JPH104296A - 電子部品挿入穴認識方法 - Google Patents

電子部品挿入穴認識方法

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JPH104296A
JPH104296A JP8155262A JP15526296A JPH104296A JP H104296 A JPH104296 A JP H104296A JP 8155262 A JP8155262 A JP 8155262A JP 15526296 A JP15526296 A JP 15526296A JP H104296 A JPH104296 A JP H104296A
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JP
Japan
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image
memory
insertion hole
image processing
insertion holes
Prior art date
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Pending
Application number
JP8155262A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Tanabe
敦 田邊
Eiichi Hachitani
栄一 蜂谷
Masamichi Morimoto
正通 森本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH104296A publication Critical patent/JPH104296A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リード付き電子部品を挿入する回路基板上の
穴を高速かつ高精度に画像認識する方法を提供する。 【解決手段】 回路基板全面を一括して撮像できるセン
サ34と、全面の画像を蓄積できるメモリ32(大容
量)、並行処理を行うための2つ以上の画像処理用メモ
リ33(小容量)を有する画像処理装置30を用い、ま
ず対象となる挿入穴を包含する領域内を画像処理用メモ
リの大きさに均等に分割し、分割した領域に含まれる挿
入穴を1つのグループとして全挿入穴がいずれかのグル
ープに属するようにグループ化を行う。そして、回路基
板を一括して撮像し順次画像入力用メモリ32に蓄積す
る。画像入力用メモリ32に蓄積された回路基板のうち
完全に蓄積されたグループから順次画像処理用メモリ3
3に転送する。転送が終わると残りの画像処理用メモリ
33へ転送を開始し、転送の完了した画像処理用メモリ
33は挿入穴中心の検出処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はリード付き部品を回
路基板のリード穴に挿入するための挿入穴の画像認識方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子部品実装分野では電子部品を
高速かつ高精度に回路基板に実装する技術が必要とされ
ている。中でも挿入部品と呼ばれるリード付きの部品を
回路基板のリード穴に挿入する実装方法においては、正
確にリード穴に部品リードを挿入するため、リード挿入
穴の位置を画像認識によって計測する技術が用いられて
いる。挿入穴の認識方法として一般的なものとしては、
図2(a)に示すようにカメラ20と照明21の間に対
象となる回路基板22を対象の挿入穴が中心付近に来る
ように移動し、挿入穴23を撮像して図2(b)に示す
ような処理画像24を得る。得られた処理画像24から
回路基板22と挿入穴23を切り分けるためのしきい値
を決定し、図2(c)に示すように、しきい値の値を示
す画素を追跡することで挿入穴23の境界25を検出す
る。検出された境界25の重心から挿入穴の中心26を
求める。この方法を全ての検出対象の挿入穴に対して行
うことで、回路基板全面の挿入穴の位置を検出するとい
った方法がとられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記の挿入穴認識方法
の場合、それぞれの対象穴の撮像にともない基板を毎回
移動する必要があるため、回路基板の移動・撮像・画像
処理にかなりの時間が必要になる。また、挿入穴毎に撮
像するため、対象となる挿入穴が増え挿入穴同士が隣接
すると処理画像24のように挿入穴27を含んでいるに
も関わらず、再度挿入穴27が中心付近にくる画像を再
度撮像し、認識することになり、無駄な時間が増加して
いくことになる。また、挿入穴毎の画像入力で回路基板
の移動を行うため、個々の挿入穴に対する画像認識結果
に回路基板の移動誤差が含まれる形になる。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の挿入穴認識方法
においては、回路基板全面を一括して撮像できるセンサ
と、全面の画像を蓄積できるメモリ(大容量)、並行処
理を行うための2つ以上の画像処理用メモリ(小容量)
を有する画像処理装置を用いる。まず、対象となる挿入
穴を包含する領域内を画像処理用メモリの大きさに均等
に分割し、分割した領域に含まれる挿入穴を1つのグル
ープとして全挿入穴がいずれかのグループに属するよう
にグループ化を行う。そして、回路基板を一括して撮像
し順次画像入力用メモリに蓄積する。画像入力用メモリ
に蓄積された回路基板のうち完全に蓄積されたグループ
から順次画像処理用メモリに転送する。転送が終わると
残りの画像処理用メモリへ転送を開始し、転送の完了し
た画像処理用メモリは挿入穴中心の検出処理を行う。こ
のように撮像・転送・処理を並列で行い、なおかつ隣接
する挿入穴を1グループとして一括処理する。
【0005】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を示す
挿入穴認識方法として、図面を参照しながら具体的に説
明する。
【0006】本発明の実施の形態の画像認識装置を図3
に基づいて説明する。画像処理装置は回路基板36を一
括して撮像できる高解像度ラインセンサ34とラインセ
ンサ34と連動して移動する照明35と画像処理装置3
0で構成されており、画像処理装置にはCPU31と回
路基板の全域の画像データを蓄積できる画像入力用メモ
リ32と画像処理用メモリ33を有している。画像入力
はラインセンサ34と照明35を図のように等速で移動
させて撮像する。撮像された画像は画像入力用メモリ3
2へ蓄積される。画像処理を行うときは画像入力用メモ
リ32の画像データをいったん画像処理用メモリ33に
転送して、CPU31が処理を行う。画像入力、転送、
処理は並行して行えるように構成されている。
【0007】本発明の実施の形態の前処理工程を図4に
基づいて説明する。回路基板40に図のように挿入穴が
配されている場合、全挿入穴座標の最小値、最大値から
全ての挿入穴を包含する領域41を算出する。得られた
領域41を画像処理用メモリの大きさに等しい処理領域
42で格子状に分割する。分割の際は境界付近の穴が隣
接の処理領域のいずれかに含まれるように重複部分43
を設ける。こうして分割された処理領域44のように挿
入穴が1つも含まれない場合以外、その処理領域に含ま
れる挿入穴を1つのグループとしてグループG1〜G1
0をつくる。このとき挿入穴45のようにG3とG5両
方にかかっている場合はよりグループの中心に近い方の
グループに(この場合G5)に属させるようにする。こ
の前処理行程は同一種の回路基板の生産中は1度のみ行
う。
【0008】本発明の実施の形態の並列処理について図
5に基づいて説明する。図5(a)は画像入力用メモリ
50に画像が入力される過程を示している。本実施例の
ラインセンサによる画像入力の場合、画像は画像入力用
メモリ50の左端から入力されていく。今、図5(a)
の51の位置まで画像入力が終了したとすると、グルー
プG1、G2の部分は画像入力が完了していることにな
る。そこで、図5(b)に示すように画像処理用メモリ
51にグループG1の画像を転送する。転送が完了した
ら、図5(c)に示すように画像処理用メモリ52にグ
ループG2を転送する。その間転送の完了した画像処理
用メモリ51は挿入穴H1、H2、H3、H4の中心検
出の処理に用いる。このように2つの画像処理用メモリ
を常に片方を中心検出処理で使用し、片方を画像転送に
使用する。ただし、図5(a)のようにグループG3の
画像を転送しようとしたときにラインセンサからの画像
入力が完了していない場合は、完了を待って転送を行
う。
【0009】本発明の実施の形態の請求項2の画像処理
行程を図6に基づいて説明する。画像処理用メモリに転
送された処理画像60のうち挿入穴のパターン61があ
ると思われる位置にウィンドウ62を設ける。次に、図
6(b)に示すように、ウィンドウ62内に設けた等間
隔のサンプリング位置63での明るさを取得し、図6
(c)のようなヒストグラムを作成する。61′は挿入
穴パターン61の明るさを示すピークで、64′は回路
基板64の明るさを示すピークとなる。そこで、その中
間の明るさをしきい値65と決定する。次に図6(d)
のように、ウィンドウ62内での等間隔のサーチ66で
しきい値を超える点を検出する。検出後しきい値を超え
る点に沿って境界67を検出する。検出された挿入穴パ
ターン61の境界の重心を求め、挿入穴の中心68を検
出する。以降同様にしてすべての挿入穴の中心位置を検
出する。
【0010】
【発明の効果】以上のように本発明の挿入穴認識方法で
は、画像入力と転送、処理を並行して行えるため、個々
の挿入穴を撮像・処理する形態よりも高速に認識するこ
とが可能となる。また、一度に処理できる挿入穴は一つ
のグループとして処理するため、ロスも少なくなる。
【0011】その上、回路基板の画像を一括して画像入
力するため個々の挿入穴の位置関係にはメカによる誤差
が介入しない。そのため撮像のために個々の挿入穴に対
してメカ移動が発生する方式よりも誤差の少ない認識結
果を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の挿入穴認識方法のフローチャート
【図2】(a)挿入穴認識装置の構成図 (b)挿入穴認識装置により撮像された処理画像を示す
図 (c)処理画像からの挿入穴位置の検出処理の説明図
【図3】本発明で使用する認識装置に関する説明図
【図4】本発明の挿入穴認識方法のグループ化に関する
説明図
【図5】本発明の挿入穴認識方法の並列処理に関する説
明図
【図6】本発明の挿入穴認識方法の画像処理工程に関す
る説明図
【符号の説明】
32、50 画像入力用メモリ 33、52、53、60 画像処理用メモリ 34 ラインセンサカメラ 35 照明 62 処理ウィンドウ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路基板を一括して撮像できるセンサ
    と、それを全て蓄積できる画像入力用メモリと、2つ以
    上の画像処理用メモリを有する画像認識装置において、
    設計上あるいは作業者が測定した回路基板の挿入穴座標
    から全挿入穴を包含する領域を求め、画像処理用メモリ
    の大きさの格子状に分割し、分割された領域内の挿入穴
    を1つのグループにまとめ全挿入穴をグループ化する前
    処理行程と、全挿入穴を包含する領域を一括して撮像し
    画像入力用メモリに蓄積する画像入力行程と、画像入力
    行程に並列して画像入力の完了したグループから順に画
    像入力用メモリから画像処理用メモリにグループの画像
    データを転送する画像転送行程と、画像入力行程・画像
    転送行程と並行して転送の完了したグループの画像を処
    理しグループに属する全ての挿入穴中心を検出する画像
    処理行程から構成される電子部品挿入穴認識方法。
  2. 【請求項2】 画像処理行程が、画像処理用メモリの画
    像から2値レベルを決定するしきい値決定行程と、決定
    されたしきい値の境界を検出し挿入穴の輪郭を検出する
    輪郭検出行程と、検出された輪郭から挿入穴の中心を検
    出する中心検出行程からなる請求項1記載の電子部品挿
    入穴認識方法。
JP8155262A 1996-06-17 1996-06-17 電子部品挿入穴認識方法 Pending JPH104296A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018073952A1 (ja) * 2016-10-21 2018-04-26 富士機械製造株式会社 電子部品実装機
JP2021061373A (ja) * 2019-10-09 2021-04-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 部品搭載装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018073952A1 (ja) * 2016-10-21 2018-04-26 富士機械製造株式会社 電子部品実装機
JPWO2018073952A1 (ja) * 2016-10-21 2019-08-15 株式会社Fuji 電子部品実装機
US11013161B2 (en) 2016-10-21 2021-05-18 Fuji Corporation Electronic component mounter
JP2021061373A (ja) * 2019-10-09 2021-04-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 部品搭載装置

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