuator 63, respectively.

【0049】図1に戻って、位置検出部7は、横位置検
出部71及び縦位置検出部72により構成されている。
横位置検出部71及び縦位置検出部72は、それぞれ横
振れ補正レンズ31及び縦振れ補正レンズ32の現在位
置を検出する。
Returning to FIG. 1, the position detecting section 7 comprises a horizontal position detecting section 71 and a vertical position detecting section 72.
The horizontal position detection unit 71 and the vertical position detection unit 72 detect the current positions of the horizontal shake correction lens 31 and the vertical shake correction lens 32, respectively.

【0050】例えば、横位置検出部71の構成を図6に
示す。横位置検出部71は、発光ダイオード(LED)
711、スリット712及び位置検出素子(PSD)7
13を有している。LED711は、横振れ補正レンズ
31のフレーム311におけるギヤ部の形成位置に取り
付けられる(図2のLED721を参照)。LED71
1の発光部から射出される光の指向性を鋭くするため
に、スリット712が設けられている。PSD713
は、鏡胴24の内壁側におけるLED711に対向する
位置に取り付けられる。PSD713は、LED711
からの射出光束の受光位置(重心位置)に応じた値の光
電変換電流I1,I2を出力する。光電変換電流I1,
I2の差を測定することにより、横振れ補正レンズ31
の位置を検出する。同様にして、縦位置検出部72も、
縦振れ補正レンズ32の位置を検出する。
For example, FIG. 6 shows the configuration of the horizontal position detector 71. The horizontal position detection unit 71 is a light emitting diode (LED)
711, slit 712 and position detection element (PSD) 7
13. The LED 711 is attached to a position where a gear portion is formed on the frame 311 of the lateral shake correction lens 31 (see LED 721 in FIG. 2). LED71
A slit 712 is provided to sharpen the directivity of light emitted from one light emitting unit. PSD713
Is mounted at a position facing the LED 711 on the inner wall side of the lens barrel 24. The PSD 713 includes the LED 711
And outputs the photoelectric conversion currents I1 and I2 having values corresponding to the light receiving position (center of gravity position) of the light beam emitted from. Photoelectric conversion current I1,
By measuring the difference of I2, the horizontal shake correction lens 31 is obtained.
Detect the position of. Similarly, the vertical position detection unit 72 also
The position of the vertical shake correction lens 32 is detected.

【0051】横位置検出部71のブロック構成を図7に
示す。横位置検出部71は、LED711及びPSD7
13に加えて、I/V変換回路714,715、加算回
路716、電流制御回路717、減算回路718、LP
F719等により構成されている。I/V変換回路71
4,715は、それぞれPSD713の出力電流I1,
I2を電圧V1,V2に変換する。加算回路716は、
I/V変換回路714,715の出力電圧V1,V2の
加算電圧V3を得る。電流制御回路717は、加算回路
716の出力電圧V3、即ちLED711の発光量を一
定に保持するようにトランジスタTr1のベース電流を
増減する。減算回路718は、I/V変換回路714,
715の出力電圧V1,V2の差電圧V4を得る。LP
F719は、減算回路718の出力電圧V4に含まれる
高周波成分をカットする。
FIG. 7 shows a block configuration of the horizontal position detecting section 71. The horizontal position detection unit 71 includes the LED 711 and the PSD 7
13, I / V conversion circuits 714 and 715, an addition circuit 716, a current control circuit 717, a subtraction circuit 718, LP
F719 and the like. I / V conversion circuit 71
4, 715 are output currents I1,
I2 is converted into voltages V1 and V2. The addition circuit 716
An addition voltage V3 of the output voltages V1 and V2 of the I / V conversion circuits 714 and 715 is obtained. The current control circuit 717 increases or decreases the base current of the transistor Tr1 so as to keep the output voltage V3 of the adding circuit 716, that is, the light emission amount of the LED 711 constant. The subtraction circuit 718 includes an I / V conversion circuit 714,
715, a difference voltage V4 between the output voltages V1 and V2 is obtained. LP
F719 cuts a high frequency component included in the output voltage V4 of the subtraction circuit 718.

【0052】次に、横位置検出部71による検出動作に
ついて説明する。PSD713から送出された電流I
1,I2は、それぞれI/V変換回路714,715で
電圧V1,V2に変換される。電圧V1,V2は加算回
路716で加算される。電流制御回路717は、この加
算により得られた電圧V3が常に一定となる電流をトラ
ンジスタTr1のベースに供給する。LED711は、
このベース電流に応じた光量で発光する。
Next, the detection operation by the horizontal position detector 71 will be described. Current I sent from PSD 713
1 and I2 are converted into voltages V1 and V2 by I / V conversion circuits 714 and 715, respectively. The voltages V1 and V2 are added by an adding circuit 716. The current control circuit 717 supplies a current at which the voltage V3 obtained by the addition is always constant to the base of the transistor Tr1. LED 711 is
Light is emitted with a light amount corresponding to the base current.

【0053】他方、電圧V1,V2は、減算回路718
で減算される。この減算により得られた電圧V4は、横
振れ補正レンズ31の位置を示す値になっている。例え
ば、PSD713の中心から右側に長さx離れた位置に
受光位置がある場合には、長さx,電流I1,I2及び
PSD713の受光エリア長Lは、(数1)の関係を満
たす。
On the other hand, the voltages V1 and V2 are subtracted from the subtraction circuit 718.
Is subtracted. The voltage V4 obtained by this subtraction is a value indicating the position of the lateral shake correction lens 31. For example, when the light receiving position is located at a position which is on the right side of the center of the PSD 713 and separated by the length x, the length x, the currents I1 and I2, and the light receiving area length L of the PSD 713 satisfy the relationship of (Expression 1).

【0054】[0054]

【数1】 (Equation 1)

【0055】同様に、長さx,電圧V1,V2及び受光
エリア長Lは(数2)の関係を満たす。
Similarly, the length x, the voltages V1 and V2, and the light receiving area length L satisfy the relationship of (Equation 2).

【0056】[0056]

【数2】 (Equation 2)

【0057】これより、V2+V1の値、即ち電圧V3
の値が常に一定となるように制御すれば(数3)の関係
が得られ、V2−V1の値、即ち電圧V4の値が長さx
を示すものとなり、電圧V4をモニターすれば横振れ補
正レンズ31の位置を検出することが可能となる。
From this, the value of V2 + V1, that is, the voltage V3
Is always constant, the relationship of (Equation 3) is obtained, and the value of V2−V1, that is, the value of the voltage V4 becomes the length x
The position of the lateral shake correction lens 31 can be detected by monitoring the voltage V4.

【0058】[0058]

【数3】 (Equation 3)

【0059】露出制御部8は、例えばCdS等の光電変
換素子により、被写体からの光を受光し、被写体の明る
さ(被写体輝度)に応じてシャッタ23の開閉を制御す
る。レリーズ監視部9は、シャッタレリーズボタンが半
押しされた時にオンするスイッチS1及びシャッタレリ
ーズボタンが全押しされた時にオンするスイッチS2が
それぞれオンしたか否かの判定を行う。スイッチS1が
オンすると、撮影準備処理(測光、測距等)が実行さ
れ、スイッチS2がオンすると撮影処理が実行される。
The exposure control section 8 receives light from the subject by a photoelectric conversion element such as CdS, and controls opening and closing of the shutter 23 according to the brightness of the subject (subject brightness). The release monitoring unit 9 determines whether a switch S1 that is turned on when the shutter release button is half-pressed and a switch S2 that is turned on when the shutter release button is fully pressed are turned on. When the switch S1 is turned on, a shooting preparation process (photometry, distance measurement, etc.) is executed, and when the switch S2 is turned on, an imaging process is executed.

【0060】測距モジュール10は、赤外線を発光する
LEDと、被写体で反射して戻ってくるLEDからの光
を受光する一次元PSD等により構成され、PSDの受
光位置に応じて被写体距離を測距する。なお、測距モジ
ュール10は、このアクティブ方式のものに限らず、被
写体からの光を受光する一対のラインセンサ等により構
成される外光パッシブモジュールでもよい。外光パッシ
ブモジュールでは、一対のラインセンサで被写体像が受
光され、両ラインセンサ間での被写体像の位相差から被
写体までの距離に相当する測距データが求められるよう
になっている。フォーカス部11は、測距モジュール1
0からの測距情報に応じてデフォーカス量を求め、この
デフォーカス量に応じて撮影レンズ21を合焦位置に駆
動する。振れ表示部12は、例えばファインダー内にお
いてLEDセグメント等で、振れ量検出部51からの振
れ量の大きさに応じて、振れ表示を行う。これにより、
現在の振れ量が認識可能になる。なお、振れ表示は、振
れ量そのものを表示するようにしてもよく、振れの状態
を表示するようにしてもよい。
The distance measuring module 10 includes an LED that emits infrared light, a one-dimensional PSD that receives light from the LED that is reflected back from the object, and the like, and measures the object distance in accordance with the light receiving position of the PSD. Distance. The distance measuring module 10 is not limited to the active type, but may be an external light passive module including a pair of line sensors that receive light from a subject. In the external light passive module, a subject image is received by a pair of line sensors, and distance measurement data corresponding to a distance to the subject is obtained from a phase difference between the two line sensors. The focus unit 11 includes the distance measuring module 1
The defocus amount is obtained according to the distance measurement information from 0, and the photographing lens 21 is driven to the in-focus position according to the defocus amount. The shake display unit 12 performs shake display according to the magnitude of the shake amount from the shake amount detection unit 51 using, for example, an LED segment or the like in the viewfinder. This allows
The current shake amount can be recognized. In the shake display, the shake amount itself may be displayed, or the state of the shake may be displayed.

【0061】測光部を除く露出制御部8、レリーズ監視
部9及びフォーカス部11(フォーカス制御部分)は、
第1のマイクロプロセッサユニット(μC1)によりソ
フト的に構成され、振れ補正以外のカメラ1全般の処理
をプログラムにより実行する。また、振れセンサ制御部
43、信号処理部44、振れ量検出部51、係数変換部
52、目標位置設定部53、補正ゲイン設定部54、位
置データ入力部57及び選択部59は、第2のマイクロ
プロセッサユニット(μC2)によりソフト的に構成さ
れ、振れ補正の処理をプログラムにより実行する。
The exposure control unit 8, the release monitoring unit 9, and the focus unit 11 (focus control unit), excluding the photometry unit,
The first microprocessor unit (μC1) is configured in a software manner, and executes overall processing of the camera 1 other than shake correction by a program. The shake sensor control unit 43, the signal processing unit 44, the shake amount detection unit 51, the coefficient conversion unit 52, the target position setting unit 53, the correction gain setting unit 54, the position data input unit 57, and the selection unit 59 The microprocessor unit (μC2) is configured as software, and executes a shake correction process by a program.

【0062】外部接続部13は、例えば第1及び第2の
マイクロプロセッサユニット(μC1,μC2)とは別
個の第3のマイクロプロセッサユニット(μC3)によ
り構成されている。外部接続端子14は、従来よりカメ
ラに内蔵されたマイクロプロセッサと外部検査装置との
交信のために用いられるものと同様の端子であり、第3
のマイクロプロセッサユニット(μC3)により構成さ
れた外部接続部13と外部検査装置100とを接続す
る。外部接続端子14には、外部検査装置100の端子
又は外部検査装置100に接続されたケーブルに接続さ
れることによりオンするスイッチS3が含まれる。
The external connection unit 13 is constituted by, for example, a third microprocessor unit (μC3) separate from the first and second microprocessor units (μC1, μC2). The external connection terminal 14 is a terminal similar to the one conventionally used for communication between the microprocessor built in the camera and the external inspection device.
The external connection unit 13 constituted by the microprocessor unit (μC3) is connected to the external inspection apparatus 100. The external connection terminal 14 includes a switch S3 that is turned on by being connected to a terminal of the external inspection device 100 or a cable connected to the external inspection device 100.

【0063】外部検査装置100のブロック構成を図8
に示す。外部検査装置100は、例えばキーボード等で
構成された波形選択部101と、選択された波形に応じ
た目標位置データ演算部102と、複数種類の波形に応
じて目標位置データを演算するためのプログラムを記憶
するROM及び演算された目標位置データを記憶するR
AM等で構成されたメモリ103と、演算された目標位
置データ及び後述するカメラ1のメモリ56に記憶され
た補正レンズ31,32の検出位置データを表示するC
RT等の表示部104と、カメラ1の外部接続部13に
対してメモリ56に記憶された検出位置データを出力さ
せるための読み出し命令発生部105と、カメラ1の外
部接続部100との間で、目標位置データ、読み出し命
令、検出位置データ等のデジタル信号を所定の交信速度
で交信する送受信部106等により構成されている。
FIG. 8 shows the block configuration of the external inspection apparatus 100.
Shown in The external inspection apparatus 100 includes, for example, a waveform selection unit 101 including a keyboard, a target position data calculation unit 102 corresponding to the selected waveform, and a program for calculating target position data according to a plurality of types of waveforms. And R for storing the calculated target position data.
A memory 103 composed of an AM or the like, and C for displaying the calculated target position data and the detection position data of the correction lenses 31 and 32 stored in the memory 56 of the camera 1 described later.
A display unit 104 such as an RT, a read command generation unit 105 for outputting the detected position data stored in the memory 56 to the external connection unit 13 of the camera 1, and the external connection unit 100 of the camera 1 , A transmission / reception unit 106 for communicating digital signals such as target position data, read commands, and detected position data at a predetermined communication speed.

【0064】本実施形態の振れ補正機能付きカメラを含
む振れ補正システムにおいて、その補正性能を向上させ
るためには、補正レンズ駆動系を理想に近い状態で駆動
するために、ゲイン調整、具体的には、図4に示すHP
ゲイン補正回路614、VPゲイン補正回路615、H
Dゲイン補正回路616及びVDゲイン補正回路617
を調整する必要がある。本実施形態では、振れ検出部4
からの画素データを用いて振れ検出部51により演算し
た振れ量の代わりに、外部検査装置100により発生さ
せた特定の関数に基づく目標位置データ群を用いて駆動
部6を駆動し、駆動部6により実際に駆動された補正レ
ンズ31,32の位置を位置検出部7により検出する。
位置検出部7により得られた検出位置データ群と目標位
置データ群とを比較することにより、駆動部6の駆動特
性を評価することができる。
In the image stabilization system including the camera with the image stabilization function according to the present embodiment, in order to improve the correction performance, in order to drive the correction lens driving system in an almost ideal state, gain adjustment, specifically, Is the HP shown in FIG.
Gain correction circuit 614, VP gain correction circuit 615, H
D gain correction circuit 616 and VD gain correction circuit 617
Need to be adjusted. In the present embodiment, the shake detection unit 4
The driving unit 6 is driven using a target position data group based on a specific function generated by the external inspection device 100 instead of the shake amount calculated by the shake detection unit 51 using the pixel data from , The positions of the correction lenses 31 and 32 actually driven are detected by the position detection unit 7.
By comparing the detected position data group obtained by the position detecting unit 7 with the target position data group, the driving characteristics of the driving unit 6 can be evaluated.

【0065】例えば、人間の手振れは比較的滑らかな動
きであるため、特定の関数としてSIN波形に基づいた
目標位置データ群を入力し、位置検出部7により得られ
た検出位置データ群を用いて再現した波形がSIN波形
に近ければ、駆動部6の駆動特性(補正レンズ31,3
2の位置制御・駆動性能)は、かなり良いものであると
評価することができる。
For example, since human hand movement is a relatively smooth motion, a target position data group based on the SIN waveform is input as a specific function, and the detected position data group obtained by the position detection unit 7 is used. If the reproduced waveform is close to the SIN waveform, the driving characteristics of the driving unit 6 (correction lenses 31 and 3)
2 position control / drive performance) can be evaluated to be quite good.

【0066】外部検査装置100の目標位置データ演算
部102は、上記SIN波形の他に、変化が滑らかでな
い不連続なステップ関数等の任意の関数(波形)に基づ
いて目標位置データ群を演算し得るように、演算処理プ
ログラムが用意されている。あるいは、あらかじめ複数
種類の関数(波形)を記憶しておき、波形選択部101
によりいずれかの関数(波形)を選択するように構成し
ても良い。
The target position data calculation unit 102 of the external inspection apparatus 100 calculates a target position data group based on an arbitrary function (waveform) such as a discontinuous step function that does not change smoothly, in addition to the SIN waveform. An arithmetic processing program is prepared so as to obtain. Alternatively, a plurality of types of functions (waveforms) are stored in advance, and the waveform selection unit 101
May be used to select one of the functions (waveforms).

【0067】外部検査装置100から目標位置データ群
が入力されると、振れ補正量設定部5の目標位置設定部
53から駆動部6の駆動制御回路61に対して、一定時
間間隔TM(例えば500μs)で目標位置データが1
つずつ出力される。しかしながら、一般に、カメラ1の
外部接続部13と外部検査装置100の送受信部106
との間の交信速度は、振れ補正量設定部5の目標位置設
定部53と駆動部6の駆動制御回路61との間の交信速
度に比べて極めて遅く、数倍以上の時間を要する。従っ
て、外部検査装置100から目標位置データを直接振れ
補正量設定部5を介して駆動部6の駆動制御回路61に
送信することは不可能である。
When the target position data group is input from the external inspection apparatus 100, the target position setting unit 53 of the shake correction amount setting unit 5 sends a drive control circuit 61 of the drive unit 6 at a fixed time interval TM (for example, 500 μs). ) And the target position data is 1
Are output one by one. However, in general, the external connection unit 13 of the camera 1 and the transmission / reception unit 106 of the external inspection apparatus 100
Is extremely slower than the communication speed between the target position setting unit 53 of the shake correction amount setting unit 5 and the drive control circuit 61 of the drive unit 6, and requires several times or more. Therefore, it is impossible to directly transmit the target position data from the external inspection apparatus 100 to the drive control circuit 61 of the drive unit 6 via the shake correction amount setting unit 5.

【0068】そのため、前述のように、外部接続部13
を外部検査装置100との交信を主目的とした、駆動ク
ロックの異なる独立した第3のマイクロプロセッサユニ
ット(μC3)として構成している。また、外部検査装
置100の送受信部106から送信された目標位置デー
タ群は、カメラ1の外部接続部13により受信された
後、メモリ56に一旦記憶される。そして、上記一定時
間間隔TMでメモリ56から読み出され、駆動制御回路
61に送信される。
Therefore, as described above, the external connection unit 13
Is configured as an independent third microprocessor unit (μC3) having a different drive clock and mainly for communication with the external inspection apparatus 100. The target position data group transmitted from the transmission / reception unit 106 of the external inspection device 100 is temporarily stored in the memory 56 after being received by the external connection unit 13 of the camera 1. Then, the data is read from the memory 56 at the above-mentioned fixed time interval TM and transmitted to the drive control circuit 61.

【0069】目標位置データが1つ駆動制御回路61に
出力されると、横アクチュエータ62又は縦アクチュエ
ータ63のいずれかが駆動され、横補正レンズ31又は
縦補正レンズ32のいずれかが移動する。その結果、横
位置検出部71又は縦位置検出部72のいずれかにより
横補正レンズ31又は縦補正レンズ32のいずれかの移
動後の位置が検出され、位置データ入力部57によりA
/D変換された後、検出位置データとしてメモリ56に
記憶される。横アクチュエータ62を駆動するための
(横)目標位置データと又は縦アクチュエータ63を駆
動するための(縦)目標位置データは交互に出力され
る。
When one target position data is output to the drive control circuit 61, either the horizontal actuator 62 or the vertical actuator 63 is driven, and either the horizontal correction lens 31 or the vertical correction lens 32 moves. As a result, the position after movement of either the horizontal correction lens 31 or the vertical correction lens 32 is detected by either the horizontal position detection unit 71 or the vertical position detection unit 72, and the position data input unit 57 outputs A
After the / D conversion, it is stored in the memory 56 as detection position data. The (horizontal) target position data for driving the horizontal actuator 62 and the (vertical) target position data for driving the vertical actuator 63 are output alternately.

【0070】位置検出部7により検出された補正レンズ
31,32の検出位置データも、上記一定時間間隔TM
でサンプリングされるため、位置データ入力部57等を
介して直接外部検査装置100に送信することは不可能
である。従って、位置データ入力部57により取り込ま
れ、A/D変換された後、メモリ56に一旦記憶され
る。そして、外部接続部13が外部検査装置100から
の読み出し命令を受信すると、上記一定時間間隔TMよ
りも遅い交信速度でメモリ56から読み出され、外部検
査装置100に送信される。
The detection position data of the correction lenses 31 and 32 detected by the position detection unit 7 is also used for the predetermined time interval TM.
Therefore, it is impossible to directly transmit to the external inspection apparatus 100 via the position data input unit 57 or the like. Therefore, after being taken in by the position data input unit 57 and subjected to A / D conversion, it is temporarily stored in the memory 56. Then, when the external connection unit 13 receives the read command from the external inspection device 100, it is read from the memory 56 at a communication speed lower than the predetermined time interval TM and transmitted to the external inspection device 100.

【0071】ここで、目標位置データと検出位置データ
とは1対1に対応しており、同数である。もし、目標位
置データ群と検出位置データ群をメモリ56の別の領域
に記憶した場合、メモリ56の必要な記憶容量は膨大な
ものとなる。一方、目標位置データ群は、外部検査装置
100により記憶されていたり又は随時発生可能である
ので、駆動制御回路61に送信した後はもはやメモリ5
6により記憶する必要はない。従って、送信した目標位
置データを記憶していた領域に、A/D変換された検出
位置データを記憶することにより、メモリ56の必要な
記憶容量を半分にすることが可能となる。
Here, the target position data and the detected position data have a one-to-one correspondence and are the same. If the target position data group and the detected position data group are stored in different areas of the memory 56, the required storage capacity of the memory 56 becomes enormous. On the other hand, since the target position data group is stored by the external inspection device 100 or can be generated at any time, the target position data group is no longer stored in the memory 5 after being transmitted to the drive control circuit 61.
6 need not be stored. Therefore, the required storage capacity of the memory 56 can be halved by storing the A / D-converted detected position data in the area storing the transmitted target position data.

【0072】メモリ56に記憶されていた全ての検出位
置データの送信が終了すると、外部検査装置100は、
表示部104上に最初に送信した目標位置データ群又は
それの基礎となった関数(波形)を表示すると共に、同
一画面上にカメラ1の外部接続部13から送信されてき
た検出位置データ群又はそれに基づいて再現した関数
(波形)を表示する。両者を比較することにより、駆動
部6による補正レンズ31,32の位置制御・駆動性能
の評価を行う。前述のように、両者が近似しているほ
ど、駆動部6の駆動特性が良いことになる。また、両者
が大きくかけ離れており、誤差を許容できない場合は、
図4に示すHPゲイン補正回路614、VPゲイン補正
回路615、HDゲイン補正回路616及びVDゲイン
補正回路617のゲイン調整用ボリューム等(図示せ
ず)を調整して、再度目標位置データ群を補正制御回路
61に送信し、補正レンズ31,32を駆動し、得られ
た検出位置データを再評価する。
When transmission of all the detected position data stored in the memory 56 is completed, the external inspection apparatus 100
The target position data group transmitted first or the function (waveform) based on the target position data group is displayed on the display unit 104, and the detected position data group transmitted from the external connection unit 13 of the camera 1 is displayed on the same screen. The function (waveform) reproduced based on this is displayed. By comparing the two, the position control and drive performance of the correction lenses 31 and 32 by the drive unit 6 are evaluated. As described above, the closer the two are, the better the drive characteristics of the drive unit 6 are. If the two are so far apart and the error cannot be tolerated,
The gain adjustment volume and the like (not shown) of the HP gain correction circuit 614, the VP gain correction circuit 615, the HD gain correction circuit 616, and the VD gain correction circuit 617 shown in FIG. 4 are adjusted to correct the target position data group again. The data is transmitted to the control circuit 61 to drive the correction lenses 31 and 32, and the obtained detection position data is reevaluated.

【0073】次に、本実施形態の動作について、図9か
ら図12に示すフローチャートを用いて説明する。カメ
ラ1のメインスイッチ(図示せず)がオンすると(#
1)、外部接続部13(第3のマイクロプロセッサユニ
ット(μC3))はスイッチS3がオンしているか否か
を判断し(#3)する。前述のように、カメラ1の外部
接続端子14に外部検査装置100の接続端子又は外部
検査装置100に接続されたケーブル等が接続される
と、スイッチS3がオンする。従って、スイッチS3が
オフの場合(#3でNO)、カメラ1の外部接続端子1
4には外部検査装置100が接続されていないので、外
部接続部13は特に何も行わず、第1及び第2のマイク
ロプロセッサユニット(μC1,μC2)は、通常のカ
メラシーケンスを実行する(#5)。通常のカメラシー
ケンスについては公知であるため、その説明を省略す
る。
Next, the operation of the present embodiment will be described with reference to the flowcharts shown in FIGS. When the main switch (not shown) of the camera 1 is turned on (#
1), the external connection unit 13 (the third microprocessor unit (μC3)) determines whether the switch S3 is on (# 3). As described above, when the connection terminal of the external inspection device 100 or the cable or the like connected to the external inspection device 100 is connected to the external connection terminal 14 of the camera 1, the switch S3 is turned on. Therefore, when the switch S3 is off (NO in # 3), the external connection terminal 1 of the camera 1
Since the external inspection device 100 is not connected to 4, the external connection unit 13 does nothing, and the first and second microprocessor units (μC1 and μC2) execute a normal camera sequence (# 5). Since the ordinary camera sequence is known, the description thereof is omitted.

【0074】一方、スイッチS3がオンの場合(#3で
YES)、カメラ1の外部接続端子14に外部検査装置
100が接続されているので、外部接続部13(第3の
マイクロプロセッサユニット(μC3))及び第2のマ
イクロプロセッサユニット(μC2)は検査シーケンス
を実行に備える(#7)。
On the other hand, when the switch S3 is ON (YES in # 3), since the external inspection apparatus 100 is connected to the external connection terminal 14 of the camera 1, the external connection unit 13 (the third microprocessor unit (μC3 )) And the second microprocessor unit (μC2) prepare for execution of the test sequence (# 7).

【0075】外部接続部13は外部検査装置100から
送信されてくる信号が「メモリ内容更新命令」か否かを
判断する(#9)。「メモリ内容更新命令」の場合、外
部接続部13は、既にメモリ56に記憶されているデー
タを消去し、その後外部検査装置100から送信されて
くる目標位置データ群(全データ数をnとする)を新た
にメモリ56に記憶する(メモリ内容更新(#1
1))。
The external connection unit 13 determines whether the signal transmitted from the external inspection device 100 is a "memory content update command"(# 9). In the case of the “memory content update command”, the external connection unit 13 deletes the data already stored in the memory 56, and thereafter sets the target position data group (the total number of data is n) transmitted from the external inspection apparatus 100. ) Is newly stored in the memory 56 (memory content update (# 1
1)).

【0076】#9において「メモリ内容更新命令」でな
い場合及び#11でメモリ内容を更新した場合、外部接
続部13は、次に外部検査装置100から送信されてく
る信号が補正レンズ駆動系の動作特性の評価を開始する
ための「評価開始命令」か否かを判断する(#13)。
「評価開始命令」の場合、外部接続部13は「評価開始
命令」を第2のマイクロプロセッサユニット(μC2)
に送信し、第2のマイクロプロセッサユニット(μC
2)は振れ補正量設定部5の補正ゲイン設定や駆動部6
の駆動制御回路のゲイン設定等の初期設定を行う(#1
5)。
If the instruction is not a “memory content update command” in # 9 and if the memory content is updated in # 11, the external connection unit 13 determines whether the signal transmitted from the external inspection apparatus 100 next is the operation of the correction lens driving system. It is determined whether or not it is an “evaluation start command” for starting the evaluation of the characteristics (# 13).
In the case of the “evaluation start instruction”, the external connection unit 13 transmits the “evaluation start instruction” to the second microprocessor unit (μC2).
To the second microprocessor unit (μC
2) The correction gain setting of the shake correction amount setting unit 5 and the driving unit 6
Initial setting such as gain setting of the drive control circuit (# 1)
5).

【0077】次に、第2のマイクロプロセッサユニット
(μC2)は、所定時間間隔(例えば500μs)ごと
の送信タイミングを待って(#17)、メモリ56から
(横)目標位置データを読み出し(#19)、(横)目
標位置データを駆動制御回路61に出力する(#2
1)。駆動制御回路61は、入力された(横)目標位置
データに基づいて横アクチュエータ62を駆動し(#2
3)する。横位置検出部71は、横アクチュエータ62
により駆動された横振れ補正レンズ31の位置を検出し
(#25)、その位置に対応する(横)検出位置データ
(アナログデータ)を位置データ入力部57に送信する
(#27)。位置データ入力部57は送信された(横)
検出位置データをA/D変換し(#29)、メモリ56
の(横)目標位置データを記憶していた領域に記憶する
(#31)。
Next, the second microprocessor unit (μC2) waits for a transmission timing at predetermined time intervals (for example, 500 μs) (# 17), and reads (horizontal) target position data from the memory 56 (# 19). ), (Lateral) target position data is output to the drive control circuit 61 (# 2)
1). The drive control circuit 61 drives the lateral actuator 62 based on the input (lateral) target position data (# 2).
3) Yes. The lateral position detecting unit 71 includes a lateral actuator 62
The position of the lateral shake correction lens 31 driven by the above is detected (# 25), and (lateral) detected position data (analog data) corresponding to the position is transmitted to the position data input unit 57 (# 27). The position data input unit 57 transmits the (horizontal)
A / D conversion of the detected position data is performed (# 29), and the memory 56
Is stored in the area where the (horizontal) target position data is stored (# 31).

【0078】横振れ補正レンズ31に関する1つの目標
位置データについての1つの検出位置データのサンプリ
ングが終了すると、第2のマイクロプロセッサユニット
(μC2)は、所定時間間隔ごとの送信タイミングを待
って(#33)、メモリ56から(縦)目標位置データ
を読み出し(#35)、(縦)目標位置データを駆動制
御回路61に出力する(#21)。駆動制御回路61
は、入力された(縦)目標位置データに基づいて縦アク
チュエータ63を駆動し(#39)する。縦位置検出部
72は、縦アクチュエータ63により駆動された縦振れ
補正レンズ32の位置を検出し(#41)、その位置に
対応する(縦)検出位置データ(アナログデータ)を位
置データ入力部57に送信する(#43)。位置データ
入力部57は送信された(縦)検出位置データをA/D
変換し(#45)、メモリ56の(縦)目標位置データ
を記憶していた領域に記憶する(#47)。
When sampling of one piece of detected position data for one piece of target position data relating to the lateral shake correction lens 31 is completed, the second microprocessor unit (μC2) waits for transmission timing at predetermined time intervals (# 33), the (vertical) target position data is read from the memory 56 (# 35), and the (vertical) target position data is output to the drive control circuit 61 (# 21). Drive control circuit 61
Drives the vertical actuator 63 based on the input (vertical) target position data (# 39). The vertical position detector 72 detects the position of the vertical shake correction lens 32 driven by the vertical actuator 63 (# 41), and outputs (vertical) detected position data (analog data) corresponding to the position to the position data input unit 57. (# 43). The position data input unit 57 converts the transmitted (vertical) detected position data into an A / D signal.
It is converted (# 45) and stored in the area of the memory 56 where the (vertical) target position data is stored (# 47).

【0079】縦振れ補正レンズ32に関する1つの目標
位置データについての1つの検出位置データのサンプリ
ングが終了すると、第2のマイクロプロセッサユニット
(μC2)は、目標位置データ数nを2つ減算し(#4
9)、n=0か否か、すなわち、全ての目標位置データ
に関して検出位置データをサンプリングしたか否かを判
断する(#51)。n=0でない場合、#17に戻って
次の(横)目標位置データに関して(横)検出位置デー
タのサンプリングを行う。
When sampling of one piece of detected position data for one piece of target position data relating to the vertical shake correction lens 32 is completed, the second microprocessor unit (μC2) subtracts two from the number n of target position data (# 4
9) It is determined whether or not n = 0, that is, whether or not the detected position data has been sampled for all target position data (# 51). If n = 0, the flow returns to step # 17 to sample (horizontal) detected position data for the next (horizontal) target position data.

【0080】n=0の場合(#53でYES)及び#1
3において外部検査装置100からの信号が「評価開始
命令」でない場合、外部接続部13は外部検査装置10
0から次に送信されてくる信号が「メモリ内容読み出し
命令」か否かを判断する(#55)。「メモリ内容読み
出し命令」の場合、外部接続部13は、メモリ56に記
憶されている検出位置データを順次読み出し(#5
5)、外部検査装置100に送信する(#57)。
If n = 0 (YES in # 53) and # 1
3, when the signal from the external inspection device 100 is not the “evaluation start command”, the external connection unit 13
It is determined whether the signal transmitted next from 0 is a "memory content read command"(# 55). In the case of the “memory content read command”, the external connection unit 13 sequentially reads the detection position data stored in the memory 56 (# 5).
5), and transmits it to the external inspection device 100 (# 57).

【0081】さらに、外部接続部13は、次に外部検査
装置100から送信されてくる信号が検査シーケンスの
終了を意味する「終了命令」か否かを判断し(#5
9)、「終了命令」の場合は、第2のマイクロプロセッ
サユニット(μC2)の検査シーケンスを終了させた上
で、自らも検査シーケンスを終了する(#61)。一
方、「終了命令」でない場合(#59でNO)、外部接
続部13は、#9に戻って外部検査装置100から次の
信号が送信されるのを待つ。以上のようにして、カメラ
1側の検査シーケンスは終了する。
Further, the external connection unit 13 determines whether the signal transmitted next from the external inspection apparatus 100 is an “end command” indicating the end of the inspection sequence (# 5).
9) In the case of the “end instruction”, the test sequence of the second microprocessor unit (μC2) is terminated, and then the test sequence itself is terminated (# 61). On the other hand, if it is not the “end command” (NO in # 59), the external connection unit 13 returns to # 9 and waits for the next signal to be transmitted from the external inspection device 100. As described above, the inspection sequence on the camera 1 side ends.

【0082】次に、外部検査装置100における検査シ
ーケンスについて説明する。前述のように、メモリ56
の同じ記憶領域を、目標位置データの記憶と、補正レン
ズ駆動後の検出位置データの記憶の両方に使用している
ため、1度補正レンズ駆動系の動作特性評価が行なわれ
ると、メモリ56には検出位置データ群が記憶されてい
る。ここで、再度補正レンズ駆動系の動作特性評価を行
う場合、メモリ56の記憶内容を目標位置データ群に更
新しなければならない。従って、検査シーケンスは「メ
モリ56の内容の更新」、「補正レンズ駆動系の動作特
性評価」、「メモリ56の記憶内容読み出し」の順に行
なわれなければならない。外部検査装置100の制御プ
ログラムもこの手順に従って行なわれる。
Next, an inspection sequence in the external inspection apparatus 100 will be described. As described above, the memory 56
Is used for both the storage of the target position data and the storage of the detected position data after the correction lens is driven. Therefore, once the operating characteristics of the correction lens driving system are evaluated, the memory 56 is stored in the memory 56. Indicates a detection position data group. Here, when the operation characteristics of the correction lens drive system are evaluated again, the contents stored in the memory 56 must be updated to the target position data group. Therefore, the inspection sequence must be performed in the order of "update of the contents of the memory 56", "evaluation of the operation characteristics of the correction lens driving system", and "reading of the stored contents of the memory 56". The control program of the external inspection device 100 is also performed according to this procedure.

【0083】図13に示すように、検査シーケンスを開
始すると(#101)、まず補正レンズ駆動系を駆動す
るための関数(波形)を選択する(#103)。選択さ
れる関数として、SIN関数やステップ関数等を含むこ
とが好ましい。ここでは、SIN波形が選択されたもの
とする。
As shown in FIG. 13, when the inspection sequence is started (# 101), first, a function (waveform) for driving the correction lens driving system is selected (# 103). The selected function preferably includes a SIN function, a step function, and the like. Here, it is assumed that the SIN waveform has been selected.

【0084】次に、外部検査装置100は、補正レンズ
駆動系をSIN波形で駆動するために、前記一定時間間
隔TMごとに駆動制御回路61に送信される目標位置デ
ータ群を演算する(#105)。各目標位置データは、
例えばカメラ1の第1又は第2のマイクロプロセッサユ
ニット(μC1,μC2)に設けられたROM等に記憶
されているレンズ中央位置データ、レンズ終端位置デー
タ等を基にして演算される。これらのレンズ位置データ
は、カメラ1の外部接続部13を介して外部検査装置1
00に送信される。なお、図11のコマンド「メモリ内
容読み出し命令」を用いることにより、事前に読み出す
ことが可能となる。
Next, the external inspection apparatus 100 calculates a target position data group transmitted to the drive control circuit 61 at the predetermined time intervals TM in order to drive the correction lens drive system with the SIN waveform (# 105). ). Each target position data is
For example, the calculation is performed based on lens center position data, lens end position data, and the like stored in a ROM or the like provided in the first or second microprocessor unit (μC1, μC2) of the camera 1. These lens position data are transmitted to the external inspection device 1 via the external connection unit 13 of the camera 1.
Sent to 00. Note that by using the command “memory content read command” in FIG. 11, the data can be read in advance.

【0085】なお、レンズの両終端位置で制限される駆
動可能範囲外の目標位置データを駆動制御回路61に送
信した場合、アクチュエータ62,63に規格以上の負
荷がかかるおそれがある。そのため、駆動可能範囲外の
目標位置データが演算されないように、プログラムに制
限が設けられている。演算された目標位置データ群は、
後でカメラ1のメモリ56から読み出される検出位置デ
ータ群と比較するため、外部検査装置100の側のメモ
リに記憶する(#107)。
When the target position data outside the drivable range limited by the both end positions of the lens is transmitted to the drive control circuit 61, there is a possibility that a load exceeding the standard is applied to the actuators 62 and 63. Therefore, the program is limited so that target position data outside the drivable range is not calculated. The calculated target position data group is
The data is stored in the memory of the external inspection apparatus 100 for comparison with the detected position data group read out from the memory 56 of the camera 1 later (# 107).

【0086】全目標位置データが演算され記憶される
と、外部検査装置100はカメラ1の外部接続部13に
対して「メモリ内容更新命令」を送信する(#10
9)。カメラ1側のメモリ56の内容更新の準備が完了
すると、外部検査装置100は、例えば(横)目標位置
データ群、(縦)目標位置データ群の順に、1群ずつま
とめて外部接続部13に対して送信する(#111)。
前述のように、外部検査装置100とカメラ1の外部接
続部13との間の交信速度は、一定時間間隔TMよりも
はるかに遅いので、送信された各目標位置データは、外
部接続部13から直接メモリ56に書き込まれ、記憶さ
れる。目標位置データフォーマットの一例を図14に示
す。
When all the target position data are calculated and stored, the external inspection apparatus 100 transmits a “memory content update command” to the external connection unit 13 of the camera 1 (# 10).
9). When the preparation for updating the content of the memory 56 on the camera 1 side is completed, the external inspection apparatus 100 collectively sends the external connection unit 13 one group at a time in the order of (horizontal) target position data group and (vertical) target position data group, for example. Transmitted to the user (# 111).
As described above, since the communication speed between the external inspection device 100 and the external connection unit 13 of the camera 1 is much slower than the fixed time interval TM, each transmitted target position data is transmitted from the external connection unit 13. The data is directly written and stored in the memory 56. FIG. 14 shows an example of the target position data format.

【0087】全ての目標位置データがメモリ56に記憶
されると、補正レンズ駆動系の動作特性評価の準備が整
ったことになる。そこで、外部検査装置100は、「評
価開始命令」をカメラ1の外部接続部13に対して送信
する(#113)。「評価開始命令」を受信すると、カ
メラ1側の第2のマイクロプロセッサユニット(μC
2)は、図9〜図12に示すフローチャートのうち、#
15から#51までを実行する。
When all the target position data are stored in the memory 56, the preparation for evaluating the operating characteristics of the correction lens driving system is completed. Therefore, the external inspection device 100 transmits an “evaluation start command” to the external connection unit 13 of the camera 1 (# 113). When receiving the “evaluation start command”, the second microprocessor unit (μC
2) corresponds to # in the flowcharts shown in FIGS.
Steps 15 to # 51 are executed.

【0088】全ての検出位置データがメモリ56に記憶
されると、外部検査装置100はカメラ1の外部接続部
13に対して「メモリ内容読み出し命令」を送信する
(#115)。「メモリ内容読み出し命令」を受けて、
外部接続部13は外部検査装置100に対してメモリ5
6に記憶されている検出位置データを1つずつ送信し、
外部検査装置100は検出位置データ群を受信し記憶す
る(#117)。
When all the detected position data are stored in the memory 56, the external inspection device 100 transmits a “memory content read command” to the external connection unit 13 of the camera 1 (# 115). In response to the "memory content read command",
The external connection unit 13 connects the external inspection device 100 with the memory 5.
6. Send the detected position data stored in 6 one by one,
The external inspection device 100 receives and stores the detected position data group (# 117).

【0089】全ての検出位置データを受信すると、外部
検査装置100はメモリに記憶している目標位置データ
群と受信した検出位置データ群との比較を行う(#11
9)。比較のため、設計値を用いて検出位置データ群を
目標位置データ群と同レベルのデータに換算する。ま
ず、目標位置データ群と検出位置データ群の中心位置デ
ータを合わせる。そして、終端位置データからそれぞれ
のデータの変化する範囲を求め、両者を比較し、検出位
置データの単位変化量に対する目標位置データの変化量
(補正係数)Kを求める。
When all the detected position data are received, the external inspection apparatus 100 compares the target position data group stored in the memory with the received detected position data group (# 11).
9). For comparison, the detected position data group is converted into data at the same level as the target position data group using the design values. First, the center position data of the target position data group and the detected position data group are matched. Then, the range in which the respective data changes is obtained from the end position data, and the two are compared to obtain the change amount (correction coefficient) K of the target position data with respect to the unit change amount of the detected position data.

【0090】ここで、目標位置データ群の中央位置デー
タをCDA、両終端位置データをそれぞれLPDA,L
MDAとする。また、検出位置データ群の中央位置デー
タをDAD、両終端位置データをそれぞれLPAD,L
MADとする。
Here, the center position data of the target position data group is CDA, and both end position data are LPDA and LDA, respectively.
MDA. The center position data of the detection position data group is DAD, and both end position data are LPAD and LAD, respectively.
MAD.

【0091】目標位置データ群のとり得る範囲はLPD
A−LMDAであり、検出位置データ群のとり得る範囲
はLPAD−LMADである(但し、全て設計値とす
る)。LPDAとLPADとが対応し、LMDAとLM
ADとが対応しているものとする。この2つの範囲は、
補正レンズ31,32を挟んで目標位置と現在位置の関
係にあり、ともに補正レンズ31,32の駆動可能範囲
である。従って、本来両者は一致するはずである。検出
位置データの単位変化量に対する目標位置データの変化
量Kは以下の(数4)で表される。
The possible range of the target position data group is LPD
A-LMDA, and the possible range of the detected position data group is LPAD-LMAD (however, all are set to design values). LPDA and LPAD correspond, LMDA and LM
It is assumed that AD corresponds. These two ranges are
There is a relationship between the target position and the current position with the correction lenses 31 and 32 interposed therebetween, and both are the drivable range of the correction lenses 31 and 32. Therefore, the two should originally match. The change amount K of the target position data with respect to the unit change amount of the detected position data is expressed by the following (Equation 4).

【0092】[0092]

【数4】 (Equation 4)

【0093】検出位置データ群のあるデータをPADと
し、PADを目標位置データ群と同レベルのデータに変
換したデータをPDAとすると、PDAは以下の(数
5)で表される。
Assuming that certain data in the detected position data group is a PAD, and data obtained by converting the PAD to data at the same level as the target position data group is a PDA, the PDA is expressed by the following (Equation 5).

【0094】[0094]

【数5】 (Equation 5)

【0095】このように、検出位置データ群を目標位置
データ群と同レベルの信号に変換することにより、両者
を直接比較することが可能となる。検出位置データ群の
変換が完了すると、外部検査装置100は、変換された
検出位置データ群及び目標位置データ群をそれぞれ、C
RT等の表示部に表示する。ここで、作業者は、表示さ
れた変換された検出位置データ群及び目標位置データ群
を比較し、駆動制御回路61のゲイン調整及びゲイン調
整後の補正レンズ駆動系の駆動特性の再評価の必要性の
有無を判断する(#121)。ゲイン調整及び駆動特性
の再評価が必要な場合は、#103に戻って上記検査シ
ーケンスを再実行する。一方、ゲイン調整不要の場合、
外部検査装置100は、カメラ1の外部接続部13に対
して「終了命令」を送信し(#123)、検査シーケン
スを終了する(#125)。
As described above, by converting the detected position data group into a signal of the same level as the target position data group, it is possible to directly compare the two. When the conversion of the detected position data group is completed, the external inspection apparatus 100 converts the converted detected position data group and target position data group into C
It is displayed on a display unit such as an RT. Here, the operator compares the displayed detected position data group and the converted target position data group, and adjusts the gain of the drive control circuit 61 and reevaluates the drive characteristics of the correction lens drive system after the gain adjustment. The presence or absence of sex is determined (# 121). If it is necessary to re-evaluate the gain adjustment and drive characteristics, the process returns to step # 103 and the above-described inspection sequence is executed again. On the other hand, if no gain adjustment is required,
The external inspection device 100 transmits an “end command” to the external connection unit 13 of the camera 1 (# 123), and ends the inspection sequence (# 125).

【0096】なお、上記説明とは逆に、目標位置データ
群を検出位置データ群と同レベルのデータに変換しても
良い。また、上記計算において、検出位置データ群の中
央位置データCAD、両終端位置データLPAD,LM
ADとして設計値を用いたが、その代わりに実際の測定
値を用いても良い。各データの測定方法としては、補正
レンズ31,32をその両終端位置間で複数回往復移動
させ、位置検出部7からの検出位置検出データを表示さ
せて測定する方法や、位置検出部7からの出力波形をオ
シロスコープ等で測定する方法等が考えられる。
Note that, contrary to the above description, the target position data group may be converted into data at the same level as the detected position data group. In the above calculation, the center position data CAD and the both end position data LPAD and LM of the detected position data group are used.
Although the design value is used as AD, an actual measured value may be used instead. As a method of measuring each data, the correction lenses 31 and 32 are reciprocated a plurality of times between both end positions, and the detection position detection data from the position detection unit 7 is displayed and measured. A method of measuring the output waveform by using an oscilloscope or the like can be considered.

【0097】また、上記実施形態では、外部接続部13
を独立した第3のマイクロプロセッサユニット(μC
3)を用いたが、これに限定されるものではなく、振れ
検出部4及び振れ補正量設定部5を構成する第2のマイ
クロプロセッサユニット(μC2)に外部接続部13の
機能を持たせるように構成しても良い。
In the above embodiment, the external connection unit 13
Are connected to an independent third microprocessor unit (μC
Although 3) was used, the present invention is not limited to this, and the second microprocessor unit (μC2) constituting the shake detection unit 4 and the shake correction amount setting unit 5 may have the function of the external connection unit 13. May be configured.

【0098】さらに、上記実施形態では、本発明を用い
た光学機器の一例としてカメラ、特に銀塩フィルムを記
録媒体とするスチルカメラについて説明したが、これに
限定されるものではなく、ディジタルカメラ、ビデオカ
メラ等のフィルム以外の記録媒体を用いたカメラや双眼
鏡等、振れ補正機能を有する全ての機器に本発明を応用
することができることは言うまでもない。
Further, in the above embodiment, a camera, particularly a still camera using a silver halide film as a recording medium, has been described as an example of the optical apparatus using the present invention. However, the present invention is not limited to this. Needless to say, the present invention can be applied to all devices having a shake correction function, such as a camera using a recording medium other than a film, such as a video camera, and binoculars.

【0099】[0099]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の振れ補正
機能検査システムによれば、振れを補正するための振れ
補正手段と、振れ補正手段を駆動するための駆動手段
と、振れ補正手段を制御するための制御手段と、振れ補
正手段の位置を検出する位置検出手段と、駆動手段の駆
動特性を検査するための検査手段と、検査手段と制御手
段との間で疑似振れ信号を、検査手段と位置検出手段と
の間で検出位置信号をそれぞれ交信する交信手段と、疑
似振れ信号及び検出位置信号を一時的に記憶するための
記憶手段とを具備するので、光学機器自体に振動を与え
ることなく、光学機器外部の検査手段から交信手段を介
して制御手段に対して、実際に光学機器に振動を与えた
場合と等価な疑似振れ信号(目標位置データ)を送信
し、疑似振れ信号に基づいて駆動手段を制御し、実際に
補正手段(補正レンズ)を駆動することができる。さら
に、位置検出手段により、実際に駆動された補正レンズ
の位置を検出し、交信手段を介して補正レンズの位置に
相当する検出位置信号(検出位置データ)を外部検査手
段に送信し、外部検査手段により送信した疑似振れ信号
と受信した検出位置信号を比較することにより、駆動手
段の駆動特性を知ることができる。その結果、実際に光
学機器に振動を与えることなく、補正レンズ駆動系の検
査及び調整を行うことができ、検査及び調整を極めて簡
単、かつ容易にすることが可能となる。また、光学機器
に振動を与えていないので、光学機器の振動台への固定
不良等に起因する誤差も生じない。
As described above, according to the shake correction function inspection system of the present invention, the shake correction means for correcting the shake, the driving means for driving the shake correction means, and the shake correction means are provided. Control means for controlling, position detection means for detecting the position of the shake correction means, inspection means for inspecting the driving characteristics of the drive means, and a pseudo shake signal between the inspection means and the control means. A communication means for communicating the detected position signal between the means and the position detecting means, and a storage means for temporarily storing the pseudo shake signal and the detected position signal. Without being transmitted, a pseudo shake signal (target position data) equivalent to a case where vibration is actually given to the optical device is transmitted from the inspection means outside the optical apparatus to the control means via the communication means, and the pseudo shake signal is transmitted to the control means. Base There controls the drive means can drive the actual correction means (correction lens). Further, the position of the correction lens actually driven is detected by the position detection unit, and a detection position signal (detection position data) corresponding to the position of the correction lens is transmitted to the external inspection unit via the communication unit, and the external inspection is performed. By comparing the pseudo shake signal transmitted by the means and the detected position signal received, the driving characteristics of the driving means can be known. As a result, the inspection and adjustment of the correction lens drive system can be performed without actually applying vibration to the optical device, and the inspection and adjustment can be made extremely simple and easy. Further, since no vibration is given to the optical device, there is no error caused by improper fixing of the optical device to the vibration table.

【0100】また、交信される信号を一旦記憶手段(R
AM等)に記憶することにより、外部検査手段と制御手
段との間及び外部検査手段と位置検出手段との間での信
号交信速度の違いを調整することが可能となる。
The signal to be communicated is temporarily stored in the storage means (R
AM, etc.), it is possible to adjust the difference in signal communication speed between the external inspection means and the control means and between the external inspection means and the position detection means.

【0101】また、検査手段により任意の振動波形に相
当する信号を発生させることにより、従来の振動台を用
いて実際に光学機器に振動を与える方法では実現できな
かった振動波形による検査及び調整も可能となる。
Further, by generating a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform by the inspection means, it is possible to perform inspection and adjustment using a vibration waveform which cannot be realized by a method of actually applying vibration to an optical device using a conventional vibration table. It becomes possible.

【0102】また、記憶手段により、検査手段から送信
された疑似振れ信号を所定のタイミングで各アドレスか
ら順次駆動手段に送信し、位置検出手段からの検出位置
信号を順次疑似振れ信号を送信した後に対応するアドレ
スに順次記憶させることにより、記憶手段の必要な記憶
容量を小さくすることが可能となる。また、記憶手段の
容量に余裕がある場合、疑似振れ信号の総数よりも多く
の位置信号を検出するようにしても良い。
The storage means sequentially transmits the pseudo shake signal transmitted from the inspection means from each address to the driving means at a predetermined timing, and sequentially transmits the detected position signal from the position detection means to the pseudo shake signal. By sequentially storing the data at the corresponding addresses, the required storage capacity of the storage unit can be reduced. Further, if there is room in the capacity of the storage means, more position signals may be detected than the total number of pseudo shake signals.

【0103】また、本発明の振れ補正機能付き光学機器
によれば、撮像光学系の一部に挿入された振れ補正レン
ズと、振れ補正レンズを駆動する駆動手段と、振れ補正
レンズの位置を検出する位置検出手段と、光学機器外部
に設けられた検査手段との間で所定の信号を交信する交
信手段と、交信手段を介して、検査手段から入力された
疑似振れ信号を用いて駆動手段を駆動し、駆動手段によ
り駆動され、位置検出手段により検出された振れ補正レ
ンズの位置に対応する検出位置信号を検査手段に出力す
る制御手段とを具備するので、交信手段を介して上記本
発明の振れ補正機能検査装置に接続することにより、実
際に光学機器に振動を与えることなく、振れ補正機構の
動作特性を調節することが可能となる。
According to the optical apparatus with a shake correcting function of the present invention, a shake correcting lens inserted into a part of the image pickup optical system, a driving unit for driving the shake correcting lens, and a position of the shake correcting lens are detected. And a communication means for communicating a predetermined signal between the position detection means for performing the detection and the inspection means provided outside the optical apparatus, and the driving means using the pseudo shake signal input from the inspection means via the communication means. Control means for driving and driving the driving means, and outputting a detection position signal corresponding to the position of the shake correction lens detected by the position detection means to the inspection means. By connecting to the shake correction function inspection device, it is possible to adjust the operating characteristics of the shake correction mechanism without actually applying vibration to the optical device.

【0104】また、本発明の振れ補正機能検査方法によ
れば、振れを補正するための振れ補正手段、振れ補正手
段を駆動するための駆動手段、振れ補正手段を制御する
ための制御手段及び振れ補正手段の位置を検出する位置
検出手段とを具備する機器に疑似振れ信号を入力し、疑
似振れ信号を用いて駆動手段により振れ補正手段を駆動
し、位置検出手段により振れ補正手段に位置を検出し、
検出した位置信号を用いて駆動手段の駆動特性を検査す
るので、振れ補正機能を有する機器を実際に振動させる
ことなく、振れ補正機能、特に振れ補正レンズ等の駆動
特性を検査することができ、検査及び調整を極めて簡
単、かつ容易にすることが可能となる。
Further, according to the shake correction function inspection method of the present invention, a shake correction means for correcting shake, a driving means for driving the shake correction means, a control means for controlling the shake correction means, and a shake A pseudo-vibration signal is input to a device including a position detection unit that detects the position of the correction unit, and the vibration correction unit is driven by the driving unit using the pseudo-vibration signal, and the position is detected by the vibration correction unit by the position detection unit. And
Since the driving characteristics of the driving unit are inspected using the detected position signal, the vibration-correcting function, particularly the driving characteristics of the vibration-correcting lens and the like can be inspected without actually vibrating the device having the vibration correcting function, Inspection and adjustment can be made extremely simple and easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】鏡胴内に収納された縦振れ補正レンズ等の斜視
図である。
FIG. 2 is a perspective view of a vertical shake correction lens and the like stored in a lens barrel.

【図3】振れ量検出部の構成を説明するためのブロック
図である。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a shake amount detection unit.

【図4】サーボ回路の一部を構成する駆動制御回路の一
例を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing an example of a drive control circuit forming a part of a servo circuit.

【図5】駆動特性変化の一要因となるモータトルクの温
度特性図である。
FIG. 5 is a temperature characteristic diagram of a motor torque which is a factor of a change in drive characteristics.

【図6】横位置検出部の構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram of a horizontal position detection unit.

【図7】横位置検出部のブロック図である。FIG. 7 is a block diagram of a horizontal position detection unit.

【図8】外部検査装置のブロック図である。FIG. 8 is a block diagram of an external inspection device.

【図9】上記実施形態の動作を示すフローチャートであ
る。
FIG. 9 is a flowchart showing the operation of the embodiment.

【図10】上記実施形態の動作を示すフローチャートの
続きである。
FIG. 10 is a continuation of the flowchart showing the operation of the embodiment.

【図11】上記実施形態の動作を示すフローチャートの
続きである。
FIG. 11 is a continuation of the flowchart showing the operation of the embodiment.

【図12】上記実施形態の動作を示すフローチャートの
続きである。
FIG. 12 is a continuation of the flowchart showing the operation of the embodiment.

【図13】上記実施形態における外部検査装置の動作を
示すフローチャートである。
FIG. 13 is a flowchart showing an operation of the external inspection device in the embodiment.

【図14】上記実施形態における目標位置データ群のデ
ータフォーマットの一例を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing an example of a data format of a target position data group in the embodiment.

【符号の説明】 1 :カメラ 2 :撮影部 3 :補正レンズ部(振れ補正手段) 4 :振れ検出部 5 :振れ補正量設定部(制御手段) 6 :駆動部(駆動手段) 7 :位置検出部(位置検出手段) 8 :露出制御部 9 :レリーズ監視部 10 :測距モジュール 11 :フォーカス部 12 :振れ表示部 13 :外部接続部(交信手段) 14 :外部接続端子(交信手段) 21 :撮影レンズ 22 :フィルム 23 :シャッタ 31 :横振れ補正レンズ(振れ補正手段) 32 :縦振れ補正レンズ(振れ補正手段) 41 :検出用レンズ 42 :振れセンサ 43 :振れセンサ制御部 44 :信号処理部 51 :振れ量検出部 52 :係数変換部 53 :目標位置設定部 54 :補正ゲイン設定部 55 :温度センサ 56 :メモリ(記憶手段) 57 :位置データ入力部 61 :駆動制御回路 62 :横アクチュエータ 63 :縦アクチュエータ 71 :横位置検出部 72 :縦位置検出部 100 :外部検査装置[Description of Signs] 1: Camera 2: Photographing unit 3: Correction lens unit (vibration correction unit) 4: Vibration detection unit 5: Vibration correction amount setting unit (control unit) 6: Drive unit (drive unit) 7: Position detection Unit (position detecting means) 8: Exposure control unit 9: Release monitoring unit 10: Distance measuring module 11: Focus unit 12: Shake display unit 13: External connection unit (communication unit) 14: External connection terminal (communication unit) 21: Photographing lens 22: Film 23: Shutter 31: Horizontal shake correction lens (shake correction means) 32: Vertical shake correction lens (shake correction means) 41: Detection lens 42: Shake sensor 43: Shake sensor control section 44: Signal processing section 51: shake amount detection unit 52: coefficient conversion unit 53: target position setting unit 54: correction gain setting unit 55: temperature sensor 56: memory (storage means) 57: position Over data input unit 61: drive control circuit 62: Horizontal actuator 63: Vertical actuator 71: lateral position detecting unit 72: vertical position detection unit 100: External inspection device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 湯川 和彦 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 玉井 啓二 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 濱村 俊宏 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Kazuhiko Yugawa 2-3-13 Azuchicho, Chuo-ku, Osaka City Inside Osaka International Building Minolta Co., Ltd. (72) Keiji Tamai 2-3-3 Azuchicho, Chuo-ku, Osaka City 13 Osaka International Building Minolta Co., Ltd. (72) Inventor Toshihiro Hamamura 2-3-13 Azuchicho, Chuo-ku, Osaka City Osaka International Building Minolta Co., Ltd.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 振れを補正するための振れ補正手段と、 前記振れ補正手段を駆動するための駆動手段と、 前記振れ補正手段を制御するための制御手段と、 前記振れ補正手段の位置を検出する位置検出手段と、 前記駆動手段の駆動特性を検査するための検査手段と、 前記検査手段と前記制御手段との間で疑似振れ信号を、
前記検査手段と前記位置検出手段との間で検出位置信号
をそれぞれ交信する交信手段と、 前記疑似振れ信号及び前記検出位置信号を一時的に記憶
するための記憶手段とを具備する振れ補正機能検査シス
テム。
1. A shake correction means for correcting a shake, a driving means for driving the shake correction means, a control means for controlling the shake correction means, and detecting a position of the shake correction means Position detecting means to perform, an inspecting means for inspecting the driving characteristics of the driving means, a pseudo shake signal between the inspecting means and the control means,
A shake correction function test comprising: communication means for communicating detection position signals between the inspection means and the position detection means; and storage means for temporarily storing the pseudo shake signal and the detection position signal. system.
【請求項2】 前記検査手段は任意の振動波形に相当す
る信号を発生することを特徴とする請求項1記載の振れ
補正機能検査システム。
2. The shake correction function inspection system according to claim 1, wherein said inspection means generates a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform.
【請求項3】 前記記憶手段は、前記検査手段から送信
された前記疑似振れ信号を所定のタイミングで各アドレ
スから順次前記駆動手段に送信し、前記位置検出手段か
らの検出位置信号を順次前記疑似振れ信号を送信した後
に対応するアドレスに順次記憶することを特徴とする請
求項1記載の振れ補正機能検査システム。
3. The storage unit transmits the pseudo shake signal transmitted from the inspection unit to the drive unit sequentially from each address at a predetermined timing, and sequentially transmits the detected position signal from the position detection unit to the pseudo unit. 2. The shake correction function inspection system according to claim 1, wherein the shake correction function inspection system sequentially stores the shake signals at the corresponding addresses after transmitting the shake signals.
【請求項4】 撮像光学系の一部に挿入された振れ補正
レンズと、 前記振れ補正レンズを駆動する駆動手段と、 前記振れ補正レンズの位置を検出する位置検出手段と、 機器の外部に設けられた検査手段との間で所定の信号を
交信する交信手段と、 前記交信手段を介して、前記検査手段から入力された疑
似振れ信号を用いて前記駆動手段を駆動し、前記駆動手
段により駆動され、前記位置検出手段により検出された
前記振れ補正レンズの位置に対応する検出位置信号を前
記検査手段に出力する制御手段とを具備する振れ補正機
能付き光学機器。
4. A shake correction lens inserted into a part of an image pickup optical system, driving means for driving the shake correction lens, position detection means for detecting a position of the shake correction lens, and provided outside the device. Communication means for communicating a predetermined signal with the inspected means, and driving the driving means using the pseudo shake signal input from the inspection means via the communication means, and driving by the driving means An optical device with a shake correction function, comprising: a control unit that outputs a detection position signal corresponding to the position of the shake correction lens detected by the position detection unit to the inspection unit.
【請求項5】 前記疑似振れ信号及び前記検出位置信号
を一時的に記憶するための記憶手段をさらに具備するこ
とを特徴とする請求項4記載の振れ補正機能付き光学機
器。
5. The optical device with a shake correction function according to claim 4, further comprising a storage unit for temporarily storing the pseudo shake signal and the detection position signal.
【請求項6】 前記疑似振れ信号は任意の振動波形の相
当する信号であることを特徴とする請求項4又は5記載
の振れ補正機能付き光学機器。
6. The optical apparatus according to claim 4, wherein the pseudo shake signal is a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform.
【請求項7】 前記記憶手段は、前記検査手段から送信
された前記疑似振れ信号を所定のタイミングで各アドレ
スから順次前記駆動手段に送信し、前記位置検出手段か
らの検出位置信号を順次前記疑似振れ信号を送信した後
に対応するアドレスに順次記憶することを特徴とする請
求項5記載の振れ補正機能付き光学機器。
7. The storage unit transmits the pseudo shake signal transmitted from the inspection unit to the driving unit sequentially from each address at a predetermined timing, and sequentially transmits the detected position signal from the position detection unit to the pseudo unit. 6. The optical apparatus with a shake correction function according to claim 5, wherein the shake signal is sequentially stored in a corresponding address after the shake signal is transmitted.
【請求項8】 振れを補正するための振れ補正手段、前
記振れ補正手段を駆動するための駆動手段、前記振れ補
正手段を制御するための制御手段及び前記振れ補正手段
の位置を検出する位置検出手段とを具備する機器に疑似
振れ信号を入力し、前記疑似振れ信号を用いて前記駆動
手段により前記振れ補正手段を駆動し、前記位置検出手
段により振れ補正手段に位置を検出し、検出した位置信
号を用いて前記駆動手段の駆動特性を検査する振れ補正
機能検査方法。
8. A shake correcting means for correcting a shake, a driving means for driving the shake correcting means, a control means for controlling the shake correcting means, and a position detection for detecting a position of the shake correcting means. Means for inputting a pseudo-vibration signal to an apparatus having the means, the driving means driving the vibration correction means using the pseudo-vibration signal, the position detecting means detecting a position in the vibration correction means, and detecting the detected position. A shake correction function inspection method for inspecting drive characteristics of the drive unit using a signal.
【請求項9】 前記疑似振れ信号は任意の振動波形の相
当する信号であることを特徴とする請求項8記載の振れ
補正機能検査方法。
9. The method according to claim 8, wherein the pseudo shake signal is a signal corresponding to an arbitrary vibration waveform.
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