JPH1090608A - Microscope device - Google Patents

Microscope device

Info

Publication number
JPH1090608A
JPH1090608A JP24635496A JP24635496A JPH1090608A JP H1090608 A JPH1090608 A JP H1090608A JP 24635496 A JP24635496 A JP 24635496A JP 24635496 A JP24635496 A JP 24635496A JP H1090608 A JPH1090608 A JP H1090608A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
irradiation
light
sample
optical system
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24635496A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahiko Hirano
雅彦 平野
Takayuki Suga
隆之 菅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BUNSHI BIO PHOTONICS KENKYUSHO
Bunshi Biophotonics Kenkyusho KK
Original Assignee
BUNSHI BIO PHOTONICS KENKYUSHO
Bunshi Biophotonics Kenkyusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BUNSHI BIO PHOTONICS KENKYUSHO, Bunshi Biophotonics Kenkyusho KK filed Critical BUNSHI BIO PHOTONICS KENKYUSHO
Priority to JP24635496A priority Critical patent/JPH1090608A/en
Publication of JPH1090608A publication Critical patent/JPH1090608A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope device capable of simultaneously converging and emitting irradiation light on plural parts different from each other on a specimen. SOLUTION: The irradiation light A and B outputted from an irradiating light source 10, branched by a branching optical system 20 and emitted through a condenser lens 31, dichroic mirrors 35 and 41 and the objective lens 42, irradiate simultaneously two points of the specimen 50 existing in a view area of an objective lens 42. Exciting light C outputted from an exciting light source 32 irradiates the specimen 50 through the condenser lens 33 and a band-pass filter, etc. The illumination light D outputted from an illumination light source 45 irradiates the specimen 50 by the condenser lens 46. Fluorescent E and transmission light F generated from the specimen 50 are picked up by a TV camera 62 through the objective lens 42, the dichroic mirror 41, the band-pass filter 44 and a reflection mirror 61 and displayed on a monitor part 64.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡下で試料に
照射光を照射することにより、例えば、ケージド試薬の
分解、細胞破壊、光ピンセット、蛍光褪色回復などを行
う顕微鏡装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microscope apparatus that irradiates a sample with irradiation light under a microscope to perform, for example, decomposition of a caged reagent, cell destruction, optical tweezers, and recovery from fluorescence fading.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、顕微鏡下で、試料に照射光を
照射してその試料から発生する散乱光や蛍光を観察する
だけでなく、試料に照射光を照射することにより、ケー
ジド試薬を光分解したり、試料を破壊したり、光ピンセ
ットとして試料の一部を移動させたり、或いは、蛍光褪
色を回復したりすることが行われている。この従来の顕
微鏡では、試料である多数の細胞のうちの1つの細胞ま
たは1つの細胞内の局所などのようにμmレベルの領域
に照射光を照射しようとする場合には、試料観察に使用
する対物レンズを通して照射光を試料表面上に集光照射
している。ここで、照射光は1回の照射時間に試料上の
1点のみに照射される。
2. Description of the Related Art Conventionally, in addition to irradiating a sample with irradiation light under a microscope and observing scattered light and fluorescence generated from the sample, irradiation of the sample with irradiation light allows the caged reagent to emit light. Disassembly, destruction of a sample, movement of a part of a sample as optical tweezers, or recovery of fluorescent fading are performed. This conventional microscope is used for observation of a sample when it is desired to irradiate an irradiation light to a region of μm level such as one cell among a large number of cells as a sample or a local area within one cell. Irradiation light is condensed and irradiated on the sample surface through an objective lens. Here, the irradiation light is applied to only one point on the sample in one irradiation time.

【0003】したがって、細胞内の互いに異なる部位そ
れぞれに照射光を照射したい場合や、生体組織内の互い
に異なる細胞それぞれに照射光を照射したい場合には、
照射光の照射毎に、光学系を調整したり、試料を移動し
たりすることが行われている。また、走査装置と組み合
わせて、照射光を順次に又はランダムに走査することも
行われている。
[0003] Therefore, when it is desired to irradiate different parts of a cell with irradiation light, or to irradiate different cells of a living tissue with irradiation light,
Adjustment of the optical system and movement of the sample are performed for each irradiation of the irradiation light. Further, in combination with a scanning device, scanning with irradiation light is performed sequentially or randomly.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術は、或る1時刻に試料上の1点のみに照射光を照
射するものであって、試料上の複数の部位に同時に照射
光を照射するものではない。すなわち、試料上の複数の
部位それぞれへ照射光を照射しようとする場合には、そ
の複数の部位それぞれに互いに異なる時刻に照射光を照
射することになる。したがって、例えば、ケージド試薬
を用いて異なる2つの細胞それぞれに存在する分子の量
を同時に増加させることはできず、互いに離れた2つの
細胞を同時に破壊することはできず、光ピンセットとし
て複数の部位を同時に移動させることはできず、また、
複数の部位の蛍光褪色を同時に回復することもできな
い。
However, the above-mentioned prior art irradiates only one point on the sample with irradiation light at a certain time, and simultaneously irradiates a plurality of parts on the sample with irradiation light. It does not do. That is, when irradiating the irradiation light to each of the plurality of portions on the sample, the irradiation light is irradiated to each of the plurality of portions at different times. Therefore, for example, the amount of molecules present in two different cells cannot be simultaneously increased using a caged reagent, and two cells separated from each other cannot be simultaneously destroyed. Cannot be moved at the same time,
It is not possible to simultaneously recover the fluorescent fading of a plurality of sites.

【0005】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、試料上の互いに異なる複数の部位に照
射光を同時に集光照射することができる顕微鏡装置を提
供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problem, and has as its object to provide a microscope apparatus capable of simultaneously irradiating a plurality of different portions on a sample with irradiation light. I do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係る顕微鏡装置
は、(1) 試料に照射すべき光束を出力する照射用光源
と、(2) 照射用光源から出力された光束を分岐して第1
の照射光および第2の照射光を出力する分岐光学系と、
(3) 第1および第2の照射光それぞれを入力し視野領域
内の試料上の2点それぞれに集光照射させる対物レンズ
と、(4) 対物レンズに入射した試料からの光像を検出す
る検出光学系と、を備えることを特徴とする。この顕微
鏡によれば、試料に照射すべき第1および第2の照射光
は、照射用光源から出力された光束が分岐光学系により
分岐されて出力され、対物レンズに入力し、その視野領
域内の試料上の2点それぞれに集光照射される。対物レ
ンズに入射した試料からの光像は、検出光学系により検
出される。
According to the present invention, there is provided a microscope apparatus comprising: (1) an irradiation light source for outputting a light beam to be irradiated on a sample; and (2) a light beam output from the irradiation light source. 1
A branching optical system that outputs irradiation light and second irradiation light,
(3) an objective lens which receives each of the first and second irradiation lights and focuses and irradiates each of the two points on the sample within the visual field region; and (4) detects a light image from the sample incident on the objective lens. And a detection optical system. According to this microscope, the first and second irradiation light beams to be irradiated on the sample are output by the light beam output from the irradiation light source being split by the splitting optical system and input to the objective lens, and are input to the objective lens. The two points on the sample are focused and irradiated. The light image from the sample incident on the objective lens is detected by the detection optical system.

【0007】試料に照射すべき励起光を出力する励起用
光源と、励起光を試料に照射する励起光学系と、を更に
備え、検出光学系は、試料から発生した蛍光を検出する
こととしてもよい。この場合には、励起用光源から出力
された励起光は、励起光学系を経て、第1および第2の
照射光が照射された試料に照射され、これに伴って試料
から発生した蛍光は、検出光学系により検出される。
[0007] An excitation light source for outputting excitation light to be irradiated on the sample, and an excitation optical system for irradiating the sample with excitation light are further provided. The detection optical system may detect fluorescence generated from the sample. Good. In this case, the excitation light output from the excitation light source passes through the excitation optical system and irradiates the sample irradiated with the first and second irradiation lights. It is detected by the detection optical system.

【0008】試料に照射すべき照明光を出力する照明用
光源と、照明光を試料に照射する照明光学系と、を更に
備え、検出光学系は、照明光が試料に照射されて発生し
た透過光または散乱光を検出することとしてもよい。こ
の場合には、照明用光源から出力された照明光は、照明
光学系を経て、第1および第2の照射光が照射された試
料に照射され、これに伴って試料から発生した透過光ま
たは反射光は、検出光学系により検出される。
An illumination light source for outputting illumination light to be irradiated on the sample, and an illumination optical system for irradiating the sample with illumination light are further provided. The detection optical system is configured to transmit light generated by irradiating the sample with the illumination light. Light or scattered light may be detected. In this case, the illumination light output from the illumination light source passes through the illumination optical system and irradiates the sample irradiated with the first and second irradiation light, and the transmitted light or the light generated from the sample accompanying the illumination light. The reflected light is detected by the detection optical system.

【0009】試料上の第1の照射光の照射位置を調整す
る第1の照射位置調整手段を更に備えてもよいし、これ
に加えて、試料上の第2の照射光の照射位置を調整する
第2の照射位置調整手段を更に備えてもよい。この場合
には、試料上の第1および第2の照射光それぞれの照射
位置が第1および第2の照射位置調整手段それぞれによ
り調整されるので、第1および第2の照射光それぞれを
試料上の所望の位置に照射することができる。
A first irradiation position adjusting means for adjusting the irradiation position of the first irradiation light on the sample may be further provided, and in addition to this, the irradiation position of the second irradiation light on the sample is adjusted. A second irradiation position adjusting means may be further provided. In this case, since the irradiation positions of the first and second irradiation lights on the sample are adjusted by the first and second irradiation position adjusting means, respectively, the first and second irradiation lights are respectively adjusted on the sample. At a desired position.

【0010】試料に照射される第1の照射光の強度を調
整する第1の照射強度調整手段を更に備えてもよいし、
これに加えて、試料に照射される第2の照射光の強度を
調整する第2の照射強度調整手段を更に備えてもよい。
この場合には、試料に照射される第1および第2の照射
光それぞれの強度が第1および第2の照射強度調整手段
それぞれにより調整されるので、第1および第2の照射
光それぞれを試料に所望の強度で照射することができ
る。
The apparatus may further include first irradiation intensity adjusting means for adjusting the intensity of the first irradiation light applied to the sample,
In addition to this, a second irradiation intensity adjusting means for adjusting the intensity of the second irradiation light irradiated on the sample may be further provided.
In this case, since the respective intensities of the first and second irradiation light applied to the sample are adjusted by the first and second irradiation intensity adjusting means, respectively, the first and second irradiation light are respectively applied to the sample. At a desired intensity.

【0011】第1の照射光の通過および遮断の制御を行
う第1の照射制御手段を更に備えてもよいし、これに加
えて、第2の照射光の通過および遮断の制御を行う第2
の照射制御手段を更に備えてもよい。この場合には、第
1および第2の照射光それぞれの通過および遮断が第1
および第2の照射制御手段それぞれにより制御されるの
で、第1および第2の照射光それぞれを必要な時だけ試
料に照射することができる。
A first irradiation control means for controlling passage and blocking of the first irradiation light may be further provided, and in addition to this, a second irradiation control means for controlling passage and blocking of the second irradiation light.
May be further provided. In this case, the passage and blocking of the first and second irradiation lights are respectively the first and second irradiation lights.
And the second irradiation control means, respectively, so that the sample can be irradiated only with the first and second irradiation light only when necessary.

【0012】第1および第2の照射光の双方または何れ
か一方の強度を測定する照射強度測定手段を更に備えて
もよい。この場合には、試料に照射される第1および第
2の照射光それぞれの強度が照射強度測定手段により測
定され監視される。
[0012] An irradiation intensity measuring means for measuring the intensity of both or any one of the first and second irradiation lights may be further provided. In this case, the intensity of each of the first and second irradiation light irradiating the sample is measured and monitored by the irradiation intensity measuring means.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。図1は、本発明に係る顕微鏡装置の構成図であ
る。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same elements will be denoted by the same reference symbols, without redundant description. FIG. 1 is a configuration diagram of a microscope device according to the present invention.

【0014】照射用光源10は、試料50に照射すべき
照射光を出射するものであり、例えば、Arイオンレー
ザ光源やNd:YAGレーザ光源などのレーザ光源が好
適に用いられる。分岐光学系20は、この照射用光源1
0から出射された照射光を入力し、照射光Aおよび照射
光Bに2分岐する。なお、この分岐光学系20の具体的
な構成については後述する。分岐光学系20から出射さ
れた照射光AおよびBは、集光レンズ31を経て顕微鏡
本体に入射して、ダイクロイックミラー35を透過し、
ダイクロイックミラー41により反射され、対物レンズ
42に入射する。この対物レンズ42は、試料ステージ
43に置かれた試料50の視野領域内の2点それぞれ
に、照射光AおよびBそれぞれを集光照射する。
The irradiation light source 10 emits irradiation light to be irradiated on the sample 50. For example, a laser light source such as an Ar ion laser light source or a Nd: YAG laser light source is preferably used. The branching optical system 20 includes the irradiation light source 1
The irradiation light emitted from 0 is input, and is branched into irradiation light A and irradiation light B. The specific configuration of the branch optical system 20 will be described later. The irradiation lights A and B emitted from the branch optical system 20 enter the microscope main body through the condenser lens 31 and pass through the dichroic mirror 35,
The light is reflected by the dichroic mirror 41 and enters the objective lens 42. The objective lens 42 condenses and irradiates the irradiation light A and the irradiation light B to each of two points in the visual field region of the sample 50 placed on the sample stage 43.

【0015】対物レンズ42の視野領域内の試料50の
2点に同時照射された照射光AおよびBそれぞれは、そ
の2点のケージド試薬を同時に光分解したり、試料中の
2点を破壊したり、光ピンセットとして試料の2点を同
時に移動させたり、或いは、蛍光褪色を2点同時に回復
したりするものである。また、照射光AおよびBそれぞ
れは、目的に応じてパルス光でも連続光でもよい。
The irradiation lights A and B simultaneously irradiating two points of the sample 50 in the visual field region of the objective lens 42 simultaneously photolyze the two points of the caged reagent or destroy two points in the sample. Alternatively, two points of the sample may be simultaneously moved as optical tweezers, or two points of fluorescence fading may be simultaneously recovered. Further, each of the irradiation lights A and B may be pulse light or continuous light depending on the purpose.

【0016】一方、励起用光源32は、試料50に含ま
れる蛍光物質を励起するための励起光Cを出射するもの
であり、レーザ光源、キセノンランプ、水銀ランプなど
が好適に用いられる。この励起用光源32から出射され
た励起光Cは、励起光学系を経て試料50に照射され
る。すなわち、励起光Cは、集光レンズ33により集光
され、バンドパスフィルタ34により励起波長成分のみ
が透過され、その後、顕微鏡に入射して、ダイクロイッ
クミラー35により反射され、ダイクロイックミラー4
1により反射され、対物レンズ42に入射する。そし
て、対物レンズ42は、試料ステージ43に置かれた試
料50の視野領域に励起光Cを集光照射し、試料50に
含まれる蛍光物質を励起して蛍光Eを発生させる。ま
た、照明用光源45は、試料50に照射すべき照明光D
を出射するものであり、集光レンズ(照明光学系)46
は、この照明光Dを試料50に集光照射する。
On the other hand, the excitation light source 32 emits excitation light C for exciting the fluorescent substance contained in the sample 50, and a laser light source, a xenon lamp, a mercury lamp or the like is preferably used. The excitation light C emitted from the excitation light source 32 is applied to the sample 50 via an excitation optical system. That is, the excitation light C is condensed by the condenser lens 33, only the excitation wavelength component is transmitted by the band-pass filter 34, thereafter, enters the microscope, is reflected by the dichroic mirror 35, and is reflected by the dichroic mirror 4.
1 and is incident on the objective lens 42. Then, the objective lens 42 collects and irradiates the excitation light C onto the visual field region of the sample 50 placed on the sample stage 43, and excites a fluorescent substance contained in the sample 50 to generate fluorescence E. The illumination light source 45 is provided with illumination light D to be irradiated on the sample 50.
And a condenser lens (illumination optical system) 46
Collects and irradiates the illumination light D onto the sample 50.

【0017】励起光Cが試料50に照射されて発生した
蛍光E、および、照明光Dが試料50に照射されて透過
した透過光Fそれぞれは、検出光学系により検出され
る。すなわち、蛍光Eおよび透過光Fそれぞれは、対物
レンズ42に入力し、ダイクロイックミラー41を透過
し、バンドパスフィルタ44により所定波長成分のみが
透過され、反射鏡61により反射され、テレビカメラ6
2の撮像面上に結像されて、テレビカメラ62により撮
像される。テレビカメラ62により撮像された蛍光Eま
たは透過光Fの像は、画像処理部63を経てモニタ部6
4に表示され、また、画像処理部63により画像処理
(例えば、蛍光Eの強度分布の疑似カラー化、透過光F
の光像の輪郭強調)された後にモニタ部64に表示さ
れ、さらに、データ解析部65により種々の解析(例え
ば、試料50上の或点で発生した蛍光Eの強度の時間変
化の算出)がなされる。
The fluorescence E generated by irradiating the sample 50 with the excitation light C and the transmitted light F transmitted by irradiating the sample 50 with the illumination light D are detected by the detection optical system. That is, each of the fluorescence E and the transmitted light F enters the objective lens 42, passes through the dichroic mirror 41, passes only a predetermined wavelength component by the bandpass filter 44, is reflected by the reflecting mirror 61, and is reflected by the television camera 6
An image is formed on the imaging surface 2 and is imaged by the television camera 62. The image of the fluorescent light E or the transmitted light F captured by the television camera 62 passes through the image processing unit 63 and the monitor unit 6.
4 and image processing (for example, pseudo colorization of the intensity distribution of the fluorescence E, transmission light F
Is displayed on the monitor unit 64 after the light image is emphasized, and various analysis (for example, calculation of a time change of the intensity of the fluorescence E generated at a certain point on the sample 50) is performed by the data analysis unit 65. Done.

【0018】以上のように、ダイクロイックミラー35
は、照射光AおよびBを透過させ、励起光Cを反射させ
るものである。ダイクロイックミラー41は、照射光A
およびBならびに励起光Cを反射させ、蛍光Eおよび透
過光Fを透過させるものである。また、対物レンズ42
は、照射光AおよびBそれぞれを試料50の視野領域内
の2点それぞれに集光照射し、励起光Cを試料50の視
野領域に集光照射し、試料50の視野領域から発生した
蛍光Eおよび透過光Fそれぞれを入力してテレビカメラ
62へと導くものである。
As described above, the dichroic mirror 35
Is for transmitting the irradiation lights A and B and reflecting the excitation light C. The dichroic mirror 41 receives the irradiation light A
And B and the excitation light C are reflected, and the fluorescence E and the transmitted light F are transmitted. Also, the objective lens 42
Respectively, collectively irradiate the irradiation light A and B to each of two points in the field of view of the sample 50, irradiate the excitation light C onto the field of view of the sample 50 and irradiate the fluorescence E generated from the field of view of the sample 50. And the transmitted light F are input and guided to the television camera 62.

【0019】この顕微鏡装置によれば、照射用光源10
から出射され分岐光学系20を経た照射光AおよびB、
励起用光源32から出射された励起光C、ならびに、照
明用光源45から出射された照明光Dそれぞれが試料5
0に照射され、また、試料50から発生した蛍光Eおよ
び透過光Fそれぞれが検出光学系を経てテレビカメラ6
2により撮像されモニタ部64により表示される。
According to this microscope apparatus, the irradiation light source 10
Irradiating light A and B emitted from the
The excitation light C emitted from the excitation light source 32 and the illumination light D emitted from the illumination light source 45
0, and each of the fluorescence E and the transmitted light F generated from the sample 50 passes through the detection optical system and is transmitted to the television camera 6.
2 and is displayed by the monitor unit 64.

【0020】したがって、例えば、励起用光源32から
励起光Cを出射しないで、照明用光源45から出射され
た照明光Dを試料50に照射するとともに、照射用光源
10から出射され分岐光学系20により分岐された照射
光AおよびBそれぞれを試料50上の2点それぞれに照
射すれば、モニタ部64の表示により、試料50からの
透過光Fにより試料50を観察しながら、照射光Aおよ
びBそれぞれの試料50上の照射位置を確認し調整する
ことができる。
Therefore, for example, the sample 50 is irradiated with the illumination light D emitted from the illumination light source 45 without emitting the excitation light C from the excitation light source 32, and the branch optical system 20 emitted from the illumination light source 10 is emitted. When the irradiation light A and the light B respectively branched by the above are irradiated on each of two points on the sample 50, the monitor unit 64 displays the irradiation light A and the light B while observing the sample 50 with the transmitted light F from the sample 50. The irradiation position on each sample 50 can be confirmed and adjusted.

【0021】また、照射用光源10から照射光Aおよび
Bを出射しないで、照明用光源45から出射された照明
光Dを試料50に照射するとともに、励起用光源32か
ら出射された励起光Cを試料50に照射すれば、モニタ
部64の表示により、試料50からの透過光Fにより試
料50を観察しながら、その試料50における蛍光Eの
発生位置を確認することができる。それ故、試料50が
生体試料のように観察中に運動する場合であっても、試
料50における蛍光Eの発生位置や強度分布を正確に確
認することが可能である。
The illumination light D emitted from the illumination light source 45 is emitted to the sample 50 without emitting the illumination light A and B from the illumination light source 10, and the excitation light C emitted from the excitation light source 32 is emitted. Is irradiated on the sample 50, the display position of the fluorescence E on the sample 50 can be confirmed by the display of the monitor unit 64 while observing the sample 50 with the transmitted light F from the sample 50. Therefore, even when the sample 50 moves during observation like a biological sample, it is possible to accurately confirm the generation position and intensity distribution of the fluorescence E in the sample 50.

【0022】次に、本発明に係る顕微鏡装置の分岐光学
系20の好適な1例について説明する。図2は、分岐光
学系の1例の構成図である。
Next, a preferred example of the branch optical system 20 of the microscope apparatus according to the present invention will be described. FIG. 2 is a configuration diagram of an example of the branch optical system.

【0023】照射用光源10から出射された照射光は、
分岐光学系20に入射して、先ず、ハーフミラー21に
より2分岐される。2分岐された一方の照射光Aは、反
射光22Aにより反射され、シャッタ23Aを経て、減
光フィルタ24Aを所定の透過率で透過し、ハーフミラ
ー26に入射する。また、他方の照射光Bは、反射光2
2Bにより反射され、シャッタ23Bを経て、減光フィ
ルタ24Bを所定の透過率で透過し、ハーフミラー26
に入射する。そして、ハーフミラー26に入射した照射
光AおよびBそれぞれは、一部が反射され、残部が透過
する。ハーフミラー26で透過した照射光Aおよび反射
した照射光Bそれぞれは、分岐光学系20から出射さ
れ、集光レンズ31に入射し、さらに顕微鏡本体に入射
する。
The irradiation light emitted from the irradiation light source 10 is:
The light enters the branch optical system 20 and is first split into two by the half mirror 21. One of the two split light beams A is reflected by the reflected light beam 22A, passes through the shutter 23A, passes through the neutral density filter 24A at a predetermined transmittance, and enters the half mirror 26. The other irradiation light B is reflected light 2
2B, passes through a shutter 23B, passes through a neutral density filter 24B at a predetermined transmittance, and
Incident on. Then, each of the irradiation lights A and B incident on the half mirror 26 is partially reflected, and the rest is transmitted. The irradiation light A and the irradiation light B reflected by the half mirror 26 are respectively emitted from the branch optical system 20, enter the condenser lens 31, and further enter the microscope body.

【0024】ここで、反射鏡(照射位置調整手段)22
Aおよび22Bそれぞれは、その傾きを可変に設定する
ことが可能であって、その傾きに応じて、照射光Aおよ
びBそれぞれが試料50上に照射される位置を調整する
ことができる。シャッタ(照射制御手段)23Aおよび
23Bそれぞれは、それが開いているときには照射光A
およびBそれぞれを通過させて試料50上に照射し、閉
じているときには照射光AおよびBそれぞれを遮断し試
料50上に照射させない。これらシャッタ23Aおよび
23Bは、同一タイミングに開閉すれば照射光Aおよび
Bを同時刻に試料50上に照射することができ、また、
必要に応じて、互いに所要時間だけずらして開閉すれば
照射光AおよびBを該所要時間だけずらして試料50上
に照射することができる。また、減光フィルタ(照射強
度調整手段)24Aおよび24Bそれぞれは、照射光A
およびBそれぞれの試料50上に照射される強度を調整
するものである。
Here, a reflecting mirror (irradiation position adjusting means) 22
The inclination of each of A and 22B can be set variably, and the position where each of the irradiation lights A and B is irradiated onto the sample 50 can be adjusted according to the inclination. When the shutters (irradiation control means) 23A and 23B are open, the illumination light A
And B are passed through and irradiated onto the sample 50. When the sample is closed, the irradiation lights A and B are blocked and the sample 50 is not irradiated. If these shutters 23A and 23B are opened and closed at the same timing, the irradiation lights A and B can be irradiated onto the sample 50 at the same time.
If necessary, the sample can be irradiated with the irradiation light beams A and B on the sample 50 by shifting the opening and closing by a required time, if necessary. Further, each of the neutral density filters (irradiation intensity adjusting means) 24A and 24B
And B, the intensity of irradiation on each sample 50 is adjusted.

【0025】また、ハーフミラー26で反射した照射光
Aおよび透過した照射光Bそれぞれは、分岐光学系20
から出射され、フォトメータ(照射強度測定手段)28
に入射して光量が測定され、その測定値から、試料50
に照射された照射光Aおよび照射光Bそれぞれの強度を
求めることができる。
The irradiation light A reflected by the half mirror 26 and the irradiation light B transmitted therethrough are respectively transmitted to the branch optical system 20.
And a photometer (irradiation intensity measuring means) 28
And the amount of light is measured, and from the measured value, the sample 50
The intensity of each of the irradiation light A and the irradiation light B applied to the light source can be obtained.

【0026】次に、本発明に係る顕微鏡装置の分岐光学
系20の好適な他の例について説明する。図3は、分岐
光学系の他の例の構成図である。
Next, another preferred example of the branch optical system 20 of the microscope apparatus according to the present invention will be described. FIG. 3 is a configuration diagram of another example of the branch optical system.

【0027】照射用光源10から出射された照射光は、
分岐光学系20に入射して、先ず、1/2波長板29に
より偏光面が回転され、ハーフミラー21により2分岐
される。2分岐された一方の照射光Aは、反射光22A
により反射され、シャッタ23Aを経て、1/2波長板
25Aにより偏光面が回転され、偏光ビームスプリッタ
27に入射する。また、他方の照射光Bは、反射光22
Bにより反射され、シャッタ23Bを経て、1/2波長
板25Bにより偏光面が回転され、偏光ビームスプリッ
タ27に入射する。
The irradiation light emitted from the irradiation light source 10 is:
After entering the splitting optical system 20, first, the polarization plane is rotated by the half-wave plate 29, and the light is split into two by the half mirror 21. One of the two split irradiation lights A is reflected light 22A.
, And the polarization plane is rotated by the half-wave plate 25A through the shutter 23A, and is incident on the polarization beam splitter 27. The other irradiation light B is reflected light 22
The light is reflected by B, passes through a shutter 23B, is rotated by a half-wave plate 25B, and is incident on a polarization beam splitter 27.

【0028】この偏光ビームスプリッタ27は、入射し
た光の偏光方位に応じて光を反射または透過するもので
あり、例えば、誘電体偏光膜を使用したものや、結晶を
使用したグランレーザプリズムなどが用いられる。した
がって、偏光ビームスプリッタ27に入射した照射光A
およびBそれぞれは、一部が反射され、残部が透過す
る。すなわち、偏光ビームスプリッタ27で透過した照
射光Aの第1の偏光成分および反射した照射光Bの第2
の偏光成分それぞれは、分岐光学系20から出射され、
集光レンズ31に入射し、さらに顕微鏡本体に入射す
る。なお、第1および第2の偏光成分とは、一方がp偏
光成分を、他方がs偏光成分を表している。
The polarization beam splitter 27 reflects or transmits light according to the polarization direction of incident light. For example, a polarization beam splitter using a dielectric polarizing film, a Glan laser prism using a crystal, or the like is used. Used. Therefore, the irradiation light A incident on the polarization beam splitter 27
Each of B and B is partially reflected and the rest is transmitted. That is, the first polarization component of the irradiation light A transmitted through the polarization beam splitter 27 and the second polarization component of the irradiation light B reflected therefrom.
Are emitted from the branching optical system 20, and
The light enters the condenser lens 31 and further enters the microscope body. In addition, one of the first and second polarization components represents a p-polarization component, and the other represents an s-polarization component.

【0029】ここで、反射鏡(照射位置調整手段)22
Aおよび22Bならびにシャッタ(照射制御手段)23
Aおよび23Bそれぞれは、図2で説明したものと同様
のものである。また、1/2波長板(照射強度調整手
段)25Aおよび25Bそれぞれは、図1の減光フィル
タ24Aおよび24Bそれぞれと同様に、照射光Aおよ
びBそれぞれの試料50上に照射される強度を調整する
ものである。すなわち、1/2波長板25Aから出射さ
れる照射光Aの偏光状態に応じて、偏光ビームスプリッ
タ27で透過する割合が異なり、また、1/2波長板2
5Bから出射される照射光Bの偏光状態に応じて、偏光
ビームスプリッタ27で反射される割合が異なる。この
ように、1/2波長板25Aおよび25Bそれぞれを用
いて試料50に照射される照射光AおよびBそれぞれの
強度を調整する場合には、偏光ビームスプリッタ27に
おける照射光AおよびBそれぞれの損失を抑えることが
可能で、照射光AおよびBそれぞれを試料50に効率よ
く照射することができる。
Here, the reflecting mirror (irradiation position adjusting means) 22
A and 22B and shutter (irradiation control means) 23
Each of A and 23B is the same as that described in FIG. The half-wave plates (irradiation intensity adjusting means) 25A and 25B respectively adjust the intensity of each of the irradiation light A and B irradiated onto the sample 50 in the same manner as each of the neutral density filters 24A and 24B in FIG. Is what you do. That is, depending on the polarization state of the irradiation light A emitted from the half-wave plate 25A, the ratio of transmission of the irradiation light A through the polarization beam splitter 27 is different.
The proportion reflected by the polarization beam splitter 27 differs depending on the polarization state of the irradiation light B emitted from 5B. As described above, when adjusting the intensity of each of the irradiation lights A and B applied to the sample 50 using the half-wave plates 25A and 25B, the loss of each of the irradiation lights A and B in the polarization beam splitter 27 is reduced. Can be suppressed, and the irradiation light A and B can be efficiently irradiated onto the sample 50.

【0030】また、偏光ビームスプリッタ27で反射し
た照射光Aの第2の偏光成分および透過した照射光Bの
第1の偏光成分それぞれは、分岐光学系20から出射さ
れ、フォトメータ(照射強度測定手段)28に入射して
光量が測定され、その測定値から、試料50に照射され
た照射光Aおよび照射光Bそれぞれの強度を求めること
ができる。
The second polarized light component of the illuminating light A reflected by the polarizing beam splitter 27 and the first polarized light component of the transmitted illuminating light B are respectively emitted from the branching optical system 20 and subjected to a photometer (irradiation intensity measurement). (Means) The amount of light incident on the sample 50 is measured, and the intensity of each of the irradiation light A and the irradiation light B applied to the sample 50 can be obtained from the measured value.

【0031】次に、本発明に係る顕微鏡装置を用いた実
験例について説明する。ここでは、照射光AおよびBそ
れぞれは、ケージド試薬を光分解する分解光として作用
している。
Next, an experimental example using the microscope apparatus according to the present invention will be described. Here, each of the irradiation lights A and B acts as decomposition light for photodecomposing the caged reagent.

【0032】実験系および実験条件は以下のとおりであ
る。照射用光源10として、Arイオンレーザ光源(波
長351nm、連続発振、電磁シャッタ1/16秒)、
または、Nd:YAGレーザ光源(波長355nm、パ
ルス発振、パルス幅5n秒)を用いた。分岐光学系20
として図2に示す構成のものを採用し、照射用光源10
から出射された光束を分岐光学系20により分岐して照
射光AおよびBとした。対物レンズ42は倍率100倍
のものを用いた。試料50は培養細胞(NG108-15)であ
り、この試料50に、照射光AおよびBそれぞれの照射
に伴って光分解して Ca2+ イオンを放出するケージド試
薬 caged Ca2+ (o-nitrophenyl-EGTA/AM) を導入し、ま
た、 Ca2+ イオンを検出するための蛍光試薬として flu
o-3/AMを導入した。
The experimental system and experimental conditions are as follows. As an irradiation light source 10, an Ar ion laser light source (wavelength 351 nm, continuous oscillation, electromagnetic shutter 1/16 second),
Alternatively, an Nd: YAG laser light source (wavelength: 355 nm, pulse oscillation, pulse width: 5 ns) was used. Branch optical system 20
The structure shown in FIG.
The light beam emitted from the light source is branched by the branching optical system 20 to obtain irradiation lights A and B. The objective lens 42 used had a magnification of 100 times. The sample 50 is a cultured cell (NG108-15). A caged reagent that decomposes and releases Ca2 + ions upon irradiation with each of the irradiation lights A and B is added to the sample 50. caged Ca2 + (o-nitrophenyl-EGTA / AM) ) And flu as a fluorescent reagent for detecting Ca2 + ions.
o-3 / AM was introduced.

【0033】試料50上に照射された照射光AおよびB
それぞれのスポットを、対物レンズ42等からなる検出
光学系を経てテレビカメラ62で撮像しモニタ部64で
観察したところ、照射光AおよびBそれぞれの照射径は
約1μmであった。また、反射鏡22Aおよび22Bそ
れぞれの傾きを調整することにより、照射光AおよびB
それぞれの試料50上の照射位置を調整することができ
ることが確認できた。
Irradiation Light A and B Irradiated on Sample 50
Each spot was imaged by a television camera 62 via a detection optical system including an objective lens 42 and the like, and observed by a monitor 64. The irradiation diameter of each of the irradiation lights A and B was about 1 μm. Further, by adjusting the inclination of each of the reflecting mirrors 22A and 22B, the irradiation lights A and B are adjusted.
It was confirmed that the irradiation position on each sample 50 could be adjusted.

【0034】互いに異なる2つの細胞それぞれに照射光
AおよびBそれぞれを同時照射した後、励起用光源32
から出射された励起光Cを試料50に照射して、蛍光試
薬から発生した蛍光Eを対物レンズ42等からなる検出
光学系を経てテレビカメラ62で撮像しモニタ部64で
観察したところ、照射光AおよびBそれぞれが照射され
た2つの細胞それぞれではケージド試薬が光分解されて
Ca2+ が増加しているが、それら以外の細胞では Ca2+
が増加していないことが確認できた。また、その後も細
胞に励起光Cを照射し蛍光Eを観察し続けたところ、照
射光AおよびBそれぞれが照射された2つの細胞からの
蛍光Eの強度は次第に減少し、それら以外の細胞からの
蛍光Eは僅かに増加した。これは、照射光AおよびBの
照射により2つの細胞で増加した Ca2+ が、それら以外
の細胞へ拡散していったものと考えられる。
After simultaneously irradiating the irradiation light A and the irradiation light B to each of two different cells, the excitation light source 32
The sample 50 is irradiated with the excitation light C emitted from the sample, and the fluorescence E generated from the fluorescent reagent is imaged by the television camera 62 via the detection optical system including the objective lens 42 and the like, and observed by the monitor unit 64. In each of the two cells irradiated with A and B, the caged reagent was photolyzed.
Ca2 + is increased, but Ca2 + is
Was not increased. Further, after that, when the cells were irradiated with the excitation light C and the fluorescence E was continuously observed, the intensity of the fluorescence E from the two cells irradiated with the irradiation light A and B was gradually decreased, and the intensity of the fluorescence E from the other cells was decreased. The fluorescence E slightly increased. This is considered that Ca2 + increased in the two cells due to the irradiation with the irradiation light A and B diffused into the other cells.

【0035】また、単一の細胞内の2点それぞれに照射
光AおよびBそれぞれを同時照射した後、励起用光源3
2から出射された励起光Cを試料50に照射して、蛍光
試薬から発生した蛍光Eを対物レンズ42等からなる検
出光学系を経てテレビカメラ62で撮像しモニタ部64
で観察したところ、照射光AおよびBそれぞれが照射さ
れた細胞内の2点それぞれではケージド試薬が光分解さ
れて Ca2+ が増加しているが、それら以外の領域では C
a2+ が増加していないことが確認できた。また、その後
も細胞に励起光Cを照射し蛍光Eを観察し続けたとこ
ろ、照射光AおよびBそれぞれが照射された細胞内の2
点からの蛍光Eの強度は次第に減少し、その周辺では蛍
光強度が次第に強くなり、やがて、細胞からの蛍光Eの
発生は均一化していく傾向が認められた。これは、照射
光AおよびBの照射により局所的に増加した Ca2+ がそ
の細胞内に拡散していくことに因るものと考えられる。
After irradiating the irradiation light A and the irradiation light B simultaneously to each of two points in a single cell, the excitation light source 3
The sample 50 is irradiated with the excitation light C emitted from the sample 2, the fluorescence E generated from the fluorescent reagent is imaged by the television camera 62 via the detection optical system including the objective lens 42 and the like, and the monitor unit 64
As a result, the caged reagent was photolyzed and Ca2 + increased at each of the two points in the cells irradiated with the irradiation lights A and B.
It was confirmed that a2 + did not increase. After that, the cells were irradiated with the excitation light C and the fluorescence E was continuously observed.
The intensity of the fluorescence E from the point gradually decreased, the fluorescence intensity gradually increased around the point, and the generation of the fluorescence E from the cells tended to be uniformed over time. This is considered to be due to the fact that Ca2 + locally increased by irradiation with the irradiation lights A and B diffuses into the cells.

【0036】さらに、照明用光源45からの照明光Dを
試料50に照射し、その透過光Fの光像をテレビカメラ
62により撮像しモニタ部64に表示させることで、細
胞の形状を確認するとともに、その細胞中における蛍光
発生位置を確認することができた。
Further, the illumination light D from the illumination light source 45 is applied to the sample 50, and the optical image of the transmitted light F is captured by the television camera 62 and displayed on the monitor section 64 to confirm the shape of the cells. At the same time, the position of fluorescence emission in the cells could be confirmed.

【0037】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく種々の変形と適用が可能である。例えば、図1
に示す実施形態では、照明光Dを試料50に照射して試
料50からの透過光Fを観察する透過型の顕微鏡であっ
たが、試料50からの反射光を観察する反射型の顕微鏡
でもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications and applications are possible. For example, FIG.
In the embodiment shown in (1), the transmission type microscope observes the transmitted light F from the sample 50 by irradiating the sample 50 with the illumination light D, but may be a reflection type microscope observing the reflected light from the sample 50. .

【0038】また、上記の実験例では、照射光Aおよび
Bは、試料50に導入されたケージド試薬を光分解する
分解光として用いられたが、試料中を破壊したり、光ピ
ンセットとして試料の一部を移動させたり、或いは、蛍
光褪色を回復したりする場合にも、本発明に係る顕微鏡
装置は有効である。なお、照射光AおよびBは、目的に
応じて、その波長や強度、連続出力かパルス出力かが最
適に設定される。
In the above experimental example, the irradiation lights A and B were used as the decomposition light for photodecomposing the caged reagent introduced into the sample 50. However, the inside of the sample was destroyed or the sample was used as optical tweezers. The microscope apparatus according to the present invention is also effective when a part is moved or when fluorescence fading is recovered. The wavelengths and intensities of the irradiation lights A and B and the continuous output or the pulse output are optimally set according to the purpose.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり本発明によ
れば、試料に照射すべき第1および第2の照射光は、照
射用光源から出力された光束が分岐光学系により分岐さ
れて出力され、対物レンズに入力し、その視野領域内の
試料上の2点それぞれに集光照射され、一方、対物レン
ズに入射した試料からの光像は、検出光学系により検出
される。このような構成としたので、対物レンズの視野
内の2点に照射光を同時に照射することができるので、
その2点に同時に光刺激を与え、その後の反応を解析す
ることが可能となる。
As described above in detail, according to the present invention, the first and second irradiation light beams to be irradiated on the sample are output by the light beam output from the irradiation light source being split by the splitting optical system. Then, the light is input to the objective lens, and is condensed and irradiated on each of two points on the sample in the field of view. On the other hand, a light image from the sample incident on the objective lens is detected by the detection optical system. With such a configuration, it is possible to simultaneously irradiate the irradiation light to two points in the field of view of the objective lens.
It is possible to apply a light stimulus to the two points at the same time and analyze the subsequent reaction.

【0040】また、励起用光源から出力された励起光
は、励起光学系を経て、第1および第2の照射光が照射
された試料に照射され、これに伴って試料から発生した
蛍光は、検出光学系により検出される。このような構成
としたので、第1および第2の照射光が照射された試料
上の位置およびその周辺の領域から発生した蛍光を検出
することができる。
The excitation light output from the excitation light source passes through the excitation optical system and irradiates the sample irradiated with the first and second irradiation lights. It is detected by the detection optical system. With such a configuration, it is possible to detect the fluorescence generated from the position on the sample irradiated with the first and second irradiation lights and the surrounding area.

【0041】また、照明用光源から出力された照明光
は、照明光学系を経て、第1および第2の照射光が照射
された試料に照射され、これに伴って試料から発生した
透過光または反射光は、検出光学系により検出される。
このような構成としたので、透過光像により試料を観察
しながら、その試料中の所望位置に第1および第2の照
射光を照射することができ、また、その試料中の蛍光発
生分布を解析することができる。
The illumination light output from the illumination light source passes through the illumination optical system and irradiates the sample irradiated with the first and second irradiation lights, thereby transmitting the transmitted light or the light generated from the sample. The reflected light is detected by the detection optical system.
With such a configuration, it is possible to irradiate the first and second irradiation lights to a desired position in the sample while observing the sample with the transmitted light image, and to determine the fluorescence generation distribution in the sample. Can be analyzed.

【0042】したがって、例えば、神経細胞のようにネ
ットワークを構成している細胞群にケージド試薬を導入
し、そのうちの2つの細胞に照射光を同時照射すること
で同時に活性化させ、細胞群内の他の細胞の反応を検出
することができ、そして、このような2つの細胞を同時
に活性化した場合と1つの細胞のみを活性化した場合と
で反応の差異を解析することが可能となる。一般に、生
体内の細胞の活性の制御は、複数の細胞の活動が互いに
影響しあって行われている場合が多く、このように複数
の細胞の間の情報伝達等に関する解析に本発明は有効で
ある。
Therefore, for example, a caged reagent is introduced into a cell group constituting a network, such as a nerve cell, and two of the cells are simultaneously activated by irradiating irradiation light, thereby simultaneously activating the two cells. The reaction of other cells can be detected, and it is possible to analyze the difference in response between the case where two such cells are activated simultaneously and the case where only one cell is activated. In general, the activity of cells in a living body is often controlled by the activities of a plurality of cells interacting with each other. Thus, the present invention is effective in analyzing information transmission between a plurality of cells and the like. It is.

【0043】また、対物レンズの倍率に依っては、細胞
の大きさよりも照射光の光束径を細くすることができる
ので、1つの細胞内の互いに異なる2点それぞれに同時
に照射光を照射し光刺激を行うことができる。例えば、
1つの細胞内での分子の配置や移動経路あるいは活性状
態が空間的に異なることで、細胞としての機能の発現の
程度や方向性(例えば、突起を伸ばす方向、情報分子を
放出する方向)が決定されると考えられているが、本発
明によれば、ケージド試薬が導入された細胞内の異なる
2点(例えば、細胞膜付近と核内)に同時に照射光を照
射して活性化することで、その細胞の機能を解析するこ
とができる。
Also, depending on the magnification of the objective lens, the luminous flux diameter of the irradiation light can be made smaller than the size of the cell, so that two different points in one cell are irradiated with the irradiation light at the same time. Stimulation can be performed. For example,
Due to the spatial disparity in the arrangement, movement path, or activation state of molecules within one cell, the degree and direction of expression of cell functions (eg, the direction in which protrusions are extended, the direction in which information molecules are released) are changed. According to the present invention, two different points (e.g., near the cell membrane and in the nucleus) in the cell into which the caged reagent has been introduced are activated and irradiated simultaneously with irradiation light. , The function of the cell can be analyzed.

【0044】さらに、本発明によれば、試料上の第1お
よび第2の照射光それぞれの照射位置が第1および第2
の照射位置調整手段それぞれにより調整されるので、第
1および第2の照射光それぞれを試料上の所望の位置に
照射することができる。また、試料に照射される第1お
よび第2の照射光それぞれの強度が第1および第2の照
射強度調整手段それぞれにより調整されるので、第1お
よび第2の照射光それぞれを試料に所望の強度で照射す
ることができる。また、第1および第2の照射光それぞ
れの通過および遮断が第1および第2の照射制御手段そ
れぞれにより制御されるので、第1および第2の照射光
それぞれを必要な時だけ試料に照射することがでる。ま
た、試料に照射される第1および第2の照射光それぞれ
の強度が照射強度測定手段により測定され監視される。
このような構成とすることで、第1および第2の照射光
それぞれを、試料上の任意の2点に、任意の強度で、任
意の時刻に照射することができるので、本発明に係る顕
微鏡装置は、上述した細胞の諸機能の解明に極めて有効
である。
Further, according to the present invention, the irradiation positions of the first and second irradiation lights on the sample are respectively the first and second irradiation light.
Are adjusted by the respective irradiation position adjusting means, so that each of the first and second irradiation light can be applied to a desired position on the sample. Further, since the respective intensities of the first and second irradiation light applied to the sample are adjusted by the first and second irradiation intensity adjusting means, respectively, the first and second irradiation light can be respectively applied to the sample by a desired amount. Irradiation at high intensity is possible. Further, since the passage and blocking of the first and second irradiation lights are controlled by the first and second irradiation control means, respectively, the first and second irradiation lights are irradiated onto the sample only when necessary. I can do it. In addition, the intensity of each of the first and second irradiation light applied to the sample is measured and monitored by the irradiation intensity measuring means.
With such a configuration, each of the first and second irradiation lights can be applied to any two points on the sample at an arbitrary intensity and at an arbitrary time, so that the microscope according to the present invention can be used. The device is extremely effective in elucidating the various functions of the cells described above.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る顕微鏡装置の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a microscope device according to the present invention.

【図2】分岐光学系の1例の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of an example of a branch optical system.

【図3】分岐光学系の他の例の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of another example of the branch optical system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…照射用光源、20…分岐光学系、21…ハーフミ
ラー、22A,22B…反射鏡、23A,23B…シャ
ッタ、24A,24B…減光フィルタ、25A,25B
…1/2波長板、26…ハーフミラー、27…偏光ビー
ムスプリッタ、28…フォトメータ、29…1/2波長
板、31…集光レンズ、32…励起用光源、33…集光
レンズ、34…バンドパスフィルタ、35…ダイクロイ
ックミラー、41…ダイクロイックミラー、42…対物
レンズ、43…試料ステージ、44…バンドパスフィル
タ、45…透過用光源、46…集光レンズ、50…試
料、61…反射鏡、62…テレビカメラ、63…画像処
理部、64…モニタ部、65…データ解析部、A,B…
照射光、C…励起光、D…照明光、E…蛍光、F…透過
光。
Reference Signs List 10 ... irradiation light source, 20 ... branch optical system, 21 ... half mirror, 22A, 22B ... reflection mirror, 23A, 23B ... shutter, 24A, 24B ... darkening filter, 25A, 25B
... 1/2 wavelength plate, 26 half mirror, 27 polarization beam splitter, 28 photometer, 29 1/2 wavelength plate, 31 condenser lens, 32 excitation light source, 33 condenser lens, 34 … Band pass filter, 35… dichroic mirror, 41… dichroic mirror, 42… objective lens, 43… sample stage, 44… band pass filter, 45… transmission light source, 46… condenser lens, 50… sample, 61… reflection Mirror, 62: TV camera, 63: Image processing unit, 64: Monitor unit, 65: Data analysis unit, A, B ...
Irradiation light, C: excitation light, D: illumination light, E: fluorescence, F: transmitted light.

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 試料に照射すべき光束を出力する照射用
光源と、 前記照射用光源から出力された光束を分岐して第1の照
射光および第2の照射光を出力する分岐光学系と、 前記第1および前記第2の照射光それぞれを入力し視野
領域内の前記試料上の2点それぞれに集光照射させる対
物レンズと、 前記対物レンズに入射した前記試料からの光像を検出す
る検出光学系と、 を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
1. An irradiation light source for outputting a light beam to be irradiated on a sample, and a branch optical system for splitting a light beam output from the irradiation light source and outputting a first irradiation light and a second irradiation light. An objective lens that receives each of the first and second irradiation lights and collects and irradiates each of the two points on the sample within a visual field region; and detects a light image from the sample that has entered the objective lens. A microscope apparatus comprising: a detection optical system;
【請求項2】 試料に照射すべき励起光を出力する励起
用光源と、前記励起光を前記試料に照射する励起光学系
と、を更に備え、 前記検出光学系は、前記試料から発生した蛍光を検出す
る、 ことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising: an excitation light source for outputting excitation light to be irradiated on the sample, and an excitation optical system for irradiating the sample with the excitation light, wherein the detection optical system includes a fluorescent light generated from the sample. The microscope apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 試料に照射すべき照明光を出力する照明
用光源と、前記照明光を前記試料に照射する照明光学系
と、を更に備え、 前記検出光学系は、前記照明光が前記試料に照射されて
発生した透過光または散乱光を検出する、 ことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。
3. The apparatus according to claim 1, further comprising: an illumination light source that outputs illumination light to be irradiated on the sample; and an illumination optical system that irradiates the sample with the illumination light. The microscope apparatus according to claim 1, wherein transmitted light or scattered light generated by irradiating the microscope is detected.
【請求項4】 前記試料上の前記第1の照射光の照射位
置を調整する第1の照射位置調整手段を更に備える、こ
とを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。
4. The microscope apparatus according to claim 1, further comprising first irradiation position adjusting means for adjusting the irradiation position of the first irradiation light on the sample.
【請求項5】 前記試料上の前記第2の照射光の照射位
置を調整する第2の照射位置調整手段を更に備える、こ
とを特徴とする請求項4記載の顕微鏡装置。
5. The microscope apparatus according to claim 4, further comprising second irradiation position adjusting means for adjusting the irradiation position of the second irradiation light on the sample.
【請求項6】 前記試料に照射される前記第1の照射光
の強度を調整する第1の照射強度調整手段を更に備え
る、ことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。
6. The microscope apparatus according to claim 1, further comprising first irradiation intensity adjusting means for adjusting the intensity of the first irradiation light applied to the sample.
【請求項7】 前記試料に照射される前記第2の照射光
の強度を調整する第2の照射強度調整手段を更に備え
る、ことを特徴とする請求項6記載の顕微鏡装置。
7. The microscope apparatus according to claim 6, further comprising a second irradiation intensity adjusting unit that adjusts the intensity of the second irradiation light applied to the sample.
【請求項8】 前記第1の照射光の通過および遮断の制
御を行う第1の照射制御手段を更に備える、ことを特徴
とする請求項1記載の顕微鏡装置。
8. The microscope apparatus according to claim 1, further comprising first irradiation control means for controlling passage and blocking of the first irradiation light.
【請求項9】 前記第2の照射光の通過および遮断の制
御を行う第2の照射制御手段を更に備える、ことを特徴
とする請求項8記載の顕微鏡装置。
9. The microscope apparatus according to claim 8, further comprising second irradiation control means for controlling passage and blocking of the second irradiation light.
【請求項10】 前記第1および前記第2の照射光の双
方または何れか一方の強度を測定する照射強度測定手段
を更に備える、ことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡
装置。
10. The microscope apparatus according to claim 1, further comprising an irradiation intensity measuring unit for measuring an intensity of both or any one of the first and second irradiation lights.
JP24635496A 1996-09-18 1996-09-18 Microscope device Pending JPH1090608A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24635496A JPH1090608A (en) 1996-09-18 1996-09-18 Microscope device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24635496A JPH1090608A (en) 1996-09-18 1996-09-18 Microscope device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1090608A true JPH1090608A (en) 1998-04-10

Family

ID=17147317

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24635496A Pending JPH1090608A (en) 1996-09-18 1996-09-18 Microscope device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1090608A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000241310A (en) * 1999-02-19 2000-09-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Device and method for operating minute object
WO2006001259A1 (en) * 2004-06-24 2006-01-05 Olympus Corporation Fluorescent photometric device
US7126752B2 (en) 2002-11-27 2006-10-24 The Institute Of Physical And Chemical Research Illumination apparatus for microscope and image processing apparatus using the same
US7315413B2 (en) 2004-11-11 2008-01-01 Riken Illumination apparatus for microscope
JP2009291358A (en) * 2008-06-04 2009-12-17 Olympus Medical Systems Corp Surgical microscope
JP2011047949A (en) * 2001-06-28 2011-03-10 Nalco Co Mirror fluorometer

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000241310A (en) * 1999-02-19 2000-09-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Device and method for operating minute object
JP2011047949A (en) * 2001-06-28 2011-03-10 Nalco Co Mirror fluorometer
US7126752B2 (en) 2002-11-27 2006-10-24 The Institute Of Physical And Chemical Research Illumination apparatus for microscope and image processing apparatus using the same
US7236298B2 (en) 2002-11-27 2007-06-26 The Institute Of Physical & Chemical Research Illumination apparatus for microscope and image processing apparatus using the same
WO2006001259A1 (en) * 2004-06-24 2006-01-05 Olympus Corporation Fluorescent photometric device
EP1760454A1 (en) * 2004-06-24 2007-03-07 Olympus Corporation Fluorescent photometric device
US7324200B2 (en) 2004-06-24 2008-01-29 Olympus Corporation Fluorescence photometric apparatus
EP1760454A4 (en) * 2004-06-24 2008-09-03 Olympus Corp Fluorescent photometric apparatus
US7315413B2 (en) 2004-11-11 2008-01-01 Riken Illumination apparatus for microscope
JP2009291358A (en) * 2008-06-04 2009-12-17 Olympus Medical Systems Corp Surgical microscope

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5525880B2 (en) Scanning laser microscope
JP5189277B2 (en) Method and apparatus for inspecting a sample
JP5095935B2 (en) Microscope equipment
EP1278092B1 (en) Laser microscope
JP2004110017A (en) Scanning laser microscope
US7915575B2 (en) Laser scanning microscope having an IR partial transmission filter for realizing oblique illumination
JPH10206742A (en) Laser scanning microscope
CA2407296A1 (en) An imaging fluorometer for time resolved fluorescence
JP2004004678A (en) Confocal microscope apparatus and observation method using confocal microscope apparatus
JP2007506994A (en) Irradiation exposure precision control apparatus and method
JPH1090608A (en) Microscope device
JP4401897B2 (en) Ratio imaging device
JPH10281876A (en) Polarizing imaging system
JPH07323014A (en) Skin surface observation apparatus
JPH1090169A (en) Microscope apparatus
JPH10186240A (en) Darkfield vertical illumination microscope device
JP2006162790A (en) Total reflection fluorescence illuminator
JP7195525B2 (en) Optical switch and observation device
JP2006003747A (en) Optical scanning type observation apparatus
JP2003050354A (en) Scanning laser microscope
JP2006139027A (en) Illuminator for microscope
JP6552881B2 (en) Microscope and microscope image acquisition method
JP2000214082A (en) Measuring apparatus for nonlinear optical response of medium
JP2003185928A (en) Illuminator and fluorescent microscope having the illuminator
JPH0756092A (en) Vertical illuminating device