JPH10340065A - 画像処理ｌｓｉ，及びその調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 外部にテスト映像信号源を必要としない画像
処理ＬＳＩ、及び疑似輪郭状のノイズの解析が容易な画
像処理ＬＳＩの調整方法を提供する。 【解決手段】 入力される映像信号を、パラメータに従
って、１フィールド毎に２値の輝度を有する所定数のサ
ブフィールドに分割して変換し、サブフィールド信号と
して外部に出力するサブフィールド処理手段６と、その
１フィールドの画素の輝度が、水平方向に対し最小レベ
ルから最大レベルまでの間で１画素毎に１単位ずつ増加
するランプ波形状に変化するようなテスト映像信号を出
力するテスト映像信号発生手段４と、外部から入力され
る映像信号と上記テスト映像信号発生手段４から出力さ
れるテスト映像信号とを切り換えてサブフィールド処理
手段６に入力する切換手段５とを備えたものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマディスプ
レイパネル（以下ＰＤＰ（Plasma Display Panel）と略
記する）などの２値のみの輝度を持つ画像表示装置上
に、サブフィールド法を用いて、中間階調を持つ動画像
を表示するために、入力映像信号をサブフィールド変換
する画像処理ＬＳＩ，及びその調整方法に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】図３は、従来の画像処理ＬＳＩの構成及
びその使用状態を示すブロック図である。図３におい
て、１０１はテスト映像信号源としての外部テスト映像
信号発生器、２は外部映像信号源、１０２は外部テスト
映像信号発生器１０１から出力されるテスト映像信号と
外部映像信号源２から出力される映像信号とを切り替え
て出力する外部切換スイッチ、３はサブフィールドの重
みづけや発光順序を指定するパラメータを入力するため
のパラメータ入力端子、６は外部切換スイッチ１０２か
ら出力される映像信号又はテスト映像信号を、パラメー
タ入力端子３から入力されるパラメータに従ってサブフ
ィールド変換し、サブフィールド信号として出力するサ
ブフィールド処理回路、１０はプラズマディスプレイパ
ネル（以下ＰＤＰと略記する）、７，８，及び９はサブ
フィールド処理回路６から出力されるサブフィールド信
号に従ってＰＤＰ１０を駆動する駆動素子である。

【０００３】１１はサブフィールド処理回路６から構成
される画像処理ＬＳＩとしてのサブフィールドＬＳＩで
ある。また、ＰＤＰ１０は、２値のみの輝度を有するも
のである。また、外部テスト映像信号発生器１０１は、
一般の動画像からなる映像信号を出力するものである。

【０００４】次に、このように構成された画像処理ＬＳ
Ｉの動作を説明する。使用時には、外部切換スイッチ１
０２を外部映像信号源２側に切り換える。これにより、
外部映像信号源２から出力された映像信号は、外部切換
スイッチ１０２を経て、サブフィールド処理回路６に入
力される。この入力を受け、サブフィールド処理回路６
は、該入力された映像信号を、パラメータ入力端子３か
ら入力されるパラメータに従って、１フィールド毎に、
２値の輝度を有する所定数のサブフィールドに時間的に
分割し、かつ該分割した所定数のサブフィールドの映像
を時間的に重ねて得られる１フィールドの各画素の表示
時間が上記映像信号の１フィールドの各画素の輝度に対
応するようにして変換し、これをサブフィールド信号と
して出力する。この際に、上記入力されたパラメータに
従って、分割した各サブフィールドの重みづけ及び発光
の順序付けを行うとともに、ＰＤＰ１０の仕様に従った
形式に変換する。上記出力を受け、駆動素子７，８，及
び９は、該出力されたサブフィールド信号に従ってＰＤ
Ｐ１０を駆動する。これにより、ＰＤＰ１０上に、サブ
フィールド信号に従って、画像が、１フィールド毎に、
上記所定数のサブフィールドが上記重みづけ及び発光の
順序でもって、時間的に重ねられるようにして表示され
る。その結果、ＰＤＰ１０に表示される画像は、１フィ
ールドの各画素の表示時間が、上記映像信号の１フィー
ルドの各画素の輝度に対応するものとなり、該映像信号
の中間階調に対応する中間階調を有するものとなる。

【０００５】次に、画像処理ＬＳＩを調整するには、外
部切換スイッチ１０２を外部テスト映像信号発生器１０
１側に切り換える。これにより、外部テスト映像信号発
生器１０１から出力されたテスト映像信号がサブフィー
ルド処理回路６へ入力され、サブフィールド信号に変換
され、該サブフィールド信号に従った画像がＰＤＰ１０
上に表示される。これにより、外部テスト映像信号発生
器１０１が発生する画像をＰＤＰ１０上にて観測するこ
とができる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来例
のように、２値のみの輝度を持つＰＤＰなどの画像表示
装置上に、それぞれ重みづけられた複数の２値の画像を
時間的に重ねるサブフィールド法を用いて、中間階調を
持つ動画像を表示する場合、動画像に対して独特の疑似
輪郭状のノイズが見られ画質が劣化する。そこで上記疑
似輪郭状のノイズを抑制するため、パラメータ端子３か
ら入力するパラメータを用いて、各サブフィールドの重
みづけや発光順序を調整する必要がある。

【０００７】しかしながら、上記従来例の構成では、疑
似輪郭状のノイズが目立たないように各サブフィールド
の重みづけや発光順序を調整する際に、動画像を発生で
きる外部テスト映像信号発生器１０１が、サブフィール
ドＬＳＩ１１の外部に必要となるという問題を有してい
る。

【０００８】本発明はかかる問題点を解決するためにな
されたもので、外部にテスト映像信号源を必要としない
画像処理ＬＳＩ、及び疑似輪郭状のノイズの解析が容易
な画像処理ＬＳＩの調整方法を提供することを目的とし
ている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明（請求項１）に係
る画像処理ＬＳＩは、外部から入力される映像信号を、
２値の輝度を有する画像表示装置で画像再生することが
可能なサブフィールド信号に変換する画像処理ＬＳＩで
あって、入力される映像信号を、外部から入力される変
換内容を指示するパラメータに従って、１フィールド毎
に、２値の輝度を有する所定数のサブフィールドに時間
的に分割し、かつ該分割した所定数のサブフィールドの
映像を時間的に重ねて得られる１フィールドの各画素の
表示時間が上記映像信号の１フィールドの各画素の輝度
に対応するようにして変換し、これをサブフィールド信
号として外部に出力するサブフィールド処理手段と、上
記サブフィールド信号を、上記２値の輝度を有する画像
表示装置で画像再生したとき、上記パラメータが不適切
であるために生じる疑似輪郭状のノイズを検出するため
のテスト映像信号を出力するテスト映像信号発生手段
と、上記外部から入力される映像信号と上記テスト映像
信号発生手段から出力されるテスト映像信号とを切り換
えて上記サブフィールド処理手段に入力する切換手段と
を備えたものである。

【００１０】本発明（請求項２）に係る画像処理ＬＳＩ
は、上記画像処理ＬＳＩ（請求項１）において、上記テ
スト映像信号発生手段は、その１フィールドの画素の輝
度が、水平方向に対し最小レベルから最大レベルまでの
間で１画素毎に１単位ずつ増加するランプ波形状に変化
し、かつ該ランプ波形は１フィールド進む毎にフィール
ドの水平方向に移動するものであるようなテスト映像信
号を出力するものであるようにしたものである。

【００１１】本発明（請求項３）に係る画像処理ＬＳＩ
は、上記画像処理ＬＳＩ（請求項２）において、上記テ
スト映像信号発生手段は、外部から上記ランプ波形のフ
ィールドに対する移動速度を指示するための画素数Ｎが
入力されると、上記テスト映像信号を、上記ランプ波形
が、１フィールド進む毎にフィールドの水平方向にＮ画
素移動するものであるようにするものである。

【００１２】本発明（請求項４）に係る画像処理ＬＳＩ
は、上記画像処理ＬＳＩ（請求項３）において、上記テ
スト映像信号発生手段は、上記外部から入力される画素
数Ｎの正負に応じて、上記ランプ波形の、１フィールド
進む毎のフィールドの水平方向における移動方向を設定
するものであるようにしたものである。

【００１３】本発明（請求項５）に係る画像処理ＬＳＩ
の調整方法は、外部から入力される映像信号を、２値の
輝度を有する画像表示装置で画像再生するために、外部
から入力される変換内容を指示するパラメータに従っ
て、１フィールド毎に２値の輝度を有する所定数のサブ
フィールドに時間的に分割し、かつ該分割した所定数の
サブフィールドの映像を時間的に重ねて得られる１フィ
ールドの各画素の表示時間が上記映像信号の１フィール
ドの各画素の輝度に対応するようにして変換する画像処
理ＬＳＩの調整方法であって、その１フィールドの画素
の輝度が、水平方向に対し１画素毎に１単位ずつ増加す
るランプ波形状に変化し、かつ該ランプ波形は１フィー
ルド進む毎にフィールドの水平方向に移動するものであ
るようなテスト映像信号を上記画像処理ＬＳＩに入力
し、上記画像処理ＬＳＩから出力されるサブフィールド
信号を、上記２値の輝度を有する画像表示装置で画像再
生して、上記パラメータが不適切であるために生じる疑
似輪郭状のノイズを検出し、該検出した疑似輪郭状のノ
イズを、上記パラメータを調整することにより抑制する
ようにしているものである。

【００１４】

【発明の実施の形態】

実施の形態１．図１は、本発明の実施の形態１による画
像処理ＬＳＩの構成，及びその使用状態を示すブロック
図である。図１において、１１は、画像処理ＬＳＩとし
てのサブフィールドＬＳＩ、２は外部映像信号源、１０
は２値の輝度を有するＰＤＰ、７，８，及び９はサブフ
ィールドＬＳＩ１１から出力されるサブフィールド信号
に従ってＰＤＰ１０を駆動する駆動素子である。

【００１５】サブフィールドＬＳＩ１１は、モードコン
トロール端子１，パラメータ入力端子３，テスト映像信
号発生回路（テスト映像信号発生手段）４，切換スイッ
チ（切換手段）５，及びサブフィールド処理回路（サブ
フィールド処理手段）６で構成されている。

【００１６】モードコントロール端子１は、テスト映像
信号のランプ波形の移動速度，及び移動方向を設定する
ための移動画素数Ｎを入力するためのものである。パラ
メータ入力端子３は、サブフィールドの重みづけや発光
順序を指定するパラメータを入力するためのものであ
る。テスト映像信号発生回路４は、モードコントロール
端子１から入力される画素数Ｎに応じて、後述するフィ
ールドの輝度を水平方向にランプ波形状に変化せしめて
なるテスト映像信号を出力する。

【００１７】切換スイッチ５は、テスト映像信号発生器
１０１から出力されるテスト映像信号発生回路と外部映
像信号源２から出力される映像信号とを切り替えて出力
する。６は切換スイッチ５から出力される映像信号又は
テスト映像信号を、パラメータ入力端子３から入力され
るパラメータに従ってサブフィールド変換し、サブフィ
ールド信号として出力する。

【００１８】図２は、映像信号発生回路４が発生するテ
スト映像信号の、１フィールドの水平方向における画素
の輝度の変化を示すグラフ図であって、図２(a) はラン
プ波形を図面左方向に移動せしめるようなテスト映像信
号を示す図、図２(b) はランプ波形を図面右方向に移動
せしめるようなテスト映像信号を示す図である。

【００１９】図において、横軸は、１フィールドの１水
平走査期間内の画素（本映像信号が画像表示装置上に画
像表示される際の１水平走査線上に位置する画素、本実
施の形態１では、図示するように６４０画素としてい
る）を示し、縦軸は、輝度（本実施の形態１では、図示
するように、例えば０レベルから２５５レベルまでの２
５６階調としている）を示しており、テスト映像信号の
１フィールドの画素の輝度は、水平方向に対し０レベル
から２５５レベルまでの間で１画素毎に１単位ずつ増加
するランプ波形状に変化するものとなっている。

【００２０】そして、モードコントロール端子１から入
力される移動画素数が正の値であるＮ（Ｎ＞０）である
と、テスト映像信号発生回路４は、図２(a) の上段に示
すあるフィールド（第１フィールド）におけるランプ波
形に対し、図２(a) の下段に示す次のフィールド（第２
フィールド）におけるランプ波形が、水平走査期間内に
おける最初の画素の輝度がＮレベル増加し、それにより
全体が図面左方向にＮ画素分だけ移動するテスト映像信
号を出力する。

【００２１】一方、モードコントロール端子１から入力
される移動画素数が負の値である−Ｎ（Ｎ＞０）である
と、テスト映像信号発生回路４は、図２(b) の上段に示
すあるフィールド（第１フィールド）におけるランプ波
形に対し、図２(b) の下段に示す次のフィールド（第２
フィールド）におけるランプ波形が、水平走査期間内に
おける最初の画素の輝度がＮレベル減少し（図では０−
Ｎ＝２５６−Ｎとなっている）、それにより全体が図面
右方向にＮ画素分だけ移動するテスト映像信号を出力す
る。

【００２２】次に、以上のように構成された画像処理Ｌ
ＳＩの動作を図１，２を用いて説明する。使用時には、
選択端子（図示せず）から選択信号を入力することによ
り、切換スイッチ５を外部映像信号源２側に切り換え
る。これにより、外部映像信号源２から出力された映像
信号は、外部切換スイッチ１０２を経て、サブフィール
ド処理回路６に入力される。この入力を受け、サブフィ
ールド処理回路６は、該入力された映像信号を、パラメ
ータ入力端子３から入力されるパラメータに従って、１
フィールド毎に、２値の輝度を有する所定数のサブフィ
ールドに時間的に分割し、かつ該分割した所定数のサブ
フィールドの映像を時間的に重ねて得られる１フィール
ドの各画素の表示時間が上記映像信号の１フィールドの
各画素の輝度に対応するようにして変換し、これをサブ
フィールド信号として出力する。この際に、上記入力さ
れたパラメータに従って、分割した各サブフィールドの
重みづけ及び発光の順序付けを行うとともに、ＰＤＰ１
０の仕様に従った形式に変換する。上記出力を受け、駆
動素子７，８，及び９は、該出力されたサブフィールド
信号に従ってＰＤＰ１０を駆動する。これにより、ＰＤ
Ｐ１０上に、サブフィールド信号に従って、画像が、１
フィールド毎に、上記所定数のサブフィールドが上記重
みづけ及び発光の順序でもって、時間的に重ねられるよ
うにして表示される。その結果、ＰＤＰ１０に表示され
る画像は、１フィールドの各画素の表示時間が、上記映
像信号の１フィールドの各画素の輝度に対応するものと
なり、該映像信号の中間階調に対応する中間階調を有す
るものとなる。

【００２３】次に、画像処理ＬＳＩを調整するには、選
択端子から選択信号を入力することにより、切換スイッ
チ５をテスト映像信号発生回路４側に切り換える。次い
で、モードコントロール端子１からある移動画素数を入
力し、テスト映像信号発生回路４をオンする。すると、
テスト映像信号発生回路４から出力されたテスト映像信
号がサブフィールド処理回路６へ入力され、サブフィー
ルド信号に変換され、該サブフィールド信号に従った画
像がＰＤＰ１０上に表示される。これにより、テスト映
像信号回路４が発生するテスト映像信号に従った画像を
ＰＤＰ１０上にて観測することができる。そして、この
際に疑似輪郭状のノイズが発生していれば、パラメータ
端子３に入力するパラメータを用いて、該疑似輪郭状の
ノイズの発生を抑制するよう、サブフィールドの重みづ
けや発光順序を調整する。

【００２４】ここで、上記観測される画像は、図２に示
すテスト映像信号の輝度のランプ波形に対応して、明度
が水平方向に連続的に変化する縦縞模様（以下、ランプ
状の縦縞模様と記載する）のものとなり、かつこのラン
プ状の縦縞模様が上記ある移動画素数に応じた速度で水
平方向に移動するものとなる。このため、動画に特有の
疑似輪郭状のノイズがどの輝度レベルで発生するかを特
定することができ、かつ表示される画像が単純なランプ
状の縦縞模様であるので、疑似輪郭状のノイズの解析が
容易となる。

【００２５】次に、この際に、モードコントロール端子
１に入力する移動画素数を変化させると、テスト映像信
号のランプ波形及びそれに対応するランプ状の縦縞模様
は以下のように移動する。すなわち、モードコントロー
ル端子１から入力する移動画素数Ｎの値が正（Ｎ＞０）
の場合には、図２(a) に示すように、ランプ波形に対応
するランプ状の縦縞模様は、ＰＤＰ１０上で右から左へ
移動する。モードコントロール端子１から入力する移動
画素数Ｎの値が負（Ｎ＜０）の場合には、図２(b) に示
すように、ランプ波形に対応するランプ状の縦縞模様
は、ＰＤＰ１０上で左から右へ移動する。また、移動画
素数Ｎの値が０（Ｎ＝０）の場合には、ランプ波形に対
応するランプ状の縦縞模様は静止する。また、モードコ
ントロール端子１から入力する移動画素数Ｎの絶対値を
大きくするとランプ波形に対応するランプ状の縦縞模様
の移動速度は速くなる。

【００２６】このような、移動速度が異なるランプ波形
に対応する動画像（ランプ状の縦縞模様）をＰＤＰ１０
上にて観測することで、どの輝度レベルからどの輝度レ
ベルへ変化するときに疑似輪郭状のノイズが発生するか
を特定することが可能となる。

【００２７】また、ランプ波形に対応する動画像をＰＤ
Ｐ１０上にて観測する際に移動方向を変えることができ
るので、どの輝度レベルからどの輝度レベルへ変化する
ときに疑似輪郭状のノイズが発生するかを正確に特定す
ることが可能となる。

【００２８】以上のように本実施の形態１によれば、サ
ブフィールドＬＳＩ１１内に映像信号発生回路４を内蔵
することで、従来用いていた各サブフィールドの重みづ
けや発光順序を調整するための外部テスト映像信号発生
器が不要となる。

【００２９】また、映像信号発生回路４のモードを変え
ることで、テスト映像信号におけるランプ波形を左右に
速度を変えて移動、または静止せしめ、それにより、各
サブフィールドの重みづけや発光順序を調整する際に、
疑似輪郭状のノイズの発生する輝度レベル及び、どの輝
度レベルからどの輝度レベルへ変化するときに疑似輪郭
状のノイズが発生するのかを特定することができ、最適
な調整が簡単に可能となる。

【００３０】

【発明の効果】以上のように請求項１の発明によれば、
画像処理ＬＳＩに、パラメータが不適切である場合に生
じる疑似輪郭状のノイズを検出するためのテスト映像信
号を出力するテスト映像信号発生手段を内蔵せしめたの
で、外部にテスト映像信号源を必要としない。

【００３１】また、請求項２の発明によれば、テスト映
像信号発生手段を、その１フィールドの画素の輝度が、
水平方向に対し最小レベルから最大レベルまでの間で１
画素毎に１単位ずつ増加するランプ波形状に変化し、か
つ該ランプ波形が１フィールド進む毎にフィールドの水
平方向に移動するものであるようなテスト映像信号を出
力するものとしたので、動画に特有の疑似輪郭状のノイ
ズがどの輝度レベルで発生するかを特定することがで
き、かつフィールドの水平方向に対し画素の輝度レベル
が単純なランプ波形状に変化するため、疑似輪郭状のノ
イズの解析が容易となる。

【００３２】また、請求項３の発明によれば、テスト映
像信号発生手段を、外部からランプ波形のフィールドに
対する移動速度を指示するための画素数Ｎが入力される
と、上記テスト映像信号を、上記ランプ波形が、１フィ
ールド進む毎にフィールドの水平方向にＮ画素移動する
ものであるようにするものとしたので、外部から入力す
る画素数Ｎを変化させることにより、テスト映像信号の
ランプ波形のフィールドに対する移動速度を変化させ
て、疑似輪郭状のノイズがどの輝度レベルからどの輝度
レべルに変化するときに発生するかを特定することがで
きる。

【００３３】また、請求項４の発明によれば、テスト映
像信号発生手段を、外部から入力される画素数Ｎの正負
に応じて、ランプ波形の、１フィールド進む毎のフィー
ルドの水平方向における移動方向を設定するものとした
ので、外部から入力する画素数Ｎの正負を変化させるこ
とにより、テスト映像信号のランプ波形のフィールドの
水平方向における移動方向を変化させて、疑似輪郭状の
ノイズがどの輝度レベルからどの輝度レべルに変化する
ときに発生するかを正確に特定することができる。

【００３４】また請求項５の発明によれば、画像処理Ｌ
ＳＩに入力するテスト映像信号として、その１フィール
ドの画素の輝度が、水平方向に対し１画素毎に１単位ず
つ増加するランプ波形状に変化し、かつ該ランプ波形は
１フィールド進む毎にフィールドの水平方向に移動する
ものであるようなテスト映像信号を用いるようにしてい
るので、動画に特有の疑似輪郭状のノイズがどの輝度レ
ベルで発生するかを特定することができ、かつフィール
ドの水平方向に対し画素の輝度レベルが単純なランプ波
形状に変化するため、疑似輪郭状のノイズの解析が容易
となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施の形態１による画像処理ＬＳＩ
の構成及びその使用状態を示すブロック図である。

【図２】 図１の映像信号発生回路が発生するテスト映
像信号の、１フィールドの水平方向における画素の輝度
の変化を示すグラフ図であって、ランプ波形を図面左方
向に移動せしめるようなテスト映像信号を示す図（図２
(a) ）、及びランプ波形を図面右方向に移動せしめるよ
うなテスト映像信号を示す図（図２(b) ）である。

【図３】従来の画像処理ＬＳＩとしてのサブフィールド
ＬＳＩの構成及びその使用状態を示すブロック図であ
る。

【符号の説明】

１ モードコントロール端子 ２ 外部映像信号源 ３ パラメータ入力端子 ４ 映像信号発生回路 ５ 切換スイッチ ６ サブフィールド処理回路 ７、８、９ 駆動素子 １０ プラズマディスプレイパネル １１ サブフィールドＬＳＩ １０１ 外部テスト映像信号発生器 １０２ 外部切換スイッチ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川村 秀昭 神奈川県川崎市多摩区東三田３丁目10番１ 号 松下技研株式会社内 (72)発明者 大平 一雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 外部から入力される映像信号を、２値の
   輝度を有する画像表示装置で画像再生することが可能な
   サブフィールド信号に変換する画像処理ＬＳＩであっ
   て、 入力される映像信号を、外部から入力される変換内容を
   指示するパラメータに従って、１フィールド毎に、２値
   の輝度を有する所定数のサブフィールドに時間的に分割
   し、かつ該分割した所定数のサブフィールドの映像を時
   間的に重ねて得られる１フィールドの各画素の表示時間
   が上記映像信号の１フィールドの各画素の輝度に対応す
   るようにして変換し、これをサブフィールド信号として
   外部に出力するサブフィールド処理手段と、 上記サブフィールド信号を、上記２値の輝度を有する画
   像表示装置で画像再生したとき、上記パラメータが不適
   切であるために生じる疑似輪郭状のノイズを検出するた
   めのテスト映像信号を出力するテスト映像信号発生手段
   と、 上記外部から入力される映像信号と上記テスト映像信号
   発生手段から出力されるテスト映像信号とを切り換えて
   上記サブフィールド処理手段に入力する切換手段とを備
   えたことを特徴とする画像処理ＬＳＩ。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の画像処理ＬＳＩにおい
   て、 上記テスト映像信号発生手段は、その１フィールドの画
   素の輝度が、水平方向に対し最小レベルから最大レベル
   までの間で１画素毎に１単位ずつ増加するランプ波形状
   に変化し、かつ該ランプ波形は１フィールド進む毎にフ
   ィールドの水平方向に移動するものであるようなテスト
   映像信号を出力するものであることを特徴とする画像処
   理ＬＳＩ。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の画像処理ＬＳＩにおい
   て、 上記テスト映像信号発生手段は、外部から上記ランプ波
   形のフィールドに対する移動速度を指示するための移動
   画素数Ｎが入力されると、上記テスト映像信号を、上記
   ランプ波形が、１フィールド進む毎にフィールドの水平
   方向にＮ画素分移動するものであるようにすることを特
   徴とする画像処理ＬＳＩ。
4. 【請求項４】 請求項３に記載の画像処理ＬＳＩにおい
   て、 上記テスト映像信号発生手段は、上記外部から入力され
   る移動画素数Ｎの正負に応じて、上記ランプ波形の、１
   フィールド進む毎のフィールドの水平方向における移動
   方向を設定するものであることを特徴とする画像処理Ｌ
   ＳＩ。
5. 【請求項５】 外部から入力される映像信号を、２値の
   輝度を有する画像表示装置で画像再生するために、外部
   から入力される変換内容を指示するパラメータに従っ
   て、１フィールド毎に２値の輝度を有する所定数のサブ
   フィールドに時間的に分割し、かつ該分割した所定数の
   サブフィールドの映像を時間的に重ねて得られる１フィ
   ールドの各画素の表示時間が上記映像信号の１フィール
   ドの各画素の輝度に対応するようにして変換する画像処
   理ＬＳＩの調整方法であって、 その１フィールドの画素の輝度が、水平方向に対し１画
   素毎に１単位ずつ増加するランプ波形状に変化し、かつ
   該ランプ波形は１フィールド進む毎にフィールドの水平
   方向に移動するものであるようなテスト映像信号を上記
   画像処理ＬＳＩに入力し、 上記画像処理ＬＳＩから出力されるサブフィールド信号
   を、上記２値の輝度を有する画像表示装置で画像再生し
   て、上記パラメータが不適切であるために生じる疑似輪
   郭状のノイズを検出し、 該検出した疑似輪郭状のノイズを、上記パラメータを調
   整することにより抑制することを特徴とする画像処理Ｌ
   ＳＩの調整方法。