JPH10300630A - Scanning line measuring equipment and inspection method therefor - Google Patents

Scanning line measuring equipment and inspection method therefor

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JPH10300630A
JPH10300630A JP9122883A JP12288397A JPH10300630A JP H10300630 A JPH10300630 A JP H10300630A JP 9122883 A JP9122883 A JP 9122883A JP 12288397 A JP12288397 A JP 12288397A JP H10300630 A JPH10300630 A JP H10300630A
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JP
Japan
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moving stage
slit
image
line
line sensor
Prior art date
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Application number
JP9122883A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Matsushima
洪志 松島
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure the curvature of a moving stage accurately without causing any error on the scanning plane of a calibration light source by disposing the calibration light source on the extension of the moving stage in a scanning line measuring equipment having a sensor for detecting laser light at a plurality of point on the moving stage. SOLUTION: A light source 11 having a collimator lens is disposed on the extension of a moving stage 1 and a slit 12 is arranged in a parallel luminous flux. The slit 12 has a shape symmetrical to the optical axis and extends vertically to the optical axis and orthogonally to the paper plane thus focusing the image of the slit 12 on a line sensor 4. At the time of measuring the curvature of the moving stage 1, measuring range thereof is determined and the level of the light source 11 is adjusted finely such that the output of a slit image 12' comes on a same element at the starting and ending points. Subsequently, a carrier 2 is moved and the line sensor 4 disposed at each measuring point focuses the slit image 12' and then the curvature of the moving stage 1 is measured from focal position of the line sensor 4.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ファクシミリや複
写機等の画像形成装置に使用される走査光学系の走査線
の曲がりを測定する技術に関し、特に、走査線の曲がり
を測定する装置自身の有する誤差を正確に把握できる技
術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for measuring the curvature of a scanning line of a scanning optical system used in an image forming apparatus such as a facsimile or a copying machine, and more particularly, to a technique for measuring the curvature of a scanning line itself. The present invention relates to a technique capable of accurately grasping an error.

【0002】[0002]

【従来の技術】ファクシミリや複写機には、ポリゴンミ
ラーとfθレンズなどの組み合わせによる走査光学系が
使用されている。そして、光源からのレーザ光束をポリ
ゴンミラーで反射させ、fθレンズを介して感光体ドラ
ム等の上に結像させ、ポリゴンミラーの回転によりこの
像を走査させて原稿の静電画像を感光体上に形成してい
く。
2. Description of the Related Art Scanning optical systems using a combination of a polygon mirror and an fθ lens are used in facsimile machines and copiers. Then, the laser beam from the light source is reflected by a polygon mirror, formed into an image on a photosensitive drum or the like via an fθ lens, and this image is scanned by rotating the polygon mirror to form an electrostatic image of the original on the photosensitive body. To form.

【0003】このような走査光学系においては、たとえ
ば、fθレンズに欠陥があって走査線が曲がっている
と、最終的に形成される原稿の画像に歪が生じることと
なる。したがって、走査光学系における走査線の曲がり
を正確に評価することが必要である。
In such a scanning optical system, for example, if the f-theta lens has a defect and the scanning line is bent, the image of the finally formed original will be distorted. Therefore, it is necessary to accurately evaluate the bending of the scanning line in the scanning optical system.

【0004】図3は、この目的を達成するために、従来
から使用されてきた走査線測定装置の基本構成を示す図
である。同図において、1は直線状の移動ステージで、
水平に配置されている。この移動ステージ1上にはキャ
リヤ2があり、このキャリヤ2は、移動ステージ1上を
自在に移動できるようになっている。そして、キャリア
2にはカメラ3が固定され、カメラ3の結像面には、垂
直方向に延びるラインセンサ4が取り付けられている。
5は固定台で、ここに走査光学系6が載せられる。
FIG. 3 is a diagram showing a basic configuration of a scanning line measuring apparatus conventionally used to achieve this object. In the figure, 1 is a linear moving stage,
It is arranged horizontally. A carrier 2 is provided on the moving stage 1, and the carrier 2 can freely move on the moving stage 1. A camera 3 is fixed to the carrier 2, and a line sensor 4 extending in a vertical direction is attached to an imaging surface of the camera 3.
Reference numeral 5 denotes a fixed base on which the scanning optical system 6 is mounted.

【0005】走査光学系6の走査線の曲がり測定は、次
のように行う。まず、走査光学系の光源6aからのレー
ザ光を射出し、この光束を回転するポリゴンミラー6b
で反射させ、fθレンズ6cに入射させる。fθレンズ
6cを透過した水平な走査光を、カメラ3の結像面に設
けられたラインセンサ4上に結像させる。ラインセンサ
4は垂直方向(紙面と垂直な方向)に配置され、その上
にレーザ光の光像が結像する。
The measurement of the bending of the scanning line of the scanning optical system 6 is performed as follows. First, a laser beam is emitted from a light source 6a of a scanning optical system, and a polygon mirror 6b that rotates this light beam is used.
And is incident on the fθ lens 6c. The horizontal scanning light transmitted through the fθ lens 6c forms an image on a line sensor 4 provided on an image forming surface of the camera 3. The line sensor 4 is disposed in a vertical direction (a direction perpendicular to the paper surface), and a light image of a laser beam is formed thereon.

【0006】キャリヤ2を移動ステージ1上で移動し、
ラインセンサ4の位置を、図3の実線の位置から点線の
位置まで、移動しながら各位置における走査光の結像位
置を求めれば、図4に示すように、走査線の曲がりを測
定することができる。
The carrier 2 is moved on the moving stage 1,
If the position of the line sensor 4 is moved from the position indicated by the solid line to the position indicated by the dotted line in FIG. 3 to determine the imaging position of the scanning light at each position, the bending of the scanning line can be measured as shown in FIG. Can be.

【0007】ところが、上記の測定には、2つの前提が
必要となる。まず、第1に、移動ステージ1が正確に水
平に設置されている必要がある。もし、移動ステージが
水平でなければ、走査線が傾斜したものとして測定さ
れ、良品を不良品と判断してしまうからである。
However, the above measurement requires two assumptions. First, it is necessary that the moving stage 1 is accurately set horizontally. If the moving stage is not horizontal, the scanning line is measured as being inclined, and a non-defective product is determined as a defective product.

【0008】第2に、移動ステージ1自身が完全に真直
であるか、または曲がりがある場合には、その曲がりが
正確に把握されていなければならない。移動ステージ自
身に曲がりがあれば、当然ながら測定した走査光学系の
走査線にもその曲がりが加わることになるので、曲がり
を正確に把握して、測定値から差し引かなければ、正し
い判断はできないことになる。
Second, when the moving stage 1 itself is completely straight or has a bend, the bend must be accurately grasped. If there is a bend in the moving stage itself, the bend will naturally be added to the scanning line of the scanning optical system measured, so if the bend is accurately grasped and subtracted from the measured value, it can not be judged correctly. become.

【0009】そこで、上記の走査線測定装置では、次の
ようにして上記2つの問題の解決を図っている。図5に
示すように、まず、上記の固定台5に代えて回転台7を
設置し、その上にキャリビレーション用の光源としてH
e−Neレーザを用いた光源8を配置する。回転台7
は、中心軸Oの回りを矢印のように回転でき、台の上面
は正確に水平に設置され、かつ、光源8からの光束も、
水平に射出されるようにする。
Therefore, the above-mentioned two problems have been solved in the above-mentioned scanning line measuring apparatus as follows. As shown in FIG. 5, first, a rotary table 7 is installed in place of the fixed table 5, and H is provided thereon as a light source for calibration.
A light source 8 using an e-Ne laser is arranged. Turntable 7
Can rotate around the central axis O as indicated by the arrow, the upper surface of the table is accurately set horizontally, and the luminous flux from the light source 8 is also
Make sure it is fired horizontally.

【0010】つぎに、移動ステージ1の測定範囲を決
め、その両端(図では実線と点線で示している)にライ
ンセンサ4を移動し、ラインセンサ4の同じ位置にレー
ザ光束が結像するように移動ステージ1の水平を調整す
る。ラインセンサ4上のレーザ光束の位置は、結像(光
像)の中心位置を求めることによって決める。これによ
って、上記第1の移動ステージを水平にするという前提
は達成できる。
Next, the measurement range of the moving stage 1 is determined, and the line sensor 4 is moved to both ends (shown by a solid line and a dotted line in the figure) so that the laser beam is focused on the same position of the line sensor 4. The horizontal of the moving stage 1 is adjusted. The position of the laser beam on the line sensor 4 is determined by obtaining the center position of the image (light image). Thus, the premise that the first moving stage is horizontal can be achieved.

【0011】つぎに、ラインセンサ4を測定範囲内の複
数の測定位置に移動し、回転台7を回転させながら光源
8からレーザ光束を照射し、ラインセンサ上の結像位置
を求める。このときも光像の中心位置とラインセンサ4
の交点を結像位置とする。これをプロットすれば、図4
に示すように移動ステージ1の曲がりを測定することが
でき、上記第2の前提も達成できる。
Next, the line sensor 4 is moved to a plurality of measurement positions within the measurement range, and a laser beam is emitted from the light source 8 while rotating the turntable 7 to obtain an image formation position on the line sensor. Also at this time, the center position of the light image and the line sensor 4
Is defined as the image forming position. If this is plotted, FIG.
As shown in (1), the bending of the moving stage 1 can be measured, and the above second premise can be achieved.

【0012】なお、上記の説明においては、固定台5を
回転台7に置き換えたが、固定台5を用いずに最初から
回転台7を設置しておき、走査光学系6を測定する場合
は、回転台7を回転させずに固定した状態で行うことと
してもよい。
In the above description, the fixed base 5 is replaced by the rotary base 7. However, when the rotary base 7 is installed from the beginning without using the fixed base 5 and the scanning optical system 6 is measured, Alternatively, it may be performed in a state where the turntable 7 is fixed without rotating.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
測定では、回転台7上の光源8のレーザ光が走査する走
査面が基準となっている。したがって、この走査面自身
に曲がりがあれば、正確な測定はできないことになる。
However, in the above measurement, the scanning surface on which the laser light of the light source 8 on the turntable 7 scans is used as a reference. Therefore, if the scanning plane itself is bent, accurate measurement cannot be performed.

【0014】ところが、従来の回転台6は、高精度のも
のでも、水平方向の面ブレが5〜10μmと大きく、ま
た、取扱いによる変形も起き易く、ラインセンサ4上で
はこれらが拡大されるので、これが走査光学系の測定時
における誤差として含まれ、高精度の測定ができなかっ
た。
However, even if the conventional rotary table 6 is of a high precision, the horizontal runout is as large as 5 to 10 μm, and deformation due to handling is apt to occur, and these are enlarged on the line sensor 4. This was included as an error in the measurement of the scanning optical system, and high-precision measurement could not be performed.

【0015】また、レーザ光束の結像中心をラインセン
サ4に合わせるときのラインセンサ4上の出力位置の再
現性が悪く±2〜3μm程度の誤差が生じる。本発明
は、このような事実から考えられたもので、キャリビレ
ーション用光源の走査面に誤差が生じず、正確に移動ス
テージの曲がりを測定できる走査線測定装置と、それに
よる移動ステージの曲がり測定方法とを提供することを
目的としている。また、併せて、再現性のよい測定方法
及び測定装置を提供することを目的としている。
In addition, the reproducibility of the output position on the line sensor 4 when the image forming center of the laser beam is adjusted to the line sensor 4 is poor, and an error of about ± 2 to 3 μm occurs. The present invention has been conceived based on such a fact, and there is no error in the scanning surface of the light source for calibration, and a scanning line measuring device capable of accurately measuring the bending of the moving stage, and the bending of the moving stage thereby. It is intended to provide a measuring method. Another object of the present invention is to provide a measurement method and a measurement apparatus with good reproducibility.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の走査線測定装置は、レーザ光を走査して書
き込み又は読み取りを行う走査光学系の像面における走
査線の曲がりを測定する装置であって、上記走査線の方
向に延びる移動ステージと、該移動ステージ上の複数箇
所でレーザ光を検知する1又は2以上のセンサと、を有
する走査線測定装置において、上記移動ステージの延長
上にキャリビレーション用のレーザ光源を設けたことを
特徴としている。
In order to achieve the above object, a scanning line measuring apparatus according to the present invention measures a curvature of a scanning line on an image plane of a scanning optical system which performs writing or reading by scanning a laser beam. A moving stage extending in the direction of the scanning line, and one or more sensors for detecting laser light at a plurality of positions on the moving stage; The laser light source for calibration is provided on the extension.

【0017】また、上記レーザ光源が、コリメータレン
ズと、該コリメータレンズの平行光束内に設けられたス
リットとを有し、上記センサが上記スリットの像と直交
する方向に設けられたラインセンサである構成とするこ
とが望ましい。
Further, the laser light source has a collimator lens and a slit provided in a parallel light beam of the collimator lens, and the sensor is a line sensor provided in a direction orthogonal to an image of the slit. It is desirable to have a configuration.

【0018】また、走査線測定装置の移動ステージの曲
がりを測定する方法は、上記の走査線測定装置の上記移
動ステージ上に配置された1又は2以上のセンサに、上
記キャリビレーション用のレーザ光束を照射して移動ス
テージ上の複数の箇所で上記センサ上にレーザ光束によ
る像を結像させ、各センサ上の結像位置から移動ステー
ジの曲がりを測定することを特徴としている。
Further, the method for measuring the bending of the moving stage of the scanning line measuring device is characterized in that one or two or more sensors arranged on the moving stage of the scanning line measuring device are provided with the laser for calibration. The method is characterized by irradiating a light beam to form an image of the laser beam on the sensor at a plurality of positions on the moving stage, and measuring a bending of the moving stage from an image forming position on each sensor.

【0019】また、上記走査線測定装置のラインセンサ
上にスリット像を結像し、スリット像内にあるラインセ
ンサの各画素の出力のグラフを求め、最大値の1/e2
の値を超える面積を2等分する線上のラインセンサの位
置をスリットとラインセンサの交点とし、該交点を移動
ステージ上の複数点について求めることが望ましい。
Further, a slit image is formed on the line sensor of the scanning line measuring apparatus, and a graph of the output of each pixel of the line sensor in the slit image is obtained.
It is desirable that the position of the line sensor on the line that bisects the area exceeding the value of is set as the intersection of the slit and the line sensor, and that the intersection be determined for a plurality of points on the moving stage.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施例を図面によ
って説明する。図1は、本発明の走査線測定装置で、測
定装置の移動ステージの曲がりを測定する状態を示して
いる。移動ステージ1、キャリヤ2、カメラ3及びライ
ンセンサ4は、従来例で説明したのと同じものである。
そして、この測定装置では、移動ステージ1の延長位置
に光源11を設けている。光源11は、図示しないが、
コリメータレンズを有し、光源のレーザ光束を平行で水
平な光束としている。そして、さらに、この平行光束内
にスリット12を配置している。スリット12は光軸に
対して対称な形状で、光軸に垂直で、かつ、紙面と直交
する方向に延びている。このスリット12の像をライン
センサ4上に結像する。一方、ラインセンサ4は、光軸
と直交する面内にあって、図の上下方向に長さを有して
いる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a state in which the bending of a moving stage of the measuring device is measured by the scanning line measuring device of the present invention. The moving stage 1, the carrier 2, the camera 3, and the line sensor 4 are the same as those described in the conventional example.
In this measuring device, a light source 11 is provided at an extended position of the moving stage 1. The light source 11 is not shown,
It has a collimator lens and makes the laser beam of the light source parallel and horizontal. Further, a slit 12 is arranged in the parallel light beam. The slit 12 has a shape symmetrical with respect to the optical axis, and extends in a direction perpendicular to the optical axis and perpendicular to the plane of the drawing. The image of the slit 12 is formed on the line sensor 4. On the other hand, the line sensor 4 is in a plane orthogonal to the optical axis and has a length in the vertical direction in the figure.

【0021】したがって、図1(b)に示すように、ラ
インセンサ4とスリット像12′とは、互いに直交する
ようになっている。そこで、ラインセンサ4上とスリッ
ト像12′とを、画像入力装置13を介してパソコン1
4のモニター画面15に写し出し、これを見ながらライ
ンセンサ4の位置を検出する。
Accordingly, as shown in FIG. 1B, the line sensor 4 and the slit image 12 'are orthogonal to each other. Therefore, the personal computer 1 is connected between the line sensor 4 and the slit image 12 ′ via the image input device 13.
4 is displayed on the monitor screen 15 of FIG.

【0022】まず、移動ステージ1の曲がり測定に際し
ては、移動ステージ1の測定範囲を決め、始点と終点と
でスリット像12′の出力が同じ素子上にくるように光
源11の水平を微調整する。あるいは、移動ステージ1
の水平を微調整してもよい。
First, when measuring the bending of the moving stage 1, the measuring range of the moving stage 1 is determined, and the horizontal position of the light source 11 is finely adjusted so that the output of the slit image 12 'is on the same element at the start point and the end point. . Alternatively, moving stage 1
May be finely adjusted.

【0023】つぎに、キャリヤ2を移動させ、各測定点
にラインセンサ4を設置し、そこでスリット像12′を
結像させてラインセンサ4のどの位置にスリット像1
2′が結像するかを測定していく。
Next, the carrier 2 is moved, and the line sensor 4 is set at each measurement point. The slit image 12 'is formed there, and the slit image 1
It measures whether 2 'forms an image.

【0024】ところで、スリット像12′はある程度の
幅があることから、スリット像12′とラインセンサ4
との交点(或いは、スリット像がラインセンサを切断す
る位置、ともいう)も求め方が問題となる。そこで、次
のようにして交点を求めることとする。
Since the slit image 12 'has a certain width, the slit image 12'
(Or the position where the slit image cuts the line sensor) with the point of intersection is a problem. Therefore, the intersection is determined as follows.

【0025】スリット像12′の幅dは、ラインセンサ
4の素子の幅p(画素ピッチ=7μm程度)より遥かに
大きく、したがって、スリット像12′を横断するライ
ンセンサ4の素子は、多数あることになる。
The width d of the slit image 12 'is much larger than the width p of the elements of the line sensor 4 (pixel pitch = approximately 7 .mu.m). Therefore, there are many elements of the line sensor 4 which cross the slit image 12'. Will be.

【0026】図2は、図1のモニター画面を拡大し、9
0°回転した図である。ラインセンサ4の各素子の出力
は、画素ピッチpを単位とした階段状の山形分布とな
る。山の裾の幅は、スリット像の幅dより広くなる。
FIG. 2 is an enlarged view of the monitor screen of FIG.
It is the figure rotated 0 degrees. The output of each element of the line sensor 4 has a step-like mountain-shaped distribution with the pixel pitch p as a unit. The width of the foot of the mountain is wider than the width d of the slit image.

【0027】このとき、ラインセンサ4とスリット像1
2′との交点は、ラインセンサ4のピーク出力位置では
なく、次のようにして決める。まず、ラインセンサ4の
ピーク出力(100%)の1/e2(13.5%)を超
える部分の面積を求め、その重心Gが通る線aとライン
センサ4の交点をスリット像12′との交点とする。換
言すれば、図2の斜線の面積を線aで2分したとき、S
1とS2の面積が等しくなる線aの位置ということがで
きる。
At this time, the line sensor 4 and the slit image 1
The intersection with 2 'is determined not as the peak output position of the line sensor 4 but as follows. First, the area of a portion exceeding 1 / e2 (13.5%) of the peak output (100%) of the line sensor 4 is obtained, and the intersection of the line a passing through the center of gravity G and the line sensor 4 is determined by the slit image 12 '. Intersection. In other words, when the area of the oblique lines in FIG.
It can be said that the position of the line a where the areas of 1 and S2 are equal.

【0028】このような測定方法とすれば、回転台を使
用しないので、回転台の面振れの影響を受けなくなり、
面振れによる誤差を完全に排除して測定できる。また、
スリット光を利用しているため光源の水平方向のわずか
な位置差によってセンサの出力位置が変化することもな
く、繰り返しの再現性が向上し、正確な移動ステージの
曲がり量測定ができる。さらに、ラインセンサ4のピー
ク出力の1/e2(13.5%)を超える部分の面積を
2等分する位置を求めることとしたので、感度ばらつ
き、ノイズの影響を減少し、高精度の曲がり測定が可能
になる。
According to such a measuring method, since the turntable is not used, the influence of the runout of the turntable is eliminated.
It is possible to completely eliminate errors due to surface runout. Also,
Since the slit light is used, the output position of the sensor does not change due to a slight positional difference in the horizontal direction of the light source, the reproducibility of repetition is improved, and the amount of bending of the moving stage can be measured accurately. Further, since the position at which the area of the portion exceeding 1 / e2 (13.5%) of the peak output of the line sensor 4 is bisected is determined, the sensitivity variation and the influence of noise are reduced, and the bending with high precision is achieved. Measurement becomes possible.

【0029】次に、複数個のラインセンサを移動ステー
ジ上に固定し、移動ステージの曲がりを測定する方法を
説明する。ラインセンサカメラの下に小型回転ステージ
を設け、その回転軸上にラインセンサがくるような設定
とし、移動ステージ上に取り付けられたキャリアに固定
し、ステージ上を自在に移動できるとともに、回転ステ
ージの軸中心に方向を変え得る構造とする。
Next, a method of fixing a plurality of line sensors on a moving stage and measuring the bending of the moving stage will be described. A small rotary stage is provided below the line sensor camera, the line sensor is set on the rotation axis, fixed to a carrier mounted on a moving stage, and can be freely moved on the stage. The structure can be changed to the axis center.

【0030】光源には図1と同じ光源11を使用し、ラ
インセンサを最初のセッティング位置にセットする。ラ
インセンサ上のスリット像の位置をモニター画面で読み
取り、次のラインセンサ(最初のと同じ構造)を所定の
セッティング位置にセットし、同様にラインセンサ上の
出力を読み取る。同様の作業を順次繰り返し、所定の個
数のラインセンサのセッティングを終了する。
As the light source, the same light source 11 as in FIG. 1 is used, and the line sensor is set at the first setting position. The position of the slit image on the line sensor is read on the monitor screen, the next line sensor (the same structure as the first) is set at a predetermined setting position, and the output on the line sensor is read in the same manner. The same operation is sequentially repeated, and the setting of a predetermined number of line sensors is completed.

【0031】各ラインセンサについて、図2で説明した
ようにしてラインセンサとスリット像との交点を求めれ
ば、移動ステージの曲がりを高精度に測定することがで
きる。このとき、ラインセンサを小型回転ステージで支
持するが、光源側ではないので、面振れは拡大されるこ
とがなく、また、小型なものでよいので、面振れ自身も
1〜2μm程度と小さいことから、高精度の移動ステー
ジの曲がり測定が可能となる。
If the intersection between the line sensor and the slit image is determined for each line sensor as described with reference to FIG. 2, the bending of the moving stage can be measured with high accuracy. At this time, the line sensor is supported by the small rotary stage, but is not on the light source side. Therefore, the bending measurement of the moving stage can be performed with high accuracy.

【0032】以上のようにして移動ステージの曲がりを
把握できたら、走査光学系の走査線の曲がり測定を行う
ことになるが、移動ステージの曲がりを正確に測定して
あるので、この曲がりを差し引くことができ、正確な測
定が可能となる。
When the bending of the moving stage can be grasped as described above, the bending of the scanning line of the scanning optical system is measured. However, since the bending of the moving stage has been accurately measured, this bending is subtracted. And accurate measurement becomes possible.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
レーザ光を走査して書き込み又は読み取りを行う走査光
学系の像面における走査線の曲がりを測定する装置であ
って、上記走査線の方向に延びる移動ステージと、該移
動ステージ上の複数箇所でレーザ光を検知する1又は2
以上のセンサと、を有する走査線測定装置において、上
記移動ステージの延長上にキャリビレーション用のレー
ザ光源を設けたので、回転台の面振れの影響を無くして
移動ステージ上の複数の箇所で上記センサ上にレーザ光
束による像を結像させ、各センサ上の結像位置から移動
ステージの曲がりを測定する曲がりを測定できる。
According to the present invention as described above,
An apparatus for measuring the curvature of a scanning line on an image plane of a scanning optical system that performs writing or reading by scanning a laser beam, comprising: a moving stage extending in the direction of the scanning line; 1 or 2 for detecting light
In the scanning line measuring device having the above-described sensor, the laser light source for calibration is provided on the extension of the moving stage, so that the influence of the surface deflection of the turntable is eliminated at a plurality of positions on the moving stage. An image formed by a laser beam is formed on the sensor, and a bend for measuring a bend of the moving stage can be measured from an image formation position on each sensor.

【0034】また、上記レーザ光源が、コリメータレン
ズと、該コリメータレンズの平行光束内のスリットとを
有し、上記センサが上記スリットの画像と直交する方向
に設けられたラインセンサである構成とすれば、光源の
水平方向のわずかな位置差によってセンサの出力位置が
変化することもなく、繰り返しの再現性が向上し、正確
な移動ステージの曲がり量測定が可能となる。
Further, the laser light source has a collimator lens and a slit in a parallel light beam of the collimator lens, and the sensor is a line sensor provided in a direction orthogonal to an image of the slit. For example, the output position of the sensor does not change due to a slight positional difference in the horizontal direction of the light source, the reproducibility of the repetition is improved, and the bending amount of the moving stage can be measured accurately.

【0035】ラインセンサ上にスリット像を結像し、ス
リット像内にあるラインセンサの各画素の出力のグラフ
を求め、最大値の1/e2の値を超える面積を2等分す
る線上のラインセンサの位置をスリットとラインセンサ
の交点とし、該交点を移動ステージ上の複数点について
求めることとすれば、再現性のよい高精度の測定ができ
る。
A slit image is formed on the line sensor, a graph of the output of each pixel of the line sensor in the slit image is obtained, and a line on a line bisecting an area exceeding 1 / e2 of the maximum value If the position of the sensor is defined as the intersection between the slit and the line sensor, and the intersection is determined for a plurality of points on the moving stage, highly accurate measurement with good reproducibility can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)は本発明の走査線測定装置の要部の構成
を示す図、(b)はラインセンサとスリット像の関係を
示す図である。
FIG. 1A is a diagram illustrating a configuration of a main part of a scanning line measuring apparatus according to the present invention, and FIG. 1B is a diagram illustrating a relationship between a line sensor and a slit image.

【図2】ラインセンサの画素毎の出力を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an output of each pixel of a line sensor.

【図3】従来の走査線測定装置の構成を示す平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view showing a configuration of a conventional scanning line measuring device.

【図4】走査光学系の走査線の曲がり状態を示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a state where a scanning line of a scanning optical system is bent.

【図5】従来の走査線測定装置で移動ステージの曲がり
を測定する状態を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a state in which the bending of a moving stage is measured by a conventional scanning line measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 移動ステージ 4 ラインセンサ 6 走査光学系 11 光源 12 スリット 12′ スリット像 Reference Signs List 1 moving stage 4 line sensor 6 scanning optical system 11 light source 12 slit 12 'slit image

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光を走査して書き込み又は読み取
りを行う走査光学系の像面における走査線の曲がりを測
定する装置であって、上記走査線の方向に延びる移動ス
テージと、該移動ステージ上の複数箇所でレーザ光を検
知する1又は2以上のセンサと、を有する走査線測定装
置において、 上記移動ステージの延長上にキャリビレーション用のレ
ーザ光源を設けたことを特徴とする走査線測定装置。
1. An apparatus for measuring a curvature of a scanning line on an image plane of a scanning optical system for writing or reading by scanning a laser beam, comprising: a moving stage extending in the direction of the scanning line; A scanning line measuring apparatus having one or more sensors for detecting laser light at a plurality of locations, wherein a laser light source for calibration is provided on an extension of the moving stage. apparatus.
【請求項2】 上記レーザ光源が、コリメータレンズ
と、該コリメータレンズの平行光束内に設けられたスリ
ットとを有し、上記センサが上記スリットの像と直交す
る方向に設けられたラインセンサであることを特徴とす
る請求項1記載の走査線測定装置。
2. A line sensor wherein the laser light source has a collimator lens and a slit provided in a parallel light beam of the collimator lens, and the sensor is provided in a direction orthogonal to an image of the slit. The scanning line measuring device according to claim 1, wherein:
【請求項3】 請求項1又は2記載の走査線測定装置の
上記移動ステージ上に配置された1又は2以上のセンサ
に、上記キャリビレーション用のレーザ光束を照射して
移動ステージ上の複数の箇所で上記センサ上にレーザ光
束による像を結像させ、各センサ上の結像位置から移動
ステージの曲がりを測定することを特徴とする走査線測
定装置の検査方法。
3. The scanning line measuring apparatus according to claim 1, wherein one or two or more sensors arranged on the moving stage are irradiated with the laser beam for the calibration so that a plurality of sensors are arranged on the moving stage. An image formed by a laser beam on the sensor at the position (1), and measuring the bending of the moving stage from the image forming position on each sensor.
【請求項4】 請求項2記載の走査線測定装置の上記ラ
インセンサ上に上記スリットの像を結像し、スリット像
内にあるラインセンサの各画素の出力のグラフを求め、
最大値の1/e2の値を超える面積を2等分する線上の
ラインセンサの位置をスリットとラインセンサの交点と
し、該交点を移動ステージ上の複数点について求めるこ
とを特徴とする走査線測定装置の検査方法。
4. An image of the slit is formed on the line sensor of the scanning line measuring device according to claim 2, and a graph of an output of each pixel of the line sensor in the slit image is obtained.
A scanning line measurement, wherein a position of a line sensor on a line bisecting an area exceeding a value of 1 / e2 of a maximum value is defined as an intersection of a slit and a line sensor, and the intersection is obtained for a plurality of points on a moving stage. Equipment inspection method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106353071A (en) * 2016-08-18 2017-01-25 宁波舜宇智能科技有限公司 The device used to adjust laser and this device adjustment and the method to adjust laser with this device

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