JPH11153515A - Apparatus and method for inspecting color filter - Google Patents

Apparatus and method for inspecting color filter

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JPH11153515A
JPH11153515A JP32003197A JP32003197A JPH11153515A JP H11153515 A JPH11153515 A JP H11153515A JP 32003197 A JP32003197 A JP 32003197A JP 32003197 A JP32003197 A JP 32003197A JP H11153515 A JPH11153515 A JP H11153515A
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JP
Japan
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color filter
inspection
emitting device
light
light emitting
Prior art date
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JP32003197A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Yanai
洋 谷内
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Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce wrong recognitions by an inspector particularly when inspecting color irregularities and restrict instable factors such as a personal difference, an experimental difference, etc., to a minimum. SOLUTION: According to this apparatus, a color filter 1 is illuminated from a back face and a worker 100 confirms by eyes a light passing the color filter, whereby the color filter is inspected. The apparatus has a light-emitting device 2 emitting a light in two dimensions and arranged at the back face of the color filter 1, and a setting device 14 for setting and inclining the light-emitting device 2 to be low at the side far from the worker 100 and high at the side close to the worker 100. Reflection of light from the periphery is eliminated and inspection visibility is improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶表示装
置に用いられるカラーフィルタの製造工程における品質
検査方法とその装置に係り、特に、カラーフィルタの色
ムラ等の特性を検査するための検査方法および装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a quality inspection method and apparatus for a color filter used in a liquid crystal display device, for example, and more particularly to an inspection method for inspecting characteristics such as color unevenness of a color filter. And equipment.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶を光シャッターとした表示装置とし
ては、一般的に単純マトリクス方式のものとアクティブ
マトリクス方式のものとが知られている。単純マトリク
ス方式としてはSTN、DSTN型が、またアクティブ
マトリクス方式としてはTFT方式が主流となってい
る。何れの方式においても、カラー画像表示を行うため
に、一方の基板に少なくとも3色の有彩色のカラーフィ
ルタを備え、1画素あたり3色(R,G,Bもしくは
C,M,Y)の単色カラーフィルタ素子を所定の規則で
配列して構成される。隣接して配置された3色のカラー
フィルタパターンR,G,Bは1単位の画素を構成し、
この画素が所定の順序で液晶表示素子の全面にわたって
多数配列されて画像表示面を構成している。
2. Description of the Related Art As a display device using a liquid crystal as an optical shutter, a simple matrix type and an active matrix type are generally known. STN and DSTN types are predominant as the simple matrix type, and a TFT type is predominant as the active matrix type. In any method, in order to display a color image, one substrate is provided with at least three chromatic color filters, and three colors (R, G, B or C, M, Y) per pixel are provided. The color filter elements are arranged according to a predetermined rule. The color filter patterns R, G, and B of three colors arranged adjacently constitute one unit of pixel,
A large number of these pixels are arranged in a predetermined order over the entire surface of the liquid crystal display element to form an image display surface.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】この種のカラー液晶表
示素子はその表示品質の大部分が、用いられるカラーフ
ィルタの品質に依存するため、その製造過程において、
カラーフィルタ基板の色ムラ等の検査が実施される。カ
ラーフィルタの検査は大別すると2つの検査に分けるこ
とができる。一つは異物(ゴミ等)付着や、パターニン
グ不良などによる形状検査であり、もう一つは色ムラ等
の特性検査である。
Since most of the display quality of this type of color liquid crystal display device depends on the quality of the color filter used, the manufacturing process of the color liquid crystal display device is difficult.
An inspection for color unevenness or the like of the color filter substrate is performed. Inspection of color filters can be broadly divided into two inspections. One is a shape inspection due to adhesion of foreign matter (dust and the like) and a patterning failure, and the other is a characteristic inspection such as color unevenness.

【0004】一般的なカラーフィルタの検査方法として
は、形状検査にはナトリウムランプ、グリーンランプ等
の特殊照明ランプや、ハロゲンランプなどの白熱電球、
一般的な白色蛍光灯などの光照射ランプを使用してカラ
ーフィルタ表面の形状異常の有無を目視検査する方法が
とられている。色ムラ等の特性検査には、バックライト
と呼ばれる光源と拡散板により面発光させる照明機器2
を、図1に示すように検査作業者100側に傾けて発光
させ、これにカラーフィルタ1を重ねて透過光を目視検
査する方法がとられている。
As a general color filter inspection method, a special illumination lamp such as a sodium lamp or a green lamp, an incandescent lamp such as a halogen lamp,
A method has been adopted in which a light irradiation lamp such as a general white fluorescent lamp or the like is used to visually inspect the presence or absence of a shape abnormality on the surface of a color filter. In order to inspect characteristics such as color unevenness, a lighting device 2 that emits surface light using a light source called a backlight and a diffusion plate
As shown in FIG. 1, light is emitted while being inclined toward the inspection operator 100, and a color filter 1 is superimposed on the light to visually inspect transmitted light.

【0005】このように、カラーフィルタ検査の大部分
が人間の目視による官能検査であり、「ある」「ない」
で判定される形状検査はともかく、色ムラのような程度
判定では検査作業者の個人差、経験差が判定結果に影響
を与えていた。
[0005] As described above, most of the color filter inspection is a sensory inspection by visual inspection of human being, and "yes" or "no"
Regardless of the shape inspection determined by the above, in the determination of the degree such as the color unevenness, the individual difference and the experience difference of the inspection operator affected the determination result.

【0006】さらに、バックライト透過光による色ムラ
検査は、カラーフィルタ全面を同時に観察しなければな
らず、図1のように検査作業者自身や周囲の物がカラー
フィルタ面に映り込んでしまい、検査精度を低下させる
原因となっていた。また、映り込みを防止するために検
査室を暗室にするなどの方法がとられるが、形状検査に
使用される各種光照射ランプは、図2乃至図4に示すよ
うに、カラーフィルタの角度を変更してもやはり映り込
みの問題で暗室内での使用ができなかった。また同時
に、暗室内での基板ハンドリング性の悪さ、作業環境的
な問題も含め数々の問題があった。
Further, in the color non-uniformity inspection by the transmitted light of the backlight, the entire surface of the color filter must be observed at the same time, and as shown in FIG. 1, the inspection operator and surrounding objects are reflected on the surface of the color filter. This was a cause of lowering the inspection accuracy. In order to prevent reflection, a method such as setting the inspection room in a dark room is used. However, as shown in FIGS. 2 to 4, various light irradiation lamps used for shape inspection are used to adjust the angle of the color filter. Even after the change, it could not be used in a dark room due to the problem of reflection. At the same time, there are a number of problems, including poor substrate handling in a dark room and work environment problems.

【0007】従って、本発明は、上述した課題に鑑みて
なされたものであり、その目的は、特に色ムラ検査にお
ける検査作業者の誤認識を低減し、個人差や経験差とい
った不安定要素を最小限に抑えることができるカラーフ
ィルタの検査装置及び検査方法を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to reduce erroneous recognition of an inspection operator particularly in color unevenness inspection and to reduce unstable factors such as individual differences and experience differences. An object of the present invention is to provide a color filter inspection apparatus and an inspection method that can be minimized.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するために、本発明に係わるカラーフィルタ
の検査装置は、カラーフィルタを背面から照明し、その
透過光を作業者が目視で確認することによりカラーフィ
ルタの検査を行うためのカラーフィルタの検査装置であ
って、前記カラーフィルタの背面に配置される平面発光
する発光装置と、該発光装置を、前記作業者から遠い側
が低く、前記作業者に近い側が高くなるように傾斜させ
て設置するための設置手段とを具備することを特徴とし
ている。
Means for Solving the Problems The above-mentioned problems are solved,
In order to achieve the object, the color filter inspection apparatus according to the present invention illuminates the color filter from the back, and visually checks the transmitted light of the color filter so that the operator can visually check the color filter. An inspection device, wherein a light-emitting device that emits planar light and is disposed on the back surface of the color filter, and the light-emitting device is installed so as to be inclined such that a side farther from the worker is lower and a side closer to the worker is higher. And an installation means for the same.

【0009】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査装置において、前記発光装置の傾斜角度が0°〜4
5°の角度に設定されていることを特徴としている。
Further, in the color filter inspection apparatus according to the present invention, the light emitting device has an inclination angle of 0 ° to 4 °.
It is characterized in that the angle is set to 5 °.

【0010】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査装置において、前記設置手段は、前記発光装置の傾
斜角度を変更可能に構成されていることを特徴としてい
る。
In the color filter inspection apparatus according to the present invention, the installation means is configured to be capable of changing an inclination angle of the light emitting device.

【0011】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査装置において、前記発光装置及び前記カラーフィル
タを覆う暗箱と、前記暗箱内に配置され前記カラーフィ
ルタを照明するための光照射ランプとを更に具備するこ
とを特徴としている。
The color filter inspection apparatus according to the present invention further includes a dark box covering the light emitting device and the color filter, and a light irradiation lamp arranged in the dark box to illuminate the color filter. It is characterized by:

【0012】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査装置において、前記光照射ランプは、ナトリウムラ
ンプ、グリーンランプ、白色蛍光灯等であることを特徴
としている。
Further, in the color filter inspection apparatus according to the present invention, the light irradiation lamp is a sodium lamp, a green lamp, a white fluorescent lamp or the like.

【0013】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査装置において、前記暗箱の前記作業者と対向する側
の壁面が、低反射面であることを特徴としている。
Further, in the color filter inspection apparatus according to the present invention, a wall surface of the dark box facing the worker is a low reflection surface.

【0014】また、本発明に係わるカラーフィルタの検
査方法は、カラーフィルタを背面から照明し、その透過
光を作業者が目視で確認することによりカラーフィルタ
の検査を行うためのカラーフィルタの検査方法であっ
て、前記カラーフィルタの背面に平面発光する発光装置
を配置し、該発光装置を、前記作業者から遠い側が低
く、前記作業者に近い側が高くなるように傾斜させた状
態で検査を行うことを特徴としている。
Further, the color filter inspection method according to the present invention is directed to a color filter inspection method for illuminating a color filter from the back and visually checking the transmitted light by an operator to inspect the color filter. A light-emitting device that emits planar light is arranged on the back of the color filter, and the light-emitting device is inspected in a state where the light-emitting device is inclined such that the side farther from the worker is lower and the side closer to the worker is higher. It is characterized by:

【0015】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査方法において、前記検査は、カラーフィルタの色む
らの検査であることを特徴としている。
Further, in the color filter inspection method according to the present invention, the inspection is an inspection for color unevenness of the color filter.

【0016】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査方法において、前記発光装置の傾斜角度を0°〜4
5°の角度に設定することを特徴としている。
Further, in the color filter inspection method according to the present invention, the light emitting device may have an inclination angle of 0 ° to 4 °.
It is characterized in that the angle is set to 5 °.

【0017】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査方法において、前記発光装置の傾斜角度を前記作業
者に合わせて変更することを特徴としている。
Further, in the color filter inspection method according to the present invention, the inclination angle of the light emitting device is changed according to the worker.

【0018】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査方法において、前記発光装置及び前記カラーフィル
タを暗箱により覆い、該暗箱内に配置された光照射ラン
プにより前記カラーフィルタを照明することを特徴とし
ている。
Further, in the color filter inspection method according to the present invention, the light emitting device and the color filter are covered with a dark box, and the color filter is illuminated by a light irradiation lamp arranged in the dark box. .

【0019】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査方法において、前記光照射ランプは、ナトリウムラ
ンプ、グリーンランプ、白色蛍光灯等であることを特徴
としている。
Further, in the color filter inspection method according to the present invention, the light irradiation lamp is a sodium lamp, a green lamp, a white fluorescent lamp or the like.

【0020】また、この発明に係わるカラーフィルタの
検査方法において、前記暗箱の前記作業者と対向する側
の壁面を低反射面に設定することを特徴としている。
Further, in the color filter inspection method according to the present invention, a wall surface of the dark box facing the worker is set to a low reflection surface.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な一実施形態
について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described.

【0022】本実施形態は、図5の様にバックライト2
の発光面を作業者から遠い奥側を低くし、傾斜をつけて
配置させることにより、バックライト2上に配置された
カラーフィルタ1の表面に映り込むエリアを図中破線矢
印で示すように前方の一部分の領域Aに限定することを
特徴とする。つまり、従来とは逆向きに面発光部(バッ
クライト2)の角度をつけたことを特徴とする。
In this embodiment, as shown in FIG.
The light-emitting surface of the color filter 1 disposed on the backlight 2 is positioned on the back side of the color filter 1 by lowering the light-emitting surface farther away from the worker and arranging the light-emitting surface at an angle, as shown by the broken arrow in the figure. Is limited to a partial area A. That is, the angle of the surface light emitting portion (backlight 2) is set to be opposite to that of the related art.

【0023】傾斜角θは、図5のB部拡大図である図6
に示すように0°〜45°程度がよく、これ以上角度を
つけると検査対象であるカラーフィルタ1が視線から消
えてしまう。高い精度の検査が必要な場合は5°近辺が
よく、検査タクトを優先する場合は30°以上傾斜させ
ると検査エリアが少なくなる(角度により小さく見え
る)ため、効率がよい。
The inclination angle θ is an enlarged view of a portion B in FIG.
As shown in FIG. 7, the angle is preferably about 0 ° to 45 °, and if the angle is further increased, the color filter 1 to be inspected disappears from the line of sight. When high-precision inspection is required, around 5 ° is preferable, and when priority is given to inspection tact, an inclination of 30 ° or more reduces the inspection area (it looks smaller depending on the angle), so that efficiency is high.

【0024】また、印刷法や、インクジェット法、ロー
ル転写法などの方向性を持った手段により着色画素パタ
ーンを形成したカラーフィルタでは、色ムラが生じる場
合、パターン形成方向に生じ易い。これらカラーフィル
タの検査において本実施形態の装置の角度方向と着色パ
ターン形成方向をあわせ、傾斜角を大きくとることによ
り色ムラが(存在する場合)強調され、見落としを防止
できる。
In a color filter in which a colored pixel pattern is formed by a directional means such as a printing method, an ink jet method, and a roll transfer method, when color unevenness occurs, it tends to occur in the pattern forming direction. In the inspection of these color filters, by matching the angle direction of the apparatus of the present embodiment with the color pattern forming direction and setting a large inclination angle, color unevenness (if any) is emphasized, and oversight can be prevented.

【0025】検査作業者の体格差による目線高さのずれ
は、検査作業者自身が目線高さを変えることで対応でき
るが、得てして検査作業は長時間の単純作業になりがち
であり、検査作業者の疲労度や、検査対象のカラーフィ
ルタ検査エリアに対しての柔軟さを持たせるためにも傾
斜角を可変できる機構(脚部14)をバックライト2自
身に持たせることは有効である。
The deviation of the line-of-sight height due to the difference in physique of the inspection operator can be dealt with by changing the line-of-sight height by the inspection operator himself, but the inspection operation tends to be a long and simple operation. It is effective to provide the backlight 2 itself with a mechanism (leg 14) capable of changing the inclination angle in order to increase the degree of fatigue of the user and the flexibility of the color filter inspection area to be inspected.

【0026】本実施形態によるバックライト2は検査対
象カラーフィルタ1の表面に映り込むエリアを前方の一
部分の領域Aに限定できるため、前方の壁7のみ低反射
表面とすればよいが、好ましくは全面を低反射表面とし
たほうがよい。また、図7に示したように暗箱4を使用
する場合、暗箱4の天井部の映り込みがないため、この
部分に形状検査で使用するナトリウムランプ5、グリー
ンランプ、白色蛍光灯6等の光照射ランプを設置するこ
とも可能である。つまり、図7の様にカラーフィルタの
目視検査機器をひとまとめにすることができるため、ハ
ンドリング回数の減少、省スペース、タクトアップ等の
ほかにも検査関係の物流を単純化できるなどのさまざま
なメリットを生み出すことができる。
In the backlight 2 according to the present embodiment, the area reflected on the surface of the color filter 1 to be inspected can be limited to a partial area A in the front, so that only the front wall 7 may have a low reflection surface, but it is preferable. It is better to make the whole surface a low reflection surface. When the dark box 4 is used as shown in FIG. 7, since the ceiling of the dark box 4 is not reflected, light such as a sodium lamp 5, a green lamp, and a white fluorescent lamp 6 used in the shape inspection is used in this portion. It is also possible to install irradiation lamps. In other words, the visual inspection equipment for color filters can be integrated as shown in Fig. 7, so that there are various advantages such as a reduction in the number of times of handling, space saving, tact-up, and simplification of inspection-related logistics. Can be created.

【0027】次に、カラーフィルタの検査装置の具体的
な例について説明する。
Next, a specific example of a color filter inspection apparatus will be described.

【0028】[0028]

【実施例】(第1の実施例)図8の構成で、バックライ
ト2を作成した。図8において、8,11は冷陰極蛍光
管、9は乳白色アクリルプレート、10は光拡散板、1
2はスイッチ、13は電源である。バックライト2のサ
イズは400mm×500mm、厚みは55mm(突起
含まず)とした。
EXAMPLE (First Example) A backlight 2 was formed with the configuration shown in FIG. 8, 8 and 11 are cold cathode fluorescent tubes, 9 is a milky white acrylic plate, 10 is a light diffusion plate, 1
2 is a switch, and 13 is a power supply. The size of the backlight 2 was 400 mm × 500 mm, and the thickness was 55 mm (not including protrusions).

【0029】ついで、図9の様にバックライト2の本体
の側面の手前側(作業者100に近い側)に角度および
高さ調節が可能な脚部14を取り付け、検査装置とし
た。脚部14としては、図9(a)に示すように回動す
ることにより高さの調整ができるもの、図9(b)に示
すように上下にスライドすることにより高さの調整がで
きるもの等が考えられる。
Then, as shown in FIG. 9, a leg 14 capable of adjusting the angle and height is attached to the front side (closer to the worker 100) of the side surface of the main body of the backlight 2 to obtain an inspection apparatus. The legs 14 can be adjusted in height by rotating as shown in FIG. 9A, and can be adjusted in height by sliding up and down as shown in FIG. 9B. And so on.

【0030】次に図5のように低反射壁面7の下部に配
置した高さ750mmのテーブル3上に、バックライト
2を、その発光面の奥側(作業者から遠い側)が低く手
前側(作業者に近い側)が高くなるように配置した。こ
の時のバックライト発光面の角度θは6°とした。バッ
クライト2の発光面上にカラーフィルタ1を載せ、検査
作業員が1200mmの高さの目線からカラーフィルタ
を目視検査した。この時検査対象カラーフィルタ表面に
外部の映り込みはなかった。また、同一基板を5人の異
なる検査作業者が検査した結果、図1の従来の装置で検
査した結果と比較して、検査誤認率で約12%、検査ス
ピードで約20%の向上が見られた。
Next, as shown in FIG. 5, the backlight 2 is placed on a table 3 having a height of 750 mm, which is disposed below the low reflection wall surface 7. (The side closer to the worker). At this time, the angle θ of the backlight light emitting surface was 6 °. The color filter 1 was placed on the light-emitting surface of the backlight 2, and the inspection operator visually inspected the color filter from a line of sight of 1200 mm. At this time, there was no reflection on the surface of the color filter to be inspected. In addition, as a result of inspecting the same substrate by five different inspectors, it was found that the inspection error rate was improved by about 12% and the inspection speed was improved by about 20% as compared with the result of the inspection by the conventional apparatus of FIG. Was done.

【0031】(第2の実施例)図7の様に高さ750m
mのテーブル3上に開口高さ1000mm奥行き900
mmの暗箱4を設置し、内部にバックライト2(寸法4
00mm×500mm×厚み55mm)とナトリウムラ
ンプ(寸法700mm×500mm×最大厚み75m
m)と白色蛍光灯(長さ約500mm)を装備して検査
装置を作成した。
(Second Embodiment) A height of 750 m as shown in FIG.
opening height 1000 mm depth 900 on the table 3
mm dark box 4 and a backlight 2 (dimension 4
00mm x 500mm x thickness 55mm and sodium lamp (dimensions 700mm x 500mm x maximum thickness 75m)
m) and a white fluorescent lamp (approximately 500 mm in length) to prepare an inspection device.

【0032】この時のバックライト2の発光面の角度θ
は18°とした。バックライト2の発光面上にカラーフ
ィルタ1を載せ、検査作業員が1250mmの高さの目
線からカラーフィルタ1を目視検査した。この時検査対
象カラーフィルタ表面には、外部およびナトリウムラン
プおよび白色蛍光灯の映り込みはなかった。また、同一
基板を5人の異なる検査作業者が検査した結果、図2の
装置で検査した結果と比較して、検査誤認率で約15
%、検査スピードで約17%の向上が見られた。また、
形状検査、色ムラ検査を製造ライン上で行ったときに比
べ検査スピードで約33%(物流含む)の向上が見られ
た。
At this time, the angle θ of the light emitting surface of the backlight 2
Was set to 18 °. The color filter 1 was placed on the light emitting surface of the backlight 2, and an inspection worker visually inspected the color filter 1 from a line of sight at a height of 1250 mm. At this time, there was no reflection of the outside and the sodium lamp and the white fluorescent lamp on the surface of the color filter to be inspected. In addition, as a result of inspecting the same substrate by five different inspection operators, the inspection error rate was about 15
% And an improvement of about 17% in inspection speed. Also,
The inspection speed was improved by about 33% (including physical distribution) as compared with the case where the shape inspection and the color unevenness inspection were performed on the production line.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
平面発光するバックライトの発光面を奥側を低く傾斜配
置させてカラーフィルタの検査を行うことにより、周囲
の映り込みがなくなり、検査視認性が向上する。
As described above, according to the present invention,
By inspecting the color filter by arranging the light-emitting surface of the backlight that emits the plane light with the rear side inclined low, the reflection of the surroundings is eliminated and the inspection visibility is improved.

【0034】また、同じ暗箱内に各種光照射ランプを設
置してもこれらの映り込みがないので、検査精度を低下
させることなく省スペース化が図れる。
Further, even if various light irradiation lamps are installed in the same dark box, they are not reflected, so that the space can be saved without lowering the inspection accuracy.

【0035】[0035]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来のカラーフィルタの検査装置の構成を示す
図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a conventional color filter inspection apparatus.

【図2】暗箱を設けた従来のカラーフィルタの検査装置
の構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a conventional color filter inspection apparatus provided with a dark box.

【図3】図2に示す装置でカラーフィルタの角度を変更
した状態を示した図である。
FIG. 3 is a diagram showing a state in which the angle of a color filter is changed in the device shown in FIG. 2;

【図4】図2に示す装置でカラーフィルタの角度を変更
した状態を示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing a state in which the angle of a color filter is changed in the device shown in FIG. 2;

【図5】本発明の一実施形態に係わるカラーフィルタの
検査装置の構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of a color filter inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図6】図5のB部拡大図である。FIG. 6 is an enlarged view of a portion B in FIG. 5;

【図7】図5の装置に暗箱を設けた構成を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration in which a dark box is provided in the apparatus of FIG. 5;

【図8】バックライトの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a backlight.

【図9】バックライトの脚部を示す図である。FIG. 9 is a view showing a leg portion of the backlight.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カラーフィルタ 2 バックライト 3 テーブル 4 暗箱 5 ナトリウムランプ 6 白色蛍光灯 7 低反射壁 8,11 冷陰極蛍光管 9 乳白色アクリルプレート 10 光拡散板 12 スイッチ 13 電源 14 脚部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Color filter 2 Backlight 3 Table 4 Dark box 5 Sodium lamp 6 White fluorescent lamp 7 Low reflection wall 8,11 Cold cathode fluorescent tube 9 Milky white acrylic plate 10 Light diffusion plate 12 Switch 13 Power supply 14 Leg

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カラーフィルタを背面から照明し、その
透過光を作業者が目視で確認することによりカラーフィ
ルタの検査を行うためのカラーフィルタの検査装置であ
って、 前記カラーフィルタの背面に配置される平面発光する発
光装置と、 該発光装置を、前記作業者から遠い側が低く、前記作業
者に近い側が高くなるように傾斜させて設置するための
設置手段とを具備することを特徴とするカラーフィルタ
の検査装置。
An apparatus for inspecting a color filter by illuminating a color filter from the back and visually checking the transmitted light by an operator, wherein the inspection is performed on the color filter, the apparatus being arranged on the back of the color filter. A light emitting device that emits planar light, and installation means for installing the light emitting device at an angle so that the side farther from the worker is lower and the side closer to the worker is higher. Inspection equipment for color filters.
【請求項2】 前記発光装置の傾斜角度が0°〜45°
の角度に設定されていることを特徴とする請求項1に記
載のカラーフィルタの検査装置。
2. The light emitting device according to claim 1, wherein said light emitting device has an inclination angle of 0 to 45 degrees.
2. The color filter inspection apparatus according to claim 1, wherein the angle is set to the following angle.
【請求項3】 前記設置手段は、前記発光装置の傾斜角
度を変更可能に構成されていることを特徴とする請求項
1に記載のカラーフィルタの検査装置。
3. The color filter inspection apparatus according to claim 1, wherein the installation unit is configured to change an inclination angle of the light emitting device.
【請求項4】 前記発光装置及び前記カラーフィルタを
覆う暗箱と、前記暗箱内に配置され前記カラーフィルタ
を照明するための光照射ランプとを更に具備することを
特徴とする請求項1に記載のカラーフィルタの検査装
置。
4. The apparatus according to claim 1, further comprising: a dark box covering the light emitting device and the color filter; and a light irradiation lamp disposed in the dark box to illuminate the color filter. Inspection equipment for color filters.
【請求項5】 前記光照射ランプは、ナトリウムラン
プ、グリーンランプ、白色蛍光灯等であることを特徴と
する請求項4に記載のカラーフィルタの検査装置。
5. The color filter inspection apparatus according to claim 4, wherein the light irradiation lamp is a sodium lamp, a green lamp, a white fluorescent lamp, or the like.
【請求項6】 前記暗箱の前記作業者と対向する側の壁
面が、低反射面であることを特徴とする請求項4に記載
のカラーフィルタの検査装置。
6. The color filter inspection apparatus according to claim 4, wherein a wall surface of the dark box facing the worker is a low reflection surface.
【請求項7】 カラーフィルタを背面から照明し、その
透過光を作業者が目視で確認することによりカラーフィ
ルタの検査を行うためのカラーフィルタの検査方法であ
って、 前記カラーフィルタの背面に平面発光する発光装置を配
置し、該発光装置を、前記作業者から遠い側が低く、前
記作業者に近い側が高くなるように傾斜させた状態で検
査を行うことを特徴とするカラーフィルタの検査方法。
7. A color filter inspection method for illuminating a color filter from the back and visually checking the transmitted light by an operator to inspect the color filter, wherein a flat surface is provided on the back of the color filter. A method for inspecting a color filter, comprising: arranging a light emitting device that emits light, and performing an inspection in a state where the light emitting device is inclined such that a side farther from the worker is lower and a side closer to the worker is higher.
【請求項8】 前記検査は、カラーフィルタの色むらの
検査であることを特徴とする請求項7に記載のカラーフ
ィルタの検査方法。
8. The color filter inspection method according to claim 7, wherein the inspection is an inspection for color unevenness of a color filter.
【請求項9】 前記発光装置の傾斜角度を0°〜45°
の角度に設定することを特徴とする請求項7に記載のカ
ラーフィルタの検査方法。
9. An inclination angle of the light emitting device is set to 0 ° to 45 °.
The method for inspecting a color filter according to claim 7, wherein the angle is set to:
【請求項10】 前記発光装置の傾斜角度を前記作業者
に合わせて変更することを特徴とする請求項7に記載の
カラーフィルタの検査方法。
10. The color filter inspection method according to claim 7, wherein an inclination angle of the light emitting device is changed according to the worker.
【請求項11】 前記発光装置及び前記カラーフィルタ
を暗箱により覆い、該暗箱内に配置された光照射ランプ
により前記カラーフィルタを照明することを特徴とする
請求項7に記載のカラーフィルタの検査方法。
11. The color filter inspection method according to claim 7, wherein the light emitting device and the color filter are covered with a dark box, and the color filter is illuminated by a light irradiation lamp arranged in the dark box. .
【請求項12】 前記光照射ランプは、ナトリウムラン
プ、グリーンランプ、白色蛍光灯等であることを特徴と
する請求項11に記載のカラーフィルタの検査方法。
12. The color filter inspection method according to claim 11, wherein the light irradiation lamp is a sodium lamp, a green lamp, a white fluorescent lamp, or the like.
【請求項13】 前記暗箱の前記作業者と対向する側の
壁面を低反射面に設定することを特徴とする請求項11
に記載のカラーフィルタの検査方法。
13. The low-reflection surface of the dark box on a side facing the worker.
Inspection method of the color filter described in 1.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005291878A (en) * 2004-03-31 2005-10-20 Shin Nisseki Ekisho Film Kk Inspection method of optical film
WO2006039143A1 (en) * 2004-09-29 2006-04-13 General Electric Company System and method for inspecting a light-management film and the method of making the light-management film
JP2008170197A (en) * 2007-01-10 2008-07-24 Toyama Sumitomo Denko Kk Foreign matter detector for metal porous object, and metal porous object through foreign matter detection process
JP2012047729A (en) * 2010-07-26 2012-03-08 Toshiba Mobile Display Co Ltd Inspection device and inspection method
CN103868938A (en) * 2012-12-17 2014-06-18 中国振华集团永光电子有限公司 Filling quality detection method and apparatus for LED module
CN104345478A (en) * 2013-07-26 2015-02-11 比亚迪股份有限公司 Device for detecting LCD (liquid crystal display) and backlight module and detection method thereof
CN110907474A (en) * 2019-12-10 2020-03-24 江苏奥蓝工程玻璃有限公司 Defect collecting device for glass coating visual inspection

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005291878A (en) * 2004-03-31 2005-10-20 Shin Nisseki Ekisho Film Kk Inspection method of optical film
WO2006039143A1 (en) * 2004-09-29 2006-04-13 General Electric Company System and method for inspecting a light-management film and the method of making the light-management film
JP2008170197A (en) * 2007-01-10 2008-07-24 Toyama Sumitomo Denko Kk Foreign matter detector for metal porous object, and metal porous object through foreign matter detection process
JP2012047729A (en) * 2010-07-26 2012-03-08 Toshiba Mobile Display Co Ltd Inspection device and inspection method
CN103868938A (en) * 2012-12-17 2014-06-18 中国振华集团永光电子有限公司 Filling quality detection method and apparatus for LED module
CN104345478A (en) * 2013-07-26 2015-02-11 比亚迪股份有限公司 Device for detecting LCD (liquid crystal display) and backlight module and detection method thereof
CN110907474A (en) * 2019-12-10 2020-03-24 江苏奥蓝工程玻璃有限公司 Defect collecting device for glass coating visual inspection

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