JPH10188877A - Inductively coupled plasma mass spectrometry device - Google Patents

Inductively coupled plasma mass spectrometry device

Info

Publication number
JPH10188877A
JPH10188877A JP8343104A JP34310496A JPH10188877A JP H10188877 A JPH10188877 A JP H10188877A JP 8343104 A JP8343104 A JP 8343104A JP 34310496 A JP34310496 A JP 34310496A JP H10188877 A JPH10188877 A JP H10188877A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
spray chamber
gas
blend
cleaning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8343104A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3686198B2 (en
Inventor
Yoshitoshi Amano
俊寿 天野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Analytical Systems Inc
Original Assignee
Yokogawa Analytical Systems Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Analytical Systems Inc filed Critical Yokogawa Analytical Systems Inc
Priority to JP34310496A priority Critical patent/JP3686198B2/en
Publication of JPH10188877A publication Critical patent/JPH10188877A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3686198B2 publication Critical patent/JP3686198B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform sample switching in a short time and enable sample saving without leaving a previous analysis sample in a chamber by providing washing means for introducing a washing liquid in a spray chamber. SOLUTION: A liquid specimen 32 from a sample tank 31 and a carrier gas 34 via a gas flow rate control unit 33 are introduced into a nebulizer 35, and the liquid sample 32 is nebulized. A four-way cock 63 of washing means 60 is switched at one position, a carrier gas 34 and a same or different type of gas 52 are introduced into a spray chamber 36 via a blend gas line 51. When analysis of the sample 32 is completed, the four-way cock 63 of the washing means 60 is switched to another position to analyze a different specimen. A gas 52 is guided to a sealing tank 61, the washing water therein is introduced into the spray chamber 36, and the inside of the spray chamber 36 is washed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、キャリアガス,液
体の試料が導入され、前記試料を霧化するネブライザー
と、前記ネブライザーからの霧化された試料を導入し、
前記霧化された試料のうち粒径の大きな霧を凝縮し、凝
縮液を外部へ排出するスプレーチャンバーとを具備する
誘導結合プラズマ質量分析装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a nebulizer for introducing a sample of a carrier gas or a liquid and atomizing the sample, and introducing an atomized sample from the nebulizer.
The present invention relates to an inductively coupled plasma mass spectrometer comprising a spray chamber for condensing a mist having a large particle diameter in the atomized sample and discharging the condensate to the outside.

【0002】[0002]

【従来の技術】次に、図面を用いて従来例を説明する。
図3は従来の誘導結合プラズマ質量分析装置の構成図で
ある。
2. Description of the Related Art Next, a conventional example will be described with reference to the drawings.
FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional inductively coupled plasma mass spectrometer.

【0003】図において、1は液体の試料2が貯留され
る試料タンクである。3はキャリアガス(例えば、Ar)4
の流量を制御するガス流量制御部である。5はガス流量
制御部3からのキャリアガス4と、試料タンク1からの
液体の試料2とが導入され、試料2を霧化するネブライ
ザーである。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a sample tank in which a liquid sample 2 is stored. 3 is a carrier gas (for example, Ar) 4
It is a gas flow control unit for controlling the flow rate of the gas. Reference numeral 5 denotes a nebulizer into which the carrier gas 4 from the gas flow controller 3 and the liquid sample 2 from the sample tank 1 are introduced, and the sample 2 is atomized.

【0004】6はネブライザー5にアダプター7を介し
て取り付けられ、霧化された試料2のうち、粒径の大き
な霧を凝縮し、凝縮液をドレイン穴6aより外部へ排出
するスプレーチャンバーである。
A spray chamber 6 is attached to the nebulizer 5 via an adapter 7 and condenses mist having a large particle diameter in the atomized sample 2, and discharges the condensed liquid to the outside through the drain hole 6a.

【0005】8はスプレーチャンバー6のドレイン穴6
aから排出された試料2の凝縮液を貯留するドレインタ
ンクである。9はスプレーチャンバー6で霧化された試
料と、ガス流量制御部3からのキャリアガス4とが導入
され、高周波電源10からの電流が供給されるワークコ
イル11によって発生する誘導結合プラズマ(ICP)12
によって、試料2をイオン化するプラズマトーチであ
る。
[0005] 8 is a drain hole 6 of the spray chamber 6
This is a drain tank for storing the condensed liquid of the sample 2 discharged from a. Reference numeral 9 denotes an inductively coupled plasma (ICP) generated by a work coil 11 to which a sample atomized in a spray chamber 6 and a carrier gas 4 from a gas flow control unit 3 are introduced and a current is supplied from a high frequency power supply 10. 12
Is a plasma torch for ionizing the sample 2.

【0006】13は元素の質量の違いを利用して、イオ
ン化した試料2中の元素及び各元素濃度を求める質量分
析部である。
Reference numeral 13 denotes a mass spectrometer for obtaining the elements in the ionized sample 2 and the concentration of each element by utilizing the difference in the mass of the elements.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記構成の誘
導結合プラズマ質量分析装置において、試料2を分析す
る場合、前回分析した試料2′がスプレーチャンバー6
内に残留しているので、最初は、前回分析した試料2′
の分析結果が出てくる(メモリー効果)。
However, when the sample 2 is analyzed in the inductively coupled plasma mass spectrometer having the above-described structure, the sample 2 'analyzed last time is sprayed by the spray chamber 6.
First, sample 2 'analyzed last time
The result of the analysis comes out (memory effect).

【0008】よって、スプレーチャンバー6内に残留し
ている前回分析した試料2′が、今回分析する試料2と
完全に置換されるまで、ネブライザー5へ試料2を導入
し続けなければならない問題点がある。
Therefore, there is a problem that the sample 2 must be continuously introduced into the nebulizer 5 until the previously analyzed sample 2 'remaining in the spray chamber 6 is completely replaced with the sample 2 to be analyzed this time. is there.

【0009】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、短時間で試料切替が行え、試料を節
約できる誘導結合プラズマ質量分析装置を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an inductively coupled plasma mass spectrometer capable of switching samples in a short time and saving samples.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決する請求
項1記載の発明は、キャリアガス,液体の試料が導入さ
れ、前記試料を霧化するネブライザーと、前記ネブライ
ザーからの霧化された試料を導入し、前記霧化された試
料のうち粒径の大きな霧を凝縮し、凝縮液を外部へ排出
するスプレーチャンバーとを具備する誘導結合プラズマ
質量分析装置において、前記スプレーチャンバー内へ洗
浄液を導入する洗浄手段を設けたことを特徴とする誘導
結合プラズマ質量分析装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a nebulizer for introducing a sample of a carrier gas or a liquid and atomizing the sample, and an atomized sample from the nebulizer. And an inductively coupled plasma mass spectrometer comprising a spray chamber for condensing a large particle size mist of the atomized sample and discharging the condensate to the outside, wherein a cleaning liquid is introduced into the spray chamber. An inductively coupled plasma mass spectrometer is provided with a cleaning means for performing the following.

【0011】試料分析後、洗浄手段によって洗浄液をス
プレーチャンバー内へ導入し、スプレーチャンバー内の
残留試料をスプレーチャンバー外部へ排出する。洗浄液
でスプレーチャンバー内の残留試料を洗い流すことによ
り、次回の分析を行う際に、前回行った分析の残留試料
を置換するまで試料を導入する必用が無くなり、短時間
で試料切替が行うことができ、更に、試料の節約もでき
る。
After the sample analysis, a washing solution is introduced into the spray chamber by the washing means, and the remaining sample in the spray chamber is discharged outside the spray chamber. By washing away the residual sample in the spray chamber with the washing liquid, the next analysis does not require the introduction of the sample until the residual sample from the previous analysis is replaced, and the sample can be switched in a short time. In addition, the sample can be saved.

【0012】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明における前記洗浄手段は、前記スプレイチャンバー内
の前記ネブライザー側の端部まで洗浄することを特徴と
する誘導結合プラズマ質量分析装置である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the inductively coupled plasma mass spectrometer according to the first aspect of the present invention, wherein the cleaning means cleans an end of the spray chamber on the nebulizer side. .

【0013】ネブライザー側の端部まで洗浄することに
より、非常に短時間で試料切替が行える。請求項3記載
の発明は、請求項1又は2記載の発明において、前記ス
プレーチャンバーが接続され、前記スプレーチャンバー
へ前記キャリアガスと同一又は異なる種類のガスを導入
するブレンドガスラインを設け、前記洗浄手段を前記洗
浄液が貯留される密閉タンクと、前記ブレンドガスライ
ン中に設けられ、一方の位置に切り替えると前記ブレン
ドガスラインを流れるガスをストレートに通し、他方の
位置に切り替えると前記ブレンドガスラインを流れるガ
スを前記密閉タンク内へ導き、前記密閉タンク内の洗浄
液を前記ブレンドガスラインへ送出する切替手段とで構
成したことを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置
である。
By cleaning up to the end on the nebulizer side, sample switching can be performed in a very short time. The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2, wherein the spray chamber is connected, and a blend gas line for introducing a gas of the same or different type as the carrier gas into the spray chamber is provided, and the cleaning is performed. A means is provided in the closed tank in which the cleaning liquid is stored, and in the blend gas line, when switching to one position, the gas flowing through the blend gas line is passed straight, and when switching to the other position, the blend gas line is switched. A switching means for guiding a flowing gas into the closed tank and sending a cleaning liquid in the closed tank to the blend gas line.

【0014】切替手段を一方の位置に切り替えると、ブ
レンドガスライン内を流れるキャリアガスと同一又は異
なるガスがスプレーチャンバー内へ導入される。切替手
段を他方の位置へ切り替えると、ブレンドガスライン内
を流れるキャリアガスと同一又は異なるガスが密閉タン
ク内へ導かれ、密閉タンク内の洗浄液がブレンドガスラ
インを介してスプレーチャンバー内へ導入され、スプレ
ーチャンバー内の残留試料がスプレーチャンバー外部へ
排出される。
When the switching means is switched to one position, the same or different gas as the carrier gas flowing in the blend gas line is introduced into the spray chamber. When the switching means is switched to the other position, the same or different gas as the carrier gas flowing in the blend gas line is guided into the sealed tank, and the cleaning liquid in the sealed tank is introduced into the spray chamber via the blend gas line, The residual sample in the spray chamber is discharged out of the spray chamber.

【0015】洗浄液でスプレーチャンバー内の残留試料
を洗い流すことにより、次回の分析を行う際に、前回行
った分析の残留試料を置換するまで試料を導入する必用
が無くなり、短時間で試料切替を行うことができ、更
に、試料の節約もできる。
By washing away the residual sample in the spray chamber with the cleaning liquid, it is not necessary to introduce the sample in the next analysis until the residual sample of the previous analysis is replaced, and the sample can be switched in a short time. And also saves on samples.

【0016】更に、洗浄液をスプレーチャンバーへ導入
するラインと、ブレンドガスラインとを共用することに
より、コストダウンが図れる。請求項4記載の発明は、
請求項1乃至3のいずれかに記載の発明での洗浄液は、
純水,水溶性洗浄液のうちどちらか一方であることを特
徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置である。
Further, the cost can be reduced by sharing the line for introducing the cleaning liquid into the spray chamber and the blend gas line. The invention according to claim 4 is
The cleaning solution according to any one of claims 1 to 3,
An inductively coupled plasma mass spectrometer characterized by being one of pure water and a water-soluble cleaning liquid.

【0017】純水,水溶性洗浄液のうちどちらか一方を
用いることで、従来の手法(置換)に比べて素早い切替が
可能となる。また、水溶性洗浄液としては、硝酸水溶液
がある。
By using one of pure water and a water-soluble cleaning liquid, switching can be performed more quickly than in the conventional method (replacement). As the water-soluble cleaning solution, there is a nitric acid aqueous solution.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に図面を用いて本発明の実施の
形態を説明する。 (1) 第1の実施の形態例 図1は本発明の第1の実施の形態例の構成図である。図
において、31は液体の試料32が貯留される試料タン
クである。33はキャリアガス34の流量を制御するガ
ス流量制御部である。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. (1) First Embodiment FIG. 1 is a configuration diagram of a first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 31 denotes a sample tank in which a liquid sample 32 is stored. Reference numeral 33 denotes a gas flow controller that controls the flow rate of the carrier gas 34.

【0019】35はガス流量制御部33からのキャリア
ガス34と、試料タンク31からの液体の試料32とが
導入され、試料32を霧化するネブライザーである。3
6はネブライザー35にアダプター37を介して取り付
けられ、霧化された試料32のうち、粒径の大きな霧を
凝縮し、凝縮液をドレイン穴36aより外部へ排出する
スプレーチャンバーである。
Reference numeral 35 denotes a nebulizer into which the carrier gas 34 from the gas flow controller 33 and the liquid sample 32 from the sample tank 31 are introduced, and the sample 32 is atomized. 3
Reference numeral 6 denotes a spray chamber which is attached to the nebulizer 35 via the adapter 37, condenses the mist having a large particle diameter among the atomized samples 32, and discharges the condensed liquid to the outside through the drain hole 36a.

【0020】38はスプレーチャンバー36のドレイン
穴36aから排出された試料32の凝縮液を貯留するド
レインタンクである。39はスプレーチャンバー36で
霧化された試料と、ガス流量制御部33からのキャリア
ガス34とが導入され、高周波電源40からの電流が供
給されるワークコイル41によって発生する誘導結合プ
ラズマ(ICP)42によって、試料32をイオン化するプ
ラズマトーチである。
Reference numeral 38 denotes a drain tank for storing the condensed liquid of the sample 32 discharged from the drain hole 36a of the spray chamber 36. Reference numeral 39 denotes an inductively coupled plasma (ICP) generated by a work coil 41 to which a sample atomized in a spray chamber 36 and a carrier gas 34 from a gas flow controller 33 are introduced, and a current is supplied from a high frequency power supply 40. 42 is a plasma torch for ionizing the sample 32.

【0021】43は元素の質量の違いを利用して、イオ
ン化した試料32中の元素及び各元素濃度を求める質量
分析部である。51はスプレーチャンバー36へキャリ
アガス34と同一又は異なる種類のガス(例えば、窒素
ガス)52を導入するブレンドガスラインである。
Reference numeral 43 denotes a mass spectrometer for obtaining the elements in the ionized sample 32 and the concentration of each element by utilizing the difference in the mass of the elements. Reference numeral 51 denotes a blend gas line for introducing a gas (for example, nitrogen gas) 52 of the same or different type as the carrier gas 34 into the spray chamber 36.

【0022】ブレンドガスライン51中に設けられる洗
浄手段60は、純水や硝酸水溶液等の洗浄液62が貯留
される密閉タンク61と、ブレンドガスライン51中に
設けられ、一方の位置に切り替えるとブレンドガスライ
ン51を流れるガス52をストレートに通し、他方の位
置に切り替えるとブレンドガスライン51を流れるガス
52を密閉タンク61内へ案内し、密閉タンク61内の
洗浄液62をブレンドガスライン51を介してスプレー
チャンバー36へ送出する切替手段としての4方コック
63とで構成されている。
The cleaning means 60 provided in the blend gas line 51 includes a closed tank 61 for storing a cleaning liquid 62 such as pure water or an aqueous nitric acid solution, and a cleaning tank 60 provided in the blend gas line 51. When the gas 52 flowing through the gas line 51 is passed straight through and switched to the other position, the gas 52 flowing through the blend gas line 51 is guided into the closed tank 61, and the cleaning liquid 62 in the closed tank 61 is passed through the blend gas line 51. It comprises a four-way cock 63 as a switching means for sending out to the spray chamber 36.

【0023】尚、本実施の形態例では、ブレンドガスラ
イン51の取り付けを洗浄液がスプレーチャンバー36
内のネブライザー35側の端部まで行き渡るように設け
た。次に、上記構成の作動を説明する。ネブライザー3
5には、試料タンク31からの液体の試料32と、ガス
流量制御部33を介してキャリアガス34とが導入さ
れ、液体の試料32は霧化される。
In this embodiment, the cleaning liquid is attached to the spray chamber 36 to attach the blend gas line 51.
And was provided so as to reach the end on the nebulizer 35 side. Next, the operation of the above configuration will be described. Nebulizer 3
5, a liquid sample 32 from a sample tank 31 and a carrier gas 34 are introduced via a gas flow controller 33, and the liquid sample 32 is atomized.

【0024】霧化された試料32はスプレーチャンバー
36へ導入され、霧化された試料32のうち粒径の大き
な霧は凝縮され、ドレイン穴36aを介してドレインタ
ンク38に貯留される。
The atomized sample 32 is introduced into the spray chamber 36, and the mist having a large particle diameter among the atomized sample 32 is condensed and stored in the drain tank 38 through the drain hole 36a.

【0025】このとき、洗浄手段60の4方コック63
は一方の位置に切り替えられており、ブレンドガスライ
ン51を介してキャリアガス34と同一又は異なる種類
のガス52がスプレーチャンバー36へ導入される。
At this time, the four-way cock 63 of the cleaning means 60
Is switched to one position, and a gas 52 of the same or different type as the carrier gas 34 is introduced into the spray chamber 36 via the blend gas line 51.

【0026】キャリアガス34と、霧化された試料32
と、キャリアガス34と同一又は異なる種類のガス52
とはプラズマトーチ39へ挿入され、高周波電源40か
らの電流が供給されるワークコイル41によって発生す
る誘導結合プラズマ(ICP)42によって、試料32はイ
オン化される。
The carrier gas 34 and the atomized sample 32
And a gas 52 of the same or different type as the carrier gas 34
The sample 32 is ionized by an inductively coupled plasma (ICP) 42 generated by a work coil 41 which is inserted into a plasma torch 39 and supplied with a current from a high frequency power supply 40.

【0027】イオン化された試料32は質量分析部43
で、試料32中の元素及び各元素の濃度が分析され、試
料32の分析が完了する。そして、試料32と異なる試
料32′を分析する際には、先ず、洗浄手段60の4方
コック63を他の切替位置へ操作する。すると、ガス5
2は密閉タンク61へ案内され、密閉タンク61内の洗
浄液62がブレンドガスライン51を介して、スプレー
チャンバー36へ導入され、スプレーチャンバー36内
が洗浄され、残留試料32がドレイン穴36aを介して
スプレーチャンバー36外部へ排出され、ドレインタン
ク38に貯留される。
The ionized sample 32 is supplied to the mass spectrometer 43
Then, the elements in the sample 32 and the concentrations of the respective elements are analyzed, and the analysis of the sample 32 is completed. Then, when analyzing a sample 32 ′ different from the sample 32, first, the four-way cock 63 of the cleaning means 60 is operated to another switching position. Then gas 5
2 is guided to the closed tank 61, the cleaning liquid 62 in the closed tank 61 is introduced into the spray chamber 36 through the blend gas line 51, the inside of the spray chamber 36 is cleaned, and the residual sample 32 is discharged through the drain hole 36a. It is discharged to the outside of the spray chamber 36 and stored in the drain tank 38.

【0028】その後、洗浄手段60の4方コック63を
一方の切替位置へ戻し、試料32と異なる試料32′の
分析を行う。上記構成によれば、洗浄液62でスプレー
チャンバー36内の残留試料32を洗い流すことによ
り、次回の分析を行う際に、前回行った分析の残留試料
32を置換するまで試料32′を導入する必用が無くな
り、短時間で試料切替を行うことができ、更に、試料の
節約もできる。
Thereafter, the four-way cock 63 of the cleaning means 60 is returned to one of the switching positions, and the sample 32 'different from the sample 32 is analyzed. According to the above configuration, by flushing the residual sample 32 in the spray chamber 36 with the cleaning liquid 62, when performing the next analysis, it is necessary to introduce the sample 32 'until replacing the residual sample 32 of the previous analysis. The sample can be switched in a short time, and the sample can be saved.

【0029】また、洗浄液62をスプレーチャンバー3
6へ導入するラインと、ブレンドガスライン51とを共
用することにより、コストダウンが図れる。尚、本発明
は、上記実施の形態例に限定するものではない。上記実
施の形態例では、ブレンドガスライン51を用いて、洗
浄液62をスプレーチャンバー36内へ導入するように
したが、スプレーチャンバー36へ独立した洗浄ライン
を接続し、ポンプ等で洗浄液をスプレーチャンバー36
内へ導入し、スプレーチャンバー36内の洗浄を行うよ
うにしても良い。
Further, the cleaning liquid 62 is supplied to the spray chamber 3.
The cost can be reduced by sharing the line introduced into 6 and the blend gas line 51. Note that the present invention is not limited to the above embodiment. In the above embodiment, the cleaning liquid 62 is introduced into the spray chamber 36 using the blend gas line 51. However, an independent cleaning line is connected to the spray chamber 36, and the cleaning liquid is supplied to the spray chamber 36 by a pump or the like.
The spray chamber 36 may be introduced into the spray chamber 36 to clean the inside of the spray chamber 36.

【0030】(2) 第2の実施の形態例 図2は本発明の第2の実施の形態例の構成図である。
尚、本実施の形態例と第1の実施の形態例との相違点
は、洗浄手段のみであり、他の部分は同一なので、図2
において、図1と同一部分には、同一符号を付し、それ
らの説明は省略する。
(2) Second Embodiment FIG. 2 is a configuration diagram of a second embodiment of the present invention.
The difference between this embodiment and the first embodiment is only the cleaning means, and the other parts are the same.
In FIG. 1, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

【0031】ブレンドガスライン51中に設けられる第
1洗浄手段160は、第1の洗浄液(例えば、純水)16
2が貯留される第1の密閉タンク161と、ブレンドガ
スライン51中に設けられ、一方の位置に切り替えると
ブレンドガスライン51を流れるガス52をストレート
に通し、他方の位置に切り替えるとブレンドガスライン
51を流れるガス52を第1の密閉タンク161内へ導
入し、第1の密閉タンク161内の第1の洗浄液162
がブレンドガスライン51へ送出する切替手段としての
第1の4方コック163とで構成されている。
The first cleaning means 160 provided in the blend gas line 51 is provided with a first cleaning liquid (for example, pure water) 16.
2 is stored in the first closed tank 161 and the blend gas line 51. When the switch is switched to one position, the gas 52 flowing through the blend gas line 51 is passed straight, and when the switch is switched to the other position, the blend gas line is switched. The gas 52 flowing through the first closed tank 161 is introduced into the first closed tank 161 and the first cleaning liquid 162 in the first closed tank 161 is introduced.
And a first four-way cock 163 as switching means for sending out to the blend gas line 51.

【0032】また、ブレンドガスライン51中で、第1
の洗浄手段160と直列に設けられる第2の洗浄手段2
60は、第2の洗浄液(例えば、硝酸水溶液)262が貯
留される第2の密閉タンク261と、ブレンドガスライ
ン51中に設けられ、一方の位置に切り替えるとブレン
ドガスライン51を流れるガス52をストレートに通
し、他方の位置に切り替えるとブレンドガスライン51
を流れるガス52を第2の密閉タンク261内へ導入
し、第2の密閉タンク261内の第2の洗浄液262が
ブレンドガスライン51へ送出する切替手段としての第
2の4方コック263とで構成されている。
In the blend gas line 51, the first
Second washing means 2 provided in series with the first washing means 160
Reference numeral 60 denotes a second closed tank 261 in which a second cleaning liquid (for example, nitric acid aqueous solution) 262 is stored, and a gas 52 which is provided in the blend gas line 51 and which flows through the blend gas line 51 when switched to one position. Straight through and switch to the other position, blend gas line 51
The gas 52 flowing through the second closed tank 261 is introduced into the second closed tank 261, and the second cleaning liquid 262 in the second closed tank 261 is sent to the blend gas line 51 by the second four-way cock 263 as a switching unit. It is configured.

【0033】尚、本実施の形態例では、ブレンドガスラ
イン51の取り付けを洗浄液がスプレーチャンバー36
内のネブライザー35側の端部まで行き渡るように設け
た。次に、上記構成の作動を説明する。ネブライザー3
5には、試料タンク31からの液体の試料32と、ガス
流量制御部33を介してキャリアガス34とが導入さ
れ、液体の試料32は霧化される。
In this embodiment, the cleaning liquid is used to attach the blend gas line 51 to the spray chamber 36.
And was provided so as to reach the end on the nebulizer 35 side. Next, the operation of the above configuration will be described. Nebulizer 3
5, a liquid sample 32 from a sample tank 31 and a carrier gas 34 are introduced via a gas flow controller 33, and the liquid sample 32 is atomized.

【0034】霧化された試料32はスプレーチャンバー
36へ導入され、霧化された試料32のうち粒径の大き
な霧は凝縮され、ドレイン穴36aを介してドレインタ
ンク38に貯留される。
The atomized sample 32 is introduced into the spray chamber 36, and the mist having a large particle diameter among the atomized sample 32 is condensed and stored in the drain tank 38 through the drain hole 36a.

【0035】このとき、第1の洗浄手段160及び第2
の洗浄手段260の第1及び第2の4方コック163,
263は一方の位置に切り替えられており、ブレンドガ
スライン51を介してキャリアガス34と同一又は異な
る種類のガス52がスプレーチャンバー36へ導入され
る。
At this time, the first cleaning means 160 and the second
First and second four-way cocks 163 of the cleaning means 260
263 is switched to one position, and a gas 52 of the same or different type as the carrier gas 34 is introduced into the spray chamber 36 via the blend gas line 51.

【0036】キャリアガス34と、霧化された試料32
と、キャリアガス34と同一又は異なる種類のガス52
とはプラズマトーチ39へ挿入され、高周波電源40か
らの電流が供給されるワークコイル41によって発生す
る誘導結合プラズマ(ICP)42によって、試料32はイ
オン化される。
The carrier gas 34 and the atomized sample 32
And a gas 52 of the same or different type as the carrier gas 34
The sample 32 is ionized by an inductively coupled plasma (ICP) 42 generated by a work coil 41 which is inserted into a plasma torch 39 and supplied with a current from a high frequency power supply 40.

【0037】尚、このとき、キャリアガス34と同一又
は異なる種類のガス52により、イオン化される試料3
2の量が制御される。イオン化された試料32は質量分
析部43で、試料32中の元素及び各元素の濃度が分析
され、試料32の分析が完了する。
At this time, the sample 3 to be ionized by the gas 52 of the same or different type as the carrier gas 34 is used.
2 is controlled. The ionized sample 32 is analyzed by the mass spectrometer 43 for the elements in the sample 32 and the concentration of each element, and the analysis of the sample 32 is completed.

【0038】そして、試料32と異なる試料32′を分
析する際には、先ず、第1の洗浄手段160の第1の4
方コック163を他の切替位置へ操作する。すると、ガ
ス52は第1の密閉タンク161へ案内され、第1の密
閉タンク161内の第1の洗浄液162がブレンドガス
ライン51を介して、スプレーチャンバー36へ導入さ
れ、スプレーチャンバー36内が洗浄され、残留試料3
2がドレイン穴36aを介してスプレーチャンバー36
外部へ排出され、ドレインタンク38に貯留される。
When analyzing a sample 32 ′ different from the sample 32, first, the first 4
The side cock 163 is operated to another switching position. Then, the gas 52 is guided to the first closed tank 161, and the first cleaning liquid 162 in the first closed tank 161 is introduced into the spray chamber 36 through the blend gas line 51, and the inside of the spray chamber 36 is cleaned. And remaining sample 3
2 is the spray chamber 36 through the drain hole 36a.
It is discharged to the outside and stored in the drain tank 38.

【0039】次に、第1の洗浄手段160の第1の4方
コック163を一方の切替位置へ戻し、第2の洗浄手段
260の第2の4方コック263を他の切替位置へ操作
する。すると、ガス52は第2の密閉タンク261へ案
内され、第2の密閉タンク261内の第2の洗浄液16
2がブレンドガスライン51を介して、スプレーチャン
バー36へ導入され、スプレーチャンバー36内が洗浄
され、残留試料32がドレイン穴36aを介してスプレ
ーチャンバー36外部へ排出され、ドレインタンク38
に貯留される。
Next, the first four-way cock 163 of the first cleaning means 160 is returned to one switching position, and the second four-way cock 263 of the second cleaning means 260 is operated to another switching position. . Then, the gas 52 is guided to the second closed tank 261 and the second cleaning liquid 16 in the second closed tank 261 is introduced.
2 is introduced into the spray chamber 36 through the blend gas line 51, the inside of the spray chamber 36 is washed, and the residual sample 32 is discharged out of the spray chamber 36 through the drain hole 36a.
Is stored in

【0040】その後、第2の洗浄手段260の第2の4
方コック263を一方の切替位置へ戻し、試料32と異
なる試料32′の分析を行う。尚、上記実施の形態例で
は、洗浄時に、第1及び第2洗浄液162,262でス
プレーチャンバー36内を洗浄するようにしたが、試料
32,32′の種類に応じて、第1の洗浄液162と第
2の洗浄液163の種類を選定し、使い分けるようにし
ても良い。
Thereafter, the second cleaning means 260
The cock 263 is returned to the one switching position, and the sample 32 ′ different from the sample 32 is analyzed. In the above embodiment, the inside of the spray chamber 36 is cleaned with the first and second cleaning liquids 162 and 262 at the time of cleaning. However, the first cleaning liquid 162 is used depending on the type of the sample 32 or 32 '. And the type of the second cleaning liquid 163 may be selected and used properly.

【0041】上記構成によれば、第1及び第2の洗浄液
162,262でスプレーチャンバー36内の残留試料
32を洗い流すことにより、次回の分析を行う際に、前
回行った分析の残留試料32を置換するまで試料32′
を導入する必用が無くなり、短時間で試料切替を行うこ
とができ、更に、試料の節約もできる。
According to the above configuration, the remaining sample 32 in the spray chamber 36 is washed out with the first and second cleaning liquids 162 and 262, so that the next time the next analysis is performed, the remaining sample 32 of the previous analysis is removed. Sample 32 'until replacement
This eliminates the need to introduce a sample, allows sample switching to be performed in a short time, and can save samples.

【0042】また、第1及び第2の洗浄液162,26
2をスプレーチャンバー36へ導入するラインと、ブレ
ンドガスライン51とを共用することにより、コストダ
ウンが図れる。
The first and second cleaning liquids 162, 26
The cost can be reduced by sharing the line for introducing 2 into the spray chamber 36 and the blend gas line 51.

【0043】更に、第1の洗浄液62でスプレーチャン
バー36内の残留試料32を洗い流した後に、更に、第
2の洗浄液でスプレーチャンバー36内の残留試料32
洗い流すことにより、第1の実施の形態例より、更に洗
浄効果をあげることが可能となる。
After the residual sample 32 in the spray chamber 36 is washed away with the first cleaning liquid 62, the residual sample 32 in the spray chamber 36 is further rinsed with the second cleaning liquid.
By washing away, it is possible to further increase the washing effect as compared with the first embodiment.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上述べたように請求項1記載の発明に
よれば、スプレーチャンバー内へ洗浄液を導入する洗浄
手段を設け、試料分析後、洗浄液でスプレーチャンバー
内の残留試料を洗い流すことにより、次回の分析を行う
際に、前回行った分析の残留試料を置換するまで試料を
導入する必用が無くなり、短時間で試料切替が行うこと
ができ、更に、試料の節約もできる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, a washing means for introducing a washing solution into the spray chamber is provided, and after the sample is analyzed, the remaining sample in the spray chamber is washed away with the washing solution. When performing the next analysis, there is no need to introduce a sample until the residual sample from the previous analysis is replaced, so that the sample can be switched in a short time and the sample can be saved.

【0045】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明の洗浄手段は、ネブライザー側の端部まで洗浄
することにより、非常に短時間で試料切替が行える。請
求項3記載の発明によれば、請求項1又は2記載の発明
において、前記スプレーチャンバーが接続され、前記ス
プレーチャンバーへ前記キャリアガスと同一又は異なる
種類のガスを導入するブレンドガスラインを設け、前記
洗浄手段を前記洗浄液が貯留される密閉タンクと、前記
ブレンドガスライン中に設けられ、一方の位置に切り替
えると前記ブレンドガスラインを流れるガスをストレー
トに通し、他方の位置に切り替えると前記ブレンドガス
ラインを流れるガスを前記密閉タンク内へ導き、前記密
閉タンク内の洗浄液を前記ブレンドガスラインへ送出す
る切替手段とで構成したことにより 洗浄液でスプレー
チャンバー内の残留試料を洗い流すことにより、次回の
分析を行う際に、前回行った分析の残留試料を置換する
まで試料を導入する必用が無くなり、短時間で試料切替
を行うことができ、更に、試料の節約もできる。
According to the second aspect of the present invention, the cleaning means of the first aspect of the present invention can switch the sample in a very short time by cleaning the end on the nebulizer side. According to the invention of claim 3, in the invention of claim 1 or 2, the spray chamber is connected, and a blend gas line for introducing a gas of the same or different type as the carrier gas into the spray chamber is provided. The cleaning means is provided in a closed tank in which the cleaning liquid is stored, and in the blend gas line. When switched to one position, the gas flowing through the blend gas line passes straight through, and when switched to the other position, the blend gas flows. The gas flowing through the line is guided into the closed tank, and the switching means for sending the cleaning liquid in the closed tank to the blend gas line. Introduce the sample until replacing the residual sample from the previous analysis. This eliminates the necessity to use the sample, and allows the sample to be switched in a short time, and also allows the sample to be saved.

【0046】更に、洗浄液をスプレーチャンバーへ導入
するラインと、ブレンドガスラインとを共用することに
より、コストダウンが図れる。請求項4記載の発明によ
れば、請求項1乃至3のいずれかに記載の発明での洗浄
液は、純水,水溶性洗浄液のうちどちらか一方としたこ
とにより、従来の手法(置換)に比べて素早い切替が可能
となる。
Further, the cost can be reduced by sharing the line for introducing the cleaning liquid into the spray chamber and the blend gas line. According to the fourth aspect of the present invention, the cleaning liquid according to any one of the first to third aspects is one of pure water and a water-soluble cleaning liquid. Switching can be performed quickly as compared with the above.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施の形態例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a first embodiment.

【図2】第2の実施の形態例の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of a second embodiment.

【図3】従来の誘導結合プラズマ質量分析装置の構成図
である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional inductively coupled plasma mass spectrometer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

36 スプレーチャンバー 60 洗浄手段 36 spray chamber 60 cleaning means

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キャリアガス,液体の試料が導入され、
前記試料を霧化するネブライザーと、 前記ネブライザーからの霧化された試料を導入し、前記
霧化された試料のうち粒径の大きな霧を凝縮し、凝縮液
を外部へ排出するスプレーチャンバーとを具備する誘導
結合プラズマ質量分析装置において、 前記スプレーチャンバー内へ洗浄液を導入する洗浄手段
を設けたことを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装
置。
1. A sample of a carrier gas and a liquid is introduced,
A nebulizer for atomizing the sample, and a spray chamber for introducing the atomized sample from the nebulizer, condensing the mist having a large particle diameter among the atomized samples, and discharging the condensate to the outside. An inductively coupled plasma mass spectrometer provided with a cleaning means for introducing a cleaning solution into the spray chamber.
【請求項2】 前記洗浄手段は、前記スプレイチャンバ
ー内の前記ネブライザー側の端部まで洗浄することを特
徴とする請求項1記載の誘導結合プラズマ質量分析装
置。
2. The inductively coupled plasma mass spectrometer according to claim 1, wherein the cleaning means cleans the spray chamber up to the end on the nebulizer side.
【請求項3】 前記スプレーチャンバーが接続され、前
記スプレーチャンバーへ前記キャリアガスと同一又は異
なる種類のガスを導入するブレンドガスラインを設け、 前記洗浄手段を前記洗浄液が貯留される密閉タンクと、 前記ブレンドガスライン中に設けられ、一方の位置に切
り替えると前記ブレンドガスラインを流れるガスをスト
レートに通し、他方の位置に切り替えると前記ブレンド
ガスを流れるガスを前記密閉タンク内へ導き、前記密閉
タンク内の洗浄液を前記ブレンドガスラインへ送出する
切替手段と、 で構成したことを特徴とする請求項1又は2記載の誘導
結合プラズマ質量分析装置。
3. A closed gas tank to which the spray chamber is connected, a blend gas line for introducing a gas of the same or different type as the carrier gas into the spray chamber is provided, It is provided in the blend gas line, and when it is switched to one position, the gas flowing through the blend gas line is passed straight through, and when it is switched to the other position, the gas that flows the blend gas is guided into the closed tank, and inside the closed tank. 3. An inductively coupled plasma mass spectrometer according to claim 1, further comprising: switching means for sending the cleaning liquid to the blend gas line.
【請求項4】 前記洗浄液は、純水,水溶性洗浄液のう
ちどちらか一方であることを特徴とする請求項1乃至3
のいずれかに記載の誘導結合プラズマ質量分析装置。
4. The cleaning liquid according to claim 1, wherein the cleaning liquid is one of pure water and a water-soluble cleaning liquid.
The inductively coupled plasma mass spectrometer according to any one of the above.
JP34310496A 1996-12-24 1996-12-24 Inductively coupled plasma mass spectrometer Expired - Fee Related JP3686198B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34310496A JP3686198B2 (en) 1996-12-24 1996-12-24 Inductively coupled plasma mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34310496A JP3686198B2 (en) 1996-12-24 1996-12-24 Inductively coupled plasma mass spectrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10188877A true JPH10188877A (en) 1998-07-21
JP3686198B2 JP3686198B2 (en) 2005-08-24

Family

ID=18358976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34310496A Expired - Fee Related JP3686198B2 (en) 1996-12-24 1996-12-24 Inductively coupled plasma mass spectrometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3686198B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005069817A (en) * 2003-08-22 2005-03-17 Shimadzu Corp Liquid chromatograph mass spectrometer
JP2006066312A (en) * 2004-08-30 2006-03-09 Yokogawa Analytical Systems Inc Icp analysis sample inlet device and method therefor
JP2008045901A (en) * 2006-08-11 2008-02-28 Agilent Technol Inc Inductively coupled plasma mass analyzer
JP2018036160A (en) * 2016-08-31 2018-03-08 三菱マテリアル株式会社 Induction coupling plasma mass analysis method
CN108760958A (en) * 2018-07-02 2018-11-06 东华理工大学 The light-catalyzed reaction on-line detecting system of self-priming automatic sampling
WO2020205718A1 (en) * 2019-04-03 2020-10-08 Theradep Technologies, Inc. Plasma treatment devices and methods of use thereof
JP2021175968A (en) * 2020-04-23 2021-11-04 株式会社Sumco Sample introducing device, inductively coupled plasma analyzer, and analysis method
JP2022548565A (en) * 2019-09-12 2022-11-21 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (エキュブラン) エスアーエールエル Spark stand and maintenance method

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0464754U (en) * 1990-10-17 1992-06-03
JPH05119022A (en) * 1991-07-16 1993-05-14 Jeol Ltd Cataphoresis/mass analysis device
JPH0696724A (en) * 1992-09-10 1994-04-08 Seiko Instr Inc Induction coupling plasma mass spectrograph
JPH0855601A (en) * 1994-08-11 1996-02-27 Seiko Instr Inc Sample introduction device for inductively coupled plasma analyzer
JPH08201294A (en) * 1995-01-23 1996-08-09 Horiba Ltd Nebulizer for icp analysis and icp analysis method using nebylizer thereof

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0464754U (en) * 1990-10-17 1992-06-03
JPH05119022A (en) * 1991-07-16 1993-05-14 Jeol Ltd Cataphoresis/mass analysis device
JPH0696724A (en) * 1992-09-10 1994-04-08 Seiko Instr Inc Induction coupling plasma mass spectrograph
JPH0855601A (en) * 1994-08-11 1996-02-27 Seiko Instr Inc Sample introduction device for inductively coupled plasma analyzer
JPH08201294A (en) * 1995-01-23 1996-08-09 Horiba Ltd Nebulizer for icp analysis and icp analysis method using nebylizer thereof

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005069817A (en) * 2003-08-22 2005-03-17 Shimadzu Corp Liquid chromatograph mass spectrometer
JP2006066312A (en) * 2004-08-30 2006-03-09 Yokogawa Analytical Systems Inc Icp analysis sample inlet device and method therefor
JP2008045901A (en) * 2006-08-11 2008-02-28 Agilent Technol Inc Inductively coupled plasma mass analyzer
DE102007032176A1 (en) 2006-08-11 2008-08-21 Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d. Staates Delaware), Santa Clara Inductively coupled plasma mass spectrometer
US7671329B2 (en) 2006-08-11 2010-03-02 Agilent Technologies, Inc. Inductively coupled plasma mass spectrometer
DE102007032176B4 (en) * 2006-08-11 2014-04-30 Agilent Technologies, Inc. (N.D.Ges.D. Staates Delaware) Inductively coupled plasma mass spectrometer
JP2018036160A (en) * 2016-08-31 2018-03-08 三菱マテリアル株式会社 Induction coupling plasma mass analysis method
CN108760958A (en) * 2018-07-02 2018-11-06 东华理工大学 The light-catalyzed reaction on-line detecting system of self-priming automatic sampling
WO2020205718A1 (en) * 2019-04-03 2020-10-08 Theradep Technologies, Inc. Plasma treatment devices and methods of use thereof
JP2022548565A (en) * 2019-09-12 2022-11-21 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (エキュブラン) エスアーエールエル Spark stand and maintenance method
JP2021175968A (en) * 2020-04-23 2021-11-04 株式会社Sumco Sample introducing device, inductively coupled plasma analyzer, and analysis method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3686198B2 (en) 2005-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4556645B2 (en) Liquid chromatograph mass spectrometer
JP3686198B2 (en) Inductively coupled plasma mass spectrometer
TW201717249A (en) Analysis system for online-transferred analysis sample
JPH10170488A (en) Sample-introducing apparatus
US7095017B2 (en) Systems and method of a gated electrospray interface with variable flow rate for high throughput mass spectrometric analysis
JP3581604B2 (en) Atmospheric pressure ionization mass spectrometer
JP4258318B2 (en) Liquid chromatograph mass spectrometer
JP3125364U (en) Autosampler or liquid handler
JPH06201650A (en) Method and apparatus for direct coupling of high-speed liquid chromatograph and mass spectrometer
JP4235015B2 (en) Spray chamber device for ICP analyzer
WO2013190277A2 (en) Method and apparatus for controlling the supply of ions
JPH09239298A (en) Spray apparatus for icp
JP4828810B2 (en) Sample introduction apparatus and method for ICP analysis
JP2005069874A (en) Gas concentration measuring apparatus
US11607701B2 (en) Sample pretreatment device
JPH08201294A (en) Nebulizer for icp analysis and icp analysis method using nebylizer thereof
JP2011209250A (en) Sample introduction device for induction coupling plasma analyzer
JPH068541Y2 (en) Inductively coupled plasma optical emission spectrometer
JPH0264438A (en) Apparatus for icp analysis and method for icp analysis
JP3261288B2 (en) Dissolution supply device for sample used for ICP analysis
JP3909395B2 (en) Liquid chromatograph mass spectrometer
JPH0524207Y2 (en)
KR940007044Y1 (en) Cleaning device in gmk spray chamber
JPH1114613A (en) Gas chromatograph device
JP2003066007A (en) Liquid chromatographic mass spectrometer

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041221

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050308

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050509

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050531

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050602

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees