JPH10150350A - Phase synchronization circuit and storage device using the phase synchronization circuit - Google Patents

Phase synchronization circuit and storage device using the phase synchronization circuit

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JPH10150350A
JPH10150350A JP8306139A JP30613996A JPH10150350A JP H10150350 A JPH10150350 A JP H10150350A JP 8306139 A JP8306139 A JP 8306139A JP 30613996 A JP30613996 A JP 30613996A JP H10150350 A JPH10150350 A JP H10150350A
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clock signal
signal
circuit
generating
delay
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JP8306139A
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Osamu Hirabayashi
修 平林
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To establish synchronization of an internal clock with an optional duty ratio in a short time by synthesizing an external clock signal with a signal resulting from delaying the external clock signal through the use of a synchronous mirror delay circuit. SOLUTION: An external clock signal CLKext is given to an input terminal 1. The received signal CLKext is given to an input buffer circuit 2, where the signal is amplified and shaped and the result is transferred to a drive circuit 7 via synchronous mirror delay circuits SMD 1, 2. When the clock signal is delivered through the synchronous mirror delay circuits SMD 1, 2, an internal clock signal CLKint is produced by synthesizing the external clock signal CLKext and a signal resulting from delaying the external clock signal CLKext by 0.5T. Thus, the internal clock signal CLKint whose duty ratio is 50% is generated. Then the output of the SMD 1, 2 is shaped to be a desired waveform by a driver circuit 7 and its output is the shaped internal clock signal CLKint.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路の内部ク
ロック信号の位相を、基準となる外部クロック信号の位
相と一致させるための位相同期回路に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a phase synchronization circuit for matching the phase of an internal clock signal of an integrated circuit with the phase of a reference external clock signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体集積回路の動作速度は飛躍
的に高速化しているが、動作の高速化に伴い、内部回路
を駆動する内部クロック信号と外部クロック信号のわず
かな位相のずれによって回路が誤動作してしまうといっ
た問題が生じる。
2. Description of the Related Art In recent years, the operation speed of a semiconductor integrated circuit has been dramatically increased. However, as the operation speed has increased, the circuit has been shifted due to a slight phase shift between an internal clock signal for driving an internal circuit and an external clock signal. Causes a malfunction.

【0003】このような問題は集積回路内部に位相同期
回路を設けることにより解決される。また、高速の集積
回路では、クロック信号の立ち上がりエッジ、立ち下が
りエッジの両方を利用することによって、内部の動作を
高速化できる。
[0003] Such a problem is solved by providing a phase synchronization circuit inside the integrated circuit. In a high-speed integrated circuit, the internal operation can be speeded up by using both the rising edge and the falling edge of the clock signal.

【0004】このような集積回路では、内部クロック信
号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジが等間隔(デ
ューティ比50%)であることが重要である。なぜな
ら、内部クロック信号の立ち上がりエッジと立ち下がり
エッジが等間隔でないと、集積回路のタイミング動作に
支障をきたす恐れがあるからである。
In such an integrated circuit, it is important that the rising edge and the falling edge of the internal clock signal are equally spaced (duty ratio 50%). This is because if the rising edge and the falling edge of the internal clock signal are not equally spaced, it may hinder the timing operation of the integrated circuit.

【0005】また、半導体集積回路では低消費電力化の
ために、必要のない時は位相同期回路が動作してない状
態にしておくことが望ましいが、そのためには極短時間
で同期できることが重要である。
In a semiconductor integrated circuit, in order to reduce power consumption, it is desirable that the phase-locked loop is not operated when it is not necessary. For that purpose, it is important that synchronization can be performed in an extremely short time. It is.

【0006】図1は、極短時間で同期することが可能な
シンクロナス・ミラー・ディレイ回路(ISSCC Digest o
f Technical Papres,p374 〜375,Feb.,1996 )の構成を
示すブロック図である。また、図2はその動作を示す波
形図である。
FIG. 1 shows a synchronous mirror delay circuit (ISSCC Digest O) capable of synchronizing in an extremely short time.
f Technical Papres, p374-375, Feb., 1996). FIG. 2 is a waveform chart showing the operation.

【0007】外部クロック信号CLKextは入力バッ
ファ回路102に入力され波形整形、増幅される。この
時、外部クロック信号は入力バッファ回路102により
図1(b)に示すようにt1の遅延を受ける。入力バッ
ファ回路102の出力は遅延回路103に入力される。
遅延回路103はtd=t1+t2の遅延を発生するよ
うに設計されている。ここでt1は入力バッファ回路2
での遅延、t2はクロックドライバ回路の遅延である。
The external clock signal CLKext is input to an input buffer circuit 102, where the waveform is shaped and amplified. At this time, the external clock signal is delayed by t1 by the input buffer circuit 102 as shown in FIG. The output of the input buffer circuit 102 is input to the delay circuit 103.
The delay circuit 103 is designed to generate a delay of td = t1 + t2. Here, t1 is the input buffer circuit 2
, T2 is the delay of the clock driver circuit.

【0008】遅延回路103の出力信号は図1(c)に
示すように、入力バッファ回路102の出力よりさらに
tdだけ遅延を受け、遅延線104に入力される。遅延
線104は、例えば図1に示すようにインバータ回路と
NAND回路からなる遅延素子を直列に接続したもので
あり、遅延線全体での遅延時間が、外部クロックの周期
と同等、あるいはそれ以上となるように多段接続したも
のである。
The output signal of the delay circuit 103 is further delayed by td from the output of the input buffer circuit 102 as shown in FIG. The delay line 104 is, for example, a delay element composed of an inverter circuit and a NAND circuit connected in series as shown in FIG. 1, and the delay time of the entire delay line is equal to or longer than the period of the external clock. These are connected in multiple stages.

【0009】遅延線104を構成する各遅延素子の出力
は、次段の遅延素子に入力されるとともに、転送回路1
05に入力される。一方、入力バッファ回路102の出
力は、遅延回路103に入力されると同時に転送回路1
05にも入力される。転送回路105は、遅延線104
と遅延線106の各遅延素子間をNAND回路を介して
接続しており、NAND回路の一方の入力には入力バッ
ファ回路102の出力するクロック信号が入力される。
従って、転送回路105に入力バッファ回路102の出
力するクロック信号が入力されると、遅延線104の電
圧状態が、遅延線106に転送される。1つ目のクロッ
ク信号のときは遅延線104にクロックが入力されてい
ないため、転送回路105の出力は変化しない。しか
し、2つ目以降のクロック信号では1つ前のサイクルで
遅延線104に入力されたクロックが遅延線106に転
送される。従って図1(d)に示すように、転送回路1
05の出力のタイミングは遅延回路103の出力のタイ
ミングより、T −t dだけ遅延を受ける。ここでTはク
ロック周期である。
The output of each delay element forming the delay line 104 is input to the next-stage delay element and the transfer circuit 1
05 is input. On the other hand, the output of the input buffer circuit 102 is input to the delay circuit 103 and simultaneously the transfer circuit 1
05 is also input. The transfer circuit 105 includes a delay line 104
And each delay element of the delay line 106 is connected via a NAND circuit, and a clock signal output from the input buffer circuit 102 is input to one input of the NAND circuit.
Therefore, when the clock signal output from the input buffer circuit 102 is input to the transfer circuit 105, the voltage state of the delay line 104 is transferred to the delay line 106. At the time of the first clock signal, since no clock is input to the delay line 104, the output of the transfer circuit 105 does not change. However, in the second and subsequent clock signals, the clock input to the delay line 104 in the previous cycle is transferred to the delay line 106. Therefore, as shown in FIG.
The output timing of 05 is delayed by T−td from the output timing of the delay circuit 103. Here, T is a clock cycle.

【0010】遅延線106は遅延線104と同じ遅延素
子で構成され、遅延素子1段あたりの遅延量が、遅延線
104の遅延素子1段あたりの遅延量と等しくなるよう
にしてある。また、遅延線106は遅延線104を折り
返した構造をしている。
The delay line 106 is composed of the same delay element as the delay line 104, and the delay amount per delay element stage is equal to the delay amount per delay element stage of the delay line 104. The delay line 106 has a structure in which the delay line 104 is folded.

【0011】従って、図1(e)に示すように、転送回
路105から遅延線106に入力されたクロック信号は
遅延線104での遅延量と同じ量の遅延T −t dを受け
て遅延線106を抜け、ドライバ回路107に供給され
る。
Therefore, as shown in FIG. 1E, the clock signal input from the transfer circuit 105 to the delay line 106 receives the delay T-td of the same amount as the delay amount in the delay line 104, and After passing through 106, it is supplied to the driver circuit 107.

【0012】ドライバ回路107は集積回路内の各回路
にクロック信号を供給するための増幅回路である。この
ドライバ回路により、図1(f)に示すようにクロック
信号はt2の遅延を受け、出力端子108へと出力され
る。以上のようにして、外部クロックはトータルで2T
の遅延を受けて出力端子から出力されるので、出力され
た内部クロック信号CLKintは図1(f)に示すよ
うに外部クロック信号CLKextに同期したものが得
られる。この場合、同期するまでに要する時間は2Tと
短い。
The driver circuit 107 is an amplifier circuit for supplying a clock signal to each circuit in the integrated circuit. By this driver circuit, the clock signal is delayed by t2 and output to the output terminal 108 as shown in FIG. As described above, the external clock is 2T in total.
The internal clock signal CLKint output is synchronized with the external clock signal CLKext as shown in FIG. 1 (f). In this case, the time required for synchronization is as short as 2T.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】上記シンクロナス・ミ
ラー・ディレイ回路では、正しく動作するためには、遅
延回路103に入力するクロック信号において、クロッ
クがハイの時間tH、ローの時間tL、遅延回路103
の遅延時間tdの間に以下の関係が成立する事が必要で
ある。 tH<td<tL (式1) もし、上記関係が成立しない場合、クロック信号が遅延
回路103を伝搬している時に次のクロック信号によっ
て転送回路105がONする。この時、遅延線104、
106が機能しなくなり、誤動作する。以上の理由によ
り、外部クロック信号を少なくともデューティ比50%
以下に整形する必要がある。この場合、得られる内部ク
ロック信号もデューティ比が50%以下となる。従っ
て、内部クロックは、その立ち上がりエッジが外部クロ
ックの立ち上がりエッジに同期しているのみで、立ち下
がりエッジに関しては同期していない。即ち、上記シン
クロナス・ミラー・ディレイ回路が、正常に動作する為
には、外部クロック信号CLKextを50%以下にし
なければない。その為、内部クロック信号CLKint
のデューティー比も必然的に50%となる。この結果、
集積回路の動作タイミングが等間隔(デューティー比5
0%)が望ましい記憶装置では問題となる。本発明はか
かる問題点を鑑みたもので、本発明は、外部クロック信
号の波形に依存せず、任意のデューティー比(特に、5
0%)の内部クロックを得ることを可能とする位相同期
回路を提供する事を目的とする。
In the above-mentioned synchronous mirror delay circuit, in order to operate properly, the clock signal input to the delay circuit 103 requires a high clock time tH, a low time tL, and a delay circuit. 103
It is necessary that the following relationship be established during the delay time td. tH <td <tL (Equation 1) If the above relationship is not established, the transfer circuit 105 is turned on by the next clock signal while the clock signal is propagating through the delay circuit 103. At this time, the delay line 104,
106 stops functioning and malfunctions. For the above reasons, the external clock signal must have a duty ratio of at least 50%.
It needs to be formatted below. In this case, the obtained internal clock signal also has a duty ratio of 50% or less. Therefore, the rising edge of the internal clock is only synchronized with the rising edge of the external clock, but not with respect to the falling edge. That is, in order for the synchronous mirror delay circuit to operate normally, the external clock signal CLKext must be 50% or less. Therefore, the internal clock signal CLKint
Also inevitably becomes 50%. As a result,
The operation timing of the integrated circuit is set at regular intervals (duty ratio 5
0%) is a problem for storage devices that are desirable. The present invention has been made in view of such a problem, and the present invention does not depend on the waveform of an external clock signal, and has an arbitrary duty ratio (in particular, 5
(0%) internal clock can be obtained.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、外部クロックの立ち上がりエッジに同期
したクロック信号を作成するためのシンクロナス・ミラ
ー・ディレイ型同期回路と、外部クロックの立ち上がり
エッジに対して丁度半周期ずれたクロック信号を作成す
るシンクロナス・ミラー・ディレイ型同期回路を併せ持
ち、これら2つの出力するクロック信号を合成すること
によりデューティー比50%の内部クロックを作成する
ことを特徴とする。本発明によれば、外部クロックの立
ち上がりエッジに同期したクロック信号を作成するため
のシンクロナス・ミラー・ディレイ型同期回路と、外部
クロックの立ち上がりエッジに対して半周期(T/2)
ずれたクロック信号を作成するシンクロナス・ミラー・
ディレイ型同期回路の出力するクロック信号を合成して
デューティー比50%の内部クロックを作成することに
より、外部クロックのデューティ比に依らず、常にデュ
ーティ比50%の内部クロックを得ることが可能とな
る。さらに、本発明は、シンクロナス・ミラー・ディレ
イ型同期回路を基本とするので、ごく短時間で外部クロ
ック信号と、内部クロック信号の同期を取る事ができ
る。
In order to achieve the above object, the present invention provides a synchronous mirror delay type synchronous circuit for generating a clock signal synchronized with a rising edge of an external clock, and an external clock. A synchronous mirror / delay-type synchronous circuit that generates a clock signal that is just half a cycle shifted from the rising edge, and an internal clock with a duty ratio of 50% is created by combining these two output clock signals. It is characterized by. According to the present invention, a synchronous mirror delay type synchronous circuit for creating a clock signal synchronized with a rising edge of an external clock, and a half cycle (T / 2) with respect to a rising edge of the external clock
Synchronous mirror that creates a shifted clock signal
By synthesizing the clock signal output from the delay type synchronous circuit to create an internal clock with a duty ratio of 50%, it is possible to always obtain an internal clock with a duty ratio of 50% regardless of the duty ratio of the external clock. . Further, since the present invention is based on a synchronous mirror delay type synchronous circuit, it is possible to synchronize the external clock signal and the internal clock signal in a very short time.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明の第一の実施形態を図を参
照しながら説明する。図3に、本発明にかかる記憶装置
の全体構成図を示した。当該記憶装置は、メモリセルア
レイ、行デコーダ、列デコーダ、センスアンプ、列選択
回路、行アドレスバッファ、列アドレスバッファ、出力
バッファ、制御回路及び位相同期回路から構成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 3 shows an overall configuration diagram of a storage device according to the present invention. The storage device includes a memory cell array, a row decoder, a column decoder, a sense amplifier, a column selection circuit, a row address buffer, a column address buffer, an output buffer, a control circuit, and a phase synchronization circuit.

【0016】図4は、図3に示した位相同期回路の概念
ブロック図である。図4に示すように、位相同期回路
は、入力端子1、出力端子8、第一及び第二のSMD1
及びシンクロナス・ミラー・ディレイ回路SMD2、入
力バッファ2、ドライバ回路7から構成される。図5
は、図4示したシンクロナス・ミラー・ディレイ回路S
MD1及び2の詳細回路を含めた図である。図5に示さ
れるように、シンクロナス・ミラー・ディレイ回路SM
D1は、遅延回路21、遅延線22及び24、転送回路
23から構成される。シンクロナス・ミラー・ディレイ
回路SMD2も、同様に、遅延回路31、遅延線32及
び34、転送回路33から構成される。また図6に、図
5で示した遅延線22及び24、転送回路23の詳細回
路図を示した。図6に示される様に、遅延線22及び2
4は、基本的にNANDゲートとインバータが交互に接
続されて構成される。また、図6に示されるように、転
送回路23はNANDゲートから構成される。更に、図
7に、図5で示したドライバ回路7の詳細回路図を示し
た。図7に示される様に、ドライバ回路7は、トランジ
スタTr1及びTr2、インバータI1〜I6で構成さ
れる。本発明の第一の実施形態にかかる位相同期回路
は、以上の様に構成される。
FIG. 4 is a conceptual block diagram of the phase locked loop circuit shown in FIG. As shown in FIG. 4, the phase synchronization circuit includes an input terminal 1, an output terminal 8, first and second SMD1s.
And a synchronous mirror delay circuit SMD2, an input buffer 2, and a driver circuit 7. FIG.
Is the synchronous mirror delay circuit S shown in FIG.
FIG. 3 is a diagram including detailed circuits of MD1 and MD2. As shown in FIG. 5, the synchronous mirror delay circuit SM
D1 includes a delay circuit 21, delay lines 22 and 24, and a transfer circuit 23. Similarly, the synchronous mirror delay circuit SMD2 includes a delay circuit 31, delay lines 32 and 34, and a transfer circuit 33. FIG. 6 is a detailed circuit diagram of the delay lines 22 and 24 and the transfer circuit 23 shown in FIG. As shown in FIG. 6, delay lines 22 and 2
4 is basically configured by alternately connecting NAND gates and inverters. Further, as shown in FIG. 6, the transfer circuit 23 is constituted by a NAND gate. FIG. 7 shows a detailed circuit diagram of the driver circuit 7 shown in FIG. As shown in FIG. 7, the driver circuit 7 includes transistors Tr1 and Tr2 and inverters I1 to I6. The phase locked loop circuit according to the first embodiment of the present invention is configured as described above.

【0017】次に、本発明にかかる位相同期回路の動作
を説明する。説明の便宜上、図5を用いて動作を説明す
る。また、図8には、上記位相同期回路の各部の動作波
形を示した。ここで、図8に示された波形の左側には、
図5において、配線等を示している。図5における入力
端子1には、周期Tの外部クロック信号CLKextが
入力される。入力された外部クロック信号CLKext
は、入力バッファ回路2において増幅、整形され、シン
クロナス・ミラー・ディレイ回路SMD1及びSMD2
を介して、ドライバ回路7へ転送される。また、クロッ
ク信号が、シンクロナス・ミラー・ディレイ回路SMD
1及び2を伝播する時、シンクロナス・ミラー・ディレ
イ回路SMD1及び2において、クロック信号を所望の
量だけ遅延させる(詳細は後述する)。次に、シンクロ
ナス・ミラー・ディレイ回路SMD1及び2を介して伝
播してきたクロック信号は、当該ドライバ回路7におい
て所望の波形に整形さる。整形されたクロック信号は、
内部クロック信号CLKintとして 、記憶装置内の
回路へ伝達される。以上の動作を更に詳細に説明する。
まず初めに、図5における入力端子1に周期Tの外部ク
ロック信号が、当該位相同期回路に入力される(図8の
(1)参照)。次に、入力端子1に入力された外部クロ
ック信号CLKextは、入力バッファ回路2を介し
て、遅延回路21及び31、転送回路23及び33にそ
れぞれ転送される。また、外部クロック信号が入力バッ
ファ2を通過する際、t1の遅延を受ける。従って、接
点100の波形は図8の(2)に示した様になる。次
に、クロック信号は、遅延回路21を通過する際、td
の遅延を受ける。従って、配線110の波形は図8の
(3)に示した様になる。ここで、遅延量tdは、以下
の関係が成り立つように設定される。 td=t1+t2 (式2) 即ち、遅延回路21の遅延量tdは、前述の入力バッフ
ァ2の遅延量t1と、後述するドライバ回路7の遅延量
t2の和に等しくなる様に設定される。更に、当該位相
同期回路の動作を保証するため、遅延回路21における
遅延量tdと、クロック信号がハイの時間tH、ローの
時間tLには、前述と同様に、以下の関係が成立しなけ
ればならない。 tH<td<tL (式3) 次に、配線110における信号は、遅延線22を通過す
る際、T−tdの遅延を受ける。従って、配線120を
伝播する信号は、図8の(4)に示した様になる。更
に、配線120における信号は、遅延線24を通過する
際、T−tdの遅延を受ける。従って、配線130を伝
播する信号は、図8の(5)に示した様になる。この段
階で、配線130を伝わる信号は、外部クロック信号C
LKextより、(2T−t2)分だけ遅延している。
一方、信号が遅延回路21を通過する際、2td分だけ
遅延する様に、遅延回路21は設計されている。この
為、接点100を伝達する信号は、遅延回路21を通過
する際、2tdだけ遅延する。従って、配線140を伝
達する信号の波形は、図8の(6)に示した様になる。
次に、配線140を通過する波形は、遅延線32を通過
する際に、T−2tdだけ遅延する。従って、配線15
0における波形は図8の(7)に示したようになる。次
に、配線150を通過する波形は、遅延線34を通過す
る際に、0.5×(T−2×td)遅延する。従って、
配線160における波形は図8の(8)に示したように
なる。この段階で、配線160を伝わる信号は、外部ク
ロック信号CLKextより、(1.5×T−t2)分
だけ遅延している。最後に、配線130及び配線160
を伝達する信号は、ドライバ回路7を通過する際、t2
だけ遅延し、波形整形される。その結果、内部クロック
信号CLKintが形成される。また、このクロック信
号CLKintの波形を図8の(9)に示した。次に、
内部クロック信号CLKintの波形形成の様子を更に
詳細に説明する。また、ドライバ回路7は図7に既に示
した。図7において、接点300の電位をHと仮定す
る。今、配線160の信号がLからHに変化した場合を
考える(図8の時刻T10)。この場合、トランジスタ
Tr2はONするが、配線130の信号は変化が無いの
で、トランジスタTr1はOFFのままである。従っ
て、接点300の電位はL(GND)となり、内部クロ
ック信号CLKintの電位はHからLに変化する。ま
た、前述のようにドライバ回路7は遅延量t2を有して
いるので、内部クロック信号CLKintは、配線16
0の信号波形よりt2だけ遅延する(図8の時刻1
1)。ここで注意しなければならないのは、内部クロッ
ク信号CLKintは、外部クロック信号CLKext
より、合計で1.5Tだけ遅延している事である。ま
た、内部クロック信号CLKintの波形の立ち下がり
時刻T11は、外部クロック信号CLKextの波形の
立ち上がり時刻T9に依存している事にも注意しなけれ
ばならない。配線130の信号がLからHに変化した場
合(図8の時刻T12)、トランジスタTr1がONに
なるので、接点300の電位はHになり、内部クロック
信号CLKintの電位はLからHに変化する。また、
前述のようにドライバ回路7は遅延量t2を有している
ので、内部クロック信号CLKintは、配線130の
信号波形よりt2だけ遅延する(図8の時刻13)。こ
こで、内部クロック信号CLKintは、外部クロック
信号CLKextより、合計で2Tだけ遅延している点
に注意すべきである。また、内部クロック信号CLKi
ntの波形の立ち上がり時刻T13は、外部クロック信
号CLKextの波形の立ち上がり時刻T9に依存して
いる事にも注意しなければならない。また、図7に示し
たドライバ回路7は、異なる位相差の信号によって立ち
上がり、立ち下がりを繰り返すクロック信号を作成する
ものであれば、この回路構成に限定されない。実施形態
は以上の様に構成される。図8の(9)から解るよう
に、内部クロック信号CLKintは、外部クロック信
号CLKextの立ち上がりから、0.5Tだけずれた
信号(例えば、1.5Tと2Tの遅延を有した信号)を
使用して合成される。従って、デューティー比50%の
内部クロック信号CLKintを形成できる。また、図
8から解るように、内部クロック信号CLKintは、
外部クロック信号CLKextの立ち上がりに同期して
いるので、外部クロック信号のデューティ比50%でな
くてもよい。即ち、外部クロック信号のデューテー比に
依存しないデューティー比50%の内部クロック信号C
LKintを形成できる。また、本発明は、シンクロナ
ス・ミラー・ディレイ回路を基本としているので、ごく
短時間(2T)で同期確立できる。また、外部クロック
信号のデューテー比に依存しないデューティー比50%
の内部クロック信号CLKintを形成できるので、本
発明にかかる位相同期回路は、記憶装置への適用が容易
となる。次に、第二の実施形態を図を用いて詳細に説明
する。図9に第二の実施形態の位相同期回路の概念回路
図を示した。ここで、シンクロナス・ミラー・ディレイ
回路SMD4及び5の構成は、基本的に図5に示した回
路構成と基本的に同じであるが、それらの遅延量が異な
る。次に、シンクロナス・ミラー・ディレイ回路SMD
4の動作波形を図10に示した。図10の(5)に示さ
れるように、シンクロナス・ミラー・ディレイ回路SM
D4の出力配線130の信号は、外部クロック信号CL
Kextから、(1+1/n)×T−t2だけ遅延して
いる。また、図10の(6)に示されるように、シンク
ロナス・ミラー・ディレイ回路SMD5の出力配線16
0の信号は、外部クロック信号CLKextから、(1
+1/m)×T−t2だけ遅延している。ただし、mと
nは異なる。また、遅延量tdは、前述と同様に、以下
の関係が成り立つように設定される。 td=t1+t2 (式4) また、図10の(7)に、これらの信号をドライバ回路
7で合成した内部クロック信号CLKintの波形を示
した。実施形態は以上の様に構成される。図10の
(7)から解るように、内部クロック信号CLKint
は、外部クロック信号CLKextの立ち上がりから、
(1/n−1/m)×Tだけずれた信号を使用して合成
される。従って、任意のデューティー比の内部クロック
信号を形成できる。また、図10から解るように、内部
クロック信号CLKintは、外部クロック信号CLK
extの立ち上がりに同期しているので、外部クロック
信号のデューティ比50%でなくてもよい。即ち、外部
クロック信号のデューテー比に依存しない内部クロック
信号CLKintを形成できる。また、本発明は、シン
クロナス・ミラー・ディレイ回路を基本としているの
で、ごく短時間で同期確立できる。また、外部クロック
信号のデューテー比に依存しないデューティー比50%
の内部クロック信号CLKintを形成できるので、本
発明にかかる位相同期回路は、記憶装置への適用が容易
となる。また、図11に位相同期回路の配置場所の概念
図を示した。図11に示すように、位相同期回路の配置
場所は、チップ内の中央に位置している事が望ましい。
位相同期回路がチップの中央に位置しているので、位相
同期回路からチップ内の各回路への距離のばらつきば少
なくなるので、チップ内での位相差の発生を最小にでき
る。
Next, the operation of the phase locked loop circuit according to the present invention will be described. The operation will be described with reference to FIG. 5 for convenience of description. FIG. 8 shows operation waveforms of each part of the phase locked loop circuit. Here, on the left side of the waveform shown in FIG.
FIG. 5 shows wirings and the like. An external clock signal CLKext having a period T is input to the input terminal 1 in FIG. External clock signal CLKext input
Are amplified and shaped in the input buffer circuit 2 and output from the synchronous mirror delay circuits SMD1 and SMD2.
Is transferred to the driver circuit 7. The clock signal is a synchronous mirror delay circuit SMD
When the signal propagates through 1 and 2, the clock signal is delayed by a desired amount in the synchronous mirror delay circuits SMD1 and SMD2 (details will be described later). Next, the clock signal propagated through the synchronous mirror delay circuits SMD1 and SMD2 is shaped into a desired waveform in the driver circuit 7. The shaped clock signal is
The internal clock signal CLKint is transmitted to a circuit in the storage device. The above operation will be described in more detail.
First, an external clock signal having a period T is input to the input terminal 1 in FIG. 5 to the phase locked loop circuit (see (1) in FIG. 8). Next, the external clock signal CLKext input to the input terminal 1 is transferred to the delay circuits 21 and 31 and the transfer circuits 23 and 33 via the input buffer circuit 2. Further, when the external clock signal passes through the input buffer 2, it receives a delay of t1. Accordingly, the waveform of the contact 100 is as shown in FIG. Next, when passing through the delay circuit 21, the clock signal
Suffer delay. Accordingly, the waveform of the wiring 110 is as shown in (3) of FIG. Here, the delay amount td is set so that the following relationship is satisfied. td = t1 + t2 (Equation 2) That is, the delay amount td of the delay circuit 21 is set to be equal to the sum of the delay amount t1 of the input buffer 2 described above and the delay amount t2 of the driver circuit 7 described later. Furthermore, in order to guarantee the operation of the phase locked loop circuit, the following relationship must be established between the delay amount td in the delay circuit 21 and the time tH when the clock signal is high and the time tL when the clock signal is low, as described above. No. tH <td <tL (Equation 3) Next, the signal on the wiring 110 undergoes a delay of T-td when passing through the delay line 22. Therefore, the signal propagating through the wiring 120 is as shown in (4) of FIG. Further, the signal on the wiring 120 is delayed by T-td when passing through the delay line 24. Therefore, the signal propagating through the wiring 130 is as shown in (5) of FIG. At this stage, the signal transmitted through the wiring 130 is the external clock signal C
It is delayed by (2T−t2) from LKext.
On the other hand, the delay circuit 21 is designed so that the signal is delayed by 2td when passing through the delay circuit 21. Therefore, a signal transmitted through the contact 100 is delayed by 2td when passing through the delay circuit 21. Accordingly, the waveform of the signal transmitted through the wiring 140 is as shown in (6) of FIG.
Next, the waveform passing through the wiring 140 is delayed by T−2td when passing through the delay line 32. Therefore, the wiring 15
The waveform at 0 is as shown in FIG. Next, the waveform passing through the wiring 150 is delayed by 0.5 × (T−2 × td) when passing through the delay line 34. Therefore,
The waveform of the wiring 160 is as shown in FIG. At this stage, the signal transmitted through the wiring 160 is delayed by (1.5 × T−t2) from the external clock signal CLKext. Finally, the wiring 130 and the wiring 160
When passing through the driver circuit 7, the signal
And the waveform is shaped. As a result, an internal clock signal CLKint is formed. The waveform of the clock signal CLKint is shown in FIG. next,
How the waveform of the internal clock signal CLKint is formed will be described in more detail. The driver circuit 7 has already been shown in FIG. In FIG. 7, it is assumed that the potential of the contact 300 is H. Now, consider the case where the signal on the wiring 160 changes from L to H (time T10 in FIG. 8). In this case, the transistor Tr2 turns on, but the signal on the wiring 130 does not change, so that the transistor Tr1 remains off. Accordingly, the potential of the contact 300 becomes L (GND), and the potential of the internal clock signal CLKint changes from H to L. Since the driver circuit 7 has the delay amount t2 as described above, the internal clock signal CLKint
8 is delayed by t2 from the signal waveform of 0 (time 1 in FIG. 8).
1). It should be noted here that the internal clock signal CLKint is the external clock signal CLKext
Thus, the delay is 1.5T in total. It should also be noted that the falling time T11 of the waveform of the internal clock signal CLKint depends on the rising time T9 of the waveform of the external clock signal CLKext. When the signal on the wiring 130 changes from L to H (time T12 in FIG. 8), the transistor Tr1 turns ON, so that the potential of the contact 300 becomes H, and the potential of the internal clock signal CLKint changes from L to H. . Also,
As described above, since the driver circuit 7 has the delay amount t2, the internal clock signal CLKint is delayed by t2 from the signal waveform of the wiring 130 (time 13 in FIG. 8). Here, it should be noted that the internal clock signal CLKint is delayed by a total of 2T from the external clock signal CLKext. Further, the internal clock signal CLKi
It should also be noted that the rising time T13 of the waveform of nt depends on the rising time T9 of the waveform of the external clock signal CLKext. The driver circuit 7 shown in FIG. 7 is not limited to this circuit configuration as long as it generates a clock signal that repeats rising and falling with signals having different phase differences. The embodiment is configured as described above. As can be seen from FIG. 8 (9), the internal clock signal CLKint uses a signal shifted by 0.5T from the rising edge of the external clock signal CLKext (for example, a signal having a delay of 1.5T and 2T). Synthesized. Therefore, an internal clock signal CLKint having a duty ratio of 50% can be formed. As can be seen from FIG. 8, the internal clock signal CLKint is
Since it is synchronized with the rise of the external clock signal CLKext, the duty ratio of the external clock signal need not be 50%. That is, the internal clock signal C having a duty ratio of 50% which does not depend on the duty ratio of the external clock signal.
LKint can be formed. Also, since the present invention is based on a synchronous mirror delay circuit, synchronization can be established in a very short time (2T). Also, a duty ratio of 50% that does not depend on the duty ratio of the external clock signal
Since the internal clock signal CLKint can be formed, the phase synchronization circuit according to the present invention can be easily applied to a storage device. Next, a second embodiment will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 9 shows a conceptual circuit diagram of the phase locked loop of the second embodiment. Here, the configuration of the synchronous mirror delay circuits SMD4 and SMD5 is basically the same as the circuit configuration shown in FIG. 5, but their delay amounts are different. Next, a synchronous mirror delay circuit SMD
The operation waveform of No. 4 is shown in FIG. As shown in FIG. 10 (5), the synchronous mirror delay circuit SM
The signal of the output wiring 130 of D4 is the external clock signal CL.
It is delayed by (1 + 1 / n) × T−t2 from Kext. Further, as shown in FIG. 10 (6), the output wiring 16 of the synchronous mirror delay circuit SMD5
The signal of 0 is (1) from the external clock signal CLKext.
+ / M) × T−t2. However, m and n are different. Further, the delay amount td is set such that the following relationship is satisfied, as described above. td = t1 + t2 (Equation 4) Further, FIG. 10 (7) shows the waveform of the internal clock signal CLKint obtained by synthesizing these signals by the driver circuit 7. The embodiment is configured as described above. As can be seen from (7) of FIG. 10, the internal clock signal CLKint
From the rising edge of the external clock signal CLKext
The signals are synthesized using signals shifted by (1 / n-1 / m) × T. Therefore, an internal clock signal having an arbitrary duty ratio can be formed. As can be seen from FIG. 10, the internal clock signal CLKint is
Since it is synchronized with the rise of ext, the duty ratio of the external clock signal need not be 50%. That is, the internal clock signal CLKint independent of the duty ratio of the external clock signal can be formed. Also, since the present invention is based on a synchronous mirror delay circuit, synchronization can be established in a very short time. Also, a duty ratio of 50% that does not depend on the duty ratio of the external clock signal
Since the internal clock signal CLKint can be formed, the phase synchronization circuit according to the present invention can be easily applied to a storage device. FIG. 11 shows a conceptual diagram of an arrangement place of the phase locked loop. As shown in FIG. 11, it is desirable that the location of the phase synchronization circuit be located at the center in the chip.
Since the phase-locked loop is located at the center of the chip, variations in the distance from the phase-locked loop to each circuit in the chip are reduced, so that the occurrence of a phase difference in the chip can be minimized.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明は以上の様に構成されるので、外
部クロック信号の波形に依存せず、任意のデューティー
比(特に、50%)の内部クロックを得ることができ、
かつ、ごく短時間で同期確立できる位相同期回路を提供
する事ができる。
Since the present invention is configured as described above, an internal clock having an arbitrary duty ratio (particularly, 50%) can be obtained without depending on the waveform of the external clock signal.
In addition, it is possible to provide a phase synchronization circuit that can establish synchronization in a very short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の位相同期回路の回路図を示したものであ
る。
FIG. 1 shows a circuit diagram of a conventional phase locked loop circuit.

【図2】図1に示した位相同期回路の動作波形を示した
ものである。
FIG. 2 shows operation waveforms of the phase locked loop circuit shown in FIG.

【図3】位相同期回路を記憶装置に適用した図を示した
図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a diagram in which a phase locked loop is applied to a storage device.

【図4】本発明にかかる第一の位相同期回路の概念図を
示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing a conceptual diagram of a first phase locked loop circuit according to the present invention.

【図5】図4の位相同期回路をより詳細に示した図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing the phase locked loop circuit of FIG. 4 in more detail;

【図6】シンクロナス・ミラー・ディレイ回路の詳細回
路図である。
FIG. 6 is a detailed circuit diagram of a synchronous mirror delay circuit.

【図7】ドライバ回路の詳細回路図を示した図である。FIG. 7 is a diagram showing a detailed circuit diagram of a driver circuit.

【図8】図4に示された位相同期回路の動作波形を示し
た図である。
8 is a diagram showing operation waveforms of the phase locked loop shown in FIG.

【図9】本発明にかかる第二の位相同期回路の概念図を
示した図である。
FIG. 9 is a conceptual diagram of a second phase locked loop circuit according to the present invention.

【図10】図9に示された位相同期回路の動作波形を示
した図である。
FIG. 10 is a diagram showing operation waveforms of the phase locked loop shown in FIG.

【図11】本発明にかかる位相同期回路の配置場所の一
例を示した図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of an arrangement place of a phase locked loop circuit according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力端子 2 入力バッファ回路 7ドライバ回路 8 出力端子 21 遅延回路 22 24、33、34 遅延線 23、 33 転送回路 100 接点 110、 120、130、140、150、160
配線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Input terminal 2 Input buffer circuit 7 Driver circuit 8 Output terminal 21 Delay circuit 22 24, 33, 34 Delay line 23, 33 Transfer circuit 100 Contact 110, 120, 130, 140, 150, 160
wiring

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第一のクロック信号を受けて、前記第一
のクロック信号から所定の遅延時間を有した第一の信号
を発生させる為の第一の遅延信号発生回路と、 前記第一のクロック信号を受けて、当該第一のクロック
信号から所定の遅延時間を有した第二の信号を発生させ
る為の第二の遅延信号発生回路と、前記第一の信号と前
記第二の信号から、所定のデューティー比を有し、か
つ、前記第一のクロックと同期している第二のクロック
信号を発生させる為の波形整形回路と、を有する事を特
徴とする位相同期回路。
A first delay signal generating circuit for receiving a first clock signal and generating a first signal having a predetermined delay time from the first clock signal; Receiving a clock signal, a second delay signal generation circuit for generating a second signal having a predetermined delay time from the first clock signal, and the first signal and the second signal. And a waveform shaping circuit for generating a second clock signal having a predetermined duty ratio and being synchronized with the first clock.
【請求項2】 位相を同期する為の位相同期回路におい
て、 第一のクロック信号を受けて、当該第一のクロック信号
から所定の遅延時間を有した第一の信号を発生させる為
の第一の遅延信号発生回路と、 前記第一のクロック信号を受けて、当該第一のクロック
信号から所定の遅延時間を有した第二の信号を発生させ
る為の第二の遅延信号発生回路と、前記第一の信号と前
記第二の信号とから、所定のデューティー比を有し、か
つ、前記第一のクロックと同期している第二のクロック
信号を発生させる為の波形整形回路と、を有する事を特
徴とする位相同期回路。
2. A phase synchronizing circuit for synchronizing phases, comprising: receiving a first clock signal and generating a first signal having a predetermined delay time from the first clock signal. A second delay signal generating circuit for receiving the first clock signal and generating a second signal having a predetermined delay time from the first clock signal; and A waveform shaping circuit for generating a second clock signal having a predetermined duty ratio and synchronized with the first clock from the first signal and the second signal; A phase synchronization circuit characterized by the following.
【請求項3】 前記波形整形回路から発生された前記第
二のクロック信号の前記所定のデューティー比が、概略
50%である事を特徴とする請求項1又は2記載の位相
同期回路。
3. The phase synchronization circuit according to claim 1, wherein the predetermined duty ratio of the second clock signal generated from the waveform shaping circuit is approximately 50%.
【請求項4】 外部クロック発生回路から発生される外
部クロック信号を受けて、当該外部クロック信号から所
定の遅延時間を有した第一の信号を発生させる為の第一
の遅延信号発生回路と、 前記外部クロック信号を受けて、当該外部クロック信号
から所定の遅延時間を有した第二の信号を発生させる為
の第二の遅延信号発生回路と、前記第一の信号と前記第
二の信号から、所定のデューティー比を有し、かつ、前
記外部クロックと同期している内部クロック信号を発生
させる為の波形整形回路と、前記波形整形回路から発生
した内部クロック信号に基づいて動作し、複数のメモリ
セルを有する記憶部と、を有する事を特徴とする記憶装
置。
4. A first delay signal generation circuit for receiving an external clock signal generated from an external clock generation circuit and generating a first signal having a predetermined delay time from the external clock signal; Upon receiving the external clock signal, a second delay signal generating circuit for generating a second signal having a predetermined delay time from the external clock signal, and from the first signal and the second signal Having a predetermined duty ratio, and a waveform shaping circuit for generating an internal clock signal synchronized with the external clock; and operating based on the internal clock signal generated from the waveform shaping circuit; A storage device, comprising: a storage unit having a memory cell.
【請求項5】 前記波形整形回路から発生された前記第
二のクロック信号の前記所定のデューティー比が、概略
50%である事を特徴とする請求項3記載の記憶装置。
5. The storage device according to claim 3, wherein the predetermined duty ratio of the second clock signal generated from the waveform shaping circuit is approximately 50%.
【請求項6】 第一のクロック信号を受けて、当該第一
のクロック信号から所定の遅延時間を有した第一の信号
を発生させる為の第一の遅延信号発生回路と、 前記第一のクロック信号を受けて、当該第一のクロック
信号から所定の遅延時間を有した第二の信号を発生させ
る為の第二の遅延信号発生回路と、前記第一の信号に基
づいて立ち上がりタイミングが、前記第二の信号に基づ
いて立ち下がりタイミングが、独立に制御された第二の
クロック信号を発生させる為のクロック信号発生回路
と、を有する事を特徴とする位相同期回路。
6. A first delay signal generating circuit for receiving a first clock signal and generating a first signal having a predetermined delay time from the first clock signal; In response to the clock signal, a second delay signal generation circuit for generating a second signal having a predetermined delay time from the first clock signal, the rising timing based on the first signal, A clock signal generating circuit for generating a second clock signal whose fall timing is independently controlled based on the second signal.
【請求項7】 外部クロック発生回路から発生される外
部クロック信号を受けて、当該外部クロック信号から所
定の遅延時間を有した第一の信号を発生させる為の第一
の遅延信号発生回路と、 前記外部クロック信号を受けて、当該外部クロック信号
から所定の遅延時間を有した第二の信号を発生させる為
の第二の遅延信号発生回路と、所定のデューティー比を
有し、前記第一及び第二の信号に基づいて立ち上がり及
び立ち下がりタイミングが独立に制御され、かつ、前記
外部クロックに同期している第二のクロック信号を発生
させる為の内部クロック信号発生回路と、前記波形整形
回路から発生した内部クロック信号に基づいて動作し、
複数のメモリセルを有する記憶部と、を有する事を特徴
とする記憶装置。
7. A first delay signal generation circuit for receiving an external clock signal generated from an external clock generation circuit and generating a first signal having a predetermined delay time from the external clock signal, A second delay signal generation circuit for receiving the external clock signal and generating a second signal having a predetermined delay time from the external clock signal, having a predetermined duty ratio, The rising and falling timings are independently controlled based on a second signal, and an internal clock signal generating circuit for generating a second clock signal synchronized with the external clock, and a waveform shaping circuit. Operates based on the generated internal clock signal,
A storage device, comprising: a storage unit having a plurality of memory cells.
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