JPH10149976A - Stage device and aligner using it - Google Patents

Stage device and aligner using it

Info

Publication number
JPH10149976A
JPH10149976A JP32232396A JP32232396A JPH10149976A JP H10149976 A JPH10149976 A JP H10149976A JP 32232396 A JP32232396 A JP 32232396A JP 32232396 A JP32232396 A JP 32232396A JP H10149976 A JPH10149976 A JP H10149976A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
guide
moving
guide surface
reticle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP32232396A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3639681B2 (en
Inventor
Nobushige Korenaga
伸茂 是永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP32232396A priority Critical patent/JP3639681B2/en
Publication of JPH10149976A publication Critical patent/JPH10149976A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3639681B2 publication Critical patent/JP3639681B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the eddy current in a guide when a reticle stage, etc., is scanned. SOLUTION: A reticle stage 3 is scanned in the Y-axis direction along a guide 2 by means linear motors provided on both sides of the stage 3. Since air pad units 11-14 which maintain the stage 3 and guide 2 in a non-contacting state respectively have preload applying units 23 which face oppositely laminated magnetic bodies 24 which are put in the grooves 2a of the guide 2, the rigidity of a bearing is intensified. Each laminated magnetic body 24 is formed by laminating a thin magnetic material and a thin insulating material and improves the drive efficiencies of the linear motors by cutting an eddy current which is generated by the movement of the units 23 with the thin insulating material.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体露光装置の
なかで、特に、レチクルパターンを円弧状あるいは矩形
状の帯状領域に限定してウエハ等基板(以下、「基板」
という。)に結像させ、レチクルと基板を同期的に走査
させることによって、レチクルパターン全体を露光して
基板に転写するいわゆる走査型の露光装置のステージ装
置およびこれを用いた露光装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor exposure apparatus, and more particularly, to a substrate such as a wafer (hereinafter referred to as "substrate") in which a reticle pattern is limited to an arc-shaped or rectangular band-shaped area.
That. The present invention relates to a stage apparatus of a so-called scanning type exposure apparatus for exposing an entire reticle pattern and transferring the reticle pattern to a substrate by synchronously scanning the reticle and the substrate, and an exposure apparatus using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】原版であるレチクルと基板を同期的に走
査させてレチクルパターン全体を基板に転写するいわゆ
る走査型の露光装置においては、レチクルや基板の走査
速度を極めて高精度で安定して制御することのできるス
テージ装置が必要であり、このようなステージ装置の駆
動部には、リニアモータを用いるのが一般的である。
2. Description of the Related Art In a so-called scanning type exposure apparatus for transferring an entire reticle pattern onto a substrate by synchronously scanning an original reticle and a substrate, the scanning speed of the reticle and the substrate is controlled with extremely high accuracy and stably. It is necessary to use a stage device capable of performing such operations, and a linear motor is generally used as a drive unit of such a stage device.

【0003】図11は、一従来例によるステージ装置を
示すもので、これは、図示しないベース上に固定された
平板状のガイド1102と、ガイド1102に沿って所
定の走査方向(Y軸方向)に往復移動自在であるレチク
ルステージ1103と、レチクルステージ1103の走
行路に沿ってその両側にベースと一体的に配設された一
対のリニアモータ固定子1104,1105と、レチク
ルステージ1103の両側面とそれぞれ一体的に設けら
れた一対のリニアモータ可動子1106,1107を有
し、リニアモータ固定子1104,1105とリニアモ
ータ可動子1106,1107はそれぞれレチクルステ
ージ1103を走査方向に加速減速する一対のリニアモ
ータR1 ,R2 を構成する。レチクルステージ1103
は図6に示すエアスライド(静圧軸受装置)E0 によっ
てガイド1102に非接触で案内される。
FIG. 11 shows a stage device according to a conventional example, which includes a flat guide 1102 fixed on a base (not shown) and a predetermined scanning direction (Y-axis direction) along the guide 1102. A reticle stage 1103 that is reciprocally movable, a pair of linear motor stators 1104 and 1105 disposed integrally with a base on both sides of the reticle stage 1103 along the traveling path, and both side surfaces of the reticle stage 1103. It has a pair of linear motor movers 1106 and 1107 provided integrally with each other. The linear motor stators 1104 and 1105 and the linear motor movers 1106 and 1107 respectively accelerate and decelerate the reticle stage 1103 in the scanning direction. The motors R 1 and R 2 are configured. Reticle stage 1103
It is guided without contact with the guide 1102 by an air slide (hydrostatic bearing apparatus) E 0 shown in FIG.

【0004】各リニアモータ固定子1104,1105
は、ガイド1102に沿って直列に配設された複数のコ
イル1104a,1105aとこれを支持するコイル台
1104b,1105bからなる多相コイル切り換え方
式のリニアモータ固定子であって、各コイル列はリニア
モータ可動子1106,1107の開口1106a,1
107aを貫通する。コイル1104a,1105aに
図示しない電源から逐次駆動電流が供給されてこれらが
励磁されると、リニアモータ可動子1106,1107
との間に推力が発生し、これによってレチクルステージ
1103が加速あるいは減速される。
[0004] Each linear motor stator 1104, 1105
Is a linear motor stator of a multi-phase coil switching type comprising a plurality of coils 1104a, 1105a arranged in series along a guide 1102 and coil stands 1104b, 1105b supporting the coils. Openings 1106a, 1 of motor movers 1106, 1107
107a. When a driving current is sequentially supplied from a power supply (not shown) to the coils 1104a and 1105a and they are excited, the linear motor movers 1106 and 1107 are excited.
And the reticle stage 1103 is accelerated or decelerated.

【0005】レチクルステージ1103上にはレチクル
1140が吸着され、その下方にはウエハステージ12
03(図13参照)によってウエハが保持されており、
ウエハステージ1203もレチクルステージ1103と
同様の駆動部を有し、同様に制御される。レチクル11
40の一部分に照射された帯状の露光光L0 (断面を図
14に破線で示す)は、フレーム1204に支持された
投影光学系1205によってウエハに結像し、その帯状
領域を露光して、レチクルパターンの一部分を転写す
る。走査型の露光装置の各露光サイクルは、帯状の露光
光L0 に対してレチクルステージ1103とウエハステ
ージ1203を同期的に走行させることでレチクルパタ
ーン全体をウエハに転写するものであり、レチクルステ
ージ1103とウエハステージ1203の走行中はその
位置をレーザ干渉計1108,1208によってそれぞ
れ検出して駆動部にフィードバックする。リニアモータ
1,R2 によるレチクルステージ1103の加速減速
および露光中の速度制御は以下のように行なわれる。
A reticle 1140 is adsorbed on reticle stage 1103, and a wafer stage 12
03 (see FIG. 13), the wafer is held,
Wafer stage 1203 also has a drive unit similar to reticle stage 1103, and is similarly controlled. Reticle 11
The band-shaped exposure light L 0 (a cross-section is shown by a broken line in FIG. 14) applied to a part of 40 forms an image on a wafer by a projection optical system 1205 supported by a frame 1204, and exposes the band-shaped region. Transfer a part of the reticle pattern. Each exposure cycle of the scanning type exposure apparatus is to transfer the entire reticle pattern onto the wafer by synchronizing to driving a reticle stage 1103 and the wafer stage 1203 relative to the belt-like exposure light L 0, the reticle stage 1103 While the wafer stage 1203 is running, its position is detected by the laser interferometers 1108 and 1208, respectively, and fed back to the drive unit. The acceleration / deceleration of the reticle stage 1103 by the linear motors R 1 and R 2 and the speed control during exposure are performed as follows.

【0006】図14に平面図で示すように、例えば、レ
チクルステージ1103が走査方向の図示左端にありレ
チクルの走査方向の幅の中心O0 が加速開始位置P1
位置しているときにリニアモータR1 ,R2 の図示右向
きの推力による加速が開始され、レチクル1140の前
記中心O0 が加速終了位置P2 に到達したときに加速が
停止され、以後はリニアモータR1 ,R2 がレチクルス
テージ1103の走査速度を一定に制御する働きのみを
する。レチクル1140の中心O0 が減速開始位置P3
に到達するとリニアモータR1 ,R2 の図示左向きの推
力による減速が開始され、レチクル1140の中心O0
が減速終了位置P4 に到達したときにレチクルステージ
1103の走行が停止される。
As shown in the plan view of FIG. 14, for example, when the reticle stage 1103 is at the left end in the scanning direction and the center O 0 of the width of the reticle in the scanning direction is located at the acceleration start position P 1 , Acceleration by the rightward thrust of the motors R 1 and R 2 is started. When the center O 0 of the reticle 1140 reaches the acceleration end position P 2 , the acceleration is stopped, and thereafter the linear motors R 1 and R 2 are turned off. Only functions to control the scanning speed of the reticle stage 1103 to be constant. The center O 0 of the reticle 1140 is at the deceleration start position P 3
, The deceleration by the leftward thrust of the linear motors R 1 and R 2 is started, and the center O 0 of the reticle 1140 is started.
There running of the reticle stage 1103 is stopped when reaching the deceleration end position P 4.

【0007】このような加速減速サイクルにおいて、レ
チクルステージ1103が図示右向きに走行して、レチ
クル1140の中心O0 が加速終了位置P2 に到達する
と同時に露光光L0 がレチクルパターンの図示右端に入
射して露光が開始され、レチクル1140の中心O0
減速開始位置P3 に到達したときにレチクルパターンの
全面の露光が完了する。レチクル1140の露光中すな
わち、レチクルパターンが露光光L0 を横切って走行す
る間はレチクルステージ1103が一定の走査速度に制
御され、これと同期して、ウエハステージ1203の走
査速度も同様に制御される。なお、露光開始時のウエハ
とレチクル1140の相対位置は厳密に管理され、露光
中のウエハとレチクル1140の速度比は、両者の間の
投影光学系1205の縮小倍率に正確に一致するように
制御され、露光終了後は両者を適当に減速させる。
In such an acceleration / deceleration cycle, the reticle stage 1103 travels rightward in the drawing, and the center O 0 of the reticle 1140 reaches the acceleration end position P 2 , and at the same time, the exposure light L 0 enters the right end of the reticle pattern in the drawing. When the center O 0 of the reticle 1140 reaches the deceleration start position P 3 , the exposure of the entire reticle pattern is completed. During exposure of a reticle 1140 that is, while the reticle pattern travels across the exposure light L 0 is the reticle stage 1103 is controlled at a constant scanning speed, in synchronization with this, the scanning speed of the wafer stage 1203 are also controlled in the same manner You. Note that the relative position between the wafer and the reticle 1140 at the start of exposure is strictly controlled, and the speed ratio between the wafer and the reticle 1140 during exposure is controlled so as to exactly match the reduction magnification of the projection optical system 1205 between the two. After the exposure, both are appropriately decelerated.

【0008】次に、ガイド1102上のレチクルステー
ジ1103を非接触で支持するエアスライドE0 につい
て説明する。図12はレチクルステージ1103の裏面
に設けられたエアスライドE0 をレチクルステージ11
03から分離してガイド1102上に残し、レチクルス
テージ1103とリニアモータ可動子1106,110
7およびリニアモータ固定子1104,1105のコイ
ル1104a,1105aを上昇させることで、エアス
ライドE0 を露出させた状態を示すものである。
[0008] Next, a description will be given air slide E 0 which supports the reticle stage 1103 on the guide 1102 without contact. FIG. 12 shows an air slide E 0 provided on the back surface of the reticle stage 1103.
The reticle stage 1103 and linear motor movers 1106 and 110
7 and the coil 1104a of the linear motor stators 1104 and 1105, by raising the 1105a, shows a state of exposing the air slide E 0.

【0009】エアスライドE0 は、4個のエアパッド1
111〜1114を有し、そのうちの3個は、ガイド1
102の上面に対向する下向きパッド1111〜111
3であり、残りの1つは、ガイド1102の一側面に対
向して配設される側面パッド1114である。各下向き
パッド1111〜1113は、ガイド1102の上面に
加圧空気を噴出し、その静圧によってレチクルステージ
1103をガイド1102の上面から浮上させる。ま
た、側面パッド1114は、ガイド1102の側面に向
かって加圧空気を噴出し、その静圧によってレチクルス
テージ1103の側板1103aをガイド1102の側
面から浮上させる。
The air slide E 0 has four air pads 1.
111 to 1114, three of which are guides 1
Downward pads 1111-111 facing the upper surface of 102
3 and the remaining one is a side pad 1114 disposed opposite to one side of the guide 1102. Each of the downward pads 1111 to 1113 jets pressurized air onto the upper surface of the guide 1102, and causes the reticle stage 1103 to float above the upper surface of the guide 1102 by the static pressure. Further, the side surface pad 1114 blows out pressurized air toward the side surface of the guide 1102, and the side plate 1103a of the reticle stage 1103 floats from the side surface of the guide 1102 by the static pressure.

【0010】3個の下向きパッド1111〜1113
は、それぞれレチクルステージ1103を露光光の光軸
(Z軸)に垂直な平面(XY平面)内で3点支持するよ
うに配設され、各下向きパッド1111〜1113に供
給される加圧空気の圧力を制御することで、レチクルス
テージ1103のZ軸方向の位置(高さ)と、ωX,ω
Y軸方向の位置(傾斜)すなわちピッチング等を制御す
ることができる。また、側面パッド1114は、レチク
ルステージ1103のX軸方向の位置を制御することが
できる。
[0010] Three downward pads 1111-1113
Are disposed so as to support the reticle stage 1103 at three points in a plane (XY plane) perpendicular to the optical axis (Z axis) of the exposure light, and pressurized air supplied to each of the downwardly directed pads 1111-1113. By controlling the pressure, the position (height) of reticle stage 1103 in the Z-axis direction and ωX, ω
The position (inclination) in the Y-axis direction, that is, pitching or the like can be controlled. The side pad 1114 can control the position of the reticle stage 1103 in the X-axis direction.

【0011】エアスライドE0 はこのように、合計4個
のエアパッド1111〜1114によって、ガイド11
02上のレチクルステージ1103を非接触で支持し、
その高さや姿勢(4軸方向の位置)を厳密に管理しなが
ら走査方向に案内するように構成されている。
As described above, the air slide E 0 is guided by the guides 11 by the total of four air pads 1111 to 1114.
02 supports the reticle stage 1103 in a non-contact manner,
It is configured to guide in the scanning direction while strictly managing the height and posture (position in the four-axis direction).

【0012】なお、各エアパッド1111〜1114は
レチクルステージ1103の裏面に固着され、各エアパ
ッド1111〜1114の両側には、一対の予圧ユニッ
ト1121〜1124が配設される。各予圧ユニット1
121〜1124は、互に逆向きの磁極を有する2極の
磁石1131,1132と、これらの背面に接合された
バックヨーク1133からなり、第1の磁石1131の
N極から出た磁束が、ガイド1102を経て第2の磁石
1132に入り、バックヨーク1133を通って第1の
磁石1131に戻る磁気回路によって、レチクルステー
ジ1103とガイド1102の間に磁気的吸引力を発生
させる。この磁気的吸引力は各エアパッド1111〜1
114の静圧と逆向きに作用して軸受剛性を強化し、レ
チクルステージ1103とガイド1102の間に5ミク
ロン程度のエアギャップを維持する。
The air pads 1111 to 1114 are fixed to the back surface of the reticle stage 1103, and a pair of preload units 1121 to 1124 are provided on both sides of each air pad 1111 to 1114. Each preload unit 1
Each of the magnets 121 to 1124 is composed of two magnets 1131 and 1132 having magnetic poles of opposite directions and a back yoke 1133 joined to their back surfaces. A magnetic attraction force is generated between the reticle stage 1103 and the guide 1102 by a magnetic circuit that enters the second magnet 1132 via the 1102 and returns to the first magnet 1131 through the back yoke 1133. This magnetic attraction force is applied to each air pad 1111-1 to 1
Acting in the opposite direction to the static pressure of 114, the rigidity of the bearing is enhanced, and an air gap of about 5 microns is maintained between the reticle stage 1103 and the guide 1102.

【0013】ガイド1102の材質は、各予圧ユニット
1121〜1124の磁束を通すために強磁性体である
ことが必要であり、しかもレチクルステージ1103に
対向する上面や側面には高い面精度が要求され、このた
めに加工時に硬さが必要であるから、焼き入れ処理を施
した鉄を用いるのが一般的である。
The material of the guide 1102 needs to be a ferromagnetic material in order to allow the magnetic flux of each of the preload units 1121 to 1124 to pass therethrough, and high surface accuracy is required for the upper surface and the side surface facing the reticle stage 1103. Because of this, hardness is required at the time of processing, so that iron that has been subjected to a quenching treatment is generally used.

【0014】ウエハステージ1203のエアスライドや
ガイドも上記と同様に構成され、同様のリニアモータに
よって走査される。
An air slide and a guide of the wafer stage 1203 are configured in the same manner as described above, and are scanned by a similar linear motor.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、前述のように、レチクルステージ等の
ガイドの材質が鉄等の強磁性体であるために、エアスラ
イド(静圧軸受装置)の予圧ユニットを構成する磁石の
移動に伴なってガイドに渦電流が発生し、これによっ
て、リニアモータの駆動力に抗して作用するいわゆる粘
性抵抗が増大する。その結果、リニアモータの駆動効率
が著しく低下するという未解決の課題がある。
However, according to the above prior art, as described above, since the material of the guide of the reticle stage and the like is a ferromagnetic material such as iron, an air slide (hydrostatic bearing device). An eddy current is generated in the guides along with the movement of the magnets constituting the preload unit, thereby increasing the so-called viscous resistance acting against the driving force of the linear motor. As a result, there is an unsolved problem that the driving efficiency of the linear motor is significantly reduced.

【0016】また、エアスライドは非接触であるから、
レチクルステージを所定の走査速度まで加速したのち
は、加速を停止してもレチクルステージの走査速度はほ
とんど減速することなく、逆向きの加速力による減速が
開始されるまでわずかな推力によって前記走査速度を保
つことができるはずである。ところが、ガイドに渦電流
が発生すると、これによる粘性抵抗に打ち勝つだけの推
力を付加しなければならず、露光中の必要駆動力が増大
し、リニアモータに供給する電流量が大きくなる。この
ように露光中の必要駆動力が増大すると、リニアモータ
の発熱等によってレチクルステージに熱歪を発生する等
のトラブルを誘発する。
Also, since the air slide is non-contact,
After accelerating the reticle stage to the predetermined scanning speed, even if the acceleration is stopped, the scanning speed of the reticle stage hardly decelerates, and the scanning speed is reduced by a slight thrust until the deceleration by the opposite acceleration force is started. Should be able to keep. However, when an eddy current is generated in the guide, a thrust for overcoming the viscous resistance due to the eddy current must be added, and the required driving force during exposure increases, and the amount of current supplied to the linear motor increases. When the required driving force during the exposure increases in this way, troubles such as generation of thermal strain on the reticle stage due to heat generation of the linear motor and the like are induced.

【0017】特に、前述のように多相コイル切り換え方
式のリニアモータを用いた場合は、コイル切り換えによ
ってこれと同じ周期で数%の推力むらを発生するため、
ガイドの粘性抵抗に打ち勝つようにリニアモータの駆動
量を大きくすると、上記の推力むらが外乱となって露光
中のレチクルステージの走査速度に影響し、露光装置の
転写精度を悪化させる。
In particular, when a linear motor of a polyphase coil switching system is used as described above, thrust unevenness of several percent is generated in the same cycle by coil switching.
If the driving amount of the linear motor is increased so as to overcome the viscous resistance of the guide, the above-described uneven thrust causes disturbance, which affects the scanning speed of the reticle stage during exposure, and deteriorates the transfer accuracy of the exposure apparatus.

【0018】この傾向は、レチクルステージ等の走査速
度が大きくなるほど顕著であるため、露光装置を高速化
して生産性を向上させるうえでの大きな障害となってい
る。
This tendency becomes more remarkable as the scanning speed of the reticle stage or the like increases, which is a major obstacle in increasing the speed of the exposure apparatus and improving the productivity.

【0019】本発明は、上記従来の技術の有する未解決
の課題に鑑みてなされたものであり、ガイドの渦電流に
よる粘性抵抗を低減してリニアモータの駆動効率を向上
させ、露光装置の高速化と転写精度の向上に大きく貢献
できるステージ装置およびこれを用いた露光装置を提供
するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned unresolved problems of the prior art, and reduces the viscous resistance due to the eddy current of the guide to improve the driving efficiency of the linear motor, thereby improving the speed of the exposure apparatus. It is an object of the present invention to provide a stage device which can greatly contribute to the improvement of transfer accuracy and transfer accuracy, and an exposure apparatus using the same.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のステージ装置は、ガイドの案内面に沿って
移動自在である移動ステージと、これを移動させる駆動
手段と、前記移動ステージと前記案内面の間を非接触に
保つための静圧軸受手段と、前記案内面の所定の部位に
対向して移動するように前記移動ステージに保持された
磁気手段を有し、前記案内面の少なくとも前記所定の部
位が、絶縁層を介して複数の薄板磁性材を積層した積層
磁性体の側面によって構成されていることを特徴とす
る。
In order to achieve the above object, a stage apparatus according to the present invention comprises: a moving stage movable along a guide surface of a guide; a driving means for moving the moving stage; Hydrostatic bearing means for keeping the guide surfaces in non-contact, and magnetic means held on the moving stage so as to move in opposition to a predetermined portion of the guide surface, At least the predetermined portion is configured by a side surface of a laminated magnetic body in which a plurality of thin plate magnetic materials are laminated via an insulating layer.

【0021】案内面の所定の部位を除く残りの部分が、
非磁性材料で作られているとよい。
The remaining portion of the guide surface excluding a predetermined portion is
It may be made of a non-magnetic material.

【0022】積層磁性体が、ガイドと別体であり、該ガ
イドから独立して支持されているとよい。
It is preferable that the laminated magnetic material is separate from the guide and is supported independently of the guide.

【0023】積層磁性体の側面が、静圧軸受手段に対向
していてもよい。
The side surface of the laminated magnetic body may face the hydrostatic bearing means.

【0024】また、ガイドの案内面に沿って移動自在で
ある移動ステージと、これを移動させる駆動手段と、前
記移動ステージと前記案内面の間を非接触に保つための
静圧軸受手段と、前記案内面に対向するように前記移動
ステージに保持された磁気手段を有し、前記案内面が、
絶縁層を介して複数の薄板磁性材を積層した積層磁性体
の側面によって構成されていることを特徴とするステー
ジ装置であってもよい。
A moving stage movable along a guide surface of the guide, a driving means for moving the moving stage, a hydrostatic bearing means for keeping the moving stage and the guide surface in non-contact, Magnetic means held on the moving stage so as to face the guide surface, wherein the guide surface is
A stage device comprising a side surface of a laminated magnetic body in which a plurality of thin plate magnetic materials are laminated via an insulating layer may be provided.

【0025】ガイド全体が積層磁性体によって構成され
ていてもよい。
The entire guide may be formed of a laminated magnetic body.

【0026】[0026]

【作用】積層磁性体と磁気手段の間の磁気的吸引力によ
って移動ステージを案内面に向かって吸引(付勢)し、
静圧軸受手段の軸受剛性を強化する。
The moving stage is attracted (biased) toward the guide surface by magnetic attraction between the laminated magnetic body and the magnetic means,
Strengthening the bearing rigidity of the hydrostatic bearing means.

【0027】磁気手段が移動ステージとともに移動する
ときに発生する渦電流は、積層磁性体の絶縁層によって
分断される。その結果、前記渦電流による粘性抵抗を大
幅に低減し、走査ステージの定速走査中に必要な推力を
低減できる。このようにして、露光中の駆動手段の発熱
や推力むらによるトラブルを防ぎ、露光装置の転写精度
を大幅に改善するとともに、高速化による生産性の向上
にも大きく貢献できる。
The eddy current generated when the magnetic means moves together with the moving stage is divided by the insulating layer of the laminated magnetic material. As a result, the viscous resistance due to the eddy current is greatly reduced, and the thrust required during constant-speed scanning of the scanning stage can be reduced. In this way, troubles due to heat generation and uneven thrust during the exposure can be prevented, the transfer accuracy of the exposure apparatus can be greatly improved, and productivity can be greatly improved by increasing the speed.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0029】図1は、第1実施例によるステージ装置を
示すもので、これは、防振ベース1上に固定された平板
状のガイド2と、ガイド2に沿って走査方向(Y軸方
向)に往復移動自在な移動ステージであるレチクルステ
ージ3と、レチクルステージ3の走行路に沿ってその両
側に防振ベース1と一体的に配設された一対のリニアモ
ータ固定子4,5と、レチクルステージ3の両側面とそ
れぞれ一体的に設けられた一対のリニアモータ可動子
6,7を有し、リニアモータ固定子4,5とリニアモー
タ可動子6,7はそれぞれレチクルステージ3を走査方
向に加速減速する駆動手段である一対のリニアモータを
構成する。レチクルステージ3は、図2に示すエアスラ
イドE1 によってガイド2に非接触で案内される。
FIG. 1 shows a stage device according to a first embodiment, which comprises a flat guide 2 fixed on an anti-vibration base 1 and a scanning direction (Y-axis direction) along the guide 2. A reticle stage 3 which is a movable stage capable of reciprocating; a pair of linear motor stators 4 and 5 integrally provided with a vibration isolating base 1 on both sides of the reticle stage 3 along a traveling path; It has a pair of linear motor movers 6,7 provided integrally with both side surfaces of the stage 3, respectively. The linear motor stators 4,5 and the linear motor movers 6,7 respectively move the reticle stage 3 in the scanning direction. A pair of linear motors as driving means for accelerating and decelerating is configured. The reticle stage 3 is guided without contact with the guide 2 by an air slide E 1 shown in FIG.

【0030】各リニアモータ固定子4,5は、ガイド2
に沿って直列に配設された複数のコイル4a,5aとこ
れを支持するコイル台4b,5bからなる多層コイル切
り換え方式のリニアモータ固定子であり、リニアモータ
可動子6,7の開口6a,7aを貫通する。コイル4
a,5aに図示しない電源から逐次駆動電流が供給され
てこれらが励磁されると、リニアモータ可動子6,7と
の間に推力が発生し、これによってレチクルステージ3
が加速あるいは減速される。
Each of the linear motor stators 4 and 5 includes a guide 2
Is a multi-layer coil switching type linear motor stator comprising a plurality of coils 4a, 5a arranged in series along the axis, and coil stands 4b, 5b supporting the coils. 7a. Coil 4
When drive currents are sequentially supplied from a power supply (not shown) to the motors a and 5a and these are excited, a thrust is generated between the linear motor movers 6 and 7 and, thereby, the reticle stage 3 is driven.
Is accelerated or decelerated.

【0031】レチクルステージ3上には原版であるレチ
クル30が吸着され、その下方には、ウエハステージに
よって被露光体であるウエハが保持されており、ウエハ
ステージもレチクルステージ3と同様の駆動部を有し、
同様に制御される。露光手段である図示しない光源から
レチクル30の一部分に照射された帯状の露光光は、従
来例と同様に投影光学系によってウエハに結像し、その
帯状領域を露光して、レチクルパターンの一部分を転写
する。
A reticle 30, which is an original, is adsorbed on the reticle stage 3, and a wafer, which is an object to be exposed, is held below the reticle 30 by a wafer stage. Have
It is controlled similarly. A band-like exposure light applied to a part of the reticle 30 from a light source (not shown) serving as an exposure unit forms an image on a wafer by a projection optical system in the same manner as in the related art, and exposes the band-like area to form a part of the reticle pattern. Transcribe.

【0032】レチクルステージ3とウエハステージを同
期的に走行させることでレチクルパターン全体をウエハ
に転写する。この間、レチクルステージ3とウエハステ
ージの位置をレーザ干渉計によってそれぞれ検出して駆
動部にフィードバックする。前記リニアモータによるレ
チクルステージ3の加速、減速および露光中の速度制御
は従来例と同様である。次にエアスライドE1 について
説明する。
By moving the reticle stage 3 and the wafer stage synchronously, the entire reticle pattern is transferred to the wafer. During this time, the positions of the reticle stage 3 and the wafer stage are respectively detected by the laser interferometer and fed back to the drive unit. Acceleration and deceleration of the reticle stage 3 by the linear motor and speed control during exposure are the same as in the conventional example. Next will be explained an air slide E 1.

【0033】図2に示すように、エアスライドE1 は、
4個のエアパッドユニット11〜14を有し、そのうち
の3個はガイド2の案内面である上面に対向する下向き
パッドユニット11〜13であり、残りの1個は、ガイ
ド2の案内面である一側面に対向して配設される側面パ
ッドユニット14である。各下向きパットユニット11
〜13は、ガイド2の上面に加圧空気を噴出し、その静
圧によってレチクルステージ3をガイド2の上面から浮
上させる。また、側面パッドユニット14は、ガイド2
の側面に向かって加圧空気を噴出し、その静圧によって
レチクルステージ3の側板3aをガイド2の側面から浮
上させる。
As shown in FIG. 2, the air slide E 1 is
It has four air pad units 11 to 14, three of which are downward pad units 11 to 13 facing the upper surface which is the guide surface of the guide 2, and the other one is the guide surface of the guide 2. The side surface pad unit 14 is disposed to face one side surface. Each downward pad unit 11
13 ejects pressurized air to the upper surface of the guide 2 and causes the reticle stage 3 to float from the upper surface of the guide 2 by the static pressure. The side pad unit 14 is provided with the guide 2.
Is blown toward the side surface of the reticle stage 3, and the side plate 3a of the reticle stage 3 floats from the side surface of the guide 2 by the static pressure.

【0034】各エアパッドユニット11〜14は、Y軸
方向に長尺な静圧軸受手段である一対のエアパッド2
1,22と、その間に配設された磁気手段である予圧ユ
ニット23を有する。予圧ユニット23は、ガイド2に
沿ってY軸方向にのびる棒状の積層磁性体24の側面に
対向して配設され、予圧ユニット23と積層磁性体24
の間の間隙寸法は0.5mm程度である。予圧ユニット
23は、直列に配設した2極の磁石23a,23bと、
これらの背面に接合されたバックヨーク23cからな
り、第1の磁石23aのN極から出た磁束が、積層磁性
体24を経て第2の磁石23bに入り、バックヨーク2
3cを通って第1の磁石23aに戻る磁気回路によっ
て、レチクルステージ3をガイド2に向かって吸引する
磁気的吸引力を発生させる。この磁気的吸引力は、エア
パッド21,22の静圧と逆向きに作用する予圧として
軸受剛性を強化し、レチクルステージ3とガイド2の間
に5ミクロン程度のエアギャップを維持する。
Each of the air pad units 11 to 14 includes a pair of air pads 2 which are long hydrostatic bearings in the Y-axis direction.
1 and 22 and a preload unit 23 which is a magnetic means disposed therebetween. The preload unit 23 is disposed to face the side surface of the bar-shaped laminated magnetic body 24 extending in the Y-axis direction along the guide 2, and the preload unit 23 and the laminated magnetic body 24
Is about 0.5 mm. The preload unit 23 includes two pole magnets 23a and 23b arranged in series,
A magnetic flux emitted from the N pole of the first magnet 23a enters the second magnet 23b via the laminated magnetic body 24,
A magnetic attraction for attracting the reticle stage 3 toward the guide 2 is generated by a magnetic circuit returning to the first magnet 23a through 3c. This magnetic attraction force enhances the bearing rigidity as a preload acting in the direction opposite to the static pressure of the air pads 21 and 22, and maintains an air gap of about 5 μm between the reticle stage 3 and the guide 2.

【0035】積層磁性体24は、ガイド2の上面に2
本、ガイド2の側面に1本、合計3本設けられる。ガイ
ド2の上面の2本の積層磁性体24は、それぞれガイド
2の上面に形成された溝2aに収容されてY軸方向にの
びており、その両端のそれぞれを支持体25によって支
持され、各支持体25は、ガイド2やコイル台4bから
独立しており、これらとともに防振ベース1に支持され
ている。ガイド2の側面の積層磁性体24も同様に、ガ
イド2の側面に設けられた溝2aに収容されてY軸方向
にのびており、その両端を支持体25によって支持され
ている。
The laminated magnetic body 24 is provided on the upper surface of the guide 2.
A total of three guides are provided on the side of the book and the guide 2. The two laminated magnetic bodies 24 on the upper surface of the guide 2 are accommodated in grooves 2a formed on the upper surface of the guide 2 and extend in the Y-axis direction. The body 25 is independent of the guide 2 and the coil stand 4b, and is supported by the anti-vibration base 1 together with these. Similarly, the laminated magnetic body 24 on the side surface of the guide 2 is accommodated in the groove 2 a provided on the side surface of the guide 2, extends in the Y-axis direction, and both ends thereof are supported by the support 25.

【0036】各溝2aの断面寸法は、ガイド2と別体で
ある積層磁性体24に接触しないように充分大きく設定
される。また、前述のように、各エアパッドユニット1
1〜14のエアパッド21,22とガイド2の上面、側
面との間の隙間寸法(エアギャップ)は5ミクロン程度
であり、このために、エアパッド21,22が対向する
ガイド2の上面および側面は極めて高い面精度に加工す
ることが必要であるが、積層磁性体24と磁石23a,
23bの間は0.5mm程度の隙間でよい。従って、積
層磁性体24にはガイド2のような高精度の仕上げを必
要としない。
The cross-sectional dimension of each groove 2a is set sufficiently large so as not to come into contact with the guide 2 and the laminated magnetic body 24 which is separate from the guide 2. In addition, as described above, each air pad unit 1
The gap dimension (air gap) between the air pads 21 and 22 and the upper surface and the side surface of the guide 2 is about 5 μm. Although it is necessary to work with extremely high surface accuracy, the laminated magnetic body 24 and the magnets 23a,
A gap of about 0.5 mm may be provided between 23b. Therefore, the laminated magnetic body 24 does not require high-precision finishing like the guide 2.

【0037】ガイド2の材質は、非磁性材料でしかも加
工が比較的容易であるセラミックである。各積層磁性体
24は、図3に拡大して示すように、エアパッド21,
22の軸受面に垂直で、レチクルステージ3の走査方向
(Y軸方向)に長尺である複数の薄板磁性材24aを絶
縁層である薄板絶縁材24bを介して重ね合わせた積層
体であり、その側面が予圧ユニット23に対向し、積層
方向A、すなわち各薄板磁性材24aと各薄板絶縁材2
4bの厚さ方向が、各予圧ユニット23の2極の磁石2
3a,23bの配列方向と着磁方向の双方に対して直交
するように配設される。
The material of the guide 2 is a non-magnetic material and ceramic which is relatively easy to process. As shown in an enlarged manner in FIG.
22 is a laminate in which a plurality of thin magnetic materials 24a, which are perpendicular to the bearing surface of the reticle stage 3 and are long in the scanning direction (Y-axis direction) of the reticle stage 3, are stacked via a thin insulating material 24b as an insulating layer; The side faces the preload unit 23, and the stacking direction A, ie, each thin magnetic material 24a and each thin insulating material 2
4b corresponds to the two-pole magnet 2 of each preload unit 23.
3a and 23b are arranged so as to be orthogonal to both the arrangement direction and the magnetization direction.

【0038】本実施例においては、ガイド2の上面に対
向するエアパッドユニットすなわち下向きパッドユニッ
ト11〜13のそれぞれの予圧ユニット23の2極の磁
石23a,23bの配列方向がレチクルステージ3の走
査方向と同じY軸方向で、各磁石23a,23bの着磁
方向がガイド2の上面に垂直、すなわちZ軸方向であ
る。従って、各下向きパッドユニット11〜13の予圧
ユニット23に対向する積層磁性体24の積層方向A
は、X軸方向すなわち、ガイド2の上面に平行でレチク
ルステージ3の走査方向と直交する方向である。また、
側面パッドユニット14については、その予圧ユニット
23の2極の磁石23a,23bの配列方向がレチクル
ステージ3の走査方向と同じY軸方向で、各磁石23
a,23bの着磁方向がガイド2の側面に垂直、すなわ
ちX軸方向であるから、側面パッドユニット14の予圧
ユニット23に対向する積層磁性体24の積層方向A
は、Z軸方向すなわち、ガイド2の側面に平行で、レチ
クルステージ3の走査方向と直交する方向である。
In this embodiment, the arrangement direction of the two-pole magnets 23a and 23b of the preload unit 23 of the air pad unit facing the upper surface of the guide 2, ie, the downward facing pad units 11 to 13, is determined by the scanning direction of the reticle stage 3. In the same Y-axis direction, the magnetization direction of each of the magnets 23a and 23b is perpendicular to the upper surface of the guide 2, that is, the Z-axis direction. Therefore, the lamination direction A of the laminated magnetic body 24 that faces the preload unit 23 of each of the downward pad units 11 to 13.
Is the X-axis direction, that is, a direction parallel to the upper surface of the guide 2 and orthogonal to the scanning direction of the reticle stage 3. Also,
Regarding the side pad unit 14, the arrangement direction of the two-pole magnets 23 a and 23 b of the preload unit 23 is the same Y-axis direction as the scanning direction of the reticle stage 3, and each magnet 23
Since the magnetization directions of the a and b are perpendicular to the side surface of the guide 2, that is, the X-axis direction, the lamination direction A of the laminated magnetic body 24 facing the preload unit 23 of the side pad unit 14.
Is the Z-axis direction, that is, a direction parallel to the side surface of the guide 2 and orthogonal to the scanning direction of the reticle stage 3.

【0039】前述のように、エアスライドE1 の各予圧
ユニット23の磁気回路は、2極の磁石23a,23b
の一方から出てこれらの磁極の配列方向に積層磁性体2
4内を進み、2極の磁石23a,23bの他方へ入って
これを着磁方向に貫通して、バックヨーク23c内を前
記と逆向きに進んで2極の磁石23a,23bの一方へ
戻る磁束によって構成される。このような磁束に対し
て、積層磁性体24の積層方向Aが直交しているため、
リニアモータが駆動されたとき、各予圧ユニット23の
移動によって積層磁性体24に発生する渦電流の電流路
は、薄板絶縁材24bによって寸断される結果となる。
従って、ガイド2全体が鉄等の磁性体である場合や、積
層磁性体24の替わりに棒状の鉄等の磁性体を各予圧ユ
ニット23に対向させた場合に比べて、リニアモータの
駆動効率を低下させる渦電流の電流量は大幅に低減され
る。
[0039] As described above, the magnetic circuit of each preload unit 23 of the air slide E 1 is of two-pole magnets 23a, 23b
From one of the magnetic poles in the direction in which the magnetic poles are arranged.
4 and enter the other one of the two-pole magnets 23a and 23b, penetrate it in the magnetizing direction, advance in the back yoke 23c in the opposite direction, and return to one of the two-pole magnets 23a and 23b. It is composed of magnetic flux. Since the lamination direction A of the laminated magnetic body 24 is orthogonal to such a magnetic flux,
When the linear motor is driven, the current path of the eddy current generated in the laminated magnetic body 24 by the movement of each preload unit 23 is broken by the thin insulating material 24b.
Therefore, the drive efficiency of the linear motor is reduced as compared with the case where the entire guide 2 is made of a magnetic material such as iron or the case where a magnetic material such as a bar-shaped iron is opposed to each preload unit 23 instead of the laminated magnetic material 24. The amount of eddy current to be reduced is greatly reduced.

【0040】なお、エアスライドE1 の移動によって発
生する渦電流は、積層磁性体の側面における薄板磁性材
と薄板絶縁材の面積比に比例するものであり、渦電流に
よる粘性抵抗すなわちエネルギー損失は、前記面積比の
自乗に比例する。
[0040] Incidentally, the eddy current generated by the movement of the air slide E 1 is in proportion to the area ratio of the thin magnetic material and the thin insulating material on the side surface of the laminated magnetic material, the viscous resistance or energy loss due to eddy currents , Is proportional to the square of the area ratio.

【0041】従来例のように渦電流に打ち勝つ推力をレ
チクルステージ3に付加する必要がないため、露光中の
リニアモータの駆動電流は極くわずかですみ、リニアモ
ータの発熱等によって転写精度が劣化するおそれはな
い。また、リニアモータに推力むら等があっても、露光
中のリニアモータの推力自体が微小であるから、転写精
度に影響を与えるような外乱となるおそれもない。
Since it is not necessary to apply a thrust to overcome the eddy current to the reticle stage 3 unlike the conventional example, the driving current of the linear motor during exposure is extremely small, and the transfer accuracy is deteriorated due to heat generation of the linear motor. There is no danger. Further, even if the linear motor has uneven thrust or the like, the thrust of the linear motor during the exposure is very small, so that there is no possibility that the disturbance may affect the transfer accuracy.

【0042】その結果、走査型の露光装置の転写精度を
大幅に向上できる。
As a result, the transfer accuracy of the scanning type exposure apparatus can be greatly improved.

【0043】また、ガイドの渦電流による粘性抵抗は、
レチクルステージ等の走査速度が大きくなるほど増大す
るため、ガイド全体が焼き入れ鋼等である場合は、レチ
クルやウエハの走査速度を充分に速くすることができ
ず、露光工程の高速化の大きな障害となっていたが、本
実施例は、このようなトラブルを回避することで、レチ
クルステージ等の走査速度を速くして、露光装置の生産
性の向上に大きく貢献できる。
The viscous resistance due to the eddy current of the guide is:
Since the scanning speed of the reticle stage and the like increases as the scanning speed increases, if the entire guide is made of hardened steel or the like, the scanning speed of the reticle or wafer cannot be sufficiently increased, which is a major obstacle to speeding up the exposure process. However, in the present embodiment, by avoiding such troubles, the scanning speed of the reticle stage and the like can be increased, and can greatly contribute to the improvement of the productivity of the exposure apparatus.

【0044】本実施例においては、予圧ユニットの両側
に一対のエアパッドを設けたエアパッドユニットを用い
ているが、一対の予圧ユニットの間にエアパッドを配設
したものでもよい。さらに、予圧ユニットとエアパッド
をY軸方向にずらして配設することもできる。
In this embodiment, an air pad unit having a pair of air pads on both sides of the preload unit is used, but an air pad may be provided between the pair of preload units. Further, the preload unit and the air pad can be arranged so as to be shifted in the Y-axis direction.

【0045】図4は一変形例を示す。これは、長尺の棒
状体である積層磁性体24をガイド2と別体に設ける替
わりに比較的幅の広い長尺の積層磁性体54をガイド4
2に一体化し、各エアパッドユニット41〜44の軸受
面全体に積層磁性体54の側面が対向するように構成し
たものである。各エアパッドユニット41〜44は、一
対の予圧ユニット53とその間に配設されたエアパッド
51を有し、ガイド42の上面に対向するエアパッドユ
ニットすなわち下向きパッドユニット41〜43におい
ては、それぞれの予圧ユニット53の2極の磁石53
a,53bの配列方向がレチクルステージ3の走査方
向、すなわちY軸方向になるように配設される。2極の
磁石53a,53bの着磁方向はガイド42の上面に垂
直、すなわちZ軸方向であるから、各下向きパッドユニ
ット41〜43の予圧ユニット53に対向する積層磁性
体54の積層方向は、X軸方向すなわち、ガイド42の
上面に平行でレチクルステージ3の走査方向と直交する
方向である。また、側面パッドユニット44において
は、その予圧ユニット53の2極の磁石53a,53b
の配列方向がレチクルステージ3の走査方向と同じY軸
方向で、各磁石53a,53bの着磁方向がガイド42
の側面に垂直、すなわちX軸方向であるから、側面パッ
ドユニット44の予圧ユニット53に対向する積層磁性
体54の積層方向は、Z軸方向すなわち、ガイド42の
側面に平行で、レチクルステージ3の走査方向と直交す
る方向である。
FIG. 4 shows a modification. This is because, instead of providing the laminated magnetic body 24 which is a long rod-shaped body separately from the guide 2, a relatively wide elongated laminated magnetic body 54 is used for the guide 4.
2 so that the side surface of the laminated magnetic body 54 faces the entire bearing surface of each of the air pad units 41 to 44. Each of the air pad units 41 to 44 has a pair of preload units 53 and an air pad 51 disposed therebetween. In the air pad units facing the upper surface of the guide 42, that is, the downward pad units 41 to 43, the respective preload units 53 Two-pole magnet 53
The reticle stage 3 is arranged so that the arrangement direction of the a and 53b is the scanning direction of the reticle stage 3, that is, the Y-axis direction. Since the magnetizing directions of the two-pole magnets 53a and 53b are perpendicular to the upper surface of the guide 42, that is, the Z-axis direction, the laminating direction of the laminated magnetic body 54 facing the preload unit 53 of each of the downward pad units 41 to 43 is The X-axis direction, that is, a direction parallel to the upper surface of the guide 42 and orthogonal to the scanning direction of the reticle stage 3. In the side pad unit 44, the two-pole magnets 53a and 53b of the preload unit 53 are provided.
Are arranged in the same Y-axis direction as the scanning direction of the reticle stage 3, and the magnetizing directions of the magnets 53a and 53b are
Is perpendicular to the side surface of the reticle stage 3, that is, in the X-axis direction, the lamination direction of the laminated magnetic body 54 facing the preload unit 53 of the side surface pad unit 44 is parallel to the Z-axis direction, that is, parallel to the side surface of the guide 42. This is a direction orthogonal to the scanning direction.

【0046】このように、ガイド42の、各エアパッド
ユニット41〜44に対向する部分全体を積層磁性体5
4の側面によって構成すれば、予圧ユニットとエアパッ
ドをレチクルステージ3の走査方向に交差する方向、す
なわちX軸方向やZ軸方向に平行に配設したエアパッド
ユニット等を用いることもできるため、ステージ装置の
設計上の制約が軽減されるという利点がある。
As described above, the entire portion of the guide 42 facing each of the air pad units 41 to 44 is
4, an air pad unit or the like in which the preload unit and the air pad are arranged in a direction intersecting the scanning direction of the reticle stage 3, that is, in an X-axis direction or a Z-axis direction can be used. This has the advantage that the design constraints are reduced.

【0047】図5はさらに別の変形例を示す。これは、
ガイド62の両端に一対の積層磁性体74を一体化した
ものである。各積層磁性体74は、方形板状の薄板磁性
材を数多くY軸方向に積層して柱状体を形成し、その側
面が、各エアパッド61〜64の予圧ユニット73に対
向するように配設したものである。ガイド62の上面に
対向するエアパッドユニットすなわち下向きパッドユニ
ット61〜63においては、それぞれの予圧ユニット7
3の2極の磁石73a,73bの配列方向がX軸方向
で、各磁石73a,73bの着磁方向がガイド62の上
面に垂直、すなわちZ軸方向である。また、側面パッド
ユニット64においては、その予圧ユニット73の2極
の磁石73a,73bの配列方向がZ軸方向で、各磁石
73a,73bの着磁方向がガイド62の側面に垂直、
すなわちX軸方向である。
FIG. 5 shows still another modification. this is,
A pair of laminated magnetic bodies 74 are integrated at both ends of the guide 62. Each laminated magnetic body 74 is formed by laminating a large number of rectangular plate-shaped thin plate magnetic materials in the Y-axis direction to form a columnar body, and is disposed such that a side surface thereof faces the preload unit 73 of each of the air pads 61 to 64. Things. In the air pad unit facing the upper surface of the guide 62, that is, the downward pad units 61 to 63, the respective preload units 7
The arrangement direction of the three two-pole magnets 73a and 73b is the X-axis direction, and the magnetizing direction of each magnet 73a and 73b is perpendicular to the upper surface of the guide 62, that is, the Z-axis direction. In the side pad unit 64, the arrangement direction of the two-pole magnets 73 a and 73 b of the preload unit 73 is the Z-axis direction, and the magnetization directions of the magnets 73 a and 73 b are perpendicular to the side surface of the guide 62.
That is, it is in the X-axis direction.

【0048】一対の積層磁性体74のうちの一方は、直
交する2つの側面が下向きパッドユニット62,63と
側面パッドユニット64にそれぞれ対向しており、図4
の装置のように3個の積層磁性体を用いる場合に比べ
て、組立部品点数が少なくてすむいう利点がある。
One of the pair of laminated magnetic members 74 has two orthogonal side surfaces facing the downward pad units 62 and 63 and the side surface pad unit 64, respectively, as shown in FIG.
There is an advantage in that the number of assembled parts can be reduced as compared with the case where three laminated magnetic bodies are used as in the apparatus described above.

【0049】図6は第2実施例による露光装置のウエハ
ステージを示すもので、これは、ガイドである定盤11
0上をY軸方向に往復移動自在な移動ステージであるY
ステージ120と、Yステージ120上をX軸方向に往
復移動自在な移動ステージであるXステージ130と、
Yステージ120をY軸方向に移動させる駆動手段であ
る一対のYリニアモータ140と、Xステージ130を
X軸方向に移動させる駆動手段であるXリニアモータ1
50を有するステージ装置である。
FIG. 6 shows a wafer stage of the exposure apparatus according to the second embodiment, which is a guide plate 11.
Y which is a movable stage that can reciprocate in the Y-axis direction on
A stage 120, an X stage 130 that is a movable stage that is reciprocally movable on the Y stage 120 in the X-axis direction,
A pair of Y linear motors 140 as driving means for moving the Y stage 120 in the Y axis direction, and an X linear motor 1 as a driving means for moving the X stage 130 in the X axis direction.
50 is a stage device.

【0050】定盤110は、Xステージ130の下面を
図7に示すエアスライドE2 を介して非接触で支持する
案内面であるXYガイド面を有する。定盤110のX軸
方向の一端には、Yステージ120をY軸方向に案内す
るYガイド111が立設され、Yガイド111のYガイ
ド面111aとYステージ120の間も、図示しないエ
アスライドによって非接触に保たれている。Yリニアモ
ータ140が駆動されると、Yステージ120が定盤1
10のXYガイド面上をYガイド111に沿って移動す
る。
The platen 110 has an XY guide surface is a guide surface for supporting a non-contact through the air slide E 2 showing the lower surface of the X stage 130 in FIG. At one end of the surface plate 110 in the X-axis direction, a Y guide 111 for guiding the Y stage 120 in the Y-axis direction is provided upright. An air slide (not shown) is also provided between the Y guide surface 111a of the Y guide 111 and the Y stage 120. Is kept in non-contact. When the Y linear motor 140 is driven, the Y stage 120
10 along the Y guide 111 on the XY guide surface.

【0051】Yステージ120は、一対のYスライダ1
21と両者の間に配設された一対のXガイド122から
なる長尺の枠体であり、両Yスライダ121の下面が定
盤110のXYガイド面に面している。また、一方のY
スライダ121は他方よりY軸方向に長尺であり、その
側面121aがYガイド111のYガイド面に面してお
り、前述のようにエアスライドを介して非接触に案内さ
れる。両Yスライダ121はそれぞれ、連結板123を
介してYリニアモータ140の可動子141に連結さ
れ、連結板123はYリニアモータ140の可動子14
1とYステージ120の双方と一体的に結合されてい
る。
The Y stage 120 includes a pair of Y sliders 1
21 and a long frame composed of a pair of X guides 122 disposed between them, and the lower surfaces of both Y sliders 121 face the XY guide surface of the surface plate 110. Also, one Y
The slider 121 is longer in the Y-axis direction than the other, and the side surface 121a faces the Y guide surface of the Y guide 111, and is guided in a non-contact manner via the air slide as described above. Each of the Y sliders 121 is connected to a mover 141 of a Y linear motor 140 via a connecting plate 123, and the connecting plate 123 is connected to a mover 14 of the Y linear motor 140.
1 and the Y stage 120 are integrally connected.

【0052】Xステージ130は、一対の天板131と
両者の間に配設された一対の側板132からなる中空枠
体であり、その中空部をYステージ120の両Xガイド
122とXリニアモータ150の固定子152が貫通し
ている。下方の天板131の底面は定盤110のXYガ
イド面に面しており、上方の天板131の上面は図示し
ない被露光体であるウエハを吸着保持するウエハ保持面
を形成している。
The X stage 130 is a hollow frame composed of a pair of top plates 131 and a pair of side plates 132 disposed between them, and the hollow portion is formed by the X guides 122 of the Y stage 120 and the X linear motor. 150 stators 152 penetrate. The bottom surface of the lower top plate 131 faces the XY guide surface of the surface plate 110, and the upper surface of the upper top plate 131 forms a wafer holding surface for sucking and holding a wafer, which is a not-shown object to be exposed.

【0053】Xステージ130の両側板132の内面1
32aは、Yステージ120の両Xガイド122の外側
面であるXガイド面122aに面しており、エアパッド
等によって非接触に案内される。
Inner surface 1 of both side plates 132 of X stage 130
32a faces the X guide surface 122a which is the outer surface of both X guides 122 of the Y stage 120, and is guided in a non-contact manner by an air pad or the like.

【0054】各Yリニアモータ140は、前述のように
連結板123と一体的に結合された可動子141と、そ
の開口部を貫通する固定子142を有する。固定子14
2は、Y軸方向に配列されたコイル列42aとその両端
を支持する固定部材142bを有し、可動子141は、
互に対向する磁石141aを保持する一対のヨーク14
1bと、これらの両端に固着された一対のアルミ板14
1cからなる中空枠体である。
Each Y linear motor 140 has the movable element 141 integrally connected to the connecting plate 123 as described above, and the stator 142 penetrating through the opening. Stator 14
2 has a coil array 42a arranged in the Y-axis direction and a fixing member 142b supporting both ends thereof.
A pair of yokes 14 holding magnets 141a facing each other
1b and a pair of aluminum plates 14 fixed to both ends thereof.
1c is a hollow frame body.

【0055】両Yリニアモータ140の固定子142の
コイル列142aのコイルに電流を供給すると、可動子
141の磁石141aに対向するコイル面に沿ってロー
レンツ力による推力が発生し、Yステージ120をY軸
方向に移動させる。
When current is supplied to the coils of the coil array 142a of the stator 142 of both Y linear motors 140, thrust due to Lorentz force is generated along the coil surface of the mover 141 facing the magnet 141a, and the Y stage 120 is moved. Move in the Y-axis direction.

【0056】Xステージ130をYステージ120のX
ガイド122に沿って移動させるXリニアモータ150
の可動子151は、Xステージ130の上方の天板13
1の下面に固着された中空枠体であり、Yリニアモータ
140の可動子141と同様に、互に対向する磁石15
1aを保持する一対の鉄板と、これらの両端に固着され
た一対のアルミ板からなる。
The X stage 130 is replaced with the X of the Y stage 120.
X linear motor 150 moved along guide 122
The mover 151 is a top plate 13 above the X stage 130.
1 is a hollow frame fixed to the lower surface of the magnet 15, like the mover 141 of the Y linear motor 140.
It consists of a pair of iron plates holding 1a and a pair of aluminum plates fixed to both ends thereof.

【0057】Xリニアモータ150の固定子152は、
X軸方向に配列された図示しないコイル列152aとこ
れを支持する支持体152bを有し、コイル列152a
の各コイルに電流を供給することによって、可動子15
1にローレンツ力による推力が発生し、Xステージ13
0がYステージ120のXガイド122に沿ってX軸方
向に移動する。
The stator 152 of the X linear motor 150 is
It has a coil row 152a (not shown) arranged in the X-axis direction and a support 152b for supporting the coil row 152a.
By supplying current to each coil of the movable element 15
Thrust due to Lorentz force is generated in 1 and X stage 13
0 moves in the X-axis direction along the X guide 122 of the Y stage 120.

【0058】Xステージ130は、Yリニアモータ14
0、Xリニアモータ150等を前述のように駆動するこ
とで、ウエハをステップを移動させ、ウエハの各露光画
角を投影光学系の直下の露光位置へ位置決めする。第1
実施例と同様のレチクルステージに保持された原版であ
るレチクルに対するアライメントを行ない、図示しない
露光手段である光源から発生された帯状断面の露光光に
対して、レチクルとウエハをX軸方向に同期的に走査さ
せることで露光画角全体を露光する。
The X stage 130 is connected to the Y linear motor 14
By driving the 0, X linear motor 150 and the like as described above, the wafer is moved in steps, and each exposure angle of view of the wafer is positioned at an exposure position immediately below the projection optical system. First
Alignment is performed with respect to a reticle as an original held on a reticle stage similar to that in the embodiment, and a reticle and a wafer are synchronously moved in the X-axis direction with respect to exposure light having a band-shaped cross section generated from a light source as exposure means (not shown). To expose the entire exposure angle of view.

【0059】エアスライドE2 は、方形枠形に配設され
た4個の静圧軸受手段であるエアパッドと、これらの間
に配設された4個の磁気手段である予圧ユニット221
を有し、エアパッド211と予圧ユニット221はすべ
てXステージ130の下方の天板131に保持され、定
盤110のXYガイド面に下向きに対向している。
The air slide E 2 is composed of four air pads, which are static pressure bearing means, arranged in a rectangular frame shape, and a preload unit 221 which is four magnetic means arranged therebetween.
The air pad 211 and the preload unit 221 are all held on the top plate 131 below the X stage 130, and face the XY guide surface of the surface plate 110 downward.

【0060】定盤110は、複数の薄板磁性材110a
を絶縁層である薄板絶縁材110bを介して積層した積
層磁性体であり、一側面が前述のXYガイド面を構成す
る。各予圧ユニット221は、2極の磁石221a,2
21bと、これらの背面に接合されたバックヨーク22
1cからなり、一方の磁石221aのN極から出た磁束
が、定盤110を経て他方の磁石221bに入り、バッ
クヨーク221cを通ってもとの磁石221aに戻る磁
気回路によって、Xステージ130と定盤110の間に
磁気的吸引力を発生させる。この磁気的吸引力は、各エ
アパッド221の静圧と逆向きに作用する予圧として軸
受剛性を強化し、Xステージ130と定盤110の間に
5ミクロン程度のエアギャップを維持する。
The platen 110 includes a plurality of thin magnetic members 110a.
Are laminated via a thin insulating material 110b as an insulating layer, and one side surface constitutes the XY guide surface described above. Each preload unit 221 has a two-pole magnet 221a,
21b and a back yoke 22 joined to the back surface
1c, the magnetic flux coming out of the N pole of one magnet 221a enters the other magnet 221b via the surface plate 110 and returns to the original magnet 221a after passing through the back yoke 221c. A magnetic attraction force is generated between the surface plates 110. This magnetic attraction enhances the bearing rigidity as a preload acting in the opposite direction to the static pressure of each air pad 221, and maintains an air gap of about 5 μm between the X stage 130 and the surface plate 110.

【0061】定盤110を構成する積層磁性体の積層方
向は、XYガイド面に平行であってウエハの走査方向す
なわちXステージ130の移動方向(X軸方向)と直交
する方向すなわちY軸方向であり、各予圧ユニット22
1の2極の磁石221a,221bの配列方向はX軸方
向である。従って、Xステージ130とともにエアスラ
イドE2 がX軸方向に移動したときに、各予圧ユニット
221の移動によって定盤110に発生する渦電流は薄
板絶縁材110bによって寸断される結果となり、定盤
全体がムクの磁性体である場合に比べて渦電流による粘
性抵抗が大幅に低減される。
The lamination direction of the laminated magnetic material constituting the surface plate 110 is parallel to the XY guide surface and perpendicular to the scanning direction of the wafer, ie, the moving direction of the X stage 130 (X-axis direction), ie, the Y-axis direction. Yes, each preload unit 22
The arrangement direction of the one two-pole magnets 221a and 221b is the X-axis direction. Therefore, when together with the X stage 130 air slide E 2 is moved in the X-axis direction, an eddy current generated in the surface plate 110 by the movement of the preload unit 221 becomes a result of being shredded by the thin insulating material 110b, the entire plate The viscous resistance due to the eddy current is greatly reduced as compared with the case where is made of a magnetic material.

【0062】その結果、第1実施例と同様に露光装置の
生産性と転写精度を大きく改善できる。
As a result, similarly to the first embodiment, the productivity and transfer accuracy of the exposure apparatus can be greatly improved.

【0063】図8は、第2実施例の一変形例を示すもの
で、これは、定盤310とYガイド311を双方とも積
層磁性体によって構成し、第2の案内面であるYガイド
311のYガイド面に対向するエアパッド411と磁気
手段である予圧ユニット421をYスライダ321aに
固定したもので、予圧ユニット421の2極の磁石42
1a,421bの配列方向はZ軸方向である。本変形例
は、ウエハの走査方向をY軸方向とX軸方向のいずれに
も設定できるという利点を有する。
FIG. 8 shows a modification of the second embodiment, in which both the surface plate 310 and the Y guide 311 are made of laminated magnetic material, and the Y guide 311 serving as a second guide surface. The air pad 411 facing the Y guide surface and a preload unit 421 as magnetic means are fixed to a Y slider 321a.
The arrangement direction of 1a and 421b is the Z-axis direction. This modification has an advantage that the scanning direction of the wafer can be set in both the Y-axis direction and the X-axis direction.

【0064】なお、定盤310とYガイド311の積層
方向は双方ともY軸方向であるから、L形の薄板磁性材
と薄板絶縁材を積層することで定盤とYガイドを一体的
に製作してもよいし、定盤310の側面をYガイドとし
て用いてもよい。
Since the laminating direction of the surface plate 310 and the Y guide 311 are both in the Y-axis direction, the surface plate and the Y guide are integrally manufactured by laminating an L-shaped thin magnetic material and a thin insulating material. Alternatively, the side surface of the surface plate 310 may be used as a Y guide.

【0065】次に上記説明した露光装置を利用した半導
体デバイスの製造方法の実施例を説明する。図9は半導
体デバイス(ICやLSI等の半導体チップ、あるいは
液晶パネルやCCD等)の製造フローを示す。ステップ
1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行な
う。ステップ2(マスク製作)では設計した回路パター
ンを形成したマスクを製作する。ステップ3(ウエハ製
造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを製造する。
ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記
用意したマスクとウエハを用いて、リソグラフィ技術に
よってウエハ上に実際の回路を形成する。ステップ5
(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4によって作
製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であ
り、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、
パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ス
テップ6(検査)ではステップ5で作製された半導体デ
バイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行な
う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、これ
が出荷(ステップ7)される。
Next, an embodiment of a method of manufacturing a semiconductor device using the above-described exposure apparatus will be described. FIG. 9 shows a manufacturing flow of a semiconductor device (a semiconductor chip such as an IC or an LSI, or a liquid crystal panel or a CCD). In step 1 (circuit design), the circuit of the semiconductor device is designed. Step 2 is a process for making a mask on the basis of the circuit pattern design. In step 3 (wafer manufacture), a wafer is manufactured using a material such as silicon.
Step 4 (wafer process) is called a pre-process, and an actual circuit is formed on the wafer by lithography using the prepared mask and wafer. Step 5
(Assembly) is called a post-process, and is a process of forming a semiconductor chip using the wafer produced in Step 4, and includes an assembly process (dicing, bonding),
It includes steps such as a packaging step (chip encapsulation). In step 6 (inspection), inspections such as an operation confirmation test and a durability test of the semiconductor device manufactured in step 5 are performed. Through these steps, a semiconductor device is completed and shipped (step 7).

【0066】図10は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では上記説明した露光装置によって
マスクの回路パターンをウエハに焼付露光する。ステッ
プ17(現像)では露光したウエハを現像する。ステッ
プ18(エッチング)では現像したレジスト像以外の部
分を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッ
チングが済んで不要となったレジストを取り除く。これ
らのステップを繰り返し行なうことによって、ウエハ上
に多重に回路パターンが形成される。本実施例の製造方
法を用いれば、従来は製造が難しかった高集積度の半導
体デバイスを製造することができる。
FIG. 10 shows a detailed flow of the wafer process. Step 11 (oxidation) oxidizes the wafer's surface. Step 12 (CVD) forms an insulating film on the wafer surface. Step 13 (electrode formation) forms electrodes on the wafer by vapor deposition. In step 14 (ion implantation), ions are implanted into the wafer. Step 1
In 5 (resist processing), a photosensitive agent is applied to the wafer. Step 16 (exposure) uses the above-described exposure apparatus to print and expose the circuit pattern of the mask onto the wafer. Step 17 (development) develops the exposed wafer. In step 18 (etching), portions other than the developed resist image are removed. In step 19 (resist stripping), unnecessary resist after etching is removed. By repeating these steps, multiple circuit patterns are formed on the wafer. By using the manufacturing method of this embodiment, it is possible to manufacture a highly integrated semiconductor device, which has been conventionally difficult to manufacture.

【0067】[0067]

【発明の効果】本発明は上述のとおり構成されているの
で、次に記載するような効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.

【0068】レチクルステージ等のガイドに発生する渦
電流を低減して、リニアモータ等の駆動効率を向上さ
せ、露光装置の高速化による生産性の向上と転写精度の
改善に大きく貢献できる。
The eddy current generated in the guide of the reticle stage or the like is reduced, the driving efficiency of the linear motor or the like is improved, and it is possible to greatly contribute to the improvement of the productivity and the transfer accuracy by increasing the speed of the exposure apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1実施例による走査ステージ装置を示す斜視
図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a scanning stage device according to a first embodiment.

【図2】図1の装置を分解して示す分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view showing the device of FIG. 1 in an exploded manner.

【図3】図1の装置の一部分を拡大して示す拡大部分斜
視図である。
FIG. 3 is an enlarged partial perspective view showing a part of the apparatus of FIG. 1 in an enlarged manner.

【図4】第1実施例の第1の変形例を分解して示す分解
斜視図である。
FIG. 4 is an exploded perspective view showing a first modification of the first embodiment in an exploded manner.

【図5】第1実施例の第2の変形例を分解して示す分解
斜視図である。
FIG. 5 is an exploded perspective view showing an exploded view of a second modification of the first embodiment.

【図6】第2実施例によるステージ装置を示す斜視図で
ある。
FIG. 6 is a perspective view showing a stage device according to a second embodiment.

【図7】図6の装置を分解して示す分解斜視図である。FIG. 7 is an exploded perspective view showing the device of FIG. 6 in an exploded manner.

【図8】第2実施例の一変形例を分解して示す分解斜視
図である。
FIG. 8 is an exploded perspective view showing a modification of the second embodiment in an exploded manner.

【図9】微小デバイスの製造工程を示すフローチャート
である。
FIG. 9 is a flowchart showing a manufacturing process of a micro device.

【図10】ウエハプロセスを示すフローチャートであ
る。
FIG. 10 is a flowchart showing a wafer process.

【図11】一従来例を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing a conventional example.

【図12】図11の装置を分解して示す分解斜視図であ
る。
FIG. 12 is an exploded perspective view showing the device of FIG. 11 in an exploded manner.

【図13】露光装置全体を説明する図である。FIG. 13 is a diagram illustrating the entire exposure apparatus.

【図14】レチクルステージの走査を説明する図であ
る。
FIG. 14 is a diagram illustrating scanning of a reticle stage.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 防振ベース 2,42,62 ガイド 3 レチクルステージ 4,5 リニアモータ固定子 6,7 リニアモータ可動子 11〜13,41〜43,61〜63 下向きパッド
ユニット(エアパッドユニット) 14,44,64 側面パッドユニット(エアパッド
ユニット) 21,22,51,71,211,411 エアパッ
ド 23,53,73,221,421 予圧ユニット 23a,23b,53a,53b,73a,73b,2
21a,221b,421a,421b 磁石 23c,221c バックヨーク 24,54,74 積層磁性体 25 支持体 30 レチクル 110,310 定盤 111,311 Yガイド 120 Yステージ 130 Xステージ 140 Xリニアモータ 150 Yリニアモータ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vibration-proof base 2, 42, 62 Guide 3 Reticle stage 4, 5 Linear motor stator 6, 7 Linear motor mover 11-13, 41-43, 61-63 Downward pad unit (air pad unit) 14, 44, 64 Side pad unit (air pad unit) 21, 22, 51, 71, 211, 411 Air pad 23, 53, 73, 221, 421 Preload unit 23a, 23b, 53a, 53b, 73a, 73b, 2
21a, 221b, 421a, 421b Magnet 23c, 221c Back Yoke 24, 54, 74 Laminated Magnetic Body 25 Support 30 Reticle 110, 310 Surface Plate 111, 311 Y Guide 120 Y Stage 130 X Stage 140 X Linear Motor 150 Y Linear Motor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/30 515G B23Q 1/18 Z ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01L 21/30 515G B23Q 1/18 Z

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ガイドの案内面に沿って移動自在である
移動ステージと、これを移動させる駆動手段と、前記移
動ステージと前記案内面の間を非接触に保つための静圧
軸受手段と、前記案内面の所定の部位に対向して移動す
るように前記移動ステージに保持された磁気手段を有
し、前記案内面の少なくとも前記所定の部位が、絶縁層
を介して複数の薄板磁性材を積層した積層磁性体の側面
によって構成されていることを特徴とするステージ装
置。
1. A moving stage movable along a guide surface of a guide, a driving means for moving the moving stage, a hydrostatic bearing means for keeping a non-contact between the moving stage and the guide surface, Magnetic means held on the moving stage so as to move in opposition to a predetermined portion of the guide surface, wherein at least the predetermined portion of the guide surface includes a plurality of thin magnetic materials via an insulating layer. A stage device comprising a side surface of a laminated magnetic body.
【請求項2】 案内面の所定の部位を除く残りの部分
が、非磁性材料で作られていることを特徴とする請求項
1記載のステージ装置。
2. The stage device according to claim 1, wherein the remaining portion of the guide surface except for a predetermined portion is made of a non-magnetic material.
【請求項3】 積層磁性体が、ガイドと別体であり、該
ガイドから独立して支持されていることを特徴とする請
求項1または2記載のステージ装置。
3. The stage device according to claim 1, wherein the laminated magnetic body is separate from the guide, and is supported independently of the guide.
【請求項4】 積層磁性体の側面が、静圧軸受手段に対
向していることを特徴とする請求項1ないし3いずれか
1項記載のステージ装置。
4. The stage apparatus according to claim 1, wherein a side surface of the laminated magnetic body faces the hydrostatic bearing means.
【請求項5】 磁気手段が、直列に配設された2極の磁
石を有し、積層磁性体の積層方向が、前記2極の磁石の
着磁方向および配列方向に直交するように配設されてい
ることを特徴とする請求項1ないし4いずれか1項記載
のステージ装置。
5. The magnetic means has two-pole magnets arranged in series, and is disposed such that the lamination direction of the laminated magnetic body is orthogonal to the magnetization direction and the arrangement direction of the two-pole magnets. The stage device according to any one of claims 1 to 4, wherein the stage device is provided.
【請求項6】 静圧軸受手段と磁気手段が、移動ステー
ジの移動方向に平行に配設されていることを特徴とする
請求項1ないし5いずれか1項記載のステージ装置。
6. The stage apparatus according to claim 1, wherein the hydrostatic bearing means and the magnetic means are arranged in parallel with the moving direction of the moving stage.
【請求項7】 ガイドの案内面に沿って移動自在である
移動ステージと、これを移動させる駆動手段と、前記移
動ステージと前記案内面の間を非接触に保つための静圧
軸受手段と、前記案内面に対向するように前記移動ステ
ージに保持された磁気手段を有し、前記案内面が、絶縁
層を介して複数の薄板磁性材を積層した積層磁性体の側
面によって構成されていることを特徴とするステージ装
置。
7. A moving stage movable along a guide surface of a guide, driving means for moving the moving stage, hydrostatic bearing means for keeping the moving stage and the guide surface in non-contact, Magnetic means held on the moving stage so as to face the guide surface, wherein the guide surface is constituted by a side surface of a laminated magnetic body in which a plurality of thin magnetic materials are laminated via an insulating layer. A stage device characterized by the above-mentioned.
【請求項8】 移動ステージが、案内面に沿って2軸の
方向に移動自在であることを特徴とする請求項7記載の
ステージ装置。
8. The stage apparatus according to claim 7, wherein the moving stage is movable in two axial directions along the guide surface.
【請求項9】 ガイドが、移動ステージを2軸のうちの
一方に沿って案内するための第2の案内面を有すること
を特徴とする請求項8記載のステージ装置。
9. The stage apparatus according to claim 8, wherein the guide has a second guide surface for guiding the moving stage along one of two axes.
【請求項10】 ガイド全体が積層磁性体によって構成
されていることを特徴とする請求項7ないし9いずれか
1項記載のステージ装置。
10. The stage device according to claim 7, wherein the entire guide is made of a laminated magnetic body.
【請求項11】 第2の案内面が非磁性材料によって作
られていることを特徴とする請求項9記載のステージ装
置。
11. The stage device according to claim 9, wherein the second guide surface is made of a non-magnetic material.
【請求項12】 請求項7ないし11いずれか1項記載
のステージ装置と、これに保持された被露光体を露光す
る露光手段を有する露光装置。
12. An exposure apparatus comprising: the stage device according to claim 7; and an exposure unit configured to expose an object to be exposed held by the stage device.
【請求項13】 請求項1ないし6いずれか1項記載の
ステージ装置と、これに保持された原版を通して被露光
体を露光する露光手段を有する露光装置。
13. An exposure apparatus comprising: the stage device according to claim 1; and exposure means for exposing an object to be exposed through an original held by the stage device.
JP32232396A 1996-11-18 1996-11-18 Stage apparatus and exposure apparatus using the same Expired - Fee Related JP3639681B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32232396A JP3639681B2 (en) 1996-11-18 1996-11-18 Stage apparatus and exposure apparatus using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32232396A JP3639681B2 (en) 1996-11-18 1996-11-18 Stage apparatus and exposure apparatus using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10149976A true JPH10149976A (en) 1998-06-02
JP3639681B2 JP3639681B2 (en) 2005-04-20

Family

ID=18142362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32232396A Expired - Fee Related JP3639681B2 (en) 1996-11-18 1996-11-18 Stage apparatus and exposure apparatus using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3639681B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0960783A1 (en) 1998-05-29 1999-12-01 TS Tech Co., Ltd Trim assembly for vehicle and method for manufacturing the same
WO2001072659A1 (en) * 2000-03-31 2001-10-04 Toto Ltd. Method for wet forming of powder, method for producing powder sintered compact, powdery sintered compact, and apparatus using powdery sintered compact
KR100471018B1 (en) * 2000-11-28 2005-03-08 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 Gap adjustment apparatus and gap adjustment method for adjusting gap between two objects
JP2010183077A (en) * 2009-02-05 2010-08-19 Asml Holding Nv Reticle support reducing reticle slippage
JP2012119687A (en) * 2010-12-02 2012-06-21 Asml Holding Nv Patterning device support
JPWO2013069156A1 (en) * 2011-11-11 2015-04-02 日本車輌製造株式会社 Stage device for laser processing machine
JP2016530709A (en) * 2013-07-17 2016-09-29 メカトロニクス・アクチェンゲゼルシャフトMecatronix AG Positioning device for moving a substrate
CN115274529A (en) * 2022-09-27 2022-11-01 无锡邑文电子科技有限公司 Adjusting and positioning mechanism, adjusting and positioning method and semiconductor photoresist remover

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0960783A1 (en) 1998-05-29 1999-12-01 TS Tech Co., Ltd Trim assembly for vehicle and method for manufacturing the same
WO2001072659A1 (en) * 2000-03-31 2001-10-04 Toto Ltd. Method for wet forming of powder, method for producing powder sintered compact, powdery sintered compact, and apparatus using powdery sintered compact
US7288222B2 (en) 2000-03-31 2007-10-30 Toto Ltd. Method of producing a carbide sintered compact
KR100471018B1 (en) * 2000-11-28 2005-03-08 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 Gap adjustment apparatus and gap adjustment method for adjusting gap between two objects
JP2010183077A (en) * 2009-02-05 2010-08-19 Asml Holding Nv Reticle support reducing reticle slippage
US9229341B2 (en) 2009-02-05 2016-01-05 Asml Holding N.V. Reticle support that reduces reticle slippage
JP2012119687A (en) * 2010-12-02 2012-06-21 Asml Holding Nv Patterning device support
US9298105B2 (en) 2010-12-02 2016-03-29 Asml Holding N.V. Patterning device support
JPWO2013069156A1 (en) * 2011-11-11 2015-04-02 日本車輌製造株式会社 Stage device for laser processing machine
JP2016530709A (en) * 2013-07-17 2016-09-29 メカトロニクス・アクチェンゲゼルシャフトMecatronix AG Positioning device for moving a substrate
CN115274529A (en) * 2022-09-27 2022-11-01 无锡邑文电子科技有限公司 Adjusting and positioning mechanism, adjusting and positioning method and semiconductor photoresist remover
CN115274529B (en) * 2022-09-27 2022-12-20 无锡邑文电子科技有限公司 Adjusting and positioning mechanism, adjusting and positioning method and semiconductor photoresist remover

Also Published As

Publication number Publication date
JP3639681B2 (en) 2005-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4639517B2 (en) Stage apparatus, lithography system, positioning method, and stage apparatus driving method
JP3363662B2 (en) Scanning stage apparatus and exposure apparatus using the same
JPH11191585A (en) Stage device and aligner using it and/or device manufacture
US20100167556A1 (en) Three degree of movement mover and method for controlling a three degree of movement mover
WO1999010970A1 (en) Positioning device, driving unit, and aligner equipped with the device
JP2002325421A (en) Linear motor, stage apparatus using the same aligner, and device manufacturing method
JP2004248400A (en) Linear motor
JP4314555B2 (en) Linear motor device, stage device, and exposure device
KR20180043759A (en) Stage apparatus and its driving method
JP2004364392A (en) Linear motor, stage equipment comprising it, exposure system and process for fabricating device
US20080012431A1 (en) Monolithic stage devices providing motion in six degrees of freedom
JP2004228473A (en) Movable stage device
JP3639681B2 (en) Stage apparatus and exposure apparatus using the same
JP3679509B2 (en) Moving stage apparatus and exposure apparatus using the same
JP4072212B2 (en) Scanning exposure equipment
JP2007258356A (en) Stage equipment
JP2008182210A (en) Stage apparatus, exposure equipment, and device manufacturing method
JP2008078377A (en) Stage apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2001145328A (en) Linear motor, and stage apparatus and aligner therewith
JPH1012538A (en) Scanning stage unit and aligner using the same
US7468783B2 (en) Exposure apparatus, control method for the same, and device manufacturing method
JP2014204634A (en) Motor, mobile device and exposure device
JPH1055953A (en) Scanning stage device and aligner using this
JP2002272087A (en) Armature unit, motor, stage apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing device
JPH11113239A (en) Linear motor, and stage device, aligner and manufacture of device using the same

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041224

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050117

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080121

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090121

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090121

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100121

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110121

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120121

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees