JPH10197437A - 粉体材料検査装置 - Google Patents

粉体材料検査装置

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JPH10197437A
JPH10197437A JP9002905A JP290597A JPH10197437A JP H10197437 A JPH10197437 A JP H10197437A JP 9002905 A JP9002905 A JP 9002905A JP 290597 A JP290597 A JP 290597A JP H10197437 A JPH10197437 A JP H10197437A
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JP
Japan
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powder material
vibration
image
feeder
linear
Prior art date
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Pending
Application number
JP9002905A
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English (en)
Inventor
Mikio Hirooka
幹夫 広岡
Shinobu Kamiya
忍 神谷
Takeshi Yoshimoto
健 吉本
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Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】粉体材料をフィ−ダにより薄い層状にして移送
しつつ画像処理技術により適確に検査できる装置を提供
する。 【解決手段】トラフに直進振動を作用させて粉体材料を
移送する、異なる振動パタ−ンを有する振動フィ−ダ1
1a、11bを縦列配設し、こられのフィ−ダに対し、
第1段目フィ−ダの始端部に粉体材料を供給するホッパ
式の粉体材料送り込み手段2及び最終段フィ−ダの粉体
材料の光学像を2次元画像として表示させる画像処理手
段5〜7を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は粉体材料検査装置に
関し、合成樹脂粉体材料や無機質粉体材料の検査に有用
なものである。
【0002】
【従来の技術】合成樹脂粉体材料や無機質粉体材料の出
荷時には、通常、ロットごとにサンプリング検査が行わ
れ、従来においては、ロットごとに抜き取った所定量の
サンプルを粉体とのコントラストが強いシ−ト(合成樹
脂粉体の場合は、白い紙)の上に、サンプルを完全に薄
く、かつ平らな状態に広げて目視で検査している。
【0003】特に、粒径の異常な異物を検査する場合、
異物の大きさを数階級に分け、例えば、大、中、小の3
階級に分け(合成樹脂粉体材料の場合、例えば、粒径2
00μm以上を大、粒径200〜100μmを中、粒径
100〜50μmを小)、各階級に属する異物個数をカ
ウントしている。而るに、この目視検査では、検査の信
頼性を高くするために、サンブルの抜取り量をかなり多
くする必要があり、この量の多いサンプルを目視による
異物検査を可能とするように広げるには、その広げ面積
をかなり広くする必要があり、この広く散布させた粉体
材料から異物を目視でカウントしなければならないの
で、時間がかかり、熟練を必要とし、また視覚疲労のた
めに誤差が発生し易く、特に多種類の粉体材料について
検査する場合、作業は至難である。
【0004】近来、目視検査が困難な対象の検査に、画
像処理技術を利用することが多い。すなわち、光学的セ
ンサで対象物の光学像からビデオ信号を発生させ、この
ビデオ信号を検査対象のコントラストや明度等に適応し
たディジタル変換回路でディジタル信号に変換し、さら
に演算回路で演算してディスプレイに2次元画像で表示
させ、この画像によりリアルタイムで検査を行うことが
知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の粉体材料を画像
処理技術により検査するには、サンプルをフィ−ダによ
り移送しつつ光学的に検査可能な薄い層状に広げ、この
層状態をリニアCCDラインセンサに読み込ませてビデ
オ信号を発生させ、このビデオ信号をディジタル化のう
えコンピュ−タで演算させて2次元画像をディスプレイ
させ、この2次元画像から異物を自動的にカウントする
ことが考えられる。
【0006】この場合、光学的に検査可能な薄い層状と
は、粉体を個々に判別可能な状態をいい、理想的には一
層の状態である(以下、この薄い層状を、完全に薄く、
かつ平らな状態と称する)。従来、粉体フィ−ダとし
て、スクリュ−フィ−ダや振動フィ−ダが知られてい
る。
【0007】而るに、スクリュ−フィ−ダでは、ホッパ
からスクリュ−溝に入った粉体材料をスクリュ−の回転
により前方に送っていくから、基本的に定量フィ−ドが
容易であるが、粉体がスクリュ−によって剪断され、異
物の個数が増え、サンプルの粒径状態が変化して正確な
検査は期待できない。そこで、本発明者等は、上記粉体
材料の画像処理による検査でのフィ−ダに振動フィ−ダ
を用いることを試みたが、粉体を完全に薄く、かつ平ら
な状態とすることができず、その検査結果は満足できる
ものではなかった。
【0008】その原因は、複雑であり一概には論じ得な
いが、被検査物である粉体の振動に対する挙動が質量や
粒径に依存するところから、単一の振動パタ−ンのもと
では、、当該単一の振動で、ある分級範囲の粉体の均一
化が促されても、残りの分級範囲の粉体が満足に均一化
されないことが一原因であると推定された。そこで振動
フィ−ダを2段とし、各段の振動パタ−ンを異ならし
め、二様の振動パタ−ンを使用したところ、完全に薄
く、かつ平らな状態にして高精度の検査を行い得ること
を発見した。
【0009】本発明の目的は、上記の知見に基づき、粉
体材料を振動フィ−ダにより完全に薄く、かつ平らな状
態にして移送しつつ画像処理技術により高精度で検査で
きる装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る粉体材料検
査装置は、トラフに直進振動を作用させて粉体材料を移
送する振動フィ−ダであって、異なる振動パタ−ンを有
するものを縦列配設し、こられのフィ−ダに対し、第1
段目フィ−ダの始端部に粉体材料を供給するホッパ式の
粉体材料送り込み手段及び最終段フィ−ダの粉体材料の
光学像を表示させる画像処理手段を設けたことを特徴と
する構成であり、画像処理手段には、リニアラインセン
サによる検査対象面の読み込みで発生するビデオ信号を
ディジタル化のうえ演算して輝度差のある2次元画像を
表示する構成のものを使用することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図1は本発明に係る粉体
材料検査装置の一例を示している。図1において、1は
二段の振動フィ−ダを示し、各フィ−ダ1a,1bは図
2に示すように、トラフ11の前端及び後端をそれぞれ
板バネ12で支持し、トラフ11に加振方向が斜め方向
の加振器(電磁式、クランク式等)13を取付け、強制
振動または共振でトラフ11を直進振動させる構成であ
り、二段目のフィ−ダ1bのトラフの巾は一段目のフィ
−ダ1aのトラフ巾よりも広くしてある。14は粉体材
料回収シュ−トである。
【0012】21はホッパ式粉体材料供給部2の上段ホ
ッパ、20は下段ホッパであり、下段ホッパ20のゲ−
トは開放、上段ホッパ21のゲ−トは開閉式である。2
11は上段ホッパ21のゲ−ト、212はゲ−ト開閉器
であり、下段ホッパ20内の材料レベルが所定の下限レ
ベルに達したときにこれを光センサ201で検出して上
段ホッパ21のゲ−ト211を開いて下段ホッパ20内
に材料を投入し、下段ホッパ20内の材料レベルが所定
の上限レベルに達すると、これを光センサ201で検出
して上段ホッパ21のゲ−ト211を閉じて下段ホッパ
20内への材料投入を中止させるように、ゲ−ト開閉器
212に制御手段を内蔵させてある。
【0013】この上段ホッパ21はタ−ンテ−ブル3に
複数箇装着してあり、異なるロットの粉体材料が異なる
上段ホッパに入れられる。4は第2振動フィ−ダ2b上
の粉体材料層に直線光を照射する照明である。5はリニ
アCCDラインセンサであり、ホトダイオ−ドアレ−を
挾んでCCDを設け、粉体材料層からの反射光によりホ
トダイオ−ドに蓄積された信号電荷を、ホトダイオ−ド
とCCD間のシフトゲ−トでCCDの対応する段に同時
に短時間で転送する構成である。
【0014】6は上記のリニアCCDラインセンサ4と
で画像処理手段を構成する制御部、7はディスプレイで
あり、制御部6はマイクロコンピュ−タ、マイクロコン
ピュ−タからの指令でセンサを駆動させるセンサ駆動回
路、センサからのビデオ信号をディジタル化するディジ
タル変換回路、マイクロコンピュ−タとのデ−タ授受で
演算を行う演算回路等を備え、制御部6で検査判定基準
を設定し、ディスプレイ7に粉体材料層の光学像を2次
元画像で表示させるようにしてある。
【0015】本発明に係る上記装置を使用しての粉体材
料の検査は次のようにして行うことができる。すなわ
ち、上段ホッパ21,…のそれぞれに異なるロットの粉
体材料のサンプルを入れ、図3に示すように、一の上段
ホッパ21を下段ホッパ20上に位置させる。次いで、
その上段ホッパ21の開閉式ゲ−ト211の制御により
下段ホッパ40内の材料レベルを上限レベルHと下限レ
ベルLとの間に保ちつつ下段ホッパ20の常時開放ゲ−
ト202より第1段目の振動フィ−ダ1aに粉体材料を
落下供給していく。この材料供給量は下段ホッパ20内
の材料レベルの変動に応じて変動するが、上記上限レベ
ルHと下限レベルLとの差を小とすることにより、下段ホ
ッパ20内の材料レベルの変動を僅かに抑えて第1段目
の振動フィ−ダ1aへの材料供給量を充分一定にでき
る。
【0016】上記のようにして、第1振動フィ−ダ1a
上に供給した粉体材料を、第1振動フィ−ダ1aの直進
振動により移送し、この移送の進行に伴い粉体材料を層
状に均らしていく。この層状粉体材料は、第1振動フィ
−ダ1aの終端で第2振動フィ−ダ1b上に落下移載さ
れ、この第2振動フィ−ダ1bの直進振動により更に移
送し粉体材料層状をより一層に均して薄くして行く。
【0017】更に、その薄い層状の粉体材料がリニアラ
インセンサ5の直下を通過する際に、その光学像を当該
センサ5に読み込ませ、そのビデオ信号をディジタル信
号にしたうえで演算処理して所定の検査基準でディスプ
レイ(図1の7)に2次元の動画像を表示させ、その動
画像からリニアタイムで移送中粉体材料の良否を検査し
ていく。
【0018】この画像は、粒径が異なる、あるいは色が
異なるといった異物の混入状態を表示するものであり、
異物が数種類ある場合は、輝度差でその異物を判別でき
るようにしてある。動画像表示と共にその画像をプリン
トアウトしていくこともできる。このようにして、一の
上段ホッパ21内のサンプルの検査を終了すれば、上段
ホッパ21を自動的に回転させ、次の上段ホッパを下段
ホッパ20直上に位置させ、次のロットのサンプルの検
査を行い、以後、次々と各上段ホッパの各サンプルの検
査を連続的に行っていくことが可能である。
【0019】本発明に係る粉体材料検査装置において
は、第1振動フィ−ダ1aの振動パタ−ンと第2振動フ
ィ−ダ1bの振動パタ−ンとを異ならしめることができ
る。今、異なる振動パタ−ンFa、Fbに対し、粉体材
料のある分級範囲Aのものが、振動パタ−ンFaに対し
ては易均一性で、振動パタ−ンFbに対しては難均一性
であるとし、また、他の分級範囲Bのものが振動パタ−
ンFbに対しては易均一性で、振動パタ−ンFaに対し
ては難均一性であるとする。
【0020】かかる前提のもとで、図3において、第1
振動フィ−ダ1aの振動パタ−ンをFaとし、第2振動
フィ−ダ1bの振動パタ−ンをFbとすれば、第1振動
フィ−ダ1aでは分級範囲Aのものがよく均一化されて
も分級範囲Bのものが満足に均一化されないために、図
4〔図4の(イ)は側面図、図4の(ロ)は正面図〕に
示すように、均一化はまだ不完全であるが、第2振動フ
ィ−ダ1bでは、分級範囲Bのものもよく均一化される
結果、図4に示すように、完全に均一化され得、完全に
薄く、かつ平らな状態にして高精度の検査が可能とな
る。
【0021】上記粉体材料の実際の分級状態は単純では
なく、上記前提は説明の便宜を勘案して単純化している
が、第1振動フィ−ダ1aの振動パタ−ンと第2振動フ
ィ−ダ1bの振動パタ−ンとを異ならしめことにより、
粉体を完全に薄く、かつ平らな状態とすることができ、
高精度の検査が可能となることは後述の実施例と比較例
との対比から確認できる。
【0022】上記において、振動パタ−ンは、振動数、
振動方向、振幅等を変えることにより異ならしめ得、そ
の振動数、振動方向、振幅等は粉体の性質、粒径等に応
じて設定される。上記の実施例では、振動フィ−ダの段
数を二段としているが、粉体の性質、粒径等に応じ、3
段または4段以上とすることもできる。
【0023】
【実施例】
〔実施例〕図3において、第1段振動フィ−ダ1aに
は、振動数3000回/分、トラフ長さ250mm、ト
ラフ巾20mmのものを使用し、第2振動フィ−ダ1b
には、振動数3600回/分、トラフ長さ250mm、
トラフ巾30mmのものを使用した。
【0024】リニアラインセンサ5には、1,024bi
t、視野巾25mm、分解能17.9μmのCCDセン
サを使用した。異物を200μm超を大、200〜10
0μmを中、100〜50μmを小の3階級に分け、こ
れらの異物を黒乃至は茶色の輝度差のある2次元画像で
表示させるように、マイコンで判定基準を設定した。
【0025】下段ホッパ20からの粉体材料送り込み量
を10g/分〜20g/分として、ディスプレイに画像
を表示させ、異物をカウントした。上記3階級ごとに輝
度を異ならしめて異物を画像表示させたので、各階級の
異物を容易にカウントできた。 〔比較例〕実施例に対し、センサ5による読み込みを、
第1段振動フィ−ダ1aの終端で行った以外、実施例に
同じとした。この比較例では、画像表示に重なりが観ら
れ、異物の正確なカウントが難しく、実施例に較べ検査
精度が半減した。
【0026】
【発明の効果】本発明に係る粉体材料検査装置において
は、ホッパ式の粉体材料送り込み手段にサンプルを投入
し、マイクロコンピュ−タでデ−タ設定するだけで、粉
体材料の状態を2次元画像で表示させ得てこの画像から
粉体材料を高精度で検査できる。また、ホッパ式の粉体
材料送り込み手段を自動送りのタ−ンテ−ブル式とすれ
ば、異なるロットの粉体材料の状態を次々と自動的に2
次元画像表示させていくことができる。従って、熟練を
要することなく、良好な作業性で容易に、しかも個人差
無く高精度の検査を行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る粉体材料検査装置を示す図面であ
る。
【図2】本発明において使用する振動フィ−ダを示す図
面である。
【図3】本発明に係る粉体材料検査装置を使用しての粉
体材料の検査方法を示す図面である。
【図4】本発明に係る粉体材料検査装置を使用しての粉
体材料の検査時での粉体材料の移送状態を示す図面であ
る。
【符号の説明】
1a 第1段目振動フィ−ダ 1b 第2段目振動フィ−ダ 2 ホッパ式の粉体材料送り込み手段 20 下段ホッパ 21 上段ホッパ 3 タ−ンテ−ブル 4 照明 5 リニアラインセンサ 6 コンピュ−タ 7 ディスプレイ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】トラフに直進振動を作用させて粉体材料を
    移送する振動フィ−ダであって、異なる振動パタ−ンを
    有するものを縦列配設し、これらのフィダ−に対し、第
    1段目フィ−ダの始端部に粉体材料を供給するホッパ式
    の粉体材料送り込み手段及び最終段フィ−ダでの移送中
    粉体材料の光学像を表示させる画像処理手段を設けたこ
    とを特徴とする粉体材料検査装置。
  2. 【請求項2】画像処理手段が、リニアラインセンサによ
    る検査対象面の読み込みで発生するビデオ信号をディジ
    タル化のうえ演算して輝度差のある2次元画像を表示す
    る構成である請求項1記載の粉体材料検査装置。
JP9002905A 1997-01-10 1997-01-10 粉体材料検査装置 Pending JPH10197437A (ja)

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JP9002905A JPH10197437A (ja) 1997-01-10 1997-01-10 粉体材料検査装置

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JP9002905A JPH10197437A (ja) 1997-01-10 1997-01-10 粉体材料検査装置

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JPH10197437A true JPH10197437A (ja) 1998-07-31

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ID=11542380

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JP9002905A Pending JPH10197437A (ja) 1997-01-10 1997-01-10 粉体材料検査装置

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JP (1) JPH10197437A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7042557B2 (en) 2001-12-19 2006-05-09 Horiba, Ltd. Sample supplying device for a dry particle-size distribution measuring apparatus and method
JP2009195769A (ja) * 2008-02-19 2009-09-03 Mitsubishi Electric Corp 静電選別装置
JP2016200518A (ja) * 2015-04-11 2016-12-01 鹿島建設株式会社 地盤材料の粒度分布測定方法及びシステム
CN109692817A (zh) * 2018-12-30 2019-04-30 韩峰 石墨烯分拣检测结构及其检测方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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