JPH10269969A - Image forming device - Google Patents

Image forming device

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Publication number
JPH10269969A
JPH10269969A JP6817297A JP6817297A JPH10269969A JP H10269969 A JPH10269969 A JP H10269969A JP 6817297 A JP6817297 A JP 6817297A JP 6817297 A JP6817297 A JP 6817297A JP H10269969 A JPH10269969 A JP H10269969A
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JP
Japan
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image forming
low
wiring
electron
forming apparatus
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6817297A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeo Ono
武夫 小野
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP6817297A priority Critical patent/JPH10269969A/en
Publication of JPH10269969A publication Critical patent/JPH10269969A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent damage or deterioration caused by discharge generated along an atmospheric pressure supporting member. SOLUTION: This device has an electron source in which wiring arranged in one plane and a plurality of electron emission elements connected to the wiring are arranged within a vacuum container having a pair of the facing planes, an image forming member 12 arranged in the other plane, and an atmospheric pressure supporting member 5 arranged between a pair of the planes. The atmospheric pressure supporting member 5 is connected to a low resistant conductor 13 formed through an insulating layer 14 on the wiring and the image forming member 12, and the low resistant conductor 13 is connected to a current flow path 19 having low impedance on the outside through a connecting terminal 18 passing through a passing through hole of a vacuum container. The current flow path 19 is connected to the ground through a non-linear element 20, and the low resistant conductor 13 is connected to a synchronous power source device 22 which is synchronized with an electron source driving power source 21 so that the low resistant conductor 13 becomes the same potential as potential applied to the wiring arranged under the low resistant conductor 13 in normal driving.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は画像形成装置に係わ
り、特に信頼性の高い平板型画像形成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image forming apparatus, and more particularly, to a highly reliable flat plate type image forming apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子線を利用して画像を表示する画像形
成装置としては、CRTが従来から広く用いられてき
た。
2. Description of the Related Art CRTs have been widely used as image forming apparatuses for displaying images using electron beams.

【0003】一方、近年になって液晶を用いた平板型表
示装置が、CRTに替わって、普及してきたが、自発光
型でないため、バックライトを持たなければならない等
の問題点があり、自発光型の表示装置の開発が、望まれ
てきた。自発光型表示装置としては、最近ではプラズマ
ディスプレイが商品化され始めているが、従来のCRT
とは発光の原理が異なり、画像のコントラストや、発色
の良さなどでCRTに比べるとやや劣ると言わざるを得
ないのが現状である。電子放出素子を複数配列して電子
源を形成し、これを平板型画像形成装置に用いれば、C
RTと同じ品位の発光を得られることが期待され、多く
の研究開発が行われてきた。例えば特開平4−1638
33号公報には、線状熱陰極と、複雑な電極構体を真空
容器に内包した平板型電子線画像形成装置が開示されて
いる。
On the other hand, in recent years, flat panel display devices using liquid crystal have been widely used in place of CRTs. However, since they are not self-luminous, they have problems such as having to have a backlight. Development of a light-emitting display device has been desired. As a self-luminous display device, a plasma display has recently begun to be commercialized.
At present, the principle of light emission is different from that of CRTs because of the contrast of images and good color development. If an electron source is formed by arranging a plurality of electron-emitting devices, and this is used in a flat plate type image forming apparatus, C
It is expected that light emission of the same quality as RT can be obtained, and much research and development has been performed. For example, JP-A-4-1638
No. 33 discloses a flat-plate electron beam image forming apparatus in which a linear hot cathode and a complicated electrode structure are enclosed in a vacuum vessel.

【0004】この真空容器の内外には大気圧がかかるた
め、これに耐えるためには容器の壁の厚みを厚くする
か、容器内に大気圧支持部材を設けることが必要であ
る。大型の画像形成装置の場合、容器の壁の厚さにより
大気圧を支えるには、壁の厚さを非常に厚くすることが
必要であり、装置の重量も重くなってしまう。従って、
大型の平板型電子線画像形成装置を実現するためには、
その真空容器内部に大気圧支持部材を設けて大気圧を支
持することが求められる。
[0004] Since atmospheric pressure is applied to the inside and outside of the vacuum container, it is necessary to increase the thickness of the container wall or to provide an atmospheric pressure support member in the container in order to withstand the atmospheric pressure. In the case of a large-sized image forming apparatus, in order to support the atmospheric pressure by the thickness of the wall of the container, the thickness of the wall needs to be extremely large, and the weight of the apparatus increases. Therefore,
In order to realize a large flat plate type electron beam image forming apparatus,
It is required to provide an atmospheric pressure support member inside the vacuum vessel to support the atmospheric pressure.

【0005】電子線を用いた画像形成装置においては、
電子源と画像表示部材との間に、電子を加速するために
高電圧を印加する。上記大気圧支持部材は主に電子源と
画像形成部材の間に設置されるもので、その両端には上
記の高電圧が印加されることになる。大気圧支持部材が
導電性を有すると、上記高電圧のために電流が流れ、こ
れにより電力を消費することになる。この点からすると
大気圧支持部材は絶縁性であることが望ましい。しかし
ながら、絶縁性の大気圧支持部材には、次のような問題
が生ずる場合があった。すなわち、大気圧支持部材に
は、例えば電子源から放出され、画像形成部材に照射さ
れた電子の一部が反射されて、衝突する可能性があり、
その結果大気圧支持部材からは2次電子が放出され、そ
の部分が帯電して電位が上昇する場合がある。このよう
になるとその近傍の電界が歪んでしまい、電子源から放
出された電子線の軌道が曲げられて、上記画像形成部材
の本来の位置に到達しなくなり、色ズレなど画像の品位
を低下させる現象が起こる。また、場合によっては大気
圧支持構造の側面に沿って放電が発生することがあり、
この電流が電子源に流れ込むと電子放出素子を損傷し、
画像に欠陥が生じてしまうこともある。
In an image forming apparatus using an electron beam,
A high voltage is applied between the electron source and the image display member to accelerate electrons. The above-mentioned atmospheric pressure supporting member is installed mainly between the electron source and the image forming member, and the high voltage is applied to both ends thereof. When the atmospheric pressure supporting member has conductivity, a current flows due to the high voltage, thereby consuming power. From this point, it is desirable that the atmospheric pressure supporting member is insulative. However, the following problems may occur in the insulating atmospheric pressure support member. That is, the atmospheric pressure supporting member has a possibility that some of the electrons emitted from the electron source and irradiated on the image forming member are reflected and collide,
As a result, secondary electrons are emitted from the atmospheric pressure support member, which may be charged and the potential may rise. In this case, the electric field in the vicinity is distorted, the trajectory of the electron beam emitted from the electron source is bent, and the electron beam does not reach the original position of the image forming member, and the image quality such as color shift is degraded. A phenomenon occurs. Also, in some cases, discharge may occur along the side of the atmospheric pressure support structure,
When this current flows into the electron source, it damages the electron-emitting device,
Defects may occur in the image.

【0006】このような帯電やそれによる放電の発生を
避ける方法としては、例えば特公平7−99679号公
報に開示された、大気圧支持部材を微小電流が流れる高
抵抗の導電材で形成する方法がある。
As a method of avoiding such charging and generation of discharge due to the charging, for example, a method of forming an atmospheric pressure supporting member from a high resistance conductive material through which a minute current flows is disclosed in Japanese Patent Publication No. 7-99679. There is.

【0007】また、大気圧支持部材と画像形成部材の接
触が不完全な部分があると、上記微小電流の流れ方にム
ラができ、電位分布が歪んで悪影響を及ぼすが、これを
防止する方法として、特公平8−21346号公報に開
示されるように、大気圧支持部材の上部に針状の支柱と
これに接続された金属のカバーを設け、この部分の電位
をすべて画像形成部材と同じにする方法も報告されてい
る。
Further, if there is a part where the contact between the atmospheric pressure supporting member and the image forming member is incomplete, the flow of the minute current becomes uneven, and the potential distribution is distorted and adversely affected. As disclosed in Japanese Patent Publication No. Hei 8-21346, a needle-like support and a metal cover connected to the support are provided on the upper part of the atmospheric pressure support member, and the potential of this part is all the same as that of the image forming member. It has also been reported how to do.

【0008】また、CRTにおいて、真空容器外の部材
の電位の上昇に伴う放電を防止する手法として、当該部
材をサージアブソーバ素子を介して接地する方法が、特
開平6−338269号公報に開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-338269 discloses a method of preventing a discharge caused by a rise in the potential of a member outside a vacuum vessel in a CRT, by grounding the member via a surge absorber element. ing.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】近年、携帯用情報端末
機器などとして、例えば液晶ディスプレイと同程度の、
さらに厚さの薄い電子線画像形成装置の開発が求められ
ている。
In recent years, as portable information terminal equipment, for example, the same level as a liquid crystal display,
There is a demand for the development of an electron beam image forming apparatus having a smaller thickness.

【0010】本出願人は、表面伝導型電子放出素子とそ
れを用いた画像形成装置に関して、すでに多くの提案を
行っている。例えば特開平7−235255号公報に記
載されたものである。この電子放出素子は構成が単純
で、大面積に多数集積して形成することができるため、
電極構体などの複雑な構成要素なしに画像表示装置を形
成できるため、非常に薄い電子線画像形成装置に用いる
ことができる。
The present applicant has already made many proposals regarding a surface conduction electron-emitting device and an image forming apparatus using the same. For example, it is described in JP-A-7-235255. Since this electron-emitting device has a simple structure and can be formed in large numbers over a large area,
Since the image display device can be formed without complicated components such as an electrode structure, it can be used for an extremely thin electron beam image forming device.

【0011】ところで、電子源と画像形成部材の間に
は、上述のように電子を加速するための電圧が印加され
ており、画像形成部材として通常の蛍光体を用いる場
合、好ましい色の発光を得るためには、この電圧はでき
るだけ高くすることが好ましく、例えば数kV程度であ
ることが望ましい。
By the way, a voltage for accelerating electrons is applied between the electron source and the image forming member as described above. When a normal phosphor is used as the image forming member, light emission of a preferable color is performed. In order to obtain this voltage, it is preferable to make this voltage as high as possible, for example, about several kV.

【0012】その場合、画像表示部材と電子源との間隔
が従来に比べて狭く、従って大気圧支持部材の側面の短
い距離をはさんで上記画像表示部材と電子源が対向する
ため、従来のように導電性の大気圧支持部材を用いたと
してもこれに沿った放電が生ずる危険が完全には回避で
きない場合もある。
In this case, the distance between the image display member and the electron source is narrower than in the prior art, and thus the image display member and the electron source face each other with a short distance between the side surfaces of the atmospheric pressure support member. Even if a conductive atmospheric pressure supporting member is used, there is a case where the danger of generating a discharge along the atmospheric pressure supporting member cannot be completely avoided.

【0013】このような放電が生じた場合に電流が流れ
る経路を、図4の等価回路により説明する。31は画像
形成部材に対応する点で、電位Vaが与えられている。
32aは大気圧支持部材の電気抵抗を示し、通常は所定
の高い抵抗値を有するが、放電を生じた場合は抵抗値が
低下する。33は、上記大気圧支持部材が電子源に接す
る点で、電子源の配線の一つに接続されている場合を想
定した。この点は配線抵抗36を介して所定の素子駆動
電圧Vf-を与える回路に接続され、またこの配線には複
数の電子放出素子37が接続されている。図4では煩雑
にならないよう、素子を一つだけ示してある。38と3
9は電子放出素子がそれぞれ配線に接続する電極に対応
する点を示し、点39の電極は上記とは別の配線の抵抗
40を介して所定の素子駆動電圧Vf+を印加する回路に
接続されている。大気圧支持部材に沿って放電が生じる
と、図4に示した抵抗32aが通常より小さくなり、大
きな電流が流れる。この電流は図4の点33から配線に
流れ込み、一部は抵抗36を通り、他の一部は電子放出
素子37を介し別の配線に流れ込み、抵抗40を介して
画像形成装置の外に流出する。このとき、電子放出素子
37にある程度以上の電流が流れると、素子が破損した
り、電子放出量が低下したりする。また、放電電流が大
きく、抵抗36,40を介して画像形成装置の外部に流
出する電流が大きくなる場合、素子に駆動電圧を印加す
る電気回路にダメージを与えるなどの悪影響をもたらす
場合がある。
A path through which a current flows when such a discharge occurs will be described with reference to an equivalent circuit shown in FIG. Reference numeral 31 denotes a point corresponding to the image forming member, to which a potential Va is applied.
Reference numeral 32a denotes the electric resistance of the atmospheric pressure support member, which normally has a predetermined high resistance value, but the resistance value decreases when a discharge occurs. Reference numeral 33 assumes that the atmospheric pressure support member is connected to one of the wirings of the electron source at the point where the member contacts the electron source. This point is connected to a circuit for applying a predetermined element drive voltage Vf- via a wiring resistor 36, and a plurality of electron-emitting devices 37 are connected to this wiring. In FIG. 4, only one element is shown for the sake of simplicity. 38 and 3
Reference numeral 9 indicates points corresponding to the electrodes connected to the wirings of the electron-emitting devices, respectively. The electrodes at point 39 are connected to a circuit for applying a predetermined element driving voltage Vf + via a resistor 40 having a wiring different from the above. ing. When a discharge occurs along the atmospheric pressure support member, the resistance 32a shown in FIG. 4 becomes smaller than usual, and a large current flows. This current flows from the point 33 in FIG. 4 to the wiring, a part of the current flows through the resistor 36, another part flows into another wiring via the electron-emitting device 37, and flows out of the image forming apparatus via the resistor 40. I do. At this time, if a certain amount or more of current flows through the electron-emitting device 37, the device is damaged or the amount of emitted electrons is reduced. Further, when the discharge current is large and the current flowing out of the image forming apparatus via the resistors 36 and 40 is large, an adverse effect such as damaging an electric circuit for applying a drive voltage to the element may be caused.

【0014】従って、信頼性の高い、より薄い平板型電
子線画像形成装置を実現するためには、大気圧支持部材
に沿って放電が発生した場合にも、電子放出素子や、外
部駆動回路が損傷したり劣化したりしない様にする技術
の開発が求められていた。
Therefore, in order to realize a highly reliable and thinner flat plate type electron beam image forming apparatus, even when a discharge occurs along the atmospheric pressure supporting member, the electron emitting element and the external drive circuit are required. There has been a demand for the development of a technique for preventing damage and deterioration.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題に鑑
みてなされたものであり、以下のような構成を有する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has the following configuration.

【0016】すなわち、対向する一組の平面を有する真
空容器内に、該平面の一方に配線及び該配線に接続した
電子放出素子を複数配置して形成された電子源と、該電
子源と対向して他方の平面に配置された、前記電子源よ
り放出された電子ビームの照射により画像を形成する画
像形成部材と、前記一組の平面の間に配置された導電性
を有する大気圧支持部材とを有し、前記電子源と前記電
極との間に電子を加速するための電圧を印加してなる画
像形成装置において、前記大気圧支持部材は前記電子源
を構成する少なくとも一部の配線の上に絶縁層を介して
形成された低抵抗導体と前記画像形成部材とに接続さ
れ、前記低抵抗導体は前記真空容器の通過孔を貫通する
接続端子を介して真空容器外部の低インピーダンスの電
流流路に接続され、該低インピーダンスの電流流路は、
非線形素子を介してグランドに接続され、前記低抵抗導
体は、その下に設置される前記配線に通常駆動において
印加される電位と同電位となるよう、電子源駆動電源と
同期して電圧を印加する同期電源装置に接続されている
ことを特徴とする画像形成装置である。
That is, an electron source formed by arranging a plurality of wirings and electron-emitting devices connected to the wirings on one of the planes in a vacuum vessel having a pair of planes facing each other; An image forming member disposed on the other plane to form an image by irradiating the electron beam emitted from the electron source; and a conductive atmospheric pressure supporting member disposed between the pair of planes. In the image forming apparatus having a voltage for accelerating electrons between the electron source and the electrode, the atmospheric pressure supporting member includes at least a part of a wire constituting the electron source. A low-resistance conductor formed above via an insulating layer and the image forming member, wherein the low-resistance conductor is connected to a low-impedance current outside the vacuum vessel through a connection terminal passing through a through hole of the vacuum vessel. Connected to the flow path, Current flow path of low impedance,
A voltage is applied in synchronization with an electron source drive power supply so that the low resistance conductor is connected to the ground via a non-linear element, and has the same potential as the potential applied to the wiring provided thereunder during normal driving. The image forming apparatus is connected to a synchronous power supply apparatus.

【0017】上記非線形素子は、所定の閾電圧以上の電
圧が印加されたときに低インピーダンスとなるものであ
り、例えば放電管,バリスタなどのサージアブソーバ素
子、あるいはツェナーダイオードなどを用いることがで
きる。
The non-linear element has a low impedance when a voltage higher than a predetermined threshold voltage is applied. For example, a surge absorber such as a discharge tube or a varistor, or a Zener diode can be used.

【0018】このような構成とすることにより、大気圧
支持部材の側面に沿って放電が生じた場合、放電電流は
低抵抗導体に流れ込み、次いで低インピーダンスの流路
に沿って真空容器外に流出し、上記非線形素子を通っ
て、グランドに達する。この流路のインピーダンスZ
が、これ以外の流路による上記低抵抗導体とグランドの
間のインピーダンスZ′に比べて、十分に低ければ、放
電電流のほとんどは該非線形素子を通る流路によりグラ
ンドに流れ、電子放出素子がダメージを受ける恐れが少
なくなる。両者の値の比(Z/Z′)は小さいほど好ま
しいのは当然であるが、効果が明らかになるためには
(Z/Z′)≦0.1となるのが好ましい。
With this configuration, when a discharge occurs along the side surface of the atmospheric pressure support member, the discharge current flows into the low resistance conductor and then out of the vacuum vessel along the low impedance flow path. Then, it reaches the ground through the nonlinear element. The impedance Z of this channel
However, if the impedance is sufficiently lower than the impedance Z ′ between the low-resistance conductor and the ground due to the other flow paths, most of the discharge current flows to the ground through the flow path passing through the nonlinear element, and There is less risk of damage. It is natural that the smaller the ratio (Z / Z ') of the two values, the better. However, in order to clarify the effect, it is preferable that (Z / Z') ≤0.1.

【0019】更に上記低抵抗導体は低インピーダンスの
電流流路により真空容器外で、その下にある上記配線と
同電位となるよう電圧を印加する同期電源装置に接続さ
れる。これは、そうしない場合、配線と低抵抗導体の間
の容量成分により、配線を通して素子を駆動するための
電圧を印加した際の応答特性が悪化し、低抵抗導体を設
けた配線に接続された素子行(あるいは列)のみ他の行
(あるいは列)に比べて応答が遅れるのを防ぐためであ
る。
Further, the low-resistance conductor is connected to a synchronous power supply for applying a voltage so as to have the same potential as that of the wiring below the vacuum vessel outside the vacuum vessel through a low-impedance current flow path. If this is not the case, the response characteristics when applying a voltage for driving the element through the wiring deteriorated due to the capacitance component between the wiring and the low-resistance conductor, and the capacitor was connected to the wiring provided with the low-resistance conductor. This is to prevent the response of only the element row (or column) from being delayed as compared with other rows (or columns).

【0020】大気圧支持体で放電が起きた時、電流が上
記非線形素子を介してグランドに流れるよう、上記の同
期電源装置の内部抵抗は十分大きくすべきである。
The internal resistance of the synchronous power supply should be large enough so that when a discharge occurs at the atmospheric pressure support, the current flows to ground via the nonlinear element.

【0021】言うまでもないが、上記のように閾値電圧
以上の電圧がかかった時にインピーダンスが低下して電
流を流す非線形素子をグランドと低インピーダンス流路
の間に設けるのは、放電が生じず、画像形成装置が正常
に動作しているときには、低抵抗導体とその下の配線と
を同じ電位とすることができるようにするためであり、
放電が発生して低抵抗導体の電位が閾値を越えて上昇し
た場合には速やかに電流をグランドへ導くものである。
従って、上記の閾値は、通常の駆動において配線にかか
る電位よりも若干高めに設定する。
Needless to say, the provision of a non-linear element, whose impedance decreases and a current flows when a voltage equal to or higher than the threshold voltage is applied as described above, between the ground and the low-impedance flow path does not cause discharge, and This is because when the forming apparatus is operating normally, the low-resistance conductor and the wiring thereunder can have the same potential,
When a discharge occurs and the potential of the low-resistance conductor rises above a threshold value, the current is immediately led to the ground.
Therefore, the above threshold value is set slightly higher than the potential applied to the wiring in normal driving.

【0022】更に該大気圧支持部材に沿って放電が生じ
た場合、低抵抗導体の電位は急激に上昇するが、画像形
成部材の電位Va(アノード電圧)を越えることはな
い。従って、配線と低抵抗導体の間に絶縁層で絶縁破壊
を生じないためには、絶縁層の絶縁破壊電界をEpと
し、絶縁層の厚さをdとしたとき、Va/d≦Epを満
たすように絶縁層材料と厚さを設定すれば安全である。
Further, when a discharge occurs along the atmospheric pressure supporting member, the potential of the low resistance conductor rises sharply, but does not exceed the potential Va (anode voltage) of the image forming member. Therefore, in order to prevent dielectric breakdown in the insulating layer between the wiring and the low-resistance conductor, Va / d ≦ Ep is satisfied when the dielectric breakdown electric field of the insulating layer is Ep and the thickness of the insulating layer is d. It is safe to set the insulating layer material and thickness as described above.

【0023】ここで、dは絶縁破壊電界Epが小さいほ
ど厚くしなければならず、絶縁層があまり厚くなると、
低抵抗導体のない部分とは電界形状が大きく異なってし
まい、電子源から出射した電子の軌道に影響を与えるた
め該大気圧支持部材近傍の電子ビームだけがずれた位置
に電子照射されるという不都合を生じる場合がある。従
って、絶縁層の絶縁破壊電界を大きくし、厚さdを薄く
できるよう、絶縁層材料を選択することが求められる。
具体的にはガラスペーストを塗布し加熱処理したガラス
等も好ましく用いられる他、製膜、加工が容易で絶縁破
壊電界の大きいポリイミド樹脂等の高分子樹脂が特に好
ましい。
Here, d must be thicker as the breakdown electric field Ep is smaller, and if the insulating layer is too thick,
Since the shape of the electric field is significantly different from that of the portion without the low-resistance conductor, which affects the trajectory of the electrons emitted from the electron source, there is a disadvantage that only the electron beam near the atmospheric pressure support member is irradiated to the shifted position. May occur. Therefore, it is required to select an insulating layer material so that the dielectric breakdown electric field of the insulating layer can be increased and the thickness d can be reduced.
Specifically, glass or the like which is coated with a glass paste and heat-treated is preferably used, and a polymer resin such as a polyimide resin which is easy to form and process and has a large dielectric breakdown electric field is particularly preferable.

【0024】また、低抵抗導体と低インピーダンス電流
流路との接続を、真空容器の上面または下面の通過孔を
貫通する接続端子により行うのは、下記のような問題を
回避するためである。すなわち、上記の接続端子を、た
とえば真空容器を構成する、下面と側面の部材(リアプ
レートと支持枠)の接合部を通し、接合に用いるフリッ
トガラスに埋め込む構成とした場合、放電が生じてこの
部材に大きな電流が流れると、電流の一部がフリットガ
ラス中に漏れだし、これによりフリットガラス中に鉛が
析出する。これが進むとフリットガラスにクラックが発
生し、真空を維持できなくなってしまう場合がある。従
ってこのようなことの生じない構成が必要となり、上述
のような構成を採用するものである。
The connection between the low-resistance conductor and the low-impedance current flow path is made by a connection terminal penetrating through a through hole in the upper or lower surface of the vacuum vessel in order to avoid the following problems. That is, when the above-mentioned connection terminal is configured to pass through the joint between the lower surface and side members (rear plate and support frame) constituting the vacuum vessel and to be embedded in the frit glass used for the joint, electric discharge occurs, When a large current flows through the member, a part of the current leaks into the frit glass, whereby lead is precipitated in the frit glass. If this progresses, cracks may occur in the frit glass, and it may not be possible to maintain a vacuum. Therefore, a configuration that does not cause such a situation is required, and the configuration described above is adopted.

【0025】本発明について図面を用いてさらに説明す
る。
The present invention will be further described with reference to the drawings.

【0026】図1は、本発明の構成の一例を模式的に示
す平面図で、フェースプレートを取り除いて内部の構造
を示したものである。図1において、1は電子源を形成
するための基板を兼ねるリアプレートで、青板ガラス、
表面にSiO2 被膜を形成した青板ガラス、Naの含有
量を少なくしたガラス、石英ガラス、あるいはセラミッ
クスなど、条件に応じて各種材料を用いる。なお、電子
源形成用の基板を、リアプレートと別に設け、電子源を
形成した後両者を接合しても良い。2は電子源形成領域
で、電界放出素子、表面伝導型電子放出素子などの電子
放出素子を複数配置し、目的に応じて駆動できるように
素子に接続された配線を形成したものである。3−1,
3−2は電子源駆動用の配線であり、画像形成装置の外
部に取り出され、電子源の駆動回路(不図示)に接続さ
れる。4はリアプレート1とフェースプレート(不図
示)に挟持される支持枠であり、フリットガラスによ
り、リアプレート1に接合される。電子源駆動用配線3
−1,3−2は支持枠4とリアプレート1の接合部でフ
リットガラスに埋設されて外部に引き出される。5は大
気圧支持部材で、セラミックス、ガラス、有機化合物な
どにより構成される。なお、大気圧支持部材5は適当な
導電性を有することが求められるが、この導電性は、大
気圧支持部材自体の材質が導電性を有していても、ある
いは絶縁体により形成された大気圧支持部材の表面に、
導電性を有する層が被覆されていてもいずれでも良い。
大気圧支持部材の底面は、電子源駆動用配線3−1の該
当するラインの上に絶縁層を介して形成された低抵抗導
体13に当接される。低抵抗導体13の端部は、接続端
子当接部15となっている。真空容器内には、このほか
ゲッタ9、ゲッタ遮蔽板10などが必要に応じて配置さ
れる。
FIG. 1 is a plan view schematically showing an example of the configuration of the present invention, and shows the internal structure of the apparatus with a face plate removed. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a rear plate which also serves as a substrate for forming an electron source.
Various materials are used depending on the conditions, such as blue plate glass having a SiO 2 film formed on the surface, glass having a low Na content, quartz glass, and ceramics. Note that a substrate for forming an electron source may be provided separately from the rear plate, and the two may be joined after forming the electron source. Reference numeral 2 denotes an electron source forming area in which a plurality of electron-emitting devices such as a field emission device and a surface conduction electron-emitting device are arranged, and wirings connected to the devices are formed so as to be driven according to the purpose. 3-1
Reference numeral 3-2 denotes a wiring for driving the electron source, which is taken out of the image forming apparatus and connected to a driving circuit (not shown) for the electron source. Reference numeral 4 denotes a support frame sandwiched between the rear plate 1 and a face plate (not shown), and is joined to the rear plate 1 by frit glass. Electron source drive wiring 3
-1 and 3-2 are buried in the frit glass at the joint between the support frame 4 and the rear plate 1 and are drawn out. Reference numeral 5 denotes an atmospheric pressure support member, which is made of ceramics, glass, an organic compound, or the like. The atmospheric pressure support member 5 is required to have appropriate conductivity. This conductivity can be obtained even if the material of the atmospheric pressure support member itself has conductivity or a material formed of an insulator. On the surface of the barometric pressure support member,
The conductive layer may or may not be coated.
The bottom surface of the atmospheric pressure support member is in contact with the low resistance conductor 13 formed on the corresponding line of the electron source driving wiring 3-1 via an insulating layer. An end of the low-resistance conductor 13 is a connection terminal contact portion 15. In the vacuum container, a getter 9, a getter shielding plate 10, and the like are additionally arranged as necessary.

【0027】図2は図1の線A−Aに沿う断面の構成を
模式的に示したものである。11はフェースプレート、
12は画像形成部材、14は絶縁層である。低抵抗導体
13は導体ロッド16と絶縁碍子17よりなる接続端子
18(接続端子当接部15に接触する)を介して真空容
器外の低インピーダンス配線19に接続され、該低イン
ピーダンスライン19は、放電管等の非線形素子20を
介してグランドに接続される。また、前述したように通
常電子放出素子の駆動用配線3−1と同電位を与えるた
めの同期電源装置22にも接続される。配線(3−1お
よび不図示の3−2)は駆動ドライバー21に接続され
る。駆動ドライバー21と同期電源装置22は、上記の
ような同期をとるため信号線23で接続される。
FIG. 2 schematically shows the configuration of a cross section along the line AA in FIG. 11 is a face plate,
12 is an image forming member, and 14 is an insulating layer. The low-resistance conductor 13 is connected to a low-impedance wiring 19 outside the vacuum vessel via a connection terminal 18 (contacting the connection terminal contact portion 15) composed of a conductor rod 16 and an insulator 17. It is connected to ground via a non-linear element 20 such as a discharge tube. Further, as described above, it is also connected to the synchronous power supply device 22 for giving the same potential as the drive wiring 3-1 of the normal electron-emitting device. The wiring (3-1 and 3-2 not shown) is connected to the drive driver 21. The drive driver 21 and the synchronous power supply 22 are connected by a signal line 23 for achieving the above-mentioned synchronization.

【0028】図3は、本発明の構成の別の一例を模式的
に示す平面図である。この例の場合、大気圧支持部材5
は、小さな部材が千鳥状に配置され、排気の際のコンダ
クタンスを増加させる効果がある。図3では電子源駆動
用配線の内、行方向の配線3−1,3−3を両側に取り
出す場合を示した。
FIG. 3 is a plan view schematically showing another example of the configuration of the present invention. In the case of this example, the atmospheric pressure support member 5
In this method, small members are arranged in a staggered manner, which has the effect of increasing the conductance during exhaust. FIG. 3 shows a case in which the wirings 3-1 and 3-3 in the row direction are extracted from both sides of the wiring for driving the electron source.

【0029】また、低インピーダンス配線への接続も、
低抵抗導体配線13の両側で接続可能な構造を示してい
る。
Also, the connection to the low impedance wiring
The structure which can be connected on both sides of the low resistance conductor wiring 13 is shown.

【0030】本発明の画像形成装置において、大気圧支
持部材に沿って放電が発生した場合の状況を、図5の等
価回路図を用いて説明する。なお、図4の等価回路図と
同一構成部については同一符号を付する。32aは、大
気圧支持部材5の抵抗を示す。ポイント41は、低抵抗
導体13に相当し、42は低インピーダンス流路19の
インピーダンスを示す。20は、放電管、バリスタ、ツ
ェナーダイオード等の非線形素子である。なお、インピ
ーダンスの主要な成分は抵抗及び容量成分であるので、
図5では抵抗とコンデンサのみを記載した。
The situation where discharge occurs along the atmospheric pressure support member in the image forming apparatus of the present invention will be described with reference to the equivalent circuit diagram of FIG. The same components as those in the equivalent circuit diagram of FIG. 4 are denoted by the same reference numerals. 32a indicates the resistance of the atmospheric pressure supporting member 5. Point 41 corresponds to the low-resistance conductor 13 and 42 indicates the impedance of the low-impedance flow path 19. Reference numeral 20 denotes a non-linear element such as a discharge tube, a varistor, and a Zener diode. Since the main components of impedance are resistance and capacitance components,
FIG. 5 shows only the resistor and the capacitor.

【0031】大気圧支持部材の側面で放電が生じた場
合、大きな電流Iが低抵抗導体13に相当するポイント
41に流入するが、このほとんどが低インピーダンス流
路−非線形素子を通ってグランドに流出する(電流
1 )。絶縁層の抵抗32b、これを挟んだ低抵抗導体
と配線の間の容量32cを経由した電流は、電子源の配
線及び電子放出素子を通って、電流i2 およびi3 とし
て流れる。この電流値を十分に小さくして電子放出素子
に損傷を与える危険をなくすため絶縁層の抵抗32bを
大きく、容量32cを小さくし、インピーダンスとして
は前述したように、i 1 流路のインピーダンスZが、こ
れ以外の流路(主にi2 ,i3 の流路)のインピーダン
スZ′に比べて、十分に低ければ、放電電流のほとんど
は該非線形素子を通る流路によりグランドに流れ、電子
放出素子がダメージを受ける恐れが少なくなる。両者の
値の比(Z/Z′)は小さいほど好ましいのは当然であ
るが、効果が明らかになるためには(Z/Z′)≦0.
1とするのが好ましく、さらに(Z/Z′)≦0.01
とするのがより好ましい。
When a discharge occurs on the side surface of the atmospheric pressure supporting member,
Point where the large current I corresponds to the low resistance conductor 13
41, most of which are low impedance
Path-flows out to ground through the nonlinear element (current
i1). Resistance 32b of insulating layer, low resistance conductor sandwiching this
The current that has passed through the capacitor 32c between the
Through the line and the electron-emitting device, the current iTwoAnd iThreeage
Flowing. By making this current value small enough,
In order to eliminate the risk of damage to the
Large, the capacitance 32c is small, and the impedance is
Is, as described above, i 1The impedance Z of the flow path is
Other flow paths (mainly iTwo, IThreeFlow path) impedance
If the current is sufficiently low compared to
Flows to the ground through the flow path through the nonlinear element,
The risk that the emitting element is damaged is reduced. Both
Naturally, the smaller the value ratio (Z / Z '), the better.
However, in order for the effect to become clear, (Z / Z ′) ≦ 0.
1, preferably (Z / Z ′) ≦ 0.01
More preferably,

【0032】本発明に用いる電子源を構成する電子放出
素子の種類は、電子放出特性や素子のサイズ等の性質が
目的とする画像形成装置に適したものであれば、特に限
定されるものではない。例えば、熱電子放出素子、ある
いは電界放出素子、半導体電子放出素子、MIM型電子
放出素子、表面伝導型電子放出素子などの冷陰極素子等
が使用できる。
The type of the electron-emitting device constituting the electron source used in the present invention is not particularly limited as long as the characteristics such as the electron emission characteristics and the size of the device are suitable for the target image forming apparatus. Absent. For example, a thermionic emission device, or a cold cathode device such as a field emission device, a semiconductor electron emission device, an MIM type electron emission device, and a surface conduction type electron emission device can be used.

【0033】後述する実施例において示される表面伝導
型電子放出素子は本発明に好ましく用いられるものであ
り、本出願人による出願、特開平7−235255号公
報に記載されたものと同様のものであるが、以下に簡単
に説明する。図6は、表面伝導型電子放出素子単体の構
成の一例を示す模式図で図6(A)は平面図、図6
(B)は断面図である。
The surface conduction electron-emitting device shown in the embodiments described below is preferably used in the present invention, and is the same as that described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-235255 by the present applicant. There is a brief description below. FIG. 6 is a schematic diagram showing an example of the configuration of a single surface conduction electron-emitting device. FIG.
(B) is a sectional view.

【0034】図6において、51は電子放出素子を形成
するための基体、52,53は一対の素子電極、54は
上記素子電極52,53に接続された導電性膜でその一
部に電子放出部が形成されている。電子放出部は後述す
るフォーミング処理により、導電性膜の一部が破壊、変
形、変質されて形成された高抵抗の部分で、導電性膜の
一部に亀裂が形成され、その近傍から電子が放出される
ものである。
In FIG. 6, reference numeral 51 denotes a substrate for forming an electron-emitting device; 52 and 53, a pair of device electrodes; 54, a conductive film connected to the device electrodes 52, 53; A part is formed. The electron-emitting portion is a high-resistance portion formed by partly destroying, deforming, and altering the conductive film by a forming process described later, and a crack is formed in a portion of the conductive film. Is to be released.

【0035】上記のフォーミング工程は、上記一対の素
子電極間に電圧を印加することにより行う。印加する電
圧は、パルス電圧が好ましく、図7(A)に示した同じ
波高値のパルス電圧を印加する方法、図7(B)に示し
た、波高値を漸増させながら印加する方法のいずれの方
法を用いても良い。
The forming step is performed by applying a voltage between the pair of element electrodes. The voltage to be applied is preferably a pulse voltage, and either the method of applying the pulse voltage having the same peak value shown in FIG. 7A or the method of applying the pulse voltage while gradually increasing the peak value shown in FIG. A method may be used.

【0036】フォーミング処理により電子放出部を形成
した後、「活性化」と呼ぶ処理を行う。これは、有機物
質の存在する雰囲気中で、上記素子にパルス電圧を繰り
返し印加することにより、炭素ないし炭素化合物を主成
分とする物質を、上記電子放出部の周辺に堆積させるも
ので、この処理により素子電極間を流れる電流(素子電
流If)、電子放出に伴う電流(放出電流Ie)とも
に、増大する。
After forming the electron-emitting portion by the forming process, a process called “activation” is performed. This is to repeatedly apply a pulse voltage to the element in an atmosphere in which an organic substance is present, thereby depositing a substance mainly composed of carbon or a carbon compound around the electron emitting portion. As a result, both the current flowing between the device electrodes (device current If) and the current accompanying the electron emission (emission current Ie) increase.

【0037】このような工程を経て得られた電子放出素
子は、つづいて安定化工程を行うことが好ましい。この
工程は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。
真空容器を排気する真空排気装置は、装置から発生する
オイルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを
使用しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソ
ープションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙
げることができる。
It is preferable that the electron-emitting device obtained through the above steps be subjected to a stabilization step. This step is a step of exhausting the organic substance in the vacuum container.
It is preferable to use a vacuum exhaust device that does not use oil so that the oil generated from the device does not affect the characteristics of the element. Specifically, a vacuum exhaust device such as a sorption pump and an ion pump can be used.

【0038】真空容器内の有機物質の分圧は、上記の炭
素及び炭素化合物がほぼ新たに堆積しない分圧で1.3
×10-6Pa以下が好ましく、さらには1.3×10-8
Pa以下が特に好ましい。さらに真空容器内を排気する
ときには、真空容器全体を加熱して、真空容器内壁や、
電子放出素子に吸着した有機物質分子を排気しやすくす
るのが好ましい。このときの加熱条件は、80〜250
℃、好ましくは150℃以上で、できるだけ長時間処理
するのが望ましいが、特にこの条件に限るものではな
く、真空容器の大きさや形状、電子放出素子の構成など
の諸条件により適宜選ばれる条件により行う。真空容器
内の圧力は極力低くすることが必要で、1×10-5Pa
以下が好ましく、さらに1.3×10-6Pa以下が特に
好ましい。
The partial pressure of the organic substance in the vacuum vessel is a partial pressure at which the above-mentioned carbon and carbon compounds are not newly deposited.
× 10 −6 Pa or less, more preferably 1.3 × 10 −8 Pa
Pa or less is particularly preferred. Further, when evacuating the inside of the vacuum vessel, the entire vacuum vessel is heated, and the inner wall of the vacuum vessel,
It is preferable that the organic substance molecules adsorbed on the electron-emitting device be easily exhausted. The heating conditions at this time are 80 to 250
C., preferably 150 ° C. or higher, it is desirable to perform the treatment for as long as possible. Do. The pressure in the vacuum vessel needs to be as low as possible, and 1 × 10 −5 Pa
Or less, more preferably 1.3 × 10 −6 Pa or less.

【0039】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することができる。
It is preferable that the atmosphere at the time of driving after the stabilization step is performed is the same as that at the end of the stabilization treatment, but the present invention is not limited to this. Even if the degree of vacuum itself is slightly reduced, sufficiently stable characteristics can be maintained.

【0040】このような真空雰囲気を採用することによ
り、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆積を抑制でき、
また真空容器や基板などに吸着しH2 O,O2 なども除
去でき、結果として素子電流If、放出電流Ieが、安
定する。
By employing such a vacuum atmosphere, the deposition of new carbon or carbon compound can be suppressed,
In addition, H 2 O, O 2 and the like can be removed by being adsorbed on a vacuum vessel or a substrate, and as a result, the element current If and the emission current Ie are stabilized.

【0041】このようにして得られた表面伝導型電子放
出素子の、素子に印加する電圧Vfと素子電流If及び
放出電流Ieの関係は、図8に模式的に示すようなもの
となる。図8においては、放出電流Ieが素子電流If
に比べて小さいので、任意単位で示している。なお、縦
・横軸ともリニアスケールである。
FIG. 8 schematically shows the relationship between the voltage Vf applied to the device and the device current If and the emission current Ie of the thus obtained surface conduction electron-emitting device. In FIG. 8, the emission current Ie is the device current If
, It is shown in arbitrary units. The vertical and horizontal axes are linear scales.

【0042】図8が示すように、本素子はある電圧(し
きい値電圧と呼ぶ、図8中のVth)以上の素子電圧を
印加すると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値
電圧Vth以下では放出電流Ieがほとんど検出されな
い。つまり、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧
Vthを持った非線形素子である。これを利用すれば、
2次元的に配置した電子放出素子にマトリクス配線を施
し、単純マトリクス駆動により所望の素子から選択的に
電子を放出させ、これを画像形成部材に照射して画像を
形成させることが可能である。
As shown in FIG. 8, when an element voltage higher than a certain voltage (called a threshold voltage, Vth in FIG. 8) is applied to the present element, the emission current Ie sharply increases, while the threshold voltage is increased. Below Vth, the emission current Ie is hardly detected. That is, it is a nonlinear element having a clear threshold voltage Vth with respect to the emission current Ie. If you use this,
It is possible to apply matrix wiring to the two-dimensionally arranged electron emitting elements, selectively emit electrons from desired elements by simple matrix driving, and irradiate the electrons to the image forming member to form an image.

【0043】画像形成部材である蛍光膜の構成の例を説
明する。図9(A),図9(B)は、蛍光膜を示す模式
図である。蛍光膜56は、モノクロームの場合は蛍光体
のみから構成することができる。カラーの蛍光膜の場合
は、蛍光体の配列によりブラックストライプ(図9
(A))あるいはブラックマトリクス(図9(B))な
どと呼ばれる黒色導電材57と蛍光体58とから構成す
ることができる。ブラックストライプ、ブラックマトリ
クスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要となる三
原色蛍光体の各蛍光体58間の塗り分け部を黒くするこ
とで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜56におけ
る外光反射によるコントラストの低下を抑制することに
ある。ブラックストライプの材料としては、通常用いら
れている黒鉛を主成分とする材料の他、導電性があり、
光の透過及び反射が少ない材料を用いることができる。
An example of the structure of the fluorescent film as an image forming member will be described. FIGS. 9A and 9B are schematic diagrams illustrating a fluorescent film. The fluorescent film 56 can be composed of only a phosphor in the case of monochrome. In the case of a color fluorescent film, black stripes (FIG.
(A)) or a black conductive material 57 called a black matrix (FIG. 9B) and a phosphor 58. The purpose of providing the black stripes and the black matrix is to make the color separation between the phosphors 58 of the necessary three primary color phosphors black in the case of color display so that color mixing and the like become inconspicuous, An object of the present invention is to suppress a decrease in contrast due to light reflection. As a material of the black stripe, in addition to a material mainly containing graphite which is generally used, there is conductivity,
A material with low light transmission and reflection can be used.

【0044】フェースプレート11に蛍光体を塗布する
方法は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法、印刷
法等が採用できる。蛍光膜56の内面側には、通常メタ
ルバックが設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート1
1側へ鏡面反射させることにより輝度を向上させるこ
と、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作
用させること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によ
るダメージから蛍光体を保護すること等である。メタル
バックは、蛍光膜作成後、蛍光膜の内面側表面の平滑化
処理(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、
その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作成
できる。
As a method of applying the phosphor on the face plate 11, a precipitation method, a printing method or the like can be adopted regardless of monochrome or color. Usually, a metal back is provided on the inner surface side of the fluorescent film 56. The purpose of providing a metal back is
The face plate 1 emits light toward the inner surface side of the phosphor emission.
Improve brightness by specular reflection to one side, act as electrode for applying electron beam acceleration voltage, protect phosphor from damage due to collision of negative ions generated in envelope, etc. It is. The metal back performs a smoothing process (usually called “filming”) on the inner surface of the phosphor film after the phosphor film is formed,
Thereafter, it can be formed by depositing Al using vacuum evaporation or the like.

【0045】フェースプレート11には、更に蛍光膜5
6の導電性を高めるため、蛍光膜56の外面側に透明電
極を設けてもよい。
The face plate 11 further includes a fluorescent film 5
A transparent electrode may be provided on the outer surface side of the fluorescent film 56 in order to enhance the conductivity of the phosphor film 6.

【0046】カラーの場合は各色蛍光体と電子放出素子
とを対応させる必要があり、十分な位置合わせが求めら
れる。
In the case of color, it is necessary to make each color phosphor correspond to an electron-emitting device, and sufficient alignment is required.

【0047】上述のような構成を有する本発明により、
薄型の平板型電子線画像形成装置の信頼性を向上させる
ことが可能となった。
According to the present invention having the above configuration,
It has become possible to improve the reliability of a thin flat plate type electron beam image forming apparatus.

【0048】[0048]

【実施例】以下、実施例に基づいて本発明をさらに説明
する。 [実施例1]表面伝導型電子放出素子を、基板を兼ねる
リアプレート上に複数形成し、マトリクス状に配線して
電子源を形成し、これを用いて画像形成装置を作成し
た。装置の構成は図1及び図2に示したものと同様であ
る。以下に図10(A)〜図10(G)を参照して、作
成手順を説明する。 (工程−a)洗浄した青板ガラスの表面に、0.5μm
のSiO2 層をスパッタリングにより形成し、リアプレ
ート1とした。
The present invention will be further described below with reference to examples. [Example 1] A plurality of surface conduction electron-emitting devices were formed on a rear plate also serving as a substrate, wired in a matrix to form an electron source, and an image forming apparatus was prepared using the electron source. The configuration of the device is the same as that shown in FIGS. Hereinafter, the creation procedure will be described with reference to FIGS. 10 (A) to 10 (G). (Step-a) 0.5 μm on the surface of the washed blue plate glass
The SiO 2 layer is formed by sputtering, and the rear plate 1.

【0049】該リアプレート1上にスパッタ成膜法とフ
ェトリソグラフィー法を用いて表面伝導型電子放出素子
の素子電極61と素子電極62を形成する。材質は5n
mのTi、100nmのNiを積層したものである。素
子電極間隔は2μmとした(図10(A))。X方向配
線に沿って素子電極は290μmピッチで720素子分
形成した。 (工程−b)つづいて、Agペーストを所定の形状に印
刷し、焼成することによりY方向配線63を形成した。
該配線は電子源形成領域の外部まで延長され、図1にお
ける電子源駆動用配線3−2となる。該配線の幅は10
0μm、厚さは約10μmである(図10(B))。 (工程−c)次に、PbOを主成分とし、ガラスバイン
ダーを混合したペーストを用い、同じく印刷法により絶
縁層64を形成する。これは上記Y方向配線63と後述
のX方向配線を絶縁するもので、厚さ約20μmとなる
ように形成した。なお、素子電極62の部分には切り欠
き65を設けて、X方向配線と素子電極の接続をとるよ
うにしてある(図10(C))。 (工程−d)つづいて、X方向配線66を上記絶縁層6
4上に形成する(図10(D))。方法はY方向配線の
場合と同じで、配線の幅は300μm、厚さは約10μ
mである。 (工程−e)大気圧支持部材の当接するX方向配線66
上に層間絶縁層67を形成する。工程cと同様に、Pb
Oを主成分とし、ガラスバインダーを混合したペースト
を用い、同じく印刷法により層間絶縁層67を厚さが約
200μmとなるよう10回印刷、焼成を繰り返して形
成した。 (工程−f)つづいて低抵抗導体層68を上記層間絶縁
層67上に形成する(図10(F))。方法はY方向配
線の場合と同じで、幅は100μm、厚さは5回重ねて
印刷することにより100μmとした。 (工程−g)更に、PdO微粒子よりなる導電性膜69
を形成する。有機Pd化合物の溶液を、所定の位置に、
バブルジェット方式のインクジェット装置を用いて、液
滴として付与し、乾燥させた後、大気中で300℃10
分間の加熱処理を行い、PdO微粒子膜とすることによ
り形成した(図10(G))。 (工程−h)低抵抗導体を形成すべき位置のX方向配線
上に、上記層間絶縁層67の形成に用いたのと同じペー
ストを印刷、焼成し、絶縁層14を設け、この上にAu
ペーストを用いて低抵抗導体13および接続端子当接部
15を印刷法により形成する。 (工程−i)支持枠4と上記リアプレート1をフリット
ガラスを用いて接続する。ゲッタ9とゲッタ遮蔽板10
の固定もフリットガラスを用いて同時に行う。容器の内
面となる部分に、カーボン微粒子分散液をスプレーコー
ト、乾燥して帯電防止膜を形成する。形成条件は、帯電
防止膜のシート抵抗値が108 Ω/□程度となるように
する。 (工程−j)セラミックスの大気圧支持部材を作成す
る。ドクターブレード法によりセラミックスプレート作
成用のグリーンシートを形成し、所望の形状となるよう
にシートを成形した後、工程−iで用いたのと同様の方
法でカーボン微粒子分散液をスプレーコート、乾燥して
帯電防止膜を形成する。 (工程−k)大気圧支持部材を、上記低抵抗導体上の所
定の位置に固定する。固定は若干の導電性を有するフリ
ットガラスを用いて行う。 (工程−l)つづいてフェースプレートを作成する。リ
アプレートと同様に、SiO2 層を設けた青板ガラスを
基体として用いる。超音波加工により、排気管接続用の
開口部と低抵抗導体への接続端子導入口および画像形成
部材に高電圧Vaを高圧電源に接続するための高圧導入
端子導入口を形成する。つづいて、印刷により高圧導入
端子接続部をAuにて形成、さらに蛍光膜のブラックス
トライプ、つづいてストライプ状の蛍光体を形成、フィ
ルミング処理を行った後、この上に厚さ約20μmのA
l膜を真空蒸着法により堆積して、メタルバックとし
た。さらにフェースプレートの容器内部となる面に、前
述と同様にカーボン微粒子分散液をスプレーして帯電防
止膜を形成する。こうして形成された膜のうち、上記メ
タルバック上に形成された部分は、入射した電子ビーム
が反射されるのを低減する効果がある。
A device electrode 61 and a device electrode 62 of a surface conduction electron-emitting device are formed on the rear plate 1 by using a sputtering film forming method and a fetolithography method. Material is 5n
It is obtained by laminating m Ti and 100 nm Ni. The element electrode spacing was 2 μm (FIG. 10A). Element electrodes were formed along the X-direction wiring at a pitch of 290 μm for 720 elements. (Step-b) Subsequently, the Y-direction wiring 63 was formed by printing an Ag paste into a predetermined shape and firing it.
The wiring is extended to the outside of the electron source forming region, and becomes the electron source driving wiring 3-2 in FIG. The width of the wiring is 10
The thickness is 0 μm and the thickness is about 10 μm (FIG. 10B). (Step-c) Next, using a paste containing PbO as a main component and a glass binder, an insulating layer 64 is formed by the same printing method. This is to insulate the Y-directional wiring 63 from an X-directional wiring described later, and is formed to have a thickness of about 20 μm. A notch 65 is provided at the element electrode 62 to connect the X-directional wiring to the element electrode (FIG. 10C). (Step-d) Subsequently, the X-direction wiring 66 is connected to the insulating layer 6.
4 (FIG. 10D). The method is the same as that for the Y-direction wiring. The width of the wiring is 300 μm and the thickness is about 10 μm.
m. (Step-e) X-direction wiring 66 in contact with the atmospheric pressure support member
An interlayer insulating layer 67 is formed thereon. As in step c, Pb
Using a paste containing O as a main component and a glass binder, the interlayer insulating layer 67 was formed by repeating printing and firing 10 times to a thickness of about 200 μm by the same printing method. (Step-f) Subsequently, a low-resistance conductor layer 68 is formed on the interlayer insulating layer 67 (FIG. 10F). The method is the same as that for the Y-direction wiring, and the width is set to 100 μm and the thickness is set to 100 μm by printing five times. (Step-g) Further, a conductive film 69 made of PdO fine particles
To form A solution of the organic Pd compound is placed at a predetermined position,
Using a bubble jet type ink jet device, the liquid is applied as droplets and dried, and then dried at 300 ° C.
This was formed by performing a heat treatment for 10 minutes to form a PdO fine particle film (FIG. 10G). (Step-h) The same paste as used for forming the above-mentioned interlayer insulating layer 67 is printed and baked on the X-direction wiring at the position where the low-resistance conductor is to be formed, and the insulating layer 14 is provided.
The low resistance conductor 13 and the connection terminal contact portion 15 are formed by a printing method using a paste. (Step-i) The support frame 4 and the rear plate 1 are connected using frit glass. Getter 9 and getter shielding plate 10
Is simultaneously performed using frit glass. A dispersion of carbon fine particles is spray-coated on the inner surface of the container and dried to form an antistatic film. The forming conditions are such that the sheet resistance value of the antistatic film is about 10 8 Ω / □. (Step-j) A ceramic atmospheric pressure support member is prepared. After forming a green sheet for forming a ceramic plate by a doctor blade method and forming the sheet into a desired shape, a carbon fine particle dispersion is spray-coated and dried by the same method as that used in Step-i. To form an antistatic film. (Step-k) Fix the atmospheric pressure support member at a predetermined position on the low resistance conductor. The fixing is performed using frit glass having some conductivity. (Step-l) Subsequently, a face plate is prepared. As in the case of the rear plate, a blue sheet glass provided with a SiO 2 layer is used as a base. An opening for exhaust pipe connection, a connection terminal introduction port to a low resistance conductor, and a high voltage introduction terminal introduction port for connecting a high voltage Va to a high voltage power supply are formed in the image forming member by ultrasonic processing. Subsequently, a high-voltage introduction terminal connection portion is formed of Au by printing, a black stripe of a fluorescent film is formed, a stripe-shaped phosphor is formed, and a filming process is performed.
1 film was deposited by a vacuum evaporation method to form a metal back. Further, a carbon fine particle dispersion is sprayed on the surface of the face plate which is to be inside the container in the same manner as described above to form an antistatic film. Of the film thus formed, the portion formed on the metal back has an effect of reducing the reflection of the incident electron beam.

【0050】前記リアプレートと接合した支持枠を上記
のフェースプレートとフリットガラスを用いて接合す
る。低抵抗導体への接続端子、高電圧導入端子及び排気
管の接合も同時に行う。上記接続端子、高圧導入端子は
Auを被覆したCuの棒を、アルミナを主成分とする碍
子に貫入したものである。
The support frame joined to the rear plate is joined to the face plate using frit glass. The connection terminal to the low-resistance conductor, the high-voltage introduction terminal, and the exhaust pipe are simultaneously joined. The connection terminal and the high-voltage introduction terminal are obtained by inserting a Cu rod coated with Au into an insulator mainly composed of alumina.

【0051】なお、電子源の各電子放出素子と、フェー
スプレートの蛍光膜の位置が正確に対応するように、注
意深く位置合わせを行う。 (工程−m)上記画像形成装置を、不図示の排気管を介
して真空排気装置に接続し、容器内を排気する。容器内
の圧力が10-4Pa以下となったところで、フォーミン
グ処理を行う。
It should be noted that each electron-emitting device of the electron source is carefully aligned with the position of the fluorescent film on the face plate. (Step-m) The image forming apparatus is connected to a vacuum exhaust device via an exhaust pipe (not shown), and the inside of the container is exhausted. When the pressure in the container becomes 10 −4 Pa or less, a forming process is performed.

【0052】フォーミングは、X方向の各行毎に、X方
向配線に図7(B)に模式的に示すような波高値の漸増
するパルス電圧を印加して行った。パルス間隔T1 は1
0sec.、パルス幅T2 は1msec.とした。な
お、図には示されていないが、フォーミング用のパルス
の間に波高値0.1Vの矩形波パルスを挿入して電流値
を測定して、電子放出素子の抵抗値を同時に測定し、1
素子あたりの抵抗値が1MΩを越えたところで、その行
のフォーミング処理を終了し、次の行の処理に移る。こ
れを繰り返して、すべての行についてフォーミング処理
を完了する。 (工程−n)次に活性化処理を行う。この処理に先立
ち、上記画像形成装置を200℃に保持しながらイオン
ポンプにより排気し、圧力を10-5Pa以下まで下げ
る。つづいてアセトンを真空容器内に導入する。圧力
は、1.3×10-2Paとなるように導入量を調整し
た。つづいて、X方向配線にパルス電圧を印加する。パ
ルス波形は、波高値16Vの矩形波パルスとし、パルス
幅は100μsec.とし1パルス毎に125μsec
間隔でパルスを加えるX方向配線を隣の行に切り替え、
順次方向の各配線にパルスを印加することを繰り返す。
この結果各行には10msec.間隔でパルスが印加さ
れることになる。この処理の結果、各電子放出素子の電
子放出近傍に炭素を主成分とする、堆積膜が形成され、
素子電流Ifが大きくなる。 (工程−o)つづいて、真空容器内を再度排気する。排
気は、画像形成装置を200℃に保持しながら、イオン
ポンプを用いて10時間継続した。この工程は真空容器
内に残留した有機物質分子を除去し、上記炭素を主成分
とする堆積膜のこれ以上の堆積を防いで、電子放出特性
を安定させるためのものである。 (工程−p)画像形成装置を室温に戻した後、工程−n
で行ったのと同様の方法で、X方向配線にパルス電圧を
印加する。さらに上記の高電圧導入端子を通じて、画像
形成部材に4kVの電圧を印加すると蛍光膜が発光す
る。なお、このときグランド接続端子をグランドに接続
する。目視により、発光しない部分あるいは非常に暗い
部分がないことを確認し、X方向配線及び画像形成部材
への電圧の印加をやめ、排気管を加熱溶着して封止す
る。つづいて、高周波加熱によりゲッタ処理を行い、画
像形成装置を完成する。
The forming was performed by applying a pulse voltage having a gradually increasing peak value as schematically shown in FIG. 7B to the X-direction wiring for each row in the X-direction. The pulse interval T 1 is 1
0 sec. , The pulse width T 2 is 1 msec. And Although not shown in the figure, a rectangular wave pulse having a peak value of 0.1 V was inserted between the forming pulses, the current value was measured, and the resistance value of the electron-emitting device was simultaneously measured.
When the resistance value per element exceeds 1 MΩ, the forming process of that row is ended, and the process moves to the next row. By repeating this, the forming process is completed for all the rows. (Step-n) Next, an activation process is performed. Prior to this processing, the image forming apparatus is evacuated by an ion pump while maintaining the image forming apparatus at 200 ° C., and the pressure is reduced to 10 −5 Pa or less. Subsequently, acetone is introduced into the vacuum vessel. The introduction amount was adjusted so that the pressure was 1.3 × 10 −2 Pa. Subsequently, a pulse voltage is applied to the X-direction wiring. The pulse waveform is a rectangular pulse having a peak value of 16 V, and the pulse width is 100 μsec. 125 μsec per pulse
Switch the X-direction wiring that applies pulses at intervals to the next row,
Applying a pulse to each wiring in the sequential direction is repeated.
As a result, 10 msec. Pulses will be applied at intervals. As a result of this processing, a deposited film containing carbon as a main component is formed near the electron emission of each electron-emitting device,
The element current If increases. (Step-o) Subsequently, the inside of the vacuum vessel is evacuated again. The evacuation was continued for 10 hours using an ion pump while maintaining the image forming apparatus at 200 ° C. This step is for removing organic substance molecules remaining in the vacuum vessel, preventing further deposition of the deposited film containing carbon as a main component, and stabilizing electron emission characteristics. (Step-p) After returning the image forming apparatus to room temperature, Step-n
A pulse voltage is applied to the X-direction wiring in the same manner as described above. Further, when a voltage of 4 kV is applied to the image forming member through the high voltage introducing terminal, the fluorescent film emits light. At this time, the ground connection terminal is connected to the ground. Visually, it is confirmed that there is no portion that does not emit light or a very dark portion, the application of voltage to the X-direction wiring and the image forming member is stopped, and the exhaust pipe is heated and sealed by sealing. Subsequently, getter processing is performed by high-frequency heating to complete the image forming apparatus.

【0053】工程eにおいて絶縁層の厚さは前述の絶縁
耐圧、およびインピーダンスから決定した。
In step e, the thickness of the insulating layer was determined from the above-mentioned dielectric strength and impedance.

【0054】印刷ガラスの絶縁耐圧は20kV/mmで
あり、4kVまで画像形成部材に電子加速電圧をかける
ことを考え、X方向配線と、低抵抗導体の間の絶縁層の
厚さは200μmとした。誘電率は約6×10-11 F/
mであり、工程fで形成した低抵抗導体の面積を100
μm×250mmとしたので、この間の容量は30pF
である。放電の際に観測される電流パルスは、nse
c.オーダーの短いものである場合もあることから、放
電発生時に低抵抗導体と配線の間にかかる電圧の周波数
成分は1GHz程度までを考慮する必要があると考えら
れる。この成分に対する容量によるインピーダンスは約
22Ωである。低抵抗導体、接続端子、低インピーダン
ス流路および放電管を通じてグランドに接続する電流流
路の抵抗は、放電管の抵抗は事実上無視できるものと見
なして、約2Ωであったため、前述した条件を満足する
ものであった。 [比較例]低抵抗導体を有せず、これに接続される端
子、配線などがないこと以外は、実施例1と同様にして
画像形成装置を作成した。
The withstand voltage of the printed glass was 20 kV / mm, and the thickness of the insulating layer between the X-directional wiring and the low-resistance conductor was set to 200 μm in consideration of applying an electron accelerating voltage to the image forming member up to 4 kV. . Dielectric constant is about 6 × 10 -11 F /
m, and the area of the low resistance conductor formed in step f is 100
μm × 250 mm, the capacitance during this period is 30 pF
It is. The current pulse observed during discharge is nse
c. Since it may be of a short order, it is considered that the frequency component of the voltage applied between the low-resistance conductor and the wiring at the time of the occurrence of discharge needs to take into account up to about 1 GHz. The impedance due to capacitance for this component is about 22Ω. The resistance of the low-resistance conductor, the connection terminal, the low-impedance flow path, and the current flow path connected to the ground through the discharge tube was about 2Ω, assuming that the resistance of the discharge tube was practically negligible. I was satisfied. Comparative Example An image forming apparatus was prepared in the same manner as in Example 1, except that the low-resistance conductor was not provided, and there was no terminal, wiring, or the like connected thereto.

【0055】上記実施例1及び比較例の画像表示装置
を、上記工程−nで行ったのと同様に電圧を印加して、
画像形成部材を発光させる。
A voltage was applied to each of the image display devices of Example 1 and Comparative Example in the same manner as in the above-described Step-n.
The image forming member emits light.

【0056】測定は、図11(A)に模式的に示すよう
に、高圧電源71と、高圧導入端子72の間に電流計7
3を置き、電流値を検出して放電の発生を検知した。7
4はレコーダ、75は画像表示装置である。低抵抗導体
から接続端子18を介して接続された配線19は放電管
20を介してグランドに接続され、同時に同期電源装置
22にも接続されている。放電管の動作電圧は18Vと
した。電流計73に流れる電流は通常は小さいもので、
これはほとんどが画像形成装置75の真空容器内面及び
大気圧支持部材の帯電防止膜を通して流れる電流である
と思われるが、図11(B)に模式的に示すように、時
折矢印で示した様なピークが現れる。これは真空容器内
で放電が発生したことを示すものである。このように電
流値を記録することにより、放電の発生回数を知ること
ができる。
As shown schematically in FIG. 11A, the measurement was carried out between a high-voltage power supply 71 and a high-voltage introduction terminal 72.
3 was placed, and the occurrence of discharge was detected by detecting the current value. 7
4 is a recorder and 75 is an image display device. The wiring 19 connected from the low-resistance conductor via the connection terminal 18 is connected to the ground via the discharge tube 20 and is also connected to the synchronous power supply 22 at the same time. The operating voltage of the discharge tube was 18V. The current flowing through the ammeter 73 is usually small,
This is thought to be mostly due to the current flowing through the inner surface of the vacuum vessel of the image forming apparatus 75 and the antistatic film of the atmospheric pressure support member, but as occasionally indicated by arrows as schematically shown in FIG. Peak appears. This indicates that a discharge has occurred in the vacuum vessel. By recording the current value in this manner, the number of times of occurrence of discharge can be known.

【0057】上記の画像形成装置について10時間観測
を続けたところ、実施例1及び比較例の画像形成装置は
ともに4回放電を起こした。比較例の装置では、画面の
所々に欠陥が生じ、放電電流が配線に流入して素子を破
壊したと思われる結果となったが、実施例1の装置で
は、このような欠陥は発生しなかった。 [実施例2]図3に模式的に示す構造により電子源を作
成した。大気圧支持部材は、実施例1と同様にして作成
した。一つの大気圧支持部材の(X方向の)長さは15
mm、支持部材間の間隔も15mmとした。
Observation of the above-mentioned image forming apparatus was continued for 10 hours. As a result, both of the image forming apparatuses of Example 1 and Comparative Example generated four discharges. In the device of the comparative example, a defect occurred at various parts of the screen, and the discharge current flowed into the wiring, and it was considered that the device was destroyed. However, in the device of the first embodiment, such a defect did not occur. Was. [Example 2] An electron source was formed according to the structure schematically shown in FIG. The atmospheric pressure support member was made in the same manner as in Example 1. The length (in the X direction) of one atmospheric pressure support member is 15
mm and the distance between the support members was also 15 mm.

【0058】X方向配線は3−1、3−3の両側に引き
出すことにより、配線抵抗の影響を少なくするものであ
る。低抵抗導体13についても同様に両側から取り出す
ようにした。このため放電時に低インピーダンス流路と
放電管を通してグランドに接続する抵抗は約1Ωとなっ
た。
The X-direction wiring is drawn to both sides of 3-1 and 3-3 to reduce the influence of wiring resistance. Similarly, the low resistance conductor 13 was taken out from both sides. For this reason, the resistance connected to the ground through the low impedance flow path and the discharge tube at the time of discharge was about 1Ω.

【0059】これらの点を除き、他は実施例1と同様の
工程により作成した。
Except for these points, the other steps were the same as those in Example 1.

【0060】本実施例についても上述の方法により評価
したところ、実施例1とほぼ同様の効果が得られた。 [実施例3]該低抵抗導体と配線3−1の間に形成され
る絶縁層材料をポリイミドにより形成した以外は、実施
例1と同様の構成とした。ただし絶縁層の厚さは100
μmとした。
When the present embodiment was evaluated by the above-described method, almost the same effects as those of the first embodiment were obtained. Example 3 The same configuration as in Example 1 was adopted except that the insulating layer material formed between the low-resistance conductor and the wiring 3-1 was formed of polyimide. However, the thickness of the insulating layer is 100
μm.

【0061】形成は印刷により5回印刷、焼成を繰り返
した。
The formation and printing were repeated five times by printing.

【0062】ポリイミド樹脂の絶縁耐圧は100kV/
mmであり、10kVまで画像形成部材に電子加速電圧
をかけることを考えると、厚さは100μmとした。誘
電率は約3×10-11 F/mであり、低抵抗導体の面積
100μm×250mmから周波数1GHz程度の成分
に対するインピーダンスは約21Ωとなり、低抵抗導体
層および放電管を通じてグランドに接続する電流流路の
抵抗が2Ωであったため、前述した条件を満足するもの
であった。
The dielectric strength of the polyimide resin is 100 kV /
In consideration of applying an electron acceleration voltage to the image forming member up to 10 kV, the thickness was set to 100 μm. The dielectric constant is about 3 × 10 −11 F / m, the impedance for a component having a frequency of about 1 GHz from the area of the low-resistance conductor of 100 μm × 250 mm is about 21 Ω, and the current flowing to the ground through the low-resistance conductor layer and the discharge tube. Since the resistance of the road was 2Ω, the above condition was satisfied.

【0063】評価は上述の方法と同様に行ったところ、
実施例1と同様、放電による欠陥の発生は生じなかっ
た。
The evaluation was performed in the same manner as described above.
As in Example 1, generation of defects due to discharge did not occur.

【0064】更に電子源から放出された電子軌道が上記
低抵抗導体層の電位により受ける影響も減少した。
Further, the effect of the electron trajectory emitted from the electron source on the potential of the low-resistance conductor layer was reduced.

【0065】なお、上記実施例では、電子源を構成する
電子放出素子として、表面伝導型電子放出素子を用いた
場合を示したが、本発明の構成がこれに限られるもので
ないことは当然で、電界放出型電子放出素子、半導体電
子放出素子その他各種の電子放出素子を用いた電子源を
使用した場合でも同様に適用できる。
In the above embodiment, the case where the surface conduction electron-emitting device is used as the electron-emitting device constituting the electron source has been described. However, it goes without saying that the structure of the present invention is not limited to this. The same applies to the case where an electron source using a field emission type electron emitting device, a semiconductor electron emitting device or other various electron emitting devices is used.

【0066】また、実施例においては、画像形成装置の
リアプレートが電子源の基板を兼ねているが、リアプレ
ートと基板を別にして、電子源を作成した後に基板をリ
アプレートに固定しても良い。
In the embodiment, the rear plate of the image forming apparatus also serves as the substrate of the electron source. However, the rear plate is separated from the substrate, and after the electron source is formed, the substrate is fixed to the rear plate. Is also good.

【0067】その他、本発明の技術的思想の範囲内で、
実施例で示した各種部材を、適宜変更しても良い。
In addition, within the scope of the technical idea of the present invention,
Various members shown in the embodiments may be appropriately changed.

【0068】[0068]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の構成をと
ることにより、画像形成装置の真空容器内で放電が発生
しても、電子放出素子の劣化、破壊などを生じないよう
にできる。これにより、信頼性の高い、薄い平板型画像
形成装置を実現できる。
As described above, by adopting the structure of the present invention, even if a discharge is generated in the vacuum vessel of the image forming apparatus, it is possible to prevent the electron-emitting device from being deteriorated or destroyed. This makes it possible to realize a thin and flat type image forming apparatus with high reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の画像形成装置の構成の一例を模式的に
示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view schematically illustrating an example of the configuration of an image forming apparatus according to the present invention.

【図2】図1中のA−Aに沿った断面の構成を模式的に
示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a cross-section along AA in FIG.

【図3】本発明の画像形成装置の構成の別の一例を模式
的に示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view schematically showing another example of the configuration of the image forming apparatus of the present invention.

【図4】従来の画像形成装置における放電の状況を説明
するための等価回路図である。
FIG. 4 is an equivalent circuit diagram for explaining a state of discharge in a conventional image forming apparatus.

【図5】本発明の画像形成装置における放電の状況を説
明するための等価回路図である。
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram for explaining a state of discharge in the image forming apparatus of the present invention.

【図6】(A),(B)は、表面伝導型電子放出素子の
構成を模式的に示す平面図及び断面図である。
FIGS. 6A and 6B are a plan view and a cross-sectional view schematically showing a configuration of a surface conduction electron-emitting device.

【図7】(A),(B)は、表面伝導型電子放出素子の
製造の際フォーミングに用いるパルス電圧の波形を示す
図である。
FIGS. 7A and 7B are diagrams showing waveforms of pulse voltages used for forming when manufacturing a surface conduction electron-emitting device. FIGS.

【図8】表面伝導型電子放出素子の電気的な特性を説明
するための図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining electrical characteristics of the surface conduction electron-emitting device.

【図9】(A),(B)は、画像表示部材である蛍光膜
の構造を説明する模式図である。
FIGS. 9A and 9B are schematic diagrams illustrating the structure of a fluorescent film serving as an image display member.

【図10】(A)〜(G)は、実施例1の製造工程の一
部を説明するための図である。
FIGS. 10A to 10G are diagrams for explaining a part of the manufacturing process of the first embodiment.

【図11】(A)は、本発明の評価に用いた装置のブロ
ック、(B)は、図11(A)の装置により、放電が生
じたことを検知する状況を模式的に示したものである。
11A is a block diagram of a device used in the evaluation of the present invention, and FIG. 11B is a diagram schematically showing a state in which the occurrence of discharge is detected by the device of FIG. 11A. It is.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リアプレート 2 電子源形成領域 3−1,3−3 X方向配線 3−2 Y方向配線 4 支持枠 5 大気圧支持部材 9 ゲッタ 10 ゲッタ遮蔽板 11 フェースプレート 12 画像形成部材 13 低抵抗導体 14 絶縁層 15 接続端子当接部 16 ロッド 17 絶縁碍子 18 接続端子 19 低インピーダンス電流流路 20 非線形素子 21 電子源駆動回路 22 同期電源装置 23 信号線 31 画像形成部材に対応する点 32a 大気圧支持部材の抵抗 32b 絶縁層の抵抗 32c 絶縁層の容量 33 大気圧支持部材と配線の接触部 35 絶縁層と配線の接触部 36 配線抵抗 37 電子放出素子 38,39 素子電極 40 配線抵抗 41 低抵抗導体に対応する点 42 低インピーダンス電流流路の抵抗 51 基板 52,53 素子電極 54 導電性膜 55 電子放出部 56 蛍光膜 57 黒色導電材 58 蛍光体 61,62 素子電極 63 Y方向配線 64 層間絶縁層 65 切り欠き 66 X方向配線 67 絶縁層 68 低抵抗導体 69 導電性膜 71 高圧電源 72 高圧導入端子 73 電流計 74 レコーダ 75 画像形成装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Rear plate 2 Electron source formation area 3-1 and 3-3 X direction wiring 3-2 Y direction wiring 4 Support frame 5 Atmospheric pressure support member 9 Getter 10 Getter shielding plate 11 Face plate 12 Image forming member 13 Low resistance conductor 14 Insulation layer 15 Connection terminal contact portion 16 Rod 17 Insulator 18 Connection terminal 19 Low impedance current flow path 20 Nonlinear element 21 Electron source drive circuit 22 Synchronous power supply 23 Signal line 31 Point corresponding to image forming member 32a Atmospheric pressure support member 32b Resistance of insulating layer 32c Capacitance of insulating layer 33 Contact part between atmospheric pressure support member and wiring 35 Contact part between insulating layer and wiring 36 Wiring resistance 37 Electron emitting element 38, 39 Element electrode 40 Wiring resistance 41 Low resistance conductor Corresponding point 42 Resistance of low impedance current flow path 51 Substrate 52, 53 Device electrode 54 Conductive film 5 Electron emission part 56 Fluorescent film 57 Black conductive material 58 Phosphor 61, 62 Device electrode 63 Y direction wiring 64 Interlayer insulating layer 65 Notch 66 X direction wiring 67 Insulating layer 68 Low resistance conductor 69 Conductive film 71 High voltage power supply 72 High voltage Introductory terminal 73 Ammeter 74 Recorder 75 Image forming device

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対向する一組の平面を有する真空容器内
に、該平面の一方に配線及び該配線に接続した電子放出
素子を複数配置して形成された電子源と、該電子源と対
向して他方の平面に配置された、前記電子源より放出さ
れた電子ビームの照射により画像を形成する画像形成部
材と、前記一組の平面の間に配置された導電性を有する
大気圧支持部材とを有し、前記電子源と前記電極との間
に電子を加速するための電圧を印加してなる画像形成装
置において、 前記大気圧支持部材は前記電子源を構成する少なくとも
一部の配線の上に絶縁層を介して形成された低抵抗導体
と前記画像形成部材とに接続され、 前記低抵抗導体は前記真空容器の通過孔を貫通する接続
端子を介して真空容器外部の低インピーダンスの電流流
路に接続され、 該低インピーダンスの電流流路は、非線形素子を介して
グランドに接続され、 前記低抵抗導体は、その下に設置される前記配線に通常
駆動において印加される電位と同電位となるよう、電子
源駆動電源と同期して電圧を印加する同期電源装置に接
続されていることを特徴とする画像形成装置。
1. An electron source formed by arranging a plurality of wirings and electron-emitting devices connected to the wiring on one of the planes in a vacuum vessel having a pair of planes facing each other. An image forming member disposed on the other plane to form an image by irradiating the electron beam emitted from the electron source; and a conductive atmospheric pressure supporting member disposed between the pair of planes. An image forming apparatus comprising: a voltage for accelerating electrons between the electron source and the electrode, wherein the atmospheric pressure support member includes at least a part of a wire constituting the electron source. A low-resistance conductor formed above via an insulating layer and the image forming member, wherein the low-resistance conductor has a low-impedance current outside the vacuum vessel through a connection terminal that passes through a through hole of the vacuum vessel. Connected to the flow path, The current flow path of the impedance is connected to the ground via a non-linear element, and the low-resistance conductor has an electron source driving power source so as to have the same potential as the potential applied to the wiring provided thereunder in normal driving. An image forming apparatus connected to a synchronous power supply that applies a voltage in synchronization with the image forming apparatus.
【請求項2】 前記非線形素子の閾電圧値が、前記低抵
抗導体の下に前記絶縁層を介して配置されている配線に
通常駆動により印加される電圧よりも高い電圧に設定さ
れていることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装
置。
2. A threshold voltage of the non-linear element is set to a voltage higher than a voltage applied by a normal drive to a wiring disposed under the low-resistance conductor via the insulating layer. The image forming apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記非線形素子にかかる電圧が閾値を越
えたときの前記低インピーダンスの電流流路を介した前
記低抵抗導体とグランドとの間のインピーダンスZと、
該低インピーダンスの電流流路以外の電流流路を介した
インピーダンスZ′とが、 Z/Z′≦0.1 を満たすことを特徴とする請求項1または請求項2に記
載の画像形成装置。
3. An impedance Z between the low resistance conductor and ground via the low impedance current flow path when a voltage applied to the nonlinear element exceeds a threshold value;
The image forming apparatus according to claim 1, wherein an impedance Z ′ via a current flow path other than the low impedance current flow path satisfies Z / Z ′ ≦ 0.1. 4.
【請求項4】 前記配線と前記低抵抗導体との間の前記
絶縁層の厚さをdとし、該絶縁層の材質の絶縁破壊電界
をEpとしたとき、前記電子を加速するための電圧Va
との関係が、Va/d<Epを満たすことを特徴とする
請求項1に記載の画像形成装置。
4. A voltage Va for accelerating the electrons, where d is the thickness of the insulating layer between the wiring and the low-resistance conductor, and Ep is the dielectric breakdown electric field of the material of the insulating layer.
2. The image forming apparatus according to claim 1, wherein the relationship with Va satisfies Va / d <Ep.
【請求項5】 前記絶縁層がポリイミド樹脂で形成され
ることを特徴とする請求項1〜4のいずれかの請求項に
記載の画像形成装置。
5. The image forming apparatus according to claim 1, wherein said insulating layer is formed of a polyimide resin.
【請求項6】 前記真空容器の通過孔は真空容器の上面
または下面に設けられていることを特徴とする請求項1
〜5のいずれかの請求項に記載の画像形成装置。
6. The vacuum vessel according to claim 1, wherein a passage hole of the vacuum vessel is provided on an upper surface or a lower surface of the vacuum container.
The image forming apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein
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WO2006064759A1 (en) * 2004-12-15 2006-06-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Image display

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