JPH10307117A - 亀裂測定装置 - Google Patents
亀裂測定装置Info
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- JPH10307117A JPH10307117A JP11564097A JP11564097A JPH10307117A JP H10307117 A JPH10307117 A JP H10307117A JP 11564097 A JP11564097 A JP 11564097A JP 11564097 A JP11564097 A JP 11564097A JP H10307117 A JPH10307117 A JP H10307117A
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- contact needles
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Abstract
(57)【要約】
【課題】亀裂深さが不明であっても複数の検出器を使用
することなく、一の検出器で亀裂の深さに対応した測定
を可能とする。 【解決手段】被検体に電流を流したときに、被検体の亀
裂を挟んで対峙する２つの接触針１ｂ，１ｃ間に発生す
る電位差を測定し、予め求めた、健全時の発生電位と、
亀裂の深さに対応する発生電位と、接触針間の距離の相
互の関係から被検体の亀裂の深さを非破壊的に測定する
亀裂測定装置において、亀裂測定装置本体に回転可能に
軸支持され、２つの接触針１ｂ，１ｃを回転可能なよう
に取り付けた２つの支持体１１ｂ，１１ｃと、これら支
持体１１ｂ，１１ｃが同一の回転角を保持しながら軸１
２ｂ，１２ｃと一体となって回転することにより接触針
１ｂ，１ｃ間の距離を変更させる指針付ツマミ１７から
構成される。
することなく、一の検出器で亀裂の深さに対応した測定
を可能とする。 【解決手段】被検体に電流を流したときに、被検体の亀
裂を挟んで対峙する２つの接触針１ｂ，１ｃ間に発生す
る電位差を測定し、予め求めた、健全時の発生電位と、
亀裂の深さに対応する発生電位と、接触針間の距離の相
互の関係から被検体の亀裂の深さを非破壊的に測定する
亀裂測定装置において、亀裂測定装置本体に回転可能に
軸支持され、２つの接触針１ｂ，１ｃを回転可能なよう
に取り付けた２つの支持体１１ｂ，１１ｃと、これら支
持体１１ｂ，１１ｃが同一の回転角を保持しながら軸１
２ｂ，１２ｃと一体となって回転することにより接触針
１ｂ，１ｃ間の距離を変更させる指針付ツマミ１７から
構成される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、鋼構造物、金属材
料の板厚及び表面部欠陥等の亀裂を非破壊で検査する亀
裂測定装置に関する。
料の板厚及び表面部欠陥等の亀裂を非破壊で検査する亀
裂測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】金属材料等の内部に亀裂がある場合、亀
裂を横切るように流れる電流は亀裂により妨げられ、そ
の亀裂付近の抵抗値は亀裂の深さに比例して増加する。
この亀裂の深さを測定するため、例えば図４に示す亀裂
測定装置が用いられている。
裂を横切るように流れる電流は亀裂により妨げられ、そ
の亀裂付近の抵抗値は亀裂の深さに比例して増加する。
この亀裂の深さを測定するため、例えば図４に示す亀裂
測定装置が用いられている。
【０００３】図４（ａ）は従来の亀裂測定装置の検出部
を詳細に示した横断面図であり、図４（ｂ）は同検出部
を上面から見た図である。接触針１ａ〜１ｄは直線状の
ものであり、それぞれが一定間隔ａだけ離れて平行に設
けられている。また、接触針１ａ〜１ｄの根元部分には
それぞれコイルばね２が設けられているため、被検面に
押圧した際にコイルばね２が収縮することにより、被検
体８に凹凸面が存在しても４本の接触針１ａ〜１ｄが良
好に接触するようになっている。コイルばね２の上端に
は蓋４が設けられ、蓋４とケーシング３により検出部を
被包する。
を詳細に示した横断面図であり、図４（ｂ）は同検出部
を上面から見た図である。接触針１ａ〜１ｄは直線状の
ものであり、それぞれが一定間隔ａだけ離れて平行に設
けられている。また、接触針１ａ〜１ｄの根元部分には
それぞれコイルばね２が設けられているため、被検面に
押圧した際にコイルばね２が収縮することにより、被検
体８に凹凸面が存在しても４本の接触針１ａ〜１ｄが良
好に接触するようになっている。コイルばね２の上端に
は蓋４が設けられ、蓋４とケーシング３により検出部を
被包する。
【０００４】本発明の対象とする亀裂測定装置の測定動
作を図５に示す。被検体８の亀裂９を挟んで等間隔ａの
４本の接触針１ａ〜１ｄを亀裂に対して直角に当て、外
側の２本の接触針１ａ，１ｄにリード線５を通じて一定
の直流電流１０を流し、内側の２本の接触針１ｂ，１ｃ
に接続された計測装置６により電位差Ｖを測定する。
作を図５に示す。被検体８の亀裂９を挟んで等間隔ａの
４本の接触針１ａ〜１ｄを亀裂に対して直角に当て、外
側の２本の接触針１ａ，１ｄにリード線５を通じて一定
の直流電流１０を流し、内側の２本の接触針１ｂ，１ｃ
に接続された計測装置６により電位差Ｖを測定する。
【０００５】また、測定した電位差Ｖ及び予め測定して
おいた亀裂９が存在しない健全部の測定電圧Ｖ0 より、
電圧比Ｖ／Ｖ0 を算出する。このＶ／Ｖ0 の値に基づ
き、図６に示す関係式からｄ／ａを求め、亀裂９の深さ
ｄを算出し、指示計７で表示する。このようにして亀裂
の深さを非破壊的に求めることができる。
おいた亀裂９が存在しない健全部の測定電圧Ｖ0 より、
電圧比Ｖ／Ｖ0 を算出する。このＶ／Ｖ0 の値に基づ
き、図６に示す関係式からｄ／ａを求め、亀裂９の深さ
ｄを算出し、指示計７で表示する。このようにして亀裂
の深さを非破壊的に求めることができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の亀裂測定装
置では、以下に示す問題点が生ずる。すなわち、金属体
等の内部における亀裂深さは一定でなく、大小さまざま
である。電気抵抗法による亀裂測定は、亀裂深さｄと各
接触針の間隔ａとは密接な関係があり、図６に示すよう
にｄ／ａ＜１の範囲では被検体厚さをｔとしたときのｔ
／ａの値いかんにかかわらず、Ｖ／Ｖ0 とｄ／ａは直線
関係にある。従って亀裂深さを正確に測定するために
は、直線関係にある範囲で測定する必要がある。
置では、以下に示す問題点が生ずる。すなわち、金属体
等の内部における亀裂深さは一定でなく、大小さまざま
である。電気抵抗法による亀裂測定は、亀裂深さｄと各
接触針の間隔ａとは密接な関係があり、図６に示すよう
にｄ／ａ＜１の範囲では被検体厚さをｔとしたときのｔ
／ａの値いかんにかかわらず、Ｖ／Ｖ0 とｄ／ａは直線
関係にある。従って亀裂深さを正確に測定するために
は、直線関係にある範囲で測定する必要がある。
【０００７】亀裂測定装置の検出部に設けた接触針１
は、上記したように一定間隔ａで固定されている。実際
に測定を行う場合においては、亀裂９は被検体８表面か
ら判別できないため、従来は接触針１ａ〜１ｄ間の間隔
ａが異なる亀裂測定装置を数種類用意し、亀裂に応じた
接触針の間隔を有する亀裂測定装置を選定して測定して
いた。
は、上記したように一定間隔ａで固定されている。実際
に測定を行う場合においては、亀裂９は被検体８表面か
ら判別できないため、従来は接触針１ａ〜１ｄ間の間隔
ａが異なる亀裂測定装置を数種類用意し、亀裂に応じた
接触針の間隔を有する亀裂測定装置を選定して測定して
いた。
【０００８】本発明は上記課題を解決するためになされ
たもので、その目的とするところは、亀裂深さが不明で
あっても複数の検出器を使用することなく、一の検出器
で亀裂の深さに対応した測定を可能とする亀裂測定装置
を提供することにある。
たもので、その目的とするところは、亀裂深さが不明で
あっても複数の検出器を使用することなく、一の検出器
で亀裂の深さに対応した測定を可能とする亀裂測定装置
を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の亀裂測定装置
は、被検体に電流を流したときに、この被検体表面の亀
裂を挟んだ２点間で発生する電圧を測定する亀裂測定装
置本体と、この亀裂測定装置本体で得られた測定電圧、
予め求めておいた健全時の電圧及び亀裂を挟んだ被検体
の２点間の距離に基づいて被検体の亀裂の深さを算出す
る計測部とを備えた亀裂測定装置において、前記亀裂測
定装置本体に回転可能に軸支持された２つの腕部材と、
この腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付けられ、腕
部材とともに回転して被検体の亀裂を挟んで発生する電
圧を測定する２つの接触針と、前記２つの腕部材の回転
角を調整することにより該２つの接触針間の距離を変更
させる手段とを具備してなることを特徴とする。
は、被検体に電流を流したときに、この被検体表面の亀
裂を挟んだ２点間で発生する電圧を測定する亀裂測定装
置本体と、この亀裂測定装置本体で得られた測定電圧、
予め求めておいた健全時の電圧及び亀裂を挟んだ被検体
の２点間の距離に基づいて被検体の亀裂の深さを算出す
る計測部とを備えた亀裂測定装置において、前記亀裂測
定装置本体に回転可能に軸支持された２つの腕部材と、
この腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付けられ、腕
部材とともに回転して被検体の亀裂を挟んで発生する電
圧を測定する２つの接触針と、前記２つの腕部材の回転
角を調整することにより該２つの接触針間の距離を変更
させる手段とを具備してなることを特徴とする。
【００１０】本発明の望ましい形態を以下に示す。 （１）亀裂測定装置本体に回転可能に軸支持された４つ
の腕部材を具備する。 （２）上記４つの腕部材は、同一直線上に軸を有し、外
側の２つの腕部材には被検体に電流を流す２つの接触針
を腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付け、内側の２
つの腕部材には被検体の亀裂を挟んで発生する電圧を測
定する２つの接触針を腕部材の回転軸とは異なる位置に
取り付ける。
の腕部材を具備する。 （２）上記４つの腕部材は、同一直線上に軸を有し、外
側の２つの腕部材には被検体に電流を流す２つの接触針
を腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付け、内側の２
つの腕部材には被検体の亀裂を挟んで発生する電圧を測
定する２つの接触針を腕部材の回転軸とは異なる位置に
取り付ける。
【００１１】（３）上記（１）の４つの腕部材として、
各腕部材の回転軸と接触針間の距離が異なるものを用い
る。また、各腕部材は、腕部材の回転軸と接触針間の距
離が各接触針の位置する直線及び腕部材の回転軸の位置
する直線との交点から各接触針までの距離に比例するよ
うに配置する。
各腕部材の回転軸と接触針間の距離が異なるものを用い
る。また、各腕部材は、腕部材の回転軸と接触針間の距
離が各接触針の位置する直線及び腕部材の回転軸の位置
する直線との交点から各接触針までの距離に比例するよ
うに配置する。
【００１２】（４）上記（１）の４つの腕部材における
各腕部材が同一の回転角を保持しながら回転させること
により各接触針間の距離を等間隔に保持しながら変更さ
せる手段を備える。 （５）上記（１）の４つの腕部材のうちの外側の１つの
腕部材の代わりに、固定軸を設け、この固定軸に接触針
を取り付ける。
各腕部材が同一の回転角を保持しながら回転させること
により各接触針間の距離を等間隔に保持しながら変更さ
せる手段を備える。 （５）上記（１）の４つの腕部材のうちの外側の１つの
腕部材の代わりに、固定軸を設け、この固定軸に接触針
を取り付ける。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の一実施形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係る亀裂測定装置の全体構成を示す図、図２は、同装
置における支持体の断面図、図３は、同装置の作用図で
ある。図１，図２に示すように、本発明の亀裂測定装置
本体には３つの異なる大きさの絶縁性の支持体１１ａ〜
１１ｃが設けられている。これら支持体１１ａ〜１１ｃ
は楕円かつ筒状であり、その一端は上下に貫通し、貫通
した穴には導電性の軸１２ａ〜１２ｃが通じている。こ
の軸１２ａ〜１２ｃを中心軸として、支持体１１ａ〜１
１ｃは軸１２ａ〜１２ｃと一体となって回転可能なよう
になっている。これら軸１２ａ〜１２ｃに軸１２ｄを含
めた４つの軸１２ａ〜１２ｄは、それぞれ同一直線上に
等間隔で並んでいる。
の一実施形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係る亀裂測定装置の全体構成を示す図、図２は、同装
置における支持体の断面図、図３は、同装置の作用図で
ある。図１，図２に示すように、本発明の亀裂測定装置
本体には３つの異なる大きさの絶縁性の支持体１１ａ〜
１１ｃが設けられている。これら支持体１１ａ〜１１ｃ
は楕円かつ筒状であり、その一端は上下に貫通し、貫通
した穴には導電性の軸１２ａ〜１２ｃが通じている。こ
の軸１２ａ〜１２ｃを中心軸として、支持体１１ａ〜１
１ｃは軸１２ａ〜１２ｃと一体となって回転可能なよう
になっている。これら軸１２ａ〜１２ｃに軸１２ｄを含
めた４つの軸１２ａ〜１２ｄは、それぞれ同一直線上に
等間隔で並んでいる。
【００１４】また、支持体１１ａ〜１１ｃには軸１２ａ
〜１２ｃが設けられた一端と長軸方向反対側に、軸１２
ａ〜１２ｃに平行して上下に貫通穴が設けられ、また軸
１２ｄの下部に設けられたケーシング３に貫通穴が設け
られている。これら貫通穴にはコイルばね２ａ〜２ｄが
挿入されており、これらコイルばね２ａ〜２ｄの先端に
は接触針１ａ〜１ｄが設けられている。コイルばね２ａ
〜２ｄは、測定時における接触針１ａ〜１ｄの被検面へ
の接触性を保持するためのものである。すなわち、接触
針１ａ〜１ｄの押圧に伴いコイルばね２ａ〜２ｄが収縮
することにより被検体８に凹凸面が存在しても各接触針
１ａ〜１ｄが上下方向に摺動して被検面に完全に接触す
るようになっている。
〜１２ｃが設けられた一端と長軸方向反対側に、軸１２
ａ〜１２ｃに平行して上下に貫通穴が設けられ、また軸
１２ｄの下部に設けられたケーシング３に貫通穴が設け
られている。これら貫通穴にはコイルばね２ａ〜２ｄが
挿入されており、これらコイルばね２ａ〜２ｄの先端に
は接触針１ａ〜１ｄが設けられている。コイルばね２ａ
〜２ｄは、測定時における接触針１ａ〜１ｄの被検面へ
の接触性を保持するためのものである。すなわち、接触
針１ａ〜１ｄの押圧に伴いコイルばね２ａ〜２ｄが収縮
することにより被検体８に凹凸面が存在しても各接触針
１ａ〜１ｄが上下方向に摺動して被検面に完全に接触す
るようになっている。
【００１５】支持体１１ａ〜１１ｃの上面には軸１２ａ
〜１２ｄを保持する上部板１９が設けられている。支持
体１１ａ〜１１ｃとともに回転する軸１２ａ〜１２ｃ
は、ケーシング３の下部に設けられた突起１８に固定さ
れている。この突起１８は軸１２ａ〜１２ｃを支持し、
上部板１９とともに回転可能な凹部を設けている。
〜１２ｄを保持する上部板１９が設けられている。支持
体１１ａ〜１１ｃとともに回転する軸１２ａ〜１２ｃ
は、ケーシング３の下部に設けられた突起１８に固定さ
れている。この突起１８は軸１２ａ〜１２ｃを支持し、
上部板１９とともに回転可能な凹部を設けている。
【００１６】支持体１１ａ〜１１ｃの上部には蓋１４が
取り付けられ、この蓋１４を貫通した穴からは軸１２ａ
〜１２ｄのみが突出しており、収縮自在のコイルばね２
ａ〜２ｃは突出しない構成となる。また、コイルばね２
ｄは、上部板１９によりコイルばね２ｄの突出を防ぐ構
成となる。軸１２ａ〜１２ｃの上端にはそれぞれ同径の
プーリー１５が固着されている。プーリー１５は、軸１
２ａ〜１２ｄと一体となって回転するようになってお
り、その外周には溝付ベルト１６が巻かれている。この
溝付ベルト１６により支持体１１ａ〜１１ｃがそれぞれ
連動して回転するようになっている。
取り付けられ、この蓋１４を貫通した穴からは軸１２ａ
〜１２ｄのみが突出しており、収縮自在のコイルばね２
ａ〜２ｃは突出しない構成となる。また、コイルばね２
ｄは、上部板１９によりコイルばね２ｄの突出を防ぐ構
成となる。軸１２ａ〜１２ｃの上端にはそれぞれ同径の
プーリー１５が固着されている。プーリー１５は、軸１
２ａ〜１２ｄと一体となって回転するようになってお
り、その外周には溝付ベルト１６が巻かれている。この
溝付ベルト１６により支持体１１ａ〜１１ｃがそれぞれ
連動して回転するようになっている。
【００１７】さらに、支持体１１ａに対応するプーリー
１５には指針付ツマミ１７が固定されており、プーリー
１５，軸１２ａと一体となって回転するようになってい
る。すなわち、指針付ツマミ１７を回転させることによ
り接触針１ａ〜１ｃが同時かつ同じ角度を保持したまま
回転する。この指針付ツマミ１７には目盛り２０が設け
られ、この目盛り２０を読むことにより、各接触針１ａ
〜１ｄ間の距離が分かるようになっている。
１５には指針付ツマミ１７が固定されており、プーリー
１５，軸１２ａと一体となって回転するようになってい
る。すなわち、指針付ツマミ１７を回転させることによ
り接触針１ａ〜１ｃが同時かつ同じ角度を保持したまま
回転する。この指針付ツマミ１７には目盛り２０が設け
られ、この目盛り２０を読むことにより、各接触針１ａ
〜１ｄ間の距離が分かるようになっている。
【００１８】接触針１ａ〜１ｄはそれぞれ導電性の材料
で構成される。これら接触針１ａ〜１ｄ及び軸１２ａ〜
１２ｄ間はそれぞれリード線５で電気的に接続されてお
り、両者が導通するようになっている。４本の接触針の
うち１ａ及び１ｄは図示しない電圧源を挟んで軸１２を
介して接続されており、１ｂ及び１ｃは軸１２を介して
計測装置６に接続されている。被検体に接触針１ａ〜１
ｄを接触させ、接触針１ａ及び１ｄ間に電圧を印加した
際に、この印加電圧により被検体中に生じた電流を接触
針１ｂ及び１ｃにより検出するような構成となってい
る。さらに、計測装置６に入力され、増幅及び信号処理
された検出信号は指示計７に出力され、被検体の亀裂深
さが表示される。
で構成される。これら接触針１ａ〜１ｄ及び軸１２ａ〜
１２ｄ間はそれぞれリード線５で電気的に接続されてお
り、両者が導通するようになっている。４本の接触針の
うち１ａ及び１ｄは図示しない電圧源を挟んで軸１２を
介して接続されており、１ｂ及び１ｃは軸１２を介して
計測装置６に接続されている。被検体に接触針１ａ〜１
ｄを接触させ、接触針１ａ及び１ｄ間に電圧を印加した
際に、この印加電圧により被検体中に生じた電流を接触
針１ｂ及び１ｃにより検出するような構成となってい
る。さらに、計測装置６に入力され、増幅及び信号処理
された検出信号は指示計７に出力され、被検体の亀裂深
さが表示される。
【００１９】なお、本亀裂測定装置の検出部は、カバー
１３で被包されている。上記実施形態に係る亀裂測定装
置の動作を説明する。まず、接触針１ａ〜１ｄを被検体
８に接触させる。接触の際には、接触針１ａ〜１ｄを被
検体８に対する押圧に伴いコイルばね２ａ〜２ｄが収縮
する。次に、図５に示すように接触針１ｂ及び１ｃ間に
亀裂９を挟み、接触針１ａ，１ｄ間に計測装置６から直
流電流１０を流す。亀裂９は接触針１ｂ，１ｃ間の被検
体８内部で抵抗として作用するため、亀裂深さｄに対応
した電位差が接触針１ｂ，１ｃ間に生じる。この電位差
は計測装置６で検出され、増幅及び信号処理される。そ
して、亀裂深さｄを表す信号として指示計７に出力さ
れ、指示計７で表示される。
１３で被包されている。上記実施形態に係る亀裂測定装
置の動作を説明する。まず、接触針１ａ〜１ｄを被検体
８に接触させる。接触の際には、接触針１ａ〜１ｄを被
検体８に対する押圧に伴いコイルばね２ａ〜２ｄが収縮
する。次に、図５に示すように接触針１ｂ及び１ｃ間に
亀裂９を挟み、接触針１ａ，１ｄ間に計測装置６から直
流電流１０を流す。亀裂９は接触針１ｂ，１ｃ間の被検
体８内部で抵抗として作用するため、亀裂深さｄに対応
した電位差が接触針１ｂ，１ｃ間に生じる。この電位差
は計測装置６で検出され、増幅及び信号処理される。そ
して、亀裂深さｄを表す信号として指示計７に出力さ
れ、指示計７で表示される。
【００２０】上記した亀裂測定における電圧比と接触針
間の間隔ａ及び亀裂深さｄとの関係を図６に示す。図６
において、Ｖは測定電圧、Ｖ0 は亀裂９が存在しない健
全部において予め測定しておいた電圧を示す。電圧比Ｖ
／Ｖ0 を算出し、このＶ／Ｖ0 値に基づき、図６の関係
式からｄ／ａを求め、亀裂９の深さｄを推定する。この
ようにして亀裂の深さを非破壊的に求めることができ
る。本亀裂測定装置における測定では、亀裂深さｄと接
触針５１の間隔ａとは密接な関係があり、図６に示すよ
うにｄ／ａ＜１の範囲では被検体厚さをｔとしたときの
ｔ／ａの値いかんにかかわらず、Ｖ／Ｖ0 とｄ／ａは直
線関係にある。従って亀裂深さを正確に測定するために
はこの範囲で測定する必要がある。
間の間隔ａ及び亀裂深さｄとの関係を図６に示す。図６
において、Ｖは測定電圧、Ｖ0 は亀裂９が存在しない健
全部において予め測定しておいた電圧を示す。電圧比Ｖ
／Ｖ0 を算出し、このＶ／Ｖ0 値に基づき、図６の関係
式からｄ／ａを求め、亀裂９の深さｄを推定する。この
ようにして亀裂の深さを非破壊的に求めることができ
る。本亀裂測定装置における測定では、亀裂深さｄと接
触針５１の間隔ａとは密接な関係があり、図６に示すよ
うにｄ／ａ＜１の範囲では被検体厚さをｔとしたときの
ｔ／ａの値いかんにかかわらず、Ｖ／Ｖ0 とｄ／ａは直
線関係にある。従って亀裂深さを正確に測定するために
はこの範囲で測定する必要がある。
【００２１】実際に測定を行う場合においては、被検体
８内の亀裂９は表面から判別できないため、指針付ツマ
ミ１７を回転させることにより接触針間の距離を変え、
上記図６の直線関係にある部分に合わせて測定を行う。
８内の亀裂９は表面から判別できないため、指針付ツマ
ミ１７を回転させることにより接触針間の距離を変え、
上記図６の直線関係にある部分に合わせて測定を行う。
【００２２】上記指示計７の表示を読みとる際、例えば
出力電圧が小さく指示計７の指示が不安定な場合は亀裂
深さｄに対し接触針１の間隔ａが大きいためで、指針付
ツマミ１７を左に回転させ、亀裂深さｄに対応した間隔
ａにする。また、出力電圧が大きすぎて不安定な場合は
指針付ツマミ１７を逆に回転させ間隔ａを大きくし、適
切な出力電圧を得る。
出力電圧が小さく指示計７の指示が不安定な場合は亀裂
深さｄに対し接触針１の間隔ａが大きいためで、指針付
ツマミ１７を左に回転させ、亀裂深さｄに対応した間隔
ａにする。また、出力電圧が大きすぎて不安定な場合は
指針付ツマミ１７を逆に回転させ間隔ａを大きくし、適
切な出力電圧を得る。
【００２３】図３を用いて指針付ツマミ１７の回転動作
に伴う支持体１１ａ〜１１ｃの作用を説明する。支持体
１１ａ〜１１ｃは、軸１２ａ〜１２ｃを中心軸として回
転する。接触針１ａ〜１ｃは、それぞれ軸１２ａ〜１２
ｃとの距離に比例した円弧を描いて回転する。また、接
触針１ａ〜１ｃと軸１２ａ〜１２ｃとの距離ｒa ，ｒ
b ，ｒc の関係は、ｒa ＝３ｒc ，ｒb ＝２ｒc となっ
ている。支持体１１ａ〜１１ｃの楕円断面の長軸がそれ
ぞれ一の直線上に位置するときには、各支持体間の距離
は全てａ3 となり、等間隔を保っている。ここで、指針
付ツマミ１７を回転させるとその回転動作に連動してプ
ーリー１５及び溝付ベルト１６が回転し、支持体１１ａ
〜１１ｃは、それぞれ楕円断面の長軸が平行な状態を保
持したまま同じ角度で回転する。従って、この回転動作
の後においても、距離ｒa ，ｒb ，ｒc の関係より、各
接触針間の距離は等間隔を保持したままａ3 からａ1 ま
で短くなる。このように、指針付ツマミ１７を回転させ
て接触針１ａ〜１ｄの間隔ａを自由に変えることができ
るとともに、その値を目盛り２０で読みとることができ
る。
に伴う支持体１１ａ〜１１ｃの作用を説明する。支持体
１１ａ〜１１ｃは、軸１２ａ〜１２ｃを中心軸として回
転する。接触針１ａ〜１ｃは、それぞれ軸１２ａ〜１２
ｃとの距離に比例した円弧を描いて回転する。また、接
触針１ａ〜１ｃと軸１２ａ〜１２ｃとの距離ｒa ，ｒ
b ，ｒc の関係は、ｒa ＝３ｒc ，ｒb ＝２ｒc となっ
ている。支持体１１ａ〜１１ｃの楕円断面の長軸がそれ
ぞれ一の直線上に位置するときには、各支持体間の距離
は全てａ3 となり、等間隔を保っている。ここで、指針
付ツマミ１７を回転させるとその回転動作に連動してプ
ーリー１５及び溝付ベルト１６が回転し、支持体１１ａ
〜１１ｃは、それぞれ楕円断面の長軸が平行な状態を保
持したまま同じ角度で回転する。従って、この回転動作
の後においても、距離ｒa ，ｒb ，ｒc の関係より、各
接触針間の距離は等間隔を保持したままａ3 からａ1 ま
で短くなる。このように、指針付ツマミ１７を回転させ
て接触針１ａ〜１ｄの間隔ａを自由に変えることができ
るとともに、その値を目盛り２０で読みとることができ
る。
【００２４】このように、接触針１ａ〜１ｃを回転可能
な支持体１１ａ〜１１ｃに取り付けることにより、各接
触針間の距離を等間隔に保持したまま変えることができ
る。従って、亀裂深さｄを測定する際に、ｄの大きさに
関係なく一の検出器で正確に測定することができ、作業
効率が向上するとともに経済的である。
な支持体１１ａ〜１１ｃに取り付けることにより、各接
触針間の距離を等間隔に保持したまま変えることができ
る。従って、亀裂深さｄを測定する際に、ｄの大きさに
関係なく一の検出器で正確に測定することができ、作業
効率が向上するとともに経済的である。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、亀
裂測定装置本体に回転可能に軸支持され、前記２つの接
触針を回転可能なように取り付けた２つの腕部材と、こ
の２つの腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付けら
れ、腕部材とともに回転して被検体の亀裂を挟んで発生
する電圧を測定する２つの接触針と、前記２つの腕部材
の回転角を調整することにより該２つの接触針間の距離
を変更させる手段とっを具備してなるため、接触針の間
隔を自由に設定できる。したがって、一の検出器で亀裂
の深さに対応した測定が可能となるので作業効率が向上
するとともに経済的である。
裂測定装置本体に回転可能に軸支持され、前記２つの接
触針を回転可能なように取り付けた２つの腕部材と、こ
の２つの腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付けら
れ、腕部材とともに回転して被検体の亀裂を挟んで発生
する電圧を測定する２つの接触針と、前記２つの腕部材
の回転角を調整することにより該２つの接触針間の距離
を変更させる手段とっを具備してなるため、接触針の間
隔を自由に設定できる。したがって、一の検出器で亀裂
の深さに対応した測定が可能となるので作業効率が向上
するとともに経済的である。
【図１】本発明の一実施形態に係る亀裂測定装置の全体
構成を示す図。
構成を示す図。
【図２】同実施形態における支持体の断面図。
【図３】同実施形態における亀裂測定装置の作用図。
【図４】従来の亀裂測定装置の検出部を示す図。
【図５】本発明の対象となる亀裂測定装置の回路構成を
示す図。
示す図。
【図６】本発明の対象となる亀裂測定装置の電圧比Ｖ／
Ｖ0 と間隔ａ及び亀裂深さｄの関係を示す図。
Ｖ0 と間隔ａ及び亀裂深さｄの関係を示す図。
１ａ〜１ｄ 接触針 ２ コイルばね ３ ケーシング ４ 蓋 ５ リード線 ６ 計測装置 ７ 指示計 ８ 被検体 ９ 亀裂 １０ 直流電流 １１ａ〜１１ｄ 支持体 １２ａ〜１２ｄ 軸 １３ カバー １５ プーリー １６ 溝付ベルト １７ 指針付ツマミ １８ 突起 １９ 上部板 ２０ 目盛り
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村川 寿 兵庫県高砂市荒井町新浜二丁目８番19号 高菱エンジニアリング株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 被検体に電流を流したときに、この被検
体表面の亀裂を挟んだ２点間で発生する電圧を測定する
亀裂測定装置本体と、この亀裂測定装置本体で得られた
測定電圧、予め求めておいた健全時の電圧及び亀裂を挟
んだ被検体の２点間の距離に基づいて被検体の亀裂の深
さを算出する計測部とを備えた亀裂測定装置において、 前記亀裂測定装置本体に回転可能に軸支持された２つの
腕部材と、この腕部材の回転軸とは異なる位置に取り付
けられ、腕部材とともに回転して被検体の亀裂を挟んで
発生する電圧を測定する２つの接触針と、前記２つの腕
部材の回転角を調整することにより該２つの接触針間の
距離を変更させる手段とを具備してなることを特徴とす
る亀裂測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11564097A JP3249425B2 (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 亀裂測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11564097A JP3249425B2 (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 亀裂測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10307117A true JPH10307117A (ja) | 1998-11-17 |
| JP3249425B2 JP3249425B2 (ja) | 2002-01-21 |
Family
ID=14667654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11564097A Expired - Fee Related JP3249425B2 (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 亀裂測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3249425B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006308324A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 電位差法を用いた深い亀裂に対する亀裂深さ測定手法および装置 |
| JP2008128816A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Tohoku Univ | 電位差法による非破壊検査装置およびそれを用いた非破壊検査の計測方法 |
| CN101963591A (zh) * | 2010-08-13 | 2011-02-02 | 上海市建筑科学研究院(集团)有限公司 | 一种薄抹灰外墙外保温裂缝状态的检测评估方法及装置 |
| CN105278421A (zh) * | 2015-10-25 | 2016-01-27 | 泉州市南安市轴飞电子科技有限公司 | 一种基于手机的监控系统 |
| CN109765271A (zh) * | 2018-12-30 | 2019-05-17 | 河海大学 | 判断金属疲劳裂纹锤击闭合的装置及其方法 |
-
1997
- 1997-05-06 JP JP11564097A patent/JP3249425B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN106527314A (zh) * | 2015-10-25 | 2017-03-22 | 泉州市南安市轴飞电子科技有限公司 | 一种在手机上实时监控的系统 |
| CN106527314B (zh) * | 2015-10-25 | 2018-01-12 | 福州睿创纺织科技有限公司 | 一种在手机上实时监控的系统 |
| CN109765271A (zh) * | 2018-12-30 | 2019-05-17 | 河海大学 | 判断金属疲劳裂纹锤击闭合的装置及其方法 |
| CN109765271B (zh) * | 2018-12-30 | 2021-09-07 | 河海大学 | 判断金属疲劳裂纹锤击闭合的装置及其方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3249425B2 (ja) | 2002-01-21 |
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Legal Events
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