JPH1094484A - Cooking utensil - Google Patents

Cooking utensil

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Publication number
JPH1094484A
JPH1094484A JP27176296A JP27176296A JPH1094484A JP H1094484 A JPH1094484 A JP H1094484A JP 27176296 A JP27176296 A JP 27176296A JP 27176296 A JP27176296 A JP 27176296A JP H1094484 A JPH1094484 A JP H1094484A
Authority
JP
Japan
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optical semiconductor
water
layer
cooking utensil
containing layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP27176296A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masakazu Kogo
雅一 古後
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toto Ltd
Original Assignee
Toto Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toto Ltd filed Critical Toto Ltd
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Publication of JPH1094484A publication Critical patent/JPH1094484A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cooking utensil of high cleanliness based on a new principle, having a capability of realizing the high cleanliness even in the case of versatile materials used for a substrate. SOLUTION: The cooking utensile (hot plate 1) has an optical semiconductor- contained layer formed on the surface of a cooking plate 2 in contact with food, and the surface of the layer becomes highly hydrophilic in response to an optical excitation effect. When the surface is highly hydrophilic, a hydrophilic contaminant (fat and oil or the like) does not adhere to the surface of the utensil in the presence of water. Also, a contaminant deposited without the presence of water can be washed away with water. On the other hand, a hydrophilic contaminant adheres to the surface of the utensil, but can be washed way with water.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、フライパンやボウ
ル、ホットプレート等の調理器具に関する。特には、汚
れが付きにくい、あるいは汚れを落とし易い高清浄性調
理器具に関する。
The present invention relates to cooking utensils such as frying pans, bowls and hot plates. In particular, the present invention relates to a highly clean cooking utensil which is difficult to be stained or which is easily cleaned.

【0002】[0002]

【従来の技術】フライパンやホットプレート等では、食
品を調理する面にいわゆるテフロン加工の施されたもの
が市販されている。このテフロン加工面は、食品の焦げ
付きが起きにくく、また洗浄時に汚れが落ち易い。
2. Description of the Related Art Frying pans, hot plates and the like are available on the market where food is cooked with so-called Teflon processing. On the Teflon-treated surface, food is less likely to be scorched and dirt is easily removed during washing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、テフロン加工
したフライパンは、油が平均にのりにくく、ムニエル等
少量の油を使う料理の味は鉄板のフライパンに劣るとい
う意見もある。また、テフロン加工に伴い価格が高価に
なるとともに、重量も重くなる。本発明は、上述のよう
な欠点の改善された、新しい原理に基づく高清浄性の調
理器具を提供することを目的とする。
However, there is an opinion that the frying pan processed with Teflon hardly averages the oil, and the taste of a dish using a small amount of oil such as meuniere is inferior to that of an iron plate frying pan. In addition, the cost increases and the weight increases with the Teflon processing. An object of the present invention is to provide a highly clean cooking utensil based on a new principle in which the above-mentioned drawbacks are improved.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の調理器具は、食品と接する面に光半導体含
有層が形成されており、該光半導体の光励起に応じて、
該層の表面が高度の親水性を呈することを特徴とする。
詳しくは後述する原理に基づき、紫外線照射等によって
光励起された光半導体含有層は高度の親水性を呈する。
そして、表面が十分に親水性であれば、疎水性の汚れ
(油脂、カーボンブラック、煤煙等)は、水の存在下で
は調理器具表面に付着しない。また、水が存在しない時
に付着した汚れについても、水を流せば汚れが落ちる。
一方、親水性の汚れ(泥汚れ、塵芥等)は調理器具表面
に付着するが、水を流せば汚れが落ちる。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, a cooking utensil of the present invention has an optical semiconductor-containing layer formed on a surface in contact with food.
It is characterized in that the surface of the layer exhibits a high degree of hydrophilicity.
Based on the principle described later in detail, the optical semiconductor-containing layer that has been photoexcited by ultraviolet irradiation or the like exhibits a high degree of hydrophilicity.
And if the surface is sufficiently hydrophilic, hydrophobic dirt (oil, fat, carbon black, soot, etc.) will not adhere to the cooking utensil surface in the presence of water. Also, with respect to dirt attached when water does not exist, dirt is removed by flowing water.
On the other hand, hydrophilic dirt (mud dirt, garbage, etc.) adheres to the cooking utensil surface, but the dirt is removed by flowing water.

【0005】光半導体含有層と親水性との関係について
説明する。本発明者らは、PCT/JP96/0073
3号において、以下の知見について記述した。すなわ
ち、基材表面に光半導体含有層を形成すると、光半導体
の光励起に応じて前記層表面が、水との接触角に換算し
て10°以下という高度の親水性を呈することを見出
し、さらにそれによりガラス、レンズ、鏡等の透明部材
の防曇・視界確保性向上、物品表面の水洗浄性・降雨洗
浄性向上等の効果が得られることを見出した。
The relationship between the optical semiconductor-containing layer and the hydrophilicity will be described. The present inventors have proposed PCT / JP96 / 0073.
In No. 3, the following findings were described. That is, when the optical semiconductor-containing layer is formed on the base material surface, the layer surface is found to exhibit a high degree of hydrophilicity of 10 ° or less in terms of a contact angle with water in response to optical excitation of the optical semiconductor. As a result, it has been found that effects such as improvement of anti-fog and improvement of visibility of transparent members such as glass, lens and mirror, improvement of water washability and rainfall washability of an article surface can be obtained.

【0006】この現象は以下に示す機構により進行する
と考えられる。すなわち、光半導体の価電子帯上端と伝
導帯下端とのエネルギーギャップ以上のエネルギーを有
する光が光半導体に照射されると、光半導体の価電子帯
中の電子が励起されて伝導電子と正孔が生成し、そのい
ずれか又は双方の作用により、おそらく表面に極性が付
与され、水や水酸基等の極性成分が集められる。そして
伝導電子と正孔のいずれか又は双方と、上記極性成分と
の協調的な作用により、表面と前記表面に化学的に吸着
した汚染物質との化学結合を切断するとともに、表面に
化学吸着水が吸着し、さらに物理吸着水層がその上に形
成されるのである。また、一旦部材表面が高度に親水化
されたならば、部材を暗所に保持しても、表面の親水性
はある程度の期間持続する。
[0006] This phenomenon is considered to proceed by the following mechanism. That is, when light having energy equal to or more than the energy gap between the upper end of the valence band and the lower end of the conduction band of the optical semiconductor is irradiated on the optical semiconductor, the electrons in the valence band of the optical semiconductor are excited to cause conduction electrons and holes. Are formed, and by either or both actions, polarities are probably imparted to the surface, and polar components such as water and hydroxyl groups are collected. Then, one or both of the conduction electrons and holes and the above-mentioned polar component cooperate with each other to cut a chemical bond between the surface and the contaminant chemically adsorbed on the surface, and to cause the surface to absorb chemically adsorbed water. Is adsorbed, and a physically adsorbed water layer is formed thereon. Further, once the surface of the member is highly hydrophilized, the hydrophilicity of the surface is maintained for a certain period even if the member is kept in a dark place.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】親水性とは、表面に水を滴下した
ときになじみやすい性質をいい、一般的に水濡れ角が9
0°未満の状態をいう。本発明における高度な親水性と
は、表面が水を滴下したときに非常になじみやすく、水
滴を形成せずにむしろ水膜化してしまう性質をいい、よ
り具体的には、水濡れ角(水との接触角)が10°以
下、好ましくは5°以下となる状態をいう。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hydrophilicity is a property that is easy to conform to when water is dropped on a surface.
It refers to a state of less than 0 °. The high hydrophilicity in the present invention refers to the property that the surface is very easy to conform when water is dropped, and rather forms a water film without forming a water droplet. More specifically, the water wetting angle (water (A contact angle with) is 10 ° or less, preferably 5 ° or less.

【0008】光半導体とは、その結晶の伝導電子帯と価
電子帯との間のエネルギーギャップよりも大きなエネル
ギー(すなわち短い波長)の光(励起光)を照射したと
きに、価電子帯中の電子の励起(光励起)が生じて、伝
導電子と正孔を生成しうる物質をいい、例えば、アナタ
ーゼ型酸化チタン、ルチル型酸化チタン、酸化錫、酸化
亜鉛、三酸化二ビスマス、三酸化タングステン、酸化第
二鉄、チタン酸ストロンチウム等が好適に利用できる。
[0008] An optical semiconductor is formed by irradiating light (excitation light) having an energy (ie, shorter wavelength) larger than the energy gap between the conduction electron band and the valence band of the crystal. A substance capable of generating conduction electrons and holes by excitation of electrons (photoexcitation), such as anatase-type titanium oxide, rutile-type titanium oxide, tin oxide, zinc oxide, bismuth trioxide, and tungsten trioxide. Ferric oxide, strontium titanate and the like can be suitably used.

【0009】光半導体の光励起に用いる光源としては、
蛍光灯、白熱電灯、メタルハライドランプ、水銀ランプ
のような室内照明、太陽、それらの光源からの光を低損
失のファイバーで誘導した光源等が好適に利用できる。
Light sources used for optical excitation of optical semiconductors include:
Indoor lighting such as a fluorescent lamp, an incandescent lamp, a metal halide lamp, and a mercury lamp, the sun, and a light source in which light from the light source is guided by a low-loss fiber can be suitably used.

【0010】光半導体含有層には、シリカ、固体超強
酸、シリコーンのうちの1種以上が含有されていること
が望ましい。シリカ、固体超強酸が含有されていると、
より低い励起光照度で高度の親水性を呈しやすく、かつ
その状態をかなり長期にわたり維持できる。シリコーン
が含有されていても、光半導体の光励起によりシリコー
ン中のシリコン原子に結合する有機基の少なくとも一部
が水酸基に置換される。そして一旦水酸基に置換される
と、シリカ添加の場合と同様に低い励起光照度で高度の
親水性を呈しやすく、かつその状態をかなり長期にわた
り維持できる。
It is desirable that the optical semiconductor-containing layer contains at least one of silica, solid superacid, and silicone. When silica and solid superacid are contained,
It tends to exhibit a high degree of hydrophilicity at lower excitation light illuminance, and can maintain that state for a considerably long time. Even if silicone is contained, at least a part of the organic group bonded to the silicon atom in the silicone is replaced with a hydroxyl group by photoexcitation of the optical semiconductor. Once substituted with a hydroxyl group, as in the case of silica addition, it tends to exhibit a high degree of hydrophilicity with low excitation light illuminance and can maintain that state for a considerably long time.

【0011】ここで超強酸とは、ハメットの酸度関数H
o≦−11.93なる固体酸化物を構成要素に含む強酸
をいい、具体的には、硫酸担持Al23 、硫酸担持T
iO2 、硫酸担持ZrO2 、硫酸担持Fe23 、硫酸
担持SiO2 、硫酸担持HfO2 、TiO2 /WO3
WO3 /SnO2 、WO3 /ZrO2 、WO3 /Fe2
3 、SiO2 ・Al23 等が好適に利用できる。
Here, the superacid is a Hammett acidity function H
A strong acid containing a solid oxide satisfying o ≦ −11.93 as a component, specifically, sulfuric acid-supported Al 2 O 3 , sulfuric acid-supported T
iO 2 , ZrO 2 supported on sulfuric acid, Fe 2 O 3 supported on sulfuric acid, SiO 2 supported on sulfuric acid, HfO 2 supported on sulfuric acid, TiO 2 / WO 3 ,
WO 3 / SnO 2 , WO 3 / ZrO 2 , WO 3 / Fe 2
O 3 , SiO 2 · Al 2 O 3 and the like can be suitably used.

【0012】また、シリコーンとしては、ポリオルガノ
シロキサンなら全般的に利用できるが、例えば、メチル
トリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチ
ルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラン、
エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラ
ン、エチルトリプロポキシシラン、エチルトリブトキシ
シラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエ
トキシシラン、フェニルトリプロポキシシラン、フェニ
ルトリブトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジ
メチルジエトキシシラン、ジメチルジプロポキシシラ
ン、ジメチルジブトキシシラン、ジエチルジメトキシシ
ラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチルジプロポキ
シシラン、ジエチルジブトキシシラン、フェニルメチル
ジメトキシシラン、フェニルメチルジエトキシシラン、
フェニルメチルジプロポキシシラン、フェニルメチルジ
ブトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキ
シシラン、及びそれらの加水分解物、加水分解後部分縮
重合したもの、それらの混合物等を前駆体として、必要
に応じて加水分解し、脱水縮重合したもの等が好適に利
用できる。
As the silicone, polyorganosiloxanes can be generally used. For example, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltripropoxysilane, methyltributoxysilane,
Ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, ethyltripropoxysilane, ethyltributoxysilane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, phenyltripropoxysilane, phenyltributoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, dimethyl Dipropoxysilane, dimethyldibutoxysilane, diethyldimethoxysilane, diethyldiethoxysilane, diethyldipropoxysilane, diethyldibutoxysilane, phenylmethyldimethoxysilane, phenylmethyldiethoxysilane,
Phenylmethyldipropoxysilane, phenylmethyldibutoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and their hydrolysates, those partially hydrolyzed after hydrolysis, their mixtures, etc. as precursors, if necessary Hydrolysis, dehydration-condensation polymerization, etc. can be suitably used.

【0013】光半導体含有層の膜厚は、0.4μm 以下
にするのが好ましい。そうすれば、光の乱反射による白
濁を防止することができ、光半導体含有層は実質的に透
明となる。さらに、光半導体含有層の膜厚を、0.2μ
m 以下にすると一層好ましい。そうすれば、光の干渉に
よる層の発色を防止することができる。また、光半導体
含有層は薄ければ薄いほどその透明度は向上する。さら
に、膜厚を薄くすれば、層の耐摩耗性が向上する。上記
表面層の表面に、さらにシリカ、アルミナ、シリコー
ン、固体超強酸等の親水化可能な耐摩耗性又は耐食性の
保護層や他の機能膜を設けてもよい。
The thickness of the optical semiconductor-containing layer is preferably set to 0.4 μm or less. Then, cloudiness due to irregular reflection of light can be prevented, and the optical semiconductor-containing layer becomes substantially transparent. Further, the thickness of the optical semiconductor-containing layer is set to 0.2 μm.
m or less is more preferable. Then, color formation of the layer due to light interference can be prevented. Further, the thinner the optical semiconductor-containing layer, the higher its transparency. Furthermore, the thinner the film, the better the wear resistance of the layer. On the surface of the surface layer, a protective layer or other functional film of silica, alumina, silicone, solid superacid or the like which can be hydrophilized and which can be hydrophilized may be further provided.

【0014】上記光半導体含有層には、Ag、Cu、Z
nのような金属を添加することができる。前記金属を添
加した層は、暗所においても表面に付着した細菌を死滅
させることができる。さらに、この層は、黴、藻、苔の
ような微生物の成長を抑制する。したがって、微生物起
因による汚れ付着が抑制される。光半導体含有層にA
g、Cu、又はZnをドーピングするためには、光半導
体粒子の懸濁液にこれらの金属の可溶性塩を添加し、得
られた溶液を用いて光半導体性コーティングを形成する
ことができる。あるいは、光半導体性コーティングを形
成後、これらの金属の可溶性塩を塗布し、光照射により
光還元析出させてもよい。
The optical semiconductor-containing layer includes Ag, Cu, Z
A metal such as n can be added. The layer to which the metal is added can kill bacteria adhering to the surface even in a dark place. In addition, this layer inhibits the growth of microorganisms such as molds, algae and moss. Therefore, adhesion of dirt due to microorganisms is suppressed. A for optical semiconductor containing layer
To dope g, Cu, or Zn, a soluble salt of these metals can be added to the suspension of optical semiconductor particles and the resulting solution used to form an optical semiconductor coating. Alternatively, a soluble salt of these metals may be applied after the formation of the optical semiconductor coating, and photoreduction precipitation may be performed by irradiation with light.

【0015】上記光半導体含有層には、Pt、Pd、R
u、Rh、Os、Irのような白金族金属を添加するこ
とができる。前記金属を添加した層は、光半導体の光半
導体作用による酸化反応活性を増強させることができ、
該層表面に付着した汚れの分解除去や屋内空気の脱臭浄
化作用、屋外空気中に含有される汚染物質の分解浄化作
用等が向上する。添加方法は上述の光還元析出や可溶性
塩の添加によることができる。
[0015] Pt, Pd, R
A platinum group metal such as u, Rh, Os, Ir can be added. The layer to which the metal is added can enhance the oxidation reaction activity of the optical semiconductor by the optical semiconductor action,
The effect of decomposing and removing dirt attached to the surface of the layer, deodorizing and purifying indoor air, and decomposing and purifying pollutants contained in outdoor air are improved. The addition method can be based on the above-described photoreduction precipitation or addition of a soluble salt.

【0016】本発明の調理器具の基体を構成する材料
は、 金属材料;鉄、ステンレス、アルミニウム合金、チタン
合金、 FRP;ガラス繊維強化、炭素繊維強化、ポリアミド繊
維強化、エポキシ系、不飽和ポリエステル系、 プラスチックス;ポリプロピレン、ウレタン、ABS、
ナイロン、アクリル、ポリカーボネート、 塗装材;ポリエチレン ガラス、等を含む。
The material constituting the base of the cooking utensil of the present invention is a metal material; iron, stainless steel, aluminum alloy, titanium alloy, FRP; glass fiber reinforced, carbon fiber reinforced, polyamide fiber reinforced, epoxy type, unsaturated polyester type. , Plastics; polypropylene, urethane, ABS,
Nylon, acrylic, polycarbonate, coating materials; including polyethylene glass.

【0017】ここで上記調理器具が、Fe、Ni、Co
の少なくとも1種を含有する金属材料からなる基体を有
する場合は、上記光半導体含有層が、該基体表面に、上
記金属の原子の拡散を防止する層を介して形成される。
Here, the cooking utensil is made of Fe, Ni, Co.
When there is a substrate made of a metal material containing at least one of the above, the optical semiconductor-containing layer is formed on the surface of the substrate via a layer for preventing diffusion of the metal atoms.

【0018】本発明者らの実験によれば、光半導体を含
有する表面層にCo、Ni、Feが添加されると、光半
導体の光励起による親水化作用が著しく低下してしまう
ことが判明した。そこでCo、Ni、Fe原子の表面層
への拡散を防止する層を設けることにより、光半導体を
含有する表面層はCo、Ni、Fe原子の影響を受けな
くなり、Co、Ni、Fe原子の少なくとも1種を含有
する基材上に固定した場合においても、光半導体の光励
起による親水化作用が充分に発揮され、したがって物品
表面の水洗浄性・降雨洗浄性向上等の効果が充分に発揮
されるようになる。
According to the experiments of the present inventors, it has been found that when Co, Ni, and Fe are added to the surface layer containing the optical semiconductor, the hydrophilicity of the optical semiconductor by photoexcitation is significantly reduced. . Therefore, by providing a layer that prevents diffusion of Co, Ni, and Fe atoms into the surface layer, the surface layer containing the optical semiconductor is not affected by Co, Ni, and Fe atoms, and at least Co, Ni, and Fe atoms are not affected. Even when it is fixed on a base material containing one kind, the hydrophilizing action of the photo-semiconductor by photoexcitation is sufficiently exerted, and therefore, the effects of improving the water washability and rainfall washability of the article surface are sufficiently exhibited. Become like

【0019】Co、Ni、Fe原子の少なくとも1種を
含有する基材とは、例えばステンレス基材、炭素鋼、鋳
鉄、鋳物、強磁性材料等をさす。Co、Ni、Feの拡
散を防止する層は、例えば、下地の色を意匠上活用した
い場合には、シリカ、シリコーン樹脂、アクリル樹脂、
水ガラスなどのケイ酸化合物等の透明な材料が好適に利
用できる。
The substrate containing at least one of Co, Ni and Fe atoms refers to, for example, a stainless steel substrate, carbon steel, cast iron, casting, ferromagnetic material and the like. The layer for preventing the diffusion of Co, Ni and Fe is, for example, silica, silicone resin, acrylic resin,
A transparent material such as a silicate compound such as water glass can be suitably used.

【0020】またCo、Ni、Feの拡散を防止する層
に、着色性の材料を用い、この層により意匠性を持たせ
てもよい。その場合には、釉薬;Ag、PtなどのC
o、Ni、Fe以外の着色金属;等の材料が好適に利用
できる。Co、Ni、Feの拡散を防止する層の膜厚
は、0.02μm 以上であるのが好ましい。そうすれ
ば、基材から表面層へのCo、Ni、Feの拡散を有効
に防止できる。
Further, a coloring material may be used for the layer for preventing the diffusion of Co, Ni, and Fe, and this layer may have a design property. In that case, glaze; C such as Ag or Pt
Materials such as colored metals other than o, Ni, and Fe can be suitably used. The thickness of the layer for preventing the diffusion of Co, Ni and Fe is preferably 0.02 μm or more. Then, diffusion of Co, Ni, and Fe from the base material to the surface layer can be effectively prevented.

【0021】次に、表面層の形成方法について説明す
る。まず、表面層が光半導体のみからなる場合の製法に
ついて、光半導体がアナターゼ型酸化チタンの場合を例
にとり説明する。この場合の方法は、大別して3つの方
法がある。1つの方法はゾル塗布焼成法であり、他の方
法は有機チタネート法であり、他の方法は電子ビーム蒸
着法である。 (1)ゾル塗布焼成法 アナターゼ型酸化チタンゾルを、基材表面に、スプレー
コーティング法、ディップコーティング法、フローコー
ティング法、スピンコーティング法、ロールコーティン
グ法等の方法で塗布し、焼成する。
Next, a method for forming the surface layer will be described. First, a manufacturing method in the case where the surface layer is made of only an optical semiconductor will be described with reference to an example in which the optical semiconductor is an anatase type titanium oxide. In this case, there are roughly three methods. One method is a sol coating and firing method, the other method is an organic titanate method, and the other method is an electron beam evaporation method. (1) Sol-coating and firing method Anatase-type titanium oxide sol is applied to the surface of a substrate by a method such as spray coating, dip coating, flow coating, spin coating, or roll coating, and then fired.

【0022】(2)有機チタネート法 チタンアルコキシド(テトラエトキシチタン、テトラメ
トキシチタン、テトラプロポキシチタン、テトラブトキ
シチタン等)、チタンアセテート、チタンキレート等の
有機チタネートに加水分解抑制剤(塩酸、エチルアミン
等)を添加し、アルコール(エタノール、プロパノー
ル、ブタノール等)などの非水溶媒で希釈した後、部分
的に加水分解を進行させながら又は完全に加水分解を進
行させた後、混合物をスプレーコーティング法、ディッ
プコーティング法、フローコーティング法、スピンコー
ティング法、ロールコーティング法等の方法で塗布し、
乾燥させる。乾燥により、有機チタネートの加水分解が
完遂して水酸化チタンが生成し、水酸化チタンの脱水縮
重合により無定型酸化チタンの層が基材表面に形成され
る。その後、アナターゼの結晶化温度以上の温度で焼成
して、無定型酸化チタンをアナターゼ型酸化チタンに相
転移させる。
(2) Organic Titanate Method Titanium alkoxides (tetraethoxytitanium, tetramethoxytitanium, tetrapropoxytitanium, tetrabutoxytitanium, etc.), titanium acetates, titanium chelates and other organic titanates can be used as hydrolysis inhibitors (hydrochloric acid, ethylamine, etc.). After diluting with a non-aqueous solvent such as alcohol (ethanol, propanol, butanol, etc.), partially or completely proceeding the hydrolysis, the mixture is spray-coated, Apply by coating method, flow coating method, spin coating method, roll coating method, etc.
dry. By drying, the hydrolysis of the organic titanate is completed to produce titanium hydroxide, and a layer of amorphous titanium oxide is formed on the surface of the base material by dehydration-condensation polymerization of the titanium hydroxide. Thereafter, the amorphous titanium oxide is calcined at a temperature equal to or higher than the crystallization temperature of anatase to cause a phase transition from the amorphous titanium oxide to the anatase titanium oxide.

【0023】(3)電子ビーム蒸着法 酸化チタンのターゲットに電子ビームを照射することに
より、基材表面に無定型酸化チタンの層を形成する。そ
の後、アナターゼの結晶化温度以上の温度で焼成して、
無定型酸化チタンをアナターゼ型酸化チタンに相転移さ
せる。
(3) Electron Beam Evaporation Method An amorphous titanium oxide layer is formed on the surface of a substrate by irradiating an electron beam to a titanium oxide target. After that, firing at a temperature higher than the crystallization temperature of anatase,
Phase transition of amorphous titanium oxide to anatase titanium oxide.

【0024】次に、表面層が光半導体とシリカからなる
場合について、光半導体がアナターゼ型酸化チタンの場
合を例にとり説明する。この場合の方法は、例えば、以
下の3つの方法がある。1つの方法はゾル塗布焼成法で
あり、他の方法は有機チタネート法であり、他の方法は
4官能性シラン法である。 (1)ゾル塗布焼成法 アナターゼ型酸化チタンゾルとシリカゾルとの混合液
を、基材表面にスプレーコーティング法、ディップコー
ティング法、フローコーティング法、スピンコーティン
グ法、ロールコーティング法等の方法で塗布し、焼成す
る。
Next, the case where the surface layer is made of an optical semiconductor and silica will be described with reference to the case where the optical semiconductor is an anatase type titanium oxide. In this case, for example, there are the following three methods. One method is a sol coating and firing method, the other is an organic titanate method, and the other is a tetrafunctional silane method. (1) Sol coating and baking method A mixture of anatase-type titanium oxide sol and silica sol is applied to the substrate surface by a method such as a spray coating method, a dip coating method, a flow coating method, a spin coating method, and a roll coating method, and then fired. I do.

【0025】(2)有機チタネート法 チタンアルコキシド(テトラエトキシチタン、テトラメ
トキシチタン、テトラプロポキシチタン、テトラブトキ
シチタン等)、チタンアセテート、チタンキレート等の
有機チタネートに加水分解抑制剤(塩酸、エチルアミン
等)とシリカゾルを添加し、アルコール(エタノール、
プロパノール、ブタノール等)などの非水溶媒で希釈し
た後、部分的に加水分解を進行させながら又は完全に加
水分解を進行させた後、混合物をスプレーコーティング
法、ディップコーティング法、フローコーティング法、
スピンコーティング法、ロールコーティング法等の方法
で塗布し、乾燥させる。乾燥により、有機チタネートの
加水分解が完遂して水酸化チタンが生成し、水酸化チタ
ンの脱水縮重合により無定型酸化チタンの層が基材表面
に形成される。その後、アナターゼの結晶化温度以上の
温度で焼成して、無定型酸化チタンをアナターゼ型酸化
チタンに相転移させる。
(2) Organic titanate method Titanium alkoxide (tetraethoxytitanium, tetramethoxytitanium, tetrapropoxytitanium, tetrabutoxytitanium, etc.), an organic titanate such as titanium acetate, titanium chelate and the like, and a hydrolysis inhibitor (hydrochloric acid, ethylamine, etc.) And silica sol, and add alcohol (ethanol,
After diluting with a non-aqueous solvent such as propanol, butanol, etc., and then allowing the hydrolysis to proceed partially or completely, the mixture is spray-coated, dip-coated, flow-coated,
It is applied by a method such as spin coating or roll coating and dried. By drying, the hydrolysis of the organic titanate is completed to produce titanium hydroxide, and a layer of amorphous titanium oxide is formed on the surface of the base material by dehydration-condensation polymerization of the titanium hydroxide. Thereafter, the amorphous titanium oxide is calcined at a temperature equal to or higher than the crystallization temperature of anatase to cause a phase transition from the amorphous titanium oxide to the anatase titanium oxide.

【0026】(3)4官能性シラン法 テトラアルコキシシラン(テトラエトキシシラン、テト
ラプロポキシシラン、テトラブトキシシラン、テトラメ
トキシシラン等)とアナターゼ型酸化チタンゾルとの混
合物を基材の表面にスプレーコーティング法、ディップ
コーティング法、フローコーティング法、スピンコーテ
ィング法、ロールコーティング法等の方法で塗布し、必
要に応じて加水分解させてシラノールを形成した後、加
熱等の方法でシラノールを脱水縮重合に付す。
(3) Tetrafunctional silane method A mixture of tetraalkoxysilane (tetraethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, tetramethoxysilane, etc.) and an anatase type titanium oxide sol is spray-coated on the surface of a substrate, After coating by a dip coating method, a flow coating method, a spin coating method, a roll coating method, or the like, and hydrolyzing as needed to form a silanol, the silanol is subjected to dehydration polycondensation by a method such as heating.

【0027】次に、表面層が光半導体と固体酸からなる
場合について、光半導体がアナターゼ型酸化チタン、固
体酸がTiO2 /WO3 の場合を例にとり説明する。こ
の場合の方法は、タングステン酸のアンモニア溶解液と
アナターゼ型酸化チタンゾルとを混合し、必要に応じて
希釈液(水、エタノール等)で希釈した混合物を基材の
表面にスプレーコーティング法、ディップコーティング
法、フローコーティング法、スピンコーティング法、ロ
ールコーティング法等の方法で塗布し、焼成する。
Next, the case where the surface layer is made of an optical semiconductor and a solid acid will be described, taking the case where the optical semiconductor is an anatase type titanium oxide and the solid acid is TiO 2 / WO 3 as an example. In this case, a method of mixing an ammonia solution of tungstic acid and an anatase-type titanium oxide sol and, if necessary, diluting the mixture with a diluting liquid (water, ethanol, etc.) on the surface of the base material by spray coating, dip coating, or the like. It is applied by a method such as a flow coating method, a spin coating method, and a roll coating method, and is baked.

【0028】次に、表面層が光半導体とシリコーンから
なる場合について、光半導体がアナターゼ型酸化チタン
の場合を例にとり説明する。この場合の方法は、未硬化
の若しくは部分的に硬化したシリコーン又はシリコーン
の前駆体からなる塗料とアナターゼ型酸化チタンゾルと
を混合し、シリコーンの前駆体を必要に応じて加水分解
させた後、混合物を基材の表面にスプレーコーティング
法、ディップコーティング法、フローコーティング法、
スピンコーティング法、ロールコーティング法等の方法
で塗布し、加熱等の方法でシリコーンの前駆体の加水分
解物を脱水縮重合に付して、アナターゼ型酸化チタン粒
子とシリコーンからなる表面層を形成する。形成された
表面層は、紫外線を含む光の照射によりアナターゼ型酸
化チタンが光励起されることにより、シリコーン分子中
のケイ素原子に結合した有機基の少なくとも一部を水酸
基に置換され、さらにその上に物理吸着水層が形成され
て、高度の親水性を呈する。ここでシリコーンの前駆体
には前述の物質を用いることができる。
Next, the case where the surface layer is made of an optical semiconductor and silicone will be described, taking the case where the optical semiconductor is an anatase type titanium oxide as an example. The method in this case is to mix a coating of uncured or partially cured silicone or a silicone precursor with an anatase-type titanium oxide sol, hydrolyze the silicone precursor if necessary, and then mix the mixture. Spray coating method, dip coating method, flow coating method,
It is applied by a method such as a spin coating method or a roll coating method, and a hydrolyzate of a silicone precursor is subjected to dehydration polycondensation by a method such as heating to form a surface layer composed of anatase type titanium oxide particles and silicone. . In the formed surface layer, at least a part of the organic group bonded to the silicon atom in the silicone molecule is replaced with a hydroxyl group by photoexcitation of the anatase type titanium oxide by irradiation with light including ultraviolet rays, and further thereon. A physisorbed water layer is formed and exhibits a high degree of hydrophilicity. Here, the aforementioned substances can be used as the silicone precursor.

【0029】上記光半導体含有層を透明部材の表面に形
成する場合には、該光半導体含有層は、基材と比較して
屈折率があまり高くないのが好ましい。好ましくは光半
導体含有層の屈折率は2以下であるのがよい。そうすれ
ば、基材と光半導体含有層との界面、及び光半導体含有
層と空気との界面における光の反射を抑制できる。光半
導体含有層の屈折率を2以下にするには、光半導体に2
以下の屈折率を有する物質を用いるか、あるいは光半導
体が屈折率2以上の場合には、屈折率2以下の他の物質
を光半導体含有層に添加する。2以下の屈折率を有する
光半導体としては、酸化錫(屈折率1.9)等が利用で
きる。2以上の屈折率を有する光半導体には、アナター
ゼ型酸化チタン(屈折率2.5)やルチル型酸化チタン
(屈折率2.7)があるが、この場合には屈折率2以下
の他の物質、例えば、炭酸カルシウム(屈折率1.
6)、水酸化カルシウム(屈折率1.6)、炭酸マグネ
シウム(屈折率1.5)、炭酸ストロンチウム(屈折率
1.5)、ドロマイト(屈折率1.7)、フッ化カルシ
ウム(屈折率1.4)、フッ化マグネシウム(屈折率
1.4)、シリカ(屈折率1.5)、アルミナ(屈折率
1.6)、ケイ砂(屈折率1.6)、モンモリロナイト
(屈折率1.5)、カオリン(屈折率1.6)、セリサ
イト(屈折率1.6)、ゼオライト(屈折率1.5)、
酸化錫(屈折率1.9)等を光半導体含有層に添加すれ
ばよい。
When the optical semiconductor-containing layer is formed on the surface of the transparent member, the optical semiconductor-containing layer preferably has a refractive index not so high as compared with the substrate. Preferably, the refractive index of the optical semiconductor-containing layer is 2 or less. Then, the reflection of light at the interface between the base material and the optical semiconductor-containing layer and at the interface between the optical semiconductor-containing layer and air can be suppressed. In order to reduce the refractive index of the optical semiconductor-containing layer to 2 or less, 2
A substance having the following refractive index is used, or when the optical semiconductor has a refractive index of 2 or more, another substance having a refractive index of 2 or less is added to the optical semiconductor-containing layer. As an optical semiconductor having a refractive index of 2 or less, tin oxide (refractive index: 1.9) or the like can be used. Optical semiconductors having a refractive index of 2 or more include anatase-type titanium oxide (refractive index: 2.5) and rutile-type titanium oxide (refractive index: 2.7). Substances such as calcium carbonate (refractive index 1.
6), calcium hydroxide (refractive index 1.6), magnesium carbonate (refractive index 1.5), strontium carbonate (refractive index 1.5), dolomite (refractive index 1.7), calcium fluoride (refractive index 1) .4), magnesium fluoride (refractive index: 1.4), silica (refractive index: 1.5), alumina (refractive index: 1.6), silica sand (refractive index: 1.6), montmorillonite (refractive index: 1.5) ), Kaolin (refractive index 1.6), sericite (refractive index 1.6), zeolite (refractive index 1.5),
What is necessary is just to add tin oxide (refractive index 1.9) etc. to an optical semiconductor containing layer.

【0030】基材がナトリウムのようなアルカリ網目修
飾イオンを含むガラス(ソーダライムガラス、並板ガラ
ス等)の場合には、基材と光半導体含有層との間にシリ
カ等の中間層を形成してもよい。そうすれば、焼成中に
アルカリ網目修飾イオンが基材から光半導体含有層へ拡
散するのが防止され、光半導体機能がよりよく発揮され
る。
When the base material is a glass containing an alkali network modifying ion such as sodium (soda lime glass, side-by-side glass, etc.), an intermediate layer such as silica is formed between the base material and the optical semiconductor-containing layer. You may. This prevents the alkali network modifying ions from diffusing from the base material into the optical semiconductor-containing layer during firing, so that the optical semiconductor function is better exhibited.

【0031】本発明の調理器具の例としては以下を挙げ
ることができる。フライパン、ホットプレート、ボウ
ル、まな板、包丁、鍋、釜、お好み焼や鉄板焼用鉄板
等。
Examples of the cooking utensil of the present invention include the following. Frying pans, hot plates, bowls, cutting boards, kitchen knives, pots, kettles, iron plates for okonomiyaki and teppanyaki.

【0032】[0032]

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図1は、
本発明の一実施例に係るホットプレートを示す図であ
る。図中において、1は長方形のフレーム、2は前記フ
レーム1の内側に設けた熱伝導の良好な金属を鋳造によ
り形成した平面型の調理プレートである。3は前記調理
プレート2にループ状にして埋設したシーズヒータであ
る。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG.
FIG. 3 is a view showing a hot plate according to one embodiment of the present invention. In the drawing, 1 is a rectangular frame, and 2 is a flat cooking plate provided inside the frame 1 and formed by casting a metal having good heat conductivity. Reference numeral 3 denotes a sheath heater embedded in the cooking plate 2 in a loop shape.

【0033】8は前記調理プレート2の裏面中央部に設
けた温度センサー、9は前記フレーム1の一側に設けた
調理プレート2の設定温度表示器、10は温度設定ボタ
ン、11は切換スイッチ13の切換ボタンである。
Reference numeral 8 denotes a temperature sensor provided at the center of the back surface of the cooking plate 2, 9 denotes a set temperature indicator of the cooking plate 2 provided on one side of the frame 1, 10 denotes a temperature setting button, and 11 denotes a changeover switch 13. Button.

【0034】前記調理プレート2及びフレーム1の上表
面及び側面について、以下の手法により光半導体含有層
を形成する。
An optical semiconductor-containing layer is formed on the upper surface and side surfaces of the cooking plate 2 and the frame 1 by the following method.

【0035】鉄板を基体とする調理器具 エタノールの溶媒86重量部に、テトラエトキシシラン
(和光純薬)6重量部と純水6重量部とテトラエトキシ
シランの加水分解抑制剤として36%塩酸2重量部を加
えて混合し、シリカコーティング溶液を調製した。この
溶液をフローコーティング法により10cm四角の鉄板の
表面に塗布し、80℃の温度で乾燥させた。乾燥に伴
い、テトラエトキシシランは加水分解を受けてまずシラ
ノールになり、続いてシラノールの脱水縮重合により、
無定型シリカの薄膜が鉄板の表面に形成された。
86 parts by weight of an ethanol solvent for a cooking utensil having an iron plate as a base, 6 parts by weight of tetraethoxysilane (Wako Pure Chemical Industries), 6 parts by weight of pure water, and 2 parts by weight of 36% hydrochloric acid as a hydrolysis inhibitor for tetraethoxysilane A part was added and mixed to prepare a silica coating solution. This solution was applied to the surface of a 10 cm square iron plate by a flow coating method, and dried at a temperature of 80 ° C. With drying, tetraethoxysilane undergoes hydrolysis to become silanol first, followed by dehydration condensation polymerization of silanol,
A thin film of amorphous silica was formed on the surface of the iron plate.

【0036】次に、テトラエトキシチタン(Merc
k)1重量部とエタノール9重量部との混合物に加水分
解抑制剤として36%塩酸0.1重量部添加して酸化チ
タンコーティング溶液を調製し、この溶液を上記無定型
シリカの薄膜に乾燥空気中でフローコーティング法によ
り塗布した。塗布量は酸化チタンに換算して45μg/cm
2 とした。テトラエトキシチタンの加水分解速度は極め
て早いので、塗布の段階でテトラエトキシチタンの一部
は加水分解され、水酸化チタンが生成し始めた。
Next, tetraethoxytitanium (Merc)
k) A titanium oxide coating solution is prepared by adding 0.1 part by weight of 36% hydrochloric acid as a hydrolysis inhibitor to a mixture of 1 part by weight and 9 parts by weight of ethanol, and applying the solution to the above-mentioned amorphous silica thin film by dry air. It was applied by a flow coating method in the inside. The coating amount is 45 μg / cm in terms of titanium oxide
And 2 . Since the rate of hydrolysis of tetraethoxytitanium is extremely fast, part of the tetraethoxytitanium was hydrolyzed at the coating stage, and titanium hydroxide began to form.

【0037】次に、この鉄板を1〜10分間約150℃
の温度に保持することにより、テトラエトキシチタンの
加水分解を完了させるとともに、生成した水酸化チタン
を脱水縮重合に付し、無定型酸化チタンがコーティング
された鉄板を得た。この試料を500℃の温度で焼成し
て、無定型酸化チタンをアナターゼ型酸化チタンに結晶
化させて、光半導体含有層を有する試料を得た。
Next, the iron plate is heated at about 150 ° C. for 1 to 10 minutes.
, The hydrolysis of tetraethoxytitanium was completed, and the produced titanium hydroxide was subjected to dehydration-condensation polymerization to obtain an iron plate coated with amorphous titanium oxide. This sample was fired at a temperature of 500 ° C. to crystallize the amorphous titanium oxide into anatase type titanium oxide to obtain a sample having an optical semiconductor-containing layer.

【0038】この試料と、比較のため無処理の鉄板につ
いて、以下の3つの評価を行った。 (1)紫外線照射時の表面親水性回復性能の評価 試料表面にオレイン酸を塗布し、中性洗剤(ママレモ
ン)でこすり、水道水及び蒸留水で濯いだ後、乾燥器に
より50℃で30分乾燥させることにより、表面を故意
に汚染させ、その後、BLB蛍光灯を0.5mW/cm2で5
時間照射して試料表面の水との接触角の変化を調べた。
その結果、鉄板では、汚染後及びBLB蛍光灯照射後の
水との接触角は共に70°と変化が認められなかったの
に対し、光半導体含有層を形成した試料では、汚染後5
0°であった水との接触角は、BLB蛍光灯照射後には
ほぼ0°まで高度に親水化された。
The following three evaluations were performed on this sample and an untreated iron plate for comparison. (1) Evaluation of surface hydrophilicity recovery performance upon irradiation with ultraviolet light After oleic acid was applied to the sample surface, rubbed with a neutral detergent (mama lemon), rinsed with tap water and distilled water, and then dried at 50 ° C. with a dryer at 30 ° C. By intentionally drying the surface, the surface is intentionally contaminated and then the BLB fluorescent lamp is turned on at 0.5 mW / cm 2 for 5 minutes.
Irradiation was performed for a period of time, and the change in the contact angle of the sample surface with water was examined.
As a result, in the iron plate, the contact angle with water after the contamination and after the irradiation with the BLB fluorescent lamp was both 70 °, which was not changed. On the other hand, in the sample on which the optical semiconductor-containing layer was formed, 5% after the contamination.
The contact angle with water, which was 0 °, was highly hydrophilized to almost 0 ° after irradiation with the BLB fluorescent lamp.

【0039】(2)オレイン酸の水浸漬洗浄効果 (1)の試験で使用した試料表面に、オレイン酸を塗布
し、試料表面を水平姿勢に保持しながら、試料を水槽に
満たした水の中に浸漬した。その結果。鉄板では、オレ
イン酸は試料の表面に付着したままであり、水中で軽く
指でこすっても油が試料上で延びるだけであったのに対
し、光半導体含有層を形成した試料では、オレイン酸は
丸まって油滴状になり、水中で軽く指でこする程度で、
試料表面から釈放されて浮上した。
(2) Washing effect of oleic acid in water immersion Oleic acid was applied to the sample surface used in the test of (1), and the sample was placed in a water filled water tank while the sample surface was kept in a horizontal posture. Immersion. as a result. In the iron plate, oleic acid remained attached to the surface of the sample, and even when lightly rubbed with water, the oil only extended on the sample, whereas in the sample on which the optical semiconductor-containing layer was formed, oleic acid was Curls into oil droplets, rubbing it lightly with your finger in water,
It was released from the sample surface and surfaced.

【0040】(3)疎水性汚れの洗浄効果 次に、疎水性カーボンブラック1重量部、親水性カーボ
ンブラック1重量部からなる粉体混合物を1.05g/
リッターの濃度で水に懸濁させたスラリーを調製した。
45°に傾斜させた上記試料及び無処理の鉄板試料に上
記スラリー150mlを流下させて15分間乾燥させ、次
いで蒸留水150mlを流下させて15分間乾燥させ、こ
のサイクルを25回反復した。試験前後の色差変化を、
色差計(東京電色)を用いて計測した。色差は日本工業
規格(JIS)H0201に従い、ΔE*表示を用い
た。その結果、鉄板では色差変化20と大きかったのに
対し、上記試料では色差変化は0.6に止まった。
(3) Effect of Cleaning of Hydrophobic Soil Next, a powder mixture consisting of 1 part by weight of hydrophobic carbon black and 1 part by weight of hydrophilic carbon black was added in an amount of 1.05 g /
A slurry suspended in water at the concentration of liter was prepared.
The sample inclined at 45 ° and the untreated iron plate sample were allowed to flow 150 ml of the slurry and dried for 15 minutes, and then dried with 150 ml of distilled water and dried for 15 minutes. This cycle was repeated 25 times. The color difference change before and after the test,
It measured using the color difference meter (Tokyo Denshoku). The color difference was represented by ΔE * according to Japanese Industrial Standard (JIS) H0201. As a result, the color difference change of the iron plate was as large as 20, whereas the color difference change of the sample was only 0.6.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、基体の材質が多様な場合でも高清浄性の調理器具を
提供できる。また、抗菌性や付着汚れの酸化分解といっ
た調理器具にとってきわめて有意義な性能をも有する調
理器具を提供することができる。
As is apparent from the above description, the present invention can provide a highly clean cooking appliance even when the base material is various. In addition, it is possible to provide a cooking appliance having extremely significant performance for cooking appliances such as antibacterial properties and oxidative decomposition of attached dirt.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係るホットプレートを示す
図である。
FIG. 1 is a view showing a hot plate according to one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フレーム、 2 調理プレート 3 シーズヒータ 8 温度センサー 9 設定温度表示
器 10 温度設定ボタン 11 切換ボタン 13 切換スイッチ
1 frame, 2 cooking plate 3 sheathed heater 8 temperature sensor 9 set temperature display 10 temperature setting button 11 switch button 13 switch

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成8年10月3日[Submission date] October 3, 1996

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】全図[Correction target item name] All figures

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図1】 FIG.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 食品と接する面に光半導体含有層が形成
されており、該光半導体の光励起に応じて、該層の表面
が高度の親水性を呈することを特徴とする調理器具。
1. A cooking utensil, wherein an optical semiconductor-containing layer is formed on a surface in contact with food, and the surface of the layer exhibits a high degree of hydrophilicity in response to photoexcitation of the optical semiconductor.
【請求項2】 上記光半導体含有層が、さらに、シリ
カ、固体超強酸、シリコーンのうちの少なくとも1種を
含有することを特徴とする請求項1記載の調理器具。
2. The cooking utensil according to claim 1, wherein said optical semiconductor-containing layer further contains at least one of silica, solid superacid, and silicone.
【請求項3】 上記親水性の程度が水との接触角に換算
して10°以下であることを特徴とする請求項1又は2
記載の調理器具。
3. The method according to claim 1, wherein the degree of hydrophilicity is 10 ° or less in terms of a contact angle with water.
Cookware as described.
【請求項4】 上記親水性の程度が水との接触角に換算
して5°以下であることを特徴とする請求項1又は2記
載の調理器具。
4. The cooking utensil according to claim 1, wherein the degree of hydrophilicity is 5 ° or less in terms of a contact angle with water.
【請求項5】 上記調理器具が、Fe、Ni、Coの少
なくとも1種を含有する金属材料からなる基体を有し、 上記光半導体含有層が、該基体表面に、上記金属の原子
の拡散を防止する層を介して形成されていることを特徴
とする請求項1〜4いずれか1項記載の調理器具。
5. The cooking utensil has a base made of a metal material containing at least one of Fe, Ni, and Co, and the optical semiconductor-containing layer causes diffusion of atoms of the metal on a surface of the base. The cooking utensil according to any one of claims 1 to 4, wherein the cooking utensil is formed via a layer for preventing the cooking utensil.
【請求項6】 上記光半導体含有層がAg、Cu、Zn
の1種以上を含むことを特徴とする請求項1〜7いずれ
か1項記載の調理器具。
6. The optical semiconductor-containing layer is made of Ag, Cu, Zn.
The cooking utensil according to any one of claims 1 to 7, comprising at least one of the following.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013139052A (en) * 2011-12-09 2013-07-18 John Bean Technologies Ab Improved heating element for cooking unit
KR102280236B1 (en) * 2021-02-02 2021-07-22 (주)코리아마그네슘 Multi functional cutting board

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