JPH11106042A - Substrate processor - Google Patents
Substrate processorInfo
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- JPH11106042A JPH11106042A JP9270147A JP27014797A JPH11106042A JP H11106042 A JPH11106042 A JP H11106042A JP 9270147 A JP9270147 A JP 9270147A JP 27014797 A JP27014797 A JP 27014797A JP H11106042 A JPH11106042 A JP H11106042A
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- Japan
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- substrate
- processing
- vertical
- processing units
- holding
- Prior art date
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- Withdrawn
Links
Landscapes
- Coating Apparatus (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示デバイス
(LCD)、プラズマ表示デバイス(PDP)、半導体
デバイスおよび各種電子部品などの製造プロセスに用い
られ、LCDまたはPDP用ガラス基板、半導体基板お
よびプリント基板などの基板表面に対して、フォトレジ
スト膜などの薄膜の塗布処理やその乾燥処理などの所定
の処理を施す基板処理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used in a manufacturing process of a liquid crystal display device (LCD), a plasma display device (PDP), a semiconductor device and various electronic parts, and is used for a glass substrate for an LCD or PDP, a semiconductor substrate, and a print. The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a predetermined process such as a coating process of a thin film such as a photoresist film or a drying process on a surface of a substrate such as a substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、この種の基板処理装置は、クリー
ンルーム内の例えば液晶表示パネル製造工程や半導体装
置製造工程などに設置され、例えば液晶用ガラス角形基
板などの基板表面を洗浄する基板洗浄部および、例えば
フォトレジスト膜などを塗布するレジスト塗布部などの
各基板表面処理ユニットと、かかる表面処理の次工程と
してのベークユニット(ホットプレートやクールプレー
トなど)が用いられている。これらの各処理部は基本的
な処理工程を考慮して配置されており、それらの間を2
本のハンドを持つ基板搬送ロボットが基板を水平に保持
して走行移動し、基板を順次1枚ずつランダムにアクセ
スして受け渡し処理を行うことで、所要の処理が実行さ
れるようになっている。2. Description of the Related Art Conventionally, this type of substrate processing apparatus is installed in a clean room, for example, in a manufacturing process of a liquid crystal display panel or a semiconductor device, and cleans a substrate surface such as a glass square substrate for a liquid crystal. Further, for example, a substrate surface treatment unit such as a resist coating unit for applying a photoresist film or the like, and a bake unit (hot plate, cool plate, or the like) as a next process of the surface treatment are used. Each of these processing units is arranged in consideration of the basic processing steps.
A substrate transfer robot having a book hand moves while holding the substrate horizontally, and randomly accesses and sequentially transfers the substrates one by one to perform required processing. .
【0003】また、上記基板処理装置においては、基板
を処理する環境として、パーティクルの少ないクリーン
ルーム内での稼動が前提とされている。一般的には、ク
リーンルームは高レベルのクリーン度が要求され、パー
ティクルの浮遊を防止するために、クリーンルーム内に
は建物上方から清浄空気流であるダウンフローが供給さ
れており、さらに、浮遊するパーティクルなどが被処理
基板に再付着しにくいように、基板処理装置内にもダウ
ンフローを積極的に利用している。In the above-described substrate processing apparatus, it is assumed that the substrate processing apparatus operates in a clean room with few particles as an environment for processing the substrate. In general, a clean room requires a high level of cleanliness, and in order to prevent the floating of particles, a down flow, which is a clean air flow, is supplied from above the building into the clean room. The downflow is also actively used in the substrate processing apparatus so that the components do not easily adhere to the substrate to be processed.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
構成では、基板搬送ロボットが基板を水平に保持して走
行移動して各処理部にアクセスし基板を受渡し、さらに
各処理部においても基板を水平に保持した状態で各種処
理を施しているため、基板サイズが大型化するのに伴っ
て、基板の撓みが大きくなり搬送がしにくい上に、基板
に対する上下動による重力加速度で基板が割れるなどの
損傷が生じる虞があるという問題を有していた。この基
板が割れるなどの損傷は、特に、基板面に垂直な方向へ
高速搬送する場合に顕著なものとなる。However, in the above-mentioned conventional configuration, the substrate transport robot travels while holding the substrate horizontally, accesses each processing unit, transfers the substrate, and further transfers the substrate in each processing unit. Since various processes are performed while the substrate is held horizontally, as the size of the substrate increases, the deflection of the substrate increases, making it difficult to transport the substrate. However, there is a problem that there is a risk of causing damage. This damage such as cracking of the substrate is particularly remarkable when the substrate is transported at high speed in a direction perpendicular to the substrate surface.
【0005】また、各処理部への基板の給排が基板搬送
ロボットによるランダムアクセス方式であって搬送装置
としての自由度を満たすために、その構成および制御が
複雑になり高価なものになっているという問題を有して
いた。Further, the supply and discharge of substrates to and from each processing unit is a random access method using a substrate transfer robot, and the structure and control thereof become complicated and expensive in order to satisfy the degree of freedom as a transfer device. Had the problem that
【0006】さらに、基板処理装置が設置されるクリー
ンルーム内はダウンフローを積極的に利用しており、基
板を水平方向に保持して搬送したり基板を水平方向に保
持して各種処理を施したりしているため、ダウンフロー
が基板全面に吹き付けられることで、基板面へのパーテ
ィクルの付着率が高いという問題を有していた。Further, in the clean room where the substrate processing apparatus is installed, the down flow is positively used, and the substrate is held and transported in the horizontal direction, and various processes are performed while the substrate is held in the horizontal direction. As a result, the downflow is sprayed on the entire surface of the substrate, so that there is a problem that the adhesion rate of particles to the substrate surface is high.
【0007】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、構成が簡単で安価となり、基板の割れなどの損傷や
基板面へのパーティクルの付着を大幅に抑制することが
できる基板処理装置を提供することを目的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and has a simple and inexpensive substrate processing apparatus capable of greatly suppressing damage such as cracking of a substrate and adhesion of particles to a substrate surface. The purpose is to provide.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明の基板処理装置
は、基板を鉛直または傾斜姿勢で保持しつつ搬送して基
板に所定の処理を施す基板処理装置において、基板を鉛
直または傾斜姿勢で保持して少なくとも同一処理を施す
複数の処理部を有する処理手段と、この処理手段に基板
を受渡しするべく、基板を鉛直または傾斜姿勢で保持し
その基板面に沿った方向へ搬送する搬送手段と、複数の
処理部を前記搬送手段による搬送方向に対して交差する
方向へ移動させる移動手段とを備えたことを特徴とする
ものである。According to the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for carrying out predetermined processing on a substrate by transporting the substrate while holding the substrate in a vertical or inclined posture. A processing unit having a plurality of processing units that perform at least the same processing, and a transfer unit that holds the substrate in a vertical or inclined posture and transfers the substrate in a direction along the substrate surface, in order to transfer the substrate to the processing unit, Moving means for moving the plurality of processing units in a direction intersecting the transport direction of the transport means.
【0009】この構成により、搬送手段は基板面に垂直
な方向に搬送するのではなく基板面に沿った方向へ搬送
するので、基板の撓む方向には加速度がかからず、基板
の割れなどの損傷は防止される。また、クリーンルーム
内では、パーティクルの浮遊を防止するべくダウンフロ
ーを積極的に利用しているが、基板を鉛直または傾斜姿
勢で保持しつつ搬送手段による基板の搬送や処理手段に
よる各種処理を行っているので、ダウンフローが吹き付
けられるのは基板のごく狭い板厚面だけであって、浮遊
するパーティクルが被処理基板面に再付着しにくい構成
となっている。さらに、処理手段は、少なくとも同一処
理を施す複数の処理部を有することで、1つの処理工程
内に基板を長い処理時間プール可能となってより短い処
理タクトで搬送時間を制御することが可能となり、スル
ープットが向上すると共に、各処理部に基板を給排する
従来の基板搬送ロボットによるランダムアクセス方式に
比べてその構成および制御が簡単なものとなって、安価
となる。According to this structure, the transfer means does not transfer in a direction perpendicular to the substrate surface but in a direction along the substrate surface. Therefore, no acceleration is applied in the direction in which the substrate is bent, and the substrate is broken. Damage is prevented. In the clean room, the down flow is actively used to prevent the floating of particles.However, while holding the substrate in a vertical or inclined posture, the substrate is transported by the transport unit and various processes are performed by the processing unit. Therefore, the down flow is sprayed only on the very narrow plate surface of the substrate, so that the floating particles do not easily adhere to the surface of the substrate to be processed. Furthermore, since the processing means has a plurality of processing units for performing at least the same processing, the substrate can be pooled for a long processing time in one processing step, and the transport time can be controlled with a shorter processing tact. In addition, the throughput is improved, and the configuration and control thereof are simpler and cheaper than those of a conventional random access method using a substrate transfer robot that supplies and discharges substrates to and from each processing unit.
【0010】また、好ましくは、本発明の基板処理装置
における搬送手段は、第1の水平方向に基板を搬送する
ものであり、移動手段は第1の水平方向と直交する第2
の水平方向へ複数の処理部を移動させるように構成して
いる。Preferably, the transport means in the substrate processing apparatus of the present invention transports the substrate in a first horizontal direction, and the moving means includes a second transport means which is perpendicular to the first horizontal direction.
Are configured to move a plurality of processing units in the horizontal direction.
【0011】この構成により、移動手段は各工程間搬送
の方向と直交する方向へ複数の処理部を移動させるよう
にするので、1つの工程に複数の処理部を設ける場合に
装置がよりコンパクトになると共に簡単に構成可能とな
る。According to this configuration, the moving means moves the plurality of processing units in a direction orthogonal to the direction of the transport between the processes. Therefore, when a plurality of processing units are provided in one process, the apparatus is more compact. And can be easily configured.
【0012】さらに、好ましくは、本発明の基板処理装
置における複数の処理部は、基板に対して加熱処理また
は冷却処理を施す熱処理部である。Still preferably, in a substrate processing apparatus according to the present invention, the plurality of processing units are heat treatment units that perform a heating process or a cooling process on the substrate.
【0013】熱処理部は比較的長い処理タクトを有して
いるが、この構成により、熱処理部に複数の処理部を設
けて、1つの処理工程内に基板を長い処理時間プールす
るようにすれば、熱処理部以外のより短い処理タクトを
基準として搬送制御することが可能となって、スループ
ットの向上効果が良好に行われる。The heat treatment section has a relatively long processing tact. With this configuration, if a plurality of processing sections are provided in the heat treatment section and the substrates are pooled for a long processing time in one processing step. In addition, the transfer can be controlled based on shorter processing tacts other than the heat treatment section, and the effect of improving the throughput is favorably performed.
【0014】さらに、好ましくは、本発明の基板処理装
置における複数の処理部は、複数の処理部による処理中
の基板が互いに平行になるように複数の処理部を結合し
て構成されている。Still preferably, in a substrate processing apparatus according to the present invention, the plurality of processing units are configured by combining a plurality of processing units such that substrates being processed by the plurality of processing units are parallel to each other.
【0015】この構成により、基板が互いに平行に配設
されるように複数の処理部を結合して構成するようにす
れば、構成が簡単になると共に搬送の受渡しなど容易に
位置決めが行われ得る。According to this configuration, if a plurality of processing units are connected to each other so that the substrates are disposed in parallel with each other, the configuration is simplified and positioning can be easily performed such as transfer of the conveyance. .
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る基板処理装置
の実施形態について図面を参照して説明するが、本発明
は以下に示す実施形態に限定されるものではない。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to the embodiments described below.
【0017】図1は本発明の一実施形態の基板処理装置
の概略構成を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to one embodiment of the present invention.
【0018】図1において、基板処理装置1は、基板2
を各処理工程間で搬送する基板搬送装置3と、複数の基
板2を収納するカセット部21と、基板2の表面に付着
した有機物を分解除去する紫外線(UV)露光処理部4
と、この紫外線露光処理部4による露光後の基板2を洗
浄する洗浄処理部5と、この洗浄処理部5で洗浄した基
板2を加熱して乾燥させる複数のホットプレートよりな
る熱処理部6と、この乾燥後の基板2を密着強化剤の蒸
気雰囲気で加熱する複数のホットプレートよりなる熱処
理部7と、その後に温まった基板2を冷す複数のクール
プレートよりなる熱処理部8と、その冷却後の基板2の
表面にフォトレジストなどの塗布液を塗布する縦型の塗
布処理部9と、その塗布後の基板2を加熱してその塗布
液面から溶剤を飛ばして乾燥させる複数のホットプレー
トよりなる熱処理部10と、この塗布膜を加熱して乾燥
させた基板2を冷すクールプレートよりなる熱処理部1
1とを備えている。これらのクールプレートは、ホット
プレートでベーキングされた基板2の熱が次工程に影響
を及ぼさないように冷却するものである。In FIG. 1, a substrate processing apparatus 1 includes a substrate 2
Transport device 3 for transporting the substrate between processing steps, a cassette section 21 for accommodating a plurality of substrates 2, and an ultraviolet (UV) exposure processing section 4 for decomposing and removing organic substances attached to the surface of the substrate 2.
A cleaning processing unit 5 for cleaning the substrate 2 exposed by the ultraviolet exposure processing unit 4, a heat treatment unit 6 including a plurality of hot plates for heating and drying the substrate 2 cleaned by the cleaning processing unit 5, A heat treatment section 7 composed of a plurality of hot plates for heating the dried substrate 2 in the vapor atmosphere of the adhesion enhancer, a heat treatment section 8 composed of a plurality of cool plates for cooling the warmed substrate 2, and after cooling A vertical coating processing unit 9 for applying a coating liquid such as a photoresist on the surface of the substrate 2, and a plurality of hot plates for heating the coated substrate 2 to remove the solvent from the coating liquid surface and to dry. And a heat treatment unit 1 comprising a cool plate for cooling the substrate 2 which has been heated and dried.
1 is provided. These cool plates are for cooling so that the heat of the substrate 2 baked by the hot plate does not affect the next step.
【0019】これらの紫外線露光処理部4、洗浄処理部
5、熱処理部6、熱処理部7、熱処理部8、塗布処理部
9、熱処理部10および熱処理部11の各処理工程より
なる処理手段では、搬送されて来た基板2を鉛直姿勢で
保持して一連の各種処理をそれぞれ施すようになってい
る。特に、熱処理部6〜8,10はそれぞれ、基板を鉛
直または傾斜姿勢で保持しつつ同一の加熱処理または冷
却処理を施す複数の処理部を有している。このように、
複数の同一処理部を1つの処理工程内に設けることで、
1つの処理工程内に基板2を長い処理時間保有させるこ
とが可能となって、比較的処理時間を要する熱処理部
と、他の処理工程との処理タクトを合わせるようにして
いる。The processing means including the ultraviolet exposure processing unit 4, the cleaning processing unit 5, the heat treatment unit 6, the heat treatment unit 7, the heat treatment unit 8, the coating treatment unit 9, the heat treatment unit 10 and the heat treatment unit 11, The transported substrate 2 is held in a vertical posture, and a series of various processes are performed. In particular, each of the heat treatment units 6 to 8 and 10 has a plurality of treatment units that perform the same heat treatment or cooling treatment while holding the substrate in a vertical or inclined posture. in this way,
By providing a plurality of identical processing units in one processing step,
The substrate 2 can be held for a long processing time in one processing step, so that the processing cycle of the heat treatment section requiring a relatively long processing time and the processing time of another processing step are matched.
【0020】また、このような本発明の基板処理装置1
はクリーンルーム内に設置され、クリーンルーム内では
ダウンフローFを積極的に利用して、パーティクルの浮
遊を防止するようにしていると共に、搬送時および各種
処理時、基板2は鉛直または傾斜姿勢で保持されている
ため、ダウンフローが吹き付けられるのは基板の板厚面
だけでありその面積が極めて狭いようになっており、浮
遊するパーティクルが被処理基板面に再付着しにくいよ
うに構成している。Further, such a substrate processing apparatus 1 of the present invention
Is installed in a clean room, the down flow F is positively used in the clean room to prevent the floating of particles, and the substrate 2 is held in a vertical or inclined posture during transport and various processes. Therefore, the down flow is sprayed only on the thick surface of the substrate, and the area thereof is extremely small, so that the floating particles are hardly reattached to the surface of the substrate to be processed.
【0021】次に、同じ図1を用いて上記基板処理装置
1の各構成部材について詳細に説明する。Next, each component of the substrate processing apparatus 1 will be described in detail with reference to FIG.
【0022】この基板搬送装置3は、水平状に位置した
水平部材31と、この水平部材31に連設され垂直に位
置した垂直部材32とが略逆L字状の逆L字状構成部材
33を構成し、この水平部材31の先端部に沿って複数
の吸着保持手段34がそれぞれ基板2の幅方向に配設さ
れており、一列に並んだ複数の吸着保持手段34が基板
2の上端縁部を吸着し、基板2を垂下させた状態で保持
する構成となっている。また、基板搬送装置3は、垂直
に位置した垂直部材35と、この垂直部材35に連設さ
れ水平に位置した水平部材36とが略L字状のL字状構
成部材37を構成しており、各工程間の搬送方向(Y方
向)にスライド自在に構成している。また、この工程間
搬送用のL字状構成部材37に対して上記基板保持用の
逆L字状構成部材33が上下動自在に構成されており、
各工程から基板2を吸着保持手段34を介して受け渡し
自在に構成している。このように、工程間搬送用のL字
状構成部材37は、L字状構成部材37に対して上下動
自在に逆L字状構成部材33を載置した状態で、水平部
材36の下部にあるガイド部材38に案内されて、水平
駆動機構部39によって隣接2工程間をタクト移動自在
に構成しており、吸着保持手段34で基板2を保持して
次の工程に移動することができるようになっている。The substrate transporting device 3 comprises an inverted L-shaped component member 33 in which a horizontal member 31 positioned horizontally and a vertical member 32 connected to the horizontal member 31 and positioned vertically are substantially inverted L-shaped. A plurality of suction holding means 34 are respectively arranged along the leading end of the horizontal member 31 in the width direction of the substrate 2, and the plurality of suction holding means 34 arranged in a line are arranged at the upper edge of the substrate 2. In this configuration, the portion is sucked and the substrate 2 is held in a hanging state. Further, in the substrate transporting device 3, the vertical member 35 positioned vertically and the horizontal member 36 connected to the vertical member 35 and positioned horizontally form an L-shaped component member 37 having a substantially L shape. , It is configured to be slidable in the transport direction (Y direction) between the respective steps. In addition, the inverted L-shaped component member 33 for holding the substrate is configured to be vertically movable with respect to the L-shaped component member 37 for transporting between processes.
The substrate 2 is configured so as to be freely transferred from each process via the suction holding means 34. As described above, the L-shaped component member 37 for transporting between processes is disposed below the horizontal member 36 in a state where the inverted L-shaped component member 33 is placed on the L-shaped component member 37 so as to be vertically movable. Guided by a certain guide member 38, the horizontal drive mechanism 39 is configured to be able to move tact between two adjacent steps, and the suction and holding means 34 can hold the substrate 2 and move to the next step. It has become.
【0023】これらの逆L字状構成部材33のL字状構
成部材37に対する上下駆動や、水平駆動機構部39は
それぞれ、ステピングモータやサーボモータなどのモー
タおよびボールねじで構成してもよく、その他にシリン
ダ構成やラック・ピニオンの構成であってもよく、さら
にはモータとベルトやワイヤによる構成であっても良
く、種々の駆動機構が考えられる。The vertical drive of the inverted L-shaped member 33 with respect to the L-shaped member 37 and the horizontal drive mechanism 39 may be constituted by a motor such as a stepping motor or a servomotor and a ball screw. In addition, a cylinder configuration or a rack and pinion configuration may be used, and further, a configuration using a motor and a belt or a wire may be used, and various driving mechanisms are conceivable.
【0024】このように、基板搬送装置3は、基板2を
鉛直姿勢で保持しつつ基板面に沿った2方向(Y軸方向
の工程間方向Aと、Z軸方向の上下方向B)に搬送し、
各処理部において、基板2の受渡しをして基板2を鉛直
姿勢で保持しつつ所定の処理を施すようになっている。
なお、本実施形態では、説明を簡略化するために8工程
の処理部において4台の基板搬送装置3を同時に駆動さ
せて基板2を順次タクト送りするようにしているが、実
際には、スループット向上のために、8工程の全処理部
において8台の基板搬送装置3を同時に駆動させて基板
2をタクト送りするようになっている。As described above, the substrate transfer device 3 transfers the substrate 2 in two directions (inter-process direction A in the Y-axis direction and vertical direction B in the Z-axis direction) while holding the substrate 2 in the vertical position. And
In each processing unit, a predetermined process is performed while delivering the substrate 2 and holding the substrate 2 in a vertical posture.
In the present embodiment, for simplicity of description, the processing units of eight processes simultaneously drive the four substrate transporting devices 3 to sequentially feed the substrates 2 in a tact manner. In order to improve the performance, eight substrate transfer devices 3 are simultaneously driven in all the processing units of the eight processes, and the substrate 2 is tact-feeded.
【0025】また、上記紫外線露光処理部4、洗浄処理
部5、熱処理部6〜8、塗布処理部9、熱処理部10,
11の各処理工程は、図2の各加熱処理部HP1〜HP
3に示されている基板保持機構と同様に、後述するが、
基板2を保持する吸着ステージ43で構成されており、
この吸着ステージ43は基板2の被処理面を外側に向け
た状態で基板2を吸着して保持するようになっている。
この吸着ステージ43は、用いるサイズの基板2毎の外
周部に対応した適所に、吸引可能な吸着部材としての吸
盤(図示せず)が出退自在に為されている細長い凹部が
複数配設されており、基板2への吸盤による吸着後に吸
盤を凹部内の所定位置に引き込んで収納することで基板
2を保持するようになっている。また、この吸着ステー
ジ43による基板の保持状態は、鉛直(垂直)方向であ
ってもよく、また、傾斜した姿勢であってもよく、例え
ば基板2が吸着ステージ43の上側に位置するように若
干傾いた状態でもよい。さらに、吸着部材としての吸盤
(図示せず)が基板2の中央部を保持しないのは、基板
2の中央部は重要な回路などが配置される部分であり、
吸盤(図示せず)による真空吸引と解除によって温度が
下がったり上がったりすることで塗布むらなどの処理む
らとなるのを防止するためである。したがって、吸盤
(図示せず)の形状も基板2の外周部を吸引すべく、細
長い凹部と同様の細長い吸盤形状となっている。なお、
ここでは、吸着ステージ43による基板2の保持は、吸
盤(図示せず)による吸着の場合を示したが、基板2の
上下左右を爪状の部材でひっかけて保持するような構成
であってもよいことは言うまでもないことである。Further, the above-mentioned ultraviolet exposure processing section 4, cleaning processing section 5, heat treatment sections 6 to 8, coating processing section 9, heat treatment section 10,
11 correspond to each of the heat treatment sections HP1 to HP in FIG.
Like the substrate holding mechanism shown in FIG.
A suction stage 43 for holding the substrate 2,
The suction stage 43 sucks and holds the substrate 2 with the surface to be processed of the substrate 2 facing outward.
The suction stage 43 is provided with a plurality of elongated recesses in which suction cups (not shown) as suction members capable of being sucked and retracted are provided at appropriate positions corresponding to the outer peripheral portion of each substrate 2 of a size to be used. The suction cup is drawn into a predetermined position in the recess after being sucked by the suction cup to the substrate 2 and is stored to hold the substrate 2. The holding state of the substrate by the suction stage 43 may be in a vertical (vertical) direction, or may be in an inclined posture. For example, the holding state may be slightly adjusted so that the substrate 2 is positioned above the suction stage 43. It may be inclined. Furthermore, the reason why the suction cup (not shown) as the suction member does not hold the central portion of the substrate 2 is that the central portion of the substrate 2 is a portion where important circuits and the like are arranged.
This is to prevent processing irregularities such as coating irregularities due to a temperature drop or rise due to vacuum suction and release by a suction cup (not shown). Therefore, the suction cup (not shown) also has an elongated suction cup shape similar to that of the elongated recess in order to suck the outer peripheral portion of the substrate 2. In addition,
Here, the case where the suction stage 43 holds the substrate 2 by suction using a suction cup (not shown) has been described, but a configuration in which the upper, lower, left, and right sides of the substrate 2 are hooked and held by claw-shaped members may be used. The good thing is needless to say.
【0026】さらに、上記カセット部21、紫外線露光
処理部4、洗浄処理部5、熱処理部6〜8、塗布処理部
9、熱処理部10,11の各工程では、基板搬送装置3
の吸着保持手段34による基板2の受渡し位置と、各処
理ユニットにおける吸着ステージ43などの基板保持位
置(2点鎖線)との間で、基板を鉛直姿勢または傾斜姿
勢に基板を立てて保持しつつ上下移動させる上下移動手
段(図示せず)が配設されており、この上下移動手段
(図示せず)で吸着保持手段34から受け取った基板2
を基板保持位置まで下降させて吸着ステージ43で基板
2を吸引して鉛直姿勢または傾斜姿勢に保持した状態で
各種処理を施すようになっている。Further, in each of the cassette section 21, the ultraviolet exposure processing section 4, the cleaning processing section 5, the heat treatment sections 6 to 8, the coating processing section 9, and the heat treatment sections 10 and 11,
Between the delivery position of the substrate 2 by the suction holding means 34 and the substrate holding position (two-dot chain line) of the suction stage 43 or the like in each processing unit while holding the substrate in a vertical posture or an inclined posture. A vertical moving means (not shown) for vertically moving is provided, and the substrate 2 received from the suction holding means 34 by the vertical moving means (not shown).
Is lowered to the substrate holding position, the substrate 2 is sucked by the suction stage 43, and various processes are performed in a state where the substrate 2 is held in the vertical posture or the inclined posture.
【0027】これらの移動駆動手段や搬送駆動手段に接
続されている制御手段41は、電源手段42からの直流
電力の供給を受けており、各処理部の駆動機構や搬送駆
動機構を制御する中央演算処理装置(CPU)よりなる
マイクロコンピュータおよびその周辺回路(図示せず)
や、制御プログラムおよびその制御データなどを記憶す
る記憶部(図示せず)などで構成されており、それぞれ
同期してタクト送りするようになっている。これらの代
りに、移動駆動手段や搬送駆動手段に対して順次オン/
オフ制御するシーケンサ(図示せず)であってもよく、
この場合にはその構成がさらに簡単なものとなり安価と
なる。The control means 41 connected to the moving drive means and the transport drive means receives a supply of DC power from the power supply means 42, and controls a drive mechanism and a transport drive mechanism of each processing unit. A microcomputer comprising an arithmetic processing unit (CPU) and its peripheral circuits (not shown)
And a storage unit (not shown) for storing a control program and its control data, etc., and are adapted to perform tact feeding in synchronization with each other. Instead of these, the moving drive means and the transport drive means are sequentially turned on / off.
It may be a sequencer (not shown) that controls off.
In this case, the structure is further simplified and the cost is reduced.
【0028】図2は図1の熱処理部10における移動機
構および駆動手段の概略構成を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a schematic configuration of the moving mechanism and the driving means in the heat treatment section 10 of FIG.
【0029】図2において、熱処理部10における移動
機構および駆動手段は、ステッピングモータやサーボモ
ータなどの駆動手段としてのモータ51と、前後の軸受
部(図示せず)で軸支され、このモータ51の回転軸
(図示せず)に連結部(図示せず)を介して連結された
ボールねじ52と、このボールねじ52に螺合した移動
部材53と、この移動部材53の上面が下面で固着され
ていると共に3つのホットプレートである各加熱処理部
HP1〜HP3を載置した駆動側ベース部材54と、固
定側ベース部材55上にボールねじ52および移動部材
53の両側に平行に配設された一対のレール部材56
と、これらの両レール部材56に対してそれぞれ上方か
ら嵌合してスライド自在に案内されると共にその上面が
駆動側ベース部材54の下面に固着されている案内部材
57とを備えており、モータ51の駆動でボールねじ5
2が回転し、その回転でレール部材56に案内されて、
移動部材53と共に、各加熱処理部HP1〜HP3が載
置された駆動側ベース部材54が、X方向にスライド自
在に構成されている。この場合、モータ51は、固定側
ベース部材55上に立設されたモータ取付部材58に取
り付けられており、固定側ベース部材55内に、図示し
ない一方の軸受部および連結部が内蔵されている。In FIG. 2, a moving mechanism and a driving means in the heat treatment section 10 are supported by a motor 51 as a driving means such as a stepping motor or a servomotor, and a front and rear bearing (not shown). A ball screw 52 connected to a rotating shaft (not shown) of the same via a connecting portion (not shown), a moving member 53 screwed to the ball screw 52, and an upper surface of the moving member 53 is fixed at a lower surface. The driving side base member 54 on which each of the heat processing units HP1 to HP3, which are three hot plates, is mounted, and the ball screw 52 and the moving member 53 are disposed on the fixed side base member 55 in parallel on both sides. Pair of rail members 56
And a guide member 57 which is fitted to each of these rail members 56 from above and slidably guided, and the upper surface of which is fixed to the lower surface of the drive-side base member 54. Ball screw 5 by driving 51
2 rotates and is guided by the rail member 56 by the rotation,
Along with the moving member 53, a drive-side base member 54 on which the heat processing units HP1 to HP3 are mounted is configured to be slidable in the X direction. In this case, the motor 51 is mounted on a motor mounting member 58 erected on the fixed-side base member 55, and one of the bearings and the connecting portion (not shown) is built in the fixed-side base member 55. .
【0030】また、3つのホットプレートである各加熱
処理部HP1〜HP3の表面は吸着ステージ43で構成
されており、用いるサイズの基板2毎の外周部に対応し
た適所に、吸引可能な吸着部材としての吸盤(吸着パッ
ド)付リフトピン45が出退自在に為されている細長い
凹部46が複数配設されており、基板2への吸盤による
吸着後に吸盤を凹部46内の所定位置に引き込んで収納
することで基板2を諸定位置に保持するようになってい
る。The surface of each of the heat treatment sections HP1 to HP3, which are three hot plates, is constituted by a suction stage 43, and a suction member capable of suction is provided at an appropriate position corresponding to an outer peripheral portion of each substrate 2 of a size to be used. A plurality of elongated concave portions 46 are provided in which lift pins 45 with suction cups (suction pads) are provided so as to be able to freely move out and forth. By doing so, the substrate 2 is held at various positions.
【0031】以上のモータ51、ボールねじ52、移動
部材53および制御手段41によって移動手段が構成さ
れており、複数の処理部として各加熱処理部HP1〜H
P3を基板搬送装置3による各工程間の搬送方向に対し
て直交する方向へ移動させる構成となっている。A moving means is constituted by the motor 51, the ball screw 52, the moving member 53 and the control means 41, and each of the heating processing sections HP1 to HP1 as a plurality of processing sections.
The configuration is such that P3 is moved in a direction orthogonal to the transfer direction between the respective steps by the substrate transfer device 3.
【0032】上記構成により、まず、ローダに相当する
カセット部21に縦置きされた複数の基板2のうちから
1枚の基板を吸着保持手段34の受渡し位置まで上下移
動手段(図示せず)で押し上げて、基板2を基板搬送装
置3の吸着保持手段34で吸着保持して受取り、基板2
を垂下させた状態で所定位置まで引き上げる。さらに、
基板搬送装置3は、次の工程の処理部の真上の位置まで
タクト送りした後に、吸着保持手段34の受渡し位置ま
で下降させて各処理工程における上下移動手段に受け渡
す。この上下移動手段は基板2を所定の位置まで下降さ
せて各縦型処理ユニットの吸着ステージ43で吸着させ
て保持し、その処理工程毎の各種処理を行う。With the above configuration, first, one of the plurality of substrates 2 vertically placed in the cassette unit 21 corresponding to the loader is moved by the vertical moving means (not shown) to the transfer position of the suction holding means 34. The substrate 2 is pushed up, and the substrate 2 is sucked and held by the suction holding means 34 of the substrate transfer device 3 and received.
Is lifted up to a predetermined position in a state where is suspended. further,
The substrate transfer device 3 performs tact feeding to a position immediately above the processing unit in the next process, and then lowers the device to the delivery position of the suction holding unit 34 and transfers it to the vertical moving unit in each processing process. The vertical moving means lowers the substrate 2 to a predetermined position, sucks and holds the substrate 2 on the suction stage 43 of each vertical processing unit, and performs various processes for each processing step.
【0033】次に、基板2の吸着ステージによる吸着保
持を解除して、この工程で処理が終わった基板2を上下
移動手段で吸着保持手段34の受渡し位置まで押し上げ
て、基板搬送装置3の吸着保持手段34で吸着保持して
受取り、基板2を垂下させた状態で所定位置まで引き上
げる。さらに、基板搬送装置3は、次の工程の処理部の
真上の位置まで搬送した後に、吸着保持手段34の受渡
し位置まで下降させて上下移動手段に受け渡す。この上
下移動手段は基板2を所定の処理位置まで下降させて各
縦型処理ユニットの吸着ステージ43で吸着させて保持
し、各種処理を行う。Next, the suction holding of the substrate 2 by the suction stage is released, and the substrate 2 processed in this step is pushed up to the transfer position of the suction holding means 34 by the vertical moving means, and the suction of the substrate transfer device 3 is performed. The substrate 2 is sucked and held by the holding means 34 and received, and is pulled up to a predetermined position while the substrate 2 is suspended. Further, the substrate transport device 3 transports the wafer to a position immediately above the processing unit in the next step, and then lowers the wafer to the delivery position of the suction holding unit 34 and delivers it to the vertical moving unit. The vertical moving means lowers the substrate 2 to a predetermined processing position, sucks and holds the substrate 2 on the suction stage 43 of each vertical processing unit, and performs various processes.
【0034】このようにして、上記一連の各工程の各縦
型処理ユニットで処理が終わった基板2は順次タクト送
りされて基板処理装置1による各工程毎の各種処理を終
えることになる。その後、基板2は基板処理装置1の処
理方向に並んだ例えば露光処理装置44に送られて、基
板2に塗布されたフォトレジストに対して露光処理が施
されることになる。In this manner, the substrates 2 which have been processed in each of the vertical processing units in each of the above-described series of processes are sequentially tact-fed to finish various processes in each process by the substrate processing apparatus 1. Thereafter, the substrate 2 is sent to, for example, an exposure processing apparatus 44 arranged in the processing direction of the substrate processing apparatus 1, and the photoresist applied to the substrate 2 is subjected to exposure processing.
【0035】このとき、例えばホットプレートなどによ
る熱処理には時間がかかるため、複数のホットプレート
などの複数の縦型処理ユニットを並設することで処理タ
クトをかせぐことができ、処理タクトを短いタクトに合
わせることが可能となって、生産性が向上可能となる。
この場合、並列に設けた複数の縦型処理ユニットを、こ
のタクト送りに同期させて移動させる移動機構および駆
動手段を配設することで、各工程における処理タクトが
略同じになって時間的ムダをより抑制した効率的なタク
ト送りが可能となる。At this time, for example, heat treatment using a hot plate or the like takes a long time. Therefore, by arranging a plurality of vertical processing units such as a plurality of hot plates in parallel, a processing tact can be obtained. And productivity can be improved.
In this case, by disposing a moving mechanism and a driving means for moving a plurality of vertical processing units provided in parallel in synchronism with the tact feeding, the processing tact in each step becomes substantially the same, and the time wasted. , And efficient tact feeding can be achieved.
【0036】このように、ホットプレートなど複数の縦
型処理ユニットを並設した場合には、処理タクトはかせ
げるものの、基板搬送装置3との基板2の受渡し位置が
変化するため、基板搬送装置3または複数の縦型処理ユ
ニットの何れかを受渡し位置まで動かして受渡し位置を
一定にする必要があるが、基板2を垂下させた状態で基
板搬送装置3をX方向に移動させると、基板2の面に垂
直な方向に空気の抵抗に抗して動くことになって、基板
2が撓んて損傷の原因になったり基板2が風を切って渦
流を基板表面上で形成させたりして乾燥むらなどを作っ
たりする虞がある。このため、本実施形態では、その受
渡しのための位置まで複数の縦型処理ユニット側を移動
させて受渡し位置を一定にしている。As described above, when a plurality of vertical processing units such as a hot plate are arranged in parallel, the transfer position of the substrate 2 to and from the substrate transfer device 3 changes, although the processing tact is reduced. Alternatively, it is necessary to move any one of the plurality of vertical processing units to the transfer position to keep the transfer position constant. However, when the substrate transfer device 3 is moved in the X direction while the substrate 2 is suspended, The substrate 2 moves in a direction perpendicular to the surface against the resistance of air, and the substrate 2 bends and causes damage, or the substrate 2 cuts off the wind and forms a vortex on the substrate surface to dry. There is a possibility that unevenness or the like may be created. For this reason, in this embodiment, the delivery position is kept constant by moving the plurality of vertical processing units to the delivery position.
【0037】以上のように、本実施形態によれば、基板
搬送装置3は基板2の被処理面に垂直な方向に搬送する
のではなく基板2の被処理面に沿った方向へ搬送するた
め、基板2の撓む方向には加速度がかからず、基板2の
割れなどの損傷を防止することができる。つまり、基板
2を鉛直または傾斜姿勢で保持して面に沿った搬送を行
うことで、基板2の撓み量が殆ど無視できて、特に高速
搬送による基板2への損傷が大幅に抑制され得る。ま
た、基板2の搬送方向がY軸,Z軸共に基板2の板厚方
向ではなく基板面に沿った方向であるため風切り現象が
少ないため、この風切り現象による渦気流がなく、特
に、塗布後の塗布膜の乾燥ムラが抑制され得る。As described above, according to the present embodiment, the substrate transport device 3 transports the substrate 2 not in the direction perpendicular to the processing surface but in the direction along the processing surface of the substrate 2. In addition, no acceleration is applied in the direction in which the substrate 2 bends, and damage such as cracking of the substrate 2 can be prevented. That is, by carrying the substrate 2 in a vertical or inclined posture and carrying it along the surface, the amount of bending of the substrate 2 can be almost ignored, and damage to the substrate 2 due to high-speed carrying can be greatly suppressed. Further, since the transport direction of the substrate 2 is not in the thickness direction of the substrate 2 but in the direction along the substrate surface in both the Y-axis and the Z-axis, there is little wind-off phenomenon, and there is no eddy current caused by this wind-off phenomenon. Drying unevenness of the coating film can be suppressed.
【0038】また、クリーンルーム内では、パーティク
ルの浮遊を防止するべくダウンフローFを積極的に利用
しているが、各工程における吸着ステージ43で基板2
を鉛直または傾斜姿勢で保持しつつ基板搬送装置3によ
る各工程間の基板2の搬送や各工程による各種処理を行
っているため、ダウンフローが吹き付けられるのは基板
2のごく狭い板厚面だけであって、浮遊するパーティク
ルが基板2の被処理面に再付着しにくい。In the clean room, the downflow F is actively used to prevent the floating of particles.
Since the substrate 2 is transported between each process by the substrate transport device 3 and various processes are performed while holding the substrate in a vertical or inclined posture, the downflow is sprayed only on the very narrow plate surface of the substrate 2. Therefore, the floating particles are unlikely to re-attach to the surface of the substrate 2 to be processed.
【0039】さらに、熱処理部6〜8,10,11で
は、同一処理を施す複数の処理部を有しており、1つの
処理工程内に基板2を長い処理時間プール可能となって
より短い処理タクトで搬送時間を制御することができる
ため、スループットをより向上させることができると共
に、各処理部に基板2を給排する従来の基板搬送ロボッ
トによるランダムアクセス方式に比べて制御構成をシン
プルなものとすることができてより安価となる。Further, the thermal processing units 6 to 8, 10, and 11 have a plurality of processing units for performing the same processing, and the substrate 2 can be pooled for a long processing time in one processing step, thereby shortening the processing time. Since the transfer time can be controlled by the tact, the throughput can be further improved, and the control configuration is simpler than the conventional random access method by the conventional substrate transfer robot that supplies and discharges the substrate 2 to each processing unit. And it becomes cheaper.
【0040】さらに、移動手段は各工程間搬送の方向と
直交する方向へ複数の処理部を移動させるようにするた
め、1つの工程に複数の処理部を設ける場合に装置をよ
りコンパクト化することができると共に簡単な構成とす
ることができる。また、複数段のベークプレートを装置
のライン長に直交する方向(X方向)に並べ、しかもス
ライドできるようにしたことにより、装置のライン長を
短くすることができる。Further, since the moving means moves the plurality of processing units in a direction orthogonal to the direction of conveyance between the processes, the apparatus can be made more compact when a plurality of processing units are provided in one process. And a simple configuration. Further, by arranging a plurality of stages of bake plates in a direction (X direction) orthogonal to the line length of the apparatus and by allowing them to slide, the line length of the apparatus can be shortened.
【0041】さらに、熱処理部6〜8,10,11は比
較的長い処理タクトを有しており、熱処理部6〜8,1
0,11に複数の同一処理部を設ければ、1つの処理工
程内に基板2を長い処理時間プールすることが可能なた
め、熱処理部以外のより短い処理タクトを基準として搬
送制御することができて、スループットの向上効果を良
好なものとすることができる。Furthermore, the heat treatment sections 6 to 8, 10, and 11 have a relatively long processing tact, and
If a plurality of identical processing units are provided in 0 and 11, the substrate 2 can be pooled for a long processing time in one processing step, so that transport control can be performed based on a shorter processing tact other than the heat treatment unit. As a result, the effect of improving the throughput can be improved.
【0042】さらに、基板2が互いに平行に配設される
ように複数の同一処理部を結合して構成しているため、
その構成を簡単なものとすることができると共に搬送の
受渡しなど容易に位置決めを行うことができる。Further, since a plurality of identical processing units are combined so that the substrates 2 are arranged in parallel with each other,
The configuration can be simplified, and positioning can be easily performed, such as delivery of the conveyance.
【0043】なお、本実施形態では、基板2を鉛直また
は傾斜姿勢で保持して少なくとも同一処理を施す複数の
処理部を有する処理手段として、紫外線露光処理部4、
洗浄処理部5、熱処理部6、熱処理部7、熱処理部8、
塗布処理部9、熱処理部10および熱処理部11の各処
理工程を有しており、これらの各処理工程よりなる処理
手段のうち、熱処理部6〜8,10についてはそれぞ
れ、基板2を鉛直または傾斜姿勢で保持しつつ同一の加
熱処理または冷却処理を施す複数の処理部を有し、その
他の紫外線露光処理部4、洗浄処理部5および塗布処理
部9についてはそれぞれ上記複数の処理部を有せず1つ
の処理部だけを有する構成としたが、処理手段が、基板
2を鉛直または傾斜姿勢で保持しつつ同一の加熱処理ま
たは冷却処理を施す複数の処理部だけを有する1つまた
は複数の処理部(複数の工程)で構成されていてもよ
い。In this embodiment, as the processing means having a plurality of processing units for holding the substrate 2 in a vertical or inclined posture and performing at least the same processing, the ultraviolet exposure processing unit 4
Cleaning processing unit 5, heat treatment unit 6, heat treatment unit 7, heat treatment unit 8,
It has the respective processing steps of a coating processing section 9, a heat treatment section 10 and a heat treatment section 11, and among the processing means composed of these processing steps, the heat treatment sections 6 to 8 and 10 respectively have the substrate 2 vertically or It has a plurality of processing units for performing the same heat treatment or cooling process while holding it in an inclined posture, and the other ultraviolet exposure processing unit 4, cleaning processing unit 5, and coating processing unit 9 have the plurality of processing units, respectively. However, the processing unit has only one processing unit, but the processing unit has one or more processing units having only a plurality of processing units that perform the same heating process or cooling process while holding the substrate 2 in a vertical or inclined posture. It may be composed of a processing unit (a plurality of steps).
【0044】[0044]
【発明の効果】以上のように請求項1によれば、搬送手
段は基板面に垂直な方向に搬送するのではなく基板面に
沿った方向へ搬送するため、基板の撓む方向には加速度
がかからず、基板の割れなどの損傷を防止することがで
きる。また、クリーンルーム内では、パーティクルの浮
遊を防止するべくダウンフローを積極的に利用している
が、基板を鉛直または傾斜姿勢で保持しつつ搬送手段に
よる基板の搬送や処理手段による各種処理を行っている
ため、ダウンフローが吹き付けられるのは基板のごく狭
い板厚面だけであって、浮遊するパーティクルが被処理
基板面に再付着しにくい構成とすることができる。さら
に、処理手段は、少なくとも同一処理を施す複数の処理
部を有することで、1つの処理工程内に基板を長い処理
時間プール可能となってより短い処理タクトで搬送時間
を制御することができるため、スループットをより向上
させることができると共に、各処理部に基板を給排する
従来の基板搬送ロボットによるランダムアクセス方式に
比べてその構成および制御を簡単なものとすることがで
きてより安価となる。As described above, according to the first aspect of the present invention, the transporting means transports not in the direction perpendicular to the substrate surface but in the direction along the substrate surface. And damage such as cracking of the substrate can be prevented. In the clean room, the down flow is actively used to prevent the floating of particles.However, while holding the substrate in a vertical or inclined posture, the substrate is transported by the transport unit and various processes are performed by the processing unit. Therefore, the down flow is sprayed only on the very narrow plate thickness surface of the substrate, so that it is possible to adopt a configuration in which floating particles do not easily adhere to the surface of the substrate to be processed. Further, since the processing means has at least a plurality of processing units for performing the same processing, the substrate can be pooled for a long processing time in one processing step, and the transport time can be controlled with a shorter processing tact. The throughput and the throughput can be further improved, and the configuration and control thereof can be simplified and the cost can be reduced as compared with a conventional random access method using a substrate transfer robot that supplies and discharges a substrate to and from each processing unit. .
【0045】また、請求項2によれば、移動手段は各工
程間搬送の方向と直交する方向へ複数の処理部を移動さ
せるようにするため、1つの工程に複数の処理部を設け
る場合に装置をよりコンパクト化することができると共
に簡単な構成とすることができる。According to the second aspect, the moving means moves the plurality of processing units in a direction orthogonal to the direction of the inter-process transfer, so that a plurality of processing units are provided in one process. The apparatus can be made more compact and can have a simple configuration.
【0046】さらに、請求項3によれば、熱処理部は比
較的長い処理タクトを有しており、熱処理部に複数の処
理部を設けて、1つの処理工程内に基板を長い処理時間
プールすることが可能なため、熱処理部以外のより短い
処理タクトを基準として搬送制御することができて、ス
ループットの向上効果を良好なものとすることができ
る。Further, according to the third aspect, the heat treatment section has a relatively long processing tact, and a plurality of processing sections are provided in the heat treatment section to pool the substrates in one processing step for a long processing time. Therefore, the transfer can be controlled based on a shorter processing tact other than the heat treatment unit, and the effect of improving the throughput can be improved.
【0047】さらに、請求項4によれば、基板が互いに
平行に配設されるように複数の処理部を結合して構成す
るため、その構成を簡単なものとすることができると共
に搬送の受渡しなど容易に位置決めを行うことができ
る。Further, according to the fourth aspect, since a plurality of processing units are combined and configured so that the substrates are arranged in parallel with each other, the configuration can be simplified and the transfer of the conveyance can be achieved. For example, positioning can be easily performed.
【図1】本発明の一実施形態の基板処理装置の概略構成
を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view illustrating a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の熱処理部10における移動機構および駆
動手段の概略構成を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a schematic configuration of a moving mechanism and a driving unit in the heat treatment unit 10 of FIG.
1 基板処理装置 2 基板 3 基板搬送装置 6〜8,10,11 熱処理部 34 吸着保持手段 39 水平駆動機構部 41 制御手段 43 吸着ステージ 51 モータ 52 ボールねじ 53 移動部材 HP1〜HP3 加熱処理部(ホットプレート) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing apparatus 2 Substrate 3 Substrate transfer apparatus 6-8, 10, 11 Heat treatment part 34 Suction holding means 39 Horizontal drive mechanism part 41 Control means 43 Suction stage 51 Motor 52 Ball screw 53 Moving member HP1-HP3 Heat processing part (hot plate)
Claims (4)
搬送して基板に所定の処理を施す基板処理装置におい
て、 基板を鉛直または傾斜姿勢で保持して少なくとも同一処
理を施す複数の処理部を有する処理手段と、 この処理手段に基板を受渡しするべく、基板を鉛直また
は傾斜姿勢で保持しその基板面に沿った方向へ搬送する
搬送手段と、 前記複数の処理部を前記搬送手段による搬送方向に対し
て交差する方向へ移動させる移動手段とを備えたことを
特徴とする基板処理装置。1. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a substrate by transporting the substrate while holding the substrate in a vertical or inclined position, comprising a plurality of processing units for holding at least the same process while holding the substrate in a vertical or inclined position. Processing means having; a transfer means for holding a substrate in a vertical or inclined posture and transferring the plurality of processing units in a direction along the substrate surface in order to transfer the substrate to the processing means; and a transfer direction of the plurality of processing units by the transfer means. And a moving means for moving in a direction intersecting with the substrate processing apparatus.
搬送するものであり、前記移動手段は前記第1の水平方
向と直交する第2の水平方向へ前記複数の処理部を移動
させるように構成したことを特徴とする請求項1に記載
の基板処理装置。2. The transporting means transports a substrate in a first horizontal direction, and the moving means moves the plurality of processing units in a second horizontal direction orthogonal to the first horizontal direction. 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is configured as described above.
処理または冷却処理を施す熱処理部であることを特徴と
する請求項1または2に記載の基板処理装置。3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the plurality of processing units are heat treatment units that perform a heating process or a cooling process on the substrate.
による処理中の基板が互いに平行になるように前記複数
の処理部を結合して構成されていることを特徴とする請
求項1〜3の何れかに記載の基板処理装置。4. The processing unit according to claim 1, wherein the plurality of processing units are configured by combining the plurality of processing units such that substrates being processed by the plurality of processing units are parallel to each other. 4. The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9270147A JPH11106042A (en) | 1997-10-02 | 1997-10-02 | Substrate processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9270147A JPH11106042A (en) | 1997-10-02 | 1997-10-02 | Substrate processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11106042A true JPH11106042A (en) | 1999-04-20 |
Family
ID=17482206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9270147A Withdrawn JPH11106042A (en) | 1997-10-02 | 1997-10-02 | Substrate processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11106042A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007095892A (en) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate-processing apparatus |
US9703199B2 (en) | 2004-12-06 | 2017-07-11 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate processing apparatus |
-
1997
- 1997-10-02 JP JP9270147A patent/JPH11106042A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9703199B2 (en) | 2004-12-06 | 2017-07-11 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate processing apparatus |
JP2007095892A (en) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate-processing apparatus |
JP4761907B2 (en) * | 2005-09-28 | 2011-08-31 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20041207 |