JPH10506206A - 医・生物学標本の自動焦点装置 - Google Patents

医・生物学標本の自動焦点装置

Info

Publication number
JPH10506206A
JPH10506206A JP8511734A JP51173495A JPH10506206A JP H10506206 A JPH10506206 A JP H10506206A JP 8511734 A JP8511734 A JP 8511734A JP 51173495 A JP51173495 A JP 51173495A JP H10506206 A JPH10506206 A JP H10506206A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus
image
calculating
measurement
cover glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8511734A
Other languages
English (en)
Inventor
フロスト,キース,エル.
ハイエンガ,ジョン,ダブリュ.
ステファニック,ジェームズ,エー.
シュミット,ロバート,シー.
Original Assignee
ネオパス,インク.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ネオパス,インク. filed Critical ネオパス,インク.
Publication of JPH10506206A publication Critical patent/JPH10506206A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals

Abstract

(57)【要約】 スライド(201)に自動的に焦点を結ぶ方法であり、カバー・グラス(401−411)の位置を定め、スライドのあらかじめ定められた焦点深度から画像を獲得し(412)、かつ、カバー・グラス表面近傍の初回焦点深度からスタートする(202)諸工程を含む。各画像内部において、あらかじめ定められた一組の特徴を測定し(511)、複数の画像の各々について、少なくとも一つの画像測定値を生成する。画像の各々について、焦点測定値を計算する(511)。ただし、その際、各焦点測定値は、少なくとも一つの画像測定値の関数である。最良焦点位置は、獲得画像が最高焦点測定値を与えた焦点深度に関して定められる(512)。

Description

【発明の詳細な説明】 医・生物学標本の自動焦点装置 本発明は、生物標本の自動焦点法に関する。特に、対象の特徴、パターン、特 異型にたいし自動的に焦点を結ぶ自動焦点顕微鏡装置に関する。 発明の背景 従来の自動焦点装置は、焦点を結ぶ対象にたいして自動的にパターン認識を実 行する装置の一部を形成するものであっても、焦点調節を実行中に、特異的な対 象や、特異的型の対象を特定することはできない。この欠陥のあるため、これら の装置では、塵の粒子、掻き傷やその他のアーティファクトにたいして焦点を結 んでしまったり、自動パターン認識を実行中に、目的の対象が焦点に入らなかっ たために、それを見逃してしまうことがある。従来の装置では、高頻度の内容を 持っているという理由で、また、目的の対象と同じ領域に存在するという理由で 、無関係な細部に焦点を結ぶことがある。その結果、従来の装置では、細胞核の ような重要な特質に焦点を結ぶ機会、また、そのような特質を特定する機会を失 うことがある。 このような問題は、単一焦点操作の場合、それによってカバーされる視野は広 く、たくさんの目標対象を含むことになるので、特に重要になる。装置が、興味 対象の各々に独立に焦点を結んでいたら時間がかかりすぎてしまうほどたくさん の対象があることがある。しかも、単一焦点動作では、全視野をカバーしていな がら、実際の目標対象物に焦点を結ばず、単に大きいから、または、大きく、高 頻度の内容を含んでいるからという理由で、無関係の特質に焦点を結ぶことがあ る。 光学系自動焦点装置の正確な焦点機能は、装置が稀な現象、例えば、パップ・ スメア(膣分泌物塗末標本)中の前癌細胞の検出用に設計されている場合は特に 重要である。パップ・スメアの場合、比較的広大な面積を、低倍で高速に走査し なければならない。パップ・スメアの自動走査装置のある実例では、例えば、1 .4mm平方の視野をカバーする4倍の対物レンズを、低倍走査に用いている。そ の走査面積は、スメア上のカバー・グラスの覆う全面積を含んでおり、その面積 は、上記の視野を700以上含むことがある。 低倍走査の目的は、スメアの少数パーセントを占める前癌細胞らしきものを特 定することである。そして、そのような細胞は、高倍で再検査しなければならな い。低倍では、数百の対象物が単一視野の中に現われることがある。したがって 、その各々に焦点を結ばせることは事実上不可能である。しかしながら、もしも 装置が、特定可能な細胞核ではなく、何か無関係な物体に焦点を結ぶようなこと があれば、千の中の一つの前癌細胞は拾い上げられることなく、高倍でも検査さ れず、前癌状態は検出されないままに終わってしまう。 したがって、このような装置においては、目的対象物には、安定的に、特異的 に焦点を結ぶが、標本中の無関係な特徴やアーティファクトには焦点を結ばない ことが必須である。パップ・スメア中に存在するアーティファクトとしては、顕 微鏡スライドにマークするために用いた鉛筆に由来する黒鉛痕、標本収拾に用い た道具に由来する木片の小棘、血液、毛髪、粘液条や、さらに、通常の透過型顕 微鏡検査には不向きな分厚い細胞塊がある。パップ・スメア走査器が良好な成績 を挙げるためには、目標の細胞核には安定して焦点を結ぶが、無関係なアーティ ファクト背景には焦点を結んではならない。 発明の要約 本発明は、生物標本にたいして焦点を結ぶ、形態的画像処理機能を持つ自動焦 点装置を与える。本発明により、コンピュータは、異なる焦点深度から収拾され た一組の画像の中から目標対象を自動的に特定し、その目標対象にたいする最良 の焦点に一致する焦点深度を自動的に選択する。コンピュータが、目的対象物を 特定するには、輝度、対比、大きさ、形、構造、および、類似のような形態的基 準を用いる。特定の型の細胞ないし細胞核を特定し、標本を走査する間に、自動 的にそのものに焦点を結び、その間無関係なアーティファクトは無視する。 一つの特質として、本発明は、完全視野において、目標対象物のみに最良焦点 を結ぶが、一方無関係な物体は無視し、しかも、目標対象物それぞれに独立に焦 点を結ぶ必要のない方法を与える。本法を十分開示するために、以下に好ましい 実施例を、方法の用いられる背景を含めて、かなり詳細に記載する。それによっ て、この分野に熟練した人であれば、本発明をいかに構築したらよいか、いかに 応用したらよいかが分かるようにするためである。 スライド上に自動的に焦点を結ぶ方法の一実例として、カバーグラスの位置を 定め、スライド中の特定の焦点深度から画像を得、さらに、カバー・グラスの表 面に直近の第一焦点深度から開始する工程がある。各々の画像の中に見られる、 一組の特定の特徴を測定し、複数の画像の各々について少なくとも一つの画像測 定を行う。この画像の各々について、焦点計測値を計算する。ただし、ここに、 各焦点計測値は、少なくとも一つの画像計測値の関数である。最良焦点位置は、 獲得画像が最高焦点計測値を与える焦点深度にたいして定められる。 図面の簡単な説明 本発明の好ましい実施例は、パップ・スメアの自動スクリーニング装置の低倍 焦点を導く自動焦点装置である。本発明を説明するために、好ましい実施例を、 付属の図を参照しながら以下に述べる。 第1図は、好ましい実施例の装置のブロック・ダイアグラムである。 第2A図は、カバー・グラスと、分析対象の標本を含むスライドの模式図であ る。 第2B図は、単一低倍視野を示す模式図である。 第3図は、パップ・スメア標本の低倍視野の見本画像である。すなわち、本発 明の実施例装置で捕捉した見本画像を表わす。 第4図は、標本上の最良焦点位置を定める工程を示す、高レベルのフロー・チ ャートである。 第5図は、好ましい実施例の一例において、さまざまの焦点深度から画像が集 められる工程を示すフロー・チャートである。 第6A,6B図は、勾配焦点採点法と呼ばれる方法を用い、パターン認識焦点 法適用の開始点を決める、初回焦点走査工程を示すフロー・チャートである。 第7図は、ある一組の焦点深度について勾配焦点評価点をプロットしたグラフ の例であり、さらに、そのフィルター通過出力、フィルター出力のコンピュータ による微分成分を表わす。これらのグラフは、勾配焦点採点法においてピークを 見つけだす方法を図示するためのものである。 第8図は、パターン認識焦点走査−ここでは細胞焦点走査と呼ぶこととする− が、標本の表面上に描く軌跡を示す。 第9A,9B,9Cおよび9D図は、得られた画像にたいして施す典型的な形 態操作のいくつかを示す。 第10図は、細胞焦点採点法のデータの流れを示すフロー・チャートである。 第11図は、細胞焦点走査の結果を処理する工程を示すフロー・チャートであ る。 第12A,12B,12Cおよび12D図は、細胞焦点走査の結果の中からい くつかの実例を示す。 好ましい実施例に関する詳細な説明 本発明の好ましい実施例は、生物・医学標本において、細胞核を認識し、これ に焦点を結ぶ方法と装置を与える。これを、複数の焦点面から得られた画像を用 い、低倍で動作する自動顕微鏡装置によって行う。 ここに述べる、本発明の好ましい実施例においては、開示される装置は、子宮 頸部のパップ・スメア分析装置に使用されるものである。すなわち、米国特許出 願 No.07/838,064,題名「正常生物・医学標本の特定法」、アラン ・C・ネルソン等(Alan C.Nelson,et al.)、1992年2月18日出願、米 国特許出願 No.08/179,812,1994年1月10日出願、これは、 米国特許出願 No.07/838,395、題名「データ加工法による対象物特 定法」、S・ジェイムス・リー等(S.James Lee,et al.)、1992年2月1 8日出願の一部継続出願である、米国特許出願 No.07/838,070、現 在では米国特許 No.5,315,700、題名「データ配列の高速処理法なら びに装置」、リチャード・S・ジョンソン等(Richard S.Johnson,et al.)、1 992年2月18日出願、米国特許出願 No.07/838,065,1992 年2月18日出願、題名「顕微鏡画像信号の動的相関法ならびに装置」、ジョン ・W・ハイェンガ等(John W.Hayenga,et al.)、および、米国特許出願 No. 07/838,063,1992年2月18日出願の一部継続出願である、米国 特許出願 No.08/302,355,1994年9月7日出願、題名「イン・ フォーカス顕微鏡画像高速捕捉法ならびに装置」、ハイェンガ等(Hayenga,et al.)、に開示されているものと同様のものである。上記の開示は、ここに引用 したことにより、全体として本発明に取り込まれたものとする。 本発明はまた、別様に断らない限り、1994年9月20日出願で、本発明と 同じ出願人に譲渡された下記の特許出願に記載されている生物系、および、細胞 系にも関わる。すなわち、クアン等(Kuan et al.)による米国特許出願 No.0 8/309,118、題名「視野優先順序装置、および、方法」、ウィルヘルム 等(Wilhelm et al.)による米国特許出願 No.08/309,061、題名「 生物標本における細胞集団自動特定装置」、マイヤー等(Meyer et al.)による 米国特許出願 No.08/309,116、題名「生物標本における分厚い細胞 集団の自動特定装置」、リー等(Lee et al.)による米国特許出願 No.08/ 309,115、題名「生物分析装置独立較正装置」、リー等(Lee et al.)に よる米国特許出願 No.08/308,992、題名「多数細胞パターンの特定 ・統合装置」、リー等(Lee et al.)による米国特許出願 No.08/309, 063、題名「細胞系の動的規格化法」、ローゼンロフ等(Rosenlof et al.) による米国特許出願 No.08/309,248、題名「顕微鏡スライドグラス のカバー・グラスの検出法、ならびに、装置」、ローゼンロフ等(Rosenlof et al.)による米国特許出願 No.08/309,077、題名「カバー・グラス接 着剤中の泡の検出装置」、リー等(Lee et al.)による米国特許出願 No.08 /309,931、題名「細胞標本スライドガラス評点装置」、リー等(Lee et al.)による米国特許出願 No.08/309,148、題名「画像平面変調式 パターン認識法、ならびに、装置」、リー等(Lee et al.)による米国特許出願 No.08/309,250、題名「遊離細胞特定装置」、オー等(Oh et al.) による米国特許出願 No.08/308,209、題名「大型生物標本分類法な らびに装置」、ウィルヘルム等(Wilhelm et al.)による米国特許出願 No.0 8/309,117、題名「自動細胞評価法に不向きな条件を検出する方法、な らびに、装置」である。これらすべては、引用したことにより本発明に含めるこ ととする。 ここに記載する各種工程は、ディジタル・プロセッサー上で走らせるのに好適 なソフトウェアに取り込むことができることを了解しなければならない。そのソ フトウェアは、例えば、ディジタル・プロセッサー、マイクロプロセッサー、ま たは、コンピュータから成ると好都合な画像プロセッサー中に組み込まれていて もよい。 装置および標本 第1図を参照すると、本発明の装置の一例のブロック・ダイアグラムが示して ある。ここに示した装置は次のものから成る。すなわち、中枢コンピュータ10 1、顕微鏡のモーター駆動ステージ103の動きを、画像捕捉装置104と協調 させるリアル・タイム走査制御装置102、ストロボ照明装置105、顕微鏡の 低倍対物レンズ107、CCD型の電子カメラ108、一つ以上の専用画像装置 109、および、タッチ・センサー110である。ストロボ照明装置105は、 標本106に対し、短い閃光を当てる。標本106は、ガラス・スライド201 にマウントされ、かつ、透明なカバー・グラス202によって保護されている。 コンピュータ101は、以下に詳述する焦点操作の諸工程を導くためにあらか じめプログラムされていてもよく、また、そうすると好都合である。第1図にお いて、各種成分の間に見られる矢印は、装置の部分間における情報の流れを表わ す。 第2A図は、通常の標本106がマウントされ、次に透明なカバー・グラス2 02で保護されるスライド201のさらに詳細な模式図である。通常のスライド 201は、長さ80mm、幅27mm、厚さ1mmと考えられる。通常のカバー・グラ ス202は、長さ60mm、幅24mm、厚さ0.13mmと考えられる。標本にたい する最良焦点は、点ごとに異なる。これは、スライドとカバー・グラスの結合に おける歪みと、標本自体に3次元的性質のあることの両方による。 第2B図に、格子203が、スライド201に重ねられているところを示す。 格子203は、本発明の実際の実施例では見られないこともあるが、ここでは説 明の都合上取り上げた。格子203は原寸大で示していない。格子203は、ス ライドが、210のような低倍視野に分割される様を図示するものである。その 様子を、第2B図にさらに詳しく示す。低倍視野の各々は、25個の高倍視野2 11に分割される。例えば、本発明の一実施例においては、低倍視野で捕捉され たディジタル画像は、512×512ピクセルを含み、約1.4mm×1.4mmの 標本面積を表わす。 第3図は、第1図に示した本発明の一実施例によって捕捉されたパップ・スメ アの低倍視野像を表わす。この画像中に、標本の三次元的団塊301のあること に注意されたい。操作装置は、301のような団塊にたいしてではなく、例えば 302のような、個々の細胞に焦点を結ぶ必要がある。ここに記載する、本発明 の好ましい実施例においては、装置が、各視野における個々の細胞に焦点を結ぶ ことを可能にする。 カバー・グラスの特定 第4図を参照しながら第1図に戻ると、標本の観察は、中枢コンピュータ10 1が操作制御装置102に指令を発して、工程401において、ステージ103 をあらかじめ定められた中央位置に動かすことから始まる。中央位置とは、ほぼ 既知の、標本106の物理的位置にたいして選ばれる。すなわち、たとえ小さな カバー・グラスでも、標本にたいして適切に置かれているならば、その中央位置 周辺に標本の実質部分を含んでいるに違いないという知識に基づいて選ばれる。 工程402において、中枢コンピュータ101は、操作制御装置102に指令 して、スライド201にたいして垂直な軸にステージ103を移動せしめ、それ によって、標本106がタッチ・センサー110に近づくようにする。この移動 は、タッチ・センサー110が、工程403において、標本106を覆うカバー ・グラス202との接触を記録するか、または、工程404として移動の限界に 達するか、するまで続けられる。工程404で移動の限界に達するということは 、スライドが存在しないか、装置には薄すぎるスライドが存在するか、どちらか であることを示す。この場合、問題のスライドの自動処理操作は、工程405で 停止する。 工程403において、タッチ・センサー110が、標本106上のカバー・グ ラスとの接触を表示すると、操作制御装置102は、その接触の起こったステー ジ位置を、中枢コンピュータ101に報告する。コンピュータは、これを工程4 06において保存する。この位置とは、中央点のカバー・グラスの頂上部におけ るステージ位置を示し、焦点調節時のスタート地点として用いられる。特に、タ ッチ・センサー110の位置は、対物レンズ107の焦点面から既知の距離にあ るように、この目的のために設計された標的を用いて、較正されている。工程4 11においては、この較正を用いて、ステージ103を、対物レンズ107の焦 点面が、中央の接触位置において、カバー・グラスの直下の位置にくるように移 動させる。 しかしながら、焦点調節をさらに続行する前に、カバー・グラスの位置を決め ておいた方がよい。この工程近く、すなわち、工程407において、工程402 から404で上述した最初の接触とほとんど同様な接触をさらに4回、カバー・ グラス中央域のごく近傍で実行する。この接触の各々において、カバー・グラス の位置を前と同様に記録する。工程408において、この5回の接触位置から最 小二乗法による平面を構築し、この平面の傾きを、最大許容値と比較する。もし も傾きがこの最大値を越えたり、または、4回の接触のいずれかの位置が記録さ れなかった場合には、工程405においてこのスライドの処理は停止される。工 程408において極端に傾いたカバー・グラスは、通常、そのスライドが装置に 正しく装着されていないことを示す。 この時点では、カバー・グラスの近似位置は既知となったので、その辺縁にた いするさらに詳細な探索が工程409において行われる。この探索法は、本発明 の範囲を越える。このような方法の一つが、本発明の出願人に譲渡された、ロー ゼンロフ等(Rosenlof,et al.)により、本発明と同時、または、その前に出願 された、米国特許出願 No.08/309,248、題名「顕微鏡スライドのカ バー・グラス検出法、ならびに、装置」に開示されている。ローゼンロフ等の詳 細を、引用したことによって本内容に含めることとする。ある対象の辺縁・境界 を特定する他の方法についても既に知られている。注意すべきことは、標本に焦 点調節を実行する前に、カバー・グラスの辺縁の位置を定め、それによって標本 の走査がすべてカバー・グラスの境界内部で実行されるようにすることである。 工程410において、もしもカバー・グラスの辺縁が見つからなかったり、また は、辺縁が不適当な大きさや形をもっていたりすれば、スライドの処理は、また しても工程405において停止される。 工程411において、ステージは、中央接触位置の、対物レンズ107の焦点 面が、カバー・グラス202の接触面直下にくるような高さに戻される。工程4 12において標本106の焦点調節を実行する。この時、中枢コンピュータ10 1は、走査制御装置102に、ステージ103の移動が、画像捕捉装置104と 協調するように指令する。これによって、初回焦点走査が、対物レンズ107が 、中央接触位置のカバー・グラス202表面直下の画像に焦点を結ぶ位置からス タートし、CCDカメラに向かって実行される。 初回焦点走査 この時点で、第5,6A,6Bおよび7図と、同時に第1図も参照しながら、 初回焦点走査について詳細に述べることにする。 焦点走査の目的は、ある標本において、異なる焦点面から画像を得て、これを 処理し、それによって最良の焦点面を見つけだすことにある。本発明の、この好 ましい実施例においては、焦点走査はいずれも下記の要領で実行される。第5お よび1図を合わせて参照しながら説明すると、工程501において、中枢コンピ ュータ101は、画像を収集すべきステージ位置リストを走査制御装置102に 渡す。このステージ位置は、対物レンズ107を、標本106の様々な面で焦点 を結ばせるように選ばれる。 走査制御装置102は、ステージ移動のタイミングを計算し、画像を収集すべ きステージの連続位置、および、ステージが各位置に達する時間を与える表を作 成する。この表の記入数値が計算され、工程502において画像捕捉装置104 に手渡される。 一旦画像捕捉装置104がこの表を受け取ると、工程503において、走査制 御装置102がステージ103の移動を開始する。正確さを期するため、ステー ジの移動は、工程504においてエンコーダーによって監視される。不正確なス テージ位置はいずれもコンピュータ101に報告される。それによって、コンピ ュータがステージをリセットし、処理を再スタートできるようにするためである 。 表にリストされた各時点ごとに、画像捕捉装置104は、ストロボ照明105 に信号を送り、工程505において閃光を発っせしめる。照明装置105は、工 程506において標本106の指定位置に短い閃光の焦点を結ぶ。この照明装置 は、工程507において、光センサーによってストロボ閃光列を監視する。不発 の閃光や、強度の不正な閃光があれば、それらはコンピュータ101に報告され る。それによって、コンピュータがスライドの処理を停止できるようにするため である。 工程508において、対物レンズ107は、標本106の照明視野からの画像 焦点を、カメラ108の上に結ぶ。工程509において、画像捕捉装置104は 、カメラ108からこのようにして得られた画像のディジタル表現を収集する。 ある実施例においては、画像のディジタル表現は、512列×512行のピクセ ルから構成され、その各々にたいして、最暗黒レベルを表わす0から、最輝度を 表わす255までの灰色レベルが割り当てられる。必要なら、カメラ108から 、画像はアナログ形式のまま画像捕捉装置104へ送られ、さらに、アナログ・ ディジタル変換器を通して、ディジタル表現を造るようにしてもよい。 画像捕捉装置104は、捕捉した各ディジタル画像を、工程510において、 画像処理装置(単数、または、複数、以下同じ)109に転送する。この専用画 像処理装置109は、画像捕捉装置104から転送された各画像について、形態 的、計算的、および、論理的操作をあらかじめプログラムされた順序にしたがっ て実行し、それによって、焦点性能について1個以上の測定値を得る。この測定 値は計算され、工程511においてコンピュータ101に送られる。コンピュー タ101は、工程501で操作制御装置102に最初に転送したリストの各画像 について、その測定値を受け取ると、その測定値のリストを処理し、工程512 において最適な焦点位置を求める。 画像が捕捉され、処理されている間も、ステージ103は、工程503からず っと、操作制御装置102からの指令に基づいて標本106を動かし続け、収集 すべき画像リストが尽きるまで行う。 前述のように、初回焦点操作は、対物レンズが、中央接触位置のカバー・グラ ス表面直下の画像面に焦点を結ぶ位置からスタートする。走査は、カバー・グラ スのさらに下を過ぎ、対物レンズ107の各焦点深度ごとに画像を収集しながら 、カバー・グラスの光学的最大厚に相当する深さを過ぎるまで行う。カバー・グ ラスの光学的最大厚は、用いる特定の装置に依存する、あらかじめ定めた厚さ許 容限界であってもよい。 初回走査は、装置を標本にたいして焦点を結ばせるための出発点、種まき点と 言う、を特定するために行うものである。この出発点が、標本中の細胞から得ら れたものか、単に、スライド表面のゴミ、その他の物質から得られたものかは重 要ではないから、形態パターン認識は、この初回焦点走査では用いられない。 その代わりに、もっと簡単な強度勾配焦点性能測定値を下記によって計算する 。第6A図を参照すると、焦点勾配の評価点を計算する際に画像処理装置が取る べき工程のフロー・チャートが示してある。まず、工程601において、画像の 灰色レベルについてヒストグラムを計算する。このヒストグラムを、画像の照明 輝度、すなわち、照度の尺度を計算するのに用いる。特に、照度は、それよりも 高 い強度を記録する画像ピクセルが0.1%以上であるような最高強度と定義して もよい。 工程602において、光強度の水平勾配と、垂直勾配を、ディジタル画像のピ クセルの各々について計算する。垂直勾配について言うと、計算は、各ピクセル について、直下のピクセルの強度値を、直上のピクセルの強度値から差し引いて 行う。水平勾配も同様にして行う。これらの勾配値を、域値と比較する。これは 、画像ノイズが、画像の鮮明度に及ぼす影響を抑さえるためである。あらかじめ 定めた域値よりも低い勾配はゼロとして扱う。この分野に精通している人であれ ば、この開示を知らされれば、この域値は経験的に得られたものでもよいし、ま た、使用する特定の画像装置固有のノイズから得られたものでもよいことが了解 されるであろう。 ある視野内において異なる領域にでの最良焦点位置を識別するために、画像処 理装置は、工程603において、第2B図に示したような5×5の格子の中に視 野を分割する。その後の処理において、25個別々の焦点値、すなわち、格子の 中の25個の領域の各々について一つの焦点値を計算する。 工程604において、50個のヒストグラムが計算される。すなわち、画像の 25個の格子領域の各々について2個のヒストグラムが計算される。この2個の ヒストグラムは、それぞれ、水平、および、垂直勾配画像上で計算される。 パターン認識を実行しない焦点操作においても、焦点を結ぶ対象の大きさにた いしてある程度考慮しなければならない。これは、空間頻度の適当な範囲から情 報を得るためである。ここに説明する焦点装置は、小さい対象にたいして低倍で 作動するように設計されたものであるから、強度勾配のアルゴリスムは、工程6 05において、25個の領域の各々において、高いものから50個の勾配だけを 選び、それによって大きさを考慮する。勾配ヒストグラムのその他のものは無視 する。 工程606において、この50個の勾配の二乗を合計し、これを、照度で割る 。これによって、この焦点走査により各画像ごとに25個の焦点評価点が得られ る。照度は、評価点を規格化するのに用いられる。すなわち、四分円から直線上 に渡る照明への依存性を抑さえるためである。これは、このアルゴリスムは、照 明が何らかの原因でぼやけた場合の画像にも適用できるということにもなるから 便利である。 画像処理装置109が、初回焦点走査において、各画像について、25個の勾 配焦点評価点を計算したならば、その評点を、適合する焦点位置と共に、中枢コ ンピュータ101に戻す。これは、前述の、第5図の工程511に示した通りで ある。 第5図工程512における中枢コンピュータ101の仕事は、25個の領域の 各々について、焦点評価点のピークを、焦点位置の関数として探し求め、ノイズ による、実質を伴わない動揺を無視し、最良焦点面について最初の近似を行うこ とである。中枢コンピュータはこの仕事を第6B図に示した要領で実行する。 第一に、工程620において、各領域の評点を、焦点位置前後でフィルターに かける。これは、その焦点評価点におけるノイズの影響を抑さえるためである。 このために、対物レンズ野の深度に等しい、1/2最大値において1/2幅を持 つガウス核を用いる。 第二に、工程621において、各領域および位置について、位置に関する焦点 評価点の微分を求める。これは、各位置および領域におけるフィルターされた焦 点評価点を、同じ領域の、次の位置のフィルターされた焦点評価点から差し引く ことで実行する。 第三に、工程622において、全領域における焦点評価点のピークを特定する 。そのために、位置に関して、2個の正の導関数と、それに続いて2個の負の導 関数の見られるパターンを求め、そのピークでの焦点評価点があらかじめ定めた 最 小値を越えていることを確かめる。後者は、実体のないピークを求めるのを避け るためである。ピークの厳密な位置は、勾配を、ゼロ切片に直線的に内挿するこ とによって求められる。 第7図は、ピークを求める方法を図示したものである。これを、元の焦点評価 点701の実例、ガウス核でフィルターした焦点評価点702、および、このフ ィルターされた評価点の差703を焦点位置にたいしてプロットして求める。第 7図にプロットした評価点は、1個の領域から得られた値を表わしたものである 。704の導関数ゼロの内挿点は、ピークの計算位置を表わす。ピークの前には 、複数個の、正の導関数があり、ピークの後には、複数個の、負の導関数がある ことに注意。 第四に、工程623において、各ピークの尖鋭度を求める。そのために、その ピークにおけるフィルターされた焦点評価点の二次導関数の絶対値を、ピークの 絶対値で割る。この尖鋭度は、そのピークの与える焦点位置にたいする指向性が どの程度明白なものであるかを示す。 第五に、工程624において、全領域で求めたピークのすべてを二つのクラス に分割する。得られた最高ピークよりも、カバー・グラスの光学的最小厚一個以 上低いもの、および、そうでないもの、である。このように分割したのは、カバ ー・グラス上の埃に由来するピークを、本来の標本に由来するピークから分離す るためである。 第六に、工程625において、各クラスにおいて最高焦点評価点を持つピーク を保存し、同じ領域、クラスのその他のピークを無視する。その結果各クラスに おいて、考慮すべきピークは高々25個になる。 第七に、工程626において、各クラスのピーク位置の重みづけ平均を取り、 これを、各クラスの完全視野における最良焦点位置を表わすものとする。ピーク 位置は、工程623で求めたピーク尖鋭度比で重みづけして、重みづけ平均を得 る。もしどれかのピークが、同じクラスの最も尖鋭なピークよりも係数4以上低 かったら、ピークが平坦すぎるという理由で、この工程において、平均計算から 外す。これによって、可能な焦点位置は高々2個となる。すべてのピークが上級 クラスの場合があることに注意。その場合は、この段階で焦点位置はただ一つと いうことになる。 第八に、カバー・グラスの上面に焦点を結ぶ可能性を避けるために、焦点位置 が二つある場合には、工程627において、低いクラス(カバー・グラスよりも 下になる)を、その標本の最良焦点を表わすものとして選ぶ。 第九で、これが最後であるが、工程628において、工程622で正当なピー クが見つけられなければ、走査は、工程630で最良焦点位置を求められなかっ たことになる。そうでなければ、工程627で選択された焦点位置が、工程62 9においてコンピュータ101に保存される。これで、初回焦点走査の説明を終 える。 初回走査の複数試行 第4図に戻ると、工程412の初回焦点走査の結果は、焦点位置にスタートす るか、または、ピーク探査不能のいずれかとなる。ほとんど全ての場合において 、カバー・グラスの厚み、位置に関する物理的要求事項を満たしている標本スラ イドを使用している限り、前記の初回焦点走査は上手くいく。これは、この走査 には焦点を合わせるべき試料をほとんど必要としないから、また、走査が、ほと んど確実に何かの標本を含んでいる、スライドの中央部で行われるからである。 しかしながら、もし、工程413で焦点発見不能が判明した場合には、さらに 数度の試みを実行し、焦点調節用の種まき点を求めなければならない。特に、工 程414の試行数が、一定数よりも少なければ、工程415において、たった今 焦点走査を行ったばかりの視野に隣接する視野において、新たな位置を選択し、 工程を戻して、工程412において、もう一度初回走査を実行する。次々に続く 試行が、中央の接触位置にできるだけ近接しながら、新しい視野を選び続けるた めに、元の接触点の周囲に螺旋模様を描くようなことがあるかもしれない。工程 414において、一定数の試行がすべて不成功に終わった場合にのみ、スライド の処理は、工程405において停止される。 細胞焦点走査のパターン 工程412において初回焦点位置が求められたならば、その点から、パターン 認識、すなわち、細胞性焦点走査が始まる。この点を種まき点と呼ぶ。第8図は 、標本表面を横断する、細胞性焦点走査の経路を示す。ここに、種まき点の位置 を”X”でマークした。正方形801は、走査された視野を示し、矢印802は ステージの追跡経路を示す。ここに指示された経路をたどる目的は、スライドに ついてできるだけ代表的なものに近いサンプリングを行い、かつ、もう一方で走 査に要する時間を最短にするためである。使用したステージでは、同時に二次元 に動かしても、ただ一次元移動の場合とほとんど同じ時間しか要しないので、図 示した対角線方向の移動が、移動速度を最大にする。 また第4図に戻ると、工程416において、最初の走査は、第8図の種まき点 に隣接して、右側に行われる。第8図に示したジグザグ・パターンは、走査がカ バー・グラスの辺縁の一つに近づくたびごとに、例えば804の位置で、転回す る。全パターンは、第8図のカバー・グラスの右端の前に終了していなければな らない。次に走査は、工程422と416に戻り、再び種まき点の近傍で、種ま き点の左の点、第8図で丸でマークした走査位置から出発する。第8図に描いた 走査803の最後の反転が、804で要した3段階や、一つ置きの反転ではなく 、5段階を要していることに注意。これは、後述の条件では、標本処理の速度を 上げるために、反転に要する段階の数を3から5に増すことがあることを示して いる。 最初の2回の細胞焦点走査は、種まき点で定められる焦点面の周囲で実行され る。細胞焦点走査は、前述の勾配走査よりもずっと単純である。すなわち、たっ た4個の画像の撮影・処理から成るにすぎない。画像はここでもほぼ対物レンズ の焦点深度によって分離されたものである。このため、細胞走査はずっと早くな る。細胞走査による最良焦点位置の探索は、勾配走査によるものよりも必然的に 単純な操作になる。なぜなら、取り扱いの対象となる点はたった四つしかないの であるから。ノイズを刈り込んで信号を際だたせるために、特に、主に分離性の 高い細胞の核を認識し、そこに焦点を結ぶように、画像処理する方により重点が 置かれる。細胞塊は、その核がはつきり区別できるものでなければ、あまり有益 な情報を与えないことに注意。 細胞形態学 細胞焦点走査における画像処理は、単純な形態学的操作の組み合わせから成る 。第9A−9D図は、4種の単純な二項式形態操作を図示したものである。第9 A図は、3×3ブロックを持つ侵食を図示したもので、第9B図は、同じブロッ クを持つ膨張変換を示す。第9C図は、5×5の網枠を持つ侵食を示し、第9D 図は、同じ網枠を持つ膨張変換を図示する。 侵食ないし膨張変換のような形態学的操作は、二つの実体を含む。第一の実体 は、操作の対象となる画像であり、第二の実体は、それを用いて操作を行う構造 要素である。構造要素とは、ピクセルの格子と考えてもよい。その値は「オン」 か、「オフ」であり、かつ、一意な中央ピクセルを持つ。第9A−9D図の構造 要素の中央ピクセルを、Xでマークする。 形態学操作とは、構造要素の中心を、元の画像の各ピクセルの上に置くことと 見なすこともできる。二項操作が画像に作用すると、そのピクセルは「オン」か 「オフ」になる。二つから成るもっとも単純な操作は、侵食と膨張変換の二項操 作である。二項の侵食は、構造要素の中心をその上に合わせた時、画像上に、要 素の「オン」ピクセルと合致する、少なくとも一つの「オフ」ピクセルを持つ画 像の全ピクセルを「オフ」にする。画像のそれ以外のピクセルはすべて「オン」 にセットされる。膨張変換は、構造要素の中心をその上に合わせた時に、画像上 に、「オン」構造要素ピクセルに合致する、少なくとも一つの「オン」ピクセル を持つ画像の全ピクセルを「オン」にする。それ以外のピクセルはすべて「オフ 」にセットされる。 二項式による侵食、膨張変換操作ははだたちに、灰色スケールを含む侵食、膨 張変換の場合に一般化できる。灰色スケール侵食では、画像の各ピクセル値を、 そのピクセル値の最小値で置換する。この最小値は、要素の「オン」ピクセルに 相当する。灰色スケールの膨張変換では、各ピクセル値を、それらピクセル値の 最大値で置換する。この最大値は、要素の「オン」ピクセルに相当する。侵食と 膨張変換を結合して、複合操作を行う。特に、同じ要素によって、膨張変換に続 いて侵食を行うことを閉鎖と呼び、侵食の後に膨張変換を行うことを開放と呼ぶ 。 第10図は、細胞焦点による形態評点法においてデータの進行を示すフロー・ チャートである。各細胞焦点走査によって得られた各画像は、カメラ108で保 存され、画像捕捉装置104でディジタル化された後、画像処理装置109(単 数または複数)により、この一組の操作によって処理される。第10図に示した ように、工程は、四つの大きな分枝を持つ。 第1分枝では、画像1001の灰色スケール値についてヒストグラム1011 を得、次に、三つの灰色スケール値1012を−これらは白、細胞、黒レベルと 呼ばれる−ヒストグラムから計算する。白レベルとは、前述の勾配焦点の説明の ところで述べた輝度レベルと同じものである。細胞レベルとは、白の値の95% と定義した。この名前が示すように、このレベル以下の灰色レベルをもつ画像領 域は、少なくとも何かの細胞原形質を含む領域を表わす可能性が高い。黒レベル は、白の値の$1/15$に加えてノイズ・レベルを表わす量と定義した。黒の 値以下の灰色スケールを持つ画像領域は、標本の分厚い団塊か、その他の物質に よるアーティファクトか、そのいずれかである。これらの領域は、焦点調節の対 象から除外する。 細胞形態処理法の第2分枝では、元の画像1001の各ピクセルを工程102 1においてテストし、その灰色スケールが細胞域値を越えるものであるかどうか を調べる。もし越えるものであれば、二項画像の対応するピクセルをゼロに設定 する。もし越えなければ、二項ピクセルを1に設定する。こうして得られた二項 画像は、5×5ボックスによる形態処理入口1022を通過し、さらに、43× 43ボックスによる入口1023を通過する。 5×5ボックスによる入口1022は、実際に細胞を表わすものとしては小さ すぎる領域を排除するために設けられたものである。一方、43×43ボックス による入口1023は、大きいので、間に透き間を持った複数細胞ではなく、積 み重なった細胞群を表わしていると思われる領域を検出する。遊離細胞に焦点を 結ぶ必要性から、この二つの入口での結果は、工程1024においてまとめて「 排除または」で処理され、細胞原形質による二項画像を生成し、これが次に工程 1025において、5×5ボックス膨張変換とされる。これによって、細胞辺縁 部にある核でも拾い上げることができるようにするためである。 細胞焦点評点法アルゴリスムの第三分岐は、工程1031において、元の画像 1001の各ピクセルをチェックして、上に定義した黒レベルよりも大きな灰色 レベルを持っているかどうかを確かめる。もし持っているならば、対応するピク セルは、二項画像として、1にセットされる。もし持っていなければ、0にセッ トされる。得られた黒の二項画像は、工程1032において、43×43ボック スによって侵食処理される。これは、標本の分厚い団塊辺縁、または、アーティ ファクトで縁取られた領域に焦点を結ぶことを避けるためである。次に、この暗 黒二項画像は、工程1033において、細胞原形質の二項画像と「アンド」処理 され、細胞核認識許容領域を表わす二項画像を生成する。 アルゴリスムの第四であり、かつ最後の分岐は、細胞核検出のために設計され ている。先ず、5×5ブロックによる元の画像1001の灰色スケール閉鎖工程 1041から始まる。この閉鎖により、通常、対象細胞核は画像から取り除かれ る。次に、工程1042において、この閉鎖結果から、元の画像を差し引き、内 部構造強調性反転画像を生成する。この反転画像において、核は、際だって明る い光点として見える。 細胞核を特定する二項画像を作成するため、工程1043において、閉鎖の結 果を8で割り、工程1044において、内部構造強調画像と比較対照する。もし 内部構造強調画像の灰色レベルが、この局所輝度レベルの測定値を越えるもので あれば、問題のピクセルは、工程1044において、核の一部の可能性ありのマ ークを付けられる。この二項画面は、工程1045において、先の核認識許容二 項画像と「アンド」処理され、核の可能性ありピクセルの二項マスクを生成する 。 工程1045においてこのようにして得られた二項マスク画像は、核の大きさ ・形についてほとんど制限を加えられていないという欠点を持つ。次の工程は、 この限界を正すために設けられたものである。先ず、2×2ボックスによる入口 1046が設けられる。これは、孤立ピクセル、または、単一幅の線維状ピクセ ルを排除するためである。得られたマスクを、工程1047において、7×7の 中空枠ピクセルで膨張変換化し、これを、1048で反転し、次に、これを、1 049において、先のマスクと「アンド」処理し、核の可能性の高いものの内、 7×7フレームの内部に収まらない部分を取り除く。これは、見込みのある核は 、ほぼ楕円形でなければならないという制限を加えることである。第三に、そし てこれが最後であるが、得られた二項画像を、工程1050において、3×3ボ ックスで膨張変換処理する。これによって、核の辺縁をマスクの中に含める。工 程1050の結果が、マスクの最終的画像となる。これは、焦点調節用のすべて の必要条件を満たした細胞核を特定する。 核が特定された後でも、それらにたいして焦点を結ぶ尖鋭度を測定する必要が 残っている。このために、工程1042で生成された内部構造強調画像を、10 51において3×3ブロックで侵食処理し、得られた画像を、1052で、内部 構造強調画像自体から差し引き、勾配強調画像を生成する。工程1053におい て、この勾配強調画像を、工程1050で得た最終マスク画像がゼロを含む位置 のすべてにおいてゼロに設定し、最終マスク画像が1を含む位置ではそのままに しておく。 最後に、得られた画像の灰色レベルについてヒストグラム1054を取る。こ れは、得られた核物質の量についてさらに一測定値増やすためであるし、そして もちろん、その核にたいする焦点の尖鋭度を測定するためでもある。この二つの 測定値は、工程1055において、ヒストグラム1054から次のようにして求 められる。先ず、勾配強調画像の内、白レベルの5%未満のレベルは、非細胞核 物質であるから無視する。次に、このレベル以上のピクセルを数え上げ、核とし て受け入れ可能なピクセルの総数を集計する。また、核の尖鋭度の測定は、白レ ベルの5%を越えるピクセルの勾配強調レベルの二乗平均として求める。核とし て受容可能なピクセルの合計は、得られた有用標本量の尺度となるが、一方、核 尖鋭度測定値は、白レベルで割って、輝度レベルにたいする依存性を抑さえ、こ れを、細胞焦点評価点として用いる。 細胞焦点処理 このようにして、中枢コンピュータ101は、実行した各細胞焦点走査当り、 画像処理装置(単数または複数)109より4個の焦点評価点と、4個のピクセ ル計数を受け取る。元に戻って第5図を参照すると、このデータ転送は、工程5 11において行われる。工程512で、コンピュータは、これら測定値を処理す る。この処理は、第11図に図示するように行われる。 先ず、工程1101において、コンピュータは、どの焦点評価点がもっとも高 いかを決定する。もしもこの最高焦点評価点が、工程1102において、カバー ・グラスからもっとも遠い位置にあるものであれば、この焦点走査の結果は、工 程1103において、カバー・グラスからさらに遠ざかって、もっとよい焦点位 置を求める必要があることを表わす。もしもそうでなければ、この最高焦点評価 点を持つ画像の核のピクセル数を、工程1104でチェックし、画像の0.1% を越えているかどうか確かめる。もし越えていなければ、外見上は、この視野に おいて、焦点を当てる必要のないないものである。したがって、コンピュータは 、工程1105において、同一面でさらに走査を続行することを決める。 もしも核のピクセル数が、工程1104において、画像の0.1%を越えてお り、最高焦点評価点を持つ画像が、工程1106において、カバー・グラスにも っとも近い画像であるならば、この焦点走査の結果は、工程1107において、 カバー・グラスにさらに接近し、もっと良い焦点面を求める必要があることを示 す。カバー・グラスに近づく前に、十分なデータが必要である。これは、標本の きわめて乏しいスライドを覆うカバー・グラスの試料に焦点を当てる試行を避け るためである。 もしも最高焦点評価点を持つ画像が、走査の最高部にも1106、最低部にも 1102なく、最高焦点評価点を持つ画像が、1104において画像の0.1% を越える核ピクセル数を持っているならば、焦点評価点の差を直線的に内挿し、 工程1108においてピークの位置を求める。内挿は、導関数のゼロ切片にたい して行う。ちようど、第7図704で示した内挿によるゼロ切片法と同じやり方 で行う。これは、最良焦点を上手く見つけたことを表わし、その場所は、工程1 109において記録される。最後に、工程1110において、次の焦点調節指示 が、工程1109で記録された最良焦点面周囲を中心に実行するように出される 。 再び第4図を参照し、標本の焦点走査における細胞焦点走査の役割を求める。 前述したように、工程416における、最初の2個の細胞焦点走査は、種まき点 によって定められる面を中心に実行される。工程417において、この走査の内 の第一走査の結果が、コンピュータ101によって処理される。この結果を得た 後、コンピュータ101は、工程418において、次の細胞走査を要求する。 元に戻って第11図を参照する。この図は、たった今処理し終わったばかりの 焦点走査がどんな結果を取り得るかを示す。もし処理を終えたばかりの焦点走査 の結果が、焦点を下げるべきだ1103という指示を出しているならば、要求走 査418は、処理をし終えた走査から、一焦点ステップ下げた位置に中心を合わ せる。もし、結果が、十分なデータが得られていない1105ことを示している なら、要求走査418は、処理をし終えた走査と同じ面に中心を合わせる。もし も結果が焦点を高くしなければならない1107ことを示しているのであれば、 上手くいった焦点走査の内最後の走査の面を調べ、現在の焦点位置が、その最後 の走査面を越える分が、カバー・グラスの光学的厚さの最小値の1/2未満であ るかどうかを確かめる。もしそうなら、要求走査418は、一焦点ステップ高い 位置に中心を合わせる。もしそうでなければ、カバー・グラスの上面に焦点を結 ぶ試行を避けるために、要求走査418は、処理を終えたばかりの走査と同じ面 に中心を合わせる。 再び第4図を参照すると、工程419において、コンピュータは今要求された 焦点位置を調べ、第8図の走査パターンに基づいて、それがカバー・グラスの右 端、または、左端に寄りすぎていないかどうかチェックする。もし寄りすぎてい なければ、コンピュータは工程417に戻り、今完了したばかりの走査結果を計 算し、次に、工程418において新たな走査を要求する。各細胞走査の焦点レベ ルは、それに2走査先立つ走査結果に基づくことに注意。これにより、走査制御 装置102、画像捕捉装置104、画像処理装置(単数または複数)109、お よび、コンピュータ101は、焦点走査を、平行かつ連続的に、ステージ移動の 及ぶかぎりの速さで処理することができ、しかも、計算結果を待つために費やさ れる待ち時間がない。 工程419において、カバー・グラスの端に達した場合、工程420において まだ処理すべき焦点走査結果が二つ残っている。そこで、工程421において、 コンピュータは、焦点走査が、第8図に示したように、種まき点から両方向に進 行し終えたかどうかをチェックする。もしし終えたのであれば、標本の細胞焦点 走査は、工程423で完了する。もしし終えていなければ、装置は、工程422 において種まき点に戻り、次に工程416において、反対方向に向かって走査を 開始する。両方向における最初の2回の焦点走査は、種まき点の面を中心に合わ せる。 第12A−12D図は、細胞焦点走査深度をどのように位置づけると、2回前 の走査結果の後を辿ることができるかを示すためにいくつかの実例を図示したも のである。この位置づけについては、第4図の処理工程416−419に関連し て述べた通りである。第12A−12D図はそれぞれ同じ平面を中心として細胞 焦点走査を2回行っている。 第12A図の第1走査の結果は、影付きボックス1211で象徴されているが 、カバー・グラスに直近の画像が最高焦点評価点を受け、かつ、その核ピクセル 数は十分に高く、カバー・グラスへの接近移動が保証されることを示す。第2走 査の結果は、白抜きボックス1212で象徴されているが、カバー・グラス直近 の画像がまたしても最高焦点評価点を受けたこと、しかし、カバー・グラス側へ の移動を保証するほどの十分なデータを含んでいないことを示す。第1走査の結 果に基づいて、第3走査は、第1走査よりも1焦点ステップ高く中心を合わせた 。第2走査の結果に基づいて、第4走査では、第2走査と同じ平面に中心を合わ せた。 第12B図は、2回の成功焦点走査でスタートした。すなわち、内挿によって 求めた、最良焦点位置を、影付き丸1221,1222で示す。前述したように 、 第3走査は、第1走査の内挿による最良焦点に中心を合わせ、第4走査は、第2 走査の最良焦点の周りに合わせる。 第12C図は、域値を越える核のピクセル数があろうとなかろうと、もしも最 高焦点評価点がカバー・グラスよりも遠い位置で見られたならば、続く第2焦点 走査は、1焦点ステップ低い位置に中心を合わせることを示している。影付きボ ックス1231は、カバー・グラスからもっとも遠い画像が最高評点を受けたこ と、しかも、第1焦点走査から十分なデータを得ていることを象徴する。白抜き ボックス1232は、カバー・グラスからもっとも遠い画像が最高焦点評価点を 受けたが、第2走査においては十分な核ピクセルを得られなかったことを象徴す る。したがって、第3、第4走査は共にカバー・グラスから1焦点ステップ遠ざ かっている。もっとも、白抜きボックス1232で象徴される通り、第2走査の 成績は、域値を越えるほどの十分なデータを含んでいなかったわけであるが。 第12D図は、2回の不成功の走査で始まる。この走査では、最高焦点評価点 は、走査の2個の中心画像の内の一つに見られたが、白抜きボックス1241, 1242が表わすように、域値を越すほどの十分なデータが得られなかった。し たがって、前述したように、次の2回の走査は、最初の二つと同じ面に中心を合 わせて行われる。 標本に焦点を正確に結ぶには、最小限の、成功した細胞焦点走査数が必要であ る。ある実施例では、その最小数は、24走査数である。第8図に示したような 全走査を完了した後で、この数字に達していなければ、その標本の自動処理は見 限らなければならない。この理由で見限ったパップ・スメアは、一般に、偏平上 皮細胞の不足という点で不備なものであった。 一方、成功走査の最小値に、処理の早い段階で達し、さらにたくさんの成功走 査が続けて現われる場合には、問題のスライドの処理を加速することが好ましい 。なぜならば、たとえ実行する走査が少なくとも、焦点が正確に実行される可能 性 が高いからである。したがって、成功細胞焦点走査の最小値に達した後では、ス ライド横断時に、成功走査がある域値以上見られる場合、その横断時の各々につ いて、スライド移動時、次への反転を、3ステップではなく、5ステップで行う ようにする。一つの実例は、第8図の左側の、最後の2回の横断行の間に見られ る5ステップ反転803に見られる。このようにすれば、スライドの焦点処理は 加速される。 焦点走査データの利用法 細胞焦点走査が完了したならば、すべての成功焦点走査の結果を集計し、成功 焦点評点を用いて、標本の焦点面モデルに適合させる。このようなモデルの一つ の例は、10個のパラメータによる多項式によって与えられる。すなわち、 Z=C0+C1x+C2y+C3x2+C4xy+C5y2+C6x3+C7x2y+C8xy2+C9y3 ここに、Zは、標本の最良焦点の高さであり、Xとyは、スライドに平行な標本 の軸であり、C 0,...,C 9は、調節の対照となる10個のパラメータ である。これらのパラメータは、等式1で求められる表面の誤差の二乗平均と、 成功焦点数を最小にするように選んでもよい。この、平均二乗誤差最小値は、等 式1の自由パラメータによって取り上げられる自由度10を除くように補正する と、このモデルに基づいて、標本にどの程度正確に焦点を当てることができるか を示す尺度として用いることができる。受容不可能はほどに大きな平均二乗誤差 を持つ標本は、排除することができる。 標本の焦点面のモデルが一旦使用できるようになれば、それを、低倍で、カバ ー・グラスの下の標本全面を走査する際の案内に用いることができる。また、標 本に高倍で焦点を結ぶ際のスタート点としても用いることができる。 成功焦点走査データはまた、タッチ・センサーで得られたカバー・グラスの高 さと共に、標本上のカバー・グラスの光学的厚みを推定するのにも用いることが できる。もしもカバー・グラスの光学的厚みが大きすぎたり、あるいは、小さす ぎたりした場合には、標本を高解像度の対物レンズで見た場合、認められないほ ど大きな球面誤差を生ずる。したがって、そのような標本は、高倍率の顕微鏡検 査には不向きである可能性が高い。 ここに、本発明を相当詳細に説明してきたが、これは、特許法に合致するため であり、かつまた、この分野に精通している人々に、この新しい原理を実地に用 いて、必要に応じて特別な装置を構築・使用するのに必要な情報を提供するため であった。しかしながら、本発明は、特異的な目的にしたがって、様々な装置・ 器具を用いて実行可能であり、かつ、装置の詳細や、操作法に関して、本発明の 範囲から逸脱することなく、様々な修正が可能であることを了解しなければなら ない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハイエンガ,ジョン,ダブリュ. アメリカ合衆国.98031 ワシントン,ケ ント,ナインティフォース プレイス サ ウス 21648 (72)発明者 ステファニック,ジェームズ,エー. アメリカ合衆国.98126 ワシントン,シ アトル,サーティーシックスス アヴェニ ュー サウスウエスト 8811 (72)発明者 シュミット,ロバート,シー. アメリカ合衆国.98052 ワシントン,レ ッドモンド,ワンハンドレッドアンドシッ クスティファースト プレイス ノースイ ースト 10014

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.スライドに自動的に焦点を結ぶ方法であって、 (a)底面を持つカバー・スライドの位置を定める工程と(401−411 )、 (b)スライドにたいしてあらかじめ定めた複数の焦点深度から複数の画像 を得、カバー・グラスの底面近傍の第1焦点深度からスタートする工程と(41 2)、 (c)複数の画像の各々において、あらかじめ定めた一組の特徴を測定し、 その複数の画像の各々にたいして少なくとも一つの画像測定値を生成する工程と (511)、 (d)その複数の画像の各々について焦点測定値を計算する工程と、その際 、各焦点測定値は、少なくとも一つの画像測定値(511)の関数とし、かつ、 (e)得られた画像が最高焦点測定値を持つ焦点深度にたいして、最良焦点 位置を定める工程と(512)、 を含む方法。 2.請求項1の方法であって、焦点測定値を計算する工程(511)がさらに 強度勾配焦点測定値を計算する工程を含み(第6A図)、その際、あらかじめ定 められた一組の特徴が、複数の画像各々の灰色レベルを含む方法。 3.請求項2の方法であって、焦点測定値を計算する工程(511)がさらに フィルターされた焦点測定値(620)を計算する工程を含む方法。 4.請求項1の方法であって、最良焦点位置を定める工程(512)が、さら に (a)複数の画像間の焦点測定値の導関数を計算する工程(621)、およ び、 (b)その導関数の値を、そのゼロ切片に内挿する工程(622)を含む方 法。 5.請求項1の方法であって、焦点測定値を計算する工程(511)が、さら に焦点評価点を計算する工程を含み、その際、あらかじめ定められた一組の特徴 が、形態学的な特質(第9A−9D図)を含み、かつ、焦点評価点が、形態学的 特質の測定に応じて変動する方法。 6.請求項1の方法であって、焦点測定値を計算する工程(511)が、さら に (a)強度勾配焦点測定値を計算する(第6A図)工程と、ここに、あらか じめ定められた一組の特徴が、得られた画像の灰色レベルを含む、および、 (b)フィルターされた焦点測定値(620)を計算する工程と、ここに、 最良焦点位置を定める工程がさらに (i)複数の画像の間で、フィルターされた焦点測定値の導関数を計算す る工程(621)、および、 (ii)その導関数の値を、そのゼロ切片に内挿する工程(622) を含む方法。 7.請求項6の方法であって、最良焦点位置を定める工程(512)が、さら に強度勾配焦点測定値を域値と比較する工程(602)を含み、それによって、 域値より下の強度勾配焦点測定値を抑さえて、画像ノイズの影響を低下させる方 法。 8.請求項1の方法であって、焦点測定値を計算する工程(511)がさらに 、焦点評価点を計算する工程を含み、その際、あらかじめ定められた一組の特徴 がさらに形態学的特徴(第9A乃至9D図)を含み、かつ、焦点評価点は、形態 学的特徴測定値に応じて変動し、また、その際、最良焦点位置を定める工程(5 12)が、複数の画像間の焦点評価点の導関数を計算する工程(621)と、そ の導関数の値を、そのゼロ切片に内挿する工程(622)とを 含む方法。 9.請求項8の方法であって、最良焦点位置を定める工程(512)が、さら に極大焦点評価点に一致する画像内容測定値(1101)を画像内容域値(62 6)と比較する工程を含み、それによって、焦点測定値の相対的重要性を定める 方法。 10.請求項1の方法であって、最良焦点位置を定める工程(512)がさらに (a)最高焦点測定値を持つ獲得画像がカバー・グラスからもっとも遠いか 否かをチェックし(1102)、もしそうなら、カバー・グラスよりもさらに遠 い焦点深度に焦点をぶ工程と(1103)、 (b)最高焦点測定値を持つ獲得画像があらかじめ定められた画像内容測定 値を越えているか否かをチェックし(1104)、もしそうでないなら、同じ焦 点深度で画像の獲得を続行する工程と(1105)、 (c)最高焦点測定値を持つ獲得画像がカバー・グラスに近接しているか否 かをチェックし(1106)、もしそうなら、カバー・グラスのさらに近い焦点 深度で画像の獲得を続行する工程と(1107)、かつ、 (d)それ以外の場合は、焦点評価点の差を直線的に内挿し、最良焦点の位 置を定める工程と(1108)、 を含む方法。 11.請求項1の方法であり、カバー・グラスの位置を定める工程(401−4 11)がさらに (a)カバー・グラス(202)を含むスライド(201)を、ステージと タッチ・センサーを含む自動顕微鏡(第1図)の光学的経路にマウントする工程 と、 (b)ステージを、あらかじめ定義された中央位置に移動する工程と(40 1)、 (c)ステージをスライドがタッチ・センサーに近づくように動かし(40 2)、かつ、さらに、あらかじめ定義された移動の終点に達するか(404)、 または、タッチ・センサーがカバー・グラスに接触するか(403)まで動かし 続ける工程と、 (d)タッチ・センサーがカバー・グラスに接触した時のステージ位置を基 準とした位置を、焦点調節用に使用する工程と、 を含む方法。 12.請求項11の方法であって、カバー・グラスの位置を定める工程(401 乃至411)がさらに (a)カバー・グラスにさらに数回の接触を行う工程と(407)、 (b)その新たな接触位置の各々について、カバー・グラスの位置を記録す る工程と(406)、 (c)カバー・グラスが極端に傾いているかどうかを定める工程と(408 ) を含む方法。 13.請求項1の方法であって、さらに、 (a)屈折性媒介物の光学的厚みを計算する工程と(第5図)、 (b)その光学的厚みに基づいてスライド標本の適性を定める工程と(41 3) を含む方法。 14.請求項1の方法であって、スライドをステージにマウントし、画像を獲得 する工程(412)がさらに (a)画像が収集されたステージの連続位置の表を作成する工程と(501 )、 (b)ステージを動かす工程と(503)、 (c)スライドを通す閃光を発する工程と(506)、 (d)画像(509)の代表的表示を収集する工程と、 を含む方法。 15.請求項14の方法がさらに、ステージの動きを監視する工程(504)を 含む方法。 16.請求項14の方法であって、さらに (a)光源を監視し、閃光不発の場合信号を発する工程と(507)、 (b)閃光不発の場合には、その画像に不適のマークを付ける工程と、 を含む方法。 17.請求項1の方法であって、画像獲得の工程(412)がさらに、カバー・ グラスの下の複数の位置に焦点を結ぶ工程と(501)、各位置について少なく とも1個の画像を収集する(502乃至510)工程を含み、その際、画像は、 カバー・グラスの最大光学的厚み以内の位置においてのみ収集される方法。 18.請求項11の方法であって、さらにスライドの隣接視野における画像を獲 得する工程(415)を含み、その隣接視野は、実質的にスライド上面に平行な 面にあり、さらにまた、新しい視野にたいし、中心点の周囲に螺旋状に焦点を結 び、これを受容可能な焦点位置が求められるまで続ける工程(412乃至415 )をも含む方法。 19.請求項2の方法であって、強度勾配焦点測定値を計算する工程(第6A図 )がさらに (a)画像の灰色レベル・ヒストグラムを計算する工程と(601)、 (b)その灰色レベル・ヒストグラムから光レベルを測定する工程と、 (c)各画像について、少なくとも一つの灰色レベル勾配を計算する工程と (604)、 (d)少なくとも一つの灰色レベル勾配の、少なくとも一つの副組を選択し (605)、選択された少なくとも一つの副組の勾配の二乗を光レベル に関して処理し、少なくとも一つの強度勾配焦点測定値(606)を得る工程と 、 を含む方法。 20.請求項4の方法であって、最良焦点位置を定める工程(512)がさらに (a)ゼロ切片に関してピークの位置を定める工程と(622)、 (b)各ピークの尖鋭度を測定する工程と(623)、 (c)各ピークを二つのクラスに分割する工程と(624)、 (d)重みづけ平均を計算して、一クラス内の各ピークをまとめる工程とを 含み、重みは尖鋭度に関わる(626)方法。 21.請求項8の方法であって、さらに (a)種まき点の位置を定める工程と(412)、 (b)種まき点から移動して、挿入された標本位置列から焦点データを獲得 する工程と(503)、 (c)その焦点データを用いて、該標本位置にたいする中間位置の最良焦点 を推定する工程と(512)、 を含む方法。 22.スライド自動焦点式画像獲得装置用の自動装置であって、 (a)複数の制御信号を発生するためのコンピュータ手段(101)を含む 処理手段と、 (b)複数の制御信号と結合して、カバー・グラスの位置を定める手段(1 10)と、 (c)複数の制御信号(104)と結合して、画像を獲得する手段で、複数 のあらかじめ定められた焦点深度を見るように置かれており、カバー・グラス( 202)表面近傍の初回焦点深度からスタートする画像を獲得する手段(104 )と、 (d)ここに処理手段(101)がさらに、獲得手段(104)と結合して 、複数の画像の各画像内部において、あらかじめ定められた一組の特徴を測定す る(109)手段を含み、それによって、複数の画像の各々について画像測定値 を生成し、 (e)測定手段(109)と結合して、複数の画像の各々について焦点測定 値を計算する(109)手段であって、その際、各焦点測定値は、選ばれた画像 測定値の関数であり、 (f)処理手段(101)がさらに、計算手段(104)と結合して、焦点 深度に関して最良焦点位置を定める(101)手段を含み、獲得画像は、最高焦 点測定値を持つ自動装置。 23.請求項22の自動装置であって、焦点測定値を計算する手段(109)は さらに、強度勾配焦点測定値を計算する手段を含み、あらかじめ定められた一組 の特徴は、画像の灰色レベルを含む(601)自動装置。 24.請求項22の自動装置であって、焦点測定値を計算する手段(109)は さらに、フィルターされた焦点測定値を計算する手段を含む自動装置。 25.請求項22の自動装置であって、焦点測定値を計算する手段(109)は さらに、勾配焦点測定値の導関数を計算する手段を含む自動装置。 26.請求項22の自動装置であって、焦点測定値を計算する手段(109)は さらに、焦点評価点を計算する手段を含み、あらかじめ定められた一組の特徴は 、形態学的特質を含み、かつ、焦点評価点は、形態学的特質の測定値によって変 動する自動装置。 27.請求項22の自動装置であって、計算手段(101)が、全要素を平行に 操作する自動装置。 28.請求項11の方法であって、カバー・グラスの位置を定める工程(401 乃至411)がさらに、スライドがある厚さの範囲内にあるかどうかを定め る工程(413)を含む自動装置。 29.請求項1の方法であって、第1視野の最良焦点位置を定める工程(512 )が、次の視野から画像を得る工程(412)と同時に起こる方法。 30.請求項21の方法であって、焦点データの獲得(412)と処理(511 )が平行に起こり、それによって、最良焦点位置を定める(512)時間が短縮 される方法。
JP8511734A 1994-09-20 1995-08-08 医・生物学標本の自動焦点装置 Pending JPH10506206A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/309,405 1994-09-20
US08/309,405 US5647025A (en) 1994-09-20 1994-09-20 Automatic focusing of biomedical specimens apparatus
PCT/US1995/010133 WO1996010196A2 (en) 1994-09-20 1995-08-08 Method and apparatus for automatic focusing of biomedical specimens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10506206A true JPH10506206A (ja) 1998-06-16

Family

ID=23198101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8511734A Pending JPH10506206A (ja) 1994-09-20 1995-08-08 医・生物学標本の自動焦点装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5647025A (ja)
EP (1) EP0784805A2 (ja)
JP (1) JPH10506206A (ja)
AU (1) AU709136B2 (ja)
CA (1) CA2200463C (ja)
WO (1) WO1996010196A2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003501693A (ja) * 1999-06-04 2003-01-14 ジヤンセン・フアーマシユーチカ・ナームローゼ・フエンノートシヤツプ 顕微鏡用の強固な自動焦点システム
JP2004514920A (ja) * 2000-05-03 2004-05-20 ダーク・ソーンクセン 全自動迅速顕微鏡用スライドスキャナ
WO2008020583A1 (fr) * 2006-08-14 2008-02-21 Olympus Corporation dispositif autofocus, microscope et procédé de mise au point automatique
JP2008535528A (ja) * 2005-01-18 2008-09-04 トレストル コーポレーション スライドの可変品質画像を形成するためのシステムおよび方法
JP2010512545A (ja) * 2006-12-11 2010-04-22 サイテック コーポレイション 画像焦点の質を評価するための方法
US9213177B2 (en) 2000-05-03 2015-12-15 Leica Biosystems Imaging, Inc. Achieving focus in a digital pathology system
US9723036B2 (en) 2000-05-03 2017-08-01 Leica Biosystems Imaging, Inc. Viewing digital slides

Families Citing this family (78)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5557097A (en) * 1994-09-20 1996-09-17 Neopath, Inc. Cytological system autofocus integrity checking apparatus
EP1134696A3 (en) * 1995-03-29 2004-08-18 Fuji Photo Film Co., Ltd. Image processing method and apparatus
US5787208A (en) * 1995-06-07 1998-07-28 Neopath, Inc. Image enhancement method and apparatus
US5768401A (en) * 1995-08-02 1998-06-16 Lucent Technologies Inc. Balanced focus system and method for achieving optimal focus of different areas of an object that are concurrently imaged
US6718053B1 (en) * 1996-11-27 2004-04-06 Chromavision Medical Systems, Inc. Method and apparatus for automated image analysis of biological specimens
US6215892B1 (en) * 1995-11-30 2001-04-10 Chromavision Medical Systems, Inc. Method and apparatus for automated image analysis of biological specimens
US6043475A (en) * 1996-04-16 2000-03-28 Olympus Optical Co., Ltd. Focal point adjustment apparatus and method applied to microscopes
US5995143A (en) * 1997-02-07 1999-11-30 Q3Dm, Llc Analog circuit for an autofocus microscope system
US6122397A (en) * 1997-07-03 2000-09-19 Tri Path Imaging, Inc. Method and apparatus for maskless semiconductor and liquid crystal display inspection
US6130967A (en) * 1997-07-03 2000-10-10 Tri Path Imaging, Inc. Method and apparatus for a reduced instruction set architecture for multidimensional image processing
US6148099A (en) * 1997-07-03 2000-11-14 Neopath, Inc. Method and apparatus for incremental concurrent learning in automatic semiconductor wafer and liquid crystal display defect classification
US6396039B1 (en) * 1999-03-11 2002-05-28 Corning Incorporated Focusing filament for autofocus system
AU762085B2 (en) * 1999-04-13 2003-06-19 Chromavision Medical Systems, Inc. Histological reconstruction and automated image analysis
WO2000062241A1 (en) * 1999-04-14 2000-10-19 Tripath, Inc. Method and apparatus for determining microscope specimen preparation type
US7369304B2 (en) * 1999-10-29 2008-05-06 Cytyc Corporation Cytological autofocusing imaging systems and methods
GB0005194D0 (en) * 2000-03-04 2000-04-26 Idiris Limited Imaging system
WO2001075797A1 (en) * 2000-03-30 2001-10-11 British Telecommunications Public Limited Company Image processing
US6518554B1 (en) * 2000-05-24 2003-02-11 Chromavision Medical Systems, Inc. Reverse focusing methods and systems
US6763140B1 (en) 2000-09-07 2004-07-13 Chipworks Method and apparatus for focusing a micro-imaging system onto a tilted or uneven sample to acquire images of the sample
US6816606B2 (en) * 2001-02-21 2004-11-09 Interscope Technologies, Inc. Method for maintaining high-quality focus during high-throughput, microscopic digital montage imaging
US7155049B2 (en) * 2001-01-11 2006-12-26 Trestle Acquisition Corp. System for creating microscopic digital montage images
US6993169B2 (en) * 2001-01-11 2006-01-31 Trestle Corporation System and method for finding regions of interest for microscopic digital montage imaging
DE10106698A1 (de) * 2001-02-14 2002-08-29 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Fokussieren eines optischen Gerätes
JP2003125172A (ja) * 2001-10-10 2003-04-25 Pfu Ltd 画像読取装置の制御方法
EP1306805A1 (en) * 2001-10-25 2003-05-02 Mitsubishi Electric Information Technology Centre Europe B.V. Image Analysis
AU2002361618A1 (en) 2001-11-13 2003-05-26 Chromavision Medical Systems, Inc. A system for tracking biological samples
US20030118245A1 (en) * 2001-12-21 2003-06-26 Leonid Yaroslavsky Automatic focusing of an imaging system
US7221805B1 (en) * 2001-12-21 2007-05-22 Cognex Technology And Investment Corporation Method for generating a focused image of an object
US7272252B2 (en) * 2002-06-12 2007-09-18 Clarient, Inc. Automated system for combining bright field and fluorescent microscopy
JP4048265B2 (ja) * 2002-08-26 2008-02-20 独立行政法人科学技術振興機構 一細胞長期観察装置
US7302096B2 (en) * 2002-10-17 2007-11-27 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for low depth of field image segmentation
US20040105000A1 (en) * 2002-11-29 2004-06-03 Olymlpus Corporation Microscopic image capture apparatus
US7062079B2 (en) * 2003-02-14 2006-06-13 Ikonisys, Inc. Method and system for image segmentation
US6876776B2 (en) * 2003-02-14 2005-04-05 Ikonicys, Inc. System and method for auto-focusing an image
US6993187B2 (en) * 2003-02-14 2006-01-31 Ikonisys, Inc. Method and system for object recognition using fractal maps
US20040202357A1 (en) 2003-04-11 2004-10-14 Perz Cynthia B. Silhouette image acquisition
US7196300B2 (en) * 2003-07-18 2007-03-27 Rudolph Technologies, Inc. Dynamic focusing method and apparatus
US20050089208A1 (en) * 2003-07-22 2005-04-28 Rui-Tao Dong System and method for generating digital images of a microscope slide
US8659619B2 (en) * 2004-03-26 2014-02-25 Intellectual Ventures Fund 83 Llc Display device and method for determining an area of importance in an original image
TWM256493U (en) * 2004-04-30 2005-02-01 Shang Hang Internat Co Semi-automatic image-taking microscopic equipment for inspecting objects on conveyor
US7653260B2 (en) * 2004-06-17 2010-01-26 Carl Zeis MicroImaging GmbH System and method of registering field of view
US8582924B2 (en) * 2004-06-30 2013-11-12 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Data structure of an image storage and retrieval system
TWI422896B (zh) * 2004-07-12 2014-01-11 August Technology Corp 動態對焦方法及設備
US7113625B2 (en) * 2004-10-01 2006-09-26 U.S. Pathology Labs, Inc. System and method for image analysis of slides
US20060159325A1 (en) * 2005-01-18 2006-07-20 Trestle Corporation System and method for review in studies including toxicity and risk assessment studies
US20070031043A1 (en) * 2005-08-02 2007-02-08 Perz Cynthia B System for and method of intelligently directed segmentation analysis for automated microscope systems
US20070031056A1 (en) * 2005-08-02 2007-02-08 Perz Cynthia B System for and method of focusing in automated microscope systems
US20070091109A1 (en) * 2005-09-13 2007-04-26 Roscoe Atkinson Image quality
JP4915071B2 (ja) * 2005-09-22 2012-04-11 株式会社ニコン 顕微鏡、およびバーチャルスライド作成システム
US7697827B2 (en) 2005-10-17 2010-04-13 Konicek Jeffrey C User-friendlier interfaces for a camera
EP1986548B1 (en) 2006-02-15 2013-01-02 Hologic, Inc. Breast biopsy and needle localization using tomosynthesis systems
JP4917331B2 (ja) 2006-03-01 2012-04-18 浜松ホトニクス株式会社 画像取得装置、画像取得方法、及び画像取得プログラム
EP2028264A4 (en) * 2006-06-15 2012-10-24 Nikon Corp CELL INCUBATOR
US8179432B2 (en) * 2007-04-30 2012-05-15 General Electric Company Predictive autofocusing
CA2708211C (en) * 2007-08-17 2015-01-06 Oral Cancer Prevention International, Inc. Feature dependent extended depth of focusing on semi-transparent biological specimens
WO2009107321A1 (ja) * 2008-02-28 2009-09-03 株式会社ニコン 顕微鏡装置および細胞培養装置
AU2009218872B2 (en) 2008-02-29 2015-01-15 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods for tracking and providing workflow information
US20100157086A1 (en) * 2008-12-15 2010-06-24 Illumina, Inc Dynamic autofocus method and system for assay imager
DE102009041183A1 (de) * 2009-09-11 2011-03-24 Carl Zeiss Imaging Solutions Gmbh Verfahren zum automatischen Fokussieren eines Mikroskops auf ein vorbestimmtes Objekt sowie Mikroskop zum automatischen Fokussieren
WO2011043838A1 (en) 2009-10-08 2011-04-14 Hologic, Inc . Needle breast biopsy system and method of use
US20110115896A1 (en) * 2009-11-19 2011-05-19 Drexel University High-speed and large-scale microscope imaging
US9075903B2 (en) 2010-11-26 2015-07-07 Hologic, Inc. User interface for medical image review workstation
CN103477346A (zh) 2011-03-08 2013-12-25 霍洛吉克公司 用于筛查、诊断和活检的双能和/或造影增强乳房成像的系统和方法
DE102011075809A1 (de) * 2011-05-13 2012-11-15 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Festlegen eines z-Bereiches in einer Probe, in dem ein z-Stapel der Probe mittels eines Mikroskops aufzunehmen ist
KR102109588B1 (ko) 2011-11-27 2020-05-12 홀로직, 인크. 유방 조직 이미지를 프로세싱하고, 디스플레잉하고, 네비게이팅하기 위한 방법
US9805507B2 (en) 2012-02-13 2017-10-31 Hologic, Inc System and method for navigating a tomosynthesis stack using synthesized image data
WO2013170051A1 (en) 2012-05-09 2013-11-14 Advanced Animal Diagnostics, Inc. Sample cartridge and sample stage
WO2013192396A1 (en) 2012-06-20 2013-12-27 Advanced Animal Diagnostics, Inc. Sample collection and transfer assembly and related methods
JP6061619B2 (ja) 2012-10-30 2017-01-18 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
US10624598B2 (en) 2013-03-15 2020-04-21 Hologic, Inc. System and method for navigating a tomosynthesis stack including automatic focusing
JP6388347B2 (ja) 2013-03-15 2018-09-12 ホロジック, インコーポレイテッドHologic, Inc. 腹臥位におけるトモシンセシス誘導生検
JP6506769B2 (ja) 2014-02-28 2019-04-24 ホロジック, インコーポレイテッドHologic, Inc. トモシンセシス画像スラブを生成し表示するためのシステムおよび方法
US10690901B2 (en) 2014-10-29 2020-06-23 Molecular Devices, Llc Apparatus and method for generating in-focus images using parallel imaging in a microscopy system
JP6799924B2 (ja) * 2016-02-16 2020-12-16 株式会社Screenホールディングス 細胞観察装置および細胞観察方法
JP7169986B2 (ja) 2017-03-30 2022-11-11 ホロジック, インコーポレイテッド オブジェクトグリッド増強を用いて高次元画像データから低次元画像データを合成するためのシステムおよび方法
WO2018183548A1 (en) 2017-03-30 2018-10-04 Hologic, Inc. System and method for hierarchical multi-level feature image synthesis and representation
JP7174710B2 (ja) 2017-03-30 2022-11-17 ホロジック, インコーポレイテッド 合成乳房組織画像を生成するための標的オブジェクト増強のためのシステムおよび方法
EP3641635A4 (en) 2017-06-20 2021-04-07 Hologic, Inc. DYNAMIC SELF-LEARNING MEDICAL IMAGING PROCESS AND SYSTEM

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH518562A (de) * 1970-02-24 1972-01-31 Zeiss Carl Fa Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Fokussierung von Mikroskopen
US4045772A (en) * 1974-04-29 1977-08-30 Geometric Data Corporation Automatic focusing system
US4012634A (en) * 1974-04-29 1977-03-15 Geometric Data Corporation Automatic focusing system including quantizing means
US4000417A (en) * 1975-08-25 1976-12-28 Honeywell Inc. Scanning microscope system with automatic cell find and autofocus
US4342905A (en) * 1979-08-31 1982-08-03 Nippon Kogaku K.K. Automatic focusing device of a microscope
US4600832A (en) * 1983-10-28 1986-07-15 Nanometrics Incorporated Method and apparatus for automatic optical focusing on an optically discernible feature on an object
US4584704A (en) * 1984-03-01 1986-04-22 Bran Ferren Spatial imaging system
JPS61105623A (ja) * 1984-10-29 1986-05-23 Toray Ind Inc 物体上の位置の認識装置
JPS63167313A (ja) * 1986-12-27 1988-07-11 Hitachi Ltd 自動焦点制御方法
US4899194A (en) * 1987-11-24 1990-02-06 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method of and device for detecting image
US4965725B1 (en) * 1988-04-08 1996-05-07 Neuromedical Systems Inc Neural network based automated cytological specimen classification system and method
US5003165A (en) * 1989-05-25 1991-03-26 International Remote Imaging Systems, Inc. Method and an apparatus for selecting the best focal position from a plurality of focal positions
JP2928548B2 (ja) * 1989-08-02 1999-08-03 株式会社日立製作所 立体形状検出方法及びその装置
US5040228A (en) * 1989-08-28 1991-08-13 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for automatically focusing an image-acquisition device
US5257182B1 (en) * 1991-01-29 1996-05-07 Neuromedical Systems Inc Morphological classification system and method
DE4105001C2 (de) * 1991-02-19 1995-03-23 Hell Ag Linotype Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems
US5239170A (en) * 1991-10-23 1993-08-24 Karl Suss America, Incorporated Autofocus method and apparatus for imaging microscopy using a predetermined visual imaging feature
US5179419A (en) * 1991-11-22 1993-01-12 At&T Bell Laboratories Methods of detecting, classifying and quantifying defects in optical fiber end faces
US5315700A (en) * 1992-02-18 1994-05-24 Neopath, Inc. Method and apparatus for rapidly processing data sequences

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003501693A (ja) * 1999-06-04 2003-01-14 ジヤンセン・フアーマシユーチカ・ナームローゼ・フエンノートシヤツプ 顕微鏡用の強固な自動焦点システム
US9723036B2 (en) 2000-05-03 2017-08-01 Leica Biosystems Imaging, Inc. Viewing digital slides
JP2004514920A (ja) * 2000-05-03 2004-05-20 ダーク・ソーンクセン 全自動迅速顕微鏡用スライドスキャナ
JP2019056917A (ja) * 2000-05-03 2019-04-11 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドLeica Biosystems Imaging, Inc. 全自動高速顕微鏡スライドスキャナ
JP2019049751A (ja) * 2000-05-03 2019-03-28 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドLeica Biosystems Imaging, Inc. 全自動高速顕微鏡スライドスキャナ
US9851550B2 (en) 2000-05-03 2017-12-26 Leica Biosystems Imaging, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
JP2017194700A (ja) * 2000-05-03 2017-10-26 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッド 全自動迅速顕微鏡用スライドスキャナ
JP2011232762A (ja) * 2000-05-03 2011-11-17 Aperio Technologies Inc 全自動迅速顕微鏡用スライドスキャナ
JP2017194699A (ja) * 2000-05-03 2017-10-26 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッド 全自動迅速顕微鏡用スライドスキャナ
US9213177B2 (en) 2000-05-03 2015-12-15 Leica Biosystems Imaging, Inc. Achieving focus in a digital pathology system
US9386211B2 (en) 2000-05-03 2016-07-05 Leica Biosystems Imaging, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
JP2016167080A (ja) * 2000-05-03 2016-09-15 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドAperio Technologies, Inc. 全自動迅速顕微鏡用スライドスキャナ
JP2008535528A (ja) * 2005-01-18 2008-09-04 トレストル コーポレーション スライドの可変品質画像を形成するためのシステムおよび方法
US8237785B2 (en) 2006-08-14 2012-08-07 Olympus Corporation Automatic focusing apparatus for use in a microscope in which fluorescence emitted from a cell is captured so as to acquire a cell image, and automatic focusing method therefor
JP4663602B2 (ja) * 2006-08-14 2011-04-06 オリンパス株式会社 自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法
JP2008046305A (ja) * 2006-08-14 2008-02-28 Olympus Corp 自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法
WO2008020583A1 (fr) * 2006-08-14 2008-02-21 Olympus Corporation dispositif autofocus, microscope et procédé de mise au point automatique
JP2010512545A (ja) * 2006-12-11 2010-04-22 サイテック コーポレイション 画像焦点の質を評価するための方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0784805A2 (en) 1997-07-23
CA2200463C (en) 2002-04-16
WO1996010196A2 (en) 1996-04-04
US5647025A (en) 1997-07-08
WO1996010196A3 (en) 1996-07-04
AU3217195A (en) 1996-04-19
CA2200463A1 (en) 1996-04-04
AU709136B2 (en) 1999-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH10506206A (ja) 医・生物学標本の自動焦点装置
JP3822242B2 (ja) スライド及び試料の調製品質を評価するための方法及び装置
CA2200445C (en) Method and apparatus for detecting a microscope slide coverslip
US7428325B2 (en) Method and apparatus for automated image analysis of biological specimens
US7783098B2 (en) Method and apparatus for automated image analysis of biological specimens
EP2671113B1 (en) Fast auto-focus in microscopic imaging
CA2200457C (en) Biological analysis system self-calibration apparatus
JPH10508709A (ja) カバースリップ接着剤中の気泡を検出するための装置
CN107525768B (zh) 一种dna倍体分析设备的质量控制方法
CN110987886A (zh) 一种全自动显微影像荧光扫描系统
JPH10506462A (ja) 自動化された細胞学的スコアリングのために不適切な状態を検出するための方法および装置
CN115047610B (zh) 一种自动拟合显微对焦平面的染色体核型分析装置及方法
CN111105346A (zh) 基于峰值搜索和灰度模版配准的全扫描显微图像拼接方法
CN109816627A (zh) 平面玻璃元件油墨区弱小缺陷目标检测方法
CN109001902A (zh) 基于图像融合的显微镜聚焦方法
US4965842A (en) Method and apparatus for measuring feature dimensions using controlled dark-field illumination
CN111679418B (zh) 基于激光图像的显微镜自动聚焦方法、系统及计算机设备
JP2023529083A (ja) 走査有効性を解析する方法
JP2023535038A (ja) 顕微鏡のための全スライド撮像方法
CN112330586A (zh) 一种尿液分析仪诊断提速方法、尿液分析仪及计算机可读存储介质
WO2000062241A1 (en) Method and apparatus for determining microscope specimen preparation type
CN117073982A (zh) 探头式共聚焦内窥镜视场检测方法
Bell et al. Fully automated screening of immunocytochemically stained specimens for early cancer detection
CN114967099A (zh) 一种显微镜的自动对焦及自动识别测量方法
Capowski et al. Fully Automatic Neuron Tracing