JPH1047943A - Three-dimensional measuring device - Google Patents
Three-dimensional measuring deviceInfo
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- JPH1047943A JPH1047943A JP8203896A JP20389696A JPH1047943A JP H1047943 A JPH1047943 A JP H1047943A JP 8203896 A JP8203896 A JP 8203896A JP 20389696 A JP20389696 A JP 20389696A JP H1047943 A JPH1047943 A JP H1047943A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえば車両のパ
ネルの三次元形状を測定する三次元計測装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a three-dimensional measuring device for measuring, for example, a three-dimensional shape of a vehicle panel.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来から、試作工程や検査工程におい
て、ボディーの形状やドアパネル等の部品の形状は設計
通りであるか、制作された車両の寸法などが設計通りで
あるか等を三次元自動計測装置で計測している。2. Description of the Related Art Conventionally, in a trial manufacturing process or an inspection process, a three-dimensional automatic determination is made as to whether the shape of a body or the shape of a part such as a door panel is as designed or whether the dimensions of a produced vehicle are as designed. Measured with a measuring device.
【0003】たとえば、ドアパネルの形状を計測する場
合、三次元自動計測装置が備える測定プローブの先端部
分を予め設定してある測定ポイントにCADで作成され
た位置データを基に動かし、その測定ポイントの座標を
測定するという作業を、車両の全ての測定ポイントに対
して行なっている。For example, when measuring the shape of a door panel, the tip of a measuring probe provided in a three-dimensional automatic measuring device is moved to a preset measuring point based on position data created by CAD, and the position of the measuring point is measured. The operation of measuring the coordinates is performed for all the measurement points of the vehicle.
【0004】この測定においては、ドアパネルに対して
測定プローブをどのような接触圧で接触させるかという
ことが測定精度に大きな影響を与える(たとえば、ドア
パネルが薄い鋼板で形成されている場合には、測定プロ
ーブの接触圧で撓むことになるが、これが測定精度に大
きく影響する。)ことから、通常は、各測定ポイントに
ついて予め測定プローブの接触角度を決めておき(測定
ポイントが撓みやすい部分であるときには接触角度を小
さく設定し、逆に強度がある部分であるときに接触角度
を大きく設定する。)できるだけ精度の良い計測を行え
るようにしている。In this measurement, the contact pressure at which the measurement probe is brought into contact with the door panel greatly affects the measurement accuracy (for example, when the door panel is formed of a thin steel plate, The contact pressure of the measurement probe causes the deflection, which greatly affects the measurement accuracy.) Therefore, usually, the contact angle of the measurement probe is determined in advance for each measurement point (in a portion where the measurement point is easily bent). In some cases, the contact angle is set small, and conversely, in areas where the strength is high, the contact angle is set large.) The measurement is made as accurate as possible.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】このような従来の三次
元自動測定装置によれば、測定ポイントにおけるドアパ
ネルの強度を考慮して、測定プローブの接触角度を設定
しているので、ある程度の測定精度は得られるものの、
さらに高精度の測定が要求された場合には、その要求に
応えるのは非常に困難である。According to such a conventional three-dimensional automatic measuring apparatus, since the contact angle of the measuring probe is set in consideration of the strength of the door panel at the measuring point, a certain degree of measuring accuracy is obtained. Can be obtained,
If more accurate measurement is required, it is very difficult to meet the requirement.
【0006】もちろん、測定ポイント毎に最適の接触角
度を算出し、これを測定ポイント毎に設定することは可
能であるが、ドアパネルにおける各測定ポイントの強度
は常に同じであるとは限らないし、ドアパネルを測定治
具上にどのように置くかによっても各測定ポイントの強
度は微妙に異なるはずであるから、演算により求めた接
触角度が必ずしも最適であるとは言えない。Of course, it is possible to calculate the optimum contact angle for each measurement point and set it for each measurement point. However, the strength of each measurement point on the door panel is not always the same, and the door panel is not always the same. Since the strength of each measurement point should differ slightly depending on how is placed on the measurement jig, the contact angle obtained by the calculation is not always optimal.
【0007】本発明は、このような従来の問題点を解決
するために成されたものであり、測定対象物に対する測
定プローブの最適な接触角度を測定時に算出し、この接
触角度での測定を行えるようにした三次元計測装置の提
供を目的とする。The present invention has been made to solve such a conventional problem. An optimum contact angle of a measurement probe with respect to a measurement object is calculated at the time of measurement, and the measurement at this contact angle is performed. It is an object of the present invention to provide a three-dimensional measuring device that can be used.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明は、各請求項毎に次のように構成されてい
る。The present invention for achieving the above object is constituted as follows for each claim.
【0009】請求項1に記載の発明にあっては、接触式
の測定プローブを有する三次元計測装置において、測定
対象物を測定する際に、当該測定対象物と前記測定プロ
ーブとが干渉しない範囲内で前記測定対象物に対する前
記測定プローブの接触圧が最適となるように前記測定プ
ローブの前記測定対象物に対する接触角度を制御する制
御手段を備えていることを特徴とする三次元計測装置で
ある。According to the first aspect of the present invention, in a three-dimensional measuring apparatus having a contact-type measuring probe, when measuring the measuring object, the range in which the measuring object and the measuring probe do not interfere with each other. A three-dimensional measuring apparatus, comprising: a control unit that controls a contact angle of the measurement probe with respect to the measurement target such that a contact pressure of the measurement probe with respect to the measurement target within the measurement target is optimized. .
【0010】このように構成すると、測定対象物に対す
る接触圧を、測定対象物と測定プローブとが干渉しない
範囲内で接触角度を変える(撓み易いものに対しては接
触角度を小さくする)ことによって自在に調整すること
ができるようになるので、測定対象物が撓みやすいもの
であっても、高精度の測定をすることが可能となる。With this configuration, the contact pressure on the object to be measured is changed by changing the contact angle within a range where the object and the measurement probe do not interfere with each other (the contact angle is reduced for a flexible object). Since it can be adjusted freely, it is possible to perform high-precision measurement even if the measurement object is easily bent.
【0011】請求項2に記載の発明にあっては、接触式
の測定プローブを有する三次元計測装置において、測定
対象物を測定する際に、当該測定対象物に対する前記測
定プローブの接触圧が基準値を越えないように前記測定
プローブの接近速度を制御する制御手段を備えているこ
とを特徴とする三次元計測装置である。In the three-dimensional measuring apparatus having a contact-type measuring probe, the contact pressure of the measuring probe with respect to the measuring object is measured when measuring the measuring object. A three-dimensional measuring apparatus comprising a control means for controlling an approach speed of the measurement probe so as not to exceed a value.
【0012】このように構成すると、測定対象物への測
定プローブの接近速度を変える(撓み易いものに対して
は測定プローブがゆっくりと接触するようにする)こと
によって、基準値を越えないように調整することができ
るようになり、測定対象物が撓みやすいものであって
も、高精度の測定をすることが可能となる。With this configuration, the reference speed is not exceeded by changing the approach speed of the measurement probe to the object to be measured (by making the measurement probe slowly contact an object that is easily bent). Adjustment can be performed, and high-precision measurement can be performed even when the measurement target is easily bent.
【0013】請求項3に記載の発明にあっては、接触式
の測定プローブを有する三次元計測装置において、測定
対象物を測定する際に、当該測定対象物と定測記前プロ
ーブとが干渉しない範囲内で前記測定対象物に対する前
記測定プローブの接触圧が最適となるように前記測定プ
ローブの前記測定対象物に対する接触角度を制御する一
方、当該接触圧が基準値を越えないように前記測定プロ
ーブの接近速度を制御する制御手段を備えていることを
特徴とする三次元計測装置である。According to the third aspect of the present invention, in the three-dimensional measuring apparatus having the contact-type measuring probe, when the measuring object is measured, the measuring object interferes with the probe before fixed measurement. While controlling the contact angle of the measurement probe to the measurement object so that the contact pressure of the measurement probe to the measurement object is optimal within a range not to be measured, the measurement is performed so that the contact pressure does not exceed a reference value. A three-dimensional measuring apparatus comprising a control means for controlling an approach speed of a probe.
【0014】このように構成すると、測定プローブの接
触角度と接近速度との双方を変化させることができるか
ら、調整できる接触圧の範囲をさらに拡大することがで
き、基準値を越えないように広範囲で調整することがで
きるようになり、測定対象物が撓みやすいものであって
も、高精度の測定をすることが可能となる。With this configuration, since both the contact angle and the approach speed of the measurement probe can be changed, the range of the contact pressure that can be adjusted can be further expanded, and the range of the contact pressure that can be adjusted can be widened so as not to exceed the reference value. It is possible to perform high-accuracy measurement even if the object to be measured is easily bent.
【0015】請求項4に記載の発明にあっては、測定対
象物に接触させて、その測定ポイントの座標を検出する
測定プローブと、当該測定ポイントにおける前記測定対
象物に対する前記測定プローブの接触圧を検出する接触
圧検出手段と、当該接触圧検出手段による接触圧が基準
値を越える場合には、当該接触圧が基準値内となるよう
に、前記測定プローブの前記測定対象物に対する接触角
を変更する制御手段とを有することを特徴とする三次元
計測装置である。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a measuring probe which is brought into contact with a measuring object to detect the coordinates of the measuring point, and a contact pressure of the measuring probe at the measuring point with respect to the measuring object. Contact pressure detecting means for detecting the contact pressure, if the contact pressure by the contact pressure detecting means exceeds a reference value, so that the contact pressure is within the reference value, the contact angle of the measurement probe with respect to the object to be measured A three-dimensional measuring device, characterized by having a control means for changing.
【0016】このように構成すると、測定対象物に対す
る接触圧を接触角度を変える(撓み易いものに対しては
接触角度を小さくする)ことによって自在に調整するこ
とができるようになるので、測定対象物が撓みやすいも
のであっても、高精度の測定をすることが可能となる。With such a configuration, the contact pressure on the object to be measured can be freely adjusted by changing the contact angle (or decreasing the contact angle for a flexible object). Even if the object is easy to bend, high-precision measurement can be performed.
【0017】請求項5に記載の発明にあっては、測定対
象物における測定ポイントを記憶する測定ポイント記憶
手段と、前記測定対象物のCADデータを記憶するCA
Dデータ記憶手段とをさらに有し、前記制御手段は、前
記測定ポイント記憶手段に記憶されている測定ポイント
と前記CADデータ記憶手段に記憶されているCADデ
ータとから、前記測定プローブが前記測定対象物に干渉
しない範囲内で前記接触圧が基準値内となるように、前
記測定プローブの前記測定対象物に対する接触角を変更
することを特徴とする請求項2に記載の三次元計測装置
である。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a measuring point storing means for storing measuring points on a measuring object, and a CA for storing CAD data of the measuring object.
D data storage means, wherein the control means determines the measurement probe from the measurement points stored in the measurement point storage means and the CAD data stored in the CAD data storage means. The three-dimensional measuring apparatus according to claim 2, wherein a contact angle of the measurement probe with respect to the measurement target is changed such that the contact pressure is within a reference value within a range that does not interfere with an object. .
【0018】このように構成すると、測定対象物に対す
る接触圧を、測定プローブが測定対象物に干渉しない範
囲内で接触角度を変える(撓み易いものに対しては接触
角度を小さくする)ことによって自在に調整することが
できるようになるので、測定対象物が撓みやすいもので
あっても、高精度の測定をすることが可能となる。With this configuration, the contact pressure on the object to be measured can be freely changed by changing the contact angle within a range in which the measuring probe does not interfere with the object to be measured (reducing the contact angle for a flexible object). Therefore, it is possible to perform high-precision measurement even if the object to be measured is easily bent.
【0019】請求項6に記載の発明にあっては、前記制
御手段は、前記接触圧が基準値内となるように、前記測
定プローブの前記測定対象物に対する接近速度を調整す
る手段をさらに含むことを特徴とする請求項4または請
求項5に記載の三次元計測装置。According to a sixth aspect of the present invention, the control means further includes means for adjusting an approach speed of the measurement probe to the object to be measured such that the contact pressure is within a reference value. The three-dimensional measuring apparatus according to claim 4 or 5, wherein:
【0020】このように構成すると、測定対象物への測
定プローブの接近速度を変える(撓み易いものに対して
は測定プローブがゆっくりと接触するようにする)こと
によって、基準値を越えないように調整することができ
るようになり、測定対象物が撓みやすいものであって
も、高精度の測定をすることが可能となる。With such a configuration, the reference speed is not exceeded by changing the approach speed of the measurement probe to the object to be measured (by making the measurement probe slowly contact an object that is easily bent). Adjustment can be performed, and high-precision measurement can be performed even when the measurement target is easily bent.
【0021】請求項7に記載の発明にあっては、測定対
象物に接触させて、その測定ポイントの座標を検出する
測定プローブと、前記測定対象物における測定ポイント
を記憶する測定ポイント記憶手段と、前記測定対象物の
CADデータを記憶するCADデータ記憶手段と、前記
測定対象物に対する測定プローブの接触圧を検出する接
触圧検出手段と、前記測定ポイント記憶手段に記憶され
ている測定ポイントと前記CADデータ記憶手段に記憶
されているCADデータとに基づいて、前記測定プロー
ブが前記測定対象物に干渉しない不干渉範囲を算出し、
当該不干渉範囲内で前記測定プローブの接触角度を算出
し、当該接触角度をもって前記測定プローブを測定ポイ
ントに接触させる第1制御手段と、当該測定ポイントに
おける接触圧が基準値を越える場合には、当該基準値を
越えないように前記不干渉範囲内で前記測定プローブの
接触角度を変更し、当該接触角度をもって前記測定プロ
ーブを測定ポイントに接触させる第2制御手段と、当該
測定ポイントにおける接触圧が基準値を越える場合に
は、当該基準値を越えないように前記測定プローブの前
記測定対象物に対する接近速度を調整して前記測定プロ
ーブを測定ポイントに接触させる第3制御手段とを有す
ることを特徴とする三次元計測装置。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a measuring probe which is brought into contact with a measuring object to detect the coordinates of the measuring point, and a measuring point storage means for storing the measuring point on the measuring object. A CAD data storage unit that stores CAD data of the measurement target; a contact pressure detection unit that detects a contact pressure of a measurement probe with respect to the measurement target; a measurement point stored in the measurement point storage unit; Based on the CAD data stored in the CAD data storage means, calculate a non-interference range in which the measurement probe does not interfere with the measurement target,
Calculating the contact angle of the measurement probe within the non-interference range, the first control means for bringing the measurement probe into contact with the measurement point with the contact angle, and when the contact pressure at the measurement point exceeds a reference value, A second control unit that changes a contact angle of the measurement probe within the non-interference range so as not to exceed the reference value, and causes the measurement probe to contact the measurement point with the contact angle; A third control unit that adjusts an approach speed of the measurement probe to the measurement object so that the measurement probe does not exceed the reference value and makes the measurement probe contact a measurement point when the reference value is not exceeded. 3D measurement device.
【0022】このように構成すると、測定プローブの接
触角度と接近速度との双方を変化させることができるか
ら、調整できる接触圧の範囲をさらに拡大することがで
き、基準値を越えないように広範囲で調整することがで
きるようになり、測定対象物が撓みやすいものであって
も、高精度の測定をすることが可能となる。With this configuration, since both the contact angle and the approach speed of the measuring probe can be changed, the range of the contact pressure that can be adjusted can be further expanded, and the range of the contact pressure that can be adjusted can be widened so as not to exceed the reference value. It is possible to perform high-accuracy measurement even if the object to be measured is easily bent.
【0023】[0023]
【発明の実施の形態】以下、本発明の1実施形態を、図
面に基づいて詳細に説明する。図1は、本発明にかかる
三次元計測装置の外観図である。図示されているよう
に、この計測装置10には、車両のボディー12が所定
の姿勢で高精度に位置決め載置されている。この計測装
置10には、測定プローブ14をX,Y,Z方向に移動
させるためのアーム16,18が設けられている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an external view of a three-dimensional measuring apparatus according to the present invention. As shown in the figure, a body 12 of a vehicle is positioned and mounted on the measuring device 10 with high accuracy in a predetermined posture. The measurement device 10 is provided with arms 16 and 18 for moving the measurement probe 14 in the X, Y, and Z directions.
【0024】測定プローブ14は、図2に示すような方
向に回動および接触角度変更自在に支持されている。ま
た、測定プローブ14の付け根の部分には、X,Y,Z
の三次元方向の接触力(接触圧)を測定するトルクセン
サ20が設けられ、その先端部分は球状になっている。The measurement probe 14 is supported so that it can rotate and change the contact angle in the direction shown in FIG. In addition, X, Y, Z
A torque sensor 20 for measuring the contact force (contact pressure) in the three-dimensional direction is provided, and the tip portion is spherical.
【0025】この測定プローブ14の先端部分がボディ
ー12に接触すべき位置の3次元位置データの生成に
は、測定ポイントを示すデータ、すなわち測定ポイント
データと、設計位置データとしてボディー12の設計時
に作成されたCADデータとが用いられる。本実施の形
態では、この測定ポイントデータは後述するデータベー
ス内に記憶されているが、その数は、ボディー12の形
状を認識するのに必要十分なポイント数である。また、
この測定ポイントデータには、測定プローブ14の接触
角度も設定されている。In order to generate three-dimensional position data of a position where the tip of the measuring probe 14 is to come into contact with the body 12, data indicating a measuring point, that is, measuring point data, and design position data are generated at the time of designing the body 12. The CAD data obtained is used. In the present embodiment, the measurement point data is stored in a database described later, but the number is the number of points necessary and sufficient to recognize the shape of the body 12. Also,
The contact angle of the measurement probe 14 is also set in the measurement point data.
【0026】したがって、測定プローブ14は、測定ポ
イントデータによって指定されるCADデータ上の座標
に、測定ポイントデータに含まれる接触角度をもってボ
ディー12上を接触することになる。Therefore, the measurement probe 14 comes into contact with the coordinates on the CAD data specified by the measurement point data on the body 12 with the contact angle included in the measurement point data.
【0027】図3は、本発明にかかる三次元計測装置の
制御系を示すブロック図である。図中のデータベース2
5には、ボディー12上の測定箇所およびその測定箇所
における測定プローブ14の接触角度が記憶されてい
る。測定箇所は、ボディー12の形状を計測するのに必
要十分な数が予め用意され、また、接触角度は、高精度
の測定が行い得るように経験に基づいて予め設定してお
く。FIG. 3 is a block diagram showing a control system of the three-dimensional measuring apparatus according to the present invention. Database 2 in the figure
5 stores a measurement location on the body 12 and a contact angle of the measurement probe 14 at the measurement location. A sufficient number of measurement points are prepared in advance for measuring the shape of the body 12, and the contact angles are set in advance based on experience so that highly accurate measurement can be performed.
【0028】データベース26には、このボディー12
を設計する際に作成されたCADデータである設計位置
データが記憶されている。The database 12 contains the body 12
The design position data, which is CAD data created when designing the data, is stored.
【0029】干渉チェック部28は、測定ポイントデー
タおよびCADデータに基づいて、測定ポイントの座標
上を指定されている接触角度で測定プローブ14を接触
させた場合に、ボディー12と測定プローブ14および
その支持部分とが干渉を起こさないか、つまり、測定が
不能となるかどうかをチェックする部分である。When the measurement probe 14 is brought into contact with a specified contact angle on the coordinates of the measurement point based on the measurement point data and the CAD data, the interference check unit 28 This is a part for checking whether interference with the supporting part occurs, that is, whether measurement becomes impossible.
【0030】プローブ角度制御部30は、干渉チェック
部28によって干渉しないと判断された角度に測定プロ
ーブ14を設定する部分である。具体的には、図2にお
いて測定プローブ14の先端の球状部分をその支持軸を
中心に上下方向に動かすものである。The probe angle controller 30 sets the measuring probe 14 to an angle determined not to interfere by the interference checker 28. Specifically, in FIG. 2, the spherical portion at the tip of the measurement probe 14 is moved up and down about its support axis.
【0031】接触圧判断部32は、トルクセンサ20に
よって検出された測定プローブの三次元方向の接触圧
を、それぞれの方向毎に検出し、これらの接触圧がデー
タベース33に記憶されている圧力基準値よりもどの程
度大きいか小さいかを判断するものである。The contact pressure judging section 32 detects the three-dimensional contact pressure of the measuring probe detected by the torque sensor 20 for each direction, and these contact pressures are stored in the pressure reference data stored in the database 33. This is to determine how much larger or smaller than the value.
【0032】測定スピード制御部34は、接触圧判断部
32の判断結果に基づいて、測定プローブ14の測定ス
ピードを変化させるものである。つまり、測定プローブ
14を比較的早くボディー12に対して接近させると接
触圧が大きく(オーバーランの影響で)、逆に、非常に
ゆっくりと接近させると接触圧が小さくなることから、
接触圧判断部32において接触圧が圧力基準値を越えた
と判断したときには、接近速度を遅くして、接触圧が圧
力基準値内に入るようにするものである。The measuring speed control unit 34 changes the measuring speed of the measuring probe 14 based on the result of the judgment by the contact pressure judging unit 32. That is, if the measurement probe 14 approaches the body 12 relatively quickly, the contact pressure increases (due to the effect of overrun), and if it approaches very slowly, the contact pressure decreases.
When the contact pressure determining section 32 determines that the contact pressure has exceeded the reference pressure value, the approach speed is reduced so that the contact pressure falls within the reference pressure value.
【0033】具体的には、下記のようなテーブルとして
持っている。なお、このテーブルはX,Y,Zの3軸に
共通のものである。Specifically, it has the following table. This table is common to the three axes X, Y, and Z.
【0034】 基準値超過割合 速度調整 +50%以上 −50% +40%以上〜50%未満 −40% +30%以上〜40%未満 −30% +20%以上〜30%未満 −20% +10%以上〜20%未満 −10% −10%以上〜+10%未満 0 ・ ・ ・ ・ ・ ・ また、プローブ角度算出部36は、接触圧判断部32の
判断結果に基づいて、測定プローブ14の接触角度を変
化させるものである。つまり、測定プローブ14をボデ
ィー12に対して大きな接触角で測定すると接触圧は一
般的に大きくなり、逆に小さな角度で測定すると接触圧
が小さくなることから、接触圧判断部32において接触
圧が圧力基準値を越えたと判断したときには、接触角度
を小さくして、接触圧が圧力基準値内に入るようにする
ものである。Exceeding standard value ratio Speed adjustment + 50% or more -50% + 40% or more to less than 50% -40% + 30% or more to less than 40% -30% + 20% or more to less than 30% -20% + 10% or more to 20% % Less than -10% -10% or more to less than + 10% 0 ·········· The probe angle calculation unit 36 changes the contact angle of the measurement probe 14 based on the result of the determination by the contact pressure determination unit 32. Things. That is, when the measurement probe 14 is measured at a large contact angle with respect to the body 12, the contact pressure generally increases, and when measured at a small angle, the contact pressure decreases. When it is determined that the pressure exceeds the pressure reference value, the contact angle is reduced so that the contact pressure falls within the pressure reference value.
【0035】具体的には、下記のようなテーブルとして
持っている。なお下記のテーブルはX軸に対するもので
ある。実際にはこのようなテーブルをX,Y,Z軸にそ
れぞれ持っている。Specifically, it has the following table. The following table is for the X axis. Actually, such a table is provided on each of the X, Y, and Z axes.
【0036】 基準値超過割合 接触角度調整量 +50%以上 −50゜ +40%以上〜50%未満 −40゜ +30%以上〜40%未満 −30゜ +20%以上〜30%未満 −20゜ +10%以上〜20%未満 −10゜ −10%以上〜+10%未満 0゜ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 以上のように、構成された本発明の三次元計測器は、概
略以下のように動作する。以下の動作は、請求項1から
請求項7に記載の発明に関するものである。Reference value excess ratio Contact angle adjustment amount + 50% or more −50 ° + 40% or more to less than 50% −40 ° + 30% or more to less than 40% −30 ° + 20% to less than 30% −20 ° + 10% or more未 満 <20% −10% -10% or more to less than + 10% 0 ゜... The three-dimensional measuring instrument of the present invention configured as described above operates roughly as follows. The following operation is related to the invention described in claims 1 to 7.
【0037】三次元計測器10は、測定ポイントデータ
とCADデータとに基づき、測定ポイントの座標上まで
測定プローブ14の球状部分を移動させ、測定プローブ
14をボディ12に対して所定の角度で接近させる。こ
の球状部分がボディー12に接触し、測定プローブ14
がさらに下降すると、「カチッ」という音がして図示し
ないスイッチが入り、このスイッチのオンと同時に、三
次元計測装置の各アームの位置が認識されて、測定が完
了する。The three-dimensional measuring device 10 moves the spherical portion of the measuring probe 14 to the coordinates of the measuring point based on the measuring point data and the CAD data, and moves the measuring probe 14 toward the body 12 at a predetermined angle. Let it. This spherical portion comes into contact with the body 12 and the measuring probe 14
Is further lowered, a "click" sound is heard, and a switch (not shown) is turned on. At the same time as this switch is turned on, the position of each arm of the three-dimensional measuring apparatus is recognized, and the measurement is completed.
【0038】この時、測定プローブ14の接触圧が基準
圧力よりも大きければ、その測定精度の信頼性が問題と
なる(測定対象物の撓みなどの影響で)ため、測定プロ
ーブ14の接触角度を変更する。測定角度が小さくなる
と、小さな力で前述のスイッチをオンさせることができ
るようになるので、接触圧が基準値よりも大きいときに
は、前回の接触角度をさらに小さくして測定し直す。た
とえば、接触圧が基準圧力を20%上回っている場合に
は、その上回っている方向(たとえばZ軸)のテーブル
を見て、その方向を−20゜小さくする。つまり、測定
プローブ14を60゜の角度にして測定したときに接触
圧が基準圧力を20%上回っていたときには、次回の測
定は40゜にして行う。At this time, if the contact pressure of the measurement probe 14 is larger than the reference pressure, the reliability of the measurement accuracy becomes a problem (due to the bending of the object to be measured). change. When the measurement angle becomes small, the above-mentioned switch can be turned on with a small force. Therefore, when the contact pressure is larger than the reference value, the previous contact angle is further reduced and the measurement is performed again. For example, if the contact pressure exceeds the reference pressure by 20%, look at the table in the direction in which the contact pressure exceeds the reference pressure (for example, the Z axis) and reduce the direction by -20 °. In other words, if the contact pressure exceeds the reference pressure by 20% when the measurement probe 14 is measured at an angle of 60 °, the next measurement is performed at 40 °.
【0039】また、この角度変更をするときには、ボデ
ィーとの干渉チェックを行う。理想的な角度に設定して
ようとしても、測定プローブ14がボディー12と干渉
してしまう場合があり、このような場合には、干渉しな
い範囲内でしか角度変更をすることができないからであ
る。When changing the angle, an interference check with the body is performed. Even if the angle is set to an ideal angle, the measurement probe 14 may interfere with the body 12, and in such a case, the angle can be changed only within a range that does not interfere. .
【0040】このような場合には、測定プローブ14の
接近速度を変更することによって接触圧が基準圧力内と
なるようにする。測定プローブ14のボディー12に対
する接近速度を小さくすれば、測定プローブ14のオー
バーラン(本来は、スイッチが入った瞬間に停止するこ
とが望ましい)を少なくすることができ、その分接触圧
を低減することができるからである。In such a case, the approach pressure of the measuring probe 14 is changed so that the contact pressure falls within the reference pressure. If the approach speed of the measurement probe 14 to the body 12 is reduced, the overrun of the measurement probe 14 (it is desirable to stop at the moment when the switch is turned on) can be reduced, and the contact pressure is reduced accordingly. Because you can do it.
【0041】たとえば、上述の場合には、接触圧が基準
圧力を20%上回っているのであるから、次回の測定で
は、上記のテーブルのように、接近速度を0.8倍に低
下させて測定する。For example, in the above case, since the contact pressure is 20% higher than the reference pressure, in the next measurement, the approach speed is reduced by 0.8 times as shown in the above table. I do.
【0042】なお、接触角度の変更と接近速度の変更を
共に行うことも可能である。It is also possible to change both the contact angle and the approach speed.
【0043】たとえば、上記の場合、測定プローブ14
の角度を−10゜、すなわち50゜に設定し、同時に接
近速度を−10%、すなわち通常の0.9倍に設定する
ことも可能である。For example, in the above case, the measurement probe 14
Can be set to -10 °, ie, 50 °, and at the same time, the approach speed can be set to -10%, ie, 0.9 times the normal speed.
【0044】このように、接触角度と接近速度との双方
を変更させる場合には、どちらを優先的に変更させるの
か、また、両方変更させる場合には、その様にして分担
させるのかは、プログラムしておかなければならないの
はもちろんである。As described above, when both the contact angle and the approach speed are to be changed, which one is to be preferentially changed, and when both are to be changed, which one is to be shared in such a manner is determined by a program. Of course you have to keep it.
【0045】なお、以上は、強度のあるボディー12を
測定対象物とした場合を例示したが、本発明の三次元計
測装置では、図4に示すような薄いパネルの形状を測定
するときには、特に効果を発揮するものである。以下
に、このパネルの測定を例にとりあげ、図7のフローチ
ャートに基づいてさらに詳細に本発明を説明する。Although the above description has been given of the case where the strong body 12 is used as the object to be measured, the three-dimensional measuring apparatus of the present invention is particularly suitable for measuring the shape of a thin panel as shown in FIG. It is effective. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the flowchart of FIG. 7 taking the measurement of this panel as an example.
【0046】このフローチャートの説明をする前に、図
4に示す薄いパネルの形状を測定する場合のパネルの固
定方法や測定方法等について述べておく。パネル40
は、これを載置する専用の治具42上に置かれ、治具4
2の上部に設けられた吸着板などによってしっかりと固
定される。しかしながら、パネル40の端部や治具間の
中央部などはあまり強度がなく、測定プローブ14の接
触圧によっては撓みやすくなっている。Before describing the flowchart, a method for fixing the panel and a method for measuring the shape of the thin panel shown in FIG. 4 will be described. Panel 40
Is placed on a dedicated jig 42 on which the
2 and is firmly fixed by a suction plate or the like provided on the upper part of the device 2. However, the end portions of the panel 40 and the central portion between the jigs are not very strong, and are easily bent by the contact pressure of the measurement probe 14.
【0047】測定ポイントは、パネル40の全面に及
ぶ。したがって、測定ポイントは、図4に示すように、
治具42から離れた比較的パネルが曲がりやすい端部A
や、比較的剛性が高く測定もしやすい中央部Bや、L字
型に曲がった部分をもち、測定や接触角の変更の自由度
が少ない端部Cなど全ての部分に設定されている。これ
らA,B,Cの各部分の測定ポイントのそれぞれについ
て、測定プローブの接触角は予め設定されており、最初
はその接触角で測定が行われる。この測定の際に測定プ
ローブ14にかかるX,Y,Z方向の接触圧が検出され
るが、この接触圧は、図4に示すように上方向から測定
をする場合には、+方向の力として検出され、下方向か
ら測定をする場合には、−方向の力として検出される
(たとえば図5参照)。The measurement point extends over the entire surface of the panel 40. Therefore, the measurement points are as shown in FIG.
End A that is relatively easy to bend the panel away from jig 42
In addition, it is set to all portions such as a central portion B which is relatively rigid and easy to measure, and an end portion C which has an L-shaped bent portion and has a small degree of freedom in changing the measurement and the contact angle. For each of the measurement points A, B, and C, the contact angle of the measurement probe is set in advance, and measurement is initially performed at the contact angle. At the time of this measurement, the contact pressure in the X, Y, and Z directions applied to the measurement probe 14 is detected. When the contact pressure is measured from above as shown in FIG. When the measurement is performed from below, the force is detected as a negative force (for example, see FIG. 5).
【0048】図4のようにして固定された測定ポイント
まで測定プローブ14が移動し、予め定められた接触角
でこのポイントをピック(前述のスイッチがカチッとい
って入ること)すると(S1)、接触圧判断部32はト
ルクセンサ20によって検出されたたとえば図5に示さ
れているようなX,Y,Zの3方向の接触圧を読み込ん
で(S2)、これを圧力基準値と比較する(S3)。こ
の比較において接触圧が適性であった場合には(S
4)、パネル40が撓むことなく測定が終了したのであ
るから、三次元計測装置の各アームの位置が認識され
て、その測定ポイントの3次元座標が認識される。一
方、接触圧が、図5に示したようにすくなくとも1方向
について超過している場合には、測定ポイントデータお
よびCADデータを読み込んで、接触圧が基準値内とな
るように接触角度を変更する。たとえば、図5において
は、Z軸方向の接触圧が基準値を越えているのであるか
ら、この接触圧が減少するように、測定プローブ14を
図6に示すようにZ軸に対して角度が大きくなるよう
に、パネル40の方向に倒す。この倒す角度は前述した
ように、接触圧が基準圧力よりもどの程度オーバーして
いるかその割合によって異なる(S5,S6)。When the measurement probe 14 moves to the measurement point fixed as shown in FIG. 4 and picks this point at a predetermined contact angle (the above-mentioned switch is clicked) (S1), The contact pressure judging section 32 reads the contact pressures detected by the torque sensor 20 in, for example, three directions of X, Y, and Z as shown in FIG. 5 (S2), and compares this with the pressure reference value (S2). S3). In this comparison, if the contact pressure was appropriate (S
4) Since the measurement is completed without bending the panel 40, the position of each arm of the three-dimensional measuring device is recognized, and the three-dimensional coordinates of the measurement point are recognized. On the other hand, when the contact pressure exceeds at least one direction as shown in FIG. 5, the measurement point data and the CAD data are read and the contact angle is changed so that the contact pressure is within the reference value. . For example, in FIG. 5, since the contact pressure in the Z-axis direction exceeds the reference value, the angle of the measuring probe 14 with respect to the Z-axis as shown in FIG. Fold it down in the direction of panel 40 so that it becomes larger. As described above, the tilting angle differs depending on how much the contact pressure exceeds the reference pressure (S5, S6).
【0049】つぎに、このようにして変更した接触角で
測定ができるかどうかが判断される。具体的には、測定
プローブ14およびこれを支持する部分とパネル40が
接触するかしないかが判断される。接触してしまう場合
には、入力したCADデータから接触しない範囲を捜し
出してその範囲内で接触角度を変更する(S7,S
8)。干渉しない角度が見つかったら、測定プローブ1
4をその角度に設定して再度その測定ポイントをピック
する(S9)。このピック時に検出された接触圧をトル
クセンサ20から入力して圧力基準値と比較し(S1
1)、接触圧が圧力基準値以下であれば、パネル40が
撓むことなく測定が終了したのであるから、三次元計測
装置の各アームの位置が認識されて、その測定ポイント
の3次元座標が認識される(S12)。これでも接触圧
が適性ではなかった場合には、今度は測定プローブ14
のパネル40に対する接近速度を遅くして測定ポイント
のピックをする。この接近速度は、接触圧が基準圧力よ
りもどの程度オーバーしているかその割合によって異な
る。なお、この接近速度は、接触圧が適性値になるまで
順次遅くされる。Next, it is determined whether measurement can be performed with the contact angle changed in this way. Specifically, it is determined whether or not the measurement probe 14 and the portion supporting the same are in contact with the panel 40. In the case of contact, a non-contact area is searched from the input CAD data, and the contact angle is changed within the area (S7, S7).
8). If an angle that does not interfere is found, measure probe 1
4 is set to the angle, and the measurement point is picked again (S9). The contact pressure detected at the time of picking is input from the torque sensor 20 and compared with a pressure reference value (S1).
1) If the contact pressure is equal to or lower than the pressure reference value, the measurement has been completed without bending the panel 40. Therefore, the position of each arm of the three-dimensional measuring device is recognized, and the three-dimensional coordinates of the measurement point are obtained. Is recognized (S12). If the contact pressure is still not appropriate, then the measuring probe 14
The speed of approaching to the panel 40 is slowed down to pick a measurement point. The approach speed differs depending on how much the contact pressure exceeds the reference pressure. The approach speed is gradually reduced until the contact pressure reaches an appropriate value.
【0050】このように、図7のフローチャートでは、
まず、設定された接触角度で測定ポイントの測定をし、
そのときの接触圧が規定圧力を越えている場合には、干
渉を起こさない範囲内で接触角を変更し、その接触角で
再度その測定ポイントを測定し、これでもなお接触圧が
規定圧力を越えている場合には、今度は接近速度を遅く
して再度その測定ポイントを測定すようにし、接近速度
は接触圧が規定圧力内になるまで順次遅くするようにし
ている。As described above, in the flowchart of FIG.
First, measure the measurement point at the set contact angle,
If the contact pressure at that time exceeds the specified pressure, change the contact angle within a range that does not cause interference, measure the measurement point again at that contact angle, and even if the contact pressure still exceeds the specified pressure If it exceeds, the approach speed is reduced and the measurement point is measured again, and the approach speed is gradually reduced until the contact pressure falls within the specified pressure.
【0051】なお、上記のフローチャートにおいては接
触角を一度だけ変更するようにしているが、接近速度を
変更させる場合と同様に、干渉しない範囲内で接触圧が
基準圧力以内となるように、複数回変更するようにして
も良い。In the above flowchart, the contact angle is changed only once. However, similar to the case of changing the approach speed, a plurality of contact angles are set so that the contact pressure is within the reference pressure within a range where no interference occurs. The number of times may be changed.
【0052】さらに、以上の例では、測定ポイント毎に
予め接触角を定めておくものを例示したが、干渉しない
範囲を探してその範囲内で接触角を演算するようにして
も良い。Further, in the above example, the contact angle is determined in advance for each measurement point. However, it is also possible to search for a range that does not interfere and calculate the contact angle within that range.
【0053】[0053]
【発明の効果】以上、説明したように、本発明は、各請
求項ごとに次のような効果を奏する。請求項1および請
求項5に記載の発明にあっては、測定対象物と測定プロ
ーブとが干渉しない範囲内で前記測定対象物に対する前
記測定プローブの接触圧が最適となるように前記測定プ
ローブの前記測定対象物に対する接触角度を制御するよ
うにしたので、各測定ポイント毎に最適な接触圧とする
ことができ、測定対象物が撓みやすいものであっても、
高精度の測定が可能となる。As described above, the present invention has the following effects for each claim. In the invention according to claim 1 and claim 5, the measurement probe is adjusted so that the contact pressure of the measurement probe with respect to the measurement object is optimum within a range where the measurement object does not interfere with the measurement probe. Since the contact angle with respect to the measurement target is controlled, the optimal contact pressure can be set for each measurement point, and even if the measurement target is easily bent,
High-precision measurement becomes possible.
【0054】請求項2および請求項6に記載の発明にあ
っては、測定対象物に対する測定プローブの接触圧が基
準値を越えないように前記測定プローブの接近速度を制
御するようにしたので、各測定ポイント毎に基準値内で
の接触圧で測定することができるようになり、測定対象
物が撓みやすいものであっても、高精度の測定が可能と
なる。According to the second and sixth aspects of the present invention, the approach speed of the measurement probe is controlled so that the contact pressure of the measurement probe with respect to the measurement object does not exceed the reference value. The measurement can be performed with the contact pressure within the reference value for each measurement point, and high-precision measurement can be performed even if the measurement target is easily bent.
【0055】請求項3に記載の発明にあっては、測定対
象物と測定プローブとが干渉しない範囲内で前記測定対
象物に対する前記測定プローブの接触圧が最適となるよ
うに前記測定プローブの前記測定対象物に対する接触角
度を制御するようにし、さらに、測定対象物に対する測
定プローブの接触圧が基準値を越えないように前記測定
プローブの接近速度を制御するようにしたので、測定プ
ローブの接触角度と接近速度との双方を変化させなが
ら、最適の接触圧で測定をすることが可能となる。According to the third aspect of the present invention, the measuring probe is so contacted that the contact pressure of the measuring probe with the measuring object is optimized within a range where the measuring object and the measuring probe do not interfere with each other. The contact angle with respect to the measurement target is controlled, and further, the approach speed of the measurement probe is controlled so that the contact pressure of the measurement probe with respect to the measurement target does not exceed a reference value. It is possible to perform measurement at an optimum contact pressure while changing both the approach speed and the approach speed.
【0056】請求項4に記載の発明にあっては、測定対
象物に対する前記測定プローブの接触圧が最適となるよ
うに前記測定プローブの前記測定対象物に対する接触角
度を制御するようにしたので、各測定ポイント毎に最適
な接触圧とすることができ、測定対象物が撓みやすいも
のであっても、高精度の測定が可能となる。According to the fourth aspect of the present invention, the contact angle of the measurement probe with respect to the measurement object is controlled such that the contact pressure of the measurement probe with the measurement object is optimized. The optimum contact pressure can be set for each measurement point, and high-precision measurement can be performed even when the measurement target is easily bent.
【0057】請求項7に記載の発明にあっては、測定プ
ローブが測定対象物に干渉しない不干渉範囲を算出し、
当該不干渉範囲内で前記測定プローブの接触角度を算出
し、当該接触角度をもって前記測定プローブを測定ポイ
ントに接触させ、当該測定ポイントにおける接触圧が基
準値を越える場合には、当該基準値を越えないように前
記不干渉範囲内で前記測定プローブの接触角度を変更
し、当該接触角度をもって前記測定プローブを測定ポイ
ントに接触させ、さらに、当該測定ポイントにおける接
触圧が基準値を越える場合には、当該基準値を越えない
ように前記測定プローブの前記測定対象物に対する接近
速度を調整して前記測定プローブを測定ポイントに接触
させるようにしたので、調整できる接触圧の範囲をさら
に拡大することができ、測定対象物が撓みやすいもので
あっても、高精度の測定をすることが可能となる。According to the seventh aspect of the present invention, a non-interference range in which the measurement probe does not interfere with the object to be measured is calculated,
The contact angle of the measurement probe is calculated within the non-interference range, the measurement probe is brought into contact with the measurement point with the contact angle, and when the contact pressure at the measurement point exceeds the reference value, the measurement value exceeds the reference value. Change the contact angle of the measurement probe within the non-interference range, contact the measurement probe with the measurement point with the contact angle, further, if the contact pressure at the measurement point exceeds the reference value, Since the approach speed of the measurement probe to the measurement target is adjusted so as not to exceed the reference value and the measurement probe is brought into contact with the measurement point, the range of the adjustable contact pressure can be further expanded. In addition, even if the object to be measured is easily bent, it is possible to perform highly accurate measurement.
【図1】 本発明にかかる三次元計測装置の外観図であ
る。FIG. 1 is an external view of a three-dimensional measuring apparatus according to the present invention.
【図2】 測定プローブの概略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a measurement probe.
【図3】 本発明にかかる三次元測定装置の制御系を示
すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a control system of the three-dimensional measuring device according to the present invention.
【図4】 測定プローブによる測定の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of measurement by a measurement probe.
【図5】 接触圧の実測値の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of an actually measured contact pressure value.
【図6】 測定プローブの角度変更の一例を示す図であ
る。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of an angle change of a measurement probe.
【図7】 本発明にかかる三次元計測装置の具体的な動
作を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing a specific operation of the three-dimensional measuring apparatus according to the present invention.
10…計測装置、 12…ボディー、14…測定プ
ローブ、 16,18…アーム、20…トルクセンサ、
25,26…データベース、40…パネル。10 measuring device, 12 body, 14 measuring probe, 16, 18 arm, 20 torque sensor,
25, 26 ... database, 40 ... panel.
Claims (7)
三次元計測装置において、測定対象物(12)を測定す
る際に、当該測定対象物(12)と前記測定プローブ
(14)とが干渉しない範囲内で前記測定対象物(1
2)に対する前記測定プローブ(14)の接触圧が最適
となるように前記測定プローブ(14)の前記測定対象
物(12)に対する接触角度を制御する制御手段(2
8,30)を備えていることを特徴とする三次元計測装
置。In a three-dimensional measuring apparatus having a contact type measurement probe (14), when measuring a measurement target (12), the measurement target (12) and the measurement probe (14) interfere with each other. The measurement object (1
Control means (2) for controlling a contact angle of the measurement probe (14) with respect to the measurement object (12) such that a contact pressure of the measurement probe (14) with respect to 2) is optimized.
8, 30). A three-dimensional measuring device comprising:
三次元計測装置において、測定対象物(12)を測定す
る際に、当該測定対象物(12)に対する前記測定プロ
ーブ(14)の接触圧が基準値を越えないように前記測
定プローブ(14)の接近速度を制御する制御手段(3
4)を備えていることを特徴とする三次元計測装置。2. A three-dimensional measuring apparatus having a contact-type measuring probe (14), when measuring a measuring object (12), a contact pressure of the measuring probe (14) against the measuring object (12). Control means (3) for controlling the approach speed of the measuring probe (14) so that the value does not exceed the reference value.
A three-dimensional measuring apparatus characterized by comprising (4).
三次元計測装置において、測定対象物(12)を測定す
る際に、当該測定対象物(12)と前記測定プローブ
(14)とが干渉しない範囲内で前記測定対象物(1
2)に対する前記測定プローブ(14)の接触圧が最適
となるように前記測定プローブ(14)の前記測定対象
物(12)に対する接触角度を制御する一方、当該接触
圧が基準値を越えないように前記測定プローブ(14)
の接近速度を制御する制御手段(28,30,34)を
備えていることを特徴とする三次元計測装置。3. A three-dimensional measuring apparatus having a contact-type measuring probe (14), when measuring a measuring object (12), the measuring object (12) and the measuring probe (14) interfere with each other. The measurement object (1
The contact angle of the measurement probe (14) with respect to the measurement object (12) is controlled such that the contact pressure of the measurement probe (14) with respect to 2) is optimized, while the contact pressure does not exceed a reference value. The measuring probe (14)
A three-dimensional measuring apparatus comprising control means (28, 30, 34) for controlling the approach speed of a vehicle.
測定ポイントの座標を検出する測定プローブ(14)
と、 当該測定ポイントにおける前記測定対象物(12)に対
する前記測定プローブ(14)の接触圧を検出する接触
圧検出手段(20)と、 当該接触圧検出手段(20)による接触圧が基準値を越
える場合には、当該接触圧が基準値内となるように、前
記測定プローブ(14)の前記測定対象物(12)に対
する接触角を変更する制御手段(30)とを有すること
を特徴とする三次元計測装置。4. A measuring probe (14) which is brought into contact with a measuring object (12) to detect the coordinates of the measuring point.
Contact pressure detecting means (20) for detecting a contact pressure of the measurement probe (14) with respect to the measurement target (12) at the measurement point, and a contact pressure by the contact pressure detection means (20) is a reference value. A control means (30) for changing a contact angle of the measurement probe (14) with respect to the measurement object (12) so that the contact pressure is within a reference value when the pressure exceeds the reference value. 3D measuring device.
トを記憶する測定ポイント記憶手段(25)と、 前記
測定対象物(12)のCADデータを記憶するCADデ
ータ記憶手段(26)とをさらに有し、 前記制御手段は、前記測定ポイント記憶手段(25)に
記憶されている測定ポイントと前記CADデータ記憶手
段(26)に記憶されているCADデータとから、前記
測定プローブ(14)が前記測定対象物(12)に干渉
しない範囲内で前記接触圧が基準値内となるように、前
記測定プローブ(14)の前記測定対象物(12)に対
する接触角を変更することを特徴とする請求項2に記載
の三次元計測装置。5. A measurement point storage means (25) for storing measurement points on a measurement object (12), and a CAD data storage means (26) for storing CAD data of the measurement object (12). And the control means determines that the measurement probe (14) performs the measurement based on the measurement points stored in the measurement point storage means (25) and the CAD data stored in the CAD data storage means (26). The contact angle of the measurement probe (14) with respect to the measurement object (12) is changed such that the contact pressure is within a reference value within a range that does not interfere with the object (12). 3. The three-dimensional measuring device according to 2.
となるように、前記測定プローブ(14)の前記測定対
象物(12)に対する接近速度を調整する手段をさらに
含むことを特徴とする請求項4または請求項5に記載の
三次元計測装置。6. The control means further comprises means for adjusting an approach speed of the measurement probe (14) to the object to be measured (12) such that the contact pressure is within a reference value. The three-dimensional measuring device according to claim 4 or 5, wherein
測定ポイントの座標を検出する測定プローブ(14)
と、 前記測定対象物(12)における測定ポイントを記憶す
る測定ポイント記憶手段(25)と、 前記測定対象物(12)のCADデータを記憶するCA
Dデータ記憶手段(26)と、 前記測定対象物(12)に対する測定プローブ(14)
の接触圧を検出する接触圧検出手段(20)と、 前記測定ポイント記憶手段(25)に記憶されている測
定ポイントと前記CADデータ記憶手段(26)に記憶
されているCADデータとに基づいて、前記測定プロー
ブ(14)が前記測定対象物(12)に干渉しない不干
渉範囲を算出し、当該不干渉範囲内で前記測定プローブ
(14)の接触角度を算出し、当該接触角度をもって前
記測定プローブ(14)を測定ポイントに接触させる第
1制御手段(30)と、 当該測定ポイントにおける接触圧が基準値を越える場合
には、当該基準値を越えないように前記不干渉範囲内で
前記測定プローブ(14)の接触角度を変更し、当該接
触角度をもって前記測定プローブ(14)を測定ポイン
トに接触させる第2制御手段(30)と、 当該測定ポイントにおける接触圧が基準値を越える場合
には、当該基準値を越えないように前記測定プローブ
(14)の前記測定対象物(12)に対する接近速度を
調整して前記測定プローブ(14)を測定ポイントに接
触させる第3制御手段(34)とを有することを特徴と
する三次元計測装置。7. A measurement probe (14) which is brought into contact with a measurement object (12) to detect the coordinates of the measurement point.
Measurement point storage means (25) for storing measurement points on the measurement object (12); and CA for storing CAD data of the measurement object (12).
D data storage means (26), and a measurement probe (14) for the measurement object (12)
A contact pressure detecting means (20) for detecting a contact pressure of the object; a measuring point stored in the measuring point storing means (25); and CAD data stored in the CAD data storing means (26). Calculating a non-interference range in which the measurement probe (14) does not interfere with the measurement object (12); calculating a contact angle of the measurement probe (14) within the non-interference range; First control means (30) for bringing the probe (14) into contact with the measurement point; and when the contact pressure at the measurement point exceeds a reference value, the measurement is performed within the non-interference range so as not to exceed the reference value. A second control means (30) for changing a contact angle of the probe (14) and bringing the measurement probe (14) into contact with a measurement point at the contact angle; If the contact pressure at the measurement point exceeds a reference value, the approach speed of the measurement probe (14) to the measurement object (12) is adjusted so that the measurement pressure of the measurement probe (14) does not exceed the reference value. A three-dimensional measuring apparatus, comprising: third control means (34) for bringing the point into contact with the point.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8203896A JPH1047943A (en) | 1996-08-01 | 1996-08-01 | Three-dimensional measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8203896A JPH1047943A (en) | 1996-08-01 | 1996-08-01 | Three-dimensional measuring device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1047943A true JPH1047943A (en) | 1998-02-20 |
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ID=16481518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8203896A Withdrawn JPH1047943A (en) | 1996-08-01 | 1996-08-01 | Three-dimensional measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH1047943A (en) |
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