JPH10199958A - Wafer-supporting stage and wafer-carrying system - Google Patents

Wafer-supporting stage and wafer-carrying system

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JPH10199958A
JPH10199958A JP479197A JP479197A JPH10199958A JP H10199958 A JPH10199958 A JP H10199958A JP 479197 A JP479197 A JP 479197A JP 479197 A JP479197 A JP 479197A JP H10199958 A JPH10199958 A JP H10199958A
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JP
Japan
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wafer
stage
support
susceptor
chamber
Prior art date
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Application number
JP479197A
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Japanese (ja)
Inventor
Sadao Tanaka
貞雄 田中
Hideto Ishikawa
秀人 石川
Sunao Yamamoto
直 山本
Daisuke Imanishi
大介 今西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate wafer setting, wafer pick up and wafer supported setting to a stage, without touching the support, etc., by providing a vertically movable wafer support stage having drawable bearings for mounting a wafer support. SOLUTION: A wafer support stage, i.e., a susceptor stage 21 has drawable bearings 23 arranged vertically in a longitudinal long frame-like support 22. Each bearing 23 for mounting a susceptor 24 thereon has each both side edges fitted in guide grooves formed into the inner sidewalls of the support 22, so as to smoothly draw and insert through adequate means, e.g. rollers and an approximately U-shape opened at the rear with a step 27 for directly receiving the susceptor 24. The entire stage 21 is connected to a vertical movable mechanism.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体製造
装置等に用いられるウェハ支持体用ステージ、並びにウ
ェハ搬送システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a stage for a wafer support used in, for example, a semiconductor manufacturing apparatus, and a wafer transfer system.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体製造装置、例えば半導体成
長装置の大型化や自動化が進み、半導体ウェハのセッテ
ィングに関してオートローディングとなった装置が多く
なってきている。しかし、例えば化合物半導体の成長装
置のように、多数枚とはいっても数枚程度の場合におい
ては、例えば25枚入りのウェハカセットから自動でウ
ェハセッティングすることは実用的でない。
2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor manufacturing apparatuses, for example, semiconductor growth apparatuses have been increased in size and automation, and many apparatuses have become auto-loaded with respect to setting of semiconductor wafers. However, in the case of a large number of wafers, such as a compound semiconductor growth apparatus, it is not practical to automatically set a wafer from a wafer cassette containing 25 wafers, for example.

【0003】なぜなら、開封後の長時間の放置により半
導体ウェハ表面の劣化が考えられるため、使いきれずに
カセット内に残った半導体ウェハの品質が保証されない
からである。従って、ウェハセッティングのための自動
化は行わず、手動でサセプタ上にウェハセットした後
に、そのウェハを載せたサセプタを反応炉内にオートロ
ーディングするという形成が、まだ一般的である。
[0003] This is because the quality of semiconductor wafers that cannot be used and remain in the cassette cannot be guaranteed because the surface of the semiconductor wafer may be degraded due to leaving for a long time after opening. Therefore, it is still common to automate the wafer setting without manually setting the wafer on the susceptor and then auto-loading the susceptor on which the wafer is mounted into the reaction furnace.

【0004】サセプタをローディングするためには、例
えばロボットアーム等を用いるが、位置情報を入力する
必要がある。数枚程度のサセプタをローディングする場
合は、サセプタを載せたステージが垂直方向に上下して
ロボットアームの位置、即ちそのサセプタを取り出す位
置まで移動するという方法が一般的である。つまり、極
力ステージ位置がずれない様にするために、ステージと
しては、Z軸方向(垂直方向)のみ移動可能とし、X軸
方向及びY軸方向(水平面内方向)への移動ができない
構造となっている。
In order to load the susceptor, for example, a robot arm or the like is used, but it is necessary to input position information. When loading about several susceptors, it is common practice that the stage on which the susceptors are placed moves up and down in the vertical direction to the position of the robot arm, that is, the position where the susceptors are taken out. In other words, in order to keep the stage position from shifting as much as possible, the stage can be moved only in the Z-axis direction (vertical direction), and cannot move in the X-axis direction and the Y-axis direction (in a horizontal plane). ing.

【0005】図9は、従来のサセプタ用のステージを示
す。このステージ1は、図9Aに示すように、数枚程度
のサセプタ2をセットするための受台3が複数段、垂直
方向に配列固定して設けられ、ステージ1自体が矢印a
で示すように垂直方向に上下動できるように構成され
る。このステージ1の各段の受台3上に、ステージ前面
から手動によって半導体ウェハ4を載せた状態のサセプ
タ2をセットする。
FIG. 9 shows a conventional stage for a susceptor. As shown in FIG. 9A, the stage 1 is provided with a plurality of pedestals 3 for setting about several susceptors 2 arranged and fixed in the vertical direction.
It is configured to be able to move up and down in the vertical direction as shown by. The susceptor 2 on which the semiconductor wafer 4 is manually placed is set on the receiving table 3 of each stage of the stage 1 from the front of the stage.

【0006】その後、図9Bに示すように、ステージ1
の後面からロボットアーム5によって半導体ウェハ4を
載せたサセプタ2が取り出され、処理室、例えば半導体
成長装置であれば反応炉に自動搬送される。
[0006] Thereafter, as shown in FIG.
The susceptor 2 on which the semiconductor wafer 4 is mounted is taken out from the rear surface by the robot arm 5, and is automatically transferred to a processing chamber, for example, a reaction furnace in the case of a semiconductor growth apparatus.

【0007】図10〜図12は、例えば半導体成長装置
における半導体ウェハの搬送システム、即ちウェハのロ
ード、アンロードの概略を示す。11はウェハローディ
ングに用いるウェハ供給室、12は成長済みのウェハを
アンロードするウェハ回収室、13はロード・アンロー
ドに用いる自動搬送手段としてのロボットアーム15が
収納されたロボット室、14は反応炉を示す。各ウェハ
供給室11、ウェハ回収室12、反応炉14はゲートバ
ルブ16等で遮断されている。ウェハ供給室11及びウ
ェハ回収室12には、夫々図9に示すステージ1が配置
されている。
FIGS. 10 to 12 schematically show a semiconductor wafer transfer system in a semiconductor growth apparatus, for example, loading and unloading of a wafer. 11 is a wafer supply chamber used for wafer loading, 12 is a wafer collection chamber for unloading a grown wafer, 13 is a robot chamber containing a robot arm 15 as an automatic transfer means used for loading and unloading, and 14 is a reaction chamber. Shows the furnace. The wafer supply chamber 11, the wafer recovery chamber 12, and the reaction furnace 14 are shut off by a gate valve 16 and the like. The stage 1 shown in FIG. 9 is disposed in each of the wafer supply chamber 11 and the wafer recovery chamber 12.

【0008】先ず、図10の工程に示すように、例えば
窒素雰囲気中でウェハ供給室11の扉11aを開き、ウ
ェハ4を載せたサセプタ2をハンドリング(手動)によ
ってステージ1の各段の受台3上にセットする。セット
終了後、ウェハ供給室11は真空引きされる。
First, as shown in the step of FIG. 10, the door 11a of the wafer supply chamber 11 is opened in, for example, a nitrogen atmosphere, and the susceptor 2 on which the wafer 4 is placed is handled (manually) by the pedestal of each stage of the stage 1. Set on 3. After the completion of the setting, the wafer supply chamber 11 is evacuated.

【0009】次に、図11の工程に示すように、反応炉
14とウェハ回収室12の夫々のゲートバルブ16が開
き、ロボットアーム15によって反応炉14から成長済
みのウェハ4をサセプタ2と共に、真空状態のウェハ回
収室12内のステージ1に順次回収される。
Next, as shown in the step of FIG. 11, the respective gate valves 16 of the reaction furnace 14 and the wafer recovery chamber 12 are opened, and the wafer 4 grown from the reaction furnace 14 by the robot arm 15 is removed together with the susceptor 2. The wafers are sequentially collected on the stage 1 in the wafer collection chamber 12 in a vacuum state.

【0010】次に、図12の工程に示すように、ウェハ
供給室11のゲートバルブ16が開き、ロボット15に
よって真空状態のウェハ供給室11内のステージ1から
順次ウェハ4を載せたサセプタ2が反応炉14内に搬送
される。一方、ゲートバルブ16が閉じられたウェハ回
収室12では、窒素雰囲気中でウェハ回収室12の扉1
2aが開き、そのステージ1からハンドリングによって
ウェハ4と共にサセプタ2が取り出される。
Next, as shown in the step of FIG. 12, the gate valve 16 of the wafer supply chamber 11 is opened, and the susceptor 2 on which the wafers 4 are sequentially loaded from the stage 1 in the vacuum state of the wafer supply chamber 11 is opened by the robot 15. It is transported into the reaction furnace 14. On the other hand, in the wafer collection chamber 12 in which the gate valve 16 is closed, the door 1 of the wafer collection chamber 12 is placed in a nitrogen atmosphere.
2a is opened, and the susceptor 2 is taken out of the stage 1 together with the wafer 4 by handling.

【0011】その後、図13の工程に示すように、次の
成長のために、ウェハ回収室12から取り出したサセプ
タ2に次の半導体ウェハ4を載せて、之を窒素雰囲気内
でハンドリングによってウェハ供給室11へ移動する。
Then, as shown in the process of FIG. 13, the next semiconductor wafer 4 is placed on the susceptor 2 taken out of the wafer recovery chamber 12 for the next growth, and the next semiconductor wafer 4 is supplied by handling in a nitrogen atmosphere. Move to room 11.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
では、サセプタ2上へのウェハセット、さらにはそのサ
セプタ2をステージ1へセットするのは、ハンドリング
ということになり、作業上困難であったり、サセプタの
クリーン度という観点からもあまり好ましい状態とはい
いがたかった。
As described above, conventionally, setting a wafer on the susceptor 2 and further setting the susceptor 2 on the stage 1 is handling, which is difficult in operation. However, it was not preferable in terms of cleanliness of the susceptor.

【0013】本発明は、上述の点に鑑み、ウェハセッ
ト、ウェハ取り出し、さらにはウェハ支持体のステージ
へのセット、等をウェハ支持体等に触れることなしに容
易に行えるウェハ支持体用ステージを提供するものであ
る。本発明は、かかるウェハ支持体用ステージを用い
て、ウェハ支持体に触れることなくウェハ搬送を可能に
したウェハ搬送システムを提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above, the present invention provides a stage for a wafer support that can easily set a wafer, take out a wafer, and set a wafer support on a stage without touching the wafer support or the like. To provide. The present invention provides a wafer transfer system that enables wafer transfer without touching the wafer support using such a wafer support stage.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明に係るウェハ支持
体用ステージは、ウェハ支持体が載置される引き出し可
能な複数の受台を有して上下動可能とされた構成とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION A wafer support stage according to the present invention has a plurality of cradles on which a wafer support can be pulled out and which can be moved up and down.

【0015】かかる構成のステージにおいては、サセプ
タに触れることなくステージへのウェハセット、又はス
テージからのウェハ取り出しが行える。即ち、受台が引
き出し可能であるために、ウェハをウェハ支持体上にセ
ットする際は、受台をステージより外部に引き出すこと
によって受台上に載置されているウェハ支持体にウェハ
をセットすることが可能となる。また、ウェハ支持体上
のウェハを取り出す際は、受台をステージより外部に引
き出すことによって受台上のウェハ支持体からウェハの
みを取り出すことが可能となる。また、ステージは上下
動可能であるためステージを順次上下方向に移動し、順
次受台を引き出すことによって、ウェハ支持体に対する
ウェハのセット又は取り出しが容易に行える。
In the stage having such a configuration, a wafer can be set on the stage or taken out of the stage without touching the susceptor. That is, when the wafer is set on the wafer support because the cradle can be pulled out, the wafer is set on the wafer support placed on the cradle by pulling the cradle out of the stage. It is possible to do. Further, when taking out the wafer on the wafer support, it is possible to take out only the wafer from the wafer support on the pedestal by pulling the pedestal out of the stage. Further, since the stage can be moved up and down, the stage is sequentially moved up and down, and the receiving table is sequentially pulled out, so that the wafer can be easily set or taken out of the wafer support.

【0016】本発明に係るウェハ搬送システムは、上記
のウェハ支持体用ステージが配置されたウェハ収納室
と、処理室と、自動搬送手段とを有し、自動搬送手段に
よってウェハを支持したウェハ支持体のウェハ収納室か
ら処理室への搬送、処理後のウェハを支持したウェハ支
持体の処理室からウェハ収納室への搬送を行うようにな
す。
A wafer transfer system according to the present invention has a wafer storage chamber in which the wafer support stage is arranged, a processing chamber, and automatic transfer means, and a wafer support which supports a wafer by the automatic transfer means. The transfer of the body from the wafer storage chamber to the processing chamber and the transfer of the wafer support supporting the processed wafer from the processing chamber to the wafer storage chamber are performed.

【0017】このウェハ搬送システムにおいては、ステ
ージの受台が引き出し可能とされていることによって、
ウェハ支持体に触れずに、ウェハのウェハ支持体へのセ
ット、ウェハ収納室と処理室間のウェハ搬送、処理済み
ウェハのウェハ支持体からの取り出しを可能にする。更
に、ウェハを取り出した後、次の成長のためにウェハ支
持体を元のステージに移動することも自動搬送手段にて
行うので、一連のウェハのロード・アンロード工程でウ
ェハ支持体のクリーン度が保たれ、ウェハの品質向上が
図れる。
In this wafer transfer system, the stage pedestal can be pulled out,
It is possible to set a wafer on a wafer support, transfer a wafer between a wafer storage chamber and a processing chamber, and take out a processed wafer from the wafer support without touching the wafer support. Further, after the wafer is taken out, the wafer support is moved to the original stage for the next growth by the automatic transfer means. Therefore, the cleanness of the wafer support in a series of wafer loading / unloading steps is performed. Is maintained, and the quality of the wafer can be improved.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】本発明に係るウェハ支持体用ステ
ージは、ウェハを支持するウェハ支持体が載置される引
き出し可能な複数の受台を有し、上下動可能とした構成
とする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A wafer support stage according to the present invention has a plurality of drawers that can be pulled out on which a wafer support for supporting a wafer is mounted, and is configured to be vertically movable.

【0019】本発明の上記ウェハ支持体用ステージは、
半導体製造装置のステージとして用いることができる。
The stage for wafer support of the present invention comprises:
It can be used as a stage of a semiconductor manufacturing apparatus.

【0020】本発明に係るウェハ搬送システムは、ウェ
ハを支持するウェハ支持体が載置される引き出し可能な
複数の受台を有し、上下動可能なウェハ支持体用ステー
ジが配置されてなるウェハ収納室と、処理室と、ウェハ
を支持したウェハ支持体をウェハ収納室と処理室との間
で搬送する自動搬送手段とを有し、自動搬送手段によっ
て、ウェハ収納室のウェハ支持体用ステージからウェハ
を支持したウェハ支持体を取り出して処理室へ搬送し、
処理後、自動搬送手段によって処理室からウェハを支持
したウェハ支持体を取り出してウェハ収納室に配置され
たウェハ支持体用ステージに回収するようになす。
A wafer transfer system according to the present invention has a plurality of drawer-receiving pedestals on which a wafer support for supporting a wafer is mounted, and a wafer support stage on which a vertically movable wafer support is arranged. A storage chamber, a processing chamber, and an automatic transfer means for transferring the wafer support supporting the wafer between the wafer storage chamber and the processing chamber, wherein the stage for the wafer support in the wafer storage chamber is provided by the automatic transfer means. Take out the wafer support supporting the wafer from
After the processing, the wafer support supporting the wafer is taken out of the processing chamber by the automatic transfer means, and collected on the wafer support stage arranged in the wafer storage chamber.

【0021】本発明は、上記ウェハ搬送システムにおい
て、ウェハ収納室を夫々ウェハ支持体用ステージが配置
されてなるウェハ供給室とウェハ回収室に分離されて成
り、処理後のウェハを支持したウェハ支持体をウェハ回
収室のウェハ支持体用ステージに回収し、該ステージか
らウェハを取り出した後、自動搬送手段によりウェハ回
収室のウェハ支持体用ステージからウェハ支持体のみを
ウェハ供給室のウェハ支持体用ステージに搬送するよう
になす。
According to the present invention, in the above-described wafer transfer system, the wafer storage chamber is divided into a wafer supply chamber in which a stage for a wafer support is arranged and a wafer recovery chamber, and the wafer support chamber supporting the processed wafer. The wafers are collected on the wafer support stage in the wafer recovery chamber, and the wafer is taken out of the stage. Then, only the wafer support is transferred from the wafer support stage in the wafer recovery chamber by the automatic transfer means to the wafer support in the wafer supply chamber. Transfer to the stage for use.

【0022】以下、図面を参照して本発明の実施例につ
いて説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0023】図1〜図3は本発明に係るウェハ支持体用
ステージ、本例では半導体製造装置例えば半導体成長装
置に用いるサセプタ用ステージの一例を示す。図1はス
テージを正面から見た図、図2はステージを上部から見
た図、図3はステージ内にサセプタがセットされた状態
の断面図を夫々示す。
FIGS. 1 to 3 show an example of a stage for a wafer support according to the present invention, in this example, a stage for a susceptor used in a semiconductor manufacturing apparatus such as a semiconductor growing apparatus. 1 is a view of the stage as viewed from the front, FIG. 2 is a view of the stage as viewed from above, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a state where a susceptor is set in the stage.

【0024】本例に係るサセプタ用ステージ21は、奥
行のある縦枠状の支持部22内に、垂直方向に配列され
るように、支持部22に対し引き出し可能な複数の受台
23を配して構成される。受台23は、この上にサセプ
タ24を載置する為のものであり、その両側縁が支持部
22の両内側壁に設けられたガイド溝25に係合され、
例えばローラ等の適当手段を介して円滑に引き出し及び
収納自在とされている。受台23は、図2に示すよう
に、後方部が開放された略U字型をなし、サセプタ24
を直接受ける段差部27が設けられている。
In the susceptor stage 21 according to this embodiment, a plurality of pedestals 23 that can be drawn out from the support portion 22 are arranged in a vertical frame-shaped support portion 22 having a depth so as to be vertically arranged. It is composed. The receiving base 23 is for mounting the susceptor 24 thereon, and both side edges thereof are engaged with guide grooves 25 provided on both inner side walls of the support portion 22,
For example, it can be smoothly pulled out and stored via appropriate means such as a roller. As shown in FIG. 2, the cradle 23 has a substantially U-shape with an open rear portion.
Is directly provided.

【0025】図2(図4Aも参照)の仮想線で示すステ
ージ21の前面から、受台25が引き出された状態で
は、受台23上のサセプタ24が外部に露出することに
なり、例えば真空ピンセット等によるハンドリング、若
しくはロボットアームによってこのサセプタ24上に半
導体ウェハ28をセットするとか、或いはサセプタ24
上から半導体ウェハ28を取り出すこと等が可能とな
る。
When the pedestal 25 is pulled out from the front surface of the stage 21 shown by a virtual line in FIG. 2 (see also FIG. 4A), the susceptor 24 on the pedestal 23 is exposed to the outside. The semiconductor wafer 28 is set on the susceptor 24 by handling with tweezers or the like or a robot arm, or the susceptor 24
It becomes possible to take out the semiconductor wafer 28 from above.

【0026】また、図2(図4Bも参照)に示すよう
に、受台23がステージ21内に収められた状態で、後
方から自動搬送手段の例えばロボットアーム30を差し
入れてサセプタ24のみ、或いはウェハを支持した状態
のサセプタ24をステージ21から取り出し、他部へ搬
送することが可能である。
Further, as shown in FIG. 2 (see also FIG. 4B), in a state where the pedestal 23 is housed in the stage 21, for example, a robot arm 30 of an automatic transfer means is inserted from behind and only the susceptor 24 or The susceptor 24 supporting the wafer can be taken out of the stage 21 and transferred to another part.

【0027】ステージ21の全体は、垂直方向(図1の
矢印b方向)に上下動できる機構(図示せず)に接続さ
れている。また、このステージ21は、同様に図示さぜ
るも、真空引き可能な容器(若しくは室)中に収納され
るものである。
The entire stage 21 is connected to a mechanism (not shown) that can move up and down in the vertical direction (the direction of arrow b in FIG. 1). The stage 21 is also housed in a vacuum-evacuable container (or chamber), as shown in FIG.

【0028】このステージ21では、受台23の引き出
し、収納等によってもステージ21の上下方向の位置が
ずれたりせず、なめらかな動きが可能となっており、ロ
ボットアーム30への位置情報が変わることはない。ま
た、ステージ21の位置がずれた場合は、警報を出すと
か、若しくは容易に位置情報を変更可能な機能を有して
いるものとする。
In this stage 21, the position of the stage 21 in the vertical direction does not shift even when the receiving table 23 is pulled out or stored, and the stage 21 can move smoothly, and the position information to the robot arm 30 changes. Never. Further, it is assumed that a function is provided to issue an alarm when the position of the stage 21 is shifted or to easily change the position information.

【0029】次に、図5〜図8は、本発明に係るウェハ
搬送システム、即ちウェハのロード・アンロードシステ
ムを半導体製造装置、例えば半導体成長装置に適用した
場合の概略的構成図である。
Next, FIG. 5 to FIG. 8 are schematic configuration diagrams in the case where a wafer transfer system according to the present invention, that is, a wafer load / unload system is applied to a semiconductor manufacturing apparatus, for example, a semiconductor growth apparatus.

【0030】この半導体成長装置では、ウェハローディ
ングに用いるウェハ供給室41と、成長済みウェハをア
ンロードするウェハ回収室42と、ロード・アンロード
に用いる自動搬送手段、例えばロボットアーム30が収
納されたロボット室43と、成長が行われる反応室44
との4室構造を有し、各々ゲードバルブ45等で遮断可
能となされ、また各々個別に真空引きができる構造とな
っている。
In this semiconductor growth apparatus, a wafer supply chamber 41 used for loading a wafer, a wafer recovery chamber 42 for unloading a grown wafer, and an automatic transfer means for loading / unloading, for example, a robot arm 30 are housed. Robot chamber 43 and reaction chamber 44 where growth takes place
, Each of which can be shut off by the gate valve 45 or the like, and can be individually evacuated.

【0031】ウェハ供給室41とウェハ回収室42内に
は、前述のサセプタ用ステージ21が配置され、サセプ
タ24を取り出すことなく、半導体ウェハ28をサセプ
タ24上にセットすること及びサセプタ24上から半導
体ウェハ28を取り出すことが可能となっている。
In the wafer supply chamber 41 and the wafer recovery chamber 42, the above-described susceptor stage 21 is disposed. The semiconductor wafer 28 can be set on the susceptor 24 without taking out the susceptor 24, and the semiconductor can be placed on the susceptor 24. The wafer 28 can be taken out.

【0032】ウェハ供給室41とウェハ回収室42の外
側は、窒素雰囲気中で作業が行える構造となっており、
図示せざるも窒素雰囲気のボックスの穴のあいた部分に
は気密性を有した作業用の手袋が配置されている。
The outside of the wafer supply chamber 41 and the wafer recovery chamber 42 is structured so that work can be performed in a nitrogen atmosphere.
Although not shown, air-tight work gloves are arranged in the portion of the box in the nitrogen atmosphere where the holes are formed.

【0033】また、この窒素雰囲気のボックスに半導体
ウェハを導入、もしくは成長済みの半導体ウェハを回収
するための、セット及び回収用の容器が接続されてい
る。この容器は気密性を保持したまま接続されているこ
とは言うまでもない。さらに、この容器は別個の真空引
きのラインやパージ用の窒素が導入できる構造を有して
いるものとする。
A set and collection container for introducing a semiconductor wafer into the box in the nitrogen atmosphere or collecting the grown semiconductor wafer is connected to the box. Needless to say, this container is connected while maintaining airtightness. Further, it is assumed that this container has a structure in which a separate evacuation line and nitrogen for purging can be introduced.

【0034】次に、上述の半導体成長装置におけるウェ
ハのロード・アンロードの動作について説明する。
Next, the operation of loading and unloading a wafer in the above-described semiconductor growth apparatus will be described.

【0035】先ず、図5の工程で示すように、窒素雰囲
気中でウェハ供給室41の扉41aを開き、ステージ2
1の受台23を前面より引き出し、受台23上に載置さ
れているサセプタ24上に半導体ウェハ28をセットす
る。ウェハ28のセットは例えば真空ピンセットによる
ハンドリング(手動)で行うことができる。なお、この
例では、ハンドリングを前提としたが、その他、例えば
サセプタ24のロード・アンロード用のロボットアーム
30とは別のロボットアームで半導体ウェハ28をサセ
プタ24上にセットすることも可能である。サセプタ2
4上に半導体ウェハ28をセットしたならば、受台23
をステージ21内に収める。このようにして、各受台2
3上のサセプタ24に順次半導体ウェハ28をセットす
る。セット終了後、扉41aは閉じられ、真空引きされ
る。
First, as shown in the step of FIG. 5, the door 41a of the wafer supply chamber 41 is opened in a nitrogen atmosphere,
The first pedestal 23 is pulled out from the front, and the semiconductor wafer 28 is set on the susceptor 24 placed on the pedestal 23. The setting of the wafer 28 can be performed by, for example, handling (manual) using vacuum tweezers. In this example, the handling is premised. However, for example, the semiconductor wafer 28 can be set on the susceptor 24 by a robot arm different from the robot arm 30 for loading and unloading the susceptor 24. . Susceptor 2
After the semiconductor wafer 28 is set on the table 4,
In the stage 21. Thus, each cradle 2
The semiconductor wafers 28 are sequentially set on the susceptor 24 above the third wafer 3. After the completion of the setting, the door 41a is closed and evacuated.

【0036】次に、図6の工程で示すように、反応炉4
4とウェハ回収室42の夫々のゲートバルブ45が開
き、ロボットアーム30によって反応炉44から成長済
みのウェハ28をサセプタ24と共に取り出し、之を真
空状態のウェハ回収室42内のステージ21に順次回収
する。この場合、ステージ21の各受台23がロボット
アーム30の位置に対応するように、各ウェハ毎に順次
ステージ21自体が垂直方向に移動して、各受台23上
にウェハ28を載せたサセプタ24が回収される。
Next, as shown in the process of FIG.
The gate valves 45 of the wafer recovery chamber 4 and the wafer recovery chamber 42 are opened, and the grown wafer 28 is taken out of the reaction furnace 44 together with the susceptor 24 by the robot arm 30 and sequentially recovered on the stage 21 in the wafer recovery chamber 42 in a vacuum state. I do. In this case, the stage 21 itself sequentially moves vertically for each wafer so that each receiving table 23 of the stage 21 corresponds to the position of the robot arm 30, and a susceptor on which the wafer 28 is placed on each receiving table 23. 24 are collected.

【0037】次に、図7の工程で示すように、ウェハ回
収室42のゲートバルブ45が閉じられる共に、ウェハ
供給室41のゲートバルブ45が開かれて、ウェハ供給
室41内のステージ21にセットされていたウェハ28
が載置されたサセプタ24をロボットアーム30によっ
て取り出し、之を反応炉44へ搬送する。この場合も、
ステージ21の各受台23がロボットアーム30の位置
に対応するように各ウェハ毎に順次ステージ21自体が
垂直方向に移動し、各受台23上のウェハをセットした
サセプタ24が順次反応炉44に搬送される。
Next, as shown in the step of FIG. 7, while the gate valve 45 of the wafer collection chamber 42 is closed, the gate valve 45 of the wafer supply chamber 41 is opened, and the stage 21 in the wafer supply chamber 41 is closed. Set wafer 28
The susceptor 24 on which is mounted is taken out by the robot arm 30 and transported to the reaction furnace 44. Again,
The stage 21 itself sequentially moves in the vertical direction for each wafer so that each pedestal 23 of the stage 21 corresponds to the position of the robot arm 30, and the susceptor 24 on which the wafers on each pedestal 23 are set is sequentially placed in the reactor 44. Transported to

【0038】そして、この反応炉44への搬送時に、ウ
ェハ回収室42では、窒素雰囲気中でウェハ回収室42
の扉42aを開き、ステージ21の受台23を順次引き
出して、サセプタ24から成長済みの半導体ウェハ28
のみを例えば真空ピンセットによるハンドリング(手
動)にて取り出す。なお、この場合も、ハンドリングの
他に、例えばロボットアーム30とは別のロボットアー
ムで半導体ウェハ28をサセプタ24から取り出すこと
も可能である。半導体ウェハ28の取り出しが完了した
ならば扉42aは閉じられ、真空引きされる。
When the wafer is transferred to the reaction furnace 44, the wafer collection chamber 42 is set in a nitrogen atmosphere in the wafer collection chamber 42.
Is opened, the pedestal 23 of the stage 21 is sequentially pulled out, and the grown semiconductor wafer 28 is
Only one is taken out, for example, by handling (manual) using vacuum tweezers. In this case, in addition to the handling, the semiconductor wafer 28 can be taken out of the susceptor 24 by a robot arm different from the robot arm 30, for example. When the removal of the semiconductor wafer 28 is completed, the door 42a is closed and the vacuum is evacuated.

【0039】次に、図8の工程で示すように、ウェハ供
給室41及びウェハ回収室42の夫々のゲートバルブ4
5を開き、ロボットアーム30によりウェハ取り出し後
のサセプタ24を、ウェハ回収室42のステージ21か
らウェハ供給室41のステージ21に回収する。これに
より、ハンドリングせずに、即ちサセプタに触れること
なく、自動搬送でサセプタ24のみをウェハ供給室41
のステージ21内に移動することができる。以後、この
図5〜図8の工程順が繰り返される。
Next, as shown in the step of FIG. 8, the gate valves 4 of the wafer supply chamber 41 and the wafer recovery chamber 42
5 is opened, and the susceptor 24 after the removal of the wafer by the robot arm 30 is collected from the stage 21 of the wafer collection chamber 42 to the stage 21 of the wafer supply chamber 41. Thus, only the susceptor 24 is automatically transferred without handling, that is, without touching the susceptor.
Can be moved into the stage 21. Thereafter, the process order of FIGS. 5 to 8 is repeated.

【0040】上述の実施例に係るサセプタ用ステージ2
1によれば、その受台23が引き出した状態で、受台2
3に載置されているサセプタ24上に半導体ウェハ28
をセットすることができ、或いはサセプタ24上から半
導体ウェハ28のみを取り出すことができる。即ち、サ
セプタに触れることなく、ステージ21へのウェハセッ
ト、或いはステージ21からのウェハ取り出しを行うこ
とができる。従って、サセプタ24のクリーン度が向上
し、半導体ウェハ28の品質をより向上することが可能
となると共に、ウェハセット時、ウェハ取り出し時の作
業性が良くなり、ハンドリングミスによるウェハ損失を
減少することができる。
The susceptor stage 2 according to the above embodiment
According to No. 1, when the receiving tray 23 is pulled out, the receiving tray 2
The semiconductor wafer 28 on the susceptor 24
Can be set, or only the semiconductor wafer 28 can be taken out from the susceptor 24. That is, it is possible to set the wafer on the stage 21 or take out the wafer from the stage 21 without touching the susceptor. Therefore, the cleanliness of the susceptor 24 is improved, and the quality of the semiconductor wafer 28 can be further improved. In addition, the workability at the time of setting the wafer and taking out the wafer is improved, and the wafer loss due to a handling error is reduced. Can be.

【0041】また、上述の実施例に係るウェハ搬送シス
テム、即ちウェハのロード・アンロードシステムによれ
ば、クリーン度が要求される半導体ウェハ28のステー
ジ21内へのセッティングを、サセプタ24等に触れる
ことなしに容易に行えるようになる。従って、例えば半
導体成長装置に適用したときには、成長層の品質を劣化
させる可能性が大幅に少なくなる。また、作業が容易に
なることにより、ウェハセット時のハンドリングミスに
よる損失を大幅に減少させることが可能となる。
Further, according to the wafer transfer system according to the above-described embodiment, that is, the wafer loading / unloading system, the setting of the semiconductor wafer 28 which requires a high degree of cleanness in the stage 21 is performed by touching the susceptor 24 or the like. It can be done easily without any problems. Therefore, for example, when applied to a semiconductor growth apparatus, the possibility of deteriorating the quality of a grown layer is greatly reduced. Further, since the work is facilitated, it is possible to greatly reduce the loss due to a handling error at the time of setting the wafer.

【0042】さらに、成長済みのウェハの回収、取り出
しもクリーン度を保ちつつ、且つ容易に行えるようにな
る。従って、従来のようなハンドリングによる落下や欠
け、あるいは傷等の不良を発生させる確率が大幅に減少
する。
Further, the collection and removal of the grown wafer can be easily performed while maintaining the cleanness. Therefore, the probability of occurrence of defects such as dropping, chipping, and scratches due to handling as in the related art is greatly reduced.

【0043】また、ステージ21への半導体ウェハのセ
ットそのものをロボットアーム等によって自動化する設
計も容易となる。
Further, the design for automatically setting the semiconductor wafer on the stage 21 by a robot arm or the like is also facilitated.

【0044】本実施例のロード・アンロードシステムに
おいては、特に、成長済みのウェハ28を回収し、取り
出した後のサセプタ24を、ロボットアーム30によっ
て自動的にウェハ回収室42のステージ21からウェハ
供給室41のステージ21へ回収するようにしているの
で、以後サセプタ24に触れることなくステージ21へ
の次のウェハセットが行える。これによって、ウェハの
ロード・アンロードの一連の工程でサセプタ24に対す
るクリーン度が大幅に向上し、半導体ウェハ28に対す
る品質をより保証することができるものである。
In the load / unload system of this embodiment, the susceptor 24 after the grown wafer 28 is collected and taken out is automatically moved from the stage 21 of the wafer collection chamber 42 by the robot arm 30 to the wafer. Since the wafer is collected on the stage 21 of the supply chamber 41, the next wafer can be set on the stage 21 without touching the susceptor 24 thereafter. As a result, the degree of cleanliness of the susceptor 24 in a series of steps of loading and unloading the wafer is greatly improved, and the quality of the semiconductor wafer 28 can be further ensured.

【0045】尚、上例では本発明を半導体成長装置に適
用したが、その他、例えばエッチング装置等のいわゆる
半導体製造装置に適用することができる。
In the above example, the present invention is applied to a semiconductor growth apparatus. However, the present invention can be applied to a so-called semiconductor manufacturing apparatus such as an etching apparatus.

【0046】また、上例では、半導体ウェハに適用した
が、その他のウェハにも適用できること勿論である。
In the above example, the present invention is applied to a semiconductor wafer. However, it goes without saying that the present invention can be applied to other wafers.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明に係るウェハ支持体用ステージに
よれば、その受台が引き出し可能であることによって、
ウェハ支持体に触れることなく、受台上のウェハ支持体
へのウェハセット、或いはそのウェハ支持体からのウェ
ハ取り出しを行うことができる。従って、ウェハ支持体
のクリーン度が向上すると共に、ウェハセット時、ウェ
ハ取り出し時の作業性が良くなり、ハンドリングミスに
よるウェハの損失を減少させることができる。本発明に
係るウェハ支持体用ステージを半導体製造装置のステー
ジに適用するときは、半導体ウェハの品質をより保証す
ることができる。
According to the wafer support stage of the present invention, the pedestal can be pulled out,
It is possible to set a wafer on the wafer support on the receiving table or take out the wafer from the wafer support without touching the wafer support. Therefore, the cleanliness of the wafer support is improved, and the workability at the time of setting the wafer and taking out the wafer is improved, and the loss of the wafer due to a handling error can be reduced. When the stage for a wafer support according to the present invention is applied to a stage of a semiconductor manufacturing apparatus, the quality of a semiconductor wafer can be further ensured.

【0048】本発明に係るウェハ搬送システムによれ
ば、上記ウェハ支持体用ステージを備えることによっ
て、クリーン度を要求されるウェハのステージへのセッ
ティングを、ウェハ支持体等に触れることなく容易に行
え、処理時の品質劣化を大幅に低減することができる。
また作業が容易になることにより、ウェハセット時のハ
ンドリングミスによるウェハ損失を大幅に減少させるこ
とが可能となる。
According to the wafer transfer system of the present invention, by providing the wafer support stage, it is possible to easily set a wafer requiring a high degree of cleanness on the stage without touching the wafer support or the like. In addition, quality deterioration during processing can be significantly reduced.
Further, since the work is facilitated, it is possible to greatly reduce a wafer loss due to a handling error during wafer setting.

【0049】さらに、処理済みのウェハの回収、取り出
しもクリーン度を保ちつつ容易に行える。従って、従来
のようなハンドリングミスによる落下や欠け、あるいは
傷等の不良を発生させる確率が大幅に減少する。さら
に、ウェハセット、或いはウェハ取り出しそのものを自
動化することも容易となる。
Further, the collection and removal of the processed wafer can be easily performed while maintaining the cleanness. Therefore, the probability of occurrence of a defect such as a drop, a chip, a scratch, or the like due to a handling error as in the related art is greatly reduced. Further, it becomes easy to automate the wafer setting or the wafer removal itself.

【0050】また、ウェハ収納室をウェハ供給室とウェ
ハ回収室とに分離して設けるときは、処理済みのウェハ
を回収し、取り出した後のウェハ支持体を、自動搬送手
段によってウェハ回収室のステージからウェハ供給室の
ステージへ回収するので、以後、ウェハ支持体に触れる
ことなく次のウェハセットが行える。これによって、ウ
ェハのロード・アンロードの一連の工程でウェハ支持体
に対するクリーン度が大幅に向上し、ウェハに対する品
質のより向上が得られる。
When the wafer storage chamber is provided separately from the wafer supply chamber and the wafer recovery chamber, the processed wafer is recovered, and the wafer support after the removal is taken out of the wafer recovery chamber by the automatic transfer means. Since the wafer is collected from the stage to the stage in the wafer supply chamber, the next wafer can be set without touching the wafer support. As a result, the degree of cleanliness of the wafer support is greatly improved in a series of steps of loading and unloading the wafer, and the quality of the wafer is further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るウェハ支持体用ステージの一例を
示す正面図である。
FIG. 1 is a front view showing an example of a wafer support stage according to the present invention.

【図2】本発明に係るウェハ支持体用ステージの一例を
示す一部断面とする平面図である。
FIG. 2 is a plan view of a partial cross section showing an example of a wafer support stage according to the present invention.

【図3】本発明に係るウェハ支持体用ステージの受台に
ウェハ支持体をセットした状態の要部の断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a main part in a state where a wafer support is set on a pedestal of a wafer support stage according to the present invention.

【図4】A 本発明に係るウェハ支持体用ステージの動
作を示す説明図である。 B 本発明に係るウェハ支持体用ステージの動作を示す
説明図である。
FIG. 4A is an explanatory view showing the operation of the wafer support stage according to the present invention. B It is explanatory drawing which shows the operation | movement of the stage for wafer support which concerns on this invention.

【図5】本発明のウェハ搬送システムを半導体成長装置
に適用した場合のウェハ搬送工程図である。
FIG. 5 is a wafer transfer step diagram when the wafer transfer system of the present invention is applied to a semiconductor growth apparatus.

【図6】本発明のウェハ搬送システムを半導体成長装置
に適用した場合のウェハ搬送工程図である。
FIG. 6 is a wafer transfer step diagram when the wafer transfer system of the present invention is applied to a semiconductor growth apparatus.

【図7】本発明のウェハ搬送システムを半導体成長装置
に適用した場合のウェハ搬送工程図である。
FIG. 7 is a wafer transfer step diagram when the wafer transfer system of the present invention is applied to a semiconductor growth apparatus.

【図8】本発明のウェハ搬送システムを半導体成長装置
に適用した場合のウェハ搬送工程図である。
FIG. 8 is a wafer transfer step diagram when the wafer transfer system of the present invention is applied to a semiconductor growth apparatus.

【図9】A 従来のサセプタ用ステージ及びその動作説
明図である。 B 従来のサセプタ用ステージ及びその動作説明図であ
る。
9A is a diagram illustrating a conventional susceptor stage and its operation. FIG. B is a conventional susceptor stage and its operation explanatory view.

【図10】従来の半導体成長装置に適用したウェハ搬送
システムの工程図である。
FIG. 10 is a process diagram of a wafer transfer system applied to a conventional semiconductor growth apparatus.

【図11】従来の半導体成長装置に適用したウェハ搬送
システムの工程図である。
FIG. 11 is a process diagram of a wafer transfer system applied to a conventional semiconductor growth apparatus.

【図12】従来の半導体成長装置に適用したウェハ搬送
システムの工程図である。
FIG. 12 is a process diagram of a wafer transfer system applied to a conventional semiconductor growth apparatus.

【図13】従来の半導体成長装置に適用したウェハ搬送
システムの工程図である。
FIG. 13 is a process diagram of a wafer transfer system applied to a conventional semiconductor growth apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 サセプタ用ステージ、23 受台、24 サセプ
タ、28 半導体ウェハ、30 ロボットアーム、41
ウェハ供給室、42 ウェハ回収室、43ロボット
室、44 反応炉、45 ゲートバルブ
21 susceptor stage, 23 pedestal, 24 susceptor, 28 semiconductor wafer, 30 robot arm, 41
Wafer supply room, 42 Wafer recovery room, 43 Robot room, 44 Reaction furnace, 45 Gate valve

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 今西 大介 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Daisuke Imanishi 6-35 Kita Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sony Corporation

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ウェハを支持するウェハ支持体が載置さ
れる引き出し可能な複数の受台を有し、 上下動可能とされて成ることを特徴とするウェハ支持体
用ステージ。
1. A stage for a wafer support, comprising a plurality of drawers that can be pulled out on which a wafer support for supporting a wafer is mounted, and which can be moved up and down.
【請求項2】 半導体製造装置のステージに用いられる
ことを特徴とする請求項1に記載のウェハ支持体用ステ
ージ。
2. The stage for a wafer support according to claim 1, wherein the stage is used for a stage of a semiconductor manufacturing apparatus.
【請求項3】 ウェハを支持するウェハ支持体が載置さ
れる引き出し可能な複数の受台を有し、上下動可能なウ
ェハ支持体用ステージが配置されてなるウェハ収納室
と、 処理室と、 ウェハを支持した前記ウェハ支持体を前記ウェハ収納室
と前記処理室との間で搬送する自動搬送手段とを有し、 前記自動搬送手段によって、前記ウェハ収納室のウェハ
支持体用ステージからウェハを支持した前記ウェハ支持
体を取り出して前記処理室へ搬送し、 処理後、前記自動搬送手段によって前記処理室から前記
ウェハを支持したウェハ支持体を取り出して前記ウェハ
収納室に配置されたウェハ支持体用ステージに回収する
ことを特徴とするウェハ搬送システム。
3. A processing chamber comprising: a plurality of drawer-receiving pedestals on which a wafer support for supporting a wafer is placed, and a wafer support stage on which a vertically movable wafer support stage is arranged; Automatic transfer means for transferring the wafer support supporting the wafer between the wafer storage chamber and the processing chamber, wherein the automatic transfer means transfers the wafer from the wafer support stage of the wafer storage chamber to the wafer. The wafer support supporting the wafer is taken out and transferred to the processing chamber. After the processing, the wafer support supporting the wafer is taken out of the processing chamber by the automatic transfer means, and the wafer support placed in the wafer storage chamber is taken out. A wafer transfer system, wherein the wafer is collected on a body stage.
【請求項4】 前記ウェハ収納室が夫々前記ウェハ支持
体用ステージを配置してなるウェハ供給室とウェハ回収
室に分離されて成り、 処理後のウェハを支持したウェハ支持体を前記ウェハ回
収室のウェハ支持体用ステージに回収し、前記ステージ
から前記ウェハを取り出した後、 前記自動搬送手段により、前記ウェハ回収室のウェハ支
持体用ステージから前記ウェハ支持体のみを前記ウェハ
供給室のウェハ支持体用ステージに搬送することを特徴
とする請求項3に記載のウェハ搬送システム。
4. The wafer storage chamber is separated into a wafer supply chamber in which the wafer support stage is arranged and a wafer recovery chamber, and the wafer support supporting the processed wafer is separated into the wafer recovery chamber. After the wafer is collected on the wafer support stage and the wafer is taken out from the stage, the automatic transfer means only supports the wafer support from the wafer support stage in the wafer recovery chamber and supports the wafer in the wafer supply chamber. The wafer transfer system according to claim 3, wherein the wafer is transferred to a body stage.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000072375A1 (en) * 1999-05-20 2000-11-30 Nikon Corporation Container for holder exposure apparatus, device manufacturing method, and device manufacturing apparatus
US7625450B2 (en) 2003-10-15 2009-12-01 Canon Anelva Corporation Film forming apparatus
JP2010251348A (en) * 2009-04-10 2010-11-04 Disco Abrasive Syst Ltd Processing device
JP2010251356A (en) * 2009-04-10 2010-11-04 Disco Abrasive Syst Ltd Processing device

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