JPH10253612A - 放射性ガス濃度計測装置 - Google Patents
放射性ガス濃度計測装置Info
- Publication number
- JPH10253612A JPH10253612A JP6117397A JP6117397A JPH10253612A JP H10253612 A JPH10253612 A JP H10253612A JP 6117397 A JP6117397 A JP 6117397A JP 6117397 A JP6117397 A JP 6117397A JP H10253612 A JPH10253612 A JP H10253612A
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- JP
- Japan
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- gas
- tritium
- carbon
- measuring
- concentration
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 軽水炉燃料の再処理過程で生ずるオフガス中
の炭素１４及び三重水素の濃度を精確に計測し、監視す
る。 【解決手段】 軽水炉燃料の再処理過程のオフガス中の
炭素１４（Ｃ−14）及び三重水素（Ｔ）の濃度を計測す
る放射性ガス濃度計測装置は、オフガスサンプルａを導
入し、計測妨害成分を除去して炭素化合物及び水素化合
物のみを分別するクロマトグラフカラム１と、クロマト
グラフカラム１を通過した分別ガス３を酸素を含まない
化学形態に変換する還元カラム５と、還元カラム５から
の還元ガス９の質量スペクトルを計測する質量分析計１
１と、質量分析計１１の計測質量スペクトルから前記炭
素１４及び三重水素の濃度を導出する演算手段とを有す
る。
の炭素１４及び三重水素の濃度を精確に計測し、監視す
る。 【解決手段】 軽水炉燃料の再処理過程のオフガス中の
炭素１４（Ｃ−14）及び三重水素（Ｔ）の濃度を計測す
る放射性ガス濃度計測装置は、オフガスサンプルａを導
入し、計測妨害成分を除去して炭素化合物及び水素化合
物のみを分別するクロマトグラフカラム１と、クロマト
グラフカラム１を通過した分別ガス３を酸素を含まない
化学形態に変換する還元カラム５と、還元カラム５から
の還元ガス９の質量スペクトルを計測する質量分析計１
１と、質量分析計１１の計測質量スペクトルから前記炭
素１４及び三重水素の濃度を導出する演算手段とを有す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガス中の特定の成
分の濃度を計測する装置に関し、特に軽水炉燃料を再処
理する際に発生するオフガス中の炭素の同位元素や水素
の同位元素の濃度を計測する装置に関する。
分の濃度を計測する装置に関し、特に軽水炉燃料を再処
理する際に発生するオフガス中の炭素の同位元素や水素
の同位元素の濃度を計測する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】加圧水型原子炉や沸騰水型原子炉の軽水
炉では、一般に酸化ウランを原料とする原子炉燃料を使
用しているが、その使用済燃料から有効成分であるウラ
ン及びプルトニウム等を取り出す所謂再処理が行われて
いる。この再処理プロセスでは、酸化ウランペレットが
詰まった被覆燃料棒を剪断し、更にこれらを硫酸溶液を
使用して溶解するに際し、オフガスが発生する。而し
て、そのオフガスの中には窒素ガスＮ2，酸素ガスＯ2，
窒素酸化物ＮＯｘ，よう素Ｉ２，クリプトンＫｒが含ま
れ、更には炭素の同位元素炭素14（Ｃ−14）が、14ＣＯ
又は14ＣＯ2の形で、水素Ｈの同位元素である三重水素
ＴがＨＴ，Ｔ2，ＨＴＯ及びＴ2Ｏの形でそれぞれ含まれ
ている。これらのオフガスは所定の操作を行って最終的
に環境に放出されるが、微量ではあるが天然中に存在す
る炭素14（Ｃ−14）及び三重水素Ｔの放出濃度は常時監
視されて安全なレベルに保持されている。
炉では、一般に酸化ウランを原料とする原子炉燃料を使
用しているが、その使用済燃料から有効成分であるウラ
ン及びプルトニウム等を取り出す所謂再処理が行われて
いる。この再処理プロセスでは、酸化ウランペレットが
詰まった被覆燃料棒を剪断し、更にこれらを硫酸溶液を
使用して溶解するに際し、オフガスが発生する。而し
て、そのオフガスの中には窒素ガスＮ2，酸素ガスＯ2，
窒素酸化物ＮＯｘ，よう素Ｉ２，クリプトンＫｒが含ま
れ、更には炭素の同位元素炭素14（Ｃ−14）が、14ＣＯ
又は14ＣＯ2の形で、水素Ｈの同位元素である三重水素
ＴがＨＴ，Ｔ2，ＨＴＯ及びＴ2Ｏの形でそれぞれ含まれ
ている。これらのオフガスは所定の操作を行って最終的
に環境に放出されるが、微量ではあるが天然中に存在す
る炭素14（Ｃ−14）及び三重水素Ｔの放出濃度は常時監
視されて安全なレベルに保持されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】炭素１４（Ｃ−14）及
び三重水素（Ｔ）を含めガスの成分を分析する場合、質
量分析計を使用するのが一般的であるが、共存元素や分
子に同重体が存在すると、それらの間の区別が困難で高
精度の分析が難しく、高精度の濃度計測やモニタリング
は期待できない。例えば、自然には酸素の同位体とし
て、Ｏ16，Ｏ17，Ｏ18があり、12Ｃ16Ｏ18Ｏと14Ｃ16Ｏ
2のような同重体の区別がつかない。又、炭素１４（Ｃ
−14）及び三重水素（Ｔ）は放射性核種であるから、質
量計測に代えて放射能計測により濃度計測をすることが
考えられが、これらはベータ線放出核種であり、その計
測のためには共存するガンマ線放出核種である85Krを事
前に除去しておく必要がある。しかしながら、このクリ
プトン８５は不活性であるから除去が困難で低温吸着除
去装置が必要である。この装置を使用するには、大きな
コスト及び設置スペースを必要としている。従って、本
発明の課題は、検査対象ガス中に妨害成分や同位体化合
物による同重体があっても、計測対象元素の成分濃度を
迅速且つ高精度で計測し得る放射性ガス濃度計測装置を
提供することにある。
び三重水素（Ｔ）を含めガスの成分を分析する場合、質
量分析計を使用するのが一般的であるが、共存元素や分
子に同重体が存在すると、それらの間の区別が困難で高
精度の分析が難しく、高精度の濃度計測やモニタリング
は期待できない。例えば、自然には酸素の同位体とし
て、Ｏ16，Ｏ17，Ｏ18があり、12Ｃ16Ｏ18Ｏと14Ｃ16Ｏ
2のような同重体の区別がつかない。又、炭素１４（Ｃ
−14）及び三重水素（Ｔ）は放射性核種であるから、質
量計測に代えて放射能計測により濃度計測をすることが
考えられが、これらはベータ線放出核種であり、その計
測のためには共存するガンマ線放出核種である85Krを事
前に除去しておく必要がある。しかしながら、このクリ
プトン８５は不活性であるから除去が困難で低温吸着除
去装置が必要である。この装置を使用するには、大きな
コスト及び設置スペースを必要としている。従って、本
発明の課題は、検査対象ガス中に妨害成分や同位体化合
物による同重体があっても、計測対象元素の成分濃度を
迅速且つ高精度で計測し得る放射性ガス濃度計測装置を
提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】如上の課題を解決するた
め、本発明によれば、軽水炉燃料の再処理過程のオフガ
ス中の炭素14（Ｃ−14）及び三重水素（Ｔ）の濃度を計
測する放射性ガス濃度計測装置は、計測乃至監視対象の
オフガスを導入し、計測妨害成分を除去して炭素化合物
及び水素化合物のみを分別する計測妨害成分除去手段
と、この計測妨害成分除去手段を通過した炭素化合物及
び三重水素化合物を酸素を含まない化学形態に変換する
前処理手段と、この前処理手段からの処理ガスの質量ス
ペクトルを計測する計測手段と、この計測手段の計測質
量スペクトルから前記炭素14（Ｃ−14）及び三重水素の
濃度を導出する演算手段とを有することを特徴とする。
もし計測対象の元素が、炭素１４のみで三重水素を含ま
ないときは、三重水素変換手段が計測妨害成分除去手段
に前置される。好適な実施形態においては、計測妨害成
分除去手段は、クロマトグラフ用カラムとして構成さ
れ、前処理手段及び計測手段はそれぞれ還元カラム及び
質量分析計として構成される。
め、本発明によれば、軽水炉燃料の再処理過程のオフガ
ス中の炭素14（Ｃ−14）及び三重水素（Ｔ）の濃度を計
測する放射性ガス濃度計測装置は、計測乃至監視対象の
オフガスを導入し、計測妨害成分を除去して炭素化合物
及び水素化合物のみを分別する計測妨害成分除去手段
と、この計測妨害成分除去手段を通過した炭素化合物及
び三重水素化合物を酸素を含まない化学形態に変換する
前処理手段と、この前処理手段からの処理ガスの質量ス
ペクトルを計測する計測手段と、この計測手段の計測質
量スペクトルから前記炭素14（Ｃ−14）及び三重水素の
濃度を導出する演算手段とを有することを特徴とする。
もし計測対象の元素が、炭素１４のみで三重水素を含ま
ないときは、三重水素変換手段が計測妨害成分除去手段
に前置される。好適な実施形態においては、計測妨害成
分除去手段は、クロマトグラフ用カラムとして構成さ
れ、前処理手段及び計測手段はそれぞれ還元カラム及び
質量分析計として構成される。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の実施形態を説明する。図１において、符号１はクロ
マトグラフカラムで、これに再処理過程からのオフガス
サンプルａが導入される。このオフガスサンプルａには
炭素１４や三重水素が化合物の形で含まれているが、以
下に述べるモニタリングのための濃度計測のため、再処
理過程から発生するオフガスの一部がオフガスサンプル
ａとしてクロマトグラフカラム１に導入されるのであ
る。クロマトグラフカラム１は、ポラパックＮ（商品
名）等の吸着剤を充填したカラムであり、成分ガスの吸
着力の差により層状分離される。ここで、オフガスサン
プルａに含まれていた窒素ガスＮ2，酸素ガスＯ2，窒素
酸化物ＮＯｘ，よう素Ｉ２，クリプトンＫｒ等が分離除
去され、ＣＯ，ＣＯ2及びＨＴ，Ｔ2，ＨＴＯ，Ｔ2Ｏの
みが分別される。この分別ガス３は、還元コラム５に入
り、ここで水素ボンベ７から供給された水素ガスにより
還元される。還元カラム５には、ニッケルＮが添着され
たケイソウ土が充填され、全体が約６００℃に加熱され
ていて、酸素を含まない化学形態即ちメタンに変換され
る。即ち炭素１４及び三重水素は、12ＣＨ4 、12ＣＴＨ
3 、12ＣＴ2Ｈ2 、12ＣＴ3Ｈ 、12ＣＴ4 、14ＣＨ4 ，
14ＣＴＨ3 ，14ＣＴ2Ｈ2 ，14ＣＴ3Ｈ ，14ＣＴ4 の形
態に還元される。最後にその還元ガス９を計測手段たる
質量分析計１１に送り、各成分ガスの質量スペクトルを
計測する。そして、次のような演算を経て、炭素14（Ｃ
−14）及び三重水素の量即ち濃度を算出する。
明の実施形態を説明する。図１において、符号１はクロ
マトグラフカラムで、これに再処理過程からのオフガス
サンプルａが導入される。このオフガスサンプルａには
炭素１４や三重水素が化合物の形で含まれているが、以
下に述べるモニタリングのための濃度計測のため、再処
理過程から発生するオフガスの一部がオフガスサンプル
ａとしてクロマトグラフカラム１に導入されるのであ
る。クロマトグラフカラム１は、ポラパックＮ（商品
名）等の吸着剤を充填したカラムであり、成分ガスの吸
着力の差により層状分離される。ここで、オフガスサン
プルａに含まれていた窒素ガスＮ2，酸素ガスＯ2，窒素
酸化物ＮＯｘ，よう素Ｉ２，クリプトンＫｒ等が分離除
去され、ＣＯ，ＣＯ2及びＨＴ，Ｔ2，ＨＴＯ，Ｔ2Ｏの
みが分別される。この分別ガス３は、還元コラム５に入
り、ここで水素ボンベ７から供給された水素ガスにより
還元される。還元カラム５には、ニッケルＮが添着され
たケイソウ土が充填され、全体が約６００℃に加熱され
ていて、酸素を含まない化学形態即ちメタンに変換され
る。即ち炭素１４及び三重水素は、12ＣＨ4 、12ＣＴＨ
3 、12ＣＴ2Ｈ2 、12ＣＴ3Ｈ 、12ＣＴ4 、14ＣＨ4 ，
14ＣＴＨ3 ，14ＣＴ2Ｈ2 ，14ＣＴ3Ｈ ，14ＣＴ4 の形
態に還元される。最後にその還元ガス９を計測手段たる
質量分析計１１に送り、各成分ガスの質量スペクトルを
計測する。そして、次のような演算を経て、炭素14（Ｃ
−14）及び三重水素の量即ち濃度を算出する。
【０００６】即ち、オフガスサンプル中の同位体交換は
速やかに進行するとして、各モル比を[14C］/［12Ｃ］＝
Ｘ，［Ｔ］/［Ｈ］＝Ｙ，更に［12ＣＨ4］＝Ａ とおく
と、各量は以下のように表され、質量スペクトル比は次
のようになる。 ［14ＣＨ4］ ＝［12ＣＨ4］ ×［14Ｃ］/［12Ｃ］＝
ＡＸ ［12ＣＴＨ3］＝［12ＣＨ4］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＹ ［14ＣＴＨ3］＝［14ＣＨ4］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＸＹ ［12ＣＴ2Ｈ2］＝［12ＣＴＨ3］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＹ2 ［14ＣＴ2Ｈ2］＝［14ＣＴＨ3］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＸＹ2 ［12ＣＴ3Ｈ］＝［12ＣＴ2Ｈ2］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＹ3 ［14ＣＴ3Ｈ］＝［14ＣＴ2Ｈ2］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＸＹ3 ［12ＣＴ4］ ＝［12ＣＴ3Ｈ］ ×［Ｔ］/［Ｈ］
＝ＡＹ4 ［14ＣＴ4］ ＝［14ＣＴ3Ｈ］ ×［Ｔ］/［Ｈ］
＝ＡＸＹ4
速やかに進行するとして、各モル比を[14C］/［12Ｃ］＝
Ｘ，［Ｔ］/［Ｈ］＝Ｙ，更に［12ＣＨ4］＝Ａ とおく
と、各量は以下のように表され、質量スペクトル比は次
のようになる。 ［14ＣＨ4］ ＝［12ＣＨ4］ ×［14Ｃ］/［12Ｃ］＝
ＡＸ ［12ＣＴＨ3］＝［12ＣＨ4］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＹ ［14ＣＴＨ3］＝［14ＣＨ4］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＸＹ ［12ＣＴ2Ｈ2］＝［12ＣＴＨ3］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＹ2 ［14ＣＴ2Ｈ2］＝［14ＣＴＨ3］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＸＹ2 ［12ＣＴ3Ｈ］＝［12ＣＴ2Ｈ2］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＹ3 ［14ＣＴ3Ｈ］＝［14ＣＴ2Ｈ2］ ×［Ｔ］/［Ｈ］ ＝
ＡＸＹ3 ［12ＣＴ4］ ＝［12ＣＴ3Ｈ］ ×［Ｔ］/［Ｈ］
＝ＡＹ4 ［14ＣＴ4］ ＝［14ＣＴ3Ｈ］ ×［Ｔ］/［Ｈ］
＝ＡＸＹ4
【０００７】従って質量分析計１１から得られる分析値
をＭとし、質量数を添字で表すと次のように表される。 Ｍ16＝Ａ Ｍ18＝ＡＹ ＋ＡＸ ＝ Ａ（Ｘ＋Ｙ） Ｍ20＝ＡＹ2 ＋ＡＸＹ ＝ ＡＹ（Ｘ＋Ｙ） Ｍ22＝ＡＹ3 ＋ＡＸＹ2 ＝ ＡＹ2（Ｘ＋Ｙ） Ｍ24＝ＡＹ4 ＋ＡＸＹ3 ＝ ＡＹ3（Ｘ＋Ｙ） Ｍ26＝ ＡＸＹ4
をＭとし、質量数を添字で表すと次のように表される。 Ｍ16＝Ａ Ｍ18＝ＡＹ ＋ＡＸ ＝ Ａ（Ｘ＋Ｙ） Ｍ20＝ＡＹ2 ＋ＡＸＹ ＝ ＡＹ（Ｘ＋Ｙ） Ｍ22＝ＡＹ3 ＋ＡＸＹ2 ＝ ＡＹ2（Ｘ＋Ｙ） Ｍ24＝ＡＹ4 ＋ＡＸＹ3 ＝ ＡＹ3（Ｘ＋Ｙ） Ｍ26＝ ＡＸＹ4
【０００８】以上から Ａ ＝Ｍ16 Ｘ＋Ｙ＝Ｍ18/ Ｍ16 Ｙ ＝Ｍ20/ Ｍ18 Ｘ ＝Ｍ18/ Ｍ16−Ｍ20/ Ｍ18 因に次式が成立する。 Ｍ22 ＝Ｍ20 2/Ｍ18 Ｍ24 ＝Ｍ20 3/Ｍ18 2 Ｍ26 ＝Ｍ16・（Ｍ18/ Ｍ16−Ｍ20/ Ｍ18）（Ｍ20/ Ｍ
18）4
18）4
【０００９】よって、14Ｃの全量は次式で表される。 Σ14Ｃ＝[12ＣＨ4]+[14ＣＴＨ3]+[14ＣＴ2Ｈ2]+[14ＣＴ3Ｈ]+[14ＣＴ4] ＝Ｍ16・(Ｍ18/ Ｍ16−Ｍ20/ Ｍ18)（１＋Ｙ＋Ｙ2＋Ｙ3＋Ｙ4） ここで、Ｙ＝Ｍ20/ Ｍ18一方三重水素Ｔの全量は次式で
表される。 ΣＴ＝[12ＣＴＨ3]+[12ＣＴ2Ｈ2]+[14ＣＴＨ3]+[12ＣＴ3Ｈ]+[14ＣＴ2Ｈ2] +[12ＣＴ4]+[14ＣＴ3Ｈ]+[14ＣＴ4] ＝Ｍ16・Ｍ20/ Ｍ18・(Ｍ18/ Ｍ16-Ｍ20/ Ｍ18+１)・(１+Ｙ+Ｙ2+Ｙ3) 以上のような式の演算は、質量分析計１１に付設された
図示しないコンピュータのような演算手段により実施さ
れて、それぞれの放射性ガスの濃度が求められる。
表される。 ΣＴ＝[12ＣＴＨ3]+[12ＣＴ2Ｈ2]+[14ＣＴＨ3]+[12ＣＴ3Ｈ]+[14ＣＴ2Ｈ2] +[12ＣＴ4]+[14ＣＴ3Ｈ]+[14ＣＴ4] ＝Ｍ16・Ｍ20/ Ｍ18・(Ｍ18/ Ｍ16-Ｍ20/ Ｍ18+１)・(１+Ｙ+Ｙ2+Ｙ3) 以上のような式の演算は、質量分析計１１に付設された
図示しないコンピュータのような演算手段により実施さ
れて、それぞれの放射性ガスの濃度が求められる。
【００１０】尚計測対象に三重水素Ｔを含まない場合
は、図２に示すように、オフガスサンプルａを先ず酸化
カラム１３に通した後に、酸化ガス１５として前述のよ
うなクロマトグラフカラム１に導入する。酸化カラム１
３は、パラジウムPdを添着したアルミナが充填され、運
転時には約２００℃に加熱されている。そうすると、オ
フガスサンプルａ中のＨＴ又はＴ2の形態の三重水素Ｔ
は、全てＨＴＯ又はＴ2Ｏの形になり、クロマトグラフ
カラム１でＨ2Ｏと共に分離される。従って分別ガス１
７は、三重水素Ｔを含まず、還元カラム５で水素ボンベ
７からの水素ガスによりメタンに変換される。そして還
元ガス１９を質量分析計１１に入れて、前述のように質
量スペクトルを計測する。そして同様な演算により、炭
素１４の全量を算出し、放射性ガスの濃度とする。
は、図２に示すように、オフガスサンプルａを先ず酸化
カラム１３に通した後に、酸化ガス１５として前述のよ
うなクロマトグラフカラム１に導入する。酸化カラム１
３は、パラジウムPdを添着したアルミナが充填され、運
転時には約２００℃に加熱されている。そうすると、オ
フガスサンプルａ中のＨＴ又はＴ2の形態の三重水素Ｔ
は、全てＨＴＯ又はＴ2Ｏの形になり、クロマトグラフ
カラム１でＨ2Ｏと共に分離される。従って分別ガス１
７は、三重水素Ｔを含まず、還元カラム５で水素ボンベ
７からの水素ガスによりメタンに変換される。そして還
元ガス１９を質量分析計１１に入れて、前述のように質
量スペクトルを計測する。そして同様な演算により、炭
素１４の全量を算出し、放射性ガスの濃度とする。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば炭
素１４及び三重水素の計測妨害成分が計測対象のオフガ
スから完全に分離除去されるので、質量分析計による質
量スペクトルを利用してその濃度を精確に計測すること
ができる。
素１４及び三重水素の計測妨害成分が計測対象のオフガ
スから完全に分離除去されるので、質量分析計による質
量スペクトルを利用してその濃度を精確に計測すること
ができる。
【図１】本発明の実施形態の系統図である。
【図２】本発明の別の実施形態の系統図である。
１ クロマトグラフカラム ３ 分別ガス ５ 還元カラム ７ 水素ボンベ ９ 還元ガス １１ 質量分析計 １３ 酸化カラム １５ 酸化ガス １７ 分別ガス １９ 還元ガス ａ オフガスサンプル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 榎田 洋一 東京都千代田区丸の内二丁目５番１号 三 菱重工業株式会社内
Claims (6)
- 【請求項１】 軽水炉燃料の再処理過程のオフガス中の
炭素１４（Ｃ−14）及び三重水素（Ｔ）の濃度を計測す
る装置であって、 前記オフガスを導入し、計測妨害成分を除去して炭素化
合物及び水素化合物のみを分別する計測妨害成分除去手
段と、 前記計測妨害成分除去手段を通過した前記炭素化合物及
び三重水素化合物を酸素を含まない化学形態に変換する
前処理手段と、 前記前処理手段からの処理ガスの質量スペクトルを計測
する計測手段と、 前記計測手段の計測質量スペクトルから前記炭素１４及
び三重水素の濃度を導出する演算手段とを有することを
特徴とする放射性ガス濃度計測装置。 - 【請求項２】 軽水炉燃料の再処理過程のオフガス中の
炭素１４（Ｃ−14）の濃度を計測する装置であって、 前記オフガスを導入し、該オフガス中に含まれる三重水
素（Ｔ）をＨＴＯ又はＴ2Ｏの形態に変換する三重水素
変換手段と、 前記ＨＴＯ又はＴ2Ｏの形態の前記三重水素及び他の計
測妨害成分を除去して前記炭素化合物のみを分別する計
測妨害成分除去手段と、 前記計測妨害成分除去手段を通過した前記炭素化合物を
酸素を含まない化学形態に変換する前処理手段と、 前記前処理手段からの処理ガスの質量スペクトルを計測
する計測手段と、 前記計測手段の計測質量スペクトルから前記炭素１４の
濃度を導出する演算手段とを有することを特徴とする放
射性ガス濃度計測装置。 - 【請求項３】 前記三重水素変換手段はガス酸化カラム
であることを特徴とする請求項２記載の放射性ガス濃度
計測装置。 - 【請求項４】 前記計測妨害成分除去手段は、ガスクロ
マトグラフ用カラムであることを特徴とする請求項１乃
至３のいずれか一に記載の放射性ガス濃度計測装置。 - 【請求項５】 前記前処理手段は、ガス還元カラムであ
ることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一に記載
の放射性ガス濃度計測装置。 - 【請求項６】 前記計測手段は質量分析計である請求項
１乃至５のいずれか一に記載の放射性ガス濃度計測装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6117397A JPH10253612A (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | 放射性ガス濃度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6117397A JPH10253612A (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | 放射性ガス濃度計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10253612A true JPH10253612A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=13163503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6117397A Withdrawn JPH10253612A (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | 放射性ガス濃度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10253612A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2405359A (en) * | 2003-08-23 | 2005-03-02 | Univ Sheffield Hallam | Apparatus for the processing of analytes with a liquid chromatograph, a mass spectrometer and a redox device |
| US6943445B2 (en) | 2001-03-30 | 2005-09-13 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device having bridge-connected wiring structure |
-
1997
- 1997-03-14 JP JP6117397A patent/JPH10253612A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6943445B2 (en) | 2001-03-30 | 2005-09-13 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device having bridge-connected wiring structure |
| GB2405359A (en) * | 2003-08-23 | 2005-03-02 | Univ Sheffield Hallam | Apparatus for the processing of analytes with a liquid chromatograph, a mass spectrometer and a redox device |
| GB2405359B (en) * | 2003-08-23 | 2005-10-12 | Univ Sheffield Hallam | Improvements to liquid chromatography coupled to mass spectrometry in the investigation of selected analytes |
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