JPH10506992A - 単光線3軸測定を含む改良砲腔視線検査 - Google Patents

単光線3軸測定を含む改良砲腔視線検査

Info

Publication number
JPH10506992A
JPH10506992A JP8512112A JP51211295A JPH10506992A JP H10506992 A JPH10506992 A JP H10506992A JP 8512112 A JP8512112 A JP 8512112A JP 51211295 A JP51211295 A JP 51211295A JP H10506992 A JPH10506992 A JP H10506992A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
angle
detector
optical
polarization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8512112A
Other languages
English (en)
Inventor
グロードワルド、カール
Original Assignee
ディーアールエス/フォトロニクス コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ディーアールエス/フォトロニクス コーポレイション filed Critical ディーアールエス/フォトロニクス コーポレイション
Publication of JPH10506992A publication Critical patent/JPH10506992A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 2個の物体間の高角、方位および横転における角度ズレを測定する光学トランシーバー装置であって、航空機の胴体のような第1の物体に取り付けられた光トランスミッターと航空機の翼またはパイロンなどの第2の物体に取り付けられらた受光器とを用いている。受光器は高角/方位(EL/AZ)チャンネルと横転チャンネルとを有しており、これらは対物レンズを共通にしている。光線スプリッターは2個のチャンネル間でレーザーダイオードにより発生された光線を分離する。EL/AZチャンネルにあってはレンズを用いて光を位置検知デテクター(PSD)上に集中させる。横転チャンネルにあっては、光線分割プリズムその他の適当な光学的要素が2個の偏光面を分断し、爾後光デテクター上に集中させる。

Description

【発明の詳細な説明】 単光線3軸測定を含む改良砲腔視線検査 関連特許について この発明はアメリカ合衆国特許第5,118,185号(1992年6月2日 付け特許、発明者Courten:譲受人DRS/Photronics Co rporation,Hauppauge,New York)に開示された光 学的トランシーバーの改良に係るものである。開示内容は同特許参照。 発明の背景 この発明は光学的トランシーバーに関するものであり、特に2個の対象物間の 角度ズレを測定するための光学的トランシーバーシステムに関するものである。 またこの発明は航空機上の砲や他の兵装システムの砲腔視線検査のための道具と して有用なものである。 最新型攻撃ヘリコプターのような航空機においては、航空機のノーズや短翼部 に付設されたパイロン中の砲塔に短射程即応型兵装システムが収容されている。 そのような装備におけるシステムの精度は多くの要因により左右されるもので、 これらの要因は戦闘訓練中および後に変動するものである。これらの要因として は翼の曲がり、可動部品間の機械的な摩擦、歯車のバックラッシュ、構造的な振 動、機体の撓みおよび後座などが挙げられる。ここで関連してくる要因に関して は雑誌「Defence Helicopter World」1989年8〜 9月号のFrank Colucciによる報告「戦闘ヘリコプターの砲につい て」を参照すればより詳細な情報が得られる。 したがって目標とする地点のためにシステムを砲腔視線検査することが必要と なる。これは非常に退屈でしかも時間を要する作業であるが故に、ヘリコプター が任務のために離陸する前に地上照準装置により行なわれる。例えば米国陸軍統 計によれば、3人の作業員でAH−64型ヘリコプターなら4時間、AH−1型 ヘリコプターなら13時間必要である。しかし飛行中の機体の撓み、ねじれおよ び振動が修正や目盛調整の連続精度を疑わしいものとし、特にヘリコプターが地 上にあるときにシステムが装填された場合にはその傾向がある。そのような地上 砲腔視線検査システムにあっては、望遠鏡、加速度計、傾斜計およびジャイロス コープなど外部支援設備が砲腔視線検査のために必要とされる。外部支援設備は 測定装置により提供される出力の性質に応じて機体に対する物理的調整やコンピ ューターバイアスエントリーなどを行なうのに用いられるのである。 上記のような砲腔視線検査システムにおいては方位軸(azlmuth ax is)、高角軸(elevation axis)および横転軸(rollax is)におけるズレ(misalignment)を測定する必要がある。その ようなズレ測定システムとしては下記のようなアメリカ合衆国特許に開示された ものがある。 特許番号 発明者 3,486,826 Colvin他 3,816,000 Fiedler 4,560,272 Harris 4,847,511 Takada他 4,939,678 Beckwith,Jr 5,090,803 Ames他 Colvin特許は3個の互いに直交する軸についての物体の配列を設定する 光学的整合検知装置を開示しており、そこでは2個の円筒形レンズにより1対の 検知体間に基準光線が焦点されるようになっている。該装置中では光源10から の光線が濃縮レンズ(condensing lens)11によりスクリーン 14の開口部12に投射される。光源10からの光線はレンズ17によりコリメ ートされて切頭ポロ(Porro)プリズム16へと進み、ここで光線の一部は 2個の銀色直交面18、20から内部に反射され、残りの部分は切頭面を通過す る。ポロプリズム16は3直交軸についての配列を測定すべき物体22に取り付 けられている。1対の円筒状レンズ24、27はポロプリズム16の切頭面を通 過する光線を2個の直交線映像として集中させる。円筒状レンズ24により形成 された線映像は通常は1対の光電デテクター30、31間に入射する。円筒状レ ンズ26により形成された線映像は通常は1対のデテクター34、35間に入射 する。これらの光電デテクター30、31、34および35は、物体22の配列 に応じて照射されたときに電気的出力を生じる。したがってもし物体22が第1 の軸について回転すると、円筒状レンズ26により集中された線映像は、回転方 向に応じて、デテクター34また35上に結像する。物体22が光線の伝播方向 と直交する軸について回転すると、円筒状レンズ26により集中された線映像は 、回転方向に応じて、デテクター30または31上に結像する。光学的軸につい ての回転は1対のデテクター42、43により検知される。したがってこの特許 が開示する単光線システムは3個の直交軸についてのズレを同時に検知するのに 適している。またこの特許には、切頭域からプリズム16を貫通して開口部を形 成して、干渉なしに光線をも通過させることを、開示している。 Takada他特許(4,847,511)に開示された単光線システムにあ っては、横転誤差(roll error)、傾斜誤差(pitch erro r)および偏揺誤差(yaw error)を測定するものである。このシステ ムでは物体のX軸およびY軸変位が測定され、物体の傾斜角を検知することによ り、傾斜および偏揺誤差をも測定される。また2個の異なる位置における物体の 変位を検知することにより、横転誤差が測定される。光源の変動に起因する信号 変動は修正される。このシステムは別個の変位検知チャンネルと角度検知チャン ネルとを有している。 Takadaの第1図によれば、このシステムは変位、傾斜、偏揺および横転 を測定するのに以下の要素を用いている。レーザー光源12、ミラー13および 14、光束拡大器15(レンズ15A、ピンホール15B、イリス15Cおよび レンズ15D)、ハーフミラー16、4クアドラント光学センサー17、偏光光 線スプリッター18、四分の一波長板19、変位拡大コーナーキューブプリズム 20(変位拡大モジュール21を構成する要素18、19および20)、位置検 知4クアドラント光学センサー22、第2の偏光光線スプリッター23、第2の 四分の一波長板24、コリメーターレンズ25(角度移転手段26を構成する要 素23、24)および4クアドラント光学センサー27などがそれである。 Fiedler特許(アメリカ合衆国特許第3,816,000号:譲受人M cDonnel Douglas Corporation)に開示された3軸 整合システムはレーザー、光線スプリッターおよび角度検知要素を有しており、 該要素はレーザー光線に反応して電気信号を出力し、これを用いて装置を横転、 傾斜および偏揺に整合させるものである。レーザーにより形成されたコヒーレン ト光の単光線は2個の平行な光線に分割される。これらの平行な光線が検知され 、その結果から横転、傾斜および偏揺情報が得られる。 Beckwith,Jr特許(アメリカ合衆国特許第4,939,678号) には座標測定機の目盛調整方法が開示されており、その単光線システムはレーザ ー、レトロ反射器、光線スプリットおよびフォトダイオードを具えている。この システムは目盛調整のためにX、YおよびZ軸誤差を測定することができる。 Ames他特許(アメリカ合衆国特許第5,090,803号:譲受人Loc kheed Missiles & Space Company,Inc.)に 開示された光学座標移転アッセンブリーは空間的に分離された物体間の角度修正 を行うものである。第2の方向装置12の第1の方向装置11に対する横転、傾 斜および偏揺は測定されるもので、第1の方向装置11に取り付けられた光学整 合センサー20と第2の方向装置12に取り付けられたルーフミラー/レンズア ッセンブリー21とが用いられている。光学整合センサー20からの複数の光線 はルーフミラー/レンズアッセンブリー21上の反射器35、36により光学デ テクターのリニアアレイ69、70および78に反射され、これらが3自由度の 角度ズレを示す電子的信号を発生する。 Harris特許(アメリカ合衆国特許第4,560,272号)に開示され た光学センサーにおいては、単一の観測地点で作業員が3個の直交軸についての 遠隔物体の角運動をモニターできる。物体にはコーナーキューブプリズムのよう なコンパクトな受動ターゲットが付設されている。このターゲットは横転、傾斜 および偏揺測定を表す光線を反射する。反射された光線は光学的に検知され、横 転、傾斜および偏揺軸についての成分に変形されて、単一アイピースにより可視 表示される。さらにこの特許は独特な90度ではないアナライザーをクレイムし ており、トランスミッターとレシーバーとが一緒に収められているので、受動タ ーゲットとダブルパス長を有している。 従来の砲腔視線検査システムは複雑でありかつ使用が困難であった。 この発明は、改良された光学トランシーバー装置を提供し、単一光学光線を用 いて、高角軸、方位軸および横転軸におけるズレを測定すること、を目的とする 。 またこの発明は、光学トランシーバー装置を提供し、単一光路を用いて高角、 方位および横転の航空機上の砲システムを砲腔視線検査するのに適した測定を行 うこと、を目的とする。 さらにこの発明は、単一の移転された光線を用いた光学トランシーバー装置を 提供し、これにより単一のコリメートされた光線を偏光することにより横転基準 を与えること、を目的とするものである。 発明の要約 この発明は2個の物体間の高角、方位および横転における角度ズレを測定する ための光学トランシーバー装置を提供するもので、高角、方位および横転の測定 に単一光路を用い、単一コリメート光線を偏光することにより横転基準を与える ものである。 この発明によれば、該光学トランシーバー装置は航空機のデータラインに関し て正確に胴体上に固定された第1の物体に取り付けられた光トランスミッターと 航空機の翼やパイロンなどの第2の物体に取り付けられた受光器とを有している 。 該受光器は第1と第2のアナライザーを有しており、該アナライザーは互いに異 なる第1と第2の偏光面を有している。 伝達された偏光の面が第2図中の偏光面17、18について回転するならば( 胴体に対して翼やパイロンが回転すると起きる)、一方のアナライザーを通して 伝達された光の量は増加するし、他方のアナライザーを通して伝達された光の量 は減少する。伝達された偏光の偏光面が反対方向に回転するならば、逆が起きる だろう。光学トランシーバーはこれの差異を測定して横転軸における2個の物体 間のズレを表す信号を出力する回路を有している。 また装置の単ートランスミッターはレーザーダイオードまたは他の電源を具え ていて、これにより線形偏光のコリメートされた光線を形成する。また装置の受 光器は共通の対物レンズを用いた高角/方位(EL/AZ)チャンネルと横転チ ャンネルとを具えていて、光線スプリッターが2個のチャンネルの間でレーザー ダイオードにより発生された光線を分割する。光線スプリッターは多孔性ミラー またはその他の適宜な光学要素により構成されている。EL/AZチャンネルに おいてはレンズを用いて光を位置検知デテクター(PSD)上に集中させる。横 転チャンネルにおいては、偏光トンプソン光線分割プリズムまたは他の適宜な光 学要素が横転チャンネルを異なるように偏光された2個の光線に分割する。これ らはその後光デテクター上に集中される。 以下図示の実施例によりこの発明を説明するが、当業者推考可能の範囲で種々 の変形が可能である。 図面の説明 第1図はこの発明の横転専用光学トランシーバー装置を示す説明図であり、 第2図は第1図の装置の用いられる第1および第2の偏光成分を示す説明図で あり、 第3図は非偏光キューブ型光線スプリッターと2個の別個のアナライザーとを 用いたこの発明の第2の実施例を示す説明図であり、 第4図はこの発明の実施例の光線要素の詳細を示す説明図であり、 第5図は第3図の実施例で用いるキューブ型光線スプリッターの光の回転に及 ぼす効果を示す説明図であり、 第6図は方位および高角の検知に用いられるコリメーター対の説明図であり、 第7図は方位および高角の検知に用いられるコリメーター対であって一方のコ リメーターが90度屈曲しているものの説明図であり、 第8図は第7図に示すコリメーター対であって互いに平行でしかも横方向にず れているものの説明図であり、 第9図は複軸位置検知デテクターの出力を測定する回路の回路図であり、 第10図は横転デテクター出力信号を発生する回路の回路図であり、 第11図は高角/方位(EL/AZ)デテクターの出力を発生する回路の回路 図であり、 第12図は横転、高角および方位チャンネルの出力を処理する回路の回路図で あり、 第13図は横転、高角および方位チャンネルのための制御/表示ユニットを示 す説明図であり、 第14図は第4図の実施例で用いるトランスミッターを示す説明図である。 図示の実施例の説明 図1に示すのは2個の物体の間の角度横転ズレを検知するこの発明の光学トラ ンシーバー装置である。このトランシーバー装置は偏光の光線11を発生するト ランスミッター10を具えている。さらにこの装置には第1と第2のアナライザ ー13、14を具えた受光器12が設けられていて、さらにアナライザーの後方 には光度デテクター15、16が設けられている。これらのデテクターとしては 公知の光起電型のものを用いてもよい。 航空機の砲腔視線検査に応用した場合、トランスミッターは胴体に取り付けら れるが、受光器は翼またはパイロンに取り付けられる。これ以上の応用態様は例 えばアメリカ合衆国特許第5,118,185号(1992年6月2日特許:発 明者Courten:譲受人DRS/Photronics Corporat ion:住所Hauppauge,New York)を参照されたい。この発 明は航空機の砲腔視線検査に限定されるものではなく、地上アッセンブリーによ る物体間のズレの測定、武装車両などにも応用され得るものである。 第2図に示すように、アナライザー13、14は偏光面17、18をそれぞれ 有している。これらの面17、18は互いに90度ずれている。したがって面1 7、18の中間の偏光面で偏光された光が受光器に入射すると、各アナライザー は実質的に等量の光を伝達する。 アナライザーを通過する光の量は可能最大伝達量と可能最小伝達量との間であ る。ここで可能最大伝達量とは受光された光の偏光面がアナライザーの偏光面と 合致したときのものであり、可能最小伝達量とは受光された光の偏光面がアナラ イザーの偏光面と90度ずれているときのものである。 もし伝達された偏光の面が偏光面17、18について回転すると(翼またはパ イロンが胴体について回転すると起こる)、一方のアナライザーを通過して伝達 される光の量は増加するが、他方のアナライザーを通過して伝達される光の量は 減少する。伝達された偏光の偏光面が反対の方向に回転されると、逆の現象が起 こるだろう。光学トランシーバー装置は後述する回路を具えていて、それらの差 異を測定して、横転軸中での2個の物体の間の角度ズレを示す信号を発生する。 第3図に示す他の実施例にあっては、第1と第2の物体の間の角度ズレを検知 するものである。第3図の装置はコリメートされた光線を発生する要素34を有 しており、該光線はついで偏光子33を通過伝達される。この偏光子33は全ん どひとつの偏光面のみを濾過する。伝達された光束はついでデコリメートレンズ 32を通過し、このレンズが光束を小さな光点に集中させる。収斂された光は非 偏光光線スプリッターキューブ31の通過伝達される。光線の第1の部分はその 偏光状態に一切変化なしに光線分割キューブを真直に通過する。光線の第2の部 分はその偏光状態に一切変化なしに90度転換される(図中上方に)。 光線スプリッターチューブを通過する光束は第5図に示すように挙動する。光 線スプリッターに入射した光束が時計方向の円形成分を有していると、光線スプ リッターを真直に通過した束も時計方向の円形成分を有している。しかし90度 転換された束は反時計方向の円形成分を有する。ここでもシステムはアナライザ ー13、14および光度デテクター15、16を有している。アナライザー13 、14の形状を適宜なものとすることにより、このシステムは第1図および第2 図に示したシステムと同じに作用する。特に偏光の光源が一の方向(翼またはパ イロンが与えられた方向にねじられると起きる)に回転されると、アナライザー 13は光の伝達量が増加し、アナライザー14は光の伝達量が減少する。逆に偏 光の光源が反対方向に回転されると、アナライザー14は光の伝達量が増加し、 アナライザー13は光の伝達量が減少する。 この発明において用いられる光学部品の詳細を第4図に示す。高角、方位およ び横転(EL/AZ)軸の光学測定チャンネルは全て単一光学軸を用いている。 図示のシステムはレーザーダイオード40、偏光子41、光線拡大子42、複式 コリメーター43およびブリュースタープレート偏光子44を有している。 他の光源に比べてレーザーダイオードはいくつかの有利な点を持っている。第 1に電気的エネルギーを光エネルギーに変換する際の効率がよい。加えてレーザ ーダイオードにより放射された光の全んどは1個の偏光面に投射するが、他の光 源はランダムに偏光された光を形成する。他の光源のこの欠点はシステムの効率 を最大50%まで低減させる。レーザーダイオードにより放射された光線は非常 に高く偏光されているが、ダイオード構造中での内部反射によりいくぶんかは不 純成分が存在する。したがって偏光子41はレーザーダイオードの後に配置され て、そのような不純成分を濾過するのである。 光線拡大子42はシステムのトランスミッターを構成するもので、大きな開口 部と短い物理的長さを有している。これにより、2個のユニット間での広い範囲 の移動に亘って、受光器とトランスミッター間に均一な光学的対を形成する。第 2の偏光要素、ブリュースタープレート44、はブリュースターにおいて傾斜し ており、光学要素自身により原因される偏光中での不純成分を取り除くものであ る。 第3図に示した受光器は非偏光キューブ型光線スプリッターと2個の偏光要素 の組合せを利用しているが、第4図の受光器12は単一部品としてトンプソン型 偏光光線スプリッター13’を利用している。このトンプソン型偏光光線スプリ ッター13’はその構造原理がよい特徴を有しているので、狭角45度により分 離された光の2個の直交偏光線を形成する。この型式の光線スプリッターのため の偏光は波長に関係なく純度も高いものであり、秀れた消衰比を与えるものであ る。第4図においてトンプソン型偏光光線スプリッター13’の前方に配置され たリコリメートレンズ47により光線スプリッターを通過する光は平行な光束と なる。これにより光線スプリッターの内部構造に原因する偏光の局部混乱を最小 または皆無なものとできる。 前述したように、第4図に示したシステムは高角および方位(EL/AZ)測 定チャンネルとともに横転検知チャンネルをも与えるものである。光線スプリッ ター45はデコリメートレンズ48から受けた光線の一部をEL/AZデテクタ ー46に指向させる。光線スプリッター45を通過する際の光の偏光の純度を保 つべく、多孔性ミラー型の光線スプリッターが用いられる。これは貫通開口部を 具えた平らな金属ミラーから構成されるものである。収斂する光束49の中央部 は多孔性ミラーの中央部の孔を通ってトンプソン光線スプリッター13’に至る 。光束の周辺部はミラーと交わって90度屈曲されて、EL/AZデテクター4 6に至る。図示の多孔性ミラー型光線スプリッターは反射されたエネルギーの映 像分解(空間分解)を低下させるが、方位および高角精度は影響されない。なぜ なら光線スプリッター45により反射された周辺光の束のセントロイド(cen troid)をデテクターが検知するからである。多孔性ミラー型光線スプリッ ターを真直ぐに通過する光は非常に高い偏光純度を保っている。これにより横転 軸測定チャンネルの効果的な作用が得られるのである。 方位および高角検知システム:第4図のEL/AZデテクター46の部品は第 6図に関連して後述する原理の基づいて作用するものである。ミラー51は光線 スプリッター45により反射された光をフィールドレンズ52に再指向させ、後 者は該光を一検知デテクター53上に集中させる。EL/AZデテクターチャン ネルと横転軸デテクターチャンネルとを第4図に示すように組み合せたことによ り、この発明の光学トランシーバーは単一光路を用いて高角、方位および横転軸 中の角度ズレを測定することができるのである。 第6図においてコリメーター70、71はそれぞれ対物レンズ73、74を具 えている。コリメーター70はそのフィールドの中央に点光源を有している。コ リメーター71は視野の中央にクロスヘアーを具えた視野75を有している。第 6図に示すようにコリメーター70は点光源の映像を無限に投影する。コリメー ター71は光束をデコリメートして、光点として実像に再集中させる。両コリメ ーターの光軸が互いに平行ならば、この光点はフィールドの中央に投射する。し かし第6図に示すように一方のコリメーターの光軸が他のコリメーターに対して 傾斜したり回転したりすると、光点は視野75に示すように中央から外れる。加 えて第8図に示すように、両方のコリメーターの光軸が実質的に平行でしかも横 方向にずれている場合には、コリメーター71中の映像は視野75中のクロスヘ アーの交差点にある。これはなぜかと言えば、コリメートされた光では光は無限 に集中され、各光は互いに平行となるからである。束がデコリメートレンズによ り遮られると、全ての光は共通の点に屈曲される。両方のコリメーターの光軸が 互いに平行だと、それぞれの光も互いに平行となり、各光は光軸において焦点面 に収斂する。しかし光束のエネルギーの一部は失われる。 第8図の構成の変形を第7図に示す。この第7図の実施例では受光器の光路が 90度の屈曲を有している。全んどの場合、この屈曲により特殊目的に合致すべ くシステムを小型化する。図示の場合単一光路中の高角、方位および横転を含む ように構成されている。したがって第7図の実施例にあっては、第1の面ミラー 61が光束を90度屈曲する。紙面中で光軸に垂直なズレがあると、映像は内外 に移動する。コリメーター対の機能は変わらないが、方向の観念は第6図のもの と同じではない。この差異は従来の手法により簡単に修正される。 角度または角度の偏奇を可視的に測定するには従来からコリメート技術に基づ いた装置が多年使われてきた。それらの技術は一般に効果的ではあるが、人間の 介在を必要とするものである。光起電力位置検知デテクター(PSD)の出現は 、人間の介在の必要性を制限することにより、角度的関係を測定する能力を改良 した。 この発明の一実施例においては、複軸位置検知デテクターがクロスヘアーの面 に直接配置され、光点はデテクターの能動面上に集中される。位置検知デテクタ ーは2通りの基本的な仕様で得られる。単軸デテクターは単一線内においてのみ 作用し、左右または上下を測定できる。測定された転移はデテクターの検知線に 平行でかつ検知線上になければならない。これに対して複軸デテクターは互いに 直角に配列された2個の検知線を有している。この型式のデテクターは2個の軸 が互いに独立な構造で得られるので、高角および方位は個々の値で検知できる。 位置検知デテクターの一般的作用態様にあっては、小さな光源をデテクターの 能動面に指向させる。この光はレーザー光線またはランプフィラメントやLED などのような投射源の形で与えられる。デテクターまたは光源は可動である。 一例として第9図に示す複軸デテクター103はつぎのように挙動する。光点 が高角アローを持ち上げると端子E1、E2間に接続されたメーター101は右 に振れ、光点が高角アローを引き下げると左に振れる。これに対応してメーター 102は光点が右に動くと右に振れ、光点が左に動くと左に振れる。光点がデテ クターの表面について動くと、メーター101、102の読みの独特な組合せ、 サインと大きさ、が四分円と光点が位置している中心からの距離を決める。光点 がデテクター103の中心にあると、両方のメーターは中心となる。以上が位置 検知デテクターの機能を示すものであるが、実用においては多くの場合電子的な 微分増幅を用いてシステムの感度と精度とを上げる必要がある。 複軸デテクターは3種類のものが市場で入手できる。第1の種類のものは交点 型のデテクターであって、単一の基材上に配列された複数の光起電力デテクター を用いている。交点デテクターの利点は、比較的低コストでシステムをゼロにす る場合の感度が高いことである。交点デテクターの欠点は照射された光点が完全 に1個のセグメントに指向されると、デテクターは光点がその特殊なセグメント 内にあることを示すだけだから、位置の真の検知ができなくなることである。加 えて複雑な電子装置の助けなしだと、光点デテクターのベクトル精度が非常に制 約されるのである。 ごく最近開発された横効果ダイオードデテクターと呼ばれるデテクターは、単 軸および複軸のいずれの構造でも入手できる。境界線はなく検知効果は、照射光 点がデテクター面を外れない限りでは、進んだものである。もし真のベクトル情 報が要求されるのであれば、このデテクター型式はコスト相応の効果を発揮する ものであり、合理的な線形性を与え、複軸検知のために必要とされる電子装置は 単純なものでよい。横効果ダイオードデテクターの欠点は、その線形性が完全で はなく、照射光点が軸を外れて動くとより線形性が低下するという点である。加 えてこの型式のデテクターの機械的中心は必ずしもその光学的中心とはならない のである。 最も最近に開発された位置検知デテクターとしては超線型装置があり、これは 最新のイオン移植技術により製造されるものである。これのセンサーとしては複 軸構造のものが入手できる。超線型装置の長所は分解度が非常に高いこと、およ び全活性面に亘って線形度が非常に高度なことである。しかしこれらのデテクタ ーは高価であり、複雑な電気バイアスシステムを必要とする。 受光器電子装置:第10〜12図は第4図の実施例に用いられる電子部品の詳 細を示すものである。特に第4図の光学トランシーバーにおいては各測定軸は2 個のトランスインピーダンス増幅器(一方は減算増幅器他方は加算増幅器)と適 当なデテクターとバイアスネットワーク部品とを用いている。 横転チャンネル用のデテクターは2個の光起電力ユニットであって、最適の精 度を与えるべくこれらはうまく整合しているのが望ましい。高角および方位デテ クターは別個の出力を持った単一のユニットである。 第10図に示すのは横転チャンネル用のバイアスネットワークである。光起電 力センサー114、115からの出力は地点111および112に与えられる。 バイアスは113に与えられる。 第11図に示すのはEL/AZ用のバイアスネットワークであり、別個の出力 を有した単一のユニットである。121および122は高角出力を示している。 123および124は方位出力を示している。125は共通を示している。 3個のチャンネル用の光学ヘッドの信号処理電子回路は実質的に同一である。 一例を第12図に示す。2個のトランスインピーダンス増幅器131、132は デテクターの電流出力を電圧に変換する。両増幅器の出力は2個の算術的要素、 減算増幅器133と加算増幅器134とに供給される。減算増幅器は増幅器13 1の信号からトランスインピーダンス増幅器132の信号を減算する。もし13 2からの信号が131からのそれより大きい場合には、133の出力は負となる 。逆に132からの信号が131からの信号より小さい場合には、出力は正とな る。もし131、132からの信号が等しい場合には、出力はゼロとなりサイン はない。かくしてこの回路は2個の算術的機能を発揮し、ベクトルの方向を与え る。特に正の出力だと、高角が「上がり」であることを意味し、負の出力だと高 角が「下がり」であることを意味する。「出力なし」信号は高角が中心であるこ とを示している。 加算増幅器は131、132からの信号を加算する。131、132はともに 正の値であるから、結果も正となる。 機能は同じであるが、横転チャンネルは特に注意する必要がある。横転チャン ネル用のトランスインピーダンス増幅器は整合が極端によくなければならない。 またノイズも最小でなければならなく、したがって増幅器は可能な限りデテクタ ーに近く配置するとよい。 制御表示ユニット(CDU)の電子的構成:第13図に示すのは3個の測定チ ャンネルのいずれかのための制御/表示ユニット回路の一例である。第4図に示 す実施例にあっては、3個のチャンネルのための信号処理電子回路は実質的に同 じであり、2個のDCレストラースイッチから構成されており、一方はアナログ デバイダー回路であり、他方はサンプルホルド回路、もうひとつは読出しスキャ ン回路であり、これらは全て従来の部品を用いて公知の方法で製造されている。 加えて3個のチャンネルの全てに共通のクロック回路と電力供給源とが与えられ ている。 第13図に示すように制御/表示ユニット電子回路への信号入力は抵抗ネット ワークおよびDCブロックコンデンサー141を介して行われる。加算および差 異入力はフォーマットにおいて実質的に同じであり、従来のアナログデバイダー 161の異なる機能に接続されている。DCレストラースイッチ142はレーザ ーダイオードが活性の時のみ開かれる。ダイオードが放射してないときにはこれ らは閉じられる。これによりダーク信号ノイズはゼロボルトのDCレベルまで短 くされる。 減算信号はアナログデバイダーのニューメレーターに供給され、加算信号はア ナログデバイダーのデノミネーターに供給される。この回路の目的はレーザーダ イオードの光出力の変動を補償することにある。この回路の機能は以下のように 要約される:電圧131マイナス電圧132、電圧131と電圧132の合計に より割る。 全回路の出力はトランスインピーダンス増幅器の出力に所定の比率で比例する もので、例えば電圧131は1ボルトであり電圧132は2ボルトである。した がってもしレーザー照射が倍になると、出力電圧も同様になり、電圧131は2 ボルトに電圧132は4ボルトになる。デテクターからの出力はレーザー入力に ならう。したがって等式の出力は駆動照射を補償する。しかしアナライザーの線 形性誤差や光学的問題に起因するトラッキング誤差は補償しない。 選ばれたアナログ装置は正負の出力を与え得るものでなければならない。加え て該回路はゼロで割るような状況にならないことである。もしそのような状況と なると、増幅器の出力は自動的に無限になってしまうのである。 再び第13図に戻って、アナログデバイダーの出力はサンプル−ホルド回路に 供給される。後述のようにサンプル−ホルドは、クロックパルスがHIGHのと きのみ、トリガーされて信号を受ける。この機能はDCレストア−スイッチのそ れと互いに相容れないものである。加えてサンプル−ホルドの入力端とdcレス トアーのそれとの間にはパルスインバーター162が介装されている。 出力装置と残余の電子装置との間にはバッファーが設けられている。これらの バッファーはインピーダンスを整合させ出力装置を他から分離させる働きをする 。各出力装置は各個のおよび相互の目盛調整のために個有の目盛調整制御を必要 とする。図示の出力装置はセンタードゼロアナログメーター163である。その 他にもデジタルディスプレーをアナログ−デジタル変換器(ADC)に用いてコ ンピューターと直接インターフェースしてもよい。クロック143は、レーザー やDCレストアースイッチやサンプル−ホルドを制御して、システムを同調させ る。以下に示す表はシステムの同調状態を示すものである。 したがってクロックがHIGHのときには、レーザーは放射している。信号は 減算増幅器、加算増幅器、アナログデバイダーを通過してサンプル−ホルドに入 る。クロックがLOWのときにはレーザーはOFFとなる。したがって信号はア ナログデバイダーからブロックされる。次のサイクルが起きるまでサンプル−ホ ルドはディスプレーユニットのDCレベルを保持する。 この構成によりシステムは光学システムに入り込んでくるDC放射やデテクタ ーの飽和に対して免疫となり、パルス放射がクロックに同調しない限りはパルス 放射に敏感でなくなる。したがって光学パルスによりメーターは「ジャンプ」す るが継続した影響はない。制御/表示ユニットもパワー変換と調整装置を有して いる。 トランスミッターアッセンブリー:第14図に示すトランスミッターアッセン ブリーはレーザー158と変調器154とを有している。トランスミッターは変 調器入力端151において電力を受け変調器入力端152において一連のクロッ クパルス(153)を受ける。変調器154はドライバー157とエラー増幅器 156とを介してレーザー158に電力を供給する。該増幅器は入力端160に 基準信号を受ける。フィードバックループコンペンセーター159はレーザーを 定常な出力に保ち、熱過重から保護する。 この発明は以上記載したような目的を達成するものである。特にこの発明は砲 腔視線検査装置に用いる光学トランシーバー装置を提供するもので、飛行中の航 空機または地上の静止装置に用いて航空機のダイナミックな歪みに因るズレを修 正するものである。 この発明は以上記載した実施例に限定されるものではなく、当業者推考可能な 範囲で種々の変更が可能である。すなわち以上の記載は発明の説明に係るもので はあるが、発明を限定するものではないと理解されるべきである。 特許されるべきは:
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1996年4月30日 【補正内容】 補正部分 図面の説明 第1図はこの発明の光学トランシーバー装置で横転のみの実施例を示す説明図 であり、 /第2図は第1図の装置に用いられる第1、第2の偏光成分を示す説明図であり 、 第3図は非偏光キューブ型光線スプリッターと2個の別個のアナライザーとを 用いたこの発明の第2の実施例を示す説明図であり、 第4はこの発明の光学的要素の詳細を示す説明図であり、 第5図は第3図に示す実施例における光束の回転に対するキューブ型光線スプ リッターの影響を示す説明図であり、 第6図は方位および高角の検知に用いられるコリメーター対を示す説明図であ り、 第6A図は第6図の視野のクロスヘアーを示した右端面図であり、 第7図は方位および高角検知のためのコリメーター対で一方が90度屈曲して いるものの説明図であり、 第7A図は第7図の視野のクロスヘアーを示した平面図であり、 '第8図は第7図に示すコリメーター対の光束の、コリメーターが実質的に平行 でかつ横にずれている場合の、トレースを示す説明図であり、 第8A図は第8図の視野のクロスヘアーを示した右端面図であり、 第9図は複軸位置検知デテクターの出力を測定する回路の回路図であり、 第10図は横転デテクター出力信号を発生する回路の回路図であり、 第11図は高角/方位(EL/AZ)デテクターの出力を発生する回路の回路 図であり、 第12図は横転、高角および方位チャンネルの出力を処理する回路の回路図で あり、 第13図は横転、高角および方位チャンネルのための制御/表示ユニット回路 の回路図であり、 第14図は第4図の実施例で用いる光学トランスミッターの説明図である。 さて第6図において、コリメーター70、71はそれぞれ対物レンズ73、7 4を具えている。コリメーター70はその視野の中心に光の点源を有している。 コリメーター71はその視野の中心にクロスヘアーを具えた視野75を有してい る。第6図に示すように、コリメーター70は点源76の可視映像を無限に投射 する。コリメーター71は光束をデコリメートして実像に光点77として再集中 させる。もし両コリメーターの光軸が互いに平行ならば、光点はフィールドの中 心に投射する。しかし第6図に示すようにもし一方のコリメーターの光軸が他方 に対して傾斜または回転している場合には、第6A図の視野75に示すように光 点72は中心を外れる。 加えて第8図に示すように、もし両コリメーター70、71の光軸が互いに平 行でかつ横方向にずれている場合には、コリメーター71の映像は第8A図の視 野75のクロスヘアーの交差点にある。これはなぜかというと、コリメートされ た光では、光束は無限に投射され、光束は互いに平行となるからである。光束が デコリメートレンズにより遮られると、全ての光束は共通点に屈曲される。もし 両コリメーターの光軸が互いに平行だと、各光束も互いに平行となり、各光束は 光軸において焦点面に収斂する。しかし光束のエネルギーの一部は失われる。 第8図に小す構造の変形例を第7図に小す。図小の実施例では、受光器の光路 は90度屈曲している。多くの場合この屈曲はシステムをもっと小型なものにす るためかその形状を特殊な目的に適合させるためである。ここでは高角、方位お よび横転を単一の光路に含ませるためである。したがって第7図の実施例におい ては、第1の面ミラー61は光束を90度屈曲させる。紙面および光軸に垂直に おいてズレがある場合には、映像は内外に動く。コリメーター対の機能は不変で あるが、方向の観念は第6図のインラインシステムと同じではない。この差異は 従来の光学的技術により簡単に修正される。第7A図は第7図の視野域クロスヘ アーを示すものである。 コリメーション技術に基づいた装置は角度または角度ズレを可視測定するのに 長年用いられてきた。そのような技術は一般に有効であるが、人間が介在するこ とになる。光起電力位置検知デテクター(PSD)の出現は、人間の関与を制約 することにより、角度関係の測定を改良した。 ある実施例においては、複軸位置検知デテクターはクロスヘアーの面中に直接 配置され、光点はデテクターの能動面に直接集中される。位置検知デテクターは 2通りの仕様で得られる。単軸デテクターは単一線中のみで作用し、左右または 上下を測定できる。測定された結果はデテクターの検知軸に平行でなければなら ない。これに対して複軸デテクターは互いに直角に配置された2個の検知軸を有 している。この型式のデテクターの構造にあっては、2個の軸が互いに独立であ り、高角および方位は個別の値として検知される。 位置検知デテクターの一般的な作用内容は小さな光点をでの能動面に指向させ ることにある。この光はレーザー光線やランプフィラメントのような投影源であ る。DESCRIPTION OF DRAWINGS For a fuller understanding of the invention,reference should be ma de to the follwing detailed description and the accompanying drawings,in which: FIG.1 is a schematic diagram for roll only illustrating an embodim ent of optical transceiver apparatus in accordance with the present inve ntion; FIG.2 is a schematic diagram for roll only illustrating first and second polarization components utilized in the apparatus of FIG.1; FIG.3 is a schematic representation of a second embodiment of the present invention which utilizes a non-polarizing cube-type beam splitte r and two separate analyzers; FIG.4 illustrates optical element details of an embodiment of the present invention; FIG.5 illustrates the effect of a cube-type beam splitter on the r otation of a light bundle as utilized in the embodiment shown in FIG.3; FIG.6 is an illustration of a collimator pair utilized for the det ection of azimuth and elevation; FIG.6A is a right side view of the visual field of FIG.6,depicting the crosshairs. FIG.7 is an illustration of a collimator pair for azimuth and elev ation detecting wherein one collimator includes a 90 degree bend; FIG.7A is a top view of the visual field of FIG.7,depicting the cr osshairs. FIG.8 is a ray trace diagram of the collimator pair shown in FIG.7 when the collimators are substantially parallel but laterally misaligne d; FIG.8A is a right side view of the visual field of FIG.8,depicting the crosshairs. FIG.9 is a schematic diagram of a circuit for measuring the output of a dual axls position-sensitive detector; FIG.10 is a schematic diagram of a circuit for generating roll det ector output signals; FIG.11 is a schematic diagram of a circuit for generating the outp ut of the elevation/azimuth(EL/AZ)detector; FIG.12 depicts a circuit for processing the output of the roll,ele vation and azimuth channels; FIG.13 depicts control/display unit circuitry for the roll,elevati on and azimuth channels;and FIG.14 is a schematic diagram of an optical transmitter utilized i n the embodiment shown in FIG.4. Referring now to FIG.6,collimators 70,71 are each provided with an objective lens 73,74,respectively.Collimator 70 has a point source of light at the center of its field.Collimator 71 is provided with a viewi ng area 75 with crosshairs at the center of its field of view.As shown in FIG.6,collimator 70 projects a virtual image of a point source 76 to infinity.Collimator 71 decollimates the ray bundle and refocuses it int o a real image as a point of light 77.If the optical axis of both colli mators are parallel to each other,the point of light will fall in the ce nter of the field.However,if the optical axis of one collimator is tilt ed or rotated with respect to the other as shown in FIG.6,the point 72 o f light moves off center as shown in viewing area 75 of FIG.6A. Additionally,as shown in FIG.8,if the optical axis of both collima tors 70,71 remain substantially parallel to each other but are laterally displaced from each other,the image in collimator 71 remains at the int ersection of the crosshairs in visual field 75 of FIG.8A.This is becaus e with collimated light,the rays are focused at infinity,and thus each r ay is parallel to each other ray.When the bundle is intercepted by a de collimating lens,all rays are bent back to a common point.If the optica l axis of both collimators are parallel to each other,the rays of each a re also parallel to each other and the individual rays converge at the f ocal plane at the optical axis.However,some of the energy of the light bundle is lost,as shown. A variation of the FIG 8 configuration is depicted in FIG.7.In th e embodiment shown in FIG.7 the optical path of the receiver includes a 90°bend.In most cases this bend is employed to render the system more compact or to adapt its shape for a particular purpose.In the present c ase it is implemented to facilitate the inclusion of elevation,azimuth a nd roll in a single optical path.Thus, in the embodiment depicted in FIG.7 the first surface mirror 61 bends th e ray bundle 90°.Upon any misalignment in the plane of the paper and p erpendicular to the optical axis,the image will move in and out.While t he function of the collimator pair is not changed,the sense of direction will not be the same as that for the in-line system of FIG.6.This diff erence is readily corrected as a matter of conventional optical practice .FIG 7A shows the visual field crosshairs of FIG7. Instruments based on collimation techniques have been used to visu ally measure angles or angular deflection for many years.Such technique s are generally effective but are subject to human interpretation.The a dvent of the photovoltaic position sensing detector(PSD)has improved the ability to measure angular relationships by limiting the requirement of human interpretation. In one embodiment of the present invention,a dual axis position se nsing detector is placed directly in the plane of the cross-hairs and th e point of light is focused directly on the active surface of the detect or.Position sensing detectors are available in two basic formats.Singl e axis detectors work in a single line only,and can measure either left- right or up-down.The measured translation must be parallel to and on th e sensitive axis of the detector.Dual axis detectors,in contrast,have t wo axis of sensitivity,oriented at right angles to each other.Since thi s type of detector can be obtained in configurations where the two axis are totally independcnt of each other,elevation and azimuth can be sense d as individual values. The general mode of operation for position sensing detectors invol ves directing a small light source onto the active surface of the detect or.This light can be in the form of a laser beam or a projected source such as a lamp filament or 【図8】 【図9】 【図10】 【図11】 【図12】 【図13】 【図14】 【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1996年10月21日 【補正内容】 特許請求の範囲(補正) 1.方位、高角および横転を示す偏光されかつコリメートされた光の単一基準光 線を第1の物体から第2の物体へと伝達し、かつ第1の物体に載置される光学ト ランスミッターと、 上記光学トランスミッターからの単一基準光線の一部を受けて、該一部から方 位、高角および横転情報を引き出し、第2の物体に載置される受光器とを有して おり、 上記受光器が、単一基準光線からの光を用いて2個の物体の高角および方位ズ レを決定する高角/方位デテクターと、単一基準光線からの光を用いて2個の物 体間の横転ズレを決定する横転角デテクターと、を有している ことを特徴とする偏光されかつコリメートされた光の単一基準光線を用いて第 1と第2の物体間の方位、高角および横転ズレを検知する光学トランシーバー装 置。 2.前記の横転デテクターが単一基準光線の偏光面を決定するための第1の偏光 アナライザーを有している ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 3.前記単一基準光線から偏光を受ける第1と第2のアナライザーを有しており 、単一基準光線の偏光面が第1の方向に回転されたときに一方のアナライザーを 通過する光の強度が増加し他方のアナライザーを通過する光の強度が減少するよ うにこれらのアナライザーが配列されている ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 4.第1と第2の光度デテクターを有しており、該デテクターが第1と第2のア ナライザーを通過する光の強度を検知する ことを特徴とする請求項3に記載の装置。 5.横転チャンネル光線スプリッターを有しており、該スプリッターが単一基準 光線からの偏光された光を少なくとも2個の別個の偏光された光に分割し、第1 の分割された光が第1のアナライザーに指向され、第2の分割された光が第2の アナライザーに指向される ことを特徴とする請求項3に記載の装置。 6.前記横転チャンネル光線スプリッターと第1及び第2のアナライザーとが一 体の偏光光線スプリッターから構成されている ことを特徴とする請求項5に記載の装置。 7.前記横転チャンネル偏光光線スプリッターが2個の実質的に直交する偏光光 線を与える ことを特徴とする請求項6に記載の装置。 8.受光器光線スプリッターを有しており、これが前記基準光線の受光された部 分を、方位および高角デテクターを指向する成分と横転角度デテクターを指向す る部分とに分割する ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 9.基準光線から偏光された光を受ける第1と第2の偏光アナライザーを有して おり、基準光線の偏光面が第1の方向に回転されたとき、一方のアナライザーを 通過する光の強度が増加し他方のアナライザーを通過する光の強度が減少するよ うに、これらのアナライザーが配列されている ことを特徴とする請求項8に記載の装置。 10.第1と第2の光度デテクターを有しており、これらが前記第1と第2のア ナライザーを通過する光の強度を検知する ことを特徴とする請求項9に記載の装置。 11.横転チャンネル光線スプリッターを有しており、これが前記単一基準光線 からの偏光された光を2個の別個の光線に分割し、第1の分割された光線が第1 のアナライザーを指向し第2の分割された光線が第2のアナライザーを指向する ことを特徴とする請求項9に記載の装置。 12.前記横転チャンネル光線スプリッターと第1および第2のアナライザーが 一体の偏光光線スプリッターから構成されている ことを特徴とする請求項11に記載の装置。 13.前記偏光横転チャンネル光線スプリッターが2個の実質的に直交する偏光 光線を与える ことを特徴とする請求項12に記載の装置。 14.前記偏光光線スプリッターが挟角が45度で実質的に直交する偏光光線を 与える ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 15.前記受光器光線スプリッターが横転角度デテクターを指向した光の光線の 偏光を影響しない ことを特徴とする請求項8に記載の装置。 16.受光器光線スプリッターが多孔性ミラー型の光線スプリッターである ことを特徴とする請求項15に記載の装置。 17.前記受光レンズの寸法に対する前記基準光線の寸法が、受光器とトランス ミッターとの間の横方向移動の範囲に亘って受光器とトランスミッター間の均一 な光学的対を許す、ごときものである ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 18.第1の物体からの偏光されコリメートされた光の単一基準光線の第1の物 体の方位、高角および横転軸を示す一部を第2の物体において受け、 上記単一基準光線の該一部の偏光面を第2の物体において測定して第1と第2 の物体の横転ズレを決定し、 単一基準光線の上記一部の角度を第2の物体において測定して第1と第2の物 体の方位ズレを決定し、 単一基袖光線の上記一部の角度を第2の物体において測定して第1と第2の物 体の高角ズレを決定する ことを特徴とする第1と第2の物体間の方位、高角および横転ズレを検知する ために偏光およびコリメートされた光の単一光線を使用する方法。 19.さらに第2の物体において、単一基準光線の前記一部を少なくとも2個の 成分に分割し、該2個の成分の少なくとも第1の成分は偏光されたままとなし、 上記第1の成分を少なくとも1個の偏光アナライザーに通し、 該通過した光の強度を測定して横転ズレを決定し、 第2の成分をデコリメートしてある一点に集中させ、 第2の物体において、上記点の部分を測定して第1と第2の物体間の方位およ び高角ズレを決定する ことを特徴とする請求項18に記載の方法。 20.さらに少なくとも前記第1の成分を第2のアナライザーに通過させ、 前記第1と第2のアナライザーは、基準光線の偏光面が第2の物体の所定の横 転軸に対して第1の方向に回転されたとき一方のアナライザーを通過する光の強 度が増加し他方のアナライザーを通過する光の強度が減少するように、配列され ており、 第1と第2の物体を、第1と第2のアナライザーを通過する光が所定の値に達 して前記の点が所定の位置に達するように、相互に移動させて整列させる ことを特徴とする請求項19に記載の方法。 1.Optical transceiver apparatus for detecting azimuth,elevation a nd roll misalignment between a first and a second body using a single re ference beam of polarized and collimated light,comprising: an optical transmitter which adapted to transmit from saild first body to said second body a single reference beam of polarized and collim ated light which indicates its azimuth,elevation and roll,said optical t ransmitter adapted for mounting to a first one of said two bodies,and an optical receiver that receives any portion of said single refer ence beam from said optical transmitter,and which derives azimuth,elevat ion and roll information from said any portion,said optical receiver ada pted for mounting to the seccnd one of said two bodies,said optical rece iver including an elevation/azimuth detector that uses light from said sing le reference beam to determine elevation and azimuth misalignment of sai d two bodies,and a roll angle detector that uses light from said single refer ence beam to determine roll misalignment between said two bodies. 2.Apparatus according to claim 1 Wherein said roll detector inclu des a first polarization analyzer for determiniing the plane of polariza tion of said single reference beam. 3.Apparatus according to claim 1 further including first and second polarization analyzers for receiving polarized light from said reference beam wherein said first and second analyzers are oriented so t hat when the plane of polarization of said reference beam is rotated in a first direction,the intensity of light passing through one of said ana lyzers increases and the intensity of light passing through the other sa id analyzers decreases. 4.Apparatus according to claim 3 further comprising first and sec ond light intensity detectors that detect the intensity of light passing through said first and second analyzers respectively 5.Apparatus according to claim 3 further comprising: a roll channel beam splitter that splits polarized light from said single reference beam into at least two separate beams of polarized lig ht with a first of said at least two separate beams of polarized light b eing directed to said first anaiyzer and with a second of said at least two separate beams of polarized light being directed to said seccnd anal yzer. 6.Apparatus according to claim 5 wherein said roll channel beam s plitter and said first and second analyzers are comprised of a unitary p olarizing beam splitter. 7.Apparatus according to claim 6 wherein said roll channel polari zing beam splitter provides two substantially orthogonally polarized bea ms. 8.Apparatus according to claim 1 further comprising a receiver be am splitter that splits said received portion of said reference beam into a component directed toward said azimuth and elevation detectors an d a component directed towards said roll angle detector. 9.Apparatus according to claim 8 further including first and seco nd polarization analyzers for receiving polarized light from said refere nce beam wherein said first and second analyzers are oriented so that wh en the plane of polarization of said reference beam is rotateo in a firs t direction,the intensity of light passing through one of said analyzers increases and the intensity of light passing through the other said ana lyzers decreases. 10.Apparatus according to claim 9 further comprising first and se cond light intensity detectors that detect the intensity of light passin g through said first and second analyzers respectively. 11.Apparatus according to claim 9 further comprising: a roll channel beam splitter that splits polarized light from said single reference beam into at least two separate beams of polarized lig ht with a first of said at least two separate beams of polarized light b eing directed to said first analyzer and with a second of said at least two separate beams of polarized light being directed to said second anal yzer. 12.Apparatus according to claim 11 wherein said roll channel beam splitter and said first and second analyzers are comprised of a unitary polarizing beam splitter. 13.Apparatus according to claim 12 wherein said polarizing roll c hannel beam splitter provides two substantially orthogonally polarized beams. 14.Apparatus according to claim 13 wherein said polarizing beam s plitter provides said substantially orthogonally polarized beams separat ed by an included angle of approximately 45°. 15.Apparatus according to claim 8 wherein said receiver beam spli tter is free from affecting the polarization of the beam of light diecte d towards the roll angle detector. 16.Apparatus according to claim 15 wherein said receiver beam spl itter is a perforated mirror type of beam splitter. 17.Apparatus according to claim 1 wherein the size of said refere nce beam relative to the size of said receiving lens allows a uniform op tical couple between said receiver and transmitter over a range of later al shifts between said receiver and transmitter. 18.A method of using a single beam of pdarized and collimated lig ht for detecting azimuth,elevation and roll misalignment between a first body and a second body comprising: receiving at said second body any portion of a single reference be am of polarized and collimated light transmitted from said first body.sa id any porition of said single beam being indicative of the azimuth,elev ation and roll axes of said first body; measuring at said second body the plane of polarization of said an y portion of said single reference beam to determine roll misalignment o f said first and seccnd bodies; measuring at said second body the angle of said any portion of said single reference beam to determine azimuth misalignment of said first and seccnd bodies;and measuring at said second body the angle of said any portion of sai d single reference beam to determine elevation misalignment of said firs t and second bodies. 19.Amethod acccrding to claim 18 further comprising: splitting at said second body said received portion of said single reference beam into at least two components so that at least the first of said two components remains polarized; passing said first component throughat least one polarizing analyz er and measuring the intensity of light passing through said at least on e polarizing analyzer to determine roll misalignment; decollomating said second component so that it focuses substantial ly to a point; measuring at said second body the position of said point to determ ine azimuth and elevation misalignment between said first and second bod ies. 20.A method according to claim 19 further comprising: passing at least a portion of said first component through a secon d poiarizing analyzer,said first and second analyzer sbeing oriented so that when the plane of polarization of said reference beam is rotated in a first direction with respect to the predetermined roll axis of said s econd body,the intensity of light passing through one of said analyzers increases and the intensity of light passing through the other said analyzers decreases; and aligning said first and second bodies by moving them relative to e ach other so that the light passing through said first and second analyz ers reaches predetermined amounts and said point reaches a predetermined position.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG ,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN, TD,TG),AP(KE,MW,SD,SZ,UG), AM,AT,AU,BB,BG,BR,BY,CA,C H,CN,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB ,GE,HU,IS,JP,KE,KG,KP,KR, KZ,LK,LR,LT,LU,LV,MD,MG,M N,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU ,SD,SE,SG,SI,SK,TJ,TT,UA, UG,US,UZ,VN

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.偏光の光線を基準として伝達し、かつ一方の物体上に取付られた光学トラン スミッターと、 トランスミッターから上記の光線を受けて、かつ他方の物体上に取り付けられ た光学受光器を有してなり、 上記受光器が、光学光線に反応して前記2個の物体のゼロ位置からの高角およ び方位変化に反応する高角/方位デテクターと、光線からの偏光成分に反応して 2個の物体間の角度ねじれに反応する横転角デテクターとを有しており、 該横転角デテクターが偏光の光線を受ける第1と第2の偏光アナライザーを有 しており、 第1と第2のアナライザーが所定の挟角関係の第1と第2の偏光特性面を有し ている ことを特徴とする2個の物体間の角度ズレを検知する光学トランシーバー装置 。 2.前記第1と第2のアナライザーが互いに実質的に垂直な偏光面を有している ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 3.さらに第1と第2の光度デテクターを前記第1と第2のアナライザーの近く に、有してなり、これらによりアナライザーを通過する光の強度を検知すること を特徴とする請求項2に記載の装置。 4.さらに偏光の源を少なくとも2個の偏光の光線に分割する第1の光線スプリ ッターを有してなり、第1の分割された光線が第1のアナライザーを指向し、第 2の分割された光線が第2のアナライザーを指向し、 第1のアナライザーが第1の分割された光線の面に対して第1の角度をなす偏 光面を有しており、 第2のアナライザーが第2の分割された光線の面に対して第2の角度をなす偏 光面を有しており、かつ 第1と第2のアナライザーが、偏光された光の源の偏光面が第1の方向に回転 されたときに一方のアナライザーを通過する光の強度が増加し他方のアナライザ ーを通過する光の強度が減少するように、配列されていることを特徴とする請求 項1に記載の装置。 5.さらに第1と第2の光度デテクターを有しており、これらが第1と第2のア ナライザーを通過した光の強度を検知することを特徴とする請求項4に記載の装 置。 6.前記光線スプリッターと第1および第2のアナライザーが一体の偏光光線ス プリッターからなっていることを特徴とする請求項5に記載の装置。 7.前記光線スプリッターが2個の実質的に直交する偏光光線を与えることを特 徴とする請求項6に記載の装置。 8.前記偏光光線スプリッターが挟角約45度の実質直交分割偏光光線を与える ことを特徴とする請求項7に記載の装置。 9.さらに第2の光線スプリッターを有しており、これが前記光源から受けた光 を方位高角デテクターを指向する光線と第1の光線スプリッターを指向する光線 とに分割することを特徴とする請求項5に記載の装置。 10.前記光源がコリメーとされかつ偏光された光を与え、前記受光器がデコリ メーターを有しており、これが上記コリメートされ偏光された光をデコリメート してかつ前記方位高角デテクターに伝達することを特徴とする請求項9に記載の 装置。 11.前記光線スプリッターが多孔性ミラー型スプリッターであることを特徴と する請求項9に記載の装置。
JP8512112A 1994-09-30 1995-09-29 単光線3軸測定を含む改良砲腔視線検査 Pending JPH10506992A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US31543894A 1994-09-30 1994-09-30
US08/315,438 1994-09-30
PCT/US1995/012668 WO1996010729A1 (en) 1994-09-30 1995-09-29 Improved boresight with single-beam triaxial measurement

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10506992A true JPH10506992A (ja) 1998-07-07

Family

ID=23224430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8512112A Pending JPH10506992A (ja) 1994-09-30 1995-09-29 単光線3軸測定を含む改良砲腔視線検査

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0783663A4 (ja)
JP (1) JPH10506992A (ja)
AU (1) AU3888195A (ja)
WO (1) WO1996010729A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE332487T1 (de) * 1998-02-12 2006-07-15 Eads Astrium Gmbh Verfahren zur messung von rotationswinkeln zwischen zwei bezugssystemen
CN101354243B (zh) * 2008-09-03 2010-06-16 西安理工大学 导轨滚转角的非接触激光检测方法
TWI473963B (zh) * 2011-03-04 2015-02-21 Univ Nat Formosa 一維掃瞄表面形貌量測裝置與方法
CN109579779B (zh) * 2019-01-11 2021-01-08 哈尔滨工业大学 高精度高频响抗干扰大工作距自准直装置与方法
CN110749287B (zh) * 2019-11-27 2021-05-07 复旦大学 一种用于磁悬浮导轨悬浮间隙测量的光学方法及装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2998746A (en) * 1959-10-13 1961-09-05 Gievers John George Angular measurement system
US3981587A (en) * 1962-12-17 1976-09-21 Chrysler Corporation Monitoring relative displacement between two devices
US3816000A (en) * 1972-01-24 1974-06-11 Mc Donnell Douglas Corp Three axes alignment means
US3836258A (en) * 1972-12-15 1974-09-17 Grumman Aerospace Corp Angular orientation measuring apparatus
US3932039A (en) * 1974-08-08 1976-01-13 Westinghouse Electric Corporation Pulsed polarization device for measuring angle of rotation
US4560272A (en) * 1980-12-10 1985-12-24 The Perkin-Elmer Corporation Three-axis angle sensor
US5118185A (en) * 1990-09-19 1992-06-02 Drs/Photronics Corporation Optical transceiver apparatus for dynamic boresight systems

Also Published As

Publication number Publication date
EP0783663A1 (en) 1997-07-16
EP0783663A4 (en) 1999-04-14
WO1996010729A1 (en) 1996-04-11
AU3888195A (en) 1996-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4518855A (en) Method and apparatus for statically aligning shafts and monitoring shaft alignment
US3816000A (en) Three axes alignment means
CN112556579A (zh) 一种六自由度空间坐标位置和姿态测量装置
CN101377414B (zh) 基于光束角漂动态补偿的二维小角度测量装置与方法
CN109579779B (zh) 高精度高频响抗干扰大工作距自准直装置与方法
GB1578136A (en) Helmet-mounted sights
JP2000206243A (ja) 送受光軸の自動調整装置を備えたレ―ザレ―ダ
US3326619A (en) Gyro stabilized sight system utilizing a mirror with front and back reflecting surfaces
US5052800A (en) Boresighting method and apparatus
US4560272A (en) Three-axis angle sensor
CN109579776B (zh) 高精度抗干扰大工作距自准直装置与方法
CN113325390B (zh) 一种固定结构中三光调轴方法及系统
JPH10506992A (ja) 単光線3軸測定を含む改良砲腔視線検査
US3994588A (en) Detection of angular deflection
US6023057A (en) Device for determining the phase errors of electromagnetic waves
US4159419A (en) Three axis stellar sensor
US3729260A (en) Interferometric rotation sensor
US6219146B1 (en) Laser reflector alignment
US4500200A (en) Electro-optic sensor for measuring angular orientation
GB2163868A (en) Device for harmonising the optical axes of an optical sight
CN114234854B (zh) 一种三自由度角度同时测量的方法与装置
CN106017364A (zh) 一种高精度激光大工作距自准直装置与方法
CN113639665B (zh) 基于漂移量反馈的高稳定性纳弧度量级角度测量方法与装置
US5118185A (en) Optical transceiver apparatus for dynamic boresight systems
CN106017441B (zh) 一种便携式高精度激光大工作距自准直装置与方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040113

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050913