JPH10335587A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JPH10335587A
JPH10335587A JP9142190A JP14219097A JPH10335587A JP H10335587 A JPH10335587 A JP H10335587A JP 9142190 A JP9142190 A JP 9142190A JP 14219097 A JP14219097 A JP 14219097A JP H10335587 A JPH10335587 A JP H10335587A
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wiring
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JP9142190A
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Hisaki Nakayama
寿樹 仲山
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device which outputs plural similar or inverted signals, by allowing waveform distortions of plural outputs under effect of parasitic element sticking to wirings in a PKG(package) and on a semiconductor substrate to be almost identical. SOLUTION: A semiconductor device comprises plural circuits outputting similar or inverted signals formed on a semiconductor substrate 301. Plural wirings 103, 201, 117, 109, 202, and 118 from the output on the semiconductor substrate of a circuit to the output terminal of a package are allocated in almost axis or point symmetry about the package or the semiconductor substrate. The power source wiring from the package terminal to the circuit for supplying a power source voltage to the circuit is allocated in almost axis or point symmetry about the package or the semiconductor substrate 301. The plural wirings on a mounting substrate from the package output to a target element to which the signal is transferred are configured in axis or point symmetry about the package.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に係わ
り、特に高速又は大電流のスイッチングを行なう複数の
相似又は反転した信号を出力する半導体装置に好適に用
いられる半導体装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly to a semiconductor device suitably used for a semiconductor device which outputs a plurality of similar or inverted signals for performing high-speed or large-current switching.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7(a)に集積回路の実装状態図、図
7(b)に寄生素子を含めた等価回路図を示す。図7
(a)において、1,2は信号を出力する出力段のPM
OSFETとNMOSFET、3は半導体基板上の配
線、4はボンディングパッド、5は集積回路を含むチッ
プ、6はチップとリードフレーム間のボンディングワイ
ヤー、7はリードフレーム、8は集積回路の外部の配
線、9は負荷、10は集積回路を含むパッケージ(PK
G)である。
2. Description of the Related Art FIG. 7A shows a mounting state diagram of an integrated circuit, and FIG. 7B shows an equivalent circuit diagram including a parasitic element. FIG.
In (a), PMs 1 and 2 of an output stage for outputting a signal
OSFET and NMOSFET, 3 is a wiring on a semiconductor substrate, 4 is a bonding pad, 5 is a chip including an integrated circuit, 6 is a bonding wire between the chip and a lead frame, 7 is a lead frame, 8 is an external wiring of the integrated circuit, 9 is a load, 10 is a package including an integrated circuit (PK
G).

【0003】また、図7(b)において、11,12は
半導体基板上の配線に寄生するインダクタンスと抵抗、
13,14はボンディングワイヤーに寄生するインダク
タンスと抵抗、15,16はリードフレームに寄生する
インダクタンスと抵抗、17,18は外部配線に寄生す
るインダクタンスと抵抗である。
In FIG. 7B, reference numerals 11 and 12 denote inductance and resistance parasitic on wiring on a semiconductor substrate;
Reference numerals 13 and 14 denote inductance and resistance parasitic on the bonding wire, reference numerals 15 and 16 denote inductance and resistance parasitic on the lead frame, and reference numerals 17 and 18 denote inductance and resistance parasitic on the external wiring.

【0004】図7(b)の等価回路を集中定数で表した
図7(c)を用いて容量負荷23のときのスイッチング
時の動作を調べる。ここで19は電源、20は立ち上が
り時にONするPMOSFETを示すスイッチ、インダ
クタンス21はインダクタンス11,13,15,17
の和、抵抗22は抵抗12,14,16,18とPMO
SFET1のON抵抗との和である。
The operation at the time of switching with the capacitive load 23 will be examined with reference to FIG. 7C in which the equivalent circuit of FIG. Here, 19 is a power supply, 20 is a switch indicating a PMOSFET which is turned on at the time of rising, and inductance 21 is inductances 11, 13, 15, and 17.
, The resistor 22 is composed of the resistors 12, 14, 16, 18 and the PMO
This is the sum with the ON resistance of SFET1.

【0005】図7(c)の回路について電荷をqとする
と、次式が成り立つ。
[0005] Assuming that the charge is q in the circuit of FIG.

【0006】 L(d2 q/dt2 )+R(dq/dt)+q/c=Vcc (1) 特解は、qs =CVcc (2) 補解は、d/dtの代わりにPとおいて特性方程式を求
めると LP2 +RP+1/C=0 (3) (3)式の2つの解をP1 ,P2 とすると P1 ,P2 =−(R/2L)±(1/2L)・√(R2 −(4L/C)) (4) この解はR,L,Cの大きさで3つの場合に分けられ
る。
L (d 2 q / dt 2 ) + R (dq / dt) + q / c = V cc (1) The solution is q s = CV cc (2) The solution is P instead of d / dt Then, when the characteristic equation is obtained, LP 2 + RP + 1 / C = 0 (3) When the two solutions of the equation (3) are P 1 and P 2 , P 1 , P 2 = − (R / 2L) ± (1 / 2L) ) · √ (R 2 − (4L / C)) (4) This solution is divided into three cases according to the sizes of R, L, and C.

【0007】 1)R2 −4L/C=0 P1 =P2 =−(R/2L)≡−α (5) 2)R2 −4L/C>0 P1 ,P2 =−(R/2L)±(1/2L)・√(R2 −(4L/C)) ≡−α±δ (6) 3)R2 −4L/C<0 P1 ,P2 =−(R/2L)±j(1/2L)・√((4L/C)−R2) ≡−α±jβ (7) 上記1)の場合、過渡項qf 1) R 2 -4L / C = 0 P 1 = P 2 = − (R / 2L) ≡−α (5) 2) R 2 -4L / C> 0 P 1 , P 2 = − (R / 2L) ± (1 / 2L ) · √ (R 2 - (4L / C)) ≡-α ± δ (6) 3) R 2 -4L / C <0 P 1, P 2 = - (R / 2L ) for ± j (1 / 2L) · √ ((4L / C) -R 2) ≡-α ± jβ (7) above 1), the transient term q f

【0008】[0008]

【数1】 従って、一般解は(Equation 1) So the general solution is

【0009】[0009]

【数2】 初期条件としてt=0で、q=0、i=0とすると、K
1 ,K2 の定数が求まって、
(Equation 2) Assuming that t = 0, q = 0, and i = 0 as initial conditions, K
Been obtained is 1, K 2 constants

【0010】[0010]

【数3】 従って負荷に発生する電圧Vloadは式(12)のようにな
る。
(Equation 3) Therefore, the voltage V load generated at the load is as shown in equation (12).

【0011】[0011]

【数4】 2)の場合、過渡項qf は(6)式のP1 ,P2 を用い
て、
(Equation 4) In the case of 2), the transient term q f is obtained by using P 1 and P 2 in the equation (6).

【0012】[0012]

【数5】 従って電荷qと電流iの一般解は(Equation 5) Thus the general solution for charge q and current i is

【0013】[0013]

【数6】 t=0でq=0、i=0の初期条件を用いると、K1
2 が求まって K1 =(P2 C・Vcc)/(P1 −P2) =−(α+δ)/(2δ)・C・Vcc (16) K2 =−(P1 C・Vcc)/(P1 −P2) =(α−δ)/(2δ)・C・Vcc (17) これらを(14)式に代入して
(Equation 6) Using the initial conditions of q = 0 and i = 0 at t = 0, K 1 ,
K 1 = K 2 is been determined (P 2 C · V cc) / (P 1 -P 2) = - (α + δ) / (2δ) · C · V cc (16) K 2 = - (P 1 C · V cc ) / (P 1 −P 2 ) = (α−δ) / (2δ) · C · V cc (17) Substituting these into equation (14)

【0014】[0014]

【数7】 3)の場合過渡項qf は(7)式のP1 ,P2 を用いて(Equation 7) In the case of 3), the transient term q f is calculated by using P 1 and P 2 in equation (7).

【0015】[0015]

【数8】 2)と同様の初期条件で一般解を求めると(Equation 8) When a general solution is obtained under the same initial conditions as in 2),

【0016】[0016]

【数9】 となる。(Equation 9) Becomes

【0017】1)〜3)の場合のVloadの波形の模式図
を図8に示す。図8(a)は上記1)(R2 −4L/C
=0)の場合の波形、図8(b)は上記2)(R2 −4
L/C>0)の場合の波形、図8(c)は上記3)(R
2 −4L/C<0)の場合の波形を示す。図8(a)に
示す上記1)が臨界点となり最も早く収束し、図8
(b)に示す上記2)はなだらかに収束し、図8(c)
に示す上記3)は減衰振動となる。以上のようにLCR
の大きさにより、負荷に発生する電圧は大きく変化して
しまう。
FIG. 8 is a schematic diagram of the waveform of V load in the cases 1) to 3). FIG. 8A shows the above 1) (R 2 -4L / C
= 0), and FIG. 8 (b) shows the waveform in the above 2) (R 2 -4).
L / C> 0), and FIG.
2 shows a waveform in the case of -4L / C <0). The above 1) shown in FIG. 8A becomes a critical point and converges fastest.
The above 2) shown in (b) converges gently, and FIG.
3) described above results in damped vibration. As described above, LCR
, The voltage generated at the load changes greatly.

【0018】このような寄生素子の効果は、寄生のイン
ダクタンスによる逆起電力がL・(di/dt)となる
ことから高速動作や、大電流のスイッチングの際に顕著
となる。寄生の効果はゼロにはできないため、出力波形
はL,C,Rの値によりオーバーシュートしたり、なま
ったりと理想的な波形とはずれが生じる。
Such an effect of the parasitic element becomes remarkable at the time of high-speed operation and switching of a large current because the back electromotive force due to the parasitic inductance becomes L · (di / dt). Since the effect of the parasitic cannot be reduced to zero, the output waveform overshoots or becomes dull due to the values of L, C, and R and deviates from the ideal waveform.

【0019】[0019]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図7
(b)の寄生インダクタンスや寄生抵抗の値は配線の長
さや幅、といった形状により変わってくるため、シフト
レジスタの駆動パルス、CCDの駆動パルスなど、相似
な波形、ないしは反転した波形を必要とするデバイスに
信号を供給する場合、単純に複数の出力回路を半導体基
板上に配置配線しただけでは、該複数の出力回路の構成
が同一であったとしても、駆動対象に伝達される波形は
半導体基板上の配線、ボンディングワイヤー、リードフ
レームの形状の違いにより、ディレイ、デューティ、立
ち上がり時間、立ち下がり時間等に差がでてしまうとい
う欠点があった。このため駆動対象のデバイスが誤動作
したり特性が悪化するといった問題が生じてくる。
However, FIG.
Since the values of the parasitic inductance and the parasitic resistance in (b) vary depending on the shape such as the length and width of the wiring, a similar waveform or an inverted waveform such as a shift register driving pulse or a CCD driving pulse is required. When a signal is supplied to a device, simply by arranging and wiring a plurality of output circuits on a semiconductor substrate, even if the configuration of the plurality of output circuits is the same, the waveform transmitted to the drive target is not limited to the semiconductor substrate. There is a drawback that delay, duty, rise time, fall time, and the like are different due to the difference in the shape of the wiring, the bonding wire, and the lead frame. For this reason, there arises a problem that a device to be driven malfunctions or characteristics are deteriorated.

【0020】本発明の目的は、半導体基板上の配線とP
KG(パッケージ)内の配線に付く寄生素子の影響によ
る、複数の出力の波形のひずみをほぼ同一とし、複数の
相似または反転した信号を出力する半導体装置を提供す
ることを目的とする。
It is an object of the present invention to provide a wiring and a P on a semiconductor substrate.
It is an object of the present invention to provide a semiconductor device in which waveforms of a plurality of outputs have substantially the same distortion due to the influence of a parasitic element attached to a wiring in a KG (package) and output a plurality of similar or inverted signals.

【0021】また本発明の目的は、半導体基板上の配線
とPKG内の配線に付く寄生素子の影響による、電源電
圧の変動をほぼ同一とし、出力電圧が電源電圧に依存す
る回路形式であっても、複数の相似または反転した信号
を出力する半導体装置を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a circuit type in which the fluctuation of the power supply voltage due to the influence of the parasitic element attached to the wiring on the semiconductor substrate and the wiring in the PKG is substantially the same, and the output voltage depends on the power supply voltage. Another object is to provide a semiconductor device that outputs a plurality of similar or inverted signals.

【0022】さらに本発明の目的は、PKGを実装する
実装基板上の寄生素子の影響による複数の出力の波形の
ひずみをほぼ同一とし、複数の相似または反転した信号
を出力する半導体装置を提供することを目的とする。
A further object of the present invention is to provide a semiconductor device which makes the waveform distortion of a plurality of outputs substantially the same due to the influence of a parasitic element on a mounting board on which a PKG is mounted, and outputs a plurality of similar or inverted signals. The purpose is to:

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】上記目的を達するため、
本願第1の発明の半導体装置は、半導体基板上に形成さ
れた複数の相似または反転した信号を出力する回路を含
む半導体装置において、該回路の半導体基板上の出力か
らパッケージの出力端子までの複数の配線を、パッケー
ジまたは半導体基板に対して、ほぼ線または点対称な形
状に配置したことを特徴とする。
In order to achieve the above object,
According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device including a circuit for outputting a plurality of similar or inverted signals formed on a semiconductor substrate, wherein a plurality of circuits from an output of the circuit on the semiconductor substrate to an output terminal of the package are provided. Are arranged in a substantially line or point symmetrical shape with respect to the package or the semiconductor substrate.

【0024】また、本願第2の発明の半導体装置は、半
導体基板上に形成された複数の相似または反転した信号
を出力する回路を含む半導体装置において、該回路に電
源電圧を供給するパッケージの端子から前記回路までの
電源配線を、前記パッケージまたは前記半導体基板に対
して、ほぼ線または点対称な形状に配置したことを特徴
とするものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device including a circuit formed on a semiconductor substrate and outputting a plurality of similar or inverted signals, wherein a terminal of a package for supplying a power supply voltage to the circuit is provided. The power supply wiring from the power supply to the circuit is arranged in a substantially line or point symmetric shape with respect to the package or the semiconductor substrate.

【0025】また、本願第3の発明の半導体装置は、上
記第1の発明の半導体装置において、前記回路に電源電
圧を供給する前記パッケージの端子から前記回路までの
電源配線を、前記パッケージまたは前記半導体基板に対
して、ほぼ線または点対称な形状に配置したことを特徴
とするものである。
The semiconductor device according to a third aspect of the present invention is the semiconductor device according to the first aspect, wherein a power supply wiring from a terminal of the package for supplying a power supply voltage to the circuit to the circuit is connected to the package or the package. The semiconductor device is characterized by being arranged in a line or point symmetrical shape with respect to the semiconductor substrate.

【0026】さらに、本願第4の発明の半導体装置は、
上記第1の発明の半導体装置において、前記パッケージ
の出力端子から、前記信号の伝達先の素子までの実装基
板上の複数の配線を、該パッケージに対して、ほぼ線ま
たは点対称な形状に構成したことを特徴とする。
Further, the semiconductor device of the fourth invention of the present application is:
In the semiconductor device according to the first aspect of the present invention, a plurality of wirings on a mounting board from an output terminal of the package to an element to which the signal is transmitted are formed in a shape substantially line or point symmetric with respect to the package. It is characterized by having done.

【0027】なお、上記の「複数の配線」には回路の出
力配線の他、ボンディングパッド、ボンディングワイヤ
ー、パッケージの出力端子等が含まれるが、これらの配
線の構成部材の一部、例えばボンディングワイヤーやパ
ッケージの出力端子が対称でなくてもよい。また上記の
「電源配線」は基板上の配線の他、ボンディングパッ
ド、ボンディングワイヤー、パッケージの端子等が含ま
れるが、これらの配線の構成部材の一部、例えばボンデ
ィングワイヤー、パッケージの端子が対称でなくてもよ
い。
The "plurality of wirings" include bonding pads, bonding wires, package output terminals, etc., in addition to circuit output wirings. And the output terminals of the package need not be symmetrical. The above-mentioned “power supply wiring” includes, in addition to the wiring on the substrate, bonding pads, bonding wires, package terminals, and the like. Some of the components of these wirings, for example, bonding wires and package terminals are symmetrical. It is not necessary.

【0028】また、上記「ほぼ線または点対称」とは線
または点対称な状態の他、線または点対称に近い状態を
も含める意味である。
The term "substantially line or point symmetry" includes not only a line or point symmetry state but also a line or point symmetry state.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】本発明の第1の実施形態は、半導
体基板上の複数の出力回路の出力配線、該出力に対応す
るボンディングパッド、ボンディングワイヤー、リード
フレーム(パッケージの端子)を半導体基板またはPK
Gの、中心点、対角線、各辺の中心線といった対称性の
高いポイントに対して、ほぼ線または点対称に配置した
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In a first embodiment of the present invention, output wirings of a plurality of output circuits on a semiconductor substrate, bonding pads, bonding wires, and lead frames (terminals of a package) corresponding to the outputs are provided on the semiconductor substrate. Or PK
G is arranged almost line-wise or point-symmetrically with respect to a highly symmetrical point such as a center point, a diagonal line, or a center line of each side.

【0030】上記構成において対称に配置配線すること
は、半導体基板上の配線とPKG内の配線に寄生したイ
ンダクタンスや抵抗を、細かい合わせ込みなしに複数の
出力間でほぼ同一とし、複数の出力波形のひずみが同等
となるように作用する。
In the above configuration, symmetrically arranging and wiring means that the inductance and resistance parasitic to the wiring on the semiconductor substrate and the wiring in the PKG are substantially the same between a plurality of outputs without fine adjustment, and a plurality of output waveforms are obtained. Act to make the strains equal.

【0031】本発明の第2の実施形態は、第1の実施形
態の構成にさらに半導体基板上の複数の出力回路の電源
配線と、該電源配線に対応するボンディングパッド、ボ
ンディングワイヤー、リードフレームを半導体基板また
はPKGの、中心点、対角線、各辺の中心線といった対
称性の高いポイントに対して、ほぼ線または点対称に配
置したものである。
According to the second embodiment of the present invention, power supply wirings of a plurality of output circuits on a semiconductor substrate and bonding pads, bonding wires, and lead frames corresponding to the power supply wirings are further added to the configuration of the first embodiment. They are arranged almost line or point symmetrically with respect to a highly symmetric point such as a center point, a diagonal line, or a center line of each side of the semiconductor substrate or PKG.

【0032】上記構成において電源配線を対称に配置配
線することは、半導体基板上の電源配線とPKG内の電
源配線に寄生したインダクタンスや抵抗を、細かい合わ
せ込みなしに複数の出力間でほぼ同一とし、複数の出力
回路の電源電圧の波形を同等とし、出力が電源電圧に依
存するような回路形式であったとしても、出力波形のひ
ずみが同等となるように作用する。
In the above configuration, symmetrically arranging the power supply wiring means that the inductance and resistance parasitic on the power supply wiring on the semiconductor substrate and the power supply wiring in the PKG are substantially the same between a plurality of outputs without fine adjustment. In addition, even if the power supply voltage waveforms of the plurality of output circuits are made equal, and even if the output type depends on the power supply voltage, the circuit operates so that the output waveforms have the same distortion.

【0033】本発明の第3の実施形態は、第1の実施形
態の構成にさらにPKGを実装する実装基板上の、複数
の出力回路の出力配線を、半導体基板またはPKGの、
中心点、対角線、各辺の中心線といった対称性の高いポ
イントに対して、ほぼ線または点対称に配置したもので
ある。
According to a third embodiment of the present invention, output wirings of a plurality of output circuits on a mounting board on which a PKG is further mounted on the configuration of the first embodiment are connected to a semiconductor substrate or a PKG.
It is arranged almost line-wise or point-symmetrically with respect to a highly symmetrical point such as a center point, a diagonal line, or a center line of each side.

【0034】上記構成において対称に配置配線すること
は、PKGを実装する実装基板上の配線に寄生したイン
ダクタンスや抵抗を、細かい合わせ込みなしに複数の出
力間でほぼ同一とし、複数の出力波形のひずみが同等と
なるように作用する。
By symmetrically arranging and wiring in the above configuration, the inductance and resistance parasitic on the wiring on the mounting board on which the PKG is mounted can be made substantially the same between a plurality of outputs without fine adjustment, and a plurality of output waveforms can be obtained. It works so that distortion may be equivalent.

【0035】[0035]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。 <第1の実施例>図1は本発明の半導体装置の第1の実
施例を示す実装状態を示す等価回路図である。図1にお
いて、101,108は2つの出力回路を形成するPM
OSFET、102,107は同じくNMOSFETで
ある。103,109はそれぞれの出力回路の出力配
線、106,112は出力回路を制御する制御線の配
線、104,111は出力回路の高圧側電源配線(以下
電源配線という。)、105,110は出力回路の低圧
側電源配線(ここではGND配線;以下GND配線とい
う。)、113,114は2つの出力に対応したボンデ
ィングパッド、201,202はボンディングワイヤ
ー、117,118はリードフレームとパッケージ(P
KG)116のピンである。115は出力回路以外のそ
の他の回路である。301は出力回路等が集積された半
導体チップ、302はPKG及び半導体基板の水平方向
の中心線である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. <First Embodiment> FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing a mounting state of a first embodiment of a semiconductor device according to the present invention. In FIG. 1, reference numerals 101 and 108 denote PMs forming two output circuits.
OSFETs 102 and 107 are also NMOSFETs. 103 and 109 are output wirings of the respective output circuits, 106 and 112 are wirings of control lines for controlling the output circuits, 104 and 111 are high-voltage power supply wirings (hereinafter referred to as power supply wirings) of the output circuits, and 105 and 110 are outputs. The low voltage side power supply wiring of the circuit (here, GND wiring; hereinafter referred to as GND wiring), 113 and 114 are bonding pads corresponding to two outputs, 201 and 202 are bonding wires, 117 and 118 are lead frames and packages (P
KG) 116. Reference numeral 115 denotes another circuit other than the output circuit. Reference numeral 301 denotes a semiconductor chip on which an output circuit and the like are integrated, and 302 denotes a horizontal center line of the PKG and the semiconductor substrate.

【0036】図2は上記半導体装置のレイアウト図であ
る。なお図2において図1に対応する構成部材について
は同一符号を付して説明を省略する。図2において、4
01はPMOSFET101及びNMOSFET102
のゲート電極、402,403はPMOSFET101
のドレイン・ソース領域、404,405はNMOFE
T102のドレイン・ソース領域、406はコンタクト
ホール、407はPウエル領域を示す。また、411は
NMOSFET107及びPMOSFET108のゲー
ト電極、412,413はNMOSFET107のドレ
イン・ソース領域、414,415はPMOFET10
8のドレイン・ソース領域を示す。
FIG. 2 is a layout diagram of the semiconductor device. 2, the same reference numerals are given to the components corresponding to those in FIG. 1, and the description will be omitted. In FIG. 2, 4
01 is a PMOSFET 101 and an NMOSFET 102
Gate electrodes 402 and 403 are PMOSFET 101
404, 405 are NMOFE
The drain / source region of T102, 406 is a contact hole, and 407 is a P-well region. Reference numeral 411 denotes the gate electrodes of the NMOSFET 107 and the PMOSFET 108, 412 and 413 denote the drain / source regions of the NMOSFET 107, and 414 and 415 denote the PMOFET 10
8 shows a drain / source region.

【0037】図1及び図2に示すように、2つの出力回
路の出力配線103,109、ボンディングワイヤー2
01,202、リードフレーム117,118はPKG
の中心線302に対してそれぞれの製造工程の誤差の範
囲で線対称に配線されている。即ち配線(または、ボン
ディングワイヤー)の幅、長さ、形状がほぼ同じになっ
ている。このため、出力回路の出力配線につく寄生のイ
ンダクタンスや抵抗は集中定数的に見た値だけでなく、
実際により近い分布定数的に見た値でも等しくなる。従
って2つの出力回路から見た負荷のインピーダンスは同
等になり、PKGの出力で見た波形は、寄生素子の影響
でひずんだとしても2つの出力間で相似または反転した
波形が得られる。対称でない配置で寄生素子の値を同等
の値に合わせ込むことは、不可能ではないにしても非常
に難しいが、この方法によれば寄生素子の大きさを考慮
すること無しに、パターンを同等にすることによって目
的を果たすことができる。
As shown in FIGS. 1 and 2, the output wirings 103 and 109 of the two output circuits and the bonding wire 2
01, 202, and lead frames 117, 118 are PKG
Are symmetrically arranged with respect to the center line 302 within an error range of each manufacturing process. That is, the width, length, and shape of the wiring (or bonding wire) are substantially the same. Therefore, the parasitic inductance and resistance of the output wiring of the output circuit are not only lumped values, but also
A value closer to the actual distribution constant is also equal. Therefore, the impedance of the load seen from the two output circuits becomes equal, and the waveform seen at the output of the PKG is similar or inverted between the two outputs even if distorted by the influence of the parasitic element. It is very difficult, if not impossible, to match the values of the parasitic elements to the same value in an unsymmetrical arrangement.However, according to this method, the patterns can be made equivalent without considering the size of the parasitic elements. By doing so, the purpose can be achieved.

【0038】ここでは、CMOSを用いた出力回路を例
示したが、本発明はCMOSに限らずバイポーラ(Bipo
lar)でもBi−CMOSでも化合物半導体でも、複数
の相似または反転した波形を必要とする出力回路に対し
ても同様な効果が得られることはいうまでもない。また
ここではPKGの中心線に対して対称な配線を用いる例
を示したが、本発明では配線の幅、長さ、形状等を同じ
にできればよく、線対称に限らずPKG中心に対して点
対称な配置やこれらの組み合わせの配置であっても良
い。なお、配線に付く寄生デバイスの効果を同じにする
ことが重要なため、出力段を構成するデバイスの配置は
必ずしも対称でなくてもよい。さらに、ここでは2つの
出力回路の場合を説明したが必ずしも2つに限られるも
のではない。たとえば、チップの4角に出力回路をチッ
プ中心に対して点対称に設けてもよいし、不要ならその
うち1個所を使わなくてもよい。別の例では、水平なチ
ップの中心線に対して対称な出力回路をチップの左右の
端に合計4個設け、それらを90度回転させた位置にさ
らに4個の出力回路を設けた8出力構成とすることもで
きる。
Here, an output circuit using a CMOS has been exemplified. However, the present invention is not limited to a CMOS and is not limited to a CMOS.
It is needless to say that the same effect can be obtained for an output circuit that requires a plurality of similar or inverted waveforms using lar), Bi-CMOS, or a compound semiconductor. Although an example in which wiring symmetrical with respect to the center line of the PKG is used is shown here, the present invention is not limited to the case where the width, length, shape, and the like of the wiring can be made the same, and is not limited to line symmetry, and a point with respect to the PKG center may be used. It may be a symmetrical arrangement or an arrangement of a combination of these. Since it is important to make the effect of the parasitic device attached to the wiring the same, the arrangement of the devices constituting the output stage does not necessarily have to be symmetric. Furthermore, the case of two output circuits has been described here, but the number of output circuits is not necessarily limited to two. For example, output circuits may be provided at four corners of the chip symmetrically with respect to the center of the chip, or one of them may not be used if unnecessary. In another example, a total of four output circuits provided symmetrically with respect to the center line of a horizontal chip are provided at the left and right ends of the chip, and four more output circuits are provided at positions rotated by 90 degrees. It can also be configured.

【0039】また、複数の出力配線を半導体基板上で平
行移動した形に配置しても、半導体基板上の寄生素子は
同等にできるが、一般にPKGのリードフレームは中心
に対して対称になっているので、この方式では等価の位
置にボンディングパッドを配置することが大きくレイア
ウトを制約するので、対称な位置に配置した方がPKG
に起因する寄生素子の効果を低減するためには望まし
い。
Although a plurality of output wirings can be arranged in parallel with each other on the semiconductor substrate, the parasitic elements on the semiconductor substrate can be equalized. However, the lead frame of the PKG is generally symmetrical with respect to the center. Therefore, in this method, arranging the bonding pads at equivalent positions greatly restricts the layout.
It is desirable to reduce the effect of the parasitic element caused by the above.

【0040】なお、該複数の出力回路の駆動対象が同程
度のインピーダンスを持っている時に、本発明はより効
果的である。いかに配線に起因する寄生素子を同等にし
ても、その先の負荷が大きく異なっていては波形は違う
ものとなってしまうからである。 <第2の実施例>上述した第1の実施例では出力配線に
付く寄生素子に注目したが、出力に流れる電流の元を考
えると、それは電源またはGND配線であり、高速また
は、大電流のスイッチングを行う際、電源やGNDの配
線も出力と同様に寄生素子の影響をうけ電源電圧変動が
発生することになる。第1の実施例の様なCMOS出力
の場合や、抵抗負荷のオープンコレクター出力の場合顕
著なように、出力の波形は電源電圧やGNDの変動に依
存する場合が多い。このため、出力配線の寄生素子の効
果を同等にしても、寄生素子の効果によるスイッチング
の際の電源やGND配線の電圧変動により、得られる複
数の波形の間に違いが生じる場合がある。
The present invention is more effective when the objects to be driven by the plurality of output circuits have substantially the same impedance. This is because no matter how much the parasitic elements caused by the wiring are equal, the waveform will be different if the subsequent load is greatly different. <Second Embodiment> In the above-described first embodiment, the parasitic element attached to the output wiring has been noted. However, considering the source of the current flowing to the output, it is a power supply or a GND wiring, and is a high-speed or large current. When switching is performed, the power supply and the GND wiring are affected by the parasitic element similarly to the output, and the power supply voltage fluctuates. As is remarkable in the case of the CMOS output as in the first embodiment or the open collector output of a resistive load, the output waveform often depends on the fluctuation of the power supply voltage or GND. For this reason, even if the effects of the parasitic elements on the output wiring are equalized, a difference may occur between a plurality of obtained waveforms due to a voltage fluctuation of the power supply or the GND wiring at the time of switching due to the effect of the parasitic elements.

【0041】そこで、本実施例は出力回路の出力だけで
なく電源やGND配線についても寄生素子の効果を同等
にして、複数の出力間の波形の違いをなくそうとしたも
のである。
Therefore, in the present embodiment, the effect of the parasitic element is equalized not only for the output of the output circuit but also for the power supply and the GND wiring so as to eliminate the difference in the waveform between a plurality of outputs.

【0042】図3に本発明の第2の実施例を示す。図3
で図1と同じ部分は同一の番号を付けて説明を省略す
る。図3において、119,121はボンディングパッ
ド113,114と並列配置された2つの出力のボンデ
ィングパッド、123,125と127,129はそれ
ぞれ2つの出力回路のGND配線105,111に対応
したボンディングパッド、131,133と135,1
37はそれぞれ2つの出力回路の電源配線104,11
0に対応したボンディングパッドである。201から2
12はそれぞれの配線に対応したボンディングワイヤ
ー、117,118,120,122,124,12
6,128,130,132,134,136,138
はそれぞれの配線に対応したリードフレーム(PKGの
外から見るとピン)である。
FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention. FIG.
The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. In FIG. 3, 119 and 121 are bonding pads of two outputs arranged in parallel with bonding pads 113 and 114, 123 and 125 and 127 and 129 are bonding pads corresponding to GND wirings 105 and 111 of two output circuits, respectively. 131, 133 and 135, 1
37 denotes power supply wirings 104 and 11 for two output circuits, respectively.
0 is a bonding pad corresponding to “0”. 201 to 2
12, bonding wires 117, 118, 120, 122, 124, 12 corresponding to the respective wirings;
6,128,130,132,134,136,138
Is a lead frame (a pin when viewed from outside the PKG) corresponding to each wiring.

【0043】図4は上記半導体装置のレイアウト図であ
る。なお図4において図2に対応する構成部材について
は同一符号を付して説明を省略する。
FIG. 4 is a layout diagram of the semiconductor device. In FIG. 4, the same reference numerals are given to constituent members corresponding to FIG. 2, and description thereof will be omitted.

【0044】本実施例ではPKGの水平な中心線302
に対して2つの出力だけでなく出力回路の電源、GND
配線とそれらに対応したボンディングワイヤー、リード
フレームも線対称になるように配置している。このため
出力回路の出力配線のみならず、電源配線、GND配線
についても、寄生のインダクタンスや抵抗は集中定数的
に見た値だけでなく、実際により近い分布定数的に見た
値でもほぼ等しくなる。従って出力回路から見た負荷及
び電源、GNDのインピーダンスはそれぞれ2つの回路
の間で同等になり、2つの出力回路の電源電圧やGND
電位の寄生素子による変動は同等になり、出力が電源電
圧やGND電位に依存する出力形式であったとしても、
第1の実施例と同様に相似または反転した出力波形が得
られる。
In this embodiment, the horizontal center line 302 of the PKG is used.
Power supply for output circuit, GND
The wiring, the bonding wires corresponding thereto, and the lead frame are also arranged so as to be axisymmetric. Therefore, not only the output wiring of the output circuit, but also the power supply wiring and the GND wiring, the parasitic inductance and the resistance are almost equal to not only the values viewed as lumped constants but also the values viewed as distributed constants which are closer to the actual values. . Therefore, the load, the power supply, and the impedance of GND as seen from the output circuit are equal between the two circuits, and the power supply voltage and GND of the two output circuits are equal.
The fluctuation of the potential due to the parasitic element becomes equal, and even if the output is of an output type depending on the power supply voltage or the GND potential,
Similar or inverted output waveforms can be obtained as in the first embodiment.

【0045】この例では2つの出力回路の間のGND配
線105,111を分けているが、半導体チップ内で共
通接続しても同等な結果が得られる。この時(対称が保
たれれば)ボンディングパッドは1つでも2以上でもよ
い。
In this example, the GND wirings 105 and 111 are separated between the two output circuits, but the same result can be obtained even if they are commonly connected in the semiconductor chip. At this time (as long as symmetry is maintained), the number of bonding pads may be one or two or more.

【0046】また、構成が逆で電源配線が背中合わせの
場合、電源配線同士を共通接続しても同等な効果が得ら
れる。また、この例では出力や電源、GNDに対応した
ワイヤーボンディングとリードフレームを複数本並列接
続して使用している。これは製造上の誤差の分わずかで
も対称性が崩れた時に影響が少なくなるように、寄生抵
抗やインダクタンスの絶対値を減らしておくためであ
る。もちろん本数を増やした方が効果は高い。さらにこ
こでは、CMOSを用いた出力回路を例示したが、CM
OSに限らずバイポーラ(Bipolar)でもBi−CMO
Sでも化合物半導体でも、複数の相似または反転した波
形を必要とする出力回路に対しても同様な効果が得られ
ることはいうまでもない。またここではPKGの中心線
に対して対称な配線を用いる例を示したが、本発明では
配線の幅、長さ、形状等を同じにできればよく、線対称
に限らずPKG中心に対して点対称な配置をしても良い
しこれらの組み合わせの配置でも良い。 <第3の実施例>上述した第1及び第2の実施例では集
積回路単体レベルで複数の出力に相似または反転した波
形を得られるようPKGのピンまでの寄生素子を考え
た。しかし、実際に集積回路はプリント基板の様な実装
基板に実装して使用される場合がほとんどである。実装
基板上の他のIC等を駆動する場合には図7(b)中の
17,18に相当する基板配線に起因する寄生のインダ
クタンスや抵抗が余分に存在し、これらのアンバランス
の影響で出力波形に違いが生じる場合がある。そこで本
実施例は、PKG内部だけでなく実装基板上の出力配線
に関しても対称な配置とすることによって、半導体基板
上の複数の出力回路から、信号が伝達される対称のIC
までの、寄生素子を同等にし、複数の出力間の波形の差
をなくそうというものである。
When the power supply wirings are back to back and the power supply wirings are connected in common, the same effect can be obtained even if the power supply wirings are connected in common. In this example, a plurality of lead frames and wire bonding corresponding to output, power supply, and GND are connected in parallel. This is because the absolute values of the parasitic resistance and the inductance are reduced so that the influence is reduced when the symmetry is broken even by a slight amount due to a manufacturing error. Of course, the effect is higher if the number is increased. Further, here, the output circuit using CMOS is illustrated, but CM
Bi-CMO not only for OS but also for bipolar
It is needless to say that the same effect can be obtained for an output circuit requiring a plurality of similar or inverted waveforms using S or a compound semiconductor. Although an example in which wiring symmetrical with respect to the center line of the PKG is used is shown here, the present invention is not limited to the case where the width, length, shape, and the like of the wiring can be made the same, and is not limited to line symmetry, and a point with respect to the PKG center may be used. They may be arranged symmetrically or in a combination of these. <Third Embodiment> In the first and second embodiments described above, a parasitic element up to the PKG pin is considered so that a waveform similar or inverted to a plurality of outputs can be obtained at the level of an integrated circuit alone. However, in most cases, the integrated circuit is actually mounted on a mounting board such as a printed board. When driving other ICs and the like on the mounting board, there are extra parasitic inductances and resistances caused by the board wirings corresponding to 17 and 18 in FIG. 7 (b). The output waveform may differ. In this embodiment, the symmetrical arrangement of not only the inside of the PKG but also the output wiring on the mounting substrate allows the symmetrical IC to transmit signals from a plurality of output circuits on the semiconductor substrate.
The parasitic elements described above are made equal to eliminate the difference in waveform between a plurality of outputs.

【0047】図5に本発明の第3の実施例を示す。図5
で図1と同じ部分は同一の番号を付けて説明を省略す
る。ここでも簡単のため2つの出力回路の場合で説明を
行う。図5において、141,142は2つの出力の実
装基板上での配線、143は信号が伝達される対象のデ
バイス、139,140は信号の入力されるピンであ
る。
FIG. 5 shows a third embodiment of the present invention. FIG.
The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. Here, for the sake of simplicity, the description will be made in the case of two output circuits. In FIG. 5, 141 and 142 are wirings of two outputs on a mounting board, 143 is a device to which a signal is transmitted, and 139 and 140 are pins to which a signal is input.

【0048】図6は上記半導体装置のレイアウト図であ
る。なお図6において図2に対応する構成部材について
は同一符号を付して説明を省略する。408は実装基板
を示している。
FIG. 6 is a layout diagram of the semiconductor device. In FIG. 6, the same reference numerals are given to constituent members corresponding to FIG. 2, and description thereof will be omitted. Reference numeral 408 denotes a mounting board.

【0049】この場合、2つの出力回路の出力配線10
3,109、ボンディングワイヤー201,202、リ
ードフレーム117,118、及び実装基板上の配線1
41,142はPKGの中心線302に対してそれぞれ
の製造工程の誤差の範囲で対称に配線されている。即
ち、配線(または、ボンディングワイヤー)の幅、長
さ、形状がほぼ同じになっている。このため、出力回路
の出力配線につく寄生のインダクタンスや抵抗は集中定
数的に見た値だけでなく、実際により近い分布定数的見
た値でもほぼ等しくなる。従って、2つの出力回路から
見た負荷のインピーダンスは同等になり、信号を伝達す
る対称のデバイス143の入力で見た波形は、寄生素子
の影響でひずんだとしても2つの出力間で相似な波形が
得られる。
In this case, the output wiring 10 of the two output circuits
3, 109, bonding wires 201, 202, lead frames 117, 118, and wiring 1 on mounting board
Reference numerals 41 and 142 are wired symmetrically with respect to the center line 302 of the PKG within an error range of each manufacturing process. That is, the width, length, and shape of the wiring (or bonding wire) are substantially the same. For this reason, the parasitic inductance and resistance of the output wiring of the output circuit are substantially equal to not only the value seen as a lumped parameter but also the value seen as a distributed parameter that is closer to the actual value. Therefore, the impedance of the load seen from the two output circuits becomes equal, and the waveform seen at the input of the symmetric device 143 transmitting the signal has a similar waveform between the two outputs even if distorted by the influence of the parasitic element. Is obtained.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体基板内部の複数の相似または反転した信号を出力
する出力回路の出力配線に付く寄生素子をそれぞれ略同
等にできるので、集積回路の出力端子において相似な波
形を得ることができ、寄生素子の効果による波形の違い
による信号の伝達対称のデバイスの誤動作や性能の低下
を防ぐことができる。
As described above, according to the present invention,
Parasitic elements attached to the output wiring of a plurality of similar or inverted signals inside the semiconductor substrate can be made substantially equal to each other, so that similar waveforms can be obtained at the output terminals of the integrated circuit, and the effect of the parasitic elements can be obtained. Therefore, it is possible to prevent a device having a symmetrical signal transmission from malfunctioning due to a difference in waveform and a decrease in performance.

【0051】また本発明によれば、半導体基板内部の複
数の相似または反転した信号を出力する出力回路の出力
配線、電源配線、GND配線に付く寄生素子をそれぞれ
複数の出力回路間で略同等にできるので、出力波形が電
源電圧やGNDの電圧レベルに依存する回路形式であっ
ても、集積回路の出力端子において相似な波形を得るこ
とができ、寄生素子の効果による波形の違いによる信号
の伝達対称のデバイスの誤動作、性能の低下を防ぐこと
ができる。
According to the present invention, parasitic elements attached to the output wiring, the power supply wiring, and the GND wiring of the output circuit for outputting a plurality of similar or inverted signals inside the semiconductor substrate are substantially equal among the plurality of output circuits. Therefore, even if the output waveform is a circuit type that depends on the power supply voltage or the voltage level of GND, a similar waveform can be obtained at the output terminal of the integrated circuit, and signal transmission due to a difference in waveform due to the effect of a parasitic element. Malfunction of the symmetric device and performance degradation can be prevented.

【0052】さらに本発明によれば、半導体基板内部の
複数の相似または反転した信号を出力する出力回路の出
力配線に付く寄生素子と、実装基板上の配線に付く寄生
素子をそれぞれ略同等にできるので、信号を伝達する対
称のデバイスの入力端子において相似または反転した入
力波形を得ることができ、寄生素子の効果による波形の
違いによる信号の伝達対称のデバイスの誤動作、性能の
低下を防ぐことができる。
Further, according to the present invention, the parasitic element attached to the output wiring of the output circuit for outputting a plurality of similar or inverted signals inside the semiconductor substrate can be made substantially equivalent to the parasitic element attached to the wiring on the mounting board. Therefore, a similar or inverted input waveform can be obtained at the input terminal of the symmetric device for transmitting a signal, thereby preventing malfunction of the device for symmetrical signal transmission due to a difference in waveform due to the effect of a parasitic element and deterioration of performance. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の半導体装置の第1の実施例を説明する
実装状態図である。
FIG. 1 is a mounting state diagram illustrating a first embodiment of a semiconductor device of the present invention.

【図2】図1に示す半導体装置のレイアウト図である。FIG. 2 is a layout diagram of the semiconductor device shown in FIG. 1;

【図3】本発明の半導体装置の第2の実施例を説明する
実装状態図である。
FIG. 3 is a mounting state diagram for explaining a second embodiment of the semiconductor device of the present invention.

【図4】図3に示す半導体装置のレイアウト図である。FIG. 4 is a layout diagram of the semiconductor device shown in FIG. 3;

【図5】本発明の半導体装置の第3の実施例を説明する
実装状態図である。
FIG. 5 is a mounting state diagram illustrating a third embodiment of the semiconductor device of the present invention.

【図6】図5に示す半導体装置のレイアウト図である。FIG. 6 is a layout diagram of the semiconductor device shown in FIG. 5;

【図7】(a)は従来例を説明する実装状態図、(b)
は(a)の寄生素子を含めた等価回路図、(c)は容量
性負荷の場合の等価回路図である。
FIG. 7A is a mounting state diagram illustrating a conventional example, and FIG.
3A is an equivalent circuit diagram including the parasitic element of FIG. 3A, and FIG. 3C is an equivalent circuit diagram in the case of a capacitive load.

【図8】パラメータの違いによるRCL直列回路の立ち
上がり波形の違いを示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a difference in a rising waveform of the RCL series circuit due to a difference in a parameter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101,108,1 PMOSFET 102,107,2 NMOSFET 103,109,3 半導体基板上の出力配線 104,111 半導体基板上の電源配線 105,110 半導体基板上のGND配線 106,112 出力回路を制御する制御線の半導体
基板上の配線 113,114,119,121,123,125,1
27,129,131,133,135,137,4
半導体基板上のボンディングパッド 115 出力回路以外のその他の回路 116,10 パッケージ 117,118,120,122,124,126,1
28,130,132,134,136,138,7
リードフレームとパッケージのピン 201〜212,6 ボンディングワイヤー 301,5 半導体チップ 302 PKGの中心線 141,142,8 実装基板上の配線 139,140 信号の入力するピン 143,9 信号が伝達される対象のデバイス 11,13,15,17,21 寄生インダクタンス 12,14,16,18,22 寄生抵抗 19 電源 20 スイッチ 23 負荷容量
101, 108, 1 PMOSFET 102, 107, 2 NMOSFET 103, 109, 3 Output wiring on semiconductor substrate 104, 111 Power supply wiring on semiconductor substrate 105, 110 GND wiring on semiconductor substrate 106, 112 Control for controlling output circuit Of wiring on semiconductor substrate 113,114,119,121,123,125,1
27,129,131,133,135,137,4
Bonding pad on semiconductor substrate 115 Other circuits other than output circuit 116, 10 Package 117, 118, 120, 122, 124, 126, 1
28, 130, 132, 134, 136, 138, 7
Lead frame and package pins 201 to 212, 6 Bonding wires 301, 5 Semiconductor chip 302 PKG center lines 141, 142, 8 Wiring on mounting board 139, 140 Pins to which signals are input 143, 9 Targets to which signals are transmitted Devices 11, 13, 15, 17, 21 Parasitic inductance 12, 14, 16, 18, 22 Parasitic resistance 19 Power supply 20 Switch 23 Load capacitance

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体基板上に形成された複数の相似ま
たは反転した信号を出力する回路を含む半導体装置にお
いて、 該回路の半導体基板上の出力からパッケージの出力端子
までの複数の配線を、前記パッケージまたは前記半導体
基板に対して、ほぼ線または点対称な形状に配置したこ
とを特徴とする半導体装置。
1. A semiconductor device including a circuit formed on a semiconductor substrate and outputting a plurality of similar or inverted signals, wherein a plurality of wirings from an output of the circuit on the semiconductor substrate to an output terminal of a package are provided. A semiconductor device, wherein the semiconductor device is arranged in a substantially line or point symmetric shape with respect to a package or the semiconductor substrate.
【請求項2】 半導体基板上に形成された複数の相似ま
たは反転した信号を出力する回路を含む半導体装置にお
いて、 該回路に電源電圧を供給するパッケージの端子から前記
回路までの電源配線を、前記パッケージまたは前記半導
体基板に対して、ほぼ線または点対称な形状に配置した
ことを特徴とする半導体装置。
2. A semiconductor device including a circuit formed on a semiconductor substrate and outputting a plurality of similar or inverted signals, comprising: a power supply line from a terminal of a package for supplying a power supply voltage to the circuit to the circuit; A semiconductor device, wherein the semiconductor device is arranged in a substantially line or point symmetric shape with respect to a package or the semiconductor substrate.
【請求項3】 前記回路に電源電圧を供給する前記パッ
ケージの端子から前記回路までの電源配線を、前記パッ
ケージまたは前記半導体基板に対して、ほぼ線または点
対称な形状に配置したことを特徴とする請求項1記載の
半導体装置。
3. A power supply line from a terminal of the package, which supplies a power supply voltage to the circuit, to the circuit, is arranged in a substantially line or point symmetric shape with respect to the package or the semiconductor substrate. The semiconductor device according to claim 1, wherein:
【請求項4】 前記パッケージの出力端子から、前記信
号の伝達先の素子までの実装基板上の複数の配線を、該
パッケージに対して、ほぼ線または点対称な形状に構成
したことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
4. A plurality of wirings on a mounting board from an output terminal of the package to an element to which the signal is transmitted are formed in a substantially line or point symmetric shape with respect to the package. The semiconductor device according to claim 1, wherein:
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017183957A (en) * 2016-03-30 2017-10-05 三菱電機株式会社 Bidirectional switch module and matrix converter

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