JPH10207727A

JPH10207727A - テストプログラム自動生成システム

Info

Publication number: JPH10207727A
Application number: JP9024326A
Authority: JP
Inventors: Yatachika Takesue; 八太力武末
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Information Technology Co Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Information Technology Co Ltd
Priority date: 1997-01-23
Filing date: 1997-01-23
Publication date: 1998-08-07

Abstract

(57)【要約】【課題】テストプログラムソースを自動生成するテス
トプログラム自動生成システムを提供することにある。【解決手段】機能仕様入力部22は、テスト対象装置の
機能仕様を入力、編集しファイル3に格納し、また、フ
ァイル３の内容を基に状態遷移テーブルを作成し、ファ
イル4に格納する。テスト抽出条件入力部23はテストケ
ース抽出条件テーブルを入力、編集しファイル5に格納
する。プログラム部品入力部24はプログラム部品を入
力、編集しファイル7に格納する。テストケース抽出部2
5はファイル4，5の内容を基にテストケースを抽出し、
ファイル6に格納する。テストプログラム自動生成部26
はファイル6，7の内容を基にテストプログラムソースを
自動生成し、ファイル8に格納する。そして、コンパイ
ラ＆リンカー27はファイル8の内容を基にテストプログ
ラムオブジェクトを生成し、ファイル９に格納する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は計算機システムを構成す
る各種装置の開発、保守、障害追求において用いられる
テストプログラムを効率よく開発するテストプログラム
の生成に関する。

【０００２】

【従来の技術】特開平６−１９５２１６で記載のように
テスト仕様書をテストシーケンスの流れに着目して記述
し、計算機入力することによつて、テストプログラムを
自動生成する手法が特開平６−１９５２１６に記載され
ている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来技術では、テスト
対象装置の機能仕様書からテストケースの抽出及び抽出
したテストケースを実現するためのテストシーケンスは
高度な検証技術者が人手により作成する必要があり、よ
り効率及び品質のよいテストプログラムの開発を行うた
めに、上流工程からテストプログラムの自動生成を行う
ことが必要である。本発明の目的は、テストプログラ
ムソースを自動生成するテストプログラム自動生成シス
テムを提供することにある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、テスト対象装置の機能仕様を入力、編集
し、該編集結果を基に状態遷移テーブルを作成する機能
仕様入力部と、テストケースを自動抽出するためのテス
トケース抽出条件テーブルを入力、編集するテスト抽出
条件入力部と、プログラム部品を入力、編集するプログ
ラム部品入力部と、前記機能仕様の編集結果および状態
遷移テーブルと前記編集したテストケース抽出条件テー
ブルを基にテストケースを自動抽出するテストケース抽
出部と、該テストケース抽出部が出力したテストケース
および前記編集したプログラム部品を基にテストプログ
ラムを自動生成するテストプログラム自動生成部からな
るようにしている。

【０００５】

【発明の実施の形態】以下図面に従って、本発明の一実
施形態について説明する。図１は本発明の一実施形態を
示すブロック構成図である。図１において、１はオペレ
ータが操作を行うためのコンソール、２はテストプログ
ラムを自動生成すための各種生成機能を有するテストプ
ログラム自動生成プログラム、３はテスト対象装置の機
能仕様をコンソール１から入力したファイルで図３の状
態遷移図と図４のテスト対象装置共通仕様テーブルを含
むテスト対象装置仕様ファイル、４は図３の前記状態遷
移図を元に生成した図５の状態遷移テーブルを格納した
状態遷移ファイル、５は図６のテストケース抽出条件テ
ーブルからなるテストケース抽出条件ファイル、６は前
記図５と図６から自動抽出した図７のテストケース抽出
テーブルからなるテストケース抽出ファイル、７はテス
トプログラムを構成する図８の各種未完成のプログラム
部品を含むプログラム部品ファイル、８は前記図７のテ
ストケース毎に図８からプログラム部品を求めテストプ
ログラムとして組み立てた図９のテストプログラムソー
スを格納したテストプログラムソースファイル、９は８
のテストプログラムソースを入力としてコンパイラ＆リ
ンカーによって生成される最終形態のテストプログラム
オブジェクトを含むテストプログラムである。

【０００６】図２は２のテストプログラム自動生成プロ
グラムと当該プログラムによって生成される図１に示す
３〜７の中間ファイル及び８〜９の最終結果のテストプ
ログラムのソースファイル、オブジェクトファイルとの
関係を示す図である。図２において２１はテストプログ
ラムの自動生成において必要な機能仕様入力部２２〜コ
ンパイラ＆リンカー２７を統合管理する実行管理部であ
る。前記２のテストプログラム自動生成プログラムは機
能仕様入力部２２、テスト抽出条件入力部２３、プログ
ラム部品入力部２４、テストケース抽出部２５、テスト
プログラム自動生成部２６、コンパイラー＆リンカー
２７、及び前記２２〜２７を統合管理する実行管理部２
１から構成される。

【０００７】図３はテスト対象装置の機能仕様を明確に
した状態遷移図の例であり、処理(楕円のボックス)３１
と処理の管理番号３２と遷移先(処理と処理を結ぶ矢線)
３３及び遷移条件(矢線上の語句)３４によつて表され
る。装置の状態遷移図は他にもあり、装置の他の機能仕
様毎に用意される。図４は図３の遷移図上では表現され
ないテスト対象装置の種々の機能仕様に共通の仕様を記
述したものである。図３と図４は前記コンソール１から
入力され、前記機能仕様入力部２２に入力され、編集さ
れてテスト対象装置仕様ファイル３に格納される。

【０００８】図５は前記機能仕様入力部２２がテスト対
象装置仕様ファイル３に格納された図３の状態遷移図と
図４のテスト対象装置共通仕様テーブルとを解析し作成
する状態遷移テーブルである。当該状態遷移テーブル
は、管理番号(図３の３２の管理番号と対応)５１と行番
号５２、遷移及び処理の条件を示す条件５３、条件５３
の条件成立時の処理内容を示す処理５４、遷移先５５及
びテストケースとして抽出されたかどうかを示すパスフ
ラグ５６から構成される。

【０００９】図６はテストケース抽出の条件を明らかに
するもので全体条件６１と個別条件６２から構成され
る。全体条件６１が示している条件Ｃ１は「全てのパス
を最低１回通過する」ことを意味する。個別条件６２は
図３の管理番号３２と対応して、テスト精度、テスト効
率を考慮して必要に応じて管理番号単位にテストの条件
を定義する。テスト抽出条件テーブルの情報はコンソー
ル１からテスト抽出条件入力部２３により入力され、編
集されて、テスト抽出条件テーブルとしてテストケース
抽出条件ファイル５に格納される。

【００１０】図７は状態遷移ファイル４とテストケース
抽出条件ファイル５に格納された情報に基づきテストケ
ース抽出部２５で自動抽出したテストケースからなるテ
ストケース抽出テーブルである。各テストケースは、テ
ストケース番号７１、図３の管理番号３２及び図５の管
理番号５１と対応した管理番号７２（００、０１、０
２．．．）、遷移条件７３（CMD=XMIT、CMD=INV、CMD=R
CV等）、データ生成情報７４（XDT1=SYN,XDT2=RUN,CNT=
4096等）、報告情報７５（STS=CE+DE、STS=CE+DE+UC、S
SB=01等）の組み合わせによって構成される。各テスト
ケースは管理番号７２によって前記図３及び図５に示さ
れたどの遷移を通過するか明示され、図５の通過した管
理番号、行番号に対応するパスフラグはオンにされる。

【００１１】図８はテストプログラムの元になるプログ
ラム部品群のテーブルであり、プログラム部品入力部２
４により入力され、編集されてプログラム部品ファイル
７に格納される。このプログラム部品は部品名８１、展
開条件８２、部品プログラム８３から構成され、更に部
品プログラム８３はオペレーション部８４(Head、RTN、
XMIT等)とオペランド部８５からなる。なお、オペラン
ド部８５中の？部と＄？部はテストプログラム自動生成
部２６で部品を組み立てる時に解決される。図９はプロ
グラム自動生成部２６でテストケース抽出ファイル６と
プログラム部品ファイル７の内容に基づき部品を組み立
て完成したテストプログラムソースを示す。

【００１２】次に、図２〜図９を用いてテストプログラ
ム自動生成の処理の流れを説明する。最初に、機能仕様
入力部２２によりテスト対象装置の機能仕様である図３
の状態遷移図と図４のテスト対象装置共通仕様テーブル
を入力し、編集してテスト対象装置仕様ファイル３を作
成し、さらに、機能仕様入力部２２によつてファイル３
に格納された図３、図４の内容を解析し、図５の状態遷
移テーブルを作成し、状態遷移ファイル４に格納する。
例えば、図３の処理“コマンド待ち”については、管理
番号３２の“００”を５１として記入し、遷移条件３４
に対応して行番号５２として“０１”、“０２”、“０
３”を記入し、行番号“０１”の条件５３として“送信
コマンド”を記入し、処理５４として“なし”を記入
し、遷移先５５として矢線が指示する“０１”を記入
し、パスフラグ５６として“０”を記入し、行番号“０
２”の条件５３として“受信コマンド”を記入し、処理
５４として“なし”を記入し、遷移先５５として矢線が
指示する“１０”を記入し、パスフラグ５６として
“０”を記入し、行番号“０３”の条件５３として“コ
マンドエラー”を記入し、処理５４として“SSB(センス
バイト)=01”を記入し、遷移先５５として矢線が指示
する“０４”を記入し、パスフラグ５６として“０”を
記入する。以下、他の管理番号の処理についても、同様
にして状態遷移テーブルに記入する。

【００１３】次にテスト抽出条件入力部２３によりテス
ト抽出条件を入力し、編集して、テスト抽出条件テーブ
ルを作成し、テストケース抽出条件ファイル５に格納す
る。更にプログラム部品入力部２４によりプログラム部
品を入力し、図８のプログラム部品群のテーブルを作成
し、プログラム部品ファイル７に格納する。

【００１４】次にテストケース抽出部２５は状態遷移フ
ァイル４とテスト抽出条件ファイル５を参照し、図６の
全体条件６１、個別条件６２を元に図５の状態遷移テー
ブルから図７のテストケースを抽出する。ここで、テス
トケース抽出条件のＣ１は、最低でもすべてのパスを１
回通過することを意味する。なお、全パスを通過したか
どうかは、図５の状態遷移テーブルのパスフラグが“オ
ン”になっているか否かによつて判断する。すなわち全
パスフラグがオンのときテストケースの抽出は完了す
る。

【００１５】ここで、図７のテストケースの抽出の例を
説明する。テストケース番号１のテストケースの場合、
図５の状態遷移テーブルを参照し、管理番号“００”の
行番号“０１”の“送信コマンド”、“なし”に基づ
き、“00，CMD=XMIT”を抽出し、行番号“００”のパス
フラグをオンにし、遷移先“０１”に基づき、管理番号
“０１”を選択し、行番号“０１”の“同期データ検
出”、“なし”に基づき、“01，XDT1=SYN”を抽出し、
行番号“０１”のパスフラグをオンにし、遷移先“０
２”に基づき、管理番号“０２”を選択し、行番号“０
１”の“送信データ有り”、“データ送信”と、図６の
テスト抽出条件テーブルの管理番号ＮＯ＝０２の個別条
件に基づき、“02，XDT2=RUN，CNT=4096”を抽出し、行
番号“０２”のパスフラグをオンにし、遷移先“０３”
に基づき、管理番号“０３”を選択し、行番号“０１”
の“無条件”、“正常報告”に基づき、“03，STS=CE+D
E”を抽出し、行番号“０１”のパスフラグをオンに
し、遷移先“００”（遷移先なし）に基づき、テストケ
ース番号１の処理を終了する。他のテストケース番号の
テストケースも同様にして抽出される。

【００１６】ここで図７の各パラメータの意味は、CMD
はコマンド、XMITは送信、CMD=XMITは送信コマンドを意
味し、XDT1は送信データ、SYNは同期、XDT1=SYNはSYNデ
ータ送信を意味し、RUNは乱数、XDT2=RUNは乱数データ
を送信を意味し、CNTはカウント、CNT=4096は送信デー
タ長(図４で65535が図６で4096かそれぞれ定義されてい
るが個別条件を優先するため、4096が選ばれる)を意味
し、STSはステータス、CEはチャネルエンド、DEはデバ
イスエンド、STS=CE+DEは正常終了を報告を意味し、INV
は無効、CMD=INVは未定義コマンドを意味し、UEはユニ
ットチェック、STS=CE+DE+UEは異常終了報告を意味し、
SSB=01は異常終了報告時の詳細コードを意味し、これら
は何れも図５〜図６から求められる情報である。

【００１７】次に２６のテストプログラム自動生成部は
図７のテストケース番号毎に図８のプログラム部品群の
テーブルから求め、更に部品オペランドの？と＄？を解
決し、完成した部品をテストプログラムソース領域に書
き込み図９のテストプログラムソースを生成する。Head
er部品はプログラムの先頭に使用し、オペランドのName
パラメータの？はシーケンシャルナな番号を割り振る。
RTN(ルーチン)部品は図７のテストケース毎に１個使用し、T
est#の＄？はテストケース番号で置き換える。すなわち
図７のテストケースを選択(最初はテストケース番号１)
したときＲＴＮ部品プログラムをテストプログラムソー
ス領域に書き込む。次に図７の管理番号００の遷移条件
(テストケース番号１ではCMD=XMIT,テストケース番号2
ではCMD=INV)と図８の展開条件を比較し一致する部品を
求める。テストケース１では部品名XMIT1、テストケー
ス2では部品名XMIT2が求まる。求めた部品のオペランド
の＄？は図７の情報から解決する。図８のＸＤＴ＝＄？
は図７テストケース番号１の場合XDT1=SYNとXDT2=RUNに
よって解決する。具体的には先頭データがSYNデータ、
次データが乱数データを展開するパラメータの定義を生
成する。また、オペランドのCNT=$?,STS=$?,SSB=$?は、
図７のテストケースのCNT,STS,SSBパラメータによって
解決される。すべてのテストケースの処理が終了したと
きＴＥｎｄ部品プログラムをテストプログラムソース領
域に書き込みテストプログラムソースが完成する。

【００１８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
テスト対象装置の仕様、テストプログラムの未解決パラ
メータを含むプログラム部品及びテストケース抽出条件
を入力し、テストケースの自動抽出、プログラム部品の
自動組み立て及び未解決パラメータの自動解決を図り、
テストプログラムソースを自動生成することができる。
この結果、高品質で低コストのテストプログラムを短期
開発できる。また、保守効率も向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】テストプログラム自動生成プログラムの構成と
当該プログラムが作成する中間ファイル及び最終結果の
テストプログラムファイルの関係を示す図である。

【図３】テスト対象装置の機能仕様の１例を示す状態遷
移図である。

【図４】図３の状態遷移図で表現されないテスト対象装
置の共通仕様を示すテスト対象装置共通仕様テーブルを
示す図である。

【図５】図３及び図４から作成する状態遷移テーブルを
示す図である。

【図６】テスト抽出条件を明らかにするためのテスト抽
出条件テーブルを示す図である。

【図７】図５と図６を元に、テストケースを抽出した結
果を示すテストケース抽出テーブルを示す図である。

【図８】未完成のパラメータを含むプログラム部品群の
テーブルを示す図である。

【図９】図７と図８から自動生成して完成したテストプ
ログラムソースを示す図である。

【符号の説明】

１コンソール２テストプログラム自動生成プログラム３テスト対象装置仕様ファイル４状態遷移ファイル５テストケース抽出条件ファイル６テストケース抽出ファイル７プログラム部品ファイル８テストプログラムソースファイル９テストプログラムオブジェクトファイル２１実行管理部２２機能仕様入力部２３テスト抽出条件入力部２４プログラム部品入力部２５テストケース抽出部２６テストプログラム自動抽出部２７コンパイラー＆リンカー

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】テスト対象装置の機能仕様を入力、編集
し、該編集結果を基に状態遷移テーブルを作成する機能
仕様入力部と、テストケースを自動抽出するためのテストケース抽出条
件テーブルを入力、編集するテスト抽出条件入力部と、プログラム部品を入力、編集するプログラム部品入力部
と、前記機能仕様の編集結果および状態遷移テーブルと前記
編集したテストケース抽出条件テーブルを基にテストケ
ースを自動抽出するテストケース抽出部と、該テストケース抽出部が出力したテストケースおよび前
記編集したプログラム部品を基にテストプログラムを自
動生成するテストプログラム自動生成部からなることを
特徴とするテストプログラム自動生成システム。