JPH10276065A - Digital filter - Google Patents

Digital filter

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Publication number
JPH10276065A
JPH10276065A JP8024597A JP8024597A JPH10276065A JP H10276065 A JPH10276065 A JP H10276065A JP 8024597 A JP8024597 A JP 8024597A JP 8024597 A JP8024597 A JP 8024597A JP H10276065 A JPH10276065 A JP H10276065A
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JP
Japan
Prior art keywords
curve
roughness
digital filter
accuracy
signals
Prior art date
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Pending
Application number
JP8024597A
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Japanese (ja)
Inventor
Toru Takehara
徹 竹原
Shinichi Natsumeda
伸一 棗田
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NSK Ltd
Original Assignee
NSK Ltd
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Publication date
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Publication of JPH10276065A publication Critical patent/JPH10276065A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To calculate low frequency component signals for input signals in a short time without lowering accuracy by detecting a weighted average by using a multi-level multi-integration(MLMI) method. SOLUTION: In the digital filter processing of a processor 3, to the discretization detection signals (discretization signals) of an inputted cross section curve, the MLMI method is applied, weighting is performed by using a Gaussian function and a waviness curve is obtained. The obtained waviness curve is turned to an average line, a roughness curve is detected from the difference of the discretization detection signals of the cross section curve of a roughness meter 1 inputted through an A/D converter 2 and the average line and the parameter of desired surface roughness is calculated from the roughness curve. Thus, since processing time required for waviness curve calculation is greatly reduced while maintaining the accuracy of the filter waviness curve as the low frequency component signals, the processing time is greatly shortened without lowering the accuracy of this digital filter.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、表面粗さ
測定時に、あらさ計の検出信号に基づいてろ波うねり曲
線を検出する位相補償形デジタルフィルタ等のデジタル
フィルタの改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement of a digital filter such as a phase compensation type digital filter for detecting a undulation curve based on a detection signal of an roughness meter when measuring surface roughness.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、工業製品の表面粗さの測定を行う
場合には、「JIS B0601 表面粗さ−定義及び
表示(1994改正)」で規格化されているように、例
えばあらさ計等により測定した測定対象物の断面曲線か
ら、所定の波長よりも短い表面粗さの成分を位相補償形
低域フィルタで除去してろ波うねり曲線を求め、このろ
波うねり曲線と断面曲線との偏差から粗さ曲線を求める
ようになっている(図3(a),(b))。
2. Description of the Related Art Conventionally, when measuring the surface roughness of an industrial product, as is standardized in "JIS B0601 Surface Roughness-Definition and Indication (Revised 1994)", for example, by using a roughness meter or the like. From the cross-sectional curve of the measured object, a component of surface roughness shorter than a predetermined wavelength is removed by a phase-compensated low-pass filter to obtain a filtered undulation curve, and a deviation between the filtered undulation curve and the cross-sectional curve is calculated. A roughness curve is obtained (FIGS. 3A and 3B).

【0003】そして、この処理をデジタル信号処理によ
って行う場合には、測定対象物の断面曲線の検出信号を
デジタル値に変換し、基準長さLの測定範囲内の各サン
プリング点における断面曲線の離散化検出信号に対し、
例えば図4に示すようなガウス関数で各サンプリング点
を中心としてガウス半幅λC の範囲内で重みつけを行
い、その重みつき平均を計算することによって各サンプ
リング点におけるうねり値を求め、この操作を各サンプ
リング点毎にそれぞれについて行うことによって、ろ波
うねり曲線を求めている。
When this processing is performed by digital signal processing, the detection signal of the cross-sectional curve of the object to be measured is converted into a digital value, and the discrete value of the cross-sectional curve at each sampling point within the measurement range of the reference length L is obtained. For the detection signal
For example, weighting is performed using a Gaussian function as shown in FIG. 4 within the range of Gaussian half width λ C around each sampling point, and a weighted average is calculated to obtain a swell value at each sampling point. The filtering undulation curve is obtained by performing the processing for each sampling point.

【0004】この操作は、図5に示すように振幅伝達率
の利得が50%になる波長で示すカットオフ値λC の低
域フィルタによって、波形変形のないろ波うねり曲線を
求めることに相当している。
This operation is equivalent to obtaining a filtered undulation curve without waveform deformation by a low-pass filter having a cutoff value λ C indicated by a wavelength at which the gain of the amplitude transmission ratio becomes 50% as shown in FIG. doing.

【0005】そして、このようにして求めたろ波うねり
曲線を、図3(b)に示すように粗さ曲線の平均線と
し、各サンプリング点における平均線から断面曲線まで
の偏差を次々に求めることによって、波形変形のない粗
さ曲線を得ている。そして、この粗さ曲線をもとに、平
均粗さRa,或いは、平均粗さの最大値RMAX 等の表面
粗さを表す各パラメータを算出するようになっている。
[0005] The filtered undulation curve thus obtained is used as an average line of the roughness curve as shown in FIG. 3 (b), and deviations from the average line at each sampling point to the cross-sectional curve are successively obtained. As a result, a roughness curve without waveform deformation is obtained. Then, based on the roughness curve, the average roughness Ra, or, and calculates each parameter representing the surface roughness of such a maximum value R MAX of average roughness.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の粗さ測定用のデジタルフィルタにおいては、あるサ
ンプリング点、例えば、図2において、点Aで示すサン
プリング点n0 =nにおけるうねり値を求めるために
は、対象となるサンプリング点n0 =nの点からその両
側のガウス半幅λC の範囲内にある全てのサンプリング
点n0 =0〜Nにおける離散化検出信号のデータを用い
て重みつき平均を求めている。この重みつき平均に使用
するデータ数は、カットオフ値λC ,サンプリング間隔
等によって異なるが、一般に数100〜数1000点と
なる。よって、測定域全域、すなわち、基準長さLの範
囲内の各サンプリング点におけるうねり値を求め、これ
らうねり値からうねり曲線を形成するためには、極めて
大量の計算を必要としている。
However, in the conventional digital filter for measuring roughness, the swell value at a certain sampling point, for example, a sampling point n 0 = n shown by a point A in FIG. The weighted average is obtained by using the data of the discretized detection signals at all sampling points n 0 = 0 to N within the range of the Gaussian half width λ C on both sides from the target sampling point n 0 = n. Seeking. The number of data used for the weighted averaging varies depending on the cutoff value λ C , sampling interval, and the like, but generally ranges from several hundreds to several thousand points. Therefore, an extremely large amount of calculation is required to determine the swell value at the entire measurement area, that is, at each sampling point within the range of the reference length L, and to form a swell curve from these swell values.

【0007】このうねり曲線を求めるための計算を行う
フィルタリングプログラムを作成し、これを、例えば、
通常の市販されている32bit,クロック16MHz
程度のパーソナルコンピュータとプログラム言語として
MS−DOS(登録商標)版N88日本語BASIC
(登録商標)を用いて実行した場合には、30分〜2時
間以上の計算時間を必要とすることになり、表面粗さ測
定の完了までにはさらに時間がかかることになって実用
的ではないという問題がある。
[0007] A filtering program for performing a calculation for obtaining the undulation curve is created, and for example,
Normal commercial 32 bit, clock 16 MHz
Personal computer and MS-DOS (registered trademark) version N88 Japanese BASIC as a programming language
(Registered trademark), the calculation time of 30 minutes to 2 hours or more is required, and it takes more time to complete the surface roughness measurement. There is no problem.

【0008】この問題を回避するために、断面曲線の離
散化検出信号のサンプリング数を間引いたり、或いは、
ガウス半幅λC を小さくする等の方法が考えられるが、
この方法を適用した場合、計算時間の短縮を図ることは
できるがこれと共に精度が低くなるという問題が生じる
ことになり、効果的に時間短縮を図ることができなかっ
た。
In order to avoid this problem, the sampling number of the discretized detection signal of the sectional curve is thinned out, or
Although a method such as reducing the Gaussian half width λ C is considered,
When this method is applied, it is possible to shorten the calculation time, but at the same time, there is a problem that accuracy is lowered, and it is not possible to effectively reduce the time.

【0009】また、特に、平面の粗さ、すなわち二次元
的な粗さ測定を行う場合にはさらに、計算数が増加する
ことになって計算時間が激増し、表面粗さを判断するた
めの所望とする各パラメータを得るためには膨大な時間
を要するという未解決の問題もある。
In particular, when measuring the roughness of a plane, that is, two-dimensional roughness, the number of calculations further increases, the calculation time increases drastically, and the surface roughness is determined. There is an unsolved problem that it takes an enormous amount of time to obtain each desired parameter.

【0010】そこで、この発明は上記従来の未解決の課
題に着目してなされたものであり、精度を低下させるこ
となく、入力信号に対する低周波成分信号を短時間で算
出することのできるデジタルフィルタを提供することを
目的としている。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional unsolved problem, and is a digital filter capable of calculating a low-frequency component signal with respect to an input signal in a short time without reducing accuracy. It is intended to provide.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るデジタルフィルタは、入力される複数
の離散化信号に対し、各離散化信号の前後所定範囲にわ
たる重みつき平均を検出してろ波離散化信号を検出する
ようにしたデジタルフィルタにおいて、前記重みつき平
均を、マルチ・レベル・マルチ・インテグレーション法
を用いて検出するようにしたことを特徴としている。
In order to achieve the above object, a digital filter according to the present invention detects a weighted average of a plurality of input discrete signals over a predetermined range before and after each discrete signal. In a digital filter adapted to detect a filtered discrete signal, the weighted average is detected using a multi-level multi-integration method.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を説
明する。図1は、本発明におけるデジタルフィルタを適
用した粗さ測定装置の実施の形態の一例を示す概略構成
図である。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an example of an embodiment of a roughness measuring device to which a digital filter according to the present invention is applied.

【0013】図1において、1は、測定対象Xの表面の
凹凸を測定する反射型,接触型等のあらさ計である。こ
のあらさ計1の測定値、すなわち、測定対象の表面の形
状に応じた断面曲線検出信号がA/D変換器2でデジタ
ル信号に変換されて、処理装置3に入力される。この処
理装置3では、入力した断面曲線の離散化検出信号をも
とに、デジタルフィルタ処理を行う。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a reflection type, contact type, etc. roughness meter for measuring the unevenness of the surface of an object X to be measured. A measurement value of the roughness meter 1, that is, a cross-section curve detection signal corresponding to the shape of the surface of the measurement target is converted into a digital signal by the A / D converter 2 and input to the processing device 3. The processing device 3 performs digital filter processing based on the input discretized detection signal of the cross-sectional curve.

【0014】処理装置3のデジタルフィルタ処理では、
まず、入力した断面曲線の離散化検出信号(離散化信
号)に対し、MLMI法(Multi−Level M
ulti−Integration法)を適用して、図
2に示すようなガウス関数を用いて重みつけを行い、う
ねり曲線を求める。このうねり曲線が低周波成分信号と
してのデジタルフィルタの出力信号に対応している。
In the digital filter processing of the processing device 3,
First, an MLMI method (Multi-Level M) is applied to the input discretized detection signal (discrete signal) of the cross-sectional curve.
By applying a multi-integration method, weighting is performed using a Gaussian function as shown in FIG. This undulation curve corresponds to the output signal of the digital filter as a low frequency component signal.

【0015】そして、求めたうねり曲線を平均線とし、
A/D変換器2を介して入力したあらさ計1の断面曲線
の離散化検出信号と、この平均線との差から粗さ曲線を
検出し、この粗さ曲線から所望の表面粗さのパラメータ
を算出する。
The obtained undulation curve is defined as an average line,
A roughness curve is detected from a difference between the discretized detection signal of the cross-section curve of the roughness meter 1 input via the A / D converter 2 and the average line, and a desired surface roughness parameter is determined from the roughness curve. Is calculated.

【0016】ここで、前記MLMI法は、精度を落とさ
ずに計算時間を短縮させるためのアルゴリズムであり、
弾性変形量計算を高速化するためのアルゴリズムとし
て、「Ph.D.Thesis,Univ.Twent
e(1991);Venner,C.H.」に記載され
ている。
Here, the MLMI method is an algorithm for shortening a calculation time without reducing accuracy.
As an algorithm for speeding up the calculation of the amount of elastic deformation, “Ph.D. Thesis, Univ.
e (1991); Venner, C.E. H. "It is described in.

【0017】したがって、上記実施の形態によれば、低
周波成分信号としてのろ波うねり曲線の精度を維持した
ままで、うねり曲線算出に要する処理時間を大幅に削減
することができるから、デジタルフィルタの精度を低下
させることなく、処理時間を大幅に短縮することができ
る。
Therefore, according to the above embodiment, the processing time required for calculating the undulation curve can be greatly reduced while maintaining the accuracy of the undulation curve as a low-frequency component signal. The processing time can be significantly reduced without lowering the accuracy of the processing.

【0018】また、本発明に係るデジタルフィルタを用
いた場合、断面曲線のろ波うねり曲線の算出時間が大幅
に削減されるから、二次元の粗さの解析を行う場合等に
は極めて有効である。
Further, when the digital filter according to the present invention is used, the time required to calculate the filtered waviness curve of the cross-sectional curve is greatly reduced, so that it is extremely effective when analyzing two-dimensional roughness. is there.

【0019】なお、上記実施の形態においては、本発明
におけるデジタルフィルタを表面粗さ測定用位相補償型
デジタルフィルタに適用した場合について説明したが、
これに限らず、例えば、図3(a)に示すような振動波
形に対し、低域通過フィルタ処理を行うものであれば、
任意に適用することができる。
In the above embodiment, a case has been described in which the digital filter of the present invention is applied to a phase compensation digital filter for measuring surface roughness.
The present invention is not limited to this. For example, if a low-pass filter process is performed on a vibration waveform as shown in FIG.
It can be applied arbitrarily.

【0020】また、上記実施の形態においては、低周波
成分信号を取り出すようにしたデジタルフィルタに適用
した場合について説明したが、これに限らず、入力信号
とその低周波成分信号との偏差から高周波成分信号を取
り出すようにした高域デジタルフィルタに適用すること
も可能である。
Further, in the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to a digital filter for extracting a low-frequency component signal has been described. However, the present invention is not limited to this. The present invention can also be applied to a high-pass digital filter that extracts a component signal.

【0021】[0021]

【実施例】以下に、上記発明の実施例を説明する。表1
は、カットオフ値λC =0.08,0.25,0.8
〔mm〕の3種類について、位相補償形低域デジタルフ
ィルタによる従来のうねり曲線算出方法と、本発明によ
るMLMI法を適用したデジタルフィルタによるうねり
曲線算出方法とによってフィルタリングを行ったとき
の、計算時間と、計算精度とを比較したものである。
Embodiments of the present invention will be described below. Table 1
Is the cut-off value λ C = 0.08, 0.25, 0.8
Calculation time when filtering is performed for the three types of [mm] using the conventional undulation curve calculation method using the phase-compensated low-pass digital filter and the undulation curve calculation method using the digital filter to which the MLMI method according to the present invention is applied. And the calculation accuracy.

【0022】このときのガウス半幅は1.0×λC ,サ
ンプリング間隔は0.5〔μm〕,断面形状測定長は4
〔mm〕であり、通常の市販されている32bit,ク
ロック16MHz程度のパーソナルコンピュータ,言語
はコンパイル形BASICにより処理を行ったものであ
る。
At this time, the Gaussian half width is 1.0 × λ C , the sampling interval is 0.5 μm, and the cross-sectional shape measurement length is 4
[Mm], which is a commercially available personal computer of about 32 bits and a clock of about 16 MHz, which is processed by a compiled BASIC.

【0023】なお、計算精度は、従来のうねり曲線算出
方法により求めたうねり曲線を基準にした、本発明のM
LMI法適用方法によるうねり曲線の偏差、すなわち、
誤差の範囲と、自乗平均値の平方根RMSである。
The calculation accuracy is based on the undulation curve obtained by the conventional undulation curve calculation method.
Deviation of the undulation curve by the LMI method application method, that is,
And the range of error is the square root R MS mean square value.

【0024】[0024]

【表1】 [Table 1]

【0025】表1に示すように、うねり曲線算出時の計
算時間は、1/40〜1/160に短縮され、実用可能
な所要時間範囲内である。このときの計算精度は、カッ
トオフ値λC =0.8及び0.25の場合には、分解能
が0.01〔μm〕のあらさ計(ランク・テーラー・ホ
ブソン Surtronic 3+等)を用いる場合に
は十分であり、また、カットオフ値λC =0.08の場
合でも、誤差は分解能の1/10程度であるため十分実
用することができる。カットオフ値λC =0.08の場
合、その計算速度は短縮率が1/40であるが、このと
き、従来のうねり値算出方法においてもその計算時間は
他のカットオフ値に比較してもともと短いので、この程
度の短縮率でも十分効果を得ることができる。
As shown in Table 1, the calculation time for calculating the undulation curve is reduced to 1/40 to 1/160, which is within a practically required time range. The calculation accuracy at this time is as follows: when the cutoff values λ C = 0.8 and 0.25, a roughness meter having a resolution of 0.01 [μm] (such as Rank Taylor Hobson Surtronic 3+) is used. Is sufficient, and even when the cutoff value is λ C = 0.08, the error is about 1/10 of the resolution, so that it can be used sufficiently. When the cut-off value λ C is 0.08, the calculation speed is reduced by 1/40. At this time, even in the conventional swell value calculation method, the calculation time is shorter than other cut-off values. Since it is originally short, a sufficient effect can be obtained even with such a shortening rate.

【0026】したがって、表1に示すように、計算精
度,計算時間を共に満足させることができる。よって、
計算精度を低下させることなく、うねり曲線算出時間を
短縮することができるから、粗さ曲線の算出、表面粗さ
の解析に要する時間を大幅に削減することができる。ま
た、二次元粗さの解析、すなわち、平面的な粗さを求め
る場合でも、従来と比較して大幅に処理時間を短縮する
ことができる。
Therefore, as shown in Table 1, both the calculation accuracy and the calculation time can be satisfied. Therefore,
The time required to calculate the waviness curve can be reduced without lowering the calculation accuracy, so that the time required to calculate the roughness curve and analyze the surface roughness can be significantly reduced. In addition, even when analyzing two-dimensional roughness, that is, when obtaining planar roughness, the processing time can be significantly reduced as compared with the related art.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るデジ
タルフィルタによれば、重みつき平均を求める際に、M
LMI法を適用することによって、デジタルフィルタの
精度を低下させることなく、処理時間を大幅に短縮させ
ることができる。
As described above, according to the digital filter of the present invention, when obtaining the weighted average, M
By applying the LMI method, the processing time can be significantly reduced without lowering the accuracy of the digital filter.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるデジタルフィルタを適用した粗さ
測定装置の実施の形態の一例を示す概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an example of an embodiment of a roughness measuring device to which a digital filter according to the present invention is applied.

【図2】うねり値の検出方法を説明する説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a method of detecting a swell value.

【図3】粗さ曲線の検出方法を説明する説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating a method for detecting a roughness curve.

【図4】フィルタ処理に適用する重み関数である。FIG. 4 shows a weight function applied to the filter processing.

【図5】デジタル低域フィルタの伝達特性の一例であ
る。
FIG. 5 is an example of a transfer characteristic of a digital low-pass filter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 あらさ計 2 A/D変換器 3 処理装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Roughness meter 2 A / D converter 3 Processing device

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力される複数の離散化信号に対し、各
離散化信号の前後所定範囲にわたる重みつき平均を検出
してろ波離散化信号を検出するようにしたデジタルフィ
ルタにおいて、前記重みつき平均を、マルチ・レベル・
マルチ・インテグレーション法を用いて検出するように
したことを特徴とするデジタルフィルタ。
1. A digital filter for detecting a filtered discrete signal by detecting a weighted average of a plurality of input discrete signals over a predetermined range before and after each discrete signal, wherein the weighted average is To multi-level
A digital filter characterized in that detection is performed using a multi-integration method.
JP8024597A 1997-03-31 1997-03-31 Digital filter Pending JPH10276065A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017146296A (en) * 2016-02-16 2017-08-24 Jfeスチール株式会社 Method and apparatus for evaluating surface property of hot-dip galvanized steel sheet, and method for manufacturing hot-dip galvanized steel sheet

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