JPH10267970A - High frequency wave detector, transmitting power controller and method for installing high frequency wave detector - Google Patents

High frequency wave detector, transmitting power controller and method for installing high frequency wave detector

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JPH10267970A
JPH10267970A JP7408697A JP7408697A JPH10267970A JP H10267970 A JPH10267970 A JP H10267970A JP 7408697 A JP7408697 A JP 7408697A JP 7408697 A JP7408697 A JP 7408697A JP H10267970 A JPH10267970 A JP H10267970A
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frequency detection
diode
frequency
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To control a transmitting power precisely in the wide range even at a low temperature by a method wherein a heater and a temperature sensor are incorporated in a wave detector, and the heater is controlled based on a detection temperature to hold a wave detecting diode at a specific temperature. SOLUTION: A temperature of a wave detecting diode 42 is detected by a temperature sensor 6, and a temperature detection signal 44 is supplied to a temperature control circuit 8. In the control circuit 8, a target temperature is set higher than a use temperature of a transmitter to which a transmission power controller has been previously mounted. When a detection temperature indicated by the temperature detection signal 44 is lower than a target temperature, the control circuit 8 further controls a heater 7 to heat by raising a heater control voltage 45, and when higher than a target temperature, the control circuit 8 drops heat generation of the heater 7 by dropping the heater control voltage 45, and holds constant a temperature of a wave detecting diode 42. Thereby, it is possible to widen the lowest limit of an input power range of a wave detector 4, and to control precisely a transmission power in the wide range.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロ波帯の高
周波検波装置であって温度補償機能を有する高周波検波
装置、および、その高周波検波装置を用いた送信電力制
御装置、ならびに、その高周波検波装置を導波管に装着
するための高周波検波装置の設置方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-frequency microwave detecting device having a temperature compensation function, a transmission power control device using the high-frequency detecting device, and a high-frequency detecting device. The present invention relates to a method of installing a high-frequency detection device for mounting the antenna on a waveguide.

【0001】[0001]

【従来の技術】図8は、高周波検波回路で用いられる一
般的な検波ダイオードの入力電圧対検波出力電圧の温度
特性を示す特性図である。図に示すように、低温下で
は、入力電力が小さいときに極端に検波出力電圧が下が
る。従って、低温下で微小高周波電力信号を検波する場
合には、高周波検波回路から正確な検波出力が得られ
ず、高周波検波回路が適用される制御装置の動作が不安
定になってしまう。そこで、温度変化に起因する検波ダ
イオードの検波出力特性の変化を補償するために種々の
提案がなされている。
2. Description of the Related Art FIG. 8 is a characteristic diagram showing a temperature characteristic of an input voltage to a detection output voltage of a general detection diode used in a high-frequency detection circuit. As shown in the figure, at low temperatures, when the input power is small, the detection output voltage drops extremely. Therefore, when detecting a minute high-frequency power signal at a low temperature, an accurate detection output cannot be obtained from the high-frequency detection circuit, and the operation of the control device to which the high-frequency detection circuit is applied becomes unstable. Therefore, various proposals have been made to compensate for a change in the detection output characteristic of the detection diode due to a temperature change.

【0002】図9は特開平3−62740号公報に示さ
れた従来の高周波検波回路が適用された送信電力制御装
置の構成を示すブロック図である。図に示すように、入
力信号は、電力増幅回路20において電力増幅され、方
向性結合器30を介して出力される。方向性結合器30
の出力の一部は、検波用ダイオード42を有する検波回
路40で検波される。このとき、ポジスタ抵抗器90a
と分圧抵抗器90bとを有する温度補償回路90は、検
波用ダイオード42に供給される電圧を温度に応じて変
化させる。そして、制御回路5Aは、比較回路50の出
力に応じた制御信号を電力増幅回路20に与える。
FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a transmission power control device to which a conventional high-frequency detection circuit disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-62740 is applied. As shown in the figure, an input signal is power-amplified in a power amplifier circuit 20 and output via a directional coupler 30. Directional coupler 30
Is detected by a detection circuit 40 having a detection diode 42. At this time, the posistor resistor 90a
A temperature compensating circuit 90 having a voltage dividing resistor 90b and a voltage dividing resistor 90b changes the voltage supplied to the detection diode 42 according to the temperature. Then, the control circuit 5A supplies a control signal corresponding to the output of the comparison circuit 50 to the power amplification circuit 20.

【0003】次に、図9に示された回路の動作を具体的
に説明する。
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 9 will be specifically described.

【0004】方向性結合器30は、電力増幅回路20の
出力の一部を抽出し、検波回路40に与える。検波回路
40における検波用ダイオード42の検波出力電圧は温
度に依存し、温度が低下すると検波用ダイオード42の
動作点電流が高電圧側に移動する。従って、図8に示さ
れたように、そのままでは、温度低下とともに検波回路
40の出力電圧が低下する。そこで、ポジスタ抵抗器9
0aを有する温度補償回路90が設けられている。ポジ
スタ抵抗器90aは温度変動に伴って抵抗値が変化する
ので、分圧抵抗器90bによって与えられる検波用ダイ
オード42への供給電圧も温度変動に伴って変化する。
ここで、ポジスタ抵抗器90aとして、温度が変動して
も動作点電流が変化しないような電圧を検波用ダイオー
ド42に与えることができる温度−抵抗特性を有するも
のが用いられる。比較回路50は、温度に依存しない検
波出力と基準電圧とを入力し、それらの差に応じた電圧
を出力する。制御回路5Aは、比較回路50の出力電圧
が0になるように増幅率を変えることを指示する信号
を、制御信号として電力増幅回路20に与える。電力増
幅回路20は、制御信号による指示に応じて増幅率を変
える。この結果、電力増幅回路20の出力電力は、基準
電圧に応じて決められる一定値になるように制御され
る。
[0004] The directional coupler 30 extracts a part of the output of the power amplifier circuit 20 and supplies it to a detection circuit 40. The detection output voltage of the detection diode 42 in the detection circuit 40 depends on the temperature. When the temperature decreases, the operating point current of the detection diode 42 moves to a higher voltage side. Therefore, as shown in FIG. 8, the output voltage of the detection circuit 40 decreases as the temperature decreases as it is. Therefore, the posistor resistor 9
A temperature compensation circuit 90 having 0a is provided. Since the resistance value of the posistor resistor 90a changes with temperature fluctuation, the supply voltage to the detection diode 42 provided by the voltage-dividing resistor 90b also changes with temperature fluctuation.
Here, as the posistor resistor 90a, a resistor having a temperature-resistance characteristic capable of supplying a voltage that does not change the operating point current to the detection diode 42 even when the temperature fluctuates is used. The comparison circuit 50 receives the detection output independent of the temperature and the reference voltage, and outputs a voltage corresponding to the difference therebetween. The control circuit 5A supplies a signal instructing to change the amplification factor so that the output voltage of the comparison circuit 50 becomes 0 to the power amplification circuit 20 as a control signal. The power amplifying circuit 20 changes the amplification factor according to an instruction from the control signal. As a result, the output power of the power amplifying circuit 20 is controlled to have a constant value determined according to the reference voltage.

【0005】図10は、特開平4−196622号公報
に開示された従来の他の構成の高周波検波回路を有する
送信電力制御装置の構成を示すブロック図である。この
例では、温度補償回路として、検波回路40の検波出力
を対数変換する対数変換器90が用いられている。
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a transmission power control apparatus having another conventional high-frequency detection circuit disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-196622. In this example, a logarithmic converter 90 that performs logarithmic conversion of the detection output of the detection circuit 40 is used as a temperature compensation circuit.

【0006】次に、図10に示された回路の動作を具体
的に説明する。
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 10 will be specifically described.

【0007】方向性結合器30は、電力増幅回路20の
出力の一部を抽出し、検波回路40に与える。検波用ダ
イオード42の検波出力電圧は温度に依存し、温度は指
数関数的に検波出力電圧に利いてくる。そこで、検波出
力電圧を対数変換器90に通し、対数変換器90におけ
る定数を適切に選べば、やはり、温度に依存しない出力
が得られる。比較回路50は、温度に依存しない検波出
力と基準電圧とを入力し、それらの差に応じた電圧を出
力する。制御回路5Aは、比較回路50の出力電圧が0
になるように増幅率を変えることを指示する信号を、制
御信号として電力増幅回路20に与える。電力増幅回路
20は、制御信号による指示に応じて増幅率を変える。
この結果、電力増幅回路20の出力電力は、基準電圧に
応じて決められる一定値になるように制御される。
[0007] The directional coupler 30 extracts a part of the output of the power amplifier circuit 20 and supplies it to the detection circuit 40. The detection output voltage of the detection diode 42 depends on the temperature, and the temperature exponentially depends on the detection output voltage. Therefore, if the detection output voltage is passed through the logarithmic converter 90 and the constant in the logarithmic converter 90 is appropriately selected, an output independent of temperature can be obtained. The comparison circuit 50 receives the detection output independent of the temperature and the reference voltage, and outputs a voltage corresponding to the difference therebetween. The control circuit 5A determines that the output voltage of the comparison circuit 50 is zero.
To the power amplification circuit 20 as a control signal. The power amplifying circuit 20 changes the amplification factor according to an instruction from the control signal.
As a result, the output power of the power amplifying circuit 20 is controlled to have a constant value determined according to the reference voltage.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、温度補償回路
90において用いられるポジスタ抵抗90a等の特性は
部品の規格内ばらつきに起因して一定ではない場合があ
る。さらに、所望の検波用ダイオード42の補償後特性
が得られるようなポジスタ抵抗90a等が入手できない
場合もある。そのような場合には、低温下で高周波検波
回路の後段に設けられる比較回路50等に供給される信
号を正確なものとすることができない。また、温度補償
回路の一例である対数変換器91において一般に使用さ
れる演算増幅器では、検波出力電圧が数mVのオーダー
になった場合に、入力オフセット電圧や温度ドリフトを
無視できなくなる。従って、検波出力電圧が低い場合に
は、高周波検波回路が適用される制御装置の動作が不安
定になる。例えば、送信電力制御装置における送信出力
電圧をよい精度で制御することが困難になり、広い範囲
の出力電力制御を行うことが困難になる。
However, the characteristics of the posistor resistor 90a and the like used in the temperature compensating circuit 90 may not be constant due to variations within the specifications of components. Further, there is a case where a posistor resistor 90a or the like that can obtain desired characteristics after compensation of the detection diode 42 cannot be obtained. In such a case, the signal supplied to the comparison circuit 50 provided at the subsequent stage of the high-frequency detection circuit at a low temperature cannot be made accurate. Further, in the operational amplifier generally used in the logarithmic converter 91 as an example of the temperature compensation circuit, when the detection output voltage is on the order of several mV, the input offset voltage and the temperature drift cannot be ignored. Therefore, when the detection output voltage is low, the operation of the control device to which the high-frequency detection circuit is applied becomes unstable. For example, it becomes difficult to control the transmission output voltage in the transmission power control device with good accuracy, and it becomes difficult to perform a wide range of output power control.

【0009】そこで、本発明は、温度補償回路の構成素
子の特性や特性ばらつきに影響されにくく、低温下でも
ダイナミックレンジの広い検波出力を提供できる高周波
検波装置、およびその高周波検波装置を用いた送信電力
制御装置、ならびにその高周波検波装置を導波管に装着
するための設置方法を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention provides a high-frequency detector which is hardly affected by the characteristics and characteristic variations of the components of the temperature compensation circuit and can provide a wide dynamic range detection output even at a low temperature, and a transmission using the high-frequency detector. An object of the present invention is to provide a power control device and an installation method for mounting the high-frequency detection device on a waveguide.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明によ
る高周波検波装置は、高周波信号を検波する検波手段
と、検波手段を加熱する加熱手段と、検波手段の温度を
検知する温度検知手段と、温度検知手段の出力にもとづ
いて検波手段の温度が所定値に保たれるように加熱手段
を制御する温度制御手段とを備えたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a high-frequency detecting device for detecting a high-frequency signal, a heating unit for heating the detecting unit, and a temperature detecting unit for detecting a temperature of the detecting unit. And temperature control means for controlling the heating means so that the temperature of the detection means is maintained at a predetermined value based on the output of the temperature detection means.

【0011】請求項2記載の発明による高周波検波装置
は、検波手段、加熱手段および温度検知手段が一体形成
されているものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a high-frequency detection device in which a detection means, a heating means and a temperature detection means are integrally formed.

【0012】請求項3記載の発明による高周波検波装置
は、検波手段が高周波検波用ダイオードであるものであ
る。
According to a third aspect of the present invention, the high frequency detecting device is a high frequency detecting diode.

【0013】請求項4記載の発明による高周波検波装置
は、加熱手段が印加電圧に応じて発熱する発熱素子を含
み、温度検知手段が検出温度に応じた電圧を出力する温
度検出素子を含み、温度制御手段が、温度検出素子から
の電圧と所定温度値に応じた基準電圧との差にもとづい
て発熱素子に印加される電圧を制御する温度制御回路を
備えたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a high-frequency detection device, wherein the heating means includes a heating element which generates heat according to an applied voltage, and the temperature detection means includes a temperature detection element which outputs a voltage corresponding to a detected temperature. The control means includes a temperature control circuit for controlling a voltage applied to the heating element based on a difference between a voltage from the temperature detection element and a reference voltage corresponding to a predetermined temperature value.

【0014】請求項5記載の発明による高周波検波装置
は、温度制御回路が、温度検出素子からの電圧と基準電
圧とを比較する比較器と、比較器の出力に応じたカウン
ト値を出力するアップダウンカウンタと、アップダウン
カウンタの出力値をアナログ値に変換して発熱素子に供
給するD−A変換器とを備えたものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the high frequency detecting apparatus, the temperature control circuit compares the voltage from the temperature detecting element with the reference voltage, and outputs a count value corresponding to the output of the comparator. It is provided with a down counter and a DA converter which converts an output value of the up / down counter into an analog value and supplies the analog value to the heating element.

【0015】請求項6記載の発明による高周波検波装置
は、温度検出素子、検波手段および発熱素子がそれぞれ
近接して熱伝導率の高い基板に形成されているものであ
る。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a high-frequency detection device in which a temperature detecting element, a detecting means, and a heating element are formed close to each other on a substrate having high thermal conductivity.

【0016】請求項7記載の発明による高周波検波装置
は、温度検出素子、検波手段および発熱素子が形成され
た基板が、検波対象信号を導出する導波管に、基板と基
板以外の部分との間の高い熱抵抗状態を維持しつつ装着
されるものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a high-frequency detecting device, wherein the substrate on which the temperature detecting element, the detecting means, and the heating element are formed comprises a waveguide for extracting a signal to be detected, and It is mounted while maintaining a high thermal resistance state between them.

【0017】請求項8記載の発明による送信電力制御装
置は、入力信号を制御信号に応じて増幅する可変増幅手
段と、可変増幅手段の出力を検波する検波手段の出力が
一定になるように可変増幅手段に制御信号を与える自動
電力制御手段とを備えたものであって、上記の各高周波
検波装置を備えたものである。
According to the present invention, there is provided a transmission power control apparatus, comprising: a variable amplifying means for amplifying an input signal according to a control signal; Automatic power control means for providing a control signal to the amplifying means, and each of the above high-frequency detectors.

【0018】請求項9記載の発明による送信電力制御装
置は、検波手段の温度が所定範囲からはずれた場合に送
信を禁止するアラーム処理手段を備えたものである。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a transmission power control device including an alarm processing unit for prohibiting transmission when the temperature of the detection unit is out of a predetermined range.

【0019】請求項10記載の発明による送信電力制御
装置は、検波手段の温度が所定範囲からはずれた場合に
可変増幅手段に対する制御を停止するアラーム処理手段
を備えたものである。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a transmission power control apparatus including an alarm processing means for stopping the control of the variable amplifying means when the temperature of the detection means is out of a predetermined range.

【0020】請求項11記載の発明による高周波検波装
置の設置方法は、高周波信号を検波する高周波検波用ダ
イオード、高周波検波用ダイオードを加熱する発熱素
子、および高周波検波用ダイオードの温度を検知する温
度検出素子を含む高周波検波回路を高い熱伝導率の基板
上に近接して形成するステップと、基板を、検波対象信
号を導出する導波管に、基板の一部のみを導波管に接触
させて装着するステップとを含むものである。
According to the eleventh aspect of the present invention, there is provided a method for installing a high-frequency detection device, comprising: a high-frequency detection diode for detecting a high-frequency signal; a heating element for heating the high-frequency detection diode; Forming a high-frequency detection circuit including elements close to a substrate having high thermal conductivity; and bringing the substrate into contact with a waveguide from which a signal to be detected is derived, and contacting only a part of the substrate with the waveguide. Mounting.

【0021】請求項12記載の発明による高周波検波装
置の設置方法は、高周波信号を検波する高周波検波用ダ
イオード、高周波検波用ダイオードを加熱する発熱素
子、および高周波検波用ダイオードの温度を検知する温
度検出素子を含む高周波検波回路を高い熱伝導率の基板
に近接して形成するステップと、基板を、検波対象信号
を導出する導波管に断熱材を介して装着するステップと
を含むものである。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a method for installing a high-frequency detection device, comprising: a high-frequency detection diode for detecting a high-frequency signal; a heating element for heating the high-frequency detection diode; and a temperature detection for detecting the temperature of the high-frequency detection diode. The method includes a step of forming a high-frequency detection circuit including elements close to a substrate having high thermal conductivity, and a step of attaching the substrate to a waveguide from which a signal to be detected is derived via a heat insulating material.

【発明の実施の形態】図1は本発明の高周波検波装置の
第1の実施形態が適用された送信電力制御装置を示すブ
ロック図である。図1に示された送信電力制御装置にお
いて、入力信号は、可変減衰器1でレベル調整された
後、増幅率固定の増幅器2に入力される。増幅器2の出
力は、方向性結合器等の分配器3を介して出力されると
ともに、検波用ダイオード42を有する高周波検波回路
49に入力される。高周波検波回路49からの検波出力
電圧は、自動電力制御回路5に入力される。自動電力制
御回路5は、検波出力電圧と出力電圧制御信号(基準電
圧)とが同値になるように可変減衰器1を制御する。
FIG. 1 is a block diagram showing a transmission power control apparatus to which a first embodiment of a high-frequency detection apparatus according to the present invention is applied. In the transmission power control device shown in FIG. 1, the input signal is level-adjusted by a variable attenuator 1 and then input to an amplifier 2 having a fixed amplification factor. The output of the amplifier 2 is output via the distributor 3 such as a directional coupler, and is also input to the high frequency detection circuit 49 having the detection diode 42. The detection output voltage from the high-frequency detection circuit 49 is input to the automatic power control circuit 5. The automatic power control circuit 5 controls the variable attenuator 1 so that the detection output voltage and the output voltage control signal (reference voltage) have the same value.

【0022】自動電力制御回路5において、検波出力電
圧は誤差増幅器51に入力される。誤差増幅器51は、
検波出力電圧と出力電圧制御信号との差を増幅して可変
減衰器ドライバ52に供給する。可変減衰器ドライバ5
2は、誤差増幅器51の出力値に応じた制御信号をホー
ルド回路54を介して可変減衰器1に出力する。
In the automatic power control circuit 5, the detection output voltage is input to the error amplifier 51. The error amplifier 51
The difference between the detection output voltage and the output voltage control signal is amplified and supplied to the variable attenuator driver 52. Variable attenuator driver 5
2 outputs a control signal corresponding to the output value of the error amplifier 51 to the variable attenuator 1 via the hold circuit 54.

【0023】高周波検波回路49は、検波器4、温度セ
ンサ6およびヒータ7から構成され、検波器4には、温
度センサ6とヒータ7とが取り付けられる。また、検波
器4、温度センサ6およびヒータ7は一体構成されてい
る。温度センサ6の出力は、温度制御回路8に入力され
る。温度制御回路8は、温度センサ6からの温度検出信
号44の値に応じたヒータ制御電圧45をヒータ7に与
える。また、温度制御回路8は、所定の条件下で、自動
電力制御回路5におけるアラーム処理回路53にアラー
ム信号102を与える。アラーム処理回路53は、アラ
ーム信号102に応じて、ホールド回路54に所定のホ
ールド値を与えるか、または、スイッチ55を介して増
幅器2の電源を遮断する。
The high-frequency detection circuit 49 includes a detector 4, a temperature sensor 6, and a heater 7, and the detector 4 is provided with the temperature sensor 6 and the heater 7. Further, the detector 4, the temperature sensor 6, and the heater 7 are integrally formed. The output of the temperature sensor 6 is input to a temperature control circuit 8. The temperature control circuit 8 supplies the heater 7 with a heater control voltage 45 corresponding to the value of the temperature detection signal 44 from the temperature sensor 6. Further, the temperature control circuit 8 supplies an alarm signal 102 to the alarm processing circuit 53 in the automatic power control circuit 5 under a predetermined condition. The alarm processing circuit 53 gives a predetermined hold value to the hold circuit 54 or cuts off the power supply of the amplifier 2 via the switch 55 according to the alarm signal 102.

【0024】次に、図1に示された送信電力制御装置の
具体的な動作を説明する。
Next, a specific operation of the transmission power control device shown in FIG. 1 will be described.

【0025】可変減衰器1、増幅器2および分配器3
は、図9,図10に示された電力増幅回路20および方
向性結合器30と同様に動作する。ただし、この実施の
形態では、増幅器2の増幅率は一定であって、可変減衰
器1の減衰率が制御されることによって送信電力が制御
される。分配器3は、増幅器2の高周波出力の一部を抽
出して検波器4に供給する。検波器4は、抽出された高
周波送信電力を検波して、送信電力に応じた検波出力電
圧を出力する。自動電力制御回路5における誤差増幅器
51は、検波出力電圧と出力電圧制御信号101が示す
電圧との差を増幅する。可変減衰器ドライバ52は、誤
差増幅器51の出力に応じて可変減衰器1を制御する。
すなわち、可変減衰器1に対して、検波出力電圧と出力
電圧制御信号101が示す電圧とが同じになるように減
衰量を制御するように指示する。なお、アラーム信号1
02が出力されないときには、アラーム処理回路53
は、ホールド回路54に対して、可変減衰器ドライバ5
2の出力を可変減衰器1に与えるように指示する。
Variable attenuator 1, amplifier 2 and distributor 3
Operates in the same manner as the power amplification circuit 20 and the directional coupler 30 shown in FIGS. However, in this embodiment, the amplification factor of the amplifier 2 is constant, and the transmission power is controlled by controlling the attenuation factor of the variable attenuator 1. The distributor 3 extracts a part of the high-frequency output of the amplifier 2 and supplies it to the detector 4. The detector 4 detects the extracted high-frequency transmission power and outputs a detection output voltage corresponding to the transmission power. The error amplifier 51 in the automatic power control circuit 5 amplifies the difference between the detection output voltage and the voltage indicated by the output voltage control signal 101. The variable attenuator driver 52 controls the variable attenuator 1 according to the output of the error amplifier 51.
That is, it instructs the variable attenuator 1 to control the attenuation so that the detection output voltage and the voltage indicated by the output voltage control signal 101 become the same. The alarm signal 1
02 is not output, the alarm processing circuit 53
Is a variable attenuator driver 5 for the hold circuit 54.
2 is given to the variable attenuator 1.

【0026】以上のようにして、送信電力は、出力電圧
制御信号101が示す値に応じた値に保たれるが、送信
電力の安定度は、検波器4の安定度で決まる。
As described above, the transmission power is maintained at a value corresponding to the value indicated by the output voltage control signal 101, but the stability of the transmission power is determined by the stability of the detector 4.

【0027】検波器4における検波用ダイオード42
は、ヒータ7によって加熱されている。検波用ダイオー
ド42の温度は温度センサ6で検出される。温度センサ
6は、検出温度を温度検出信号44として温度制御回路
8に与える。温度制御回路8には、あらかじめ、送信電
力制御装置が搭載される送信機の使用温度よりも高い目
標温度が設定されている。温度検出信号44が示す検出
温度が目標温度よりも低い場合には、温度制御回路8
は、ヒータ制御電圧45を上げてヒータ7をさらに発熱
させるようにする。温度検出信号44が示す検出温度が
目標温度よりも高い場合には、温度制御回路8は、ヒー
タ制御電圧45を下げてヒータ7の発熱を落とすように
する。このようにして、検波用ダイオード42の温度は
一定に保たれる。
Detection diode 42 in detector 4
Are heated by the heater 7. The temperature of the detection diode 42 is detected by the temperature sensor 6. The temperature sensor 6 gives the detected temperature to the temperature control circuit 8 as a temperature detection signal 44. In the temperature control circuit 8, a target temperature higher than the operating temperature of the transmitter in which the transmission power control device is mounted is set in advance. If the detected temperature indicated by the temperature detection signal 44 is lower than the target temperature, the temperature control circuit 8
Increases the heater control voltage 45 so that the heater 7 further generates heat. When the detected temperature indicated by the temperature detection signal 44 is higher than the target temperature, the temperature control circuit 8 lowers the heater control voltage 45 to reduce the heat generated by the heater 7. Thus, the temperature of the detection diode 42 is kept constant.

【0028】低い入力電力のもとで検波器4のダイナミ
ックレンジを上げるためには、有意な検波出力電圧を出
力できる入力電力の下限を下げる必要があるが、図8に
示したように、低温では、有意な検波出力電圧を出力で
きる入力電力の下限は低くない。例えば、誤差増幅器5
1が動作しうる下限を3mVと仮定すると、検波用ダイ
オード42の温度が−30゜Cでは、入力電力が+17
dBm程度までの範囲でしか使用できない。ところが、
温度を+84゜Cに固定すれば、検波用ダイオードの入
力電力を+6dBm程度まで下げても実用的な検波出力
電圧が出力される。すなわち、11dBm程度ダイナミ
ックレンジを広げることができる。従って、温度制御回
路8は、例えば、検波用ダイオード42の温度を+84
゜Cに固定するように制御する。
In order to increase the dynamic range of the detector 4 under low input power, it is necessary to lower the lower limit of the input power at which a significant detection output voltage can be output, but as shown in FIG. Then, the lower limit of the input power that can output a significant detection output voltage is not low. For example, the error amplifier 5
Assuming that the lower limit at which 1 can operate is 3 mV, when the temperature of the detecting diode 42 is -30 ° C., the input power is +17.
It can be used only in the range up to about dBm. However,
If the temperature is fixed at + 84 ° C., a practical detection output voltage is output even if the input power of the detection diode is reduced to about +6 dBm. That is, the dynamic range can be expanded by about 11 dBm. Therefore, the temperature control circuit 8 sets the temperature of the detection diode 42 to +84, for example.
制 御 C is controlled so as to be fixed.

【0029】以上のように、送信電力制御装置が、検波
手段を加熱する加熱手段と、検波手段の温度が所定値に
保たれるように加熱手段を制御する温度制御手段とを備
えた構成になっているので、検波手段の入力電力範囲の
下限を広げることができ、従来の高周波検波回路を用い
た送信電力制御装置に比べて、送信電力を広い範囲にわ
たって精度よく制御できる。
As described above, the transmission power control device has a structure including the heating means for heating the detection means and the temperature control means for controlling the heating means so that the temperature of the detection means is maintained at a predetermined value. Therefore, the lower limit of the input power range of the detection means can be widened, and the transmission power can be controlled more accurately over a wider range than in a transmission power control device using a conventional high-frequency detection circuit.

【0030】ヒータ7が切れてしまう等の何らかの理由
によって温度制御が不能になる場合も考えられる。その
ような場合を考慮して、温度制御回路8は、検出温度が
所定範囲を越えるとアラーム信号102を出力する。例
えば、実用的な検波出力電圧の下限を3mVと仮定す
る。検波用ダイオード42の入力電力の範囲を10dB
mまでとしたいときに、図8に示された特性から、検波
用ダイオード42の温度が50゜C程度を下回ると、3
mVの検波出力電圧を出力できない。そこで、温度制御
回路8は、検出温度が50゜Cを下回るとアラーム信号
102を出力する。
It is also conceivable that the temperature control becomes impossible for some reason such as the heater 7 being cut off. In consideration of such a case, the temperature control circuit 8 outputs the alarm signal 102 when the detected temperature exceeds a predetermined range. For example, assume that the lower limit of a practical detection output voltage is 3 mV. The input power range of the detection diode 42 is set to 10 dB.
When the temperature of the detection diode 42 falls below about 50 ° C. from the characteristic shown in FIG.
mV detection output voltage cannot be output. Thus, the temperature control circuit 8 outputs an alarm signal 102 when the detected temperature falls below 50 ° C.

【0031】アラーム信号102は、アラーム処理回路
53に入力される。アラーム処理回路53は、アラーム
信号102が入力されると、例えば、可変減衰器1の制
御を止めるように制御する。すなわち、ホールド回路5
4に対して、可変減衰器1に固定値を与えるように指示
する。以後、可変減衰器1は、入力信号に対して固定的
な減衰を与える。従って、自動送信電力制御は働かなく
なるが、誤差の大きい検波出力電圧にもとづいて送信電
力制御される事態は回避される。
The alarm signal 102 is input to the alarm processing circuit 53. When the alarm signal 102 is input, the alarm processing circuit 53 controls, for example, to stop the control of the variable attenuator 1. That is, the hold circuit 5
4 is instructed to give a fixed value to the variable attenuator 1. Thereafter, the variable attenuator 1 gives a fixed attenuation to the input signal. Therefore, the automatic transmission power control does not work, but the situation where the transmission power is controlled based on the detection output voltage having a large error is avoided.

【0032】また、アラーム信号102が入力されたと
きに、アラーム処理回路53は、送信を止めるように制
御してもよい。例えば、アラーム処理回路53は、電源
電圧を増幅器2に供給するスイッチ55を遮断して増幅
器2に電源が供給されないようにする。
Further, when the alarm signal 102 is input, the alarm processing circuit 53 may control to stop the transmission. For example, the alarm processing circuit 53 shuts off the switch 55 that supplies the power supply voltage to the amplifier 2 so that power is not supplied to the amplifier 2.

【0033】図2は、本発明の高周波検波回路の第2の
実施形態を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a high-frequency detection circuit according to a second embodiment of the present invention.

【0034】図2に示された高周波検波回路49は、検
波用ダイオード42、抵抗、コンデンサおよびコイルか
らなる検波器と温度検知手段を実現する温度検出用ダイ
オード41および加熱手段を実現する発熱用ダイオード
43とから構成されている。温度検出用ダイオード41
のアノード側には電流源48が接続され、電流源48か
ら電流I1 が供給される。温度検出用ダイオード41の
アノード側には、温度に比例した電圧VT が温度検出信
号44として現れる。また、ヒータ制御電圧45は、抵
抗を介して発熱用ダイオード43に供給される。また、
温度制御回路8は、温度検出用ダイオード41の電圧V
T と基準電圧Vref とを比較する比較器81、比較器8
1の出力に応じたカウント値を出力するアップダウンカ
ウンタ82、アップダウンカウンタ82の出力値をアナ
ログ値に変換するD−A変換器83およびバッファ84
で構成される。そして、バッファ84の出力がヒータ制
御電圧45となる。
The high-frequency detection circuit 49 shown in FIG. 2 includes a detection diode 42, a detector comprising a resistor, a capacitor and a coil, a temperature detection diode 41 for realizing temperature detection means, and a heating diode for realizing heating means. 43. Temperature detection diode 41
A current source 48 is connected to the anode side of the device, and a current I1 is supplied from the current source 48. On the anode side of the temperature detecting diode 41, a voltage VT proportional to the temperature appears as a temperature detecting signal 44. Further, the heater control voltage 45 is supplied to the heating diode 43 via a resistor. Also,
The temperature control circuit 8 calculates the voltage V of the temperature detecting diode 41.
Comparator 81, Comparator 8 for comparing T with reference voltage Vref
1, an up / down counter 82 that outputs a count value corresponding to the output of the D / A converter 83, a DA converter 83 that converts the output value of the up / down counter 82 into an analog value, and a buffer 84.
It consists of. Then, the output of the buffer 84 becomes the heater control voltage 45.

【0035】図3は、図2に示された高周波検波回路4
9を実装した基板49Aの実装例を示す正面図である。
FIG. 3 shows the high-frequency detection circuit 4 shown in FIG.
9 is a front view illustrating a mounting example of a substrate 49A on which a mounting 9 is mounted.

【0036】図に示すように、高周波検波回路49は、
1チップとして集積化されている。基板49Aにおい
て、温度検出用ダイオード41および発熱用ダイオード
43のカソード側は、端子221を介して接地される。
また、温度検出用ダイオード41のアノード側はボンデ
ィングワイヤ202およびボンディングパッド203を
介して出力端子222に至り、発熱用ダイオード43の
アノード側はボンディングワイヤ202およびボンディ
ングパッド203を介して出力端子223に至る。検波
用ダイオード42の検波出力電圧46は出力端子22
4,225間の電圧として取り出され、検波用ダイオー
ド42の入力側は、方向性結合器30として導波管が用
いられた場合の電力の一部を取り出すカプラ部3Bとし
て形成された部分に至る。なお、図3には、高周波信号
を短絡するためのラジアルスタブ228およびオープン
スタブ229も示されている。また、図中の斜線は抵抗
部分を示す。
As shown in the figure, the high frequency detection circuit 49
It is integrated as one chip. On the substrate 49A, the cathode sides of the temperature detecting diode 41 and the heat generating diode 43 are grounded via the terminal 221.
The anode side of the temperature detecting diode 41 reaches the output terminal 222 via the bonding wire 202 and the bonding pad 203, and the anode side of the heating diode 43 reaches the output terminal 223 via the bonding wire 202 and the bonding pad 203. . The detection output voltage 46 of the detection diode 42 is applied to the output terminal 22.
4, 225, and the input side of the detection diode 42 reaches a portion formed as a coupler unit 3B for extracting a part of the power when a waveguide is used as the directional coupler 30. . FIG. 3 also shows a radial stub 228 and an open stub 229 for short-circuiting a high-frequency signal. In addition, hatched lines in the drawing indicate resistance portions.

【0037】次に、図4の特性図を参照して図2に示さ
れた高周波検波回路49の動作について説明する。
Next, the operation of the high-frequency detection circuit 49 shown in FIG. 2 will be described with reference to the characteristic diagram of FIG.

【0038】図4(A)はダイオードの例えば84°C
における電圧−電流特性の一例を示し、図4(B)はダ
イオードの電流と発熱量(または温度上昇)との関係の
一例を示す。図4(A)に示すように、温度検出用ダイ
オード41が84°Cである場合に、1mAの電流が流
れているときのアノード電圧が0.3Vであるとする。
すると、電流源48から温度検出用ダイオード41に1
mAの定電流が供給されている場合に、電圧VT が0.
3Vに保たれていれば、温度検出用ダイオード41の温
度は84°Cに保たれる。
FIG. 4A shows a diode at, for example, 84 ° C.
FIG. 4B shows an example of the relationship between the current of the diode and the amount of heat generation (or temperature rise). As shown in FIG. 4A, when the temperature of the temperature detecting diode 41 is 84 ° C., it is assumed that the anode voltage is 0.3 V when a current of 1 mA flows.
Then, 1 is supplied from the current source 48 to the temperature detecting diode 41.
When a constant current of mA is supplied, the voltage VT becomes 0.
If the voltage is kept at 3V, the temperature of the temperature detecting diode 41 is kept at 84 ° C.

【0039】なお、基板49Aにおいて、発熱用ダイオ
ード43と温度検出用ダイオード41との間の距離と、
発熱用ダイオード43と検波用ダイオード42との間の
距離とが等しく、かつ、3つのダイオードの間の熱抵抗
が小さければ、温度検出用ダイオード41の温度が84
°Cに保たれてるときに、検波用ダイオード42の温度
もほぼ84°Cに保たれていることになる。従って、熱
抵抗を小さくするために、3つのダイオードの間の距離
はできるだけ小さくなるように、基板49Aは作製され
る。また、基板49Aの材質として、できるだけ熱伝導
性のよいもの、例えばセラミックが採用される。
The distance between the heat generating diode 43 and the temperature detecting diode 41 on the substrate 49A,
If the distance between the heating diode 43 and the detecting diode 42 is equal and the thermal resistance between the three diodes is small, the temperature of the temperature detecting diode 41 becomes 84
When the temperature is maintained at ° C, the temperature of the detection diode 42 is also maintained at approximately 84 ° C. Therefore, in order to reduce the thermal resistance, the substrate 49A is manufactured so that the distance between the three diodes is as small as possible. As the material of the substrate 49A, a material having as high a thermal conductivity as possible, for example, ceramic is adopted.

【0040】比較器81には、基準電圧Vref として
0.3Vが入力される。実際の電圧電圧VT が0.3V
よりも高い場合には、比較器81は、カウント値を小さ
くするような指示電圧をアップダウンカウンタ82に与
える。アップダウンカウンタ82は、その指示に応じて
カウント値を下げる。アップダウンカウンタ82のカウ
ント値はD−A変換器83およびバッファ84を介して
発熱用ダイオード43に与えられているので、この場合
には、ヒータ制御電圧45が低下する。その結果、発熱
用ダイオード43に流れる電流I2 が減り、図4(B)
に示すように、発熱用ダイオード43の発熱量が低下す
る。
The comparator 81 is supplied with 0.3 V as the reference voltage Vref. Actual voltage VT is 0.3V
If it is higher, the comparator 81 supplies an instruction voltage for decreasing the count value to the up / down counter 82. The up / down counter 82 decreases the count value according to the instruction. Since the count value of the up / down counter 82 is given to the heating diode 43 via the DA converter 83 and the buffer 84, the heater control voltage 45 decreases in this case. As a result, the current I2 flowing through the heat-generating diode 43 decreases, and FIG.
As shown in (5), the amount of heat generated by the heat generating diode 43 decreases.

【0041】また、実際の電圧電圧VT が0.3Vより
も低い場合には、比較器81は、カウント値を大きくす
るような指示電圧をアップダウンカウンタ82に与え
る。アップダウンカウンタ82は、その指示に応じてカ
ウント値を上げる。従って、ヒータ制御電圧45が上昇
する。その結果、発熱用ダイオード43に流れる電流I
2 が増え、図4(B)に示すように、発熱用ダイオード
43の発熱量が上昇する。
When the actual voltage voltage VT is lower than 0.3 V, the comparator 81 gives an instruction voltage for increasing the count value to the up / down counter 82. The up / down counter 82 increases the count value according to the instruction. Therefore, the heater control voltage 45 increases. As a result, the current I flowing through the heating diode 43
2 increases, and the amount of heat generated by the heat generating diode 43 increases, as shown in FIG.

【0042】以上のような制御によって、検波用ダイオ
ード42の温度はほぼ84°Cに保たれる。すなわち、
検波用ダイオード42の入力電力を+6dBm程度まで
下げても、例えば送信電力制御に使用されうる実用的な
検波出力電圧が出力される。この場合には、検波用ダイ
オード42とともに温度検出用ダイオード41および発
熱用ダイオード43が、1つの基板上に一体として構成
されているので、温度制御の精度および応答性がより高
いものを実現できる。また、一体構成されたものと他の
部分との熱抵抗を大きくすることが可能になり、そのよ
うにすることによって電力消費を小さくすることができ
る。
By the above control, the temperature of the detection diode 42 is kept at approximately 84 ° C. That is,
Even if the input power of the detection diode 42 is reduced to about +6 dBm, a practical detection output voltage that can be used for, for example, transmission power control is output. In this case, since the temperature detecting diode 41 and the heat generating diode 43 are integrally formed on one substrate together with the detecting diode 42, it is possible to realize higher temperature control accuracy and responsiveness. In addition, it is possible to increase the thermal resistance between the integrated unit and the other parts, thereby reducing power consumption.

【0043】図5は、方向性結合器30として導波管3
Aが用いられた場合、基板49Aと他の部分との熱抵抗
を大きくするための基板49Aの導波管3Aへの装着の
仕方の一例を示す説明図である。図5(A)に示された
装着方法は、できるだけ熱が逃げないように基板49A
を導波管3Aの外壁の載置部230に密着させないで設
置する方法である。この場合、基板49Aの接地を確保
するために、基板49Aは載置部230に点接触される
が、その他の部分を載置部230に接触させないように
する。また、図5(B)に示された装着方法は、基板4
9Aに断熱材231を装着して設置する方法である。
FIG. 5 shows a waveguide 3 as the directional coupler 30.
When A is used, it is explanatory drawing which shows an example of the mounting method of the board | substrate 49A to the waveguide 3A for increasing the thermal resistance of the board | substrate 49A and other parts. The mounting method shown in FIG. 5 (A) uses the substrate 49A so that heat does not escape as much as possible.
This is a method in which the light guide is installed without being in close contact with the mounting portion 230 on the outer wall of the waveguide 3A. In this case, in order to secure the grounding of the substrate 49A, the substrate 49A is brought into point contact with the mounting portion 230, but other portions are prevented from contacting the mounting portion 230. The mounting method shown in FIG.
This is a method in which a heat insulating material 231 is attached to 9A and installed.

【0044】なお、この実施形態では、高周波検波回路
49が1チップに集積化された例が示されたが、検波用
ダイオード42、温度検出用ダイオード41および発熱
用ダイオード43が、他の回路や線路を含むモノリシッ
クICに共に集積化されたものを用いてもよい。
In this embodiment, an example is shown in which the high-frequency detection circuit 49 is integrated on one chip. However, the detection diode 42, the temperature detection diode 41, and the heat generation diode 43 are replaced with other circuits and A monolithic IC including a line may be integrated together.

【0045】図6は本発明の高周波検波回路の第3の実
施形態を示すブロック図である。図6には、検波用ダイ
オード42等を含む検波器と温度検知手段を実現する温
度検出用ダイオード41および加熱手段を実現するFE
T47とが一体形成される高周波検波回路49が示され
ている。
FIG. 6 is a block diagram showing a high-frequency detection circuit according to a third embodiment of the present invention. FIG. 6 shows a detector including the detection diode 42 and the like, the temperature detection diode 41 for realizing the temperature detection means, and the FE for realizing the heating means.
A high-frequency detection circuit 49 in which T47 and T47 are integrally formed is shown.

【0046】図7は、図6に示された高周波検波回路4
9を実装する基板49Bの実装例を示す正面図である。
FIG. 7 shows the high-frequency detection circuit 4 shown in FIG.
9 is a front view showing a mounting example of a substrate 49B on which a mounting 9 is mounted.

【0047】図に示すように、高周波検波回路49は、
1チップとして集積化されている。集積化された基板4
9Bにおいて、温度検出用ダイオード41およびFET
47のソース側は、端子221を介して接地される。ま
た、温度検出用ダイオード41のアノード側はボンディ
ングワイヤ202およびボンディングパッド203を介
して出力端子222に至り、FET47のゲートはボン
ディングワイヤ202およびボンディングパッド203
を介して出力端子223に至る。FET47のドレイン
側はボンディングワイヤ202およびボンディングパッ
ド203を介して電源端子227に至る。検波用ダイオ
ード42の検波出力電圧46は出力端子224,225
間の電圧として取り出され、検波用ダイオード42の入
力側は、方向性結合器30として導波管が用いられた場
合の電力の一部を取り出すカプラ部3Bとして形成され
た部分に至る。なお、図6には、高周波信号を短絡する
ためのラジアルスタブ228およびオープンスタブ22
9も示されている。また、図中の斜線は抵抗部分を示
す。
As shown in the figure, the high-frequency detection circuit 49
It is integrated as one chip. Integrated substrate 4
9B, the temperature detecting diode 41 and the FET
The source side of 47 is grounded via a terminal 221. The anode side of the temperature detecting diode 41 reaches the output terminal 222 via the bonding wire 202 and the bonding pad 203, and the gate of the FET 47 is connected to the bonding wire 202 and the bonding pad 203.
To the output terminal 223. The drain side of the FET 47 reaches the power supply terminal 227 via the bonding wire 202 and the bonding pad 203. The detection output voltage 46 of the detection diode 42 is output to output terminals 224 and 225.
The input side of the detection diode 42 reaches a portion formed as a coupler unit 3B that extracts a part of the power when a waveguide is used as the directional coupler 30. FIG. 6 shows a radial stub 228 and an open stub 22 for short-circuiting a high-frequency signal.
9 is also shown. In addition, hatched lines in the drawing indicate resistance portions.

【0048】図6では図示省略されているが、温度検出
用ダイオード41のアノード側には図2に示されたよう
な電流源48が接続され、温度検出用ダイオード41の
アノード側とFETのゲートの間には、図2に示された
ような温度制御回路8が設置されている。
Although not shown in FIG. 6, a current source 48 as shown in FIG. 2 is connected to the anode side of the temperature detecting diode 41, and the anode side of the temperature detecting diode 41 and the gate of the FET are connected. Between them, a temperature control circuit 8 as shown in FIG. 2 is provided.

【0049】また、上述した実施形態の場合と同様に、
FET47と温度検出用ダイオード41との間の距離
と、FET47と検波用ダイオード42との間の距離と
が等しく、かつ、各ダイオードおよびFET47の間の
熱抵抗が小さくなるように、各ダイオードおよびFET
47の間の距離はできるだけ小さくなるように、基板4
9Bは作製される。また、基板49Bの材質として、や
はり、できるだけ熱伝導性のよいもの、例えばセラミッ
クが採用される。
As in the case of the above-described embodiment,
The distance between the FET 47 and the temperature detecting diode 41 is equal to the distance between the FET 47 and the detecting diode 42, and the thermal resistance between each diode and the FET 47 is reduced.
47 so that the distance between the substrates 47 is as small as possible.
9B is produced. Also, as the material of the substrate 49B, a material having as high thermal conductivity as possible, for example, ceramic is used.

【0050】従って、検波用ダイオード42は、図2に
示された実施の形態の場合と同様に、温度制御回路8の
制御によって所望の一定温度に保たれる。このような実
施形態によっても、検波器、加熱手段および温度検知手
段が一体として構成され、かつ、一体構成されたものと
他の部分との熱抵抗を大きくすることが可能になり、電
力消費が小さく温度制御の精度および応答性がより高い
ものを実現できる。
Therefore, the detection diode 42 is maintained at a desired constant temperature by the control of the temperature control circuit 8, as in the embodiment shown in FIG. According to such an embodiment as well, the detector, the heating means and the temperature detecting means are integrally formed, and the thermal resistance between the integrally formed one and the other parts can be increased, and power consumption can be reduced. It is possible to realize a small temperature control with higher accuracy and responsiveness.

【0051】なお、基板49Bは、基板49Bと他の部
分との熱抵抗を大きくするために、図5(A),(B)
に示すように、導波管3Aの外壁の載置部230に密着
させないように設置されたり、断熱材231を介して設
置される。
In order to increase the thermal resistance between the substrate 49B and the other parts, the substrate 49B is formed as shown in FIGS.
As shown in (2), it is installed so as not to be in close contact with the mounting portion 230 on the outer wall of the waveguide 3A, or is installed via a heat insulator 231.

【0052】また、この場合にも、高周波検波回路49
が1チップに集積化された例が示されたが、検波用ダイ
オード42、温度検出用ダイオード41およびFET4
7が、他の回路や線路を含むモノリシックICに共に集
積化されたものを用いてもよい。
Also in this case, the high-frequency detection circuit 49
Are integrated on a single chip, but the detection diode 42, the temperature detection diode 41 and the FET 4
7 may be integrated together with a monolithic IC including other circuits and lines.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、高周波
検波装置が、検波手段を加熱する加熱手段と、検波手段
の温度が所定値に保たれるように加熱手段を制御する温
度制御手段とを備えた構成になっているので、検波手段
の入力電力範囲の下限を広げることができ、広い範囲に
わたって精度よく電力制御できる等の効果がある。
As described above, according to the present invention, the high-frequency detection device comprises a heating means for heating the detection means and a temperature control means for controlling the heating means so that the temperature of the detection means is maintained at a predetermined value. Therefore, there is an effect that the lower limit of the input power range of the detection means can be widened, and power control can be accurately performed over a wide range.

【0054】検波手段、検波手段を加熱する加熱手段お
よび検波手段の温度を検知する温度検知手段とが一体形
成された構成になっている場合には、検波手段の入力電
力範囲の下限を広げてもダイナミックレンジの広い検波
出力を得ることができる。また、電力消費が小さく温度
制御の精度および応答性がより高いものを実現できる。
さらに、温度補償機能を有する高周波検波回路が、小型
化および低価格化される効果がある。
When the detecting means, the heating means for heating the detecting means, and the temperature detecting means for detecting the temperature of the detecting means are integrally formed, the lower limit of the input power range of the detecting means is increased. Can also provide a detection output with a wide dynamic range. Further, it is possible to realize a device with low power consumption and higher accuracy and responsiveness of temperature control.
Further, there is an effect that the high-frequency detection circuit having the temperature compensation function is reduced in size and cost.

【0055】また、送信電力制御装置が、上記のような
高周波検波装置を備えた構成になっているので、検波手
段の入力電力範囲の下限を広げることができ、従来の高
周波検波回路を用いた送信電力制御装置に比べて、送信
電力を広い範囲にわたって精度よく制御できる効果があ
る。
Further, since the transmission power control device is configured to include the high-frequency detection device as described above, the lower limit of the input power range of the detection means can be widened, and a conventional high-frequency detection circuit is used. As compared with the transmission power control device, there is an effect that transmission power can be accurately controlled over a wide range.

【0056】さらに、高周波検波装置の設置方法が、温
度検出素子、検波手段および発熱素子が形成された基板
を、検波対象信号を導出する導波管に基板と基板以外の
部分との間の高熱抵抗状態を維持しつつ装着するステッ
プを備えているので、基板と他の部分との熱抵抗を大き
くすることが可能になり、そのようにすることによって
電力消費を小さくすることができる効果がある。
Further, the method of installing the high-frequency detector is such that the substrate on which the temperature detecting element, the detecting means and the heating element are formed is connected to the waveguide for deriving the signal to be detected by the high heat between the substrate and the portion other than the substrate. Since the method includes the step of mounting while maintaining the resistance state, it is possible to increase the thermal resistance between the substrate and the other parts, and by doing so, it is possible to reduce the power consumption. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態による高周波検波装
置が適用された送信電力制御装置を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a transmission power control device to which a high-frequency detection device according to a first embodiment of the present invention is applied.

【図2】 本発明の第2の実施形態における高周波検波
回路および温度制御回路の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a high-frequency detection circuit and a temperature control circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図3】 図2に示された高周波検波回路を実装した基
板の実装例を示す正面図である。
FIG. 3 is a front view showing a mounting example of a substrate on which the high-frequency detection circuit shown in FIG. 2 is mounted.

【図4】 (A)は図2に示された高周波検波回路の電
圧−電流特性の一例を示し、(B)は図2に示された高
周波検波回路の電流と発熱量(または温度上昇)との関
係の一例を示す特性図である。
4A shows an example of a voltage-current characteristic of the high-frequency detection circuit shown in FIG. 2, and FIG. 4B shows a current and a heating value (or temperature rise) of the high-frequency detection circuit shown in FIG. FIG. 9 is a characteristic diagram showing an example of the relationship with the following.

【図5】 方向性結合器として導波管が用いられた場合
の図2に示された高周波検波回路が実装された基板の導
波管への装着の仕方の一例を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an example of how to mount a substrate on which the high-frequency detection circuit shown in FIG. 2 is mounted to a waveguide when a waveguide is used as a directional coupler.

【図6】 本発明の第3の実施形態における高周波検波
回路の構成を示すブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of a high-frequency detection circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図7】 図6に示された高周波検波回路を実装した基
板の実装例を示す正面図である。
FIG. 7 is a front view showing a mounting example of a board on which the high-frequency detection circuit shown in FIG. 6 is mounted.

【図8】 一般的な検波ダイオードの入力電圧対検波出
力電圧の温度特性を示す特性図である。
FIG. 8 is a characteristic diagram showing a temperature characteristic of an input voltage of a general detection diode versus a detection output voltage.

【図9】 従来の高周波検波回路が適用された送信電力
制御装置を示すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a transmission power control device to which a conventional high-frequency detection circuit is applied.

【図10】 従来の他の高周波検波回路が適用された送
信電力制御装置を示すブロック図である。
FIG. 10 is a block diagram showing a transmission power control device to which another conventional high-frequency detection circuit is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 可変減衰器 2 増幅器 3 分配器 4 検波器 5 自動電力制御回路 6 温度センサ 7 ヒータ 8 温度制御回路 41 温度検出用ダイオード41 42 検波用ダイオード 43 発熱用ダイオード 47 FET 49 高周波検波回路 51 誤差増幅器 52 可変減衰器ドライバ 53 アラーム処理回路 54 ホールド回路 55 スイッチ 49A,49B 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Variable attenuator 2 Amplifier 3 Distributor 4 Detector 5 Automatic power control circuit 6 Temperature sensor 7 Heater 8 Temperature control circuit 41 Diode for temperature detection 41 42 Detection diode 43 Diode for heat generation 47 FET 49 High frequency detection circuit 51 Error amplifier 52 Variable attenuator driver 53 Alarm processing circuit 54 Hold circuit 55 Switch 49A, 49B Board

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // H03F 3/60 H03F 3/60 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI // H03F 3/60 H03F 3/60

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高周波信号を検波する検波手段と、 前記検波手段を加熱する加熱手段と、 前記検波手段の温度を検知する温度検知手段と、 前記温度検知手段の出力にもとづいて前記検波手段の温
度が所定値に保たれるように前記加熱手段を制御する温
度制御手段とを備えた高周波検波装置。
A detecting means for detecting a high-frequency signal; a heating means for heating the detecting means; a temperature detecting means for detecting a temperature of the detecting means; and a detecting means based on an output of the temperature detecting means. A high-frequency detection device comprising: a temperature control unit that controls the heating unit so that the temperature is maintained at a predetermined value.
【請求項2】 検波手段、加熱手段および温度検知手段
が一体形成されている請求項1記載の高周波検波装置。
2. The high-frequency detection device according to claim 1, wherein the detection means, the heating means, and the temperature detection means are integrally formed.
【請求項3】 検波手段は高周波検波用ダイオードであ
る請求項2記載の高周波検波装置。
3. The high-frequency detection device according to claim 2, wherein the detection means is a high-frequency detection diode.
【請求項4】 加熱手段は印加電圧に応じて発熱する発
熱素子を含み、温度検知手段は検出温度に応じた電圧を
出力する温度検出素子を含み、 温度制御手段は、前記温度検出素子からの電圧と所定温
度値に応じた基準電圧との差にもとづいて前記発熱素子
に印加される電圧を制御する温度制御回路を備えた請求
項2または請求項3記載の高周波検波装置。
4. The heating means includes a heating element that generates heat in accordance with an applied voltage; the temperature detection means includes a temperature detection element that outputs a voltage corresponding to a detected temperature; The high-frequency detection device according to claim 2, further comprising a temperature control circuit that controls a voltage applied to the heating element based on a difference between the voltage and a reference voltage corresponding to a predetermined temperature value.
【請求項5】 温度制御回路は、温度検出素子からの電
圧と基準電圧とを比較する比較器と、この比較器の出力
に応じたカウント値を出力するアップダウンカウンタ
と、このアップダウンカウンタの出力値をアナログ値に
変換して発熱素子に供給するD−A変換器とを備えた請
求項4記載の高周波検波装置。
5. A temperature control circuit comprising: a comparator for comparing a voltage from a temperature detecting element with a reference voltage; an up / down counter for outputting a count value according to an output of the comparator; 5. The high frequency detection device according to claim 4, further comprising a DA converter that converts an output value into an analog value and supplies the analog value to the heating element.
【請求項6】 温度検出素子、検波手段および発熱素子
は、それぞれ近接して高熱伝導率の基板に形成されてい
る請求項4または請求項5記載の高周波検波装置。
6. The high-frequency detection device according to claim 4, wherein the temperature detection element, the detection means, and the heating element are formed close to each other on a substrate having high thermal conductivity.
【請求項7】 温度検出素子、検波手段および発熱素子
が形成された基板は、検波対象信号を導出する導波管
に、基板と基板以外の部分との間の高熱抵抗状態を維持
しつつ装着されている請求項6記載の高周波検波装置。
7. A substrate on which a temperature detecting element, a detecting means, and a heating element are formed is mounted on a waveguide for deriving a signal to be detected while maintaining a high thermal resistance state between the substrate and a portion other than the substrate. 7. The high-frequency detection device according to claim 6, wherein:
【請求項8】 入力信号を制御信号に応じて増幅する可
変増幅手段と、 前記可変増幅手段の出力を検波する検波手段の出力が一
定になるように前記可変増幅手段に前記制御信号を与え
る自動電力制御手段とを備えた送信電力制御装置におい
て、 請求項1から請求項7のうちのいずれか一項に記載され
た高周波検波装置を備えたことを特徴とする送信電力制
御装置。
8. A variable amplifying means for amplifying an input signal according to a control signal, and an automatic supply means for supplying the control signal to the variable amplifying means so that an output of a detecting means for detecting an output of the variable amplifying means is constant. A transmission power control device comprising: a power control unit; and a high-frequency detection device according to any one of claims 1 to 7.
【請求項9】 検波手段の温度が所定範囲からはずれた
場合に送信を禁止するアラーム処理手段を備えた請求項
8記載の送信電力制御装置。
9. The transmission power control device according to claim 8, further comprising alarm processing means for prohibiting transmission when the temperature of the detection means is out of a predetermined range.
【請求項10】 検波手段の温度が所定範囲からはずれ
た場合に可変増幅手段に対する制御を停止するアラーム
処理手段を備えた請求項8記載の送信電力制御装置。
10. The transmission power control device according to claim 8, further comprising alarm processing means for stopping control of the variable amplifying means when the temperature of the detection means deviates from a predetermined range.
【請求項11】 高周波信号を検波する高周波検波用ダ
イオード、この高周波検波用ダイオードを加熱する発熱
素子、および前記高周波検波用ダイオードの温度を検知
する温度検出素子を含む高周波検波回路を高熱伝導率の
基板上に近接して形成し、 前記基板を、検波対象信号を導出する導波管に、基板の
一部のみを導波管に接触させて装着する高周波検波装置
の設置方法。
11. A high-frequency detection circuit that includes a high-frequency detection diode that detects a high-frequency signal, a heating element that heats the high-frequency detection diode, and a temperature detection element that detects the temperature of the high-frequency detection diode. A method for installing a high-frequency detection device, which is formed close to a substrate, wherein the substrate is mounted on a waveguide from which a signal to be detected is derived by bringing only a part of the substrate into contact with the waveguide.
【請求項12】 高周波信号を検波する高周波検波用ダ
イオード、この高周波検波用ダイオードを加熱する発熱
素子、および前記高周波検波用ダイオードの温度を検知
する温度検出素子を含む高周波検波回路を高熱伝導率の
基板に近接して形成し、 前記基板を、検波対象信号を導出する導波管に断熱材を
介して装着する高周波検波装置の設置方法。
12. A high-frequency detection diode that detects a high-frequency signal, a heating element that heats the high-frequency detection diode, and a high-frequency detection circuit that includes a temperature detection element that detects the temperature of the high-frequency detection diode are provided with a high thermal conductivity. An installation method of a high-frequency detection device formed close to a substrate and mounting the substrate to a waveguide through which a signal to be detected is derived via a heat insulating material.
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