JPH10195661A - Vapor growth device - Google Patents

Vapor growth device

Info

Publication number
JPH10195661A
JPH10195661A JP2987497A JP2987497A JPH10195661A JP H10195661 A JPH10195661 A JP H10195661A JP 2987497 A JP2987497 A JP 2987497A JP 2987497 A JP2987497 A JP 2987497A JP H10195661 A JPH10195661 A JP H10195661A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
radiant heat
injection nozzle
shower head
holding means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2987497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kuniaki Horie
邦明 堀江
Tsutomu Nakada
勉 中田
Yuji Abe
祐士 阿部
Yuji Araki
裕二 荒木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP2987497A priority Critical patent/JPH10195661A/en
Priority to TW087100063A priority patent/TW415970B/en
Priority to KR10-1998-0000168A priority patent/KR100478224B1/en
Priority to EP98100217A priority patent/EP0853138B1/en
Priority to US09/003,948 priority patent/US6132512A/en
Priority to DE69806650T priority patent/DE69806650T2/en
Publication of JPH10195661A publication Critical patent/JPH10195661A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vapor growth device reduced in the sticking of a reaction product to a shower head (gaseous starting material injection nozzle) as possible and facilitated in the cleaning of the inside of a film forming section. SOLUTION: In this vapor growth device provided with a heating means 4 inside, a substrate holding means 3 for holding a substrate W and the gaseous starting material injection nozzle 5 for ejecting a film forming gaseous starting material toward the substrate on the substrate holding means, a flat plate-like radiant heat cut-off device 10 having air permeability and heat insulating property is installed to face a gas injection surface of the gaseous starting material injection nozzle between the substrate and the gaseous starting material injection nozzle.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、気相成長装置に係
り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の高誘
電体又は強誘電体薄膜を基板上に気相成長させる薄膜気
相成長装置に使用して最適な成膜室の内部構造に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vapor phase growth apparatus, and more particularly, to a thin film vapor phase growth apparatus for growing a high dielectric or ferroelectric thin film such as barium / strontium titanate on a substrate. To the optimal internal structure of the deposition chamber.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体産業における集積回路の集
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のためには、
小さな面積で大容量が得られるキャパシタ素子が必要で
ある。このような大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜
として、誘電率が10以下であるシリコン酸化膜やシリ
コン窒化膜に替えて、誘電率が20程度である五酸化タ
ンタル(Ta25 )薄膜、あるいは誘電率が300程度で
あるチタン酸バリウム(BaTiO3 )、チタン酸ストロン
チウム(SrTiO3)又はこれらの混合物であるチタン酸
バリウムストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料が有望
視されている。
2. Description of the Related Art In recent years, the degree of integration of integrated circuits in the semiconductor industry has been remarkably improved, and research and development of DRAMs from the current megabit order to the future gigabit order have been conducted. To manufacture such a DRAM,
A capacitor element that can obtain a large capacity with a small area is required. A tantalum pentoxide (Ta 2 O 5 ) thin film having a dielectric constant of about 20, instead of a silicon oxide film or a silicon nitride film having a dielectric constant of 10 or less, as a dielectric thin film used for manufacturing such a large-capacity element. Metal oxide thin film materials such as barium titanate (BaTiO 3 ) having a dielectric constant of about 300, strontium titanate (SrTiO 3 ), or a mixture thereof, such as barium strontium titanate, are promising.

【0003】このような金属酸化物薄膜を基板上に気相
成長させる際には、1又は複数の有機金属化合物のガス
原料と酸素含有ガスとを混合して、一定の温度に加熱し
た基板に向けて噴射するようにしている。
When such a metal oxide thin film is vapor-phase grown on a substrate, one or a plurality of organometallic compound gas raw materials and an oxygen-containing gas are mixed, and the mixture is heated on a substrate heated to a certain temperature. We aim to inject.

【0004】すなわち、成膜室の内部に搬送され、基板
保持手段上に載置された基板を、この基板保持手段の内
部に内蔵された、あるいは下部に設置された加熱手段に
よって所定温度に加熱しつつ、成膜室の内部に設置した
シャワヘッド(原料ガス噴射ノズル)からガス原料と酸
素含有ガスとの混合ガスを基板に向けて噴射することが
一般に行われていた。
That is, a substrate conveyed into the film forming chamber and placed on the substrate holding means is heated to a predetermined temperature by a heating means built in the substrate holding means or provided at a lower portion thereof. In general, a gas mixture of a gas source and an oxygen-containing gas is injected toward a substrate from a shower head (source gas injection nozzle) installed inside a film forming chamber.

【0005】前述のようなガス原料を使用して基板上に
薄膜を成長させる際には、金属との化合物、例えば、S
rO2 、SrCO3 、BaO2 、BaCO3 あるいは原
料の有機金属化合物からの中間生成物等が生成され、こ
れがシャワヘッドの混合ガス噴射面等に付着してしま
う。そして、このような付着が生じると、例えば装置の
運転/停止時のヒートサイクルで、付着物とシャワヘッ
ドとの熱膨張率の差によって、この付着物が剥がれて、
パーティクルの発生や基板の汚れに繋がってしまう。
When a thin film is grown on a substrate using the above-mentioned gaseous materials, a compound with a metal, for example, S
Intermediate products such as rO 2 , SrCO 3 , BaO 2 , BaCO 3, or an organic metal compound as a raw material are generated and adhere to a mixed gas injection surface or the like of a shower head. When such adhesion occurs, for example, in a heat cycle when the apparatus is operated / stopped, the adhesion is peeled off due to a difference in thermal expansion coefficient between the adhesion and the shower head,
This leads to generation of particles and contamination of the substrate.

【0006】このため、シャワヘッド内に冷媒を循環さ
せるようにして、シャワヘッド自体に冷却機構を持た
せ、これによって、シャワヘッドへの付着を防止するよ
うにしたものが提案されている。
For this reason, there has been proposed an apparatus in which a coolant is circulated in a shower head and a cooling mechanism is provided in the shower head itself, thereby preventing adhesion to the shower head.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
のように、シャワヘッド自体に冷却機構を設けたとして
も、シャワヘッドの特に基板と対向する面で内蔵した加
熱手段による基板等からの輻射熱をシャワヘッドが直接
受け、しかも、一般に混合ガスの保温温度と基板の成膜
温度との間にかなり大きな温度差があるため、シャワヘ
ッドへの金属化合物等の付着を完全に防止することがで
きないという問題があった。
However, even if a cooling mechanism is provided in the shower head itself as in the conventional example, radiant heat from a substrate or the like by a built-in heating means on the surface of the shower head, especially on the surface facing the substrate, can be prevented. It is said that the shower head cannot directly prevent the metal compound from adhering to the shower head because the shower head receives the temperature directly and generally has a considerable temperature difference between the temperature for keeping the mixed gas and the film forming temperature for the substrate. There was a problem.

【0008】そして、このようにシャワヘッドへの付着
物が発生すると、これを除去する必要があり、そのため
には、シャワヘッドを成膜室の内部から取出す必要があ
るが、シャワヘッドには、原料ガスや酸素含有ガス等の
ガス供給ラインが付属され、更に冷却機構を設けると冷
媒ライン等も付属され、しかもシャワヘッド自体もかな
り重いため、このクリーニング作業がかなり困難である
といった問題があった。
[0008] When the deposits on the shower head are generated as described above, it is necessary to remove the deposits. To this end, it is necessary to remove the shower head from the inside of the film forming chamber. A gas supply line such as a source gas or an oxygen-containing gas is attached, and if a cooling mechanism is further provided, a refrigerant line and the like are attached, and the shower head itself is quite heavy, so that there is a problem that this cleaning work is considerably difficult. .

【0009】この発明は上記の課題に鑑みて為されたも
ので、シャワヘッド(原料ガス噴射ノズル)への反応生
成物の付着を極力減少させると共に、成膜室の内部のク
リーニングを容易に行えるようにした気相成長装置を提
供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to minimize the adhesion of a reaction product to a shower head (raw material gas injection nozzle) and to easily clean the inside of a film forming chamber. It is an object of the present invention to provide a vapor phase growth apparatus as described above.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、内部に加熱手段を有すると共に基板を保持する基板
保持手段と、この基板保持手段上の基板に向けて成膜原
料ガスを噴射する原料ガス噴射ノズルとを設けた気相成
長装置において、基板保持手段と原料ガス噴射ノズルと
の間に通気性と保温性とを有する略平板状の輻射熱遮断
装置を原料噴射ノズルのガス噴射面に対向して設置した
ことを特徴とする気相成長装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate holding means having a heating means therein and holding a substrate, and spraying a film forming material gas toward the substrate on the substrate holding means. In the vapor phase growth apparatus provided with a raw material gas injection nozzle, a substantially flat radiant heat shut-off device having air permeability and heat retaining property is provided between the substrate holding means and the raw material gas injection nozzle. A vapor phase epitaxy apparatus characterized in that the apparatus is installed opposite to the above.

【0011】このように構成した本発明によれば、内蔵
した加熱手段による基板保持手段からの輻射熱を輻射熱
遮断装置で遮断して、原料噴射ノズルに付着物が付着す
ることを極力阻止することができる。また、輻射熱遮断
装置に通気性と保温性を持たせることにより、原料ガス
噴射ノズルから噴出された原料ガスの基板への拡散が阻
害されたり、温度が低下してしまうことを防止すること
ができる。なお、輻射熱遮断装置は基板保持手段からの
輻射熱を直接受けてこの表面に多量の付着物が付着する
が、輻射熱遮断装置がシャワヘッドとは別体の構造体で
あるため、この除去は比較的容易に行うことができる。
According to the present invention, the radiant heat from the substrate holding means by the built-in heating means is cut off by the radiant heat cut-off device, so that the deposits are prevented from adhering to the material injection nozzle as much as possible. it can. In addition, by providing the radiant heat cutoff device with air permeability and heat retention, it is possible to prevent the diffusion of the source gas ejected from the source gas injection nozzle to the substrate or to prevent the temperature from decreasing. . The radiant heat shut-off device directly receives radiant heat from the substrate holding means and a large amount of deposits adhere to the surface.However, since the radiant heat shut-off device is a separate structure from the shower head, this removal is relatively easy. It can be done easily.

【0012】請求項2に記載の発明は、輻射熱遮断装置
を成膜室の内部に成膜室の側方あるいは上下方向から挿
脱自在に設置したことを特徴とする請求項1記載の気相
成長装置である。これにより、付着物が付着した輻射熱
遮断装置を極めて容易に成膜室から取出して、このクリ
ーニングを行うことができる。
According to a second aspect of the present invention, the radiant heat shut-off device is installed inside the film forming chamber so as to be freely inserted and removed from the side of the film forming chamber or from above and below. It is a growth device. This makes it possible to extremely easily take out the radiant heat interrupting device to which the deposits have adhered from the film forming chamber and perform this cleaning.

【0013】請求項3に記載の発明は、輻射熱遮断装置
を、所定のピッチで略平行に延び内部に加熱液媒体を循
環させる複数のパイプで構成したことを特徴とする請求
項1または2記載の気相成長装置である。
According to a third aspect of the present invention, the radiant heat blocking device is constituted by a plurality of pipes extending substantially in parallel at a predetermined pitch and circulating a heating liquid medium therein. Is a vapor phase growth apparatus.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の第1の実施の形態
について、図1乃至図3を参照して説明する。この実施
の形態の気相成長装置は、例えば、Ba,Sr,Tiま
たはその化合物をDPM化合物とし、これらを有機溶剤
に溶解させた複数の液体原料を予め混合させた後、この
混合液を気化器で気化することによって生成されたガス
原料と、酸素含有ガスとを混合させつつ、一定の温度に
加熱した基板に噴射して、この基板上にチタン酸バリウ
ムストロンチウムの金属酸化物薄膜を気相成長させるの
に使用して最適なものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The vapor phase growth apparatus of this embodiment is, for example, a method in which Ba, Sr, Ti or a compound thereof is used as a DPM compound, and a plurality of liquid raw materials in which these are dissolved in an organic solvent are mixed in advance, and then the mixed liquid is vaporized. While mixing the gas raw material generated by vaporization in the vessel and the oxygen-containing gas, the mixture is sprayed onto a substrate heated to a certain temperature, and a barium strontium titanate metal oxide thin film is vapor-phased on the substrate. Best to use for growing.

【0015】図1に示すように、略円筒状の外壁1で囲
まれた成膜室2の内部には、基板保持手段3が昇降自在
に配置され、この基板保持手段3の内部には、基板保持
手段3の上面に載置保持した基板Wを成膜温度まで加熱
する加熱手段として、基板ヒータ4が内蔵されている。
As shown in FIG. 1, a substrate holding means 3 is disposed in a film forming chamber 2 surrounded by a substantially cylindrical outer wall 1 so as to be able to move up and down. A substrate heater 4 is incorporated as a heating unit for heating the substrate W mounted and held on the upper surface of the substrate holding unit 3 to a film forming temperature.

【0016】一方、基板保持手段3の上方に位置して、
成膜原料ガスを噴射するシャワヘッド(原料ガス噴射ノ
ズル)5が配置され、このシャワヘッド5に設けられた
多数のガス噴射口5aからBa,Sr,Ti等を有する
ガス原料と酸素含有ガスとの混合ガスを基板Wに向けて
噴射するようになっている。
On the other hand, located above the substrate holding means 3,
A shower head (source gas injection nozzle) 5 for injecting a film forming source gas is disposed, and a gas source having Ba, Sr, Ti, etc., an oxygen-containing gas and a gas source are provided from a number of gas injection ports 5 a provided in the shower head 5. Is injected toward the substrate W.

【0017】これにより、基板保持手段3上に保持され
た基板Wを基板ヒータ4で所定温度に加熱しつつ、シャ
ワヘッド5から基板Wに向けて混合ガスを噴射させるこ
とにより、基板Wの表面にチタン酸バリウムストロンチ
ウムの金属酸化物薄膜等を気相成長させるのであり、成
膜室2の下方には、反応後のガスを排気する排気口6が
設けられている。
Thus, while the substrate W held on the substrate holding means 3 is heated to a predetermined temperature by the substrate heater 4, the mixed gas is jetted from the shower head 5 toward the substrate W, so that the surface of the substrate W A metal oxide thin film of barium strontium titanate is vapor-phase-grown, and an exhaust port 6 for exhausting gas after the reaction is provided below the film forming chamber 2.

【0018】基板保持手段3とシャワヘッド5との間に
は、略平板状の輻射熱遮断装置10がシャワヘッド5の
ガス噴射面5bと略平行に対向するように設置されてい
る。そして、外壁1には開口1aが設けられ、この開口
1aを塞ぐ塞板11に輻射熱遮断装置10が取付けら
れ、輻射熱遮断装置10は、その横断面が開口1aより
小さく形成され、これによって、塞板11を介して輻射
熱遮断装置10を開口1aから成膜室1の外方に引き抜
くことができるようになっている。
Between the substrate holding means 3 and the shower head 5, a substantially flat radiant heat cutoff device 10 is installed so as to be substantially parallel to the gas ejection surface 5b of the shower head 5. An opening 1a is provided in the outer wall 1, and a radiant heat blocking device 10 is attached to a closing plate 11 that covers the opening 1a. The radiant heat blocking device 10 is formed to have a cross section smaller than that of the opening 1a. The radiation heat blocking device 10 can be pulled out of the film formation chamber 1 from the opening 1a via the plate 11.

【0019】更に、シャワヘッド5の下面の輻射熱遮断
装置10の引き抜き方向に平行な両側縁には、シャワヘ
ッド5から噴出されるガスの側方への漏れを防止する案
内板12が垂設されている。
Further, guide plates 12 are provided vertically on both sides of the lower surface of the shower head 5 parallel to the drawing direction of the radiant heat shielding device 10 to prevent the gas ejected from the shower head 5 from leaking to the side. ing.

【0020】輻射熱遮断装置10は、通気性と保温性を
有し、これによって、シャワヘッド5から噴出されるガ
スの基板への拡散が阻害されたり、この温度が低下して
しまうことを防止するようになっている。
The radiant heat shut-off device 10 has air permeability and heat retention, thereby preventing the gas ejected from the shower head 5 from diffusing into the substrate and preventing the temperature from lowering. It has become.

【0021】すなわち、この実施の形態において、輻射
熱遮断装置10は、図2に示すように互いに平行に配置
された一対の主パイプ13a,13bの間に複数の細パ
イプ14を所定のピッチで略平行に配置するとともに、
一方の主パイプ13aを熱媒体供給パイプ15に、他方
の主パイプ13bを熱媒体排出パイプ16にそれぞれ繋
ぐことによって構成されている。
That is, in this embodiment, the radiant heat shut-off device 10 includes a plurality of thin pipes 14 arranged at a predetermined pitch between a pair of main pipes 13a and 13b arranged in parallel with each other as shown in FIG. Place them in parallel,
One main pipe 13a is connected to the heat medium supply pipe 15, and the other main pipe 13b is connected to the heat medium discharge pipe 16.

【0022】これによって、例えば、250℃のオイル
(加熱液媒体)を熱媒体供給パイプ15から主パイプ1
3a内に導入し、この主パイプ13aからオイルを複数
の細パイプ14内に分岐して流し、主パイプ13bで合
流させた後、排出パイプ16から排出することにより保
温性を有すると共に、しかも各細パイプ14間の隙間内
をガスが流通して、通気性を有するようになっている。
Thus, for example, oil (heated liquid medium) at 250 ° C. is supplied from the heat medium supply pipe 15 to the main pipe 1.
3a, the oil is branched from the main pipe 13a into a plurality of narrow pipes 14 and flows there. After being joined by the main pipe 13b, the oil is discharged from the discharge pipe 16 to have a heat retaining property. The gas flows through the gaps between the thin pipes 14 and has gas permeability.

【0023】なお、このように、基板Wの上方に複数の
細パイプ14を配置しても、ガスは均一に拡散して基板
Wの上面に達し、このため、基板Wに縞状の模様が付い
てしまうことはない。
As described above, even if a plurality of small pipes 14 are arranged above the substrate W, the gas diffuses uniformly and reaches the upper surface of the substrate W, so that a stripe pattern is formed on the substrate W. It will not stick.

【0024】この実施の形態においては、細パイプ14
内に加熱オイルを流した状態で、基板保持手段3上に保
持された基板Wを基板ヒータ4で所定温度に加熱しつ
つ、シャワヘッド5から基板Wに向けて混合ガスを噴射
させて基板Wの表面に金属酸化物薄膜を気相成長させる
のであり、この時、基板Wからの輻射熱を輻射熱遮断装
置10で遮断して、SrCO3 等の金属化合物のシャワ
ヘッド5への付着量を激減させることができる。
In this embodiment, the thin pipe 14
While the substrate W held on the substrate holding means 3 is heated to a predetermined temperature by the substrate heater 4 in a state in which the heating oil is flowed in the inside, the mixed gas is jetted from the shower head 5 toward the substrate W so that the substrate W In this case, the radiant heat from the substrate W is cut off by the radiant heat cutoff device 10 so that the amount of the metal compound such as SrCO 3 attached to the shower head 5 is drastically reduced. be able to.

【0025】しかも、上述したように輻射熱遮断装置1
0は通気性と保温性とを有しているため、シャワヘッド
5から噴出された原料ガスの基板Wへの拡散が阻害され
たり、温度が低下してしまうことがない。
In addition, as described above, the radiation heat cutoff device 1
Since No. 0 has air permeability and heat retention, diffusion of the raw material gas ejected from the shower head 5 to the substrate W is not hindered and the temperature does not decrease.

【0026】なお、輻射熱遮断装置10は基板Wからの
輻射熱を直接受けてこの表面に多量の付着物が付着する
が、この除去は輻射熱遮断装置10を成膜室2から抜き
出して容易に行うことができる。
The radiant heat interrupter 10 directly receives the radiant heat from the substrate W, and a large amount of deposits adhere to the surface of the radiant heat interrupter. The radiant heat interrupter 10 can be easily removed by removing the radiant heat interrupter 10 from the film forming chamber 2. Can be.

【0027】図4に示すように、細パイプ14を上下2
段で、かつ互い違いに配置することにより、シャワヘッ
ド5への付着防止効果を増大させることができるが、こ
の場合、細パイプ14の径との関係(径を細くすればす
るほど、通気性が良くなる)で、斜め方向からの輻射熱
が直接シャワヘッド5に達する場合がある(図中、符号
Tを参照)。
As shown in FIG. 4, the thin pipe 14 is
The effect of preventing adhesion to the shower head 5 can be increased by arranging the stairs in a stepwise manner and in a staggered manner. Radiant heat from an oblique direction may directly reach the shower head 5 (see T in the figure).

【0028】そこで、図5に示すように、細パイプ14
を上下3段で、しかも、最下段に位置する細パイプ14
を図4に示す直接シャワヘッド5に達する輻射熱を遮る
位置に配置することにより、輻射熱がシャワヘッド5に
達してしまうことをほぼ完全に阻止することができる。
Therefore, as shown in FIG.
Is located in the upper and lower stages, and at the bottom, the thin pipe 14
Is disposed at a position where the radiant heat directly reaching the shower head 5 shown in FIG. 4 is blocked, it is possible to almost completely prevent the radiant heat from reaching the shower head 5.

【0029】尚、図6に示すように、輻射熱遮断装置1
0をモータMを回転駆動することで、成膜室から上下方
向に挿脱自在としてもよい。
Incidentally, as shown in FIG.
The motor 0 may be driven to rotate by a motor M so that it can be inserted and removed vertically from the film forming chamber.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、原料ガス噴射ノズルから噴出された原料ガスの基板
への拡散を阻害したり、温度が低下してしまうことを防
止しつつ、加熱手段による基板保持手段からの輻射熱を
輻射熱遮断装置で遮断して、原料噴射ノズルに付着物が
付着することを極力阻止することができる。しかも、輻
射熱遮断装置は基板保持手段からの輻射熱を直接受けて
この表面に多量の付着物が付着することになるが、この
除去は、シャワヘッドとは別体であるため、比較的容易
に行うことができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to prevent the source gas ejected from the source gas injection nozzle from diffusing to the substrate and to prevent the temperature from decreasing. The radiant heat from the substrate holding means by the heating means can be blocked by the radiant heat blocking device, and the adhesion of the deposit to the raw material injection nozzle can be prevented as much as possible. Moreover, the radiant heat shut-off device directly receives the radiant heat from the substrate holding means, and a large amount of deposits adhere to this surface. be able to.

【0031】また、輻射熱遮断装置を成膜室の内部に成
膜室の側方あるいは上下方向から挿脱自在に設置するこ
とにより、付着物が付着した輻射熱遮断装置を極めて容
易に成膜室から取出して、このクリーニング等のメンテ
ナンスを行うことができる。
Further, by installing the radiant heat shut-off device inside the film forming chamber so as to be freely inserted and removed from the side of the film forming chamber or from above and below, the radiant heat shut-off device to which the adhered substance adheres can be very easily removed from the film forming chamber. It can be taken out and maintenance such as cleaning can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す概略断面図で
ある。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】同じく、輻射熱遮断装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the radiation heat cutoff device.

【図3】同じく、図1のA−A線断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line AA of FIG. 1;

【図4】他の実施の形態を示す図3相当図である。FIG. 4 is a diagram corresponding to FIG. 3, showing another embodiment.

【図5】更に他の実施の形態を示す図3相当図である。FIG. 5 is a view corresponding to FIG. 3, showing still another embodiment.

【図6】本発明の第2の実施の形態を示す概略断面図で
ある。
FIG. 6 is a schematic sectional view showing a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 成膜室 3 基板保持手段 4 基板ヒータ 5 シャワヘッド(原料ガス噴射ノズル) 5b 同シャワ噴射面 10 輻射熱遮断装置 13a,13b 主パイプ 14 細パイプ 2 Film forming chamber 3 Substrate holding means 4 Substrate heater 5 Shower head (raw material gas injection nozzle) 5b Shower injection surface 10 Radiation heat cutoff device 13a, 13b Main pipe 14 Thin pipe

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒木 裕二 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Yuji Araki 11-1 Haneda Asahimachi, Ota-ku, Tokyo Inside Ebara Corporation

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内部に加熱手段を有すると共に基板を保
持する基板保持手段と、この基板保持手段上の基板に向
けて成膜原料ガスを噴射する原料ガス噴射ノズルとを設
けた気相成長装置において、 基板保持手段と原料ガス噴射ノズルとの間に通気性と保
温性とを有する略平板状の輻射熱遮断装置を原料噴射ノ
ズルのガス噴射面に対向して設置したことを特徴とする
気相成長装置。
1. A vapor phase growth apparatus comprising: a substrate holding means having a heating means therein and holding a substrate; and a source gas injection nozzle for injecting a source gas for film formation toward the substrate on the substrate holding means. In the gas phase, a substantially flat radiant heat shut-off device having air permeability and heat retaining property is provided between the substrate holding means and the source gas injection nozzle, facing the gas injection surface of the source injection nozzle. Growth equipment.
【請求項2】 輻射熱遮断装置を成膜室の内部に成膜室
の側方あるいは上下方向から挿脱自在に設置したことを
特徴とする請求項1記載の気相成長装置。
2. The vapor phase growth apparatus according to claim 1, wherein the radiant heat cut-off device is installed inside the film formation chamber so as to be freely inserted and removed from a side or a vertical direction of the film formation chamber.
【請求項3】 輻射熱遮断装置を、所定のピッチで略平
行に延び内部に加熱液媒体を循環させる複数のパイプで
構成したことを特徴とする請求項1または2記載の気相
成長装置。
3. The vapor phase growth apparatus according to claim 1, wherein the radiant heat interrupting device is constituted by a plurality of pipes extending substantially in parallel at a predetermined pitch and circulating a heating liquid medium therein.
JP2987497A 1997-01-08 1997-01-08 Vapor growth device Pending JPH10195661A (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2987497A JPH10195661A (en) 1997-01-08 1997-01-08 Vapor growth device
TW087100063A TW415970B (en) 1997-01-08 1998-01-05 Vapor-phase film growth apparatus and gas ejection head
KR10-1998-0000168A KR100478224B1 (en) 1997-01-08 1998-01-07 Vapor Membrane Growth Apparatus and Gas Jet Head
EP98100217A EP0853138B1 (en) 1997-01-08 1998-01-08 Vapor-phase film growth apparatus and gas ejection head
US09/003,948 US6132512A (en) 1997-01-08 1998-01-08 Vapor-phase film growth apparatus and gas ejection head
DE69806650T DE69806650T2 (en) 1997-01-08 1998-01-08 Device for depositing a film from the gas phase and gas injection nozzle

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2987497A JPH10195661A (en) 1997-01-08 1997-01-08 Vapor growth device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10195661A true JPH10195661A (en) 1998-07-28

Family

ID=12288135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2987497A Pending JPH10195661A (en) 1997-01-08 1997-01-08 Vapor growth device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10195661A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006515039A (en) * 2003-04-16 2006-05-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Gas distribution plate assembly for large area plasma chemical vapor deposition
JP2013115312A (en) * 2011-11-30 2013-06-10 Stanley Electric Co Ltd Crystal growth apparatus
JPWO2013136576A1 (en) * 2012-03-16 2015-08-03 株式会社島津製作所 Deposition equipment
JPWO2021225047A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-11

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006515039A (en) * 2003-04-16 2006-05-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Gas distribution plate assembly for large area plasma chemical vapor deposition
JP2013115312A (en) * 2011-11-30 2013-06-10 Stanley Electric Co Ltd Crystal growth apparatus
JPWO2013136576A1 (en) * 2012-03-16 2015-08-03 株式会社島津製作所 Deposition equipment
JPWO2021225047A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6216708B1 (en) On-line cleaning method for CVD vaporizers
US7387968B2 (en) Batch photoresist dry strip and ash system and process
JP4335438B2 (en) Process chamber lid assembly using asymmetric flow geometry
EP0853138B1 (en) Vapor-phase film growth apparatus and gas ejection head
US6056823A (en) Temperature controlled gas feedthrough
US6635114B2 (en) High temperature filter for CVD apparatus
US6179920B1 (en) CVD apparatus for forming thin film having high dielectric constant
JP3611392B2 (en) Capacitor and high-capacitance capacitor manufacturing method
KR100270590B1 (en) Chemical vapor deposition apparatus
EP1296364A1 (en) Method for forming thin film and apparatus for forming thin film
US6383555B1 (en) Misted precursor deposition apparatus and method with improved mist and mist flow
JP2003519913A (en) Low heat balance metal oxide deposition for capacitor structures
WO1999032685A1 (en) Method for selectively depositing bismuth based ferroelectric films
TWI457171B (en) Fluid handling system for wafer electroless plating and associated methods
JPH10195661A (en) Vapor growth device
TW200906499A (en) Method and apparatus for wafer electroless plating
JP2000192241A (en) Thin film deposition device, and its operating method
KR101324208B1 (en) Substrate processing apparatue
JP3649265B2 (en) Thin film vapor deposition equipment
JP2004193173A (en) Apparatus and method for vapor deposition
JPH11195649A (en) Valve device
JPH11236675A (en) Thin film forming device and method therefor
JPH1187326A (en) Vapor phase growth equipment
KR100640564B1 (en) Semiconductor device manufacturing equipment having gas spray apparatus
JP3886921B2 (en) Chemical vapor deposition method