JPH10505425A - 振動測定用のレーザ振動計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 レーザ振動計のレーザダイオード（１）は、レンズ（２）から偏光ビームスプリッタ（３）へ入射する光を放射する。光の一部は直接に集束レンズ（４）へ透過され、第２部分はミラー（５）へ変向される。偏光ビームスプリッタと、それぞれレンズ又はミラーとの間には、４分の１波長プレート（６）と（７）とが配置されている。ミラーの全反射光は、偏光ビームスプリッタを透過し、光検出ユニット（８）へ入射する。そこへは、矢印方向（１４）に振動する測定対象（１９）からの反射光も変向入射される。光検出ユニットの出力信号、すなわち双方の反射光の干渉によって発生する干渉信号は、分析評価電子装置（１０）へ送られる。この電子装置（１０）へは、電流変調器（１１）の信号も送られる。電流変調器（１１）は、他方、レーザダイオードに導体線（１２）を介して変調注入電流を供給する。集束レンズと測定対象との間隔は、基準アームより著しく長くされた光学的迂回路（１３）を形成している。

Description

【発明の詳細な説明】 振動測定用のレーザ振動計 本発明は、ヘテロダイン干渉計の原理で動作する振動測定用のレーザ振動計に 関するものである。 周知のように、特に自動車製造においては、構成部材の共振現象を分析するた めに、詳細な振動研究が必要である。例えばマルチン・フェーザー『振動の可視 化』（自動車技術ジャーナルＡＴＺ−Automobiltechnische Zeitschrift−９６ 号、１９９４年７／８月、４３３〜４３５頁）には、レーザ走査振動計が開示さ れている。この振動計は、非接触式のレーザドップラー測定技術と、走査された 測定点に対する急速フーリエ変換ＦＦＴによる分析とにより、振動数スペクトル を検出する。この公知走査振動計の中核は、１点振動計（Einpunktvibrometer） である。測定ヘッド内では、２個の走査ミラーを介して干渉計のレーザ光が、被 検面へ導かれる。光学的測定ヘッド内には、レーザ干渉計と走査ミラーのほかに 、付加的にビデオカメラが配置され、このビデオカメラを介して測定対象が観察 される。ビデオ画像により走査区域が、種々の調節可能な局所解像を介して定め られ、引き続きレーザ光で走査される。振動数帯の選択が可能なことによって、 運転振動の形態が決定される。この論文で説明されて いる測定システムは、もっぱら面振動の測定に、特に自動車のドアの振動測定に 用いられる。その場合、少数の特定振動数にもとづいて次のような箇所を確定す ることが問題となる。すなわち、振動振幅が大きすぎるため、減衰措置をできる だけ既に設計段階で決定し導入すべき箇所である。 ポリテック社（GmbH）のこの公知レーザ振動計Ｄ−７６３３７ ヴァルトブロ ン（Waldbronn）については、更に、その基本的な物理的測定技術と装置技術的 構成とが、マニュアルＶＩＢ−ＭＡＮ−９３０８−ｅ０４の第５章（５−１頁〜 ５−１１頁）にも詳説されている。その場合、必要な振動数シフトのため、レー ザ光は、ブラッグ−セル形式の音響光学式変調器により変調される。変調のため に、ブラッグ−セルには、高周波出力が供給される。基準レーザ光のこの変調は 、したがって、かなり高価な音響光学式変調器を必要とし、この変調器には、著 しく高周波の変調出力を供給せねばならず、加えて面倒な調節が必要である。 タツノ・キミオ及びツノダ・ヨシオの論文『ダイオード・レーザ直接変調ヘテ ロダイン干渉計』（APLLIED OPTICS誌、１９８７年１月１日発行、２６巻１号、 ３７〜４０頁）には、光学プレートを有するシステム内の光学ヘッドの波頭収差 の測定のために、干渉計を備えている。この干渉計の場合、レーザダイオードの 注入電流の変化によって振動数シフトが生じる。 発明の効果 請求項１記載の特徴を有する本発明によるレーザ振動計は、これに対し、必要 な振動数シフトが、はるかに簡単化された形式で達成できる利点を有している。 加えて、この形式は、より安価で、より簡単に調節できる。したがって、本発明 により、様々に適用可能で、高額の費用を要しない非接触式光学振動計が提供さ れる。 このことは、本発明の根本思想に従い、次のようにすることによって達成され た。すなわち、有利にはダイオードレーザのレーザ光の周波数変調が行われ、干 渉計アーム、有利には測定対象への光路内の干渉計アームが、基準アームより著 しく延長され、特に２０ｃｍを上回り、約１００ｃｍまでにしたのである。 請求項１に記載のレーザ振動計は、請求項２以下の各項に記載の措置によって 、更に、有利な構成、改善、有利な使用が可能になる。 本発明の特に有利な実施形式によれば、レーザ光の周波数変調は、レーザ注入 電流の変調、特にデルタ変調又はセラソイド変調によって行われる。この変調に より、本発明のレーザ振動計は、直接変調式と呼ぶことができる。 本発明によるレーザ振動計の別の有利な構成によれば、デルタ変調又はセラソ イド変調が、電流変調の振幅ｊ及び電流変調の周波数ｆにより行われる。そのさ い、この振幅は、数ｍＡの範囲とし、周波数は、１ＭＨｚを下回る値から数ＭＨ ｚまでの範囲とすることができる。 本発明レーザ振動計の別の有利な構成によれば、振動測定、特に、軸方向の、 いわゆる面外れ（out of plane）の振動測定の場合に、マイケルソン干渉計が用 いられる。 本発明のレーザ振動計の特に有利な構成によれば、偏光ビームスプリッタが、 ２個の４分の１波長プレートを、それぞれ、基準光路内に１個、測定対象光路内 に１個、備えている。 本発明による構成のレーザ振動計の特に有利な１使用例では、レーザ振動計が 、激しい騒音及び又は不快な騒音を発する箇所を検出するために、機器又は機器 の構成部材の振動測定に用いられる。 本発明による構成のレーザ振動計の特に有利な第２の使用例の場合、レーザ振 動計は、大きい振幅及び又は振動数の上で特に臨界的な振幅により、破断の危険 及び又は早期摩耗の危険を有する箇所を検出するさいに用いられる。 更に、本発明によるレーザ振動数の特に有利な別の使用例では、レーザ振動計 が、分析時には内燃機関の回転数に変換可能な、律動的に反復される振動を検出 するため、機器又はその構成部材の振動測定に用いられる。 図面 以下で、本発明を図示の実施例につき詳説する。 図１は、本発明による構成の直接変調されるレーザ振動計の主な構成要素を略 示した図である。 図２は、レーザダイオードの、セラソイド変調された注入電流ｊと時間ｔとの 関係を略示した図である。 図３は、直接変調により得られた周波数ｖと、ヘテロダイン周波数Δｖに達す る時間ｔとの関係を略示した図である。 図４は、上半部に干渉出力信号を、下半部に所属レーザダイオード注入電流を 示した線図である。 実施例の説明 図１には、本発明による直接変調されたレーザダイオードの主な構成要素が示 されている。振動測定時、特に軸方向の、いわゆる面外れの振動測定の場合には 、マイケルソン干渉計を使用する。レーザダイオード１は、レンズ２により、平 行な光路で偏光ビームスプリッタ３へ導かれる光を放射する。この光の一部は、 直接に集束ないし焦点合わせレンズ（Abbildungslinse）４へ透過し、光の第２ の部分は、４５°変向されミラー５へ入射する。偏光ビームスプリッタ３と、そ れぞれレンズ４又はミラー５との間には、４分の１波長プレート６又は７が配置 されている。この場合、４分の１波長プレート７は、ミラー５の全反射光が、偏 光ビームスプリッタ３を通過して、光検出ユニット８へ 入射するように働く。また、４分の１波長プレート６は、測定対象９からの全反 射光が、偏光ビームスプリッタ３内で４５°変向され、光検出ユニット８へ向か うように働く。 光検出ユニット８の出力信号は、双方の反射光の干渉によって発生する干渉信 号であり、この信号は、分析評価電子装置１０へ送られる。この電子装置１０へ は、また電流変調器１１の信号も送られる。電流変調器１１は、他方、レーザダ イオード１へ導体線１２を介して、本発明により、変調注入電流ｊを供給する。 集束レンズ４と測定対象９との間の間隔は、光学的迂回路１３又は干渉計アーム を形成する。この干渉計アーム１３は、本発明によれば、基準アームより著しく 長くされている。迂回路１３の値、すなわち長さは、特に２０ｃｍを上回り、最 大約１００ｃｍとすることができる。測定対象９は、特に両方向矢印１４の方向 に振動する。光路に沿ったこの振動方向は、軸方向又は面外れ方向と呼ばれる。 レーザダイオード１の注入電流は、例えば図２に示したように、セラソイド変 調又はデルタ変調される。しかも、振幅ｊ及び周波数ｆで変調される。図２には 、振幅ｊと時間ｔとの関係が示されている。熱作用の結果、屈折率が変化するこ とによって、共振器の光学的長さが変化する。これによって、レーザ光の周波数 が変調される。周波数−電流係数βは、異なるレーザ ダイオード毎に異なり、温度と変調周波数とに依存する。前記係数βは、例えば 約３ＧＨｚ／ｍＡの値を有することができる。 図１に示したように、レーザダイオード１の光は、偏光ビームスプリッタ３に よって分割される。ミラー５の反射光と測定対象９から戻る反射光とは、異なる 時間で光検出ユニット８に到達する。 図３は、時間ｔと周波数ｖとの関係を示した線図で、光検出ユニット８に到達 した信号の干渉時の関係を略示したものである。２つの反射光は、符号３５、３ ９で示され、光検出ユニット８には、異なる２つの時点Ａ，Ｂに到達する。これ によって生じる伝搬速度差Δｔは、著しく延長された長さΔＬを有する干渉計ア ーム１３を通過する伝搬速度と合致する。伝搬速度差Δｔのため、双方の反射光 ３５、３９には、相応の周波数差Δｖが生じる。この周波数差は、干渉周波数又 はヘテロダイン周波数とも呼ばれ、次の方程式で算定できる： Δv＝ｊ^*β^*ｆ^*ΔL^*ｃ^-1 図４には、ミリ秒単位で示された時間軸ｔ上に、上半部には、測定された干渉 出力信号、すなわち異なる周波数を有する２つの光波の例が示され、下半部には 配属されたセラソイド注入電流が示されている。 数値例と前記方程式とによって、周波数差の値が、次のように明らかになる： ｊ＝２mA 電流変調の振幅 β＝３^*10⁹Hz/rrLA レーザダイオードの周波数−電流係数 ｆ＝10⁶Hz 電流変調の周波数 ΔL＝2^*50 cm＝１ｍ レーザ振動計と測定対象との２重の間隔 Δv＝2^*3^*10^9*10⁶/3^*10⁸ ⇒ Δv＝20 MHz. したがって、本発明により提供されるレーザ振動計では、簡単な手段により、 レーザダイオードの直接電流変調、干渉計アームの著しい延長、測定対象の軸方 向振動の方向認知に要する周波数差を得ることができる。 この本発明による構成のレーザ振動計は、特に有利に種々の適用分野に極めて 効率的に利用できる。特に有利な１使用例は、レーザ振動計が、激しい騒音及び 又は不快な騒音を発する箇所、又は大きい振幅及び又は振動数の上で特に臨界的 な振幅により、破断の危険及び又は早期摩耗の危険がある箇所を検出するために 、機器又は機器の構成部材の振動測定に用いられる場合である。 本発明によるレーザ振動計の特に有利な別の使用例は、レーザ振動計が、分析 時には内燃機関の回転数に変換可能な、律動的に反復される振動を検出するため 、機器又はその構成部材の振動測定に用いられる場合である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ミヒャエル ヴァン コイレン ドイツ連邦共和国 70499 シュツットガ ルト ザントブッケル 72

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １． ヘテロダイン干渉計の原理にしたがって動作する振動測定用レーザ振動 計において、 必要な周波数差（Δｖ）を得るために、有利にはレーザダイオード（１）のレ ーザ光の周波数を変調し、干渉計アーム、有利には測定対象への光路内の干渉計 アーム（１３）が、基準アームより著しく長くされ、特に２０ｃｍを上回り、最 大約１００ｃｍであることを特徴とする、振動測定用のレーザ振動計。 ２． レーザ光の周波数変調が、レーザ注入電流の変調、特に、電流変調器（ １１）によるデルタ変調又はセラソイド変調によって行われることを特徴とする 、請求項１記載のレーザ振動計。 ３． デルタ変調又はセラソイド変調が、電流変調の振幅ｊと周波数ｆとで行 われ、しかも、振幅は数ｍＡの範囲、周波数は１ＭＨｚを下回る値から数ＭＨｚ までの範囲とし得ることを特徴とする、請求項２記載のレーザ振動計。 ４． 振動測定、特に軸方向の、いわゆる面外れ方向の振動測定用に、マイケ ルソン干渉計が備えられていることを特徴とする、請求項１から３のいずれか１ 項に記載のレーザ振動計。 ５． ２個の４分の１波長プレート（６、７）を有する偏光ビームスプリッタ （３）が、それぞれ１個の ４分の１波長プレートを、基準光路内と測定対象光路内とに備えていることを特 徴とする、請求項１から４のいずれか１項に記載のレーザ振動計。 ６． 激しい騒音及び又は不快な騒音の原因となる箇所を検出するため、機器 又は機器の構成部材の振動測定に、レーザ振動計が用いられることを特徴とする 、請求項１から５のいずれか１項に記載のレーザ振動計。 ７． 大きい振幅及び又は振動数の上で特に臨界的な振幅によって、破断の危 険及び又は早期の摩耗の危険が存在する箇所を検出するため、機器又は機器の構 成部材の振動測定に、レーザ振動計が用いられることを特徴とする、請求項１か ら５のいずれか１項に記載のレーザ振動計。 ８． 分析評価時に特に内燃機関の回転速度に変換可能な、律動的に反復可能 の振動を検出するため、機器又は機器の構成部材の振動測定に、レーザ振動計が 用いられることを特徴とする、請求項１から５のいずれか１項に記載のレーザ振 動計。