JPH10278345A - Image recorder - Google Patents

Image recorder

Info

Publication number
JPH10278345A
JPH10278345A JP11019497A JP11019497A JPH10278345A JP H10278345 A JPH10278345 A JP H10278345A JP 11019497 A JP11019497 A JP 11019497A JP 11019497 A JP11019497 A JP 11019497A JP H10278345 A JPH10278345 A JP H10278345A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
laser
lens
laser light
spatial light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP11019497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidekazu Tamaoki
英一 玉置
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP11019497A priority Critical patent/JPH10278345A/en
Publication of JPH10278345A publication Critical patent/JPH10278345A/en
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a compact image recorder in which the entire structure is simplified and mutual adjustment of lenses is also simplified. SOLUTION: A microcylindrical lens 20 refracts each laser light in the fast axis direction FA but passes the laser light, as it is, in the slow axis direction SA. The microcylindrical lens 20 is located at a position separated by the focal length fs thereof from the light emitting point of a semiconductor laser 10 or the vicinity thereof and collimates the laser light by suppressing divergence thereof. An axis symmetric lens 30 is located at a position separated by the local length fc thereof from the light emitting point of the semiconductor laser 10 or the vicinity thereof and collimates each laser light by suppressing divergence thereof in the slow axis direction SA. The laser light collimated in the fast axis direction FA is refracted inward and condensed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザを用いた画
像記録装置に関し、特に、高出力の半導体レーザなどの
レーザ光発生手段によって発生されたレーザ光に、反射
型空間光変調器などの空間光変調手段によって画像信号
に応じた変調を施して、赤外線感光性フォトポリマまた
は感熱(サーマル)記録材料などから成る記録材に向か
って照射し、その記録材に画像信号に基づいた画像の記
録を行なう画像記録装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image recording apparatus using a laser, and more particularly, to a laser light generated by a laser light generating means such as a high-power semiconductor laser and a spatial light modulator such as a reflection type spatial light modulator. The light modulator modulates the image signal according to the image signal, and irradiates the recording material such as an infrared-sensitive photopolymer or a thermal recording material to record an image on the recording material based on the image signal. The present invention relates to an image recording apparatus for performing the operation.

【0002】[0002]

【従来の技術】印刷・製版分野において、作成・編集さ
れた画像は、レーザを用いた画像記録装置によって感光
性材料から成る記録材に記録されるのが一般的である。
2. Description of the Related Art In the field of printing and plate making, an image created and edited is generally recorded on a recording material made of a photosensitive material by an image recording device using a laser.

【0003】従来においては、そのような画像記録装置
によって、感度の高い銀塩系のフィルムに一旦画像を記
録し、さらに、そのフィルムを用いて、紫外線感光性フ
ォトポリマを塗布した印刷版(PS版)に画像を記録し
ていた。
Conventionally, an image is once recorded on a silver halide film having high sensitivity by such an image recording apparatus, and a printing plate (PS) coated with an ultraviolet-sensitive photopolymer using the film is used. Version).

【0004】ところが、最近では、中間工程を省略する
目的で、画像記録装置によって、直接印刷版に画像を記
録する技術(Computer-To-Plate,CTP)が盛んに用いら
れるようになってきた。また、さらには、印刷版を作製
することなく、画像記録装置によって、直接印刷材に画
像を記録して印刷サンプルを作製する技術(DigitalDir
ect Color Proof,DDCP)も、広く用いられるようになっ
てきた。
However, recently, for the purpose of omitting an intermediate step, a technique (Computer-To-Plate, CTP) of directly recording an image on a printing plate by an image recording apparatus has been actively used. Furthermore, a technique (Digital Dir.) For producing a print sample by directly recording an image on a printing material by an image recording device without producing a printing plate.
ect Color Proof, DDCP) has also become widely used.

【0005】このような直接画像記録技術を用いる場
合、明室作業が可能で取り扱いが容易であるなどの理由
から、記録材の材料としては、赤外線感光性フォトポリ
マまたは感熱(サーマル)記録材料が好んで使用される
が、それらの材料は銀塩に比べ数桁感度が悪いため、画
像記録装置のレーザ光発生手段としては、高出力の半導
体レーザが使用される。
[0005] When such a direct image recording technique is used, an infrared-sensitive photopolymer or a heat-sensitive (thermal) recording material is used as a recording material because, for example, work in a light room is possible and handling is easy. These materials are preferably used, but since these materials have several orders of magnitude lower sensitivity than silver salts, a high-output semiconductor laser is used as a laser beam generating means of the image recording apparatus.

【0006】このような高出力の半導体レーザを用いた
画像記録装置としては、従来、リニアアレイ半導体レー
ザとリニアの空間光変調器(Light Valve)とを備えた
画像記録装置が、USP5,517,359において提
案されている。この既提案例においては、記録材の感光
材料面で露光ムラ(濃度不均一)を発生させないように
するために、微小シリンドリカルレンズアレイ(linear
array of cylindrical lenslets)とシリンドリカルコ
リメータレンズを用いて、リニアアレイ半導体レーザに
おける各発光点(emitter)から発生される各レーザ光
のいずれもが、空間光変調器の開口部(受光部)全体に
均一に照射されるように設計されている。従って、リニ
アアレイ半導体レーザにおける発光点の一つがたとえ破
損しても、すべてのチャンネルの光量がわずかに下がる
だけで、特定のチャンネルに影響を与えることはない。
As an image recording apparatus using such a high-output semiconductor laser, an image recording apparatus provided with a linear array semiconductor laser and a linear spatial light modulator (Light Valve) is disclosed in US Pat. 359. In this proposed example, in order to prevent exposure unevenness (non-uniform density) from occurring on the photosensitive material surface of the recording material, a minute cylindrical lens array (linear
Using an array of cylindrical lenslets and a cylindrical collimator lens, each of the laser beams generated from each light emitting point (emitter) of the linear array semiconductor laser is uniform over the entire aperture (light receiving section) of the spatial light modulator. It is designed to be illuminated. Therefore, even if one of the light emitting points in the linear array semiconductor laser is damaged, the light amount of all the channels is slightly reduced, and the specific channel is not affected.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、代表的なリ
ニアアレイ半導体レーザにおいては、発光部の中に多数
の発光点がライン状に一列に並んでおり、各発光点から
発生されるレーザ光の拡がり角は、発光点の厚み方向の
拡がり角が発光点の長手方向の拡がり角より数倍大きく
なっている(代表的な値としては、厚み方向の拡がり角
が40°,長手方向の拡がり角が10°)。
By the way, in a typical linear array semiconductor laser, a large number of light emitting points are arranged in a line in a light emitting portion, and the laser light generated from each light emitting point is Regarding the divergence angle, the divergence angle in the thickness direction of the light emitting point is several times larger than the divergence angle in the longitudinal direction of the luminous point (typically, the divergence angle in the thickness direction is 40 °, the divergence angle in the longitudinal direction). Is 10 °).

【0008】そこで、上記した既提案例においては、各
発光点から発生された各レーザ光を空間光変調器の開口
部全体に均一に照射しようとするために、マイクロシリ
ンドリカルレンズ,微小シリンドリカルレンズアレイ,
シリンドリカルコリメータレンズという3つの非軸対称
レンズを組み合わせている。即ち、マイクロシリンドリ
カルレンズは、リニアアレイ半導体レーザの直後に配設
され、レーザ光の大きい方の拡がり角を抑えるために用
いられる。また、微小シリンドリカルレンズアレイ及び
シリンドリカルコリメータレンズは、各発光点の像を空
間光変調器の開口部上で重畳するために用いられる。
Therefore, in the above-mentioned proposed example, in order to uniformly irradiate each laser beam generated from each light emitting point to the entire opening of the spatial light modulator, a micro cylindrical lens and a micro cylindrical lens array are required. ,
It combines three non-axially symmetric lenses called cylindrical collimator lenses. That is, the micro cylindrical lens is disposed immediately after the linear array semiconductor laser, and is used to suppress the larger divergence angle of the laser light. Further, the minute cylindrical lens array and the cylindrical collimator lens are used for superimposing the image of each light emitting point on the opening of the spatial light modulator.

【0009】従って、上記した既提案例においては、こ
のように3つの非軸対称レンズを用いているため、装置
全体の構成が複雑になると共に、レンズ相互の調整に手
間がかかるという問題がある。しかも、微小シリンドリ
カルレンズアレイの各レンズの間隔は、半導体レーザに
おける各発光点の間隔と微妙な対応関係を持っているた
め、微小シリンドリカルレンズアレイと半導体レーザと
の間の相互の調整も、非常に困難である。
Therefore, in the above-mentioned proposed example, since the three non-axially symmetric lenses are used as described above, there is a problem that the configuration of the entire apparatus becomes complicated and it takes time to adjust the lenses. . In addition, since the distance between the lenses of the micro cylindrical lens array has a delicate correspondence with the distance between the light emitting points of the semiconductor laser, mutual adjustment between the micro cylindrical lens array and the semiconductor laser is extremely difficult. Have difficulty.

【0010】また、微小シリンドリカルレンズアレイの
個々のレンズの焦点距離は、マイクロシリンドリカルレ
ンズの焦点距離より短くすることは困難なため、シリン
ドリカルコリメータレンズの焦点距離もあまり短くする
ことができない(上記した既提案例においては250m
m)。従って、上記した既提案例においては、装置全体
の大きさが大きくなるという問題もある。
In addition, since it is difficult to make the focal length of each lens of the micro cylindrical lens array shorter than the focal length of the micro cylindrical lens, the focal length of the cylindrical collimator lens cannot be too short (as described above). 250m in the proposed example
m). Therefore, in the above-mentioned proposed example, there is also a problem that the size of the entire apparatus becomes large.

【0011】本発明は、上記した問題点に鑑みなされた
ものであって、その目的は、装置全体の構成を簡素化で
き、レンズ相互の調整も簡単に済み、装置全体の大きさ
もコンパクトにすることができる画像記録装置を提供す
ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and has as its object to simplify the configuration of the entire apparatus, simplify the adjustment between lenses, and reduce the size of the entire apparatus. It is an object of the present invention to provide an image recording apparatus capable of performing the above.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】上
記した目的の少なくとも一部を達成するために、本発明
は、第1の方向に沿ってライン状に配置された複数の発
光点を備え、各発光点から発生される各レーザ光の主光
線が互いにほぼ平行であり、各レーザ光の前記第1の方
向の拡がり角が前記第1の方向と直交する第2の方向の
拡がり角よりも小さいレーザ光発生手段と、前記第1の
方向に沿ってライン状に配置される複数の受光部を備え
る空間光変調手段と、を備え、前記レーザ光発生手段の
各発光点から発生された各レーザ光を前記空間光変調手
段の各受光部で受光し、該空間光変調手段によって、受
光した前記レーザ光に画像信号に応じた変調を施して記
録材に向かって照射し、該記録材に前記画像信号に基づ
いた画像の記録を行なう画像記録装置であって、前記レ
ーザ光発生手段と前記空間光変調手段との間に配設さ
れ、前記レーザ光発生手段の各発光点から発生された各
レーザ光を前記第2の方向に関してほぼ平行にするシリ
ンドリカルレンズと、前記シリンドリカルレンズと前記
空間光変調手段との間に配設され、前記レーザ光発生手
段の各発光点から発生された各レーザ光を前記第1の方
向に関してそれぞれほぼ平行にすると共に、前記第2の
方向においては、前記シリンドリカルレンズによってほ
ぼ平行とされた各レーザ光を集光する軸対称レンズと、
を備え、前記空間光変調手段を前記軸対称レンズから該
軸対称レンズのほぼ焦点距離だけ離れた位置に配置する
ことにより、前記第1の方向においては、前記軸対称レ
ンズによってほぼ平行とされた各レーザ光の何れもが、
前記空間光変調手段の受光部に重畳して照射されるよう
にしたことを要旨とする。
In order to achieve at least a part of the above objects, the present invention comprises a plurality of light emitting points arranged in a line along a first direction. The principal rays of the laser beams generated from the light emitting points are substantially parallel to each other, and the divergence angle of each laser beam in the first direction is larger than the divergence angle in the second direction orthogonal to the first direction. Laser light generating means, and spatial light modulating means having a plurality of light receiving portions arranged in a line along the first direction, the light being emitted from each light emitting point of the laser light generating means. Each laser beam is received by each light receiving section of the spatial light modulator, and the spatial light modulator modulates the received laser beam according to an image signal and irradiates the laser beam toward a recording material. Record an image based on the image signal. An image recording apparatus, disposed between the laser light generating means and the spatial light modulating means, for transmitting each laser light generated from each light emitting point of the laser light generating means in the second direction. A cylindrical lens that is substantially parallel with respect to the first lens, and each of the laser lights generated from each light emitting point of the laser light generating means is disposed between the cylindrical lens and the spatial light modulating means. An axially symmetric lens for converging each of the laser beams substantially parallel by the cylindrical lens in the second direction while being substantially parallel to each other;
By disposing the spatial light modulating means at a position substantially away from the axisymmetric lens by the focal length of the axisymmetric lens, the spatial light modulating means is made substantially parallel by the axisymmetric lens in the first direction. Each of the laser beams is
The gist of the invention is that the light is superimposed on the light receiving portion of the spatial light modulating means and irradiated.

【0013】このように、本発明では、レーザ光発生手
段の各発光点から発生された各レーザ光の拡がり角の大
きい方向(第2の方向)においては、シリンドリカルレ
ンズと軸対称レンズによって空間光変調手段の受光部に
発光点の像を結像し、各レーザ光の拡がり角の小さい方
向(第1の方向)においては、軸対称レンズによって、
空間光変調手段の受光部に発光点の遠視野像(farfield
pattern)を形成して、ケーラー(Kohler)照明とす
る。
As described above, according to the present invention, in the direction (second direction) where the spread angle of each laser beam generated from each light emitting point of the laser beam generating means is large, the spatial light is formed by the cylindrical lens and the axially symmetric lens. An image of the light emitting point is formed on the light receiving portion of the modulating means, and in the direction in which the spread angle of each laser beam is small (first direction), an axisymmetric lens is used.
The far-field image (farfield) of the light-emitting point is
pattern) to form Kohler illumination.

【0014】本発明によれば、1個のシリンドリカルレ
ンズと1個の軸対称レンズという簡単な組み合わせで、
空間光変調器の受光部をほぼ均一に照明できる。よっ
て、装置全体の構成を簡素化でき、一方のレンズは軸対
称レンズであるため、レンズ相互の調整も簡単に済み、
また、光路長も短くできるため、装置全体の大きさもコ
ンパクトにすることができる。
According to the present invention, with a simple combination of one cylindrical lens and one axially symmetric lens,
The light receiving portion of the spatial light modulator can be almost uniformly illuminated. Therefore, the configuration of the entire apparatus can be simplified, and one of the lenses is an axisymmetric lens, so that adjustment between the lenses is also simplified,
Further, since the optical path length can be shortened, the size of the entire apparatus can be reduced.

【0015】また、本発明の画像記録装置において、前
記軸対称レンズの焦点距離をfC、前記空間光変調手段
の前記第1の方向に配列された受光部全部の端から端ま
での長さをL、前記レーザ光発生手段の発光点から発生
されたレーザ光の前記第1の方向の拡がり角をθとした
とき、前記軸対称レンズの焦点距離fCは、 fC=L/(2tanθ) なる式を満足することが好ましい。
In the image recording apparatus according to the present invention, the focal length of the axisymmetric lens is f C , and the length from the end to the end of all the light receiving portions of the spatial light modulating means arranged in the first direction. Is L, and the divergence angle of the laser light generated from the light emitting point of the laser light generating means in the first direction is θ, the focal length f C of the axisymmetric lens is f C = L / (2 tan θ) It is preferable to satisfy the following expression.

【0016】このように、軸対称レンズの焦点距離fC
を設定することによって、各レーザ光により、第1の方
向において、空間光変調手段の受光部全部を過不足なく
照明することができる。
Thus, the focal length f C of the axisymmetric lens
Is set, the entire light receiving portion of the spatial light modulator can be illuminated by the respective laser beams in the first direction without excess or deficiency.

【0017】また、本発明の画像記録装置において、前
記シリンドリカルレンズの焦点距離をfS、前記軸対称
レンズの焦点距離をfC、前記レーザ光発生手段の発光
点の前記第2の方向の長さをt、前記空間光変調手段の
受光部の前記第2の方向の長さをWとしたとき、前記シ
リンドリカルレンズの焦点距離fSは、 fS=fC・t/W なる式を満足することが好ましい。
In the image recording apparatus of the present invention, the focal length of the cylindrical lens is f S , the focal length of the axisymmetric lens is f C , and the length of the light emitting point of the laser beam generating means in the second direction is f. Assuming that t is t and the length of the light receiving portion of the spatial light modulator in the second direction is W, the focal length f S of the cylindrical lens satisfies the following expression: f S = f C · t / W Is preferred.

【0018】このように、シリンドリカルレンズの焦点
距離fSを設定することによって、第2の方向におい
て、軸対称レンズによって集光されたレーザ光を、空間
光変調手段の受光部において、その受光部の長さWとほ
ぼ同じ幅にすることができる。
As described above, by setting the focal length f S of the cylindrical lens, the laser light condensed by the axially symmetric lens in the second direction is transmitted to the light receiving portion of the spatial light modulator by the light receiving portion. Can be made almost the same width as the length W.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を実施
例に基づいて説明する。図1は本発明の第1の実施例と
しての画像記録装置の光学系を示す斜視図である。図1
に示すように、本実施例の画像記録装置は、半導体レー
ザ10と反射型空間光変調器40を備えており、それら
の間には、半導体レーザ10の近くにマイクロシリンド
リカルレンズ20を、半導体レーザ10と反射型空間光
変調器40との中間に軸対称レンズ30を、それぞれ備
えている。また、反射型空間光変調器40と記録材60
との間には投影レンズ50を備えており、さらに、反射
型空間光変調器40とほぼ対面する位置にビームストッ
プ70を備えている。なお、図1において、OAはopti
cal axis(光軸)方向であり、FAはfast axis方向
(半導体レーザ10からのレーザ光の拡がり角の大きい
方向)であり、SAはslow axis方向(半導体レーザ1
0からのレーザ光の拡がり角の小さい方向)である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below based on examples. FIG. 1 is a perspective view showing an optical system of an image recording apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG.
As shown in FIG. 1, the image recording apparatus of the present embodiment includes a semiconductor laser 10 and a reflective spatial light modulator 40, between which a micro cylindrical lens 20 is provided near the semiconductor laser 10, and a semiconductor laser 10 is provided. An axially symmetric lens 30 is provided between the reflective spatial light modulator 10 and the reflective spatial light modulator 40. The reflection type spatial light modulator 40 and the recording material 60
And a projection lens 50, and a beam stop 70 at a position substantially facing the reflective spatial light modulator 40. In FIG. 1, OA is opti.
Cal axis (optical axis) direction, FA is fast axis direction (direction in which the spread angle of laser light from semiconductor laser 10 is large), and SA is slow axis direction (semiconductor laser 1).
0 from the direction in which the spread angle of the laser beam is small).

【0020】本実施例の画像記録装置の特徴は、半導体
レーザ10における各発光点12から発生された各レー
ザ光を反射型空間光変調器40に照射する際(即ち、レ
ーザ光で反射型空間光変調器40を照明する際)に、半
導体レーザ10の発光点12の像を反射型空間光変調器
40に結像させる完全な臨界照明ではなく、slow axis
方向SAについては、反射型空間光変調器40に発光点
12の遠視野像(farfield pattern)を形成して、ケー
ラー(Kohler)照明とする点にある。
A feature of the image recording apparatus of the present embodiment is that each laser beam generated from each light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 is irradiated onto the reflection type spatial light modulator 40 (that is, the reflection type spatial light modulator is irradiated with the laser beam). When the light modulator 40 is illuminated), the image of the light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 is not completely critical illumination that forms an image on the reflective spatial light modulator 40, but is slow axis.
Regarding the direction SA, a far-field pattern of the light emitting point 12 is formed on the reflective spatial light modulator 40 to provide Kohler illumination.

【0021】それでは、本実施例の画像記録装置の構成
及び各構成要素の作用についてさらに詳細に説明する。
Next, the configuration of the image recording apparatus according to the present embodiment and the operation of each component will be described in more detail.

【0022】図2は図1の画像記録装置の光学系をfast
axis方向FA及びslow axis方向SAより見て示した説
明図である。図2において、(a)は図1の画像記録装
置の光学系をfast axis方向FAから見た平面図であ
り、(b)は同じくslow axis方向SAから見た側面図
である。
FIG. 2 shows the optical system of the image recording apparatus of FIG.
FIG. 4 is an explanatory diagram viewed from an axis direction FA and a slow axis direction SA. 2A is a plan view of the optical system of the image recording apparatus of FIG. 1 as viewed in the fast axis direction FA, and FIG. 2B is a side view of the optical system in the slow axis direction SA.

【0023】また、図3は図1の半導体レーザ10の一
具体例を示す構成図である。図3において、(a)は半
導体レーザ10をoptical axis方向OAから見た正面
図、(b)は同じくslow axis方向SAから見た側面
図、(c)は同じくfast axis方向FAから見た平面図
である。
FIG. 3 is a block diagram showing a specific example of the semiconductor laser 10 of FIG. 3A is a front view of the semiconductor laser 10 viewed from the optical axis direction OA, FIG. 3B is a side view of the semiconductor laser 10 viewed from the slow axis direction SA, and FIG. FIG.

【0024】まず、本実施例の画像記録装置では、半導
体レーザ10として、図3に示すような多数の発光点を
有する半導体レーザを用いている。即ち、半導体レーザ
10の前面には、多数の発光点12がslow axis方向S
Aに沿ってライン状に配列されており、それぞれ、opti
cal axis方向OAにレーザ光を発生する。各発光点12
は厚み方向がfast axis方向FA、長手方向がslow axis
方向SAとなるように配置されており、発光点12から
発生したレーザ光は厚み方向に拡がり角が大きくなり、
長手方向には拡がり角が小さくなるため、前述の方向の
定義で述べた通り、fast axis方向FAがレーザ光の拡
がり角の大きい方向、slow axis方向SAがレーザ光の
拡がり角の小さい方向となっている。
First, in the image recording apparatus of this embodiment, a semiconductor laser having a large number of light emitting points as shown in FIG. That is, on the front surface of the semiconductor laser 10, a large number of light emitting points 12 are provided in the slow axis direction S.
A is arranged in a line along A.
A laser beam is generated in the cal axis direction OA. Each light emitting point 12
Is fast axis direction FA in the thickness direction and slow axis direction in the longitudinal direction
The laser light generated from the light emitting point 12 has a divergence angle that increases in the thickness direction.
Since the divergence angle is reduced in the longitudinal direction, the fast axis direction FA is the direction in which the divergence angle of the laser light is large, and the slow axis direction SA is the direction in which the divergence angle of the laser light is small, as described in the definition of the direction described above. ing.

【0025】このような半導体レーザとしては、例え
ば、SDL社(SDL Inc.)のSDL-3470-S,オプト・パワー社
(Opto Power Corp.)のPOC-A020-mmm-CN, 或いはトム
ソン社(Thomson-CSF)のTH-C1220-Sといった20W級
の素子を用いることができる。
Examples of such a semiconductor laser include SDL-3470-S of SDL Inc., POC-A020-mmm-CN of Opto Power Corp., and Thomson Inc. A 20 W class device such as TH-C1220-S of Thomson-CSF) can be used.

【0026】次に、本実施例では、図2(b)に示すよ
うに、マイクロシリンドリカルレンズ20を、半導体レ
ーザ10の発光点12からマイクロシリンドリカルレン
ズ20の焦点距離fSだけ離れた位置またはその近傍に
配置している。マイクロシリンドリカルレンズ20は、
図1及び図2に示すように、円柱形状を成すレンズであ
って、その円柱の軸がslow axis方向SAを向くように
配置されているため、fast axis方向FAにおいては屈
折力を有するが、slow axis方向SAにおいては何ら屈
折力を有しない。従って、半導体レーザ10の各発光点
12から発生した各レーザ光は、fast axis方向FAに
おいては図2(b)に示すように屈折されるが、slow a
xis方向SAにおいては何ら影響を受けないため、図2
(a)に示すようにそれぞれそのまま素通りする。しか
も、マイクロシリンドリカルレンズ20は上記したよう
に発光点12から焦点距離fSだけ離れた位置に配置さ
れているため、fast axis方向FAにおいて図2(b)
に示すようにレーザ光の拡がりを抑えて平行にする。
Next, in this embodiment, as shown in FIG. 2B, the micro cylindrical lens 20 is moved away from the light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 by the focal length f S of the micro cylindrical lens 20 or at a position separated therefrom. It is located near. The micro cylindrical lens 20
As shown in FIGS. 1 and 2, since the lens has a cylindrical shape and the axis of the cylinder is arranged so as to face the slow axis direction SA, the lens has refractive power in the fast axis direction FA. It has no refractive power in the slow axis direction SA. Accordingly, each laser beam generated from each light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 is refracted in the fast axis direction FA as shown in FIG.
Since there is no influence in the xis direction SA, FIG.
As shown in FIG. In addition, since the micro cylindrical lens 20 is disposed at a position away from the light emitting point 12 by the focal length f S as described above, the micro cylindrical lens 20 in FIG.
As shown in (1), the spread of the laser beam is suppressed to make it parallel.

【0027】次に、本実施例では、図2(a)に示すよ
うに、軸対称レンズ30を、マイクロシリンドリカルレ
ンズ20と反射型空間光変調器40との間で、半導体レ
ーザ10の発光点12から軸対称レンズ30の焦点距離
Cだけ離れた位置またはその近傍に配置している。軸
対称レンズ30は、図2に示すように光軸について対称
な形状を成しているため、光軸に対して垂直な何れの方
向においても屈折力を有しており、各レーザ光はfast a
xis方向FA,slow axis方向SAの何れの方向において
も、図2(a),(b)に示すように屈折される。
Next, in this embodiment, as shown in FIG. 2A, an axisymmetric lens 30 is provided between the micro cylindrical lens 20 and the reflection type spatial light modulator 40, and the light emitting point of the semiconductor laser 10 is changed. It is arranged at a position separated from the lens 12 by the focal length f C of the axisymmetric lens 30 or in the vicinity thereof. Since the axially symmetric lens 30 has a shape symmetrical with respect to the optical axis as shown in FIG. 2, it has refractive power in any direction perpendicular to the optical axis, and each laser beam is fast. a
In each of the xis direction FA and the slow axis direction SA, the light is refracted as shown in FIGS.

【0028】従って、軸対称レンズ30を発光点12か
ら焦点距離fCだけ離れた位置に配置することによっ
て、軸対称レンズ30は、slow axis方向SAにおい
て、図2(a)に示すようにマイクロシリンドリカルレ
ンズ20を素通りしてきた各レーザ光の拡がりをそれぞ
れ抑えて平行にする。但し、マイクロシリンドリカルレ
ンズ20を素通りしてきた各レーザ光は、それぞれ、そ
れが発生された発光点12の位置がslow axis方向SA
において異なっており、しかも、各レーザ光の主光線が
平行となっているため、軸対称レンズ30は、図2
(a)に示すように、各レーザ光を、それぞれ、上記の
ように拡がりを平行にした上で、内側に向けて屈折させ
る。
Therefore, by arranging the axially symmetric lens 30 at a position away from the light emitting point 12 by the focal distance f C , the axially symmetric lens 30 can move in the slow axis direction SA as shown in FIG. The spread of each laser beam that has passed through the cylindrical lens 20 is suppressed and made parallel. However, each laser beam that has passed through the micro cylindrical lens 20 has the position of the light emitting point 12 at which it is generated in the slow axis direction SA.
Are different from each other, and the principal rays of the respective laser beams are parallel.
As shown in (a), each laser beam is refracted inward after making its spread parallel as described above.

【0029】一方、fast axis方向FAにおいては、図
2(b)に示すように、軸対称レンズ30は、マイクロ
シリンドリカルレンズ20によって平行とされたレーザ
光を、内側に向けて屈折させて集光させる。
On the other hand, in the fast axis direction FA, as shown in FIG. 2B, the axially symmetric lens 30 refracts the laser beam collimated by the micro cylindrical lens 20 inward and condenses it. Let it.

【0030】図4は図1の反射型空間光変調器40の一
具体例を示す構成図である。図4において、(a)は反
射型空間光変調器40をoptical axis方向OAから見た
正面図、(b)は同じくslow axis方向SAから見た側
面図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a specific example of the reflective spatial light modulator 40 of FIG. 4A is a front view of the reflective spatial light modulator 40 viewed from the optical axis direction OA, and FIG. 4B is a side view of the reflective spatial light modulator 40 viewed from the slow axis direction SA.

【0031】次に、本実施例では、反射型空間光変調器
40として、図4に示すような多数の開口部(cell)を
有する空間光変調器を用いている。即ち、反射型空間光
変調器40の半導体レーザ10と向かい合う面には、多
数の開口部42がslow axis方向SAに沿ってライン状
に配列されており、各開口部(受光部)42は、それぞ
れ、軸対称レンズ30を通過した各レーザ光を受光す
る。また、反射型空間光変調器40には、図2(b)に
示すように画像信号が入力されており、その画像信号に
応じて、各開口部42で受光したレーザ光に変調を施
す。即ち、反射型空間光変調器40は、各開口部42で
受光したレーザ光をそれぞれ反射するが、その際、入力
された画像信号に応じて反射角度を高速に変化させ、例
えば、画像信号がオンを示す場合にはレーザ光を投影レ
ンズ50に導くように反射し、オフを示す場合にはビー
ムストップ70に導くように反射することによって、レ
ーザ光に変調を施す。
Next, in this embodiment, as the reflection type spatial light modulator 40, a spatial light modulator having a large number of apertures (cells) as shown in FIG. 4 is used. That is, on the surface of the reflection type spatial light modulator 40 facing the semiconductor laser 10, a large number of openings 42 are arranged in a line along the slow axis direction SA, and each opening (light receiving portion) 42 Each of them receives the laser light passing through the axisymmetric lens 30. Further, an image signal is input to the reflection type spatial light modulator 40 as shown in FIG. 2B, and the laser light received at each opening 42 is modulated according to the image signal. That is, the reflection type spatial light modulator 40 reflects the laser light received by each of the openings 42, and at this time, changes the reflection angle at high speed in accordance with the input image signal. When on, the laser light is reflected so as to be guided to the projection lens 50, and when off, the laser light is reflected so as to be guided to the beam stop 70, thereby modulating the laser light.

【0032】なお、このような反射型空間光変調器とし
ては、例えば、テキサス・インストルメンツ社(Texas
Instruments Inc.)のデジタル・マイクロミラー・デバ
イス(Digital Micromirror Device,DMD)やシリコン
・ライト・マシンズ社(Silicon Light Machines In
c.,旧社名:Echelle Inc.)の回折格子型ライトバルブ
(Grating Light Valve, GLV)を用いることができる。
As such a reflection type spatial light modulator, for example, Texas Instruments (Texas)
Instruments Inc.) 'S Digital Micromirror Device (DMD) and Silicon Light Machines In
c. Grating Light Valve (GLV) manufactured by Echelle Inc. can be used.

【0033】また、本実施例では、図2(a)に示すよ
うに、反射型空間光変調器40のライン状に並んだ各開
口部が、軸対称レンズ30から軸対称レンズ30の焦点
距離fCだけ離れた位置またはその近傍にくるように、
反射型空間光変調器40を配置している。このため、sl
ow axis方向SAにおいて、図2(a)に示すように、
軸対称レンズ30によって内側に向けて屈折された平行
な各レーザ光は、それぞれ、反射型空間光変調器40の
ライン状に並んだ各開口部42で重畳される。
Further, in this embodiment, as shown in FIG. 2A, each of the apertures arranged in a line of the reflection type spatial light modulator 40 has a focal length between the axisymmetric lens 30 and the axisymmetric lens 30. so that it is at or near the position separated by f C ,
The reflection type spatial light modulator 40 is arranged. For this reason, sl
In the ow axis direction SA, as shown in FIG.
The parallel laser beams refracted inward by the axially symmetric lens 30 are superimposed on the respective line-shaped openings 42 of the reflective spatial light modulator 40.

【0034】ここで、図4(a)に示すように反射型空
間光変調器40の開口部42全部の端から端までの有効
幅をL、図3(c)に示すように半導体レーザ10の各
発光点12から発生されるレーザ光のslow axis方向S
Aにおける拡がり角をθとした場合に、軸対称レンズ3
0の焦点距離fCが次の式(1)を満足するよう設定さ
れているとすると、slow axis方向SAにおいて、軸対
称レンズ30によって平行とされた各レーザ光の幅は、
反射型空間光変調器40の開口部42全部の有効幅Lと
ほぼ等しくなる。
Here, as shown in FIG. 4A, the effective width from end to end of the entire opening 42 of the reflection type spatial light modulator 40 is L, and as shown in FIG. Slow axis direction S of laser light generated from each light emitting point 12
When the divergence angle at A is θ, the axially symmetric lens 3
Assuming that the focal length f C of 0 is set to satisfy the following equation (1), the width of each laser beam parallelized by the axisymmetric lens 30 in the slow axis direction SA is:
It is substantially equal to the effective width L of the entire opening 42 of the reflective spatial light modulator 40.

【0035】fC=L/(2tanθ) ……(1)F C = L / (2 tan θ) (1)

【0036】従って、この場合、slow axis方向SAに
おいて、図2(a)に示すように、軸対称レンズ30に
よって平行とされた各レーザ光は、それぞれ、反射型空
間光変調器40の開口部42全部を過不足なく照明し、
かつ、重畳されることになる。
Accordingly, in this case, in the slow axis direction SA, as shown in FIG. 2A, the laser beams collimated by the axially symmetric lens 30 are respectively transmitted through the apertures of the reflection type spatial light modulator 40. Lighting all 42 with just enough
And it will be superimposed.

【0037】例えば、今、反射型空間光変調器40の各
開口部42のピッチPLが25μm(=0.025m
m)であり、開口部42の有効総数nが360個である
とすると、反射型空間光変調器40の開口部42全部の
端から端までの有効幅Lは、L=PL×n=0.025
×360=9.0mmとなる。従って、半導体レーザ1
0の各発光点12から発生されるレーザ光のslow axis
方向SAにおける拡がり角θが約5゜であるとすると、
軸対称レンズ30の焦点距離fCは、式(1)から、次
のようにして求められる。
For example, now, the pitch P L of each opening 42 of the reflection type spatial light modulator 40 is 25 μm (= 0.025 m
m), and assuming that the effective total number n of the openings 42 is 360, the effective width L from end to end of all the openings 42 of the reflective spatial light modulator 40 is L = P L × n = 0.025
× 360 = 9.0 mm. Therefore, the semiconductor laser 1
Slow axis of laser light generated from each light emitting point 12 of 0
Assuming that the spread angle θ in the direction SA is about 5 °,
The focal length f C of the axisymmetric lens 30 is obtained from Expression (1) as follows.

【0038】fC=L/(2tanθ)=9.0/(2
tan5゜)=51.5mm
F C = L / (2 tan θ) = 9.0 / (2
tan5 ゜) = 51.5 mm

【0039】以上のようにして、半導体レーザ10の各
発光点12が図3に示すようにそれぞれ離散的に幅をも
って並んでいても、反射型空間光変調器40を軸対称レ
ンズ30の後側焦点またはその近傍に配置することによ
り、すべての発光点からのレーザ光を反射型空間光変調
器40上で重畳することができる。実際の半導体レーザ
は、発光領域内の発光形態が均質でないことが多く、従
って、その遠視野像は干渉により不均一な照度分布にな
ってしまうが、このように各レーザ光を重畳することに
よって平均化されるため、ほぼ均一な照度分布が得られ
る。また、当然のことながら、半導体レーザ10の多数
ある発光点のうち、幾つかの発光点が損傷しても、反射
型空間光変調器40における特定の開口部に影響しない
冗長性を有する。
As described above, even if the light emitting points 12 of the semiconductor laser 10 are arranged discretely with a width as shown in FIG. 3, the reflection type spatial light modulator 40 is located on the rear side of the axisymmetric lens 30. By arranging them at or near the focal point, laser beams from all light emitting points can be superimposed on the reflective spatial light modulator 40. In actual semiconductor lasers, the light emission form in the light emission region is often not homogeneous, so that the far-field image has a non-uniform illuminance distribution due to interference. Since the averaging is performed, a substantially uniform illuminance distribution can be obtained. Of course, even if some of the many light emitting points of the semiconductor laser 10 are damaged, there is a redundancy that does not affect a specific opening in the reflective spatial light modulator 40.

【0040】一方、fast axis方向FAにおいては、図
2(b)に示すように、軸対称レンズ30によって集光
されたレーザ光は、反射型空間光変調器40の開口部4
2で結像される。従って、反射型空間光変調器40上で
は、半導体レーザ10の発光点12の像が拡大投影され
る。なお、その際の倍率は、マイクロシリンドリカルレ
ンズ20の焦点距離fSと軸対称レンズ30の焦点距離
Cの比で決まる。
On the other hand, in the fast axis direction FA, as shown in FIG. 2B, the laser light condensed by the axially symmetric lens 30 is transmitted through the aperture 4 of the reflection type spatial light modulator 40.
An image is formed at 2. Therefore, on the reflective spatial light modulator 40, the image of the light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 is enlarged and projected. The magnification at that time is determined by the ratio of the focal length f S of the micro cylindrical lens 20 to the focal length f C of the axisymmetric lens 30.

【0041】従って、今、図3(a)に示すように半導
体レーザ10の各発光点12のfastaxis方向FAの厚み
をtとすると、この発光点12の厚みtに対し、そのf
C/fS倍の大きさの像が反射型空間光変調器40上に拡
大投影されることになる。
Accordingly, assuming that the thickness of each light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 in the fast axis direction FA is t as shown in FIG.
C / f S times the magnitude image of is to be enlarged and projected on the reflection type spatial light modulator 40.

【0042】そこで、図4(a)に示すように反射型空
間光変調器40の各開口部42のfast axis方向FAの
大きさをWとした場合に、マイクロシリンドリカルレン
ズ20の焦点距離fSが次の式(2)を満足するよう設
定されているとすると、fastaxis方向FAにおいて、軸
対称レンズ30によって集光されたレーザ光は、図4
(b)に示すように、反射型空間光変調器40の開口部
42において、その開口部42の大きさWとほぼ同じ幅
になる。
Therefore, as shown in FIG. 4A, when the size in the fast axis direction FA of each opening 42 of the reflection type spatial light modulator 40 is W, the focal length f S of the micro cylindrical lens 20 is determined. Is set so as to satisfy the following expression (2), the laser light condensed by the axially symmetric lens 30 in the fast axis direction FA is as shown in FIG.
As shown in (b), the width of the opening 42 of the reflective spatial light modulator 40 is substantially the same as the size W of the opening 42.

【0043】fS=fC・t/W ……(2)F S = f C · t / W (2)

【0044】従って、この場合、軸対称レンズ30によ
り集光されたレーザ光は、fast axis方向FAにおいて
も、反射型空間光変調器40の開口部42全体を照明す
ることになる。
Therefore, in this case, the laser light condensed by the axially symmetric lens 30 illuminates the entire opening 42 of the reflection type spatial light modulator 40 even in the fast axis direction FA.

【0045】例えば、軸対称レンズ30の焦点距離fC
を、前述の如く求めたとおり、51.5mmとし、半導
体レーザ10の各発光点12のfast axis方向FAの厚
みtを1μm、反射型空間光変調器40の各開口部42
のfast axis方向FAの大きさWを25μmとすると、
マイクロシリンドリカルレンズ20の焦点距離fSは、
式(2)から、次のようにして求められる。
For example, the focal length f C of the axisymmetric lens 30
Is set to 51.5 mm, as described above, the thickness t of each light emitting point 12 of the semiconductor laser 10 in the fast axis direction FA is 1 μm, and each opening 42 of the reflection type spatial light modulator 40 is
Assuming that the size W of the fast axis direction FA is 25 μm,
The focal length f S of the micro cylindrical lens 20 is
From Expression (2), it is obtained as follows.

【0046】 fS=fC・t/W=51.5/25=2.06mmF S = f C · t / W = 51.5 / 25 = 2.06 mm

【0047】なお、以上のようなマイクロシリンドリカ
ルレンズとしては、例えば、ドーリックレンズ社(Dori
c Lenses Inc.)の屈折率傾斜型シリンドリカルマイク
ロレンズ(gradient index cylindrical microlenses)
を用いることができる。この場合のロッド(このレンズ
は完全なロッドレンズ)の直径は、焦点距離fSが2.
06mmの場合、約3.0mmとなる。
As the micro cylindrical lens as described above, for example, Doric Lens (Dori)
c Lenses Inc.) gradient index cylindrical microlenses
Can be used. The diameter of the rod in this case (this lens is a perfect rod lens) has a focal length f S of 2.
In the case of 06 mm, it is about 3.0 mm.

【0048】次に、本実施例では、投影レンズ50を、
図2(b)に示すように、反射型空間光変調器40の像
が投影レンズ50により拡大または縮小して記録材60
上に形成されるように、配置する。従って、反射型空間
光変調器40で画像信号に応じて変調されたレーザ光
は、投影レンズ50によって集光され、記録材60上で
結像し、そのレーザ光によって記録材60に画像が記録
される。
Next, in this embodiment, the projection lens 50 is
As shown in FIG. 2B, the image of the reflective spatial light modulator 40 is enlarged or reduced by the
Place so that it is formed on top. Therefore, the laser light modulated according to the image signal by the reflection type spatial light modulator 40 is condensed by the projection lens 50 and forms an image on the recording material 60, and the image is recorded on the recording material 60 by the laser light. Is done.

【0049】例えば、記録画像として2540dpiの
解像度が必要な場合、1画素(pixel)の大きさは2
5.4mm/2540=0.01mm(=10μm)で
あるから、倍率は10/25=1/2.5である。半導
体レーザ10として前述したような20W級の素子を用
いると、slow axis方向SAにおいて、各発光点12全
体の有効幅は10mmであるから、最も端にある発光点
から出たレーザ光は反射型空間光変調器40上で(10
/2)/51.5=0.097の傾きを持つ。従って、
投影レンズ50の像側開口数(Numerical Aperture, N.
A.)は、少なくても0.097X2.5=0.243以
上あれば、ケラレ(Vignetting)無く、反射型空間光変
調器40の像を形成できる。
For example, when a resolution of 2540 dpi is required for a recorded image, the size of one pixel is 2
Since 5.4 mm / 2540 = 0.01 mm (= 10 μm), the magnification is 10/25 = 1 / 2.5. When a 20 W class element as described above is used as the semiconductor laser 10, the effective width of the entire light emitting point 12 is 10 mm in the slow axis direction SA, so that the laser light emitted from the light emitting point at the end is a reflection type. On the spatial light modulator 40, (10
/2)/51.5=0.097. Therefore,
The image-side numerical aperture of the projection lens 50 (Numerical Aperture, N.
In A.), if at least 0.097 × 2.5 = 0.243 or more, an image of the reflective spatial light modulator 40 can be formed without vignetting.

【0050】以上説明したように、半導体レーザ10に
おける各発光点12から発生された各レーザ光を反射型
空間光変調器40に照射する際、slow axis方向SAに
ついてケーラー照明とすることによって、発光点12が
多数ある(multi-element)の半導体レーザ10を光源
に用いても、その発光点12の大きさや個数に依存しな
いコンパクトな照明光学系を構成できる。
As described above, when irradiating each of the laser beams generated from each of the light emitting points 12 of the semiconductor laser 10 to the reflection type spatial light modulator 40, the light is emitted by performing Koehler illumination in the slow axis direction SA. Even if the semiconductor laser 10 having many points 12 (multi-element) is used as a light source, a compact illumination optical system independent of the size and number of the light emitting points 12 can be configured.

【0051】即ち、本実施例によれば、1個のマイクロ
シリンドリカルレンズ20と1個の軸対称レンズ30と
いう簡単な組み合わせで、反射型空間光変調器40をほ
ぼ均一に照明できる。従って、装置全体の構成を簡素化
でき、一方のレンズは軸対称レンズであるため、レンズ
相互の調整も簡単に済み、また、光路長も短くできるた
め、装置全体の大きさもコンパクトにすることができ、
さらに、半導体レーザ10の発光点12の個数や大きさ
に依存することもない。
That is, according to the present embodiment, the reflection-type spatial light modulator 40 can be almost uniformly illuminated by a simple combination of one micro cylindrical lens 20 and one axially symmetric lens 30. Accordingly, the configuration of the entire apparatus can be simplified, and one of the lenses is an axisymmetric lens, so that adjustment between the lenses can be simplified, and the optical path length can be shortened, so that the size of the entire apparatus can be made compact. Can,
Further, it does not depend on the number or size of the light emitting points 12 of the semiconductor laser 10.

【0052】図5は本発明の第2の実施例としての画像
記録装置の光学系を示す斜視図である。図5に示すよう
に、本実施例の画像記録装置は、図1に示した実施例と
異なり、反射型空間光変調器40の代わりに、透過型空
間光変調器90を備えている。その他、ミラー80,偏
光板100も備えている。
FIG. 5 is a perspective view showing an optical system of an image recording apparatus according to a second embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, the image recording apparatus of the present embodiment includes a transmission spatial light modulator 90 instead of the reflection spatial light modulator 40, unlike the embodiment shown in FIG. In addition, a mirror 80 and a polarizing plate 100 are also provided.

【0053】本実施例において、ミラー80は、軸対称
レンズ30を通過したレーザ光を反射して、レーザ光の
向きを変える。透過型空間光変調器90はミラー80で
反射したレーザ光を各開口部において受光し、受光した
レーザ光を透過するが、その際、別に入力される画像信
号に応じて、偏光方向を高速に変化させる。偏光板10
0は、偏光方向が一致するレーザ光のみを透過するた
め、偏光板100を通過したレーザ光は画像信号に応じ
て変調の施されたものとなる。
In this embodiment, the mirror 80 reflects the laser light passing through the axisymmetric lens 30 and changes the direction of the laser light. The transmission type spatial light modulator 90 receives the laser beam reflected by the mirror 80 at each opening and transmits the received laser beam. At this time, the polarization direction is changed at high speed according to an image signal input separately. Change. Polarizing plate 10
Since 0 transmits only laser light having the same polarization direction, the laser light that has passed through the polarizing plate 100 is modulated according to an image signal.

【0054】このような透過型空間光変調器としては、
例えば、PLZTシャッターのような透過型の素子を用いる
ことができる。
As such a transmission type spatial light modulator,
For example, a transmissive element such as a PLZT shutter can be used.

【0055】なお、本発明は上記した実施例や実施形態
に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の態様にて実施することが可能である。
The present invention is not limited to the above-described examples and embodiments, but can be implemented in various modes without departing from the gist thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例としての画像記録装置の
光学系を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an optical system of an image recording apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の画像記録装置の光学系をfast axis方向
FA及びslow axis方向SAより見て示した説明図であ
る。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing the optical system of the image recording apparatus of FIG. 1 as viewed from a fast axis direction FA and a slow axis direction SA.

【図3】図1の半導体レーザ10の一具体例を示す構成
図である。
FIG. 3 is a configuration diagram illustrating a specific example of the semiconductor laser 10 of FIG. 1;

【図4】図1の反射型空間光変調器40の一具体例を示
す構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram showing a specific example of the reflective spatial light modulator 40 of FIG.

【図5】本発明の第2の実施例としての画像記録装置の
光学系を示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing an optical system of an image recording apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…半導体レーザ 12…発光点 20…マイクロシリンドリカルレンズ 30…軸対称レンズ 40…反射型空間光変調器 42…開口部 50…投影レンズ 60…記録材 70…ビームストップ 80…ミラー 90…透過型空間光変調器 100…偏光板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Semiconductor laser 12 ... Emission point 20 ... Micro cylindrical lens 30 ... Axisymmetric lens 40 ... Reflection type spatial light modulator 42 ... Aperture 50 ... Projection lens 60 ... Recording material 70 ... Beam stop 80 ... Mirror 90 ... Transmission type space Light modulator 100 ... Polarizing plate

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の方向に沿ってライン状に配置され
た複数の発光点を備え、各発光点から発生される各レー
ザ光の主光線が互いにほぼ平行であり、各レーザ光の前
記第1の方向の拡がり角が前記第1の方向と直交する第
2の方向の拡がり角よりも小さいレーザ光発生手段と、
前記第1の方向に沿ってライン状に配置される複数の受
光部を備える空間光変調手段と、を備え、前記レーザ光
発生手段の各発光点から発生された各レーザ光を前記空
間光変調手段の各受光部で受光し、該空間光変調手段に
よって、受光した前記レーザ光に画像信号に応じた変調
を施して記録材に向かって照射し、該記録材に前記画像
信号に基づいた画像の記録を行なう画像記録装置であっ
て、 前記レーザ光発生手段と前記空間光変調手段との間に配
設され、前記レーザ光発生手段の各発光点から発生され
た各レーザ光を前記第2の方向に関してほぼ平行にする
シリンドリカルレンズと、 前記シリンドリカルレンズと前記空間光変調手段との間
に配設され、前記レーザ光発生手段の各発光点から発生
された各レーザ光を前記第1の方向に関してそれぞれほ
ぼ平行にすると共に、前記第2の方向においては、前記
シリンドリカルレンズによってほぼ平行とされた各レー
ザ光を集光する軸対称レンズと、 を備え、 前記空間光変調手段を前記軸対称レンズから該軸対称レ
ンズのほぼ焦点距離だけ離れた位置に配置することによ
り、前記第1の方向においては、前記軸対称レンズによ
ってほぼ平行とされた各レーザ光の何れもが、前記空間
光変調手段の受光部に重畳して照射されるようにしたこ
とを特徴とする画像記録装置。
A plurality of light-emitting points arranged in a line along a first direction, wherein principal rays of respective laser lights generated from the respective light-emitting points are substantially parallel to each other; Laser light generating means having a divergence angle in a first direction smaller than a divergence angle in a second direction orthogonal to the first direction;
Spatial light modulating means comprising a plurality of light receiving portions arranged in a line along the first direction, wherein the laser light generated from each light emitting point of the laser light generating means is subjected to the spatial light modulating. The light is received by each light receiving section of the means, and the laser light received is subjected to modulation according to an image signal by the spatial light modulation means and irradiated toward a recording material, and an image is formed on the recording material based on the image signal. An image recording apparatus for performing recording of the laser light, wherein the laser light is disposed between the laser light generating means and the spatial light modulating means, and the laser light generated from each light emitting point of the laser light generating means is transmitted to the second laser light generating means. A cylindrical lens that is substantially parallel to the direction of the laser light; and a laser beam that is disposed between the cylindrical lens and the spatial light modulator and emits each laser beam from each light emitting point of the laser beam generator in the first direction. About An axially symmetric lens that converges each laser beam that has been made substantially parallel by the cylindrical lens in the second direction. By disposing the laser light substantially at the focal distance of the axially symmetric lens from the laser beam, any of the laser lights substantially parallel by the axially symmetric lens in the first direction is transmitted by the spatial light modulating means. An image recording apparatus characterized in that the light is superimposed on the light receiving section of the light emitting section.
【請求項2】 請求項1に記載の画像記録装置におい
て、 前記軸対称レンズの焦点距離をfC、前記空間光変調手
段の前記第1の方向に配列された受光部全部の端から端
までの長さをL、前記レーザ光発生手段の発光点から発
生されたレーザ光の前記第1の方向の拡がり角をθとし
たとき、 前記軸対称レンズの焦点距離fCは、 fC=L/(2tanθ) なる式を満足することを特徴とする画像記録装置。
2. The image recording apparatus according to claim 1, wherein a focal length of the axisymmetric lens is f C , and the spatial light modulating means is arranged from end to end of all light receiving portions arranged in the first direction. Where L is the length and θ is the divergence angle of the laser light generated from the light emitting point of the laser light generating means in the first direction, the focal length f C of the axisymmetric lens is f C = L An image recording apparatus satisfying the following expression: / (2tan θ).
【請求項3】 請求項1または2に記載の画像記録装置
において、 前記シリンドリカルレンズの焦点距離をfS、前記軸対
称レンズの焦点距離をfC、前記レーザ光発生手段の発
光点の前記第2の方向の長さをt、前記空間光変調手段
の受光部の前記第2の方向の長さをWとしたとき、 前記シリンドリカルレンズの焦点距離fSは、 fS=fC・t/W なる式を満足することを特徴とする画像記録装置。
3. The image recording apparatus according to claim 1, wherein the focal length of the cylindrical lens is f S , the focal length of the axisymmetric lens is f C , and the light emitting point of the laser light generating unit is a light emitting point. Assuming that the length in the direction 2 is t and the length of the light receiving portion of the spatial light modulator in the second direction is W, the focal length f S of the cylindrical lens is f S = f C · t / An image recording apparatus satisfying the following expression:
JP11019497A 1997-04-10 1997-04-10 Image recorder Abandoned JPH10278345A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11019497A JPH10278345A (en) 1997-04-10 1997-04-10 Image recorder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11019497A JPH10278345A (en) 1997-04-10 1997-04-10 Image recorder

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10278345A true JPH10278345A (en) 1998-10-20

Family

ID=14529442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11019497A Abandoned JPH10278345A (en) 1997-04-10 1997-04-10 Image recorder

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10278345A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0878773A2 (en) * 1997-05-16 1998-11-18 Scitex Corporation Ltd. Plotting head with individually addressable laser diode array
US6611382B2 (en) 2000-08-30 2003-08-26 Dainippon Screen Mfg., Co., Ltd. Illuminating apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0878773A2 (en) * 1997-05-16 1998-11-18 Scitex Corporation Ltd. Plotting head with individually addressable laser diode array
EP0878773A3 (en) * 1997-05-16 1999-09-08 Scitex Corporation Ltd. Plotting head with individually addressable laser diode array
US6611382B2 (en) 2000-08-30 2003-08-26 Dainippon Screen Mfg., Co., Ltd. Illuminating apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4376974B2 (en) Illumination unit and method for local illumination of a medium
JP4244156B2 (en) Projection exposure equipment
US7154584B2 (en) Exposure device
KR101140621B1 (en) Image exposing method and apparatus
US20090021656A1 (en) Exposure method and apparatus
KR20160016571A (en) Light source device and exposure device
JP2019023748A (en) Illuminance ratio changing method and light exposure method
WO2006137486A1 (en) Image exposure device
JP2004335640A (en) Projection aligner
JP3869362B2 (en) Exposure system for recording medium
WO2006129653A1 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP2004191735A (en) Illumination optical system and exposure device
JP2546366Y2 (en) Exposure device
JPH10278345A (en) Image recorder
JP4314836B2 (en) Illumination system for pattern drawing apparatus and pattern drawing apparatus
JP2007080953A (en) Lighting system and exposure apparatus
JP4327991B2 (en) Optical device using optical waveguide array
EP1184707A2 (en) Image recorder
JP4208141B2 (en) Image exposure method and apparatus
JP2006171426A (en) Illumination optical system and exposure apparatus using the same
JP3339631B2 (en) Scanning exposure apparatus and element manufacturing method using the apparatus
JPH11138905A (en) Optical recorder
JP2003149571A (en) Optical recorder
JP3641542B2 (en) Image recording device
JPS5868060A (en) Image recording apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040323

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040323

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070227

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20070416