JPH10270140A - Contact pin and its manufacture and contact method using the same - Google Patents

Contact pin and its manufacture and contact method using the same

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JPH10270140A
JPH10270140A JP9528597A JP9528597A JPH10270140A JP H10270140 A JPH10270140 A JP H10270140A JP 9528597 A JP9528597 A JP 9528597A JP 9528597 A JP9528597 A JP 9528597A JP H10270140 A JPH10270140 A JP H10270140A
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pin
contact pin
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富士雄 槇
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賢一 宮越
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末雄 朝比奈
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact pin, its manufacturing method, and a contact method using the pin capable of suppressing abrasion on a contact surface for obtaining an electrical connection through contact with a lead of a package for sealing an integrated circuit. SOLUTION: A contact surface 2 formed by a surface joining outer edge parts 34 and 36 whose surfaces are in parallel with each other is shaped as a surface recessed into the inside of a pin 38. Therefore, the outer edge parts 34 and 36 are deeply cut into the surface of a lead at the time of contact to obtain a strong contact force, and to restrain abrasion of the contact surface 2. In order to obtain such shape, a through hole having a predetermined width is formed around the periphery of the shape of the pin 38 made by etching a metal plate 31 to undergo plating treatment.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は接触用ピンおよびそ
の製造方法ならびに同ピンを用いた接触方法に関し、特
に、集積回路の測定のためにこの集積回路を外部回路に
接続するためのソケットにおいて、この集積回路を封止
したパッケージのリードと接触して電気的接続を得るた
めの、接触用ピンおよびその製造方法ならびに同ピンを
用いた接触方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contact pin, a method of manufacturing the same, and a contact method using the same. More particularly, the present invention relates to a socket for connecting an integrated circuit to an external circuit for measuring the integrated circuit. The present invention relates to a contact pin, a method of manufacturing the contact pin, and a contact method using the pin, for obtaining electrical connection by contacting a lead of a package in which the integrated circuit is sealed.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路の検査のための測定を行
う目的でこの集積回路を封止したパッケージのリードと
個々に接触し電気的接続を得るための接触用ピンについ
ては、多数の形状が提案されている。
2. Description of the Related Art For the purpose of making measurements for inspection of a semiconductor integrated circuit, a large number of contact pins for individually contacting the leads of a package encapsulating the integrated circuit and obtaining electrical connection are available. Proposed.

【0003】図8は、複数のリードを有したパッケージ
と、それぞれのリードに対応して複数設けられた接触用
ピンとの配置をを示した図である。ここで1は接触用ピ
ンであり、これら複数の接触用ピン1は図のX軸方向に
沿って並んでいる。各接触用ピン1は、X、Y、Z軸に
各々平行な面を有した構成とされている。2は、各接触
用ピン1のZ軸方向の端部に形成された接触面であり、
X軸に平行であるとともに、パッケージ4のリード3か
らの機械的圧力を受けてこのリード3と直接に接触す
る。リード3の材料には、通常、鉄ニッケル合金もしく
は銅合金が用いられる。また、リード3の表面には、プ
リント基板へのハンダ付けが容易となるように錫メッキ
もしくはハンダメッキが施される。パッケージ4は、リ
ード3の一端と集積回路とを封止している。5はソケッ
ト本体で、複数の接触用ピン1におけるZ軸方向の基端
部をそれぞれ固底している。接触用ピン1は、湾曲部6
を有する。その接触面2には、端部9が存在する。
FIG. 8 is a diagram showing an arrangement of a package having a plurality of leads and a plurality of contact pins provided corresponding to each of the leads. Here, 1 is a contact pin, and the plurality of contact pins 1 are arranged along the X-axis direction in the figure. Each contact pin 1 is configured to have a plane parallel to the X, Y, and Z axes. 2 is a contact surface formed on the end of each contact pin 1 in the Z-axis direction,
While being parallel to the X axis, it is in direct contact with the lead 3 under the mechanical pressure from the lead 3 of the package 4. The lead 3 is usually made of an iron-nickel alloy or a copper alloy. The surface of the lead 3 is plated with tin or solder to facilitate soldering to the printed circuit board. The package 4 seals one end of the lead 3 and the integrated circuit. Reference numeral 5 denotes a socket body, and the bottoms of the plurality of contact pins 1 in the Z-axis direction are fixed. The contact pin 1 has a curved portion 6
Having. On the contact surface 2 there is an end 9.

【0004】ここで、リード3とピン1との電気的接続
が良好となるように、比較的強い機械的な圧力がリード
3から接触面2に加えられる。多数の集積回路を検査の
ために測定する際には、比較的強い圧力により新しいリ
ード3との接触が繰り返されることによって接触面2に
磨耗が生じてくる。磨耗が生じると、電気抵抗の低い良
好な接触面積を減少させて、接触抵抗値の増加を招く。
特にアナログ回路の測定系においては、接触抵抗値が測
定系の直列抵抗値の一部として組み込まれ調整されてい
る。このような測定系において接触抵抗値が変化する
と、本来の測定値と異なった値が認識されるという問題
が生じる。このような状態を避けるために、接触用ピン
1の交換が定期的に行われており、通常約10万回の測
定を行った時点で接触用ピン1を含むソケット全体が交
換される。
Here, a relatively strong mechanical pressure is applied from the lead 3 to the contact surface 2 so that the electrical connection between the lead 3 and the pin 1 is good. When measuring a large number of integrated circuits for inspection, the contact surface 2 is worn due to repeated contact with a new lead 3 due to relatively strong pressure. When abrasion occurs, a good contact area having a low electric resistance is reduced, thereby causing an increase in the contact resistance value.
In particular, in a measurement system of an analog circuit, the contact resistance value is incorporated and adjusted as a part of the series resistance value of the measurement system. When the contact resistance value changes in such a measurement system, a problem occurs that a value different from the original measurement value is recognized. In order to avoid such a state, the contact pins 1 are exchanged regularly, and the entire socket including the contact pins 1 is usually exchanged when about 100,000 measurements are performed.

【0005】図9は、接触用ピン1の形状を例示する図
である。一般に、接触用ピン1は金属板から製造されて
おり、金属板の主面は接触用ピン1の主面1aとなる。
この主面1aは、この図の正面図に相当する。この正面
図に対する背面が対面1bとなる。接触用ピン1の端部
における線A−A′に沿った断面図が、図8の端部にお
けるXZ面を成す。
FIG. 9 is a diagram illustrating the shape of the contact pin 1. Generally, the contact pin 1 is manufactured from a metal plate, and the main surface of the metal plate is the main surface 1a of the contact pin 1.
This main surface 1a corresponds to the front view of this figure. The back face with respect to this front view is the facing face 1b. A sectional view along the line AA 'at the end of the contact pin 1 forms the XZ plane at the end in FIG.

【0006】図10は、リード3が接触用ピン1に接触
した状態を図8におけるX軸方向から示したものであ
る。ここでは、接触前においてソケット5から接触用ピ
ン1の先端までの距離がhであるものが、接触後におい
てΔhだけ圧縮された状態を示す。この圧縮により、湾
曲部6を支点として、接触用ピン1からリード3に向か
う応力が働く。この応力によって、接触用ピン1の接触
面2とリード3とが強く接触する。ここで、接触面2が
接触時においてリード3と最大面積で接触するように、
この接触面2がリード3の傾斜角度に対して所定の角度
を有するように設定されることがある。すなわちこの場
合は、接触用ピン1がΔhだけ沈み込んだ状態でリード
3と最大面積で接触するように、前述の角度および機械
的圧力が設定される。この沈み込む過程において、リー
ド3と接触面2の端部9との間で強い摩擦力が発生す
る。
FIG. 10 shows a state in which the lead 3 has come into contact with the contact pin 1 from the X-axis direction in FIG. Here, a state in which the distance from the socket 5 to the tip of the contact pin 1 before contact is h is a state where the distance is compressed by Δh after contact. Due to this compression, a stress acts from the contact pin 1 toward the lead 3 with the curved portion 6 as a fulcrum. Due to this stress, the contact surface 2 of the contact pin 1 and the lead 3 make strong contact. Here, the contact surface 2 contacts the lead 3 with the maximum area at the time of contact,
The contact surface 2 may be set so as to have a predetermined angle with respect to the inclination angle of the lead 3. That is, in this case, the above-described angle and mechanical pressure are set so that the contact pin 1 comes into contact with the lead 3 with the maximum area in a state where the contact pin 1 is sunk by Δh. During this sinking process, a strong frictional force is generated between the lead 3 and the end 9 of the contact surface 2.

【0007】図11は、従来の接触用ピン1の接触面2
を120倍に拡大して示した顕微鏡写真である。この従
来の接触用ピン1は、金属板を切断して形成された金属
片にメッキ処理を施したもので、切断面の一部が接触面
2として用いられている。この切断面では、接触用ピン
1を形成する金属板の一方の面である主面から切断が開
始され、他方の面である対面で切断が終了している。こ
の主面に始まって対面に至る中央部までは切断による歯
形が残っており、この中央部から対面にかけては裂けた
面が出現している。
FIG. 11 shows a contact surface 2 of a conventional contact pin 1.
Is a micrograph showing the image magnified 120 times. This conventional contact pin 1 is obtained by plating a metal piece formed by cutting a metal plate, and a part of the cut surface is used as a contact surface 2. In this cut surface, the cutting is started from the main surface, which is one surface of the metal plate forming the contact pin 1, and is ended at the opposite surface, which is the other surface. A tooth profile formed by cutting remains from the main surface to a central portion that reaches the facing surface, and a torn surface appears from the central portion to the facing surface.

【0008】金属板の材料には前述のごとく鉄合金もし
くは銅合金が用いられ、これら金属の表面を安定化させ
るために、切断によるピン形状の形成の後にメッキ処理
を施す。詳細には、硬い皮膜を形成させるためのニッケ
ルメッキと、その周りを覆って酸化を防止するための金
メッキとを施す。このメッキの厚さは、全体として通常
0.3ミクロン程度が採用されており、このうち、金メ
ッキの部分の厚さは金格子の数にして7〜8個の厚さに
相当する。
As described above, an iron alloy or a copper alloy is used as a material of the metal plate. In order to stabilize the surface of the metal, a plating process is performed after forming a pin shape by cutting. Specifically, nickel plating for forming a hard film and gold plating for covering the periphery and preventing oxidation are applied. The thickness of this plating is usually about 0.3 μm as a whole, and the thickness of the gold plating portion is equivalent to 7 to 8 in terms of the number of gold lattices.

【0009】図12は、ピン1の形状を従来の手法であ
る切断によって形成する工程を示したものである。ここ
で、7は金属板であり、8は切断工具である。図12
(a)〜(c)にかけて金属板7に対してほぼ垂直に切
断工具8の歯先が当てられ、切断が進行する様子を示
す。図12(d)は、切断が完了した状態を示す。
FIG. 12 shows a step of forming the shape of the pin 1 by cutting, which is a conventional method. Here, 7 is a metal plate, and 8 is a cutting tool. FIG.
(A) to (c) show a state in which the tip of the cutting tool 8 is applied substantially perpendicular to the metal plate 7 and the cutting proceeds. FIG. 12D shows a state where the cutting is completed.

【0010】切断を開始する部分すなわち金属板7の表
面から、厚み方向の中央部にかけては、工具8の歯が押
しつけられるためにできた歯形が残り、中央部から終了
部にかけては金属板の引き裂かれた形状が残り、切断終
了部には金属板7から外に向かう突起状部7aが生じ
る。
From the surface where the cutting is started, that is, from the surface of the metal plate 7 to the central portion in the thickness direction, a tooth profile formed by pressing the teeth of the tool 8 remains, and from the central portion to the end portion, the metal plate is torn. The cut shape remains, and a protruding portion 7a extending outward from the metal plate 7 is formed at the cut end portion.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】このような従来の技術
において、接触用ピン1は上述のように切断加工された
面を接触面2として使用しており、その面が荒い面とな
っている。また、この接触面2のほぼ全面でリード3と
接触するために、比較的強い摩擦力がリード3と接触面
2との間で発生する。このため、接触面2に施されたメ
ッキ面が比較的強い力で研磨される状況となる。研磨が
進むと下地の金属材が露出するようになる。
In such prior art, the contact pin 1 uses the surface cut as described above as the contact surface 2 and the surface is rough. . Further, since almost all of the contact surface 2 comes into contact with the lead 3, a relatively strong frictional force is generated between the lead 3 and the contact surface 2. Therefore, the plating surface applied to the contact surface 2 is polished with a relatively strong force. As the polishing proceeds, the underlying metal material is exposed.

【0012】また、接触面2におけるリード3と擦れる
端部9が、金属板7の突起状部7aにて構成された場合
には、この接触用ピン1の端部において発生する摩擦力
の平均を考慮してリード3を接触面2に強く押し当てる
必要があり、メッキ面の磨耗を早めてしまうこととな
る。
When the end 9 of the contact surface 2 that rubs against the lead 3 is formed by the protruding portion 7a of the metal plate 7, the average of the frictional force generated at the end of the contact pin 1 is obtained. Therefore, it is necessary to strongly press the lead 3 against the contact surface 2 in consideration of the above, and the wear of the plating surface is accelerated.

【0013】本発明は、このような状況に鑑み、(1)
比較的弱い機械的圧力でもリードに接触することができ
ると共に磨耗を抑えることのできる接触面の形状、構造
を得ること、(2)このような形状および構造を備えた
接触用ピンを製造する方法を得ること、(3)接触面の
磨耗を抑えた接触方法を得ること、を目的とするもので
ある。
The present invention has been made in view of such a situation, and (1)
Obtaining the shape and structure of the contact surface that can contact the lead even with relatively weak mechanical pressure and suppress the wear, (2) A method of manufacturing a contact pin having such a shape and structure And (3) to obtain a contact method in which abrasion of the contact surface is suppressed.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、請求項1記載の本発明の接触用ピンは、互いに平行
な主面および対面を備えるとともに、前記主面の外縁部
と前記対面の外縁部とを結ぶ面によって形成された接触
面を備え、この接触面がピン内部に向かう凹面形状であ
ることを特徴とする。
In order to achieve this object, a contact pin according to the present invention has a main surface and a facing surface which are parallel to each other, and an outer edge portion of the main surface and the facing surface. And a contact surface formed by a surface connecting to the outer edge of the pin, and the contact surface has a concave shape facing the inside of the pin.

【0015】この請求項1記載の接触用ピンによれば、
接触部において主面の外縁部と対面の外縁部とが平行で
あり、この両外縁部を結ぶ接触面が凹面形状となってい
るため、他の部材との接触に際して前記他の部材と外縁
部とが接触するときに、この外縁部が他の部材にくさび
状に食い込んで強い接触力を得ることができる。また、
両外縁部が平行であるので、両外縁部が他部材の面上を
擦れて移動する場合に、面全体で擦れる場合と比べて比
較的低い摩擦力が発生するのみであり、したがって外部
から加える圧力を弱くすることができる。このため、外
縁部に生じる磨耗を抑えることができる。
According to the contact pin of the first aspect,
In the contact portion, the outer edge of the main surface and the outer edge of the facing surface are parallel, and the contact surface connecting the two outer edges has a concave shape, so that when contacting with another member, the other member and the outer edge When they come into contact with each other, the outer edge portion wedges into other members in a wedge-like manner to obtain a strong contact force. Also,
Since both outer edges are parallel, when the outer edges move by rubbing on the surface of the other member, only a relatively low frictional force is generated as compared with the case where the outer edges rub on the entire surface, and therefore, the external force is applied. The pressure can be reduced. For this reason, it is possible to suppress wear occurring at the outer edge.

【0016】また、請求項2記載の接触用ピンは、金属
片と、この金属片の表面に形成されて前記金属片よりも
硬い金属層とを備えたことを特徴とする。この請求項2
記載の接触用ピンによれば、金属片の輪郭に沿って形成
されるその外縁部の磨耗を抑えることができる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a contact pin including a metal piece and a metal layer formed on the surface of the metal piece and harder than the metal piece. This claim 2
According to the contact pin described above, it is possible to suppress wear of the outer edge portion formed along the contour of the metal piece.

【0017】さらに、請求項3記載の接触用ピンは、金
属層が、金属片の表面に形成されてこの金属片よりも硬
い第1の金属層と、この第1の金属層の表面に形成され
てこの第1の金属層よりも電気抵抗の低い第2の金属層
とを備えたことを特徴とする。
Further, in the contact pin according to the third aspect, the metal layer is formed on the surface of the metal piece and is formed on the first metal layer which is harder than the metal piece and on the surface of the first metal layer. And a second metal layer having a lower electric resistance than the first metal layer.

【0018】この請求項3記載の接触用ピンによれば、
第1の金属層が比較的硬い金属である代わりにその電気
抵抗が高い場合であっても、その表面を覆う第2の金属
層の電気抵抗を低くしてやることで、外縁部の対磨耗性
を確保しつつ接触用ピンの電気抵抗を低く保つことがで
きる。
According to the contact pin of the third aspect,
Even when the first metal layer is a relatively hard metal and has a high electric resistance instead of a relatively hard metal, by reducing the electric resistance of the second metal layer covering the surface, the abrasion resistance of the outer edge portion is reduced. The electrical resistance of the contact pin can be kept low while securing.

【0019】また、請求項4記載の接触用ピンは、外縁
部の長さ方向の両端に円弧状の端部が形成されているこ
とを特徴とする。この請求項4記載の接触用ピンによれ
ば、外縁部が他の部材の面上を擦れて移動する場合に、
その外縁部のコーナーである端部が円弧状であるため
に、擦れた部位で生じる摩擦力を低く抑えることができ
る。
The contact pin according to a fourth aspect is characterized in that arcuate ends are formed at both ends in the length direction of the outer edge. According to the contact pin of the fourth aspect, when the outer edge portion moves by rubbing on the surface of another member,
Since the end, which is the corner of the outer edge, has an arc shape, the frictional force generated at the rubbed portion can be suppressed low.

【0020】請求項5記載の接触用ピンの製造方法は、
形成された接触用ピンをピン製造用の母材となる金属板
に支持させるための支持部の領域を除いて、この接触用
ピンの輪郭に沿って前記金属板を主面から対面に向けて
所定の幅で貫通させる貫通工程と、この貫通工程の後
に、前記ピンの形状をなす部分に、前記金属板よりも硬
い金属層をメッキするメッキ工程とを備えたことを特徴
とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a contact pin.
Except for the region of the supporting portion for supporting the formed contact pin on the metal plate serving as the base material for manufacturing the pin, the metal plate is directed from the main surface to the opposite surface along the contour of the contact pin. A penetrating step of penetrating with a predetermined width, and a plating step of plating a metal layer harder than the metal plate on a portion having the shape of the pin after the penetrating step are provided.

【0021】この請求項5記載の接触用ピンの製造方法
によれば、ピンの形状の外縁と残余の金属板との間の貫
通部による隙間を所定の幅に設定することができる。す
ると、この隙間を用いることによって、金属板全体をメ
ッキしたときにこのピン形状を覆うメッキの厚さを変え
ることができる。具体的には、電気メッキを採用するこ
とで、前記所定の幅の隙間の作用によって、金属板の両
面におけるピン形状の外縁部に生じる電界強度の強い部
分においてメッキの成長を促進させるとともに、金属板
の厚みの中央部においてはメッキ液の循環を抑えかつ電
界強度を弱くすることができるため、この中央部のメッ
キの厚みを外縁部に対して相対的に薄くすることができ
る。このようにして、ピン形状の外縁部を結ぶ接触面を
凹面形状に形成させることができる。メッキ後、支持部
を切断することによって接触用ピンを取り出すことがで
きる。
According to the method of manufacturing a contact pin according to the fifth aspect, the gap between the outer edge of the pin and the remaining metal plate can be set to a predetermined width by the penetrating portion. Then, by using this gap, it is possible to change the thickness of the plating that covers the pin shape when the entire metal plate is plated. Specifically, by adopting electroplating, the action of the gap having the predetermined width promotes the growth of plating at a portion where the electric field intensity is high at the outer edge portions of the pin shapes on both surfaces of the metal plate, In the central part of the thickness of the plate, the circulation of the plating solution can be suppressed and the electric field intensity can be reduced, so that the thickness of the plating in the central part can be made relatively thinner than the outer edge part. In this way, the contact surface connecting the outer edges of the pin shape can be formed in a concave shape. After the plating, the contact pins can be taken out by cutting the support portion.

【0022】さらに、請求項6記載の接触用ピンの製造
方法は、メッキ工程が、金属板の表面にこの金属板より
も硬い第1の金属をメッキする工程と、この第1の金属
のメッキ部の表面にこの第1の金属よりも電気抵抗の低
い第2の金属をメッキする工程とを有することを特徴と
する。
Further, in the method of manufacturing a contact pin according to claim 6, the plating step includes plating a first metal harder than the metal plate on a surface of the metal plate, and plating the first metal. Plating a second metal having a lower electric resistance than the first metal on the surface of the portion.

【0023】この請求項6記載の接触用ピンの製造方法
によれば、第1の金属が比較的硬い金属である代わりに
その電気抵抗が高い場合であっても、その表面を覆う第
2の金属の電気抵抗を低くしてやることで、外縁部の対
磨耗性を確保しつつ接触用ピンの電気抵抗を低く保つこ
とができる。
According to the contact pin manufacturing method of the sixth aspect, even if the first metal is a relatively hard metal and its electric resistance is high, the second metal covering the surface of the first metal can be used. By reducing the electrical resistance of the metal, the electrical resistance of the contact pin can be kept low while ensuring the outer edge against abrasion.

【0024】さらに、請求項7記載の接触用ピンを用い
た接触方法は、接触用ピンが、互いに平行な主面および
対面を備えるとともに、前記主面の外縁部と前記対面の
外縁部とを結ぶ面によって形成された接触面を備え、こ
の接触面がピン内部に向かう凹面形状であり、かつ前記
外縁部と他の部材とを接触させた後に前記接触面の少な
くとも一部と前記他の部材とを接触させることを特徴と
する。
Further, in the contact method using the contact pin according to claim 7, the contact pin has a main surface and a facing surface which are parallel to each other, and the outer edge of the main surface and the outer edge of the facing surface are connected to each other. A contact surface formed by a connecting surface, the contact surface having a concave shape facing the inside of the pin, and at least a part of the contact surface and the other member after contacting the outer edge with another member. Is brought into contact with.

【0025】この請求項7記載の接触方法によれば、比
較的面積の狭い外縁部が他の部材と接触するために単位
面積当たりの圧力が強い状態で接触し、しかも、そのう
えで比較的広い面積を有する接触面の少なくとも一部が
他の部材と接触するために、この接触面では単位面積当
たりの圧力が比較的弱い状態で接触して電気的接続を得
ることができる。このため、確実な接触を得ることがで
きるとともに、接触面での磨耗を抑えることができる。
According to the contact method of the present invention, since the outer edge having a relatively small area comes into contact with another member, the outer edge portion comes into contact with a strong pressure per unit area, and furthermore, the outer edge has a relatively large area. Since at least a part of the contact surface having a contact comes into contact with another member, the contact surface can be contacted with a relatively low pressure per unit area to obtain an electrical connection. For this reason, reliable contact can be obtained, and wear on the contact surface can be suppressed.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
もとにして説明する。図1は、本発明の実施の形態に係
る接触用ピンの形状を示す図であり、この接触用ピンを
図8のXZ面に対応する面から見た断面図である。この
接触用ピン38において、31は金属板であり、通常
0.3ミリメートル程の厚さを備えており、その材料と
して鉄ニッケル合金もしくはベリリウム銅合金が用いら
れる。金属板31の表面には第1の金属層32が形成さ
れており、この第1の金属層32の表面にはさらに第2
の金属層33が形成されている。第1の金属層32には
ニッケルを主とした材料が用いられ、第2の金属層33
には金を主とした材料が用いられる。金属板31の主面
とそれに対応する側面とが接する外縁部に沿って、第
1、第2の金属層32、33の外縁部34、35が形成
されている。また、金属板31の対面とそれに対応する
側面とが接する外縁部に沿った部分にも、第2、第3の
金属層32、33の外縁部36、37が形成されてい
る。金属板31は、後述するエッチング加工がされてい
るため、板の側面の中央部で盛り上がった形状を備えて
いる。jは接触面2を基準とした外縁部34、36の高
さ、Kは金属層32と金属層33との合計厚さである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a view showing a shape of a contact pin according to an embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view of the contact pin as viewed from a plane corresponding to the XZ plane in FIG. In this contact pin 38, reference numeral 31 denotes a metal plate, which is usually provided with a thickness of about 0.3 mm, and made of an iron nickel alloy or a beryllium copper alloy. A first metal layer 32 is formed on the surface of the metal plate 31, and a second metal layer 32 is further formed on the surface of the first metal layer 32.
Metal layer 33 is formed. A material mainly composed of nickel is used for the first metal layer 32, and the second metal layer 33
Is made of a material mainly composed of gold. The outer edges 34 and 35 of the first and second metal layers 32 and 33 are formed along the outer edges where the main surface of the metal plate 31 and the corresponding side surface are in contact. The outer edges 36 and 37 of the second and third metal layers 32 and 33 are also formed at portions along the outer edge where the facing surface of the metal plate 31 and the corresponding side surface are in contact. Since the metal plate 31 has been subjected to an etching process, which will be described later, the metal plate 31 has a raised shape at the center of the side surface of the plate. j is the height of the outer edges 34 and 36 with reference to the contact surface 2, and K is the total thickness of the metal layer 32 and the metal layer 33.

【0027】第1の金属層32を形成するために、接触
用ピン38の主面と対面と側面とを覆うようにニッケル
が電気メッキされ、また第2の金属層33を形成するた
めに、ニッケルの表面を覆うように金が電気メッキされ
る。このようにしてできた第1、第2の金属層32、3
3の主面側の外縁部と対面側の外縁部とを結ぶ面が、接
触用ピン38の側面上に、接触面2として曲面で形成さ
れる。
To form the first metal layer 32, nickel is electroplated so as to cover the main surface, the facing surface, and the side surface of the contact pin 38, and to form the second metal layer 33, Gold is electroplated over the nickel surface. The first and second metal layers 32, 3
A surface connecting the outer edge on the main surface side and the outer edge on the facing side of 3 is formed as a curved surface as the contact surface 2 on the side surface of the contact pin 38.

【0028】このように、金属層の外縁部34〜37
は、ニッケルの層とその周囲を覆った金の層とによる平
行な縁部を構成しており、接触面2における外縁部3
4、36がリードの表面の錫もしくはハンダの層に食い
込むように接触する。この接触に要する機械的圧力を調
整することで、接触面2とリードの面との接触面積を調
整することができる。
As described above, the outer edges 34 to 37 of the metal layer
Constitutes a parallel edge formed by a layer of nickel and a layer of gold covering the periphery thereof, and the outer edge 3 of the contact surface 2
4, 36 make contact with the tin or solder layer on the surface of the lead. By adjusting the mechanical pressure required for this contact, the contact area between the contact surface 2 and the surface of the lead can be adjusted.

【0029】また、この外縁部34、36がリードと摩
擦を起こす過程においては、比較的小さな面積で接触す
るために、そこで発生する摩擦力が小さく、接触のため
に外部から加える機械的圧力を小さくすることができ
る。圧力が小さいことで、接触面2の磨耗を抑制するこ
とができる。
In the process in which the outer edges 34 and 36 cause friction with the lead, the outer edges 34 and 36 come into contact with each other with a relatively small area, so that the frictional force generated there is small. Can be smaller. Since the pressure is small, abrasion of the contact surface 2 can be suppressed.

【0030】図2は、接触用ピン38の接触面2の近傍
の正面図、平面図、右側面図を示したものである。この
正面図を線B−B′から見た図が図1の断面図である。
この接触面2は、中央部で盛り上がった部分を有した凹
面形状を備える。
FIG. 2 is a front view, a plan view, and a right side view of the vicinity of the contact surface 2 of the contact pin 38. FIG. 1 is a sectional view of the front view taken along line BB ′.
The contact surface 2 has a concave shape having a raised portion at the center.

【0031】外縁部34の長さ方向に沿った端部91、
92は正面から見て円弧状に形成され、同様に外縁部3
6の端部93、94も円弧状に形成されている。この円
弧形状を有することによって、リード3と端部91〜9
4とが円滑に接することができる。この円弧形状の半径
は、任意の値に設定することができるが、接触面2の外
縁部34、36に所要の有効長さを確保するためには、
この外縁部34、36の全長に相当する長さtの約1/
10の長さが適切である。
An end 91 along the length of the outer edge 34,
92 is formed in an arc shape when viewed from the front, and the outer edge 3 is similarly formed.
The ends 93 and 94 of 6 are also formed in an arc shape. By having this arc shape, the lead 3 and the end portions 91 to 9
4 can smoothly come into contact with each other. The radius of this arc shape can be set to any value, but in order to secure the required effective length at the outer edges 34, 36 of the contact surface 2,
Approximately 1 / th of the length t corresponding to the entire length of the outer edge portions 34, 36
A length of 10 is appropriate.

【0032】図3〜5は、本発明にもとづく接触用ピン
の製造方法を示す図である。図3(a)は、接触用ピン
38の形状と、このピン38を金属板31に支持させる
支持部39と、貫通孔40とを示す図である。図3
(b)は、図3(a)におけるC−C′に沿った断面図
を示したものである。
3 to 5 are views showing a method for manufacturing a contact pin according to the present invention. FIG. 3A is a diagram illustrating the shape of the contact pin 38, a support portion 39 that supports the pin 38 on the metal plate 31, and a through hole 40. FIG.
FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line CC ′ in FIG.

【0033】ここで、貫通孔40は、接触用ピン38と
支持部39とを金属板31から分離させるためのもので
あり、接触用ピン38の輪郭に沿って形成される。支持
部39はその一端部において金属板31に繋がれる。貫
通孔40の幅wは、通常1〜2ミリメートルの値に設定
される。
Here, the through hole 40 is for separating the contact pin 38 and the supporting portion 39 from the metal plate 31 and is formed along the contour of the contact pin 38. The support part 39 is connected to the metal plate 31 at one end. The width w of the through hole 40 is usually set to a value of 1 to 2 mm.

【0034】図4は、金属板31に複数の接触用ピン3
8を形成した様子を示すものである。この場合において
貫通孔40は、接触用ピン38の周囲の全体に渡って均
一な幅である必要はなく、少なくとも接触面2の近傍の
必要とされる部分において、この接触面2の断面の凹面
形状を形作るための所定の幅wが確保されれば足りる。
金属板31には20センチメートル×40センチメート
ル程度の大きさのものが使用されるが、1つの接触用ピ
ン38の形成に必要な面積が約1平方センチメートルで
あるときは、この1枚の金属板31から約1000個の
接触用ピン38を取り出すことができる。
FIG. 4 shows a plurality of contact pins 3 on a metal plate 31.
8 shows a state in which No. 8 is formed. In this case, the through hole 40 does not need to have a uniform width over the entire periphery of the contact pin 38, and at least in a required portion near the contact surface 2, It is sufficient if a predetermined width w for shaping the shape is secured.
A metal plate 31 having a size of about 20 cm × 40 cm is used. When the area required for forming one contact pin 38 is about 1 square centimeter, this one sheet of metal is used. About 1000 contact pins 38 can be taken out from the plate 31.

【0035】図5(a)〜(d)は、貫通孔40すなわ
ち接触用ピン38を形成する方法を示す図である。図5
(a)において、41はレジストであり、金属板31の
主面および対面の相対する位置に精度良く塗布される。
貫通孔40を必要とする部分はレジスト41が除かれて
おり、この除かれた部分でエッチングが開始される。エ
ッチング液は、金属板31がベリリウム銅合金の場合
は、塩化第2鉄もしくは過酸化水素水が用いられる。
FIGS. 5A to 5D are views showing a method of forming the through holes 40, that is, the contact pins 38. FIG. FIG.
4A, reference numeral 41 denotes a resist, which is applied with precision to the positions of the main surface and the facing surface of the metal plate 31 facing each other.
The resist 41 is removed from the portion requiring the through hole 40, and the etching is started at the removed portion. When the metal plate 31 is a beryllium copper alloy, ferric chloride or a hydrogen peroxide solution is used as the etchant.

【0036】図5(b)は、エッチングの途中工程を示
したものである。金属板31の主面および対面とレジス
ト41の端部とから、金属板31の内部に向かってエッ
チングが進行する。
FIG. 5B shows an intermediate step of the etching. The etching proceeds from the main surface and the facing surface of the metal plate 31 and the end of the resist 41 toward the inside of the metal plate 31.

【0037】図5(c)は、エッチングが完了した状態
を示したものである。この図において、42は、金属板
31および接触用ピン38の側面の中央部に形成された
突起部である。この突起部42は、エッチング時間を調
整することによって数ミクロン程度の高さに抑えること
が可能である。このようにエッチング処理することによ
って、従来のように刃物で切断を行う際に避けられない
金属表面の歯形、裂けた形状、切り屑などの発生を防ぐ
ことができる。また、接触用ピン38の輪郭が複雑であ
っても容易に貫通させることができ、微細な部分でのピ
ン形状を容易に工夫することができる。
FIG. 5C shows a state where the etching is completed. In this figure, reference numeral 42 denotes a projection formed at the center of the side surface of the metal plate 31 and the contact pin 38. The height of the projection 42 can be suppressed to about several microns by adjusting the etching time. By performing the etching process in this manner, it is possible to prevent the occurrence of tooth shapes, split shapes, chips, and the like, which cannot be avoided when cutting with a knife as in the related art. Further, even if the outline of the contact pin 38 is complicated, the contact pin 38 can be easily penetrated, and the pin shape in a minute portion can be easily devised.

【0038】図5(d)は、レジスト層を除去した状態
を示したものである。この図5(d)において、ピン3
8と金属板31との相対位置を保つための幅wは、支持
部39によって保持される。
FIG. 5D shows a state in which the resist layer has been removed. In FIG. 5D, the pin 3
The width w for maintaining the relative position between the metal plate 8 and the metal plate 31 is held by the support 39.

【0039】次に、このレジスト層を除去した後のピン
38と金属板31とが繋がったままで、電気メッキが施
される。一般に電流効率が100パーセントである場合
において、被メッキ体である金属板31の表面に析出す
る単位時間当たりの金属原子数は、電流密度に比例す
る。この析出した原子は集合して結晶の核となり、次第
にメッキ層を形成する。ここで、電流密度が小さい場合
には結晶核の生成頻度が小さく、少数の結晶がゆっくり
成長する。逆に電流密度が大きい場合には結晶核の生成
頻度が大きく、結晶成長が早くなり、多数の微少な結晶
ができる。
Next, electroplating is performed while the pins 38 and the metal plate 31 after the removal of the resist layer remain connected. In general, when the current efficiency is 100%, the number of metal atoms deposited per unit time on the surface of the metal plate 31 which is the object to be plated is proportional to the current density. The precipitated atoms collectively become crystal nuclei, and gradually form a plating layer. Here, when the current density is low, the generation frequency of crystal nuclei is low, and a small number of crystals grow slowly. Conversely, when the current density is high, the frequency of generation of crystal nuclei is high, crystal growth is accelerated, and many fine crystals are formed.

【0040】貫通孔40の領域における金属板31およ
びピン38の外縁部43〜46には、電気メッキ処理に
おいて電界が集中するために、他の部分よりも厚いメッ
キ層が形成される。厚いメッキ層が形成され始めるとそ
の形状が突起状となり、さらに電界が集中することによ
って、メッキ層の成長が促進される。また、貫通孔40
の領域と他の領域とを比べた場合に、貫通孔40の領域
では、その形状からイオンの供給が乏しい。このため、
貫通孔40が形成された側面でのメッキ層の厚さは、他
の部分と比較してさらに薄くなる。このようなことか
ら、メッキ層の成長方向に対して特定の方位性が出現
し、貫通孔40の領域で凹面形状が形成される。
In the outer edge portions 43 to 46 of the metal plate 31 and the pins 38 in the region of the through hole 40, a plating layer thicker than other portions is formed because an electric field is concentrated in the electroplating process. When a thick plating layer starts to be formed, the shape becomes a projection, and the electric field is further concentrated, thereby promoting the growth of the plating layer. Also, the through hole 40
Compared with the other region, the supply of ions is poor in the region of the through hole 40 due to its shape. For this reason,
The thickness of the plating layer on the side surface where the through hole 40 is formed is further reduced as compared with other portions. For this reason, a specific orientation appears in the growth direction of the plating layer, and a concave shape is formed in the region of the through hole 40.

【0041】このようにして前述の金属層32、33が
形成されるが、これを所要の厚さとするために、メッキ
液の温度、濃度、pH値およびそのメッキ時間につい
て、通常の必要とされる管理がなされる必要がある。こ
こで、特に金属層33を形成するための金メッキについ
ては、純金の箔の光沢と接触用ピンの表面の光沢とを比
較することによってメッキの出来具合を評価し、管理す
ることができる。
The metal layers 32 and 33 are formed as described above. In order to obtain the required thickness, the temperature, concentration, pH value of the plating solution and the plating time are generally required. Need to be managed. Here, especially for gold plating for forming the metal layer 33, the degree of plating can be evaluated and managed by comparing the gloss of the pure gold foil and the gloss of the surface of the contact pin.

【0042】[0042]

【実施例】図6、7は、本発明の接触用ピンの実施例を
示す顕微鏡写真である。図6は、接触面2が形成された
端部を120倍に拡大して見たものであり、図7は、接
触面2およびその周辺を斜め方向から60倍に拡大して
見たものである。金属板の材料として硬度1/2のベリ
リウム銅を用い、接触用ピン38の厚さを0.3ミリメ
ートルとし、接触面2の端部91〜94を形成する円弧
の半径を0.1ミリメートルとし、接触面2を構成する
側面から外縁部34、36までの高さjを約18ミクロ
ン、内側の金属層32を形成するニッケルメッキの厚さ
を約5ミクロン、表面側の金属層33を形成する金メッ
キの厚さを約2ミクロンとしたものである。このような
構成の接触用ピンでは、平均200万回の接触に対する
寿命を得た。
6 and 7 are photomicrographs showing an embodiment of the contact pin of the present invention. FIG. 6 is an enlarged view of the end portion on which the contact surface 2 is formed 120 times, and FIG. 7 is an enlarged view of the contact surface 2 and its periphery 60 times obliquely. is there. Beryllium copper having a hardness of 1/2 is used as the material of the metal plate, the thickness of the contact pin 38 is 0.3 mm, and the radius of the arc forming the ends 91 to 94 of the contact surface 2 is 0.1 mm. The height j from the side surface forming the contact surface 2 to the outer edges 34 and 36 is about 18 microns, the thickness of nickel plating for forming the inner metal layer 32 is about 5 microns, and the metal layer 33 on the front side is formed. The thickness of the gold plating is about 2 microns. With the contact pin having such a configuration, the life for an average of 2 million contacts was obtained.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上のように本発明によると、互いに平
行な主面および対面を備えるとともに、前記主面の外縁
部と前記対面の外縁部とを結ぶ面によって形成された接
触面を備え、この接触面がピン内部に向かう凹面形状で
あることによって、他の部材と強く接触することができ
るとともに、接触面の磨耗を抑える効果を得ることがで
きる。
As described above, according to the present invention, there are provided a main surface and a facing surface which are parallel to each other, and a contact surface formed by a surface connecting the outer edge of the main surface and the outer edge of the facing surface. Since the contact surface has a concave shape facing the inside of the pin, the contact surface can strongly contact other members, and the effect of suppressing wear of the contact surface can be obtained.

【0044】また、外縁部の長さ方向の両端に円弧状の
端部が形成されていることで、外縁部が他の部材の面上
を擦れて移動する場合に上記端部で生じる摩擦力を低く
抑える効果を得ることができる。
Further, since the arc-shaped ends are formed at both ends in the length direction of the outer edge, the frictional force generated at the end when the outer edge rubs on the surface of another member and moves. Can be reduced.

【0045】さらに、形成された接触用ピンをピン製造
用の母材となる金属板に支持させるための支持部の領域
を除いて、この接触用ピンの輪郭に沿って前記金属板を
主面から対面に向けて所定の幅で貫通させる貫通工程
と、この貫通工程の後に、前記ピンの形状をなす部分
に、前記金属板よりも硬い金属層をメッキするメッキ工
程とを備えたことで、メッキ時にピンの外縁部の金属層
の成長を促進させ、その結果、ピンの表面の外縁部と対
面の外縁部とを結ぶ面によって形成される接触面を、確
実に凹面形状とすることができる。
Further, except for a region of a support portion for supporting the formed contact pin on a metal plate serving as a base material for manufacturing the pin, the metal plate is arranged along the contour of the contact pin on the main surface. A penetrating step of penetrating with a predetermined width from the opposite side, and after this penetrating step, in a portion forming the shape of the pin, by providing a plating step of plating a metal layer harder than the metal plate, At the time of plating, the growth of the metal layer at the outer edge of the pin is promoted, and as a result, the contact surface formed by the surface connecting the outer edge of the pin surface and the outer edge of the facing surface can be surely formed into a concave shape. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係る接触用ピンの断面形
状を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional shape of a contact pin according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の接触用ピンの外形を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an outer shape of a contact pin of FIG. 1;

【図3】同接触用ピンの製造方法を説明するための図で
ある。
FIG. 3 is a view for explaining a method of manufacturing the contact pin.

【図4】複数の接触用ピンを同時に製造する方法を説明
するための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a method of simultaneously manufacturing a plurality of contact pins.

【図5】同接触用ピンの製造方法を示す図である。FIG. 5 is a view showing a method of manufacturing the contact pin.

【図6】本発明の接触用ピンの実施例についての顕微鏡
写真である。
FIG. 6 is a photomicrograph of an example of the contact pin of the present invention.

【図7】本発明の接触用ピンの実施例についての他の顕
微鏡写真である。
FIG. 7 is another micrograph of an example of the contact pin of the present invention.

【図8】従来の接触用ピンおよびリードが配置された状
態を示す図である。
FIG. 8 is a view showing a state where a conventional contact pin and lead are arranged.

【図9】図8の接触用ピンの外形を示す図である。FIG. 9 is a view showing an outer shape of the contact pin of FIG. 8;

【図10】図8の接触用ピンとリードとの接触状態を示
す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a contact state between a contact pin and a lead of FIG. 8;

【図11】従来の接触用ピンの接触面についての顕微鏡
写真である。
FIG. 11 is a micrograph of a contact surface of a conventional contact pin.

【図12】従来の接触用ピンを切断によって形成する工
程を示す図である。
FIG. 12 is a view showing a step of forming a conventional contact pin by cutting.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 接触面 3 リード 4 パッケージ 31 金属板 32 金属層 33 金属層 34 外縁部 35 外縁部 36 外縁部 37 外縁部 38 接触用ピン 39 支持部 40 貫通孔 2 Contact Surface 3 Lead 4 Package 31 Metal Plate 32 Metal Layer 33 Metal Layer 34 Outer Edge 35 Outer Edge 36 Outer Edge 37 Outer Edge 38 Contact Pin 39 Support Portion 40 Through Hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮越 賢一 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 朝比奈 末雄 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 小島 吉則 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Kenichi Miyakoshi, Inventor 1-1, Yukicho, Takatsuki-shi, Osaka Matsushita Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Sueo Asahina 1-1, Yukicho, Takatsuki-shi, Osaka Matsushita Electronics (72) Inventor Yoshinori Kojima 1-1, Yukicho, Takatsuki-shi, Osaka Matsushita Electronics Co., Ltd.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 他の部材と接触して電気的接続を得るた
めの接触用ピンであって、互いに平行な主面および対面
を備えるとともに、前記主面の外縁部と前記対面の外縁
部とを結ぶ面によって形成された接触面を備え、この接
触面がピン内部に向かう凹面形状であることを特徴とす
る接触用ピン。
1. A contact pin for obtaining an electrical connection by contacting another member, comprising a main surface and a facing surface parallel to each other, and an outer edge of said main surface and an outer edge of said facing surface. A contact surface formed by a surface connecting the contact pins, and the contact surface has a concave shape facing the inside of the pin.
【請求項2】 金属片と、この金属片の表面に形成され
て前記金属片よりも硬い金属層とを備えたことを特徴と
する請求項1記載の接触用ピン。
2. The contact pin according to claim 1, comprising: a metal piece; and a metal layer formed on a surface of the metal piece and harder than the metal piece.
【請求項3】 金属層が、金属片の表面に形成されてこ
の金属片よりも硬い第1の金属層と、この第1の金属層
の表面に形成されてこの第1の金属層よりも電気抵抗の
低い第2の金属層とを備えたことを特徴とする請求項2
記載の接触用ピン。
3. A first metal layer formed on the surface of the metal piece and being harder than the metal piece, and a metal layer formed on the surface of the first metal layer and being harder than the first metal layer. 3. A second metal layer having a low electric resistance.
The contact pin as described.
【請求項4】 外縁部の長さ方向の両端に円弧状の端部
が形成されていることを特徴とする請求項1から3まで
のいずれか1項記載の接触用ピン。
4. The contact pin according to claim 1, wherein arc-shaped ends are formed at both ends in the length direction of the outer edge.
【請求項5】 他の部材と接触して電気的接続を得るた
めの接触用ピンを製造する方法であって、 形成された接触用ピンをピン製造用の母材となる金属板
に支持させるための支持部の領域を除いて、この接触用
ピンの輪郭に沿って前記金属板を主面から対面に向けて
所定の幅で貫通させる貫通工程と、 この貫通工程の後に、前記ピンの形状をなす部分に、前
記金属板よりも硬い金属層をメッキするメッキ工程とを
備えたことを特徴とする接触用ピンの製造方法。
5. A method for manufacturing a contact pin for obtaining electrical connection by contacting another member, wherein the formed contact pin is supported on a metal plate serving as a base material for manufacturing the pin. Excluding the area of the support portion for exposing the metal plate along the contour of the contact pin from the main surface to the opposite surface with a predetermined width, and after the penetrating step, the shape of the pin A plating step of plating a metal layer harder than the metal plate on a portion forming the contact pin.
【請求項6】 メッキ工程が、金属板の表面にこの金属
板よりも硬い第1の金属をメッキする工程と、この第1
の金属のメッキ部の表面にこの第1の金属よりも電気抵
抗の低い第2の金属をメッキする工程とを有することを
特徴とする請求項5記載の接触用ピンの製造方法。
6. The plating step includes plating a first metal, which is harder than the metal plate, on a surface of the metal plate;
6. A method of manufacturing a contact pin according to claim 5, further comprising: plating a second metal having lower electric resistance than the first metal on a surface of the metal plating portion.
【請求項7】 他の部材と接触して電気的接続を得るた
めの接触用ピンを用いた接触方法であって、前記接触用
ピンが、互いに平行な主面および対面を備えるととも
に、前記主面の外縁部と前記対面の外縁部とを結ぶ面に
よって形成された接触面を備え、この接触面がピン内部
に向かう凹面形状であり、かつ前記外縁部と他の部材と
を接触させた後に前記接触面の少なくとも一部と前記他
の部材とを接触させることを特徴とする接触用ピンを用
いた接触方法。
7. A contact method using a contact pin for contacting another member to obtain an electrical connection, wherein the contact pin has a main surface and a facing surface parallel to each other, and A contact surface formed by a surface connecting the outer edge of the surface and the outer edge of the facing surface, the contact surface having a concave shape facing the inside of the pin, and after contacting the outer edge with another member. A contact method using a contact pin, wherein at least a part of the contact surface is brought into contact with the other member.
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