JPH1112735A - Production of diamond-like thin carbon film - Google Patents

Production of diamond-like thin carbon film

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JPH1112735A
JPH1112735A JP16868297A JP16868297A JPH1112735A JP H1112735 A JPH1112735 A JP H1112735A JP 16868297 A JP16868297 A JP 16868297A JP 16868297 A JP16868297 A JP 16868297A JP H1112735 A JPH1112735 A JP H1112735A
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JP
Japan
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diamond
thin film
electric field
gas
carbon
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Application number
JP16868297A
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Japanese (ja)
Inventor
Takuya Yara
卓也 屋良
Motokazu Yuasa
基和 湯浅
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Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To rapidly form a thin carbon film with stability at a low temp. by producing plasma by setting a solid dielectric on an opposed plane of at least either of counter electrodes and applying a pulsed electric field between the electrodes under an atmosphere containing carbon and oxygen and/or hydrogen under a pressure in the vicinity of atmospheric pressure. SOLUTION: Under a pressure of 100 to 800 Torr in the vicinity of atmospheric pressure, a solid dielectric of plastic, glass, etc., is set on one counter electrode plane, and, a pulsed electric field is applied between the counter electrode planes in a gaseous atmosphere containing carbon, oxygen, hydrogen, etc., to carry out electric discharge and produce plasma. In this case, the discharge current density between the counter electrodes is regulated to (0.2 to 300) mA/cm<2> , and (1 to 100) kv/cm electric field intensity is applied. Further, frequency and pulse duration at this time are regulated to 1 to 100 kHz and 1 to 1000 μs, respectively, by which the thin film can be easily formed on a base-material plane of the surface of the solid dielectric.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、大気圧近傍の圧力
下に於いて、放電プラズマを利用して、基材の表面にダ
イヤモンド状炭素薄膜を製造する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a diamond-like carbon thin film on the surface of a substrate by using discharge plasma under a pressure near atmospheric pressure.

【0002】[0002]

【従来の技術】ダイヤモンド状炭素薄膜は、硬度、高屈
折率、電気導電性など優れた物性を有しており、装飾
用、工具用、電子デバイス用など被覆材料として幅広い
用途に使用されつつある。
2. Description of the Related Art Diamond-like carbon thin films have excellent physical properties such as hardness, high refractive index, and electrical conductivity, and are being used in a wide range of applications as coating materials for decoration, tools, electronic devices, and the like. .

【0003】従来より、ダイヤモンド状炭素薄膜の製造
方法としては、熱CVD法、プラズマCVD法、イオン
ビ−ム法、イオンプレ−ティング法等が知られており、
例えば、特開昭58−91100号公報には、熱CVD
法により、炭素含有ガスと水素ガスを用いて、ダイヤモ
ンド状炭素薄膜を形成する方法が記載されており、特開
昭64−31974号公報には、プラズマCVD法によ
り、炭素含有ガスと不活性ガスを用いて、成膜する方法
が記載されている。
Conventionally, as a method for producing a diamond-like carbon thin film, a thermal CVD method, a plasma CVD method, an ion beam method, an ion plating method, and the like have been known.
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-91100 discloses thermal CVD.
A method for forming a diamond-like carbon thin film using a carbon-containing gas and a hydrogen gas by a plasma method is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 64-31974. A method for forming a film by using is described.

【0004】しかしながら、上記熱CVD法及びプラズ
マCVD法は、真空度が低い状態で成膜するため、生成
した炭素含有活性種が基材表面に到達する前に、該活性
種同士が衝突して、別種の活性種を生成し、純粋なダイ
ヤモンド状炭素薄膜が形成されず、更に、基材温度が8
00℃以上の高温であるため、特定の基材にしか成膜で
きないという欠点を有していた。又、低圧条件下に於け
る薄膜合成は、真空設備が必要である上に、プラズマ密
度が大きくならず、成膜速度が遅い。これらはコスト的
に工業的には不利であるため、電子部品、光学部品等の
高価な処理品に対してしか適応されていない。
However, in the thermal CVD method and the plasma CVD method, since a film is formed in a low vacuum state, the activated carbon-containing active species collide with each other before the generated carbon-containing active species reach the substrate surface. , A different kind of active species is produced, a pure diamond-like carbon thin film is not formed, and
Because of the high temperature of 00 ° C. or higher, there was a drawback that a film could be formed only on a specific substrate. In addition, thin film synthesis under low pressure conditions requires vacuum equipment, does not increase plasma density, and is slow in film formation. Since these are industrially disadvantageous in cost, they are applied only to expensive processed products such as electronic components and optical components.

【0005】このため、大気圧近傍の圧力下で放電プラ
ズマを発生させる方法が提案され、例えば、特開平2−
48626号公報には、ヘリウム雰囲気下で処理を行う
方法が開示されており、又、特開平4−74525号公
報には、アルゴンとアセトン及び/又はヘリウムからな
る雰囲気下で処理を行う方法が開示されている。
[0005] For this reason, a method of generating discharge plasma at a pressure close to the atmospheric pressure has been proposed.
Japanese Patent No. 48626 discloses a method of performing a treatment in a helium atmosphere, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-74525 discloses a method of performing a treatment in an atmosphere comprising argon, acetone and / or helium. Have been.

【0006】しかし、上記の方法は、いずれもヘリウム
又はアセトンを含有するガス雰囲気でプラズマを発生さ
せる方法であり、ガス雰囲気が限定され、これらのガス
雰囲気下では、ダイヤモンド状炭素薄膜が生成するのに
十分な電子密度が得られない。このため、大気圧近傍の
圧力下では、ダイヤモンド状炭素薄膜を作ろうとする試
みはなされていなかった。
However, all of the above methods generate plasma in a gas atmosphere containing helium or acetone, and the gas atmosphere is limited. Under these gas atmospheres, a diamond-like carbon thin film is formed. Cannot obtain a sufficient electron density. Therefore, no attempt has been made to form a diamond-like carbon thin film under a pressure near atmospheric pressure.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述のよう
な問題を解消するためになされたものであり、大気圧近
傍の圧力の下で、均一且つ電子密度の高い放電プラズマ
を発生させて、ダイヤモンド状炭素薄膜を基材表面に高
速、且つ、低温で製造する方法を提供する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and it is intended to generate a uniform and high electron density discharge plasma under a pressure near the atmospheric pressure. And a method for producing a diamond-like carbon thin film on a substrate surface at high speed and at low temperature.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願の請求項1に記載の
発明(以下、第1発明という)のダイヤモンド状炭素薄
膜の製造方法は、大気圧近傍の圧力下で、対向電極の少
なくとも一方の対向面に固体誘電体を設置し、炭素並び
に酸素及び/又は水素を含有するガス雰囲気下で、当該
対向電極間にパルス化された電界を印加することにより
放電プラズマを発生させることを特徴とする。
The method for producing a diamond-like carbon thin film according to the first aspect of the present invention (hereinafter referred to as the first invention) is a method for producing at least one of the opposite electrodes under a pressure near atmospheric pressure. Discharge plasma is generated by placing a solid dielectric on the facing surface and applying a pulsed electric field between the facing electrodes in a gas atmosphere containing carbon and oxygen and / or hydrogen. .

【0009】本願の請求項2に記載の発明(以下、第2
発明という)のダイヤモンド状炭素薄膜の製造方法は、
第1発明に於いて、対向電極間の放電電流密度が0.2
〜300mA/cm2 である放電プラズマを利用するこ
とを特徴とする。
The invention described in claim 2 of the present application (hereinafter referred to as “second
The method for producing a diamond-like carbon thin film of the invention)
In the first invention, the discharge current density between the opposed electrodes is 0.2
It is characterized by utilizing discharge plasma of up to 300 mA / cm 2 .

【0010】本願の請求項3に記載の発明(以下、第3
発明という)のダイヤモンド状炭素薄膜の製造方法は、
第1発明又は第2発明に於いて、立ち上がり時間及び/
又は立ち下がり時間が40ns〜100μs、電界強度
が1〜100kV/cmであるパルス電界を印加するこ
とを特徴とする。
[0010] The invention described in claim 3 of the present application (hereinafter referred to as "third")
The method for producing a diamond-like carbon thin film of the invention)
In the first invention or the second invention, the rise time and / or
Alternatively, a pulse electric field with a fall time of 40 ns to 100 μs and an electric field intensity of 1 to 100 kV / cm is applied.

【0011】本願の請求項4に記載の発明(以下、第4
発明という)のダイヤモンド状炭素薄膜の製造方法は、
第1発明、第2発明又は第3発明に於いて、パルス化さ
れた電界に於ける、周波数が1〜100kHz、パルス
継続時間が1〜1000μsとなされていることを特徴
とする。
The invention described in claim 4 of the present application (hereinafter referred to as the fourth
The method for producing a diamond-like carbon thin film of the invention)
In the first, second, or third invention, the frequency of the pulsed electric field is 1 to 100 kHz, and the pulse duration is 1 to 1000 μs.

【0012】上記発明に於いて、第1発明〜第4発明
は、相互に関連する発明であるので、これらを纏めて本
発明と呼び、以下に説明する。
In the above inventions, the first invention to the fourth invention are mutually related inventions, so these are collectively referred to as the present invention and will be described below.

【0013】本発明に於いて、大気圧近傍の圧力下と
は、100〜800Torrの圧力下を指す。圧力調整
が容易で、装置が簡便になる700〜780Torrの
範囲が好ましい。
In the present invention, the term "under atmospheric pressure" refers to a pressure of 100 to 800 Torr. The pressure is preferably in the range of 700 to 780 Torr, which facilitates pressure adjustment and makes the apparatus simple.

【0014】本発明のプラズマ発生方法は、一対の対向
電極を有し、当該電極の対向面の少なくとも一方に固体
誘電体が設置されている装置に於いて行われる。プラズ
マが発生する部位は、上記電極の一方に固体誘電体を設
置した場合は、固体誘電体と電極の間、上記電極の双方
に固体誘電体を設置した場合は、固体誘電体同士の間の
空間である。
[0014] The plasma generation method of the present invention is performed in an apparatus having a pair of opposing electrodes, and a solid dielectric placed on at least one of the opposing surfaces of the electrodes. The portion where plasma is generated is between the solid dielectric and the electrode when a solid dielectric is installed on one of the electrodes, and between the solid dielectrics when the solid dielectric is installed on both of the electrodes. Space.

【0015】上記電極としては、銅、アルミニウム等の
金属単体、ステンレス、真鍮等の合金、金属間化合物等
からなるものが挙げられる。上記対向電極は、電界集中
によるアーク放電の発生を避けるために、対向電極間の
距離が略一定となる構造であることが好ましい。この条
件を満たす電極構造としては、平行平板型、円筒対向平
板型、球対向平板型、双曲面対向平板型、同軸円筒型構
造等が挙げられる。
Examples of the electrodes include those made of a simple metal such as copper and aluminum, alloys such as stainless steel and brass, and intermetallic compounds. It is preferable that the counter electrode has a structure in which the distance between the counter electrodes is substantially constant in order to avoid occurrence of arc discharge due to electric field concentration. Examples of an electrode structure that satisfies this condition include a parallel plate type, a cylindrical opposed plate type, a spherical opposed plate type, a hyperboloid opposed plate type, and a coaxial cylindrical structure.

【0016】上記固体誘電体は、上記電極の対向面の一
方又は双方に設置する。この際、固体誘電体と設置され
る側の電極が密着し、且つ、接する電極の対向面を完全
に覆うようにする。固体誘電体によって覆われずに電極
同士が直接対向する部位があると、そこからアーク放電
が生じるためである。
The solid dielectric is provided on one or both of the opposing surfaces of the electrode. At this time, the electrode on the side on which the solid dielectric is placed is in close contact with the electrode, and the opposing surface of the contacting electrode is completely covered. This is because if there is a portion where the electrodes directly face each other without being covered by the solid dielectric, an arc discharge occurs therefrom.

【0017】上記固体誘電体としては、ポリテトラフル
オロエチレン、ポリエチレンテレフタレート等のプラス
チック、ガラス、二酸化珪素、酸化アルミニウム、二酸
化ジルコニウム、二酸化チタン等の金属酸化物、チタン
酸バリウム等の複酸化物等が挙げられる。
Examples of the solid dielectric include plastics such as polytetrafluoroethylene and polyethylene terephthalate, glass, metal oxides such as silicon dioxide, aluminum oxide, zirconium dioxide and titanium dioxide, and double oxides such as barium titanate. No.

【0018】上記固体誘電体の形状は、シート状でもフ
ィルム状でもよいが、厚みが0.05〜4mmであるこ
とが好ましい。厚すぎると放電プラズマを発生するのに
高電圧を要し、薄すぎると電圧印加時に絶縁破壊が起こ
りアーク放電が発生するためである。
The solid dielectric may be in the form of a sheet or a film, but preferably has a thickness of 0.05 to 4 mm. If the thickness is too large, a high voltage is required to generate discharge plasma. If the thickness is too small, dielectric breakdown occurs when a voltage is applied, and arc discharge occurs.

【0019】上記電極間の距離は、固体誘電体の厚さ、
印加電圧の大きさ、プラズマを利用する目的等を考慮し
て決定されるが、1〜50mmであることが好ましい。
1mm未満では、電極間の間隔を置いて設置するのに充
分でない。50mmを超えると、均一な放電プラズマを
発生させることが困難である。
The distance between the electrodes is determined by the thickness of the solid dielectric,
It is determined in consideration of the magnitude of the applied voltage, the purpose of utilizing the plasma, and the like, and is preferably 1 to 50 mm.
If it is less than 1 mm, it is not enough to place the electrodes at intervals. If it exceeds 50 mm, it is difficult to generate uniform discharge plasma.

【0020】図1にパルス電圧波形の例を示す。波形
(A)、(B)はインパルス型、波形(C)は方形波
型、波形(D)は変調型の波形である。図1には電圧印
加が正負の繰り返しであるものを挙げたが、正又は負の
いずれかの極性側に電圧を印加するタイプのパルスを用
いても良い。
FIG. 1 shows an example of a pulse voltage waveform. Waveforms (A) and (B) are impulse waveforms, waveform (C) is a square wave waveform, and waveform (D) is a modulation waveform. Although FIG. 1 shows a case where the voltage application is repeated positive and negative, a pulse of a type that applies a voltage to either the positive or negative polarity side may be used.

【0021】本発明に於けるパルス電圧波形は、ここで
挙げた波形に限定されないが、パルスの立ち上がり時間
及び立ち下がり時間が短いほどプラズマ発生の際のガス
の電離が効率よく行われる。
The pulse voltage waveform in the present invention is not limited to the above-mentioned waveforms, but the shorter the rise time and the fall time of the pulse, the more efficient the ionization of the gas during plasma generation.

【0022】特に、パルスの立ち上がり時間及び/又は
立ち下がり時間が40ns〜100μsであることが好
ましく、より好ましくは50ns〜5μsである。40
ns未満では現実的でなく、100μsを超えると放電
状態がアークに移行し易く不安定なものとなる。尚、こ
こでいう立ち上がり時間とは、電圧変化が連続して正で
ある時間、立ち下がり時間とは、電圧変化が連続して負
である時間を指すものとする。
In particular, the rise time and / or fall time of the pulse is preferably 40 ns to 100 μs, more preferably 50 ns to 5 μs. 40
If it is less than ns, it is not realistic, and if it exceeds 100 μs, the discharge state easily shifts to an arc and becomes unstable. Here, the rise time refers to the time during which the voltage change is continuously positive, and the fall time refers to the time during which the voltage change is continuously negative.

【0023】更に、パルス波形、立ち上がり時間、周波
数の異なるパルスを用いて変調を行ってもよい。このよ
うな変調は高速連続製造を行うのに適している。
Further, modulation may be performed using pulses having different pulse waveforms, rise times, and frequencies. Such modulation is suitable for high-speed continuous manufacturing.

【0024】パルス電界の周波数は、1kHz〜100
kHzであることが好ましい。1kHz未満であると処
理に時間がかかりすぎ、100kHzを超えるとアーク
放電が発生し易くなる。
The frequency of the pulse electric field is 1 kHz to 100
Preferably, it is kHz. If it is less than 1 kHz, it takes too much time for the treatment, and if it exceeds 100 kHz, arc discharge is likely to occur.

【0025】又、パルス継続時間は、1μs〜1000
μsであることが好ましく、より好ましくは3μs〜2
00μsである。1μs未満であると放電が不安定なも
のとなり、1000μsを超えるとアーク放電に移行し
易くなる。ここに於いて、上記のパルス継続時間とは、
図2中に例を示してあるが、ON、OFFの繰り返しか
らなるパルス電界に於ける、パルスが連続する時間をい
う。図2(a)のような間欠型のパルスでは、パルス継
続時間はパルス幅時間と等しいが、図2(b)のような
波形のパルスでは、パルス幅時間と異なり、一連の複数
のパルスを含んだ時間をいう。
The pulse duration is 1 μs to 1000 μs.
μs, more preferably 3 μs to 2 μs.
00 μs. If it is less than 1 μs, the discharge becomes unstable, and if it exceeds 1000 μs, it is easy to shift to arc discharge. Here, the above pulse duration is
Although an example is shown in FIG. 2, it refers to the time during which a pulse is continuous in a pulse electric field composed of repetition of ON and OFF. In the case of the intermittent pulse as shown in FIG. 2A, the pulse duration is equal to the pulse width time, but in the case of the pulse having the waveform as shown in FIG. The time included.

【0026】更に、放電を安定させるためには、放電時
間1ms内に、少なくとも1μs継続するOFF時間を
有することが好ましい。
Further, in order to stabilize the discharge, it is preferable to have an OFF time lasting at least 1 μs within a discharge time of 1 ms.

【0027】上記放電は電界の印加によって行われる。
電界の大きさは適宜決められるが、本発明に於いては、
電極間の電界強度が1〜100kV/cmとなる範囲に
することが好ましい。電界強度が1kV/cm未満であ
るとダイヤモンド薄膜形成に時間がかかりすぎ、100
kV/cmを超えるとアーク放電が発生し易くなる。
又、上記パルス電圧の印加に於いて、直流を重畳しても
よい。
The discharge is performed by applying an electric field.
Although the magnitude of the electric field is determined as appropriate, in the present invention,
It is preferable that the electric field strength between the electrodes is in a range of 1 to 100 kV / cm. If the electric field strength is less than 1 kV / cm, it takes too much time to form a diamond thin film,
If it exceeds kV / cm, arc discharge is likely to occur.
In applying the pulse voltage, a direct current may be superimposed.

【0028】図3に、このようなパルス電界を印加する
際の電源のブロック図を示す。更に、図4に、電源の等
価回路図を示す。図4にSWと記されているのはスイッ
チとして機能する半導体素子である。上記スイッチとし
て500ns以下のターンオン時間及びターンオフ時間
を有する半導体素子を用いることにより、上記のような
電界強度が1〜100kV/cmであり、且つ、パルス
の立ち上がり時間及び立ち下がり時間が40ns〜10
0μsであるような高電圧、且つ、高速のパルス電界を
実現することができる。
FIG. 3 shows a block diagram of a power supply when such a pulsed electric field is applied. FIG. 4 shows an equivalent circuit diagram of the power supply. In FIG. 4, SW is a semiconductor element functioning as a switch. By using a semiconductor element having a turn-on time and a turn-off time of 500 ns or less as the switch, the electric field strength as described above is 1 to 100 kV / cm, and the rise time and fall time of the pulse are 40 ns to 10 ns.
A high-voltage and high-speed pulse electric field of 0 μs can be realized.

【0029】以下、図4の等価回路図を参照して、電源
の原理を簡単に説明する。+Eは、正極性の直流電圧供
給部、−Eは、負極性の直流電圧供給部である。SW1
〜4は、上記のような高速半導体素子から構成されるス
イッチ素子である。D1〜4はダイオードを示してい
る。I1 〜I4 は電流の流れ方向を表している。
Hereinafter, the principle of the power supply will be briefly described with reference to the equivalent circuit diagram of FIG. + E is a positive DC voltage supply unit, and -E is a negative DC voltage supply unit. SW1
Reference numerals 4 to 4 denote switch elements composed of the high-speed semiconductor elements as described above. D1 to D4 indicate diodes. I 1 to I 4 indicate the direction of current flow.

【0030】第一に、SW1がONにすると、正極性の
負荷が電流I1 の流れ方向に充電する。次に、SW1が
OFFになってから、SW2を瞬時にONにすることに
より、充電された電荷が、SW2とD4を通ってI3
方向に充電される。また次に、SW2がOFFになって
から、SW3をONにすると、負極性の負荷が電流I2
の流れ方向に充電する。次に、SW3がOFFになって
から、SW4を瞬時にONにすることにより、充電され
た電荷が、SW4とD2を通ってI4 の方向に充電され
る。上記一連の操作を繰り返し、図5の出力パルスを得
ることができる。表1にこの動作表を示す。
[0030] First, SW1 is when ON, the positive load is charged in the flow direction current I 1. Then, the SW1 is turned OFF, by turning ON the SW2 instantaneously, the electric charge charged is charged in the direction of I 3 through SW2 and D4. Next, when the switch SW3 is turned on after the switch SW2 is turned off, the load having the negative polarity causes the current I 2
Charge in the direction of flow. Next, the SW3 is turned OFF, by turning ON the SW4 instantaneously, the electric charge charged is charged in the direction of I 4 through SW4 and D2. By repeating the above series of operations, the output pulse of FIG. 5 can be obtained. Table 1 shows this operation table.

【0031】[0031]

【表1】 [Table 1]

【0032】この回路の利点は、負荷のインピーダンス
が高い場合であっても、充電されている電荷をSW2と
D4又はSW4とD2を動作させることによって確実に
放電することができる点、及び、高速ターンオンのスイ
ッチ素子であるSW1、SW3を使って高速に充電を行
うことができる点にあり、このため、図5のように立ち
上がり時間、立ち下がり時間の非常に早いパルス信号を
得ることができる。
The advantage of this circuit is that even if the load impedance is high, the charged electric charge can be reliably discharged by operating SW2 and D4 or SW4 and D2, and high-speed operation. High-speed charging can be performed using SW1 and SW3, which are turn-on switch elements. Therefore, a pulse signal having a very fast rise time and fall time as shown in FIG. 5 can be obtained.

【0033】上記の方法により得られる放電に於いて、
対向電極間の放電電流密度は、0.2〜300mA/c
2 であることが好ましい。
In the discharge obtained by the above method,
The discharge current density between the counter electrodes is 0.2 to 300 mA / c.
m 2 is preferred.

【0034】上記放電電流密度とは、放電により電極間
に流れる電流値を、放電空間に於ける電流の流れ方向と
直交する方向の面積で除した値をいい、電極として平行
平板型のものを用いた場合には、その対向面積で上記電
流値を除した値に相当する。本発明では、電極間にパル
ス電界を形成するため、パルス状の電流が流れるが、こ
の場合には、そのパルス電流の最大値、つまりピーク−
ピーク値を、上記の面積で除した値をいう。
The above-mentioned discharge current density is a value obtained by dividing a current value flowing between electrodes by discharge by an area in a direction orthogonal to a current flow direction in a discharge space. When used, it corresponds to a value obtained by dividing the current value by the facing area. In the present invention, a pulsed electric current flows to form a pulsed electric field between the electrodes. In this case, the maximum value of the pulse current, that is, the peak current
It means a value obtained by dividing the peak value by the above area.

【0035】大気圧近傍の圧力下でのグロー放電では、
放電電流密度がプラズマ密度を反映し、ダイヤモンド状
炭素薄膜の製造を左右する値であることが、本発明者ら
の研究により明らかにされており、電極間の放電電流密
度を前記した0.2〜300mA/cm2 の範囲とする
ことにより、均一且つ高電子密度である放電プラズマを
発生して良好なダイヤモンド状炭素薄膜の製造結果を得
ることができる。
In a glow discharge under a pressure near the atmospheric pressure,
It has been revealed by the present inventors that the discharge current density reflects the plasma density and is a value that influences the production of the diamond-like carbon thin film. By setting the range to 300 mA / cm 2 , discharge plasma having a uniform and high electron density is generated, and a good production result of a diamond-like carbon thin film can be obtained.

【0036】本発明に於いては、炭素並びに酸素及び/
又は水素を含有するガス(以下、原料ガスと呼ぶ)雰囲
気下で放電プラズマを発生させる。上記原料ガスは、そ
れぞれが別の化合物として存在しても良いが、例えば、
炭素と酸素を有する化合物、炭素と水素を有する化合
物、炭素と酸素と水素を化合物を用いても良い。
In the present invention, carbon, oxygen and / or
Alternatively, discharge plasma is generated in an atmosphere of a gas containing hydrogen (hereinafter, referred to as a source gas). The source gas may be present as a separate compound, for example,
A compound containing carbon and oxygen, a compound containing carbon and hydrogen, or a compound containing carbon, oxygen, and hydrogen may be used.

【0037】原料ガスを具体的に例示すると、メタノ−
ル、エタノ−ル等のアルコ−ル系ガス類、メタン、エタ
ン、プロパン、ブタン、ペンタン、ヘキサン等のアルカ
ン系ガス類、エチレン、プロピレン、ブテン、ペンテン
等のアルケン系ガス類、ペンタジエン、ブタジエン等の
アルカジエン系ガス類、アセチレン、メチルアセチレン
等のアルキン系ガス類、ベンゼン、トルエン、キシレ
ン、インデン、ナフタレン、フェナントレン等の芳香族
炭化水素系ガス類、シクロプロパン、シクロヘキサン等
のシクロアルカン系ガス類、シクロペンテン、シクロヘ
キセン等のシクロアルケン系ガス類、一酸化炭素、二酸
化炭素等の含酸素炭素化合物系ガスなどが挙げられ、こ
れらの少なくとも1種が使用できる。
As a specific example of the raw material gas, methano-
Alcohol-based gases such as toluene and ethanol; alkane-based gases such as methane, ethane, propane, butane, pentane and hexane; alkene-based gases such as ethylene, propylene, butene and pentene; pentadiene and butadiene Alkadiene-based gases, acetylene, alkyne-based gases such as methylacetylene, benzene, toluene, xylene, indene, naphthalene, aromatic hydrocarbon-based gases such as phenanthrene, cyclopropane, cycloalkane-based gases such as cyclohexane, Examples thereof include cycloalkene-based gases such as cyclopentene and cyclohexene, and oxygen-containing carbon compound-based gases such as carbon monoxide and carbon dioxide. At least one of these gases can be used.

【0038】上記の炭素含有ガスを二種以上使用する場
合、一つの構成成分として二酸化炭素ガスを使用するこ
とが好ましく、その割合は、二酸化炭素ガス以外の炭素
含有ガス/二酸化炭素ガスの混合比率として、1/1〜
1/3(vol比)であることが好ましい。二酸化炭素
ガスの比率が上記の範囲であると、ダイヤモンド状炭素
薄膜の形成速度向上の上で有利である。
When two or more of the above-mentioned carbon-containing gases are used, it is preferable to use carbon dioxide gas as one component, and the ratio is determined by the mixture ratio of carbon-containing gas other than carbon dioxide gas / carbon dioxide gas. As
It is preferably 1/3 (vol ratio). When the ratio of the carbon dioxide gas is in the above range, it is advantageous in improving the formation rate of the diamond-like carbon thin film.

【0039】炭素含有ガスのガス雰囲気中に占める濃度
は、2〜80vol%が好ましい。濃度が2vol%未
満の場合は、ダイヤモンド状炭素薄膜の形成速度が低下
し、80vol%を超えると、得られる薄膜がグラファ
イト状となる。
The concentration of the carbon-containing gas in the gas atmosphere is preferably from 2 to 80 vol%. When the concentration is less than 2 vol%, the formation rate of the diamond-like carbon thin film decreases, and when it exceeds 80 vol%, the obtained thin film becomes graphite-like.

【0040】酸素や水素は放電中で原子状となり、ダイ
ヤモンドと同時に生成するグラファイトを選択的に除去
する効果を有する。酸素や水素をガス雰囲気に存在させ
るためには、前記した有機化合物のガスを用いる以外
に、酸素ガス(O2 )や水素ガス(H2 )を用いても良
い。酸素ガス又は水素ガスを用いる場合は、酸素ガス又
は水素ガスのガス雰囲気中に占める濃度は、70vol
%を超えないことが好ましい。70vol%を超える場
合は、逆に、得られる薄膜がグラファイト状となる。
Oxygen and hydrogen become atomic during discharge, and have the effect of selectively removing graphite produced simultaneously with diamond. In order to make oxygen or hydrogen exist in the gas atmosphere, oxygen gas (O 2 ) or hydrogen gas (H 2 ) may be used in addition to the above-mentioned organic compound gas. When oxygen gas or hydrogen gas is used, the concentration of oxygen gas or hydrogen gas in the gas atmosphere is 70 vol.
% Is preferably not exceeded. On the other hand, if it exceeds 70 vol%, the obtained thin film becomes graphite-like.

【0041】又、上記原料ガスは、炭素並びに酸素及び
/又は水素を含有するガス以外のガスで希釈されても良
い。希釈ガスを使用することは、特に安全性の観点から
好ましい。本発明で使用される希釈ガスとしては、周期
律第0族の元素のガス及び窒素ガスが挙げられ、これら
の少なくとも1種が使用できる。具体的に例示すれば、
ヘリウム、アルゴン、ネオン、キセノン、窒素ガスなど
が挙げられる。希釈ガスのガス雰囲気中に占める濃度
は、20〜90vol%が好ましい。上記濃度が、20
vol%未満の場合は、得られる薄膜がグラファイト状
となり、90vol%を超えると、ダイヤモンド状炭素
薄膜の形成速度が低下する。
The source gas may be diluted with a gas other than a gas containing carbon and oxygen and / or hydrogen. The use of a diluting gas is particularly preferable from the viewpoint of safety. Examples of the diluent gas used in the present invention include a gas of an element belonging to Group 0 of the periodic table and a nitrogen gas, and at least one of them can be used. To give a concrete example,
Examples include helium, argon, neon, xenon, and nitrogen gas. The concentration of the dilution gas in the gas atmosphere is preferably 20 to 90 vol%. When the concentration is 20
If it is less than vol%, the resulting thin film will be graphite-like, and if it exceeds 90 vol%, the formation rate of the diamond-like carbon thin film will decrease.

【0042】更に、放電時のガス雰囲気にジボラン(B
3 BH3 )、ホスフィン(PH3、CH3 PH2
ど)等のボロン元素、燐元素を含有するガスを加えて薄
膜を形成することにより、半導体としての特性を向上さ
せることもできる。
Further, diborane (B
By adding a gas containing a boron element such as H 3 BH 3 ) or phosphine (PH 3 , CH 3 PH 2 ) or a phosphorus element to form a thin film, characteristics as a semiconductor can be improved.

【0043】以下、基材表面にダイヤモンド状炭素薄膜
を製造する方法について詳述する。本発明の方法は、一
対の対向電極を有し、当該電極の対向面の少なくとも一
方に固体誘電体が設置されている装置に於いて、上記電
極の一方に固体誘電体を設置した場合は固体誘電体と電
極の間の空間、上記電極の双方に固体誘電体を設置した
場合は固体誘電体同士の空間に基材を設置し、当該空間
中に発生する放電プラズマにより基材表面を処理するも
のである。
Hereinafter, a method for producing a diamond-like carbon thin film on a substrate surface will be described in detail. The method of the present invention is directed to an apparatus having a pair of opposed electrodes, wherein a solid dielectric is provided on at least one of the opposed surfaces of the electrodes. When a solid dielectric is installed in both the electrode and the space between the dielectric and the electrode, the base material is installed in the space between the solid dielectrics, and the surface of the base material is treated by discharge plasma generated in the space. Things.

【0044】本発明に使用される基材としては、ポリエ
チレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリカーボネ
ート、ポリエチレンテレフタレート、ポリフェニレンサ
ルファイト、ポリエーテルエーテルケトン、ポリテトラ
フルオロエチレン、アクリル樹脂等のプラスチック、ガ
ラス、セラミック、金属等が挙げられる。基材の形状と
しては、特に限定されるものではなく、板状、フィルム
状、様々な立体形状を有する基材に適用できる。
The substrate used in the present invention includes plastics such as polyethylene, polypropylene, polystyrene, polycarbonate, polyethylene terephthalate, polyphenylene sulphite, polyether ether ketone, polytetrafluoroethylene, and acrylic resin, glass, ceramic, and metal. And the like. The shape of the substrate is not particularly limited, and can be applied to substrates having a plate shape, a film shape, and various three-dimensional shapes.

【0045】図6に、本発明の製造方法を行う装置の一
例を示す。この装置に於いては下部電極15上に固体誘
電体16が設置されており、固体誘電体16と上部電極
14の間の空間に放電プラズマが発生する。容器12
は、ガス導入管18、ガス排出口20及びガス排気口2
1を備えており、原料ガスはガス導入管18から放電プ
ラズマ発生空間13に供給される。本発明に於いては、
発生した放電プラズマに接触した部位にダイヤモンド状
炭素薄膜が形成されるので、図6の例では基材17の上
面に該薄膜が形成される。基材の両面に該薄膜を施した
い場合は、放電プラズマ発生空間13に基材を浮かせて
設置すればよい。
FIG. 6 shows an example of an apparatus for performing the manufacturing method of the present invention. In this device, a solid dielectric 16 is provided on a lower electrode 15, and discharge plasma is generated in a space between the solid dielectric 16 and the upper electrode 14. Container 12
Is a gas inlet pipe 18, a gas outlet 20, and a gas outlet 2
The source gas is supplied to the discharge plasma generation space 13 from the gas introduction pipe 18. In the present invention,
Since a diamond-like carbon thin film is formed at a position in contact with the generated discharge plasma, the thin film is formed on the upper surface of the substrate 17 in the example of FIG. When it is desired to apply the thin film on both surfaces of the base material, the base material may be set up in the discharge plasma generation space 13 so as to float.

【0046】雰囲気ガスはプラズマ発生空間に均一に供
給されることが好ましい。原料ガスと希釈ガスの混合気
体からなる雰囲気ガス中で放電プラズマ処理を行う場
合、比重差が大きいため、供給時に不均一になり易く、
これを避けるような装置の工夫がなされていることが好
ましい。図6の装置に示された例では、ガス導入管18
が多孔構造をもつ上部電極14に連結されており、原料
ガスは、図示されていないガス混合器により混合された
上で、上部電極14の孔を通して基材上方からプラズマ
発生空間13に供給される。希釈ガスは、これと別に希
釈ガス導入管19を通って供給される。気体を均一に供
給可能であれば、このような構造に限定されず、気体を
攪拌又は高速で吹き付ける等の手段を用いてもよい。
It is preferable that the atmospheric gas is uniformly supplied to the plasma generation space. When performing the discharge plasma treatment in an atmosphere gas composed of a mixed gas of a raw material gas and a diluent gas, since the difference in specific gravity is large, it is likely to be uneven at the time of supply,
It is preferable that the device is designed so as to avoid this. In the example shown in the apparatus of FIG.
Is connected to the upper electrode 14 having a porous structure, and the raw material gas is mixed by a gas mixer (not shown) and then supplied to the plasma generation space 13 from above the substrate through the hole of the upper electrode 14. . The dilution gas is separately supplied through a dilution gas introduction pipe 19. The structure is not limited to such a structure as long as the gas can be supplied uniformly, and a means such as stirring or blowing the gas at a high speed may be used.

【0047】上記容器12の材質は、樹脂、ガラス等が
挙げられるが、特に限定されない。電極と絶縁のとれた
構造になっていれば、ステンレス、アルミニウム等の金
属を用いることもできる。
The material of the container 12 includes, for example, resin and glass, but is not particularly limited. Metals such as stainless steel and aluminum can also be used as long as they have a structure insulated from the electrodes.

【0048】[0048]

【発明の実施の形態】以下、本発明の方法を更に詳しく
説明するために、実施例をもって以下に説明する。電源
は、図4の等価回路図による電源(ハイデン社製、半導
体素子:IXYS社製、型番TO−247ADを使用)
を用いた。又、得られたダイヤモンド状炭素薄膜の評価
方法は下記の通りである。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the method of the present invention will be described in more detail with reference to examples. The power source is the power source according to the equivalent circuit diagram of FIG. 4 (made by Heiden, semiconductor device: manufactured by IXYS, model number TO-247AD).
Was used. The method for evaluating the obtained diamond-like carbon thin film is as follows.

【0049】評価方法 (1)膜の同定 ラマン分光装置(Nicolet社製、Raman 9
50)を使用して、得られた薄膜のラマン分光分析を行
い、ダイヤモンドに帰属するラマンスペクトルのピーク
値(1332/cm)の有無を確認することにより、得
られた薄膜がダイヤモンド状炭素薄膜であることを同定
した。 (2)膜の性状 得られた膜の結晶粒径を走査型電子顕微鏡(日立製作所
社製、EP−2000)で観察して評価を行った。
Evaluation method (1) Identification of film Raman spectrometer (manufactured by Nicolet, Raman 9)
50), the obtained thin film was subjected to Raman spectroscopic analysis, and the presence or absence of a peak value (1332 / cm) of the Raman spectrum attributed to diamond was confirmed. Something has been identified. (2) Properties of Film The crystal grain size of the obtained film was observed and evaluated with a scanning electron microscope (EP-2000, manufactured by Hitachi, Ltd.).

【0050】実施例1 図6に示した放電プラズマ処理装置を使用し、そのチャ
ンバーの内容積が10リッターで、ステンレス製の容器
12でできている。下部電極15は、直径が140mm
で、表面を比誘電率16の酸化ジルコニウム誘電体16
で被覆し、その上にシリコン基板17を配置した。基材
表面から2mm上方に上部電極14を配置した。上部電
極14は、直径が80mmで、その上に直径1mmの孔
が5mm間隔で配設し、表面を比誘電率16の酸化ジル
コニウム誘電体で被覆した。
Example 1 The discharge plasma processing apparatus shown in FIG. 6 was used. The chamber had an internal volume of 10 liters and was made of a stainless steel container 12. The lower electrode 15 has a diameter of 140 mm.
The surface is made of a zirconium oxide dielectric 16 having a relative dielectric constant of 16
, And a silicon substrate 17 was disposed thereon. The upper electrode 14 was arranged 2 mm above the substrate surface. The upper electrode 14 had a diameter of 80 mm, and holes with a diameter of 1 mm were arranged thereon at intervals of 5 mm. The surface was covered with a zirconium oxide dielectric having a relative dielectric constant of 16.

【0051】油回転ポンプを用いて、上記放電プラズマ
処理装置の中が0.1Torrになるまで排気を行い、
窒素ガスを希釈ガス導入管19から、装置内が760T
orrになるまで導入した。しかる後に、上部電極に接
続したガス導入管18からアセチレン2sccmと窒素
ガス998sccmとの混合気体を導入しながら、上部
電極14と下部電極15の間に、波高値18kV、周波
数8kHz、立ち上がり速度500ns、パルス継続時
間20μsのパルス電界を印加して、3分間放電を行
い、ダイヤモンド状炭素薄膜を成膜した。尚、放電電流
密度は60mA/cm2 で、成膜中の基板温度は100
℃であった。
Using the oil rotary pump, the inside of the discharge plasma processing apparatus was evacuated until the pressure reached 0.1 Torr.
Nitrogen gas was supplied from the dilution gas introduction pipe 19 to the inside of the device at 760T.
orr. Thereafter, while a mixed gas of acetylene 2 sccm and nitrogen gas 998 sccm is introduced from the gas introduction pipe 18 connected to the upper electrode, a peak value of 18 kV, a frequency of 8 kHz, a rising speed of 500 ns is applied between the upper electrode 14 and the lower electrode 15. A pulse electric field having a pulse duration of 20 μs was applied, discharge was performed for 3 minutes, and a diamond-like carbon thin film was formed. The discharge current density was 60 mA / cm 2 and the substrate temperature during film formation was 100
° C.

【0052】得られた薄膜を前記した方法で評価した結
果、ラマン分光分析で、1333/cmのダイヤモンド
に帰属するピ−クが確認され、走査型電子顕微鏡観察で
は、粒径0.3〜1μmの粒子が一面に並ぶダイヤモン
ドの結晶状態が観察された。断面観察から膜厚を測定し
た所、5点平均で0.5μmであった。それ故に、この
時の成膜速度は1 μm/時間であった。
As a result of evaluating the obtained thin film by the method described above, a peak attributed to 1333 / cm diamond was confirmed by Raman spectroscopy, and a particle size of 0.3 to 1 μm was observed by scanning electron microscope. Was observed in a crystal state of diamond in which the particles were lined up all over the surface. When the film thickness was measured from the cross-section observation, it was 0.5 μm on average at five points. Therefore, the deposition rate at this time was 1 μm / hour.

【0053】実施例2 炭素含有ガスとして、エチルアルコール25sccmを
使用したこと以外は、実施例1と同様にして、ダイヤモ
ンド状炭素薄膜を成膜した。得られた薄膜を評価した結
果、ラマン分光分析で、1333/cmのダイヤモンド
に帰属するピ−クが確認され、走査型電子顕微鏡観察で
は、粒径0.3〜1μmの粒子が一面に並ぶダイヤモン
ド結晶状態が観察された。成膜速度は0.8μm/時間
であった。
Example 2 A diamond-like carbon thin film was formed in the same manner as in Example 1, except that 25 sccm of ethyl alcohol was used as the carbon-containing gas. As a result of evaluating the obtained thin film, peaks attributed to 1333 / cm diamond were confirmed by Raman spectroscopy, and diamond particles having a particle diameter of 0.3 to 1 μm were lined up in a scanning electron microscope. A crystalline state was observed. The deposition rate was 0.8 μm / hour.

【0054】実施例3 基板をソーダガラス基板とした以外は、実施例1と同様
にして、ダイヤモンド状炭素薄膜を成膜した。得られた
薄膜を評価した結果、ラマン分光分析で、1333/c
mのダイヤモンドに帰属するピ−クが確認され、走査型
電子顕微鏡観察では、粒径0.3〜1μmの粒子が一面
に並ぶ結晶状態が観察された。成膜速度は1μm/時間
であった。
Example 3 A diamond-like carbon thin film was formed in the same manner as in Example 1 except that the substrate was a soda glass substrate. As a result of evaluating the obtained thin film, the result of Raman spectroscopy was 1333 / c.
The peak attributed to the diamond of m was confirmed, and in a scanning electron microscope observation, a crystal state in which particles having a particle size of 0.3 to 1 μm were arranged on one surface was observed. The film forming speed was 1 μm / hour.

【0055】比較例1 実施例1と同様のガス配合、基板に対し、15kHz、
150Wの正弦波を加えて、ダイヤモンド状炭素薄膜の
成膜を試みた。放電は生じるが、1時間の放電後も基板
上に変化が見られず、ラマン分光分析でダイヤモンドに
帰属するピ−クは得られず、走査型電子顕微鏡観察に於
いても基板表面に特別な粒子の析出は見られなかった。
Comparative Example 1 The same gas mixture as in Example 1 was applied to the substrate at a frequency of 15 kHz.
A sine wave of 150 W was applied to try to form a diamond-like carbon thin film. Although discharge occurred, no change was observed on the substrate even after 1 hour of discharge, peaks attributed to diamond were not obtained by Raman spectroscopic analysis, and a special electron beam was observed on the substrate surface by scanning electron microscope observation. No precipitation of particles was observed.

【0056】[0056]

【発明の効果】本発明の製造方法は、上述のように構成
されているので、ダイヤモンド状炭素薄膜が大気圧近傍
で、低温で高速に基板の上に成膜できる。従って、従来
よりも耐熱性の低い基材にも適用でき、大気圧近傍で、
高速で経済的に表面処理ができるので、適用用途範囲が
広がり、例えば、透明採光材、透明導電材、切削工具の
表面保護層、光学用材料、電子材料、化学工業材料等に
好適に用いられる。
According to the manufacturing method of the present invention, as described above, a diamond-like carbon thin film can be formed on a substrate at a low temperature and a high speed near the atmospheric pressure. Therefore, it can be applied to a substrate having lower heat resistance than before, and at around atmospheric pressure,
Since surface treatment can be performed at high speed and economically, the range of application is widened, and for example, it is suitably used for transparent daylighting materials, transparent conductive materials, surface protection layers of cutting tools, optical materials, electronic materials, chemical industrial materials, and the like. .

【0057】[0057]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 パルス電界の例を示す電圧波形図である。FIG. 1 is a voltage waveform diagram showing an example of a pulse electric field.

【図2】 パルス継続時間の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a pulse duration.

【図3】 パルス電界を発生させる電源のブロック図で
ある。
FIG. 3 is a block diagram of a power supply that generates a pulse electric field.

【図4】 パルス電界を発生させる電源の等価回路図で
ある。
FIG. 4 is an equivalent circuit diagram of a power supply that generates a pulse electric field.

【図5】 パルス電界の動作表に対応する出力パルス信
号の図である。
FIG. 5 is a diagram of an output pulse signal corresponding to an operation table of a pulse electric field.

【図6】 本発明のグロー放電プラズマ処理装置の一例
である。
FIG. 6 is an example of a glow discharge plasma processing apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11−1 高電圧パルス電源(交流電源) 11−2 直流電源 12 ステンレス製容器 13 放電プラズマ発生空間 14 上部電極 15 下部電極 16 固体誘電体 17 基材 18 ガス導入管(炭素含有ガス) 19 希釈ガス導入管 20 ガス排出口 21 排気口 11-1 High-voltage pulse power supply (AC power supply) 11-2 DC power supply 12 Stainless steel container 13 Discharge plasma generation space 14 Upper electrode 15 Lower electrode 16 Solid dielectric 17 Base material 18 Gas introduction pipe (carbon-containing gas) 19 Diluent gas Inlet pipe 20 Gas outlet 21 Exhaust port

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 大気圧近傍の圧力下で、対向電極の少な
くとも一方の対向面に固体誘電体を設置し、炭素並びに
酸素及び/又は水素を含有するガス雰囲気下で、当該対
向電極間にパルス化された電界を印加することにより放
電プラズマを発生させることを特徴とするダイヤモンド
状炭素薄膜の製造方法。
At least one opposing surface of a counter electrode is provided with a solid dielectric at a pressure close to the atmospheric pressure, and a pulse is applied between the counter electrodes under a gas atmosphere containing carbon and oxygen and / or hydrogen. A method for producing a diamond-like carbon thin film, comprising generating discharge plasma by applying a converted electric field.
【請求項2】 対向電極間の放電電流密度が0.2〜3
00mA/cm2 である放電プラズマを利用することを
特徴とする請求項1に記載のダイヤモンド状炭素薄膜の
製造方法。
2. The discharge current density between the opposed electrodes is 0.2 to 3
The method for producing a diamond-like carbon thin film according to claim 1, wherein a discharge plasma having a current of 00 mA / cm 2 is used.
【請求項3】 立ち上がり時間及び/又は立ち下がり時
間が40ns〜100μs、電界強度が1〜100kV
/cmであるパルス電界を印加することを特徴とする請
求項1又は2に記載のダイヤモンド状炭素薄膜の製造方
法。
3. A rise time and / or a fall time of 40 ns to 100 μs and an electric field intensity of 1 to 100 kV.
The method for producing a diamond-like carbon thin film according to claim 1 or 2, wherein a pulse electric field of / cm is applied.
【請求項4】 パルス化された電界に於ける、周波数が
1〜100kHz、パルス継続時間が1〜1000μs
となされていることを特徴とする請求項1、2又は3に
記載のダイヤモンド状炭素薄膜の製造方法。
4. The pulsed electric field has a frequency of 1 to 100 kHz and a pulse duration of 1 to 1000 μs.
The method for producing a diamond-like carbon thin film according to claim 1, 2 or 3, wherein:
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