JPH10253681A - Load test aiding apparatus - Google Patents
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- JPH10253681A JPH10253681A JP9060393A JP6039397A JPH10253681A JP H10253681 A JPH10253681 A JP H10253681A JP 9060393 A JP9060393 A JP 9060393A JP 6039397 A JP6039397 A JP 6039397A JP H10253681 A JPH10253681 A JP H10253681A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、試料である電力源
に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答
の試験に供される負荷試験支援装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a load test support device which is connected as a load to a power source which is a sample and is used for testing a response of the power source to a load.
【０００２】[0002]
【従来の技術】電子機器や電力機器に電力を供給するバ
ッテリや電源回路の負荷試験には、電子的に抵抗値やイ
ンピーダンスの可変が可能である半導体素子を負荷とし
て構成され、その負荷としての特性の動的な設定が可能
である電子負荷装置が多く適用されている。2. Description of the Related Art In a load test of a battery or a power supply circuit for supplying power to an electronic device or a power device, a semiconductor element whose resistance and impedance can be varied electronically is configured as a load. Many electronic load devices capable of dynamically setting characteristics are used.
【０００３】しかし、このような電子機器や電力機器に
ついては、近年の著しい技術の進展と共に運用される形
態や環境が多様化し、かつ要求される性能が高くなった
ために、上述した負荷試験についても高い精度が強く要
求されている。従来の負荷試験では、図６に示すよう
に、試料である電力源５０（ここでは、簡単のため、起
電力の公称値が５ボルトであり、かつ最大有能電力が３
０キロワットである組電池であると仮定する。）に電子
負荷装置５１-1〜５１-Nが並列に接続され、かつこれら
の電子負荷装置５１-1〜５１-Nの台数Ｎが個々の電子負
荷装置における消費が許容される最大の電力（以下、単
に「最大電力」といい、ここでは、簡単のため、６００
ワットであると仮定する。）に対する最大有能電力の比
（＝５０＝３０×１０3／６００)以上の数Ｎに設定され
てなる試験回路が適用される。[0003] However, with respect to such electronic devices and power devices, the operating modes and environments have been diversified with the recent remarkable technological development and the required performance has been increased. High precision is strongly required. In a conventional load test, as shown in FIG. 6, a sample power source 50 (here, for simplicity, the nominal value of the electromotive force is 5 volts and the maximum available power is 3 volts).
Assume that the battery pack is 0 kW. ), The electronic load devices 51-1 to 51-N are connected in parallel, and the number N of these electronic load devices 51-1 to 51-N is the maximum power (E) that can be consumed by each electronic load device. Hereinafter, it is simply referred to as “maximum power”.
Assume watts. ) Maximum available power ratio (= 50 = 30 × 10 3 /600) becomes set to more than the number N test circuit is applied for.
【０００４】また、これらの電子負荷装置５１-1〜５１
-Nは、何れも予め決められた負荷電圧（ここでは、簡単
のため、上述した起電力の公称値に等しい５ボルトであ
ると仮定する。）において負荷として消費可能な最大の
電力が６ワット、６０ワットおよび６００ワットとなる
３つの電力レンジを有し、かつこれらの電力レンジの
内、ＧＰ−ＩＢ（General Purpose Interface Bus)を介
して接続されたパソコン（図示されない。）によって共
通に指定された電力レンジにおいて作動する。Further, these electronic load devices 51-1 to 51-1
-N indicates that the maximum power that can be consumed as a load at a predetermined load voltage (here, for simplicity, it is assumed to be 5 volts equal to the above-mentioned nominal value of the electromotive force) is 6 watts. , 60 watts and 600 watts, and among these power ranges, commonly designated by a personal computer (not shown) connected via a GP-IB (General Purpose Interface Bus). It operates in the power range.
【０００５】さらに、電子負荷装置５１-1〜５１-Nは、
このようにして指定された電力レンジ（ここでは、簡単
のため、「６０ワット」であると仮定する。）について
は、同様にパソコンからＧＰ−ＩＢを介して与えられる
「負荷としての抵抗値」を与える係数ｒが指定され、例
えば、その係数ｒが 0≦ｒ≦(２12−１) の不等式を満たす１２ビット長の純２進数で与えられた
場合には、 Ｒ＝５2・(１／６０−ｒ(１／６０−１／６)／(２12−１)) ・・・(1) の式で示される値Ｒに、負荷として内蔵された半導体素
子の抵抗値を設定する。Further, the electronic load devices 51-1 to 51-N are:
For the power range specified in this manner (here, for simplicity, it is assumed to be "60 Watts"), the "resistance value as a load" similarly given from the personal computer via the GP-IB. coefficient give r is specified, for example, if the coefficient r is given by 0 ≦ r ≦ (2 12 -1 ) pure binary inequality 12 bit length satisfying of, R = 5 2 · (1 / 60-r (1 / 60-1 / 6) / (2 12 -1)) The resistance value of the semiconductor element incorporated as a load is set to the value R shown in the equation (1).
【０００６】このように従来例では、電子負荷装置５１
-1〜５１-Nの電力レンジがパソコンによって所望の値に
設定され、かつこのようなレンジにおける負荷抵抗の値
が同様にしてパソコンの主導の下で動的に可変されるの
で、試料である電力源５０の負荷試験が円滑にかつ自動
的に行われる。As described above, in the conventional example, the electronic load device 51
Since the power range of -1 to 51-N is set to a desired value by the personal computer, and the value of the load resistance in such a range is similarly dynamically varied under the initiative of the personal computer, it is a sample. The load test of the power source 50 is performed smoothly and automatically.
【０００７】[0007]
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来例では、電子負荷装置５１-1〜５１-Nに共通に設定
された電力レンジにおける最大の負荷電流は、６ワッ
ト、６０ワット、６００ワットの各電力レンジに対して
それぞれ６０アンペア、６００アンペア、６０００アン
ペアとなる。By the way, in such a conventional example, the maximum load current in the power range commonly set to the electronic load devices 51-1 to 51-N is 6 watts, 60 watts, and 600 watts. 60 amps, 600 amps, and 6000 amps for each watt power range.
【０００８】しかし、試料である電力源５０が実際に電
子負荷装置５１-1〜５１-Nに供給すべき電流の最大値
は、一般に、電源線の電圧降下が小さく抑えられ、かつ
電力効率が高く維持されることが要求されるために、数
百アンペア程度の値となる。すなわち、従来例では、電
子負荷装置５１-1〜５１-Nの台数Ｎが電力源５０によっ
て供給可能な最大の電力に基づいて決定されていたため
に、最大の電力レンジが実際の負荷試験には適応しない
場合が多かった。さらに、小さな電力レンジについて
は、電子負荷装置５１-1〜５１-Nの台数Ｎが大きいほど
上述した係数に応じて可変される負荷抵抗の最小の幅が
大きいために、負荷試験の精度が十分には確保できない
場合が多かった。However, the maximum value of the current that the power source 50, which is a sample, should actually supply to the electronic load devices 51-1 to 51-N is generally such that the voltage drop of the power supply line is suppressed small and the power efficiency is reduced. Since it is required to be maintained at a high level, the value is about several hundred amperes. That is, in the conventional example, since the number N of the electronic load devices 51-1 to 51-N is determined based on the maximum power that can be supplied by the power source 50, the maximum power range is not sufficient for an actual load test. Often did not adapt. Further, for a small power range, the greater the number N of the electronic load devices 51-1 to 51-N, the greater the minimum width of the load resistance that can be varied in accordance with the above-described coefficient, so that the accuracy of the load test is sufficient. In many cases could not be secured.
【０００９】本発明は、負荷試験が行われるべき実際の
負荷電流の値に適応すると共に、個々の電力レンジにお
いて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できる
負荷試験支援装置を提供することを目的とする。It is an object of the present invention to provide a load test support device which can adapt to an actual load current value to be subjected to a load test and can set a minimum width of a load resistance which can be varied in each power range to be small. Aim.
【００１０】[0010]
【課題を解決するための手段】図１は、請求項１〜４に
記載の発明の原理ブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the principle of the first to fourth aspects of the present invention.
【００１１】請求項１に記載の発明は、消費可能な最大
電力が共通であり、かつ供給された電力を外部から個別
に指定された抵抗値の負荷として消費する複数の電子負
荷装置１１-1〜１１-Nと、複数の電子負荷装置１１-1〜
１１-Nについて、負荷試験の対象である電力源１２がそ
の負荷試験の過程で供給し得る負荷電流の総和の最大値
と、その電力源１２が印加する負荷電圧との積と最大電
力との比以上であり、その最大電力に対して同様の電力
源１２が供給可能な最大の電力がとる比未満である条件
を満たす何れかの整数を求める算術演算手段１３と、複
数の電子負荷装置１１-1〜１１-Nの内、算術演算手段１
３によって求められた整数に等しい台数の電子負荷装置
を並列に組み合わせての電力源１２の負荷を形成する台
数設定手段１４とを備えたことを特徴とする。According to the first aspect of the present invention, there is provided a plurality of electronic load devices 11-1 which share the maximum power that can be consumed and consume the supplied power as a load having a resistance value individually specified from the outside. ~ 11-N and a plurality of electronic load devices 11-1 ~
11-N, the maximum power of the product of the maximum value of the total sum of the load currents that the power source 12 to be subjected to the load test can supply during the load test and the load voltage applied by the power source 12 An arithmetic operation means 13 for obtaining any integer satisfying a condition that is equal to or more than the ratio and is less than the ratio of the maximum power that can be supplied by the similar power source 12 to the maximum power, and a plurality of electronic load devices 11 Arithmetic operation means 1 out of -1 to 11-N
And a number setting means for forming a load on the power source by combining in parallel a number of electronic load devices equal to the integer obtained by the number 3.
【００１２】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の負荷試験支援装置において、算術演算手段１３は、条
件を満たす整数の内、負荷試験に適用されるべき負荷の
抵抗値の列に対して、その負荷を形成すべき電子負荷装
置に外部から指定される抵抗値が有する誤差が最小とな
る整数を求めることを特徴とする。請求項３に記載の発
明は、請求項１または請求項２に記載の負荷試験支援装
置において、複数の電子負荷装置１１-1〜１１-Nの内、
台数設定手段１４によって形成された負荷を構成する電
子負荷装置の一部のみに対して抵抗値の指定を行う抵抗
値指定手段２１を備えたことを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the load test support device according to the first aspect, the arithmetic operation means 13 includes a sequence of resistance values of the load to be applied to the load test among integers satisfying the condition. In this case, an integer that minimizes an error of a resistance value specified from the outside in an electronic load device to form the load is obtained. According to a third aspect of the present invention, in the load test support device according to the first or second aspect, among the plurality of electronic load devices 11-1 to 11-N,
It is characterized in that a resistance value designating means 21 for designating a resistance value for only a part of the electronic load device constituting the load formed by the number setting means 14 is provided.
【００１３】請求項４に記載の発明は、請求項１ないし
請求項３の何れか１項に記載の負荷試験支援装置におい
て、複数の電子負荷装置１１-1〜１１-Nに電力源１２が
印加する負荷電圧を計測し、その負荷電圧を算術演算手
段１３に与える負荷電圧計測手段３１を備えたことを特
徴とする。請求項１に記載の発明にかかわる負荷試験支
援装置では、台数設定手段１４は、消費可能な最大電力
が共通である複数の電子負荷装置１１-1〜１１-Nの内、
算術演算手段１３によって求められた整数に等しい台数
の電子負荷装置を並列に組み合わせることにより、負荷
試験の対象である電力源１２の負荷を形成する。According to a fourth aspect of the present invention, in the load test support device according to any one of the first to third aspects, the electric power source 12 is connected to the plurality of electronic load devices 11-1 to 11-N. A load voltage measuring means for measuring a load voltage to be applied and applying the load voltage to the arithmetic operation means is provided. In the load test support device according to the first aspect of the present invention, the number setting means 14 includes a plurality of electronic load devices 11-1 to 11-N having the same maximum consuming power.
The load of the power source 12 to be subjected to the load test is formed by combining in parallel a number of electronic load devices equal to the integer obtained by the arithmetic operation means 13.
【００１４】このような整数は、上述した電子負荷装置
１１-1〜１１-Nについて、電力源１２が負荷試験の過程
で供給し得る負荷電流の総和の最大値と、その電力源１
２が印加する負荷電圧との積と既述の最大電力との比以
上であり、その最大電力に対して同様の電力源１２が供
給可能な最大の電力がとる比未満である条件を満たす何
れかの整数として算術演算手段１３によって求められ
る。Such an integer is the maximum value of the total sum of the load currents that can be supplied by the power source 12 in the course of the load test for the electronic load devices 11-1 to 11-N described above and the power source 1
2 is equal to or higher than the ratio of the product of the applied load voltage to the applied maximum power and the maximum power described above, and which satisfies the condition that the maximum power that can be supplied by the similar power source 12 is less than the maximum power. It is obtained by the arithmetic operation means 13 as an integer.
【００１５】すなわち、負荷試験の対象である電力源１
２の負荷は、その負荷試験が行われるべき負荷電流の最
大値が小さいほど少ない台数の電子負荷装置が並列に組
み合わされることによって形成される。したがって、こ
のような台数の電子負荷装置が負荷として有する負荷抵
抗の値については、その台数が電力源１２によって同様
の負荷に供給され得る最大の負荷電流の値に基づいて設
定されていた従来例に比べて、外部から小さな可変幅で
設定することが可能となる。That is, the power source 1 to be subjected to the load test
The second load is formed by combining a smaller number of electronic load devices in parallel as the maximum value of the load current to be subjected to the load test is smaller. Therefore, the value of the load resistance that such a number of electronic load devices have as a load is set based on the value of the maximum load current that can be supplied by the power source 12 to a similar load. It is possible to set a smaller variable width from the outside as compared with.
【００１６】請求項２に記載の発明にかかわる負荷試験
支援装置では、請求項１に記載の負荷試験支援装置にお
いて、算術演算手段１３は、既述の条件を満たす整数の
内、電力源１２の負荷試験に適用されるべき負荷の抵抗
値の列に対して、その負荷を形成すべき電子負荷装置に
外部から指定される抵抗値が有する誤差が最小となる整
数を求める。In the load test support device according to the second aspect of the present invention, in the load test support device according to the first aspect, the arithmetic operation means 13 includes the power source 12 among the integers satisfying the aforementioned conditions. With respect to a series of resistance values of a load to be applied to the load test, an integer that minimizes an error of a resistance value externally specified in an electronic load device that forms the load is obtained.
【００１７】すなわち、負荷試験に適用されるべき負荷
の抵抗値は、その負荷を並列に形成する電子負荷装置の
台数がこのような誤差の評価が何ら行われることなく設
定される請求項１に記載の負荷試験支援装置に比べて、
精度よく設定される。したがって、所望の負荷抵抗によ
る負荷試験を確度高く行うことが可能となる。請求項３
に記載の発明にかかわる負荷試験支援装置では、請求項
１または請求項２に記載の負荷試験支援装置において、
抵抗値指定手段２１は、電子負荷装置１１-1〜１１-Nの
内、台数設定手段１４によって形成された負荷を構成す
る電子負荷装置の一部のみに対して抵抗値を指定する。That is, the resistance value of the load to be applied to the load test is set such that the number of electronic load devices forming the load in parallel is set without any evaluation of such an error. Compared to the described load test support device,
Set accurately. Therefore, it is possible to perform a load test with a desired load resistance with high accuracy. Claim 3
In the load test support device according to the invention described in (1), in the load test support device according to claim 1 or 2,
The resistance value designating means 21 designates a resistance value for only a part of the electronic load devices constituting the load formed by the number setting means 14 among the electronic load devices 11-1 to 11-N.
【００１８】すなわち、負荷の抵抗値はその負荷を構成
する全ての電子負荷装置の抵抗値が並行して可変される
場合に比べて小さな可変幅で設定されるので、負荷試験
が行われるべき負荷の抵抗値の値は柔軟にかつ高い精度
で設定される。請求項４に記載の発明にかかわる負荷試
験支援装置では、負荷電圧計測手段３１は、電力源１２
が電子負荷装置１１-1〜１１-Nに印加する負荷電圧を計
測し、その負荷電圧を算術演算手段１３に与える。That is, since the resistance value of the load is set with a smaller variable width than when the resistance values of all the electronic load devices constituting the load are changed in parallel, the load to be subjected to the load test is set. Are set flexibly and with high accuracy. In the load test support device according to the fourth aspect of the present invention, the load voltage measuring means 31 is connected to the power source 12.
Measures the load voltage applied to the electronic load devices 11-1 to 11-N, and supplies the load voltage to the arithmetic operation means 13.
【００１９】すなわち、負荷試験の対象となる電力源１
２の起電力が一定の値でない場合であっても、算術演算
手段１３が負荷を構成すべき電子負荷装置の台数を算出
するために適用されるべき負荷電圧がその起電力に適応
して自動的に得られるので、このような負荷電圧が人手
を介して与えられる場合に比べて負荷試験の効率および
精度が高められる。That is, the power source 1 to be subjected to the load test
2 is not a constant value, the load voltage to be applied for the arithmetic operation means 13 to calculate the number of electronic load devices constituting the load is automatically adjusted to the electromotive force. Therefore, the efficiency and accuracy of the load test are improved as compared with the case where such a load voltage is applied manually.
【００２０】[0020]
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施形態について詳細に説明する。図２は、請求項１〜４
に記載の発明に対応した実施形態を示す図である。図に
おいて、図６に示すものと機能および構成が同じものに
ついては、同じ符号を付与して示し、ここではその説明
を省略する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG.
FIG. 3 is a diagram showing an embodiment corresponding to the invention described in FIG. In the drawing, components having the same functions and configurations as those shown in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted here.
【００２１】本実施形態と図６に示す従来例との構成の
相違点は、マイクロプロセッサ４１が備えられ、電子負
荷装置５１-1〜５１-Nが個別に有する外部制御端子にそ
のマイクロプロセッサ４１の対応する出力ポートがそれ
ぞれ接続され、かつマイクロプロセッサ４１について
は、電子負荷装置５１-1〜５１-Nと同様にＧＰ−ＩＢを
介して図示されないパソコンに接続されると共に、内蔵
されたＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ）４２の入力に電力源５０
に至る電源線が接続された点にある。The difference between this embodiment and the conventional example shown in FIG. 6 is that a microprocessor 41 is provided, and the microprocessor 41 is connected to an external control terminal individually provided in each of the electronic load devices 51-1 to 51-N. And the microprocessor 41 is connected to a personal computer (not shown) via the GP-IB in the same manner as the electronic load devices 51-1 to 51-N, and the built-in A / A power source 50 is connected to the input of the D converter (A / D) 42.
At the point where the power supply line leading to is connected.
【００２２】なお、本実施形態と図１に示すブロック図
との対応関係については、電子負荷装置５１-1〜５１-N
は電子負荷装置１１-1〜１１-Nに対応し、電力源５０は
電力源１２に対応し、マイクロプロセッサ４１は算術演
算手段１３および台数設定手段１４に対応し、図示され
ないパソコンは抵抗値指定手段２１に対応し、マイクロ
プロセッサ４１およびＡ／Ｄ変換器４２は負荷電圧計測
手段３１に対応する。The correspondence between the present embodiment and the block diagram shown in FIG. 1 is described with reference to the electronic load devices 51-1 to 51-N.
Corresponds to the electronic load devices 11-1 to 11-N, the power source 50 corresponds to the power source 12, the microprocessor 41 corresponds to the arithmetic operation means 13 and the number setting means 14, and a personal computer (not shown) designates a resistance value. The microprocessor 41 and the A / D converter 42 correspond to the load voltage measuring means 31.
【００２３】図３は、本実施形態の請求項１に記載の発
明に対応した動作フローチャートである。以下、図２お
よび図３を参照して本実施形態の請求項１、３、４に記
載の発明に対応した動作を説明する。まず、本実施形態
において負荷試験の対象となる電力源５０は、(a) 並列
に接続された１０個の電池からなる組電池、(b) 並列に
接続された１０個の電池からなる組電池が直列に５組接
続されてなる電力源、(c) 並列に接続された１０個の電
池からなる組電池が直列に１０組接続されてなる電力
源、(d) 直列に接続された１０個の電池からなる組電
池、(e) 直列に接続された１０個の電池からなる組電池
が並列に５組接続されてなる電力源、(f) 直列に接続さ
れた１０個の電池からなる組電池が並列に１０組接続さ
れてなる電力源の何れかに適宜設定される。FIG. 3 is an operation flowchart corresponding to the first embodiment of the present invention. Hereinafter, an operation corresponding to the first to third aspects of the present invention will be described with reference to FIGS. First, the power source 50 to be subjected to the load test in the present embodiment includes (a) an assembled battery composed of 10 batteries connected in parallel, and (b) an assembled battery composed of 10 batteries connected in parallel. Are connected in series in five sets, (c) a power source in which 10 sets of batteries are connected in series, and 10 sets of batteries are connected in parallel, and (d) 10 power sources are connected in series. (E) a power source composed of five sets of batteries connected in series, (e) a power source composed of five sets of batteries connected in series, and (f) a set composed of ten batteries connected in series. The power source is appropriately set to any one of 10 power sources connected in parallel.
【００２４】マイクロプロセッサ４１は、電子負荷装置
５１-1〜５１-Nが共通に有する最大の電力レンジの値Ｍ
（＝６００ワット）が予め与えられ、かつＧＰ−ＩＢを
介してパソコンと所定の手順に基づいて連係することに
より、そのパソコンから「試料である電力源５０の態様
が上述した(a)〜(f)の何れかに設定（あるいは更新）さ
れた旨の通知」と、その態様において負荷試験が行われ
るべき負荷電流の最大値ｍ（図４(1))とが与えられる
と、Ａ／Ｄ変換器４２を介してその電力源５０の起電力
Ｖ（図４(2))を計測する（図３(1))。The microprocessor 41 has a maximum power range value M common to the electronic load devices 51-1 to 51-N.
(= 600 watts) is given in advance, and the personal computer communicates with the personal computer through GP-IB based on a predetermined procedure. f), and the maximum value m (FIG. 4 (1)) of the load current to be subjected to the load test in that mode is given. The electromotive force V (FIG. 4 (2)) of the power source 50 is measured via the converter 42 (FIG. 3 (1)).
【００２５】つぎに、マイクロプロセッサ４１は、上述
した起電力Ｖ、最大の電力レンジの値Ｍおよび負荷電流
の最大値ｍに対して ｋ＝Ｖ・ｍ／Ｍ の式で示される値ｋを算出し（図３(2))、かつこのよう
な値ｋが整数である場合にはその整数の値を示し、反対
で整数でない場合にはその値ｋを上回る最小の整数値を
示す整数Ｋを求める（図３(3)、(4))。Next, the microprocessor 41 calculates a value k represented by the following equation: k = V · m / M with respect to the above-described electromotive force V, the maximum power range value M and the load current maximum value m. (FIG. 3 (2)), and when such a value k is an integer, it indicates the value of the integer. On the other hand, when the value k is not an integer, an integer K indicating the smallest integer value exceeding the value k is used. (Fig. 3 (3), (4)).
【００２６】さらに、マイクロプロセッサ４１は、電子
負荷装置５１-1〜５１-Nの内、上述した整数Ｋに等しい
台数の電子負荷装置の稼働を許容するが、残りの全ての
電子負荷装置については稼働を規制する（図３(5))。こ
のように本実施形態によれば、個々の態様の電力源５０
について、供給可能な最大の電力の如何にかかわらず、
負荷試験が行われるべき負荷電流の最大値ｍが小さいほ
ど小さく、かつ並行して稼働すべき電子負荷装置の台数
Ｋがその最大値ｍと上述した起電力Ｖとの積に等しい電
力の消費を可能とする最小の値に設定される。Further, the microprocessor 41 allows the operation of the number of electronic load devices equal to the integer K described above among the electronic load devices 51-1 to 51-N, but for all the remaining electronic load devices, Operation is regulated (Fig. 3 (5)). Thus, according to the present embodiment, the power source 50 of each aspect
Regardless of the maximum power that can be supplied,
The smaller the maximum value m of the load current to be subjected to the load test, the smaller the number K of electronic load devices to be operated in parallel, and the number K of electronic load devices that consumes power equal to the product of the maximum value m and the above-described electromotive force V. Set to the minimum value possible.
【００２７】すなわち、稼働すべき電子負荷装置の台数
Ｋが小さいほど、ＧＰ−ＩＢを介してパソコンによって
与えられた係数ｒに応じて設定されるべき抵抗値Ｒの最
小の可変幅が小さな値となるので、負荷試験の精度が高
められる。以下、請求項２に記載の発明に対応した実施
形態について説明する。本実施形態と請求項１に記載の
発明に対応した実施形態との相違点は並行して稼働すべ
き電子負荷装置の台数Ｋが後述する手順に基づいて設定
される点にあり、ハードウエアの構成については、請求
項１に記載の発明に対応した実施形態と同様であるか
ら、ここではその説明を省略する。図５は、本実施形態
の請求項２に記載の発明に対応した動作フローチャート
である。That is, the smaller the number K of electronic load devices to be operated, the smaller the minimum variable width of the resistance value R to be set according to the coefficient r given by the personal computer via the GP-IB. Therefore, the accuracy of the load test can be improved. Hereinafter, an embodiment corresponding to the invention described in claim 2 will be described. The difference between the present embodiment and the embodiment according to the first aspect is that the number K of electronic load devices to be operated in parallel is set based on a procedure described later. The configuration is the same as that of the embodiment corresponding to the first aspect of the present invention, and a description thereof will not be repeated. FIG. 5 is an operation flowchart corresponding to the second embodiment of the present invention.
【００２８】図において、図３に示す処理と同じ処理に
ついては、簡単のため同じ番号(1)〜(5) を付与して示
す。以下、図２および図５を参照して本実施形態の請求
項２に記載の発明に対応した動作を説明する。マイクロ
プロセッサ４１は、負荷試験の過程で適用されるべき負
荷抵抗の値の順列が予め与えられ、先ず電子負荷装置５
１-1〜５１-Nの内、並行して稼働すべき電子負荷装置の
台数Ｋを請求項１に記載の発明に対応した実施形態と同
様にして求める（図５(1)〜(4)) 。In the figure, the same processes as those shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals (1) to (5) for simplicity. Hereinafter, an operation corresponding to the second aspect of the present invention will be described with reference to FIGS. The microprocessor 41 is provided with a permutation of the values of the load resistances to be applied in the course of the load test in advance.
Among the items 1-1 to 51-N, the number K of electronic load devices to be operated in parallel is obtained in the same manner as in the embodiment according to the first aspect of the present invention (FIGS. 5A to 5D). ).
【００２９】さらに、マイクロプロセッサ４１は、既述
のＫ以上であって予め決められた上限値Ｕ以下である電
子負荷装置（電子負荷装置５１-1〜５１-Nの内、実際に
並行して稼働すべきもの）の台数Ｔの個々について、Ｇ
Ｐ−ＩＢを介してパソコンから与えられる係数ｒに応じ
てＴ台の電子負荷装置が負荷としてとる負荷抵抗の値の
内、上述した順列に含まれる値に対する誤差が最小であ
る値を選択する（図５(6))と共に、その選択された値に
付随する同様の誤差を求める（図５(7))。Further, the microprocessor 41 is provided with an electronic load device (of the electronic load devices 51-1 to 51-N) which is equal to or more than the aforementioned K and equal to or less than the predetermined upper limit value U. G for each of the number T of
According to the coefficient r given from the personal computer via the P-IB, a value having the smallest error with respect to the value included in the above-described permutation is selected from the values of the load resistances taken by the T electronic loads as loads ( Along with FIG. 5 (6)), a similar error accompanying the selected value is obtained (FIG. 5 (7)).
【００３０】また、マイクロプロセッサ４１は、上述し
た個々の台数Ｔについてこのような誤差の総和を求める
（図５(8))と、これらの台数Ｔ（Ｋ≦Ｔ≦Ｕ）の内、対
応する総和が最小となる台数ｔを並行して稼働すべき電
子負荷装置の台数として設定し（図５(9))、かつその台
数ｔの電子負荷装置の稼働を許容すると共に、残りの電
子負荷装置の稼働を規制する（図５(5))。Further, the microprocessor 41 calculates the sum of such errors for the individual numbers T described above (FIG. 5 (8)), and corresponds to the number T (K ≦ T ≦ U). The number t that minimizes the sum is set as the number of electronic load devices to be operated in parallel (FIG. 5 (9)), and the operation of the electronic load devices of the number t is permitted, and the remaining electronic load devices are set. Operation is regulated (Fig. 5 (5)).
【００３１】このように本実施形態によれば、負荷抵抗
の値の列として与えられる負荷試験の条件に最も適合し
た最小の台数の電子負荷装置が並行して稼働することに
よりその負荷試験が行われるので、請求項１に記載の発
明に対応した実施形態に比べて多様な負荷抵抗における
負荷試験が精度よく行われる。なお、本実施形態では、
上述した上限値Ｕの設定の基準が何ら示されていない
が、例えば、「負荷試験の対象となるべき全ての態様の
電力源５０から供給され得る最大の電力の値」と、「単
一の電子負荷装置で消費され得る最大の電力の値」との
比として与えられてもよい。As described above, according to the present embodiment, the load test is performed by operating the minimum number of electronic load devices most suitable for the load test conditions given as the load resistance value column in parallel. Therefore, a load test with various load resistances is performed with higher accuracy than the embodiment according to the first aspect of the present invention. In the present embodiment,
Although no criterion for setting the upper limit value U described above is shown, for example, “the maximum power value that can be supplied from the power source 50 in all aspects to be subjected to the load test” and “single Of the maximum power that can be consumed by the electronic load device.
【００３２】また、本実施形態では、負荷試験の条件で
ある「負荷抵抗の値の列」に含まれるべき負荷抵抗の値
の数が複数となっているが、このような数は「１」であ
ってもよい。さらに、本実施形態では、「上述した誤差
の総和が最小であること」が「並行して稼働すべき電子
負荷装置の台数ｔの選定の基準」となっているが、その
基準は同様の誤差に対する最小二乗法の適用によって与
えられてもよい。Further, in the present embodiment, the number of load resistance values to be included in the “load resistance value column” which is a condition of the load test is plural, but such a number is “1”. It may be. Furthermore, in the present embodiment, “the minimum sum of the above-described errors” is “a criterion for selecting the number t of the electronic load devices to be operated in parallel”, but the criterion is a similar error. May be given by applying the least squares method to.
【００３３】また、上述した各実施形態では、パソコン
によって電子負荷装置５１-1〜５１-Nに共通の係数ｒが
与えられているが、何れの電子負荷装置も定格を超える
電力を消費せざるを得ない状態に陥らないならば、例え
ば、並行して稼働する電子負荷装置の一部のみに対して
その係数ｒの更新が行われたり、同様に並行して稼働す
る電子負荷装置の一部もしくは全てに対して異なる係数
ｒの設定が行われることにより、負荷抵抗が可変される
べき最小の幅が所望の値に設定されてもよい。In each of the above-described embodiments, the personal computer assigns a common coefficient r to the electronic load devices 51-1 to 51-N. However, all of the electronic load devices consume power exceeding the rating. If it does not fall into the state of not obtaining, for example, the coefficient r is updated only for a part of the electronic load devices that operate in parallel, or a part of the electronic load device that also operates in parallel. Alternatively, by setting different coefficients r for all, the minimum width in which the load resistance should be varied may be set to a desired value.
【００３４】さらに、上述した各実施形態では、電子負
荷装置５１-1〜５１-Nの電力レンジが規定される負荷電
圧の値が５ボルトとなっているが、抵抗値が可変可能な
疑似負荷としてこれらの電子負荷装置に適用された半導
体素子の性能や特性と、負荷試験が行われるべき最小の
負荷電圧とに適応するならば、その値は如何なる値であ
ってもよい。Further, in each of the above-described embodiments, the load voltage value that defines the power range of the electronic load devices 51-1 to 51-N is 5 volts. The value may be any value as long as it is adapted to the performance and characteristics of the semiconductor element applied to these electronic load devices and the minimum load voltage to be subjected to a load test.
【００３５】また、上述した各実施形態では、負荷電流
の最大値ｍとして電力源５０が供給可能な負荷電流の最
大値が適用されているが、このような負荷電流の最大値
ｍについては、負荷試験が行われるべき最大値であって
もよい。さらに、上述した各実施形態では、電池もしく
は組電池の組み合わせが負荷試験の対象の電力源５０と
なっているが、このような電力源５０については、イン
バータ、スイッチングレギュレータその他を構成する電
源回路であったり、予め形成され配電系や電源線であっ
てもよい。Also, in each of the above-described embodiments, the maximum value of the load current that can be supplied by the power source 50 is applied as the maximum value m of the load current. It may be the maximum value at which a load test should be performed. Further, in each of the above-described embodiments, a battery or a combination of battery packs is the power source 50 to be subjected to the load test. However, such a power source 50 is provided by a power supply circuit constituting an inverter, a switching regulator, and the like. It may be a power distribution system or a power line formed in advance.
【００３６】また、上述した各実施形態では、電子負荷
装置５１-1〜５１-Nは何れも６ワット、６０ワットおよ
び６００ワットの電力レンジを有するが、このような電
力レンジおよびその数については、如何なるものであっ
てもよく、かつ異なってもよい。さらに、上述した各実
施形態では、負荷試験が行われるべき最大の負荷電流の
値がパソコンによって与えられているが、このような負
荷電流の最大値は、マイクロプロセッサ４１に付加され
た専用の操作部を介して操作者によって与えられてもよ
い。In each of the above-described embodiments, the electronic load devices 51-1 to 51-N have power ranges of 6 watts, 60 watts, and 600 watts. , And may be different. Further, in each of the above-described embodiments, the maximum load current value at which the load test is to be performed is given by the personal computer. However, such a maximum load current value is determined by a dedicated operation added to the microprocessor 41. It may be provided by the operator via the unit.
【００３７】また、上述した各実施形態では、電力源５
０の起電力ＶがＡ／Ｄ変換器４２を介して計測されてい
るが、このような起電力Ｖについては、上述した最大の
付加電流の値と同様にしてパソコンや専用の操作部を介
して与えられてもよい。さらに、上述した各実施形態で
は、マイクロプロセッサ４１がＧＰ−ＩＢを介してパソ
コンに接続されているが、両者の間で負荷試験に必要な
情報や事象の伝達が確実に行えるならば、このようなＧ
Ｐ−ＩＢに代えて如何なる伝送方式や通信手順に基づく
通信リンクが適用されてもよい。In each of the above embodiments, the power source 5
The electromotive force V of 0 is measured via the A / D converter 42, and such an electromotive force V is transmitted through a personal computer or a dedicated operation unit in the same manner as the above-described value of the maximum additional current. May be given. Further, in each of the above-described embodiments, the microprocessor 41 is connected to the personal computer via the GP-IB. Nag
A communication link based on any transmission method or communication procedure may be applied instead of the P-IB.
【００３８】また、上述した各実施形態では、電子負荷
装置５１-1〜５１-Nの内、並行して稼働すべき電子負荷
装置について、数の決定とその稼働の制御とがマイクロ
プロセッサ４１の主導の下で行われる蓄積プログラム制
御方式に基づいて達成されているが、このようなマイク
ロプロセッサ４１の一部または全ては如何なる構成のハ
ードウエアと置換されてもよい。In each of the above-described embodiments, for the electronic load devices to be operated in parallel among the electronic load devices 51-1 to 51-N, determination of the number and control of the operation are performed by the microprocessor 41. Although achieved based on a storage program control method performed under the initiative, some or all of such a microprocessor 41 may be replaced with hardware having any configuration.
【００３９】さらに、上述した各実施形態では、電子負
荷装置５１-1〜５１-Nの内、並行して稼働すべき電子負
荷装置が負荷として有する抵抗値より電力源５０の内部
抵抗の値が十分小さいと見なされ得ることを前提とする
ことにより、上述した台数が既述の起電力Ｖに基づいて
算出されているが、このような前提が成立しない場合に
は、その起電力Ｖに代えて実効的に負荷として印加され
る負荷電圧が適用されてもよい。Further, in each of the above-described embodiments, the value of the internal resistance of the power source 50 is smaller than the value of the resistance of the electronic load devices to be operated in parallel among the electronic load devices 51-1 to 51-N. The above-mentioned number is calculated based on the above-described electromotive force V by assuming that it can be considered to be sufficiently small. A load voltage that is effectively applied as a load may be applied.
【００４０】また、上述した各実施形態では、電子負荷
装置５１-1〜５１-Nは、何れも電力源５０に予め接続さ
れ、かつ個別に稼働の可否が電子的に設定される（例え
ば、内蔵された半導体素子の動作点を可変する）ことに
より負荷としての電力レンジが設定されているが、例え
ば、何れも定常的に稼働状態に保たれ、かつその電力源
５０との間に形成される電力の供給路が断続されてもよ
い。In each of the above-described embodiments, each of the electronic load devices 51-1 to 51-N is connected to the power source 50 in advance, and whether or not it can be operated individually is electronically set (for example, The power range as a load is set by changing the operating point of the built-in semiconductor element). For example, each of the power ranges is constantly maintained and is formed between the power source 50 and the power source. Power supply path may be interrupted.
【００４１】[0041]
【発明の効果】上述したように請求項１に記載の発明で
は、電子負荷装置が負荷として有する負荷抵抗の値の設
定は、従来例に比べて小さな可変幅で行われる。また、
請求項２に記載の発明では、従来例に比べて小さな可変
幅で負荷抵抗が設定され、かつ所望の負荷抵抗による負
荷試験が確度高く行われる。As described above, in the first aspect of the present invention, the value of the load resistance of the electronic load device is set with a variable width smaller than that of the conventional example. Also,
According to the second aspect of the present invention, the load resistance is set with a variable width smaller than that of the conventional example, and a load test with a desired load resistance is performed with high accuracy.
【００４２】さらに、請求項３に記載の発明では、負荷
試験が行われるべき負荷の抵抗の値が柔軟に高い精度で
設定される。また、請求項４に記載の発明では、負荷試
験の対象となる電力源の起電力が一定でない場合であっ
ても、その負荷試験の効率および精度が高められる。し
たがって、これらの発明の適用の下で負荷試験が行われ
た電力源は、その負荷試験の基準を確度高く満たして低
廉化され、かつ性能および信頼性が高められる。Further, according to the third aspect of the invention, the value of the resistance of the load to be subjected to the load test is set flexibly and with high accuracy. According to the fourth aspect of the invention, even when the electromotive force of the power source to be subjected to the load test is not constant, the efficiency and accuracy of the load test can be improved. Therefore, a power source that has been subjected to a load test under the application of these inventions meets the criteria of the load test with high accuracy, is inexpensive, and has improved performance and reliability.
【図１】請求項１〜４に記載の発明の原理ブロック図で
ある。FIG. 1 is a block diagram showing the principle of the present invention.
【図２】請求項１〜４に記載の発明に対応した実施形態
を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an embodiment corresponding to the first to fourth aspects of the present invention.
【図３】本実施形態の請求項１に記載の発明に対応した
動作フローチャートである。FIG. 3 is an operation flowchart corresponding to the invention described in claim 1 of the present embodiment.
【図４】電力源の各態様に適応した電子負荷装置の台数
を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the number of electronic load devices adapted to each mode of a power source.
【図５】本実施形態の請求項２に記載の発明に対応した
動作フローチャートである。FIG. 5 is an operation flowchart corresponding to the invention described in claim 2 of the present embodiment.
【図６】従来の負荷試験の試験回路の一例を示す図であ
る。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a test circuit of a conventional load test.
１１，５１ 電子負荷装置 １２，５０ 電力源 １３ 算術演算手段 １４ 台数設定手段 ２１ 抵抗値指定手段 ３１ 負荷電圧計測手段 ４１ マイクロプロセッサ ４２ Ａ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ） 11,51 Electronic load device 12,50 Power source 13 Arithmetic operation means 14 Number setting means 21 Resistance value designation means 31 Load voltage measurement means 41 Microprocessor 42 A / D converter (A / D)
Claims (4)
供給された電力を外部から個別に指定された抵抗値の負
荷として消費する複数の電子負荷装置と、 前記複数の電子負荷装置について、負荷試験の対象であ
る電力源がその負荷試験の過程で供給し得る負荷電流の
総和の最大値と、その電力源が印加する負荷電圧との積
と前記最大電力との比以上であり、その最大電力に対し
て同様の電力源が供給可能な最大の電力がとる比未満で
ある条件を満たす何れかの整数を求める算術演算手段
と、 前記複数の電子負荷装置の内、前記算術演算手段によっ
て求められた整数に等しい台数の電子負荷装置を並列に
組み合わせて前記の電力源の負荷を形成する台数設定手
段とを備えたことを特徴とする負荷試験支援装置。1. A plurality of electronic load devices having the same maximum power that can be consumed and consuming supplied power as a load having a resistance value individually specified from the outside; The maximum value of the total sum of the load currents that the power source to be subjected to the load test can supply in the course of the load test, and the product of the load voltage applied by the power source and the ratio of the maximum power or more, Arithmetic operation means for finding any integer that satisfies a condition that the ratio is less than the maximum power that can be supplied by the same power source with respect to the maximum power; and the arithmetic operation means among the plurality of electronic load devices. A load setting support device comprising: a number setting means for forming a load on the power source by combining in parallel the number of electronic load devices equal to the obtained integer.
いて、 算術演算手段は、 条件を満たす整数の内、負荷試験に適用されるべき負荷
の抵抗値の列に対して、その負荷を形成すべき電子負荷
装置に外部から指定される抵抗値が有する誤差が最小と
なる整数を求めることを特徴とする負荷試験支援装置。2. The load test support device according to claim 1, wherein the arithmetic operation means forms the load in a sequence of resistance values of the load to be applied to the load test among integers satisfying the condition. A load test support device for obtaining an integer that minimizes an error of a resistance value externally specified for an electronic load device to be performed.
験支援装置において、 複数の電子負荷装置の内、台数設定手段によって形成さ
れた負荷を構成する電子負荷装置の一部のみに対して抵
抗値の指定を行う抵抗値指定手段を備えたことを特徴と
する負荷試験支援装置。3. The load test support device according to claim 1, wherein only a part of the plurality of electronic load devices that constitutes the load formed by the number setting means is provided. A load test support device comprising a resistance value designating means for designating a resistance value.
記載の負荷試験支援装置において、 複数の電子負荷装置に電力源が印加する負荷電圧を計測
し、その負荷電圧を算術演算手段に与える負荷電圧計測
手段を備えたことを特徴とする負荷試験支援装置。4. The load test support device according to claim 1, wherein a load voltage applied to a plurality of electronic load devices by a power source is measured, and the load voltage is arithmetically operated. A load test support device, comprising: a load voltage measuring means for applying the load voltage to the load test.
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|---|---|---|---|
| JP06039397A JP3707710B2 (en) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | Load test support device |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101968519A (en) * | 2009-07-27 | 2011-02-09 | 樱花卫厨（中国）股份有限公司 | Electric control reliability automatic testing device |
| JP5813272B1 (en) * | 2014-02-19 | 2015-11-17 | 株式会社辰巳菱機 | Load testing equipment |
| CN105700611A (en) * | 2016-03-18 | 2016-06-22 | 重庆长安汽车股份有限公司 | Adjustable constant current electronic load |
| JP2021081414A (en) * | 2019-11-18 | 2021-05-27 | 致茂電子股▲分▼有限公司Ｃｈｒｏｍａ Ａｔｅ Ｉｎｃ． | Electronic load device, and load module provided with heat radiation function |
-
1997
- 1997-03-14 JP JP06039397A patent/JP3707710B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JP2021081414A (en) * | 2019-11-18 | 2021-05-27 | 致茂電子股▲分▼有限公司Ｃｈｒｏｍａ Ａｔｅ Ｉｎｃ． | Electronic load device, and load module provided with heat radiation function |
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