JPH10189428A - Illumination optical apparatus - Google Patents
Illumination optical apparatusInfo
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- JPH10189428A JPH10189428A JP8355200A JP35520096A JPH10189428A JP H10189428 A JPH10189428 A JP H10189428A JP 8355200 A JP8355200 A JP 8355200A JP 35520096 A JP35520096 A JP 35520096A JP H10189428 A JPH10189428 A JP H10189428A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は照明光学装置に関
し、例えば半導体素子や液晶表示素子等を製造するため
のリソグラフィ工程において使用される投影露光装置の
照明系に好適な照明光学装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an illumination optical device, and more particularly to an illumination optical device suitable for an illumination system of a projection exposure apparatus used in a lithography process for manufacturing, for example, a semiconductor device or a liquid crystal display device.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体素子や液晶表示素子などをフォト
リソグラフィ技術を用いて製造する際に、マスク(レチ
クルまたはフォトマクス)のパターンを被露光基板(ウ
エハ、ガラスプレート等)上に転写する投影露光装置が
使用されている。近年、投影露光装置においては、転写
パターンの微細化に伴ってパターンの重ね合わせの高精
度化が求められ、パターン転写像の焦点深度内での投影
倍率誤差を小さく抑えることが要求されている。そこ
で、本出願人は、特公平7−85140号公報(特開昭
62−123423号公報)において、像側において良
好なテレセントリシティを有する照明光束を提供するこ
とのできる照明光学装置を提案している。2. Description of the Related Art Projection exposure for transferring a pattern of a mask (reticle or photo mask) onto a substrate (wafer, glass plate, etc.) when manufacturing a semiconductor element or a liquid crystal display element by using a photolithography technique. The device is being used. 2. Description of the Related Art In recent years, in a projection exposure apparatus, high precision of pattern superimposition is required along with miniaturization of a transfer pattern, and it is required to reduce a projection magnification error within a focal depth of a pattern transfer image. In view of this, the present applicant has proposed, in Japanese Patent Publication No. 7-85140 (JP-A-62-123423), an illumination optical device that can provide an illumination light beam having good telecentricity on the image side. ing.
【0003】上述の公報に提案された従来の照明光学装
置では、光源からの光束に基づいてフライアイレンズの
射出端面に多数の光源像を形成し、形成した多数の光源
像が投影光学系の像面から見て光学的に無限遠にあるよ
うに構成している。また、フライアイレンズを構成する
各レンズエレメントの各入射端面と投影光学系の像面と
がほぼ共役になるように構成している。したがって、光
源からフライアイレンズに入射した光束は、フライアイ
レンズを構成するレンズエレメントの数と同数の領域に
波面分割され、多数の光源像を形成した後、多数の光源
像からの光束は、コンデンサー光学系を介してマスクを
重畳的に照明する。こうして、照明光学装置は、投影光
学系の像面において主光線が光軸と平行に入射する、い
わゆるテレセントリックな光学系を構成している。In the conventional illumination optical device proposed in the above-mentioned publication, a large number of light source images are formed on the exit end face of a fly-eye lens based on a light beam from a light source, and the formed large number of light source images are used in a projection optical system. It is configured to be optically at infinity when viewed from the image plane. Further, each entrance end face of each lens element constituting the fly-eye lens is configured to be substantially conjugate with the image plane of the projection optical system. Therefore, the light beam incident on the fly-eye lens from the light source is wavefront divided into the same number of regions as the number of lens elements constituting the fly-eye lens, and after forming a large number of light source images, the light beams from the large number of light source images are The mask is superimposedly illuminated via the condenser optical system. Thus, the illumination optical device constitutes a so-called telecentric optical system in which a principal ray is incident on the image plane of the projection optical system in parallel with the optical axis.
【0004】しかしながら、フライアイレンズに入射す
る光源からの光束の空間的光強度分布が一様でないた
め、像側での主光線と光軸との間の平行度を保っても、
光束の光量重心方向と主光線の方向とが一致しないの
は、上述の公報において説明した通りである。すなわ
ち、フライアイレンズに入射する光束の強度分布の不均
一性に起因して、テレセントリシティのずれが発生す
る。このため、上述の公報に開示の照明光学装置では、
光軸方向および光軸垂直方向に沿ってフライアイレンズ
を移動させる構成を採っている。このフライアイレンズ
の移動により、フライアイレンズに入射する光束の強度
分布が一様でない場合でも、投影光学系の像側において
良好なテレセントリシティを得ることが可能である。However, since the spatial light intensity distribution of the light beam from the light source entering the fly-eye lens is not uniform, even if the parallelism between the principal ray and the optical axis on the image side is maintained,
The reason why the direction of the center of gravity of the light beam does not coincide with the direction of the principal ray is as described in the above-mentioned publication. That is, a shift in telecentricity occurs due to the non-uniformity of the intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens. For this reason, in the illumination optical device disclosed in the above publication,
The fly-eye lens is moved along the optical axis direction and the optical axis vertical direction. Due to the movement of the fly-eye lens, it is possible to obtain good telecentricity on the image side of the projection optical system even when the intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens is not uniform.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】一般に、投影露光装置
では、高い解像度でパターンを被露光基板に露光するた
めに、マスク上の照明領域および被露光基板上の露光領
域における照度分布の均一性を高める必要がある。しか
しながら、テレセントリシティの補正のためにフライア
イレンズを移動させると、フライアイレンズの移動に伴
って照度ムラが発生する。このフライアイレンズの移動
に伴う照度ムラの発生は、フライアイレンズに入射する
光束の強度分布が一様でないことに起因している。すな
わち、フライアイレンズが移動すると、フライアイレン
ズの入射端面が受ける光束断面の光量分布が変化し、そ
の結果マスク上および被露光基板上の照度分布の均一性
が変動してしまう。Generally, in a projection exposure apparatus, in order to expose a pattern on a substrate to be exposed at a high resolution, the uniformity of illuminance distribution in an illumination area on a mask and an exposure area on the exposure substrate is required. It needs to be raised. However, when the fly-eye lens is moved to correct the telecentricity, illuminance unevenness occurs with the movement of the fly-eye lens. The occurrence of illuminance non-uniformity due to the movement of the fly-eye lens is due to the non-uniform intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens. That is, when the fly-eye lens moves, the light quantity distribution of the light beam cross section received by the incident end face of the fly-eye lens changes, and as a result, the uniformity of the illuminance distribution on the mask and on the substrate to be exposed fluctuates.
【0006】さらにこの場合、フライアイレンズの移動
量とテレセントリシティの変化量とが比例しないこと
が、フライアイレンズの移動によるテレセントリシティ
の補正を困難なものにしている。フライアイレンズの移
動量とテレセントリシティの変化量とが比例しないこと
も、フライアイレンズに入射する光束の強度分布が一様
でないことに起因している。すなわち、フライアイレン
ズが移動すると、フライアイレンズの入射端面が受ける
光束断面の光量分布が変化し、この光量分布の変化に対
応してフライアイレンズの射出端面に形成される多数の
光源像面の光量分布が変化する。その結果、フライアイ
レンズに対して光量重心位置が変化することとなり、フ
ライアイレンズの移動量と投影光学系の像側の照明光束
の光量重心方向の変化量とが単純な対応を呈しなくなっ
てしまう。Further, in this case, the fact that the amount of movement of the fly-eye lens is not proportional to the amount of change in telecentricity makes it difficult to correct the telecentricity by moving the fly-eye lens. The fact that the amount of movement of the fly-eye lens is not proportional to the amount of change in telecentricity is also due to the non-uniform intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens. That is, when the fly-eye lens moves, the light amount distribution of the cross section of the light beam received by the incident end face of the fly-eye lens changes, and a number of light source image planes formed on the exit end face of the fly-eye lens corresponding to this change in the light amount distribution. Changes in the light amount distribution. As a result, the center of gravity of the light amount changes with respect to the fly-eye lens, and the amount of movement of the fly-eye lens and the amount of change in the direction of the center of gravity of the light amount of the illumination light on the image side of the projection optical system do not show a simple correspondence. I will.
【0007】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
のであり、照度分布の均一性を損なうことなく、テレセ
ントリシティの補正を行うことのできる照明光学装置を
提供することを目的とする。さらに、テレセントリシテ
ィの補正を容易にするために、フライアイレンズの移動
量と像側の照明光束の光量重心方向の変化量とがほぼ比
例する照明光学装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide an illumination optical apparatus capable of correcting telecentricity without deteriorating the uniformity of the illuminance distribution. . It is still another object of the present invention to provide an illumination optical device in which the amount of movement of the fly-eye lens and the amount of change of the illumination light flux on the image side in the direction of the center of gravity are substantially proportional to facilitate correction of telecentricity.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、第1発明においては、光源からの光束に基づいて多
数の光源像を形成するための多光源像形成手段と、前記
多光源像形成手段を介して形成された前記多数の光源像
からの光束を集光して被照射面をテレセントリックに照
明するためのコンデンサー光学系と、前記光源の位置と
前記多光源像形成手段を介して形成される前記多数の光
源像の位置とを共役にするためのリレー光学系とを備
え、前記被照射面での照度分布の均一性を損なうことな
く、前記多光源像形成手段への入射光束の強度分布の不
均一性に起因するテレセントリシティのずれを補正する
ために、前記光源と前記リレー光学系と前記多光源像形
成手段とは光軸方向または光軸に垂直な方向に沿って一
体的に移動可能であることを特徴とする照明光学装置を
提供する。According to a first aspect of the present invention, there is provided a multi-light source image forming means for forming a plurality of light source images based on a light beam from a light source. A condenser optical system for converging light beams from the multiple light source images formed through the forming means and illuminating the irradiated surface telecentrically, and the position of the light source and the multi-source image forming means A relay optical system for conjugating the positions of the plurality of light source images to be formed, without impairing the uniformity of the illuminance distribution on the surface to be irradiated; The light source, the relay optical system, and the multiple light source image forming means are arranged along the optical axis direction or a direction perpendicular to the optical axis to correct a deviation in telecentricity caused by the non-uniformity of the intensity distribution. Can be moved together To provide an illumination optical apparatus characterized by.
【0009】また、第2発明においては、光源からの光
束に基づいて二次光源を形成するための二次光源形成手
段と、前記二次光源形成手段を介して形成された前記二
次光源からの光束に基づいて多数の光源像を形成するた
めの多光源像形成手段と、前記多光源像形成手段を介し
て形成された前記多数の光源像からの光束を集光して被
照射面をテレセントリックに照明するためのコンデンサ
ー光学系と、前記二次光源形成手段を介して形成される
前記二次光源の位置と前記多光源像形成手段を介して形
成される前記多数の光源像の位置とを共役にするための
リレー光学系とを備え、前記被照射面での照度分布の均
一性を損なうことなく、前記多光源像形成手段への入射
光束の強度分布の不均一性に起因するテレセントリシテ
ィのずれを補正するために、前記二次光源と前記リレー
光学系と前記多光源像形成手段とは光軸方向または光軸
に垂直な方向に沿って一体的に移動可能であることを特
徴とする照明光学装置を提供する。第2発明の好ましい
態様によれば、前記二次光源形成手段は、ライトガイド
と、前記光源からの光束に基づいて前記ライトガイドの
入射端に光源像を形成するための光源像形成手段とを有
し、前記二次光源は前記ライトガイドの射出端に形成さ
れる。Further, in the second invention, a secondary light source forming means for forming a secondary light source based on a light beam from the light source, and a secondary light source formed through the secondary light source forming means are provided. A multi-source image forming means for forming a plurality of light source images based on the light flux of the light source; and condensing the light flux from the plurality of light source images formed through the multi-source image forming means to form an irradiation surface. A condenser optical system for telecentric illumination, and the positions of the secondary light sources formed through the secondary light source forming means and the positions of the multiple light source images formed through the multiple light source image forming means. And a relay optical system for conjugating the illuminated light, and without deteriorating the uniformity of the illuminance distribution on the surface to be illuminated, the telephoto caused by the non-uniformity of the intensity distribution of the light beam incident on the multi-source image forming means. Compensate for Centricity Therefore, the illumination optical device is characterized in that the secondary light source, the relay optical system, and the multi-source image forming means are integrally movable along an optical axis direction or a direction perpendicular to the optical axis. provide. According to a preferred aspect of the second invention, the secondary light source forming means includes a light guide, and a light source image forming means for forming a light source image at an incident end of the light guide based on a light beam from the light source. And the secondary light source is formed at an emission end of the light guide.
【0010】また、第3発明によれば、1つまたは2つ
以上の光源からの光束に基づいて複数の二次光源を形成
するための二次光源形成手段と、前記二次光源形成手段
を介して形成された前記複数の二次光源の各々からの光
束に基づいて多数の光源像をそれぞれ形成するための複
数の多光源像形成手段と、前記複数の多光源像形成手段
の各々を介してそれぞれ形成された前記多数の光源像か
らの光束を集光して被照射面の各領域をテレセントリッ
クに照明するための複数のコンデンサー光学系と、前記
二次光源形成手段を介して形成される前記複数の二次光
源の各々の位置と前記複数の多光源像形成手段の各々を
介してそれぞれ形成される前記多数の光源像の位置とを
それぞれ共役にするための複数のリレー光学系とを備
え、前記被照射面の各領域での照度分布の均一性を損な
うことなく、各光源像形成手段への入射光束の強度分布
の不均一性に起因するテレセントリシティのずれを補正
するために、互いに対応する各二次光源と各リレー光学
系と各多光源像形成手段とは光軸方向または光軸に垂直
な方向に沿って一体的にそれぞれ移動可能であることを
特徴とする照明光学装置を提供する。Further, according to the third invention, the secondary light source forming means for forming a plurality of secondary light sources based on the light flux from one or more light sources, and the secondary light source forming means A plurality of light source image forming means for forming a plurality of light source images based on light fluxes from each of the plurality of secondary light sources formed through the plurality of light source image forming means; A plurality of condenser optical systems for condensing light beams from the large number of light source images formed respectively and illuminating each region of the irradiated surface telecentrically, and the secondary light source forming means. A plurality of relay optical systems for respectively conjugate the positions of the plurality of secondary light sources and the positions of the plurality of light source images respectively formed through the plurality of multiple light source image forming means. The irradiation surface Each secondary light source corresponding to each other is corrected without compromising the uniformity of the illuminance distribution in the area, and correcting the telecentricity shift caused by the non-uniformity of the intensity distribution of the light flux incident on each light source image forming means. And an illumination optical device, wherein each of the relay optical systems and each of the multiple light source image forming means are integrally movable along an optical axis direction or a direction perpendicular to the optical axis.
【0011】第3発明の好ましい態様によれば、前記二
次光源形成手段は、前記1つまたは2つ以上の光源と同
数の入射端を有し、且つ前記複数の多光源像形成手段と
同数の射出端を有する多分岐ライトガイドと、前記1つ
または2つ以上の光源の各々からの光束に基づいて前記
多分岐ライトガイドの各入射端に光源像を形成するため
の前記1つまたは2つ以上の光源と同数の光源像形成手
段とを備え、各二次光源は、前記多分岐ライトガイドの
各射出端に形成される。According to a preferred aspect of the third invention, the secondary light source forming means has the same number of incident ends as the one or more light sources, and has the same number as the plurality of multi-source image forming means. A multi-branch light guide having one or more light-emitting ends, and one or two light source images formed at each light-receiving end of the multi-branch light guide based on a light beam from each of the one or more light sources. One or more light sources and the same number of light source image forming means are provided, and each secondary light source is formed at each emission end of the multi-branch light guide.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】上述のように、本発明の照明光学
装置では、たとえばライトガイドの射出端面に形成され
る二次光源と、リレー光学系と、たとえばフライアイレ
ンズのような多光源像形成手段とが、光軸方向または光
軸に垂直な方向に沿って一体的に移動可能である。した
がって、フライアイレンズに入射する光束の強度分布の
不均一性に起因するテレセントリシティのずれを補正す
るためにフライアイレンズを光軸方向または光軸垂直方
向に沿って移動させても、フライアイレンズに入射する
光束の強度分布は不変である。その結果、被照射面での
照度分布の均一性を損なうことなく、テレセントリシテ
ィの補正を良好に行うことができる。また、フライアイ
レンズを移動させてもフライアイレンズに入射する光束
の強度分布が不変であるため、光束の光量重心の変位量
をフライアイレンズの移動量にほぼ比例させることがで
きる。その結果、テレセントリシティの補正に必要なフ
ライアイレンズの移動量の予測が容易となり、テレセン
トリシティの補正に関する作業性が向上する。As described above, in the illumination optical device of the present invention, for example, a secondary light source formed on the exit end face of a light guide, a relay optical system, and a multi-source image such as a fly-eye lens The forming means is integrally movable along the optical axis direction or a direction perpendicular to the optical axis. Therefore, even if the fly-eye lens is moved along the optical axis direction or perpendicular to the optical axis in order to correct the deviation of the telecentricity due to the non-uniformity of the intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens, The intensity distribution of the light beam incident on the eye lens is unchanged. As a result, it is possible to satisfactorily correct the telecentricity without impairing the uniformity of the illuminance distribution on the irradiated surface. Further, even if the fly-eye lens is moved, the intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens remains unchanged, so that the displacement amount of the light quantity center of gravity of the light beam can be made almost proportional to the movement amount of the fly-eye lens. As a result, it is easy to predict the amount of movement of the fly-eye lens required for the correction of the telecentricity, and the workability relating to the correction of the telecentricity is improved.
【0013】本発明の実施例を、添付図面に基づいて説
明する。図1は、本発明の第1実施例にかかる照明光学
装置の構成を概略的に示す図である。図1において、光
軸AXに沿ってx軸を、光軸AXに垂直な面内において
図1の紙面に平行にy軸を、光軸AXに垂直な面内にお
いて図1の紙面に垂直にz軸をそれぞれ設定している。
また、図2(a)は図1のフライアイレンズ32を構成
する各レンズエレメント32aの構成を示す斜視図であ
り、図2(b)は図1のフライアイレンズ32の入射端
面Cにおける光強度分布を示す図である。本実施例で
は、照明光学装置を半導体素子や液晶表示素子などの製
造のための投影露光装置に適用した例を示している。An embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram schematically showing a configuration of an illumination optical device according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, the x-axis is along the optical axis AX, the y-axis is parallel to the plane of FIG. 1 in a plane perpendicular to the optical axis AX, and the y-axis is perpendicular to the plane of FIG. 1 in a plane perpendicular to the optical axis AX. The z-axis is set respectively.
FIG. 2A is a perspective view showing a configuration of each lens element 32a constituting the fly-eye lens 32 of FIG. 1, and FIG. 2B is a diagram showing light at an incident end face C of the fly-eye lens 32 of FIG. It is a figure showing an intensity distribution. This embodiment shows an example in which the illumination optical device is applied to a projection exposure apparatus for manufacturing a semiconductor element, a liquid crystal display element, and the like.
【0014】図1の照明光学装置において、光供給系1
は、楕円鏡12と、楕円鏡12の第1焦点位置に配置さ
れた光源11とから構成されている。なお、光源11と
して、たとえばg線(436nm)、i線(365n
m)、h線(407nm)等の光束を出力する水銀ラン
プ等を用いることができる。光源11からの光束は、楕
円鏡12の集光作用により楕円鏡12の第2焦点位置A
に光源像を形成する。楕円鏡12の第2焦点位置Aには
ライトガイド21の入射端面が位置決めされ、楕円鏡1
2の第2焦点位置Aに形成された光源像からの光束はラ
イトガイド21に入射する。ライトガイド21に入射し
た光束は、ライトガイド21の内部を伝搬し、射出端面
Bに二次光源を形成する。ライトガイド21の射出端面
Bに形成された二次光源からの光束は、後続する照明光
学系3に供給される。このように、光供給系1およびラ
イトガイド系2とは、二次光源を形成するための二次光
源形成手段を構成している。In the illumination optical device shown in FIG.
Is composed of an elliptical mirror 12 and a light source 11 arranged at a first focal position of the elliptical mirror 12. As the light source 11, for example, g-line (436 nm), i-line (365n)
A mercury lamp or the like that outputs a light beam such as m) and h rays (407 nm) can be used. The light beam from the light source 11 is condensed by the elliptical mirror 12 so that
To form a light source image. The incident end face of the light guide 21 is positioned at the second focal position A of the elliptical mirror 12, and
The light flux from the light source image formed at the second second focus position A enters the light guide 21. The light beam incident on the light guide 21 propagates inside the light guide 21 and forms a secondary light source on the emission end face B. The light beam from the secondary light source formed on the exit end face B of the light guide 21 is supplied to the subsequent illumination optical system 3. As described above, the light supply system 1 and the light guide system 2 constitute a secondary light source forming unit for forming a secondary light source.
【0015】ライトガイド21の射出端面Bから照明光
学系3に入射した光束は、コリメータレンズ31によっ
て平行光束に変換され、フライアイレンズ32の入射端
面Cに入射する。図2(a)に示すように、フライアイ
レンズ32は、矩形状の断面形状を有するレンズエレメ
ント32aを光軸AXに垂直な面内において縦横に稠密
配列することによって構成されている。また、各レンズ
エレメント32aは、その空気換算長と焦点距離とが一
致するように構成されている。したがって、フライアイ
レンズ32に入射した平行光束は、各レンズエレメント
32aによって集光され、各レンズエレメント32aの
射出側に光源像を形成する。すなわち、フライアイレン
ズ32の射出端面Dには、多数(レンズエレメント32
aの数と同数)の光源像が形成される。The light beam incident on the illumination optical system 3 from the exit end surface B of the light guide 21 is converted into a parallel light beam by the collimator lens 31 and is incident on the incident end surface C of the fly-eye lens 32. As shown in FIG. 2A, the fly-eye lens 32 is configured by densely arranging lens elements 32a having a rectangular cross-sectional shape vertically and horizontally in a plane perpendicular to the optical axis AX. Each lens element 32a is configured such that its air-equivalent length and the focal length match. Therefore, the parallel light beam incident on the fly-eye lens 32 is condensed by each lens element 32a, and forms a light source image on the exit side of each lens element 32a. That is, the exit end face D of the fly-eye lens 32 has a large number (the lens element 32
(same number as a).
【0016】フライアイレンズ32の射出端面Dに形成
された多数の光源像からの光束は、この直後に位置決め
された円形開口絞り33により円形断面形状を有する光
束に変換され、コンデンサーレンズ系(34、35)に
入射する。なお、コンデンサーレンズ系(34、35)
のほぼ後側焦点位置には被照射面であるマスクのパター
ン面Rが位置決めされているので、フライアイレンズ3
2の各レンズエレメント32aの入射端面Cと被照射面
Rとがほぼ共役の関係になっている。したがって、フラ
イアイレンズ32の射出端面Dに形成された多数の光源
像からの光束は、コンデンサーレンズ系(34、35)
を介して被照射面Rを重畳的に照射し、被照射面R上に
おける照度分布が良好な均一性を示すことになる。ま
た、フライアイレンズ32の射出端面Dの直後に配置さ
れた円形開口絞り33は、コンデンサーレンズ系(3
4、35)のほぼ前側焦点面に配置されている。したが
って、円形開口絞り33を介して制限された光束は、コ
ンデンサーレンズ系(34、35)の作用により平行光
束に変換され、被照射面Rを照射する。Light beams from a large number of light source images formed on the exit end face D of the fly-eye lens 32 are converted into light beams having a circular cross-sectional shape by a circular aperture stop 33 positioned immediately after this, and are condensed into a condenser lens system (34). , 35). In addition, the condenser lens system (34, 35)
Since the pattern surface R of the mask, which is the surface to be irradiated, is positioned almost at the rear focal position of the fly-eye lens 3
The entrance end face C of each lens element 32a and the irradiated surface R have a substantially conjugate relationship. Therefore, the luminous flux from the multiple light source images formed on the exit end face D of the fly-eye lens 32 passes through the condenser lens system (34, 35).
Irradiates the irradiated surface R in a superimposed manner, and the illuminance distribution on the irradiated surface R shows good uniformity. Further, the circular aperture stop 33 disposed immediately after the exit end face D of the fly-eye lens 32 includes a condenser lens system (3
4, 35) are arranged substantially at the front focal plane. Therefore, the luminous flux restricted via the circular aperture stop 33 is converted into a parallel luminous flux by the action of the condenser lens system (34, 35), and irradiates the irradiated surface R.
【0017】照明光学系3(31〜35)からの光束に
よって均一照明された被照射面(マスクパターン面)R
には、所定の回路パターンが形成されている。したがっ
て、パターン面Rを透過した光は、投影光学系4を介し
て、被照射面Rと共役な位置に配置された被露光基板の
露光面W上に回路パターン像を形成する。なお、被照射
面としてのマスクRは、図1の紙面と垂直な面に沿って
2次元方向(y方向およびz方向)に移動可能なマスク
ステージRSに保持され、レジストが塗布されている被
露光基板Wは、図1の紙面と垂直な面に沿って2次元方
向(y方向およびz方向)に移動可能な基板ステージW
Sに保持されている。The irradiated surface (mask pattern surface) R uniformly illuminated by the light beams from the illumination optical system 3 (31 to 35)
Is formed with a predetermined circuit pattern. Therefore, the light transmitted through the pattern surface R forms a circuit pattern image via the projection optical system 4 on the exposure surface W of the substrate to be exposed, which is disposed at a position conjugate with the irradiation surface R. The mask R serving as a surface to be irradiated is held on a mask stage RS that is movable in a two-dimensional direction (y-direction and z-direction) along a plane perpendicular to the plane of FIG. The exposure substrate W can be moved in a two-dimensional direction (y-direction and z-direction) along a plane perpendicular to the plane of FIG.
S is held.
【0018】そして、このマスクステージRSの位置は
干渉計等の位置計測系IF1によって計測され、マスク
ステージRSの移動はモータ等の駆動系MS1によって
行なわれ、最終的に、マスクステージRSの位置の制御
は、位置計測系IF1からの計測値に基づいて駆動系M
S1へ駆動出力を供給する制御系CS1によって達成さ
れる。また、基板ステージWSの位置は干渉計等の位置
計測系IF2によって計測され、基板ステージWSの移
動はモータ等の駆動系MS2によって行われ、最終的
に、基板ステージWSの位置の制御は、位置計測系IF
2からの計測値に基づいて駆動系MS2へ駆動出力を供
給する制御系CS1によって達成される。さらに、基板
ステージWSは、制御系CS1によって制御される不図
示の駆動系を介して投影光学系4の光軸方向(x方向)
に移動可能に設けられている。The position of the mask stage RS is measured by a position measurement system IF1 such as an interferometer, and the movement of the mask stage RS is performed by a drive system MS1 such as a motor. The control is performed by the drive system M based on the measurement value from the position measurement system IF1.
This is achieved by a control system CS1 that supplies a drive output to S1. The position of the substrate stage WS is measured by a position measurement system IF2 such as an interferometer, and the movement of the substrate stage WS is performed by a drive system MS2 such as a motor. Finally, the position of the substrate stage WS is controlled by the position Measurement IF
This is achieved by the control system CS1 which supplies a drive output to the drive system MS2 based on the measurement value from the control system CS2. Further, the substrate stage WS is moved in the optical axis direction (x direction) of the projection optical system 4 via a drive system (not shown) controlled by the control system CS1.
Is provided so as to be movable.
【0019】さて、基板ステージWSの上方には、オー
トフォーカス系の投射系AF1とオートフォーカス系の
検出系AF2とが設けられており、投射系AF1からの
光を被露光基板Wに対して斜め方向から投射し、その被
露光基板Wの表面を反射した光を検出系AF2にて受光
することにより、被露光基板Wの表面と投影光学系4の
結像面との光軸方向のずれを検出することができる。従
って、検出系AF2からの検出情報に基づいて制御系C
S1は、不図示の駆動系を介して投影光学系4の光軸方
向(x方向)に沿った基板ステージWSの位置を制御す
る。Above the substrate stage WS, a projection system AF1 of an autofocus system and a detection system AF2 of an autofocus system are provided, and the light from the projection system AF1 is inclined with respect to the substrate W to be exposed. The light is reflected from the surface of the substrate W to be exposed, and the light reflected from the surface of the substrate W to be exposed is received by the detection system AF2. Can be detected. Therefore, based on the detection information from the detection system AF2, the control system C
S1 controls the position of the substrate stage WS along the optical axis direction (x direction) of the projection optical system 4 via a drive system (not shown).
【0020】投影光学系4では、その像面から見て光学
的に無限遠の位置に射出瞳面Eを配置することにより、
像側にテレセントリックな構成を採っている。投影光学
系4では、射出瞳面Eに開口絞りが配置され、この開口
絞りによって投影光学系4の開口数を規定している。こ
のとき、照明系(1〜3)の像面W上での開口数NAi
と投影光学系4の像面W上での開口数NAuとの間に、
次の式(1)に示す関係が成立するように設定されてい
る。In the projection optical system 4, by arranging the exit pupil plane E at an optically infinite position when viewed from the image plane,
It has a telecentric configuration on the image side. In the projection optical system 4, an aperture stop is arranged on the exit pupil plane E, and the aperture stop defines the numerical aperture of the projection optical system 4. At this time, the numerical aperture NAi of the illumination system (1-3) on the image plane W
And the numerical aperture NAu of the projection optical system 4 on the image plane W,
The relationship is set so as to satisfy the following expression (1).
【数1】0<NAi/NAu<1 (1)0 <NAi / NAu <1 (1)
【0021】ところで、像面W上のある一点に入射する
光束の主光線が像面Wに対して垂直に入射しても、一般
的にこの光束の光量重心方向は像面Wに対して垂直にな
らない。これは、フライアイレンズ32の射出端面Dに
形成され且つその直後に配置された円形開口絞り33に
より円形断面形状に整形された複数の光源像に基づいて
投影光学系4の射出瞳面Eに形成された転写像の光量重
心位置が光軸と一致していないことに起因している。By the way, even if the principal ray of a light beam incident on a certain point on the image plane W is perpendicular to the image plane W, the direction of the center of gravity of the light beam is generally perpendicular to the image plane W. do not become. This is based on a plurality of light source images formed on the exit end face D of the fly-eye lens 32 and formed into a circular cross-sectional shape by the circular aperture stop 33 disposed immediately behind the fly-eye lens 32, on the exit pupil plane E of the projection optical system 4. This is because the center of gravity of the light quantity of the formed transfer image does not coincide with the optical axis.
【0022】フライアイレンズ32の入射端面Cに入射
する平行光束は、楕円鏡12の幾何学的性質、光源11
から射出される光束強度の配光特性、ライトガイド21
の製造誤差、およびレンズの軸ズレなどの影響により、
例えば図2(b)に示すような一様でない(不均一な)
光強度分布を呈する。フライアイレンズ32の入射端面
Cに入射する光束の強度分布をI1(y,z)とする
と、円形開口絞り33上の光束の強度分布I2
Y,Z (y,z)は、次の式(2)で表される。The parallel light beam incident on the incident end face C of the fly-eye lens 32 is
Of light intensity emitted from the light guide 21
Due to manufacturing errors and lens misalignment
For example, non-uniform (non-uniform) as shown in FIG.
It exhibits a light intensity distribution. Assuming that the intensity distribution of the light beam incident on the incident end face C of the fly-eye lens 32 is I1 (y, z), the intensity distribution I2 of the light beam on the circular aperture stop 33 is I2.
Y, Z (y, z) is represented by the following equation (2).
【数2】 I2Y,Z (y,z)=I1(y−Y/β,z−Z/β) (2) ここで、 β:フライアイレンズ32の入射端面Cと像面Wとの結
像倍率 Y:像面W上の入射点Pのy座標 Z:像面W上の入射点Pのz座標I 2 Y, Z (y, z) = I 1 (y−Y / β, z−Z / β) (2) where β: the distance between the incident end face C of the fly-eye lens 32 and the image plane W Imaging magnification Y: y coordinate of incident point P on image plane W Z: z coordinate of incident point P on image plane W
【0023】上述の式(2)により、円形開口絞り33
上の光束の強度分布は、像面W上の入射点Pの座標に依
存して変化することがわかる。式(2)の詳細な説明は
前述の公報(特公平7−85140号公報)に十分記載
されているので、本明細書において重複する説明を省略
する。さて、本明細書においては、像面Wの1点P
(Y,Z)に入射する光束のテレセントリシティの不満
足量を、1点P(Y,Z)に入射する光束の光量重心方
向の像面Wの法線方向に対するずれ量である光束光量重
心Gとして定義する。また、光量重心ずれGを光量重心
方向のy方向とz方向との方向余弦を用いて、次の式
(3)で表すこととする。According to the above equation (2), the circular aperture stop 33
It can be seen that the intensity distribution of the upper light beam changes depending on the coordinates of the incident point P on the image plane W. Since the detailed description of the expression (2) is sufficiently described in the aforementioned gazette (Japanese Patent Publication No. 7-85140), the duplicate description will be omitted in this specification. By the way, in this specification, one point P of the image plane W
The unsatisfactory amount of the telecentricity of the light beam incident on (Y, Z) is determined by the amount of light beam centroid, which is the amount of deviation of the light beam centroid direction of the light beam incident on one point P (Y, Z) from the normal direction of the image plane W. Defined as G. Further, the light quantity center-of-gravity shift G is expressed by the following equation (3) using the cosine of the direction of the light quantity center of gravity in the y direction and the z direction.
【0024】[0024]
【数3】G=Uy +iUz ≡UG exp (iφ) (3) ここで、 Uy :光量重心方向のy方向の方向余弦 Uz :光量重心方向のz方向の方向余弦 UG =(Uy 2 +Uz 2 )1/2 φ= tan-1(Uz /Uy ) i2 =−1G = U y + iU z ≡U g exp (iφ) (3) where U y is the cosine of the direction of the center of gravity of the light amount in the y direction U z is the cosine of the direction of the center of gravity of the light amount in the z direction U G = (U y 2 + U z 2 ) 1/2 φ = tan −1 (U z / U y ) i 2 = −1
【0025】この場合、像面Wの1点P(Y,Z)に入
射する光束の光量重心ずれG(Y,Z)は、次の式
(4)で表される。In this case, the displacement G (Y, Z) of the light quantity of the light beam incident on one point P (Y, Z) on the image plane W is expressed by the following equation (4).
【数4】 ここで、 σ:像面Wの1点(Y,Z)に入射する光束の全て(円
形開口絞り33の開口範囲に相当)(Equation 4) Here, σ: all light beams incident on one point (Y, Z) on the image plane W (corresponding to the aperture range of the circular aperture stop 33)
【0026】また、上述の式(4)におけるI2' Y,Z
(U,φ)は、コンデンサーレンズ系(34、35)と
投影光学系4との合成焦点距離をfとして、およそ次の
式(5)で表される。In addition, I2′Y , Z in the above equation (4)
(U, φ) is approximately expressed by the following equation (5), where f is the combined focal length of the condenser lens system (34, 35) and the projection optical system 4.
【数5】 I2' Y,Z(U,φ)=I2Y,Z (fU cosφ,fU sinφ) (5)I2′Y , Z (U, φ) = I2Y , Z (fUcosφ, fUsinφ) (5)
【0027】本実施例のように、投影光学系4の射出瞳
面Eが像面Wから見て光学的に無限遠の位置にある場
合、フライアイレンズ32の入射端面Cにおける光強度
分布I1(y,z)がyおよびzに依存することなく一
定であれば、すなわち一様な光強度分布を有する光束が
フライアイレンズ32の入射端面Cに入射すれば、光量
重心ずれGが常に0となり良好なテレセントリシティが
得られる。しかしながら、一般に、フライアイレンズ3
2の入射端面Cにおける光強度分布I1(y,z)は、
図2(b)に示すように光軸AXからの距離(すなわち
yおよびz)に依存して不均一であるため、良好なテレ
セントリシティを得ることができない。仮に、光強度分
布I1(y,z)が光軸AXに関して対称であっても、
光量重心ずれGの値は0にはならない。As in this embodiment, when the exit pupil plane E of the projection optical system 4 is located at an optically infinite position when viewed from the image plane W, the light intensity distribution I1 on the entrance end face C of the fly-eye lens 32 If (y, z) is constant without depending on y and z, that is, if a light beam having a uniform light intensity distribution is incident on the incident end face C of the fly-eye lens 32, the light amount centroid deviation G is always 0. And good telecentricity can be obtained. However, in general, fly-eye lens 3
2, the light intensity distribution I1 (y, z) at the incident end face C is
As shown in FIG. 2B, since the distance is non-uniform depending on the distance from the optical axis AX (that is, y and z), good telecentricity cannot be obtained. Even if the light intensity distribution I1 (y, z) is symmetric with respect to the optical axis AX,
The value of the light amount center of gravity shift G does not become zero.
【0028】以下、光強度分布I1(y,z)が光軸A
Xに関して対称であっても光量重心ずれGの値が0には
ならないことを説明する。まず、光軸AXに関して対称
な光強度分布I1(y,z)が、次の式(6)で表され
るものとする。Hereinafter, the light intensity distribution I1 (y, z) is expressed by the optical axis A
A description will be given of the fact that the value of the light quantity center-of-gravity deviation G does not become 0 even when the image is symmetric with respect to X. First, it is assumed that a light intensity distribution I1 (y, z) symmetric with respect to the optical axis AX is represented by the following equation (6).
【数6】 I1(y,z)=a(y2 +z2 )+I0 (6) ここで、 a :0でない定数 I0 :光軸AX上での光強度I 1 (y, z) = a (y 2 + z 2 ) + I 0 (6) where a: a constant other than 0 I 0 : light intensity on the optical axis AX
【0029】なお、δy =Y/β、δz =Z/βとする
と、簡単な計算により、次の式(7)に示す関係が得ら
れる。If δ y = Y / β and δ z = Z / β, the following equation (7) can be obtained by a simple calculation.
【数7】 ただし、φ= tan-1(δz /δy ) ここで、 r:円形開口絞り33の開口半径(Equation 7) Here, φ = tan −1 (δ z / δ y ) where, r: aperture radius of the circular aperture stop 33
【0030】式(7)より、Gの大きさは原点(Y,
Z)=(0,0)に対して対称であるため、y軸上のG
(Y,0)であってもその性格は保たれる。From equation (7), the magnitude of G is equal to the origin (Y,
Z) = (0,0), so that G on the y-axis
Even if (Y, 0), the character is maintained.
【数8】 (Equation 8)
【0031】式(7.5)を参照すると、Y=0ではG=0
であるが、Y=0以外においてG≠0である。特にδy
≪rのとき、式(7)を次の式(8)のように表すこと
ができる。Referring to equation (7.5), when Y = 0, G = 0
Where G 、 0 except for Y = 0. Especially δ y
When ≪r, equation (7) can be expressed as the following equation (8).
【数9】 上述の式(8)は、被照射面R上のパターンの投影光学
系4による転写倍率が露光面Wのデフォーカスに比例し
て変化することを示している。(Equation 9) Equation (8) above indicates that the transfer magnification of the pattern on the irradiation surface R by the projection optical system 4 changes in proportion to the defocus of the exposure surface W.
【0032】この場合、ライトガイド21の射出端部分
(すなわち二次光源)とコリメータレンズ31とフライ
アイレンズ32と円形開口絞り33とを光軸方向に沿っ
て所定距離だけ一体的に変位させることにより、光量重
心ずれGをほぼ0に補正することができる。この時の変
位量をΔxとすると、投影光学系4の像面W上の点P
(Y,0)における主光線の変化量ΔVyは、大凡次の
式(9)で表される。In this case, the exit end portion (ie, the secondary light source) of the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32, and the circular aperture stop 33 are integrally displaced by a predetermined distance along the optical axis direction. As a result, the light amount gravity center shift G can be corrected to almost zero. Assuming that the displacement amount at this time is Δx, a point P on the image plane W of the projection optical system 4 is obtained.
The change amount ΔVy of the principal ray at (Y, 0) is approximately expressed by the following equation (9).
【数10】ΔVy=YΔx/f2 (9)ΔVy = YΔx / f 2 (9)
【0033】式(9)におけるΔVyと式(8)で与え
られた光量重心ずれGとが一致するようにΔxを与える
ことが上述の目的に叶うことである。そこで、上述の式
(8)と式(9)とによりYを消去することができるの
で、次の式(10)に示す関係が得られる。Giving Δx such that ΔVy in the equation (9) matches the light quantity center-of-gravity shift G given in the equation (8) fulfills the above-mentioned purpose. Then, since Y can be eliminated by the above equations (8) and (9), the relationship shown in the following equation (10) is obtained.
【数11】 [Equation 11]
【0034】このように、式(10)で得られる変位量Δ
xだけライトガイド21の射出端部分とコリメータレン
ズ31とフライアイレンズ32と円形開口絞り33とを
光軸方向に沿って移動させることにより、光量重心ずれ
Gをほぼ0にし、テレセントリシティの補正を行うこと
ができる。なお、ΔVyとΔxとの間に式(9)に示す
ような単純な比例関係が成立するためには、フライアイ
レンズ32の移動に対して円形開口絞り33上の光強度
分布が不変であることが必要である。本実施例において
は、ライトガイド21の射出端部分からフライアイレン
ズ32(円形開口絞り33を含む)までの部分系を一体
的に移動させているので、上述の条件が満たされる。As described above, the displacement Δ obtained by the equation (10)
By moving the exit end portion of the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32, and the circular aperture stop 33 along the optical axis direction by x, the light amount center of gravity G is made substantially zero, and the telecentricity is corrected. It can be performed. In order to establish a simple proportional relationship between ΔVy and Δx as shown in Expression (9), the light intensity distribution on the circular aperture stop 33 does not change with the movement of the fly-eye lens 32. It is necessary. In the present embodiment, since the partial system from the exit end of the light guide 21 to the fly-eye lens 32 (including the circular aperture stop 33) is integrally moved, the above-described condition is satisfied.
【0035】上述の関係について若干の説明を加える。
簡単に説明するために、本来2次元の拡がりをもつ円形
開口絞り33上の光強度分布I1(y,z)の次元を1
つ下げて光強度分布I(y)として扱う。この場合、光
量重心ずれGyは、次の式(11)で表される。The above relationship will be described in some detail.
For simplicity, the dimension of the light intensity distribution I1 (y, z) on the circular aperture stop 33 originally having a two-dimensional spread is set to 1
Lowered and handled as light intensity distribution I (y). In this case, the light amount center-of-gravity deviation Gy is expressed by the following equation (11).
【数12】 (Equation 12)
【0036】ライトガイド21の射出端部分からフライ
アイレンズ32までの部分系を一体的に移動させた場
合、フライアイレンズ32に入射する光束の光強度分布
I(y)はフライアイレンズ32の移動による変化を受
けない。今、フライアイレンズ32を含む部分系をy方
向にξ移動した時を考え、フライアイレンズ32に貼り
ついた座標系y’を想定すると、新たな光量重心ずれG
y’は、次の式(12)で表される。When the subsystem from the exit end of the light guide 21 to the fly-eye lens 32 is moved integrally, the light intensity distribution I (y) of the light beam incident on the fly-eye lens 32 is Not affected by movement. Now, assuming that the sub-system including the fly-eye lens 32 is moved in the y-direction by ξ, and assuming a coordinate system y ′ stuck to the fly-eye lens 32, a new light quantity center of gravity shift G
y ′ is represented by the following equation (12).
【数13】 (Equation 13)
【0037】y’=y−ξであるから、上述の式(12)
は、次の式(13)のように表される。Since y ′ = y−ξ, the above equation (12)
Is represented by the following equation (13).
【数14】 [Equation 14]
【0038】式(13)において、ξをΔyに置き換え、
ΔVy=Gy’−Gyとすると、後述の式(16)と一致
する。また、フライアイレンズ32を含む部分系を光軸
AX方向にΔx移動させる場合は、ξを次のように置き
換える。In equation (13), ξ is replaced by Δy,
Assuming that ΔVy = Gy′−Gy, this matches the equation (16) described later. When the subsystem including the fly-eye lens 32 is moved by Δx in the optical axis AX direction, ξ is replaced as follows.
【数15】 ξ=Δx・ tanθ≒Δx・ sinθ≒Δx・Y/f (13.5) 式(13.5) を式(13)に代入すれば、これは式(9)と
一致する。すなわち、フライアイレンズ32の移動に対
してI(y’)が影響を受けることがないように、ライ
トガイド21の射出端部分、コリメータレンズ31およ
び円形開口絞り33をフライアイレンズ32と共に移動
させることにより、光量重心の変位量をフライアイレン
ズ32の移動量にほぼ比例させることができる。この場
合、テレセントリシティの補正に必要なフライアイレン
ズ32の移動量の予測が容易となるので、テレセントリ
シティの補正に関する作業性が向上する。さらに、テレ
セントリシティの補正のためにフライアイレンズ32を
移動させても、フライアイレンズ32の受ける光強度分
布は不変であるため、被照射面Rおよび露光面Wでの照
度分布が変化することがない。その結果、照度分布の良
好な均一性を損なうことなく、テレセントリシティの補
正を行うことができる。15 = Δx · tanθ ≒ Δx · sinθ ≒ Δx · Y / f (13.5) If Expression (13.5) is substituted into Expression (13), this matches Expression (9). That is, the exit end of the light guide 21, the collimator lens 31, and the circular aperture stop 33 are moved together with the fly-eye lens 32 so that I (y ') is not affected by the movement of the fly-eye lens 32. Thus, the amount of displacement of the center of gravity of the light amount can be made substantially proportional to the amount of movement of the fly-eye lens 32. In this case, it is easy to predict the amount of movement of the fly-eye lens 32 required for the correction of the telecentricity, so that the workability relating to the correction of the telecentricity is improved. Further, even if the fly-eye lens 32 is moved to correct the telecentricity, the light intensity distribution received by the fly-eye lens 32 is unchanged, so that the illuminance distribution on the irradiated surface R and the exposed surface W changes. Nothing. As a result, telecentricity can be corrected without deteriorating good uniformity of the illuminance distribution.
【0039】次に、光軸AXに関して対称でない光強度
分布の例として、次の式(14)で表される光強度分布I
1(y,z)の光束がフライアイレンズ32に入射して
いる場合について考える。Next, as an example of a light intensity distribution that is not symmetrical with respect to the optical axis AX, a light intensity distribution I expressed by the following equation (14):
Consider a case where the light beam of 1 (y, z) is incident on the fly-eye lens 32.
【数16】I1(y,z)=ay+I0 (14) この場合、像面Wの1点P(Y,Z)に入射する光束の
光量重心ずれG(Y,Z)は、次の式(15)で表され
る。Equation 16] I1 (y, z) = ay + I 0 (14) In this case, the light quantity gravity center shift G (Y, Z) of the light beam incident on the P 1 point in the image plane W (Y, Z) have the formula It is represented by (15).
【数17】 G(Y,Z)=a/{4f(I0 /r2 −aδ/r2 )} ≒ar2 /(4fI0 )=一定 (15)G (Y, Z) = a / {4f (I 0 / r 2 −aδ / r 2 )}} ar 2 / (4fI 0 ) = constant (15)
【0040】なお、式(15)においては、δ≪rに基づ
く近似計算を行っている。式(15)は、被照射面R上の
パターンの結像光学系4による転写像が露光面Wのデフ
ォーカスに比例して移動することを示している。この場
合、ライトガイド21の射出端部分とコリメータレンズ
31とフライアイレンズ32と円形開口絞り33とを、
光軸AXに垂直な方向(この場合はy方向)沿って所定
距離だけ一体的に変位させることにより、光量重心ずれ
Gを0に補正することができる。In equation (15), an approximate calculation based on δ≪r is performed. Equation (15) indicates that the transfer image of the pattern on the irradiation surface R by the imaging optical system 4 moves in proportion to the defocus of the exposure surface W. In this case, the exit end portion of the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32, and the circular aperture stop 33 are
By integrally displacing a predetermined distance along the direction perpendicular to the optical axis AX (in this case, the y direction), the light amount center of gravity shift G can be corrected to zero.
【0041】なお、前述したように、フライアイレンズ
32を移動させても、フライアイレンズ32の受ける光
束の光強度分布は不変である。したがって、式(13)と
同様な考慮から、変位量をΔyとすると、y方向の主光
線の変化量ΔVyは、大凡次の式(16)で表される。As described above, even when the fly-eye lens 32 is moved, the light intensity distribution of the light beam received by the fly-eye lens 32 is unchanged. Therefore, from the same consideration as in Expression (13), if the displacement amount is Δy, the change amount ΔVy of the principal ray in the y direction is approximately expressed by Expression (16).
【数18】ΔVy=Δy/f (16)ΔVy = Δy / f (16)
【0042】したがって、式(15)と式(16)とによ
り、光量重心ずれGを補正するのに必要な変位量Δy
は、次の式(17)に示す関係で得られる。Accordingly, the displacement amount Δy required to correct the light quantity center-of-gravity deviation G is obtained from the equations (15) and (16).
Is obtained by the relationship shown in the following equation (17).
【数19】Δy=−ar2 /(4I0 ) (17) このように、式(17)で得られる変位量Δyだけライト
ガイド21の射出端部分とコリメータレンズ31とフラ
イアイレンズ32と円形開口絞り33とを光軸垂直方向
(y方向)に沿って移動させることにより、光量重心ず
れGをほぼ0にし、テレセントリシティの補正を行うこ
とができる。Δy = −ar 2 / (4I 0 ) (17) As described above, the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32, and the circle are formed by the displacement amount Δy obtained by the equation (17). By moving the aperture stop 33 along the direction perpendicular to the optical axis (the y direction), the displacement G of the light quantity center can be made substantially zero, and the correction of the telecentricity can be performed.
【0043】この場合も同様に、フライアイレンズ32
を含む部分系の移動に際して被照射面Rおよび露光面W
での照度分布が変化することがないので、照度分布の良
好な均一性を損なうことなく、テレセントリシティの補
正を行うことができる。また、式(16)に示すように、
光量重心の変位量はフライアイレンズ32の移動量にほ
ぼ比例するので、テレセントリシティの補正に関する作
業は容易になる。こうして、第1実施例では、残存する
テレセントリシティの不満足量ΔVyおよびΔVzに応
じて、テレセントリシティを補正するのに最適な移動量
を式(9)および式(16)から求める。そして、ライト
ガイド21の射出端部分とコリメータレンズ31とフラ
イアイレンズ32と円形開口絞り33とを求めた移動量
だけ一体的に移動させることにより、照度分布の均一性
を損なうことなく良好なテレセントリシティを得ること
ができる。In this case, similarly, the fly-eye lens 32
Illuminated surface R and exposed surface W when moving the subsystem including
, The telecentricity can be corrected without deteriorating good uniformity of the illuminance distribution. Also, as shown in equation (16),
Since the amount of displacement of the center of gravity of the light amount is substantially proportional to the amount of movement of the fly-eye lens 32, the work relating to the correction of the telecentricity becomes easy. Thus, in the first embodiment, the optimum moving amount for correcting the telecentricity is obtained from the equations (9) and (16) according to the remaining unsatisfactory amounts of the telecentricity ΔVy and ΔVz. By moving the exit end portion of the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32, and the circular aperture stop 33 integrally by the determined moving amount, a good telephoto can be obtained without deteriorating the uniformity of the illuminance distribution. You can get Centricity.
【0044】以上においては、ライトガイド21の射出
端部分と、コリメーターレンズ31、オプチカルインテ
グレータとしてのフライアイレンズ32および開口絞り
33とを一体的に光軸方向あるいは光軸と直交する方向
へ移動させて、照明光学系のテレセントリシティを補正
する例を示したが、次に、照明光学系のテレセントリシ
ティを自動補正することについて説明する。図1に示す
如く、基板ステージWSの基板ホルダーの近接した位
置、すなわち基板ステージWSの一端には、投影光学系
4の物体面に配置される後述するテストマスクTRに形
成されている多数のテストパターンTPの像の相対位置
を計測するための空間像位置検出部PSが設けられてい
る。In the above, the exit end portion of the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32 as an optical integrator, and the aperture stop 33 are integrally moved in the direction of the optical axis or in the direction orthogonal to the optical axis. The example of correcting the telecentricity of the illumination optical system has been described above. Next, automatic correction of the telecentricity of the illumination optical system will be described. As shown in FIG. 1, at a position close to the substrate holder of the substrate stage WS, that is, at one end of the substrate stage WS, a large number of tests formed on a test mask TR, which will be described later, disposed on the object plane of the projection optical system 4. A spatial image position detector PS for measuring the relative position of the image of the pattern TP is provided.
【0045】この空間像位置検出部PSは、図4に示す
如く、所定のナイフエッジパターンが形成された平行平
面板100と、その平行平面板100の直後に配置され
た光量検出器101とで構成されている。そして、平行
平面板100の表面には、図5に示す如く、各走査方向
(y方向、z方向)と直交する方向に透過領域100a
と遮光領域100bとの境界線が存在するようなL字型
のナイフエッジパターンが形成されている。すなわち、
この平行平面板100上のz方向に沿った境界線を持つ
ナイフエッジパターンはy方向の計測に用いられ、平行
平面板100上のy方向に沿った境界線を持つナイフエ
ッジパターンはz方向の計測に用いられる。As shown in FIG. 4, the aerial image position detecting section PS includes a parallel plane plate 100 on which a predetermined knife edge pattern is formed, and a light amount detector 101 disposed immediately after the parallel plane plate 100. It is configured. Then, as shown in FIG. 5, the transmission area 100a is formed on the surface of the parallel plane plate 100 in a direction orthogonal to each scanning direction (y direction, z direction).
An L-shaped knife edge pattern is formed such that there is a boundary between the light-shielding region 100b and the light-shielding region 100b. That is,
A knife edge pattern having a boundary line along the z direction on the plane parallel plate 100 is used for measurement in the y direction, and a knife edge pattern having a boundary line along the y direction on the plane parallel plate 100 is used for measurement in the z direction. Used for measurement.
【0046】今、y方向に沿って規則的なピッチを持つ
ライン・アンド・スペースパターン(テストパターン)
TPを持つテストマスクTRが投影光学系4の物体面に
配置されているものとすると、投影光学系4の像面、す
なわち基板Wの表面上では、テストパターンTPの像が
形成され、この時のテストパターンTPの像は、図6に
示す如く、y方向に沿った空間像強度分布となる。そし
て、制御系CS1は、オートフォーカス系の検出系AF
2の出力が所定の出力となるように基板ステージWSの
x方向での位置を制御しながら、駆動系MS2を介して
基板ステージWSをy方向に沿って移動させて、テスト
パターンTPの像に対して空間像位置検出部PSを走査
させることにより、空間像位置検出部PSでは、図7に
示す如く、テストパターンTPの像のy方向に沿った積
算光量分布を得ることができる。なお、図7において、
縦軸は光量であり、横軸は時間である。Now, a line-and-space pattern (test pattern) having a regular pitch along the y direction
Assuming that the test mask TR having TP is disposed on the object plane of the projection optical system 4, an image of the test pattern TP is formed on the image plane of the projection optical system 4, that is, on the surface of the substrate W. The image of the test pattern TP has a spatial image intensity distribution along the y direction as shown in FIG. The control system CS1 includes a detection system AF of an autofocus system.
By controlling the position of the substrate stage WS in the x direction so that the output of the substrate stage WS becomes a predetermined output, the substrate stage WS is moved along the y direction via the drive system MS2 to form an image of the test pattern TP. By causing the aerial image position detector PS to scan, the aerial image position detector PS can obtain an integrated light amount distribution of the image of the test pattern TP along the y direction as shown in FIG. In FIG. 7,
The vertical axis is the amount of light, and the horizontal axis is time.
【0047】次に、制御系CS1は、これの内部の演算
部にて、ステージの位置を計測する干渉計IFからの位
置情報および空間像位置検出部PSからの出力信号に基
づいて、各空間像位置検出部PSの位置に応じた空間像
位置検出部PSからの出力信号の微分演算を行って、図
8に示す如く、図6に示した空間像強度分布と同様な信
号を得ることにより、テストマスクTRのテストパター
ンTPの像のy方向での位置を計測することができる。
なお、以上の手法と同様にテストマスクTR上に形成さ
れたx方向計測用のテストパターンTPを用いて、その
x方向計測用のテストパターンTPの像を投影光学系4
の像面上に形成して、x方向計測用のテストパターンT
Pの像に対して空間像位置検出部PSをz方向に走査さ
せることにより、最終的には、制御系CS1の内部の演
算部にて、テストパターンTPの像のz方向での位置を
計測することができる。Next, the control system CS1 uses its internal calculation unit based on the position information from the interferometer IF for measuring the position of the stage and the output signal from the aerial image position detection unit PS. By performing a differential operation on the output signal from the spatial image position detecting section PS according to the position of the image position detecting section PS, as shown in FIG. 8, a signal similar to the spatial image intensity distribution shown in FIG. 6 is obtained. , The position of the image of the test pattern TP on the test mask TR in the y direction can be measured.
In the same manner as in the above method, using the test pattern TP for x-direction measurement formed on the test mask TR, an image of the test pattern TP for x-direction measurement is projected.
And a test pattern T for measuring in the x direction
By causing the spatial image position detection unit PS to scan the P image in the z direction, the position of the test pattern TP image in the z direction is finally measured by the arithmetic unit inside the control system CS1. can do.
【0048】次に、以上の空間像位置検出部PSを用い
てテレセントリシティ補正について具体的に説明する。
今、y方向およびz方向計測用の多数のテストパターン
TPを持つテストマスクTRを投影光学系4の物体面に
配置すると、投影光学系4の像面(基板Wの表面)上で
は、多数のテストパターンTPの像が形成される。ここ
で、テストマスクTR上には、互いに異なる所定の位置
(P'1、P'2、P'3・・・・・P'n)にy方向およびz
方向にそれぞれ所定のピッチを持つ明暗パターンを持つ
多数のテストパターンTPが形成されており、投影光学
系4の像面(基板Wの表面)上には、それぞれ対応する
互いに異なる位置(P''1 、P''2 、P''3 ・・・・・
P''n)に多数のテストパターンTPの像が形成され
る。Next, the telecentricity correction using the above spatial image position detecting section PS will be specifically described.
Now, when a test mask TR having a large number of test patterns TP for measuring the y direction and the z direction is arranged on the object plane of the projection optical system 4, a large number of test masks are formed on the image plane of the projection optical system 4 (the surface of the substrate W). An image of the test pattern TP is formed. Here, on the test mask TR, the y direction and the z direction are set at predetermined positions (P′1, P′2, P′3... P′n) different from each other.
A large number of test patterns TP having light and dark patterns each having a predetermined pitch in each direction are formed, and corresponding different positions (P ″) on the image plane of the projection optical system 4 (the surface of the substrate W). 1, P''2, P''3 ...
Many images of the test pattern TP are formed on P''n).
【0049】制御系CS1は、先ず、オートフォーカス
系の検出系AF2の出力が投影光学系の最良像面となる
出力となるように基板ステージWSのx方向での位置を
制御しながら、駆動系MS2を介して基板ステージWS
をy方向に沿って移動させて、テストマスクTR上の位
置P'1のテストパターンTPの像が形成される位置P''
1 に空間像位置検出部PSを設定する。次に、制御系C
S1は、オートフォーカス系の検出系AF2の出力が投
影光学系の最良像面からΔx/2だけディフォーカスし
た出力となるように基板ステージWSのx方向での位置
を制御しながら、位置P''1 に形成されるテストパター
ンTPのディフォーカス像に対して空間像位置検出部P
Sをy方向およびz方向にそれぞれ走査させて、位置
P''1 に形成されるテストパターンTPのディフォーカ
ス像の位置を計測する。First, the control system CS1 controls the drive system while controlling the position of the substrate stage WS in the x direction so that the output of the detection system AF2 of the autofocus system becomes the output that becomes the best image plane of the projection optical system. Substrate stage WS via MS2
Is moved along the y direction, and the position P ″ where the image of the test pattern TP at the position P′1 on the test mask TR is formed is formed.
The aerial image position detector PS is set to 1. Next, the control system C
In step S1, the position P ′ of the substrate stage WS is controlled while controlling the position of the substrate stage WS in the x direction such that the output of the detection system AF2 of the autofocus system becomes an output defocused by Δx / 2 from the best image plane of the projection optical system. The spatial image position detector P detects the defocus image of the test pattern TP formed on the
By scanning S in the y direction and the z direction, the position of the defocus image of the test pattern TP formed at the position P ″ 1 is measured.
【0050】その後、制御系CS1は、オートフォーカ
ス系の検出系AF2の出力が投影光学系の最良像面から
−Δx/2だけディフォーカスした出力となるように基
板ステージWSのx方向での位置を制御しながら、位置
P''1 に形成されるテストパターンTPのディフォーカ
ス像に対して空間像位置検出部PSをy方向およびz方
向にそれぞれ走査させて、位置P''1 に形成されるテス
トパターンTPのディフォーカス像の位置を計測する。Thereafter, the control system CS1 adjusts the position of the substrate stage WS in the x direction such that the output of the detection system AF2 of the autofocus system becomes an output defocused by -Δx / 2 from the best image plane of the projection optical system. Is controlled, the spatial image position detection unit PS scans the defocused image of the test pattern TP formed at the position P''1 in the y-direction and the z-direction, respectively. The position of the defocus image of the test pattern TP is measured.
【0051】以上の計測結果に基づいて、制御系CS1
は、これの内部の演算部にて、以下に示すように投影光
学系4の像面の位置P''1 でのy方向およびz方向テレ
セントリシティのずれ量(Gy1、Gz1)をそれぞれ算出
する。Based on the above measurement results, the control system CS1
Calculates the deviation amounts (Gy1, Gz1) of the telecentricity in the y-direction and the z-direction at the position P ″ 1 on the image plane of the projection optical system 4, respectively, as shown below, I do.
【数20】Gy1=Def(Y)/ΔX Gz1=Def(Z)/ΔX 但し、Def(Y)は投影光学系4の光軸方向でのディフ
ォーカスΔXに伴うテストパターンTPの空間像位置の
y方向での変化量、Def(Z)は投影光学系4の光軸方
向でのディフォーカスΔXに伴うテストパターンTPの
空間像位置のx方向での変化量である。Gy1 = Def (Y) / ΔX Gz1 = Def (Z) / ΔX where Def (Y) is the spatial image position of the test pattern TP due to the defocus ΔX in the optical axis direction of the projection optical system 4. The amount of change in the y direction, Def (Z), is the amount of change in the x direction of the spatial image position of the test pattern TP due to the defocus ΔX of the projection optical system 4 in the optical axis direction.
【0052】制御系CS1は、投影光学系4の像面の各
位置(P''1 、P''2 、P''3 ・・・・・P''n)に形
成されるテストパターンTPの空間像位置をy方向およ
びz方向においてそれぞれ計測することにより、各位置
(P''1 、P''2 、P''3 ・・・・・P''n)でのy方
向でのテレセントリシティのずれ量(Gy1、Gy2・・・
・・Gyn)および各位置(P''1 、P''2 、P''3 ・・
・・・P''n)でのx方向でのテレセントリシティのず
れ量(Gx1、Gx2・・・・・Gxn)を算出する。そし
て、制御系CS1は、これらのテレセントリシティのず
れ量に関する算出結果を信号処理装置CS2へ出力す
る。The control system CS1 includes a test pattern TP formed at each position (P ″ 1, P ″ 2, P ″ 3... P ″ n) on the image plane of the projection optical system 4. Are measured in the y direction and the z direction, respectively, so that the respective positions (P ″ 1, P ″ 2, P ″ 3... P ″ n) in the y direction Telecentricity deviation (Gy1, Gy2 ...
.. Gyn) and each position (P''1, P''2, P''3)
.., P ″ n) in the x direction in the telecentricity (Gx1, Gx2,..., Gxn). Then, the control system CS1 outputs a calculation result regarding the deviation amount of the telecentricity to the signal processing device CS2.
【0053】次に、信号処理装置CS2は、上記テレセ
ントリシティのずれ量に関する算出結果に基づき、前述
の式(9)および式(16)を用いることにより、y方向
でのテレセントリシティの各ずれ量(Gy1、Gy2・・・
・・Gyn)およびx方向でのテレセントリシティの各ず
れ量(Gx1、Gx2・・・・・Gxn)の値のそれぞれが小
さくなるように、ライトガイド21の射出端部分と、コ
リメーターレンズ31、フライアイレンズ32および開
口絞り33とを一体的に光軸方向あるいは光軸と直交す
る方向へ移動させるべき駆動系MS3の駆動量を算出す
る。Next, the signal processing device CS2 uses each of the above-described equations (9) and (16) based on the calculation result regarding the amount of deviation of the telecentricity to obtain each telecentricity in the y direction. The shift amount (Gy1, Gy2 ...
... Gxn) and the collimator lens 31 so that the value of each of the deviation amounts (Gx1, Gx2,... Gxn) of the telecentricity in the x direction becomes smaller. Then, the drive amount of the drive system MS3 for moving the fly-eye lens 32 and the aperture stop 33 integrally in the optical axis direction or the direction orthogonal to the optical axis is calculated.
【0054】具体的には、信号処理装置CS2は、制御
系CS1からの出力情報(y方向でのテレセントリシテ
ィの各ずれ量(Gy1、Gy2・・・・・Gyn)およびx方
向でのテレセントリシティの各ずれ量(Gx1、Gx2・・
・・・Gxn))に基づいて、以下に示すIの値が最小値
となるときのA、B、Cの定数を算出する。More specifically, the signal processing device CS2 outputs the output information from the control system CS1 (each deviation amount (Gy1, Gy2... Gyn) of the telecentricity in the y direction and the telecommunication in the x direction). Centricity deviation (Gx1, Gx2 ...
.. Gxn)), the constants of A, B, and C when the value of I shown below becomes the minimum value are calculated.
【数21】 ∂I/∂A=0,∂I/∂B=0,∂I/∂C=0(Equation 21) ∂I / ∂A = 0, ∂I / ∂B = 0, ∂I / ∂C = 0
【0055】ここで、yk(k=1、2、3・・・・・
n)は投影光学系4の像面の各位置(P''k)に形成さ
れるテストパターンTPの空間像のy座標上での位置、
zk(k=1、2、3・・・・・n)は投影光学系4の
像面の各位置(p''k)に形成されるテストパターンT
Pの空間像のz座標上での位置である。そして、この
A、B、Cの定数は、前述の式(9)および式(16)よ
り、A=−ΔX/f2 、B=−ΔY/f、C=−ΔZ/
fで与えられるため、信号処理装置CS2は、A、B、
Cの定数を算出した後、A=−ΔX/f2 、B=−ΔY
/fおよびC=−ΔZ/fの式に基づいて、ライトガイ
ド21の射出端部分と、コリメーターレンズ31、フラ
イアイレンズ32および開口絞り33とを一体的に光軸
方向あるいは光軸と直交する方向へ移動させるべき駆動
系MS3の駆動量を算出する。Here, yk (k = 1, 2, 3,...)
n) is the position on the y coordinate of the aerial image of the test pattern TP formed at each position (P ″ k) on the image plane of the projection optical system 4,
zk (k = 1, 2, 3,... n) is a test pattern T formed at each position (p ″ k) on the image plane of the projection optical system 4.
This is the position on the z coordinate of the aerial image of P. The constants of A, B, and C are calculated from the above-described equations (9) and (16) as A = −ΔX / f 2 , B = −ΔY / f, and C = −ΔZ /
f, the signal processing device CS2 includes A, B,
After calculating the constant of C, A = −ΔX / f 2 , B = −ΔY
/ F and C = −ΔZ / f, the exit end portion of the light guide 21 and the collimator lens 31, the fly-eye lens 32, and the aperture stop 33 are integrally integrated in the optical axis direction or orthogonal to the optical axis. The drive amount of the drive system MS3 to be moved in the direction to be moved is calculated.
【0056】駆動系MS3は、信号処理装置CS2から
の出力信号に基づいて、ライトガイド21の射出端部分
と、コリメーターレンズ31、フライアイレンズ32お
よび開口絞り33とを一体的に光軸方向あるいは光軸と
直交する方向へ所定量だけ移動させる。これによって、
投影光学系4の像面上では良好なるテレセントリシティ
が保証される。以上のテレセントリシティの調整の動作
が完了した後、投影光学系4の物体面に配置されている
テストパターンTPを露光用の所定のパターンが形成さ
れた露光用マスクRに交換して、露光用マスクR上の露
光用の所定のパターンを投影光学系4を介して感光性基
板上に投影する。これによって、良好なる半導体素子や
液晶表示素子を製造することができる。The drive system MS3 integrally connects the exit end of the light guide 21, the collimator lens 31, the fly-eye lens 32 and the aperture stop 33 in the optical axis direction based on the output signal from the signal processing device CS2. Alternatively, it is moved by a predetermined amount in a direction orthogonal to the optical axis. by this,
Good telecentricity is guaranteed on the image plane of the projection optical system 4. After the above operation of adjusting the telecentricity is completed, the test pattern TP disposed on the object plane of the projection optical system 4 is replaced with an exposure mask R on which a predetermined pattern for exposure is formed, and the exposure is performed. A predetermined pattern for exposure on the mask R is projected onto the photosensitive substrate via the projection optical system 4. Thereby, good semiconductor elements and liquid crystal display elements can be manufactured.
【0057】図3は、本発明の第2実施例にかかる照明
光学装置の構成を概略的に示す図である。第2実施例に
おいても、第1実施例と同様に、照明光学装置を半導体
素子や液晶表示素子などの製造のための投影露光装置に
適用した例を示している。しかしながら、第2実施例で
は、3つの光源からの光束に基づいて1つの被照射面R
上の4つの領域を照明するために、3つの光供給系1a
〜1cと、4つの照明光学系3a〜3dと、4つの投影
光学系4a〜4dとを備えている。なお、光供給系1a
〜1cは第1実施例の光供給系1と、照明光学系3a〜
3dは第1実施例の照明光学系3と、投影光学系4a〜
4dは第1実施例の投影光学系4とそれぞれ同様の構成
を有する。以下、第1実施例との相違点に着目して、第
2実施例の説明を行う。FIG. 3 is a diagram schematically showing a configuration of an illumination optical device according to a second embodiment of the present invention. In the second embodiment, as in the first embodiment, an example in which the illumination optical device is applied to a projection exposure apparatus for manufacturing a semiconductor element, a liquid crystal display element, or the like is shown. However, in the second embodiment, one illuminated surface R based on the light fluxes from the three light sources is used.
In order to illuminate the above four areas, three light supply systems 1a
1c, four illumination optical systems 3a to 3d, and four projection optical systems 4a to 4d. The light supply system 1a
1c are the light supply system 1 of the first embodiment and the illumination optical systems 3a to 3c.
3d is the illumination optical system 3 of the first embodiment and the projection optical systems 4a to 4d.
4d has the same configuration as the projection optical system 4 of the first embodiment. The second embodiment will be described below, focusing on the differences from the first embodiment.
【0058】図3の照明光学装置では、楕円鏡12a〜
12cの第1焦点位置に位置決めされた光源11a〜1
1cからの光束が、楕円鏡12a〜12cの第2焦点位
置A1〜A3に光源像をそれぞれ形成する。位置A1〜
A3に形成された光源像からの光束は、位置A1〜A3
に入射端面を有する多分岐ライトガイド22に入射す
る。多分岐ライトガイド22は、光源の個数(本実施例
では3つ)と同数の入射端と照明光学系の個数(本実施
例では4つ)と同数の射出端とを有し、各入射端に入射
した光束を各射出端へ分配する機能を有する。こうし
て、多分岐ライトガイド22の射出端面B1〜B4に
は、二次光源がそれぞれ形成される。多分岐ライトガイ
ド22の射出端面B1〜B4に形成された二次光源から
の光束は、後続する照明光学系3a〜3dにそれぞれ供
給される。In the illumination optical device shown in FIG.
Light sources 11a to 1c positioned at the first focal position 12c
The light beams from 1c form light source images at the second focal positions A1 to A3 of the elliptical mirrors 12a to 12c, respectively. Position A1
The luminous flux from the light source image formed at A3 is divided into positions A1 to A3.
To the multi-branch light guide 22 having an incident end face. The multi-branch light guide 22 has the same number of entrance ends as the number of light sources (three in this embodiment) and the same number of exit ends as the number of illumination optical systems (four in this embodiment). Has a function of distributing a light beam incident on the light emitting end to each of the exit ends. In this way, secondary light sources are formed on the emission end faces B1 to B4 of the multi-branch light guide 22, respectively. Light beams from the secondary light sources formed on the emission end surfaces B1 to B4 of the multi-branch light guide 22 are supplied to the following illumination optical systems 3a to 3d, respectively.
【0059】前述したように、照明光学系3a〜3dは
第1実施例の照明光学系3と同様の構成を有し、互いに
並列に配置されている。したがって、多分岐ライトガイ
ド22の射出端面B1〜B4に形成された二次光源から
の光束は、リレー光学系31a〜31dを介して平行光
束に変換され、フライアイレンズ32a〜32dの入射
端面C1〜C4にそれぞれ入射する。こうして、フライ
アイレンズ32a〜32dの射出端面Dには、多数の光
源像がそれぞれ形成される。フライアイレンズ32a〜
32dの射出端面Dに形成された多数の光源像からの光
束は、円形開口絞り33a〜32dにより制限された
後、コンデンサーレンズ系34a〜34dにそれぞれ入
射する。As described above, the illumination optical systems 3a to 3d have the same configuration as the illumination optical system 3 of the first embodiment, and are arranged in parallel with each other. Therefore, the light beams from the secondary light sources formed on the exit end surfaces B1 to B4 of the multi-branch light guide 22 are converted into parallel light beams via the relay optical systems 31a to 31d, and the incident end surfaces C1 of the fly-eye lenses 32a to 32d. To C4. Thus, a large number of light source images are respectively formed on the emission end faces D of the fly-eye lenses 32a to 32d. Fly eye lens 32a ~
Light beams from a large number of light source images formed on the exit end face D of the 32d are restricted by the circular aperture stops 33a to 32d, and then enter the condenser lens systems 34a to 34d, respectively.
【0060】コンデンサーレンズ系34a〜34dを介
した光束は、被照射面R上の4つの領域をそれぞれ重畳
的に照射し、被照射面R上の各照明領域における照度分
布が良好な均一性を示すことになる。照明光学系3a〜
3dによって均一照明された被照射面R上の4つの照明
領域には回路パターンが形成されている。したがって、
被照射面R上の4つの照明領域を透過した光は、投影光
学系4a〜4dを介して、被照射面Rと共役な位置に配
置された被露光基板の露光面W上の4つの露光領域に回
路パターン像をそれぞれ形成する。なお、前述したよう
に、投影光学系4a〜4dは、第1実施例の投影光学系
4と同様の構成を有し、それぞれ像側にテレセントリッ
クに構成されている。The light beams passing through the condenser lens systems 34a to 34d irradiate the four regions on the surface R to be irradiated with each other in a superimposed manner, and the illuminance distribution in each illumination region on the surface R to be irradiated has good uniformity. Will show. Illumination optical system 3a-
Circuit patterns are formed in four illumination regions on the irradiation target surface R uniformly illuminated by 3d. Therefore,
The light transmitted through the four illumination regions on the irradiation target surface R is transmitted through the projection optical systems 4a to 4d to the four exposures on the exposure surface W of the exposure target substrate arranged at a position conjugate with the irradiation target surface R. A circuit pattern image is formed in each area. As described above, the projection optical systems 4a to 4d have the same configuration as the projection optical system 4 of the first embodiment, and are each configured to be telecentric on the image side.
【0061】さて、照明光学系3a〜3d内のフライア
イレンズ32a〜32dの入射面C1〜C4に入射する
光束の光強度分布に対応して、露光面Wの各露光領域に
おいてテレセントリシティに崩れが生じることは、図1
を参照した第1実施例において説明した通りである。そ
こで、第2実施例においても、露光面Wの各露光領域に
おけるテレセントリシティの不満足量に応じて、照明光
学系3a〜3dにおいて最適なテレセントリシティの補
正を行う。前述したように、照明光学系3a〜3dおよ
び投影光学系4a〜4dは互いに同じ構成を有するの
で、照明光学系3aと投影光学系3aとに着目してテレ
セントリシティの補正を説明する。Now, in accordance with the light intensity distribution of the light beam incident on the entrance surfaces C1 to C4 of the fly-eye lenses 32a to 32d in the illumination optical systems 3a to 3d, the telecentricity in each exposure area of the exposure surface W is increased. Collapse occurs as shown in FIG.
As described in the first embodiment. Therefore, in the second embodiment as well, optimal correction of the telecentricity is performed in the illumination optical systems 3a to 3d according to the unsatisfactory amount of the telecentricity in each exposure area of the exposure surface W. As described above, since the illumination optical systems 3a to 3d and the projection optical systems 4a to 4d have the same configuration, the correction of the telecentricity will be described focusing on the illumination optical system 3a and the projection optical system 3a.
【0062】まず、照明光学系3aに対応する露光面W
上の露光領域に残存するテレセントリシティの不満足量
ΔVyおよびΔVzに応じて、テレセントリシティを補
正するのに最適な移動量を式(9)および式(16)から
求める。そして、多分岐ライトガイド22の射出端部分
(すなわち二次光源)とコリメータレンズ31aとフラ
イアイレンズ32aと円形開口絞り33aとを、求めた
移動量だけ一体的に移動させることにより、良好なテレ
セントリシティを得ることができる。このとき、フライ
アイレンズ32aを含む部分系の移動に際して被照射面
Rの対応する照明領域および露光面Wの対応する露光領
域での照度分布が変化することがないので、照度分布の
良好な均一性を損なうことなくテレセントリシティの補
正を行うことができる。また、式(9)および(16)に
示すように、光量重心の変位量はフライアイレンズ32
aの移動量にほぼ比例するので、テレセントリシティの
補正に関する作業は容易になる。First, the exposure surface W corresponding to the illumination optical system 3a
The optimum moving amount for correcting the telecentricity is obtained from Expressions (9) and (16) according to the unsatisfied amounts of telecentricity ΔVy and ΔVz remaining in the upper exposure area. By moving the exit end portion of the multi-branch light guide 22 (that is, the secondary light source), the collimator lens 31a, the fly-eye lens 32a, and the circular aperture stop 33a integrally by the obtained moving amount, a good telephoto is obtained. You can get Centricity. At this time, when the subsystem including the fly-eye lens 32a moves, the illuminance distribution in the corresponding illumination area on the irradiation target surface R and the corresponding exposure area on the exposure surface W does not change. Telecentricity can be corrected without impairing the performance. Further, as shown in Expressions (9) and (16), the displacement of the center of gravity of the light quantity is
Since it is almost proportional to the movement amount of “a”, the work related to the correction of the telecentricity becomes easy.
【0063】こうして、他のフライアイレンズ32b〜
32dに対応する照明領域および露光領域においても、
照度分布の良好な均一性を損なうことなくテレセントリ
シティの補正をそれぞれ個別に行うことができる。ま
た、図1に基づいて説明した如く、ライトガイド22の
射出端部分(B1〜B4)と、コリメーターレンズ(3
1a〜31d)、オプティカルインテグレータとしての
フライアイレンズ(32a〜32d)および開口絞り
(33、33a〜33d)との光軸方向あるいは光軸と
直交する方向への一体的な移動を自動的に行う構成とし
てもよいことは言うまでもない。Thus, the other fly-eye lenses 32b to 32b
In the illumination area and the exposure area corresponding to 32d,
The correction of the telecentricity can be performed individually without deteriorating the good uniformity of the illuminance distribution. Further, as described with reference to FIG. 1, the exit end portions (B1 to B4) of the light guide 22 and the collimator lens (3
1a to 31d), the fly-eye lenses (32a to 32d) as optical integrators and the aperture stop (33, 33a to 33d) are automatically moved integrally with each other in the optical axis direction or the direction orthogonal to the optical axis. Needless to say, the configuration may be adopted.
【0064】なお、第2実施例では3つの光供給系1a
〜1cが互いに同じ構成を有するが、各光供給系が互い
に異なる構成を有するように設定してもよい。また、光
供給系の数は、3つに限定されることはない。同様に、
照明光学系3a〜3dおよび投影光学系4a〜4dが互
いに同じ構成を有するが、各照明光学系および各投影光
学系が互いに異なる構成を有するように設定してもよ
い。さらに、照明光学系および投影光学系数は、4つに
限定されることはない。また、上述の各実施例では、本
発明を投影露光装置のための照明光学装置に適用した例
を示しているが、他の適当な照明光学装置に本発明を適
用することもできる。In the second embodiment, three light supply systems 1a
To 1c have the same configuration, but each light supply system may be set to have a different configuration. Further, the number of light supply systems is not limited to three. Similarly,
The illumination optical systems 3a to 3d and the projection optical systems 4a to 4d have the same configuration, but each illumination optical system and each projection optical system may be set to have different configurations. Furthermore, the number of illumination optical systems and projection optical systems is not limited to four. Further, in each of the above embodiments, an example is shown in which the present invention is applied to an illumination optical device for a projection exposure apparatus. However, the present invention can be applied to other appropriate illumination optical devices.
【0065】以上の各実施例においては、ライトガイド
(21、22)の射出端部分と、コリメーターレンズ
(31、31a〜31d)、オプチカルインテグレータ
としてのフライアイレンズ(32、32a〜32d)お
よび開口絞り(33、33a〜33d)とを一体的に光
軸方向あるいは光軸と直交する方向へ移動させる例を示
したが、開口絞り(33、33a〜33d)を移動させ
ることは本発明において必須のものではない。つまり、
開口絞り(33、33a〜33d)は、照明光学系の瞳
上での光束径を正確に規定するものであり、照明光学系
を構成する光学部材の有効径によって照明光学系の瞳を
ほぼ正確に規定している場合には開口絞り(33、33
a〜33d)の構成を不要とすることができるためであ
る。In each of the above embodiments, the light emitting end portions of the light guides (21, 22), the collimator lenses (31, 31a to 31d), the fly-eye lenses (32, 32a to 32d) as optical integrators, and Although the example in which the aperture stops (33, 33a to 33d) are integrally moved in the optical axis direction or the direction orthogonal to the optical axis has been described, moving the aperture stops (33, 33a to 33d) is not limited to the present invention. Not required. That is,
The aperture stops (33, 33a to 33d) accurately define the light beam diameter on the pupil of the illumination optical system, and the pupil of the illumination optical system is almost accurately determined by the effective diameter of the optical member constituting the illumination optical system. In the case of the aperture stop (33, 33).
This is because the configurations a to 33d) can be omitted.
【0066】[0066]
【効果】以上説明したように、本発明によれば、テレセ
ントリシティのずれを補正するためにフライアイレンズ
を移動させてもフライアイレンズに入射する光束の強度
分布が不変であるため、被照射面での照度分布の均一性
を損なうことなく、テレセントリシティの補正を良好に
行うことができる。また、フライアイレンズに入射する
光束の強度分布が不変であるため、光束の光量重心の変
位量をフライアイレンズの移動量にほぼ比例させること
ができるので、テレセントリシティの補正に関する作業
性が向上する。As described above, according to the present invention, even if the fly-eye lens is moved to correct the deviation of the telecentricity, the intensity distribution of the luminous flux incident on the fly-eye lens is invariable. Correction of telecentricity can be performed satisfactorily without impairing the uniformity of the illuminance distribution on the irradiation surface. In addition, since the intensity distribution of the light beam incident on the fly-eye lens is invariable, the displacement of the center of gravity of the light beam can be made almost proportional to the amount of movement of the fly-eye lens. improves.
【図1】本発明の第1実施例にかかる照明光学装置の構
成を概略的に示す図である。FIG. 1 is a view schematically showing a configuration of an illumination optical device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】(a)は図1のフライアイレンズ32を構成す
る各レンズエレメント32aの構成を示す斜視図であ
り、(b)は図1のフライアイレンズ32の入射端面C
における光強度分布を示す図である。2A is a perspective view showing the configuration of each lens element 32a constituting the fly-eye lens 32 of FIG. 1, and FIG. 2B is a perspective view showing the incident end face C of the fly-eye lens 32 of FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a light intensity distribution in FIG.
【図3】本発明の第2実施例にかかる照明光学装置の構
成を概略的に示す図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing a configuration of an illumination optical device according to a second embodiment of the present invention.
【図4】図1の空間像位置検出部PSの内部構成を概略
的に示す図である。FIG. 4 is a diagram schematically showing an internal configuration of a spatial image position detecting unit PS in FIG. 1;
【図5】図4の平行平面板100の表面に形成されたL
字型のナイフエッジパターンを示す図である。FIG. 5 is a view showing an L formed on the surface of a plane parallel plate 100 of FIG. 4;
It is a figure which shows a character-shaped knife edge pattern.
【図6】基板Wの表面上に形成されるテストパターンT
Pの像のy方向に沿った強度分布を示す図である。FIG. 6 shows a test pattern T formed on the surface of a substrate W.
It is a figure which shows the intensity distribution along the y direction of the image of P.
【図7】空間像位置検出部PSで得られるテストパター
ンTPの像のy方向に沿った積算光量分布を示す図であ
る。FIG. 7 is a diagram illustrating an integrated light amount distribution along the y direction of an image of a test pattern TP obtained by a spatial image position detection unit PS.
【図8】空間像位置検出部PSからの出力信号を微分演
算することにより得られる信号を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a signal obtained by differentiating an output signal from the aerial image position detection unit PS.
1 光供給系 3 照明光学系 4 投影光学系 11 光源 12 楕円鏡 21 ライトガイド 22 多分岐ライトガイド 31 コリメータレンズ 32 フライアイレンズ 33 円形開口絞り 34、35 コンデンサーレンズ系 R マスク RS マスクステージ W 基板 WS 基板ステージ PS 空間像位置検出部 CS1 制御系 CS2 信号処理装置 Reference Signs List 1 light supply system 3 illumination optical system 4 projection optical system 11 light source 12 elliptical mirror 21 light guide 22 multi-branch light guide 31 collimator lens 32 fly-eye lens 33 circular aperture stop 34, 35 condenser lens system R mask RS mask stage W substrate WS Substrate stage PS Spatial image position detector CS1 Control system CS2 Signal processor
Claims (5)
を形成するための多光源像形成手段と、 前記多光源像形成手段を介して形成された前記多数の光
源像からの光束を集光して被照射面をテレセントリック
に照明するためのコンデンサー光学系と、 前記光源の位置と前記多光源像形成手段を介して形成さ
れる前記多数の光源像の位置とを共役にするためのリレ
ー光学系とを備え、 前記被照射面での照度分布の均一性を損なうことなく、
前記多光源像形成手段への入射光束の強度分布の不均一
性に起因するテレセントリシティのずれを補正するため
に、前記光源と前記リレー光学系と前記多光源像形成手
段とは光軸方向または光軸に垂直な方向に沿って一体的
に移動可能であることを特徴とする照明光学装置。1. A multi-source image forming means for forming a plurality of light source images based on a light beam from a light source, and a light beam from the plurality of light source images formed via the multi-source image forming means. A condenser optical system for illuminating the irradiated surface in a telecentric manner by illuminating, and a relay for conjugating the position of the light source and the positions of the multiple light source images formed via the multiple light source image forming means An optical system, without impairing the uniformity of the illuminance distribution on the irradiated surface,
The light source, the relay optical system, and the multiple light source image forming unit are arranged in an optical axis direction in order to correct a shift in telecentricity caused by non-uniformity of an intensity distribution of a light beam incident on the multiple light source image forming unit. Alternatively, the illumination optical device is capable of integrally moving along a direction perpendicular to the optical axis.
成するための二次光源形成手段と、 前記二次光源形成手段を介して形成された前記二次光源
からの光束に基づいて多数の光源像を形成するための多
光源像形成手段と、 前記多光源像形成手段を介して形成された前記多数の光
源像からの光束を集光して被照射面をテレセントリック
に照明するためのコンデンサー光学系と、 前記二次光源形成手段を介して形成される前記二次光源
の位置と前記多光源像形成手段を介して形成される前記
多数の光源像の位置とを共役にするためのリレー光学系
とを備え、 前記被照射面での照度分布の均一性を損なうことなく、
前記多光源像形成手段への入射光束の強度分布の不均一
性に起因するテレセントリシティのずれを補正するため
に、前記二次光源と前記リレー光学系と前記多光源像形
成手段とは光軸方向または光軸に垂直な方向に沿って一
体的に移動可能であることを特徴とする照明光学装置。2. A secondary light source forming means for forming a secondary light source based on a light flux from a light source, and a plurality of light sources based on the light flux from the secondary light source formed via the secondary light source forming means. A multi-source image forming means for forming a light source image, and a light source for converging light fluxes from the multiple light source images formed through the multi-source image forming means to illuminate an irradiation surface telecentrically. A condenser optical system, for making the position of the secondary light source formed via the secondary light source forming means and the position of the multiple light source images formed via the multi-light source image forming means conjugate. With a relay optical system, without impairing the uniformity of the illuminance distribution on the irradiated surface,
The secondary light source, the relay optical system, and the multi-source image forming unit are configured to emit light in order to correct a shift in telecentricity caused by non-uniformity of the intensity distribution of the light beam incident on the multi-source image forming unit. An illumination optical device, which is integrally movable along an axial direction or a direction perpendicular to an optical axis.
と、前記光源からの光束に基づいて前記ライトガイドの
入射端に光源像を形成するための光源像形成手段とを有
し、 前記二次光源は前記ライトガイドの射出端に形成される
ことを特徴とする請求項2に記載の照明光学装置。3. The secondary light source forming means includes: a light guide; and a light source image forming means for forming a light source image at an incident end of the light guide based on a light beam from the light source. The illumination optical device according to claim 2, wherein the secondary light source is formed at an exit end of the light guide.
基づいて複数の二次光源を形成するための二次光源形成
手段と、 前記二次光源形成手段を介して形成された前記複数の二
次光源の各々からの光束に基づいて多数の光源像をそれ
ぞれ形成するための複数の多光源像形成手段と、 前記複数の多光源像形成手段の各々を介してそれぞれ形
成された前記多数の光源像からの光束を集光して被照射
面の各領域をテレセントリックに照明するための複数の
コンデンサー光学系と、 前記二次光源形成手段を介して形成される前記複数の二
次光源の各々の位置と前記複数の多光源像形成手段の各
々を介してそれぞれ形成される前記多数の光源像の位置
とをそれぞれ共役にするための複数のリレー光学系とを
備え、 前記被照射面の各領域での照度分布の均一性を損なうこ
となく、各光源像形成手段への入射光束の強度分布の不
均一性に起因するテレセントリシティのずれを補正する
ために、互いに対応する各二次光源と各リレー光学系と
各多光源像形成手段とは光軸方向または光軸に垂直な方
向に沿って一体的にそれぞれ移動可能であることを特徴
とする照明光学装置。4. A secondary light source forming means for forming a plurality of secondary light sources based on light fluxes from one or more light sources, and the plurality of secondary light sources formed via the secondary light source forming means. A plurality of light source image forming means for respectively forming a plurality of light source images based on the light flux from each of the secondary light sources; and the plurality of light source images formed via each of the plurality of light source image forming means. A plurality of condenser optical systems for condensing a light beam from the light source image and telecentricly illuminating each area of the irradiated surface, and a plurality of secondary light sources formed via the secondary light source forming means. A plurality of relay optical systems for conjugate each position and the positions of the plurality of light source images formed via each of the plurality of light source image forming means, respectively, Of illuminance distribution in each area Without compromising the uniformity, in order to correct the deviation of the telecentricity caused by the non-uniformity of the intensity distribution of the light beam incident on each light source image forming means, each secondary light source and each relay optical system corresponding to each other An illumination optical device, wherein each of the multiple light source image forming means is integrally movable along an optical axis direction or a direction perpendicular to the optical axis.
且つ前記複数の多光源像形成手段と同数の射出端を有す
る多分岐ライトガイドと、 前記1つまたは2つ以上の光源の各々からの光束に基づ
いて前記多分岐ライトガイドの各入射端に光源像を形成
するための前記1つまたは2つ以上の光源と同数の光源
像形成手段とを備え、 各二次光源は、前記多分岐ライトガイドの各射出端に形
成されることを特徴とする請求項4に記載の照明光学装
置。5. The secondary light source forming means has the same number of incident ends as the one or more light sources,
A multi-branch light guide having the same number of exit ends as the plurality of multi-light source image forming means; and a light source at each of the entrance ends of the multi-branch light guide based on the light flux from each of the one or more light sources. The image forming apparatus further comprises one or more light sources for forming an image and the same number of light source image forming means, and each secondary light source is formed at each emission end of the multi-branch light guide. The illumination optical device according to claim 4.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8355200A JPH10189428A (en) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | Illumination optical apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP8355200A JPH10189428A (en) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | Illumination optical apparatus |
Publications (1)
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---|---|
JPH10189428A true JPH10189428A (en) | 1998-07-21 |
Family
ID=18442533
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
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1996
- 1996-12-20 JP JP8355200A patent/JPH10189428A/en active Pending
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