JPH10253873A - Automatic focus detection control device and optical inspection machine - Google Patents

Automatic focus detection control device and optical inspection machine

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Publication number
JPH10253873A
JPH10253873A JP5960697A JP5960697A JPH10253873A JP H10253873 A JPH10253873 A JP H10253873A JP 5960697 A JP5960697 A JP 5960697A JP 5960697 A JP5960697 A JP 5960697A JP H10253873 A JPH10253873 A JP H10253873A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
automatic focus
focus detection
stage
control device
Prior art date
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Pending
Application number
JP5960697A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masakazu Shimada
征和 島田
Yukiko Saeki
由紀子 佐伯
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Publication of JPH10253873A publication Critical patent/JPH10253873A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic focus detection control device capable of preventing the occurrence of an erroneous automatic focus detecting operation under the application of simple constitution without using switches or the like. SOLUTION: Regarding an automatic focus detection control device used for an optical inspection machine and formed to obtain the image of a sample 3 on a stage 1 via an observation optical system and collect image information corresponding to the obtained image via an image processing part, and to have a motor driver for moving the stage 1 with the sample 3 placed thereon to a focused position on the basis of the collected image information, a magnet 104 is laid for identifying the sample 3 on the stage 1, together with a sample detection part using a hall element 105, and CPU 24 for controlling the execution or non-execution of the automatic focal point detecting operation of the motor driver on the basis of a detected signal about the existence or non-existence of the sample 3 via the sample detection part.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術の分野】本発明は、顕微鏡等に用い
て好適な自動焦点検出制御装置及び該装置を用いた光学
検査機械に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic focus detection control device suitable for use in a microscope or the like and an optical inspection machine using the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】光学検査機械の一種である顕微鏡は、医
学、生物学の分野は基よりのこと、工業系分野において
ICウェハや磁気ヘッドの検査、金属組織等の品質管
理、新素材等の研究開発等種々の用途に用いられてい
る。このような顕微鏡における合焦操作(ピント合わせ
操作)は、通常対物レンズと観察の対象となる標本との
相対的位置関係を調節することにより行われる。この場
合、合焦操作を実行する合焦機構は、標本を載せるステ
ージを対物レンズの光軸方向に沿って移動させるように
構成している。
2. Description of the Related Art Microscopes, which are a kind of optical inspection machines, are not only used in the fields of medicine and biology, but also in the field of industrial use, such as inspection of IC wafers and magnetic heads, quality control of metal structures, etc. It is used for various purposes such as research and development. The focusing operation (focusing operation) in such a microscope is usually performed by adjusting the relative positional relationship between the objective lens and the sample to be observed. In this case, the focusing mechanism that performs the focusing operation is configured to move the stage on which the sample is placed along the optical axis direction of the objective lens.

【0003】最近の顕微鏡では、前記焦準機構をモータ
を用いた電動式とし、また、オートフォーカス(自動焦
点)センサを搭載し、前記オートフォーカスセンサの検
出結果に基づく画像情報を基に前記焦準機構を駆動し
て、自動的に焦点検出動作を行う自動焦点検出装置付き
の顕微鏡が実現されている。
In recent microscopes, the focusing mechanism is an electric type using a motor, an autofocus (autofocus) sensor is mounted, and the focusing mechanism is based on image information based on a detection result of the autofocus sensor. A microscope with an automatic focus detection device that drives a quasi-mechanism to automatically perform a focus detection operation has been realized.

【0004】また、特公平5−16566号公報には、
自動焦点検出動作を行う場合には、外部コントローラよ
り自動焦点検出起動スイッチを操作するようにした顕微
鏡が開示されている。
[0004] In addition, Japanese Patent Publication No. 5-16566 discloses that
A microscope is disclosed in which an automatic focus detection start switch is operated by an external controller when performing an automatic focus detection operation.

【0005】さらに、特公平4−35847号公報に
は、マイクロスイッチ等の標本検出器により標本を検出
し、標本の観察倍率を自動設定する自動倍率復帰装置が
開示されている。
Further, Japanese Patent Publication No. 4-35847 discloses an automatic magnification returning device for detecting a sample by a sample detector such as a microswitch and automatically setting the observation magnification of the sample.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来の顕微鏡用自動焦
点検出装置は、電動ステージを可動範囲のほぼ全域に亘
って移動させながらオートフォーカスセンサにより得ら
れる画像情報を基にして該電動ステージを合焦位置まで
移動させる装置であるが、標本が無い場合でも焦点検出
動作を実行してしまうため、オートフォーカスセンサの
近くのプリズムやレンズ等にゴミや小さな傷が存在する
と、標本が無い場合(標本が有る場合、通常、標本の方
がコントラストが高いので合焦性能は問題無い)に、ゴ
ミや傷を被検体と誤認して誤作動を起こすという課題が
あった。
In a conventional automatic focus detecting device for a microscope, the electric stage is moved based on image information obtained by an autofocus sensor while moving the electric stage over almost the entire movable range. Although it is a device that moves to the focal position, the focus detection operation is performed even when there is no sample, so if there is dust or small scratches on the prism or lens near the autofocus sensor, the sample is not found (sample In general, the specimen has a higher contrast, so that there is no problem in focusing performance). However, there is a problem that dust or a scratch is mistakenly recognized as a subject to cause malfunction.

【0007】また、特公平5−16566号公報の顕微
鏡の場合、自動焦点検出を行う際に、標本を標本ホルダ
ーに取付けてから外部コントローラの自動焦点検出起動
スイッチを操作し、また、標本を取り外す場合も、外部
コントローラの自動焦点検出停止スイッチを操作してか
ら取り外し操作を行わなければならないので、操作が煩
雑になるという課題があった。
In the case of the microscope disclosed in Japanese Patent Publication No. Hei 5-16566, when performing automatic focus detection, a sample is attached to a sample holder, and then an automatic focus detection start switch of an external controller is operated, and the sample is removed. Also in this case, there is a problem that the operation becomes complicated since the removal operation must be performed after operating the automatic focus detection stop switch of the external controller.

【0008】さらに、特公平4−35847号公報の自
動倍率復帰装置の場合には、マイクロスイッチ等の標本
検出器により被検体を検出し、複数の対物レンズを切り
換えて標本の観察倍率を自動設定するものであり、単独
の対物レンズを備えた顕微鏡の自動焦点検出動作を実現
するものではない。
Further, in the case of the automatic magnification returning device disclosed in Japanese Patent Publication No. 4-35847, the specimen is detected by a specimen detector such as a microswitch, and a plurality of objective lenses are switched to automatically set the observation magnification of the specimen. However, the automatic focus detection operation of a microscope having a single objective lens is not realized.

【0009】本発明は、従来技術で示した課題に鑑みて
なされたもので、スイッチ類等を使用しない簡略な構成
で自動焦点検出の誤作動を防止することが可能な自動焦
点検出制御装置及び該自動焦点検出制御装置を用いた光
学検査機械を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the problems shown in the prior art, and has an automatic focus detection control device capable of preventing erroneous operation of automatic focus detection with a simple configuration not using switches and the like. An object of the present invention is to provide an optical inspection machine using the automatic focus detection control device.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
標本を載置するステージと、このステージ上の標本を観
察する観察光学系と、この観察光学系により得られる標
本の像に対応した画像情報を得る画像処理部と、この画
像処理部により得た画像情報を基に前記ステージを合焦
位置まで移動させる自動焦点検出動作を行う電動焦準部
とを有する光学検査機械に用いられる自動焦点検出制御
装置において、前記ステージ上の標本の有無を検出する
標本検出部と、この標本検出部による標本有り又は標本
無しの検出信号を基に前記電動焦準部による自動焦点検
出動作の実行又は不実行を制御する制御手段とを有する
ことを特徴とするものである。
According to the first aspect of the present invention,
A stage on which the sample is mounted, an observation optical system for observing the sample on the stage, an image processing unit for obtaining image information corresponding to an image of the sample obtained by the observation optical system, and an image processing unit An automatic focus detection control device used in an optical inspection machine having an electric focusing unit for performing an automatic focus detection operation of moving the stage to a focus position based on image information, wherein the presence or absence of a sample on the stage is detected. A sample detection unit; and control means for controlling execution or non-execution of an automatic focus detection operation by the electric focusing unit based on a detection signal indicating presence or absence of a sample by the sample detection unit. It is.

【0011】請求項2記載の発明は、標本を載置するス
テージと、このステージ上の標本を観察する観察光学系
と、この観察光学系により得られる標本の像に対応した
画像情報を得る画像処理部と、この画像処理部により得
た画像情報を基に前記ステージを合焦位置まで移動させ
る自動焦点検出動作を行う電動焦準部とを有する光学検
査機械において、前記ステージ上の標本の有無を検出す
る標本検出部と、この標本検出部による標本有り又は標
本無しの検出信号を基に前記電動焦準部による自動焦点
検出動作の実行又は不実行を制御する制御手段とからな
る自動焦点検出制御装置を付加したことを特徴とするも
のである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a stage for mounting a sample, an observation optical system for observing the sample on the stage, and an image for obtaining image information corresponding to the image of the sample obtained by the observation optical system. In an optical inspection machine having a processing unit and an electric focusing unit that performs an automatic focus detection operation of moving the stage to a focus position based on image information obtained by the image processing unit, the presence or absence of a sample on the stage Automatic focus detection comprising: a sample detection unit for detecting the presence of a sample; and control means for controlling execution or non-execution of the automatic focus detection operation by the electric focusing unit based on a detection signal indicating whether or not a sample is present by the sample detection unit. It is characterized by adding a control device.

【0012】本発明の自動焦点検出制御装置によれば、
標本の有無に応じて、自動焦点検出動作の実行、不実行
を制御することにより、誤って標本が無い場合に自動焦
点検出動作が実行される誤作動を防止できる。また、標
本の有無に応じて、自動焦点検出動作の実行、不実行を
制御することで、自動焦点検出起動、停止のためのスイ
ッチ類が不要となり、構成及び操作の簡略化を図れる。
According to the automatic focus detection control device of the present invention,
By controlling the execution or non-execution of the automatic focus detection operation in accordance with the presence or absence of the sample, it is possible to prevent a malfunction in which the automatic focus detection operation is executed when there is no sample by mistake. Further, by controlling the execution or non-execution of the automatic focus detection operation in accordance with the presence or absence of the sample, switches for starting and stopping the automatic focus detection become unnecessary, and the configuration and operation can be simplified.

【0013】また、本発明の光学検査機械によれば、上
記作用を発揮する自動焦点検出制御装置を付加したの
で、標本が無い場合に自動焦点検出動作が実行される誤
作動を防止し、かつ、自動焦点検出起動、停止のための
スイッチ類を設ける必要も無く、構成及び操作の簡略化
を図れる光学検査機械を提供できる。
Further, according to the optical inspection machine of the present invention, since the automatic focus detection control device exhibiting the above operation is added, it is possible to prevent a malfunction in which the automatic focus detection operation is executed when there is no sample, and Also, there is no need to provide switches for starting and stopping the automatic focus detection, and an optical inspection machine capable of simplifying the configuration and operation can be provided.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail.

【0015】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1の自動焦点検出装置を備えた顕微鏡の全体構成を示
すものである。この顕微鏡は、標本3を載置するステー
ジ1を具備している。このステージ1は、モータドライ
バ4により図1に示す矢印(イ)方向に沿って上下方向
へ移動可能となっている。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows the entire configuration of a microscope provided with an automatic focus detection device according to Embodiment 1 of the present invention. This microscope has a stage 1 on which a specimen 3 is placed. The stage 1 can be moved up and down by a motor driver 4 along the direction of the arrow (a) shown in FIG.

【0016】また、前記顕微鏡は、標本3を照明するた
めの照明光学系を備えている。即ち、照明光学系は、光
源5から放射される照明光を、コレクタレンズ6、リレ
ーレンズ7、視野絞り8を介して反射鏡9に入射し、こ
こでの反射により照明光の光路を上方へ向け、さらにリ
レーレンズ10、明るさ絞り11を介してコンデンサレ
ンズ12に入射し、このコンデンサレンズ12によりス
テージ1上の標本3を均一に照明するように構成してい
る。
The microscope has an illumination optical system for illuminating the specimen 3. That is, the illumination optical system makes the illumination light emitted from the light source 5 incident on the reflecting mirror 9 via the collector lens 6, the relay lens 7, and the field stop 8, and reflects the illumination light upward to move the illumination light path upward. In this case, the light enters the condenser lens 12 via the relay lens 10 and the aperture stop 11, and the condenser lens 12 uniformly illuminates the sample 3 on the stage 1.

【0017】前記標本3の上方には、観察光学系の対物
レンズ13を対向配置し、この対物レンズ13に入射す
る標本3からの光束を、結像レンズ14を介して光路分
岐部材15に入射する。この光路分岐部材15により光
束の一部を接眼レンズ16へ導き、残余の光束を反射部
材26を経てリレーレンズ17ヘ導くようにしている。
An objective lens 13 of an observation optical system is disposed above the sample 3 so as to face the same, and a light beam from the sample 3 incident on the objective lens 13 is incident on an optical path branching member 15 via an imaging lens 14. I do. The light path branching member 15 guides a part of the light beam to the eyepiece 16 and guides the remaining light beam to the relay lens 17 via the reflecting member 26.

【0018】リレーレンズ17を通過した光束は、分割
プリズム18で二分割され、その分割された2つの光束
が平行光束となってCCDセンサ19の受光面に入射す
る。
The light beam that has passed through the relay lens 17 is split into two by the splitting prism 18, and the two split light beams become parallel light beams and enter the light receiving surface of the CCD sensor 19.

【0019】CCDセンサ19に入射する2つの平行光
束は、分割プリズム18の構造からリレーレンズ17の
出射面からCCDセンサ19の受光面に至るまでの光路
長が異なるものとなる。
The two parallel light beams incident on the CCD sensor 19 have different optical path lengths from the structure of the splitting prism 18 to the light receiving surface of the CCD sensor 19 from the exit surface of the relay lens 17.

【0020】そして、本実施の形態1では、予定結像面
に対する前後の光学的に共役な位置(前側共役面と後側
共役面)にCCDセンサ19の受光面を一致させてい
る。したがって、CCDセンサ19に予定結像面から共
役な2つの位置に標本3の像(前ピント像、後ピント
像)が投影される。この2つの像は標本3が合焦位置に
存在するときに同一形状になる。
In the first embodiment, the light receiving surface of the CCD sensor 19 is made to coincide with the optically conjugate position before and after (the front conjugate surface and the rear conjugate surface) with respect to the predetermined imaging plane. Therefore, the image of the specimen 3 (a front focus image and a rear focus image) is projected onto the CCD sensor 19 at two conjugate positions from the predetermined image formation plane. The two images have the same shape when the sample 3 is at the in-focus position.

【0021】CCDセンサ19は、投影された標本3の
像(前ピント像、後ピント像)の入射光量と電荷蓄積時
間に応じた電圧を持つアナログ信号を出力する。CCD
センサ19からのアナログ信号は、アナログ処理部20
に入力され、アナログ処理部20はCCDセンサ19か
らのアナログ信号に対して、前ピント像と後ピント像と
で別々に増幅及びフィルタ処理等のアナログ処理を施
し、A/D変換器21ヘ出力する。
The CCD sensor 19 outputs an analog signal having a voltage corresponding to the amount of incident light of the projected image of the specimen 3 (the front focus image and the rear focus image) and the charge accumulation time. CCD
An analog signal from the sensor 19 is output to an analog processing unit 20.
The analog processing unit 20 separately performs analog processing such as amplification and filter processing on the analog signal from the CCD sensor 19 for the front focus image and the rear focus image, and outputs the analog signal to the A / D converter 21. I do.

【0022】A/D変換器21は、アナログ処理部20
からアナログ処理された信号をデジタル信号に変換し、
このデジタル化された信号は、前ピント像と後ピント像
とに対応して別々にメモリ22に格納される。
The A / D converter 21 includes an analog processing unit 20
From the analog-processed signal into a digital signal,
The digitized signals are separately stored in the memory 22 corresponding to the front focus image and the rear focus image.

【0023】メモリ22の格納内容は、演算回路23か
ら読み出し可能になっている。演算回路23は、メモリ
22に取り込まれた標本3の2つの像に応じた画像情報
であるデジタル信号を用いて、2つの像のコントラスト
値を算出する。
The contents stored in the memory 22 can be read from the arithmetic circuit 23. The arithmetic circuit 23 calculates a contrast value between the two images by using a digital signal that is image information corresponding to the two images of the sample 3 captured in the memory 22.

【0024】そして標本3の2つの像のコントラスト値
から、標本3に対する合焦度を示すデフォーカス値を算
出し、そのデフォーカス値をCPU24ヘ送出する。
Then, a defocus value indicating the degree of focusing on the sample 3 is calculated from the contrast values of the two images of the sample 3, and the defocus value is sent to the CPU 24.

【0025】CPU24は、CCDセンサ19から出力
される標本3の2つの像に基づくアナログ信号がアナロ
グ処理部20のレンジに適合しているか否かをA/D変
換器21を介して監視している。
The CPU 24 monitors via the A / D converter 21 whether or not the analog signal based on the two images of the sample 3 output from the CCD sensor 19 matches the range of the analog processing section 20. I have.

【0026】そして、CPU24は、前記アナログ信号
がアナログ処理部20のレンジに適合していない場合に
は、CCDセンサ19における電荷蓄積時間(受光時
間)を、レンジに適合するような電荷蓄積時間とする命
令をタイミングジェネレータ25ヘ送出する。
When the analog signal does not conform to the range of the analog processing section 20, the CPU 24 sets the charge accumulation time (light receiving time) in the CCD sensor 19 to a charge accumulation time suitable for the range. To the timing generator 25.

【0027】タイミングジェネレータ25は、CPU2
4からの命令に応じた電荷蓄積時間となるようにCCD
センサ19に読み出しタイミング信号を送出する。ま
た、CPU24は、前記演算回路23からのデフォーカ
ス値の信号に基づいて、前記標本3を合焦位置へ移動さ
せるためのステージ1の移動量及び移動方向の信号を算
出し、モータドライバ4に送信する。
The timing generator 25 includes a CPU 2
CCD so that the charge accumulation time according to the command from 4
A read timing signal is sent to the sensor 19. Further, the CPU 24 calculates a signal of a moving amount and a moving direction of the stage 1 for moving the sample 3 to a focus position based on the signal of the defocus value from the arithmetic circuit 23, and sends the signal to the motor driver 4. Send.

【0028】モータドライバ4は、CPU24からの信
号に基づいてステージ1を矢印(イ)方向へ上下駆動
し、前記標本3の自動焦点調整動作を行う。
The motor driver 4 drives the stage 1 up and down in the direction of the arrow (a) based on a signal from the CPU 24 to perform an automatic focus adjustment operation of the sample 3.

【0029】次に、本実施の形態1のステージ1、標本
ホルダー2について図2乃至図4を参照して説明する。
標本ホルダー2は、標本3を載置し保持する薄型で略四
角形状のホルダー本体103と、このホルダー本体10
3の一辺に設けた軸部103aに回動可能に取り付けた
緩やかな湾曲形状に形成した標本押さえ101と、軸部
103aの回りに配置され、前記標本押さえ101を常
時矢印a方向に付勢するバネ(コイルバネ)102とを
有している。そして、ホルダー本体103の一端側に設
けた合計3箇所の凸部103bに前記標本3の長辺及び
短辺を当接させ、この状態で前記標本押さえ101をバ
ネ102の付勢力により前記標本3の外方に突出する隅
部に圧接させて、標本3を保持するようになっている。
Next, the stage 1 and the specimen holder 2 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.
The specimen holder 2 includes a thin, substantially rectangular holder body 103 for mounting and holding the specimen 3, and a holder body 10.
3, a sample holder 101 formed in a gently curved shape rotatably attached to a shaft 103a provided on one side of the sample holder 3, and arranged around the shaft 103a to constantly urge the sample holder 101 in the direction of arrow a. And a spring (coil spring) 102. Then, the long side and the short side of the sample 3 are brought into contact with a total of three convex portions 103 b provided on one end side of the holder body 103, and in this state, the sample holder 101 is pressed by the spring force of the sample 102. The sample 3 is held in pressure contact with a corner protruding outward from the sample.

【0030】前記標本押さえ101の前記軸部103よ
りも後方に突出する部分には、磁石104が取り付けら
れ、また、前記ホルダー本体103には、標本3を標本
押さえ101でホルダー本体103側に押さえていると
き(標本押さえ101が図2の実線で示す位置のと
き)、前記磁石104の磁力が作用する位置にホール素
子105を取り付ている。磁石104と、ホール素子1
05とにより、標本検出部を構成している。
A magnet 104 is attached to a portion of the sample holder 101 projecting rearward from the shaft 103. The holder body 103 holds the sample 3 toward the holder body 103 with the sample holder 101. (When the sample holder 101 is at the position shown by the solid line in FIG. 2), the Hall element 105 is attached to the position where the magnetic force of the magnet 104 acts. Magnet 104 and Hall element 1
05 constitutes a sample detection unit.

【0031】そして、このような標本検出部と、前記C
PU24とにより、本実施の形態1の自動焦点検出制御
装置を構成している。
Then, such a sample detecting section and the C
The PU 24 constitutes the automatic focus detection control device according to the first embodiment.

【0032】次に、この自動焦点検出制御装置の動作を
図3をも参照して説明する。既述した標本ホルダー2に
対して、標本3が取り付けられている図2に示す状態で
は、標本押さえ101が図2の実線で示す位置で標本3
を保持している。この場合には、前記磁石104の磁力
がホール素子105に作用し、この結果、標本3の存在
を示すホール素子105の検出信号が前記CPU24に
送られ、CPU24はモータドライバ4と演算回路23
とタイミングジェネレータ25とに自動焦点検出動作の
起動の命令を送る。これにより、既述したにより、モー
タドライバ4がステージ1を矢印(イ)方向に駆動する
自動焦点検出動作が実行される。
Next, the operation of the automatic focus detection control device will be described with reference to FIG. In the state shown in FIG. 2 in which the specimen 3 is attached to the specimen holder 2 described above, the specimen holder 101 is positioned at the position shown by the solid line in FIG.
Holding. In this case, the magnetic force of the magnet 104 acts on the Hall element 105. As a result, a detection signal of the Hall element 105 indicating the presence of the sample 3 is sent to the CPU 24, and the CPU 24
And a timing generator 25 to start the automatic focus detection operation. Thus, as described above, the automatic focus detection operation in which the motor driver 4 drives the stage 1 in the direction of the arrow (a) is performed.

【0033】しかし、前記標本3が標本ホルダー2に取
り付けられていない図3に示す状態では、前記バネ10
2の付勢力により標本押さえ101は図2の二点鎖線で
示す位置に移動し、磁石104の磁力はホール素子10
5に作用しない。この場合には、ホール素子105から
CPU24に検出信号は送られない。
However, in the state shown in FIG. 3 where the specimen 3 is not attached to the specimen holder 2, the spring 10
2, the sample holder 101 moves to the position shown by the two-dot chain line in FIG.
No effect on 5. In this case, no detection signal is sent from the Hall element 105 to the CPU 24.

【0034】つまり、標本3が標本ホルダー2に取り付
いていないと判断され、CPU24はモータドライバ4
と演算回路23とタイミングジェネレータ25とに自動
焦点検出動作の停止の命令を送る。
That is, it is determined that the sample 3 is not attached to the sample holder 2, and the CPU 24
Then, a command to stop the automatic focus detection operation is sent to the arithmetic circuit 23 and the timing generator 25.

【0035】従って、標本ホルダー2の位置において標
本3の有無を検出することにより、標本3が無い場合は
自動焦点検出動作を停止させ、自動焦点検出の誤作動を
防止できる。また、標本3が標本ホルダー2に取り付い
たとき、自動焦点検出動作を開始すれば、標本3の標本
ホルダー2に対する取付け、取外しに自動焦点検出動作
の起動、停止を連動させることができ、従来例のような
自動焦点検出起動スイッチ、自動焦点検出停止スイッチ
を省き、構成の簡略化、操作の簡略化を図ることができ
る。
Therefore, by detecting the presence or absence of the sample 3 at the position of the sample holder 2, when there is no sample 3, the automatic focus detection operation is stopped, and malfunction of the automatic focus detection can be prevented. Further, when the automatic focus detection operation is started when the sample 3 is attached to the sample holder 2, the start and stop of the automatic focus detection operation can be linked to the attachment and detachment of the sample 3 to and from the sample holder 2. The automatic focus detection start switch and the automatic focus detection stop switch as described above can be omitted, and the configuration can be simplified and the operation can be simplified.

【0036】(実施の形態2)図5、図6は本発明の実
施の形態2を示すものであり、図2、図3に示す実施の
形態1と同一部分には同一符号を付している。この実施
の形態2の場合、標本押さえ101には遮光板201が
設けられ、また、ホルダー本体103には、標本3が取
り付けられているときに、図5に示すように、遮光板2
01により遮光され、また、標本3が取り付けられてい
ないとき、図6に示すように、標本押さえ101の矢印
a方向の回転に伴って変位する遮光板201により遮光
されない位置に発光素子、受光素子からなるフォトイン
タラプタ202を設けている。
(Embodiment 2) FIGS. 5 and 6 show Embodiment 2 of the present invention. The same parts as those of Embodiment 1 shown in FIGS. 2 and 3 are denoted by the same reference numerals. I have. In the case of the second embodiment, a light-shielding plate 201 is provided on the sample holder 101, and when the sample 3 is attached to the holder body 103, as shown in FIG.
When the sample 3 is not mounted, the light-emitting element and the light-receiving element are located at positions where the light is not shielded by the light-shielding plate 201 which is displaced with the rotation of the sample holder 101 in the direction of arrow a, as shown in FIG. Is provided.

【0037】遮光板201、フォトインタラプタ202
により実施の形態2の被検体検出部を構成している。こ
の他の構成は、図2乃至図4に示す実施の形態1の場合
と同様である。
Light shielding plate 201, photo interrupter 202
Constitutes the subject detection unit according to the second embodiment. Other configurations are the same as those of the first embodiment shown in FIGS.

【0038】このような被検体検出部を用いた自動焦点
検出制御装置によっても、上述した実施の形態1の場合
と同様な作用、効果が得られる。
The same operation and effect as those in the first embodiment can be obtained by the automatic focus detection control device using such an object detection unit.

【0039】(実施の形態3)図7、図8は本発明の実
施の形態3を示すものであり、図2、図3に示す実施の
形態1と同一部分には同一符号を付している。実施の形
態3においては、被検体検出部を、図7、図8に示すよ
うに、ホルダー本体103の前記凸部103a側に臨ま
せて取り付けたマイクロスイッチ301により構成して
いる。
(Embodiment 3) FIGS. 7 and 8 show Embodiment 3 of the present invention. The same parts as those of Embodiment 1 shown in FIGS. I have. In the third embodiment, as shown in FIGS. 7 and 8, the subject detection unit is configured by the microswitch 301 attached to the holder body 103 so as to face the convex portion 103a.

【0040】このような被検体検出部を用いた自動焦点
検出制御装置の場合、標本3を標本ホルダー103に取
り付けると、バネ102の矢印a方向の付勢力により図
7に示すように標本押さえ101は標本3を凸部103
b側に押しつけ、標本3がマイクロスイッチ301の作
動子302を押し、これにより、標本3の存在を示すマ
イクロスイッチ301の検出信号が前記CPU24に送
られる。この結果、既述した場合と同様な自動焦点検出
動作が実行される。
In the case of such an automatic focus detection control device using the object detecting section, when the sample 3 is mounted on the sample holder 103, the biasing force of the spring 102 in the direction of arrow a as shown in FIG. Is the sample 103
The sample 3 is pressed against the b side, and the sample 3 presses the actuator 302 of the microswitch 301, whereby a detection signal of the microswitch 301 indicating the presence of the sample 3 is sent to the CPU 24. As a result, the same automatic focus detection operation as that described above is performed.

【0041】一方、標本3が標本ホルダー2に取り付い
てない場合は、図8に示すように標本3がマイクロスイ
ッチ301の作動子302を押すことは有り得ず、マイ
クロスイッチ301からCPU24に検出信号は送られ
ない。
On the other hand, when the specimen 3 is not attached to the specimen holder 2, the specimen 3 cannot push the actuator 302 of the micro switch 301 as shown in FIG. Not sent.

【0042】つまり、標本3が標本ホルダー2に取り付
いていないと判断され、CPU24はモータドライバ4
と演算回路23とタイミングジェネレータ25とに自動
焦点検出動作の停止の命令を送る。このようにしても上
述した実施の形態1と同様な作用、効果が得られる。
That is, it is determined that the sample 3 is not attached to the sample holder 2, and the CPU 24
Then, a command to stop the automatic focus detection operation is sent to the arithmetic circuit 23 and the timing generator 25. With this configuration, the same operation and effect as those of the first embodiment can be obtained.

【0043】(実施の形態4)図9、図10は、本発明
の実施の形態4を示すものであり、図2、図3に示す実
施の形態1と同一部分には同一符号を付している。実施
の形態4の構成は実施の形態1の場合と基本的には同様
であるが、図10に示すように、前記標本3が標本ホル
ダー2に取り付いてないとき、標本押さえ101に付い
ている磁石104の磁力が作用する位置にホール素子4
01を取り付け、標本ホルダー2に前記標本3が取り付
いたとき、磁石104の磁力がホール素子401に作用
しない構成としている。
(Embodiment 4) FIGS. 9 and 10 show Embodiment 4 of the present invention. The same parts as those of Embodiment 1 shown in FIGS. 2 and 3 are denoted by the same reference numerals. ing. Although the configuration of the fourth embodiment is basically the same as that of the first embodiment, as shown in FIG. 10, when the specimen 3 is not attached to the specimen holder 2, it is attached to the specimen holder 101. The Hall element 4 is located at a position where the magnetic force of the magnet 104 acts.
When the sample 3 is attached to the sample holder 2, the magnetic force of the magnet 104 does not act on the Hall element 401.

【0044】この構成において、標本3が標本ホルダー
2に取り付いてない場合、バネ102のa方向の付勢力
によって標本押さえ101は図10に示す位置に移動す
るので、磁石104の磁力がホール素子401に作用
し、標本3の不存在を示す検出信号がホール素子401
からCPU24に送られ、CPU24はモータドライバ
4と演算回路23とタイミングジェネレータ25とに自
動焦点検出動作の停止の命令を送り、自動焦点検出動作
を停止させる。
In this configuration, when the sample 3 is not attached to the sample holder 2, the sample holder 101 moves to the position shown in FIG. 10 by the urging force of the spring 102 in the direction a. And the detection signal indicating the absence of the sample 3
The CPU 24 sends a command to stop the automatic focus detection operation to the motor driver 4, the arithmetic circuit 23, and the timing generator 25 to stop the automatic focus detection operation.

【0045】一方、標本ホルダー2に標本3が取り付い
た場合、磁石104の磁力がホール素子401に作用し
ないので、ホール素子401からCPU24に検出信号
は送られない。つまり、CPU24は標本3は標本ホル
ダー2に取り付いたとて判断し、自動焦点検出動作を実
行する。
On the other hand, when the specimen 3 is attached to the specimen holder 2, no detection signal is sent from the Hall element 401 to the CPU 24 because the magnetic force of the magnet 104 does not act on the Hall element 401. That is, the CPU 24 determines that the sample 3 is attached to the sample holder 2 and executes an automatic focus detection operation.

【0046】即ち、実施の形態4の場合には、ホール素
子401の配置を変え、実施の形態1の場合とはCPU
24に送る検出信号の内容を逆にしたものである。
That is, in the case of the fourth embodiment, the arrangement of the Hall element 401 is changed.
24 is the reverse of the content of the detection signal to be sent.

【0047】実施の形態1の場合には、標本3の大きさ
が変ると標本押さえ101による標本3の押さえ位置が
変るため、標本3が標本ホルダー2に取り付いてもホー
ル素子105が反応しない可能性があるが、実施の形態
4の構成にすれば、標本3の大きさに関係なく上述した
実施の形態1と同様な作用、効果が得られる。
In the first embodiment, when the size of the sample 3 changes, the position where the sample holder 101 presses the sample 3 changes, so that the Hall element 105 may not react even if the sample 3 is attached to the sample holder 2. However, according to the configuration of the fourth embodiment, the same operation and effect as those of the first embodiment can be obtained regardless of the size of the specimen 3.

【0048】また、前記ホール素子401の検出信号を
受けて自動焦点検出動作の停止を行う時には、CPU2
4の制御で図示しない外部スイッチ等の操作による自動
焦点検出動作の起動を行わないように構成することもで
きる。
When stopping the automatic focus detection operation in response to the detection signal of the Hall element 401, the CPU 2
It is also possible to configure so that the automatic focus detection operation is not started by the operation of an external switch or the like (not shown) under the control of (4).

【0049】以上説明した本発明によれば、以下の構成
を付記できる。 (1) 観察光学系により得られるステージ上の被検体
の像に対応した画像情報を得る画像処理部と、この画像
処理部により得た画像情報を基に前記ステージを合焦位
置まで移動させる自動焦点検出動作を行う電動焦準部と
を有する光学検査機械に用いられる自動焦点検出制御装
置おいて、前記ステージ上の標本の有無を検出する標本
検出部と、この標本検出部による標本有り又は標本無し
の検出信号を基に前記電動焦準部による自動焦点検出動
作の実行又は停止を制御する制御手段とを有することを
特徴とする自動焦点検出制御装置。この構成によれば、
自動焦点検出動作の実行、停止を制御して誤作動を防止
でき、構成及び操作の簡略化を図れる。
According to the present invention described above, the following configuration can be added. (1) An image processing unit that obtains image information corresponding to an image of a subject on a stage obtained by an observation optical system, and an automatic moving unit that moves the stage to a focus position based on the image information obtained by the image processing unit In an automatic focus detection control device used for an optical inspection machine having an electric focusing unit for performing a focus detection operation, a sample detection unit for detecting the presence or absence of a sample on the stage, and a sample presence or absence by the sample detection unit Control means for controlling execution or stop of the automatic focus detection operation by the electric focusing unit based on the detection signal of the absence of the automatic focus detection. According to this configuration,
Execution and stop of the automatic focus detection operation can be controlled to prevent malfunction, and the configuration and operation can be simplified.

【0050】(2) 前記自動焦点検出動作の制御が、
前記標本が所定の検査位置にないときに自動焦点検出動
作を停止することを特徴とする付記1記載の自動焦点検
出装置。この構成によれば、標本が所定の検査位置にな
いときに自動焦点検出動作が実行される誤動作を防止で
きる。
(2) The control of the automatic focus detection operation is as follows:
The automatic focus detection device according to claim 1, wherein the automatic focus detection operation is stopped when the sample is not at a predetermined inspection position. According to this configuration, it is possible to prevent a malfunction in which the automatic focus detection operation is performed when the sample is not at the predetermined inspection position.

【0051】(3) 前記自動焦点検出動作の制御が、
前記標本が所定の検査位置にあるときに自動焦点検出動
作を起動することを特徴とする付記1記載の自動焦点検
出装置。この構成によれば、標本が所定の検査位置にあ
るときに自動焦点検出動作を確実に実行できる。
(3) The control of the automatic focus detection operation is as follows:
The automatic focus detection device according to claim 1, wherein the automatic focus detection operation is started when the sample is at a predetermined inspection position. According to this configuration, the automatic focus detection operation can be reliably performed when the specimen is at the predetermined inspection position.

【0052】(4) 前記標本検出部からの信号を受け
て自動焦点検出動作の停止時には、外部からの操作によ
る自動焦点検出動作の起動は行われないことを含むこと
を特徴とする付記1記載の自動焦点検出装置。この構成
によれば、標本が所定の検査位置にないときに外部から
操作により自動焦点検出動作が実行されてしまう誤動作
を防止できる。
(4) An additional feature that the automatic focus detection operation is not started by an external operation when the automatic focus detection operation is stopped in response to the signal from the sample detection unit. Automatic focus detection device. According to this configuration, it is possible to prevent an erroneous operation in which the automatic focus detection operation is executed by an external operation when the sample is not at the predetermined inspection position.

【0053】(5) 前記自動焦点検出動作の停止が、
前記電動焦準部によるステージの停止であることを特徴
とする付記1又2記載の自動焦点検出装置。この構成に
よれば、標本が所定の検査位置にないときにステージの
移動による自動焦点検出動作が実行される誤動作を防止
できる。
(5) When the automatic focus detection operation is stopped,
3. The automatic focus detection device according to claim 1, wherein the stage is stopped by the electric focusing unit. According to this configuration, it is possible to prevent an erroneous operation in which the automatic focus detection operation is performed due to the movement of the stage when the sample is not at the predetermined inspection position.

【0054】(6) 前記標本検出部が、標本固定装置
であることを特徴とする付記1又2記載の自動焦点検出
装置。この構成によれば、標本固定装置を利用して自動
焦点検出動作が実行されてしまう誤動作を防止できる。
(6) The automatic focus detecting device according to appendix 1 or 2, wherein the sample detecting section is a sample fixing device. According to this configuration, it is possible to prevent a malfunction in which the automatic focus detection operation is performed using the sample fixing device.

【0055】(7) 前記標本検出部が、標本押さえの
押さえ位置の変化によって反応することにより前記標本
の有無を検出することを特徴とする付記1又2記載の自
動焦点検出装置。この構成によれば、標本押さえの押さ
え位置の変化を利用して自動焦点検出動作の実行、停止
を制御できる。
(7) The automatic focus detection device according to appendix 1 or 2, wherein the sample detection section detects the presence or absence of the sample by reacting according to a change in the holding position of the sample holder. According to this configuration, the execution and stop of the automatic focus detection operation can be controlled using the change in the holding position of the sample holder.

【0056】[0056]

【発明の効果】本発明によれば、自動焦点検出動作の実
行、不実行を制御して誤作動を防止でき、構成及び操作
の簡略化を図れる自動焦点検出制御装置を提供すること
ができる。
According to the present invention, it is possible to provide an automatic focus detection control device which can control the execution and non-execution of the automatic focus detection operation to prevent erroneous operation and simplify the configuration and operation.

【0057】また、本発明によれば、標本が無い場合に
自動焦点検出動作が実行される誤作動を防止し、かつ、
自動焦点検出起動、停止のためのスイッチ類を設ける必
要も無く、構成及び操作の簡略化を図れる光学検査機械
を提供することができる。
Further, according to the present invention, it is possible to prevent a malfunction in which the automatic focus detection operation is executed when there is no sample, and
There is no need to provide switches for starting and stopping the automatic focus detection, and it is possible to provide an optical inspection machine whose configuration and operation can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1の自動焦点検出制御装置
を示す全体構成図である。
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an automatic focus detection control device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態1のステージ、標本ホルダ
ー、標本、標本押さえを示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a stage, a specimen holder, a specimen, and a specimen holder according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態1の標本押さえの変位状態
を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing a displacement state of a specimen holder according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態1のステージ、標本ホルダ
ー、標本、標本押さえを示す側面図である。
FIG. 4 is a side view showing a stage, a specimen holder, a specimen, and a specimen holder according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施の形態2のステージ、標本ホルダ
ー、標本、標本押さえを示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view showing a stage, a specimen holder, a specimen, and a specimen holder according to Embodiment 2 of the present invention.

【図6】本発明の実施の形態2の標本押さえの変位状態
を示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view illustrating a displacement state of a specimen holder according to the second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施の形態3のステージ、標本ホルダ
ー、標本、標本押さえを示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a stage, a specimen holder, a specimen, and a specimen holder according to Embodiment 3 of the present invention.

【図8】本発明の実施の形態3の標本押さえの変位状態
を示す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a displacement state of a specimen holder according to the third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の実施の形態4のステージ、標本ホルダ
ー、標本、標本押さえを示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a stage, a specimen holder, a specimen, and a specimen holder according to Embodiment 4 of the present invention.

【図10】本発明の実施の形態4の標本押さえの変位状
態を示す平面図である。
FIG. 10 is a plan view illustrating a displacement state of a specimen holder according to the fourth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ステージ 2 標本ホルダー 3 標本 4 モータドライバ 13 対物レンズ 19 CCDセンサ 20 アナログ処理部 21 A/D変換器 22 メモリ 24 CPU 25 タイミングジェネレータ 101 標本押さえ 102 バネ 103 ホルダー本体 104 磁石 105 ホール素子 Reference Signs List 1 stage 2 sample holder 3 sample 4 motor driver 13 objective lens 19 CCD sensor 20 analog processing unit 21 A / D converter 22 memory 24 CPU 25 timing generator 101 sample holder 102 spring 103 holder body 104 magnet 105 Hall element

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 標本を載置するステージと、このステー
ジ上の標本を観察する観察光学系と、この観察光学系に
より得られる標本の像に対応した画像情報を得る画像処
理部と、この画像処理部により得た画像情報を基に前記
ステージを合焦位置まで移動させる自動焦点検出動作を
行う電動焦準部とを有する光学検査機械に用いられる自
動焦点検出制御装置において、 前記ステージ上の標本の有無を検出する標本検出部と、 この標本検出部による標本有り又は標本無しの検出信号
を基に前記電動焦準部による自動焦点検出動作の実行又
は不実行を制御する制御手段と、 を有することを特徴とする自動焦点検出制御装置。
1. A stage on which a sample is placed, an observation optical system for observing the sample on the stage, an image processing unit for obtaining image information corresponding to an image of the sample obtained by the observation optical system, An automatic focus detection control device used in an optical inspection machine having an electric focusing unit that performs an automatic focus detection operation of moving the stage to a focus position based on image information obtained by a processing unit, And a control means for controlling execution or non-execution of the automatic focus detection operation by the electric focusing unit based on a detection signal indicating presence or absence of a sample by the sample detection unit. An automatic focus detection control device.
【請求項2】 標本を載置するステージと、このステー
ジ上の標本を観察する観察光学系と、この観察光学系に
より得られる標本の像に対応した画像情報を得る画像処
理部と、この画像処理部により得た画像情報を基に前記
ステージを合焦位置まで移動させる自動焦点検出動作を
行う電動焦準部とを有する光学検査機械において、 前記ステージ上の標本の有無を検出する標本検出部と、
この標本検出部による標本有り又は標本無しの検出信号
を基に前記電動焦準部による自動焦点検出動作の実行又
は不実行を制御する制御手段とからなる自動焦点検出制
御装置を付加したことを特徴とする光学検査機械。
2. A stage on which a sample is mounted, an observation optical system for observing the sample on the stage, an image processing unit for obtaining image information corresponding to an image of the sample obtained by the observation optical system, A motorized focusing unit that performs an automatic focus detection operation of moving the stage to an in-focus position based on image information obtained by a processing unit, wherein a sample detection unit that detects the presence or absence of a sample on the stage When,
An automatic focus detection control device comprising control means for controlling execution or non-execution of the automatic focus detection operation by the electric focusing unit based on a sample presence / absence detection signal from the sample detection unit is added. And optical inspection machine.
JP5960697A 1997-03-13 1997-03-13 Automatic focus detection control device and optical inspection machine Pending JPH10253873A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000266992A (en) * 1999-03-18 2000-09-29 Olympus Optical Co Ltd Automatic focusing device
CN109116542A (en) * 2018-11-03 2019-01-01 程昔恩 A kind of hand-held digital microscope

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