JPH10152779A - Vaporizer and cvd system - Google Patents

Vaporizer and cvd system

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Publication number
JPH10152779A
JPH10152779A JP31359396A JP31359396A JPH10152779A JP H10152779 A JPH10152779 A JP H10152779A JP 31359396 A JP31359396 A JP 31359396A JP 31359396 A JP31359396 A JP 31359396A JP H10152779 A JPH10152779 A JP H10152779A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
raw material
alkyl group
cvd apparatus
vaporized raw
vaporizer
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP31359396A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Michihito Ueda
路人 上田
Takashi Otsuka
隆 大塚
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH10152779A publication Critical patent/JPH10152779A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/4486Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by producing an aerosol and subsequent evaporation of the droplets or particles

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a stable vaporizing raw material without causing a time change and furthermore to form a high quality coating for a wide application. SOLUTION: In a casing body 11 for forming a vaporizing raw material is, one side wall is provided with an atomizer 13 for forming foggy droplets 12 having about 100μm average dize from a liq. raw material and a gas feed tube 16 for carrying feeding a gas 15 for carrying composed of a chemically inert gas for carrying the formed droplets 12 or the vaporizing raw material 14 into the casing body 11. The opposite other side wall is provided with a vaporizing raw material 14 carrying tube 17 carrying the vaporizing raw material 14 mixed to the gas for carrying. The upper part within the casing body 11 is provided with a microwave oscillator 19 forming the vaporizing raw material 14 by oscillating microwaves 18 on the foggy droplets 12, generating oscillation on molecules composing the droplets 12 and executing heating.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、化学気相成長(以
下、CVDと略記する。)法により種々の薄膜を形成す
る薄膜形成装置、特に、液体原料を気化して薄膜形成装
置に供給する気化装置及び該気化装置を用いたCVD装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film forming apparatus for forming various thin films by a chemical vapor deposition (hereinafter, abbreviated as CVD) method, and in particular, a liquid material is vaporized and supplied to the thin film forming apparatus. The present invention relates to a vaporizer and a CVD apparatus using the vaporizer.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体デバイスの高密度かつ高集
積化は急速な進展を見せており、例えば、ランダムアク
セスメモリ(=DRAM)に代表される半導体メモリに
おいてもその集積度は向上の一途にある。しかしなが
ら、DRAMにおいて各セルに蓄積される電荷量は集積
度によらずほぼ一定の値を維持する必要がある。従来の
DRAMは、容量膜であるシリコン酸化膜の膜厚を薄く
することにより電荷量を一定値に維持していたが、薄膜
化が限界に近づいているため、異なるアプローチによっ
て容量の確保を行なう必要がでてきた。この対策とし
て、容量膜に高誘電率の材料を用いる動きがある。例え
ば、1GbitのDRAMにおいては比誘電率が25程
度の酸化タンタルを用いることが有力視され、1Gbi
tを越えるDRAMについては比誘電率が数100以上
のチタン酸バリウムストロンチウム(=BST)又はチ
タン酸ジルコン酸鉛(=PZT)を用いることが有力視
されている。
2. Description of the Related Art In recent years, high density and high integration of semiconductor devices have been rapidly progressing. For example, the integration degree of a semiconductor memory represented by a random access memory (= DRAM) is constantly improving. is there. However, in a DRAM, the amount of charge stored in each cell needs to maintain a substantially constant value regardless of the degree of integration. In a conventional DRAM, the charge amount is maintained at a constant value by reducing the thickness of a silicon oxide film serving as a capacitance film. However, since the thinning is approaching its limit, the capacitance is secured by a different approach. The need has come. As a countermeasure, there is a movement to use a material having a high dielectric constant for the capacitance film. For example, in a 1 Gbit DRAM, the use of tantalum oxide having a relative dielectric constant of about 25 is considered promising, and 1 Gbit
For DRAMs exceeding t, the use of barium strontium titanate (= BST) or lead zirconate titanate (= PZT) having a relative dielectric constant of several hundred or more is considered to be effective.

【0003】一般に、DRAMの基板上の段差部を有す
るキャパシタ用電極上にBSTやPZTの容量膜を形成
するには、カバレッジが良好なCVD法を用いるのが最
も有効である。以前はβ−ジケトン系のジピバロイルメ
タン(=DPM)等を配位させた金属錯体材料を昇華さ
せることによりBSTやPZTの原料ガスを得ていた。
近年、原料ガスの供給を安定して行なえるため、これら
の金属錯体材料を溶媒に溶かし、該金属錯体材料の溶液
を気化させることにより原料ガスを得る方法が主流とな
りつつある。
Generally, to form a BST or PZT capacitance film on a capacitor electrode having a step on a DRAM substrate, it is most effective to use a CVD method with good coverage. Previously, a raw material gas for BST or PZT was obtained by sublimating a metal complex material coordinated with β-diketone-based dipivaloylmethane (= DPM) or the like.
In recent years, in order to stably supply a source gas, a method of dissolving these metal complex materials in a solvent and evaporating a solution of the metal complex material to obtain a source gas has become mainstream.

【0004】このような、従来の溶液気化方式のCVD
装置の例として特開平7−94426に開示されている
CVD装置が挙げられる。
[0004] Such a conventional solution evaporation type CVD.
An example of the apparatus is a CVD apparatus disclosed in JP-A-7-94426.

【0005】以下、従来の溶液気化方式のCVD装置を
図面を参照しながら説明する。
A conventional solution vaporization type CVD apparatus will be described below with reference to the drawings.

【0006】図6は従来のCVD装置の構成断面図であ
る。図6に示すように、本CVD装置は大別して、気化
原料を生成する気化器101と該気化器101から供給
される気化原料を加熱して反応させる反応炉150とに
より構成されている。
FIG. 6 is a sectional view showing the structure of a conventional CVD apparatus. As shown in FIG. 6, the present CVD apparatus is roughly divided into a vaporizer 101 for generating a vaporized raw material and a reaction furnace 150 for heating and reacting the vaporized raw material supplied from the vaporizer 101.

【0007】液体原料を気化させる気化室102を有す
る気化器101には、気化室102の周囲の壁材の内部
に該気化器101を所定温度に加熱するヒータ103が
埋設されている。さらに、気化器101には、気化室1
02において生成された気化原料を反応炉150に搬送
する希釈ガスを気化室102に高速に流入させるための
先細の絞り部104aをその先端部に有するテーパ状細
管104と、気化室102において生成された気化原料
を反応炉150に供給する原料ガス輸送管105とが接
続されている。気化室102における原料ガス輸送管1
05の開口部付近には気化原料に混入する異物をろ過す
るフィルター106が設けられている。原料ガス輸送管
105の周囲には、所定温度よりも低下することにより
生じる気化原料の再結露を防止するために所定温度に保
つ保温用ヒータ107が所定間隔を空けたらせん状に設
けられている。
In a vaporizer 101 having a vaporization chamber 102 for vaporizing a liquid raw material, a heater 103 for heating the vaporizer 101 to a predetermined temperature is embedded inside a wall material around the vaporization chamber 102. Further, the vaporizer 101 includes a vaporization chamber 1.
The tapered narrow tube 104 having a tapered constriction portion 104a at the tip thereof for causing the diluent gas, which carries the vaporized raw material generated in 02 to the reaction furnace 150, to flow into the vaporization chamber 102 at a high speed, and is generated in the vaporization chamber 102. A raw material gas transport pipe 105 for supplying the vaporized raw material to the reaction furnace 150 is connected. Source gas transport pipe 1 in vaporization chamber 102
A filter 106 for filtering foreign matter mixed in the vaporized raw material is provided in the vicinity of the opening 05. Around the source gas transport pipe 105, a heater 107 for keeping the temperature at a predetermined temperature is provided in a helical manner at a predetermined interval in order to prevent re-condensation of the vaporized raw material caused by the temperature drop below the predetermined temperature. .

【0008】テーパ状細管104の上流端は希釈ガスの
流量を調節する希釈ガス供給器110に接続されてい
る。また、テーパ状細管104の内部には、液体原料を
気化室102に供給する液体原料供給管111がテーパ
状細管104の中心部を軸線方向に延びるように設けら
れている。液体原料供給管111の下流端はテーパ状細
管104の絞り部104aの下流端にノズル111aと
して開口しており、液体原料供給管111の上流端は、
テーパ状細管104の上流端の近傍においてテーパ状細
管104の径方向の外向きに屈曲して該テーパ状細管1
04の側面を内側から外側に貫通し、液体原料の流量を
調節する液体原料供給器112に接続されている。液体
原料供給器112の上流側は液体原料を収容する原料容
器113に接続されている。原料容器113に上部には
液体原料供給器112に液体原料を圧送する圧送ガス管
114が接続されている。
[0008] The upstream end of the tapered thin tube 104 is connected to a diluent gas supplier 110 for adjusting the flow rate of the diluent gas. Further, inside the tapered thin tube 104, a liquid source supply pipe 111 for supplying a liquid source to the vaporization chamber 102 is provided so as to extend in the axial direction from the center of the tapered thin tube 104. The downstream end of the liquid material supply pipe 111 is opened as a nozzle 111a at the downstream end of the narrowed portion 104a of the tapered narrow tube 104, and the upstream end of the liquid material supply pipe 111 is
In the vicinity of the upstream end of the tapered thin tube 104, the tapered thin tube 1 is bent outward in the radial direction of the tapered thin tube 104.
04 penetrates from the inside to the outside, and is connected to a liquid raw material supply device 112 for adjusting the flow rate of the liquid raw material. The upstream side of the liquid raw material supply device 112 is connected to a raw material container 113 that stores the liquid raw material. An upper part of the raw material container 113 is connected to a pumping gas pipe 114 for feeding the liquid raw material to the liquid raw material supply device 112.

【0009】反応炉150の内部には、基板151を保
持する基板保持台152が設けられ、反応炉150の側
壁には反応路150を加熱する反応炉加熱手段153が
設けられ、反応炉150の上部には気化原料と反応させ
る反応ガスを反応炉150内に供給する反応ガス輸送管
が設けられている。
A substrate holding table 152 for holding a substrate 151 is provided inside the reaction furnace 150, and a reaction furnace heating means 153 for heating the reaction path 150 is provided on a side wall of the reaction furnace 150. At the upper part, a reaction gas transport pipe for supplying a reaction gas to be reacted with the vaporized raw material into the reaction furnace 150 is provided.

【0010】以下、前記のように構成された従来のCV
D装置の動作を説明する。
Hereinafter, the conventional CV constructed as described above will be described.
The operation of the D device will be described.

【0011】まず、原料容器113内の液体原料は、圧
送ガス管114を通って送られてくる圧送ガスによって
加圧され、加圧された状態の液体原料は液体原料供給器
112によって流量が調節された後、液体原料供給管1
11を通ってノズル111aの先端にまで送られる。
First, the liquid raw material in the raw material container 113 is pressurized by the pressurized gas sent through the pressurized gas pipe 114, and the flow rate of the pressurized liquid raw material is adjusted by the liquid raw material supply unit 112. After that, the liquid raw material supply pipe 1
11 and is sent to the tip of the nozzle 111a.

【0012】一方、希釈ガス供給器110により流量が
調節された希釈ガスはテーパ状細管104に送られ、該
テーパ状細管104の先端部の絞り部104aにおいて
希釈ガスはその流速を速める。その結果、流速が速い希
釈ガスによってノズル111aの先端から出る液体原料
は細かな液滴となり気化器101の気化室102内に噴
射される。気化器101は加熱ヒータ103により例え
ば200℃に加熱されているため、噴射された液滴より
なる液体原料は気化室102の内壁に触れたり、又は内
壁の輻射熱によって気化する。気化した原料ガスはフィ
ルター106を通過し、再結露を防止する保温用ヒータ
107により保温された原料ガス輸送管105を通って
反応炉150に供給される。
On the other hand, the diluent gas whose flow rate has been adjusted by the diluent gas supply device 110 is sent to the tapered thin tube 104, and the diluent gas increases its flow velocity at the narrowed portion 104 a at the tip of the tapered thin tube 104. As a result, the liquid raw material exiting from the tip of the nozzle 111a by the diluent gas having a high flow velocity becomes fine droplets and is injected into the vaporization chamber 102 of the vaporizer 101. Since the vaporizer 101 is heated to, for example, 200 ° C. by the heater 103, the liquid material composed of the ejected droplets touches the inner wall of the vaporizing chamber 102 or is vaporized by radiant heat of the inner wall. The vaporized source gas passes through the filter 106 and is supplied to the reaction furnace 150 through the source gas transport pipe 105 kept warm by the heater 107 for preventing dew condensation.

【0013】なお、フィルター106は、気化室102
において十分に気化しなかった液体原料の微粒子や、固
化してしまった粒子を再蒸発させたりトラップしたりす
るために設けられている。反応炉105の側壁も気化さ
れた原料が結露するのを防止する反応炉加熱手段153
によって所定温度に設定されている。また、例えば酸化
剤としての酸素ガスが原料ガス輸送管105とは別系統
の反応ガス輸送管154を通して反応炉150に供給さ
れる。これにより、基板保持台152の基板保持面に成
膜を行なう基板151を載置し、原料ガス分解温度以上
に基板151を昇温すると、基板151の表面上で原料
ガスの分解と酸化とが同時に進行するため、基板151
の表面に酸化物薄膜が成膜される。
The filter 106 is connected to the vaporizing chamber 102.
It is provided in order to re-evaporate or trap fine particles of liquid material that have not sufficiently vaporized or solidified particles. The reactor heating means 153 for preventing the vaporized raw material from dew condensation on the side wall of the reactor 105 also.
Is set to a predetermined temperature. Further, for example, oxygen gas as an oxidant is supplied to the reaction furnace 150 through a reaction gas transport pipe 154 of a different system from the source gas transport pipe 105. Thus, when the substrate 151 on which a film is to be formed is placed on the substrate holding surface of the substrate holding table 152 and the temperature of the substrate 151 is raised to a temperature equal to or higher than the decomposition temperature of the raw material gas, decomposition and oxidation of the raw material gas are performed on the surface of the substrate 151. Because they proceed simultaneously, the substrate 151
An oxide thin film is formed on the surface of.

【0014】また、本従来例は、気化器101を反応炉
150の上に設けて温度制御が厳しい原料ガス輸送管1
05を省略することも可能であることにも言及してい
る。
Further, in this conventional example, the vaporizer 101 is provided on the reactor 150 so that the temperature of the raw material gas transport pipe 1 is strictly controlled.
It is also mentioned that 05 can be omitted.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の溶液気化方式のCVD装置は、液体原料が加熱され
た気化室102の内壁面に触れることにより、また、内
壁面からの輻射熱により気化されるため、均一に気化さ
れることが難しい。これにより、気化室102内で液体
原料が十分に気化しなかったり、逆に過熱により液体原
料が分解して固形析出物を生じたりしてしまう。これに
対処するため、従来では、この液体原料を再蒸発させた
り、固形析出物をトラップしたりするフィルター106
を設けているが、このフィルター106を定期的に交換
する必要があるため、量産用のCVD装置としては以下
に示す問題を有している。
However, in the conventional solution vaporization type CVD apparatus, the liquid material is vaporized by touching the inner wall surface of the heated vaporization chamber 102 and by radiant heat from the inner wall surface. Therefore, it is difficult to uniformly vaporize. As a result, the liquid raw material is not sufficiently vaporized in the vaporization chamber 102, or conversely, the liquid raw material is decomposed due to overheating to produce a solid precipitate. To cope with this, conventionally, a filter 106 for re-evaporating the liquid raw material or trapping solid precipitates is used.
However, since the filter 106 needs to be periodically replaced, the CVD apparatus for mass production has the following problems.

【0016】すなわち、気化器101自体にも固化した
粒子が残留するため、定期的に気化器101の洗浄又は
交換が必要となる。
That is, since solidified particles remain in the vaporizer 101 itself, it is necessary to periodically clean or replace the vaporizer 101.

【0017】また、フィルター106にはそのトラップ
状況に応じて、原料ガスの供給圧力に経時的な変化が生
ずるため、成膜速度が変化してしまうので、目標値の膜
厚を得るには経験に頼る部分が大きくなる。
In addition, since the supply pressure of the raw material gas changes with time in the filter 106 in accordance with the trapping state, the film forming speed changes. The part to rely on becomes larger.

【0018】さらに、気化器101と反応室炉150を
直結する構造のCVD装置においては、完全に液体原料
の気化を行なうことが要求されるため、輻射熱が届きに
くい気化室102の中央部付近に照準を合わせ、該中央
部付近の液体原料が気化されるように加熱すると、気化
室102の内壁面に近い側では温度が上昇し過ぎて気化
原料が分解してしまい、パーティクルの発生原因とな
る。
Further, in a CVD apparatus having a structure in which the vaporizer 101 and the reaction chamber furnace 150 are directly connected, it is required to completely vaporize the liquid raw material. When aiming and heating so that the liquid raw material near the center is vaporized, the temperature becomes too high on the side near the inner wall surface of the vaporization chamber 102, and the vaporized raw material is decomposed, which causes generation of particles. .

【0019】本発明は、前記従来の問題を一挙に解決
し、経時変化を伴わず且つ安定した気化原料を生成でき
ると共に、汎用的で高品質な成膜ができるようにするこ
とを目的とする。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems at a glance, to produce a stable vaporized raw material without a change over time and to form a general-purpose and high-quality film. .

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明は、マイクロ波発振器を用いて霧状の液滴に
マイクロ波を発振し、該液滴を加熱することにより、気
化原料を生成するものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a method for producing a vaporized material by oscillating microwaves into mist-like droplets using a microwave oscillator and heating the droplets. Is generated.

【0021】具体的に請求項1の発明が講じた解決手段
は、気化装置を、液体原料が供給され、供給された液体
原料を霧状の液滴にする噴霧器と、前記液滴にマイクロ
波を発振し、前記液滴を構成する分子に振動を生じさせ
て加熱することにより、気化原料を生成するマイクロ波
発振器とを備えている構成とするものである。
[0021] Specifically, a solution taken by the invention of claim 1 is that a vaporizer is supplied with a liquid raw material, and a sprayer that converts the supplied liquid raw material into mist-like droplets; And a microwave oscillator for generating vaporized raw material by generating vibration and heating molecules constituting the droplet.

【0022】請求項1の構成により、噴霧器が発生する
霧状の液体原料よりなる液滴にマイクロ波発振器が発振
するマイクロ波を照射して加熱することにより該液滴を
気化するため、霧状の液滴全体を均一に加熱することが
できるので、装置の内部に液体又は固体の残留物が発生
することがない。
According to the first aspect of the present invention, the droplets made of the atomized liquid raw material generated by the atomizer are irradiated with the microwave oscillated by the microwave oscillator and heated to vaporize the droplets. The liquid droplets can be uniformly heated, so that no liquid or solid residue is generated inside the apparatus.

【0023】請求項2の発明は、請求項1の構成に、前
記気化原料を該気化原料の再液化点以上且つ分解点以下
の温度に保温する保温手段をさらに備えている構成を付
加するものである。
According to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first aspect, a configuration further comprising a heat retaining means for keeping the vaporized raw material at a temperature higher than a reliquefaction point and lower than a decomposition point of the vaporized raw material is added. It is.

【0024】請求項3の発明は、請求項1の構成に、前
記液体原料の溶媒は有極性分子を含む構成を付加するも
のである。
According to a third aspect of the present invention, in addition to the first aspect, a configuration in which the solvent of the liquid raw material contains a polar molecule is added.

【0025】請求項4の発明は、請求項3の構成に、前
記溶媒は一般式ROH(但し、Rはアルキル基であ
る。)で表わされる構成を付加するものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in addition to the structure of the third aspect, the solvent has a structure represented by the general formula ROH (where R is an alkyl group).

【0026】請求項5の発明は、請求項4の構成に、前
記マイクロ波発振器が発振するマイクロ波の周波数は、
1GHz以上且つ5GHz以下である構成を付加するも
のである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the configuration of the fourth aspect, the frequency of the microwave oscillated by the microwave oscillator is:
A configuration in which the frequency is 1 GHz or more and 5 GHz or less is added.

【0027】請求項6の発明は、請求項1の構成に、前
記液体原料に溶解されている有機金属は有極性分子を含
む構成を付加するものである。
According to a sixth aspect of the present invention, the organic metal dissolved in the liquid material contains a polar molecule in addition to the first aspect.

【0028】請求項7の発明は、請求項6の構成に、前
記有機金属は一般式(RO)nM(但し、Rはアルキル
基、Mは金属元素、nは自然数である。)で表わされる
構成を付加するものである。
According to a seventh aspect of the present invention, in the constitution of the sixth aspect, the organic metal is represented by a general formula (RO) n M (where R is an alkyl group, M is a metal element, and n is a natural number). This is to add a configuration to be performed.

【0029】請求項8の発明は、請求項6の構成に、前
記有機金属は一般式M[I3 CCOCHCOCI3n
(但し、Mは金属元素、nは自然数、Iは水素基、アル
キル基又は電子吸引基である。)で表わされる構成を付
加するものである。
According to an eighth aspect of the present invention, in the constitution of the sixth aspect, the organic metal is represented by the general formula M [I 3 CCOCHCOCI 3 ] n
(However, M is a metal element, n is a natural number, and I is a hydrogen group, an alkyl group, or an electron-withdrawing group).

【0030】請求項9の発明は、請求項8の構成に、前
記電子吸引基は、−NH3 ,−NR3 (但し、Rはアル
キル基である。),−NO2 ,−CN,−COOR(但
し、Rはアルキル基である。),−COOH,−CH
O,−COR(但し、Rはアルキル基である。),−C
HCH2 ,−C65,−CCH,−CH2 Cl,−O
H,−OR(但し、Rはアルキル基である。),−F,
−Cl,−Br及び−CF3 のうちの少なくとも1つを
含む構成を付加するものである。
According to a ninth aspect of the present invention, in the constitution of the eighth aspect, the electron-withdrawing group is -NH 3 , -NR 3 (where R is an alkyl group), -NO 2 , -CN,-. COOR (where R is an alkyl group), -COOH, -CH
O, -COR (where R is an alkyl group), -C
HCH 2, -C 6 H 5, -CCH, -CH 2 Cl, -O
H, -OR (where R is an alkyl group), -F,
-Cl, in which adding a configuration including at least one of -Br and -CF 3.

【0031】請求項10の発明が講じた解決手段は、C
VD装置を、反応炉と、前記反応炉の内部に設けられ、
基板を保持すると共に保持した基板を加熱する基板保持
台と、液体原料を霧状の液滴にして前記基板保持台の上
方に噴霧する噴霧器と、前記液滴にマイクロ波を発振
し、前記液滴を構成する分子に振動を生じさせて加熱す
ることにより気化原料を生成し、前記基板の表面に前記
気化原料を供給するマイクロ波発振器とを備えている構
成とするものである。
The solution taken by the invention of claim 10 is C
A VD device provided in the reactor and the reactor;
A substrate holder that holds the substrate and heats the held substrate, a sprayer that atomizes the liquid source into mist-like droplets and sprays the liquid onto the substrate holder, and oscillates microwaves on the droplets, A microwave generator that generates a vaporized raw material by generating vibrations and heats the molecules constituting the droplets and supplies the vaporized raw material to the surface of the substrate is provided.

【0032】請求項10の構成により、噴霧器が発生す
る霧状の液体原料よりなる液滴にマイクロ波発振器が発
振するマイクロ波を照射して加熱することにより該液滴
を気化するため、霧状の液滴全体を均一に加熱すること
ができるので、装置の内部に液体又は固体の残留物が発
生することがない。
According to the tenth aspect of the present invention, the droplets made of the atomized liquid raw material generated by the atomizer are irradiated with the microwave oscillated by the microwave oscillator and heated to vaporize the droplets. The liquid droplets can be uniformly heated, so that no liquid or solid residue is generated inside the apparatus.

【0033】また、液体原料の気化を反応炉内でマイク
ロ波を用いて加熱するため、気化器が不要となる。
Further, since the vaporization of the liquid raw material is heated by using microwaves in the reaction furnace, a vaporizer becomes unnecessary.

【0034】請求項11の発明は、請求項10の構成
に、前記反応炉は、前記気化原料が再液化しないよう該
気化原料を保温する保温手段を有している構成を付加す
るものである。
According to an eleventh aspect of the present invention, in addition to the configuration of the tenth aspect, a configuration is provided in which the reactor has a heat retaining means for keeping the vaporized raw material warm so that the vaporized raw material is not reliquefied. .

【0035】請求項12の発明は、請求項10の構成
に、前記反応炉は、前記気化原料と反応する反応ガスを
前記反応炉内に供給する反応ガス供給管を有している構
成を付加するものである。
According to a twelfth aspect of the present invention, in addition to the configuration of the tenth aspect, a configuration is provided in which the reaction furnace has a reaction gas supply pipe for supplying a reaction gas reacting with the vaporized raw material into the reaction furnace. Is what you do.

【0036】請求項13の発明は、請求項12の構成
に、前記反応ガスは、O2 ,NO,N2 O及びO3 のう
ちの少なくとも1つを含む構成を付加するものである。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in addition to the configuration of the twelfth aspect, a configuration is provided in which the reaction gas contains at least one of O 2 , NO, N 2 O, and O 3 .

【0037】請求項14の発明は、請求項10の構成
に、前記マイクロ波発信器は、前記気化原料を構成する
分子の一部を分解するマイクロ波を前記気化原料に照射
する構成を付加するものである。
According to a fourteenth aspect of the present invention, in the configuration of the tenth aspect, the microwave transmitter is configured to irradiate the vaporized raw material with a microwave for decomposing a part of molecules constituting the vaporized raw material. Things.

【0038】請求項15の発明は、請求項10の構成
に、前記基板保持台の上方に設けられ、前記気化原料の
濃度を均一にするための気流制御手段をさらに備えてい
る構成を付加するものである。
According to a fifteenth aspect of the present invention, in addition to the configuration of the tenth aspect, a configuration further provided with an airflow control means provided above the substrate holding table and for equalizing the concentration of the vaporized raw material is added. Things.

【0039】請求項16の発明は、請求項15の構成
に、前記気流制御手段は、前記基板保持台の基板保持面
に垂直な中心軸を有し且つ径が前記基板保持面に近づく
につれて大きくなる円錐台形であって、内径が互いに異
なり且つ径方向の断面が同心円状である複数の筒体より
なる構成を付加するものである。
According to a sixteenth aspect of the present invention, in the configuration of the fifteenth aspect, the airflow control means has a center axis perpendicular to the substrate holding surface of the substrate holding table, and the diameter increases as the diameter approaches the substrate holding surface. It has a frusto-conical shape, and has a configuration in which a plurality of cylindrical bodies having different inner diameters and concentric cross sections in the radial direction are added.

【0040】請求項17の発明は、請求項15又は16
の構成に、前記気流制御手段は前記気化原料の再液化点
以上で且つ分解点以下の温度に保持されている構成を付
加するものである。
The invention of claim 17 is the invention of claim 15 or 16
In the above structure, the airflow control means may further include a structure in which the temperature of the vaporized raw material is maintained at a temperature equal to or higher than a reliquefaction point and equal to or lower than a decomposition point.

【0041】請求項18の発明は、請求項10の構成
に、前記液体原料の溶媒は有極性分子を含む構成を付加
するものである。
According to an eighteenth aspect of the present invention, in addition to the configuration of the tenth aspect, a configuration is provided in which the solvent of the liquid raw material contains a polar molecule.

【0042】請求項19の発明は、請求項18の構成
に、前記溶媒は一般式ROH(但し、Rはアルキル基で
ある。)で表わされる構成を付加するものである。
According to a nineteenth aspect of the present invention, in addition to the structure of the eighteenth aspect, the solvent has a structure represented by a general formula ROH (where R is an alkyl group).

【0043】請求項20の発明は、請求項19の構成
に、前記マイクロ波発振器が発振するマイクロ波の周波
数は、1GHz以上且つ5GHz以下である構成を付加
するものである。
According to a twentieth aspect, in addition to the configuration of the nineteenth aspect, a configuration is provided in which the frequency of the microwave oscillated by the microwave oscillator is 1 GHz or more and 5 GHz or less.

【0044】請求項21の発明は、請求項10の構成
に、前記液体原料に溶解されている有機金属は有極性分
子を含む構成を付加するものである。
According to a twenty-first aspect of the present invention, the organic metal dissolved in the liquid raw material contains a polar molecule in addition to the tenth aspect.

【0045】請求項22の発明は、請求項21の構成
に、前記有機金属は一般式(RO)nM(但し、Rはアル
キル基、Mは金属元素、nは自然数である。)で表わさ
れる構成を付加するものである。
According to a twenty-second aspect of the present invention, in the constitution of the twenty-first aspect, the organic metal is represented by a general formula (RO) n M (where R is an alkyl group, M is a metal element, and n is a natural number). This is to add a configuration to be performed.

【0046】請求項23の発明は、請求項21の構成
に、前記有機金属は一般式M[I3 CCOCHCOCI
3n (但し、Mは金属元素、nは自然数、Iは水素
基、アルキル基又は電子吸引基である。)で表わされる
構成を付加するものである。
According to a twenty- third aspect of the present invention, in the constitution of the twenty-first aspect, the organic metal is represented by the general formula M [I 3 CCOCHCOCI
3 ] n (where M is a metal element, n is a natural number, and I is a hydrogen group, an alkyl group or an electron withdrawing group).

【0047】請求項24の発明は、請求項23の構成
に、前記電子吸引基は、−NH3 ,−NR3 (但し、R
はアルキル基である。),−NO2 ,−CN,−COO
R(但し、Rはアルキル基である。),−COOH,−
CHO,−COR(但し、Rはアルキル基である。),
−CHCH2 ,−C65,−CCH,−CH2 Cl,−
OH,−OR(但し、Rはアルキル基である。),−
F,−Cl,−Br及び−CF3 のうちのうちの少なく
とも1つを含む構成を付加するものである。
According to a twenty-fourth aspect of the present invention, in the constitution of the twenty- third aspect , the electron-withdrawing group is -NH 3 , -NR 3 (where R
Is an alkyl group. ), - NO 2, -CN, -COO
R (where R is an alkyl group), -COOH,-
CHO, -COR (where R is an alkyl group),
-CHCH 2, -C 6 H 5, -CCH, -CH 2 Cl, -
OH, -OR (where R is an alkyl group),-
F, is intended to add -Cl, a structure including at least one of among -Br and -CF 3.

【0048】[0048]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(第1の実施形態)本発明の第1の実施形態を図面を参照
しながら説明する。
(First Embodiment) A first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0049】図1は本発明の第1の実施形態に係る気化
装置の構成を示す模式断面図である。図1に示すよう
に、気化原料を生成するための筐体11には、その一方
の側壁に、液体原料から径が平均100μm程度の霧状
の液滴12を生成する噴霧器13と、生成された液滴1
2又は気化原料14を搬送するための化学的に不活性な
ガス、例えばArガスよりなる搬送用ガス15を筐体1
1内に供給する搬送用ガス供給管16とが設けられてい
る。また、対向する他方の側壁には、搬送用ガス15に
混合された気化原料14を搬送する気化原料搬送管17
が設けられている。筐体11内の上部には、霧状の液滴
12にマイクロ波18を発振し、液滴12を構成する分
子に振動を生じさせて加熱することにより気化原料14
を生成するマイクロ波発振器19が設けられている。マ
イクロ波発振器19は原料に応じて1GHzから5GH
zの間で適当な周波数を発振することができる。また、
筐体11及び気化原料搬送管17の外周面には、生成さ
れた気化原料が再液化しないように保温する保温手段と
しての保温用ヒーター20が設けられている。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing the structure of the vaporizer according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a casing 11 for generating a vaporized raw material has, on one side wall thereof, a sprayer 13 that generates mist-like droplets 12 having an average diameter of about 100 μm from a liquid raw material. Drop 1
2 or a chemically inert gas for transporting the vaporized raw material 14, for example, a transport gas 15 made of Ar gas.
1 and a carrier gas supply pipe 16 for supplying the gas to the inside. Further, on the other side wall opposite thereto, a vaporized raw material transport pipe 17 for transporting the vaporized raw material 14 mixed with the transport gas 15 is provided.
Is provided. On the upper part of the inside of the housing 11, a microwave 18 is oscillated in the mist droplet 12, and vibration is generated in molecules constituting the droplet 12 to heat the vaporized raw material 14.
Is provided. Microwave oscillator 19 is 1 GHz to 5 GHz depending on the raw material.
An appropriate frequency can be oscillated between z. Also,
On the outer peripheral surfaces of the casing 11 and the vaporized raw material transport pipe 17, a heat retaining heater 20 is provided as a heat retaining means for keeping the generated vaporized raw material from being reliquefied.

【0050】噴霧器13の供給側には、例えばポンプよ
りなる液体原料供給器21が配管を通して接続され、該
液体原料供給器20の導入側には液体原料容器22が配
管を通して接続されている。液体原料容器22には、液
体原料として、例えば、Ti(O−i−Pr)4 をイソプ
ロピルアルコール(以下、IPAと略記する。)に溶解
したものを収納している。
The supply side of the atomizer 13 is connected to a liquid source supply 21 composed of, for example, a pump through a pipe, and the introduction side of the liquid source supply 20 is connected to a liquid source container 22 through a pipe. The liquid material container 22 contains, for example, a liquid material obtained by dissolving Ti (Oi-Pr) 4 in isopropyl alcohol (hereinafter abbreviated as IPA).

【0051】なお、噴霧器13は液体原料を霧状に噴出
する機能を有するものであればどのような構成であって
もよい。例えば、従来例で示したような斜めに先端をカ
ットされたノズルの周囲に高速の希釈ガスを流すことに
より霧化してもよい。
The sprayer 13 may have any structure as long as it has a function of spraying the liquid raw material in the form of a mist. For example, atomization may be performed by flowing a high-speed dilution gas around a nozzle whose tip is obliquely cut as shown in the conventional example.

【0052】また、本実施形態においては、噴霧器13
及び搬送用ガス供給管16を側壁に設け、マイクロ波発
信器19を筐体11内の上部に設けたが、これに限ら
ず、噴霧器13及び搬送用ガス供給管16を上部に、マ
イクロ波発信器19を側壁にそれぞれ設けてもよい。
In this embodiment, the nebulizer 13 is used.
And the carrier gas supply pipe 16 is provided on the side wall, and the microwave transmitter 19 is provided at the upper part in the housing 11. However, the present invention is not limited to this, and the sprayer 13 and the carrier gas supply pipe 16 are provided at the upper part. The vessels 19 may be provided on the respective side walls.

【0053】以下、前記のように構成された気化装置の
動作を説明する。まず、液体原料容器22に収納されて
いる液体原料は、液体原料供給器21によりその流量が
調節され噴霧器13に供給され、供給された液体原料は
霧状の液滴12となって筐体11内に噴射される。液滴
12の噴射方向にはマイクロ波発振器19により発振さ
れたマイクロ波18が出力されている。液滴12は、マ
イクロ波18に照射されることにより昇温され気化し
て、気化原料14が生成される。生成された気化原料1
4は筐体11内で搬送用ガス15に混合され、気化原料
搬送管17を通って外部に搬送される。
Hereinafter, the operation of the vaporizer configured as described above will be described. First, the flow rate of the liquid raw material accommodated in the liquid raw material container 22 is adjusted by the liquid raw material supply device 21 and supplied to the sprayer 13. Injected into. A microwave 18 oscillated by a microwave oscillator 19 is output in the ejection direction of the droplet 12. The droplets 12 are heated and vaporized by being irradiated with the microwaves 18 to generate vaporized raw materials 14. Vaporized raw material 1 generated
4 is mixed with the carrier gas 15 in the housing 11 and transported outside through the vaporized raw material transport pipe 17.

【0054】なお、マイクロ波により振動が励起される
分子は、分子全体として極性を有している必要がある。
すなわち、液体原料の溶質である有機金属又はその溶媒
が極性を有している必要がある。
The molecules whose vibration is excited by the microwave must have polarity as a whole.
That is, it is necessary that the organic metal or the solvent thereof, which is a solute of the liquid raw material, has polarity.

【0055】有極性分子を含む溶媒として、Rをアルキ
ル基とする化学式ROHで表わされる、いわゆるアルコ
ールが挙げられる。
Examples of the solvent containing a polar molecule include a so-called alcohol represented by the chemical formula ROH in which R is an alkyl group.

【0056】一方、有極性分子を含む有機金属として
は、Rをアルキル基、Mを金属元素、nを自然数とし、
化学式(RO)nMで表わされる、いわゆるアルコキシド
材料がある。また、化学式M[I3 CCOCHCOCI
3n で表わされ、Iが−H基,アルキル基及び電子吸
引基の中から有機金属が極性を有するように選択された
基よりなるβ−ジケトン化合物がある。なお、電子吸引
基の例としては、−NH3 ,−NR3 ,−NO2 ,−C
N,−COOR,−COOH,−CHO,−COR,−
CHCH2 ,−C65 ,−CCH,−CH2 Cl,−
OH,−OR,−F,−Cl,−Br又は−CF3が挙
げられる。
On the other hand, as organic metals containing polar molecules, R is an alkyl group, M is a metal element, n is a natural number,
There is a so-called alkoxide material represented by the chemical formula (RO) n M. The chemical formula M [I 3 CCOCHCOCI
3 ] There is a β-diketone compound represented by n , wherein I is a group selected from an —H group, an alkyl group and an electron-withdrawing group so that the organic metal has polarity. As examples of electron withdrawing groups, -NH 3, -NR 3, -NO 2, -C
N, -COOR, -COOH, -CHO, -COR,-
CHCH 2, -C 6 H 5, -CCH, -CH 2 Cl, -
OH, -OR, -F, -Cl, include -Br, or -CF 3.

【0057】マイクロ波発信器19から発信されるマイ
クロ波18の周波数を、溶媒又は有機金属の有極性分子
に振動を生じさせる周波数値に設定することにより液滴
12を昇温することができる。本実施形態においては、
溶質に比べて濃度比が圧倒的に大きい溶媒を加熱する方
が効率的な昇温が行なえるため、溶媒に、例えば、IP
Aを用いた場合には、マイクロ波18の周波数をもっと
も振動効率が高い3GHzに設定している。なお、材料
には、入手しやすくまたコストも考慮して、有機金属に
Ti(O−i−Pr)4 を用い、溶媒にIPAを用いてい
る。
The temperature of the droplets 12 can be raised by setting the frequency of the microwaves 18 transmitted from the microwave transmitter 19 to a frequency value that causes the solvent or the organic metal polar molecule to vibrate. In the present embodiment,
Heating a solvent whose concentration ratio is overwhelmingly larger than that of a solute can increase the temperature more efficiently.
When A is used, the frequency of the microwave 18 is set to 3 GHz where the vibration efficiency is highest. It should be noted that Ti (Oi-Pr) 4 is used for the organic metal and IPA is used for the solvent in consideration of availability and cost in consideration of the material.

【0058】ここで、マイクロ波18の強度が大きすぎ
ると気化原料14の分子の一部が分解してしまい、例え
ば、気化原料14が図示しない反応炉へ搬送される前に
成分元素であるTiを析出してしまうおそれがある。こ
のため、マイクロ波発信器19の出力を調節することに
より、最適な気化を実現できる出力、例えば、1kWの
出力として良好な気化状態を得ている。
Here, if the intensity of the microwave 18 is too high, some of the molecules of the vaporized raw material 14 will be decomposed. For example, before the vaporized raw material 14 is transported to a reaction furnace (not shown), May be precipitated. For this reason, by adjusting the output of the microwave transmitter 19, a favorable vaporization state is obtained as an output capable of realizing optimal vaporization, for example, an output of 1 kW.

【0059】このように、本実施形態によると、マイク
ロ波発信器19から発信されるマイクロ波18を用いて
霧状の液体原料を加熱するため、マイクロ波発振器19
の近くを流通する液体原料も遠くを流通する液体原料も
同様に昇温されるため、霧状の液体原料を均一に加熱す
ることができる。これにより、液体原料を均質に気化す
ることができるため、気化されずに液体状態のままで残
留する原料が生じることもなく、また、過熱による固体
物析出も生じない。この結果、従来必要であったフィル
ターの交換や気化装置内の固体物を除去する作業が不要
になり、本気化装置を用いたCVD装置においては、量
産時にもメンテナンスが容易となり、装置実動時間が増
える。
As described above, according to the present embodiment, since the mist-like liquid raw material is heated by using the microwave 18 transmitted from the microwave transmitter 19, the microwave oscillator 19 is used.
Since the temperature of the liquid raw material flowing near and the temperature of the liquid raw material flowing far away are similarly increased, the mist-like liquid raw material can be uniformly heated. As a result, the liquid raw material can be uniformly vaporized, so that no raw material remains in a liquid state without being vaporized, and no solid precipitates due to overheating. As a result, it is not necessary to replace the filter and remove the solid matter in the vaporizer, which is required in the past. In the CVD apparatus using the vaporizer, maintenance is easy even during mass production, and the operation time of the apparatus is reduced. Increase.

【0060】また、気化装置内の圧力損失が発生せず、
供給量の経時的変化を伴う要因がなくなるため、気化原
料の供給量は液体原料の供給量で制御され、常に安定な
気化原料の供給を行なうことができる。
Further, no pressure loss occurs in the vaporizer,
Since there is no longer a factor accompanied by a change in the supply amount over time, the supply amount of the vaporized raw material is controlled by the supply amount of the liquid raw material, so that stable supply of the vaporized raw material can be always performed.

【0061】なお、マイクロ波18による電磁波ノイズ
を遮断するため、筐体11に電磁波シールドを設けても
よい。電磁波シールドは電磁波のシールド性を備えてい
ればよく、例えば、アルミニウム、金、銀若しくは銅等
又はこれらの合金であってもよい。また、筐体11自体
を電磁波をシールドする構成としてもよい。
Incidentally, an electromagnetic wave shield may be provided on the housing 11 in order to block electromagnetic wave noise caused by the microwaves 18. The electromagnetic wave shield only needs to have an electromagnetic wave shielding property, and may be, for example, aluminum, gold, silver, copper, or an alloy thereof. Further, the housing 11 itself may be configured to shield electromagnetic waves.

【0062】(第2の実施形態)以下、本発明の第2の
実施形態を図面を参照しながら説明する。
(Second Embodiment) Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0063】図2は本発明の第2の実施形態に係るCV
D装置の構成を示す模式断面図である。図2において、
図1に示した部材と同一の部材には同一の符号を付すこ
とにより説明を省略する。図2に示すように、気化原料
を加熱して反応させる反応炉31には、その底面中央部
に、シース抵抗ヒーター等の図示しない加熱手段を有す
る基板保持台32が設置されており、該基板保持台32
の基板保持面には被成膜対象である例えばシリコンより
なる基板33が保持される。反応炉31の炉内上部にお
ける基板保持台32の上方に、液体原料から霧状の液滴
12を生成する噴霧器13と、生成された気化原料14
と反応する例えば酸素ガスのような反応ガス34を炉内
に供給する反応ガス供給管35とが設けられている。反
応炉31の内壁には、霧状の液滴12にマイクロ波18
を発振し、液滴12を構成する分子に振動を生じさせて
加熱することにより、気化原料14を生成するマイクロ
波発振器19が設けられている。反応炉31の外壁に
は、気化原料が再液化しないように加熱したオイルを内
部に循環させるなどして炉自体を保温する保温手段とし
ての反応炉加熱手段36が設けられている。反応炉31
の底部には、未反応の気化原料14や反応ガス34又は
反応により生成された不要ガスを炉外に排気する排気管
が設けられ、該排気管はポンプ等の排気手段37に接続
されている。
FIG. 2 shows a CV according to a second embodiment of the present invention.
It is a schematic cross section which shows the structure of D apparatus. In FIG.
The same members as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. As shown in FIG. 2, a reaction furnace 31 for heating and reacting a vaporized raw material is provided with a substrate holding table 32 having a heating means (not shown) such as a sheath resistance heater at the center of the bottom surface thereof. Holder 32
A substrate 33 made of, for example, silicon, which is a film formation target, is held on the substrate holding surface. An atomizer 13 for generating mist-like droplets 12 from a liquid raw material and a vaporized raw material 14 generated above a substrate holding table 32 in an upper part of the reactor 31.
And a reaction gas supply pipe 35 for supplying a reaction gas 34 such as oxygen gas, which reacts with the reaction gas, into the furnace. On the inner wall of the reactor 31, the microwave 18
And a microwave oscillator 19 that generates the vaporized raw material 14 by generating vibration and heating molecules constituting the droplet 12. The outer wall of the reactor 31 is provided with a reactor heating means 36 as a heat retaining means for keeping the temperature of the furnace itself by circulating oil heated therein so that the vaporized raw material is not reliquefied. Reactor 31
An exhaust pipe for exhausting the unreacted vaporized raw material 14, the reaction gas 34 or the unnecessary gas generated by the reaction to the outside of the furnace is provided at the bottom of the exhaust pipe, and the exhaust pipe is connected to an exhaust means 37 such as a pump. .

【0064】以下、前記のように構成されたCVD装置
の動作を説明する。まず、液体原料容器22内には、有
機金属にTi(O−i−Pr)4 を用い、溶媒にIPAを
用いた液体原料が収納されている。該液体原料は液体原
料供給器12によって噴霧器13に供給され、供給され
た液体原料は噴霧器13によって反応炉31内に霧状の
液滴12を噴出する。噴出された液滴12はマイクロ波
発振器19から発振されるマイクロ波18によって、例
えばIPAよりなる溶媒の有極性分子に分子振動が生じ
るため、溶媒の分子振動により液滴が昇温して気化し、
気化原料14となる。気化原料14は反応ガス供給管3
5から供給される反応ガス34と混合され、基板33の
表面に達する。基板33は基板保持台32の加熱手段に
より加熱されており、気化原料14の分解が得られ且つ
所望する結晶状態の膜が得られる温度に昇温されてい
る。本実施形態においては、基板33の温度を結晶粒径
が小さい酸化チタンが成長する550℃に設定してい
る。
Hereinafter, the operation of the above-configured CVD apparatus will be described. First, the liquid source container 22 contains a liquid source using Ti (Oi-Pr) 4 as an organic metal and IPA as a solvent. The liquid source is supplied to the atomizer 13 by the liquid source supplier 12, and the supplied liquid source ejects the mist-like droplets 12 into the reaction furnace 31 by the atomizer 13. The ejected droplet 12 is heated by the microwave 18 oscillated from the microwave oscillator 19 to cause molecular vibration of polar molecules of the solvent, for example, IPA. ,
It becomes the vaporized raw material 14. The vaporized raw material 14 is supplied to the reaction gas supply pipe 3
The gas is mixed with the reaction gas 34 supplied from 5 and reaches the surface of the substrate 33. The substrate 33 is heated by the heating means of the substrate holder 32, and is heated to a temperature at which the vaporized raw material 14 is decomposed and a film in a desired crystalline state is obtained. In the present embodiment, the temperature of the substrate 33 is set to 550 ° C. at which titanium oxide having a small crystal grain size grows.

【0065】なお、従来から噴霧器13を反応炉31と
直結する例がみられたが、ヒーター等による輻射加熱で
あるため、反応炉31内の周辺部と中央部とでは、霧状
の液体原料の気化状態が異なってしまう。特に、反応炉
31内で直接気化される場合は、霧状の液体原料のすべ
てを気化する必要があるため、輻射熱が届きにくい霧状
の液体原料中央部が十分に気化されるように加熱するの
で、周辺部では温度が上昇し過ぎて気化原料が分解して
しまい、その結果、パーティクルが発生する原因となる
場合があった。これに対し、本実施形態に係るCVD装
置によると、マイクロ波を用いて加熱しているため、霧
状の液体原料を均一に加熱することができるので、パー
ティクルの発生を防止することができる。
In the prior art, the atomizer 13 was directly connected to the reaction furnace 31. However, since radiation heating was performed by a heater or the like, the mist-like liquid material Vaporization state is different. In particular, when vaporized directly in the reaction furnace 31, it is necessary to vaporize all of the mist-like liquid raw material. Therefore, the mist-like liquid raw material, to which radiant heat is difficult to reach, is heated so as to be sufficiently vaporized. Therefore, in the peripheral portion, the temperature is excessively increased, and the vaporized raw material is decomposed, and as a result, particles may be generated. On the other hand, according to the CVD apparatus of the present embodiment, since the heating is performed using the microwave, the mist-like liquid raw material can be uniformly heated, so that generation of particles can be prevented.

【0066】また、反応炉31の内壁の温度が気化原料
14の露点(=再液化点)よりも低いと、壁面で再液化
が発生する場合があり、この再液化した原料が反応炉3
1内に残留したり変質したりするのに伴って成分元素が
析出し、パーティクルが発生することがある。該パーテ
ィクルが成膜中の膜に混入すると膜質が損なわれるた
め、気化原料14が再液化しないように、反応炉31の
外壁に設けられた反応炉加熱手段36を用いて加熱して
いる。炉内の温度は液体原料の種類に応じて設定する必
要があり、本実施形態の液体原料の場合は炉内が200
℃になるように設定している。
If the temperature of the inner wall of the reaction furnace 31 is lower than the dew point (= reliquefaction point) of the vaporized raw material 14, reliquefaction may occur on the wall surface.
In some cases, component elements are precipitated as they remain in or degenerate within 1, and particles may be generated. If the particles enter the film being formed, the quality of the film is impaired. Therefore, the vaporized raw material 14 is heated using the reactor heating means 36 provided on the outer wall of the reactor 31 so as not to reliquefy. It is necessary to set the temperature in the furnace according to the type of the liquid raw material.
° C.

【0067】本実施形態に係るCVD装置は、反応炉3
1内で液体原料を気化し成膜するため、従来のように気
化器の目詰まりやこれに伴う交換が不要となるので、長
期の連続使用が可能となる。その結果、膜形成の効率が
向上するだけでなく、コストも低減される。また、図1
に示した気化原料搬送管17が不要になるため、気化原
料搬送管17の温度制御も不要となり、装置構成や装置
の制御を簡略化できると共に気化原料搬送管17に目詰
まり等のトラブルが発生しなくなる。
The CVD apparatus according to the present embodiment
Since the liquid source is vaporized and formed into a film in the chamber 1, clogging of the vaporizer and replacement due to the clogging as in the related art are not required, so that long-term continuous use is possible. As a result, not only the efficiency of film formation is improved, but also the cost is reduced. FIG.
The need for temperature control of the vaporized raw material transport pipe 17 is also eliminated because the vaporized raw material transport pipe 17 shown in (1) is unnecessary, which simplifies the apparatus configuration and control of the apparatus, and causes troubles such as clogging of the vaporized raw material transport pipe 17. No longer.

【0068】さらに、マイクロ波18を用いて霧状の液
体原料を加熱するため、霧状の液体原料を均一に加熱す
ることができるので、均質な気化原料を生成することが
できる。これにより、成膜された膜の品質の向上を図る
ことができる。
Further, since the mist-like liquid raw material is heated by using the microwave 18, the mist-like liquid raw material can be heated uniformly, so that a homogeneous vaporized raw material can be produced. Thereby, the quality of the formed film can be improved.

【0069】なお、前記の第1の実施形態において、マ
イクロ波18の強度が大きすぎると、気化原料14は反
応炉に搬送される前に成分元素が析出してしまう場合が
あったが、本CVD装置では、気化してから基板33ま
での距離が短いため、析出の問題はほとんど発生しな
い。むしろ、マイクロ波18の強度を大きくすることに
より、気化原料14の分解を促進することによって、デ
バイスや配線がすでに形成されているような基板33に
対して熱による損傷を与えないように、より低温で結晶
性が良好な膜を迅速に形成することができる。すなわ
ち、本CVD装置ではマイクロ波18の強度を、例えば
2kWとすると、基板温度が450℃、成膜速度が10
nm/minであっても良好な結晶状態の膜を得ること
ができる。
In the first embodiment, if the intensity of the microwave 18 is too high, the constituent elements of the vaporized raw material 14 may be precipitated before being transported to the reaction furnace. In the CVD apparatus, since the distance from the vaporization to the substrate 33 is short, the problem of deposition hardly occurs. Rather, by increasing the intensity of the microwave 18, the decomposition of the vaporized raw material 14 is promoted, so that the substrate 33 on which devices and wiring are already formed is not damaged by heat. A film having good crystallinity can be quickly formed at a low temperature. That is, in the present CVD apparatus, when the intensity of the microwave 18 is, for example, 2 kW, the substrate temperature is 450 ° C., and the film forming speed is 10
Even in the case of nm / min, a film in a favorable crystalline state can be obtained.

【0070】このように、本実施形態によると、反応炉
31内でマイクロ波18を用いて霧状の液滴12を加熱
することにより、液体原料から気化原料を14を生成し
ているため、気化器が不要となり、装置構成や装置の制
御が容易になり且つメンテナンスが簡略化されると共
に、霧状の液滴12が均一に加熱されるため、液体原料
が均質に気化されるため、非成膜対象の基板33に達す
る前に個体成分が析出せず、高品質な膜を形成すること
ができる。
As described above, according to the present embodiment, the vaporized raw material 14 is generated from the liquid raw material by heating the atomized droplet 12 using the microwave 18 in the reaction furnace 31. Since a vaporizer becomes unnecessary, the apparatus configuration and control of the apparatus are simplified, maintenance is simplified, and the mist-like droplets 12 are uniformly heated, so that the liquid raw material is uniformly vaporized. Solid components do not precipitate before reaching the substrate 33 on which a film is to be formed, and a high-quality film can be formed.

【0071】なお、成膜の低温化をさらに促進するた
め、気化ガスや反応ガスに高周波の電界を印加できる機
構を設け、プラズマを発生してもよい。
In order to further promote lowering of the film formation temperature, a mechanism capable of applying a high-frequency electric field to the vaporized gas or the reaction gas may be provided to generate plasma.

【0072】また、本実施形態においては、金属酸化物
として酸化チタンを用いたが、酸化物を成膜対象にしな
い場合は、反応ガス34としての酸素ガスを炉内に導入
する必要がないことはいうまでもない。
In this embodiment, titanium oxide is used as the metal oxide. However, when the oxide is not used as a film-forming target, it is not necessary to introduce oxygen gas as the reaction gas 34 into the furnace. Needless to say.

【0073】(第3の実施形態)以下、本発明の第3の
実施形態を図面を参照しながら説明する。
(Third Embodiment) Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0074】図3(a)は本発明の第3の実施形態に係
るCVD装置の構成を示す模式断面図である。図3
(a)において、図2に示した部材と同一の部材には同
一の符号を付すことにより説明を省略する。図3に示す
ように、反応炉31における基板保持台32の上方に、
基板保持台32の基板保持面に対して垂直方向に延びる
中心軸を有し、且つ、径が基板保持面に近づくにつれて
大きくなる円錐台形の気流制御手段41が新たな部材と
して設けられている。図3(b)の斜視図に示すよう
に、気流制御手段41は内径が互いに異なり且つ径方向
の断面が同心円状である複数の筒体41a,41a,…
により構成されている。
FIG. 3A is a schematic sectional view showing the structure of a CVD apparatus according to the third embodiment of the present invention. FIG.
In FIG. 2A, the same members as those shown in FIG. As shown in FIG. 3, above the substrate holding table 32 in the reaction furnace 31,
A frustoconical airflow control means 41 having a central axis extending in a direction perpendicular to the substrate holding surface of the substrate holding table 32 and having a diameter increasing as approaching the substrate holding surface is provided as a new member. As shown in the perspective view of FIG. 3B, the airflow control means 41 has a plurality of cylindrical bodies 41a, 41a,.
It consists of.

【0075】以下、前記のように構成されたCVD装置
の動作を説明する。前記の第2の実施形態と同様に、噴
霧器13から噴霧される霧状の液滴12に対して、マイ
クロ波発振器19から発信されるマイクロ波18が照射
される。これにより、気流制御手段41の上方に液体原
料が気化された気化原料14が生成される。
Hereinafter, the operation of the CVD apparatus configured as described above will be described. As in the second embodiment, the mist-like droplet 12 sprayed from the sprayer 13 is irradiated with the microwave 18 transmitted from the microwave oscillator 19. Thereby, the vaporized raw material 14 in which the liquid raw material is vaporized is generated above the airflow control means 41.

【0076】ここで、一般に、分子量が大きい有機金属
原料を用いた場合は、気化した後も拡散しにくいという
性質を有している。この性質のために、被成膜対象であ
る基板33上の全面にわたって均一な膜厚を得ることが
難しい上、複数の元素からなる原料を用いる場合は、さ
らに均一な組成を得ることが難しかった。
Here, in general, when an organic metal raw material having a large molecular weight is used, it has a property that it is difficult to diffuse even after being vaporized. Due to this property, it is difficult to obtain a uniform film thickness over the entire surface of the substrate 33 on which a film is to be formed, and when a raw material including a plurality of elements is used, it is difficult to obtain a more uniform composition. .

【0077】マイクロ波18が照射されて気化した気化
原料14は、噴霧器13の噴射特性に応じた密度分布を
基板保持台32の基板保持面方向に有することになる。
例えば、本実施形態の噴霧器13の場合は、気化原料1
4の密度は炉内の中央部付近が高く、側壁に近づくほど
その密度が低くなる分布を有している。気流制御手段4
1は、この噴霧器13の噴霧特性に応じて、各筒体41
aにそれぞれ同量の気化原料14が搬入されるように、
気流制御手段41の円錐台形の上底部である搬入側の各
筒体41aの内径がそれぞれつくる間隙の幅を変化させ
ている。従って、気流制御手段41の下底部である搬出
側では、各筒体41aの内径がそれぞれつくる間隙の幅
をほぼ一定としている。
The vaporized raw material 14 that has been irradiated with the microwave 18 and vaporized has a density distribution in the direction of the substrate holding surface of the substrate holding table 32 according to the injection characteristics of the atomizer 13.
For example, in the case of the atomizer 13 of the present embodiment, the vaporized raw material 1
The density of No. 4 has a distribution that is high near the center of the furnace and decreases as it approaches the side wall. Airflow control means 4
1 is a cylinder 41 according to the spray characteristics of the sprayer 13.
a so that the same amount of vaporized raw material 14 is carried into each of
The width of the gap formed by the inside diameter of each of the cylindrical bodies 41a on the loading side, which is the upper bottom of the truncated cone of the airflow control means 41, is changed. Therefore, on the discharge side, which is the lower bottom portion of the airflow control means 41, the width of the gap formed by the inner diameter of each cylindrical body 41a is made substantially constant.

【0078】これにより、気流制御手段41の搬出側で
は、気化原料14に均一な密度分布を持たせることが可
能になる。また、気化原料14及び反応ガス34の拡散
による組成ずれの影響も抑制することができる。
Thus, on the discharge side of the airflow control means 41, the vaporized raw material 14 can have a uniform density distribution. Further, the influence of the composition deviation due to the diffusion of the vaporized raw material 14 and the reaction gas 34 can be suppressed.

【0079】なお、気流制御手段41には、例えば、加
熱したオイルを循環するなどの図示しない加熱手段を内
装しており、気化原料14が再液化しないよう、例えば
200℃になるように保持されている。
The air flow control means 41 is provided with a heating means (not shown) for circulating heated oil, for example, and is kept at, for example, 200 ° C. so that the vaporized raw material 14 is not reliquefied. ing.

【0080】以上説明したように、本実施形態による
と、被成膜対象の基板33に対し、均一な密度で気化原
料14を供給することができるため、成膜される膜は基
板33の面内で均一な膜厚と均一な組成を得ることがで
きる。
As described above, according to the present embodiment, the vaporized raw material 14 can be supplied at a uniform density to the substrate 33 on which a film is to be formed. In this case, a uniform film thickness and a uniform composition can be obtained.

【0081】なお、本実施形態においては、気流制御手
段41の構成を、各筒体41aの内径がそれぞれつくる
間隙の幅を密度分布に応じて搬入側で変えるようにし、
搬出側でほぼ一定の幅を有するようにしたが、気化原料
14が搬出側で均一な密度を得られるならば、搬出側の
幅は任意に設定可能であることは自明である。
In the present embodiment, the configuration of the airflow control means 41 is such that the width of the gap formed by the inner diameter of each cylinder 41a is changed on the loading side in accordance with the density distribution.
The discharge side has a substantially constant width. However, if the vaporized raw material 14 can obtain a uniform density on the discharge side, it is obvious that the width on the discharge side can be arbitrarily set.

【0082】[0082]

【発明の効果】請求項1の発明に係る気化装置による
と、マイクロ波発信器を備え、該マイクロ波発信器が発
振するマイクロ波を用いて霧状の液滴全体を均一に加熱
することができるため、装置の内部に液体又は固体の残
留物の発生を防止することができるので、これらの残留
物を除去する手段や気化器本体の定期的な交換が不要に
なる。その結果、長期間にわたって安定した気化原料を
生成することができる。
According to the vaporizer of the first aspect of the present invention, a microwave transmitter is provided, and the entire mist droplet can be uniformly heated using the microwave oscillated by the microwave transmitter. Since it is possible to prevent the generation of liquid or solid residues inside the apparatus, the means for removing these residues and the periodic replacement of the vaporizer main body become unnecessary. As a result, a stable vaporized raw material can be generated over a long period of time.

【0083】請求項2の発明に係る気化装置によると、
請求項1の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
気化原料を該気化原料の再液化点以上且つ分解点以下の
温度に保温する保温手段を備えているため、生成された
気化原料が再液化することがないので、より安定した気
化原料が生成される。
According to the vaporizer according to the second aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 1,
Since there is provided a heat retaining means for keeping the vaporized raw material at a temperature not lower than the reliquefaction point of the vaporized raw material and not higher than the decomposition point, the generated vaporized raw material does not reliquefy, so that a more stable vaporized raw material is generated. You.

【0084】請求項3の発明に係る気化装置によると、
請求項1の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
液体原料の溶媒は有極性分子を含むため、該液体原料は
マイクロ波により分子振動が生じて加熱されるので、気
化原料を確実に生成することができる。
According to the vaporizer according to the third aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 1,
Since the solvent of the liquid raw material contains polar molecules, the liquid raw material is heated by the generation of molecular vibrations due to microwaves, so that the vaporized raw material can be reliably produced.

【0085】請求項4の発明に係る気化装置によると、
請求項3の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
溶媒が一般式ROH(但し、Rはアルキル基)で表わさ
れるアルコールであるため、マイクロ波により確実に加
熱される。
According to the vaporizer of the fourth aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 3,
Since the solvent is an alcohol represented by the general formula ROH (where R is an alkyl group), the solvent is reliably heated by the microwave.

【0086】請求項5の発明に係る気化装置によると、
請求項4の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
マイクロ波の周波数が1GHz以上且つ5GHz以下で
あるため、溶媒のアルコールに対してもっとも振動効率
が高いので、溶媒がマイクロ波により一層確実に加熱さ
れる。その結果、安定した気化原料が確実に生成される
ことになる。
According to the vaporizer according to the fifth aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 4,
Since the frequency of the microwave is 1 GHz or more and 5 GHz or less, the vibration efficiency is highest with respect to the alcohol of the solvent, and thus the solvent is more reliably heated by the microwave. As a result, a stable vaporized raw material is reliably generated.

【0087】請求項6の発明に係る気化装置によると、
請求項1の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
液体原料に溶解されている有機金属は有極性分子を含む
ため、該液体原料はマイクロ波により分子振動が生じて
確実に加熱されるので、気化原料を確実に生成できる。
According to the vaporizer according to claim 6 of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 1,
Since the organic metal dissolved in the liquid raw material contains polar molecules, the liquid raw material is surely heated due to the generation of molecular vibrations by microwaves, so that the vaporized raw material can be reliably generated.

【0088】請求項7の発明に係る気化装置によると、
請求項6の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
有機金属が一般式(RO)nM(但し、Rはアルキル基、
Mは金属元素、nは自然数)で表わされるため、マイク
ロ波により分子振動が生じて確実に加熱されるので、気
化原料を確実に生成できる。
According to the vaporizer according to the seventh aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 6,
The organic metal is represented by the general formula (RO) n M (where R is an alkyl group,
Since M is represented by a metal element and n is a natural number), the molecular vibration is generated by the microwaves and the material is reliably heated, so that the vaporized raw material can be reliably generated.

【0089】請求項8の発明に係る気化装置によると、
請求項6の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
有機金属が一般式M[I3 CCOCHCOCI3n
(但し、Mは金属元素、nは自然数、Iは水素基、アル
キル基又は電子吸引基)で表わされるため、マイクロ波
により分子振動が生じて確実に加熱されるので、気化原
料を確実に生成できる。
According to the vaporizer according to the eighth aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 6,
The organic metal has the general formula M [I 3 CCOCHCOCI 3 ] n
(However, M is a metal element, n is a natural number, and I is a hydrogen group, an alkyl group, or an electron-withdrawing group). Therefore, molecular vibration is generated by microwaves, and the material is heated without fail. it can.

【0090】請求項9の発明に係る気化装置によると、
請求項8の発明に係る気化装置の効果が得られる上に、
電子吸引基が、−NH3 ,−NR3 (但し、Rはアルキ
ル基。以下この本文において同じ。),−NO2 ,−C
N,−COOR,−COOH,−CHO,−COR,−
CHCH2 ,−C65,−CCH,−CH2 Cl,−O
H,−OR,−F,−Cl,−Br及び−CF3 のうち
の少なくとも1つを含むため、マイクロ波により分子振
動が生じて一層確実に加熱されるので、気化原料を確実
に生成できることになる。
According to the vaporizer according to the ninth aspect of the present invention,
In addition to obtaining the effect of the vaporizer according to the invention of claim 8,
When the electron-withdrawing group is -NH 3 , -NR 3 (where R is an alkyl group; hereinafter the same in this text), -NO 2 , -C
N, -COOR, -COOH, -CHO, -COR,-
CHCH 2 , —C 6 H 5 , —CCH, —CH 2 Cl, —O
Since it contains at least one of H, -OR, -F, -Cl, -Br and -CF 3 , molecular vibrations are generated by microwaves and heating is performed more reliably, so that a vaporized raw material can be reliably generated. become.

【0091】請求項10の発明に係るCVD装置による
と、液体原料を反応炉内で気化するため、気化器が不要
となるので、装置の構成や制御が容易になると共にメン
テナンスが容易になる。
According to the tenth aspect of the present invention, since the liquid raw material is vaporized in the reaction furnace, a vaporizer is not required, so that the configuration and control of the apparatus and the maintenance are facilitated.

【0092】また、マイクロ波発振器を備え、該マイク
ロ波発信器が発信するマイクロ波を用いて霧状の液滴を
加熱するため、霧状の液滴がその中央部や周辺部に依ら
ず均一に加熱されるので、液体原料が均質に気化され
る。これにより、被成膜対象である基板に個体物の析出
が発生せず、膜質の良好な成膜を行なうことができる。
Further, a microwave oscillator is provided, and the mist-like droplet is heated by using the microwave transmitted from the microwave oscillator, so that the mist-like droplet is uniform regardless of its central part and peripheral part. , The liquid raw material is uniformly vaporized. Accordingly, solid deposition does not occur on the substrate on which the film is to be formed, and a film having good film quality can be formed.

【0093】請求項11の発明に係るCVD装置による
と、請求項10の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、反応炉は気化原料が再液化しないよう該気化原
料を保温する保温手段を有しているため、生成された気
化原料が再液化することがないので、より安定した気化
原料が生成されるようになり、形成される膜の膜質が向
上する。
According to the CVD apparatus of the eleventh aspect, the effect of the CVD apparatus of the tenth aspect can be obtained, and the reaction furnace keeps the vaporized raw material warm so as not to reliquefy the vaporized raw material. , The generated vaporized raw material is not reliquefied, so that a more stable vaporized raw material is generated and the film quality of the formed film is improved.

【0094】請求項12の発明に係るCVD装置による
と、請求項10の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、反応炉が、気化原料と反応する反応ガスを反応
炉内に供給する反応ガス供給管を有しているため、適当
な反応ガスを選択して供給することにより、例えば、酸
化物や窒化物等の成膜を行なうことができる。
According to the CVD apparatus of the twelfth aspect, the effect of the CVD apparatus of the tenth aspect can be obtained, and the reaction furnace supplies a reaction gas reacting with the vaporized raw material into the reaction furnace. Since the reaction gas supply pipe is provided, a film of, for example, an oxide or a nitride can be formed by selecting and supplying an appropriate reaction gas.

【0095】請求項13の発明に係るCVD装置による
と、請求項12の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、反応ガスは、O2 ,NO,N2 O及びO3 のう
ちの少なくとも1つを含むため、酸化物や窒化物等の成
膜を確実に行なうことができる。
According to the CVD apparatus of the thirteenth aspect, the effect of the CVD apparatus of the twelfth aspect can be obtained, and the reaction gas is O 2 , NO, N 2 O and O 3 . Since at least one is included, a film of an oxide, a nitride, or the like can be reliably formed.

【0096】請求項14の発明に係るCVD装置による
と、請求項10の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、マイクロ波発信器が、気化原料を構成する分子
の一部を分解するマイクロ波を気化原料に照射するた
め、気化原料の一部が分解されて基板の表面に到達する
ので、通常よりも低温で結晶性が良好な膜を迅速に形成
することができる。これにより、基板上にデバイスや配
線が形成されている場合であっても、これらのデバイス
等に熱による損傷を与えることがないので、歩留まりを
向上させることができる。
According to the CVD apparatus of the fourteenth aspect, the effect of the CVD apparatus of the tenth aspect is obtained, and the microwave transmitter decomposes a part of the molecules constituting the vaporized raw material. Since the vaporized raw material is irradiated with microwaves, a part of the vaporized raw material is decomposed and reaches the surface of the substrate, so that a film having good crystallinity can be quickly formed at a lower temperature than usual. Thus, even when devices and wirings are formed on the substrate, these devices and the like are not damaged by heat, so that the yield can be improved.

【0097】請求項15の発明に係るCVD装置による
と、請求項10の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、基板保持台の上方に設けられ、気化原料の濃度
を均一にするための気流制御手段をさらに備えているた
め、被成膜対象である基板に均一な密度で気化原料を供
給することができるので、基板上に形成される膜は基板
の面内で均一な膜厚で且つ均一な組成を得ることができ
るようになり、その結果、分子量の大きな原料に対して
も良好な成膜を行なうことができる。
According to the CVD apparatus of the fifteenth aspect, the effect of the CVD apparatus of the tenth aspect can be obtained, and furthermore, the CVD apparatus is provided above the substrate holding table to make the concentration of the vaporized raw material uniform. Is further provided with a gas flow control means, so that a vaporized raw material can be supplied at a uniform density to a substrate on which a film is to be formed, so that a film formed on the substrate has a uniform film thickness in the plane of the substrate. And a uniform composition can be obtained. As a result, a good film can be formed even on a raw material having a high molecular weight.

【0098】請求項16の発明に係るCVD装置による
と、請求項15の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、気流制御手段は、基板保持台の基板保持面に垂
直な中心軸を有し且つ径が前記基板保持面に近づくにつ
れて大きくなる円錐台形であって、内径が互いに異なり
且つ径方向の断面が同心円状である複数の筒体により構
成されているため、基板に対して気化原料の濃度を確実
に均一化することができる。
According to the CVD apparatus of the sixteenth aspect, the effect of the CVD apparatus of the fifteenth aspect can be obtained, and the air flow control means adjusts the center axis perpendicular to the substrate holding surface of the substrate holding table. It has a frusto-conical shape whose diameter increases as approaching the substrate holding surface, and has a plurality of cylinders having different inner diameters and concentric circular cross sections in the radial direction. The concentration of the raw material can be reliably made uniform.

【0099】請求項17の発明に係るCVD装置による
と、請求項15又は16の発明に係るCVD装置の効果
が得られる上に、気流制御手段は気化原料の再液化点以
上で且つ分解点以下の温度に保温されているため、生成
された気化原料が再液化することがないので、基板に対
する気化原料の濃度がより確実に均一化される。
According to the CVD apparatus of the seventeenth aspect, the effect of the CVD apparatus according to the fifteenth or sixteenth aspect can be obtained, and the gas flow control means is provided at a temperature higher than the reliquefaction point of the vaporized raw material and lower than the decomposition point. Since the temperature is kept at the temperature, the generated vaporized raw material does not re-liquefy, so that the concentration of the vaporized raw material with respect to the substrate is more reliably made uniform.

【0100】請求項18の発明に係るCVD装置による
と、請求項10の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、液体原料の溶媒は有極性分子を含むため、該液
体原料はマイクロ波により分子振動が生じて加熱される
ので、確実に気化原料を生成できる。
According to the CVD apparatus of the eighteenth aspect, the effect of the CVD apparatus of the tenth aspect can be obtained, and since the solvent of the liquid raw material contains polar molecules, the liquid raw material is a microwave. As a result, molecular vibrations are generated and heating is performed, so that a vaporized raw material can be reliably generated.

【0101】請求項19の発明に係るCVD装置による
と、請求項18の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、溶媒が一般式ROH(但し、Rはアルキル基)
で表わされるアルコールであるため、マイクロ波により
分子振動が生じて確実に加熱されるので、気化原料を確
実に生成できる。
According to the CVD apparatus according to the nineteenth aspect, the effect of the CVD apparatus according to the eighteenth aspect is obtained, and the solvent is a compound represented by the general formula ROH (where R is an alkyl group).
Since the alcohol is represented by the formula, the molecular vibration is generated by the microwave and the heating is ensured, so that the vaporized raw material can be reliably generated.

【0102】確実に加熱される。The heating is assured.

【0103】請求項20の発明に係るCVD装置による
と、請求項19の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、マイクロ波の周波数が1GHz以上且つ5GH
z以下であるため、溶媒のアルコールに対してもっとも
振動効率が高いので、溶媒がマイクロ波により一層確実
に加熱される。その結果、安定した気化原料が確実に生
成されることになるので、高品質の成膜を行なうことが
できる。
According to the CVD apparatus of the twentieth aspect, the effect of the CVD apparatus of the nineteenth aspect can be obtained, and the frequency of the microwave is 1 GHz or more and 5 GHz.
Since it is equal to or less than z, the vibration efficiency is the highest with respect to the alcohol of the solvent, so that the solvent is more reliably heated by the microwave. As a result, a stable vaporized raw material is reliably generated, so that a high-quality film can be formed.

【0104】請求項21の発明に係るCVD装置による
と、請求項10の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、液体原料に溶解されている有機金属は有極性分
子を含むため、該液体原料はマイクロ波により分子振動
が生じて確実に加熱されるので、気化原料を確実に生成
できる。
According to the CVD apparatus of the twenty-first aspect, the effect of the CVD apparatus of the tenth aspect is obtained, and the organic metal dissolved in the liquid material contains polar molecules. Since the liquid raw material is heated reliably due to the generation of molecular vibrations by the microwave, the vaporized raw material can be reliably generated.

【0105】請求項22の発明に係るCVD装置による
と、請求項21の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、有機金属が一般式(RO)nM(但し、Rはアル
キル基、Mは金属元素、nは自然数)で表わされるた
め、マイクロ波により分子振動が生じて確実に加熱され
るので、気化原料を確実に生成できる。
According to the CVD apparatus of the twenty-second aspect, the effect of the CVD apparatus of the twenty-first aspect is obtained, and the organic metal is represented by the general formula (RO) n M (where R is an alkyl group, Since M is represented by a metal element and n is a natural number), the molecular vibration is generated by the microwaves and the material is reliably heated, so that the vaporized raw material can be reliably generated.

【0106】請求項23の発明に係るCVD装置による
と、請求項21の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、有機金属が一般式M[I3 CCOCHCOCI
3n (但し、Mは金属元素、nは自然数、Iは水素
基、アルキル基又は電子吸引基)で表わされるため、マ
イクロ波により分子振動が生じて確実に加熱されるの
で、気化原料を確実に生成できる。
According to the CVD apparatus of the twenty- third aspect, the effect of the CVD apparatus of the twenty-first aspect is obtained, and the organic metal is represented by the general formula M [I 3 CCOCHCOCI.
3 ] n (where M is a metal element, n is a natural number, and I is a hydrogen group, an alkyl group, or an electron withdrawing group). Can be generated reliably.

【0107】請求項24の発明に係るCVD装置による
と、請求項23の発明に係るCVD装置の効果が得られ
る上に、電子吸引基が、−NH3 ,−NR3 (但し、R
はアルキル基。以下本文において同じ。),−NO2
−CN,−COOR,−COOH,−CHO,−CO
R,−CHCH2 ,−C65,−CCH,−CH2
l,−OH,−OR,−F,−Cl,−Br及び−CF
3 のうちの少なくとも1つを含むため、マイクロ波によ
り分子振動が生じて一層確実に加熱されるので、気化原
料を確実に生成できることになる。
According to the CVD apparatus of the twenty-fourth aspect, the effect of the CVD apparatus of the twenty- third aspect can be obtained, and the electron-withdrawing group can be represented by -NH 3 , -NR 3 (where R
Is an alkyl group. The same applies hereinafter in the text. ), - NO 2,
-CN, -COOR, -COOH, -CHO, -CO
R, -CHCH 2, -C 6 H 5, -CCH, -CH 2 C
1, -OH, -OR, -F, -Cl, -Br and -CF
Since at least one of the three is included, the molecular vibration is generated by the microwave and the heating is performed more reliably, so that the vaporized raw material can be reliably generated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係る気化装置の構成
を示す模式断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating a configuration of a vaporizer according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施形態に係るCVD装置の構
成を示す模式断面図である。
FIG. 2 is a schematic sectional view illustrating a configuration of a CVD apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図3】(a)は本発明の第3の実施形態に係るCVD
装置の構成を示す模式断面図である。(b)は本発明の
第3の実施形態に係るCVD装置の気流制御手段の斜視
図である。
FIG. 3 (a) shows a CVD according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view illustrating a configuration of the device. (B) is a perspective view of the airflow control means of the CVD apparatus according to the third embodiment of the present invention.

【図4】従来の溶液気化方式のCVD装置の構成断面図
である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a configuration of a conventional solution vaporization type CVD apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 筐体 12 液滴 13 噴霧器 14 気化原料 15 搬送用ガス 16 搬送用ガス供給管 17 気化原料搬送管 18 マイクロ波 19 マイクロ波発振器 20 保温用ヒーター 21 液体原料供給器 22 液体原料容器 31 反応炉 32 基板保持台 33 基板 34 反応ガス 35 反応ガス供給管 36 反応炉加熱手段 37 排気手段 41 気流制御手段 41a 筒体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Case 12 Droplet 13 Atomizer 14 Vaporized raw material 15 Transport gas 16 Transport gas supply pipe 17 Vaporized raw material transport pipe 18 Microwave 19 Microwave oscillator 20 Heating heater 21 Liquid raw material feeder 22 Liquid raw material container 31 Reaction furnace 32 Substrate holding table 33 Substrate 34 Reactive gas 35 Reactive gas supply pipe 36 Reactor heating means 37 Exhaust means 41 Air flow control means 41a Cylindrical body

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液体原料が供給され、供給された液体原
料を霧状の液滴にする噴霧器と、 前記液滴にマイクロ波を発振し、前記液滴を構成する分
子に振動を生じさせて加熱することにより、気化原料を
生成するマイクロ波発振器とを備えていることを特徴と
する気化装置。
A liquid material is supplied, an atomizer for converting the supplied liquid material into mist-like droplets, and a microwave is oscillated on the droplets to generate vibrations in molecules constituting the droplets. A vaporizer, comprising: a microwave oscillator that generates a vaporized raw material by heating.
【請求項2】 前記気化原料を該気化原料の再液化点以
上且つ分解点以下の温度に保温する保温手段をさらに備
えていることを特徴とする請求項1に記載の気化装置。
2. The vaporizer according to claim 1, further comprising a heat retaining means for keeping the vaporized raw material at a temperature higher than a reliquefaction point and lower than a decomposition point of the vaporized raw material.
【請求項3】 前記液体原料の溶媒は有極性分子を含む
ことを特徴とする請求項1に記載の気化装置。
3. The vaporizer according to claim 1, wherein the solvent of the liquid material contains polar molecules.
【請求項4】 前記溶媒は一般式ROH(但し、Rはア
ルキル基である。)で表わされることを特徴とする請求
項3に記載の気化装置。
4. The vaporizer according to claim 3, wherein the solvent is represented by a general formula ROH (where R is an alkyl group).
【請求項5】 前記マイクロ波発振器が発振するマイク
ロ波の周波数は、1GHz以上且つ5GHz以下である
ことを特徴とする請求項4に記載の気化装置。
5. The vaporizer according to claim 4, wherein the frequency of the microwave oscillated by the microwave oscillator is 1 GHz or more and 5 GHz or less.
【請求項6】 前記液体原料に溶解されている有機金属
は有極性分子を含むことを特徴とする請求項1に記載の
気化装置。
6. The vaporizer according to claim 1, wherein the organic metal dissolved in the liquid raw material contains a polar molecule.
【請求項7】 前記有機金属は一般式(RO)nM(但
し、Rはアルキル基、Mは金属元素、nは自然数であ
る。)で表わされることを特徴とする請求項6に記載の
気化装置。
7. The method according to claim 6, wherein the organic metal is represented by a general formula (RO) n M (where R is an alkyl group, M is a metal element, and n is a natural number). Vaporizer.
【請求項8】 前記有機金属は一般式M[I3 CCOC
HCOCI3n (但し、Mは金属元素、nは自然数、
Iは水素基、アルキル基又は電子吸引基である。)で表
わされることを特徴とする請求項6に記載の気化装置。
8. The organic metal of the general formula M [I 3 CCOC
HCOCI 3 ] n (where M is a metal element, n is a natural number,
I is a hydrogen group, an alkyl group or an electron withdrawing group. 7. A vaporizer according to claim 6, characterized in that:
【請求項9】 前記電子吸引基は、−NH3 ,−NR3
(但し、Rはアルキル基である。),−NO2 ,−C
N,−COOR(但し、Rはアルキル基である。),−
COOH,−CHO,−COR(但し、Rはアルキル基
である。),−CHCH2 ,−C65,−CCH,−C
2 Cl,−OH,−OR(但し、Rはアルキル基であ
る。),−F,−Cl,−Br及び−CF3 のうちの少
なくとも1つを含むことを特徴とする請求項8に記載の
気化装置。
9. The method according to claim 9, wherein the electron-withdrawing group is —NH 3 , —NR 3
(Wherein, R is an alkyl group.), - NO 2, -C
N, -COOR (where R is an alkyl group),-
COOH, -CHO, -COR (where, R is an alkyl group.), - CHCH 2, -C 6 H 5, -CCH, -C
H 2 Cl, -OH, -OR (where, R is an alkyl group.), - F, -Cl, to claim 8, characterized in that it comprises at least one of -Br and -CF 3 A vaporizer as described.
【請求項10】 反応炉と、 前記反応炉の内部に設けられ、基板を保持すると共に保
持した基板を加熱する基板保持台と、 液体原料を霧状の液滴にして前記基板保持台の上方に噴
霧する噴霧器と、 前記液滴にマイクロ波を発振し、前記液滴を構成する分
子に振動を生じさせて加熱することにより気化原料を生
成し、前記基板の表面に前記気化原料を供給するマイク
ロ波発振器とを備えていることを特徴とするCVD装
置。
10. A reaction furnace, a substrate holding table provided inside the reaction furnace for holding the substrate and heating the held substrate, and a liquid material formed into mist-like droplets above the substrate holding table. An atomizer for spraying the droplets, oscillating microwaves on the droplets, generating vibrations in molecules constituting the droplets and heating them to generate a vaporized raw material, and supplying the vaporized raw material to the surface of the substrate A CVD apparatus comprising a microwave oscillator.
【請求項11】 前記反応炉は、前記気化原料が再液化
しないよう該気化原料を保温する保温手段を有している
ことを特徴とする請求項10に記載のCVD装置。
11. The CVD apparatus according to claim 10, wherein the reaction furnace has a heat retaining means for keeping the vaporized raw material warm so as not to reliquefy the vaporized raw material.
【請求項12】 前記反応炉は、前記気化原料と反応す
る反応ガスを前記反応炉内に供給する反応ガス供給管を
有していることを特徴とする請求項10に記載のCVD
装置。
12. The CVD according to claim 10, wherein the reaction furnace has a reaction gas supply pipe for supplying a reaction gas reacting with the vaporized raw material into the reaction furnace.
apparatus.
【請求項13】 前記反応ガスは、O2 ,NO,N2
及びO3 のうちの少なくとも1つを含むことを特徴とす
る請求項12に記載のCVD装置。
13. The reaction gas may be O 2 , NO, N 2 O.
13. The CVD apparatus according to claim 12, comprising at least one of O 3 and O 3 .
【請求項14】 前記マイクロ波発信器は、前記気化原
料を構成する分子の一部を分解するマイクロ波を前記気
化原料に照射することを特徴とする請求項10に記載の
CVD装置。
14. The CVD apparatus according to claim 10, wherein the microwave transmitter irradiates the vaporized raw material with a microwave for decomposing a part of molecules constituting the vaporized raw material.
【請求項15】 前記基板保持台の上方に設けられ、前
記気化原料の濃度を均一にするための気流制御手段をさ
らに備えていることを特徴とする請求項10に記載のC
VD装置。
15. The C according to claim 10, further comprising an airflow control unit provided above the substrate holding table and configured to make the concentration of the vaporized raw material uniform.
VD device.
【請求項16】 前記気流制御手段は、前記基板保持台
の基板保持面に垂直な中心軸を有し且つ径が前記基板保
持面に近づくにつれて大きくなる円錐台形であって、内
径が互いに異なり且つ径方向の断面が同心円状である複
数の筒体よりなることを特徴とする請求項15に記載の
CVD装置。
16. The airflow controlling means has a central axis perpendicular to the substrate holding surface of the substrate holding table, and has a truncated cone shape whose diameter increases as approaching the substrate holding surface. The CVD apparatus according to claim 15, wherein the CVD apparatus comprises a plurality of cylindrical bodies whose radial cross sections are concentric.
【請求項17】 前記気流制御手段は前記気化原料の再
液化点以上で且つ分解点以下の温度に保持されているこ
とを特徴とする請求項15又は16に記載のCVD装
置。
17. The CVD apparatus according to claim 15, wherein said gas flow control means is maintained at a temperature equal to or higher than a reliquefaction point of said vaporized raw material and equal to or lower than a decomposition point.
【請求項18】 前記液体原料の溶媒は有極性分子を含
むことを特徴とする請求項10に記載のCVD装置。
18. The CVD apparatus according to claim 10, wherein the solvent of the liquid material contains a polar molecule.
【請求項19】 前記溶媒は一般式ROH(但し、Rは
アルキル基である。)で表わされることを特徴とする請
求項18に記載のCVD装置。
19. The CVD apparatus according to claim 18, wherein the solvent is represented by a general formula ROH (where R is an alkyl group).
【請求項20】 前記マイクロ波発振器が発振するマイ
クロ波の周波数は、1GHz以上且つ5GHz以下であ
ることを特徴とする請求項19に記載のCVD装置。
20. The CVD apparatus according to claim 19, wherein the frequency of the microwave oscillated by the microwave oscillator is 1 GHz or more and 5 GHz or less.
【請求項21】 前記液体原料に溶解されている有機金
属は有極性分子を含むことを特徴とする請求項10に記
載のCVD装置。
21. The CVD apparatus according to claim 10, wherein the organic metal dissolved in the liquid source contains polar molecules.
【請求項22】 前記有機金属は一般式(RO)nM(但
し、Rはアルキル基、Mは金属元素、nは自然数であ
る。)で表わされることを特徴とする請求項21に記載
のCVD装置。
22. The method according to claim 21, wherein the organic metal is represented by a general formula (RO) n M (where R is an alkyl group, M is a metal element, and n is a natural number). CVD equipment.
【請求項23】 前記有機金属は一般式M[I3 CCO
CHCOCI3n(但し、Mは金属元素、nは自然
数、Iは水素基、アルキル基又は電子吸引基である。)
で表わされることを特徴とする請求項21に記載のCV
D装置。
23. The organometallic compound represented by the general formula M [I 3 CCO
CHCOCI 3 ] n (where M is a metal element, n is a natural number, and I is a hydrogen group, an alkyl group, or an electron withdrawing group)
22. The CV according to claim 21, wherein
D device.
【請求項24】 前記電子吸引基は、−NH3 ,−NR
3 (但し、Rはアルキル基である。),−NO2 ,−C
N,−COOR(但し、Rはアルキル基である。),−
COOH,−CHO,−COR(但し、Rはアルキル基
である。),−CHCH2 ,−C65,−CCH,−C
2 Cl,−OH,−OR(但し、Rはアルキル基であ
る。),−F,−Cl,−Br及び−CF3 のうちの少
なくとも1つを含むことを特徴とする請求項23に記載
のCVD装置。
24. The electron withdrawing group is —NH 3 , —NR
3 (where R is an alkyl group), -NO 2 , -C
N, -COOR (where R is an alkyl group),-
COOH, -CHO, -COR (where, R is an alkyl group.), - CHCH 2, -C 6 H 5, -CCH, -C
H 2 Cl, -OH, -OR (where, R is an alkyl group.), - F, -Cl, to claim 23, characterized in that it comprises at least one of -Br and -CF 3 The CVD apparatus as described in the above.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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