JPH10340283A - Method and device for designing and verifying lsi - Google Patents

Method and device for designing and verifying lsi

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JPH10340283A
JPH10340283A JP9149503A JP14950397A JPH10340283A JP H10340283 A JPH10340283 A JP H10340283A JP 9149503 A JP9149503 A JP 9149503A JP 14950397 A JP14950397 A JP 14950397A JP H10340283 A JPH10340283 A JP H10340283A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
division
level
circuit
design verification
lsi design
Prior art date
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Application number
JP9149503A
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Japanese (ja)
Inventor
Keiji Mentani
谷 圭 二 面
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH10340283A publication Critical patent/JPH10340283A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance the reliability of design and to make flexibly adaptable to specification alternations by designing a circuit of RT level from specifications of algorithm level and verifying it through a consistent data base. SOLUTION: When specifications of an LSI are give, a data flow is analyzed on the basis of them and division candidates for the circuit are listed (S1 to S3). Functional inspection is performed according to them to estimate its hardware and also device that the circuit is to be divided (S4 to S6). According to the decision result, actual division is performed (S7) and then subdivision is also performed (S2). When the designer decides that the circuit is not subdivided any more, the final division results are converted into a hardware description language (S8) and the description language of RT(register transfer) level is outputted (S9). On the basis of the estimation result of the hardware, restriction conditions at the time of logical synthesis are outputted (S10). Thus, the processes are performed consistently.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はLSI設計検証方法
及び装置に係り、特に、LSI設計の初期段階における
アルゴリズム設計の段階から、仕様入力とその検証を行
い、これらのデータに基づいてレジスタトランスファレ
ベル(RTレベル)の回路を出力させるようにしたLS
I設計検証方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for verifying an LSI design, and more particularly, to inputting and verifying specifications from an algorithm design stage in an initial stage of LSI design, and to register transfer level based on these data. (RT level) LS output circuit
The present invention relates to an I design verification method and apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、LSI設計においては、実際
の回路の製作に膨大な費用と時間がかかるため、カット
アンドトライが許されず、設計レベルで仕様から最終回
路までを確実に押える必要がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, in LSI design, it takes enormous cost and time to manufacture an actual circuit. Therefore, cut and try is not allowed, and it is necessary to reliably suppress from the specification to the final circuit at the design level. .

【0003】このため、LSI設計においては、アルゴ
リズムレベルにおいて、回路仕様をC言語で記述し、こ
れを計算機上で検証する。その後、この仕様をもとに、
人手によってRTレベルの記述を使って回路を設計す
る。
For this reason, in LSI design, at the algorithm level, circuit specifications are described in C language, and this is verified on a computer. Then, based on this specification,
The circuit is manually designed using the description at the RT level.

【0004】以上のようなLSI設計手法は、例えば、
特開平5−181925号公報に開示されている。
[0004] The above-described LSI design techniques include, for example,
It is disclosed in JP-A-5-181925.

【0005】一方、LSIの設計段階において、全く仕
様変更が発生しないという状況はまれであり、外部回路
や機器との関係や、顧客要求などによっては、仕様変更
が避けられないケースが発生する。
On the other hand, in the LSI design stage, there is rarely a situation where specification changes do not occur at all. In some cases, specification changes cannot be avoided depending on the relationship with external circuits and devices, customer requirements, and the like.

【0006】このような場合、回路ブロックを効率的に
分割しておくことで、外部からの回路の追加、変更を可
能にすることが可能である。このような設計手法は、例
えば、特開平5−250437号公報に開示されてい
る。
In such a case, it is possible to add or change a circuit from the outside by dividing the circuit block efficiently. Such a design method is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-25037.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来のLSI設計検証
方法では、以上述べたように、初期段階のアルゴリズム
レベルでの検証をすることで、設計の信頼性を高め、回
路ブロックの構築手法により仕様変更に対処することを
可能としているが、以下に述べるような問題点が残る。
According to the conventional LSI design verification method, as described above, the reliability of the design is improved by performing verification at the algorithm level in the initial stage, and the specification is performed by a circuit block construction method. Although it is possible to cope with the change, the following problems remain.

【0008】仕様からRTレベルへの記述変換には、ど
うしても人手が介在するために、変換過程が不明瞭であ
る。このため、RTレベルに変換後に仕様変更が生じた
場合、これに対応することができない。
[0008] The description conversion from the specification to the RT level requires manual intervention, so that the conversion process is unclear. For this reason, if a specification change occurs after conversion to the RT level, it cannot be dealt with.

【0009】また、RTレベルの記述の質が、設計者の
スキルに依存するため、信頼性に乏しく、誤りが発生し
易い。
[0009] Further, since the quality of the description at the RT level depends on the skill of the designer, the reliability is poor and errors easily occur.

【0010】また、回路の検証も、仕様段階での検証、
RTレベルでの検証と、それぞれ個別に行われることに
なるため、不連続で関連性がなく、再利用性に乏しい。
[0010] In addition, the circuit is also verified at the specification stage,
Since the verification at the RT level and the verification at the RT level are performed individually, they are discontinuous, unrelated, and poor in reusability.

【0011】このため、LSI設計に機械設計を導入
し、その評価、検証を行いながら、設計を進めるという
手法にもかかわらず、人手の介入や、プロセスの不連続
性のために、設計の信頼性に限界があり、設計期間の短
縮という観点からも、問題が残る。
For this reason, despite the method of introducing a mechanical design into an LSI design, and evaluating and verifying the design while proceeding with the design, due to human intervention and process discontinuity, the reliability of the design has been reduced. There is a limit to the performance, and problems remain from the viewpoint of shortening the design period.

【0012】本発明は、上記のような従来技術の問題点
を解消し、アルゴリズムレベルの仕様からRTレベルの
回路を、一貫したデータベースに基づいて設計、検証
し、ひとつの仕様に対して、複数のRTレベルの記述を
試行できるようにすることで、設計信頼性を高め、仕様
変更への柔軟な対応を可能とし、設計期間の短縮を可能
としたLSI設計検証方法を提供することを目的とす
る。
The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and designs and verifies an RT-level circuit from an algorithm-level specification based on a consistent database. The purpose of the present invention is to provide an LSI design verification method that can improve the design reliability, can flexibly respond to specification changes, and can shorten the design period by being able to try the description at the RT level. I do.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、アルゴリズムレベルの仕様を入力する第
1の過程と、前記仕様に基づくデータフローの解析を行
う第2の過程と、前記第2の過程における解析結果に基
づいて、分割候補を列挙する第3の過程と、前記第3の
過程において列挙した候補に基づいて機能検証を行う第
4の過程と、第3の過程において列挙した候補に基づい
てハードウエアの見積もりを行う第5の過程と、前記機
能検証とハードウエア見積もりの結果に基づいて、仕様
の機能ブロックへの分割が必要かどうかを判断する第6
の過程と、前記第4の過程における判断が分割するとい
うものであるときには、分割した後第2の過程に渡す第
7の過程と、を備えることを特徴とするLSI設計検証
方法を提供するものである。
To achieve the above object, the present invention provides a first step of inputting an algorithm level specification, a second step of analyzing a data flow based on the specification, A third step of listing division candidates based on the analysis result in the second step, a fourth step of performing function verification based on the candidates listed in the third step, and a third step. A fifth step of estimating hardware based on the enumerated candidates, and a sixth step of judging whether it is necessary to divide the specification into functional blocks based on the results of the function verification and the hardware estimation.
And, if the judgment in the fourth step is to divide, a seventh step of dividing and then passing the result to the second step. It is.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。図1は、本発明の実施例のL
SI設計検証方法を説明するための処理の流れ図であ
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.
5 is a flowchart of a process for explaining an SI design verification method.

【0015】まず、ステップS1にて、LSIの仕様が
与えられると、これに基づいて、ステップS2でデータ
フローの解析を行い、ステップS3で回路の分割候補を
列挙する。これに基づいてステップS4で機能検証を行
い、ステップS5でハードウエアの見積もりを行う。こ
れと共に、ステップS6で、回路を分割する旨の決定を
行う。
First, when an LSI specification is given in step S1, a data flow is analyzed in step S2 based on the specification. In step S3, circuit division candidates are listed. Based on this, function verification is performed in step S4, and hardware estimation is performed in step S5. At the same time, in step S6, a decision to divide the circuit is made.

【0016】そして、この判断結果に基づき、ステップ
S7で実際に分割を行った後、ステップS2に戻り、さ
らなる分割を行う流れとする。
Then, based on the result of the determination, after the division is actually performed in step S7, the flow returns to step S2, and the flow is to perform further division.

【0017】ステップS6で設計者の選択が、これ以上
の回路の分割はない、となった場合、ステップS8で最
終分割結果をハードウエア記述言語に変換し、RT(レ
ジスタ トランスファ)レベルの記述言語をステップS
9で出力する。
If the designer's selection in step S6 is that there is no further circuit division, the final division result is converted into a hardware description language in step S8, and the RT (register transfer) level description language is used. To step S
Output at 9.

【0018】そして、ステップS5で行ったハードウエ
アの見積もり結果をもとに、ステップS10で論理合成
時の制約条件を出力する。
Then, based on the result of the hardware estimation performed in step S5, a constraint condition at the time of logic synthesis is output in step S10.

【0019】以上のように、本実施例では、データフロ
ー解析と機能検証とハードウエア見積もりの結果に基づ
いて、仕様分割の判断と、実際の分割を行い、これに基
づいて、更にデータフロー解析とハードウエア見積もり
による回路変換を繰り返し、最終分割結果に基づいて、
ハードウエア記述言語を出力するようにしたので、処理
が一貫して行われることになり、設計信頼性や設計効率
が向上し、仕様変更に対しても柔軟に対処でき、設計期
間を短縮できる。
As described above, in this embodiment, the specification division is determined and the actual division is performed based on the results of the data flow analysis, the function verification, and the hardware estimation, and the data flow analysis is further performed based on the determination. And circuit conversion by hardware estimation, and based on the final division result,
Since the hardware description language is output, the processing is performed consistently, the design reliability and design efficiency are improved, the specification can be flexibly dealt with, and the design period can be shortened.

【0020】なお、図2は、ある仕様を分割する場合の
一例を示す説明図である。同図(A)は、仕様の分割過
程を示すものであり、同図(B)は、仕様の分割に対応
して、各階層におけるデータ構造の状態遷移を示すもの
である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a case where a certain specification is divided. FIG. 7A shows a process of dividing the specification, and FIG. 6B shows a state transition of the data structure in each layer corresponding to the division of the specification.

【0021】さて、同図(A)に示すように、仕様SP
は、A、Bの2つのブロックに分割され、ブロックA
は、更にブロックC、D、Eと3つのブロックに分割さ
れ、ブロックBは、更にブロックF、Gと2つのブロッ
クに分割され、ブロックEは更にH、Iと2つのブロッ
クに分割される。つまり、同図(A)は仕様の分割の過
程を示しており、各ノードは、あるまとまった処理を行
う機能ブロックを示している。そして、ノードの親子関
係は、分割される前後の状態を示しており、初期に与え
られた仕様は、最終的にC、D、H、I、F、Gの6つ
の機能ブロックに分割されることになる。
Now, as shown in FIG.
Is divided into two blocks A and B, and block A
Is further divided into blocks C, D, and E, and the block B is further divided into blocks F and G, and the block E is further divided into H, I, and two blocks. That is, FIG. 2A shows the process of specification division, and each node shows a functional block that performs a certain process. The parent-child relationship of the nodes indicates the state before and after the division, and the specification given initially is finally divided into six functional blocks of C, D, H, I, F, and G Will be.

【0022】一方、同図(B)に示すように、機能ブロ
ックFBの分割に当っては、データ構造の状態遷移が発
生する。このため、機能ブロック間で処理やデータが移
行する訳であるが、同図では、その条件や状態を矢印で
示している。
On the other hand, as shown in FIG. 1B, when dividing the functional block FB, a state transition of the data structure occurs. For this reason, processing and data are transferred between the functional blocks, and the conditions and states are indicated by arrows in FIG.

【0023】図3は、データフロー解析、機能検証、ハ
ードウエア見積もりのルーティンを詳細に示した説明で
あり、設計者への情報の与え方を含めて示している。
FIG. 3 is a detailed description of routines for data flow analysis, function verification, and hardware estimation, including how to give information to a designer.

【0024】まず、データフロー解析に当たっては、デ
ータの流れが疎な箇所を捜し出し、これを分割箇所の候
補として出力する。
First, in the data flow analysis, a location where the flow of data is sparse is searched for and output as a candidate for a division location.

【0025】このために、ある機能ブロックについて、
その内部機能を、図2(B)に示すような、状態遷移図
で表示し、機能ブロックの処理の流れを捕まえ、データ
の流れが疎な箇所を分割可能箇所候補として、図3に示
すように、点線DLで表示させる。
For this purpose, for a certain functional block,
The internal function is displayed in a state transition diagram as shown in FIG. 2 (B), and the process flow of the functional block is captured, and a portion where the data flow is sparse is set as a divisible portion candidate as shown in FIG. Is displayed as a dotted line DL.

【0026】次に、分割箇所候補で実際に分割された場
合、その前後で回路が機能的に等価かどうか検証を行
う。この結果、ある候補での分割前後の回路が機能的に
等価でないと判明した場合は、その分割箇所は候補から
削除する。
Next, when the division is actually made at the division candidate, whether or not the circuits are functionally equivalent before and after the division is verified. As a result, if it is determined that the circuits before and after the division in a certain candidate are not functionally equivalent, the division is deleted from the candidates.

【0027】次に、ハードウェアの見積りを実施する
が、これは、図3に示すように、実際に分割可能候補箇
所で分割が行われた場合の、機能ブロックFBを点線で
囲んで表示させ、その時の各機能ブロックの面積や処理
速度を表示することによって行われる。
Next, hardware estimation is performed. As shown in FIG. 3, the function block FB in the case where division is actually performed at a dividable candidate portion is displayed by surrounding it with a dotted line. This is done by displaying the area and processing speed of each functional block at that time.

【0028】以上のような、データフロー解析やハード
ウェア見積りによって、図3に示すように、設計者に判
断材料を提供できるので、設計者のスキルや個性に関わ
りなく、合理的な仕様分割ができる。また、仕様分割の
結果もシミュレーションにより直ちに出力可能であるの
で、確実な判断を促すことが可能である。
As shown in FIG. 3, the data can be provided to the designer by the data flow analysis and the hardware estimation as described above, so that rational specification division can be performed irrespective of the skill and individuality of the designer. it can. In addition, since the result of specification division can be output immediately by simulation, it is possible to prompt a reliable determination.

【0029】次に、処理の途中で仕様変更が発生した場
合、図4に示すような機能ブロック分割が行われる。先
ず、同図(A)に示すようなツリー構造で機能ブロック
の分割が行われていた場合を仮定する。
Next, when a specification change occurs during the processing, functional block division as shown in FIG. 4 is performed. First, it is assumed that functional blocks are divided in a tree structure as shown in FIG.

【0030】そして、途中で、機能ブロックEをE’に
するような仕様変更が入った場合、この影響は、機能ブ
ロックEを親とする機能ブロックH、Iにも波及する。
しかし、その影響は、あくまで点線で囲んだ部分でのみ
考えればよい。
Then, if a specification change such that the function block E is changed to E 'is entered on the way, this influence also spreads to the function blocks H and I having the function block E as a parent.
However, the effect may be considered only in the portion surrounded by the dotted line.

【0031】そして、機能ブロックE’に基づいて、同
図(B)に示すように、仕様分割を行い、E’を親とす
るJ、K、Lの3つの機能ブロックへの分割を行う。こ
の作業も、同図の点線で囲んだ部分でのみ処理される。
Then, based on the functional block E ', specification division is performed as shown in FIG. 3B, and division into three functional blocks J, K, and L with E' as a parent is performed. This operation is also performed only in the portion surrounded by the dotted line in FIG.

【0032】つまり、図4(A)の点線で囲んだ部分
を、同図(B)の点線で囲んだ部分と入れ替えれば、仕
様変更への対応が完了したことになる。
That is, by replacing the portion surrounded by the dotted line in FIG. 4A with the portion surrounded by the dotted line in FIG. 4B, the response to the specification change is completed.

【0033】今回の手法を使うと、回路を階層構造を保
ったまま分割しているがゆえに、機能検証は変更された
部分のみでよく、回路全体を検証する必要はない。
According to the present technique, since the circuit is divided while maintaining the hierarchical structure, the function verification may be performed only on the changed part, and it is not necessary to verify the entire circuit.

【0034】さて、LSI回路設計に当って常につきま
とうのが、処理速度重視(タイプTP1)にするか、チ
ップ面積重視(タイプTP2)にするかという、トレー
ドオフの判断が発生する。この場合の機能ブロック分割
について、図5の説明図に示す。
There is a trade-off decision as to whether the emphasis is always on processing speed (type TP1) or chip area (type TP2) in LSI circuit design. The functional block division in this case is shown in the explanatory diagram of FIG.

【0035】先ず、仕様がA、Bの2つの機能ブロック
に分割され、更にこれらが、それぞれ、C、D、Eの3
つの機能ブロックおよびF、Gの2つの機能ブロックに
分割されているものとする。
First, the specification is divided into two functional blocks A and B, which are further divided into three functional blocks C, D and E, respectively.
It is assumed that the function block is divided into one functional block and two functional blocks F and G.

【0036】さて、ここで機能ブロックEが処理速度4
0で、リソースをシエアできる部分があり、チップ面積
の縮小の可能性もあるものとする。
Now, the function block E has a processing speed of 4
0 means that there is a portion where resources can be shared, and there is a possibility that the chip area may be reduced.

【0037】さて、処理速度重視の場合、機能ブロック
Eを並列処理化Pして、処理速度20のH、Iの2つの
機能ブロックに分割する。
When the processing speed is emphasized, the functional block E is parallel-processed P and divided into two functional blocks H and I at the processing speed 20.

【0038】その結果、処理速度を重視した機能ブロッ
クの分割が行われる。
As a result, functional blocks are divided with emphasis on processing speed.

【0039】これに対して、チップ面積重視の場合、む
しろ機能ブロックEをH、Iに分けるよりも、これらの
リソースシェアリングを行い、この部分の余分な回路を
除いたほうが合理的である。したがって、機能ブロック
Eを分割せずに、チップ面積の縮小の方を選択する。
On the other hand, in the case where the chip area is emphasized, it is more reasonable to perform resource sharing of these functional blocks E and remove unnecessary circuits in this portion, rather than dividing the functional blocks E into H and I. Therefore, the reduction of the chip area is selected without dividing the functional block E.

【0040】以上のように、トレードオフの場合も、デ
ータフロー解析とハードウェア見積りを、機能ブロック
への分割の各過程で簡単に実施できるので、そのための
判断に要する時間が短くて済み、また確実な判断を行う
ことができる。
As described above, even in the case of a trade-off, the data flow analysis and the hardware estimation can be easily performed in each process of division into functional blocks, so that the time required for the determination is short. A reliable decision can be made.

【0041】以上述べたように、仕様の分割に当って、
各分割階層におけるデータフローの解析、ハードウェア
の見積りをシミュレーションし、これに基づく検証を行
うので、設計者の仕様分割の判断を確実にすることが可
能であり、また仕様分割の各階層での検証結果をデータ
ベース化して残しておくことにより、分割結果の妥当性
の判断を、検証結果の比較により行うことができ、更
に、仕様変更に対しても、簡単に対処でき、またトレー
ドオフが発生しても確実な判断ができるので、LSI設
計における効率が格段に改善され、また各プロセスにお
ける検証により設計信頼性が大幅に向上する。
As described above, in dividing the specifications,
The simulation of the data flow and the estimation of the hardware at each division level are simulated, and the verification based on this is performed, so that the designer can reliably determine the specification division, and the specification division at each level is also possible. By storing the verification results in a database, the validity of the division results can be judged by comparing the verification results, and furthermore, it is possible to easily deal with specification changes and there is a trade-off However, since a reliable judgment can be made, the efficiency in LSI design is remarkably improved, and the design reliability is greatly improved by verification in each process.

【0042】[0042]

【発明の効果】以上述べたように、本発明は、仕様、R
Tレベルの設計と、その検証を連続的に実施するように
構成したので、LSIの設計期間の短縮に効果的であ
り、また仕様レベルの変更に対しても容易に対処でき、
更に、いくつかのRTレベルの回路を作成し、性能、面
積などの観点から試行錯誤しながら、最適回路を選択す
る場合も、これを迅速に実行でき、また、一貫した過程
の中で、途中の回路分割結果などのデータベースや図形
の形で残せるので、設計プロセスの考え方を把握しやす
いという、さまざまな効果がある。
As described above, according to the present invention, the specification, R
Since the T-level design and its verification are configured to be performed continuously, it is effective in shortening the LSI design period, and can easily deal with changes in the specification level.
Furthermore, when several RT-level circuits are created and the optimal circuit is selected by trial and error in terms of performance, area, etc., this can be executed quickly, and in a consistent process, Since the results can be left in the form of a database or a diagram of the results of circuit division, there are various effects that the concept of the design process can be easily understood.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例を説明するための処理流れ図で
ある。
FIG. 1 is a process flow chart for explaining an embodiment of the present invention.

【図2】ある仕様を分割する場合の一例を示す説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a case where a certain specification is divided.

【図3】データフロー解析とハードウェア見積りのルー
ティンを詳細に示した説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing in detail a routine for data flow analysis and hardware estimation.

【図4】処理の途中で仕様変更が発生した場合の処理方
法の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a processing method when a specification change occurs during processing.

【図5】トレードオフの判断を行う場合の機能ブロック
の分割の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of division of functional blocks when making a trade-off determination.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】アルゴリズムレベルの仕様を入力する第1
の過程と、 前記仕様に基づくデータフローの解析を行う第2の過程
と、 前記第2の過程における解析結果に基づいて、分割候補
を列挙する第3の過程と、 前記第3の過程において列挙した候補に基づいて機能検
証を行う第4の過程と、 第3の過程において列挙した候補に基づいてハードウエ
アの見積もりを行う第5の過程と、 前記機能検証とハードウエア見積もりの結果に基づい
て、仕様の機能ブロックへの分割が必要かどうかを判断
する第6の過程と、 前記第4の過程における判断が分割するというものであ
るときには、分割した後第2の過程に渡す第7の過程
と、 を備えることを特徴とするLSI設計検証方法。
1. A first method for inputting an algorithm-level specification.
A second step of analyzing a data flow based on the specification; a third step of listing division candidates based on an analysis result in the second step; and a second step of listing in the third step A fourth step of performing a function verification based on the candidates obtained, a fifth step of estimating hardware based on the candidates enumerated in the third step, and based on the results of the function verification and the hardware estimation. A sixth step of determining whether it is necessary to divide the specification into functional blocks; and, if the determination in the fourth step is to divide, a seventh step of dividing and passing to the second step. An LSI design verification method, comprising:
【請求項2】前記第2の過程においてデータフローの疎
な部分を検索し、出力させる、請求項1のLSI設計検
証方法。
2. The LSI design verification method according to claim 1, wherein a sparse portion of the data flow is searched and output in the second step.
【請求項3】前記第5の過程において、分割された機能
ブロックにおける回路性能を見積り、出力させる、請求
項1又は2のLSI設計検証方法。
3. The LSI design verification method according to claim 1, wherein in the fifth step, the circuit performance of the divided functional blocks is estimated and output.
【請求項4】前記第5の過程で、論理合成時の制約条件
を出力するようにした、請求項1乃至3のいずれかのL
SI設計検証方法。
4. The method according to claim 1, wherein in the fifth step, a constraint condition at the time of logic synthesis is output.
SI design verification method.
【請求項5】前記データフロー解析の結果または、前記
ハードウェア見積りの結果を、図面表示とデータ表示に
より、出力する、請求項1乃至4のいずれかのLSI設
計検証方法。
5. The LSI design verification method according to claim 1, wherein a result of said data flow analysis or a result of said hardware estimation is output by drawing display and data display.
【請求項6】前記仕様の入力を図形を用いて行うように
した請求項1乃至5のいずれかのLSI設計検証方法。
6. The LSI design verification method according to claim 1, wherein the specification is input using a graphic.
【請求項7】アルゴリズムレベルの仕様を入力し、検証
を行いながら、レジスタ・トランスファー・レベルの回
路を設計する手段と、 アルゴリズムレベルの仕様を、階層的にレジスタ・トラ
ンスファー・レベルまで分割する手段と、 分割過程の各階層において、分割可能な箇所を図形中で
表示して、分割するかどうかの判断基準となる情報を提
供する手段と、 各階層の分割結果に対して機能検証を行う手段と、 を有することを特徴とするLSI設計検証装置。
7. A means for designing a register transfer level circuit while inputting and verifying an algorithm level specification, and a means for hierarchically dividing the algorithm level specification into a register transfer level. A means for displaying, in each figure of the division process, parts that can be divided in a graphic and providing information as a criterion for determining whether to divide, and a means for verifying the function of the division result of each layer. An LSI design verification device, comprising:
【請求項8】前記仕様の入力を図形を用いて行うように
した請求項7のLSI設計検証装置。
8. The LSI design verification device according to claim 7, wherein the input of the specification is performed using a graphic.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006126509A1 (en) * 2005-05-26 2006-11-30 Class Technology Co., Ltd. Cost element managing system

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