JPH10206113A - Edge location detecting method and image measuring device - Google Patents

Edge location detecting method and image measuring device

Info

Publication number
JPH10206113A
JPH10206113A JP9019571A JP1957197A JPH10206113A JP H10206113 A JPH10206113 A JP H10206113A JP 9019571 A JP9019571 A JP 9019571A JP 1957197 A JP1957197 A JP 1957197A JP H10206113 A JPH10206113 A JP H10206113A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
memory
pixels
image
values
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9019571A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Norio Tsuburaya
寛夫 圓谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP9019571A priority Critical patent/JPH10206113A/en
Publication of JPH10206113A publication Critical patent/JPH10206113A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain resolving power finer than a pixel pitch by storing the same values corresponding to the detected signal levels of pixels corresponding to a predetermined number of memory groups provided for each pixel and detecting edge locations on the basis of the values obtained by averaging the values in memories arranged in order. SOLUTION: A CCD camera 13 captures images pixel by pixel for detection, and these output signals are inputted from the CCD camera 13 to an image processing part 2 by a unit of pixel. In the image processing part 2, the same value as the output signal of each of corresponding pixels from the CCD camera 13 is stored in each memory for processing high resolving power prepared for each one of a plurality of pixels. Average values of movement on these data is obtained by a predetermined expression. Each pixel is plurally divided corresponding to an average value of movement and binarized through the use of a threshold value to obtain edge locations.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象物につい
て画像上でのエッジ位置を検出するエッジ位置検出方
法、及び測定対象物を表示しそのエッジ位置を検出する
画像測定装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an edge position detecting method for detecting an edge position on an image of an object to be measured, and an image measuring apparatus for displaying the object to be measured and detecting the edge position.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の画像測定装置において、測定対象
物のエッジ位置の検出は、画面上の画素単位での2値化
処理により行っていた。この従来技術によるエッジ位置
検出方法について図1及び図5により説明する。図1
(a)は、画像測定装置の画面を示す平面図であり、画
面50には測定対象物60が表示されている。画面50
上において、測定対象物60が暗部50aとして、測定
対象物でない部分は明部50bとして表示されている。
これらの暗部50aと明部50bとを含む画面50内の
検出部70において、図の破線で示す暗部50aと明部
50bとの境界60aが求めようとする画面50上の測
定対象物60のエッジである。図1(b)に、この検出
部70内における画素単位に対応する実際の光強度分布
を示す。図1(b)に示す光強度分布から測定対象物6
0の画面50におけるエッジ60aの位置を求める従来
技術による方法を図5により説明する。
2. Description of the Related Art In a conventional image measuring apparatus, the detection of the edge position of an object to be measured has been performed by a binarization process for each pixel on a screen. The edge position detecting method according to the prior art will be described with reference to FIGS. FIG.
3A is a plan view showing a screen of the image measuring device, and a measurement object 60 is displayed on a screen 50. FIG. Screen 50
Above, the measurement target 60 is displayed as a dark part 50a, and the part that is not the measurement target is displayed as a bright part 50b.
In the detection unit 70 in the screen 50 including the dark part 50a and the light part 50b, the edge of the measurement target 60 on the screen 50 for which the boundary 60a between the dark part 50a and the light part 50b indicated by a broken line in the drawing is to be obtained. It is. FIG. 1B shows an actual light intensity distribution corresponding to each pixel in the detection unit 70. From the light intensity distribution shown in FIG.
A method according to the related art for obtaining the position of the edge 60a on the screen 50 of 0 will be described with reference to FIG.

【0003】図5(a)には、図1(b)と同様の検出
部70内における実際の光強度分布を示す。このような
光強度分布を有する画像をCCDカメラで取り込んだ場
合の各画素からの出力信号レベル、即ち、画像信号を図
5(b)に示す。この画像信号について50%をしきい
値として2値化処理をすると、図5(c)に示すような
2値画像出力が得られる。そして、値が0から1へ変化
した4画素目と5画素目との境界位置がエッジ60aの
位置とされる。
FIG. 5A shows an actual light intensity distribution in the detection unit 70 similar to FIG. 1B. FIG. 5B shows an output signal level from each pixel when an image having such a light intensity distribution is captured by a CCD camera, that is, an image signal. When this image signal is subjected to a binarization process using 50% as a threshold value, a binary image output as shown in FIG. 5C is obtained. Then, the boundary position between the fourth pixel and the fifth pixel whose value has changed from 0 to 1 is set as the position of the edge 60a.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のような
従来技術によると、測定対象物のエッジ位置は画素ピッ
チの分解能でしか得ることはできず、このため、画像測
定装置において更に分解能を向上させた性能を得ること
はできず、エッジ位置の検出精度を上げることができな
かった。
However, according to the above-mentioned prior art, the edge position of the object to be measured can be obtained only with the resolution of the pixel pitch. Therefore, the resolution is further improved in the image measuring device. It was not possible to obtain the performance that was performed, and the detection accuracy of the edge position could not be improved.

【0005】本発明は、このような従来技術の問題点を
解決し、画素ピッチより細かい分解能を得てかつエッジ
位置を正確に求めることのできるエッジ位置検出方法及
び画像測定装置を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide an edge position detecting method and an image measuring device capable of solving the above-mentioned problems of the prior art and obtaining a resolution finer than the pixel pitch and accurately obtaining an edge position. Aim.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を達成するた
め、本発明によるエッジ位置検出方法は、画素に分割し
て捉えた画像のエッジ位置を検出するエッジ位置検出方
法において、前記各画素毎に所定数のメモリからなるメ
モリ群を対応させて設け、前記各メモリ群に対応する画
素の検出した信号レベルに応じた同一値を前記各メモリ
群の各メモリに記憶させるステップと、前記各メモリ群
における各メモリを順に並べるとともに、前記メモリ群
を対応する画素の順に並べるステップと、前記順に並べ
られたメモリの値を平均化するステップと、前記平均化
された値に基づいて、エッジの位置を検出するステップ
と、を含むことを特徴とする。
In order to achieve the above object, an edge position detecting method according to the present invention is an edge position detecting method for detecting an edge position of an image captured by dividing the image into pixels. Providing a memory group consisting of a predetermined number of memories in association with each other, and storing the same value corresponding to the detected signal level of the pixel corresponding to each memory group in each memory of each memory group; And arranging the memory groups in order, and arranging the memory group in the order of the corresponding pixels; averaging the values of the memory arranged in the order; and determining the position of the edge based on the averaged value. Detecting.

【0007】本発明によるエッジ位置検出方法によれ
ば、各画素が前記メモリの所定数の分だけ細分化された
のと同等の分解能が得られ、分解能が向上する。従っ
て、分解能を上げたい程度に応じて各メモリ群における
メモリの数を増やせばよい。
According to the edge position detecting method of the present invention, the same resolution can be obtained as when each pixel is subdivided by a predetermined number in the memory, and the resolution is improved. Therefore, the number of memories in each memory group may be increased according to the degree to which the resolution is desired to be increased.

【0008】必要な分解能に対応して1画素あたりの分
割数を決め、その分割数を所定数として画素単位毎に所
定数のメモリを用意する。例えば、1画素が10μmの
ときに、分解能1μmを得たいとすると、1画素を10
分割し、画素単位に対して10個のメモリを1のメモリ
群として用意する。エッジ位置を検出するために20画
素を使用するとすれば、20のメモリ群が必要となり、
20×10=200のメモリを用意する。この1のメモ
リ群の10個のメモリに画素単位の検出信号データをそ
のまま入力し記憶させ、同様にして対応する画素単位毎
に各メモリ群の10個のメモリにデータを入力し記憶さ
せる。メモリ群に含まれるメモリを順に並べ、メモリ群
を対応する画素の順に並べ、その後、記憶されたメモリ
に対して、分割数分の平均化処理を行う。これによっ
て、分解能の上がった画像信号がメモリ上にできあが
る。この画像信号について二値化処理や微分処理を行う
ことにより、エッジの位置を検出することができる。
The number of divisions per pixel is determined according to the required resolution, and the number of divisions is set as a predetermined number, and a predetermined number of memories are prepared for each pixel unit. For example, if one pixel is 10 μm and it is desired to obtain a resolution of 1 μm, one pixel is set to 10 μm.
It is divided and 10 memories are prepared as one memory group for each pixel. Assuming that 20 pixels are used to detect the edge position, 20 memory groups are required,
20 × 10 = 200 memories are prepared. The detection signal data for each pixel is directly input to and stored in the ten memories of the one memory group, and similarly, the data is input to and stored in the ten memories of each memory group for each corresponding pixel unit. The memories included in the memory group are arranged in order, the memory groups are arranged in the order of the corresponding pixels, and then the stored memories are subjected to averaging processing for the number of divisions. As a result, an image signal with increased resolution is created on the memory. By performing binarization processing and differentiation processing on this image signal, the position of the edge can be detected.

【0009】前記平均化ステップは、前記順に並べられ
たメモリの値をそのメモリを中心としてその両側に同数
づつ隣接するメモリの値の平均値とするステップとする
ことが好ましい。
[0009] Preferably, the averaging step is a step of setting the values of the memory arranged in the order as an average value of the values of the memories adjacent to each other by the same number on both sides of the memory.

【0010】また、本発明による画像測定装置は、測定
対象物を一画素毎に分割して捉えて検出するカメラから
の検出信号を画像として表示する画像測定装置におい
て、前記各画素の検出信号のレベルに応じた同一値を所
定数づつ、前記各画素に対応して記憶する複数のメモリ
と、前記メモリに記憶された値を平均化する手段と、前
記平均化された値に基づいて、前記測定対象物のエッジ
の位置を検出する手段と、を具備することを特徴とす
る。この装置により、上記エッジ位置検出方法を実行で
きる。
Further, according to the image measuring apparatus of the present invention, there is provided an image measuring apparatus for displaying a detection signal from a camera for capturing and detecting an object to be measured by dividing it for each pixel as an image as an image. A plurality of memories that store the same value corresponding to the level by a predetermined number in correspondence with each of the pixels, a means for averaging the values stored in the memory, and, based on the averaged value, Means for detecting the position of the edge of the object to be measured. With this device, the above-described edge position detection method can be executed.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明による発明に実施の
形態につき図面を参照しながら説明する。図2は、本実
施の形態による画像測定装置の概略を示す図である。こ
の画像測定装置は、測定顕微鏡1、及び画像表示部4を
含む画像処理部2を備える。測定顕微鏡1は支持台3を
備え、この支持台3に撮像光学系6、測定観察中に測定
対象物7を移動させることのできるXYステージ5、及
び透過照明装置8がそれぞれ支持されている。撮像光学
系6は、光学系9,対物レンズ12及びCCDカメラ1
3を備える。CCDカメラ13は測定対象物を一画素毎
に分割して捉えて検出し、このCCDカメラ13からの
測定対象物7の拡大画像信号がカメラ画像処理部2に送
られ、画像表示部4の画面4a上に表示される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a diagram schematically showing the image measuring device according to the present embodiment. The image measuring device includes a measuring microscope 1 and an image processing unit 2 including an image display unit 4. The measurement microscope 1 includes a support 3 on which an imaging optical system 6, an XY stage 5 on which a measurement object 7 can be moved during measurement and observation, and a transmission illumination device 8 are respectively supported. The imaging optical system 6 includes an optical system 9, an objective lens 12, and a CCD camera 1.
3 is provided. The CCD camera 13 divides and captures the object to be measured for each pixel and detects it. The enlarged image signal of the object to be measured 7 from the CCD camera 13 is sent to the camera image processing unit 2 and the screen of the image display unit 4 4a.

【0012】図3(a)〜(d)は、本実施の形態にお
けるエッジ位置検出方法を説明するための図であり、図
4は、このエッジ位置検出のための処理を説明するため
のフローチャートである。図3(a)は、図1(b)と
同様の実際の画像面の光強度分布を示す図であり、図3
(b)はこの画像をCCDカメラ13で取り込んだ場合
の各画素からの出力信号である画像信号のレベルを示す
図である。
FIGS. 3A to 3D are diagrams for explaining an edge position detecting method in the present embodiment, and FIG. 4 is a flowchart for explaining a process for detecting the edge position. It is. FIG. 3A is a diagram showing a light intensity distribution on an actual image plane similar to FIG. 1B.
(B) is a diagram showing the level of an image signal which is an output signal from each pixel when this image is captured by the CCD camera 13.

【0013】図3及び図4により本実施の形態における
エッジ位置検出方法を説明する。まず、CCDカメラ1
3が画素単位で画像を捉えて検出しこの出力信号がカメ
ラ13から画像処理部2に画素単位で入力される(S
1)。この画像を表した画面4a上に設定されたエッジ
検出部において検出すべきエッジを含む画素を選択する
(S2)。図3(a),(b)ではエッジを含む第1画
素から第6画素までを選び、図3(b)には各画素に対
する出力信号データが表示されている。画像処理部2に
おいて第1画素〜第6画素のそれぞれに対して用意され
た各5個の高分解能処理用メモリに、対応する各画素の
CCDカメラ13からの出力信号の同一値を記憶させる
(S3)。このようにして各データが30個の高分解能
処理用メモリに記憶されるが、この各メモリにおいて記
憶されたデータを図3(b)に各画素を5つに区切った
状態で示す。
An edge position detecting method according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. First, CCD camera 1
3 captures and detects an image in pixel units, and outputs this signal from the camera 13 to the image processing unit 2 in pixel units (S
1). A pixel including an edge to be detected by the edge detection unit set on the screen 4a representing this image is selected (S2). 3A and 3B, the first to sixth pixels including an edge are selected, and FIG. 3B shows output signal data for each pixel. The same value of the output signal from the CCD camera 13 for each corresponding pixel is stored in each of the five high-resolution processing memories prepared for each of the first to sixth pixels in the image processing unit 2 ( S3). In this way, each data is stored in the 30 high-resolution processing memories. FIG. 3B shows the data stored in each memory in a state where each pixel is divided into five.

【0014】以上のようにして、第1画素〜第6画素に
対応する30個のメモリには出力信号データX1,X
2,・・・,Xi,・・・,X29,X30(i=1〜
30)がそれぞれ記憶される。これらの各データ(X
i)についての移動平均値(Ai)を次の式により求め
る。
As described above, the output signal data X1, X2 are stored in the 30 memories corresponding to the first to sixth pixels.
, Xi, ..., X29, X30 (i = 1 to
30) are respectively stored. Each of these data (X
The moving average value (Ai) for i) is obtained by the following equation.

【0015】 Ai=(Xi-2 + Xi-1 + Xi + Xi+1 + Xi+2)/5 (1) このAiがデータXiについての移動平均値を表す。そ
して、iを1から30まで順に1づつ移動させることに
より各データX1〜X30について移動平均処理を行
い、移動平均値A1〜A30を求める(S4)。このよ
うにして求めた移動平均値を図3(b)と対応して各画
素を5つに区切った状態で図3(c)に示す。なお、こ
の移動平均処理において画素端末において画素データが
最小値又は最大値を表している場合には、上述のような
移動平均処理は行わず、各メモリの記憶するデータはそ
の最小値又は最大値のままとする。例えば、図3(b)
の例では、第1画素及び第2画素のデータが最小値を表
し、第5画素及び第6画素のデータが最大値を表してい
るが、これらについては移動平均処理は行わず、図3
(c)にそのままのデータが示されている。
Ai = (Xi−2 + Xi−1 + Xi + Xi + 1 + Xi + 2) / 5 (1) Ai represents a moving average value of data Xi. Then, moving average processing is performed on each of the data X1 to X30 by moving i one by one in order from 1 to 30 to obtain moving average values A1 to A30 (S4). The moving average thus obtained is shown in FIG. 3C in a state where each pixel is divided into five corresponding to FIG. 3B. In the moving average processing, when the pixel data represents the minimum value or the maximum value in the pixel terminal, the moving average processing as described above is not performed, and the data stored in each memory is the minimum value or the maximum value. Leave as is. For example, FIG.
In the example of FIG. 3, the data of the first pixel and the second pixel represent the minimum value, and the data of the fifth pixel and the sixth pixel represent the maximum value.
(C) shows the data as it is.

【0016】図3(c)のデータについて50%をしき
い値として2値化処理をすると、図3(d)に示すよう
な分布が得られる。第3画素の中の4個目のメモリと5
個目のメモリの間において0から1へ変化しており、第
3画素の4個目と5個目のメモリに対応する位置の中央
が求めるエッジ位置となる(S5)。
When the binarization process is performed on the data shown in FIG. 3C with 50% as a threshold value, a distribution as shown in FIG. 3D is obtained. The fourth memory in the third pixel and 5
The value changes from 0 to 1 between the memories, and the center of the position corresponding to the fourth and fifth memories of the third pixel is the edge position to be obtained (S5).

【0017】以上のように、図3に示す例では各画素に
対して5つのメモリを用意したので、一画素を1/5に
した画素を設けたと同じ効果が得られ、分解能が5倍に
向上する。これにより、図2に示す画像測定装置におい
て画面上の測定対象物のエッジ位置の検出精度が向上
し、精度のよい測定ができる。このように、一画素にN
個のメモリを対応させると、N倍の分解能をもつ画像信
号を作り出すことができる。そこで、分解能を上げたい
場合には各画素に対応するメモリの数Nを増やせばよ
い。
As described above, in the example shown in FIG. 3, five memories are prepared for each pixel. Therefore, the same effect as when a pixel is reduced to one fifth is obtained, and the resolution is increased five times. improves. Thereby, in the image measuring device shown in FIG. 2, the detection accuracy of the edge position of the measurement object on the screen is improved, and accurate measurement can be performed. Thus, one pixel has N
When the memories correspond to each other, an image signal having N times resolution can be generated. Therefore, when it is desired to increase the resolution, the number N of memories corresponding to each pixel may be increased.

【0018】なお、本実施の形態では、移動平均処理を
上述の式(1)により行ったが、これに限られるもので
はなく、例えば次のような式により行ってもよい。
In this embodiment, the moving average processing is performed by the above equation (1). However, the present invention is not limited to this. For example, the moving average processing may be performed by the following equation.

【0019】 Ai=(Xi-2 + Xi-1 + Xi+1 + Xi+2)/4 (2) また、エッジ位置を求める検出処理は、二値化処理に限
らず、例えば微分処理によっても行うことができる。
Ai = (Xi−2 + Xi−1 + Xi + 1 + Xi + 2) / 4 (2) Further, the detection processing for obtaining the edge position is not limited to the binarization processing, and may be performed by, for example, differentiation processing. It can be carried out.

【0020】また、本実施の形態では、CCDカメラに
より画像を画素に分割して捉えて検出信号を出力するよ
うにしているが、本発明はこれに限られず、例えば、T
V等により捉えた画像を分割してこれをCCDカメラの
画素が捉えた画像と同等に取り扱うようにしてもよい。
In this embodiment, the CCD camera divides an image into pixels and captures the pixels to output a detection signal. However, the present invention is not limited to this.
The image captured by V or the like may be divided and handled in the same manner as the image captured by the pixels of the CCD camera.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明によれば、画素ピッチより細かい
分解能を得てかつエッジ位置を正確に求めることのでき
るエッジ位置検出方法及び画像測定装置を提供すること
ができる。
According to the present invention, it is possible to provide an edge position detecting method and an image measuring device capable of obtaining a resolution finer than the pixel pitch and accurately determining an edge position.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】画像測定装置の画面を示す平面図(a)、及び
検出部内における画素単位に対応する実際の光強度分布
を示す図(b)である。
FIG. 1A is a plan view showing a screen of an image measurement device, and FIG. 1B is a view showing an actual light intensity distribution corresponding to a pixel unit in a detection unit.

【図2】本発明による実施の形態の画像測定装置の概略
を示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing an outline of an image measuring device according to an embodiment of the present invention.

【図3】本実施の形態によるエッジ位置検出方法を説明
するための図((a)〜(d))である。
FIG. 3 is a diagram ((a) to (d)) for describing an edge position detection method according to the present embodiment.

【図4】本実施の形態によるエッジ位置検出のための処
理を説明するためのフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a process for detecting an edge position according to the embodiment;

【図5】従来技術によるエッジ位置検出の方法を説明す
るための図である((a),(b))。
FIG. 5 is a diagram for explaining a method of detecting an edge position according to a conventional technique ((a), (b)).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 測定顕微鏡 13 CCDカメラ 2 画像処理部 4a 画面 60a 測定対象物のエッジ Reference Signs List 1 Measurement microscope 13 CCD camera 2 Image processing unit 4a Screen 60a Edge of measurement object

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 画素に分割して捉えた画像のエッジ位置
を検出するエッジ位置検出方法において、 前記各画素毎に所定数のメモリからなるメモリ群を対応
させて設け、前記各メモリ群に対応する画素の検出した
信号レベルに応じた同一値を前記各メモリ群の各メモリ
に記憶させるステップと、 前記各メモリ群における各メモリを順に並べるととも
に、前記メモリ群を対応する画素の順に並べるステップ
と、 前記順に並べられたメモリの値を平均化するステップ
と、 前記平均化された値に基づいて、エッジの位置を検出す
るステップと、を含むことを特徴とするエッジ位置検出
方法。
1. An edge position detection method for detecting an edge position of an image captured by dividing into pixels, wherein a memory group including a predetermined number of memories is provided for each of the pixels so as to correspond to each of the memory groups. Storing the same value according to the detected signal level of the pixel to be stored in each memory of each of the memory groups; and arranging each memory in each of the memory groups in order, and arranging the memory group in the order of the corresponding pixels. Averaging the values of the memory arranged in the order, and detecting a position of an edge based on the averaged value.
【請求項2】 前記平均化ステップは、前記順に並べら
れたメモリの値をそのメモリを中心としてその両側に同
数づつ隣接するメモリの値の平均値とするステップであ
ることを特徴とする請求項1記載のエッジ位置検出方
法。
2. The method according to claim 1, wherein the averaging step is a step of taking the values of the memory arranged in the order as an average value of the values of the adjacent memory by the same number on both sides of the memory. 2. The edge position detection method according to 1.
【請求項3】 測定対象物を一画素毎に分割して捉えて
検出するカメラからの検出信号を画像として表示する画
像測定装置において、 前記各画素の検出信号のレベルに応じた同一値を所定数
づつ、前記各画素に対応して記憶する複数のメモリと、 前記メモリに記憶された値を平均化する手段と、 前記平均化された値に基づいて、前記測定対象物のエッ
ジの位置を検出する手段と、を具備することを特徴とす
る画像測定装置。
3. An image measuring apparatus for displaying a detection signal from a camera for detecting and capturing an object to be measured by dividing it into pixels for each pixel as an image, wherein the same value corresponding to the level of the detection signal of each pixel is determined. A plurality of memories, each corresponding to each of the pixels, a unit for averaging the values stored in the memory, and a position of an edge of the measurement object based on the averaged value. An image measuring device, comprising: means for detecting.
JP9019571A 1997-01-20 1997-01-20 Edge location detecting method and image measuring device Withdrawn JPH10206113A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9019571A JPH10206113A (en) 1997-01-20 1997-01-20 Edge location detecting method and image measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9019571A JPH10206113A (en) 1997-01-20 1997-01-20 Edge location detecting method and image measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10206113A true JPH10206113A (en) 1998-08-07

Family

ID=12002978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9019571A Withdrawn JPH10206113A (en) 1997-01-20 1997-01-20 Edge location detecting method and image measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10206113A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006075438A1 (en) * 2005-01-12 2006-07-20 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Production method and device of optical fiber parent material
JP2011112512A (en) * 2009-11-26 2011-06-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Apparatus, method and program for shape measurement

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006075438A1 (en) * 2005-01-12 2006-07-20 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Production method and device of optical fiber parent material
JP2006193360A (en) * 2005-01-12 2006-07-27 Shin Etsu Chem Co Ltd Method and apparatus for manufacturing optical fiber preform
JP4496092B2 (en) * 2005-01-12 2010-07-07 信越化学工業株式会社 Method and apparatus for manufacturing optical fiber preform
JP2011112512A (en) * 2009-11-26 2011-06-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Apparatus, method and program for shape measurement

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20000071087A (en) Outdoor range finder
US6362802B1 (en) Method and apparatus for acquiring an image for inspection of a flat panel display
JPWO2013175703A1 (en) Display device inspection method and display device inspection device
JP5292846B2 (en) Observation device and observation method
WO2023108545A1 (en) Method for constructing defect detection model of micro led array panel, apparatures for dectectig pixel defect and devices
JP3324699B2 (en) Method and apparatus for measuring fiber diameter distribution
JPH09101236A (en) Method and apparatus for detecting defect of display
JP4581424B2 (en) Appearance inspection method and image processing apparatus
JPH10206113A (en) Edge location detecting method and image measuring device
JP2710527B2 (en) Inspection equipment for periodic patterns
JPH11257937A (en) Defect inspecting method
JP2002024802A (en) Image processing system
JP2961140B2 (en) Image processing method
JP2701872B2 (en) Surface inspection system
JP3146255B2 (en) Micro Dimension Measurement Method
JP3035578B2 (en) Inspection condition determination device, inspection device, and shutter speed determination device
JP3245066B2 (en) Display panel defect inspection equipment
JPH118798A (en) Ccd camera system and image processing method
JP2000105167A (en) Address calibration method of image quality inspection device
JP2625429B2 (en) Image processing method
JP2023024148A (en) Image processing apparatus, image processing method, and image processing program
JPH06103168B2 (en) Minute dimension measurement method
JP3785693B2 (en) Image processing inspection equipment
JP2007147294A (en) Device for inspecting display failure, and method of inspecting display failure using same
JPH048833B2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20040406