JPH1078482A - ２次元放射線検出器のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置 - Google Patents
２次元放射線検出器のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置Info
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- JPH1078482A JPH1078482A JP23440596A JP23440596A JPH1078482A JP H1078482 A JPH1078482 A JP H1078482A JP 23440596 A JP23440596 A JP 23440596A JP 23440596 A JP23440596 A JP 23440596A JP H1078482 A JPH1078482 A JP H1078482A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ２次元放射線検出器の出荷時におけるβ線感
度、及び使用に伴って起こるβ線感度の劣化、各イメー
ジングプレートのβ線感度、イメージングプレートの各
測定部位毎のβ線感度を測定し、感度の不均一性が検出
された場合、それを補正することにより均一性を確保す
る。 【解決手段】 Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに塗
布した平面線源をイメージングプレート１０に密着また
は近接させた後、イメージングプレート１０の各部位の
ＰＳＬ値を計測し、各部位の数値の平均値に対する相対
比率をβ線感度補正係数として得、その後のイメージン
グプレート１０の使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ
値にβ線感度補正係数を乗じることによって各部位の真
のＰＳＬ値を得る。
度、及び使用に伴って起こるβ線感度の劣化、各イメー
ジングプレートのβ線感度、イメージングプレートの各
測定部位毎のβ線感度を測定し、感度の不均一性が検出
された場合、それを補正することにより均一性を確保す
る。 【解決手段】 Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに塗
布した平面線源をイメージングプレート１０に密着また
は近接させた後、イメージングプレート１０の各部位の
ＰＳＬ値を計測し、各部位の数値の平均値に対する相対
比率をβ線感度補正係数として得、その後のイメージン
グプレート１０の使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ
値にβ線感度補正係数を乗じることによって各部位の真
のＰＳＬ値を得る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は２次元放射線検出器
のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及
び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置、更に詳し
くは放射性物質が２次元的な広がりを持っている測定試
料（例えば、薄層クロマトプレート、全身オートラジオ
グラフのために作成された全身凍結乾燥切片、マイクロ
プレート）の各部位の放射線量を測定する２次元放射線
検出器を用いての測定時に、２次元放射線検出器のβ線
検出感度、個々のプレートの感度、及び各プレートの測
定部位毎の感度のバラ付きを補正するための補正方法、
その方法に使用する平面線源及び補正装置方法に使用す
るための装置に関するものである。
のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及
び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置、更に詳し
くは放射性物質が２次元的な広がりを持っている測定試
料（例えば、薄層クロマトプレート、全身オートラジオ
グラフのために作成された全身凍結乾燥切片、マイクロ
プレート）の各部位の放射線量を測定する２次元放射線
検出器を用いての測定時に、２次元放射線検出器のβ線
検出感度、個々のプレートの感度、及び各プレートの測
定部位毎の感度のバラ付きを補正するための補正方法、
その方法に使用する平面線源及び補正装置方法に使用す
るための装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から用いられている２次元放射線検
出器としては、マルチカウンタ方式の検出器と、プレー
トカウンタ方式の検出器とが用いられていた。ここで、
マルチカウンタ方式の検出器とは、測定試料集団を測定
試料と同数の計数管からなる放射線検出器に対向的に配
置し、一定時間放射線計測して各測定試料の放射能を測
定する方法である。また、プレートカウンタ方式の検出
器とは、薄層クロマトプレート、凍結乾燥切片、マイク
ロプレート等の測定試料をプレート状の放射能センサー
に対向的に配置し、一定時間後にプレートカウンタを取
り出してプレートカウンタ上に記録された放射能分布情
報を解析することにより測定試料における放射能分布を
測定する方式である。
出器としては、マルチカウンタ方式の検出器と、プレー
トカウンタ方式の検出器とが用いられていた。ここで、
マルチカウンタ方式の検出器とは、測定試料集団を測定
試料と同数の計数管からなる放射線検出器に対向的に配
置し、一定時間放射線計測して各測定試料の放射能を測
定する方法である。また、プレートカウンタ方式の検出
器とは、薄層クロマトプレート、凍結乾燥切片、マイク
ロプレート等の測定試料をプレート状の放射能センサー
に対向的に配置し、一定時間後にプレートカウンタを取
り出してプレートカウンタ上に記録された放射能分布情
報を解析することにより測定試料における放射能分布を
測定する方式である。
【０００３】前者の、マルチカウンタ方式では、個々の
放射線検出器の検出効率がわずかではあるが異なってい
るにもかかわらず、個々の放射線検出器の放射線検出効
率を同時に試験する方法が開発されていない。したがっ
て、個々の放射線検出器の検出結果のバラツキを補正す
ることができず、勢い充分な信頼性を得るに至っていな
いものであった。
放射線検出器の検出効率がわずかではあるが異なってい
るにもかかわらず、個々の放射線検出器の放射線検出効
率を同時に試験する方法が開発されていない。したがっ
て、個々の放射線検出器の検出結果のバラツキを補正す
ることができず、勢い充分な信頼性を得るに至っていな
いものであった。
【０００４】また、プレートカウンタ方式の検出器に用
いるプレートカウンタは、放射線検出層とその支持体に
より構成されている。ここで、前者の放射線検出層は、
放射能分布画像の分解能を維持するために極めて薄く製
造されている。例えば、ラジオルミノグラフィーに用い
られているイメージンプレート（ＩＰ）の放射線検出層
の厚さは６０μｍ（約６０ｍｇ／ｃｍ 2）である。ただ
このような放射線検出層にすると、Ｘ線とβ線の物質透
過の様態は全く異なってくる。すなわち、電磁波の一種
であるＸ線は、プレートカウンタの放射線検出層を完全
に透過した状態で測定されるのに対して、負電荷の粒子
であるβ線は放射線検出層の表層部分（例えば、Ｃ−１
４のβ線はせいぜい１０μｍ）でのみ検出されている。
いるプレートカウンタは、放射線検出層とその支持体に
より構成されている。ここで、前者の放射線検出層は、
放射能分布画像の分解能を維持するために極めて薄く製
造されている。例えば、ラジオルミノグラフィーに用い
られているイメージンプレート（ＩＰ）の放射線検出層
の厚さは６０μｍ（約６０ｍｇ／ｃｍ 2）である。ただ
このような放射線検出層にすると、Ｘ線とβ線の物質透
過の様態は全く異なってくる。すなわち、電磁波の一種
であるＸ線は、プレートカウンタの放射線検出層を完全
に透過した状態で測定されるのに対して、負電荷の粒子
であるβ線は放射線検出層の表層部分（例えば、Ｃ−１
４のβ線はせいぜい１０μｍ）でのみ検出されている。
【０００５】したがって、プレートカウンタ方式の検出
器のβ線感度の均一性の確認試験には透過力の強いＸ線
は不適当であり、検出層の表層部分でのみ検出されるβ
線を用いて行われるべきである。そこで最近、β線感度
の均一性の確認試験に、β線の放射性同位体であるＣ−
１４を平面線源とする試みがなされている。しかし、Ｃ
−１４はその半減期が５７３０年であり、極めて長いた
めに、単位時間当たりに放出される放射線の程度を表す
定数である壊変定数λはｌｎ２／５７３０＝３.８３×
１０-12／秒と極めて小さくなるので、この放射性核種
ではβ線密度の高い平面線源を得ることは出来ない。し
たがって、Ｃ−１４の平面線源を用いるβ線感度の均一
性の確認試験には長時間を要するという致命的欠点があ
った。
器のβ線感度の均一性の確認試験には透過力の強いＸ線
は不適当であり、検出層の表層部分でのみ検出されるβ
線を用いて行われるべきである。そこで最近、β線感度
の均一性の確認試験に、β線の放射性同位体であるＣ−
１４を平面線源とする試みがなされている。しかし、Ｃ
−１４はその半減期が５７３０年であり、極めて長いた
めに、単位時間当たりに放出される放射線の程度を表す
定数である壊変定数λはｌｎ２／５７３０＝３.８３×
１０-12／秒と極めて小さくなるので、この放射性核種
ではβ線密度の高い平面線源を得ることは出来ない。し
たがって、Ｃ−１４の平面線源を用いるβ線感度の均一
性の確認試験には長時間を要するという致命的欠点があ
った。
【０００６】これに加えて、この平面線源を破損した場
合、放射性廃棄物として、その廃棄に大きな問題を残す
ことの欠点があり、この平面線源は実用的でないと考え
られている。したがって、β線感度均一性を試験する実
用的方法は存在しないため、β線の２次元検出器の均一
性の事態は不明のままである。
合、放射性廃棄物として、その廃棄に大きな問題を残す
ことの欠点があり、この平面線源は実用的でないと考え
られている。したがって、β線感度均一性を試験する実
用的方法は存在しないため、β線の２次元検出器の均一
性の事態は不明のままである。
【０００７】すなわち、現在では、放射能検出器が自然
科学の領域で盛んに使用されてきているものの、個々の
２次元放射線検出器のβ線検出感度の均一性及び個々の
プレートの均一性及び各プレートの測定部位毎の均一性
等を検証する有効な方法がいまだ開発されておらず、現
在まで２次元放射線検出器で得られたデータの信頼性を
検証することができなかった。
科学の領域で盛んに使用されてきているものの、個々の
２次元放射線検出器のβ線検出感度の均一性及び個々の
プレートの均一性及び各プレートの測定部位毎の均一性
等を検証する有効な方法がいまだ開発されておらず、現
在まで２次元放射線検出器で得られたデータの信頼性を
検証することができなかった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、２次
元放射線検出器の出荷時におけるβ線感度、及び使用に
伴って起こるβ線感度の劣化、各プレートのβ線感度、
プレートの各測定部位毎のβ線感度を測定し、感度の不
均一性が検出された場合、それを補正することにより均
一性を確保するための２次元放射線検出器のβ線感度の
補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射
線検出器のβ線感度の補正装置を提供することを目的と
する。
元放射線検出器の出荷時におけるβ線感度、及び使用に
伴って起こるβ線感度の劣化、各プレートのβ線感度、
プレートの各測定部位毎のβ線感度を測定し、感度の不
均一性が検出された場合、それを補正することにより均
一性を確保するための２次元放射線検出器のβ線感度の
補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射
線検出器のβ線感度の補正装置を提供することを目的と
する。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前述の目的を達成するた
めに、本発明のうち請求項１記載の発明は、Ｐｍ−１４
７を無限厚さ以上の厚さに塗布した平面線源をイメージ
ングプレートに密着または近接させた後、イメージング
プレートの各部位のＰＳＬ値を計測し、各部位の数値の
平均値に対する相対比率をβ線感度補正係数として得、
その後のイメージングプレートの使用時に、各部位で測
定されたＰＳＬ値にβ線感度補正係数を乗じることによ
って各部位の真のＰＳＬ値を得るようにしたことを特徴
とする。
めに、本発明のうち請求項１記載の発明は、Ｐｍ−１４
７を無限厚さ以上の厚さに塗布した平面線源をイメージ
ングプレートに密着または近接させた後、イメージング
プレートの各部位のＰＳＬ値を計測し、各部位の数値の
平均値に対する相対比率をβ線感度補正係数として得、
その後のイメージングプレートの使用時に、各部位で測
定されたＰＳＬ値にβ線感度補正係数を乗じることによ
って各部位の真のＰＳＬ値を得るようにしたことを特徴
とする。
【００１０】ここで、放射線源としてＰｍ−１４７を用
いたのは、Ｐｍ−１４７が、最も繁用されている放射線
同位体であるＣ−１４のβ線（最大エネルギー０．１５
６ＭｅＶ）に近いエネルギー分布（最大エネルギー０．
２２５ＭｅＶ）をもち、かつその半減期が、２．６２３
年であることに着目したものである。そして、このＰｍ
−１４７を無限厚さに塗布することにより作成したＰｍ
−１４７平面線源を、当該放射線検出器の検出部に密着
あるいは近接させることによって、Ｃ−１４のβ線に近
いエネルギー分布をもち、しかもβ線密度の極めて高い
平面線源を検出部に均一照射することができることとな
る。なおこのこのＰｍ−１４７の半減期は２．６２３年
であることから、その壊変定数λ＝ｌｎ２／２．６２３
＝８．３７×１０-9／秒となり、Ｃ−１４のλ＝３．８
３×１０-12／秒に比較して実に約２１８０倍にも達す
るβ線密度の高い線源が得られることとなる。
いたのは、Ｐｍ−１４７が、最も繁用されている放射線
同位体であるＣ−１４のβ線（最大エネルギー０．１５
６ＭｅＶ）に近いエネルギー分布（最大エネルギー０．
２２５ＭｅＶ）をもち、かつその半減期が、２．６２３
年であることに着目したものである。そして、このＰｍ
−１４７を無限厚さに塗布することにより作成したＰｍ
−１４７平面線源を、当該放射線検出器の検出部に密着
あるいは近接させることによって、Ｃ−１４のβ線に近
いエネルギー分布をもち、しかもβ線密度の極めて高い
平面線源を検出部に均一照射することができることとな
る。なおこのこのＰｍ−１４７の半減期は２．６２３年
であることから、その壊変定数λ＝ｌｎ２／２．６２３
＝８．３７×１０-9／秒となり、Ｃ−１４のλ＝３．８
３×１０-12／秒に比較して実に約２１８０倍にも達す
るβ線密度の高い線源が得られることとなる。
【００１１】またイメージングプレート（ＩＰ）とは、
２次元的な広がりを持っている測定試料のβ線量を測定
するのに用いられる平板状の測定用資材である。更に、
ＰＳＬ値とは、露光されたＩＰをＨｅ−Ｎｅレーザー光
線ビームでスキャニングし、ＩＰにある放射線分布情報
を、スキャニングの際放射される蛍光の強度（以下、Ｐ
ＳＬ＝photo-stimulated luminescense)値として表現さ
せた数値をいう。
２次元的な広がりを持っている測定試料のβ線量を測定
するのに用いられる平板状の測定用資材である。更に、
ＰＳＬ値とは、露光されたＩＰをＨｅ−Ｎｅレーザー光
線ビームでスキャニングし、ＩＰにある放射線分布情報
を、スキャニングの際放射される蛍光の強度（以下、Ｐ
ＳＬ＝photo-stimulated luminescense)値として表現さ
せた数値をいう。
【００１２】このような方法を行うことによって、最近
繁用されているプレートカウンタとして用いられている
イメージングプレート（ＩＰ）を用いるバイオイメージ
アナライザー（ＢＡＳ）に適用し、ＢＡＳの機器間、イ
メージングプレート間およびイメージングプレートの測
定部位毎のβ線の検出感度のバラツキを補正することが
できるものである。
繁用されているプレートカウンタとして用いられている
イメージングプレート（ＩＰ）を用いるバイオイメージ
アナライザー（ＢＡＳ）に適用し、ＢＡＳの機器間、イ
メージングプレート間およびイメージングプレートの測
定部位毎のβ線の検出感度のバラツキを補正することが
できるものである。
【００１３】しかも、この補正は、機器、イメージング
プレート、およびイメージングプレートの各部位の変数
が固定されるので、変数に対応した個々の部位の補正係
数を用いて、実際の測定値を補正することによって、真
のＰＳＬ値を得ることができるものである。更に請求項
２記載の発明は、Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに
塗布したことを特徴とする２次元放射線検出器のβ線感
度の補正方法に使用する平面線源に関するものである。
プレート、およびイメージングプレートの各部位の変数
が固定されるので、変数に対応した個々の部位の補正係
数を用いて、実際の測定値を補正することによって、真
のＰＳＬ値を得ることができるものである。更に請求項
２記載の発明は、Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに
塗布したことを特徴とする２次元放射線検出器のβ線感
度の補正方法に使用する平面線源に関するものである。
【００１４】ここで、無限厚さ以上とは、Ｐｍ−１４７
を一定厚さに塗布した際、最深部に塗布されたＰｍ−１
４７が自己吸収されてしまうような厚さをいう。請求項
３記載の発明は、Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに
塗布した線状線源をイメージングプレートに沿ってスキ
ャンさせた後、イメージングプレートの各部位のＰＳＬ
値を計測し、各部位の数値の平均値に対する相対比率を
β線感度補正係数として得、その後のイメージングプレ
ートの使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感
度補正係数を乗じることによって各部位の真のＰＳＬ値
を得るようにしたことを特徴とする。
を一定厚さに塗布した際、最深部に塗布されたＰｍ−１
４７が自己吸収されてしまうような厚さをいう。請求項
３記載の発明は、Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに
塗布した線状線源をイメージングプレートに沿ってスキ
ャンさせた後、イメージングプレートの各部位のＰＳＬ
値を計測し、各部位の数値の平均値に対する相対比率を
β線感度補正係数として得、その後のイメージングプレ
ートの使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感
度補正係数を乗じることによって各部位の真のＰＳＬ値
を得るようにしたことを特徴とする。
【００１５】この発明と請求項１記載の発明との相違点
は、この発明がＩＰに対して線状線源をスキャンさせる
ことにある。請求項４記載の発明は、Ｐｍ−１４７を無
限厚さ以上の厚さに塗布した線源を密着、近接またはス
キャンさせたイメージングプレートと、このイメージン
グプレートの各部位のＰＳＬ値の計測手段と、計測した
各部位のＰＳＬ値を記憶するＰＳＬ値記憶手段と、各部
位の数値の平均値を求める平均値算出手段と、この平均
値を記憶する平均値記憶手段と、この平均値に対する各
部位の相対比率としてのβ線感度補正係数を算出する補
正係数算出手段と、各部位のβ線感度補正係数を記憶す
る補正係数記憶手段を有し、その後のイメージングプレ
ートの使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値に、対応
する部位のβ線感度補正係数を補正係数記憶手段から呼
び出し、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感度補正係
数を乗じる乗算手段と、その乗算手段によって得られた
各部位の真のＰＳＬ値を出力する出力手段とを有するこ
とを特徴とする。
は、この発明がＩＰに対して線状線源をスキャンさせる
ことにある。請求項４記載の発明は、Ｐｍ−１４７を無
限厚さ以上の厚さに塗布した線源を密着、近接またはス
キャンさせたイメージングプレートと、このイメージン
グプレートの各部位のＰＳＬ値の計測手段と、計測した
各部位のＰＳＬ値を記憶するＰＳＬ値記憶手段と、各部
位の数値の平均値を求める平均値算出手段と、この平均
値を記憶する平均値記憶手段と、この平均値に対する各
部位の相対比率としてのβ線感度補正係数を算出する補
正係数算出手段と、各部位のβ線感度補正係数を記憶す
る補正係数記憶手段を有し、その後のイメージングプレ
ートの使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値に、対応
する部位のβ線感度補正係数を補正係数記憶手段から呼
び出し、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感度補正係
数を乗じる乗算手段と、その乗算手段によって得られた
各部位の真のＰＳＬ値を出力する出力手段とを有するこ
とを特徴とする。
【００１６】この発明では、請求項１または３記載の発
明を実施するための装置を示したものである。更に請求
項５記載の発明は、請求項４記載の発明の構成を備えて
いると共に、イメージングプレート毎に設定される符号
を入力するプレート識別入力手段と、このプレート識別
入力手段によって入力されたプレート識別符号を記憶す
るプレート識別記憶手段とを有することを特徴とする。
明を実施するための装置を示したものである。更に請求
項５記載の発明は、請求項４記載の発明の構成を備えて
いると共に、イメージングプレート毎に設定される符号
を入力するプレート識別入力手段と、このプレート識別
入力手段によって入力されたプレート識別符号を記憶す
るプレート識別記憶手段とを有することを特徴とする。
【００１７】この発明では、あらかじめ使用するプレー
ト毎の情報を、プレート識別記憶手段と補正係数記憶手
段として記憶させておくことで、多数のＩＰに対応でき
るようにしたものである。
ト毎の情報を、プレート識別記憶手段と補正係数記憶手
段として記憶させておくことで、多数のＩＰに対応でき
るようにしたものである。
【００１８】
【実施例】本発明を具体的に説明するために以下の実施
例を述べる。ここでは、β線２次元検出器として最近繁
用されているプレートカウンタとして２０×４０ｃｍの
イメージングプレート（ＩＰ）を用いた。バイオイメー
ジングアナライザー（ＢＡＳ）で解析する場合（この方
法はラジオルミノグラフィーという）では、測定試料に
ＩＰをある時間密着露光させることにより、測定試料か
らＩＰに放射線分布情報を記憶させる。その後、露光さ
れたＩＰをＨｅ−Ｎｅレーザー光線ビームでスキャニン
グし、前記放射線分布情報を、スキャニングの際放射さ
れる蛍光の強度（以下、ＰＳＬ＝photo-stimulatedlumi
nescense)値として表現させるものである。
例を述べる。ここでは、β線２次元検出器として最近繁
用されているプレートカウンタとして２０×４０ｃｍの
イメージングプレート（ＩＰ）を用いた。バイオイメー
ジングアナライザー（ＢＡＳ）で解析する場合（この方
法はラジオルミノグラフィーという）では、測定試料に
ＩＰをある時間密着露光させることにより、測定試料か
らＩＰに放射線分布情報を記憶させる。その後、露光さ
れたＩＰをＨｅ−Ｎｅレーザー光線ビームでスキャニン
グし、前記放射線分布情報を、スキャニングの際放射さ
れる蛍光の強度（以下、ＰＳＬ＝photo-stimulatedlumi
nescense)値として表現させるものである。
【００１９】具体的には、まずＰｍ−１４７平面線源を
作製する。最初に、［Ｐｍ−１４７］プロメチウムオキ
サイドを有機樹脂溶液に溶解し、２０×４０ｃｍのプラ
スチックの板に均一塗布し、乾燥させた後、薄いプラス
チックのフィルム（１．８ｍｇ／ｃｍ2）で覆うことに
よって、Ｐｍ−１４７平面線源を作成した。
作製する。最初に、［Ｐｍ−１４７］プロメチウムオキ
サイドを有機樹脂溶液に溶解し、２０×４０ｃｍのプラ
スチックの板に均一塗布し、乾燥させた後、薄いプラス
チックのフィルム（１．８ｍｇ／ｃｍ2）で覆うことに
よって、Ｐｍ−１４７平面線源を作成した。
【００２０】ここで、［Ｐｍ−１４７］プロメチウムオ
キサイド層の厚さは１００ｍｇ／ｃｍ2としたので、こ
の平面線源表面におけるβ線密度の均一性は確保されて
いると考えられる。なお、このような作成時における塗
布放射能密度は０．５ＭＢｑ／ｃｍ2であった。ここ
で、このようにして作成したＰｍ−１４７平面線源から
のβ線密度は、［Ｐｍ−１４７］プロメチウムオキサイ
ド層の厚さを無限厚さとしたので、均一分布であると考
えられる。さらにこのβ線密度の均一性は、後に再度確
認することとする。
キサイド層の厚さは１００ｍｇ／ｃｍ2としたので、こ
の平面線源表面におけるβ線密度の均一性は確保されて
いると考えられる。なお、このような作成時における塗
布放射能密度は０．５ＭＢｑ／ｃｍ2であった。ここ
で、このようにして作成したＰｍ−１４７平面線源から
のβ線密度は、［Ｐｍ−１４７］プロメチウムオキサイ
ド層の厚さを無限厚さとしたので、均一分布であると考
えられる。さらにこのβ線密度の均一性は、後に再度確
認することとする。
【００２１】次にこのようなＰｍ−１４７平面線源を用
いて、イメージングプレート全面にわたるβ線密度を測
定した。ここでは、Ｐｍ−１４７平面線源にＩＰを１０
分間密着露光させた後、そのＩＰをＢＡＳで解析した。
具体的には、周辺部１０ｍｍを除外し、縦横５ｍｍ間隔
で区切ることによって得られた２７３６区画のＰＳＬ値
を検討したものである。その結果を図１に示す。図１は
各区画のＰＳＬ／ｍｍ2値の頻度分布の一例である。
いて、イメージングプレート全面にわたるβ線密度を測
定した。ここでは、Ｐｍ−１４７平面線源にＩＰを１０
分間密着露光させた後、そのＩＰをＢＡＳで解析した。
具体的には、周辺部１０ｍｍを除外し、縦横５ｍｍ間隔
で区切ることによって得られた２７３６区画のＰＳＬ値
を検討したものである。その結果を図１に示す。図１は
各区画のＰＳＬ／ｍｍ2値の頻度分布の一例である。
【００２２】この実験の結果から、全区画のＰＳＬ値の
変動計数は１．６％であった。すなわちイメージングプ
レートの各部位によって、検出感度が１．６％のずれを
生じることがわかった。次に、前述したイメージングプ
レート全面にわたるβ線密度の測定で述べた方法と同一
の方法でのβ線密度の測定を、Ｐｍ−１４７平面線源を
１８０度回転させて行った。この測定は、平面線源の均
一性を確認するために行ったものである。
変動計数は１．６％であった。すなわちイメージングプ
レートの各部位によって、検出感度が１．６％のずれを
生じることがわかった。次に、前述したイメージングプ
レート全面にわたるβ線密度の測定で述べた方法と同一
の方法でのβ線密度の測定を、Ｐｍ−１４７平面線源を
１８０度回転させて行った。この測定は、平面線源の均
一性を確認するために行ったものである。
【００２３】図２は、β線感度の位置依存性を検討する
ためにＰＳＬ値を読み出したエリア（それぞれ、４区画
ずつからなる）の位置と番号を示したものである。表１
は、図２に示した各エリアのＰＳＬ値をまとめたもので
ある。
ためにＰＳＬ値を読み出したエリア（それぞれ、４区画
ずつからなる）の位置と番号を示したものである。表１
は、図２に示した各エリアのＰＳＬ値をまとめたもので
ある。
【００２４】
【表１】
【００２５】第１回目の実験において、例えばエリア３
のＰＳＬ／ｍｍ2値が全エリアにわたるＰＳＬ／ｍｍ2値
の平均値に比べて低く、エリア７のそれはわずかに高
い。この原因として、Ｐｍ−１４７平面線源におけるＰ
ｍ−１４７表面密度の不均一性も考えられたが、第２回
目の実験（Ｐｍ−１４７平面線源を１８０度回転して行
った）においても実験誤差の範囲内でほぼ同じ結果が得
られた。
のＰＳＬ／ｍｍ2値が全エリアにわたるＰＳＬ／ｍｍ2値
の平均値に比べて低く、エリア７のそれはわずかに高
い。この原因として、Ｐｍ−１４７平面線源におけるＰ
ｍ−１４７表面密度の不均一性も考えられたが、第２回
目の実験（Ｐｍ−１４７平面線源を１８０度回転して行
った）においても実験誤差の範囲内でほぼ同じ結果が得
られた。
【００２６】この現象がＰｍ−１４７平面線源の不均一
性に起因しているとすれば、第２回目の実験において
（第１回目の実験のエリア３に相当する）エリア７のＰ
ＳＬ／ｍｍ2値は低く、（第１回目の実験のエリア７に
相当する）エリア３のＰＳＬ／ｍｍ2値が高くなるはず
である。したがって、各エリアの平均値からのずれは、
Ｐｍ−１４７平面線源は均一であるものの、ＩＰのβ線
感度が不均一で位置依存性が存在してしまうことに起因
していることが立証された。次に、このような実験の結
果、ＩＰのβ線感度が不均一で位置依存性が存在してし
まうことがわかったので、個々のＩＰの個々の場所毎
に、β線感度補正係数を算出することとした。
性に起因しているとすれば、第２回目の実験において
（第１回目の実験のエリア３に相当する）エリア７のＰ
ＳＬ／ｍｍ2値は低く、（第１回目の実験のエリア７に
相当する）エリア３のＰＳＬ／ｍｍ2値が高くなるはず
である。したがって、各エリアの平均値からのずれは、
Ｐｍ−１４７平面線源は均一であるものの、ＩＰのβ線
感度が不均一で位置依存性が存在してしまうことに起因
していることが立証された。次に、このような実験の結
果、ＩＰのβ線感度が不均一で位置依存性が存在してし
まうことがわかったので、個々のＩＰの個々の場所毎
に、β線感度補正係数を算出することとした。
【００２７】そのために、下記のような手順でβ線感度
補正係数を求めた。 イメージングプレートに、前述した方法で作成したＰ
ｍ−１４７平面線源を１０分間密着露光させた。 次いで、露光したイメージングプレートをバイオイメ
ージングアナライザー（ＢＡＳ）により読み取った後、
周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１個のエリア
を設定し解析を行った。
補正係数を求めた。 イメージングプレートに、前述した方法で作成したＰ
ｍ−１４７平面線源を１０分間密着露光させた。 次いで、露光したイメージングプレートをバイオイメ
ージングアナライザー（ＢＡＳ）により読み取った後、
周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１個のエリア
を設定し解析を行った。
【００２８】その後、まず全エリアのＰＳＬ／ｍｍ2
値の平均値を求め、次いで、この平均値に対する各エリ
アのＰＳＬ／ｍｍ2の相対比率を求めた。その後この相
対比率の逆数を各エリアのβ線感度補正係数として求め
た。図２に示した各エリアのＰＳＬ値とその相対比率お
よびこれから算出したβ線感度補正係数を、表２に示し
た。
値の平均値を求め、次いで、この平均値に対する各エリ
アのＰＳＬ／ｍｍ2の相対比率を求めた。その後この相
対比率の逆数を各エリアのβ線感度補正係数として求め
た。図２に示した各エリアのＰＳＬ値とその相対比率お
よびこれから算出したβ線感度補正係数を、表２に示し
た。
【００２９】
【表２】
【００３０】次に、このようにして求めたβ線感度補正
係数を用いて、実際に測定した値を補正した。 測定値の補正（実施例１） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
係数を用いて、実際に測定した値を補正した。 測定値の補正（実施例１） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
【００３１】次いで、露光したイメージングプレート
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
３に補正前後のＰＳＬ値を示す。
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
３に補正前後のＰＳＬ値を示す。
【００３２】
【表３】
【００３３】この表から、β線感度補正により測定値の
標準偏差は０．０２４２から０．００９３に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表４に補正前後の測
定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検定
した結果を示す。
標準偏差は０．０２４２から０．００９３に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表４に補正前後の測
定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検定
した結果を示す。
【００３４】
【表４】
【００３５】この表から、測定値のCHI-SQR値はα＝
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれかの場合におい
ても、それぞれCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０
５）あるいはCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０１）
の値より大きい値を示し、その確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌ
ｉｔｙ）は、０．００６０８となった。このことから、
補正前後の分散が等しいとの帰無仮説（Ｈｏ）が成り立
つ確率は僅か１０００分の６であることから、この帰無
仮説は棄却された。即ち統計学的にβ線感度補正による
測定値の分散の有意な減少が示された。 測定値の補正（実施例２） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれかの場合におい
ても、それぞれCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０
５）あるいはCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０１）
の値より大きい値を示し、その確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌ
ｉｔｙ）は、０．００６０８となった。このことから、
補正前後の分散が等しいとの帰無仮説（Ｈｏ）が成り立
つ確率は僅か１０００分の６であることから、この帰無
仮説は棄却された。即ち統計学的にβ線感度補正による
測定値の分散の有意な減少が示された。 測定値の補正（実施例２） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
【００３６】次いで、露光したイメージングプレート
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
５に補正前後の測定値を示す。
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
５に補正前後の測定値を示す。
【００３７】
【表５】
【００３８】この表から、β線感度補正により測定値の
標準偏差は０．０２１３から０．００６５に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表６に補正前後の測
定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検定
した結果を示す。
標準偏差は０．０２１３から０．００６５に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表６に補正前後の測
定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検定
した結果を示す。
【００３９】
【表６】
【００４０】この表から、測定値のCHI-SQR値はα＝
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれの場合において
も、それぞれCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０５）
あるいはCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０１）の値
より大きい値を示し、その確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔ
ｙ）は０．０００８９であり、補正前後の分散が等しい
との帰無仮説（Ｈｏ）が成り立つ確率は僅か１００００
分の９であることから、この帰無仮説は棄却された。即
ち統計学的にβ線感度補正による測定値の分散の有意な
減少が示された。 測定値の補正（実施例３） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれの場合において
も、それぞれCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０５）
あるいはCHI-SQR（自由度１、危険率α０．０１）の値
より大きい値を示し、その確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔ
ｙ）は０．０００８９であり、補正前後の分散が等しい
との帰無仮説（Ｈｏ）が成り立つ確率は僅か１００００
分の９であることから、この帰無仮説は棄却された。即
ち統計学的にβ線感度補正による測定値の分散の有意な
減少が示された。 測定値の補正（実施例３） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
【００４１】次いで、露光したイメージングプレート
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
７に補正前後の測定値を示す。
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
７に補正前後の測定値を示す。
【００４２】
【表７】
【００４３】この表から、β線感度補正により測定値の
標準偏差は０．０２６６から０．０１０１に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表８に補正前後の測
定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検定
した結果を示す。
標準偏差は０．０２６６から０．０１０１に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表８に補正前後の測
定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検定
した結果を示す。
【００４４】
【表８】
【００４５】この表から、測定値のCHI-SQR値はα＝
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれの場合において
も、それぞれCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０５）
あるいはCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０１）の値
より大きい値を示し、その確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔ
ｙ）は０．００５３７５であり、補正前の分散が等しい
との帰無仮説（Ｈｏ）が成り立つ確率は僅か１０００分
の５であることから、この帰無仮説は棄却された。即ち
統計学的にβ線感度補正による測定値の分散の有意な減
少が示された。 測定値の補正（実施例４） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれの場合において
も、それぞれCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０５）
あるいはCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０１）の値
より大きい値を示し、その確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔ
ｙ）は０．００５３７５であり、補正前の分散が等しい
との帰無仮説（Ｈｏ）が成り立つ確率は僅か１０００分
の５であることから、この帰無仮説は棄却された。即ち
統計学的にβ線感度補正による測定値の分散の有意な減
少が示された。 測定値の補正（実施例４） イメージングプレートに、前述した方法で作成した平
面線源Ａを１０分間密着露光させた。
【００４６】次いで、露光したイメージングプレート
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
９に補正前後の測定値を示す。
をバイオイメージングアナライザー（ＢＡＳ）により読
み取り後、周辺部１０ｍｍを除外し、図２に示した１１
個のエリアを解析し、各々の場所のＰＳＬ値（補正前）
を得た。 各エリアのＰＳＬ値に対して、それぞれ先に求めたβ
線感度補正係数を乗じてＰＳＬ値（補正後）を得た。表
９に補正前後の測定値を示す。
【００４７】
【表９】
【００４８】この表から、β線感度補正により測定値の
標準偏差は０．０２７１から０．０１０５に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表１０に補正前後の
測定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検
定した結果を示す。
標準偏差は０．０２７１から０．０１０５に著しく減少
し感度補正による効果が示された。表１０に補正前後の
測定値の分散が等しいか否かをBartlettの方法により検
定した結果を示す。
【００４９】
【表１０】
【００５０】この表から、測定値のCHI=SQR値はα＝
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれの場合において
もそれぞれCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０５）あ
るいはCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０１）の値よ
り大きい値を示しその確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ）
は０．００６１４１であり、補正前後の分散が等しいと
の帰無仮説（Ｈｏ）が成り立つ確率は僅か１０００分の
６であることから、この帰無仮説は棄却された。即ち統
計学的にβ感度補正による測定値の分散の有意な減少が
示された。以上説明したように、本実施例によれば、イ
メージングプレートの各部位のβ線感度の補正が行える
ものである。更に、複数のイメージングプレートを用い
て測定し、これら複数のイメージングプレートの各部位
の平均をもとにして、それぞれのイメージングプレート
の各部位の平均を取り、各々のイメージングプレート固
有のβ線感度補正係数を用いて、複数のＩＰの使用を可
能とすることもできる。更に、このようにβ線感度補正
係数を得るにあたって、個々の２次元放射線検出器ごと
の感度補正も同時に行えるものである。
０．０５あるいはα＝０．０１のいずれの場合において
もそれぞれCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０５）あ
るいはCHI=SQR（自由度１、危険率α０．０１）の値よ
り大きい値を示しその確率（Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ）
は０．００６１４１であり、補正前後の分散が等しいと
の帰無仮説（Ｈｏ）が成り立つ確率は僅か１０００分の
６であることから、この帰無仮説は棄却された。即ち統
計学的にβ感度補正による測定値の分散の有意な減少が
示された。以上説明したように、本実施例によれば、イ
メージングプレートの各部位のβ線感度の補正が行える
ものである。更に、複数のイメージングプレートを用い
て測定し、これら複数のイメージングプレートの各部位
の平均をもとにして、それぞれのイメージングプレート
の各部位の平均を取り、各々のイメージングプレート固
有のβ線感度補正係数を用いて、複数のＩＰの使用を可
能とすることもできる。更に、このようにβ線感度補正
係数を得るにあたって、個々の２次元放射線検出器ごと
の感度補正も同時に行えるものである。
【００５１】更に以上の説明では、平面線源をもちい、
かつＩＰに密着させたとして説明したが、密着させなく
とも、近接させるだけで足りる場合もある。更には、線
源として線状線源を用い、この線状線源をＩＰに沿って
スキャンさせることによってもイメージングプレートを
露光させ、本発明に用いることができる。次に、２次元
放射線検出器のβ線感度の補正装置について説明する。
かつＩＰに密着させたとして説明したが、密着させなく
とも、近接させるだけで足りる場合もある。更には、線
源として線状線源を用い、この線状線源をＩＰに沿って
スキャンさせることによってもイメージングプレートを
露光させ、本発明に用いることができる。次に、２次元
放射線検出器のβ線感度の補正装置について説明する。
【００５２】まず、Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さ
に塗布した線源を密着、近接またはスキャンさせたイメ
ージングプレート１０を用意しておく。このイメージン
グプレート１０の製造方法は、前述した方法と同様であ
る。次に補正装置について説明する。この補正装置は、
イメージングプレート１０の各部位のＰＳＬ値の読み取
り手段４０と、この読み取り手段４０からの情報の計測
手段２０と、計測した各部位のＰＳＬ値を記憶するＰＳ
Ｌ値記憶手段３０と、各部位の数値の平均値を求める平
均値算出手段２１と、この平均値を記憶する平均値記憶
手段３１と、この平均値に対する各部位の相対比率とし
てのβ線感度補正係数を算出する補正係数算出手段２２
と、各部位のβ線感度補正係数を記憶する補正係数記憶
手段３２を有し、その後のイメージングプレート１０の
使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値に、対応する部
位のβ線感度補正係数を補正係数記憶手段３２から呼び
出し、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感度補正係数
を乗じる乗算手段２３と、その乗算手段２３によって得
られた各部位の真のＰＳＬ値を出力する出力手段とを有
している。
に塗布した線源を密着、近接またはスキャンさせたイメ
ージングプレート１０を用意しておく。このイメージン
グプレート１０の製造方法は、前述した方法と同様であ
る。次に補正装置について説明する。この補正装置は、
イメージングプレート１０の各部位のＰＳＬ値の読み取
り手段４０と、この読み取り手段４０からの情報の計測
手段２０と、計測した各部位のＰＳＬ値を記憶するＰＳ
Ｌ値記憶手段３０と、各部位の数値の平均値を求める平
均値算出手段２１と、この平均値を記憶する平均値記憶
手段３１と、この平均値に対する各部位の相対比率とし
てのβ線感度補正係数を算出する補正係数算出手段２２
と、各部位のβ線感度補正係数を記憶する補正係数記憶
手段３２を有し、その後のイメージングプレート１０の
使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値に、対応する部
位のβ線感度補正係数を補正係数記憶手段３２から呼び
出し、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感度補正係数
を乗じる乗算手段２３と、その乗算手段２３によって得
られた各部位の真のＰＳＬ値を出力する出力手段とを有
している。
【００５３】次にこの装置の作動を説明する。まずイメ
ージングプレート１０を図示しない方法で所定位置に固
定し、読み取り手段４０及び計測手段２０によってイメ
ージングプレート１０の各部位のＰＳＬ値を計測する。
このように計測された各部位のＰＳＬ値は、各部位の情
報と共にＰＳＬ値記憶手段３０に記憶される。
ージングプレート１０を図示しない方法で所定位置に固
定し、読み取り手段４０及び計測手段２０によってイメ
ージングプレート１０の各部位のＰＳＬ値を計測する。
このように計測された各部位のＰＳＬ値は、各部位の情
報と共にＰＳＬ値記憶手段３０に記憶される。
【００５４】このようにして順次イメージングプレート
１０の各部位の計測及び記憶が終了すると、次いで前Ｐ
ＳＬ値の平均値が、平均値算出手段２１によって算出さ
れ、平均値記憶手段３１によって記憶される。その後、
この平均値記憶手段３１に記憶されている平均値に対し
て、各部位毎に各部位の情報と共にＰＳＬ値記憶手段３
０に記憶されているＰＳＬ値の相対比率がβ線感度補正
係数として補正係数算出手段２２によって算出され、各
部位の情報と共に、補正係数記憶手段３２に記憶され
る。なおここで、補正係数記憶手段３２に、各部位の情
報とβ線感度補正係数とが記憶された後は、平均値記憶
手段３１に記憶されている平均値及びＰＳＬ値記憶手段
３０に記憶されている各部位の情報と共に各ＰＳＬ値の
情報をクリアすることができる。
１０の各部位の計測及び記憶が終了すると、次いで前Ｐ
ＳＬ値の平均値が、平均値算出手段２１によって算出さ
れ、平均値記憶手段３１によって記憶される。その後、
この平均値記憶手段３１に記憶されている平均値に対し
て、各部位毎に各部位の情報と共にＰＳＬ値記憶手段３
０に記憶されているＰＳＬ値の相対比率がβ線感度補正
係数として補正係数算出手段２２によって算出され、各
部位の情報と共に、補正係数記憶手段３２に記憶され
る。なおここで、補正係数記憶手段３２に、各部位の情
報とβ線感度補正係数とが記憶された後は、平均値記憶
手段３１に記憶されている平均値及びＰＳＬ値記憶手段
３０に記憶されている各部位の情報と共に各ＰＳＬ値の
情報をクリアすることができる。
【００５５】このように補正係数記憶手段３２に各部位
の情報とβ線感度補正係数とが記憶された後は、実際の
β線測定が行われる。検体からイメージングプレート１
０に残された放射線情報を、再び計測手段２０で計測
し、その計測されたＰＳＬ値に対して、同一部位のβ線
感度補正係数を補正係数記憶手段３２から呼び出し、乗
算手段２３によって乗算され、各部位の真のＰＳＬ値が
求められるものである。
の情報とβ線感度補正係数とが記憶された後は、実際の
β線測定が行われる。検体からイメージングプレート１
０に残された放射線情報を、再び計測手段２０で計測
し、その計測されたＰＳＬ値に対して、同一部位のβ線
感度補正係数を補正係数記憶手段３２から呼び出し、乗
算手段２３によって乗算され、各部位の真のＰＳＬ値が
求められるものである。
【００５６】このようにして求められた真のＰＳＬ値
は、出力手段によって、表示、プリントアウト、あるい
は必要となるときまで記憶されることとなる。更にこの
装置には、イメージングプレート１０毎に設定される符
号を入力するプレート識別入力手段２４と、このプレー
ト識別入力手段２４によって入力されたプレート識別符
号を記憶するプレート識別記憶手段３３とを有してい
る。ここで、プレート識別入力手段２４は、手入力にす
ることもできるし、イメージングプレート１０にあらか
じめバーコード等を付けておき、このバーコード等の読
み込みによって行うこともできる。
は、出力手段によって、表示、プリントアウト、あるい
は必要となるときまで記憶されることとなる。更にこの
装置には、イメージングプレート１０毎に設定される符
号を入力するプレート識別入力手段２４と、このプレー
ト識別入力手段２４によって入力されたプレート識別符
号を記憶するプレート識別記憶手段３３とを有してい
る。ここで、プレート識別入力手段２４は、手入力にす
ることもできるし、イメージングプレート１０にあらか
じめバーコード等を付けておき、このバーコード等の読
み込みによって行うこともできる。
【００５７】このようにすると、あらかじめ使用するイ
メージングプレート１０毎に、各部位の情報を補正係数
記憶手段３２に記憶しておくことで、複数のイメージン
グプレート１０を用いての測定が迅速に行えるものであ
る。
メージングプレート１０毎に、各部位の情報を補正係数
記憶手段３２に記憶しておくことで、複数のイメージン
グプレート１０を用いての測定が迅速に行えるものであ
る。
【００５８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、２次元
放射線検出器の出荷時におけるβ線感度、及び使用に伴
って起こるβ線感度の劣化、各イメージングプレートの
β線感度、イメージングプレートの各測定部位毎のβ線
感度を測定し、感度の不一致性が検出された場合、それ
を補正することにより均一性を確保することができるも
のである。
放射線検出器の出荷時におけるβ線感度、及び使用に伴
って起こるβ線感度の劣化、各イメージングプレートの
β線感度、イメージングプレートの各測定部位毎のβ線
感度を測定し、感度の不一致性が検出された場合、それ
を補正することにより均一性を確保することができるも
のである。
【図１】Ｐｍ−１４７平面線源に１０分間露光したイメ
ージングプレートのＰＳＬ／ｍｍ2値の分散を示したグ
ラフである。
ージングプレートのＰＳＬ／ｍｍ2値の分散を示したグ
ラフである。
【図２】β線感度の位置依存性を検討する際のエリアを
示したイメージングプレートの表面図である。
示したイメージングプレートの表面図である。
【図３】２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置を説
明するためのブロック図である。
明するためのブロック図である。
１０ イメージングプレート ２０ 計測手段 ２１ 平均値算出
手段 ２２ 補正係数算出手段 ２３ 乗算手段 ２４ プレート識別入力手段 ３０ ＰＳＬ値記憶手段 ３１ 平均値記憶
手段 ３２ 補正係数記憶手段 ３３ プレート識
別記憶手段 ４０ 読み取り手段
手段 ２２ 補正係数算出手段 ２３ 乗算手段 ２４ プレート識別入力手段 ３０ ＰＳＬ値記憶手段 ３１ 平均値記憶
手段 ３２ 補正係数記憶手段 ３３ プレート識
別記憶手段 ４０ 読み取り手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 朝原 庸光 東京都杉並区上荻１−15−１ 丸三ビル 根本特殊化学株式会社内 (72)発明者 飯田 理文 東京都杉並区上荻１−15−１ 丸三ビル 根本特殊化学株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】 Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに塗
布した平面線源をイメージングプレートに密着または近
接させた後、イメージングプレートの各部位のＰＳＬ値
を計測し、各部位の数値の平均値に対する相対比率をβ
線感度補正係数として得、その後のイメージングプレー
トの使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感度
補正係数を乗じることによって各部位の真のＰＳＬ値を
得るようにしたことを特徴とする２次元放射線検出器の
β線感度の補正方法。 - 【請求項２】 Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに塗
布したことを特徴とする２次元放射線検出器のβ線感度
の補正方法に使用する平面線源。 - 【請求項３】 Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに塗
布した線状線源をイメージングプレートに沿ってスキャ
ンさせた後、イメージングプレートの各部位のＰＳＬ値
を計測し、各部位の数値の平均値に対する相対比率をβ
線感度補正係数として得、その後のイメージングプレー
トの使用時に、各部位で測定されたＰＳＬ値にβ線感度
補正係数を乗じることによって各部位の真のＰＳＬ値を
得るようにしたことを特徴とする２次元放射線検出器の
β線感度の補正方法。 - 【請求項４】 Ｐｍ−１４７を無限厚さ以上の厚さに塗
布した線源を密着、近接またはスキャンさせたイメージ
ングプレートと、このイメージングプレートの各部位の
ＰＳＬ値の計測手段と、計測した各部位のＰＳＬ値を記
憶するＰＳＬ値記憶手段と、各部位の数値の平均値を求
める平均値算出手段と、この平均値を記憶する平均値記
憶手段と、この平均値に対する各部位の相対比率として
のβ線感度補正係数を算出する補正係数算出手段と、各
部位のβ線感度補正係数を記憶する補正係数記憶手段を
有し、その後のイメージングプレートの使用時に、各部
位で測定されたＰＳＬ値に、対応する部位のβ線感度補
正係数を補正係数記憶手段から呼び出し、各部位で測定
されたＰＳＬ値にβ線感度補正係数を乗じる乗算手段
と、その乗算手段によって得られた各部位の真のＰＳＬ
値を出力する出力手段とを有することを特徴とする２次
元放射線検出器のβ線感度の補正装置。 - 【請求項５】 イメージングプレート毎に設定される符
号を入力するプレート識別入力手段と、このプレート識
別入力手段によって入力されたプレート識別符号を記憶
するプレート識別記憶手段とを有することを特徴とする
請求項４記載の２次元放射線検出器のβ線感度の補正装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23440596A JPH1078482A (ja) | 1996-09-04 | 1996-09-04 | ２次元放射線検出器のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23440596A JPH1078482A (ja) | 1996-09-04 | 1996-09-04 | ２次元放射線検出器のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1078482A true JPH1078482A (ja) | 1998-03-24 |
Family
ID=16970500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23440596A Pending JPH1078482A (ja) | 1996-09-04 | 1996-09-04 | ２次元放射線検出器のβ線感度の補正方法、その方法に使用する平面線源及び２次元放射線検出器のβ線感度の補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1078482A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105717534A (zh) * | 2016-03-25 | 2016-06-29 | 四川中测辐射科技有限公司 | 一种直读式电子个人剂量仪的能量响应修正方法 |
| CN110823105A (zh) * | 2019-05-03 | 2020-02-21 | 韩子杰 | 核材料镀层均匀性测量装置及使用方法 |
| JP2021518568A (ja) * | 2018-05-18 | 2021-08-02 | ローレンス リバモア ナショナル セキュリティ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 多面的放射線検出及び分類システム |
-
1996
- 1996-09-04 JP JP23440596A patent/JPH1078482A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105717534A (zh) * | 2016-03-25 | 2016-06-29 | 四川中测辐射科技有限公司 | 一种直读式电子个人剂量仪的能量响应修正方法 |
| JP2021518568A (ja) * | 2018-05-18 | 2021-08-02 | ローレンス リバモア ナショナル セキュリティ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 多面的放射線検出及び分類システム |
| CN110823105A (zh) * | 2019-05-03 | 2020-02-21 | 韩子杰 | 核材料镀层均匀性测量装置及使用方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050228 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050728 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20060803 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |