JPH1084060A - Flattening method and equipment - Google Patents

Flattening method and equipment

Info

Publication number
JPH1084060A
JPH1084060A JP23688996A JP23688996A JPH1084060A JP H1084060 A JPH1084060 A JP H1084060A JP 23688996 A JP23688996 A JP 23688996A JP 23688996 A JP23688996 A JP 23688996A JP H1084060 A JPH1084060 A JP H1084060A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flattening
substrate
roller
support member
machine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23688996A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoichi Go
洋一 郷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP23688996A priority Critical patent/JPH1084060A/en
Publication of JPH1084060A publication Critical patent/JPH1084060A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a roller-type flattening equipment which is small in size and easily incorporated in a process line and whose working surface is easily cleaned by a method wherein an upper roller is set capable of moving linearly and rotating around an axis vertical to the rotating axis of a lower roller as it is tilted. SOLUTION: A lower drive roller 21 is supported between side plates 11A and 11B in a rotatable manner and rotated around the center axes of shafts 21A and 21B by a drive motor. On the other hand, an upper non-drive roller 25 and its support member 31 are set movable in a vertical direction as rotating and moreover rotatable around the center axis of a shaft 43. By the bias forces of springs 33A and 33B arranged at the edges of a shaft 43, the support member 31 and the non-drive roller 25 are kept always horizontal in attitude or disposed in parallel with a base plate 11D. By this setup, a roller-type flattening device which is small in size and easily incorporated in a process line and whose working surface is easily cleaned and working condition parameters are large in number can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はチップサイズパーケ
ージ(CSP)の製造工程にて使用して好適なローラ式
平坦化機、平坦化装置及び平坦化加工方法に関し、より
詳細には、インタポーザ基板の表面に装着されたプリコ
ートはんだを平坦化するための平坦化機、平坦化装置及
び平坦化加工方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a roller type flattening machine, a flattening apparatus and a flattening method suitable for use in a manufacturing process of a chip size package (CSP). The present invention relates to a flattening machine, a flattening device, and a flattening method for flattening a pre-coated solder mounted on a surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】図6を参照して従来のチップサイズパー
ケージ(Chip Size Package) (以下CSPと称する。)
の例を説明する。この例は本願出願人と同一の出願人に
よって平成7年12月30日付にて出願された特願平7
−352492号(S95043864)に開示された
ものであり、詳細は同出願を参照されたい。
2. Description of the Related Art Referring to FIG. 6, a conventional chip size package (hereinafter referred to as a CSP).
Will be described. This example is based on Japanese Patent Application No. Hei 7 (1999) -197, filed on Dec. 30, 1995 by the same applicant.
-352492 (S95043864), for details, see the same application.

【0003】図6に示すように、CSPは上側の半導体
チップ110と下側のインタポーザ基板120よりな
る。インタポーザ基板120は半導体チップ110より
僅かに大きな寸法を有する。上側の半導体チップ110
は通常の半導体チップ又はフリップチップであり、回路
基板上にフリップチップボンディングによって実装され
ることができるように構成されており、CSPでは回路
基板の代わりにインタポーザ基板120上に装着されて
いる。半導体チップ110はフリップチップボンディン
グではなく、ワイヤボンディング、TAB熱圧着等によ
って実装されるように構成されたものであってもよい。
As shown in FIG. 6, the CSP includes an upper semiconductor chip 110 and a lower interposer substrate 120. Interposer substrate 120 has dimensions slightly larger than semiconductor chip 110. Upper semiconductor chip 110
Is an ordinary semiconductor chip or flip chip, which is configured to be mounted on a circuit board by flip chip bonding, and is mounted on an interposer board 120 instead of the circuit board in the CSP. The semiconductor chip 110 may be configured to be mounted by wire bonding, TAB thermocompression bonding, or the like instead of flip chip bonding.

【0004】インタポーザ基板120の上面120Aに
は多数のランド121とスルーホールランド125Aが
整列して配置され、両者は配線パターン122によって
電気的に接続されている。スルーホールランド125A
は、インタポーザ基板120の下面120Bの電極12
5B(図示なし)とスルーホール接続されている。
A large number of lands 121 and through-hole lands 125A are arranged on the upper surface 120A of the interposer substrate 120 and are electrically connected to each other by a wiring pattern 122. Through hole land 125A
Are the electrodes 12 on the lower surface 120B of the interposer substrate 120.
5B (not shown) and through-hole connection.

【0005】半導体チップ110の下面120Bには、
インタポーザ基板120の上面120Aのランド121
に対応して、多数の整列して配置されたアルミニウム電
極(図示なし)が配置され、アルミニウム電極にははん
だバンプ111が装着されている。半導体チップ110
のはんだバンプ111はインタポーザ基板120の対応
するランド121とはんだ接合される。
[0005] On the lower surface 120B of the semiconductor chip 110,
Land 121 on upper surface 120A of interposer substrate 120
In response to the above, a large number of aligned aluminum electrodes (not shown) are arranged, and solder bumps 111 are mounted on the aluminum electrodes. Semiconductor chip 110
Are solder-bonded to corresponding lands 121 of the interposer substrate 120.

【0006】半導体チップ110とインタポーザ基板1
20の間に封止材115が挿入され、それによって両者
は接着される。封止材115はインタポーザ基板120
の中央に設けられた孔120C又は周囲の間隙より充填
される。
The semiconductor chip 110 and the interposer substrate 1
The sealing material 115 is inserted between the two, thereby bonding them. The sealing material 115 is an interposer substrate 120
Is filled from the hole 120C provided in the center of the hole or the surrounding gap.

【0007】こうしてパッケージングされた半導体チッ
プ110とインタポーザ基板120からなるCSPは図
示しない回路基板(マザーボード)上に実装される。イ
ンタポーザ基板120の下面120Bがマザーボードに
対する接合面となる。
[0007] The CSP comprising the semiconductor chip 110 and the interposer substrate 120 packaged in this way is mounted on a circuit board (motherboard) not shown. The lower surface 120B of the interposer substrate 120 serves as a bonding surface to the motherboard.

【0008】図7及び図8を参照してCSPの製造方法
の概略を説明する。図7に示すようにCSPの製造工程
は、インタポーザ基板120のためのプリコート基板を
準備する前工程100と、この基板上に半導体チップ1
10を装着するフリップチップボンディング工程200
と、基板を分割(ダイシング)して多数のCSPを製造
する後工程300とを含む。
Referring to FIGS. 7 and 8, an outline of a CSP manufacturing method will be described. As shown in FIG. 7, the CSP manufacturing process includes a pre-process 100 for preparing a pre-coated substrate for the interposer substrate 120 and a semiconductor chip 1 on this substrate.
Chip bonding process 200 for mounting the semiconductor device 10
And a post-process 300 of dividing (dicing) the substrate to produce a large number of CSPs.

【0009】(1)前工程 先ずステップ101にて基板120’を導入して洗浄す
る。基板はガラスエポキシ又はBTレジン等からなる絶
縁基材の両面に銅箔を張り合わせた所謂両面銅箔張り基
板に、ランド121、配線パターン122、スルーホー
ル、スルーホールランド125A、電極等を形成するこ
とによって製造される。両面銅箔張り基板の代わりに多
層基板が用いられてもよい。ランド121、配線パター
ン122、スルーホール、スルーホールランド125
A、電極等は周知の技術によってなされる。
(1) Pre-process First, in step 101, the substrate 120 'is introduced and washed. The substrate is a so-called double-sided copper foil-clad substrate in which copper foil is bonded to both sides of an insulating base material made of glass epoxy or BT resin, etc., and lands 121, wiring patterns 122, through holes, through-hole lands 125A, electrodes and the like are formed. Manufactured by A multilayer board may be used instead of the double-sided copper foil-clad board. Land 121, wiring pattern 122, through hole, through hole land 125
A, electrodes, etc. are made by a known technique.

【0010】次にステップ102にて基板にプリコート
はんだ印刷をする。それによって図8Aに示すようにラ
ンド121にクリームはんだ141が装着される。検査
の後、ステップ103では基板120’はリフロー炉に
導入され、図8Bに示すようにランド121にはんだ1
42が装着される。最後にステップ104にて図8Cに
示すように、はんだ142の表面を平坦化する。
Next, in step 102, pre-coat solder printing is performed on the substrate. Thereby, the cream solder 141 is mounted on the land 121 as shown in FIG. 8A. After the inspection, in step 103, the substrate 120 'is introduced into a reflow furnace, and solder 1 is attached to the land 121 as shown in FIG. 8B.
42 is mounted. Finally, in step 104, the surface of the solder 142 is flattened as shown in FIG. 8C.

【0011】(2)フリップチップボンディング工程 ステップ201にて、図8Dに示すように、フラックス
143の印刷をする。ステップ202にて図8Eに示す
ように、フリップチップ110をマウントする。フリッ
プチップ110の下面にははんだバンプ111が装着さ
れている。ステップ203にて基板はリフロー炉に導入
され、図8Fに示すようにフリップチップ110のはん
だバンプ111と基板120’のランド121のはんだ
142が接合される。最後にステップ204にてフラッ
クス143が洗浄され乾燥される。
(2) Flip Chip Bonding Step In step 201, the flux 143 is printed as shown in FIG. 8D. At step 202, as shown in FIG. 8E, the flip chip 110 is mounted. A solder bump 111 is mounted on the lower surface of the flip chip 110. In step 203, the substrate is introduced into a reflow furnace, and the solder bump 111 of the flip chip 110 and the solder 142 of the land 121 of the substrate 120 'are joined as shown in FIG. 8F. Finally, in step 204, the flux 143 is washed and dried.

【0012】(3)後工程 ステップ301にて、封止材がフリップチップ110と
基板120’の間に導入され、次に封止材が硬化され
る。品種を示すマーキングがなされ、最後に円形の基板
120’は分割(ダイシング)される。それによって基
板は小さなインタポーザ基板120に分割され、多数の
CSPが生成される。このCSPをベーキング又は乾燥
した後に、トレーに収容され又はテーピングされる。
(3) Post-process In step 301, a sealing material is introduced between the flip chip 110 and the substrate 120 ', and then the sealing material is cured. Marking indicating the type is made, and finally the circular substrate 120 'is divided (diced). Thereby, the substrate is divided into small interposer substrates 120, and many CSPs are generated. After baking or drying the CSP, it is placed in a tray or taped.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】CSPの製造工程の前
工程には、図8Cに示したように、プリコートはんだ1
42の表面を平坦化する工程が含まれる。しかしなが
ら、従来、プリコートはんだ142の表面を平坦化する
ための適当な装置及び機械はなかった。
As shown in FIG. 8C, before the CSP manufacturing process, the pre-coated solder 1 is used.
And a step of flattening the surface of 42. However, conventionally, there is no suitable apparatus and machine for flattening the surface of the pre-coated solder 142.

【0014】プリコートはんだの表面を平坦化するため
の装置及び方法として、(1)2つのローラの間に基板
を挟んで加圧するローラ方式と(2)基板の上から平板
を押しつける平面スタンプ方式が考えられる。両者を比
較すると次のようになる。
As an apparatus and a method for flattening the surface of the pre-coated solder, there are (1) a roller system in which a substrate is sandwiched between two rollers and pressure, and (2) a flat stamp system in which a flat plate is pressed from above the substrate. Conceivable. The comparison between the two is as follows.

【0015】(1)ローラ方式 被加工材に対する接触面積が小さい。従って、ローラに
印加する荷重が小さくても、被加工材の表面に作用する
圧力は十分大きくなる。装置は比較的小さな荷重を発生
させるように構成され、小型且つ安全性が高い平坦化機
にすることができる。
(1) Roller method The contact area with the workpiece is small. Therefore, even if the load applied to the roller is small, the pressure acting on the surface of the workpiece becomes sufficiently large. The device is configured to generate a relatively small load, and can be a small and highly secure leveling machine.

【0016】インライン化が容易であり、作業性が高
い。2つのローラの間に挟んで加圧するため、加圧と搬
送を同時になすことができる。平坦化機に対する基板の
ローディング及びアンローディングが容易である。
In-line conversion is easy and workability is high. Since the pressure is sandwiched between the two rollers, the pressure and the conveyance can be performed at the same time. Loading and unloading of the substrate onto and from the flattening machine is easy.

【0017】装置を小型化することができる。ローラに
印加する荷重は比較的小さくても良く、また、基板のロ
ーディング及びアンローディングのために特に複雑な機
構を必要としないから、平坦化機を小型化することがで
きる。
The device can be reduced in size. The load applied to the roller may be relatively small, and no particularly complicated mechanism is required for loading and unloading the substrate, so that the flattening machine can be reduced in size.

【0018】作業面のクリーニングが容易である。作業
面はローラの表面である。従って例えばローラを回転さ
せながらその表面をクリーニングすることもできる。作
業条件のパラメータが多い。ローラ表面の材質、ローラ
荷重、ローラ回転数等がパラメータとなる。従って最適
作業条件を得るためにこれらのパラメータを選択的に変
化させることができる。
The work surface can be easily cleaned. The working surface is the surface of the roller. Therefore, for example, the surface can be cleaned while rotating the roller. There are many working condition parameters. The material of the roller surface, the roller load, the number of rotations of the roller and the like are parameters. Therefore, these parameters can be selectively varied to obtain optimal working conditions.

【0019】(2)平面スタンプ方式 被加工材に対する接触面積が大きい。従って、プレスに
要する荷重が大きい。装置は比較的大きな荷重を発生さ
せるように構成され、大型且つ危険性が高い平坦化機と
なる。
(2) Planar stamping method The contact area with the workpiece is large. Therefore, the load required for pressing is large. The device is configured to generate a relatively large load, resulting in a large and high risk flattening machine.

【0020】インライン化が困難であり、作業性が低
い。基板を所定の作業位置に配置し、そこより排出する
必要がある。即ち、平坦化機に対する基板のローディン
グ及びアンローディング機構が複雑となる。
It is difficult to in-line, and the workability is low. It is necessary to place the substrate in a predetermined working position and discharge it therefrom. That is, the loading and unloading mechanism of the substrate with respect to the flattening machine becomes complicated.

【0021】装置が大型となる。比較的大きい荷重を発
生させる必要があり、また、基板のローディング及びア
ンローディングのために複雑な機構が必要となるため平
坦化機が大型となる。
The device becomes large. A relatively large load needs to be generated, and a complicated mechanism is required for loading and unloading the substrate, so that the flattening machine becomes large.

【0022】作業面のクリーニングに手間がかかる。作
業面をクリーニングする作業は危険性を伴い、自動化が
困難である。作業条件のパラメータが少ない。スタンパ
表面の材質、スタンパ荷重がパラメータとなる。従って
最適作業条件を得るため調節するパラメータが少なく、
微妙な作業条件を自由に調節することができない。
It takes time to clean the work surface. The work of cleaning the work surface involves risks and is difficult to automate. There are few working condition parameters. The material of the stamper surface and the stamper load are parameters. Therefore, there are few parameters to adjust to obtain the optimal working conditions,
Inability to freely adjust delicate working conditions.

【0023】以上より、プリコートはんだを平坦化する
ための平坦化機として平面スタンパ式よりローラ式を採
用することが好ましいことが判る。
From the above, it can be seen that it is preferable to use a roller type rather than a flat stamper type as a flattening machine for flattening the precoat solder.

【0024】本発明は斯かる点に鑑み、小型化が可能な
ローラ式平坦化機を提供することを目的とする。
In view of the above, an object of the present invention is to provide a roller type flattening machine which can be downsized.

【0025】本発明は斯かる点に鑑み、インライン化が
容易なローラ式平坦化機を提供することを目的とする。
In view of the above, an object of the present invention is to provide a roller type flattening machine which can be easily in-lined.

【0026】本発明は斯かる点に鑑み、作業面のクリー
ニングが容易なローラ式平坦化機を提供することを目的
とする。
In view of the foregoing, it is an object of the present invention to provide a roller type flattening machine which can easily clean a work surface.

【0027】本発明は斯かる点に鑑み、作業条件パラメ
ータ数が多い平坦化機を提供することを目的とする。
In view of the above, an object of the present invention is to provide a flattening machine having a large number of operation condition parameters.

【0028】更に、本発明は斯かる点に鑑み、平坦化機
を含む平坦化装置又はシステムを提供することを目的と
する。
Further, in view of the above, an object of the present invention is to provide a flattening apparatus or system including a flattening machine.

【0029】[0029]

【課題を解決するための手段】本発明によると、下側の
ローラと上側のローラの間に基板を通過させて基板の表
面に配置されたはんだを平坦化加工するための平坦化機
において、上側のローラは下側のローラに近づき又は遠
ざかるように直線方向に移動可能であり且つ下側のロー
ラの回転軸線に直交する軸線周りに回転傾斜可能であ
る。又、下側のローラはモータによって駆動されてい
る。下側のローラの円周面はウレタン樹脂によって形成
されている。上側のローラの円周面はDLC(ダイヤモ
ンドライクカーボン)処理されている。
According to the present invention, there is provided a flattening machine for flattening a solder disposed on a surface of a substrate by passing the substrate between a lower roller and an upper roller. The upper roller is linearly movable toward or away from the lower roller, and is rotatable about an axis orthogonal to the axis of rotation of the lower roller. The lower roller is driven by a motor. The circumferential surface of the lower roller is formed of urethane resin. The circumferential surface of the upper roller is DLC (diamond-like carbon) treated.

【0030】本発明によると、平坦化装置は、基板の表
面に装着されたはんだを平坦化加工するための平坦化機
と該平坦化機の上流側に配置されたローディングコンベ
ヤと平坦化機の下流側に配置されたアンローディングコ
ンベヤとローディングコンベヤ上に配置された基板の回
転位置を90°変化させるための基板回転装置とを有
し、平坦化機によって基板のはんだを互いに直交する2
つの方向に沿って平坦化加工するように構成されてい
る。
According to the present invention, a flattening apparatus includes a flattening machine for flattening a solder mounted on a surface of a substrate, a loading conveyor and a flattening machine arranged upstream of the flattening machine. It has an unloading conveyor arranged downstream and a substrate rotating device for changing the rotational position of the substrate arranged on the loading conveyor by 90 °.
It is configured to perform flattening processing in two directions.

【0031】本発明によると、平坦化加工方法は、平坦
化機の2つのローラによって基板表面のはんだを平坦化
加工する第1の平坦化加工工程と、第1の平坦化加工が
終了した基板を平坦化機の上流側に戻す返還工程と、平
坦化機の上流側に返還された基板の回転位置を90°変
化させる回転工程と、平坦化機の2つのローラによって
基板表面のはんだを平坦化加工する第2の平坦化加工工
程と、を含み、第2の平坦化加工工程の平坦化加工方向
は第1の平坦化加工工程の平坦化加工方向と直交する方
向である。更に、第1の平坦化加工工程に先立って、ロ
ーディングコンベヤに導入された基板の回転位置を90
°変化させる回転工程を含む。
According to the present invention, the flattening method comprises a first flattening step of flattening the solder on the surface of the substrate by two rollers of the flattening machine, and a substrate after the first flattening process. Returning the substrate to the upstream side of the flattening machine, rotating the substrate returned to the upstream side of the flattening machine by 90 °, and flattening the solder on the substrate surface by two rollers of the flattening machine. And a second flattening step for performing a planarizing step, wherein the direction of the planarizing step in the second planarizing step is a direction orthogonal to the direction of the planarizing step in the first planarizing step. Further, prior to the first flattening step, the rotational position of the substrate introduced into the loading conveyor is set to 90 degrees.
Includes a rotation step of changing the angle.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】図1、図2及び図3を参照して本
発明による平坦化機の例を説明する。図1は本発明によ
る平坦化機の例の部分分解図であり、図2は正面図、図
3は側面図である。図1に示すように、本例の平坦化機
は1対のローラ21、25を有し、この2つのローラ2
1、25の間をインターポーザ基板を通過させることに
よって、インターポーザ基板の上面に装着されたプリコ
ートはんだが平坦化加工される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An example of a flattening machine according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a partially exploded view of an example of a flattening machine according to the present invention, FIG. 2 is a front view, and FIG. 3 is a side view. As shown in FIG. 1, the flattening machine of the present example has a pair of rollers 21 and 25,
By passing the interposer substrate between 1 and 25, the pre-coated solder mounted on the upper surface of the interposer substrate is flattened.

【0033】下側のローラ21は駆動ローラであり、図
示しない駆動モータによって駆動される。駆動モータは
回転速度可変且つ正転逆転可能に構成されている。駆動
ローラ21は、インタポーザ基板の裏面に接触し、摩擦
力によってそれを搬送する。従って駆動ローラ21の表
面は、インタポーザ基板の裏側の電極、レジスト等の小
さな凹凸を吸収することができるように十分な弾性を有
し、且つ、インタポーザ基板の裏側に対して滑らないよ
うに十分な摩擦係数を有する材料より構成される。
The lower roller 21 is a drive roller and is driven by a drive motor (not shown). The drive motor is configured to be variable in rotation speed and to be capable of normal rotation and reverse rotation. The drive roller 21 comes into contact with the back surface of the interposer substrate and conveys it by frictional force. Accordingly, the surface of the drive roller 21 has sufficient elasticity to absorb small irregularities such as electrodes and resist on the back side of the interposer substrate, and has sufficient elasticity so as not to slide on the back side of the interposer substrate. It is composed of a material having a coefficient of friction.

【0034】本例によると、駆動ローラ21は、好まし
くは、金属製のローラの表面にウレタン樹脂シートを装
着することによって形成されてよい。ウレタン樹脂シー
トは、例えば、厚さ5mmの硬度90°のウレタン樹脂
より形成されてよい。
According to the present embodiment, the drive roller 21 may be preferably formed by mounting a urethane resin sheet on the surface of a metal roller. The urethane resin sheet may be formed of, for example, urethane resin having a thickness of 5 mm and a hardness of 90 °.

【0035】上側のローラは非駆動ローラであり、2つ
のローラ21、25の間に挟まれたインタポーザ基板が
移動すると、インタポーザ基板との間の摩擦力によって
回転する。この非駆動ローラ25はインタポーザ基板の
表面のはんだに接触し、それを押圧する。従って、はん
だより硬い材料より構成される。本例によると、非駆動
ローラ25は金属製のローラの表面をDLC(ダイヤモ
ンドライクカーボン)処理することによって形成されて
よい。
The upper roller is a non-driving roller, and when the interposer substrate sandwiched between the two rollers 21 and 25 moves, it is rotated by the frictional force with the interposer substrate. The non-drive roller 25 contacts and presses the solder on the surface of the interposer substrate. Therefore, it is composed of a material harder than solder. According to this example, the non-driving roller 25 may be formed by performing DLC (diamond-like carbon) processing on the surface of a metal roller.

【0036】図2に示すように、本例の平坦化機は、互
いに平行な且つ垂直な1対の側板11A、11Bとこの
側板11A、11Bの上端を接続する水平な上板11C
と下端を接続する底板11Dとを含むフレームを有す
る。下側のローラ21は側板11A、11Bに回転可能
に支持され、上側のローラ25は、コの字形の支持部材
31に回転可能に支持されている。
As shown in FIG. 2, the flattening machine of this embodiment comprises a pair of parallel and vertical side plates 11A and 11B and a horizontal upper plate 11C connecting the upper ends of the side plates 11A and 11B.
And a bottom plate 11D connecting the lower end. The lower roller 21 is rotatably supported by the side plates 11A and 11B, and the upper roller 25 is rotatably supported by a U-shaped support member 31.

【0037】ローラ21、25はそれぞれ両端に軸21
A、21B及び25A、25Bを有し、下側のローラ2
1の軸21A、21Bは、側板11A、11Bに装着さ
れた軸受け23A、23Bの内輪にそれぞれ装着され、
上側のローラ25の軸25A、25Bは支持部材31の
両端に装着された軸受け27A、27Bの内輪にそれぞ
れ装着されている。
The rollers 21 and 25 have shafts 21 at both ends.
A, 21B and 25A, 25B, the lower roller 2
The first shafts 21A and 21B are mounted on inner rings of bearings 23A and 23B mounted on the side plates 11A and 11B, respectively.
The shafts 25A and 25B of the upper roller 25 are mounted on inner rings of bearings 27A and 27B mounted on both ends of the support member 31, respectively.

【0038】支持部材31の上側には更に他の支持部材
41が配置され、2つの支持部材31、41は両者の間
に配置された軸43によって互いに他に対して回転可能
に接続されている。軸43は下側のローラ21の軸21
A、21Bの中心軸線に対して直交しており、従って支
持部材31及び上側のローラ25は下側のローラ21の
中心軸線に対して直交した回転軸線O−O(図1)周り
に回転傾斜することができるように構成されている。下
側の支持部材31の上面には軸受け47(図3)が装着
され、上側の支持部材41の下面には軸受け45A、4
5B(図3)が装着され、軸43はこれらの軸受け47
及び45A、45Bの内輪に装着されている。
A further support member 41 is disposed above the support member 31, and the two support members 31, 41 are rotatably connected to each other by a shaft 43 disposed therebetween. . The shaft 43 is the shaft 21 of the lower roller 21.
The support member 31 and the upper roller 25 are inclined about a rotation axis OO (FIG. 1) orthogonal to the center axis of the lower roller 21. It is configured to be able to. Bearings 47 (FIG. 3) are mounted on the upper surface of the lower support member 31, and bearings 45A, 4B are mounted on the lower surface of the upper support member 41.
5B (FIG. 3) is mounted, and the shaft 43
And 45A, 45B.

【0039】2つの支持部材31、41の間には1対の
ばね33A、33Bが配置されている。上側の支持部材
41には1対のばね押さえ35A、35Bが装着され、
これらのばね押さえ35A、35Bによってばね33
A、33Bの上端が保持されている。尚、ばね押さえ3
5A、35Bの位置を調節することによってばね33
A、33Bの偏倚力を調節することができる。
A pair of springs 33A, 33B is arranged between the two support members 31, 41. A pair of spring retainers 35A and 35B are attached to the upper support member 41,
The spring 33 is controlled by these spring retainers 35A and 35B.
The upper ends of A and 33B are held. In addition, spring retainer 3
By adjusting the position of 5A, 35B, the spring 33
The biasing force of A and 33B can be adjusted.

【0040】フレームの上板11Cにシリンダ51が取
り付けられ、シリンダ51の軸53の下端は上側の支持
部材41に装着されている。シリンダ51は、上側の支
持部材41及びローラ25を上下方向に移動させ、上側
のローラ25に付与する荷重を発生する。シリンダ51
の軸53が伸縮することによって、上側のローラ25は
上方の上昇位置と下方の平坦化加工位置の間を移動す
る。上昇位置では、インタポーザ基板は、平坦化加工さ
れることなく単に通過(パス動作)することができる。
The cylinder 51 is mounted on the upper plate 11C of the frame, and the lower end of the shaft 53 of the cylinder 51 is mounted on the upper support member 41. The cylinder 51 moves the upper support member 41 and the roller 25 in the vertical direction, and generates a load applied to the upper roller 25. Cylinder 51
The upper roller 25 moves between the upper rising position and the lower flattening position by the expansion and contraction of the shaft 53. In the raised position, the interposer substrate can simply pass (pass operation) without being flattened.

【0041】上側の支持部材41の両端は、スライダ5
7A、57Bを介して両側の側板11A、11Bに滑動
可能に装着されている。従って上側の支持部材41は、
スライダ57A、57Bに拘束された状態にて、常に水
平な状態で、即ち、底板11Dに平行な状態で上下方向
に移動可能である。
Both ends of the upper support member 41 are
It is slidably mounted on both side plates 11A and 11B via 7A and 57B. Therefore, the upper supporting member 41
With the sliders 57A and 57B constrained, the slider 57A can move in the vertical direction in a horizontal state, that is, in a state parallel to the bottom plate 11D.

【0042】本例の平坦化機の動作を説明する。下側の
駆動ローラ21は、両側の側板11A、11Bに回転可
能に支持され、駆動モータ(図示なし)によって軸21
A、21Bの中心軸線周りに回転可能であるが、回転以
外の運動はすることができない。一方、上側の非駆動ロ
ーラ25及びそれを支持する支持部材31は、上下方向
に移動可能であり、且つ軸43の中心軸線O−O周りに
回転可能である。
The operation of the flattening machine of this embodiment will be described. The lower drive roller 21 is rotatably supported by both side plates 11A and 11B, and is driven by a drive motor (not shown).
It is rotatable around the central axis of A, 21B, but cannot perform any motion other than rotation. On the other hand, the upper non-driving roller 25 and the supporting member 31 that supports the upper non-driving roller 25 are vertically movable and rotatable around the central axis OO of the shaft 43.

【0043】しかしながら、軸43の両側に配置された
ばね33A、33Bの偏倚力によって、支持部材31及
び非駆動ローラ25は常に水平方向に、即ち、底板11
Dに平行に配置されように構成されている。
However, due to the biasing force of the springs 33A and 33B disposed on both sides of the shaft 43, the support member 31 and the non-drive roller 25 are always kept in the horizontal direction, that is, the bottom plate 11
It is configured to be arranged in parallel with D.

【0044】インタポーザ基板120の厚さに対応し
て、2つのローラ21、25の間の間隔が設定される。
即ち、インタポーザ基板120の厚さを考慮して、シリ
ンダ51(図1〜図3)が駆動され、上側のローラ25
の平坦化加工位置が設定される。
The interval between the two rollers 21 and 25 is set according to the thickness of the interposer substrate 120.
That is, the cylinder 51 (FIGS. 1 to 3) is driven in consideration of the thickness of the interposer substrate 120, and the upper roller 25 is driven.
Is set.

【0045】インタポーザ基板120の厚さは、基材の
厚さの不均一や表面の凹凸等のため、一定ではなく変動
する。インタポーザ基板120の厚さの変動が小さい場
合には、それは駆動ローラ21の弾性変形によって吸収
される。従って、非駆動ローラ25は常に水平状態に維
持され、2つのローラ21、25は互いに平行に維持さ
れる。インタポーザ基板120の厚さの変動が大きく、
それを駆動ローラ21の弾性変形によって吸収すること
ができない場合には、非駆動ローラ25は回転軸線O−
O周りに回転傾斜する。それによって、インタポーザ基
板120は一様な圧力によって加圧され、2つのローラ
21、25に過度な力が作用することが回避される。
The thickness of the interposer substrate 120 is not constant but fluctuates due to unevenness of the thickness of the base material and unevenness of the surface. When the variation in the thickness of the interposer substrate 120 is small, it is absorbed by the elastic deformation of the driving roller 21. Therefore, the non-drive roller 25 is always kept horizontal, and the two rollers 21 and 25 are kept parallel to each other. The variation of the thickness of the interposer substrate 120 is large,
If it cannot be absorbed by the elastic deformation of the driving roller 21, the non-driving roller 25
Rotate and tilt around O. Thereby, the interposer substrate 120 is pressed by a uniform pressure, and an excessive force is prevented from acting on the two rollers 21 and 25.

【0046】図4を参照して本発明による平坦化装置及
び平坦化加工方法の例を説明する。本発明によると平坦
化装置は、平坦化機60とローディングコンベヤ61及
びアンローディングコンベヤ62と基板回転装置65と
基板位置決め装置70とを有する。平坦化機60は上述
の図1〜図3を参照して説明した平坦化機と同様な構成
であってよく2つのローラ21、25を有する。
Referring to FIG. 4, an example of a flattening apparatus and a flattening method according to the present invention will be described. According to the present invention, the flattening device includes a flattening machine 60, a loading conveyor 61 and an unloading conveyor 62, a substrate rotating device 65, and a substrate positioning device 70. The flattening machine 60 may have the same configuration as the flattening machine described with reference to FIGS. 1 to 3 described above, and includes two rollers 21 and 25.

【0047】ローディングコンベヤ61及びアンローデ
ィングコンベヤ62は、それぞれ図示しないモータによ
って駆動され、正方向(図4にて右から左へ向かった方
向)及び逆方向(図4にて左から右へ向かった方向)に
移動可能であり、インタポーザ基板120を案内するた
めの互いに平行な2本の案内レール(図示なし)を有す
る。
The loading conveyor 61 and the unloading conveyor 62 are driven by motors (not shown), respectively, and move in the forward direction (the direction from right to left in FIG. 4) and the reverse direction (the direction from left to right in FIG. 4). Direction) and has two parallel guide rails (not shown) for guiding the interposer substrate 120.

【0048】基板回転装置65は、ローディングコンベ
ヤ61上に配置されたインタポーザ基板120の回転位
置を90°変化させるように構成され、典型的には上下
方向に移動可能な且つ垂直な回転軸線周りに回転可能な
複数個の例えば4個の吸着部65Aを有する。ここにイ
ンタポーザ基板120は正方形である。
The substrate rotation device 65 is configured to change the rotation position of the interposer substrate 120 disposed on the loading conveyor 61 by 90 °, and is typically movable about a vertical rotation axis that is vertically movable. It has a plurality of rotatable, for example, four suction portions 65A. Here, the interposer substrate 120 is square.

【0049】インタポーザ基板120がローディングコ
ンベヤ61上の所定の吸着位置又は回転位置に配置され
ると、吸着部65Aが下降し、インタポーザ基板120
を吸着して上昇する。吸着部65Aは垂直な回転軸線周
りに90°回転して下降し、インタポーザ基板120を
ローディングコンベヤ61上に配置する。インタポーザ
基板120は所定の吸着位置又は回転位置に位置決めさ
れてから、90°回転されるから、ローディングコンベ
ヤ61の2本の案内レールの間に正確に配置されること
ができる。
When the interposer substrate 120 is placed at a predetermined suction position or a rotation position on the loading conveyor 61, the suction section 65A is lowered, and the interposer substrate 120 is moved downward.
Adsorb and rise. The suction unit 65A is rotated by 90 ° around the vertical rotation axis and descends, and the interposer substrate 120 is placed on the loading conveyor 61. Since the interposer substrate 120 is rotated by 90 ° after being positioned at a predetermined suction position or rotation position, it can be accurately disposed between the two guide rails of the loading conveyor 61.

【0050】基板位置決め装置70は、ローディングコ
ンベヤ61上にて、インタポーザ基板120を基板回転
装置65によって回転させるための吸着位置又は回転位
置と平坦化機60に装填するための装填位置とに正確に
配置させるように構成され、典型的には上昇及び下降が
可能な位置決めピンを有する。
The substrate positioning device 70 accurately positions the suction position or the rotation position for rotating the interposer substrate 120 by the substrate rotation device 65 on the loading conveyor 61 and the loading position for loading the flattening machine 60. It has a locating pin configured to be positioned and typically capable of ascending and descending.

【0051】例えば、位置決めピンにインタポーザ基板
120の前縁を係合させることによってインタポーザ基
板120は所定の吸着位置又は回転位置に位置決めされ
る。また位置決めピンにインタポーザ基板120の後縁
を係合させることによってインタポーザ基板120は所
定の装填位置に位置決めされる。
For example, by engaging the front edge of the interposer substrate 120 with the positioning pins, the interposer substrate 120 is positioned at a predetermined suction position or a rotation position. The interposer substrate 120 is positioned at a predetermined loading position by engaging the rear edge of the interposer substrate 120 with the positioning pins.

【0052】次に図5Aを参照して本発明の平坦化加工
方法を説明する。本例によると、平坦化装置によってイ
ンタポーザ基板120の上面のプリコートはんだは互い
に直交する2方向に沿って平坦化加工される。こうし
て、プリコートはんだを2方向に沿って平坦化加工する
ことによって、プリコートはんだは確実に且つ均一に平
坦化される。
Next, the flattening method of the present invention will be described with reference to FIG. 5A. According to this example, the precoat solder on the upper surface of the interposer substrate 120 is flattened by the flattening device in two directions orthogonal to each other. Thus, the pre-coated solder is flattened in two directions, so that the pre-coated solder is flattened reliably and uniformly.

【0053】先ず第1の方向に沿って平坦化加工され
る。ローディングコンベヤ61に導入されたインタポー
ザ基板120は基板位置決め装置70によって所定の吸
着位置又は回転位置に位置決め(pos1)される。次に基板
回転装置65によってインタポーザ基板120は90°
回転(rot1)され、ローディングコンベヤ61によって平
坦化機60方向に搬送される。
First, flattening is performed along the first direction. The interposer substrate 120 introduced into the loading conveyor 61 is positioned (pos1) by the substrate positioning device 70 at a predetermined suction position or rotation position. Next, the interposer substrate 120 is turned 90 ° by the substrate rotating device 65.
It is rotated (rot1), and is conveyed in the direction of the flattening machine 60 by the loading conveyor 61.

【0054】平坦化機60の上側のローラ25は上昇位
置に配置されており、位置決め装置70の位置決めピン
は下降位置に配置されている。インタポーザ基板120
は装填位置より前方まで(例えば平坦化機60の内部ま
で)搬送され、そこで停止する。位置決め装置70の位
置決めピンは上昇位置に配置され、ローディングコンベ
ヤ61(及び平坦化機60の下側のローラ21)が逆方
向に移動する。インタポーザ基板120の後縁が基板位
置決め装置70の位置決めピンに当接することによっ
て、インタポーザ基板120は装填位置に位置決め(pos
2)される。
The upper roller 25 of the flattening machine 60 is located at the ascending position, and the positioning pin of the positioning device 70 is located at the descending position. Interposer substrate 120
Is transported to the front of the loading position (for example, to the inside of the flattening machine 60), and stops there. The positioning pin of the positioning device 70 is located at the raised position, and the loading conveyor 61 (and the lower roller 21 of the flattening machine 60) moves in the opposite direction. When the trailing edge of the interposer substrate 120 comes into contact with the positioning pin of the substrate positioning device 70, the interposer substrate 120 is positioned at the loading position (pos.
2) is done.

【0055】上側のローラ25が所定の位置まで下降
し、ローディングコンベヤ61が正方向に移動し、下側
の駆動ローラ21が回転することによってインタポーザ
基板120の上面のはんだが平坦化加工(pro1)される。
インタポーザ基板120は、平坦化加工後アンローディ
ングコンベヤ62によって排出される。こうして第1の
方向に沿った平坦化加工がなされる。
The upper roller 25 is lowered to a predetermined position, the loading conveyor 61 moves in the forward direction, and the lower drive roller 21 is rotated to flatten the solder on the upper surface of the interposer substrate 120 (pro1). Is done.
The interposer substrate 120 is discharged by the unloading conveyor 62 after the flattening process. Thus, the flattening process is performed along the first direction.

【0056】次に第2の方向に沿って平坦化加工され
る。平坦化機60の上側のローラ25が上昇し、アンロ
ーディングコンベヤ62、下側のローラ21及びローデ
ィングコンベヤ61が逆転され、インタポーザ基板12
0は基板回転装置65まで搬送される。そこでインタポ
ーザ基板120は基板位置決め装置70によって吸着位
置又は回転位置に位置決め(pos3)され、基板回転装置6
5によって90°方向転換(rot2)される。
Next, flattening is performed along the second direction. The upper roller 25 of the flattening machine 60 rises, the unloading conveyor 62, the lower roller 21 and the loading conveyor 61 are reversed, and the interposer substrate 12
0 is transported to the substrate rotating device 65. Therefore, the interposer substrate 120 is positioned (pos3) at the suction position or the rotation position by the substrate positioning device 70, and
5 is turned 90 degrees (rot2).

【0057】90°回転されたインタポーザ基板120
は上述の第1の方向に沿った平坦化加工と同様な手順に
て再び平坦化加工される。即ち、上側のローラ25は上
昇位置にて待機し、基板位置決め装置70の位置決めピ
ンは下降位置に配置される。インタポーザ基板120は
ローディングコンベヤ61によって平坦化機60方向に
搬送され、装填位置を通過してから停止する。位置決め
ピンは上昇位置に配置され、ローディングコンベヤ61
(及び下側のローラ21)は逆方向に移動し、インタポ
ーザ基板120の後縁が位置決めピンに当接する。
The interposer substrate 120 rotated by 90 °
Is flattened again in the same procedure as the above-described flattening process in the first direction. That is, the upper roller 25 stands by at the raised position, and the positioning pins of the substrate positioning device 70 are arranged at the lowered position. The interposer substrate 120 is conveyed by the loading conveyor 61 toward the flattening machine 60 and stops after passing through the loading position. The positioning pin is located at the raised position, and the loading conveyor 61
(And the lower roller 21) move in the opposite direction, and the rear edge of the interposer substrate 120 contacts the positioning pin.

【0058】こうして、インタポーザ基板120が基板
位置決め装置70によって装填位置に位置決め(pos4)さ
れると、平坦化機60の上側のローラ25が下降し、下
側のローラ21、ローディングコンベヤ61及びアンロ
ーディングコンベヤ62が正転され、インタポーザ基板
120は第2の方向に沿って平坦化加工(pro2)される。
第2の方向に沿って平坦化加工されたインタポーザ基板
120は平坦化機60より排出される。
When the interposer substrate 120 is positioned (pos4) at the loading position by the substrate positioning device 70, the upper roller 25 of the flattening machine 60 is lowered, and the lower roller 21, the loading conveyor 61, and the unloading are performed. The conveyor 62 is rotated forward, and the interposer substrate 120 is flattened (pro2) along the second direction.
The interposer substrate 120 flattened along the second direction is discharged from the flattening machine 60.

【0059】上述の工程にて、インタポーザ基板120
を平坦化機60によって第1の方向に沿って平坦化加工
する前に、予めインタポーザ基板120を90°回転さ
せたのは、それによって、平坦化加工工程を最短化する
ことができるためである。
In the above steps, the interposer substrate 120
The reason why the interposer substrate 120 is previously rotated by 90 ° before the flattening process is performed in the first direction by the flattening machine 60 is that the flattening process can be minimized. .

【0060】平坦化加工が終了したインタポーザ基板1
20は、平坦化装置に導入された方向と同一方向にて平
坦化装置より排出される必要がある。
The interposer substrate 1 after the flattening process is completed
20 needs to be discharged from the flattening device in the same direction as that introduced into the flattening device.

【0061】例えば、図5Bに示すように、インタポー
ザ基板120を予め90°回転させることなく、平坦化
機60によって第1の方向に沿って平坦化加工させる場
合を考える。この場合、第2の方向に沿って平坦化加工
した後に再びインタポーザ基板120を基板回転装置6
5まで搬送してインタポーザ基板120を90°回転さ
せる必要があり、工程が多くなる。
For example, as shown in FIG. 5B, a case where the interposer substrate 120 is flattened along the first direction by the flattening machine 60 without rotating the interposer substrate 120 by 90 degrees in advance. In this case, after the interposer substrate 120 is flattened along the second direction, the interposer substrate 120 is
5 and rotate the interposer substrate 120 by 90 °, which increases the number of steps.

【0062】以上本発明の実施の形態について詳細に説
明したが、本発明はこれらの例に限定されることなく特
許請求の範囲に記載された発明の範囲にて様々な変更等
が可能であることは当業者にとって理解されよう。
Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to these examples, and various modifications can be made within the scope of the invention described in the claims. It will be understood by those skilled in the art.

【0063】以上はインタポーザ基板の表面に装着され
たプリコートはんだを平坦化加工する場合について説明
したが、インタポーザ基板に限らず、他の基板のはんだ
を平坦化する場合にも本発明を適用することは可能であ
る。
The case where the pre-coated solder mounted on the surface of the interposer substrate is flattened has been described above. However, the present invention is not limited to the interposer substrate and is applicable to the case where the solder of another substrate is flattened. Is possible.

【0064】[0064]

【発明の効果】本発明によると、小型化が可能であり、
インライン化が容易であり、作業面のクリーニングが容
易であり、更に作業条件パラメータ数が多いローラ式平
坦化機を提供することができる利点を有する。
According to the present invention, downsizing is possible,
There is an advantage that it is possible to provide a roller type flattening machine which is easy to in-line, easily cleans a work surface, and has a large number of work condition parameters.

【0065】本発明の平坦化装置によると、インタポー
ザ基板の表面のはんだが互いに直交する2つの方向に沿
って平坦化加工されるから、はんだが均一に且つ一様に
平坦化される利点を有する。
According to the flattening device of the present invention, since the solder on the surface of the interposer substrate is flattened in two directions orthogonal to each other, there is an advantage that the solder is evenly and uniformly flattened. .

【0066】本発明の平坦化加工方法によると、インタ
ポーザ基板のはんだを2つの方向に沿って平坦化加工す
る前に基板を90°回転させるから、平坦化工程を短縮
化することができる利点を有する。
According to the flattening method of the present invention, the substrate is rotated by 90 ° before the solder of the interposer substrate is flattened in two directions, so that the flattening step can be shortened. Have.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による平坦化機の部分分解斜視図であ
る。
FIG. 1 is a partially exploded perspective view of a flattening machine according to the present invention.

【図2】本発明による平坦化機の正面構成を示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing a front configuration of a flattening machine according to the present invention.

【図3】本発明による平坦化機の側面構成を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing a side configuration of a flattening machine according to the present invention.

【図4】本発明による平坦化装置の概略を説明するため
の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining an outline of a flattening device according to the present invention.

【図5】本発明による平坦化加工工程を説明するための
説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining a flattening process according to the present invention.

【図6】従来のCSPの構成例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration example of a conventional CSP.

【図7】従来のCSPの製造工程を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a conventional CSP manufacturing process.

【図8】従来のCSPの製造方法を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a conventional CSP manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11A,11B 側板、 11C 上板、 11D 底
板、 21 ロール、21A,21B 軸、 23A,
23B 軸受け、 25 ロール、 25A,25B
軸、 27A,27B 軸受け、 31 支持部材、
33A,33Bばね、 35A,35B ばね押さえ、
41 支持部材、 43 軸、 45A,45B,4
7 軸受け、 51 シリンダ、 53 軸、 57
A,57B スライダ、 60 平坦化機、 61,6
2 コンベヤ、 65 基板回転装置、 65A 吸着
部、 70 位置決め装置、 110 半導体チップ、
111 はんだバンプ、 115 封止材、 120
インタポーザ基板、 120A 上面、 120B 下
面、 120C 孔、 121 ランド、 122 配
線パターン、 125A スルーホールランド、 14
1 クリームはんだ、 142 はんだ、 143 フ
ラックス、 145 マスク
11A, 11B side plate, 11C top plate, 11D bottom plate, 21 rolls, 21A, 21B shaft, 23A,
23B bearing, 25 rolls, 25A, 25B
Shaft, 27A, 27B bearing, 31 support member,
33A, 33B spring, 35A, 35B spring retainer,
41 support member, 43 axis, 45A, 45B, 4
7 bearings, 51 cylinders, 53 shafts, 57
A, 57B slider, 60 flattening machine, 61, 6
2 conveyor, 65 substrate rotating device, 65A suction unit, 70 positioning device, 110 semiconductor chip,
111 solder bump, 115 sealing material, 120
Interposer substrate, 120A upper surface, 120B lower surface, 120C hole, 121 land, 122 wiring pattern, 125A through-hole land, 14
1 cream solder, 142 solder, 143 flux, 145 mask

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下側のローラと上側のローラの間に基板
を通過させて基板の表面に配置されたはんだを平坦化加
工するための平坦化機において、上記上側のローラは上
記下側のローラに近づき又は遠ざかるように直線方向に
移動可能であり且つ上記下側のローラの回転軸線に直交
する軸線周りに回転傾斜可能であることを特徴とする平
坦化機。
1. A flattening machine for flattening a solder disposed on a surface of a substrate by passing the substrate between a lower roller and an upper roller, wherein the upper roller is disposed on the lower roller. A flattening machine, which is movable in a linear direction so as to approach or move away from the roller, and is rotatable and inclined about an axis orthogonal to a rotation axis of the lower roller.
【請求項2】 請求項1記載の平坦化機において、上記
下側のローラはモータによって駆動されていることを特
徴とする平坦化機。
2. The flattening machine according to claim 1, wherein said lower roller is driven by a motor.
【請求項3】 請求項1又は2記載の平坦化機におい
て、上記下側のローラの円周面はウレタン樹脂によって
形成されていることを特徴とする平坦化機。
3. The flattening machine according to claim 1, wherein a circumferential surface of said lower roller is formed of urethane resin.
【請求項4】 請求項1、2又は3記載の平坦化機にお
いて、上記上側のローラの円周面はDLC(ダイヤモン
ドライクカーボン)処理されていることを特徴とする平
坦化機。
4. The flattening machine according to claim 1, wherein a circumferential surface of said upper roller is subjected to a DLC (diamond-like carbon) treatment.
【請求項5】 請求項1、2、3又は4記載の平坦化機
において、上記下側のローラはフレームに回転可能に装
着され、上記上側のローラは第1の支持部材に回転可能
に装着され、該第1の支持部材は上記フレームに装着さ
れた第2の支持部材に上記下側のローラの回転軸線に直
交する回転軸線周りに回転傾斜可能に装着され、上記第
1の支持部材が上記回転軸線周りに回転傾斜すると上記
上側のローラも上記回転軸線周りに回転傾斜するように
構成されていることを特徴とする平坦化機。
5. The flattening machine according to claim 1, wherein the lower roller is rotatably mounted on a frame, and the upper roller is rotatably mounted on a first support member. The first support member is mounted on the second support member mounted on the frame so as to be rotatable and tiltable about a rotation axis orthogonal to the rotation axis of the lower roller, and the first support member is mounted on the second support member. A flattening machine, wherein the upper roller is also configured to rotate and tilt about the rotation axis when the rotation is tilted about the rotation axis.
【請求項6】 請求項5記載の平坦化機において、上記
第2の支持部材はスライダを介して上記フレームに滑動
可能に装着され、上記第2の支持部材が上記フレームに
対して上下方向に移動すると上記第1の支持部材及び上
側のローラは上下方向に移動するように構成されている
ことを特徴とする平坦化機。
6. The flattening machine according to claim 5, wherein the second support member is slidably mounted on the frame via a slider, and the second support member is vertically moved with respect to the frame. A flattening machine, wherein the first support member and the upper roller are configured to move vertically when moved.
【請求項7】 請求項5又は6記載の平坦化機におい
て、上記第1の支持部材と上記第2の支持部材の間にば
ねが配置され、該ばねの偏倚力によって上記第1の支持
部材は上記第2の支持部材に対して平行に配置されるよ
うに偏倚されていることを特徴とする平坦化機。
7. The flattening machine according to claim 5, wherein a spring is disposed between the first support member and the second support member, and the first support member is biased by the spring. Is flattened so as to be disposed parallel to the second support member.
【請求項8】 基板の表面に装着されたはんだを平坦化
加工するための平坦化機と該平坦化機の上流側に配置さ
れたローディングコンベヤと上記平坦化機の下流側に配
置されたアンローディングコンベヤと上記ローディング
コンベヤ上に配置された基板の回転位置を90°変化さ
せるための基板回転装置とを有し、上記平坦化機によっ
て上記基板のはんだを互いに直交する2つの方向に沿っ
て平坦化加工するように構成された平坦化装置。
8. A flattening machine for flattening a solder mounted on a surface of a substrate, a loading conveyor arranged upstream of the flattening machine, and an anchor arranged downstream of the flattening machine. A loading conveyor and a substrate rotating device for changing a rotation position of the substrate disposed on the loading conveyor by 90 °, wherein the flattening machine flattens the solder of the substrate along two directions orthogonal to each other; A flattening device configured to perform a forming process.
【請求項9】 請求項8記載の平坦化装置において、上
記ローディングコンベヤに沿って基板位置決め装置が配
置され、該基板位置決め装置は、上記基板を上記平坦化
機に装填するための装填位置と上記基板を上記基板回転
装置によって回転させるための回転位置とにて位置決め
するように構成されていることを特徴とする平坦化装
置。
9. The flattening device according to claim 8, wherein a substrate positioning device is arranged along the loading conveyor, and the substrate positioning device has a loading position for loading the substrate on the flattening machine and the loading position. A flattening apparatus, wherein the flattening apparatus is configured to be positioned at a rotation position for rotating a substrate by the substrate rotating apparatus.
【請求項10】 請求項8又は9記載の平坦化装置にお
いて、上記平坦化機は2つのローラを有し、該2つのロ
ーラの間を通過させることによって基板の表面に装着さ
れたはんだを平坦化加工するように構成されていること
を特徴とする平坦化装置。
10. The flattening apparatus according to claim 8, wherein the flattening machine has two rollers, and passes between the two rollers to flatten the solder mounted on the surface of the substrate. A flattening device, characterized in that it is configured to perform a finishing process.
【請求項11】 請求項10記載の平坦化装置におい
て、上記平坦化機の2つのローラは駆動ローラと非駆動
ローラとを含み、該非駆動ローラは上記駆動ローラ方向
に直線的に移動可能であり且つ上記駆動ローラの回転軸
線に直交する回転軸線周りに回転傾斜可能であることを
特徴とする平坦化装置。
11. The flattening apparatus according to claim 10, wherein the two rollers of the flattening machine include a driving roller and a non-driving roller, wherein the non-driving roller is linearly movable in the direction of the driving roller. A flattening device characterized in that the flattening device is rotatable about a rotation axis orthogonal to the rotation axis of the driving roller.
【請求項12】 請求項11記載の平坦化装置におい
て、上記駆動ローラの円周面はウレタン樹脂によって形
成され、上記非駆動ローラの円周面はDLC(ダイヤモ
ンドライクカーボン)処理されていることを特徴とする
平坦化装置。
12. The flattening device according to claim 11, wherein a circumferential surface of the driving roller is formed of urethane resin, and a circumferential surface of the non-driving roller is subjected to a DLC (diamond-like carbon) treatment. Characteristic flattening device.
【請求項13】 平坦化機の2つのローラによって基板
表面のはんだを平坦化加工する第1の平坦化加工工程
と、第1の平坦化加工が終了した基板を上記平坦化機の
上流側に戻す返還工程と、上記平坦化機の上流側に返還
された基板の回転位置を90°変化させる回転工程と、
上記平坦化機の2つのローラによって基板表面のはんだ
を平坦化加工する第2の平坦化加工工程と、を含み、上
記第2の平坦化加工工程の平坦化加工方向は上記第1の
平坦化加工工程の平坦化加工方向と直交する方向である
ことを特徴とする平坦化加工方法。
13. A first flattening step of flattening solder on a substrate surface by two rollers of a flattening machine, and placing the substrate after the first flattening process on an upstream side of the flattening machine. A return step of returning, and a rotation step of changing the rotation position of the substrate returned to the upstream side of the flattening machine by 90 °,
And a second flattening step of flattening the solder on the substrate surface with the two rollers of the flattening machine, wherein the direction of the flattening in the second flattening step is the first flattening process. A flattening method characterized by being in a direction orthogonal to a flattening direction in a processing step.
【請求項14】 請求項13記載の平坦化加工方法にお
いて、上記第1の平坦化加工工程に先立って、上記ロー
ディングコンベヤに導入された基板の回転位置を90°
変化させる回転工程を含むことを特徴とする平坦化加工
方法。
14. The flattening method according to claim 13, wherein prior to the first flattening step, the rotational position of the substrate introduced into the loading conveyor is set to 90 °.
A flattening method comprising a rotating step of changing.
【請求項15】 請求項13又は14記載の平坦化加工
方法において、上記第1及び第2の平坦化加工工程は基
板を平坦化機に装填するための装填位置に配置するため
の位置決め工程を含むことを特徴とする平坦化加工方
法。
15. The flattening method according to claim 13, wherein the first and second flattening steps include a positioning step for arranging a substrate at a loading position for loading the flattening machine. A flattening method characterized by including:
【請求項16】 請求項14又は15記載の平坦化加工
方法において、上記2つの回転工程は基板を基板回転装
置に装填するための回転位置に配置するための位置決め
工程を含むことを特徴とする平坦化加工方法。
16. The flattening method according to claim 14, wherein the two rotation steps include a positioning step for arranging the substrate at a rotation position for loading the substrate on a substrate rotation device. Flattening processing method.
JP23688996A 1996-09-06 1996-09-06 Flattening method and equipment Pending JPH1084060A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23688996A JPH1084060A (en) 1996-09-06 1996-09-06 Flattening method and equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23688996A JPH1084060A (en) 1996-09-06 1996-09-06 Flattening method and equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1084060A true JPH1084060A (en) 1998-03-31

Family

ID=17007282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23688996A Pending JPH1084060A (en) 1996-09-06 1996-09-06 Flattening method and equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1084060A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006332191A (en) * 2005-05-24 2006-12-07 Kyocer Slc Technologies Corp Bump flattening device and method for flattening using same
KR101458923B1 (en) * 2013-01-09 2014-11-07 비아이 이엠티 주식회사 Apparatus for correcting case uniformity
CN108581126A (en) * 2018-06-20 2018-09-28 大冶特殊钢股份有限公司 Flip LED chips guider and reflow machine and LED chip welding method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006332191A (en) * 2005-05-24 2006-12-07 Kyocer Slc Technologies Corp Bump flattening device and method for flattening using same
KR101458923B1 (en) * 2013-01-09 2014-11-07 비아이 이엠티 주식회사 Apparatus for correcting case uniformity
CN108581126A (en) * 2018-06-20 2018-09-28 大冶特殊钢股份有限公司 Flip LED chips guider and reflow machine and LED chip welding method
CN108581126B (en) * 2018-06-20 2023-09-15 大冶特殊钢有限公司 Flip LED chip guiding device, reflow soldering machine and LED chip soldering method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100488301B1 (en) Apparatus and method for polishing a flat surface using a belted polishing pad
US6505553B2 (en) Screen printing method and screen printing apparatus
KR100576406B1 (en) Flux reservoir and flux transferring method
CN1523361A (en) Probe, probe assembly method and probe plate
JP3828808B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP4084393B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JPH1084060A (en) Flattening method and equipment
KR101786789B1 (en) Vacuum adsorption plate for wafer stage
JPH10323964A (en) Screen printing device
KR101656818B1 (en) Printed circuit board retainer for screen printers
JP4324805B2 (en) Pattern forming device
JP3089392B2 (en) Bonding equipment
JP4197171B2 (en) Electronic component mounting machine
JP2000294676A (en) Solder ball mounting method and device thereof
JP2001156434A (en) Solder ball mounting method and device
KR200449023Y1 (en) An Apparatus For Reversing Flexible Printed Circuit Board
KR102476987B1 (en) Wafer stage device with adjustable height using ball screw
CN218460717U (en) Pin correction device of dual in-line device
JP2010212302A (en) Processing apparatus and method using mask
CN2763812Y (en) Probe, assembling method and probe board
KR100424697B1 (en) Supporting apparatus of printed circuit board
JP4846704B2 (en) Chip component mounting device
JP4714504B2 (en) Bump flattening apparatus and bump flattening method using the same
JP6990990B2 (en) Board transfer holding device and board transfer holding method
JP2006319281A (en) Arm driving mechanism, packaging apparatus, method for driving arm, and method for packaging