JPH10265958A - Production of tubular body film-formed in inner peripheral surface and production device therefor - Google Patents

Production of tubular body film-formed in inner peripheral surface and production device therefor

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JPH10265958A
JPH10265958A JP9073193A JP7319397A JPH10265958A JP H10265958 A JPH10265958 A JP H10265958A JP 9073193 A JP9073193 A JP 9073193A JP 7319397 A JP7319397 A JP 7319397A JP H10265958 A JPH10265958 A JP H10265958A
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JP
Japan
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film
forming
gas
tube
frequency
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9073193A
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Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Nakahigashi
孝浩 中東
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method by which a film can be formed on the inner peripheral surface of a tubular body having a small inside diameter with uniformity or with uniform shape even in the case of such tubular body and the tubular body film-formed on the inner peripheral surface thereof can be obtained with high productivity by using a device having simple structure and a device which can execute the manufacturing method of the tubular body and has a simple structure. SOLUTION: A gaseous starting material for film-forming is introduced inside the tubular body S from an edge part of the tubular body S via a member 4 for introducing gas in a state where the outside of the tubular body S to be film-formed made of a conductive material is covered with an electrical insulating member a. Then high frequency power in a state where amplitude modulation is applied to fundamental high frequency power having a prescribed frequency of >=13.56 MHz by 2a modulation frequency of >=1/10<7> to <=1/10<3> of the prescribed frequency is supplied to the tubular body S to convert the introduced gaseous starting material for film-forming into plasma and a film is formed on the inner peripheral surface of the tubular body S to be formed with the film under an atmosphere of the plasma.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種ガラス配管、
原子力装置の冷却水通水用の細管、医療用カテーテル等
の管体の内周面に、該管体内周面の保護等の目的で所定
の膜を形成する方法及び装置に関する。
[0001] The present invention relates to various glass pipes,
The present invention relates to a method and an apparatus for forming a predetermined film on the inner peripheral surface of a tubular body such as a thin tube for passing cooling water or a medical catheter of a nuclear power plant for the purpose of protecting the inner peripheral surface of the tubular body.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に管体内周面への膜形成は、真空蒸
着により行われている。このような真空蒸着を行う場
合、真空容器内に設置した被成膜管体内に該管体とほぼ
同じだけの長さを有する線状又は棒状等の蒸着物質が配
置され、該蒸着物質の両端に直流電力が供給され、これ
により該蒸着物質が加熱されて被成膜管体の内周面に真
空蒸着され、該管体内周面に所望の膜が形成される。
2. Description of the Related Art Generally, a film is formed on the inner peripheral surface of a tube by vacuum evaporation. When performing such vacuum deposition, a deposition material such as a linear or rod-like material having a length substantially the same as the tubular body is disposed in a film-forming tube installed in a vacuum vessel, and both ends of the deposited material are disposed. Is supplied with a DC power, whereby the deposition material is heated and vacuum-deposited on the inner peripheral surface of the film-forming tube, thereby forming a desired film on the inner peripheral surface of the tube.

【0003】また、特開昭62−173091号公報に
よると、管体の内・外面のレーザCVD等のレーザ加工
を行う装置であって、所定のエネルギ密度を得るための
レーザビームの集光系と、所定の加工位置への照射のた
めの集光されたレーザビームの反射鏡とを同期して移動
させるレーザ加工装置を用いることにより、管体内周面
に均一に膜形成できることが開示されている。
According to Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 62-173091, there is provided an apparatus for performing laser processing such as laser CVD on the inner and outer surfaces of a tube, and a laser beam focusing system for obtaining a predetermined energy density. It is disclosed that a film can be uniformly formed on the inner peripheral surface of a tube by using a laser processing apparatus that synchronously moves a reflecting mirror of a focused laser beam for irradiation to a predetermined processing position. I have.

【0004】また、特開昭63−26373号公報によ
ると、プラズマCVD法により導電性の被成膜管体内周
面に膜形成する方法であって、多数のガス噴出口を有す
る、該管体とほぼ同じ長さのガス導入管を該管体内部に
設置し、該被成膜管体内に成膜用原料ガスを導入すると
ともに、該管体と該管体を設置する真空容器との間に高
電圧を印加することにより、管体内周面に均一に膜形成
できることが開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-26373 discloses a method of forming a film on the inner peripheral surface of a conductive film-forming tube by a plasma CVD method. A gas introduction pipe having substantially the same length as that described above is installed inside the tubular body, and a raw material gas for film formation is introduced into the tubular body to be film-formed. It is disclosed that a film can be uniformly formed on the inner peripheral surface of the tube by applying a high voltage to the tube.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
真空蒸着装置を用いた成膜では、管体の内径が小さいと
きには、それに合わせて蒸着物質の直径も小さくなけれ
ばならず、電力印加による蒸着物質の蒸発に伴い蒸着物
質が途中で切れ易い。この場合、管体内面への成膜が行
えなくなるため、新たな蒸着物質と交換しなければなら
ないが、この交換に際して成膜を行う容器内を一旦大気
圧に戻して新しい蒸着物質を設置した後、再び該容器内
を所定の真空度にしなければならず、手間がかかり、生
産性が悪い。
However, in the film formation using the above-described vacuum deposition apparatus, when the inner diameter of the tube is small, the diameter of the vapor deposition material must be small in accordance with the small inner diameter. The evaporation material is liable to be cut off in the course of evaporation. In this case, since the film cannot be formed on the inner surface of the tube, it must be replaced with a new vapor deposition material. In this case, the inside of the container must be again set to a predetermined degree of vacuum, which is troublesome and lowers productivity.

【0006】また、前記特開昭62−173091号公
報記載の装置は構造が複雑である。また、前記特開昭6
3−26373号公報記載の方法では、被成膜管体内に
ガス導入管を配置しなければならないことからせいぜい
内径10mm程度の管体への成膜を行えるのみで、非常
に内径が小さい管体の内周面への成膜が困難である。そ
こで本発明は、内径の小さい管体でもその内周面に均一
に、又は均一状に成膜を行うことができ、しかも、簡単
な構造の装置を用いて、成膜を行う容器内の真空を破る
ことなく必要に応じて成膜原料の追加を行うことがで
き、それによって生産性よく内周面に膜形成した管体を
得ることができる方法を提供することを課題とする。
The device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-173091 has a complicated structure. In addition, Japanese Patent Application Laid-Open No.
According to the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-26373, a gas introduction tube must be disposed in a film-forming tube, so that film formation can be performed only on a tube having an inner diameter of about 10 mm at most. It is difficult to form a film on the inner peripheral surface. Therefore, the present invention is capable of forming a film evenly or evenly on the inner peripheral surface of a tube having a small inner diameter, and furthermore, using a device having a simple structure, a vacuum in a container where the film is formed. It is an object of the present invention to provide a method capable of adding a film-forming raw material as needed without breaking, thereby obtaining a pipe having a film formed on the inner peripheral surface with high productivity.

【0007】また、本発明は、内径の小さい管体でもそ
の内周面に均一に、又は均一状に成膜を行うことがで
き、しかも成膜を行う容器内の真空を破ることなく必要
に応じて成膜原料の追加を行うことができ、それによっ
て生産性よく内周面に膜形成した管体を得ることができ
る、簡単な構造の装置を提供することを課題とする。
Further, the present invention is capable of forming a film evenly or evenly on the inner peripheral surface of a tube having a small inner diameter, and is required without breaking a vacuum in a container where the film is formed. It is an object of the present invention to provide an apparatus having a simple structure capable of adding a film-forming raw material in accordance therewith and thereby obtaining a pipe having a film formed on an inner peripheral surface with high productivity.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、次のの内周面に膜形成した管体の製造方
法及び(a)の内周面に膜形成した管体の製造装置を提
供する。 被成膜管体の端部から導電性のガス導入用部材を介
して該管体内部に成膜用原料ガスを導入するとともに、
該ガス導入用部材に、13.56MHz以上の所定周波
数の基本高周波電力に該所定周波数の1000万分の1
以上1000分の1以下の変調周波数で振幅変調を施し
た状態の高周波電力を供給して、前記導入した成膜用原
料ガスをプラズマ化し、該プラズマのもとで該管体内周
面に膜形成を行うことを特徴とする内周面に膜形成した
管体の製造方法。 (a) 成膜を行うための真空容器と、該真空容器に対
し設けられた排気手段と、該真空容器内において被成膜
管体を支持するホルダと、該ホルダに支持される被成膜
管体の端部からその内部に成膜用原料ガスを導入するた
めのガス導入用部材と、該ガス導入用部材を介して該被
成膜管体内部に成膜用原料ガスを供給するためのガス供
給手段と、該ガス導入用部材に、13.56MHz以上
の所定周波数の基本高周波電力に該所定周波数の100
0万分の1以上1000分の1以下の変調周波数で振幅
変調を施した状態の高周波電力を供給することができる
高周波電力供給手段とを含むことを特徴とする内周面に
膜形成した管体の製造装置。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method of manufacturing a tube having a film formed on the inner peripheral surface and a method of manufacturing the tube having a film formed on the inner peripheral surface as shown in FIG. Provide a manufacturing device. A film-forming source gas is introduced from the end of the film-forming tube through the conductive gas introducing member into the inside of the tube, and
The gas introduction member is supplied with a basic high frequency power of a predetermined frequency of 13.56 MHz or more at a frequency of 1/10000 of the predetermined frequency.
By supplying high frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of not more than 1/1000 or less, the introduced film-forming raw material gas is turned into plasma, and a film is formed on the inner peripheral surface of the tube under the plasma. A method for producing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof. (A) A vacuum container for performing film formation, an exhaust unit provided for the vacuum container, a holder for supporting a film-forming pipe in the vacuum container, and a film formation supported by the holder A gas introduction member for introducing a film-forming material gas from the end of the tube into the inside, and a film-forming material gas for supplying the film-forming material gas into the film-forming tube through the gas introduction member. Gas supply means, and the gas introduction member is supplied with a basic high frequency power of a predetermined frequency of 13.56 MHz or more by 100% of the predetermined frequency.
A high-frequency power supply means capable of supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of 1 / 1,000 or more and 1/1000 or less; Manufacturing equipment.

【0009】前記の方法及び(a)の装置によると、
成膜用原料ガスのプラズマ化のために供給する高周波電
力にこのような変調を施すことにより、高密度で均一な
プラズマが得られ、これにより、被成膜管体の一端から
その内部に成膜用原料ガスを供給しているにもかかわら
ず、該管体の内周面に均一に成膜を行うことができる。
また、変調周波数等を調整することにより成膜用原料ガ
スの消費速度を制御することができ、成膜速度等の制御
が容易になる。また、成膜を行う真空容器内の真空を破
ることなく、必要に応じ成膜用原料ガスを供給すること
ができるため、生産性がよい。また、前記(a)の装置
は構造が比較的簡単である。
According to the above method and the apparatus of (a),
By performing such a modulation on the high-frequency power supplied to convert the film-forming raw material gas into plasma, a high-density and uniform plasma can be obtained. Despite the supply of the film material gas, the film can be uniformly formed on the inner peripheral surface of the tube.
In addition, by adjusting the modulation frequency and the like, the consumption rate of the source gas for film formation can be controlled, and the control of the film formation rate and the like becomes easy. In addition, a raw material gas for film formation can be supplied as necessary without breaking the vacuum in a vacuum chamber for film formation, so that productivity is high. Further, the device (a) has a relatively simple structure.

【0010】前記被成膜管体が導電性材料からなる場合
は、高周波電力が供給されるガス導入用部材と被成膜管
体との間は電気的に絶縁し、該管体を接地して、該ガス
導入用部材と該管体との間に電圧が印加されるようにす
ればよい。この場合、該管体の外側を電気絶縁性部材で
覆っておくことにより、該管体の外部での放電が抑制さ
れて該管体の内部に効率よくプラズマを発生させること
ができる。また、前記被成膜管体が電気絶縁性材料から
なる場合は、真空容器を接地して、該ガス導入用部材と
該真空容器との間に電圧が印加されるようにすればよ
い。
When the film-forming tube is made of a conductive material, the gas introducing member to which high-frequency power is supplied and the film-forming tube are electrically insulated and the tube is grounded. Thus, a voltage may be applied between the gas introduction member and the tube. In this case, by covering the outside of the tube with an electrically insulating member, discharge outside the tube is suppressed, and plasma can be efficiently generated inside the tube. When the film-forming tube is made of an electrically insulating material, the vacuum vessel may be grounded so that a voltage is applied between the gas introduction member and the vacuum vessel.

【0011】また、前記課題を解決するために本発明
は、次のの内周面に膜形成した管体の製造方法及び
(b)の内周面に膜形成した管体の製造装置を提供す
る。 導電性材料からなる被成膜管体の外側を電気絶縁性
部材で覆った状態で、該管体の端部からガス導入用部材
を介して該管体内部に成膜用原料ガスを導入するととも
に、該管体に、13.56MHz以上の所定周波数の基
本高周波電力に該所定周波数の1000万分の1以上1
000分の1以下の変調周波数で振幅変調を施した状態
の高周波電力を供給して、前記導入した成膜用原料ガス
をプラズマ化し、該プラズマのもとで該管体内周面に膜
形成を行うことを特徴とする内周面に膜形成した管体の
製造方法。 (b) 成膜を行うための真空容器と、該真空容器に対
し設けられた排気手段と、該真空容器内において導電性
材料からなる被成膜管体を支持するホルダと、該ホルダ
に支持される被成膜管体の外側を覆う電気絶縁性部材
と、該ホルダに支持される被成膜管体の端部からその内
部に成膜用原料ガスを導入するためのガス導入用部材
と、該ガス導入用部材を介して該被成膜管体内部に成膜
用原料ガスを供給するためのガス供給手段と、該ホルダ
に支持される該被成膜管体に、13.56MHz以上の
所定周波数の基本高周波電力に該所定周波数の1000
万分の1以上1000分の1以下の変調周波数で振幅変
調を施した状態の高周波電力を供給することができる高
周波電力供給手段とを含むことを特徴とする内周面に膜
形成した管体の製造装置。
Further, in order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides the following method for manufacturing a tube having a film formed on the inner peripheral surface, and (b) an apparatus for manufacturing a tube having a film formed on the inner peripheral surface. I do. In a state in which the outside of the tube to be formed of a conductive material is covered with an electrically insulating member, a source gas for film formation is introduced from the end of the tube into the inside of the tube via a gas introduction member. At the same time, the basic high-frequency power having a predetermined frequency of 13.56 MHz or more is supplied to the tube body at a ratio of at least one tenth to one tenth of the predetermined frequency.
By supplying high frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of 1/000 or less, the introduced film-forming raw material gas is turned into plasma, and a film is formed on the inner peripheral surface of the tube under the plasma. A method for producing a tube having a film formed on an inner peripheral surface thereof. (B) a vacuum vessel for performing film formation, an exhaust means provided for the vacuum vessel, a holder for supporting a film-forming tube made of a conductive material in the vacuum vessel, and a supporter for the holder. An electrically insulating member for covering the outside of the film-forming tube to be formed, and a gas introducing member for introducing a film-forming raw material gas from an end of the film-forming tube supported by the holder into the inside thereof. Gas supply means for supplying a film-forming source gas into the film-forming tube via the gas introducing member, and 13.56 MHz or more to the film-forming tube supported by the holder. To the basic high frequency power of the predetermined frequency of 1000
A high-frequency power supply means capable of supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of 1/1000 or more and 1/1000 or less. Manufacturing equipment.

【0012】前記の方法及び(b)の装置によると、
前記の方法及び(a)の装置によると同様の効果が得
られる。また、該管体の外側を電気絶縁性部材で覆った
状態で被成膜管体にガスプラズマ化用の高周波電力を供
給することにより、該管体の外部での放電が抑制されて
該管体の内部に効率よくプラズマを発生させることがで
きる。
According to the above method and the apparatus of (b),
According to the above-described method and the apparatus shown in FIG. In addition, by supplying high-frequency power for gas plasma formation to the film-forming tube in a state where the outside of the tube is covered with an electrically insulating member, discharge outside the tube is suppressed, and Plasma can be efficiently generated inside the body.

【0013】この場合、真空容器を接地し、該管体と該
容器との間に電圧が印加されるようにすればよい。ま
た、前記課題を解決するために本発明は、次のの内周
面に膜形成した管体の製造方法及び(c)の内周面に膜
形成した管体の製造装置を提供する。 電気絶縁性材料からなる被成膜管体の外側を補助電
極で覆い、該補助電極の外側を電気絶縁性部材で覆った
状態で、該管体の端部からガス導入用部材を介して該管
体内部に成膜用原料ガスを導入するとともに、該補助電
極に、13.56MHz以上の所定周波数の基本高周波
電力に該所定周波数の1000万分の1以上1000分
の1以下の変調周波数で振幅変調を施した状態の高周波
電力を供給して、前記導入した成膜用原料ガスをプラズ
マ化し、該プラズマのもとで該管体内周面に膜形成を行
うことを特徴とする内周面に膜形成した管体の製造方
法。 (c) 成膜を行うための真空容器と、該真空容器に対
し設けられた排気手段と、該真空容器内において電気絶
縁性材料からなる被成膜管体を支持するホルダと、該ホ
ルダに支持される被成膜管体の外側を覆う補助電極と、
該補助電極の外側を覆う電気絶縁性部材と、該ホルダに
支持される被成膜管体の端部からその内部に成膜用原料
ガスを導入するためのガス導入用部材と、該ガス導入用
部材を介して該被成膜管体内部に成膜用原料ガスを供給
するためのガス供給手段と、該補助電極に、13.56
MHz以上の所定周波数の基本高周波電力に該所定周波
数の1000万分の1以上1000分の1以下の変調周
波数で振幅変調を施した状態の高周波電力を供給するこ
とができる高周波電力供給手段とを含むことを特徴とす
る内周面に膜形成した管体の製造装置。
In this case, the vacuum vessel may be grounded so that a voltage is applied between the tube and the vessel. Further, in order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides the following method for manufacturing a tube having a film formed on the inner peripheral surface and apparatus (c) for manufacturing a tube having a film formed on the inner peripheral surface. The outside of the film-forming tube made of an electrically insulating material is covered with an auxiliary electrode, and the outside of the auxiliary electrode is covered with an electrically insulating member. A film-forming source gas is introduced into the tube, and a fundamental high-frequency power of a predetermined frequency of 13.56 MHz or more is applied to the auxiliary electrode at a modulation frequency of 1/10000 to 1/1000 of the predetermined frequency. By supplying high-frequency power in a modulated state, the introduced film-forming raw material gas is turned into plasma, and a film is formed on the inner peripheral surface of the tube under the plasma. A method for producing a tube formed with a film. (C) a vacuum vessel for forming a film, an exhaust means provided for the vacuum vessel, a holder for supporting a film-forming tube made of an electrically insulating material in the vacuum vessel, An auxiliary electrode that covers the outside of the supported film-forming tube;
An electrically insulating member for covering the outside of the auxiliary electrode, a gas introduction member for introducing a film-forming material gas from an end of the film-forming tube supported by the holder into the inside thereof, 13.56 gas supply means for supplying a film-forming source gas into the film-forming tube through the film-forming member;
High-frequency power supply means capable of supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed on a basic high-frequency power of a predetermined frequency of not less than 1 MHz and a modulation frequency of 1/10000 to 1/1000 of the predetermined frequency. An apparatus for manufacturing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof.

【0014】前記の方法及び(c)の装置によると、
前記の方法及び(a)の装置によると同様の効果が得
られる。また、被成膜管体の外側に設けた補助電極にガ
スプラズマ化用の高周波電力を供給するとともに、該補
助電極の外側を電気絶縁性部材で覆っておくことによ
り、該管体の外側での放電が抑制されて該管体の内部に
効率よくプラズマを発生させることができる。
According to the above method and the apparatus of (c),
According to the above-described method and the apparatus shown in FIG. In addition, high-frequency power for gas plasma is supplied to the auxiliary electrode provided outside the film-forming tube, and the outside of the auxiliary electrode is covered with an electrically insulating member, so that the outside of the tube is covered with the insulating material. Is suppressed, and plasma can be efficiently generated inside the tubular body.

【0015】この場合、真空容器を接地し、該補助電極
と該容器との間に電圧が印加されるようにすればよい。
また、前記(a)、(b)及び(c)のいずれの装置に
ついても、前記真空容器に対し設けられた排気手段は、
真空容器内に設置される管体の内部と該管体の外側領域
との間の通気性の度合等に応じて、真空容器内の管体外
側の領域から排気を行うもの、真空容器内に設置された
管体のガス供給側とは反対側の端部において管体内から
排気するもの、管体外側領域及び管体内の双方から排気
するもののいずれでもよい。また、管体外側領域及び管
体内の双方から排気するときは、それらに対しそれぞれ
排気手段を設けてもよい。
In this case, the vacuum vessel may be grounded so that a voltage is applied between the auxiliary electrode and the vessel.
Further, in any of the devices (a), (b) and (c), the exhaust means provided for the vacuum vessel may include:
Depending on the degree of air permeability between the inside of the tube installed in the vacuum vessel and the outer region of the tube, etc., the gas is exhausted from a region outside the tube in the vacuum container. Either exhausting from the inside of the tube at the end opposite to the gas supply side of the installed tube, or exhausting from both the outside region of the tube and the inside of the tube may be used. When exhausting air from both the outer tube region and the inner tube, exhaust means may be provided for each of them.

【0016】前記、、の方法及び前記(a)、
(b)、(c)の装置において、前記被成膜管体の材料
としては、これに限定されるものではないが、導電性材
料では、ステンレススチール、チタン、銅等を用いるこ
とができ、電気絶縁性材料では、ゴム、樹脂、セラミッ
ク等を用いることができる。また、形成する膜の厚み
は、該膜形成の目的に応じて、被成膜管体の内周面に密
着性良好に形成できる厚みとする。
The method (a) and the method (a),
In the apparatuses (b) and (c), the material of the film-forming tube is not limited to this, but stainless steel, titanium, copper, or the like can be used as the conductive material. As the electrically insulating material, rubber, resin, ceramic, or the like can be used. The thickness of the film to be formed is a thickness that can be formed with good adhesion on the inner peripheral surface of the film-forming tube according to the purpose of the film formation.

【0017】前記変調前の基本高周波電力は、サイン
波、矩形波、のこぎり波、三角波等、種々の波形のもの
を用いることができる。また、前記振幅変調は電力印加
のオン・オフによるパルス変調とすることができ、この
他パルス状の変調であってもよい。基本高周波電力の周
波数として13.56MHz以上のものを用いるのは、
これより小さくなってくるとプラズマ密度が不足しがち
になるからである。また、基本高周波電力の周波数は高
周波電源コスト等からして500MHz程度までとすれ
ばよい。
As the basic high-frequency power before the modulation, those having various waveforms such as a sine wave, a rectangular wave, a sawtooth wave, and a triangular wave can be used. Further, the amplitude modulation may be a pulse modulation by turning on / off the power application, and may be a pulse-like modulation. The use of a frequency of 13.56 MHz or more as the frequency of the basic high-frequency power is as follows.
This is because if it is smaller than this, the plasma density tends to be insufficient. Further, the frequency of the basic high-frequency power may be up to about 500 MHz in view of the high-frequency power supply cost and the like.

【0018】また、変調周波数として前記範囲のものを
用いるのは、変調周波数が基本高周波電力の周波数の1
000万分の1より小さくなってくると成膜速度が急激
に低下するからであり、1000分の1より大きくなっ
てくるとマッチングがとり難くなり、膜厚均一性が低下
するからである。また、前記パルス変調のデューティ比
(オン時間/オン+オフ時間)は20〜90%程度とす
ればよい。これは、20%より小さいと成膜速度が低下
するからであり、90%より大きいと成膜用原料ガスの
消費速度を調整し難くなるからである。
The reason why the modulation frequency in the above range is used is that the modulation frequency is one of the frequency of the basic high frequency power.
This is because the film forming rate is sharply reduced when the film thickness becomes smaller than 1 / 100,000, and it becomes difficult to obtain matching when the film thickness becomes larger than 1/1000, and the film thickness uniformity is reduced. Further, the duty ratio (on time / on + off time) of the pulse modulation may be about 20 to 90%. This is because if it is less than 20%, the film forming rate decreases, and if it is more than 90%, it becomes difficult to adjust the consumption rate of the film forming material gas.

【0019】また、本発明方法及び装置による成膜に用
いることができる成膜用原料ガス、それにより形成され
る膜及び該膜の用途を次表1に示す。 表1 成膜用原料ガス 膜 用途 CH4 炭素 耐摩耗、潤滑、高硬度化、 ガスバリア TiCl4 , H2 , NH3 窒化チタン 耐摩耗、耐腐食、装飾 TiCl4 , H2 , CH4 炭化チタン 耐摩耗、耐腐食 SiCl4 , H2 , CH4 炭化ケイ素 耐摩耗、耐腐食 SiCl4 , H2 , NH3 窒化ケイ素 耐摩耗、耐腐食 なお、表1中のTiCl4 及びSiCl4 は常温で液体
の化合物であり、所定温度下での水素ガス等を用いたバ
ブリングにより、気化させて用いる。
The following Table 1 shows film-forming raw material gases that can be used for film formation by the method and apparatus of the present invention, films formed by the same, and uses of the films. Table 1 Raw material gas for film formation Film Use CH 4 carbon Wear resistance, lubrication, hardness enhancement, gas barrier TiCl 4 , H 2 , NH 3 titanium nitride Wear resistance, corrosion resistance, decoration TiCl 4 , H 2 , CH 4 titanium carbide resistance Abrasion and corrosion resistance SiCl 4 , H 2 , CH 4 silicon carbide Abrasion and corrosion resistance SiCl 4 , H 2 , NH 3 Silicon nitride Abrasion and corrosion resistance TiCl 4 and SiCl 4 in Table 1 are liquid at room temperature. It is a compound which is used after being vaporized by bubbling using hydrogen gas or the like at a predetermined temperature.

【0020】本発明方法及び装置において、被成膜管体
の内周面に特に炭素膜を形成することが考えられる。こ
のとき、成膜用原料ガスとして、前掲の表1に示したメ
タン(CH4 )の他、炭素膜形成に一般に用いられるエ
タン(C2 6 )、プロパン(C3 8 )、ブタン(C
4 10)、アセチレン(C2 2 )、ベンゼン(C6
6 )、4フッ化炭素(CF4 )、6フッ化2炭素(C2
6 )等の炭素化合物ガスを用いることができ、必要に
応じて、これらの炭素化合物ガスにキャリアガスとして
水素ガス、不活性ガス等を混合したものを用いることが
できる。
In the method and apparatus according to the present invention, it is conceivable to form a carbon film on the inner peripheral surface of the film-forming tube. At this time, in addition to methane (CH 4 ) shown in Table 1 above, ethane (C 2 H 6 ), propane (C 3 H 8 ), butane ( C
4 H 10 ), acetylene (C 2 H 2 ), benzene (C 6 H
6 ) Carbon tetrafluoride (CF 4 ), carbon difluoride (C 2
A carbon compound gas such as F 6 ) can be used. If necessary, a mixture of such a carbon compound gas with a hydrogen gas, an inert gas, or the like as a carrier gas can be used.

【0021】また、特に、ゴムや樹脂等の高分子材料か
らなる被成膜管体の内周面に、耐摩耗性、潤滑性、撥水
性、ガスバリア性等の1又は2以上の特性が優れる炭素
膜を形成することが考えられる。ゴムとしては、天然ゴ
ム、ブチルゴム、エチレンプロピレンゴム、クロロプレ
ンゴム、塩素化ポリエチレンゴム、エピクロルヒドリン
ゴム、アクリルゴム、ニトリルゴム、ウレタンゴム、シ
リコンゴム、フッ素ゴム等を例示できる。
In particular, one or more characteristics such as abrasion resistance, lubricity, water repellency, and gas barrier properties are excellent on the inner peripheral surface of a film-forming tube made of a polymer material such as rubber or resin. It is conceivable to form a carbon film. Examples of the rubber include natural rubber, butyl rubber, ethylene propylene rubber, chloroprene rubber, chlorinated polyethylene rubber, epichlorohydrin rubber, acrylic rubber, nitrile rubber, urethane rubber, silicone rubber, and fluorine rubber.

【0022】前記被成膜管体の被成膜面を樹脂で形成す
る場合、熱硬化性樹脂としては、フェノール・ホルムア
ルデヒド樹脂、尿素樹脂、メラミン・ホルムアルデヒド
樹脂、エポキシ樹脂、フラン樹脂、キシレン樹脂、不飽
和ポリエステル樹脂、シリコン樹脂、ジアリルフタレー
ト樹脂等を例示できる。また、熱可塑性樹脂では、ビニ
ル系樹脂(ポリ塩化ビニル、ポリ2塩化ビニル、ポリビ
ニルブチラート、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニ
ル、ポリビニルホルマール等)、ポリ塩化ビニリデン、
塩素化ポリエーテル、ポリエステル系樹脂(ポリスチレ
ン、スチレン・アクリロニトリル共重合体等)、AB
S、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアセタール、
アクリル系樹脂(ポリメチルメタクリレート、変性アク
リル等)、ポリアミド系樹脂(ナイロン6、66、61
0、11等)、セルロース系樹脂(エチルセルロース、
酢酸セルロース、プロピルセルロース、酢酸・酪酸セル
ロース、硝酸セルロース等)、ポリカーボネート、フェ
ノキシ系樹脂、フッ素系樹脂(3フッ化塩化エチレン、
4フッ化エチレン、4フッ化エチレン・6フッ化プロピ
レン、フッ化ビニリデン等)、ポリウレタン等を例示で
きる。
When the film-forming surface of the film-forming tube is formed of a resin, the thermosetting resin may be a phenol-formaldehyde resin, a urea resin, a melamine-formaldehyde resin, an epoxy resin, a furan resin, a xylene resin, Examples thereof include an unsaturated polyester resin, a silicone resin, and a diallyl phthalate resin. In addition, in the thermoplastic resin, vinyl resins (polyvinyl chloride, polyvinyl dichloride, polyvinyl butyrate, polyvinyl alcohol, polyvinyl acetate, polyvinyl formal, etc.), polyvinylidene chloride,
Chlorinated polyether, polyester resin (polystyrene, styrene / acrylonitrile copolymer, etc.), AB
S, polyethylene, polypropylene, polyacetal,
Acrylic resin (polymethyl methacrylate, modified acrylic, etc.), polyamide resin (nylon 6, 66, 61)
0, 11 etc.), cellulosic resins (ethyl cellulose,
Cellulose acetate, propylcellulose, cellulose acetate / butyrate, cellulose nitrate, etc., polycarbonate, phenoxy resin, fluorine resin (ethylene trifluoride chloride,
(Tetrafluoroethylene, tetrafluoroethylene / hexafluoropropylene, vinylidene fluoride, etc.), polyurethane and the like.

【0023】このような高分子材料からなる被成膜管体
の内周面に炭素膜を形成する場合、前記炭素膜の膜厚
は、被成膜管体上に密着性良く形成でき、また、該管体
が柔軟性や可撓性を要求されるものである場合にもその
柔軟性や可撓性を損なわないとともに、被成膜管体の保
護膜としても機能できる範囲内であればよい。前記炭素
膜としては、代表的にはDLC(Diamond Like Carbon)
膜を挙げることができる。DLC膜は、潤滑性、撥水
性、離型性等が良好であり、また、傷がつき難く、且
つ、その厚さを調整することにより、被成膜管体が柔軟
性や可撓性が求められるものである場合にも該膜で被覆
された管体の柔軟性や可撓性を損なわないようにできる
程度の適度な硬度を有することができる炭素膜であり、
さらに、比較的低温で形成できる等、成膜を容易に行う
ことができる。
When a carbon film is formed on the inner peripheral surface of a film-forming tube made of such a polymer material, the thickness of the carbon film can be formed with good adhesion on the film-forming tube. Even when the tube is required to have flexibility and flexibility, the flexibility and flexibility are not impaired, as long as the tube can function as a protective film of the film-forming tube. Good. As the carbon film, typically, DLC (Diamond Like Carbon)
Mention may be made of membranes. The DLC film has good lubricity, water repellency, releasability, etc., is hard to be scratched, and by adjusting its thickness, the film-forming tube body has flexibility and flexibility. It is a carbon film that can have a moderate hardness enough to not impair the flexibility and flexibility of the tube covered with the film even when it is required,
Further, the film can be easily formed, for example, the film can be formed at a relatively low temperature.

【0024】また、前記炭素膜形成に先立ち、前処理と
して、被成膜管体の膜形成面をフッ素(F)含有ガス、
水素(H2 )ガス及び酸素(O2 )ガスから選ばれた少
なくとも1種のガスのプラズマに曝すことが考えら、こ
のとき、該被成膜面が清浄化され、又はさらに該面の粗
度が向上する。これらは、炭素膜の密着性向上及び膜均
一性向上に寄与する。
Prior to the formation of the carbon film, as a pretreatment, a film-forming surface of the film-forming tube is treated with a fluorine (F) -containing gas.
Considering exposure to plasma of at least one gas selected from hydrogen (H 2 ) gas and oxygen (O 2 ) gas, at this time, the surface on which the film is to be formed is cleaned or further roughened. The degree improves. These contribute to the improvement of the adhesion and the uniformity of the carbon film.

【0025】前記フッ素含有ガスとしては、フッ素(F
2 )ガス、3フッ化窒素(NF3 )ガス、6フッ化硫黄
(SF6 )ガス、4フッ化炭素(CF4 )ガス、4フッ
化ケイ素(SiF4 )ガス、6フッ化2ケイ素(Si2
6 )ガス、3フッ化塩素(ClF3 )ガス、フッ化水
素(HF)ガス等を挙げることができる。フッ素含有ガ
スプラズマを採用するときは、これによって被成膜面が
フッ素終端され、水素ガスプラズマを採用するときはこ
れによって被成膜面が水素終端される。フッ素−炭素結
合及び水素−炭素結合は安定であるため、前記のように
終端処理することで膜中の炭素原子が被成膜面部分のフ
ッ素原子又は水素原子と安定に結合を形成する。そして
これらのことから、その後形成する炭素膜と被成膜管体
との密着性を向上させることができる。
As the fluorine-containing gas, fluorine (F
2 ) gas, nitrogen trifluoride (NF 3 ) gas, sulfur hexafluoride (SF 6 ) gas, carbon tetrafluoride (CF 4 ) gas, silicon tetrafluoride (SiF 4 ) gas, disilicon hexafluoride ( Si 2
F 6 ) gas, chlorine trifluoride (ClF 3 ) gas, hydrogen fluoride (HF) gas and the like. When the fluorine-containing gas plasma is adopted, the film formation surface is terminated with fluorine, and when the hydrogen gas plasma is employed, the film formation surface is terminated with hydrogen. Since the fluorine-carbon bond and the hydrogen-carbon bond are stable, by performing the termination treatment as described above, the carbon atom in the film forms a stable bond with the fluorine atom or the hydrogen atom in the deposition surface portion. From these facts, it is possible to improve the adhesion between the subsequently formed carbon film and the film-forming tube.

【0026】また、酸素ガスプラズマを採用するとき
は、被成膜面に付着した有機物等の汚れを特に効率良く
除去でき、これらのことからその後形成する炭素膜と被
成膜管体との密着性を向上させることができる。本発明
において、炭素膜形成に先立って行うプラズマによる被
成膜面の前処理は、同種類のプラズマを用いて或いは異
なる種類のプラズマを用いて複数回行っても構わない。
例えば、該面を酸素ガスプラズマに曝した後、フッ素含
有ガスプラズマ又は水素ガスプラズマに曝し、さらにそ
の上に炭素膜を形成するときには、該面がクリーニング
された後、該面がフッ素終端又は水素終端されて、その
後形成する炭素膜と被成膜管体との密着性は非常に良好
なものとなる。
When oxygen gas plasma is employed, dirt such as organic substances adhering to the surface on which a film is to be formed can be particularly efficiently removed. Performance can be improved. In the present invention, the pretreatment of the deposition surface with plasma performed prior to the formation of the carbon film may be performed a plurality of times using the same type of plasma or using different types of plasma.
For example, after exposing the surface to oxygen gas plasma, exposing it to a fluorine-containing gas plasma or hydrogen gas plasma, and further forming a carbon film thereon, after the surface is cleaned, the surface may be terminated with fluorine or hydrogen. The adhesion between the carbon film to be formed after the termination and the film-forming tube is very good.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下本発明の実施例を図面を参照
して説明する。図1は本発明に係る管体の製造装置の1
例の概略構成を示す図である。この装置は、電気絶縁性
材料からなる被成膜管体Sの内周面に成膜を行うための
装置であり、真空チャンバ1を有し、チャンバ1内には
被成膜管体Sを支持するホルダ3が設けられている。支
持ホルダ3は図示しない部材によりチャンバ1に保持さ
れている。チャンバ1は接地電位とされる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a tube manufacturing apparatus 1 according to the present invention.
It is a figure showing the schematic structure of an example. This apparatus is an apparatus for forming a film on the inner peripheral surface of a film-forming tube S made of an electrically insulating material, and has a vacuum chamber 1 in which the film-forming tube S is placed. A supporting holder 3 is provided. The support holder 3 is held in the chamber 1 by a member (not shown). The chamber 1 is set to the ground potential.

【0028】被成膜管体S配置位置の一端には中心にガ
ス通過孔41を有するリング状の導電性材料からなるガ
ス導入用部材4が配置され、他端には中心にガス通過孔
51を有するリング状の導電性材料からなる排気用部材
5が配置されている。なお、ホルダ3に支持される被成
膜管体Sとガス導入用部材4との間及び被成膜管体Sと
排気用部材5との間は、それぞれ若干の間隙があっても
よく、特に気密に保たれる必要はない。ガス導入用部材
4とチャンバ1とは電気絶縁性部材40にて絶縁されて
いる。排気用部材5とチャンバ1は導通しており、接地
電位にある。
A gas introduction member 4 made of a ring-shaped conductive material having a gas passage hole 41 at the center is disposed at one end of the film-forming tube S, and a gas passage hole 51 is disposed at the center at the other end. The exhaust member 5 made of a ring-shaped conductive material having the following structure is disposed. Note that there may be a slight gap between the film-forming tube S supported by the holder 3 and the gas introduction member 4 and between the film-forming tube S and the exhaust member 5, respectively. It does not need to be kept particularly airtight. The gas introduction member 4 and the chamber 1 are insulated by an electrically insulating member 40. The exhaust member 5 and the chamber 1 are electrically connected and at the ground potential.

【0029】また、ガス導入用部材4及び排気用部材5
にはそれぞれ圧力計P及びP´が付設されて、ガス通過
孔41及び51内部の圧力を測定することで、被成膜管
体S内部の圧力をほぼ測定できるようになっている。ま
た、真空チャンバ1には、弁6aを介して排気ポンプ6
bが接続されており、チャンバ1内を真空排気できるよ
うになっている。また、排気用部材5には圧力調整弁6
a´を介して排気ポンプ6b´が接続されており、圧力
計P及びP´により検出される被成膜管体S内圧力に応
じて、被成膜管体Sの内部を所定圧力に排気調整できる
ようになっている。
The gas introduction member 4 and the exhaust member 5
Are provided with pressure gauges P and P ′, respectively, so that the pressure inside the film-forming tube S can be almost measured by measuring the pressure inside the gas passage holes 41 and 51. The vacuum chamber 1 has an exhaust pump 6 through a valve 6a.
b is connected, and the inside of the chamber 1 can be evacuated. The exhaust member 5 has a pressure regulating valve 6.
An exhaust pump 6b 'is connected via a', and the inside of the film-forming tube S is evacuated to a predetermined pressure in accordance with the pressure in the film-forming tube S detected by the pressure gauges P and P '. It can be adjusted.

【0030】ガス導入用部材4には、成膜用原料ガス供
給部7が接続されて、該部材4のガス通過孔41を介し
て被成膜管体Sの内部に成膜用原料ガスを供給できるよ
うになっている。ガス供給部7は、弁711、721・
・・、マスフローコントローラ712、722・・・、
弁711´、721´及びレギュレータ713、723
・・・を介して接続された1又は2以上の成膜用原料ガ
スのガス源714、724・・・からなる。さらに、ガ
ス導入用部材4には、高周波電力供給部8が接続されて
いる。高周波電力供給部8は、マッチングボックス8
1、高周波電源82及び任意波形発生装置83がこの順
に接続されたものである。
A source gas supply unit 7 for film formation is connected to the gas introduction member 4, and the source gas for film formation is supplied to the inside of the tube S through the gas passage hole 41 of the member 4. It can be supplied. The gas supply unit 7 includes valves 711 and 721.
.., mass flow controllers 712, 722,.
Valves 711 ', 721' and regulators 713, 723
Are connected to each other through one or more film source gas sources 714, 724,... Further, a high-frequency power supply unit 8 is connected to the gas introduction member 4. The high-frequency power supply unit 8 includes a matching box 8
1. A high-frequency power supply 82 and an arbitrary waveform generator 83 are connected in this order.

【0031】この装置を用いて本発明方法を実施するに
あたっては、チャンバ1内に電気絶縁性材料からなる被
成膜管体Sが搬入され、ホルダ3に支持されてガス導入
用部材4と排気用部材5との間に配置される。次いで、
チャンバ1内(被成膜管体S内を含む)が排気ポンプ6
b、6b´の運転により所定真空度とされる。また、ガ
ス供給部7からガス導入用部材4を介して被成膜管体S
内に成膜用原料ガスが導入されるとともに、高周波電源
82及び任意波形発生装置83により形成されたパルス
変調高周波電力がマッチングボックス81を介してガス
導入用部材4に供給される。該パルス変調高周波電力
は、13.56MHz以上の所定周波数の基本高周波電
力に該所定周波数の1000万分の1以上1000分の
1以下の変調周波数で振幅変調を施した状態の高周波電
力である。また、デューティ比(オン時間/オン時間+
オフ時間)は、20〜90%の範囲で定める。これによ
り、前記導入した成膜用原料ガスがプラズマ化され、該
プラズマのもとで管体S内周面に均一に所望の膜が形成
される。
In carrying out the method of the present invention using this apparatus, a film-forming tube S made of an electrically insulating material is carried into the chamber 1 and supported by the holder 3 to form the gas introducing member 4 and the exhaust gas. Between the first member 5 and the second member 5. Then
An exhaust pump 6 is provided in the chamber 1 (including the inside of the film-forming tube S).
A predetermined degree of vacuum is set by the operations of b and 6b '. In addition, the film-forming pipe S is formed via the gas introduction member 4 from the gas supply unit 7.
The raw material gas for film formation is introduced therein, and the pulse-modulated high-frequency power generated by the high-frequency power supply 82 and the arbitrary waveform generator 83 is supplied to the gas introduction member 4 via the matching box 81. The pulse-modulated high-frequency power is a high-frequency power obtained by subjecting a basic high-frequency power having a predetermined frequency of 13.56 MHz or more to amplitude modulation at a modulation frequency of 1/10000 to 1/1000 of the predetermined frequency. Also, the duty ratio (ON time / ON time +
OFF time) is determined in the range of 20 to 90%. Thus, the introduced film-forming source gas is turned into plasma, and a desired film is uniformly formed on the inner peripheral surface of the tube S under the plasma.

【0032】前記説明した方法及び装置によると、成膜
用原料ガスのプラズマ化のために供給する高周波電力に
このような変調を施すことにより、高密度で均一なプラ
ズマが得られ、これにより被成膜管体Sの一端からその
内部に成膜用原料ガスを供給するにもかかわらず、該管
体Sの内周面に均一に成膜を行うことができる。また、
変調周波数等を調整することにより成膜用原料ガスの消
費速度を制御することができ、成膜速度等の制御が容易
になる。また、成膜を行うチャンバ1内の真空を破るこ
となく、必要に応じ成膜用原料ガスを供給することがで
きるため、生産性がよい。また、前記装置は構造が比較
的簡単である。
According to the above-described method and apparatus, a high-density and uniform plasma can be obtained by performing such a modulation on the high-frequency power supplied for converting the source gas for film formation into plasma. Despite supplying the film forming material gas from one end of the film forming tube S, the film can be uniformly formed on the inner peripheral surface of the tube S. Also,
By adjusting the modulation frequency and the like, the consumption rate of the source gas for film formation can be controlled, and the control of the film formation rate and the like becomes easy. In addition, since a film-forming material gas can be supplied as needed without breaking the vacuum in the chamber 1 where the film is formed, productivity is high. Also, the device is relatively simple in construction.

【0033】また、図2は本発明に係る管体の製造装置
の他の例の概略構成を示す図である。この装置は、導電
性材料からなる被成膜管体Sの内周面に成膜を行うため
の装置であり、被成膜管体Sの外径と同じ又はそれより
若干大きい内径を有し、被成膜管体Sとほぼ同じ長さを
有する管状の絶縁部材2aがホルダ3に支持されて設け
られている。ホルダ3は絶縁部材2a及び被成膜管体S
を支持するためのものである。また、絶縁部材2aとガ
ス導入用部材4との間にはリング状の絶縁部材2bが配
置されており、ホルダ3により絶縁部材2aの内側に保
持される導電性の被成膜管体Sとガス導入用部材4との
間を電気的に絶縁できるようになっている。また、絶縁
部材2aと排気用部材5との間にはリング状の絶縁部材
2b´が配置されており、被成膜管体Sと排気用部材5
との間を電気的に絶縁できるようになっている。なお、
絶縁部材2b及び2b´は、被成膜管体Sとガス導入用
部材4との間及び被成膜管体Sと排気用部材5との間
を、それぞれ気密に保つものである必要はない。その他
の構成は、図1に示す装置と同様であり、同じ部品には
同じ参照符号を付してある。
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of another example of a tube manufacturing apparatus according to the present invention. This apparatus is an apparatus for forming a film on the inner peripheral surface of a film-forming tube S made of a conductive material, and has an inner diameter equal to or slightly larger than the outer diameter of the film-forming tube S. A tubular insulating member 2 a having substantially the same length as the film-forming tube S is provided supported by the holder 3. The holder 3 includes an insulating member 2a and a film-forming tube S
It is for supporting. Further, a ring-shaped insulating member 2b is disposed between the insulating member 2a and the gas introduction member 4, and a conductive film-forming tube S held inside the insulating member 2a by the holder 3 is provided. The gas introduction member 4 can be electrically insulated from the gas introduction member 4. A ring-shaped insulating member 2b 'is disposed between the insulating member 2a and the exhaust member 5, and the film-forming tube S and the exhaust member 5 are disposed.
And can be electrically insulated from each other. In addition,
The insulating members 2b and 2b 'do not need to keep the airtightness between the film-forming tube S and the gas introduction member 4 and between the film-forming tube S and the exhaust member 5, respectively. . Other configurations are the same as those of the apparatus shown in FIG. 1, and the same parts are denoted by the same reference numerals.

【0034】この装置を用いて本発明方法を実施するに
あたっては、被成膜管体Sがホルダ3に支持され、且
つ、絶縁部材2aの内側に配置される。また、被成膜管
体Sが接地電位とされて、ガス導入用部材4と管体Sと
の間に高周波電圧が印加される。その他の動作は、図1
の装置を用いる場合と同様にして、成膜用原料ガスにパ
ルス変調高周波電力が供給されて該ガスがプラズマ化さ
れ、該プラズマのもとで、導電性材料からなる被成膜管
体Sの内周面に均一に所望の膜が形成される。この方法
及び装置によると、図1の装置を用いた成膜と同様の効
果が得られる。また、導電性材料からなる被成膜管体S
の外側が絶縁部材2aで覆われているため、被成膜管体
Sの外部での放電が抑制されて、該管体Sの内部に効率
よくプラズマを発生させることができる。
In carrying out the method of the present invention using this apparatus, the film-forming tube S is supported by the holder 3 and disposed inside the insulating member 2a. Further, the film-forming tube S is set to the ground potential, and a high-frequency voltage is applied between the gas introduction member 4 and the tube S. Other operations are shown in FIG.
In the same manner as in the case of using the apparatus, the pulse-modulated high-frequency power is supplied to the film-forming raw material gas to convert the gas into plasma, and under the plasma, the film-forming tube S made of a conductive material is formed. A desired film is uniformly formed on the inner peripheral surface. According to this method and apparatus, the same effect as that of the film formation using the apparatus of FIG. 1 can be obtained. Further, the film-forming tube S made of a conductive material
Is covered with the insulating member 2a, electric discharge outside the film-forming tube S is suppressed, and plasma can be efficiently generated inside the tube S.

【0035】また、図3は、本発明に係る管体の製造装
置のさらに他の例の概略構成を示す図である。この装置
は、導電性材料からなる被成膜管体Sの内周面に成膜を
行うための装置であり、被成膜管体Sの外径と同じ又は
それより若干大きい内径を有し、被成膜管体Sとほぼ同
じ長さを有する管状の絶縁部材2aがホルダ3に支持さ
れて設けられている。ホルダ3は絶縁部材2a及び被成
膜管体Sを支持するためのものである。また、絶縁部材
2aとガス導入用部材4との間にはリング状の絶縁部材
2bが配置されており、ホルダ3により絶縁部材2aの
内側に保持される導電性の被成膜管体Sとガス導入用部
材4との間を電気的に絶縁できるようになっている。ま
た、絶縁部材2aと排気用部材5との間にはリング状の
絶縁部材2b´が配置されており、被成膜管体Sと排気
用部材5との間を電気的に絶縁できるようになってい
る。なお、絶縁部材2b及び2b´は、被成膜管体Sと
ガス導入用部材4との間及び被成膜管体Sと排気用部材
5との間を、それぞれ気密に保つものである必要はな
い。また、高周波電力供給部8はホルダ3に支持される
被成膜管体Sに接続される。またガス導入用部材4及び
排気部材5は共にチャンバ1に導通していて接地電位に
ある。その他の構成は図1に示す装置と同様の装置であ
り、同じ部品には同じ参照符号を付してある。
FIG. 3 is a view showing a schematic configuration of still another example of the tube manufacturing apparatus according to the present invention. This apparatus is an apparatus for forming a film on the inner peripheral surface of a film-forming tube S made of a conductive material, and has an inner diameter equal to or slightly larger than the outer diameter of the film-forming tube S. A tubular insulating member 2 a having substantially the same length as the film-forming tube S is provided supported by the holder 3. The holder 3 is for supporting the insulating member 2a and the film-forming tube S. Further, a ring-shaped insulating member 2b is disposed between the insulating member 2a and the gas introduction member 4, and a conductive film-forming tube S held inside the insulating member 2a by the holder 3 is provided. The gas introduction member 4 can be electrically insulated from the gas introduction member 4. A ring-shaped insulating member 2b 'is disposed between the insulating member 2a and the exhaust member 5, so that the film-forming tube S and the exhaust member 5 can be electrically insulated. Has become. The insulating members 2b and 2b 'need to keep the airtightness between the film-forming tube S and the gas introduction member 4 and between the film-forming tube S and the exhaust member 5, respectively. There is no. The high-frequency power supply unit 8 is connected to a film-forming tube S supported by the holder 3. The gas introduction member 4 and the exhaust member 5 are both electrically connected to the chamber 1 and are at the ground potential. Other components are the same as those shown in FIG. 1, and the same parts are denoted by the same reference numerals.

【0036】この装置を用いて本発明方法を実施するに
あたっては、管体Sが絶縁部材2a内に配置され、被成
膜管体Sとチャンバ1との間に高周波電圧が印加される
他は、前記図1の装置を用いる場合と同様にして、成膜
用原料ガスにパルス変調高周波電力が供給されて該ガス
がプラズマ化され、該プラズマのもとで、導電性材料か
らなる被成膜管体Sの内周面に均一に所望の膜が形成さ
れる。この方法及び装置によると、図1の装置を用いた
成膜と同様の効果が得られる。また、導電性材料からな
る被成膜管体Sの外側が絶縁部材2aで覆われているた
め、被成膜管体Sの外部での放電が抑制されて、該管体
Sの内部に効率よくプラズマを発生させることができ
る。
In practicing the method of the present invention using this apparatus, the tube S is disposed in the insulating member 2a, and a high-frequency voltage is applied between the film-forming tube S and the chamber 1. In the same manner as in the case of using the apparatus shown in FIG. 1, a pulse-modulated high-frequency power is supplied to a source gas for film formation, the gas is turned into plasma, and a film is formed from a conductive material under the plasma. A desired film is uniformly formed on the inner peripheral surface of the tube S. According to this method and apparatus, the same effect as that of the film formation using the apparatus of FIG. 1 can be obtained. In addition, since the outside of the film-forming tube S made of a conductive material is covered with the insulating member 2a, the discharge outside the film-forming tube S is suppressed, and the efficiency inside the tube S is reduced. Plasma can be generated well.

【0037】また、図4は、本発明に係る管体の製造装
置のさらに他の例の概略構成を示す図である。この装置
は、電気絶縁性材料からなる被成膜管体Sの内周面に成
膜を行うための装置であり、被成膜管体Sの外径と同じ
又はそれより若干大きい内径を有し、被成膜管体Sとほ
ぼ同じ長さを有する管状の補助電極9及びその外側に補
助電極9の外径と同じ又はそれより若干大きい内径を有
し、被成膜管体Sとほぼ同じ長さを有する管状の絶縁部
材2a´がホルダ3に支持されて設けられている。ホル
ダ3は被成膜管体S、補助電極9及び絶縁部材2a´を
支持するためのものである。また、パルス変調高周波電
力供給部8は補助電極9に接続されている。ガス導入用
部材4及び排気用部材5は共に電極9から絶縁されてい
るとともにチャンバ1に導通していて接地電位にある。
その他の構成は図1に示す装置と同様の装置であり、同
じ部品には同じ参照符号を付してある。
FIG. 4 is a view showing a schematic configuration of still another example of the tube manufacturing apparatus according to the present invention. This apparatus is an apparatus for forming a film on the inner peripheral surface of a film-forming tube S made of an electrically insulating material, and has an inner diameter that is the same as or slightly larger than the outer diameter of the film-forming tube S. A tubular auxiliary electrode 9 having substantially the same length as the film-forming tube S and an inner diameter on the outside thereof that is the same as or slightly larger than the outer diameter of the auxiliary electrode 9, and is substantially the same as the film-forming tube S. A tubular insulating member 2 a ′ having the same length is provided supported by the holder 3. The holder 3 is for supporting the film-forming tube S, the auxiliary electrode 9, and the insulating member 2a '. Further, the pulse-modulated high-frequency power supply unit 8 is connected to the auxiliary electrode 9. The gas introduction member 4 and the exhaust member 5 are both insulated from the electrode 9 and are electrically connected to the chamber 1 and are at the ground potential.
Other components are the same as those shown in FIG. 1, and the same parts are denoted by the same reference numerals.

【0038】この装置を用いて本発明方法を実施するに
あたっては、管体Sは絶縁部材2a′内に配置された電
極9の内側に配置されてホルダ3に支持され、補助電極
9とチャンバ1との間に高周波電圧が印加される他は、
前記図1の装置を用いる場合と同様にして、成膜用原料
ガスにパルス変調高周波電力が供給されて該ガスがプラ
ズマ化され、該プラズマのもとで、電気絶縁性材料から
なる被成膜管体Sの内周面に均一に所望の膜が形成され
る。この方法及び装置によると、図1の装置を用いた成
膜と同様の効果が得られる。また、被成膜管体Sの外側
に配置された補助電極9の外側が絶縁部材2aで覆われ
ているため、被成膜管体Sの外部での放電が抑制され
て、該管体Sの内部に効率よくプラズマを発生させるこ
とができる。
In carrying out the method of the present invention using this apparatus, the tube S is disposed inside the electrode 9 disposed in the insulating member 2a 'and is supported by the holder 3, and the auxiliary electrode 9 and the chamber 1 Except that a high frequency voltage is applied between
As in the case of using the apparatus shown in FIG. 1, a pulse-modulated high-frequency power is supplied to the source gas for film formation to convert the gas into plasma, and the film is formed from an electrically insulating material under the plasma. A desired film is uniformly formed on the inner peripheral surface of the tube S. According to this method and apparatus, the same effect as that of the film formation using the apparatus of FIG. 1 can be obtained. Further, since the outside of the auxiliary electrode 9 disposed outside the film-forming tube S is covered with the insulating member 2a, discharge outside the film-forming tube S is suppressed, and the tube S It is possible to efficiently generate plasma inside the device.

【0039】次に、図1〜図4の装置を用いてDLC膜
を形成した本発明方法実施の具体例を説明する。 実施例1(図1の装置) 被成膜管体S 材質 ポリイミド サイズ 外径5mm(内径4mm)×長さ30cm ガス導入用部材4 材質 ステンレススチール ガス通過孔 直径1mm ガス導入用部材4と 被成膜管体との距離 2mm 成膜用原料ガス CH4 10sccm 高周波電力 基本高周波電力 13.56MHz、300W パルス変調周波数 1kHz 、デューティ50% 成膜真空度 0.01Torr 成膜速度 100Å/min 成膜時間 30min 実施例2(図2の装置) 被成膜管体S 材質 ステンレススチール サイズ 外径5mm(内径4mm)×長さ30cm ガス導入用部材4 材質 ステンレススチール ガス通過孔 直径1mm 絶縁部材2a 材質 ポリテトラフルオロエチレン サイズ 外径20mm(内径約5mm)×長さ30cm 成膜用原料ガス CH4 10sccm 高周波電力 基本高周波電力 13.56MHz、300W パルス変調周波数 1kHz 、デューティ50% 成膜真空度 0.01Torr 成膜速度 100Å/min 成膜時間 30min 実施例3(図3の装置) 被成膜管体S 材質 ステンレススチール サイズ 外径5mm(内径4mm)×長さ30cm ガス導入用部材4 材質 ステンレススチール ガス通過孔 直径1mm ガス導入用部材4と 被成膜管体との距離 2mm 絶縁部材2a 材質 ポリテトラフルオロエチレン サイズ 外径30mm(内径約5mm)×長さ30cm 成膜用原料ガス CH4 10sccm 高周波電力 基本高周波電力 13.56MHz、300W パルス変調周波数 1kHz 、デューティ50% 成膜真空度 0.01Torr 成膜速度 100Å/min 成膜時間 30min 実施例4(図4の装置) 被成膜管体S 材質 ポリイミド サイズ 外径5mm(内径4mm)×長さ30cm ガス導入用部材4 材質 ステンレススチール ガス通過孔 直径1mm ガス導入用部材4と 被成膜管体との距離 2mm 補助電極9 材質 ステンレススチール サイズ 外径9mm(内径約5mm)×長さ30cm 絶縁部材2a´ 材質 ポリテトラフルオロエチレン サイズ 外径30mm(内径約9mm)×長さ約30cm 成膜用原料ガス CH4 10sccm 高周波電力 基本高周波電力 13.56MHz、300W パルス変調周波数 1kHz 、デューティ50% 成膜真空度 0.01Torr 成膜速度 100Å/min 成膜時間 30min 比較例1(図1の装置) 前記実施例1において、ガスプラズマ化用高周波電力と
して、パルス変調を施さない、周波数13.56MH
z、電力300Wの高周波電力を用いた他は、前記実施
例1と同様にして30分間成膜を行った。成膜速度は1
30Å/minであった。 比較例2(図2の装置) 前記実施例2において、ガスプラズマ化用高周波電力と
して、パルス変調を施さない、周波数13.56MH
z、電力300Wの高周波電力を用いた他は、前記実施
例2と同様にして30分間成膜を行った。成膜速度は1
20Å/minであった。 比較例3(図3の装置) 前記実施例3において、ガスプラズマ化用高周波電力と
して、パルス変調を施さない、周波数13.56MH
z、電力300Wの高周波電力を用いた他は、前記実施
例3と同様にして30分間成膜を行った。成膜速度は1
20Å/minであった。 比較例4(図4の装置) 前記実施例4において、ガスプラズマ化用高周波電力と
して、パルス変調を施さない、周波数13.56MH
z、電力300Wの高周波電力を用いた他は、前記実施
例4と同様にして30分間成膜を行った。成膜速度は1
10Å/minであった。
Next, a specific example of the method of the present invention in which a DLC film is formed using the apparatus shown in FIGS. Example 1 (Apparatus in FIG. 1) Film-forming tube S Material Polyimide Size Outer diameter 5 mm (inner diameter 4 mm) × Length 30 cm Gas introduction member 4 Material Stainless steel Gas passage hole 1 mm diameter Gas introduction member 4 and coating the material gas CH 4 10 sccm for distance 2mm deposition of the membrane tube high frequency power fundamental frequency power 13.56 MHz, 300 W pulse modulation frequency 1 kHz, 50% duty deposition vacuum 0.01Torr deposition rate 100 Å / min deposition time 30min embodiment Example 2 (apparatus in FIG. 2) Film-forming tube S Material Stainless steel Size Outer diameter 5 mm (inner diameter 4 mm) x length 30 cm Gas introduction member 4 Material Stainless steel Gas passage hole 1 mm diameter Insulation member 2a Material Polytetrafluoroethylene size outer diameter 20 mm (inner diameter of about 5 mm) × 30cm long film-forming raw material gas CH 4 10 sccm Frequency power Basic high frequency power 13.56 MHz, 300 W Pulse modulation frequency 1 kHz, duty 50% Deposition vacuum degree 0.01 Torr Deposition rate 100 l / min Deposition time 30 min Example 3 (apparatus in FIG. 3) Stainless steel Size Outer diameter 5 mm (inner diameter 4 mm) x length 30 cm Gas introduction member 4 Material Stainless steel Gas passage hole Diameter 1 mm Distance between gas introduction member 4 and tube to be coated 2 mm Insulation member 2a Material Polytetrafluoroethylene Size Outer diameter 30 mm (inner diameter about 5 mm) x length 30 cm Deposition material gas CH 4 10 sccm High frequency power Basic high frequency power 13.56 MHz, 300 W Pulse modulation frequency 1 kHz, Duty 50% Deposition vacuum degree 0.01 Torr Deposition rate 100Å / min Film-forming time 30 min Example 4 (the apparatus of FIG. 4) Film-forming pipe S Material Poly D Size Outer diameter 5 mm (inner diameter 4 mm) x length 30 cm Gas introduction member 4 Material Stainless steel Gas passage hole Diameter 1 mm Distance between gas introduction member 4 and deposition target tube 2 mm Auxiliary electrode 9 Material Stainless steel Size Outside diameter 9 mm (inner diameter of about 5 mm) × 30cm long insulating member 2a' material polytetrafluoroethylene size outer diameter 30 mm (inner diameter of about 9 mm) × material gas CH 4 for a length of about 30cm film 10sccm RF power basic frequency power 13.56 MHz, 300 W Pulse modulation frequency 1 kHz, duty 50% Deposition degree of vacuum 0.01 Torr Deposition rate 100 ° / min Deposition time 30 min Comparative Example 1 (apparatus of FIG. 1) In Example 1, pulse modulation was performed as the high-frequency power for gas plasma formation. 13.56MHZ without frequency
A film was formed for 30 minutes in the same manner as in Example 1 except that a high frequency power of 300 watts was used. The deposition rate is 1
It was 30 ° / min. Comparative Example 2 (Apparatus of FIG. 2) In the above-mentioned Example 2, the frequency was 13.56 MH, without pulse modulation, as the high frequency power for gas plasma formation.
A film was formed for 30 minutes in the same manner as in Example 2 except that a high frequency power of 300 watts was used. The deposition rate is 1
It was 20 ° / min. Comparative Example 3 (Apparatus in FIG. 3) In Example 3, the frequency was 13.56 MH, without pulse modulation, as the high-frequency power for gas plasma formation.
A film was formed for 30 minutes in the same manner as in Example 3 except that a high-frequency power of 300 watts was used. The deposition rate is 1
It was 20 ° / min. Comparative Example 4 (Apparatus of FIG. 4) In the above-mentioned Example 4, the frequency was 13.56 MH, without pulse modulation, as the high frequency power for gas plasma formation.
A film was formed for 30 minutes in the same manner as in Example 4 except that a high frequency power of 300 W was used. The deposition rate is 1
It was 10 ° / min.

【0040】次に、前記実施例1〜4及び比較例1〜4
により得られたDLC膜被覆管体について、該管体の一
端から1cmのA点、15cmのB点及び29cmのC
点の3点での膜厚を測定し、膜厚均一性を評価した。結
果を次表2に示す。 表2 膜厚(Å) 膜厚均一性 A点 B点 C点 実施例1 0.24 0.22 0.17 ±11.1% 実施例2 0.23 0.21 0.16 ±17.5% 実施例3 0.25 0.22 0.18 ±16.2% 実施例4 0.22 0.20 0.16 ±15.5% 比較例1 0.34 0.09 0.04 ±95.7% 比較例2 0.33 0.09 0.03 ±100.0% 比較例3 0.35 0.10 0.05 ±90.0% 比較例4 0.33 0.08 0.03 ±102.3% これによると、ガスプラズマ化用高周波電力として前記
パルス変調を施した高周波電力を用いることで、該変調
を施さない場合に比べて著しく膜厚均一性が向上したこ
とが分かる。
Next, the above Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4
Of the DLC film coated tube obtained by the above method, a point A of 1 cm, a point B of 15 cm and a C of 29 cm from one end of the tube.
The film thickness was measured at three points, and the film thickness uniformity was evaluated. The results are shown in Table 2 below. Table 2 Thickness (Å) Thickness uniformity A point B point C point Example 1 0.24 0.22 0.17 ± 11.1% Example 2 0.23 0.21 0.16 ± 17.5 % Example 3 0.25 0.22 0.18 ± 16.2% Example 4 0.22 0.20 0.16 ± 15.5% Comparative Example 1 0.34 0.09 0.04 ± 95. 7% Comparative Example 2 0.33 0.09 0.03 ± 100.0% Comparative Example 3 0.35 0.10 0.05 ± 90.0% Comparative Example 4 0.33 0.08 0.03 ± 102 According to this, it is understood that the use of the high-frequency power subjected to the pulse modulation as the high-frequency power for gas plasma conversion significantly improved the film thickness uniformity as compared with the case where the modulation was not performed.

【0041】次に、前記実施例3において、パルス変調
周波数を10Hz〜100kHz(基本高周波電力の周
波数の約100万分の1〜約100分の1)の範囲で、
デューティ50%で変化させたときの成膜速度及び膜厚
均一性の変化について検討した。結果をそれぞれ図5
(A)及び(B)に示す。これによると、前記パルス変
調周波数の範囲では、変調周波数が大きくなるほど成膜
速度が向上し、変調周波数が小さくなるほど膜厚均一性
が向上した。従って、前記実施例3のように、基本高周
波電力電力の周波数が13.56MHzの場合、パルス
変調周波数を1kHz程度にすることで成膜速度及び膜
厚均一性の双方をバランス良く向上させ得ることが分か
る。
Next, in the third embodiment, the pulse modulation frequency is set in the range of 10 Hz to 100 kHz (about 1 / 100,000 to about 1/100 of the frequency of the basic high frequency power).
The changes in the film forming speed and film thickness uniformity when the duty was changed at 50% were examined. The results are shown in FIG.
(A) and (B). According to this, in the range of the pulse modulation frequency, as the modulation frequency increases, the film forming speed increases, and as the modulation frequency decreases, the film thickness uniformity improves. Therefore, when the frequency of the basic high-frequency power is 13.56 MHz as in the third embodiment, it is possible to improve both the film forming speed and the film thickness uniformity in a well-balanced manner by setting the pulse modulation frequency to about 1 kHz. I understand.

【0042】なお、ここでは、成膜用原料ガスとしてメ
タンガスを用いた場合の、パルス変調周波数と成膜速度
との関係及びパルス変調周波数と膜厚均一性との関係の
み示したが、この関係、すなわち成膜速度及び膜厚均一
性の双方をバランス良く向上させることができるパルス
変調周波数はガスの種類によって適宜定めることができ
る。
Here, only the relationship between the pulse modulation frequency and the deposition rate and the relationship between the pulse modulation frequency and the film thickness uniformity when methane gas is used as the source gas for film formation are shown. That is, the pulse modulation frequency that can improve both the film forming rate and the film thickness uniformity in a well-balanced manner can be appropriately determined depending on the type of gas.

【0043】[0043]

【発明の効果】本発明によると、内径の小さい管体でも
その内周面に均一に、又は均一状に成膜を行うことがで
き、しかも、簡単な構造の装置を用いて、生産性よく内
周面に膜形成した管体を得ることができる方法、及び、
このような管体製造方法を実施できる簡単な構造の装置
を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to form a film evenly or evenly on the inner peripheral surface of a pipe having a small inner diameter, and to improve productivity by using a device having a simple structure. A method capable of obtaining a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof, and
It is possible to provide an apparatus having a simple structure capable of performing such a pipe manufacturing method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る、内周面に膜形成された管体の製
造装置の1例の概略構成を示す図である。
FIG. 1 is a view showing a schematic configuration of an example of an apparatus for manufacturing a pipe having a film formed on an inner peripheral surface according to the present invention.

【図2】本発明に係る、内周面に膜形成された管体の製
造装置の他の例の概略構成を示す図である。
FIG. 2 is a view showing a schematic configuration of another example of the apparatus for manufacturing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface according to the present invention.

【図3】本発明に係る、内周面に膜形成された管体の製
造装置のさらに他の例の概略構成を示す図である。
FIG. 3 is a view showing a schematic configuration of still another example of the apparatus for manufacturing a tubular body having a film formed on the inner peripheral surface according to the present invention.

【図4】本発明に係る、内周面に膜形成された管体の製
造装置のさらに他の例の概略構成を示す図である。
FIG. 4 is a view showing a schematic configuration of still another example of the apparatus for manufacturing a tubular body having a film formed on the inner peripheral surface according to the present invention.

【図5】図(A)はパルス変調周波数と成膜速度との関
係の1例を示す図であり、図(B)はパルス変調周波数
と膜厚均一性との関係の1例を示す図である。
FIG. 5A is a diagram illustrating an example of a relationship between a pulse modulation frequency and a film forming speed, and FIG. 5B is a diagram illustrating an example of a relationship between a pulse modulation frequency and film thickness uniformity. It is.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 真空チャンバ 2a、2a´、2b、2b´、40 絶縁部材 3 被成膜管体支持ホルダ 4 ガス導入用部材 41 ガス通過孔 5 排気用部材 51 ガス通過孔 6a 弁 6a´ 圧力調整弁 6b、6b´ 排気ポンプ 7 成膜用原料ガス供給部 711、721、711´、721´ 弁 712、722 マスフローコントローラ 713、723 レギュレータ 714、724 成膜用原料ガス源 8 高周波電力供給部 81 マッチングボックス 82 高周波電源 83 任意波形発生装置 9 補助電極 P、P´ 圧力計 S 被成膜管体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum chamber 2a, 2a ', 2b, 2b', 40 Insulation member 3 Deposition tube support holder 4 Gas introduction member 41 Gas passage hole 5 Exhaust member 51 Gas passage hole 6a Valve 6a 'Pressure control valve 6b, 6b ′ Exhaust pump 7 Source gas supply unit for film formation 711, 721, 711 ′, 721 ′ Valve 712, 722 Mass flow controller 713, 723 Regulator 714, 724 Source gas source for film formation 8 High frequency power supply unit 81 Matching box 82 High frequency Power supply 83 Arbitrary waveform generator 9 Auxiliary electrode P, P 'Pressure gauge S Tube for film formation

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被成膜管体の端部から導電性のガス導入
用部材を介して該管体内部に成膜用原料ガスを導入する
とともに、該ガス導入用部材に、13.56MHz以上
の所定周波数の基本高周波電力に該所定周波数の100
0万分の1以上1000分の1以下の変調周波数で振幅
変調を施した状態の高周波電力を供給して、前記導入し
た成膜用原料ガスをプラズマ化し、該プラズマのもとで
該管体内周面に膜形成を行うことを特徴とする内周面に
膜形成した管体の製造方法。
1. A film-forming raw material gas is introduced from the end of a film-forming tube through a conductive gas-introducing member into the tube, and 13.56 MHz or more is introduced into the gas introducing member. Of the predetermined frequency to the basic high-frequency power of the predetermined frequency.
A high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of 1 / 1,000 or more and 1/1000 or less is supplied to convert the introduced film-forming material gas into a plasma, and the plasma is applied to the inner circumference of the tube under the plasma. A method for producing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface, wherein the film is formed on a surface.
【請求項2】 導電性材料からなる被成膜管体の外側を
電気絶縁性部材で覆った状態で、該管体の端部からガス
導入用部材を介して該管体内部に成膜用原料ガスを導入
するとともに、該管体に、13.56MHz以上の所定
周波数の基本高周波電力に該所定周波数の1000万分
の1以上1000分の1以下の変調周波数で振幅変調を
施した状態の高周波電力を供給して、前記導入した成膜
用原料ガスをプラズマ化し、該プラズマのもとで該管体
内周面に膜形成を行うことを特徴とする内周面に膜形成
した管体の製造方法。
2. A method for forming a film on the inside of a tubular body through a gas introduction member from an end of the tubular body while covering the outside of the tubular body made of a conductive material with an electrically insulating member. A high-frequency wave in a state in which the raw material gas is introduced, and the tube is subjected to amplitude modulation of a basic high-frequency power of a predetermined frequency of 13.56 MHz or more at a modulation frequency of 1/10000 to 1/1000 of the predetermined frequency. Producing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof by supplying electric power to convert the introduced film-forming raw material gas into plasma and forming a film on the inner peripheral surface of the tubular body under the plasma; Method.
【請求項3】 電気絶縁性材料からなる被成膜管体の外
側を補助電極で覆い、該補助電極の外側を電気絶縁性部
材で覆った状態で、該管体の端部からガス導入用部材を
介して該管体内部に成膜用原料ガスを導入するととも
に、該補助電極に、13.56MHz以上の所定周波数
の基本高周波電力に該所定周波数の1000万分の1以
上1000分の1以下の変調周波数で振幅変調を施した
状態の高周波電力を供給して、前記導入した成膜用原料
ガスをプラズマ化し、該プラズマのもとで該管体内周面
に膜形成を行うことを特徴とする内周面に膜形成した管
体の製造方法。
3. A gas introduction through an end of the tubular body in a state in which the outside of the tubular body made of an electrically insulating material is covered with an auxiliary electrode and the outside of the auxiliary electrode is covered with an electrically insulating member. A raw material gas for film formation is introduced into the tube through a member, and a basic high frequency power of a predetermined frequency of 13.56 MHz or more is supplied to the auxiliary electrode at a frequency of 1 / 10,000,000 to 1/1000 of the predetermined frequency. Supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of the introduced film-forming raw material gas, and forming a film on the inner peripheral surface of the tube under the plasma. A method for producing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof.
【請求項4】 成膜を行うための真空容器と、該真空容
器に対し設けられた排気手段と、該真空容器内において
被成膜管体を支持するホルダと、該ホルダに支持される
被成膜管体の端部からその内部に成膜用原料ガスを導入
するための導電性のガス導入用部材と、該ガス導入用部
材を介して該被成膜管体内部に成膜用原料ガスを供給す
るためのガス供給手段と、該ガス導入用部材に、13.
56MHz以上の所定周波数の基本高周波電力に該所定
周波数の1000万分の1以上1000分の1以下の変
調周波数で振幅変調を施した状態の高周波電力を供給す
ることができる高周波電力供給手段とを含むことを特徴
とする内周面に膜形成した管体の製造装置。
4. A vacuum vessel for performing film formation, an exhaust unit provided for the vacuum vessel, a holder for supporting a film-forming pipe in the vacuum vessel, and a vacuum chamber supported by the holder. A conductive gas introducing member for introducing a film forming material gas from an end of the film forming tube into the inside thereof, and a film forming material inside the film forming tube through the gas introducing member. 13. gas supply means for supplying gas and the gas introduction member;
High-frequency power supply means for supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed on a basic high-frequency power of a predetermined frequency of 56 MHz or more at a modulation frequency of 1/10000 to 1/1000 of the predetermined frequency. An apparatus for manufacturing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof.
【請求項5】 成膜を行うための真空容器と、該真空容
器に対し設けられた排気手段と、該真空容器内において
導電性材料からなる被成膜管体を支持するホルダと、該
ホルダに支持される被成膜管体の外側を覆う電気絶縁性
部材と、該ホルダに支持される被成膜管体の端部からそ
の内部に成膜用原料ガスを導入するためのガス導入用部
材と、該ガス導入用部材を介して該被成膜管体内部に成
膜用原料ガスを供給するためのガス供給手段と、該ホル
ダに支持される該被成膜管体に、13.56MHz以上
の所定周波数の基本高周波電力に該所定周波数の100
0万分の1以上1000分の1以下の変調周波数で振幅
変調を施した状態の高周波電力を供給することができる
高周波電力供給手段とを含むことを特徴とする内周面に
膜形成した管体の製造装置。
5. A vacuum vessel for forming a film, an exhaust means provided for the vacuum vessel, a holder for supporting a film-forming tube made of a conductive material in the vacuum vessel, and the holder An electrically insulating member for covering the outside of the film-forming tube supported by the film-forming member, and a gas inlet for introducing a film-forming material gas from an end of the film-forming tube supported by the holder into the inside thereof 13. a member, gas supply means for supplying a film-forming source gas into the film-forming tube via the gas introducing member, and the film-forming tube supported by the holder. A basic high frequency power of a predetermined frequency of 56 MHz or more
A high-frequency power supply means capable of supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed at a modulation frequency of 1 / 1,000 or more and 1/1000 or less; Manufacturing equipment.
【請求項6】 成膜を行うための真空容器と、該真空容
器に対し設けられた排気手段と、該真空容器内において
電気絶縁性材料からなる被成膜管体を支持するホルダ
と、該ホルダに支持される被成膜管体の外側を覆う補助
電極と、該補助電極の外側を覆う電気絶縁性部材と、該
ホルダに支持される被成膜管体の端部からその内部に成
膜用原料ガスを導入するためのガス導入用部材と、該ガ
ス導入用部材を介して該被成膜管体内部に成膜用原料ガ
スを供給するためのガス供給手段と、該補助電極に、1
3.56MHz以上の所定周波数の基本高周波電力に該
所定周波数の1000万分の1以上1000分の1以下
の変調周波数で振幅変調を施した状態の高周波電力を供
給することができる高周波電力供給手段とを含むことを
特徴とする内周面に膜形成した管体の製造装置。
6. A vacuum container for forming a film, an exhaust means provided for the vacuum container, a holder for supporting a film-forming tube made of an electrically insulating material in the vacuum container, An auxiliary electrode that covers the outside of the film-forming tube supported by the holder, an electrically insulating member that covers the outside of the auxiliary electrode, and an inner end formed from the end of the film-forming tube supported by the holder; A gas introduction member for introducing a film source gas, a gas supply unit for supplying a film formation source gas into the inside of the film-forming tube via the gas introduction member, and , 1
High-frequency power supply means for supplying high-frequency power in a state where amplitude modulation is performed on a basic high-frequency power of a predetermined frequency of 3.56 MHz or more at a modulation frequency of 1/10000 to 1/1000 of the predetermined frequency; An apparatus for manufacturing a tubular body having a film formed on an inner peripheral surface thereof.
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